德国 Dioptic GmbH公司的ARGOS 光纤端面缺陷测试系统, ARGOS光纤测试系统能够执行 合格/不合格 评估并提供可供日后分析的完整测试报告。该测量方法符合 ISO 10110 7 和 ISO 14997 标准,在暗场结构中使用了杂散光分析。测量原理是使用超高分辨率线扫描相机聚焦到光纤端面成像,直接测量光纤研墨后的缺陷(划痕,坑,崩边等)并得到缺陷的量化数据,测量速度快每次仅几秒钟时间,适用于研发和生产应用。 Dioptic GmbH公司成立于1999年,现有主要产品/服务有:光学设计/衍射光学元件/红外光学元件/表面缺陷测试系统ARGOS(光学元件缺陷检测、光纤端面缺陷检测)。 可以在官网 查看ARGOS光纤端面缺陷测试系统的使用视频: ARGOS光纤测试系统能够执行 合格/不合格 评估并提供可供日后分析的完整测试报告。该测量方法符合 ISO 10110 7 和 ISO 14997 标准,并在暗场结构中使用杂散光分析精度1 μmstandard deviation for 30 reinsertionsof the same sample可视度1 μmsmallest visible defects overrated to size 2.5 μmdue to optical resolution重复精度 99% for 5/ 1x0.16 96% for 5/ 1x0.04assignment to same grade numbersmallest5/ 1x0.004holesdiscriminable5/ C1x0.01coating holesgrade number5/ L1x0.0045/ E0.04划痕崩边750009Specification fiber cable mountOptoskand QBH, others on requestsmallest defect grade5/1x0.004maximum sample size22 mm diameter or 22 x 50 mmtesting/handling time1 s / 20 simage sizeup to 146 mega pixelimage resolution0.0028 mm / pixel