红外功率测试

首创、独有的纳米红外功能和性能Bruker公司推出的Dimension IconIR是一款集合了纳米级红外光谱（nanoIR）技术和扫描探针显微镜（SPM）技术的系统。它整合了数十年的技术创新和研究成果，可以在单一平台上提供无与伦比的纳米级红外光谱、物理和化学性能表征。该系统具有超高的单分子层灵敏度和化学成像分辨率，在保留DimensionIcon最佳的AFM测量能力的同时，还提供了极大的样品尺寸灵活性。Dimension IconIR利用Bruker独有的PeakForce Tapping纳米级物性表征技术和专利的纳米红外光谱技术，使得它能够在纳米尺度下对样品进行纳米化学、纳米电学和纳米力学的关联性表征。只有Dimension IconIR具备：与FTIR完全吻合的红外光谱，优于10 nm的空间分辨率和单分子层灵敏度的高性能纳米红外光谱化学成像可与Peakforce Tapping纳米力学和纳米电学属性表征相关联高性能的AFM成像功能和极大的样品尺寸灵活性广泛适用的应用配件和AFM功能模式专利技术保证真实的红外吸收光谱AFM-IR通过采集样品的热膨胀信号（PTIR）还原样品的红外吸收光谱。由于检测区域的热膨胀只与样品在该波长下的吸收强度有关，而常规的傅里叶红外光谱（FTIR）检测的也是样品在该波长下的吸收强度，因此AFM-IR获得的红外吸收光谱与传统的红外吸收光谱高度吻合。红外吸收成像除采集指定区域的红外吸收光谱外，Dimension IconIR同时提供了固定红外脉冲波长，检测样品表面某一区域在该波长下吸收强度的功能。在该工作模式下，Dimension IconIR会将红外脉冲激光固定在研究者所选的波长，用AFM探针扫描需要检测的表面，记录探针针尖在每个位置检测到的红外吸收强度，并同时给出AFM形貌和该波长下的红外吸收成像。专利保护的接触共振技术专利保护的共振增强技术将测量灵敏度提高到单分子层级别，达到最高的光谱检测灵敏度。因为基于原子力系统的红外技术是以探针来检测样品表面在红外激光作用下的机械振动，随着厚度的减小，这种位移量变得极其微小，超出了原子力显微镜的噪音极限。我们利用专利保护的可调频激光优化脉冲信号频率，使之与探针和样品的接触共振频率吻合，那么这种单谐振子共振模式就能把微弱信号放大两个数量级。。智能光路优化调整，保证实验效率红外激光和AFM联用系统的最大挑战在于光路的优化，为了得到最佳的信号，在实验过程中光斑中心应该始终跟随探针针尖位置并保持良好的聚焦。但是在调频过程中，激光光束的发射角度会随着波长的变化而改变，进而改变光斑位置，聚焦状态也会变化。布鲁克采用全自动软件控制automatic beam steering和自动聚焦系统来修正光斑位置的偏移和聚焦，大大改善了传统联用系统需要手动调节的不便和低效率。同时全自动动态激光能量调整保证信号的稳定性，避免红外信号受激光不均匀功率的影响。

特点：高采样率：2 MHz；光谱范围： 800 to 1650 nm；光敏面：?3 mm（可定制） 最大测量功率：3 dBm；最低测量功率：-70 dBm；非线性度：0.5%；测量不确定度：2%；参数标定：内置；接口输出：USB2.0高速；光输入接口：FC/PC和自由空间优势：易于集成；高速测量；低成本；便携；OD=3衰减片可选

总览筱晓光子的Ultra-Width系列2000nm高稳定度单模泵浦光源采用带TEC波长稳定单模半导体激光器，波长稳定,输出功率高。基于先进微处理器的控制系统，结合高精度的ATC和ACC(APC)控制电路实现了激光器高稳定地输出，同时保证了光源在操控上的快捷和直观。我们也可以根据用户的要求提供相应的通信接口及控制软件，实现计算机控制。本光源采用Turn-Key泵浦激光器保护功能，可以有效防止客户误操作。可以粗调节功率（步进1mw），也可以精细调节功率步进0.1mw。LD-PD的2000nm单模泵浦光源是一款功能高度集成的台式系统光源，采用高清LCD显示屏，输出功率连续可调，电流、电压同步显示，非常适合于实验科学研究和生产测试。另外公司也可根据用户的要求提供模块化封装，便于系统集成。高功率台式中红外单模FP光源 2000nm 10/15mW,高功率台式中红外单模FP光源 2000nm 10/15mW产品特点● 单模高功率输出：可达25mW● 谱宽高达20nm● ASE光隔离保护设计● 输出功率稳定，连续可调● LCD状态显示● 高精度ACC和ATC控制电路● 内置隔离器可选产品应用● 光纤陀螺● 光学相干测试● 测试测量● 非线性效应研究技术参数技术参数单位技术指标最小值典型值最大值产品型号LP-FP-2000-B LP-FP-2000-M*输出功率1mW10-35峰值工作波长2nm194020002100光谱宽度（FWHM）nm101520输出边模抑制比（SMSR）dB20--输出隔离度3dB-30-输出功率稳定度（15分钟）4%-±0.5±1.0输出功率稳定度（8小时）4%-±1.0±2.0输出功率可调范围%0-100输出功率调节模式粗调/精调TEC稳定度℃-±0.1±0.2TEC工作范围℃253035工作电压VAC100220240电功率功耗5W--30工作温度℃0-50存储温度℃-40-85输出光纤类型SMF2000输出光纤长度m 1输出光纤连接器FC/APC、其他型号可选规格尺寸mm340(L)×240(W)×100(H) 台式150(L)×125(W)×25(H) 模块技术指标说明：*软件远程控制可选1.输出功率可选；2.峰值工作波长可指Ding；3.隔离度是指针对ASE光的隔离度；4 输出功率稳定性测试条件为25度，开机预热30分钟后；5.最大功耗是指极限工作条件下的整体功耗。测试光谱图测试条件：测试温度 25℃；测试电流 280mA光斑质量功率测试表（@280mA）功率稳定性型号及订购LP-FP-2000-PG-OPP-BWD-FTPG:封装方式 B：台式 M：模块OPP（Output Power）：输出功率，单位mW。 例如：10-10mW，25-25mWBWD：10:10nm 20:20nm FT:光纤类型SM=SMF2000

喷气红外(jetCURE IR)一种适用于水性油墨和涂料的高科技烘干机模块。　　可配置为IR或IR/HotAir干燥机的高科技干燥模块　　JetCURE IR是一种风冷红外模块，用于水基印刷油墨和涂料的干燥.它可以用作纯IR干燥机或IR/HotAir烘干机。　　特征　　JetCURE红外光谱的强度高达300 kW/m。每盏灯的一个反射器将红外辐射集中到基片上，从而获得优异的干燥效果。IR模块可以是eq。在短波或中波红外灯的配合下，包括近红外在内的不同波长范围的组合是可能的。因此，JetCURE红外光谱非常灵活，可用于各种干燥任务。　　JetCure IR的独特之处在于它可以快速且容易地从纯IR转变为IR/HotAir烘干机：作为一种纯IR干燥器，它主要应用于喷墨打印。喷墨应用这里总是存在这样的风险：暖气流动可能会对印刷质量产生负面影响，例如，它会使基片表面的墨滴变形。此外，过多的暖气会导致记录喷墨喷嘴。JetCURE IR通过使用过滤冷却空气的排气冷却和灯前的石英玻璃板(辐射出口)来防止基板上的任何空气流动。在t他的操作模式，IR模块，特别适合安装在喷墨打印头旁边或之间。　　通过去除石英板和扭转气流(轴流式风机的机械旋转)，IR模块可以很容易地转换成IR/HotAir干燥机。因此，可以使用JetCure IRD用于温度敏感较低的应用，提高干燥性能。冷却送风由整体风机或外部风机灵活进行。　　应用　　喷墨和柔性印刷用印刷油墨和涂料.印刷电路板的烧结　　主要特点　　高干燥性能的集中红外辐射高达300 kW/m m2辐射宽度可达520 mm(20“)连续红外功率控制，以适应该工艺。油墨或涂料可灵活使用不同的辐射光谱配置为纯IR干燥机或IR/HotAir干燥机轻量级设计，便于在动态系统中使用即插即用连接快速灯通过插头和插座连接改变。通过操作面板操作或集成在机器控制中。

