光学实验设备

i3D系列产品是星空科技自主研发的非接触式光学面形检测设备，可实现旋转对称光学元件3D形貌的超精密、高速测量，适用于透明与非透明、光滑与粗糙等多种表面类型的检测分析。

用途 实际光学系统所成的像，都不可能完全符合理想，所谓像差也就是实际光学系统和理想光学系统成像的差别。像差的大小也就代表了光学系统成像质量的优劣。当成像光束孔径角增大或成像范围增大时就会产生球差、慧差、像散、场曲和畸变等单色像差，当光学系统采用白光或者复色光成像时还会产生位置色差和倍率色差等。像差使像变模糊、失真，在光学测量中还会影响测量精度。此外，光学系统像差理论是《工程光学》课程重要章节，也是教学的难点章节，针对此知识点的教学实验产品匮乏。我公司开发的像差测量实验采用专门设计的像差镜头，像差现象清晰；涉及知识点紧贴像差理论的重点内容，是学生掌握像差理论非常理想的教学实验系统。实验内容1. 平行光管的调节使用及位置色差的测量2. 星点法观测光学系统单色像差3. 阴影法观测光学系统像差与刀口仪原理4. 剪切干涉测量光学系统像差实验效果图知识点 光学系统的球差、彗差、场曲、像散、位置色差、畸变、星点法、阴影法、剪切干涉法主要设备参数1. 光源：He-Ne激光器：P＞1.5mw，λ=633nm，模式TEM00，安全保护高压插头2. 平行光管组件：光源：白光/三色LED，P＞1W，亮度连续可调平行光管：D/F=1:10，L=550mm，Ф50mm，f=500mm星点孔：Ф15μm，精度±0.5μm3. 空间滤波器：40X显微物镜，15μm针孔4. 光学组件：光学平晶：Tc=20mm，光洁度IV像差镜头：球差、彗差、场曲、像散待测透镜：Ф25mm～40mm5. CMOS相机：分辨率：1280 x 1024，像素大小：5.2 μm x 5.2μm，接口：USB2.06. 光学导轨：L x W=1000mm x 80mm，配套滑块、一维移动滑块、调节支座、调节支杆7. 实验软件8. 实验讲义

产品介绍：精密阻尼光学平台HGZO系列是一款高性能隔振光学平台，是精密橡胶阻尼隔震垫和锥形水平轴承调节机构组合的新型精密隔振光学平台，具有优质的缓冲，隔振效果，台面采用430优质高导磁不锈钢具有重量轻、高刚度、高阻尼等优点。广泛应用于光通讯、电子制造、医疗生物、光路测试、光学测量、激光干涉、精密检测，光谱实验等对振动具有较高要求的设备。产品特点：隔振方式 精密橡胶阻尼隔振调节机制 锥形水平轴承光学平台高度 800mm光学平台平面度 ≤0.05mm/m2光学平台台面粗糙度 ≤0.8um 台面处理 哑光处理平台振幅 5um固有频率 x方向：3.5Hz～6Hz y方向：3.5Hz～6Hz符合承载 800kg/m2水平调节方式 手动调节 调节高度 ±10mm

■平台材料：304不锈钢（于304L钢仍存有很弱的磁性，被认为是“近非磁性”的），如果对磁场更高要求建议使用我公司生产的聚乙烯光学平台。■平台分2种：台面无磁或者台面及支撑无磁（成本和实验需要自行考虑）■应用：对磁场有较高的要求。■红星杨科技研发生产的精密无磁气浮平台，能够满足精密负载对振动隔离需求，且面向大多数设备仪器提供通用化隔振解决方案，改善振动环境，以发挥设备仪器的最佳效能。■适合于显微镜、光路测试、光学测量、激光干涉、激光扫描、光谱实验等领域应用。■优异的隔振性能：内置精密空气弹簧隔振系统，具备优秀的固有频率，对多个方向的振动特别是垂直方向有着良好衰减效果，避免外界振动干扰设备仪器精度，提高仪器设备使用精度和使用效率。■自动调节水平功能：放置负载的位置发生变化，平台迅速通过高精度阀门自动调整空气弹簧内部的气压，自动保持水平。气动元器件全部执行德国FESTO产品，标配优质超静音压缩机。■台板采用钢制芯夹板结构,具有重量轻、高刚度、高阻尼等优点，上面板为icr17优质高导磁不锈钢，经精密研磨处理，平面度高，回旋打磨工艺清除毛边，达到无反射、亚光效果，面板具有M6螺孔阵列，易于固定光学元件。■隔振支撑为优质钢管焊接而成，整体坚固可靠。■工作压力为0.35～0.6Mpa，标准配置调压过滤阀将保证空气弹簧的长期有效工作，用户只需要将气管连接进气口，就能使装置正常发挥隔振功能，气源可通过小型空气压缩机或氮气瓶供给，便于在安静场合使用。■平面度： 0.05mm/m2 ■表面粗糙度： 0.8μm■固有频率；x方向：1.2Hz～2.0Hz y方向：1.2Hz～2.0Hz■振幅： 1.2μm■荷载能力：800kg/m2■重复定位精度：±0.05mm产品型号规格尺寸(mm)支撑腿数量HGZC-06-06600×600×8004HGZC-075-075750×750×8004HGZC-09-06900×600×8004HGZC-10-071000×700×8004HGZC-10-081000×800×8004HGZC-12-081200×800×8004HGZC-15-091500×900×8004HGZC-15-101500×1000×8004HGZC-16-091600×900×8004HGZC-18-121800×1200×8004HGZC-20-102000×1000×8004HGZC-20-122000×1200×8004HGZC-24-122400×1200×8004HGZC-30-103000×1000×8004HGZC-30-123000×1200×8004HGZC-30-153000×1500×8006HGZC-35-123500×1200×8006HGZC-35-153500×1500×8006HGZC-40-154000×1500×8006HGZC-42-154200×1500×8006HGZC-48-154800×1500×8006HGZC-54-155400×1500×8008HGZC-60-156000×1500×80012 无磁光学平台，精密隔震光学平台，光学实验台武汉红星杨科技有限公司（简称“红星杨科技”）是致力于光机产品制造商和系统解决方案提供商的创新型企业。红星杨科技通过资源整合吸纳了包含高校和研究所在内的高端科研技术资源，为公司远景发展创造了坚实的基础；主营业务包含：精密位移平台、精密运动控制、光学平台、光学调整架、光机系统仪器、作物表型仪器、进口光机产品。红星杨科技将立足于光电产业，坚持高科技、高价值、高效益三大目标，打造实力品牌优势、系统优势和价值优势的知名光电企业。今天；明天，无论在工业自动化、计量、显微，生命科技，还是激光技术，精密加工技术；无论是半导体科技，数据存储技术，还是光电子/光纤，天文等领域，红星杨科技的产品和技术将得到越来越广泛的应用，也赢得了越来越广泛的赞誉。红星杨科技“聚焦科技之美，创造光机精品”!

