携带型导电度计

LBIC 激光光束诱导电流成像系统是卓立汉光公司开发的用于测量光电材料的光电响应信号、表征材料光电性质的光电系统。 该系统是基于激光光束诱导电流的测试原理，将光电材料对于光信号响应的不均匀性以可量化且可视化的方式显示出来。通过该系统，可以研究例如太阳能电池光生电流的不均匀性，探索光电器件量子效率与器件电阻的分布特性，研究器件吸收与电荷生成的微区特性，以及光电材料界面、半导体结区的品质分布等。整个系统包括光源部分、显微部分、位移台部分、电控电测部分和软件部分。 激光光束诱导电流成像系统LBIC系统特点： 高精度空间分辨率 灵活选择多种激发光源 高倍聚焦激发光斑 精密自动化电动位移台 光源、显微、监视光路一体化设计 激光光束诱导电流成像系统LBIC技术规格：系统名称LBIC激光光束诱导电流成像系统激发光源多种高稳定性连续激光器激光功率0-30mW连续可调聚焦光斑大小小于50um 光源功率稳定性1% 系统测量重复性2% 显微系统X10、X20倍显微物镜监视部分130W像素工业相机可测量样品面积100mm X 100mm 位移空间分辨率0.625um 工作温度范围10-35摄氏度标准探测器中国计量院标定的Si或InGaAs标准探测器激光光束诱导电流成像系统LBIC测试示例： 硅探测器对于405nm诱导激光量子效率空间分布图， 图示空间分辨率为50um。 某硅探测器的405nm激光光束诱导电流空间分布图， 图示空间分辨率为50um。

AQ5001Pro携带型/区域式室内空气品质监测仪所有功能与AQ5000pro相同AQ5001 Pro室内空气品质监测仪的详细信息AQ5001 Pro· 测量方式：NDIR(非散射式红外线)· CO2测量范围：0~5000ppm或0~20000ppm使用者可选择· 分辨率：1ppm（10000ppm以上；10ppm）· 可测CO2、温度、相对湿度、露点既可另加装一个选择性毒气体：CO/NO/NO2/NH3/H2S/HCN/O2/SO2/CI2可连接并记录其他厂牌传感器/分析仪：· 挥发性有机碳VOC· 风速计· 粉尘计· 其他具有线性输出仪器· 可计算室内/外空气交换速率· 可加装风速传感器· 具内藏式采气泵，可加速反应时间· 显示幕具有背景光源照明功能· 具资料储存功能，并配备计算机分析软件，可将所有测定在资料传送计算机做资料分析及档案管理· 坚固铝合金外壳，重量轻，方便携带· 可使用碱性电池、充电电池或AC电源· 另加装防水防尘保护外箱· 一氧化碳传感器为标准配置美国Quest公司为高知名度的世界级制造厂。常年为国内企业提供精密仪器。其主要产品分为：1． 实时频谱及噪声分析仪2． 个体噪声剂量计3． 声级计4． 脉冲积分声级计5． 热指数监测仪WBGT/个体热应力监测仪6． 个体手臂，全身振动监测仪7． 机械振动监测仪8． 室内空气品质监测仪9． 听力测试分析仪/生物声学模拟器10． 有毒气体监测仪/可燃性气体监测仪11． 美国QUEST的实时频谱及噪声分析仪包括：SoundPro SE/DL系列实时频谱及噪声分析仪，SoundPro SE/DL-2实时频谱及噪声分析仪，SoundPro SE/DL-2-1/1实时频谱及噪声分析仪，SoundPro SE/DL-2-1/3实时频谱及噪声分析仪，SoundPro SE/DL-1实时频谱及噪声分析仪，SoundPro SE/DL-1-1/1实时频谱及噪声分析仪，SoundPro SE/DL-1-1/3实时频谱及噪声分析仪。美国QUEST的个体噪声剂量计包括：Noise Pro个体噪声剂量计，Noise Pro DL个体噪声剂量计，Noise Pro DLX个体噪声剂量计，Noise Pro DLX-1个体噪声剂量计，Edge3个体噪声剂量计，EG3个体噪声剂量计，EG-3个体噪声剂量计，Edge-3个体噪声剂量计，Edge4个体噪声剂量计，EG4个体噪声剂量计，EG-4个体噪声剂量计，Edge-4个体噪声剂量计，Edge5个体噪声剂量计，EG5个体噪声剂量计，EG-5个体噪声剂量计，Edge个体噪声剂量计。美国QUEST的声级计和脉冲积分声级计包括：QUEST 210声级计，QUEST 1100声级计，QUEST 2100声级计，QUEST 1200脉冲积分声级计，QUEST 2200脉冲积分声级计。美国QUEST热指数监测仪WBGT/个体热应力监测仪包括：QT-32热指数监测仪（QUESTemp 32），QT-34热指数监测仪(QUESTemp 34)，QT-36热指数监测仪(QUESTemp 36)。美国QUEST机械振动监测仪包括：QUEST个体手臂及全身振动监测仪HAVPro，美国QUEST个体实时振动频率分析仪VI-400Pro。

技术参数：◆测量范围： PH : 0.00~14.00 ， ORP : -1999~1999mv ，温度0~99℃ ◆精 确 度： PH : 0.01PH ± 1 digit ORP : 1mv ± 1digital Temp: ± 0.3℃ ◆2点校正 ◆自动温度补偿 ◆LCD 显示面板 ◆电极斜率显示 ◆电源：DC 9V ◆随机附塑胶PH电极一支，温度电极一支，标准液3瓶

一、用途 本检双桥电阻箱（以下简称电阻箱），是专为各基层检定单位和生产单位检定携带型双桥而设计制造。 使用本电阻箱，可避免过去在检定中多次换接标准电阻和过度电阻的麻烦，又可省去计算量程系数的麻烦，从而大大简化了操作和计算，提高检定效率，同时确保了检定结果的准确性。 该电阻箱精度是0.02级，所以检定0.1级及0.1级以下的电桥，不必引入误差更正值，被检定的电桥得出全量程误差，即可得出合格与否的结论，迅速完成检定工作。 本电阻箱还可作为0.001Ω～10Ω的标准电阻和0.01Ω～0.11Ω非十进过度电阻使用。 本电阻箱还附设了检流计，该检流计采用集成电路放大器，具有可调节灵敏度，不需外配临界电阻，过载能力强、抗冲击，阻尼时间短，读数方便、准确、稳定，是直流电桥、电位差计的理想指零仪。二、主要技术指标1、电阻箱部分 1.1、阻值范围：“检比例臂”盘：0.001Ω、0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω五档 “检读数盘”：0.01×（1～11）Ω，既从0.01Ω～0.11Ω；1.2、准确度等级：1.3、参考温度：20±1；1.4、标称使用温度：20±10；1.5、使用环境相对湿度：≤80％。；1.6、导线与外壳之间的绝缘电阻≥500MΩ；1.7、导电线路与外壳间的绝缘强度能承受频率50HZ正弦波交流电压500V，历时1分钟不击穿；1.8、外形尺寸：280mm×200mm×130mm；1.9、重量：＜2kg。2、检流计部分：2.1、高分辨率：2.5μV/格2.2、阻尼时间：＜4秒2.3、电气调零：＞±20格2.4、温度系数：≤0.5 /格2.5、零电压漂移：≤1.5μV/4小时

