射线散射仪

仪器简介：SAXSpace（Small & Wide Angle X-Ray Scattering System）是奥地利安东帕公司研制开发的一种小角X-射线散射仪。是一款适用于SAXS,WAXS,GI-SAXS,Bio-SAXS等的模块化纳米结构分析仪。其角度范围为0.03-49nm^-1,对应的尺寸范围为0.13-200nm。在不改变仪器设置的情况下，SAXSpace可以同时测量小角和广角X-射线散射，所测的2&theta 角度最大值为74° ，是真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器。SAXSpace可以测试几乎所有固体和液体样品。SAXSpace应用举例：表面活性剂和两亲性二嵌段共聚物的溶液：胶束尺寸，胶束形状，相行为，囊泡壁的内部结构等。生物材料：蛋白质在溶液中的形状和尺寸，内部结构，聚集状态，分子量等。分散体系：分散颗粒的形状和尺寸分布，分散体系的稳定性，颗粒集结成核现象，聚集状态等。纤维：内部结构，结晶度，取向度等。催化剂：比表面积，颗粒尺寸及分布，结晶度等。乳液：液滴的形状和内部结构，液滴的尺寸分布，不同温度时乳液的稳定性，胶囊试剂的传输动力学等。聚合物和纳米复合物：结晶度，周期性纳米结构，取向度等。液晶：周期性结构的尺寸和形状，取向度等。技术参数：测量范围：0.13 ~ 200 nmX-射线光源：标准：密封管（线聚焦和/或点聚焦），其它光源：可选。光束尺寸：线光源为20 × 0.3 mm2，点光源为0.3 × 0.3 mm2。工作电压：40 kV工作电流：50 mA样品量：固体只需几毫克，液体最少只需7微升。样品温度的可调节范围：-150 ~ 300 ° C，灵敏度为± 0.1 ° C。测试时间：1 ~ 60 min。主要特点：真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器：0.13 ~ 200 nm。光路可自动进行调整。原位升降温和溶液测试。专业而且完备的数据处理软件。

D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证！先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。技术指标： ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围：-110~168°●角度精度：0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管 ●探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 ●仪器尺寸：1868x1300x1135mm ●重量：770kg 主要功能●TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。●动态光束优化（DBO）布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。●LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有高计数率和好的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余K?和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！应用:●物相定性分析●结晶度及非晶相含量分析●结构精修及解析●物相定量分析●点阵参数精确测量●无标样定量分析●微观应变分析●晶粒尺寸分析●原位分析●残余应力●低角度介孔材料测量●织构及ODF分析●薄膜掠入射●薄膜反射率测量●小角散射

小/广角X射线散射仪技术 （Small and wide angle X-ray scatterin, SWAXS散射仪) 用于纳米颗粒结构的测定 （大小，形态和分布），考虑到铜的辐射，一般我们说，衍射角小于5度，2 theta，样品可以是固体或液体。SAXS散射仪是一种非接触式的精确测量技术，仅仅需要少许的样品的制备，既可以用于科学研究，也可以用于工业质量控制，小角X射线衍射仪广泛用于到应用各种胶体，金属，水泥，粘土，油，聚合物，塑料，蛋白质，制药...为了响应客户的在纹理样品或小角散射测量的需求，我们特意研发了一种小角X射线散射/广角X射线散射（SAXS/WAXS)的仪器，这套小角X射线衍射仪具有强大的可伸缩性：样品与探测的距离可调可变，样品周围的空间足够大，可以安装温度室，旋转台等多种样品架，满足多种测量任务的需求。SWAXS散射仪,小/广角X射线衍射仪组成：X射线源，光学系统，探测器

仪器简介：SAXSpace（Small & Wide Angle X-Ray Scattering System）是奥地利安东帕公司研制开发的一种小角X-射线散射仪。是一款适用于SAXS,WAXS,GI-SAXS,Bio-SAXS等的模块化纳米结构分析仪。其角度范围为0.03-49nm^-1,对应的尺寸范围为0.13-200nm。在不改变仪器设置的情况下，SAXSpace可以同时测量小角和广角X-射线散射，所测的2θ 角度最大值为74°，是真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器。SAXSpace可以测试几乎所有固体和液体样品。SAXSpace应用举例：表面活性剂和两亲性二嵌段共聚物的溶液：胶束尺寸，胶束形状，相行为，囊泡壁的内部结构等。生物材料：蛋白质在溶液中的形状和尺寸，内部结构，聚集状态，分子量等。分散体系：分散颗粒的形状和尺寸分布，分散体系的稳定性，颗粒集结成核现象，聚集状态等。纤维：内部结构，结晶度，取向度等。催化剂：比表面积，颗粒尺寸及分布，结晶度等。乳液：液滴的形状和内部结构，液滴的尺寸分布，不同温度时乳液的稳定性，胶囊试剂的传输动力学等。聚合物和纳米复合物：结晶度，周期性纳米结构，取向度等。液晶：周期性结构的尺寸和形状，取向度等。技术参数：测量范围：0.13 ~ 200 nmX-射线光源：标准：密封管（线聚焦和/或点聚焦），其它光源：可选。光束尺寸：线光源为20 × 0.3 mm2，点光源为0.3 × 0.3 mm2。工作电压：40 kV工作电流：50 mA样品量：固体只需几毫克，液体最少只需7微升。样品温度的可调节范围：-150 ~ 300 °C，灵敏度为± 0.1 °C。测试时间：1 ~ 60 min。主要特点：真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器：0.13 ~ 200 nm。光路可自动进行调整。原位升降温和溶液测试。专业而且完备的数据处理软件。

