红外法薄膜法

仪器信息网红外法薄膜法专题为您提供2024年最新红外法薄膜法价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括红外法薄膜法参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的红外法薄膜法您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合红外法薄膜法相关的耗材配件、试剂标物,还有红外法薄膜法相关的最新资讯、资料,以及红外法薄膜法相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

红外法薄膜法相关的厂商

  • 公司实验室一批二手仪器,保养得当。
    留言咨询
  • 留言咨询
  • 广州飒特电力红外技术有限公司是一家总部设在中国广州的民营红外热像仪跨国企业,公司在法国、爱尔兰、英国分别设有研发、生产和销售中心,是中国红外热像仪制造的龙头企业。 飒特企业目前生产的红外热像仪产品超过11个类别,35种产品。主要应用于电力、军事、警务、钢铁石化、水泥、电子制造业、电信、轨道交通、建筑、消防、教育以及医疗行业的发热人群筛查及人体测温等等。只要涉及到测温的领域(尤其是非接触性的状态检测),红外热像仪都能大展身手。 飒特企业是GB/T 1987-2005《工业检测型红外热像仪》国家标准的起草单位,,是中国红外成像技术的领跑者。公司拥有30几项的国内外专利和独立的知识产权,系列产品被国家科技部、国家商务部、国家质量监督局、国家环保局联合授予国家重点新产品。 飒特企业所制造的红外热像仪产品远销德国、法国、日本、美国、俄罗斯、中东、巴西、韩国、澳大利亚等全世界三十多个国家和地区,获得海内外用户一致的肯定与好评! 而今,飒特企业已经成为了国际市场上名列前茅的民用红外热成像研发及生产企业,“飒特红外”已成为了国际著名的红外热像仪品牌。 请即拨打020-82227875飒特企业国内销售部。您的需求,正是飒特企业全力以赴的理由!
    留言咨询