一、概述在电力系统中，携带型短路接地线及个人保护接地线对防止用电设备、线路突然来电和消除感应电压、放尽剩余电荷起到至关重要的作用。为防止不合格接地线进入电力系统，我公司根据《携带型短路接地线技术标准》和国家电力公司发布、实施的《电力安全工器具预防性实验规程》的规定，研制了“YCJ9950接地线成组电阻测试仪”，为电力系统完成必要的产品预防性试验提供服务。二、功能特点1、整机由高速单片机控制，自动化程度高，操作简便。 2、仪器采用全新电源技术，输出电流稳定，输出电压高，测量速度快，量程范围宽，适合各种携带型短路接地线及个人保护接地线的试验使用。3、仪器自带时钟，万年历，可保存20组测试数据，方便客户随时查询。4、保护功能完善，内部电源过热后自动保护，有效防止损坏电源，同时带有电压线反接提示功能，防止测试线接反时造成测试数据的不准确。5、仪器采用128X64点阵液晶屏，全部操作中文显示，方便客户的使用。6、仪器自带热敏打印机，可将测试数据实时打印。7、智能化功率管理技术，仪器总是工作在最小功率状态，有效减轻仪器内部发热，节约能源。三、技术指标1、输出电流： 30A、40A、50A2、输出电压：≥DC10V 3、分辨率：最小0.1μΩ4、量程：300μΩ-300mΩ （30A档） 250μΩ-250mΩ （40A档） 100μΩ-200mΩ （50A档） 5、精确度：±（0.5%+3个字）6、工作温度：-20～40℃7、工作湿度：80%RH，不结露8、工作电源：AC220V±10%，50Hz±1Hz9、外形尺寸：393mm*232mm*302mm10、重量：8.2kg

DQJ-1直流单电桥检定装置是依据JJG982-2003直流电阻箱检定规程和JJG125-2004直流电桥检定规程生产的，用于整体检定携带型单电桥。共有十个十进电阻盘，测量上限为11 MΩ，小步进电压为1mΩ，能覆盖携带型单桥的所有量限，并具有对检定电桥的小分辨力的要求。本装置根据电桥不同量程时有不同的准确度，故(十进电阻盘)具有不同的准确度。2、主要技术指标2.1 测量盘的准确度，功率或电流十进电阻盘上海标卓科学仪器有限公司是仪器仪表行业的新锐企业，检测仪器设备的生产、销售、维修、计量管理于一体的综合型公司。公司生产整套完整的精密测量仪器及相关解决方案，并代理、经销国内外几百家的检测仪器和机械设备。主要涉及：机械设备检测仪器、长度类、力学类、电学类、试验类、光学类、精密量仪类、无损测试、理化分析、教学仪器、专用量仪及环境试验设备仪器等等系列，销售产品达成千上万多种，为企业质量管理及企业认证提供完善硬件设备的服务。

仪器简介：本装置是测定高分子材料的粘弹性的装置，可分为台式和便携型两种类型。它与过去的测定器不同，能对高分子材料的弹性和粘性可进行作为各别的单独参数来测定。并且有小型轻量而可在电脑上操作、进行数据管理的台式型E-200DT和轻便而发送数据到PDA的携带型E-100HB两种类型。台式型通过简单地交换传感器可测定广泛的范围。技术参数：本装置是测定高分子材料的粘弹性的装置，可分为台式和便携型两种类型。主要特点：特点：1）测定范围广泛：2)携带方便：3）简单适用。

■ 特色说明 第四代最新型VANTA手持式XRF可进行更快速更精准的元素分析。 &check Vanta XRF(X-射线荧光分析仪)可在不破坏样品的情况下，分析元素范围镁(Mg)-铀(U)。&check 其技术可应用于金属合金牌号分析(PMI)、八大贵金属分析。&check Vanta为手持式(携带型)设备，没有样品大小限制，液体、粉体、固体也皆可分析。&check 适用于原物料、产品端的实时质量管理检测。 ■ 创新特点&check Vanta C系列拥有全球最小分析范围(2mm)，焊道、焊条及棒材类皆可精准分析。&check Vanta C系列标配风扇装置，长时间操作不怕热当外，也能提升整体产品使用寿命。&check Vanta C手持式XRF具备1.2m军规坠落测试，提供操作者现地使用的安全性。&check Vanta C系列具备IP65认证标准，完全防尘及防止水冲。&check Vanta C系列无需计算机即可藉由USB、蓝芽、Wi-Fi出示PDF及Excel报告。 &check Vanta C系列拥有Olympus CCD显影技术，可清晰观看待测物分析位置。■ 产品应用▶ 有害物质RoHS及卤素(Cl)分析(1)有害物质分析(RoHS)：铅(Pb)、镉(Cd)、汞(Hg)、溴(Br)、铬(Cr)重金属分析。(2)无卤素分析：总溴(Br)、总氯(Cl)分析。(3)八大重金属分析：铅(Pb)、镉(Cd)、汞(Hg)、溴(Br)、铬(Cr)、砷(As)、硒(Se)、钡(Ba)▶ 合金分析-铝镁合金, 镍基金属,不锈钢, 铜合金….各种金属合金成分及型号PMI分析(1)金属材料质量控管：合金中主成份的快速分析(Fe、Ni、Cr、Cu…….)(2)合金牌号鉴定：有效分辨材质相近合金种类，如：304/316/6061/6063；(3)内建达600笔国际合金牌号：包含2、3、4、5、6、7系列合金及特殊合金钢牌号。▶ 黄金及稀有金属分析(1)八大贵金属分析：金(Au)、银(Ag)、钯(Pd)、铂(Pt)、铑(Rh)、钌(Ru)、锇(Os)、铱(Ir)金属回收。(2)K金含量分析(3)稀有金属分析(铟、钨、稀土、锗、锑、镉、铱、钽和钛等)▶ 镀层厚度分析(1)分析电子部品电镀层的厚度(如产品端镀镍镀铬)(2)各类五金电镀件的镀层厚度管控分析(如管材镀锌、镀锡)(3)各镀层的成分比例分析(如电路板铜镀镍镀金)▶ 触媒分析(1)回收汽车催化剂中铂(Pt)、钯(Pd)、铑(Rh)的成份分析

应用范围：■ 饮用水■ 冷却/锅炉水■ 废水■ 泳池水■ 地表水 产品特征：最小/最大 值记忆，可存储最高和最低检测值自动保持暂停测量，保持显示当前状态自动关机一定时间内无操作动作，仪器会自动关闭电源，用户可设定自动关机等待时间（0到120分钟，或关闭该功能）低电量显示“BAT”自动温度补偿：电导率受温度影响非常大， 每个电导率值只在相应温度下有效。 该设备支持温度补盐度测量盐度是指溶解于水中的所有盐分之和。计量单位是g / kg。TDS检测 （总溶解固体）TDS是指液体中溶解介质的质量浓度，单位mg/L。产品优势：坚固，防水 (IP 67) 专为野外使用而设计电脑接口 (USB / 串口或模拟)数据记录和告警功能（最小值/最大值）良好实验室规范 (GLP-特性)清晰、简洁的结果显示： 易读背光LCD 显示器自动温度补偿最新的防污4电极传导单元可提供最高精确度 技术参数：量程电导率最小量程0.000 ... 5.000 μS / cm *0.0 ... 500.0 μS / cm **最大量程0 ... 5000 μS / cm *0 ... 1000 mS / cm **电阻率0.005 ... 500.0 kΩ / cm(取决于单元常数)TDS0 ... 5000 mg/l (取决于单元常数)盐度0.0 ... 70.0 (g 盐分 / kg 水 等于PSU = 实用盐度单位)温度- 5.0 ... + 150.0 °C, Pt1000 或 NTC (10kΩ)电池常数4.000 ... 15.000 / cm-10.4000 ... 1.5000 / cm-10.04000 ... 0.15000 / cm-10.004000 ... 0.015000 / cm-1精度电导率精确度读数± 0.5 %± 0.1 % FS (取决于电极)温度精确度± 0.2 °C (- 5.0 ... + 100.0 °C)电导率/温度接口1个7柱杆卡式连接器用于连接不同的测量单元支持的温度传感器Pt1000 or NTC (10k)显示屏2个4.5位数7段显示屏(15 mm和 12 mm)防护等级IP67 (外壳和接口)尺寸160 x 86 x 37 mm (W x H x D)包括保护套重量250 g 包括电源和保护套外壳抗冲击 ABS 外壳 ，含可收起式支架电源2节 AAA电池(随设备提供)功耗： 6.25 mA电池寿命160 小时取决于所用探头电池常数： * 电池常数 0.01 / cm ** 电池常数 0.1 … 1.2 / cm 标准配置订货编号：724700 —— SD 320 Con (SET 1)主机，电池， 电导探头 LC 12 (测量范围 0 – 200 mS), 操作手册，保修卡，携带型 订货编号：724720 —— SD 320 Con (SET 2) 主机，电池， 电导探头 LC 16 (测量范围 0 – 1000 mS), 操作手册，保修卡，携带型