产品介绍：由狭缝造成的寄生散射是X射线分析中是众所周知的问题，用户和制造商不得不调整实验装置以避免这种现象。更低光子通量造成实验时间增加，更大光束截捕器造成分辨率下降，额外配置防散射针孔造成光束塑形针孔到样品距离增加，以及总体更低信噪比造成数据质量下降。新型SCATEX针孔基本不产生寄生散射，并且克服了上述问题： 因此，防散射针孔可被移除，系统尺寸缩小，分辨率与光子通量提高，数据质量得到改善。 产品特点：无针孔寄生散射分辨率与光子通量增强针孔的调整校准更加简便快速无需放散射针孔可提供特殊的解决方案同步辐射以及家庭实验室SAXS系统成功验证应用介绍：常规实验室系统上的应用常规实验室中的SAXS仪器通常使用三针孔准直系统，其中前两个针孔用于限定光束的大小与发散角， 第三个针孔充当防辐射针孔以用来吸收孔径产生的寄生散射，如下图所示。与此相反，SCATEX针孔在常规实验室SAXS装置应用中具有很高的潜力，因为其提高光子通量同时降低主光速路径长度。下图中体现了SCATEX针孔大幅度抑制寄生散射。Fig.2 Comparison of a conventional Pt/Ir pinhole and a SCATEX-Ge pinhole, both with 300 μm diameter. Measurement time: 100 s.图中的两种类型针孔（即市售Pt/Ir常规针孔和SCATEX锗针孔），其大小相同（均为300μm），其最后的成像效果都是在同样的没有放置防辐射针孔的两针孔SAXS设备条件下进行的。所测试的孔被在一次束并作为光束限定针孔居中地对准。同步辐射上的应用无散射锗针孔以下测试都是C.Gollwitzer在同步辐射（BESSY II）的PTB的具有四晶体单色器光束线站上进行，其输出能量为8kev，光通量大于1010ph/s。所有的测试针孔作为光束限定针孔被放置于主光束中心进行校准，同时没有使用防辐射针孔。下面对不同的针孔进行了比较：1、铜箔的500μm针孔；2、市售的500μmPt/Ir针孔；3、锗制SCATEX针孔。即使在10倍的测量时间下，SCATEX针孔引起的寄生散射少2- 3个数量级。由于SCATEX针孔优异的结构质量，其展示了在更高Q值空间散射的减少和环形的散射图案。Fig.3 Scattering intensity vs. q-plot. Data are corrected for respective exposure times and normalized to the primary beam photon flux and to the solid angle.公司介绍：德国Incoatec公司在基于薄膜技术的X射线光学器件方面拥有20年以上的经验。Incoatec公司的光学器件被用于全世界的X射线衍射测量、光谱测定和同步加速器射束线上。主打产品包括用于各种领域和针对微焦点光源方案的多层X射线光学器件。用新的光学器件和X射线源来升级X射线分析设备。计算机化的光学器件模拟、各类衬底的生产和薄膜表征使INCOATEC的服务更为完善，为重工业，化学，制药，半导体产业，生命科学和纳米技术提供解决方案，是可靠，高效和用户友好型产品，具备德国制造的精髓。

技术参数 1、X射线发生器包括MM007HF，FR-X 2、光路单元，Pinhole、2Pinhole、3Pinhole系统可选3、样品台包括，GI-SAXA附件、变温附件（-150度～400度）、多功能样品台、真空、拉升4、半导体阵列2维探测器HyPix3000/6000 主要特点 最高水平的小角度分辨率（Qmin至0.02 nm-1）；NANOPIX高亮度、高功率X射线光源；NANOPIX完全自动化并由智能软件控制，专业而简便；NANOPIX支持多种条件下的复杂原位测试； 仪器介绍 Rigaku NANOPIX SAXS / WAXS测量系统是一种为纳米结构分析设计的新型X射线散射仪器。NANOPIX可以用于小角散射（SAXS）和广角散射（WAXS）测量，这使得可以实现从亚纳米到纳米级（0.1nm到100nm）的多尺度结构测量。使得实验室SAXS仪器实现了最高水平的小角度分辨率（Qmin至0.02 nm-1）。SAXS / WAXS具有广泛的实验范围，NANOPIX可在各种温度或湿度条件下进行测量，同时进行DSC（差示扫描量热法）测量，以及与特殊附件或其他外部设备组合进行测量。测量环境的控制对于功能材料的结构-性能关系的研究是必不可少的。 *价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请向销售工程师咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