Labsphere（蓝菲光学）的激光功率测量积分球是测量高度分散的光源如激光二极管、激光平行光束的总辐射功率的理想选择，不需要复杂的定位和校准程序即可进行快速、精确、重复性测量，同样不必考虑偏振方向对于功率测量的影响。Labsphere（蓝菲光学）的激光功率测量积分球可应用于紫外-可见-近红外-中红外波长范围内的测量，有多种尺寸可选，可以选用Spectraflect® ，Infragold® 或Spectralon® 为积分球涂层或材料。产品特性：测量结果与光束几何无关（最高可达40°半角）有效收集高度分散的光源可以同时安装两个不同的探测器或光谱仪衰减信号以避免探测器饱和提供水冷激光功率测量积分球高功率激光功率测量系统带有高效的散热系统镀金积分球用一块激光目标板分散激光光源能量用户可以自行选择冷却器种类应用领域：测试激光和半导体激光器的输出特性可以通过水冷积分球测试大功率激光可测量高功率红外激光器测试CO2激光器和Nd:YAG激光器输出特性测试高功率激光二极管

Labsphere（蓝菲光学）的激光功率测量积分球是测量高度分散的光源如激光二极管、激光平行光束的总辐射功率的理想选择，不需要复杂的定位和校准程序即可进行快速、精确、重复性测量，同样不必考虑偏振方向对于功率测量的影响。Labsphere（蓝菲光学）的激光功率测量积分球可应用于紫外- 可见- 近红外- 中红外波长范围内的测量，有多种尺寸可选，可以选用Spectraflect® ，Infragold® 或Spectralon® 为积分球涂层或材料。产品特性：? 测量结果与光束几何无关（最高可达40°半角）? 有效收集高度分散的光源? 可以同时安装两个不同的探测器或光谱仪? 衰减信号以避免探测器饱和? 提供水冷激光功率测量积分球? 高功率激光功率测量系统带有高效的散热系统? 镀金积分球用一块激光目标板分散激光光源能量? 用户可以自行选择冷却器种类应用领域：? 测试激光和半导体激光器的输出特性? 可以通过水冷积分球测试大功率激光? 可测量高功率红外激光器? 测试CO2激光器和Nd:YAG激光器输出特性? 测试高功率激光二极管XX：涂层：SF代表Spectraflect，SL代表Spectralon，IG代表InfragoldYY：探测器：(Si)为硅，(Ge)为锗，(IN)为铟镓砷（砷化铟镓）

欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！C10633-23是一款在红外波段，尤其是950 nm到1700 nm波段具有高灵敏度的InGaAs相机。该相机支持标准视频输出（CCIR 50Hz），还支持USB2.0接口，用于电脑上进行可控制曝光时间的14位图像采集。它可用于多种红外应用，比如红外反射光复印（艺术品检测）、硅晶片检测、激光束测量、PV评价等等。而且，该相机与C2741-62型相机控制器共用获得额外功能，比如对比度增强等等。特性--950 nm到1700 nm波段灵敏度好-- EIA (60 Hz)或CCIR (50 Hz)标准的320×256像素输出--标准USB 2.0 I/F用于带曝光控制的14位图像采集--尺寸小巧，重量轻，操作简单应用配置规格表产品型号C10633-23光谱范围950 nm到1700 nm*1光学填充因数 99.9 %像素可操作性 99 %成像设备InGaAs 传感器有效像素数320 (H)×256 (V)像素尺寸30 μm × 30 μm有效面积9.60 mm (H) × 7.68 mm (V)读出速度全帧：50 帧/秒曝光时间100 μs 到15 ms（通过USB控制）接口模拟：CCIR；数字：USB2.0A/D转换器14位镜头卡口C卡口电源AC 100 V 到 AC 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗低于4 W环境存储温度-10 °C到+ 60 °C环境工作温度0 °C到+ 30 °C（建议温度：＋25 ℃±3）环境工作/存储湿度无凝结下最大70 %*1:该值为典型值*2:暗电流校正数据在＋25 ℃获得光谱响应外形尺寸图~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~ 欢迎来电咨询： 丰台基地： 雷先生： 丁先生：

Labsphere（蓝菲光学）的激光功率测量积分球是测量高度分散的光源如激光二极管、激光平行光束的总辐射功率的理想选择，不需要复杂的定位和校准程序即可进行快速、精确、重复性测量，同样也可以通过过滤器衰减技术消除极化效应。Labsphere（蓝菲光学）的激光功率测量积分球可应用于紫外-可见-近红外-中红外波长范围内的测量。有多种尺寸可选，可以选用Spectraflect® ，Infragold® 或Spectralon® 为积分球涂层或材料。产品特性： 测量结果与光束几何无关（最高可达40°半角）有效收集高度分散的光源可以同时安装两个不同的探测器或光谱仪衰减信号以避免探测器饱和提供水冷激光功率测量积分球高功率激光功率测量系统带有高效的散热系统积分球包括一块激光目标板来分散激光源能量用户可以自行选择冷却器种类应用领域： 激光和半导体激光器的输出特性可以通过水冷积分球测试大功率激光可测量高功率红外激光器CO2激光器和Nd:YAG激光器输出特性高功率激光二极管测量

ARIESTM高功率固定波长中红外激光器与其他的量子级联激光器有很大不同，它的输出功率可高达2W，可连续工作数小时而无需冷却。是高功率光纤测试，图像生成，自由空间通信，损害测试等应用的理想选择，连续和脉冲操作皆可。特点： ● 固定波长，中心波长4.63 μm ● 高功率，最高功率可达2W● 风冷 ● 连续或脉冲操作 ● 快速冷却 ● 电流调制 ● 体积小巧，操作简便，经济实惠AriesTM型号100200400700插口数量1247插口独立控制性N/A是波长范围 (μm)4-52-13操作模式脉冲或连续最大功率 (W)23610脉冲重复频率 (kHz)0.05-1000-5最大占空比 (%)5025功能控制前面板, GPIB,RS-232, 或USB 2.0RS-422或TTL可否光纤耦合否是输入功率100-220 VAC, 1φ28 VDC工作温度范围 (°C)10-35°C冷却方式风冷

1480nm高功率台式单模泵浦光源产品描述：筱晓光子的1480nm高稳定度单模泵浦光源采用带FBG波长稳定光栅的单模半导体 激光器，波长稳定,输出功率高。基于先进微处理器的控制系统，结合高精度的ATC和 ACC(APC)控制电路实现了激光器高稳定地输出，同时保证了光源在操控上的快捷和 直观。我们也可以根据用户的要求提供相应的通信接口及控制软件，实现计算机控制。 本光源采用Turn-Key泵浦激光器保护功能，可以有效防止客户误操作。可以粗调节功 率（步进50mw），也可以精细调节功率步进0.1mw。 筱晓光子的1480nm单模泵浦光源是一款功能高度集成的台式系统光源，采用高清 LCD显示屏，输出功率连续可调，电流、电压同步显示，非常适合于实验科学研究和 生产测试。另外公司也可根据用户的要求提供模块化封装，便于系统集成。产品特点：1、单模高功率输出：可达500mW 2、FBG光栅锁定波长，无漂移3、ASE光隔离保护设计 4、输出功率稳定，连续可调5、LCD状态显示 6、高精度ACC和ATC控制电路 7、内置隔离器可选产品应用：1、泵浦激光器 2、密集波分复用（DWDM） 3、小型包装设计的EDFA 高比特率、高通道数EDFA 4、有线电视分配

带有功率控制的实验室红外线加热器，适用于加热更大的样品技术参数Max.温度：900°C加热功率：800W加热面积：100 x 100 mm功率控制：无级控制/在 0 - 100 % 之间Max.环境温度：30°C电源：230 V，50 / 60 Hz根据要求提供 115 V 版本尺寸(宽 x 深 x 高)：150 x 150 x 170 mm重量：2.5 kg

