涂层厚度测量仪

市面上都有哪些涂层厚度测量仪器

一、磁吸力原理测厚仪利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形，所以磁性测厚仪应用最广。测量仪基本结构是磁钢，拉簧，标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后，有一个弹簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大，当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲，依不同的型号又不同的量程与适应场合。 在一个约350º角度内可用刻度表示0～100µm;0～1000µm;0～5mm等的覆层厚度，精度可达5%以上，能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准，价格也较低，很适合车间作现场质量控制。 二、磁感应原理测厚仪磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的，覆层愈厚，磁通愈小。由于是电子仪器，校准容易，可以实多种功能，扩大量程，提高精度，由于测试条件可降低许多，故比磁吸力式应用领域更广。当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后，仪器自动输出测试电流，磁通的大小影响到感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示，精度和重复性都不好，后来发展了数字显示式，电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关，稳频等最新技术，多种获专利的产品相继问世，精度有了很大的提高，达到1%,分辨率达到0.1µm，磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯，线圈电流的频率不高，以降低涡流效应的影响，测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化，可以辨识不同的测头，配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。 一台仪器能配合多种测头，也可以用同一台仪器。可以说，适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。利用电磁原理研制的测厚仪，原则上适用所有非导磁覆层测量，一般要求基本的磁导率达500以上。覆层材料如也是磁性的，则要求与基材的磁导率有足够大的差距(如钢上镀镍层)。磁性原理测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业，利用测量平台或辊(钢铁制造)也可用来实现大面积上任一点的测量。

《计量资讯速递》消息　日前，由广东省计量科学研究院牵头起草的《超声波测厚仪》和《磁性和电涡流覆层厚度测量仪》两项广东省地方标准获批准发布，从2014年3月6日开始实施。《超声波测厚仪》和《磁性和电涡流覆层厚度测量仪》两项广东省地方标准的制订规范了磁性、电涡流式覆层厚度测量仪生产、检验过程，统一了我省超声波测厚仪及磁性和电涡流覆层厚度测量仪的型式评价和质量监督管理。　　据了解，超声波测厚仪、磁性和电涡流覆层厚度测量仪是依法管理计量器具目录（型式批准部分）上的产品，此前尚没有关于磁性、电涡流式覆层厚度测量仪产品的检验规则以及产品的标志、包装、运输、贮存的国家及地方标准。来源：广东省计量协会

求助大神，我们这一台菲希尔的XDV-µ 镀层厚度测量仪，买了不到一年就开始经常打不开高压，代理商总是说脏灰尘要清洁。刚出保一个月又打不了高压，工作人员清洁和转动了下快门马达？？然后能上高压了。但光谱不正常，像条形图。供应商说探测器被搞坏了；他们说吹口气都会坏；[color=#cc0000]硅漂移探测器[/color]这么脆？

厚度的测量方法有多种，总体上分为非接触式与接触式，非接触式包括射线，涡流，超声波，红外等多种类型，接触式行业中也称为机械式测厚，分为点接触式与面接触式。厚度测量仪的用途：适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。　　在选择厚度测厚仪这样的机械设备时，往往都通过比较做出选择，知名品牌也是参考的一点，但是设备的质量也尤为重要。大成精密厚度测量仪就符合这两点的厂家，在国内来说，他们做的是相当不错的，自主研发生产，质量高，进一步确保了高精度，高效率，高稳定性的测量。得到了得到了消费者的大力认可。[align=center][img]http://img.mp.sohu.com/upload/20170516/8bbeebc80b4b42248dbe8f8aabbea7dc_th.png[/img][/align]　　厚度测量仪又叫金属厚度测量仪、钢管厚度测量仪、钢板厚度测量仪、厚度测量仪价格、厚度测量仪厂家、金属超声测厚仪、超声厚度测量仪、超声测厚仪价格、数显超声测厚仪、便携式测厚仪、超声波测厚仪价格、超声波测厚仪品牌、数显测厚仪、电子测厚仪、精密测厚仪、超声测厚计、超声测厚仪器、高温测厚仪、不锈钢测厚仪、模具测厚仪、带钢测厚仪、钢结构测厚仪、压力容器测厚仪、压力罐测厚仪、金属管道测厚仪、无损测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。　　厚度测量仪哪个品牌比较好？不同类型的测厚仪，对应不一样的行业，适用范围也有所不同，那么大家在选购测厚仪时，就需要对特定的测厚仪有所了解。如在选择厚度测量仪上有需要提供产品和知识帮助的友们，欢迎来电大成精密公司来咨询。