产品介绍：Xeuss 3.0：实验室新一代全自动（掠入射）小角／广角超小角X射线散射线站，可以在透射或掠入射(GI-)模式下进行小角／广角X射线散射(SAXS/WAXS)测试以及超小角(USAXS)测试，获取各类样品全面的结构信息。主要特点：- SAXS/WAXS联用原位测试- 三轴全自动探测器- GISAXS/GIWAXS表征及数据处理- 无Beamstop数据采集- 二维散射图样和一维积分曲线实时动态显示- Virtual Detector模式得到更大的WAXS探测范围可获得的信息：- 粒子 / 孔洞形状- 尺寸 / 分布- 粒子 / 孔洞取向- 粒子相互作用- 粒子 / 基质界面- 分形 / 多级尺度- 自组装 / 长周期- 比表面积可研究的领域：- 纳米颗粒及胶体聚合物- 药物研发及配方- 化妆品及护理产品- 石油及天然气- 食品科学- 可再生能源- 无机材料

安徽国科仪器小角X射线散射仪产品介绍：SAXSFocus高性能X射线散射系统，提供原子到纳米尺度的结构、形貌以及界面信息。配备的高通量X射线光源和精密准直镜，确保短时间内获得高质量的散射谱数据。兼容多种样品架以及原位台，智能判断实验需求，轻松实现不同模式切换，批量测试，提高测试效率。 SAXSFocus 3.0技术参数X射线源靶材微焦斑点光源Cu，可选靶材: Mo, Ag等，支持双靶切换液态金属靶光源Ga，可选靶材In（多混合比例） X射线光学聚焦镜多层膜单次反射聚焦镜无散射狭缝准直系统无寄生散射，光斑大小可实时，联系、自动调整样品架/样品台常规样品台样品台在垂直于入射光路的X/Z（水平/竖直）方向自动移动的行程：±75 mm精度不低于 1 μm，样品可精确对中；同时样品台X轴和Z轴，可沿着Y（光路）方向自动移动的行程±75 mm粉末样品架40/60位粉末自动进样器毛细管液体样品架30位毛细管自动进样器固体样品架30位固体自动进样器多维度样品台X /Y /Z 轴行程±75 mm，精度1 μm；Omega转角- 3°~ + 5°，Ry转角± 3°，精度0.001°；Phi转角330°，精度0.001°其他原位样品台支持在各种原位环境下（温度、拉伸、梯度）等进行测试探测器二维硅阵列单光子计数探测器连续读出，无死时间，无读出噪音或暗电流像素 75 μm × 75 μm动态范围32 bits散射光路类型真空散射管腔，探测器沿入射光路方向可全程自动移动SD距离30 mm-6000 mm可测散射矢量q0.007 nm-1 ~ 50 nm-1分辨率（Cu 靶）SD距离（mm）qmin（nm-1）qmin（nm-1）*(BS=1.5 mm)尺度（nm）*无BS300.521.35000.0250.1225.111000.0120.05552.327000.0050.022125.660000.0010.01628.0应用领域小角X射线散射（Small-Angle X-ray Scattering，SAXS）是一种重要的结构表征手段，可以研究物质的微观结构和形态，应用领域包括但不限于： 生物医学研究：用于蛋白质、DNA、RNA等生物大分子的结构和功能研究，为药物研发、细胞生物学以及病理学等领域的研究提供重要的结构信息数据； 材料科学：应用领域涵盖高分子材料、纳米材料、陶瓷材料、金属和合金材料、复合材料、多孔材料以及薄膜材料等； 地球科学：可以用于研究地球内部物质的微观结构和性质，例如对岩石的微观结构和成分研究，可了解地球内部物质的物理化学特性和演化历史； 化学研究：用于研究各种化学反应的动力学过程及产物结构的演变规律。