DA-130N便携式液体密度计Portable Density MeterDA-130N便携式液体密度计 适用于:■ 密度比重的测量: 可替代液体玻璃浮计法(如: 密度计/比重计、石油计、酒精计、糖量计、玻璃石油密度计等)，密度瓶/比重瓶法和天平法。直接数字显示密度(单位: g/cm3, lb/gal(US), lb/gal(IP))、相对密度(t/t)、温度补偿后密度、温度补偿后相对密度等。■ 石油产品的测试: 内建美国石油协会(API)换算表，直接显示15°C或60°F的石油密度或API度数，可作为原油、燃油和润滑剂的质量管理(符合 ASTM D7777 和 IP 559 规范要求)。动植物油脂的密度或比重测定。香料香精的密度或相对密度测量。■ 食品饮料的测定: 啤酒、白兰地、威士忌、俄得克、葡萄酒、果酒、白酒，酒精度的测定。酒精含量(Alcohol)可直接显示: 20°C或15°C的体积百分数或质量百分数(V/V%、m/m%)、美制酒精强度标准(US proof)、英制酒精强度标准(UK proof)。饮料、果汁白利糖度/含糖量(Brix%)，波美比重计度数(Baume)或柏拉图度数(Plato)。■ 液体药品相对密度的测定。液态水处理剂产品密度的测定。电镀液、清洗液、酸洗液或助焊剂的浓度控制分析。蓄电池电解液硫酸浓度的重量百分比检测。输入密度或比重与浓度的换算式，直接显示出浓度值(如: 酸碱溶液浓度、溶剂浓度、重波美度、轻波美度或牛奶度等)。DA-130N便携式液体密度计 主要特点:1. 数字式密度计，具备数字显示液晶屏和多样化的显示内容。2. 测量的范围广，操作非常简便，测定精度高，测试速度快。3. 内置纯水密度表校正容易，另可执行空气或标准物质校正。4. 可输入十组温度补偿系数，自动执行密度或相对密度补偿。5. 试样需求量少，只需要单手便可控制采样体积和采样速度。6. 便携式密度计内置吸液泵，可抽取2000mPa.s以内之液体。7. 可在现场或户外快速测量，不需为样品送到实验室而担忧。8. 存储1,100组测量结果，数据输可出至选配打印机或计算机。9. 携带型密度计可通过红外线输出结果，标配数据收集软件。DA-130N便携式液体密度计 技术参数:测定原理: U型管振荡方式。测试物质: 适用于各种液体试样。密度测量范围: 0.0000～2.0000 g/cm3。密度准确度: 0.001 g/cm3。密度分辨率: 0.0001 g/cm3。温度测量范围: 0～40°C。温度分辨率: 0.1°C。环境温度: 0～50°C。显示内容: 密度(比重)、温度补偿后密度(比重)、相对密度、温度补偿后相对密度、糖度(Brix%)、酒精浓度(wt%/vol%)、硫酸浓度(H2SO4)、美国石油学会度数(API°)、波美比重计度数(Baume)、柏拉图度数(Plato)、酒类强度(Proof)、温度(°C/°F)、试样编号、自动安定度判断、数据保存、输出、清除、日期/时间、电池消耗程度...等。温度补偿: 可输入10组温度补偿系数，自动换算指定温度的密度值。如: 乙醇、间二甲苯、对二甲苯、甘油、氯仿、四氯化碳、甲苯、苯、甲醇、丙酮、溴苯、环己烷、异丙醇、壬烷...等。自动校正: 具各温度的纯水密度值执行自动校正，或使用密度标准液校正。采样方式: 手动泵注射筒方式(粘度小于2000mPa.s)，或使用注射器注入。数据存储: 可记忆多达1100个试样测量结果。外部输出: 内置红外线输出，可选购RS-232C连接线传输至打印机或计算机。接液材料: 进样管(聚四氟乙烯)，测量池(硼硅玻璃)，内藏式注射器(聚丙烯)。重量: 约360克。电源: DC 3V(碱性电池1.5V×2)。放置架: DA-130Nc标配放置架。京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557

日本理研 GW-2C一氧化碳浓度检测仪特点：- 手表式携带型,超小型设计　　- LCD液晶数字显示　　- 具有声光和振动报警功能　　- 超长使用时间,有时间显示功能　　- 峰值保持功能　　- 本质安全防爆结构技术参数：检测原理电化学原理检测气体CO检测范围0-500ppm采样方式扩散式报警方式报警灯闪烁, 内置蜂鸣器鸣叫, 振动器振动报警类型有2级气体报警,STEL,TWA,过量程报警,故障报警,低电压报警使用环境-10℃~+40℃ 85%RH,无结露使用时间1节纽扣型锂电池, 大于3000小时安全性能本质安全防爆构造尺寸.重量64(W)x43(H)x23(D)mm, 约60g青岛路博环保创建于2003年，占地面积4万平方米，是一家集环保科研、设计、生产、维护、销售和系统运营为一体的综合型高新技术企业。路博环保拥有烟尘治理、废气回收、有机废气吸附脱附等工业废气治理方面几十种专利技术和产品，经过多年工况考核，系统运行平稳，处理效果良好，得到用户广泛好评。多样性的产品体系、强大的技术支撑、完善的工程队伍配置和优质的售后服务，已经帮助众多企业摆脱了环境污染的诟病，同时将废弃物有效地回收利用，不仅让客户节约了能源，同时还帮助客户节省了投资与运行成本。

通过电子眼准确判别大米的外观品质，彻底分析每一粒米。■将大米放入后只需按开始按钮。米粒自动被送到传感器部，简便、快捷。■通过3个彩色CCD传感器，把每个传感器的画像分割成2000份从大米的正、反、侧面观察，对米粒进行准确精密的判别。■携带型　RGQI10B ◇轻量，简单，可显示画面，便于确认，内置小型打印机。可连续测量。■桌上型　RGQI20A ◇能将样品分成整粒、未熟、被害粒、死米、着色、爆腰、其他7类。型 号RGQI 10BRGQI 20A摄像方式供料方法：圆盘自动进料方式传 感 器：彩色CCD传感器×3(表面，里面，侧面)光 源：LED(红，绿，蓝)测定方式利用高速画像处理抽取特征量+最新评定算法测定对象糙米，精白米评定项目糙米：大分类：3类(标准模式），中分类：6类，小分类：21类精白米：大分类：3类，中分类：6类，小分类：13类测量时间1000粒/约40秒1000粒/约50秒显示装置带有画像显示的触摸屏式彩色液晶显示器印刷装置内藏感热式打印机定附加机能形状测量:长,宽,厚度,白度测定同左+可选别分成7类数据记忆件数测定结果 10，000件画像数据 用选配的电脑记忆保存，本体可记忆300件(装画像保存用记忆卡时)电源AC100~240±10% 50/60Hz(带AC转接器)尺寸宽210×长260×高145mm重量2.5kg13kg选配精米用圆盘、存储卡、数据库软件、支援软件、酿造用糙米判别打包同左+千粒重单元、联机对应部件