仪器简介： XGS-1型信息光学实验（可开设实验） 全息照相实验 制作全息光栅 阿贝成像原理和空间滤波 &theta 调制和彩色合成 XGS-2型信息光学实验及基础实验 全息照相实验 &theta 调制和彩色合成 制作全息光栅 几何光学实验 阿贝成像原理和空间滤波 物理光学实验 XGS-3型全息照相实验 菲涅耳全息照相 像面全息 彩虹全息 特征识别 全息高密度信息存储 XGS-4型全息照相实验及基础实验 菲涅耳全息照相实验 特征识别 几何光学实验 像面全息 物理光学实验 彩虹全息 近代光学实验 全息高密度信息存储 XGS-5型光学全息照相实验平台 光学全息照相实验平台是我公司专门为全息照相所设计的平台，配有齐全的光学组件和调整架、可以直接方便的进行全息照相实验的教学。 仪器特点：仪器采用双层减震装置的大面积平板工作台，配有全息照相所需的多种调整架，仪器实验光轴中心高度180-240mm可调配有高质量的全息干版，平板工作台采用含磁不锈钢材料。 成套性：光学平台：（1200*800*120mm）1台 平台工作台：（1200*800mm）1台 所需附件一套 技术参数： XGS-1型信息光学实验（可开设实验） 全息照相实验 制作全息光栅 阿贝成像原理和空间滤波 &theta 调制和彩色合成 XGS-2型信息光学实验及基础实验 全息照相实验 &theta 调制和彩色合成 制作全息光栅 几何光学实验 阿贝成像原理和空间滤波 物理光学实验 XGS-3型全息照相实验 菲涅耳全息照相 像面全息 彩虹全息 特征识别 全息高密度信息存储 XGS-4型全息照相实验及基础实验 菲涅耳全息照相实验 特征识别 几何光学实验 像面全息 物理光学实验 彩虹全息 近代光学实验 全息高密度信息存储 XGS-5型光学全息照相实验平台 光学全息照相实验平台是我公司专门为全息照相所设计的平台，配有齐全的光学组件和调整架、可以直接方便的进行全息照相实验的教学。 仪器特点：仪器采用双层减震装置的大面积平板工作台，配有全息照相所需的多种调整架，仪器实验光轴中心高度180-240mm可调配有高质量的全息干版，平板工作台采用含磁不锈钢材料。 成套性：光学平台：（1200*800*120mm）1台 平台工作台：（1200*800mm）1台 所需附件一套 主要特点： XGS-1型信息光学实验（可开设实验） 全息照相实验 制作全息光栅 阿贝成像原理和空间滤波 &theta 调制和彩色合成 XGS-2型信息光学实验及基础实验 全息照相实验 &theta 调制和彩色合成 制作全息光栅 几何光学实验 阿贝成像原理和空间滤波 物理光学实验 XGS-3型全息照相实验 菲涅耳全息照相 像面全息 彩虹全息 特征识别 全息高密度信息存储 XGS-4型全息照相实验及基础实验 菲涅耳全息照相实验 特征识别 几何光学实验 像面全息 物理光学实验 彩虹全息 近代光学实验 全息高密度信息存储 XGS-5型光学全息照相实验平台 光学全息照相实验平台是我公司专门为全息照相所设计的平台，配有齐全的光学组件和调整架、可以直接方便的进行全息照相实验的教学。 仪器特点：仪器采用双层减震装置的大面积平板工作台，配有全息照相所需的多种调整架，仪器实验光轴中心高度180-240mm可调配有高质量的全息干版，平板工作台采用含磁不锈钢材料。 成套性：光学平台：（1200*800*120mm）1台 平台工作台：（1200*800mm）1台 所需附件一套

WSZ－1系列光学试验平台是根据教育部高教普物光学试验大纲的要求而设计的。平台系统由光学试验平台主体、多维调整架、光源、光学元件组成。教师可以根据试验要求，选择光学试验平台合适的组件安排实验，进行开放式教学，通过光学试验平台培养学生的思维能力及实验技巧，提高教学质量。光学试验平主要特点： · 光学试验平台采用双层减震装置的大面积平板工作台· 诸多通用调整架，学生可任意组合、摆放各种实验· 多维调整架，可达五维精密稳定调整· 光学试验平台各项实验光轴中心高度180mm-240mm可调· 多种规格的衍射板组件供用户选择· 平板工作台采用含磁不锈钢材料型 号名 称规 格单位价格(元)WSZ-1 12-08 光学试验平台1200× 800× 120mm台7000WSZ-1 15-101500× 1000× 140mm台9000WSZ-1 18-101800× 1000× 140mm台11000 平台工作台用于支撑1200× 800× 120mm的光学平台台1200用于支撑1500× 1000× 140mm的光学平台台2000用于支撑1800× 1000× 140mm的光学平台台3000WSZ-1A 12-08光学试验平台 及26项实验平台和工作台1套26项实验用的通专用件,开设几何光学、物理光学、现代光学实验1200× 800× 120mm套24000WSZ-1A 15-101500× 1000× 140mm套27000WSZ-1A 18-101800× 1000× 140mm套30000