红外法薄膜法相关的仪器

  • C390M水蒸气透过率测试仪 红外法薄膜透湿仪WVTR——本产品基于红外法水分分析传感器的测试原理,参照ISO 15106-2/ASTM F1249标准设计制造,为中、高水蒸气阻隔性材料提供宽范围、高效率的水蒸气透过率检测试验。拥有专利的一体式3个测试腔,高精度传感器,内置专用计算机控制系统,提供精确的温度、湿度、流量的调节与控制,具有极高的测试灵敏度和重复性。适用于食品、药品、医疗器械、日用化学、光伏电子等领域的薄膜、片材、纸张、包装件及相关材料的水蒸气透过性能测试。C390M水蒸气透过率测试仪 红外法薄膜透湿仪WVTR产品特点:1、独创传感器核心技术——Labthink新一代水蒸气分析传感器,由Labthink全球研发中心自主研制,凝聚了中美传感器技术领域的顶尖科技成果,掌握传感器行业核心技术,精度和稳定性达到世界先进水平。2、成熟工艺 锻造优质产品——30年经验,使Labthink拥有成熟且可靠的气体渗透检测仪器制造技术。细节精雕细琢,设计不断完善,性能不断提升,为用户呈现了“设计优、材料优、性能优、传感器优”的高端阻隔系列产品。3、洞悉标准 打造世界全面产品线——Labthink准确掌握各类水蒸气透过检测方法的特点和差异,针对重量测试法ASTM E96/GB 1037、红外传感器法ISO 15106-2/ASTM F1249、电解传感器法ISO15106-3、湿度传感器法ISO15106-1/ASTME398四大类测试方法打造了数款久经市场检验的成熟产品,形成了全球范围内全面的水蒸气透过率检测仪器产品线。4、懂你所需 倾我所有——Labthink致力于为客户提供适合的产品。无论您寻求科学溯源方法还是商业应用方法,无论应用于科学研究还是品控检测,我们都可以为您匹配合适的产品,C390M就是这精心组合的系列产品之一。√ 精确调节测试气体的流量、湿度、温度√ 预热时间短,测试条件能够更快到达设定要求√ 不需要添加液体冷却剂、催化剂或特殊气体混合物√ 专家测试模式和快速测试模式,满足不同应用场景和阻隔材料的测试要求√ 提供系统校准用参考膜√ 核心传感器等重要部件有多重自我保护功能√ 不需要外配计算机,内置专用计算机系统√ 包装件测试功能√ 智能节气功能,可以减少测试气体使用量√ 网线和USB数据接口√ 软件功能专业直观,人员权限严格分级,报表输出形式多样√ Labthink独有DataShieldTM数据盾系统,方便数据集中管理和对接信息系统√ 提供中国GMP要求的计算机系统管理,满足医药行业需要√ 提供CFR 21 Part 11C390M水蒸气透过率测试仪 红外法薄膜透湿仪WVTR测试原理:将预先处理好的试样夹紧于测试腔之间,具有稳定相对湿度的氮气在薄膜的一侧流动,干燥氮气在薄膜的另一侧流动;由于湿度差的存在,水蒸气会从高湿侧穿过薄膜扩散到低湿侧;在低湿侧,透过的水蒸气被流动的干燥氮气携带至红外水分传感器,不同的水蒸气浓度产生不同的光信号,通过分析计算得出浓度数值,进而计算试样的水蒸气透过率。对于包装件而言,干燥氮气则在包装件内流动,包装件外侧处于高湿状态。参照标准:GB/T 26253-2010 塑料薄膜和薄片水蒸气透过率的测定 红外检测器法ASTM F1249 利用调幅红外线传感器对水蒸气透过塑料薄膜和薄板穿透率的测试方法ISO 15106-2 塑料.薄膜和薄片.水蒸气传输率的测定.第2部分:红外探测传感器法JIS K7129 塑料.薄膜和薄片.水蒸气透过率的测定.仪器法TAPPI T557 PM-1995 通过塑料薄膜的水蒸气传输率和片材使用调制的红外传感器YBB00092003-2015 水蒸气透过量测定法C390M水蒸气透过率测试仪 红外法薄膜透湿仪WVTR测试参数:C390M型号: 测试范围:0.05~40 g/(m2d) (标准);0.00025~0.2 g/(pkgd)(包装件)分辨率:0.001 g/(m2d)重复性:0.05或2%取大者 g/(m2d)测试温度:10~55±0.2 ℃测试湿度:5%~90%±1%,100% RH附加功能:包装件测试(最大3L):可选DataShieldTM数据盾:可选GMP计算机系统要求:可选CFR21 Part11:可选技术规格:测试腔:3套样品尺寸:108mm × 108mm样品厚度:≤3mm标准测试面积:50cm2载气规格:99.999%高纯氮气(气源用户自备)气源压力:≥0.28MPa/40.6psi接口尺寸:1/8 英寸金属管
    留言咨询
