真空紫外椭偏仪

各位好，请问哪里有椭偏仪可以提供测试？最好是在广州的

椭偏仪结构原理与发展[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=63165]椭偏仪结构原理与发展[/url]

我们实验室有一台德国进口的椭偏仪，型号为：SpecEI-2000-VIS，测量时发现同一个点测量时结果都会有偏差。几次图谱的拟合曲线不一致。有谁知道的告诉小弟一声。非常感谢。

[em06] 这几种光谱型椭偏仪优势差异在哪？？？？？SENTECH椭偏仪，HJY椭偏仪，Sopra S.A.，AQUILA公司

要做毕业设计，有关椭偏仪和椭偏算法的，不知道在哪里可以找到相关的资料，望大家指教指教！~

求教大神，这是老师给的任务 用椭偏仪测薄膜反射率 求教一下 怎么测？

供大家参考！[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=55565]椭偏仪测试聚合物膜厚[/url]

最近工作上涉及到椭偏仪，想知道椭偏仪测量的优点与缺点都有什么？我看了一些资料，说椭偏仪测量存在如下缺点：1、薄膜基片如果是透明的，那么对样品的前处理会很麻烦，很费钱2、如果样品是有机物薄膜，椭偏仪很难测出结果来3、椭偏仪测量得到的数据需要手工处理，很复杂，非专业人员无法处理，暂时没有软件可以直接得薄膜的厚度、折射率、吸收系数值4、测量吸收系数时不能同时测量透射光与反射光，所以得到的吸收系数是有误差的不知道以上观点是不是正确？ 为什么薄膜的基片不能是透明的？透明的基片对薄膜厚度测量有什么影响？为什么很难得到有机物薄膜的厚度？请指教，谢谢!不知道是否还有其他缺点？

在si片上镀一层纳米碳膜，碳膜表面光洁如镜面，采用椭偏仪测量薄膜的厚度，测量时选择基底材料为si，将k设为0（透明薄膜，不知是否准确或透明薄膜如何定义？），根据SEM测量得到的薄膜厚度拟合得到一个n值(2.0921），采用此n值对类似情况下制备的薄膜进行厚度测量，测量得到的结果还行，基本与肉眼看到的薄膜厚度差别相当。不知此方法是否正确？1.是否能采用透明膜的测量方法测量碳膜？2.采用同一n值测量厚度是否合适？希望高手指点，谢谢！

检测薄板上油膜厚度的仪器，我们目前使用的是日本岛津公司生产的AEP-300椭圆仪（非椭偏仪），但已经停止生产。仪器使用多年故障逐渐增多。美国DONART公司有类似仪器，但是单片检测，不适合用于大生产。请问专家，还有没有同类仪器可供选择？

在直读光谱仪的实际应用中，如C、P、S、As等元素的最优光谱线均在真空紫外波段，而空气中的氧气及水蒸气等会对这些谱线产生强烈的吸收，使光谱强度急剧减弱，影响元素测量，所以应当将光室中的空气除去。 目前主流市场上主要有两种方式可以实现真空紫外波段元素的测量，光室抽真空或充惰性气体（如氩气、氦气等）。 抽真空型的直读光谱仪需要用额外的真空泵，存在油蒸汽污染严重、噪音大等环境问题。同时，功耗高、真空稳定速度慢，仪器需长期开机，浪费严重。 光室充惰性气体能实现真空紫外探测能力的同时，还具有稳定时间短，无噪音等优点，且能避免由于真空系统造成的光室变形、仪器漂移和环境污染等问题，目前，市场主流光谱仪多采用CCD传感器作为检测装置，光室体积可做到很小，更有利于惰性气体环境建立，从而得到更好的紫外元素分析效果，且该项技术已经过十多年市场验证，稳定可靠。

最近看到有一种真空紫外检测器，说的挺好，有人用过吗，分享一下使用经验

北京领宇天际科技可以开展空间真空紫外辐照试验, 并提供测试服务。真空-紫外辐照试验波长范围115-200nm, 辐照剂量根据太阳照射ESH时长进行真空紫外试验。试验的紫外辐照强度一般为太阳真空紫外辐照强度的5-10倍，并在试验过程中保持恒定。空间紫外辐照试验一般会持续进行1-3个月，根据试验对象和试验要求的不同试验时间略微有变化。有测试服务需求的航天科技老师，请私信联系~