莱森光学激光功率积分球系列主要针对激光进行设计，是测量激光光辐射总功率的理想选择，得益于激光功率积分球独特的几何结构，激光束功率测量不会受到激光束的偏振和校准的影响。能够满足用户在VCSEL、激光功率测量、激光和激光二极管输出特性检测等应用方面的需求。莱森光学激光功率积分球采用≥98%高反射率的漫反射光学材料，独有内胆光学工艺，高反射率光学材料经过特殊工艺改性、铸模，再机械加工成球壳形，最后经抛光、清洗而成，其最大优点是涂层壁厚，永不脱落。我司研发的激光功率积分球可以理想地收集到高度发散的光源的总辐射功率，只需要经过标定和校准程序即可实现精准测量；对于1-16μm光谱激光或高功率激光需采用镀金激光功率积分球更高功率需要配置水冷装置。莱森光学激光功率积分球，需要搭配莱森光学功率主机和LiSpecView-VCS光谱功率测量软件实现光谱功率测量，用户也可以灵活搭配自己的电流表进行功率测量。工业级-激光光谱功率积分球测试仪 激光测量动态范围可灵活选择，积分球尺寸1-8吋可选，也可定制 积分球出光/测量口均匀性优于0.1% 功率波长测量范围350-1100nm/800-1700nm 高功率模式可配置镀金积分球，波长范围1-16μm 功率稳定性高达0.1%，出厂溯源标定，功率准确性优于1% 能够有效地收集高度发散源的总功率 可应用于VCSEL，激光功率测量，高功率红外激光测量等

蓝菲光学凭借其近40年的经验，在传统电光源测量系统的基础上，推出了VCSEL LIVT型号 VCSEL LIVT测试系统，是行业内研发测试，质量检查，生产测试的理想测试方案。蓝菲光学VCSEL LIVT测试系统使用独有的Spectralon 、Permaflect或Spectraflect积分球对器件发光进行收集。该材料对紫外-可见-红外范围内的光都具有极高的光谱反射率，可分别满足研发端和产线段对高低温度测试和产线端设备免维护性的要求。此外，通过选择不同尺寸的积分球，可以满足从毫瓦到千瓦量级的激光功率测试。用户可根据需要选择不同尺寸和功率的温度控制器，并将待测器件置于温度控制器上以保证待测器件工作在理想的温度。系统搭配的高速探测器快速的采集 VCSEL发出的脉冲光，并依据用户设置的测试方法完成完整的LIVT测试。产品特点：• 快速，便捷的自动化LIVT测试• 经溯源至NIST稳定准确的940nm标准光源校正• 高稳定性高分辨率光谱分析仪（光谱分辨率高达0.1-0.16nm）• 独有的Spectralon材料，耐温400度• 快速的温度控制• 精确快速的数据采集（*高200KHz）• 用户自定义驱动方式（如：脉宽，周期等）• 强大的软件功能，可记录LIVT曲线和T-W（温度-波长漂移）曲线测试设置和参数VCSEL LIVT 设置数据输出驱动电流/电压大小光谱峰值扫描脉冲宽度/占空比光谱宽度（FWHM）扫描脉冲数量平均功率/峰值功率温度范围LIV关系采样频率T-W关系规格参数产品型号CSTM-VCSEL-PW-060-LIVT积分球材质Spectralon/Spectraflect/Permaflect积分球尺寸(英寸)6 （可定制）入光口径(英寸)1.5 （可定制）光谱仪波长范围(nm)800-980光谱仪分辨率FWHM(nm)0.1-0.16nm光谱仪波长探测精度(nm)±0.1nm最大采样频率200KHz功率探测范围(Spectralon) @940nm1mW ~ 200W高速探测器线性度0.5%高速探测器测试精度±1%高速探测器有效读数5位VCSEL温控范围（℃）1-85VCSEL温控精度（℃）±0.1

一,Lasnix 用于中红外激光束的µ W级功率传感器 功率计 3.7-20u功率传感器包含一个非常快的热电堆，一个低通滤波器，和一个ZnSe透镜。它接受准直(±2°内)输入光束，直径可达12毫米。1/100秒的响应时间比任何传统电能表都要短得多。不需要电池。 输出是真正的直流模拟和读入任何万用表，范围或ADC计算机卡。SMA输出连接器。安装时，底座上有一个丝锥孔M4。QCL CO CO FEL DFG OPOLasnix 用于中红外激光束的µ W级功率传感器 功率计 3.7-20um,Lasnix 用于中红外激光束的µ W级功率传感器 功率计 3.7-20um通用参数产品应用快速光束功率监测快速过程分析过程控制电源稳定参数值单位光谱范围3.7 - 20 (可选:1.9-100um)µ m功率范围 0.001 - 100mW响应时间0.02s灵敏度 5V/W动态范围 45db输出电阻50kΩ输出接口SMA最大脉冲能量1mJ阻塞范围内最大功率1W阻塞范围(blocked range) 0.3 - 3.5 (1.8)um线性度-5 %-10 %(10 W)(100 W)工作温度-20~80oC产品型号通光孔径长度高度宽度重量mmmmmmmmg5111238222240二,Lasnix 用于红外激光束的功率传感器(功率计) 1-20µ m功率传感器包含一个非常1/100秒的响应时间比任何传统电能表都要短得多。不需要电池。输出是真正的直流模拟和读入任何万用表，范围或ADC计算机卡。进入的激光辐射在到达热电堆之前在腔内扩散 因此，响应与光束形状和极化高度无关。基本传感器Mod. 501有一个4毫米孔径，以接受一个均匀的尖锐聚焦光束。在10w以下持续操作时不需要热沉，但建议在10w以上继续操作。底座有1个M8丝锥安装孔和4个M4丝锥安装孔。扩展Mod. 502有一个整体对流散热器，独立使用高达50 W, 和一个20毫米口径，接受准直光束(在±4°)。THz QCL CO2 FEL OPO HF Telcom Nd:YAG Ti:SLasnix 用于红外激光束的功率传感器(功率计) 1-20µ m,Lasnix 用于红外激光束的功率传感器(功率计) 1-20µ m通用参数应用：快速光束功率监测快速过程分析过程控制电源稳定参数值单位光谱范围1 - 20µ m功率范围 1 mW - 50W响应时间0.01s灵敏度 5mV/W动态范围 50 db输出电阻50kΩ输出接口BNC最大脉冲能量1mJ最大功率密度无限制漫反射率7 %空间灵敏度变化1J (50 ns)线性度-5 %-10 %(5 W)(50 W)工作温度-20~80oC产品型号 通光孔径长度高度宽度重量mmmmmmmmg5014543535130502205010882700

激光功率积分球特点：激光功率测量几何光束达40°半角有效地收集高度发散源的总功率可以同时安装两个不同的探测器和光谱仪可以减弱信号避免探测器饱和可以提供水冷式激光功率积分球高功率激光功率积分球内置高效的排温系统积分球内含的目标板用以分散能量源 冷却剂类型可选应用领域：VCSEL激光功率测量激光和激光二极管输出特性检测光学探测平台高功率红外激光测量 水冷激光功率测量CO2激光和Nd:YAG激光输出特性测量 高功率激光二极管阵列 独立的光学测量方式，Labsphere的激光功率测量积分球可以理想地收集高度发散光源如激光二极管及平行光束的总辐射功率，用户不需要经过复杂地激光定位及校准便可快速简便地实现精确的、可重复性的测量，使用衰减滤波片可以消除偏振效应。 水冷激光功率测量积分球有3种尺寸规格，可以测量高功率脉冲及连续输出激光器的功率，具有高漫反射率的镀金涂层Infragold可应用在700nm~20μm波长范围。水冷设计能承受最上限功率为2 kw/cm2（在10.6 μm内每秒连续输出）同时能很大程度地减少非水冷积分球功率的自激发。 Labsphere的激光功率测量积分球可以应用在紫外-可见-近红外至中红外波长范围内，兼容Labsphere的标准的探测器组件。 积分球包括两个探测器开口，用户可以同时安装2个探测器测量不同波长的激光源，在积分球的两个开口处分别安装一个光点探测器和光谱仪可以测量激光特点。 输入光束的正对方向安装有一块激光目标板，这种设计旨在接收来自激光的首次的透射，分散进入球内的能量，每个水冷激光功率测量积分球的组件都带有2个0.25英寸的NPT配件方便与冷却系统连接。 自来水或者冷却剂如乙二醇可作为冷却剂，如果采用了循环装置，可以咨询供应商选择冷却剂类型。水冷激光功率积分球是测试CO2, Nd:YAG及其他激光功率小于2 kW/cm2的红外激光的理想选择。冷却液最上限压力为15psi,安全阀最上限压力为35psi。选择冷却环境时需要考虑冷却剂输出温度及压力条件。订购信息及规格