■ 特色说明 第四代最新型VANTA手持式XRF可进行更快速更精准的元素分析。 - Vanta XRF(X-射线荧光分析仪)可在不破坏样品的情况下，分析元素范围镁(Mg)-铀(U)。- 其技术可应用于金属合金牌号分析(PMI)、八大贵金属分析。- Vanta为手持式(携带型)设备，没有样品大小限制，液体、粉体、固体也皆可分析。- 适用于原物料、产品端的实时质量管理检测。 ■ 创新特点- Vanta Element系列搭载500笔合金牌号，包含AISI、JIS等各国牌号显示。- Vanta Element系列标配高厚度窗口薄膜，可防止轻易被金属棱角戳破。- Vanta Element系列手持式XRF具备1.2 M军规坠落测试，提供操作者现地使用的安全性。- Vanta Element系列具备IP54认证标准，可防尘及防止水溅。- Vanta Element系列无需计算机即可藉由USB、蓝芽、Wi-Fi出示PDF及Excel报告。■ 产品应用▶ 合金分析-非铁金属, 镍基金属,不锈钢, 铜合金….各种金属合金成分及型号PMI分析(1)金属材料质量控管：合金中主成份的快速分析(Fe、Ni、Cr、Cu…….)(2)合金牌号鉴定：有效分辨材质相近合金种类，如：304/316/6061/6063；(3)内建达500笔国际合金牌号：包含2、3、4、5系列合金及特殊合金钢牌号。▶ 黄金及稀有金属分析(1)八大贵金属分析：金(Au)、银(Ag)、钯(Pd)、铂(Pt)、铑(Rh)、钌(Ru)、锇(Os)、铱(Ir)金属回收。(2)K金含量分析(3)稀有金属分析(铟、钨、稀土、锗、锑、镉、铱、钽和钛等)▶ 触媒分析(1)回收汽车催化剂中铂(Pt)、钯(Pd)、铑(Rh)的成份分析

■ 特色说明 第四代最新型VANTA手持式XRF可进行更快速更精准的元素分析。 - Vanta XRF(X-射线荧光分析仪)可在不破坏样品的情况下，分析元素范围镁(Mg)-铀(U)。- 其技术可应用于金属合金牌号分析(PMI)、八大贵金属分析。- Vanta为手持式(携带型)设备，没有样品大小限制，液体、粉体、固体也皆可分析。- 适用于原物料、产品端的实时质量管理检测。 ■ 创新特点- Vanta Element SDD系列搭载500笔合金牌号，包含AISI、JIS等各国牌号显示。- Vanta Element SDD系列标配高厚度窗口薄膜，可防止轻易被金属棱角戳破。- Vanta Element SDD系列手持式XRF具备1.2 M军规坠落测试，提供操作者现地使用的安全性。- Vanta Element SDD系列具备IP54认证标准，可防尘及防止水溅。- Vanta Element SDD系列无需计算机即可藉由USB、蓝芽、Wi-Fi出示PDF及Excel报告。■ 产品应用▶ 有害物质RoHS及卤素(Cl)分析(1)有害物质分析(RoHS)：铅(Pb)、镉(Cd)、汞(Hg)、溴(Br)、铬(Cr)重金属分析。(2)无卤素分析：总溴(Br)、总氯(Cl)分析。(3)八大重金属分析：铅(Pb)、镉(Cd)、汞(Hg)、溴(Br)、铬(Cr)、砷(As)、硒(Se)、钡(Ba)▶ 合金分析-非铁金属, 镍基金属,不锈钢, 铜合金….各种金属合金成分及型号PMI分析(1)金属材料质量控管：合金中主成份的快速分析(Fe、Ni、Cr、Cu…….)(2)合金牌号鉴定：有效分辨材质相近合金种类，如：304/316/6061/6063；(3)内建达500笔国际合金牌号：包含2、3、4、5系列合金及特殊合金钢牌号。▶ 黄金及稀有金属分析(1)八大贵金属分析：金(Au)、银(Ag)、钯(Pd)、铂(Pt)、铑(Rh)、钌(Ru)、锇(Os)、铱(Ir)金属回收。(2)K金含量分析(3)稀有金属分析(铟、钨、稀土、锗、锑、镉、铱、钽和钛等)▶ 触媒分析(1)回收汽车催化剂中铂(Pt)、钯(Pd)、铑(Rh)的成份分析

■ 特色说明 第四代最新型VANTA手持式XRF可进行更快速更精准的元素分析。 &check 第四代最新型VANTA手持式XRF可进行更快速更精准的元素分析。&check Vanta XRF(X-射线荧光分析仪)可在不破坏样品的情况下，分析元素范围镁(Mg)-铀(U)。&check 其技术可应用于金属合金牌号分析(PMI)、八大贵金属分析。&check Vanta为手持式(携带型)设备，没有样品大小限制，液体、粉体、固体也皆可分析。&check 适用于原物料、产品端的实时质量管理检测。 ■ 创新特点&check Vanta L系列拥有全球最小分析范围(2mm)，焊道、焊条及棒材类皆可精准分析。&check Vanta L系列标配风扇装置，长时间操作不怕热当外，也能提升整体产品使用寿命。&check Vanta手持式XRF具备1.2m军规坠落测试，提供操作者现地使用的安全性。&check Vanta L系列具备IP65认证标准，完全防尘及防止水冲。&check Vanta L系列无需计算机即可藉由USB、蓝芽、Wi-Fi出示PDF及Excel报告。 &check Vanta L系列拥有Olympus CCD显影技术，可清晰观看待测物分析位置。■ 产品应用▶ 合金分析-非铁金属, 镍基金属,不锈钢, 铜合金….各种金属合金成分及型号PMI分析(1)金属材料质量控管：合金中主成份的快速分析(Fe、Ni、Cr、Cu…….)(2)合金牌号鉴定：有效分辨材质相近合金种类，如：304/316/6061/6063；(3)内建达600笔国际合金牌号：包含2、3、4、5、6、7系列合金及特殊合金钢牌号。▶ 黄金及稀有金属分析(1)八大贵金属分析：金(Au)、银(Ag)、钯(Pd)、铂(Pt)、铑(Rh)、钌(Ru)、锇(Os)、铱(Ir)金属回收。(2)K金含量分析(3)稀有金属分析(铟、钨、稀土、锗、锑、镉、铱、钽和钛等)▶ 触媒分析(1)回收汽车催化剂中铂(Pt)、钯(Pd)、铑(Rh)的成份分析