产品介绍：Xeuss 3.0：实验室新一代全自动（掠入射）小角／广角超小角X射线散射线站，可以在透射或掠入射(GI-)模式下进行小角／广角X射线散射(SAXS/WAXS)测试以及超小角(USAXS)测试，获取各类样品全面的结构信息。主要特点：- SAXS/WAXS联用原位测试- 三轴全自动探测器- GISAXS/GIWAXS表征及数据处理- 无Beamstop数据采集- 二维散射图样和一维积分曲线实时动态显示- Virtual Detector模式得到更大的WAXS探测范围可获得的信息：- 粒子 / 孔洞形状- 尺寸 / 分布- 粒子 / 孔洞取向- 粒子相互作用- 粒子 / 基质界面- 分形 / 多级尺度- 自组装 / 长周期- 比表面积可研究的领域：- 纳米颗粒及胶体聚合物- 药物研发及配方- 化妆品及护理产品- 石油及天然气- 食品科学- 可再生能源- 无机材料

产品介绍：Xeuss 3.0：实验室新一代全自动（掠入射）小角／广角超小角X射线散射线站，可以在透射或掠入射(GI-)模式下进行小角／广角X射线散射(SAXS/WAXS)测试以及超小角(USAXS)测试，获取各类样品全面的结构信息。主要特点：- SAXS/WAXS联用原位测试- 三轴全自动探测器- GISAXS/GIWAXS表征及数据处理- 无Beamstop数据采集- 二维散射图样和一维积分曲线实时动态显示- Virtual Detector模式得到更大的WAXS探测范围可获得的信息：- 粒子 / 孔洞形状- 尺寸 / 分布- 粒子 / 孔洞取向- 粒子相互作用- 粒子 / 基质界面- 分形 / 多级尺度- 自组装 / 长周期- 比表面积可研究的领域：- 纳米颗粒及胶体聚合物- 药物研发及配方- 化妆品及护理产品- 石油及天然气- 食品科学- 可再生能源- 无机材料

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

散射探测原理就是利用康普顿散射理论，X射线遇到不同物质会发生不同的散射，X射线遇到低原子序数物时，散射较强；遇到高原子序数物质时，散射相对较弱。手持背散射成像仪可用于包裹，汽车夹层、邮件等物品的安全检测，对有机物特别是低原子序数的样品比较敏感，比如dupin和爆炸物成像效果显著。手持背散射可用在海关缉私缉毒、边检缉毒、禁毒局缉毒、边检缉毒和查验走私夹带、反恐等领域。手持背散射成像仪特点1. 便携性：体积小巧可以携带至现场对样品进行检测 2. 对低原子数的样品比较敏感：dupin、爆炸物等 3. 同侧测试：测试方便，可以从不同角度对可疑物品进行检测 4. 辐射剂量小：对测试人员安全性有保障

&bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

手持式背散射检测仪是国内第一款高端的手持式X射线检测设备，产品采用X射线背散射成像技术并融合独特的X射线透射成像技术，一机两用、一键切换，可更高效满足安检、搜爆、安防、保密等多种任务查验需求。产品优势： 【智能识别 一机双能】采用背散射成像技术 + X射线透射成像技术，模式可选、一机两用，智能识别低原子序数有机物，有效突显爆炸物、危化品图像。黑白图像可升级双能彩色图像，查验更清晰。【手持设计 独家应用】国内独有的手持式集成设备，小巧轻便，可完成传统安检手段无法完成的查验任务，如查验汽车、墙体等，不只局限于单一应用场景。【超强穿透 无处可藏】24毫米超强穿透力，可穿透大多数查验目标物，高效发现藏匿的爆炸物、违禁品等，大大扩展了产品的应用范围；客户群覆盖特警、治安、反恐、特勤、边防、缉毒、保密、安全等单位。【无损检测 开机即扫】无损检测，避免损坏赔偿责任，操作简单，开机即扫，无需提前部署。【高清图像 多维算法】全新一代光学系统，超高清分辨率，更满足防爆执法需求；3种图像处理算法，提升查验效果。【安全使用 贴心防护】安全设计，有效隔绝辐射；4种安全措施（指示灯、提示标识、射线触发停止按键、以及其他产品没有的安全联锁保险设置），避免误发射线，确保使用人员安全；

