大样品切剖机

产品介绍 利用微悬臂探针结构可对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征，可实现大晶圆级大样品形貌表征,电动样品定位台与光学图像相结合,可在 300X300 mm 区域实现1 um的定位精度,激光对准,探针逼近和扫描参数调整完全自动化操作。设备性能XY方向噪声水平0.2 nm闭环,0.02nm开环★Z方向噪声水平0.06nm闭环,0.03nm开环★XY方向非线性度0.15% Z方向非线性度:1%扫描范围90umX90umX9um(典型值)80umX80umX8.5um(最小值)鸢0.58 x~7 x光学变倍镜头,光学分辨率可达3.45 um,可3 mm焦距微调样品尺寸:可检测12英寸晶圆并且向下兼容8、6、4英寸以及碎片样品,可自动上下料(选配)全自动探针逼近系统,行程35 mm,步进精度50 nm

仓外大样品漫反射附件型号规格：通用型品牌：PIKEUpIR&trade 漫反射附件是一款设计独特的仓外大样品漫反射附件产品。可以直接测量超大样品。测量平台位于仓外，大尺寸样品可直接置于样品台上。适用于Varian、Shimadzu、Bruker 、PE等公司的红外光谱仪。分中红外和近红外两种配置，可不取出样品，直接测量样品瓶中的样品。反射镜采用整体材料加工而成。精确设计的部件位置和优化调整的红外光路，使UpIRTM漫反射附件具有很好的光通量和信噪比。我们还提供镀金高级漫反射附件、近红外漫反射附件、可加热漫反射附件和自动测量多样品漫反射附件。

Microptik MTS 120CD，大样品腔冷热台是需要对样品进行光学热辐射测量的理想解决方案。MTS120的标准特性使其成为材料科学应用、液晶研究、食品工业、光伏发电等领域的zui佳解决方案。温度范围：-20℃ 至 120℃温度分辨率：0.1℃，MTDC600温度控制器温度稳定性：使用MTDC600温度控制器在100℃至±0.1℃冷却/加热速率可调节，zui高可达30℃/ min温度控制方法：PID-PID切换温度控制传感器：RTD样品区80 * 55 * 9.5毫米样品观察反射光的光圈：50毫米（可选其它规格）样品观察光线透射光：5毫米（可选其它规格）惰性气体端口按要求MTS120CD机械尺寸(mm)

Themys LV大样品量综合热分析平台大样品量综合热分析平台Themys LV用于测量大样品的温度、质量变化、热量与热流、尺寸变化、逸出气体等。THEMYS LV综合热分析仪配备的大负载天平和高温炉体，使其成为一款大体积高温综合热分析平台（最大样品量18mL、温度最高2000℃）。THEMYS LV综合热分析仪也适用于THEMYS产品线的应用，一旦遇见大样品尺寸，THEMYS LV就能发挥重要作用，包括原材料检测，金属件的氧化与腐蚀以及废料的高温分解。为什么我们与众不同？超高温性能单炉体最高可达2000℃大体积用于测试更大的样品高精度，高灵活性悬挂对称式上天平，专为TGA设计模块化设计，适应多种需求最高到2000℃： TGA, DTA, TG-DTA, TMA 最高到1600℃：TG-DSC,DSCTMA模块低负载的应用，可以更好地体现样品本身的性质外部联用能力可以和各类仪器联用，如FTIR, MS, GCMS, MSFTIR, 或者 FTIR-GCMS基本参数TGASTATMADTA, TG-DTADSC, TG-DSC温度范围(℃)室温 ~ 2000室温 ~ 2000室温 ~ 1600室温 ~ 2000程控温度扫描速率(℃/min)0.01~20坩埚容积和最大样品尺寸4.5 ~ 18.1 ml 或高度: 80 直径: 20 mm，不含坩埚220 ~ 500 μl360 ~ 420 μl高度：50直径：15mm气路混合气体选项3路载气，可选其中1路进气＋1路辅助气，2MFC腐蚀性气体选项3路载气，可选其中1路进气, 1MFC +1路腐蚀性气体管道没有质量流量控制真空初级真空( 5*10-2 mbar), 二级真空可选天平量程(mg)小±200　　大±2000最大样品量(g)100天平分辨率(ug)0.02DTA/DSC　DTA, TG-DTADSC, TG-DSC　量热精度(%)c,e　±2　温度准确度 c, e　±1　TMA分辨率（nm)　　　1.6测量范围（mm）　　　±6b. 氦气气氛下；c. 典型数据 e. 基于金属标准样品熔融 参数可能会有变化与THEMYS一样，THEMYS LV天平模块可以与一个用于热膨胀测量的垂直TMA模块相互切换。通过精心设计，THEMYS LV的悬挂式天平是极为可靠的，可适应较重样品的大幅质量变化。系统的悬挂原理优化了气体与样品间的相互作用，使样品最大限度地接触环境气氛。多种气体控制选项: 配有智能软件的气路控制系统，可按程序来控制在样品预处理或测试过程中切换气体种类，控制流量，改变气体混合比例； 真空操作及预处理选项； 腐蚀性气氛测试套件可在保护仪器的同时，测试样品的反应活性。大样品量综合热分析平台THEMYS LV的炉体是热分析仪市场上最大的。THEMYS LV具备较大均温区，可以对直径为20mm、高度80mm的样品进行高精度测试。结合多种配置的单一石墨炉可以适应各种测试条件并提供多种热分析数据。TGA, DTA, DSC配件: 从220μl到18.1ml的陶瓷或金属坩埚 TG挂丝或传感器 DTA和DSC传感器测试温度分别达到1750℃和1600℃配有高灵敏度热电偶的温度控制系统，以优化所有温区的精确控温要求。