[b]航空航天空间真空紫外辐照试验及测试服务[/b]北京领宇天际科技可以开展空间真空紫外辐照试验, 并提供测试服务。[color=#191919]空间紫外辐射环境可造成航天器材料的光学性能、电学性能或力学性能退化甚至失效。在地面模拟试验过程中较难真实模拟空间紫外辐射环境，因此，通常采用基于效应等效原理的加速模拟试验方法。对国内外紫外辐射效应试验方法和标准现状进行梳理，进而从紫外曝辐量的计算方法、紫外波长的选择、模拟光源选用、温度选择与控制以及总曝辐量和加速因子的选择等角度对紫外辐射效应地面模拟试验方法进行分析研究，并给出应进一步开展工作的建议。航空航天空间真空紫外辐照试验及测试服务：北京领宇天际科技可以开展空间真空紫外辐照试验, 并提供测试服务。[b]航空航天空间真空紫外辐照试验及测试服务[/b][/color]

[b][url=http://www.bjyashilin.com/product_show-95.html]真空紫外老化试验箱[/url][/b]是一种专为热敏性、易分解和易氧化物质而设计的，可以向内部充入惰性气体，特别是一些成分较为复杂的物品也可以进行快速干燥。　　箱体采用无反作用门把手，,外胆均采用A3钢板，外壳表面进行了喷塑处理。试验箱内胆为进口SUS304镜面不锈钢板，门与箱体间使用双层耐高温密封条，可以确保测试区的密封，箱体的顶部安装2支1800W的紫外灯管，自然冷却型(更换方便快捷)。　　设备保护系统：整体设备超温、整体设备欠相/逆相、制冷系统过载、整体设备定时 以上是真空紫外老化试验箱箱体结构介绍，获取此类试验箱详情欢迎您持续关注本站。本文出自北京雅士林试验设备有限公司，获取详情您还可致电全国免费服务热线：4006-400-998

http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif真空紫外光谱技术及其应用讲座时间：2014年09月25日 10:00 主讲人：毛峥乐现任光学光谱技术主管，负责OEM、光栅、光谱系统、真空紫外技术咨询和系统应用支持。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif【简介】真空紫外光谱技术专指为1-200nm光学光谱研究设计、开发的技术和光学系统。相对于200nm以上，真空紫外光谱系统对光学元件、光路设计，尤其是光谱仪核心元件——光栅，提出了极其苛刻的要求。真空紫外光谱技术作为一种经典技术，早已为同步辐射装置广泛使用。同时作为一种新兴技术，它也越来越多地应用于独立实验室，如1-200nm的荧光、光致发光、材料吸收谱反射谱、高次谐波、等离子体发射、极紫外激光表征、探测器表征等前沿科学应用领域之中。真空紫外光谱技术作为一种经典技术，早已为同步辐射装置广泛使用。同时作为一种新兴技术，它也越来越多地应用于独立实验室，如1-200nm的荧光、光致发光、材料吸收谱反射谱、高次谐波、等离子体发射、极紫外激光表征、探测器表征等前沿科学应用领域之中。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间：2014年09月25日 9:304、报名参会：http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg

真空紫外和光路吹扫,你如何理解？

我们单位凡是做紫外光室内的工作，都需要联系厂家工程师携带一套抽真空的装置，包含机械泵、分子泵、真空规、显示屏等，这套装置据说10几万，大家讨论讨论，看看有没有性价比更高的方案。

因为远紫外光可被空气中的成分所吸收，所以原子光谱在采用这一光学区域的光信号时，需要将光路中的空气去掉。其中比较常用的方式就是用惰性气体吹扫。像我们ICP都习惯性用氩气吹扫，还有一种方式就是抽真空，所以这部分远紫外光区习惯上也被称作真空紫外。有真空紫外型号的ICP吗？