FSD100e是睿励微电子设备(上海)有限公司专为LED市场开发生产的自动光学检测设备（AOI），适用于蓝宝石衬底、图形衬底、外延片和芯片等各种工艺。该系统具有高分辨率、高速、高性价比的特点，并能根据检测结果进行自动分拣。既能为LED生产厂商提高生产效率，又可为进行全面良率管理提供数据。FSD100e正在市场上推广，已受到客户的肯定和好评。 FSD100e系统主要特点: 低持有成本、高稳定性和高可靠性的设计 两吋及四吋蓝宝石衬底通用 特别适用于PSS检测 同时检测微观及宏观缺陷 全表面检测、自动缺陷分类、自动存储缺陷图像 高分辨率的缺陷复查功能 根据检测结果自动分拣，提高生产效率 为管理工艺漂移提供有效手段,为良率管理提供数据 支持工厂自动数据传递

套刻（Overlay）套刻对准是将工艺上下层对准的过程，套刻误差定义为两层之间的偏移。套刻误差测量通常是指对两层不同材料的不同套刻标记，通过图像、算法处理获得两层之间偏移值的过程。针对测量套刻误差，天准半导体测量设备支持测量Box-in-Box、Frame-in-Frame、L-Bars、Circle-in-Circle、Cross-in-Cross或定制开发其他的结构。关键尺寸（CD）光学测量是一种非接触式、非破坏性的测量技术，精确且快速，可通过CCD图像提取结构强度信息来计算宽度。强度图必须要进行额外处理，以使其免受噪声或变形的干扰。天准半导体测量设备已具备消除这类干扰的功能，对低于0.7μm的特征结构，系统支持使用UV光测量。膜厚（Film Thickness）测量设备拥有定期自动校准功能，支持测量透明和半透明的介质膜，最多可测量三层膜。DaVinci主要特点 支持测量关键尺寸、套刻 支持定制OC、SMIF、FOUP 支持200/300mm晶圆以及组合 可配置可见光、紫外光 SECS/GEM

中图仪器SuperViewW光学3D轮廓仪粗糙度在线检测设备基于白光干涉原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，以3D非接触方式测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，结果组成：1、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；2、二维图像分析：距离，半径，斜坡，格子图，轮廓线等；3、表界面测量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；4、薄膜和厚膜的台阶高度测量；5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量；6、微电子表面分析和MEMS表征。SuperViewW光学3D轮廓仪粗糙度在线检测设备可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：SuperViewW光学3D轮廓仪粗糙度在线检测设备测量小尺寸样品时，可以测到12mm，也可以测到更小的尺寸，XY载物台标准行程为140*110mm，局部位移精度可达亚微米级别，Z向扫描电机可扫描10mm范围，可测非常微小尺寸的器件；测量大尺寸样品时，支持拼接功能，将测量的每一个小区域整合拼接成完整的图像，拼接精度在横向上和载物台横向位移精度一致。大尺寸样品_拼接测量产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。 性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。 部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 MEMSCamtek检验和计量解决方案的微电子机械系统(MEMS)结合多种技术解决MEMS的2 d和3 d挑战的行业。我们独特的灵活平台支持MEMS产业广泛的应用程序。各种处理配置和特殊的发展可以支持各种晶片大小和类型。功能• 整片2 d检查和计量• 表面相关缺陷检查• 各种处理解决方案(薄和泰科晶圆和更多)• 高分辨率的2 d和3 d测量• 多个照明配置各种功能的检查• 灵活的检测环境定制的应用程序技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器• 剪辑 产品 头鹰头鹰年代最先进的2 d表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。 EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个最快的和最精确的2 d检查工具在市场上。