WBSC-3000型自动水分测定仪 一、仪器特点：1：适用于煤炭、焦炭及矿石等物质全水和分析水的测定。2：采用最新控制电路，集成度高。仪器高度智能化、自动化、性能更加稳定可靠。3：采用大屏幕LCD液晶显示器，测定数据，状态指示，中文菜单操作提示，自动打印，清晰直观。4：采用原装进口电子天平，称量稳定、快速、可靠。称重有误时，自动重新称量，仪器自动判定，有无容器，自动判定有无样品。5：内置快速、恒重两种测定程序。微波、红外、组合三种烘干方式。测定数据自动打印。二、技术参数：微波输入功率：≤1400W 微波输出功率：≤900W微波频率：2450MHz 红外功率：≤1200W天平称量范围：≤210g 天平分辨率：0.001g/0.00001g水分测定精度：≤0.4% 测试试样数：9个测试时间：10—20min 工作电源：AC220±20V 50Hz外形尺寸（mm）：510*380*540

应用：QCLs的功率探测DFBs的功率探测特点：增益放大2x或者100x与热敏探测器相比，该探测器响应速度非常快，且更易于达到稳定状态。 PbSe中红外大面积功率探测器可以用于测量的波长范围是1.5μm-5.0μm，增益可调倍数为2X或100X，有效面积达到5mm x 5mm，易于校准。基于光电导器件，与热敏探测器相比，该探测器响应速度非常快，且更易于达到稳定状态。

RX 系列激光器采用全新的封装，具有更小的外形尺寸和更高的性能。可为客户提供更丰富的激光器种类选择：红外激光器10W到100W、绿光激光器 5W至70W以及紫外激光器 3W至 45W。高脉冲能量可以通过分光满足多平台加工，从而提升加工效率，降低运营成本。软件的控制界面简洁易懂，提供输出脉冲完全控制同时提供Burst模式。在Burst模式下用户可以选择单个脉冲串中包络多个子脉冲。子脉冲的脉宽为10ps，子脉冲间隔14ns，并且每个子脉冲的大小都可以完全通过编程控制。频率调节范围为单脉冲到8MHz。用户可以改变激光器输出频率也可以通过改变PEC从而改变输出功率，从而最大程度满足各种制成多样性。 优势窄脉宽的皮秒激光器 ( 红外 10ps, 绿光和紫外 ~7ps) 多种波长可选 :1064nm,532nm,355nm。266nm 可按要求提供 低 用 电 功 耗 的 皮 秒 激 光 器（ 功 耗 杰 出 的 TEM00 光 斑 模 式（M2 ≤ 1.2） 优秀的光斑指向稳定性（20μrad） PEC( 功率或脉冲能量控制 ) PSO（位置同步输出）支持对任意 RX 系列进行外部触发，同时保持恒定、稳定的脉冲能量Burst 模式，可单独控制最多 10 个 Burst 脉冲，脉冲间隔为 14ns POD（按需脉冲），其中间隔等于 PRF 的 Brust 脉冲，可以在内部、外部或连续触发，同时保持恒定的脉冲能量

Labsphere（蓝菲光学）的激光功率测量积分球是测量高度分散的光源如激光二极管、激光平行光束的总辐射功率的理想选择，不需要复杂的定位和校准程序即可进行快速、精确、重复性测量，同样也可以通过过滤器衰减技术消除极化效应。Labsphere（蓝菲光学）的激光功率测量积分球可应用于紫外-可见-近红外-中红外波长范围内的测量。有多种尺寸可选，可以选用Spectraflect，Infragold 或Spectralon 为积分球涂层或材料。产品特性： 测量结果与光束几何无关（最高可达40°半角）有效收集高度分散的光源可以同时安装两个不同的探测器或光谱仪衰减信号以避免探测器饱和提供水冷激光功率测量积分球高功率激光功率测量系统带有高效的散热系统积分球包括一块激光目标板来分散激光源能量用户可以自行选择冷却器种类应用领域： 激光和半导体激光器的输出特性可以通过水冷积分球测试大功率激光可测量高功率红外激光器CO2激光器和Nd:YAG激光器输出特性高功率激光二极管测量

NLIR（非线性红外传感器）公司是由丹麦技术大学(DTU Fotonik)光子学工程系的3名研究人员和NLIR的首席执行官创立的一家初创公司，隶属于Nynomic集团。该公司基于新颖的上转换专利技术，开发了中红外光谱仪、单波长探测器和光源等一系列产品。相较于传统的红外光谱仪，NLIR公司的同类产品具有快几个数量级的光谱扫描速度和更高的灵敏度。上转换技术的核心是可将中红外光转换为近可见光的非线性晶体。这使得可以使用快速高效的硅基传感器来检测中红外（MIR）光。非线性中红外光谱仪的实现代表了一种新测量范式。该公司被命名为非线性红外传感器(NLIR)，以突出与当今领先的傅里叶变换红外光谱(FTIR)的MIR光谱方法的技术差异。NLIR公司开发的产品可广泛应用于中红外光谱领域，如光谱测量、光学镀膜、激光系统诊断、光纤光谱探针（样品检测）、实时工业过程监控、颜色识别、快速事件光谱分析、弱光光谱测试、自由空间光通信等。 工作原理非线性红外传感器（NLIR）的技术核心是可将中红外波长转换成近可见波长的波长转换模块，从而使Si及GaAs传感器可用于红外光探测。转换模块支持的转换波长范围从1.9-5.3 μm，通过在铌酸锂晶体中内置1064 nm高功率激光器，可以将该波长范围内的入射光信号转为682 nm-886 nm波长范围的出射光。波长转换模块仅支持垂直偏振方向的光实现波长转换，这会降低入射光的转换效率相应地也将噪声降低为原来的一半。经过转换后，有效光谱为滤除685 nm波长以下，886 nm波长以上的残留噪声后的光谱。波长转换原理示意图 波长转换模块的光谱范围大小对于光子转换效率具有重要的影响。对于光谱转换范围在大约50 nm的最小谱宽来说，光转换效率可达0.1。当光谱转换范围拓展为3.3-5.3 μm时，转换效率降低为0.005，当光谱转换效率拓展为更宽的1.9-5.3 μm时，转换效率仅有0.0005。理想转换光谱范围和转换效率的协同改变取决于很多因素。但更低的转换效率提供了测量的更多可能，尤其是在光谱应用领域。更高的转换效率，配合合适的可见光探测器，可以提供一些最快、灵敏度最高的红外光探测方法。 使用可见/近红外探测器实现中红外探测除了产生更低的等效噪声功率，近红外波长转换模块还具有其他的优势。将输出光信号通过光纤耦合进GHz GaAs传感器可以获得比传统中红外探测器更快的探测速度。10GHz甚至25 GHz 探测器都可以兼容测量。进一步而言，标准近可见光探测器通常配置有前置放大器，响应可高达GV/W，简化了输出电信号的测量。NLIR的波长转换模块是针对任何中红外实验室的通用多功能工具。客户通常需要灵活的中红外测试设备，但满足的设备往往造价昂贵。使用不同的客户可承担的探测器设计的波长转换模块可满足客户需求，在大多数情况下，波长转换模块给出的探测结果甚至优于使用传统的昂贵中红外探测器得到的结果。