科研故事：常被轻视的方法研究2012-04-22 22:14 来源：科学网 作者：徐 耀 科研浮躁的一个重要表现是，只重视实验结果（或者数据），而对获得这些结果（或者数据）的方法重视不够，所以经常对别人发表的好结果望洋兴叹，而不去下辛苦掌握些方法论。举个例子，给定一层厚度在100-200纳米的有支撑透明光学薄膜，如何准确测量其厚度和光学参数（比如最根本的折射率和消光系数）？猛一看，这似乎根本不是个问题，甚至相关的商用仪器都有很多，但深入分析一下，事情就没有那么简单。原则上，厚度和折射率、消光系数等参数均可通过椭圆偏振仪（椭偏仪）一次性获得，如果是光谱扫描型椭偏仪，则薄膜的色散曲线都可以获得。但是椭偏仪测量基于物理模型，这些模型因物质而不同，对于实际工作中千变万化的薄膜材料和结构，要么物质特殊，要么结构特殊，只要不符合仪器的模型库，测量就无法进行，当然也可以自己建立物理模型，但这个就不是购买仪器的初衷了。所以，不能指望商用仪器解决一切，还是要自己掌握其中的方法论。还是这个光学薄膜，我们建立了自己的方法论。首先，通过X射线反射谱准确测量薄膜的绝对物理厚度，这是不依赖于任何物理模型的，是由薄膜上下表面反射光干涉引起的，只要量出反射率曲线中相邻震荡峰的间隔就可以获得薄膜厚度。然后，以这个厚度为初始参数，对薄膜的透射谱进行拟合，以获得薄膜的光学参数。基于分光法的透射谱很准确，而透明基底会给椭偏仪测量带来额外误差，因此我认为对透射谱进行拟合要比依靠椭偏仪靠谱。利用透射谱拟合也要涉及几种色散模型，但这些模型是通用模型，与薄膜结构无关，经过对比研究后应该可以确定最适合的模型。在此基础上，我们可以对不同类型的薄膜区别对待，建立各自的测量方法。我们以前认为只要有了椭偏仪，薄膜测量就没问题了，没想到有了仪器，问题更多更让人烦恼，因为得到的数据常常超出正常。我们做的这些工作，不具备太多创新性，按理说不符合现在对科研的期待，但是我们掌握了方法，我认为这样的工作很有意义，一旦方法建立，就像给火车铺设了轨道。因此，仪器重要，方法论是发挥仪器作用的保障。回过头来，我们为什么经常轻视甚至忽视方法论的研究呢？我认为原因有三。第一，科研考核注重结果的显示度，科研管理偏于目标管理，而非过程管理，科研人员只盯着最终数据。第二，科研人员眼界狭窄，方法论研究往往要深入理论，而理论是很多实验研究人员不愿意碰的。第三，谁都不是哪吒三头六臂，但科研合作不足使方法论研究难以开展。我国目前花大量外汇购买的高精尖仪器很多了，但用得足、用得好的并不多，以至于功能闲置，造成极大浪费，其中对方法论的掌握不足大概是主要原因。因此，科研人员应该多关注方法论研究。

扫描电镜可以测反射率？还是椭偏仪可以？

请教一下有谁知道紫外分光光度计测试偏光度的方法或者标准，文献之类的吗？在此谢谢补充：刚又知道一点，就是有些软件可以专门测试偏光角，但是我想知道偏光角（度）的计算公式，自己编方程也可以啊，但是查不到啊？各位大虾知道的赶紧帮忙解答一下啊？

最近在用紫外滤光片检测仪器的透过率 但是发现 比色皿的架子有偏差 透射率就偏高。用重铬酸钾检测没有这个问题有谁遇到过同样的问题？

我现在需要测量ITO薄膜的厚度，透明的薄膜，大概200纳米左右。用椭偏仪行不行？是不是还需要薄膜的折射率？希望各位大侠指导一下[em61] [em09]

紫外检测器走梯度洗脱程序合适吗？我知道紫外检测器可以用梯度洗脱，所以想问下做的时候用的多不多。我个人认为紫外使用梯度程序得到的结果相比ELSD很糟糕，试了很多次，基线太差了，有些低含量组分都被不平的基线遮盖了。

如题，就是一层薄膜，如果用椭偏仪的话是不是一定要知道基底的折射率阿，可是这个也是不知道的，请问还有其他办法吗？

有人做过轻质液状石蜡的稠环芳烃这个项目吗？我们做过很多次都是在263nm处会突然吸收值升得很高，很多次试验做得都不理想，试剂也换过，容器也换过，测定的紫外测定仪也更换过，可一直没找到具体原因。厂家说是因为我们用凡士林或者真空胶涂分液漏斗造成的结果，可是二甲基亚砜跟正己烷并不会溶解凡士林或真空胶啊？这个紫外吸收值是什么物质的呢？稠环芳烃有什么别的影响因素呢？

【序号】：1【作者】：贾宏博【题名】：实验三 用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度【期刊】：【年、卷、期、起止页码】：【全文链接】：http://wenku.baidu.com/link?url=9AzjmckOe80G4AKO_wbku72TTb4gDjPAZ2aSDHxkAv3LBAes6NzQiocjgyYQIj-xHr_U6OEfxYPtwuPDL7wYESHR8go4Xqd08lOdk13G48m

请问：紫外吸收中样品和标准品对比时，它的吸收偏差的范围是多少？谢谢