[url=http://www.dscr.com.cn][color=#333333]超声波测厚仪[/color][/url]穿过涂层测厚度的原理：　　钢中纵波声速具代表性的为5.900m/s（0.2320in/us），但是在漆层或类似涂层中声速一般低于2.500m/s（0.1000in/us）。常规超声设备在测量带漆层金属的总厚度时将错误地以钢的声速测量涂层，这意味着涂层将显示至少2.35倍（两种声速的比值）其真实厚度的值。在涉及厚涂层和紧公差的情况下，由涂层引入的这种误差可以为总厚度测量的很大一部分。这个问题的解决方案是以这样一种方法----从测量中将涂层成分去除----来测量或计算厚度。　　回波―回波测量简单地应用了在两个相邻底面回波间的时间间隔的成熟技术，这个时间间隔代表了透过检测材料的声波的连续往返行程时间。在那些带涂层金属的情况中，这些多次回波只能发生在金属中而不是涂层中，因此任何一对回波的间隔（底面回波1到2、底面回波2到3等），只代表了已去除涂层厚度后的金属厚度。 透过涂层测量要使用一个专利软件来确定在涂层中一个往返行程代表的时间间隔。该时间间隔用于计算和显示涂层厚度，并且通过从总测量值中减去该时间间隔，仪器也能计算和显示金属底层厚度。　　上述每一种技术都有优点和缺点，对一个特定的应用都应该考虑选择哪一种方法最好：　　透过涂层测量优点：　　1，能测量多种金属厚度，具代表性的，在钢中能从1mm到50mm　　2，只需要一个回波　　3，在点蚀情况能更精确地测量剩余地最小厚度　　透过涂层测量缺点：　　1，涂层最薄为0.125mm　　2，涂层表面应当比较光滑　　3，需要使用2种特定探头中地一个4，最高表面温度大约为50℃或51.67℃　　回波－回波测量优点：　　1，可使用多种普通探头工作　　2，常能穿透粗糙表面涂层工作　　3，用适当的探头能在接近500℃或498.89℃的高温时工作　　回波－回波测量缺点：　　1，需要多次底面回波，在严重腐蚀的金属中可能不存在多次底面回波　　2，厚度范围比透过涂层测量限制更多

非金属涂层厚度用什么仪器来测量？

[color=#444444] 10月25日，全国新材料与纳米计量技术委员会发布了《锡膏厚度测量仪校准规范》征求意见稿，并面向全国有关单位征求意见。[/color][color=#444444][/color][align=left] 锡膏厚度测量仪是一种利用光学原理，快速测量印刷电路板上的锡膏块的厚度等几何元素的非接触式测量仪器，广泛应用于SMT(Surface Mount Technology)生产贴片领域，是评价和管控锡膏印刷质量的重要测量设备。[/align][align=left] 本规范由广东省计量科学研究院、山东省计量科学研究院、苏州市计量测试院、中国计量科学研究院、广州计量检测技术研究院和天津大学负责制定。[/align][align=left] 本规范主要依据JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》进行编制，JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-2012《测量[url=http://www.jlck.net/forum-279-1.html]不确定度[/url]评定与表示》、JJF 1094-2002《测量仪器特性评定》共同构成支撑校准规范制定工作的基础性系列规范。[/align][align=left] 本规范为首次制定，主要技术内容和计量特性参考了JJF 1306-2011 《X射线荧光镀层测厚仪校准规范》和JJG 818-2005 《磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程》的部分内容。[/align][align=left] 按照JJF 1071—2010《国家计量校准规范编写规则》的要求制定锡膏厚度测量仪校准规范，在内容和格式上与JJF 1071—2010保持一致。校准规范的具体内容有范围、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果的表达、复校时间间隔等。[/align][align=left] 本规范适用于分辨力为(0.1-1)m、测量范围不大于600m的锡膏厚度测量仪的校准。[/align][align=left] 目前使用中的锡膏厚度测量仪的测量范围大多在(20-400)μm左右，部分新的仪器最大厚度可达到1mm以上。根据查询资料及调研统计，大部分锡膏测厚仪的常用范围在(100-150)μm，极少有达到几百微米以上，实际上不可能将锡膏做到这么大的厚度。起草组经讨论后决定将规范适用范围定为(0-600)μm，最大校准点达到测量上限的2/3，故标准台阶块最大厚度达到400 μm即可。(更多详情请见附件)。[/align][align=left]附件：[u][url=http://www.zhaojiliang.cn/data/uploads/bdattachment/file/20181026/1540524700379110.docx]锡膏厚度测量仪校准规范 （征求意见稿）.docx[/url][/u][/align]