显微红外热点定位测试系统半导体器件作为现代科技社会的一大进步，却因为各种原因停滞不前，其中半导体器件故障问题一直是行业内的热点问题，多种多样的环境因素，五花八门的故障形式，使得制造商不知所措，针对此问题，金鉴实验室联合英国GMATG公司推出显微红外热点定位系统，采用法国的ULIS非晶硅红外探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造出高精智能化的测试体系，专为电子产品FA设计，整合出一套显微红外热点定位测试系统，价格远低于国外同类产品，同样的功能，但却有更精确的数据整理系统、更方便的操作体系，正呼应了一句名言“最好的检测设备是一线的测试工程师研发出来的！”。金鉴显微红外热点定位测试系统已演化到第四代：配备20um的微距镜，可用于观察芯片微米级别的红外热分布；通过强化系统软件算法处理，图像的分辨率高达5um，能看清金道与缺陷；热点锁定lock in功能，能够精准定位芯片微区缺陷；系统内置高低温数显精密控温平台与循环水冷装置校准各部位发射率，以达到精准测温度的目的；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省20%的研发和品质支出的目的。金鉴实验室联合英国GMATG公司设立仪器研发中心，自主研发的主要设备有显微光热分布系统、显微红外定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。红外显微镜系统(Thermal Emission microscopy system)，是半导体失效分析和缺陷定位的常用的三大手段之一（EMMI,THERMAL,OBIRCH）,是通过接收故障点产生的热辐射异常来定位故障点(热点/Hot Spot)位置。存在缺陷或性能不佳的半导体器件通常会表现出异常的局部功耗分布，最终会导致局部温度增高。金鉴显微热分布测试系统利用热点锁定技术，可准确而高效地确定这些关注区域的位置。热点锁定是一种动态红外热成像形式，通过改变电压提升特征分辨率和灵敏度，软件数据算法改善信噪比。在IC分析中， 可用来确定线路短路、 ESD缺陷、缺陷晶体管和二极管，以及器件闩锁。该测试技术是在自然周围环境下执行的，无需遮光箱。金鉴显微红外热点定位测试系统优点：高灵敏度的锁相热成像缺陷定位配合电测，XRAY等对样品作无损分析选配不同镜头，可分析封装芯片及裸芯片对短路及漏电流等分析效果佳0.03℃温度分辨率，20um定位分辨率，可探测uW级功耗其他功能如真实温度测量，热的动态分析，热阻计算相对于其他缺陷查找设备（EMMI,THERMAL,OBIRCH），价格可承受与国外同类设备相比，金鉴显微红外热点定位测试系统优点显著：金鉴显微红外热点定位测试系统 VS OBIRCHOBIRCH广泛用于芯片级分析和中等短路电阻，但挑战性低于10欧姆金鉴显微红外热点定位系统一般具有较高的成功率金鉴显微红外热点定位系统可兼容大样品、微米级样品测试金鉴显微红外热点定位系统热点锁定功能可以显着扩大覆盖范围，降低漏电阻金鉴显微红外热点定位系统支持长期在线监测热点缺陷异常金鉴显微红外热点定位系统测试依据：GB/T 28706-2012 无损检测 金鉴显微红外热点定位系统可以对探测电源、芯片等短路漏电故障缺陷热点锁定（lock in）功能：温度最高点定位聚焦过程只需要一秒应用领域：PCBA短路热点失效分析、IC器件缺陷定位、升温热分布动态采集、功率器件发热点探测、集成电路失效分析、无损失效分析、细微缺陷探测、正向点亮漏电LED芯片,Vf偏低（左图）。反向测试芯片漏电流显示漏电流较大（右图）测试结果：显微红外热点定位热分布测试结果显示：漏电芯片上热分布不均，存在异常热点，热点即为芯片漏电缺陷点。span font-size:14px white-space:normal background-color:#bcd3e5 "="" style="color: rgb(102, 102, 102) font-family: Arial, Helvetica, sans-serif font-size: 14px text-align: justify white-space: normal "存在缺陷或性能不佳的半导体器件通常会表现出异常的局部功耗分布，最终会导致局部温度增高。金鉴显微红外热点定位热分布系统，利用新型高分辨率微观缺陷定位技术，可在大范围内高效而准确地确定关注区域（异常点）位置。图示为在金鉴显微红外热点定位测试布设备下LED芯片漏电图：LED芯片热点定位图在金鉴显微红外热点定位测试系统中，不同模式调色板下的芯片漏电图如图所示显示：不同调色板下的LED芯片热点定位图对于受损LED来说，缺陷引起的非辐射复合几率增加，在加压增强的情况下，局部的高电场或强复合所引起的红外辐射能量被金鉴显微红外探测系统所接收，可以看到明亮的发光点或者热斑，再经过CCD图像转换处理，将其与器件表面的光学发射像叠加，就可以确认漏电造成发光点的位置。可见光与红外双重成像技术精确定位细微缺陷！案例二：金鉴显微红外热点定位系统查找紫外垂直芯片漏电点客户反馈其紫外垂直芯片存在漏电现象，送测裸晶芯片，委托金鉴查找芯片漏电点。 可见光图和热成像图融合，精准定位LED芯片热点取裸晶芯片进行外观观察，发现芯片结构完整，无击穿形貌，表面干净无污染。通过金鉴探针系统对裸晶芯片加载反向电压后，在暗室中使用显微红外热点定位系统的热点自动搜寻功能定位到了芯片上若干热点。经过可见光与热成像双重成像融合后，可以清晰观察到热点所在，即为芯片漏电缺陷处。案例三：客户送测LED芯片，委托金鉴在指定电流条件下（30mA、60mA、90mA）进行芯片热分布测试。其中60mA为额定电流。点亮条件：30mA、60mA、90mA环境温度：20~25℃/40~60%RH不同加载电流下LED芯片热分布图灯珠正常使用时，额定电流为60mA。金鉴通过显微热分布测试系统发现，该芯片在额定电流下工作，芯片存在发热不均匀的现象，其负极靠近芯片边缘位置温度比正电极周围高10度左右。建议改芯片电极设计做适当优化，以提高发光效率和产品稳定性。该芯片不同电流下（30mA、60mA、90mA）都存在发热不均的现象，芯片正极区域温度明显高于负极区域温度。当芯片超电流（90mA）使用时，我们发现过多的电流并没有转变成为光能，而是转变成为热能。案例四：某灯具厂家把芯片封装成灯珠后，做成灯具，在使用一个月后出现个别灯珠死灯现象，委托金鉴查找原因。本案例，金鉴发现该灯具芯片有漏电、烧电极和掉电极的现象，通过自主研发的显微热分布测试仪发现芯片正负电极温差过大，再经过FIB对芯片正负电极切割发现正极Al层过厚和正极下缺乏二氧化硅阻挡层。显微热分布测试系统在本案例中，起到定位失效点的关键作用。对漏电灯珠通电光学显微镜观察：金鉴随机取1pc漏电灯珠进行化学开封，使用3V/50uA直流电通电测试，发现灯珠存在电流分布不均现象，负极一端处的亮度较高。LED芯片光分布图对漏电灯珠显微红外观察：使用金鉴自主研发的显微热分布测试系统对同样漏电芯片表面温度进行测量，发现芯片正负电极温度差距很大，数据显示如图，负极电极温度为129.2℃，正极电极温度为82.0℃，电极两端温差30℃。LED芯片热分布图死灯芯片正极金道FIB切割：金鉴工程师对死灯灯珠芯片正极金道做FIB切割，结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构，金鉴发现： 1.Cr-Al-Cr-Pt层呈现波浪形貌，尤其ITO层呈现波浪形貌，ITO层熔点较低，正极在高温下，芯片正极ITO-Cr-Al-Cr-Pt层很容易融化脱落，这也是金鉴观察到前面部分芯片正极脱落的原因。2.芯片正极的铝层厚度约为251nm，明显比负极100nm要厚，而负极和正极Cr-Al-Cr-Pt-Au是同时的蒸镀溅射工艺，厚度应该一致。3.在芯片正极金道ITO层下，我们没有发现二氧化硅阻挡层。而没有阻挡层恰好导致了正负电极分布电流不均，电极温差大，造成本案的失效真因。LED芯片正极金道FIB切割及截面形貌观察案例五：委托单位送测LED灯珠样品，要求使用显微热分布测试系统观察灯珠在不同电流下表面温度的变化情况。对大尺寸的倒装芯片进行观察：开始时样品电流为1A，此时芯片表面温度约134℃；一段时间后，电流降低到800mA，温度在切换电流后的2s内，温度下降到125℃，随后逐渐下降到115℃达到稳定；紧接着再把电流降低到500mA，10s后，温度从115℃下降到91℃。加载电流变化下大尺寸倒装芯片的温度-时间曲线图对小尺寸的倒装芯片进行观察：样品在300mA下稳定时，芯片表面温度约为68℃；电流增加到500mA，10s后温度上升到99℃；随后把电流降低到200mA，13s后温度下降到57℃，此时把电流增加到400mA，芯片表面温度逐渐上升，在20s后温度达到稳定，此时温度约为83℃；最后把电流降低到100mA后，温度逐渐下降。加载电流变化下小尺寸倒装芯片的温度-时间曲线图案例五：电源失效分析之热点定位委托单位电源出现失效现象，委托金鉴查找电源失效原因。在该案例中，金鉴使用显微红外热点定位测试系统对电源进行测试，定位到电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，经测温发现该电阻温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。电源热分布图及热点定位案例六：测试原理：PCB器件存在缺陷异常或性能不佳的情况下，通常会表现出异常局部功耗分布，最终会导致局部温度升高。金鉴显微红外热点定位系统利用新型高分辨率微观缺陷定位技术进行热点锁定(lock in) ，可快速而准确地探测细微缺陷（异常点）位置。 室温24.5℃条件下，对待测区域施加5V电压，此时导通电流为20mA。使用显微热点定位系统测试PCB板热点。如红外热点定位图所示，其中红色三角形标识处即为热点所在，红外-可见光融合图可观察到热点在PCB板上的位置，该热点位置即为PCB板漏电缺陷位置。局部漏电PCB样品红外热点定位测试 红外热点定位图 可见光图（测试区域） 红外-可见光融合图