为工业化生产、质量控制而设计，浓缩X射线衍射仪生产的先进技术，功能化与小型化台式X射线衍射仪。能够精确地对金属和非金属样品进行定性分析、定量及晶体结构分析。尤其适用于催化剂、钛白粉、水泥、制药等产品制造行业。 主要技术指标：●运行功率（管电压、管电流）：600W(40kV、15mA)或是1200W(40kV、30mA) 、稳定度:0.005%●X射线管：金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4kW、焦点尺寸：1x10 mm 风冷或是水冷（水流量大于2.5L/min）●测角仪：样品水平θs-θd结构、衍射圆半径150mm●样品测量方式：连续、步进、Omg●角度测量范围：θs/θd联动时-3°-150°●最小步宽：0.0001°●角度重现：0.0005°●角度定位速度：1500°/min●计数器：封闭正比或高速一维半导体计数器●能谱分辨率：小于25%●最大线性计数率：≥5×105CPS（正比）、≥9×107CPS（一维半导体）●计算机：戴尔商用笔记本●仪器控制软件：Windows7操作系统，自动控制X射线发生器的管电压、管电流、光闸及射线管老化训练；控制测角仪连续或步进扫描，同时进行衍射数据采集；对衍射数据进行常规处理：自动寻峰、手动寻峰、积分强度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、谱图对比等。●数据处理软件：物相定性、定量分析、Kα1、α2剥离、全谱图拟合、选峰拟合、半高宽和晶粒尺寸计算、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、多重绘图、3D绘图、衍射数据校准、背景扣除、无标样定量分析等功能、全谱图拟合（WPF）、XRD衍射谱图模拟。●散射线防护：铅+铅玻璃防护，光闸窗口与防护装置连锁，散射线计量不大于1μSv/h●仪器综合稳定度：≤1‰●样品一次装载数据：配置换样器，每次最多装载6个样品●仪器外形尺寸：600×410×670（w×d×h）mm

技术参数 1、X射线发生器功率为3KW 2、测角仪为水平测角仪3、测角仪半径300mm4、测角仪配程序式可变狭缝 5、最小步径0.0001度6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包 8、视频观察系统9、丰富的各种附件 主要特点 1、SmartLab家族中的最新成员SmartLab SE。2、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 4、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 5、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6.小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

一、仪器介绍智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。二、技术参数1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶2、测角仪为水平测角仪3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）4、测角仪配程序式可变狭缝5、自动识别所有光学组件、样品台6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)8、多用途薄膜测试组件9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件10、In-Plane测试组件11、入射端Ka1光学组件12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance三、主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品四、主要的应用有1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

X射线单晶衍射仪 D8 结晶解决方案 — 单晶 X 射线衍射 (SC-XRD) 的质量和多功能标准结晶是确定小分子和大分子结构的zui明确方法，且单晶 X 射线衍射可以通过其他科学无法企及的方式，提供准确、精确的分子大小测量结果。Structural Biology D8 QUEST和D8 VENTURE 提供广泛的 X 射线源及光学器件，以及测角仪选项。D8 QUEST 是一种体型小巧、经济实惠的高性能单一 X 射线源配置，适用于化学结晶等典型用途，而D8 VENTURE 为化学和生物结晶的双波长组合提供平台。 D8 QUEST 是一个专为单波长试验而设计的紧凑型解决方案，配备有革新性的 PHOTON 100 CMOS 探测器。该系统可以在较小的空间里高度灵活的进行试验，可十分方便的拿取物品并具备较高的样品可视性。 根据 DAVINCI.DESIGN 原理，该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计，并且具有完全气冷配置。因此，D8 QUEST 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数：具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷3 年保修密封 X 射线源Mo or Cu radiation经济划算的解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度zui多增加 60%气冷 (观看我们的 Air-Cooled 视频)3 年保修提供zui佳的软件APEX2 是适用于化学晶体的zui完整套件PROTEUM2 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温装置（可选） D8 VENTURE 的试验装置放置在更为宽敞的外壳内，还为旋转阳极提供空间以及双波长解决方案。所有系统均配备革新性 PHOTON 100 CMOS 探测器。 D8 VENTURE 提供zui高的试验灵活性，可十分方便地拿取物品并具备较高的样品可视性。获专利的门可采用滑门模式或双开式弹簧门模式打开。该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计，并且具有完全气冷配置。 因此，D8 VENTURE 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数：具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器 100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷提供三年保修密封X 射线源 Mo or Cu radiation经济型解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度增加高达 60%气冷 (观看气冷演示视频)提供三年保修微聚焦 TXS 旋转阳极紧凑型直接驱动，维护量低细丝经预先结晶和预先校准METALJET 适用于结构生物学的革新性液态金属 X 射线源适用于更小、更具挑战性样品的zui高 X 射线强度室内源使用镓放射自生式标靶，降低背底散射和放射损伤购置成本低，正常运行时间长测角仪FIXED-CHIKAPPABest goniometer precision选择一个带有小于 7 微米弥散球的测角仪，确保即使是zui小的样品，也能稳固地放置在 X 射线束的中心先进安全外壳 符合zui严格的辐射安全规范符合新机械指令提供zui佳的软件 APEX2 - 适用于化学晶体学的zui完整套件PROTEUM2 - 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温设备（可选）设备咨询电话：（微信同号）；QQ：；邮箱：欢迎您的来电咨询！