缎带型Langmuir/LB膜分析仪1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。缎带型Langmuir/LB（Langmuir-Blodgett）膜分析仪为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备。与常规型的L/LB膜分析仪相比，KSV NIMA L/LB缎带型膜分析仪可以提供更高的表面压力。使用缎带取代滑障，可以制备更规整的单分子层膜，同时更高的堆积密度，可以提供许多新的应用前景。缎带型Langmuir/LB膜分析仪主要有两款：缎带型Langmuir膜分析仪和缎带型LB膜分析仪。通过简单的更换槽体，任何KSV NIMA Langmuir或LB膜分析仪均可更换为缎带型膜分析仪，同理也可将缎带型膜分析仪更换为常规型。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响缎带型Langmuir/LB膜分析仪几乎与常规型的膜分析仪的工作原理一致，唯一的区别是缎带型Langmuir/LB膜分析仪的压缩机理为缎带，而常规型的为滑障。缎带插入亚相中，将单分子层封闭起来，提供完美的膜限制空间。KSV NIMA缎带型膜分析仪的机理如下：图2 缎带型Langmuir/LB膜分析仪工作原理：1. 压缩； 2. 扩张3. 技术参数3.1 缎带式LB膜分析仪（KN 2005）1. 槽体材质：固体烧结，无孔PTFE材质，快速限位孔固定，可拆卸清洗或更换为多种其他功能性槽体，含双侧导流槽，内置水浴系统接口2. 框体特性：33 mm槽体高度调节，天平可XYZ三维定位调节，含安全限位开关，含搅拌、pH测量、样品注射辅助系统等接口3. 系统设计：模块化设计，可独立进行表面压测量和镀膜实验，可原位进行表面红外、表面电势、布鲁斯特角图像、界面剪切等测试 4. 总槽体表面积： 322 cm2 5. 最大扩展槽体表面积： 148.4 cm2 6. 最小压缩槽体表面积： 40.5 cm2 7. 滑障速度: 0.1-270 mm/min8. 滑障速度精度: 0.1 mm/min9. 测量范围：0-300 mN/m（铂金板）；0-1000 mN/m（铂金棒）10. 天平最大负荷: 1 g11. 天平定位调节： 360° x 110mm x 45 mm（XYZ）12. 传感精度: 0.1μN/m13. 表面压测试元件： 标准Wilhelmy白金板，W19.62 x H 10mm，符合EN 14370:2004国际标准。其他选项：Wilhelmy白金板（W10 x H10 mm）、液/液Wilhelmy铂金板（W19.62 x H7 mm）、Wilhelmy纸板、白金棒14. 总亚相容积：387 ml15. 测试槽（过吊带中线）亚相容积：226 ml16. 镀膜井尺寸：20 x56 x 65 mm（长 x 宽 x高）17. 最大基材尺寸：3 x 52 x63 mm或2英寸 18. 最大镀膜冲程： 80 mm19. 镀膜速度：0.1 – 108 mm/min20. 电源： 100...240 VAC21. 频率： 50...60 Hz4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir-Blodgett/Langmuir槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体和镀膜井发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 对称缎带压缩为标准的均匀压缩方法。6. 居中的镀膜井有利于单分子层LB沉积的均一性。7. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）。8. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点4.2.1 联用或相关分析技术本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围l 生物膜及生物分子间的相互作用? 细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）? 构象变化及反应? 药物传输及行为l 有机及无机涂料? 具有光学、电学及结构特性的功能性材料? 新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等l 表面反应? 聚合反应? 免疫反应、酶-底物反应? 生物传感器、表面固定催化剂? 表面吸附和脱附l 表面活性剂及胶体? 配方科学? 胶体稳定性? 乳化、分散、泡沫稳定性l 薄膜的流变性? 扩张流变? 界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。

缎带型Langmuir/LB膜分析仪1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。缎带型Langmuir/LB（Langmuir-Blodgett）膜分析仪为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备。与常规型的L/LB膜分析仪相比，KSV NIMA L/LB缎带型膜分析仪可以提供更高的表面压力。使用缎带取代滑障，可以制备更规整的单分子层膜，同时更高的堆积密度，可以提供许多新的应用前景。缎带型Langmuir/LB膜分析仪主要有两款：缎带型Langmuir膜分析仪和缎带型LB膜分析仪。通过简单的更换槽体，任何KSV NIMA Langmuir或LB膜分析仪均可更换为缎带型膜分析仪，同理也可将缎带型膜分析仪更换为常规型。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响缎带型Langmuir/LB膜分析仪几乎与常规型的膜分析仪的工作原理一致，唯一的区别是缎带型Langmuir/LB膜分析仪的压缩机理为缎带，而常规型的为滑障。缎带插入亚相中，将单分子层封闭起来，提供完美的膜限制空间。KSV NIMA缎带型膜分析仪的机理如下：图2 缎带型Langmuir/LB膜分析仪工作原理：1. 压缩； 2. 扩张3. 技术参数3.1 缎带式Langmuir膜分析仪（KN 1007）1. 槽体材质：固体烧结，无孔PTFE材质，快速限位孔固定，可拆卸清洗或更换为多种其他功能性槽体，含双侧导流槽，内置水浴系统接口2. 框体特性：33 mm槽体高度调节，天平可XYZ三维定位调节，含安全限位开关，含搅拌、pH测量、样品注射辅助系统等接口3. 系统设计：模块化设计，可独立进行表面压测量和镀膜实验，可原位进行表面红外、表面电势、布鲁斯特角图像、界面剪切等测试4. 槽体表面积（扩展）： 148.4 cm25. 槽体表面积（压缩）： 40.5 cm26. 槽体内部尺寸：358 x 90 x 10 mm（长 x 宽 x高）7. 滑障速度: 0.1-270 mm/min8. 滑障速度精度: 0.1 mm/min9. 测量范围：0-300 mN/m（铂金板）；0-1000 mN/m（铂金棒）10. 天平最大负荷: 1 g11. 天平定位调节： 360° x 110mm x 45 mm（XYZ）12. 传感精度: 0.1μN/m13. 表面压测试元件： 标准Wilhelmy白金板，W19.62 x H 10mm，符合EN 14370:2004国际标准。其他选项：Wilhelmy白金板（W10 x H10 mm）、液/液Wilhelmy铂金板（W19.62 x H7 mm）、Wilhelmy纸板、白金棒14. Langmuir测试槽亚相容积：322 ml15. 电源： 100...240 VAC16. 频率： 50...60 Hz4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir-Blodgett/Langmuir槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体和镀膜井发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 对称缎带压缩为标准的均匀压缩方法。6. 居中的镀膜井有利于单分子层LB沉积的均一性。7. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）。8. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点4.2.1 联用或相关分析技术本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围l 生物膜及生物分子间的相互作用? 细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）? 构象变化及反应? 药物传输及行为l 有机及无机涂料? 具有光学、电学及结构特性的功能性材料? 新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等l 表面反应? 聚合反应? 免疫反应、酶-底物反应? 生物传感器、表面固定催化剂? 表面吸附和脱附l 表面活性剂及胶体? 配方科学? 胶体稳定性? 乳化、分散、泡沫稳定性l 薄膜的流变性? 扩张流变? 界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。