TRAL红外探测器通用测试系统用于测量在700nm到16000nm宽光谱范围内敏感的离散（或小型线性阵列）红外探测器（NIR/SWIR/MWIR/LWIR探测器或宽带探测器）的参数。可测试的红外探测器包括：光子探测器：光伏/光电导、冷却/非制冷、热辐射探测器、热电探测器等。在辐射配置中，TRAL系统使用调制光束照射被测红外探测器。探测器产生与入射红外辐射功率成正比的输出电信号。通过分析被测探测器的输出电信号和辐射功率，得到所需参数。 在光谱配置中，TRAL系统使用可变波长、可变强度辐照被测探测器。过对被测探测器输出电信号的分析，可以确定其相对光谱灵敏度。测试功能：1.辐射参数：黑体响应度，响应度，黑体探测率，归一化探测率，NEP，暗电流，量子效率。2.光谱参数：相对光谱响应3.空间参数：调制传递函数MTF和非均匀性。

总览筱晓光子的Ultra-Width系列1550nm高稳定度单模泵浦光源采用带TEC波长稳定单模半导体激光器，波长稳定,输出功率高。基于先进微处理器的控制系统，结合高精度的ATC和ACC(APC)控制电路实现了激光器高稳定地输出，同时保证了光源在操控上的快捷和直观。我们也可以根据用户的要求提供相应的通信接口及控制软件，实现计算机控制。本光源采用Turn-Key泵浦激光器保护功能，可以有效防止客户误操作。可以粗调节功率（步进1mw），也可以精细调节功率步进0.1mw。LD-PD的1550nm单模泵浦光源是一款功能高度集成的台式系统光源，采用高清LCD显示屏，输出功率连续可调，电流、电压同步显示，非常适合于实验科学研究和生产测试。另外公司也可根据用户的要求提供模块化封装，便于系统集成。1550nm高功率台式单模SLD光源 3/5/15/25mW (保偏可选),1550nm高功率台式单模SLD光源 3/5/15/25mW (保偏可选)产品特点● 单模高功率输出：可达25mW● 谱宽高达80nm● ASE光隔离保护设计● 输出功率稳定，连续可调● LCD状态显示● 高精度ACC和ATC控制电路● 内置隔离器可选技术参数技术参数单位技术指标最小值典型值最大值产品型号LP-SLD-1550-BLP-SLD-1550-M*输出功率1mW3-35峰值工作波长2nm154015501560光谱宽度（FWHM）nm254080输出边模抑制比（SMSR）dB20--输出隔离度3dB-30-输出功率稳定度（15分钟）4%-±0.5±1.0输出功率稳定度（8小时）4%-±1.0±2.0输出功率可调范围%0-100输出功率调节模式粗调/精调TEC稳定度℃-±0.1±0.2TEC工作范围℃253035工作电压VAC100220240电功率功耗5W--30工作温度℃0-50存储温度℃-40-85输出光纤类型SMF-28E+输出光纤长度m 1输出光纤连接器FC/APC、其他型号可选规格尺寸mm340(L)×240(W)×100(H) 台式150(L)×125(W)×25(H) 模块*软件远程控制可选1.输出功率可选；2.峰值工作波长可指Ding；3.隔离度是指针对ASE光的隔离度；4 输出功率稳定性测试条件为25度，开机预热30分钟后；5.最大功耗是指极限工作条件下的整体功耗。光谱图波长稳定性测试光斑质量功率测试表SLD 光源功率稳定性测试曲线产品应用● 光纤陀螺● 光学相干测试● 测试测量● 非线性效应研究订购信息LP-SLD-1550-PG-OPP-BWD-FTPG:封装方式 B：台式 M：模块OPP（Output Power）：输出功率，单位mW。 例如：10-10mW，50-50mWBWD：25:25nm 40:40nm 50:50nm 60：60nm 80:80nm 100:100nmFT:光纤类型SM=SMF-28E+PM=PM1550

JSFY-5000微机水分测定仪采用微波和光波加热方式，具有测试快速，操作简单的特点一、适用范围适用于煤炭、焦碳、石油、生物质燃料及矿石等物质的空干基水分和全水分检测二、符合国标GB/T212-2008《煤的工业分析方法》GB/T211-2007《煤中全水分测定方法》GB/T28731-2012《固体生物质燃料的工业分析方法》GB/T28733-2012《固体生物质燃料全水分测定方法》三、技术特点（1）主要用于水分的测定，采用微波、光波加热方式，测试快速，结果稳定性（2）控制主机操作并不受电脑单方原因造成不可控。故障报警自我*护（3）接口方式：采用CAN总线技术，采用*护电路,防雷、抗磁干扰（4）内置电子天平，实时显示样重，具有断电记忆功能，突然断电不会丢失测试数据，通电即可继续完成试验（5）分析测试系统具有自动上传数据，生产报表四、技术参数（1）测试样品个数：1-9个/次（2）测试时间：8min～15min（3）试验质量：内水分：0.9～1.1g 全水分10～12g（4）试样粒度：内水分：≤0.2mm 全水分：≤6mm（5）实验温度：105-110 ℃ 控温*度：≤±2.5℃（6）功率：微波输入功率：≤1400W,微波输出功率：900W，微波频率：2450MHz 红外功率：≤1200W