X射线衍射仪线阵光子计数X射线探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

手持式背散射检测仪中国总经销：工作原理：采用X射线背散射成像技术，同侧发射射线和接收信号实时成像，无需独立成像板。结构与设计：设备由X光源（140kV）、探测器、彩色触控显示屏、摄像头、闪光灯、辅助定位光源(激光)和内置电源（电池）一体式集成化，使用状态下无须其他任何外置组件。主机重量：3.7-4.7kg 操作系统与界面：安卓系统，中文菜单界面。穿透力：大于等于3.5-7.5毫米等效钢板。加装选配件后可穿透22毫米钢板。扫描速度：15cm/s-30cm/s；过慢或过快图像会变形。扫描时长：最长可单次连续扫描60秒，且15秒、30秒、60秒可选；便于针对不同长度的被检物体灵活选择。状态切换：通过按键可快速切换休眠状态与工作状态，休眠状态下设备处于待机状态，节省电量。电池工作时长：单块电池可持续工作4-6h。电池电量显示：可在显示屏和电池上显示电池电量信息。保护功能：具有操作权限管理功能，具有系统工作和射线发射指示灯，具有射线发射按键。激光定位扫描区域：两侧具有内置激光发射装置。被检物拍摄功能：设备前端内置摄像头，支持在检测过程中拍摄被检物图像；补光功能：设备前端内置补光灯，支持在检测过程中对被检物补光；辐射防护：距离检测仪正后方表面5cm处周围剂量当量率≤0.4μSv/h。辐射安全：设备具有多重安全保护措施：1）安全联锁控制系统：开机登录后，屏幕上会出现锁屏保险条，向右滑动保险条解锁后按下射线发射键才可发 射X 射线，松开射线发射键后，可快速停止发射X 射线；2）出束警示灯：在设备上方、左右方明显处均设置有警示灯，出束时红灯亮起；数据存储： 10,000扫描图像；软件功能：具备扫描、查看图像、直方图拉伸（亮度调节）、黑白色转换、图像比较、图像着色、可疑图像标记、图像存储、图像回放、图像放大、图像缩小、图像导入、图像导出等功能；具有拍照、闪光灯照明、休眠、图像分组管理、设备数据备份/还原、用户管理、语言切换等功能。先进图像处理功能：具有多种图像处理算法，更有助于查验人员高效判图：1）常规处理算法—对被检物体不做区分；2）高穿透处理算法—扫描高密度物质后突出显示其后藏匿的违禁品，如扫描车辆多部位；3）高分辨率算法—更清晰看到图像细节；联接能力：USB、无线WIFI、蓝牙、数据线；校准：设备每次开机扫描前无需校准。运行环境：-20摄氏度至60摄氏度；大气条件为不凝结。外壳防护等级：IP54,防尘、防溅水。 升级能力：1.设备可加装高清动态透射成像配件，可穿透22毫米钢板，图像清晰度接近便携式X光机，可查验的物品更多，大大提高查缉战果几率；2.设备可升级具备识别金属物质铅并可在屏幕上文字弹窗报警功能。犯罪分子经常用铅屏蔽违禁品，造成查缉遗漏。该功能可有效解决此问题。

双源单波长激发 能量色散X射线荧光光谱仪采用双曲面弯晶技术对双激发源进行单色化，从而大幅降低X射线管出射X射线经样品所产生的散射线背景干扰，提升样品中元素荧光射线强度，降低对多元素的检出限，尤其对重金属元素检出限可降低至0.05mg/kg水平。该仪器可实现对硼元素之后的全元素检测。此外该仪器在定量方面采用快速基本参数法，可实现在无标样或少标样的情况下对未知样品进行定性和定量分析。