  • 应用范围 薄膜: 适用于各种塑料薄膜、复合膜水蒸气透过率的定量测定,如:铝箔复合膜、镀铝膜、PVC 硬片、药用铝箔、共挤膜、流延膜、太阳能背板等。容器: 适用于各种瓶、盒、袋等包装容器水蒸气透过率的定量测定,如:各种口服及外用液体瓶、各种药用固体瓶等药品包装容器;包装盒、酸奶杯等各种食品包装容器。 主要特点 1. 红外法测试原理 2. 单腔测试 3. 计算机控制,试验全自动,一键式操作 4. 智能模式等多种试验模式可选择,可满足各种标准、非标测试 5. 可支持容器测试 (选购) 6. 支持循环介质控温(选购) 7. 试验湿度可自行设置、调节 8. 数据追踪、溯源;系统日志记录 9. 5 级用户权限管理 10. 温度、流量、透过率等曲线显示 11. 支持 DSM 实验室数据管理系统,可实现数据统一管理。(另购) 测试原理 薄膜: 将待测试样装夹在恒温的干、湿腔之间,使试样两侧存在一定的湿度差,由于试样两侧湿度差的存在,水蒸气会从高湿侧向低湿侧扩散渗透,在低湿侧,水蒸气被干燥载气携带至水分析传感器,通过对传感器电信号的分析计算,从而得到试样的水蒸气透过率和透湿系数。容器: 容器的外侧是高湿气体,内侧则是流动的干燥气体,由于容器内外湿度差的存在,水蒸气将穿透容器壁进入容器内部,进入容器内部的水蒸气将由流动的干燥载气携带至水分析传感器,通过对传感器电信号的分析计算,可得到容器的水蒸气透过率等结果。执行标准 GB/T 26253-2010、ISO 15106-2、 ASTM F1249、TAPPI T557、 JIS K7129 产品配置 标准配置: 主机、专业软件、数据扩展卡、通信电缆、恒温控制器、氮气瓶减压阀、取样器、真空脂、取样刀 选 购 件:计算机、容器测试辅具、湿度装置、标准膜、真空脂、取样刀、DSM 实验室数据管理系统
    留言咨询
  • 产品简述:适用于测定塑料薄膜、铝箔塑膜、防水材料、金属箔片等高阻隔材料的水蒸气渗透性能。可扩展测试瓶、袋等容 器。技术参数:测量范围(膜) 0.01~40 g/(m2day) (标准) 0.1~1000 g/(m2day) (可选) 试样数量 3 分辨率 0.001 g/(m2day) 样品尺寸 Φ108mm 测试面积 50cm2 试样厚度 ≤3mm 测试模式 三腔数据独立 温控范围 15℃~55℃(分辨率±0.01℃) 控温精度 ±0.1℃控湿范围 0~100%RH 控湿精度 ±1%RH载 气 99.999%高纯氮气(气源用户自备) 载气流量 0~200ml/min(全自动控制) 气源压力 ≥0.28MPa/40.6psi 接口尺寸 1/8" 校正方式 标准膜校正 主机尺寸 350mm (L)×695 mm (W)×410mm (H) 主机重量 60Kg 电源 AC 220V 50Hz测试原理及产品描述:采用红外传感器法原理。具有一定湿度的加湿氮气在材料的一侧流动,干燥氮气在材料的另一侧以固定的流量流 动;湿度梯度差的存在,导致水蒸气从高湿侧透过薄膜扩散到低湿侧;在低湿侧,透过的水蒸气被流动的干燥氮气(载 气)携带至红外传感器;传感器对载气的水蒸气浓度会产生对应的电信号;精确测量传感器电信号,计算试样的水蒸 气透过率等参数。参照标准:YBB 00092003、GBT 26253、ASTM F1249、ISO 15106-2、TAPPI T557、JIS K7129ISO 15106-3、GB/T 21529、 DIN 53122-2、YBB 00092003产品特点: 嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化,模块化,系列化的设计理念,可最da限度的满足用户的个性化需求 自动流量控制:测试流量,包括载气与湿气,均须自动控制,无需人工干预; 全自动温度控制,水浴冷热控温技术,设备可在 5~40 摄氏度环境变化下拟变整机温度,可任意升温、降温,控制精度高,稳定可靠,设 备不受外部环境温度干扰; 自动湿度控制:湿度自动控制,无机械旋钮,无需人工干预; 可选触控屏操作界面 专业测试软件,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采集芯片,有效保证测试准确性与实时性 配置标准串行通讯口 一键式操作,简单方便,即学即会 全自动测试:设定测试参数,开始后测试自动进行,自动判断试验结束并保存测试结果; 激光式脉冲调制的红外传感器,长光程吸收,测量精度更高; 精密管道与阀门,专利的管道冲洗技术,保证载气的洁净度,测试效率更高; 独有的试样防侧漏密封安装技术,增强试样密封; 高效测试,氮气低消耗; 符合中国 GMP 对数据可追溯性、权限管理等功能的要求,计算机化系统完全满足医药行业需要(选购)产品配置:系统配置:测试主机、计算机、测试软件、通讯线缆、水吸收阱、取样器、氮气瓶精密减压阀、真空密封脂、打印机 选配件:容器测试附件和容器温度控制装置 备注: 气源和蒸馏水(用户自备)普创-WVTR-E3(红外法)水蒸气透过率检测仪 普创-WVTR-E3(红外法)水蒸气透过率检测仪
    留言咨询