失效分析检测公司推荐的设备，功能多多，科研利器！显微红外热分布测试系统金鉴显微红外热分布测试系统（GMATG-G5）由金鉴实验室和英国GMATG公司联合推出，采用法国的非晶硅红外ULIS探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造出一套高精智能化的显微红外热分布测试体系。这套测试体系专为微观热成像设计，价格远低于国外同类产品，除传统红外热成像的优势外，还具有更高精度的成像系统、更高的温度灵敏度，更便捷的操作体系，并为微观热成像研究添加诸多实用和创新的功能，是关注微观热分布的科研和生产必不可少工具。金鉴显微红外热分布测试系统已演化到第五代：配备20um的微距镜，可用于观察微米级别芯片的红外热分布；通过软件算法处理，图像的分辨率高达5μm，能看清芯片金道；高低温数显精密控温体系，可以模拟芯片工作温度；区域发射率校准软件设置，根据被测物上的不同材质，设置不同发射率，才能得到最真实的温度值；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室联合英国GMATG公司设立仪器研发中心，自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉，性能卓著，值得信赖。与传统红外热像仪相比，金鉴显微红外热分布测试系统优点显著：应用领域：适用于LED、半导体器件、电子器件、激光器件、功率器件、MEMS、传感器等样品的研发设计、来料检验、失效分析、热分布测量、升温热分布动态采集。金鉴显微热分布与传统设备大PK：金鉴显微热分布测试系统特点：1. 20μm微距镜，通过软件强化像素功能将画质清晰度提高4倍，图像分辨率提高至5μm，可用于观察芯片微米级别的红外热分布。 LED芯片热分布图 2. 模拟器件实际工作温度进行测试，测试数据更真实有效。电子元器件性能受温度的影响较大，金鉴显微热分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，模拟器件实际工作温度进行测试，提供更为真实有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题 3. 1TB超大视频录制支持老化测试等长期实时在线监测。金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像可保存每一帧画面所有像素的温度数据，支持逐帧分析热过程和变化，可全面的观测分析温度与时间的关系、温度与空间的关系，更容易发现和确认真实的温度值，以及需要进一步检查的位置。灯具温升变化图 灯珠芯片温升变化图4. 热灵敏度和分辨率高，便于分辨更小温差和更小目标，提供更清晰的热像。 专业测温，-20℃~650℃宽温度量程，测温误差±2℃或±2%。热灵敏度0.03℃，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。红外分辨率640x480，若使用算法改进的像素增强功能，可有4倍图像清晰度，画质提升为1280x960。5. 定制化的热像分析软件，为科研和分析提供专业化的数据支持。金鉴定制PC端、APP分析软件: IR pro、JinJian IR，针对不同测试样品开发的特殊应用功能，人性化的操作界面，纠正多种错误测温方式，具备强大的热像图片分析和报告功能，方便做各个维度的温度数据分析和图像效果处理。（1） PC和手机触屏操作界面，简单易学，即开即用。 手机软件主界面 PC软件主界面（2）支持高低温自动捕捉，多个点、线、面的实时温度显示、分析功能，可导出时间温度曲线、三维温度图等测试数据。 （3）多达15种调色板，适用于不用的测试样品和场景需求，显示颜色的变化不影响温度的测试。（4） 微小器件由不同材质组成，不同材质、不同粗糙度等都影响发射率，图像上大部分对比度通常是由于发射率变化而不是温度变化引起的，因此发射率校正显得尤为重要。金鉴显微热分布测试系统可灵活设置不同区域的发射率，实现不同材质单独测量，温度测试更加准确。 （5）视频录制触发与自由定义帧频，最快25帧/秒，可精准捕捉有效的温度数据和视频图像。 （6）切换图像模式，可实现热像图和可见光图融合，可查看画面中高温区域或温度变化较大区域。 图像模式热成像-可见光融合图（7）导出热像图全部像素点温度数据值，为专业仿真软件建立温度云图等分析提供原始建模数据。 （8）温差模式，可直观获取任意两张热像图的温度差异，分析更快速精准。测试案例:案例一：不同环境温度下热分布测试金鉴显微热分布测试系统配备高精度控温体系，可实现器件在不同温度下的热分布测试。本案例模拟灯具芯片在不同环境温度下的结温及热分布状态，测试结果表明，控制环境温度达到80℃时，芯片结温122℃，继续升高环境温度可能导致芯片发光效率低下甚至芯片受损。案例二：不同厂家芯片光热分布差异以下案例中A款芯片发光最强，发热量最小，光热分布最均匀，量子效率最高。强烈建议LED芯片规格书里添加不同使用温度下的光热分布数据！做好光热分布来料检验，可以使LED最亮，温度最低，而成本最低，质量更可靠。 案例三：多芯片封装，电流密度均匀性需把控某款灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 案例四：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，金鉴显微热分布测试分析显示，芯片负极焊盘区域温度比正极焊盘区域温度高约15℃。因此，推断该芯片电流密度均匀性较差，导致正负极焊盘位置光热分布差异较大，局部热膨胀差异过大从而引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例五：显示屏模组热分布监测PCB板大屏显示模组存在过热区，过热区亮度会偏低，高温还会加速LED光源的老化，热分布不均势必会造成发光不均，影响显示模组清晰度。在显示屏分辨率快速提升的当下，光热分布不均已成为制约LED显示屏清晰度的最大因素。因此，提升LED显示屏光热分布均匀性对提高当下LED显示屏清晰度，意义重大！ 案例六：IC器件热分布测试未开封的IC器件也可观察到表面热分布图。无需化学或激光开封，金鉴的红外热分布测试系统使用更高灵敏度的探头以及更先进的图像优化技术，即可了解器件内部热分布高点和低点的区域，真正实现无损检测。案例七：LED灯具热分布测试日常使用的灯具过热容易引起电子器件故障，缩短产品使用寿命，严重甚至造成安全隐患，检测LED灯具发热均匀情况能帮助设计产品，合理布置发热部件，有效防止过热。LED灯具热分布 案例八：定位电源失效区域电源失效案例中，金鉴使用红外热分布测试系统对电源进行测试，发现电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。 电源热分布图及热点定位 案例九：OLED热分布测试OLED发光材料像素在不同温度下表现出不同的发光特性，温度的分布不均会使得OLED显示面板中各处的薄膜晶体管的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进而导致整个显示面板出现发光亮度不均。 案例十：集成电路芯片温度测试通过金鉴显微红外热分布测试系统可测试封装后集成电路芯片工作时的温度及温度场分布，也可以直接测试芯片微米大小区域的温度数据，观察芯片的温度场分布，轻松发现温度聚集点，并且能够测试芯片开启后的温升曲线，判断芯片达到热稳定的时间。 集成电路芯片工作时的热分布及局部放大热分布图 集成电路芯片通电开启后的温升曲线 集成电路芯片通电开启热分布瞬态图案例十一：热分布测试应用于PCB领域红外热分布测试用于PCB板的检测，可直观显示电路板各区域和元件的温度分布，设计阶段可用于分析电路板布局设计是否合理，最大限度地减少故障排查和维修带来的高成本。生产阶段也可及时发现可靠性隐患，因为异常组件的升温速度通常比正常的要快，通过热分布测试，许多缺陷在出厂前就能被发现。案例十二：热分布系统全辐射视频录像功能应用于GaN器件领域 电子元器件器件实际应用过程中，进行单一热像图的分析往往是不够的，例如某GaN器件，其工作时的各项性能参数受温度影响较大，因此需要监控器件开始工作瞬间直至稳定的整个温度变化过程，这就涉及到金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像功能。金鉴显微红外热分布测试系统全辐射视频录像功能采样速率可达到25帧/秒，可实现1TB单个视频录制，轻松捕捉器件通电瞬间温升变化。通过逐帧分析器件的升温过程全辐射视频录像可以看出，器件通电瞬间开始升温，这个瞬间时长仅有几十个毫秒左右，并在开始通电后2分钟左右达到温度稳定，同时各项电性参数也达到稳定。GaN器件工作过程温升变化曲线 GaN器件工作过程电流变化曲线案例十三：电器开关柜红外热分布测试电气设备在生产中已广泛采用，而电气故障是不可避免的，如何排查电气故障是面临的一大问题。电气设备的初期异常通常伴随温度的变化迹象，采用红外热分布测试可在不断电状态下进行检测工作，及时发现和诊断问题。

Mega 系列大功率红外加热磁力搅拌器满足实验室大功率苛刻的应用需求为了加快升温速度和增加样品温度的均匀性，在加热器上增加搅拌功能。满足从轻柔到剧烈的搅拌实验，也可用于样品的快速加热。安全加热混合防腐蚀的加热磁力搅拌器防腐蚀台面，同时具有超过 700℃抗热冲击性，相较于传统的加热磁力搅拌器台面，带来更佳的效果。平滑台面，减少灰尘的沉积，方便清洗。高效率红外传热，确保快速加热减少热损失。相于其它加热方式，加热效率高，节约能源。高品质和安全性 WIGGENS 加热磁力搅拌器研发采用国际标准 余热提示，防止操作者烫伤。 内置过温保护防止温度过热。 抗腐蚀密封设计外壳采用不易燃硬质塑料和涂层铸铁搅拌单元，确保设备无故障运行。 机器后端可安装支架，方便安装温度传感器等附件。智能型红外加热磁力搅拌器满足实验室苛刻的应用需求满足从轻柔到剧烈的搅拌实验，也可用于样品的快速加热。防腐蚀搪玻璃盘面高效率红外线传热盘面抗热冲击温度超过 700℃坚固外壳，密封壳体，抗腐蚀升温速度快，同时能够稳定在设定温度值可外接 Pt100温度传感器控温高温提示灯，提示注意安全，防止烫伤技术参数型号WH395订货号W3013953加热盘最高设置温度 [℃ ]550样品设置最高温度 ( 配 Pt100) [℃ ]300安全保护温度 (℃ )50-600可调溶液过温保护△T (℃ )10-50可调控温稳定性( 配Pt100) (℃ )±1加热功率 [W]1800外置样品温度传感器Pt100外置参考温度传感器热电偶温度搅拌控制ICC搅拌速度 [rpm]100~1500最大搅拌量[L]H2o30L显示模式TFT温度和速度设置旋钮/触摸屏定时功能00h01min00sec~99h59min00sec / 连续盘面材质搪玻璃盘面尺寸（mm）280x280加热区（mm）直径190RS232/RS485接口Yes外形尺寸WxDxH (mm)450x290x120重量（kg）4.1电源220V/50Hz*500mL 水 80℃下测量