一、调剖剂力学性能测试仪介绍：随着油田开采程度的不断加深，地下油水分布状况越来越复杂，高渗透厚层和薄层高吸水导致的低效、无效循环问题日益突出，调剖对象也相应地向高渗透厚层和高吸水薄层转移。目前使用的高强度调剖剂注入压力上升快，易造成接替油层污染，抑制了潜力油层作用效果的发挥。若调剖层渗透率较低，调剖目的层有效厚度。上海保圣TA.XTC-20调剖剂力学性能测试仪测定调剖剂的强度，通过调剖剂在地层中运移过程中发生挤压、剪切、变形等力学行为，测量调剖剂形变过程，不同的预交联体膨颗粒调剖剂其抗压强度明显不同，说明抗压强度能够反映预交联体膨颗粒调剖剂内部的分子间作用力及胶结强度，该参数能够作为评价预交联体膨颗粒调剖剂的一个重要指标。二、调剖剂力学性能测试仪应用：1.不同聚合物种类对调剖剂性能影响2.不同性质木质素对调剖剂性能的影响3.调剖剂成胶性能评价4.调剖剂的长期稳定性评价5.Na+对调剖剂性能的影响三、调剖剂力学性能测试仪特点：TA.XTC-20调剖剂力学性能测试仪，装置结构简单、设计合理，能够充分模拟凝胶调剖剂在储层孔隙中的受力状况，采用该装置测试调剖剂强度，能够反映凝胶调剖剂在地层中的受力状况,是一种准确、方便、快捷的凝胶调剖剂强度评价方法。每次测试取样量较少，且取样时能够解决凝胶黏弹性对取样多少影响较大的问题，不同配方的凝胶在同一标准下对比，测试结果类比性强，测试时间短，操作简便。四、调剖剂力学性能测试仪参数：1.力量精度：0.0001g，可使用标准砝码进行力量校正。2.位移精度：0.0001mm，测试臂移动距离：400mm；3.检测速度：0.001~50 mm/s，速度解析度：0.001mm/s.4.数据采集率：不低于500组/秒，每组4个通道同时读取。5.数据分析时，用户可直接指选所要的参数，内置软件即可自动计算结果。6.安全措施：数据可紧急停止、上下极限控制装置、力量感应元过载保护。

飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 的标准样品杯，设计紧凑，可以分析的最大样品尺寸为 100 mm x 100 mm。尽管是大得多的样品尺寸，专利的样品加载技术可以使抽真空的时间降到最短，实际上使得飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 的吞吐量比同类型的扫描电镜高出几个级别。镶嵌，切割和抛光是制备表面平整，用于扫描电镜观察样品的常用技术。通常，这些样品会被嵌入到树脂中，并且有几种标准直径的尺寸。飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 可以拓展使用 3 种树脂镶嵌金相样品插件，这意味着 Phenom XL G2 的标准样品杯可以装载常见尺寸的金相样品。100 mm x 100 mm（一次可容纳多达 36 个 1/2 英寸样品台）样品高度 Max. 65mm超大样品台

一、调剖剂力学性能测试仪介绍：随着油田开采程度的不断加深，地下油水分布状况越来越复杂，高渗透厚层和薄层高吸水导致的低效、无效循环问题日益突出，调剖对象也相应地向高渗透厚层和高吸水薄层转移。目前使用的高强度调剖剂注入压力上升快，易造成接替油层污染，抑制了潜力油层作用效果的发挥。若调剖层渗透率较低，调剖目的层有效厚度。上海保圣TA.XTC-20调剖剂力学性能测试仪测定调剖剂的强度，通过调剖剂在地层中运移过程中发生挤压、剪切、变形等力学行为，测量调剖剂形变过程，不同的预交联体膨颗粒调剖剂其抗压强度明显不同，说明抗压强度能够反映预交联体膨颗粒调剖剂内部的分子间作用力及胶结强度，该参数能够作为评价预交联体膨颗粒调剖剂的一个重要指标。二、调剖剂力学性能测试仪应用：1.不同聚合物种类对调剖剂性能影响2.不同性质木质素对调剖剂性能的影响3.调剖剂成胶性能评价4.调剖剂的长期稳定性评价5.Na+对调剖剂性能的影响三、调剖剂力学性能测试仪特点：TA.XTC-20调剖剂力学性能测试仪，装置结构简单、设计合理，能够充分模拟凝胶调剖剂在储层孔隙中的受力状况，采用该装置测试调剖剂强度，能够反映凝胶调剖剂在地层中的受力状况,是一种准确、方便、快捷的凝胶调剖剂强度评价方法。每次测试取样量较少，且取样时能够解决凝胶黏弹性对取样多少影响较大的问题，不同配方的凝胶在同一标准下对比，测试结果类比性强，测试时间短，操作简便。四、调剖剂力学性能测试仪参数：1.力量精度：0.0001g，可使用标准砝码进行力量校正。2.位移精度：0.0001mm，测试臂移动距离：400mm；3.检测速度：0.001~50 mm/s，速度解析度：0.001mm/s.4.数据采集率：不低于500组/秒，每组4个通道同时读取。5.数据分析时，用户可直接指选所要的参数，内置软件即可自动计算结果。6.安全措施：数据可紧急停止、上下极限控制装置、力量感应元过载保护。

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我司在香港中文大学顺利完成美国ARS超大样品空间用于放置金刚石压砧并配多通路电学测试的低温恒温器验收工作 近日我司在香港中文大学顺利完成美国ARS（ADVANCED RESEARCH SYSTEMS）超大样品空间用于放置金刚石压砧并配多通路电学测试的低温恒温器验收工作，该款低温恒温器样品空间超大，可放置多种类型的金刚石压砧，为完全无液氦系统，温度测试范围从4K-350K（最低温可选2.7K,高温可选800K）。 X-4大样品腔闭循环恒温器拥有不锈钢结构和仪表群，并有更大的样品空间，可放置金刚石压砧或其他大体积样品。标准的真空罩有4个窗口位置，底部可加第五个窗口位置。 X-4系列恒温器可配备DE-202或DE-204系列冷头，根据客户需要可选择4K，5.5K，10K不同型号。 应用实例• 6K-700K连续变温• 金刚石压砧-高压• 大样品• 光学测试：光学，光电，拉曼，紫外/可见/红外,FTIR,电致发光,光致发光 • 电学测试：电阻率，霍尔测试，DLTS • 磁学测试：磁光，磁光克尔效应(MOKE)• 热电磁化率测试 典型特点• 无需制冷剂GM制冷• 不锈钢焊接结构• 1.5英寸的大光学窗口• 大样品视角利于光学采集(F/1.1)• 可根据客户要求进行定制