Vanta M系列，适用于土壤重金属分析。此仪器符合台湾环保署八大重金属土壤污染检测法规，如铅(Pb),铬(Cd),汞(Hg),砷(As),铜(Cu),锌(Zn),铬(Cr),镍(Ni)等元素。无需样品前处理，即可在一分钟内得到各个重金属含量，适合现地及厂址快速筛测。■ 特色说明 第四代最新型VANTA手持式XRF可进行更快速更精准的元素分析。 - M系列搭载大面积硅飘移检测器测试结果更加精确。- M系列适用于土壤重金属分析。此仪器符合台湾环保署八大重金属土壤污染检测法规，如铅(Pb)、铬(Cd)、汞(Hg)、砷(As)、铜(Cu)、锌(Zn)、铬(Cr)、镍(Ni)等元素。无需样品前处理，即可在一分钟内得到各个重金属含量，适合现地及厂址快速筛测。- Vanta XRF(X-射线荧光分析仪)可在不破坏样品的情况下，分析元素范围镁(Mg)-铀(U)。- 其技术可应用于金属合金牌号分析(PMI)、八大贵金属分析、有害物质分析(RoHS)、无卤素分析。- Vanta为手持式(携带型)设备，没有样品大小限制，液体、粉体、固体也皆可分析。- 适用于原物料、产品端的实时质量管理检测。■ 创新特点- Vanta M系列拥有全球最小分析范围(2mm)，焊道、焊条及棒材类皆可精准分析。- Vanta M系列标配风扇装置，长时间操作不怕热当外，也能提升整体产品使用寿命。- Vanta M系列手持式XRF具备1.2 M军规坠落测试，提供操作者现地使用的安全性- Vanta M系列具备IP64认证标准，完全防尘及防止水溅。- Vanta M系列无需计算机即可藉由USB、蓝芽、Wi-Fi出示PDF及Excel报告。 - Vanta M系列拥有Olympus CCD显影技术，可清晰观看待测物分析位置。■ 产品应用▶ 八大重金属分析所谓的土壤重金属主要有砷、镉、铬、汞、镍、铅、锌及铜等八种。土壤中若有过多的重金属，会被作物吸收累积在植物之中，而含重金属之农作物经由食物链就会影响人类食用的安全。国内外农作物遭到重金属污染的事件屡屡发生，原因是因为部分农地长期引用受污染的灌溉水源。▶ 土壤、底泥、炉渣与废弃物重金属分析(1)八大重金属分析：铅(Pb), 铬(Cd), 汞(Hg), 砷(As), 铜(Cu), 锌(Zn), 铬(Cr), 镍(Ni)等元素(2)硫(S)，氯(Cl)分析▶ 油品硫(S)，氯(Cl)分析分析(1)适用ASTM-D6481(油品添加物分析)与ASTM-D4294(油品中硫含量检测)法规(2)适用NIEA A443.74C (石油产品硫含量检测方法)法规▶ 矿物、贵金属分析(1)矿物成分、矿脉分布分析(2)八大贵金属分析：金(Au)、银(Ag)、钯(Pd)、铂(Pt)、铑(Rh)、钌(Ru)、锇(Os)、铱(Ir)金属回收。(3)K金含量分析(4)稀有金属分析(铟、钨、稀土、锗、锑、镉、铱、钽和钛等)

LUCEO应力仪LSM系列LUCEO歪検査器 LSM系列的应力仪，可以检测玻璃以及塑胶制品中各种各样的应力。检测对象玻璃制品大浮法玻璃板　汽车玻璃　新型玻璃　光学新材料玻璃　玻璃晶圆热敏电阻 　玻璃浆玻璃管 ＜各种灯具、电子管（真空管 、 充气管等）、电子元件密封玻璃管 、　　　　加热器隔板＞理化玻璃器皿 ＜烧瓶烧杯等、试管及连接管等、分析器件等、　　　　　　　　蒸发皿及手表玻璃等＞光学玻璃材料 　 ＜水晶、石英、镜片玻璃材料等＞玻璃光学元件 　 ＜光学滤镜、镭射二极管保护玻璃、球镜、透镜阵列、　　　　　　　　透镜、棱镜、V 槽基板等＞玻璃容器 　 ＜小瓶、饮料瓶、大口瓶，储存容器、玻璃杯、餐具等＞ 塑胶（合成树脂）制品大树脂板　树脂膜注射成型树脂制品＜液晶面板、遮阳板、树脂容等 ＞树脂光学元器件 ＜透镜阵列、透镜、棱镜等＞ ※除此以外其他的制品也可检测。如有需要，请随时与我们联系。 LUCEO应力仪LSM系列应力仪LSM系列的规格表 项目StrainEye手持式携带型中型LSM-1000LELSM-2100LELSM-2200LELSM-2300LELSM-4100LELSM-4101LELSM-4200LELSM-4201LELSM-4300LELSM-4301LELSM-4400LELSM-4401LELSM-4400BLSM-4401B 检验方法交叉尼科尔斯法●●●●圆偏光法●●●敏感色法●●●●塞纳蒙法●●旋转检偏镜法RGB线偏振光法应力测量范围Re: 0~270nm——————Re: 0~270nm反复测量精度—————————测量范围/观察范围(mm)φ78120×120200×200150×150有效像素(Pixel)—————————设定波长塞纳蒙法：540nm——————塞纳蒙法：540nm光源高亮度LED白色3000K高亮度LED 白色3000K高亮度LED 白色3000K起偏镜尺寸φ78120×120200×200150×150（高亮度）检偏镜尺寸φ54φ584Φ110Φ114检偏器的高度调整●（只适用于LSM-4xx1）测量空间高度70115300（上段）285（上段）65-290（下段）55-275（下段）外观尺寸（W×D×Hmm）96×135×150(ハンドル：L=85)180×245×264280×375×415280×375×430重量0.7kg3.4kg10kg11kg电源DC Input15-24V 0.8ADC Input 15-24V 0.8A100-240VAC 50/60Hz 0.14A100-240VAC50/60Hz 0.3A耗电量15W15W14W30W构成主机、（1/4波片、敏感色片）主机主机、电缆主机、1/4波片、敏感色片、电缆

GMX-701&702便携式光泽计GMX-701&702便携式光泽计携带方便，比以往产品体积更小，重量更轻。由于仪器既可以使用交流电也可以使用直流电作为电源（使用内置可充电电池），因此可以在室内和室外均可使用，无任何问题。这些仪器也符合国际标准，包括JIS和ASTM等。GMX-701由于其无线模式而具有很好的可操作性。它只用于60o的测量。GMX-702有三个可用的测量角度，60o，20o和75o。所有这三种测量模式都具有出色的测量精度和可靠性。 GMX-701和702可以处理更多的数据，增加了数据存储和外部输出功能，这两款仪器的专用可选软件允许在PC上进行数据管理。用途：- 控制汽车，油漆表面，建筑材料和电力材料的光泽。- 保持造纸质量，印刷表面和磁带- 测量树脂成型和牙科材料的光泽。- 测量金属板和电镀表面的光泽。- 测量瓷砖，瓷器和陶瓷的光泽。- 调查耐候性测试材料的恶化。MCRL典型案例（部分）返回