SiC碳化硅功率器件动态特性测试系统 我们专业致力于功率元器件的测试仪器设备，主要致力于碳化硅器件的测试仪器设备。 我们的优势在于能够深入的进行理论运用到实践中。技术能力和实践能力的结合，才能在市场上推出使用方便，测试结果准确的高技术产品 我们的工程师具有超过20年的大功率半导体专业设计及测试评估的经验 如有任何需求，欢迎与我们联系各种电子测试的需求。 全面的测试方案：双脉冲测试 用于碳化硅二极管 和FETs检测 高压器件 1.2 kV - 1.7 kV - 3.3 kV - 4.5 kV 及更高 功率器件（包括模块） 电压可调至：50 A ( 500 A )清晰的开关波形 非常低且非常容易判断寄生现象精确 包含分析和补偿程序为模具，紧凑型包装，模块组件而设计 裸芯片, TO220, TO247, TO254, 任何碳化硅模块模块化和前瞻性 新包装和模块化的可调谐开关插头高温测试 DUT 集成化加热器- 可调谐到 250°C快速 快速部署，测试周期 短标准和具体应用 集成化或定制栅极驱动器；寄生现象可调谐高性能系统 工业等级设计及制造安全 IEC61010安全标准设计 技术规格动态特性主要针对于是碳化硅技术中的功率器件的特性，也同样应用于碳化硅技术的的各种仪器设备的特性。基于碳化硅技术的半导体功率器件动态性能测试是我们的核心技术。随着碳化硅测试设备的快速发展需要对带宽和寄生原件的测试需求。如：负载感应器和直流电等寄生元器件将会成为碳化硅功率器件的使用方案。功能：描述SiC离散变量的动力学行为配置：在相位腿配置的二极管mosfet(或IGBTs)设备等级：优化的额定电压600V到4500V 优化额定电流10A到50A包装：可与TO220,TO247,TO254包接口的装置系统接受其他包的fixture输入电压：230Vac, 50Hz，单相接地保护输入电流：8A保险丝额定值：10A，T，250V直流电压范围：100V to 4500V开关电流范围：10A to 50ADUT温度:热板温度可调至200℃

WSC-5000系列水分测定仪适用于煤炭、焦炭、矿石、石油、化工、食品、木材等可燃物质全水和分析水的测定，满足GB/T212-2008《煤 的工业分析方法》、GB/T211-2007《煤中水分的测定方法》的要求。性能特点：1、性能好：本仪器在设计时重点考虑了高性能和高可靠性。采用高度集成的模块式设计,选用优化处理器,使仪器 具有良好的稳定性和可靠性。若严格按照操作方法使用仪器,基本免维修。仪器高度智能化、自动化、性能更加稳 定可靠。 2、采用电子天平，称量稳定、快速、可靠。3、称重有误时，提示重新称量，仪器自动判定有无容器，自动判定有无样品。 4、内置快速、恒重两种测定程序，石英加热管加热（红外）干燥功能，它适用于各种固体试样的水分测定和干 燥，也可进行固形物含量的测定。本仪器还具备自选程序供用户自行选择干燥时间，测定程序用户任意设定。采 用光波红外加热，适用于各种煤种。增加了通氮干燥法，用户可选着使用，使测定更加准确。 5、程序自动修正热平衡引起的称重误差。每天自动生成非重复的样品编码，与计算机联机，由计算机进行处理。 6、用户可选配RS232串行接口及动态测控软件，与计算机联机，由计算机进行操作和数据处理。7、符合GB/T212-2008《煤的工业分析方法》、GB/T211-2007《煤中全水分的测定方法》相关规定。技术参数红外功率：≤1200W；天平测量范围：≤120g；天平分辨率；0.0001g；测试时间：10-20min；测试试样数：9个（WSC5000）；18个（WSC-5000F）测试项目：分析水，全水水分测定精度：≤0.4%（全水分）、≤0.2%（分析水）；测试方法：空气干燥法，通氮干燥法测试模式：快速模式，恒重模式适应煤种：无烟煤，烟煤，褐煤，焦炭加热方法：红外加热，鼓风加热控温范围：室温~200度控温精度：±3℃称量方式：内置天平，自动称量工作电源：AC220V、50Hz；

SPOT中波红外焦平面阵列空间响应测试系统是扫描式光斑投影系统，它将高亮度的小光斑投射到被测MWIR FPA表面上，同时测量其输出信号。它可以直接测量MWIR FPA传感器的空间响应分布函数，也可间接测量这些成像传感器的MTF和串扰。SPOT测试系统的各部件结构如下，包括光斑投影系统和扫描系统。测试原始红外FPA传感器时，SPOT还可以配置与FPA相匹配的高动态范围电路。相较竞争对手，SPOT测试系统的主要优势是提供了高能量(至少4 mW)的极小光斑(通常是8μm)用以测试。这种高能量密度可以检测到光电二极管制造过程中传感器感光层上的微小缺陷。设备特性：? 可控制光斑的空间位置，光强? 测量FPA单个像元输出的信号，通过反卷积来计算结果? 测量IR FPA的空间响应函数? 计算MTF和串扰? 全自动测试系统? 软件提供调焦功能产品参数 参数描述被测传感器传感器类型制冷式 MWIR FPAs 响应范围 1 um 到 5.5 um可供选择的被测传感器SWIR FPAs, VIS-NIR FPAs, UV FPAs像元尺寸典型尺寸 8um 可选 8 umFPA 分辨率SXGA 格式 1280 x 1024响应率0.1 A/W配件需提供读取设备和杜瓦瓶光斑投影系统大功率4 mW光斑直径在百分之七十 能量时 6 um功率调节范围大于100光学部件近似**，达到衍射极限控制方式USB接口，PC控制扫描系统XY扫描范围不小于 10x10 mm扫描分辨率粗略移动 – 2.5 um 移动 - 0.5 um调焦范围18 mm调焦分辨率0.5 um控制方式USB接口，PC控制环境要求工作温度+5oC 到35oC储藏温度-5oC 到55oC工作湿度不超过百分之八十五储藏湿度不超过百分之九十

傅里叶变换近红外光谱仪 Nicolet&trade iS&trade 5N详细介绍描述要获得快速的检测结果， 可以使用 Nicolet iS5N 傅里叶变换近红外光谱仪得到想要的结果。 Nicolet iS5N 系统具备以下特征：占地面积小，可缩小实验室空间占用率仪器提供好的重复性和稳定性经济且操作简单可靠， 降低后期使用成本采样灵活性可满足不断变化的需求采样灵活性Nicolet iS5N 傅里叶变换近红外光谱仪的大型开口式样品室可容纳多种样品及采样附件。搭配iD1H 加热透射配件，可控制样品瓶和试管温度，从而实现准确的定量分析。外形构造与 Nicolet iS5 近红外光谱仪相同，大型样品室可容纳多种第三方附件，可以分析多种固体和液体样品。软件界面直观简洁配备了 OMNIC 软件，可使用 Thermo Scientific&trade TQ Analyst 和在 Thermo Scientific&trade OMNIC&trade Macros\Basic&trade 中开发的工作流程轻松制定定量方法。这些工具均完全集成于 OMNIC 软件系统中，使得方法开发和分析过程简洁明了。应用范围：化学品和聚合物 QA/QC、生产样品的定量分析，包括多元醇的羟值、聚酯树脂的固化程度、二元和三元混合物的简单定量。傅里叶变换近红外光谱仪 Nicolet&trade iS&trade 5N产品优势采用 Thermo Scientific&trade Nicolet&trade iS&trade 5N傅里叶变换近红外光谱仪，减少您工作中的麻烦。 Thermo Scientific&trade OMNIC&trade 软件系统，提供了熟悉的软件环境；建立在与 Thermo Scientific&trade Nicolet&trade iS&trade 5 傅里叶变换红外光谱仪同样耐用的平台基础之上，Nicolet iS5N 近红外光谱仪不但提供实验室常规分析的近红外功能，且其外形紧凑、经济。