X-4大样品腔闭循环恒温器拥有不锈钢结构和仪表群，并有更大的样品空间，可放置金刚石压砧或其他大体积样品。标准的真空罩有4个窗口位置，底部可加第五个窗口位置。X-4系列恒温器可配备DE-202或DE-204系列冷头，根据客户需要可选择4K，5.5K，10K不同型号。 应用实例• 6K-700K连续变温• 金刚石压砧-高压• 大样品• 光学测试：光学，光电，拉曼，紫外/可见/红外,FTIR,电致发光,光致发光 • 电学测试：电阻率，霍尔测试，DLTS • 磁学测试：磁光，磁光克尔效应(MOKE)• 热电磁化率测试 The above picture shows a coldhead, vacuum shroud, and radiation shield.典型特点• 无需制冷剂GM制冷• 不锈钢焊接结构• 1.5英寸的大光学窗口• 大样品视角利于光学采集(F/1.1)• 可根据客户要求进行定制 标准结构• DE-202/DE-204冷头• ARS-2HW压缩机• 2 根柔性氦气传输管道• 不锈钢真空外罩有4个光学窗位置便于光电测试(DMX-4)• 镍镀金无氧铜放热辐射屏• 2个高纯石英窗口• 供温度测试和控制的仪表群：• 10 针密封电学接头• 36 欧姆片状加热器• 为控温而备的精度为± 0.5 K的硅二极管温度计• 精度为±12 mK的校准型硅二极管温度计(带4英尺线缆供样品的精确测试）• 电学测试实验接线:• 10 针电学接头• 4 根测试线• 光电测试样品座• 温控仪 可选配置及升级选项• 6K-700K连续变温接口• 450K以上高温接口• ATTOCUBE 制动器/旋转• 4 K 冷头• 5.5K 冷头• 可定制温度计结构• 可定制接线结构• 可定制窗口材料• 可定制样品座

NPflex 大样品计量检测光学轮廓仪针对大样品设计的非接触测试分析系统（1）灵活测量大尺寸样品，满足高难度测量角度的精确测量（2）高效的三维表面信息测量（3）垂直方向纳米分辨率提供更多的细节（4）快速获取测量数据，测试过程迅速高效布鲁克的NPpuExXM3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测性能，实现更快的试产扩量时间，提高了产品质量和生产力。基于白光千涉的原理，这套非接触系统提供了诸多先进的优点，远超通常接触式坐标测量仪(CMM)和工业级探针式轮廓仪的测量技术所能提供的。这些测量优势包括高分辨的三维图像，进行快速丰富的数据采集，帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样品测量仪器设计的经验，NPruExM可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统，而且能够高效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息，可用于表面粗糙度，RDL先进封装工艺厚度等测试。其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度（1）创新性的空间 设计使得可测零件(样品)更大(高达330毫米)、形状更多（2）开放式龙门、定制的夹具和可选的旋转测量头可轻松测量待测部位高效的三维表面信息测量（1）每次测量均可获取整个表面高度信息，用于各种分析（2）更容易获得更多的测量数据来帮助分析垂直方向纳米分辨率提供更多的细节（1）干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率（2）工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提供保障测量数据的快速获取保证了测试的迅速和高效（1）最少的样品准备时间和测量准备时间（2）比接触法测量(一条线)更大的视场(一个面)获得表面更多的数据技术参数

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产品性能Phenom XL 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的大样品室台式扫描电镜。最大样品直径为 100mm，放大倍数 200,000 倍以下， Phenom XL 是您正确的选择。在继承飞纳电镜 15 秒抽真空成像、全自动化操作、直接观测绝缘体、防震设计等优点的基础上，分辨率可以和普通大型钨灯丝电镜媲美，后期被拓展性很强。产品参数光学显微镜：放大 3-19 倍电子显微镜：200,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 8 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：4.8kV-20.5kV 连续可调抽真空时间：小于 30 秒能谱仪：可选配能谱仪Phenom XL 大样品室卓越版可选配所有的拓展功能软件选件，如 3D 粗糙度重建，纤维统计分析测量系统，颗粒统计分析测量系统，孔径统计分析测量系统。全自动显微平台Phenom XL + 拉伸台 拉伸台是飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的最大特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能，在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试，如金属材料（研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形），高分子材料，陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间，拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min，满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 拉伸台复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China)，负责 Phenom-World 飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。