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CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料,具有独特的电学性能和优异的热性能。 与硅片和砷化镓晶片相比,碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。Camtek开发专用的检验和计量解决方案,以及分析工具来解决这一新兴市场。功能• 处理透明材料区域使用黑暗查克在晶片上• 背光查克的早期阶段的过程• 朋友处理透明的晶片• eef——边缘控制能力• 自动缺陷分类(ADC)基于收益管理的深度学习• 弓测量• 预测收益率-晶圆缺陷位置精度 2um技术• sts -表面形貌传感器• 背光 产品 EagleT-AP为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个 快的和 精确的2 d检查工具在市场上。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备 表面检查Camtek提供了一个完全自动化的表面检测系统,用于支持大容量生产环境而提供快速检验和计量功能。独特的灵活平台支持市场 苛刻的应用程序,包括独联体、微机电系统、LED, OQC和记忆以及不同的流程步骤。功能• 2D缺陷检验和计量• 垫和调查分析• 2D CD测量• 高吞吐量、灵活设置• 在线和离线分类• 全自动化技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器 产品Eagle-i 的2D表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个 快的和 精确的2 d检查工具在市场上。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备 三维集成电路Camtek灵活平台利用各种技术解决的复杂步骤3 dic发展和生产的需要。我们完全自动化的2 d和3 d测量和缺陷检测能力覆盖 先进的产业需求解决产业路线图。该系统包括数据分析工具使过程监控和产量的提高。功能• 高容量整片肿块2 d和3 d检查和计量• 层厚度测量• 调整层之间• 覆盖测量• 高分辨率CD测量• 表面相关缺陷检查• TSV CD测量• 通过了检验• 通过揭示/指甲高度和co-planarity测量• RDL检验和计量技术• Camtek独特的白光三角测量传感器• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器• 光干涉测量技术对3 d 产品 Eagle-APEagle-AP提供2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 EagleT-AP为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备Fan-outCamtek先进的校准和诉讼机制结合专用的检验和计量能力解决挑战性的Fan-out的过程。我们的系统支持表面检验能力和独特的计量信息死层之间结合位置对齐数据。系统生成各种报告,增加产量和提高产量。功能• RDL检查和计量• 检查多层晶片• 多种光学设置所有步骤和缺陷类型• 3 d高度和co-planarity测量• 死位置测量技术• Camtek独特的白光三角测量传感器• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器• 光干涉测量技术对3 d 产品 Eagle-APEagle-AP提供2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备 CMOS图像传感器检查Camtek CMOS图像传感器制造商提供了大量环境系统与不妥协的检测能力。我们的先进解决方案强加的独特挑战CIS应用程序,如像素尺寸小型化和复杂的生产过程,是基于我们长期积累的经验在这个市场。功能• Sub-resolution检测™ • 动态范围扩展器和双照明• 黑场和明亮的场• 先进的低对比度缺陷算法• 细晶片和改造晶片处理• 验证:在线和离线技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器

在线三维自动光学检测设备A-1200◆ 可编程相位轮廓调制测量技术◆ 四/八向投射同步结构光技术◆ 测量项目：缺件、偏移、旋转、三维极性、反件、OCV、翘立、侧立、立碑、焊接不良等◆ 焊点检查项目：焊锡拉尖、焊锡量百分比、多锡、少锡、桥接、堵孔、爬锡、焊盘污染等◆ 最小检测元件：01005（英）◆ X-Y精度：10um◆ 高度重复性精度：1um(4sigma)◆ 检测面积：1200x650mm ◆ 远心镜头配合超高帧数高精度工业相机◆ 检测速度：0.45秒/FOV◆ Mark点识别：0.5秒/个◆ 最大检测高度：10mm◆ 可过板上器件高度：50mm◆ 弯曲PCB最大测量高度：±5mm◆ 操作系统：Windows 10 Professional (64 bit)◆ 五分钟编程，一键式操作◆ SPC过程工艺控制

TMC 20系列主动隔振实验桌光学平台TMC的主动隔振实验台具有先进的隔振性能。通过采用新型CSP® （紧凑型亚赫兹钟摆隔离系统）进行水平减振以及PEPS-VX® 惯性阻尼器进行垂直减振，我们生产出一种性能优越的六自由度超净实验桌。这个先进的隔离技术可以与TMC光学平台或其他TMC产品结合使用，同样也可以被设计用于OEM应用以及设备。在2Hz时，垂直隔振10 dB以及水平隔振20dB（此振动频率下其他实验台会放大振动）的特性，使此主动隔振实验台对于振动环境异常严重的大部分应用都是理想的。应用包括:?原子力显微镜?扫描探针显微镜?商业干涉仪?电生理学记录?半导体检测设备基本参数隔离器固有频率（低输入）垂直方向=0.5Hz，水平方向=0.5Hz隔离器效率@2HZ垂直方向=10dB 水平方向=20dB推荐负载能力：545Kg整体材料：不锈钢平台， 黑色氧化处理中等材料框架船运重量：544kg 特性?用于距离隔离表面1微米的非接触式高度控制的pepS® II精密电子定位系统?PEPS-VX® 隔振配合peps用于三个自由度的低频隔振?桌面式配置的刚性钢框架结构?高阻尼、高刚度的2in.厚的不锈钢层压板?平台可选的螺纹孔网格Performance-Order Chart-

CAMTEK 自动光学检验AOI设备Fan-outCamtek先进的校准和诉讼机制结合专用的检验和计量能力解决挑战性的Fan-out的过程。我们的系统支持表面检验能力和独特的计量信息死层之间结合位置对齐数据。系统生成各种报告,增加产量和提高产量。功能• RDL检查和计量• 检查多层晶片• 多种光学设置所有步骤和缺陷类型• 3 d高度和co-planarity测量• 死位置测量技术• Camtek独特的白光三角测量传感器• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器• 光干涉测量技术对3 d 产品 Eagle-APEagle-AP提供2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 Eagle-i最先进的2 d表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。 EagleT-AP为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个最快的和最精确的2 d检查工具在市场上。

仪器简介：本实验仪是新开发的现代光学教学实验仪。实验仪中集成了可以独立使用的C波段宽带光源C波段的EDFA光纤激光器、光纤迈克儿逊干涉仪、光纤M-Z非平衡干涉仪、光纤光栅光谱特性测量、光纤光栅温度传感、光纤光栅应变传感和光纤弯曲衰减等多种器件和实验装置，应用跳线连接成多种组合，可以实现和完成多种纤维光学方面的实验，锻炼和培养学生的理论认识和综合实验能力。 仪器主要组成、性能和主要实验：宽带光源1525-1565nm（美国进口激光管和掺Er光纤），宽带光源可独立使用。 纤维光学测试，光谱信号记录处理，手动和自动 数字式光强信号功率计：光功率测量范围1nW-2mW技术参数：可开设实验： 光纤弯曲损耗实验 光纤光栅光谱特性实验 光纤放大器实验 调谐光纤激光器实验 光纤光栅温度传感实验：温度值显示到0.1℃ 光纤光栅应变传感实验：应变值可显示到1&mu &epsilon 光纤麦克儿逊传感实验：温度显示到：0.1℃ M-Z干涉传感实验：应变值可显示到1&mu &epsilon 主要特点：可开设实验： 光纤弯曲损耗实验 光纤光栅光谱特性实验 光纤放大器实验 调谐光纤激光器实验 光纤光栅温度传感实验：温度值显示到0.1℃ 光纤光栅应变传感实验：应变值可显示到1&mu &epsilon 光纤麦克儿逊传感实验：温度显示到：0.1℃ M-Z干涉传感实验：应变值可显示到1&mu &epsilon