日本理学 XRD 智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列，是当今世界性能的多功能的 X 射线衍射仪，它采用了理学独创的 CBO 交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 技术参数• 1、X 射线发生器功率为 3KW、新型 9KW 转靶• 2、测角仪为水平测角仪• 3、测角仪最小步进为 1/10000 度，精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）• 4、测角仪配程序式可变狭缝• 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）• 6、CBO 交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带 Mirror）（理学专利）• 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)• 8、多用途薄膜测试组件• 9、微区测试组件、CBO-F 微区光学组件• 10、In-Plane 测试组件（理学独有）• 11、入射端 Ka1 光学组件• 12、高速探测器 D/teX-Ultra（能量分辨率 20%以下）• 13、二维面探 PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射 X 射线)• 14、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance（专利） • 日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 主要特点智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld 定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane 装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪，带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。应用范围：定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析X射线反射法、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射（WAXS）总散射分析：Bragg衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）薄膜分析X射线衍射（XRD）和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。应力和织构（择优取向）分析。材料研究XRD可研究材料的结构和物理特性，是最重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布鲁克推出的、用于材料研究的旗舰款XRD仪器。D8 DISCOVER配备了技术的组件，可为您带来优异的性能和充分的灵活性，同时让研究人员对材料进行细致入微的表征：定性相分析和结构测定微米应变和微晶尺寸分析应力和织构分析粒度和粒度分布测定使用微米大小的X射线束进行局部XRD分析倒易空间扫描筛选和大区域扫描涉及高通量筛选（HTS）和大区域扫描分析时，D8 DISCOVER是优异解决方案。而有了UMC样品台的加持，D8 DISCOVER更是成为了电动位移和重量能力方面的同类优异：孔板和沉积样品在反射和透射中的高通量筛选（HTS）对最/大300 mm的样品进行扫描安装和扫描重量不超过5kg的样品自动化接口微焦源IμS配备了MONTEL光学器件的IμS微焦源可提供高/强度小X射线束，非常适合小范围或小样品的研究。毫米大小的光束：高亮度和低背景绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命延长MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。UMC样品台D8 DISCOVER提供了许多UMC平台，具有全新的样品扫描和重量容纳能力：可对重达5 kg的样品进行扫描大区域映射：最/大300mm的样品支持高通量筛选（HTS）的UMC样品台，最多支持三个孔板。考虑到其高度的模块化性能，该UMC样品台可根据客户的要求进行超出标配的定制。多模EIGER2 R检测器EIGER2 R 250K和500K是将Synchrotron性能带入实验室X射线衍射的2D检测器。先进的传感器设计，包括第二代性的EIGER：最/大尺寸为75 x 75mm2的50万像素，可实现微观分辨率的宏观覆盖。符合人体工程学的设计：轻松即可根据应用需求，调节探测器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切换以及探测器位置可连续变化、支持自动对光。全景光学器件和附件，视野开阔。0D、1D和2D操作模式：支持快照、步进、连续或高级扫描模式。可与DIFFRAC.SUITE完全无缝集成。TRIO Optics与PATHFINDER PLUS Optics获得的TRIO光学器件可在三种光路之间自动切换：用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何用于毛细管，GID和XRR分析的高/强度平行光束Kα1,2几何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何PATHFINDERPlus光学器件带有一个用于确保测得强度的线性的自动吸收器，并可在以下之间切换：电动狭缝：用于高通量测量分光晶体：用于高分辨率测量使用配备了TRIO和PATHFINDERPlus的D8 DISCOVER，无需重新配置，在环境条件下或非环境条件下，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所类型尽在掌握。

仪器介绍 理学标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC继承了理学D/max系列X射线衍射仪的特点。 D/max系列X射线衍射仪一直是业界标准，许多X晶体学家伴随着D/max一起成长，D/max也陪伴着晶体学家而发展，D/max系列衍射仪一直是晶体学家的好帮手。 技术参数1. X射线发生器功率为9KW（新型旋转阳极靶） 2. 广角测角仪可配垂直式或卧式 3. 广角测角仪最小步进为1/10000度 4. 广角测角仪配程序式可变狭缝 5. 广角测角仪包括聚焦光路及平行光路，转换方便 6. 高反射效率的石墨单色器 7. 高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下） 8. 全自动调整（使用专用调试工具及软件），保证数据标准化 9. 分析软件齐全 10. 附件齐全 主要特点 标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC配上相应的附件，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld结构分析 5. 薄膜样品的物相分析 6. 织构分析 7. 应力分析 8. 小角散射与纳米材料粒径分布 9. 高温、超高温、低温、超低温、中低温、原位反应、温湿度、充放电、强磁场等在现分析

产品简介单次测量能谱可覆盖2到4kev用于在线光束表征的背散射模式研究材料样品的X射线发射谱能量分辨率为0.3eV设备结构紧凑且可移动TXS光谱仪可对HHG光束线，X射线自由电子激光和台式X射线激光进行准确的光诊断。单次测量能谱可覆盖2到4kev。在具有高效率背向散射的von Hamos光路几何中，对于光束的在线表征，可实现对X射线光谱的指纹识别。 透射光束保持 90％的透射率，可使进一步的实验不受透射光强的影响。通过简单地将背散射探针与材料样品交换，hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱（XES）。 中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 TXS光谱仪的定制设计需求是可讨论的。硫的K边X射线吸收谱 (XAS)中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 hardLIGHT: 通过高透射率散射探针和发射光谱进行无干扰在线光束诊断规格参数Topology/类型von Hamos能量范围2-4keV光源距离可根据用户实际光路灵活调整探测器类型CCD/MCP/CMOS/或根据需要混搭 真空兼容度10-6mbar (UHV version available)晶体定位闭环电控台滤光片插入单元可选数据接口USB 或 Ethernet软件Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK定制能力可根据需求定制应用 高次谐波光源的光子诊断，x射线自由电子激光，桌面x射线激光原位X射线发射谱测量