一、调剖剂力学性能测试仪介绍：随着油田开采程度的不断加深，地下油水分布状况越来越复杂，高渗透厚层和薄层高吸水导致的低效、无效循环问题日益突出，调剖对象也相应地向高渗透厚层和高吸水薄层转移。目前使用的高强度调剖剂注入压力上升快，易造成接替油层污染，抑制了潜力油层作用效果的发挥。若调剖层渗透率较低，调剖目的层有效厚度。上海保圣TA.XTC-20调剖剂力学性能测试仪测定调剖剂的强度，通过调剖剂在地层中运移过程中发生挤压、剪切、变形等力学行为，测量调剖剂形变过程，不同的预交联体膨颗粒调剖剂其抗压强度明显不同，说明抗压强度能够反映预交联体膨颗粒调剖剂内部的分子间作用力及胶结强度，该参数能够作为评价预交联体膨颗粒调剖剂的一个重要指标。二、调剖剂力学性能测试仪应用：1.不同聚合物种类对调剖剂性能影响2.不同性质木质素对调剖剂性能的影响3.调剖剂成胶性能评价4.调剖剂的长期稳定性评价5.Na+对调剖剂性能的影响三、调剖剂力学性能测试仪特点：TA.XTC-20调剖剂力学性能测试仪，装置结构简单、设计合理，能够充分模拟凝胶调剖剂在储层孔隙中的受力状况，采用该装置测试调剖剂强度，能够反映凝胶调剖剂在地层中的受力状况,是一种准确、方便、快捷的凝胶调剖剂强度评价方法。每次测试取样量较少，且取样时能够解决凝胶黏弹性对取样多少影响较大的问题，不同配方的凝胶在同一标准下对比，测试结果类比性强，测试时间短，操作简便。四、调剖剂力学性能测试仪参数：1.力量精度：0.0001g，可使用标准砝码进行力量校正。2.位移精度：0.0001mm，测试臂移动距离：400mm；3.检测速度：0.001~50 mm/s，速度解析度：0.001mm/s.4.数据采集率：不低于500组/秒，每组4个通道同时读取。5.数据分析时，用户可直接指选所要的参数，内置软件即可自动计算结果。6.安全措施：数据可紧急停止、上下极限控制装置、力量感应元过载保护。

产品特点：* 多种模式可选，包括手动模式、编程模式、自动模式* 手动模式可设定搅拌、反向搅拌、时间等* 编程模式用户可编程设定速度、时间（包括暂停）、搅拌方向及功率，可设定9个步骤，存储4个程序* 自动模式可调出已存储的程序进行操作* 搅拌速度范围广，包括反向搅拌、间歇式搅拌。可应用于多种实验应用，包括细胞培养及粘稠物搅拌* 微电脑精确控制，保证了精细操作和重复性，同时不产生摩擦热量，不会影响样品温度* MagStir Genie最大样品量5kg，可搅拌任何常规烧杯、烧瓶或长颈瓶* MultiMagStir Genie 最大样品量10kg技术参数： 型号MegaMag GenieMegaMag Genie DigitalMegaMag Genie LR Digital搅拌速度250-1300rpm250-1300 rpm50-300 rpm时间设置N/A1s-99min或持续运行1s-99min或持续运行最大搅拌点位111最大搅拌量38L38 L38 L最大表面尺寸305x305mm305x305mm305x305mm尺寸（DxWxH）310x305x130mm310x305x130mm310x305x130mm重量3kg3kg3kg认证CECECE订货编号SI-2246SI-3246SI-3246L