主要特点： 仪器特点： 该仪器可以测几何光学方面各种镜头，镜片，（包括胶合、单片）光学组件的焦距、节点等。其结构简单，操作方便，适合大学教学实验及科研实验。 成套性：导轨、二维调整架、干板架、白屏、像屏、读数显微镜架、白光源、透镜、平面反射镜、测微目镜、节点架、分划板

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 表面检查Camtek提供了一个完全自动化的表面检测系统,用于支持大容量生产环境而提供快速检验和计量功能。独特的灵活平台支持市场最苛刻的应用程序,包括独联体、微机电系统、LED, OQC和记忆以及不同的流程步骤。功能• 2D缺陷检验和计量• 垫和调查分析• 2D CD测量• 高吞吐量、灵活设置• 在线和离线分类• 全自动化技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器 产品Eagle-i先进的2D表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个快的和精确的2 d检查工具在市场上。

产品介绍：科研级气浮隔震平台HGZK系列是一款超高性能隔振光学平台。隔振器采用进口精密超薄复合材料气囊、带附加扩散口的多小孔准层流阻尼技术，隔振性能优良，系统更稳定。HGZK系列光学平台具有自动水平，自动充气，噪声低等特点。关键气动执行元件均采用德国FEST0进口产品。应用于精密光学实验、显微成像、医疗生物、光路测试、光学测量、激光干涉、精密检测等对振动具有较高要求的设备。 产品特点：光学平台平面度≤0.05mm/m2光学平台台面粗糙度≤0.8um，台面哑光处理平台振幅1.2um固有频率x方向：1.2Hz～1.7Hz y方向：1.2Hz～1.7Hz符合承载800KG/m2隔振方式空气弹簧，隔振橡胶水平调节方式自动调平，气动元件执行空气源静音空气压缩机＜45Db可外接调节高度±15mm选型表：型号尺寸（mm）载荷阻尼支腿最大负载（kg）气浮支腿最大负载（kg）台面重量（kg）台面厚度（mm）支撑腿数量支腿尺寸（mm）HGZK 0606600x600x800750350541004120×120HGZK 0906900x600x800720320811004120×120HGZK 10081000x800x8007003001201004120×120HGZK 12081200x800x8006702701441004120×120HGZK 15091500x900x80013006002021504200×200HGZK 15101500x1000x80012505502101504200×200HGZK 15121500x1200x80012505502501504200×200HGZK 16091600x900x80013006002161504200×200HGZK 18121800x1200x80012005003242004200×200HGZK 18151800x1500x80011354353782004200×200HGZK 20102000x1000x8001230530300200 4200×200HGZK 20122000x1200x80011764763602004200×200HGZK 24122400x1200x80011124124322004200×200HGZK 24152400x1500x80010143145402004200×200HGZK 30103000x1000x80010953954802004200×200HGZK 30123000x1200x80010143145762004200×200HGZK 30153000x1500x80016506007203006200×200HGZK 35123500x1200x8001700 6506723006200×200HGZK 35153500x1500x80016836338403006200×200HGZK 40154000x1500x80015424929603006200×200HGZK 42154200x1500x800215075010083008200×200HGZK 48154800x1500x800202862811523008200×200HGZK 50155000x1500x80034881388120030012200×200HGZK 60156000x1500x80032851185144030012200×200

深圳市晶新科技有限公司是一家专注研发生产视觉检测设备（光学筛选机），非标自动化智能组装设备的高新技术企业。公司拥有二十年设备开发经验的研发精英团队。在视觉检测和自动化设备研发上有丰富的实践经验，为客户提供整体解决方案及服务。公司获得研发专利50多项，产品广泛应用在电子、医药、食品、新能源、汽车、印刷、包装、军工、航空、3C手机等众多行业，销售网络遍布全国各地。公司理念：精心铸精品，诚信赢天下！主营产品：视觉检测设备（光学筛选机），提供视觉检测整体解决方案；定制非标自动化智能组装设备，提供整体解决方案。

●本设备在成都光学镀膜机产业链发达基础上，在核心部件、控制系统和结构设计上吸收国际一流产品技术精髓，开发出surpass系列产品。本设备适用于高精密光通讯产品镀制光学膜: 电学膜、金属膜、激光膜、冷光膜、分光膜、增透膜、各种滤光片、玻璃片及塑胶（树脂）件上镀制增透膜、带通膜和截止膜等各种膜系的镀膜，能够根据客户需求定制。●形式：φ650-3500mm，箱式一体机，立式前开门，蒸发室和抽气室为整体焊接式，一体机系统。●真空系统：极限真空8X10-5Pa，主泵为复合分子泵低温泵扩散泵可选。●真空测量：配三路数字复合真空计，均采用安全防爆金属测量规。●工件架系统：客户需求定制，转速3～30rpm变频可调，工件盘为球形和行星工件盘可选。●烘烤系统：不锈钢铠装加热器匹配数字功率控制器和PID控制模块，烘烤温度300℃，温控精度1℃，过冲不超过2℃。●电子束蒸发源：E型电子束蒸发源系统（E型）1-2套，主体有屏蔽罩，配置独立高压控制柜。●旋转蒸发源：电动转位和点动转位，配置无氧铜坩埚和石墨坩埚各一套。●电阻蒸发源：2套电阻蒸发源。（选配）●膜厚测试系统：配瑞士inficon石英膜厚在线测量系统， RS-232 和 USB兼容，匹配水冷膜厚探头。●离子源辅助沉积系统：一套（选配离子源或高压离子轰击系统）。●控制系统：成熟可靠的真空镀膜控制系统，工业级10英寸触摸屏（工控机）和西门子PLC，能够实现抽真空、工转烘烤、自动充气、自动镀膜、自动冷却放气等镀膜生产流程；支持半自动和手动等镀膜操作方式。水、电、气路有故障自动报警和保护系统，采用声光报警。●说明：根据用户要求，公司愿与客户联合研发，共享知识产权，公司致力于工艺与设备完美匹配。