红外法薄膜法相关的资讯

  • imec集成薄膜固定光电二极管以实现卓越的短波红外成像传感器
    2023年8月14日在比利时鲁汶,imec作为纳米电子学和数字技术领域的全球研发和创新中心宣布成功集成了固定光电二极管结构到薄膜图像传感器中。通过添加固定光电栅和传输栅,薄膜成像器超过一微米波长的吸收质量终于可以被利用,以一种成本效益的方式解锁感知可见光之外光线的潜力。检测可见光范围之外的波长,例如红外光,具有明显的优势。应用包括自动驾驶汽车上的摄像头,以“看穿"烟雾或雾霭,以及用于通过面部识别解锁智能手机的摄像头。虽然可见光可以通过基于硅的成像器检测,但需要其他半导体材料来检测更长的波长,比如短波红外线(SWIR)。使用III-V材料可以克服这一检测局限。然而,制造这些吸收体的成本非常高,限制了它们的使用。相比之下,使用薄膜吸收体(如量子点)的传感器最近出现为一个有前景的替代方案。它们具有良好的吸收特性和与传统CMOS读出电路集成的潜力。尽管如此,这种红外线传感器的噪声性能较差,导致图像质量较差。早在20世纪80年代,固定光电二极管(PPD)结构就在硅CMOS图像传感器中引入。该结构引入了一个额外的晶体管栅极和一个特殊的光检测器结构,通过该结构, charges可以在积分开始前全部排空(允许在没有kTC噪声或前一帧影响的情况下复位)。因此,由于噪声更小、功耗性能更好,PPD主导了基于硅的图像传感器的消费者市场。 在硅成像之外,至今还不可能集成此结构,因为难以混合两种不同的半导体系统。现在,imec在薄膜图像传感器的读出电路中成功集成了PPD结构。 一种SWIR量子点光电检波器与一种氧化铟镓锌(IGZO)薄膜晶体管单片集成成PPD像素。 随后,该阵列被进一步处理在CMOS读出电路上以形成一个完整的薄膜SWIR图像传感器。 imec的“薄膜固定光电二极管"项目负责人Nikolas Papadopoulos 表示:“配备4T像素的原型传感器表现出显着低的读出噪声6.1e-,相比之下,传统的3T传感器超过100e-,证明了其良好的噪声性能。" 因此,红外图像的拍摄噪声、失真或干扰更小,准确性和细节更高。imec像素创新项目经理Pawel Malinowski补充说:“在imec,我们正在红外线和成像器的交汇处处于地位,这要归功于我们在薄膜光电二极管、IGZO、图像传感器和薄膜晶体管方面的综合专业知识。通过实现这一里程碑,我们克服了当前像素架构的局限性,并展示了一种将性能最佳的量子点SWIR像素与经济实用的制造方法相结合的方法。下一步包括优化这项技术在各种类型的薄膜光电二极管中的应用,以及扩大其在硅成像之外的传感器中的应用。我们期待通过与行业伙伴的合作进一步推进这些创新。“研究结果发表在2023年8月《自然电子学》杂志"具有固定光电二极管结构的薄膜图像传感器"。初步结果在2023年国际图像传感器研讨会上呈现。原文: J. Lee et al. Thin-film image sensors with a pinned photodiode structure, Nature Electronics 2023.摘要使用硅互补金属氧化物半导体技术制造的图像传感器广泛应用于各种电子设备,通常依赖固定光电二极管结构。 基于薄膜的光电二极管可以具有比硅器件更高的吸收系数和更宽的波长范围。 但是,它们在图像传感器中的使用受到高kTC噪声、暗电流和图像滞后等因素的限制。 在这里,我们展示了具有固定光电二极管结构的基于薄膜的图像传感器可以具有与硅固定光电二极管像素相当的噪声性能。 我们将一种可见近红外有机光电二极管或短波红外量子点光电二极管与薄膜晶体管和硅读出电路集成在一起。 薄膜固定光电二极管结构表现出低kTC噪声、抑制暗电流、高满量容和高电子电压转换增益,并保留了薄膜材料的优点。 基于有机吸收体的图像传感器在940 nm处的量子效率为54%,读出噪声为6.1e–。
  • 光学薄膜研究利器-日立紫外可见近红外分光光度计
    第12届上海国际高功能薄膜展会于5月17日在上海国家会展中心盛大召开,本届展会吸引了约600家薄膜相关行业的生产商和供应商。  对于光学薄膜等相关行业用户来说,必须借助紫外-可见-近红外分光光度计进行光学性能分析。  日立高新技术作为全球高端紫外-可见-近红外分光光度计生产商,参与了此次会议并,向与会者介绍了日立UH4150型分光光度计为光学薄膜研究者和生产者所能提供的专业解决方案,受到了与会用户的关注与一致好评。  日立UH4150是一款专业级别的分光光度计,对象定位于向各类光学样品。具有噪音低、准确性好、重现性高、检测器切换差异小、附件种类丰富等特点,能为客户提供完善的解决方案。 关于日立紫外/可见/近红外分光光度计UH4150,请点击链接:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/C185793.htm 关于日立高新技术公司:日立高新技术公司,于2013年1月,融合了X射线和热分析等核心技术,成立了日立高新技术科学。以“光”“电子线”“X射线”“热”分析为核心技术,精工电子将本公司的全部股份转让给了株式会社日立高新,因此公司变为日立高新的子公司,同时公司名称变更为株式会社日立高新技术科学,扩大了科学计测仪器领域的解决方案。日立高新技术集团产品涵盖半导体制造、生命科学、电子零配件、液晶制造及工业电子材料,产品线更丰富的日立高新技术集团,将继续引领科学领域的核心技术。更多信息敬请关注:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/