JC2000P型便携式接触角测量仪的详细资料： 众所周知，纳米材料科学与工程已经成为世界性的研究热点，在研究纳米材料的表面改性时，往往要涉及润湿接触角这个概念。所谓接触角是指在一固体水平平面上滴一液滴，固体表面上的固-液-气三相交界点处，其气-液界面和固-液界面两切线把液相夹在其中时所成的角。 JC2000P型便携式接触角测量仪采用轻便携带型设计，可直接放置于样品上测量，因此无样品尺寸上限，特别适用于大面积样品如TFT-LCD检测之应用。主要用于测量液体对大型玻璃表面的接触角（洁净度），即液体对固体的浸润性，也可测量外相为液体的接触角。该仪器能测量各种液体对各种材料的接触角, 例如块状材料、纤维材料、纺织材料等，粉末样品在压片后也可测量。同时此系列仪器可测量和计算表面/界面张力、CMC、液滴形状尺寸、表面自由能等。 JC2000P型便携式接触角测量仪标配组件1、USB制式数字CCD摄像头 1个2、连续变倍光学系统 1个3、蠕动加样泵 1个4、手动CCD倾角平台 1个5、影像分析测量系统应用软件 1个6、说明书及操作手册电子版 1份 JC2000P型便携式接触角测量仪系统参数1、主机外尺寸(W×D×H)：240x200x300mm（含把手）2、主机重量：4 Kg（含液体瓶）3、电源：PC-USB 2.04、光学系统：130万像素 CCD 高速高清相机，红外过滤功能5、解析度：1280×1024 pixel6、取像速度：30 帧/秒7、光源：高亮LED冷光源，有均匀化处理功能8、样品台：无9、样品大小：长≤∞，宽≤∞，高度差=0mm10、平台可调整范围：无11、分析方式：θ/2 method、量高法（3点法做平面、4点法做凹凸面）、5点法曲线拟合（可做前进角、后退角）、量角法（切线法）12、量测方式：静态量测（平均接触角、左右接触角）、动态量测、液滴体积量测、液滴直径量测13、量测范围：0～180°14、量测精度：0.1°15、图像格式：BMP档16、影像格式：AVI档17、电源：可外接交流电220V/50Hz，也可由笔记本电脑直接供电 JC2000P型便携式接触角测量仪特点1、采用计算机多媒体技术，光学系统和CCD摄像头结合，使液滴的影像清晰地显示在计算机屏幕上，可在瞬间将图像存储下供测量使用，避免因液体蒸发造成测量失败。2、具有瞬间冻结、自动连续摄影、高速摄影3种截图方式，即便是挥发性液体也可以确保测量精确。同时，外切线是人为主观因素影响最大的问题，JC2000系列接触角测量仪把几何运算做在软件之中，接触角不再人为判断。3、手持便携式产品，无需切割产品、无需单独样品台、无样品尺寸上限。JC2000P型便携式接触角测量仪含税运价格：RMB 49800.00（不含配套电脑，含仪器主机、实验操作软件、标配组件、大陆地区主要城市免费上门安装调试培训、一年保修服务，软件终身免费升级）。JC2000P型便携式接触角测量仪配套电脑：JC2000P型便携式接触角测量仪，必须有配套电脑方能使用，如选择由供方提供配套电脑，需向供方另付4000元/台，品牌电脑原厂三年上门保修。如用户自配或利用原有电脑，要求一个USB2.0标准接口。台式机、一体机、笔记本均可。上海中晨简介 上海中晨数字技术设备有限公司获2019年度国家科技进步二等奖。公司依托国内高校和科研单位，广泛采用国内外有关专家的新科技成果，着重胶体与界面、粉体技术、纺织纤维等性能测量技术产品的开发。本公司产品可广泛用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋、化工、石油、喷涂、油漆油墨、印染、纺织、集成光学、液晶显示器等行业。公司的客户群不仅包括国内各大高等院校和科研院所，而且还包括苹果、3M、西部数据WD、富士康、三星电子、日月光、HOYA光学、友达光电、飞利浦、LG化学等一大批跨国企业，以及中石油、中石化、中海油、华为、比亚迪、宁德时代、京东方、隆基股份、欣旺达、德赛电池、合力泰、长电科技、华天科技、天合光能、长信科技、OPPO、VIVO、宁夏东方、水晶光电、彩虹控股、威远生化等上市公司，及国内的海关、防疫检验、质量监督检验所、博物馆、医疗机构等政府事业单位，产品远销美国、日本、韩国、巴西、马来西亚、泰国、印度、印度尼西亚、新加坡、智利和我国香港、澳门、台湾地区等。 公司研发和生产接触角测量、表界面张力测量、Zeta电位测量、LB膜界面测量、单纤维测量、束纤维测量、织物测量、显微测量、试验机定制等八大系列60多种专业仪器，拥有其软、硬件自主知识产权，能够保障用户的售后维护、升级、服务的权利。 中晨的注册商标“powereach”意为“力量源于每个人”，体现了上海中晨“以人为本、员工和用户是公司很大的财富”的核心价值观和企业文化。

泡棉胶带测试仪器 导电泡棉压缩电阻测试仪 导电胶带压缩电阻测试仪YL-S70CR新款泡棉压缩电阻测试仪用途:导电泡棉压缩电阻测试仪专业用测试导电泡棉, 导电膜等产品压缩电阻测试。 1.全电脑操作,外置电阻计与软件进行通讯,时时采集电阻数值，保证数据准；产品用途：压缩电阻测试仪专业用测试导电泡棉,导电膜等产品压缩电阻测试。安全装置：1.行程保护：设为上、下限位保护开头，防止超过预设行程；2.力量保护：系统可设定力值，防止超过传感器标定值。测试软件说明：1.实现电脑一体化操作，外置电阻计与软件进行通讯，时时采集电阻数值；2.能显示压力/变形曲线图3. 能显示电阻/力值/应变曲线图4. 能显示电阻/变形曲线图5.测试报告显示压缩率/高度/压缩力值/电阻测试结果机台结构交流伺服马达驱动,精密滚珠丝杆传动；丝杆护罩采用铝型材挤压成型，表面喷砂、阳极亮银处理，工艺精美 外壳选用高级ABS吸塑喷涂处理，经久耐用，美观大方；上下行程微调开关；快拆式接头,可轻松更换不同的功能夹具；机台保护超行程、超容量保护、紧急制动开关；机台功能强大的数据分析统计和曲线图形分析辅助工具，具备放大、缩小、平移、十字光标、取点等功能。多次历史测试数据可调入图形同时显示做对比分析。多达7个区间设置、40个手动取点、120个自动取点功能。具备大值、最小值、平均值、去高低平均值、中位数、标准差、总体标准差、CPK值等多种统计功能。测试软件测试曲线显示测试过程中实时且可以同时显示力量-位移、力量-时间、位移-时间、应力-应变等曲线，可随意切换到想看的曲线画面；自定义测试方法具备定速度、定位移、定力量、定力量速率、定应力、定应力速率、定应变、定应变速率等各种控制模式，可实现复杂的多步嵌套循环控制.可设置自动返回、自动判断断裂、自动归零等功能。传感器正反受力可切换；技术参数型号YL-S70YL-S71YL-S72YL-S73容量选择10N、20N、50N、100N、200N、500N、1KN、2KN、5KN（可选双容量配制，并具备快速更换要求）控制方式全电脑控制方式，软件功能强大力量单位N、kN、gf、kgf、lbf、kP、tf(SI)、tf(long)等长度单位mm、cm、Inch、m、km、um等应力单位Pa、Kpa、Mpa、Gpa、KN/㎡、N/㎡等力量分辨率1/500,000精度优于0.5级行程分辨率1/500,000mm采集速率50次/S有效行程450mm700mm1000mm1300mm速度范围0.01~500mm/min（可定制）测试空间?140mm停机模式过载停机、紧急停止键、试件破坏自动停机、上下限设定自动停机机台动力伺服马达驱动机台尺寸（宽×深×高）520×590×1061mm520×590×1325mm520×590×1530mm520×590×1880mm机台净重45KG50KG55KG70KG功率400W电源220V 50~60HZ机台配备USB\232连接线1条、软件1份选购两点延伸计、夹具、电脑