微流控综合光学实验平台（微流控系统）一个完整的微流控系统应该包含4个部分：流体驱动子系统、过程监控子系统、微流控芯片和检测分析子系统。为此我们搭建了一套通用性较强的综合实验平台（一站式服务），满足常见的微滴、细胞培养等实验的同时，也非常易于拓展至其它更具挑战力的微流体实验（如单细胞分析等）。另外，此系统支持定制，我们也坚信定制系统才是最适合您实验室需求的实验平台。功能图解流体驱动子系统：微流体驱动模块通常为压力泵或注射泵，但我们更建议使用流量更加稳定且无脉冲的压力泵，压力泵与试剂无接触，还可以有效避免交叉污染。如果您的实验里需要超过10bar的高压，或者有低于100μL的定量注入需求，我们建议使用注射泵。 过程监控子系统：过程监控子系统为微流体的多种操控服务，比如序列进样、定量注入、循环和恒流，实现工具一般是旋转阀、微阀、流量计和压力计。此模块可以和流体驱动子系统联用，比如流量计的流量反馈，可以调整压力泵的输出压力，以将流量控制在所需区间。微流控芯片：微流控芯片为微流控系统的核心，其余三个模块均是围绕芯片所实现的功能来选配，因此搭建微流控系统的第①步就是确定所需研究的芯片。常见芯片有微滴、培养、混合、EOR、电阻抗等等，我们提供标准微流控芯片的同时，也支持芯片定制。检测分析子系统：检测分析模块旨在获取足量多维信息，并帮助筛选出最有用的信息，除显微镜这种常见设备外，还有微区光谱仪、阻抗测量仪、QCM-D等。值得一提的是，过程监控子系统也能监测到一些有用的信息，有时也可归类到监测分析部分。 应用系统基础流体力学器官培养微纳米颗粒液滴微流控数字PCR免疫荧光反应微颗粒分选表面声波等等规格参数这里提供了部分相关产品的相关参数，如果您有需求，欢迎和我们联系，定制属于您的微流控实验平台。压力泵和流量计参数如下：光谱仪和QCM-D部分参数如下：

CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备 EagleT-I 公司概述Camtek是一个 的开发商和制造商的高端半导体行业检验和计量设备。Camtek的系统检查和测量晶圆半导体器件的整个生产过程,包括前道和封装,和组装的检测。Camtek系统检查晶片是 苛刻的半导体市场,包括先进互连包装、内存、CMOS图像传感器、微机电系统和射频,服务行业 的 IDMs OSATs和铸造厂。性能：Camtek检验和计量系统可以在高通量检测有缺陷的ICs可靠,确保只有known-good-die交付给客户的 终产品。先进的包装技术的增长,已被证明是 有效的解决方案的高端产品,Camtek提供了各种检验和计量技术,可以根据客户的需求快速 地帮助他们满足 严格的要求没有缺陷的产品以及支持需求增长和投放市场的时间。创新：Camtek创新使得它的技术领导人检验和计量在半导体领域的细分市场服务,通过交付解决方案,已成为许多应用的行业标准。 获胜的结合性能和灵活性与易操作和可靠性,为客户提供 佳的资本投资。响应性：本地团队在每一个领域是完全独立的,能够安装系统,添加新功能和提供所需的全方位的服务我们的客户。精益组织结构使快速反应引起行业需求和挑战。 Camtek软件,模块化的体系结构的系统可以解决独特的客户需求的高度定制,同时提供简单和具有成本效益的领域升级包安装设备。 EagleT-i是AOI市场上2D检测速度 快的设备之一，其中囊括了CAMTEK 先进的机构、 新的镜头、 高速的传输信道。检测原理与MVP有点类似，都是通过工业相机进行图像采集，然后用影像处理软件对图像进行分析，对于不同的检测应用，他们的软件中有专门的算法来做判断。所以他们的产品优势在于影像处理的硬件和软件方面。主要应用领域：CMOS传感器阵列，LED良率监测，MEMS特殊结构监测，TSV，mBUMP等。大量产的2D检测适用于部分前道工艺：电镀bump前后检测、电测针印大小的检测、OQC检测、划片后的检测等； 产品优势：基于CAD图层检测； 的图像锐化功能；可以检测RDL后小到2um线宽；兼容检测方片、翘曲片；可以检测小到0.2um的表面缺陷；多重放大倍数，提高检测能力。

中学物理教学用演示器涵盖力学、热学、光学、电学等多个领域，严格遵循中学教学大纲设计，是师范类院校中教法设备的理想之选，同样适用于普通初、高中教学实验。这些演示器以其卓越的性能和易于操作的特点，为学生们开启了探索物理世界的大门。它不仅能够生动直观地展示各种物理现象和原理，还可以帮助学生更好地理解和掌握物理知识。高质量的材料和精湛的工艺确保了演示器的可靠性和耐久性。我们致力于为您提供最优质的教学工具，让您的教学更轻松、更高效。