  • 前沿科技 | 全新亚微米红外&拉曼同步测量关键技术助力多层薄膜内部组成分析
    包装薄膜材料常使用传统红外光谱进行表征,但传统FTIR通常只能测单一红外光谱,不具备样品红外光谱成像功能或成像空间分辨率受红外波长限制,高也仅为5-10 μm。在实际应用中,层状材料越来越薄,这对常规FTIR技术的空间分辨率提出了大的挑战。 全新光学光热红外光谱技术光学光热红外光谱技术(O-PTIR)可在非接触反射模式下对多层薄膜进行亚微米的红外表征,同时探针激光器会产生拉曼散射,从而以相同的亚微米分辨率在样品的同一点同时捕获红外和拉曼图像。基于光学光热红外光谱技术的非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统的工作原理是:光学光热红外光谱技术通过将中红外脉冲可调激光器与可见探测光束结合在一起,克服了红外衍射限。将红外激光调谐到激发样品中分子振动的波长时,就会发生吸收并产生光热效应。如图1所示,可见光探针激光聚焦到0.5 μm的光斑尺寸,通过散射光测量光热响应。红外激光可以在一秒钟或更短的时间内扫过整个指纹区域,以获得红外光谱。图 1. 非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统 红外和拉曼光谱的光束路径示意图。 红外&拉曼同步测量传统的透射红外光谱通常不能用于测量厚样品,因为光在完成透射样品之前会被完全吸收或散射,导致几乎没有光子能量到达检测器。由于光学光热红外光谱技术是一种非接触式技术,因此非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统可以对较厚的样品进行红外测量,大地简化了样品制备过程,提升了易用性。在图2中,作者使用非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统针对嵌入环氧树脂中的薄膜样品横截面进行了分析。图2线阵列中各点之间的数据间隔为500 nm。 由于非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统与传统FTIR光谱具有好的相关性,因此可以使用现有的光谱数据库搜索每个光谱。对红外光谱的分析对照可以清楚地识别出不同的聚合物层,聚乙烯和聚丙烯,以及嵌入的环氧树脂。图 2.上:薄膜横截面的40倍光学照片;中:红外光谱从标记区域收集;下:同时从标记区域收集拉曼光谱。 化学组分分布的可视化成像当生产层状薄膜时,产品内部的化学分布是产品完整性的重要组成部分。非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统特地实现了高分辨率单波长成像,以突出显示样品中特定成分的化学分布。非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统可以在每层的特吸收带处采集图像,以此实现显示层的边界和界面的观察。图3展示了多层膜截面的光学图像。从线阵列数据可以看出,中间位置存在一个宽度大约为2 μm的区域,该区域与周围区域的光谱差异很大。红色光谱显示1462 cm?1处C-H伸缩振动显著增加。图3. 上:薄膜截面的40倍光学照片;下:标记表示间距为250 nm的11 μm线阵列。红外单波长成像使我们能够清晰地可视化层状材料的厚度和材质分布,如图4所示。从图像中可以看出,非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统红外显微镜可以在非接触状态下进行反射模式运行,以佳的空间分辨率提供单波长图像。图4. 红外单波长成像层状材料的成分分布。 总结通过同时收集红外和拉曼光谱,科学家发现非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统可被广泛用于分析各种多层膜。收集的光谱与传统的FTIR光谱显示出 99%相关性,并且可以在现有数据库中进行搜索。此外,使用非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统进行单波长成像可实现亚微米分辨率样品中组分的可视化。通过该技术,我们可以更好地了解薄膜材料的整体构成。总体而言,非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统次提供了可靠且可视化的亚微米红外光谱,目前它已在高分子、生命科学、临床医学、化工药品、微电子器件、农业与食品、环境、物证分析等领域得到广泛应用并取得了良好的效果,显示出了广阔的应用前景。