一、调剖剂力学性能测试仪介绍：随着油田开采程度的不断加深，地下油水分布状况越来越复杂，高渗透厚层和薄层高吸水导致的低效、无效循环问题日益突出，调剖对象也相应地向高渗透厚层和高吸水薄层转移。目前使用的高强度调剖剂注入压力上升快，易造成接替油层污染，抑制了潜力油层作用效果的发挥。若调剖层渗透率较低，调剖目的层有效厚度。上海保圣TA.XTC-20调剖剂力学性能测试仪测定调剖剂的强度，通过调剖剂在地层中运移过程中发生挤压、剪切、变形等力学行为，测量调剖剂形变过程，不同的预交联体膨颗粒调剖剂其抗压强度明显不同，说明抗压强度能够反映预交联体膨颗粒调剖剂内部的分子间作用力及胶结强度，该参数能够作为评价预交联体膨颗粒调剖剂的一个重要指标。二、调剖剂力学性能测试仪应用：1.不同聚合物种类对调剖剂性能影响2.不同性质木质素对调剖剂性能的影响3.调剖剂成胶性能评价4.调剖剂的长期稳定性评价5.Na+对调剖剂性能的影响三、调剖剂力学性能测试仪特点：TA.XTC-20调剖剂力学性能测试仪，装置结构简单、设计合理，能够充分模拟凝胶调剖剂在储层孔隙中的受力状况，采用该装置测试调剖剂强度，能够反映凝胶调剖剂在地层中的受力状况,是一种准确、方便、快捷的凝胶调剖剂强度评价方法。每次测试取样量较少，且取样时能够解决凝胶黏弹性对取样多少影响较大的问题，不同配方的凝胶在同一标准下对比，测试结果类比性强，测试时间短，操作简便。四、调剖剂力学性能测试仪参数：1.力量精度：0.0001g，可使用标准砝码进行力量校正。2.位移精度：0.0001mm，测试臂移动距离：400mm；3.检测速度：0.001~50 mm/s，速度解析度：0.001mm/s.4.数据采集率：不低于500组/秒，每组4个通道同时读取。5.数据分析时，用户可直接指选所要的参数，内置软件即可自动计算结果。6.安全措施：数据可紧急停止、上下极限控制装置、力量感应元过载保护。

一、调剖剂力学性能测试仪介绍：随着油田开采程度的不断加深，地下油水分布状况越来越复杂，高渗透厚层和薄层高吸水导致的低效、无效循环问题日益突出，调剖对象也相应地向高渗透厚层和高吸水薄层转移。目前使用的高强度调剖剂注入压力上升快，易造成接替油层污染，抑制了潜力油层作用效果的发挥。若调剖层渗透率较低，调剖目的层有效厚度。上海保圣TA.XTC-20调剖剂力学性能测试仪测定调剖剂的强度，通过调剖剂在地层中运移过程中发生挤压、剪切、变形等力学行为，测量调剖剂形变过程，不同的预交联体膨颗粒调剖剂其抗压强度明显不同，说明抗压强度能够反映预交联体膨颗粒调剖剂内部的分子间作用力及胶结强度，该参数能够作为评价预交联体膨颗粒调剖剂的一个重要指标。二、调剖剂力学性能测试仪应用：1.不同聚合物种类对调剖剂性能影响2.不同性质木质素对调剖剂性能的影响3.调剖剂成胶性能评价4.调剖剂的长期稳定性评价5.Na+对调剖剂性能的影响三、调剖剂力学性能测试仪特点：TA.XTC-20调剖剂力学性能测试仪，装置结构简单、设计合理，能够充分模拟凝胶调剖剂在储层孔隙中的受力状况，采用该装置测试调剖剂强度，能够反映凝胶调剖剂在地层中的受力状况,是一种准确、方便、快捷的凝胶调剖剂强度评价方法。每次测试取样量较少，且取样时能够解决凝胶黏弹性对取样多少影响较大的问题，不同配方的凝胶在同一标准下对比，测试结果类比性强，测试时间短，操作简便。四、调剖剂力学性能测试仪参数：1.力量精度：0.0001g，可使用标准砝码进行力量校正。2.位移精度：0.0001mm，测试臂移动距离：400mm；3.检测速度：0.001~50 mm/s，速度解析度：0.001mm/s.4.数据采集率：不低于500组/秒，每组4个通道同时读取。5.数据分析时，用户可直接指选所要的参数，内置软件即可自动计算结果。6.安全措施：数据可紧急停止、上下极限控制装置、力量感应元过载保护。