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 CMOS图像传感器检查Camtek CMOS图像传感器制造商提供了大量环境系统与不妥协的检测能力。我们的先进解决方案强加的独特挑战CIS应用程序,如像素尺寸小型化和复杂的生产过程,是基于我们长期积累的经验在这个市场。功能• Sub-resolution检测™ • 动态范围扩展器和双照明• 黑场和明亮的场• 先进的低对比度缺陷算法• 细晶片和改造晶片处理• 验证:在线和离线技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器 产品 头鹰头鹰年代 先进的2 d表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。 EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个 快的和 精确的2 d检查工具在市场上。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备 MEMSCamtek检验和计量解决方案的微电子机械系统(MEMS)结合多种技术解决MEMS的2 d和3 d挑战的行业。我们独特的灵活平台支持MEMS产业广泛的应用程序。各种处理配置和特殊的发展可以支持各种晶片大小和类型。功能• 整片2 d检查和计量• 表面相关缺陷检查• 各种处理解决方案(薄和泰科晶圆和更多)• 高分辨率的2 d和3 d测量• 多个照明配置各种功能的检查• 灵活的检测环境定制的应用程序技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器• 剪辑 产品

此系列透反射测试仪，专业为常规样品透射、镜面反射、漫反射率的测试而设计。此系列设备分为RT和RTC两种。精密设计系统满足您的产品需求透射反射测试是光学材料一个常见参数的测量，一般会采用积分球来收集光进行测量。但是很重要的一点是测试中放置样品和不放置样品两种不同状态时会改变球体结构对测试结果带来干扰。此款设备配置了双光束测试方式，避免了因为样品放置带来对球体结构带来的误差。双光束方式校准和测试，保证了精度。同时，此类设备配置了入射准直光源专用夹持治具，无需额外设备夹持入射光源，实现一体式设备，方便操作。配置光阱，用于测试漫反射和镜面反射配置样品夹具，用于夹持样品和漫反射板光纤光谱仪可以测试各个波长的反射率此系列透反射测试仪，专业为常规样品透射、镜面反射、漫反射率的测试而设计。此系列设备分为RT和RTC两种。RT：样品放置球壁2π测试。RTC：配置了球心专用的样品支架，可以用来测试不同角度的反射率。涂层选择Spectraflect: 300-1800nm适用Spectralon: 200-2400nm适用InfraGold: 900nm-10um适用优势蓝菲光学作为一家专业的制造商，所有提供的方案均有验证过实际效果；根据不同应用推荐不同的配置专业的溯源NiST的漫反射板；根据客户实际需要配置不同尺寸的积分球球设计自主软件设计配置Labsphere 制造的Spectralon 漫反射板。此漫反射板提供250-2500nm的漫反射率计量报告。此反射率校准标准板具有良好的朗伯特性，为行业内众多反射率测试设备常用的漫反校准板。Labsphere Inc.是世界上知名的积分球制造商。Labsphere 1978年开始生产积分球光学测试系统，其具备三十多年的光学测试经验。为众多客户提供先进的、完善的光学测试需求。Labsphere实验室具备NVLAP报告能力，报告溯源至NIST。

■台面材料采用健康型天然大理石平台代替原有的钢结构平台，其明显优点是平面度好、质量大、稳定性好、耐腐蚀性强■内置精密空气弹簧隔振系统，具备优异的隔振性能，自动调节水平功能■该产品适用于平面度要求高的实验■平面度：00级■固有频率：1.0Hz～1.5Hz■振幅： 1.0μm■重复定位精度：±0.05mm■比重：2970 ~ 3070 kg/m2 ■抗压强度：245?254 Mpa ■弹性模量：1.27 ~ 1.47 Gpa ■线膨胀系数：4.61x10—6/0 C ■吸水率： 0.31%■肖氏硬度：70 Hs以上产品型号规格尺寸(mm)支撑腿数量HGZD-06-06 600×600×8004HGZD-075-075750×750×8004HGZD-09-06 900×600×8004HGZD-10-071000×700×8004HGZD-10-081000×800×8004HGZD-12-081200×800×8004HGZD-15-091500×900×8004HGZD-15-101500×1000×8004HGZD-16-091600×900×8004HGZD-18-121800×1200×8004HGZD-20-102000×1000×8004HGZD-20-122000×1200×8004HGZD-24-122400×1200×8004HGZD-30-103000×1000×8004HGZD-30-123000×1200×8004HGZD-30-153000×1500×8006HGZD-35-123500×1200×8006HGZD-35-153500×1500×8006HGZD-40-154000×1500×8006HGZD-42-154200×1500×8006HGZD-48-154800×1500×8006HGZD-54-155400×1500×8006HGZD-60-156000×1500×8006武汉红星杨科技自主研发的HGZD系列精密大理石光学平台，采用天然大理石制作，适用于对平面度要求较高的实验，更多精密隔震光学实验平台，无磁光学平台，欢迎到武汉红星杨科技展台浏览，定会有适合您的一款产品。

实验室置物架 定制 光学仪器组件 光学平台仪器架光学平台支架-标准品碳钢仪器架和定制铝型材仪器架现有的两种平台仪器架类型：铝型材仪器架和标准品仪器架，仪器架是常用的平台配套产品，非常适合用来放置电源、控制器、示波器等仪器以节省空间，并且不影响平台抗震性，还提供电源等实验条件。标准品仪器架 搭配我们光学平台使用的标准品仪器架有单层搁板和双层搁板两种结构，高度可调，底部带底轮及底脚，可移动可固定，标准品仪器架骨架为方形钢管焊接而成，表面黑色静电喷涂处理，耐腐耐磨，配有漏电保护器及多个电源插座，能为您带来更加得心应手的操作体验。注：规格大小接受订制生产，详细信息请联系我们。平台遮光暗室 在标准品仪器架的基础上安装遮光顶板及遮光布，阻挡光线的进入，实现暗室效果进行实验操作。