红外法薄膜法相关的方案

红外法薄膜法相关的资料

红外法薄膜法相关的论坛

  • 介绍“薄膜法”

    适用于高分子化合物的红外光谱测定。将样品溶于挥发性溶剂后倒在洁净的玻璃板上,在减压干燥器中使溶剂挥发后形成薄膜,固定后进行测定。

  • 求教:红外薄膜法测量

    各位大侠: 现在要用薄膜法定量分析,具体步骤: 将酶溶于二次水中(W/V=0.5mg/ml)取10微升样品溶液滴于CaF2窗片上,使其自然挥发,晾干成膜。 请教各位实验中需要注意什么?如何去除水的干扰?自然晾干以何为标准? 拜托大家,帮帮我吧![em20] [em46]

  • 【讨论】聚合物超薄膜 红外光谱

    本人的课题是聚合物超薄膜的构筑,在基底上基于层层组装技术在基片上沉积聚电解质,一层聚电解质膜的厚度只有几个纳米,我想用氟化钙做基底,然后再去做红外,我想问的是,由于量比较少,吸收的肯定也比较少,这样的超薄膜能做红外吗,样品的量是不是太少了,峰会不会被噪声干扰而无法识别?谢谢(由于仪器比较老,做不了衰减全发射,只能做最普通的红外测试,哎,真杯具啊)