光束诱导电流成像检测系统 LBIC激光诱导电流测量仪该设备可以执行各种太阳能电池的光电电流分布和光电转换元素的测量，比如测量SiPD、CCD和CMOS。该设备是采用激光诱导电流测量（LBIC）方法。作为标准，提供532nm的绿色激光系统，在x - y方向移动样品，然后再短路测试（Isc）。该系统有10μm空间分辨率，并且能够测量50 x 50mm的样品。尤其针对钙钛矿的太阳能电池等等，钙钛矿太阳能电池是用旋涂机表面涂层方法做出来的，那么在样品的中心和边缘就会存在均匀性差异的问题。针对这样的样品评估，该系统就是最理想的评估系统。这个系统也可以用来评估SiPD、CCD和CMOS涂层或镀膜材料的均匀性。l 评估钙钛矿太阳能电池平面光电流和涂层分布的理想系统l 根据选择的激光，在375 ~ 900nm的范围内，它能测量不同波长l 区域的详细说明来源于获得的数据和两个表面不均匀性[( max. value - min. value) /(max.value + min.value) ]，并且也能够得到平均值[ Total effective data / number of effective data ]技术参数激光波长 : 532nm输出 : 1mW稳定性 : ±5%/h标准 : Class 2在国际标准内XY stage : ±25mm, 0.01mm minimum step电流测量 : 10fA~ 20mA软件 : Windows 7, 32 bit规格大小 : W750 x D270 x H650mm( excluding the electrometer, stage controller and the PC )标准设备配备1. 激光灯源 ( 波长 532nm ) 2. XY stage 3. 静电计4. 样品室 ( 带手动快门 ) 5. 个人电脑 ( Windows 7 32 bits )6. LBC-2专用软件选配激光（375/406/445/473/488/635/650/670/785/808/830/850/904/980nm) 用SMA 连接器可以切换各种激光可视相机和监测器 监测激光辐照的样品自动快门机制 通过软件机制来控制快门Si 光电二极管 探测器用于量子效率的计算软件

上海衡翼精密仪器有限公司是集科研、生产、销售、技术服务为一体的力学检测设备的5A级生产厂家，公司的产品目前已广泛使用在全国各厂家以及高校和科研单位，并且获得了一致好评，是一家值得信赖的企业，本公司生产的电子拉力试验机，电子扭转试验机，摆锤冲击试验机，紧固件检测设备，橡胶材料检测设备，塑料材料检测设备，智能卡检测设备以及定制的各种非标检测设备，价格公道，质量过硬，欢迎联系我们。导电纤维拉力试验机导电纤维拉伸强度试验机导电纤维力学检测设备采用上海衡翼精密仪器有限公司生产的HY-0580(单臂）或（双臂）型拉力试验机。下面就以单臂型拉伸强度试验机为例，来与大家起分享下。导电纤维拉力试验机导电纤维拉伸强度试验机导电纤维力学检测设备采用单立柱主体结构，广泛适用于金属合金、非金属材料试样的拉伸、压缩、弯曲、剪切、剥离、撕裂等试验，以及些产品的特殊试验。可靠性高，并且容易操作，同时满足GB、ISO、JIS、ASTM、DIN等多种标准要求，并可根据用户需求编辑试验软件，定制试验附具，是各类产品和材料制造商、高等院校、科研单位和各产品质量监督部门的精密仪器。导电纤维拉力试验机导电纤维拉伸强度试验机导电纤维力学检测设备适用标准：GB/T2611-2007《试验机 通用技术要求》；GB/T16491-2008《电子万能试验机》；GB/T16852.1-2008《静力单轴试验机的检定 部分：拉力和（或）压力试验机测力系统的检验与校准》；GB/T 3923 纺织物拉伸；GB/T 1040 塑料拉伸性能测定等。配以不同的附具和相关软件控制，可以符合各种材料和产品的力学试验标准。导电纤维拉力试验机导电纤维拉伸强度试验机导电纤维力学检测设备技术参数：1. 产品规格： HY-0580（单臂）2． 精度等： 0.5(以内）3． 额定负荷： 1N 5N 10N 20N 50N 100N 200N 500N 1000N 2000N 3000N 5000N（可配多只）4． 有效测力范围：0.1/100-99.999 5． 试验力分辨率，负荷±500000码；内外不分档，且全程分辨率不变。6． 有效试验宽度：120mm7． 有效试验空间：800mm8． 试验速度:：0.001~500mm/min(任意调)9. 速度精度：示值的±0.5%以内；10．位移测量精度：示值的±0.5%以内；11．变形测量精度：示值的±0.5%以内；12．应力控速率范围： 0.005%～6％FS/S13．应力控速率精度： 速率＜0.05％FS/S时，为设定值的±1%以内；速率≥0.05％FS/S时，为设定值的±0.5%以内；14．应变控速率范围： 0.002%～6％FS/S15．应变控速率精度： 速率＜0.05％FS/S时，为设定值的±2%以内；速率≥0.05％FS/S时，为设定值的±0.5%以内；16. 恒力/位移/变形测量范围：0.5％～99.9999％FS17．恒力/位移/变形测量精度：设定值＜10％FS时, 为设定值的±1%以内； 设定值≥10％FS时, 为设定值的±0.1%以内；18．试台升降装置：快/慢两种速度控制，可点动；19．试台安全装置：电子限位保护20．试台返回：手动可以高速度返回试验初始位置，自动可在试验结束后自动返回；21．试验定时间自动停车,试验定变形自动停车,试验定负荷自动停车22．超载保护：超过大负荷10%时自动保护；23. 自动诊断功能，定时对测量系统、驱动系统进行过载、过压、过流、超负荷等检查，出现异常情况立即进行保护23．电源功率： 750W24．主机重量： 120kg25. 电源电压: 220V（单相）26. 主机尺寸：470*400*1510mm衡翼公司发展目标：组建强大团队，建设强大装备，生产好产品，服务社会，报效国家，创新发展，推动试验机行业可持续发展，实现公众公司愿望。衡翼公司服务宗旨：用户至上，合作共赢，协同发展。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量轻轻一按即可实现测量！请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量轻轻一按即可实现测量！请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量 轻轻一按即可实现测量！ 请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！ 优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量 轻轻一按即可实现测量！ 请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！ 优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量轻轻一按即可实现测量！请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

LBIC 激光光束诱导电流成像系统是卓立汉光公司开发的用于测量光电材料的光电响应信号、表征材料光电性质的光电系统。 该系统是基于激光光束诱导电流的测试原理，将光电材料对于光信号响应的不均匀性以可量化且可视化的方式显示出来。通过该系统，可以研究例如太阳能电池光生电流的不均匀性，探索光电器件量子效率与器件电阻的分布特性，研究器件吸收与电荷生成的微区特性，以及光电材料界面、半导体结区的品质分布等。整个系统包括光源部分、显微部分、位移台部分、电控电测部分和软件部分。 激光光束诱导电流成像系统LBIC系统特点： 高精度空间分辨率 灵活选择多种激发光源 高倍聚焦激发光斑 精密自动化电动位移台 光源、显微、监视光路一体化设计 激光光束诱导电流成像系统LBIC技术规格：系统名称LBIC激光光束诱导电流成像系统激发光源多种高稳定性连续激光器激光功率0-30mW连续可调聚焦光斑大小小于50um 光源功率稳定性1% 系统测量重复性2% 显微系统X10、X20倍显微物镜监视部分130W像素工业相机可测量样品面积100mm X 100mm 位移空间分辨率0.625um 工作温度范围10-35摄氏度标准探测器中国计量院标定的Si或InGaAs标准探测器激光光束诱导电流成像系统LBIC测试示例： 硅探测器对于405nm诱导激光量子效率空间分布图， 图示空间分辨率为50um。 某硅探测器的405nm激光光束诱导电流空间分布图， 图示空间分辨率为50um。