产品简介　　法国Damavan imaging提出时间成像是伽马射线成像的新概念，它利用每个闪烁事件的光和时间分布来精确定位空间（X，Y，Z），时间（T）中的每个闪烁事件以及它的能量（E）。　　这种新的成像概念可以使每个体素大小（1x1x2mm）的闪烁事件提高一个数量级。　　Temporalδ伽马射线成像谱仪是率先使用这个新概念的设备。这款便携式版本的伽马射线成像谱仪带有一个CeBr3头，伽玛射线和可见光成像和主动温度控制。这个版本是专门用于能源300KeV- 2mev探测。Temporalδ伽马射线成像谱仪拥有市面上出色的角度分辨率(6°)和时间分辨率(300ps)。它也非常敏感，可以对自然的无线电元素成像并可以对扩展源进行良好的成像。　 性能特点　　Temporal δ伽马射线成像谱仪由便携式单元包括一个处理单元和一个探测器单元，可选配CZT配件。 　　-检测效率高, 1个校准过的探测器模块，由两个32x32毫米的CeBr3晶体组成 　　-成像能量动态范围宽，探测能量范围可达50KeV - 3MeV，能量分辨率1.5% 　　-高时间分辨率，时间巧合小于300ps 　　-高准确度，角分辨率可达1度 　　-低噪音水平 　　-高灵敏度　应用领域 　　-核废料管理 　　-核设施退役 　　-放射性化学 　　-医院的放射性安全 　　-环境监测、核查和预警 　　-剂量监测和预警 　　-安防、安保、海关、警察　技术参数光学成像视场78×104°degres flat field角分辨率10 degrees(full spectrum)6 degrees (energy gated)灵敏度0.03μR/h in 1hour1kBq @1m in 2 hours3μR/h 1mn闪烁晶体CeBr3时间分辨率300 ps @ 511keV能量分辨率7% @ 662keV能量范围100 keV—3 MeV(能谱分析)400keV-3MeV(辐射成像)电池续航4小时外置电池（重1.2kg）计数率限制1 mSv/h重量3.9kg尺寸21x29x16 cm电源110-220V (mains)工作温度-20°C ~ +50°C通讯方式Ethernet to laptopWifi in 2019　　图3 Temporal δ参数 *不含CZT配件下的参数　应用案例　　Temporalδ提供了一个电子准直的选项，它允许“关闭”一个强光源，只保留图像上的其他光源，因此，即使在强光源附近，也能拍出弱光源的清晰图像。　　下面的图片上,你可以看到一个桶的X射线图像和由Temporal δ对相同的桶进行伽马射线成像效果。　　1332 KeV (60Co)在X光图像上，你可以看到有两个桶，一个小桶在大桶里面。　　在伽玛图像上，所有能量都有3 +1个区域：　　-A中正在扩散的强烈放射源；　　-B处的轮廓揭示了中小桶结构的扩散；　　-C微弱的扩散区域，可能对应于小桶上的玻璃棉（在X射线图像上也可见）；　　-D高能光子散布在环境中的密集部分上　　基于能量1332 KeV的伽马图像显示，右下角（区域A）的强光源对应于60Co。同时也可以在此伽马图像中看到小桶的轮廓，这是在小桶实体上散射了光子。

仪器介绍： 全新智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数： 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶 2、测角仪为水平测角仪 3、测角仪最小步进为1/10000度，高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位) 4、测角仪配程序式可变狭缝 5、自动识别所有光学组件、样品台 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror） 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS) 8、多用途薄膜测试组件 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件 10、In-Plane测试组件（理学独有） 11、入射端Ka1光学组件 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下） 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线) 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance 主要特点: 智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构 7. 小角散射与纳米材料粒径分布 8. 微区样品的分析

仪器简介：组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。 技术参数1. X射线发生器功率为3KW2. 测角仪为水平测角仪3. 测角仪最小步进为1/10000度4. 测角仪配程序式可变狭缝5. 高反射效率的石墨单色器6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）7. 小角散射测试组件8. 多用途薄膜测试组件9. 微区测试组件10. In-Plane测试组件（理学独有）11. 高速探测器D/teX-Ultra12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 主要特点：组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

仪器简介：组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。 技术参数1. X射线发生器功率为3KW2. 测角仪为水平测角仪3. 测角仪最小步进为1/10000度4. 测角仪配程序式可变狭缝5. 高反射效率的石墨单色器6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）7. 小角散射测试组件8. 多用途薄膜测试组件9. 微区测试组件10. In-Plane测试组件（理学独有）11. 高速探测器D/teX-Ultra12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 主要特点：组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析