红外法薄膜法相关的耗材

  • 红外(IR)薄膜分束器/低损耗镀膜激光偏振器
    红外 (IR) 薄膜分束器Ø3 - 5µm 的平均 R/T 比为 45/55Ø没有来自第二表面反射的重影Ø消除光束位移Ø还提供用于 VIS-NIR 的薄膜分束器红外 (IR) 薄膜分束器采用安装在铝制框架中的薄硝化纤维素分束膜,设计为具有 3 - 5µm 的 45R/55T 分束比。 薄硝酸纤维素膜消除了第二表面反射和光束位移,同时最大限度地减少了光路长度的变化。 铝制框架在框架下侧具有安装孔,便于安装和集成到 OEM 系统中。红外 (IR) 薄膜分束器是 MWIR 应用的理想选择,包括 MWIR 成像、红外光谱、火焰检测和红外探测器的一般用途。注意:这些分束器的硝化纤维膜非常薄且易碎。 不得接触膜,只能使用空气进行清洁。 我们建议使用鼓风机,因为来自压缩空气的力可能会损坏膜。通用规格基材:Nitrocellulose反射/透射比 (R/T):45/55波长范围 (nm):3000 - 5000镀膜:Dielectric镀膜规格:45/55 @ 3000 - 5000nm构造 :Pellicle外壳:Black Anodized Aluminum折射率 nd:1.5表面质量:40-20厚度 (μm):2 +0.3/-0.2产品型号Dia. (mm)CA (mm)产品编码19.0512.7#19-28034.9025.4#19-28163.5050.8#19-28288.9076.2#19-283114.30101.6#19-284165.10152.4#19-285技术数据低损耗 IBS 镀膜激光偏振器Ø1064nm Nd:YAG 设计波长Ø在 45° AOI 具有 10,000:1 的高消光比Ø低损耗离子束溅射 (IBS) 镀膜Ø采用 10-5 表面质量的 UV 熔融石英基片低损耗 IBS 镀膜激光偏振器用于传输 p 偏振光,同时反射 s 偏振光,消光比高达 10000:1。这些偏振器具有离子束溅射 (IBS) 镀膜,设计用于在 45° 入射角下实现最佳的低损耗性能。它们由紫外熔融石英基片制成,与高功率激光器一起使用时可将热效应降至低,并且具有 10-5 的激光级表面质量。低损耗 IBS 涂层薄膜激光偏振器非常适合与 1064nm Nd:YAG 激光器一起使用,以分离或组合 s 偏振和 p 偏振激光。如果您的应用需要具有定制尺寸、镀膜或其他激光应用要求的低损耗 IBS镀膜激光偏振器,请与我们联系。注意:这些光学元件边缘上的箭头指向薄膜偏振片镀膜。产品型号DWL (nm)消光比CA (mm)表面质量Dia. (mm)厚度 (mm)产品编码106410,000:12010-525.406.35#16-747爱特蒙特光学® F-Theta 透镜Ø激光扫描应用的理想选择Ø扫描场上的衍射受限,波前误差低Ø长工作距离和大扫描区域Ø还提供振镜、扩束器和激光源Edmund Optics® F-Theta 透镜旨在在扫描系统的图像平面提供平场,并与检流计、扩束器和激光源结合使用。 这些 F-Theta 透镜具有紧凑的外形,提供高达 273 毫米的各种焦距和高达 164 毫米 (X) x 164 毫米 (Y) 的大扫描场。 这些透镜针对常见的光纤激光源和 Nd:YAG 基波或二次谐波进行了优化,设计波长为 532nm 和 1064nm,具有通用安装螺纹,可轻松集成到振镜系统中。 爱特蒙特光学® F-Theta 透镜是用于激光扫描和激光加工应用(包括激光打标、雕刻、切割、钻孔和 3D 建模)的经济高效的解决方案。产品型号DWL (nm)扫描角 (°)扫描场 (mm)类型WD (mm)产品编码532±22.6856.5 x 56.5F-Theta Lens94.5#15-185532±25.00101.8 x 101.8F-Theta Lens193.5#15-1861064±18.6035.4 x 35.4F-Theta Lens72.1#15-1781064±22.6856.5 x 56.5F-Theta Lens107.9#15-1791064±22.6286.0 x 86.0F-Theta Lens171.2#15-1801064±28.50116.2 x 116.2F-Theta Lens188.1#15-1811064±25.00157.0 x 157.0F-Theta Lens304.6#15-1821064±24.10164.0 x 164.0F-Theta Lens313.0#15-183光散射膜Ø散射 UV 到 NIR 范围的照明光线Ø柔性聚合物基片Ø易于根据尺寸进行切割Ø另外提供玻璃散射片L光散射膜由 TAC 聚合物材料制成,可对 UV 到 NIR 范围的照明光线提供散射。