一、产品用途： 该食品实验室设备为集成化食品安全快速检测分析设备，广泛应用于食药监局、卫生部门、高教院校、科研院所、农业部门、养殖场、屠宰场、食品肉产品深加工企业、检验检疫部门等单位使用。 二、检测项目： 1、检测项目：食品实验室设备可快速检测各类食品中的甲醛、二氧化硫、亚硝酸盐、吊白块、农药残留的含量，仪器预留其他项目检测程序和端口，根据日后需求可方便的自主增加检测项目。 功能介绍： 1、安卓智能操作系统，采用更加高效和人性化操作，仪器具有网线连接、wifi联网上传、GPRS无线远传功能，快速上传数据。 2、智能化程度高，仪器具有自检功能：具有开机自检和调零功能，具有自动检测重复性功能。 3、检测通道：≥12个检测通道，可以同时测试多个样品，每个样品由程序控制分别独立工作，不会互相干扰。 4、显示方式：≥8英寸液晶触摸屏显示，人性化中文操作界面，读数直观、简单。 5、配备新一代嵌入式热敏打印机，可选择手动打印或者自动打印，检测完成可自动打印检测报告和二维码。 6、光源采用进口超高亮发光二极管，高精度、稳定性强、光源可控、可以关掉不使用的光源，功耗更低。 7、采用USB2.0接口设计，方便数据的存贮和移动，并可随时与计算机直接相连，并且可用计算机控制仪器。实现数据查询、浏览、分析、统计、打印等。 8、仪器带有监管平台。数据可局域网和互联网数据上传，检测结果直接传至食品安全监管平台。进行区域食品安全监管及大数据分析处理，检测区域食品安全长短期动态，达到食品安全问题预估、预警 9、一体化便携式快检设备，满足现场及流动检测使用需求，能够在同一软件下实现所有检测项目的检测，并可通过同一窗口直观显示检测结果。 10、仪器具有品类多种类样品菜单库，可灵活选择检测样品，不同的检测通道可同时检测不同的样品项目。 11、样品处理简单省力，整体操作快速、安全、便捷。 12、仪器具有自身保护功能，可设置用户名及密码，防止非工作人员操作等。 13、高灵敏度，高检测精度，高重复性精度，扫描式高精度光学传感器。 14、内置强大的数据库，可在仪器上直接选择样品名称、检测指标、送检单位等信息，也可在仪器上直接编辑录入样品名称、检测指标、送检单位等信息并保存进样品数据库。 15、仪器具有重新校准、锁定、恢复出厂设置功能。 16、支持U盘存储。结果判定线可修改，对照值标定值可保存，断电不丢失数据。 三、主要参数： 1、主控芯片采用ARMCortex-A7，RK3288/4核处理器，主频1.88Ghz，运转速度更快速，稳定性更强。 2、显示方式：7英寸液晶触摸屏显示，人性化中文操作界面，读数直观、简单。 3、直流12V供电，可连接车载电源，可配6ah大容量充电锂电池，方便户外流动测试。 4、单波长冷光源，每个通道均配置410、520、590、630nm波长光源，标配先进的光路切换装置，专利光路切换功能可实现最多64波长，并且所有检测项目可实现所有通道同时检测。 5、光源亮度自动调节与校准 6、智能恒流稳压，光强自动校准，长时间连续工作光源无温漂现象。。 7、内置新国家限量标准，与所测结果进行现场比对，并持续更新标准。 8、不间断进样，连续检测 9、样本编号自动累加。 10、检测项目可扩充。 11、检测结果可批量打印，批量上传。 12、检测结果为Excel表格，连接电脑即可拷贝。 13、检测结果存储容量20万条 15、标准USB接口，免驱动安装。 16、可配置大容量锂电池，固件可升级 四、技术参数： 1、农残：检出下限：抑制率5%，检测范围：抑制率(0～100)% 2、甲醛：检出下限：1mg/kg，检测范围：(0～100)mg/kg 3、亚硝酸盐：检出下限：1mg/kg，检测范围：(0～100)mg/kg 4、二氧化硫：检出下限：1mg/kg；5mg/kg，检测范围：(0～100)mg/kg；(0～500)mg/kg 5、吊白块：检出下限：5mg/kg，检测范围：(0～500)mg/kg

电生理光学平台HDST系列产品介绍：电生理光学平台专供医学、生物科学等实验室，可量身订做屏蔽罩提供了气流、灰尘、声音的隔离屏蔽罩框架直接安装在光学平台的顶板上铝型材框架，透明或烟色的侧面和顶部面板HG系列光学平台均可实现电生理光学平台功能。 命名规则：HDSTF060608S系列代码：电生理光学平台支架类型：F：标准阻尼支架H：精密阻尼支架S：气浮支架K：空气弹簧支腿台面规格：0606：600mm×600mm×800mm其他规格见选型表屏蔽罩高度：06：600mm08：800mm10：1000mm12：1200mm屏蔽罩类型：S：简易法拉第罩T：标准法拉第罩D：法拉第暗室F：围栏 选型表： 型号尺寸（mm）载荷（kg）支撑腿数量支腿尺寸（mm）屏蔽罩内部高度（mm）HDST-0606600x600x800＜804120×120800 HDST-075075750x750x800＜1004120×120800 HDST-0906900x600x800＜1354120×120800 HDST-10071000x700x800＜1904120×120800HDST-10081000x800x800＜2004200×200800HDST-1208 1200x800x800＜2404200×200800HDST-1509 1500x900x800＜3384200×200800