可以轻松地根据尺寸对这种薄膜进行切割,以满足应用要求,可以使用轻松地根据尺寸对这种薄膜进行切割,以满足应用要求,可以使用光学胶粘剂将其粘附到玻璃表面。光散射膜非常适用于机器视觉、视觉检测和自动检测应用,以散射LED 光源,从而产生无热点的均匀照明。若您的应用需要自定义尺寸的光散射膜,或需要将光散射膜层压到光学组件(例如光学窗口片、有色玻璃和聚合物偏振片)上,请联系我们。通用规格涂层:Uncoated厚度 (mm):0.13 ±0.005波长范围 (nm):300 - 1100注意:Protective film on both surfaces should be removed before use产品型号涂层尺寸 (mm)产品编码Uncoated100 x 100#17-683Uncoated300 x 300#17-682技术数据E 系列无边缘运动光学反射镜安装座Ø用于安装分光镜和透射式光学元件的 120° 无边缘Ø价格实惠Ø对实验和 OEM 系统不可或缺的安装座E 系列无边缘运动光学反射镜安装座可提供许多对于研发、原型制造和系统集成领域的应用而言不可或缺的功能。这些安装座具有 120° 切口,非常适用于安装分光镜和透射式光学元件,若以 45° 角安装,还能容纳更宽的光束路径。两个 M6 x 0.25 (101.6 TPI) 调节螺丝可提供平稳的移动,可以通过手或内六角扳手(扳手大小 2mm)驱动,以实现翻转和倾斜的光学调整与对齐 (±3.5°)。可以拆卸调节螺丝旋钮,从而使外形更紧凑。E 系列无边缘运动光学反射镜安装座具有安装孔,这些孔是埋头孔(设计目的为容纳 M4 或 8-32 安装硬件)和 M6 x 1.0 内螺纹孔(用于提高安装的多用性,以及与TECHSPEC® 公制不锈钢安装接杆和底座接杆的直接兼容性)。通用规格光学类型:Circular调节螺丝数目:2构造 :Aluminum Plates, Stainless Steel Screws, and Brass Thread BushingsMin. Thickness of Compatible Optics (mm):2微倾斜角度 (°) :±3.5微翻转角度 (°) :±3.5调节螺丝螺距 (mm):0.25Compatible Post:M6 x 1.0, M4 x 0.7, 8-32产品型号兼容光学大小 (mm)Optical Axis Height产品编码12.5/12.725.40#17-27825/25.425.40#17-27950/50.838.10#17-280
  • 气相色谱仪薄膜进样阀
    自动(气动)进样,切换零死体积,寿命长,耐高温和腐蚀只有一种尺寸,直径35 mm (1.375")寿命1,000,000次三种通路 – 6 通,10通阀和4通内部定量管进样阀内装式驱动器接头为1/16"或1/32" Valco零死体积接头VICI微型薄膜阀由于无需维护量小和无故障适用于流程、自动实验室分析器和环境连续监测分析器。维修特别简单。只用一个螺钉,加上一个定位销,对中方便。除了寿命长以外,气动时间短(10毫秒),死体积小。可以用于进样或者柱切换。
  • 批发零售光谱仪薄膜美国进口样品膜250#
    迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜--美国Chemplex 250#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:250产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),卷轴,厚度6.0 μm,宽7.6cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。产品详细信息:SpectroCertified® Thin-Film Sampel SupportsMYLAR® POLYESTER FILMCAT. NO:250Gauge:0.00024”,6.0 μm;0.24mil,60,960ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex® INDUSTRIES,INC.ROLL:3” x 300’ (7.6cm x 91.4m); Lot No:030975。现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制