达克罗如何测量涂层厚度?执行哪个标准？

小弟最近研究利用金相实验来测量涂层厚度。查了一些资料，有人用磨光的截面直接在显微镜下看，来直接测量边缘的黑色区域，测量值为涂层厚度值。我觉得，这个厚度值偏大了些，因为在吹干试样时，不可避免的会激起缝隙中的水分或者杂物，从而覆盖了真实的涂层或者掩盖了真实的涂层宽度。不知道，我的想法对不对，请路过的大侠不惜赐教！

谁有ASTM 13568-1998 用X射线荧光法测量涂层厚度试验方法的国标啊？

中空玻璃厚度的测量仪，大家有没有用过的？

涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。下面小编为大家介绍涂层测厚仪测厚方法？涂层测厚仪如何选型？[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]测厚方法？磁性测厚法适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高。涡流测厚法适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。超声波测厚法目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵、测量精度也不高。电解测厚法此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高，测量起来较其他几种麻烦。放射测厚法此种仪器价格非常昂贵（一般在10万RMB以上），适用于一些特殊场合。涂层测厚仪如何选型？用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪，磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米，这类仪器又分探头与主机一体型，探头与主机分离型，前者操作便捷，后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测，测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金，银等金属的厚度。迪斯凯瑞GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料（如钢、铁、合金和硬磁性钢）等物体表面上的非磁性覆盖层厚度（如：油漆、塑料，陶瓷，橡胶，铜，锌、铝、铬、铜等）。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）。具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）

[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]是一种常用的检测仪器，具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，被广泛用于制造业、金属加工业、化工业等领域中。特曾测厚仪的原理是什么呢?下面小编就来具体介绍一下，希望可以帮助到大家。　　磁感应测量原理　　采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。　　磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。　　电涡流测量原理　　高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。　　采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。　　迪斯凯瑞GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料（如钢、铁、合金和硬磁性钢）等物体表面上的非磁性覆盖层厚度（如：油漆、塑料，陶瓷，橡胶，铜，锌、铝、铬、铜等）。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）。

[font=Arial, sans-serif][size=13px][color=#f73131]求助：ASTM D 6132[/color][/size][/font][font=Arial, sans-serif][size=13px][color=#333333]-2020《用非破坏性方法(即采用超声仪)测量施涂在混凝土上的有机涂层的干膜厚度》 [/color][/size][/font]

各位大侠，谁有ASTM B568-1998 用X射线荧光法测量涂层厚度试验方法的原文啊？

大家测电子元器件方阻都是怎么测的啊，是不是首先要测涂层厚度？那么测厚度又是怎么操作的呢，求助，在线等，挺急的。。。

便携式检验仪器，包括探伤仪、测厚仪、测距仪、涂层厚度仪（抗磨福涂层厚度）、硬度仪、光谱分析仪（钢材中磷硫含量）等，可以快速、准确的检测出数据，瞬间判断产品质量。谢谢，有提供的吗？需要便携、精确、操作简单、易维护、锂电、进口和国产、质量好的，提供价格、厂家？我的QQ：*************谢谢！！

想了解以下几类仪器设备，若合适会购买，求推荐1）FRP复合材料无损探伤的仪器2）漆膜厚度 干膜、湿膜都要 最好是不损坏涂层的3）表面粗糙度便携测试仪器多谢各位大神啦啦啦

影响[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]测量精度的一些因素　　a基体金属磁性质　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准 亦可用待涂覆试件进行校准。　　b基体金属电性质　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。　　c 基体金属厚度　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。　　d 边缘效应　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。　　e 曲率　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。　　f 试件的变形　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。　　g 表面粗糙度　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点 或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。　　g 磁场　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。　　h 附着物质　　本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。　　i 测头压力　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。　　j 测头的取向　　测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。　　2.使用仪器时应当遵守的规定　　a 基体金属特性　　对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。　　对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。　　b 基体金属厚度　　检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。　　c 边缘效应　　不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。　　d 曲率　　不应在试件的弯曲表面上测量。　　e 读数次数　　通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。　　f 表面清洁度　　测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准 亦可用待涂覆试件进行校准。

对于粉末喷涂施工，测量涂层固化前的粉末层厚度也有着重要的意义。粉末涂层测厚仪与湿膜测厚仪的形式有所不同，使用方法也有区别。其中，非接触式粉末厚度测厚仪是一种超声波测厚仪，使用很方便，可以根据粉末的厚度显示出最终涂层的厚度。　　传统的粉末涂层测厚仪包括有：干膜测厚仪和湿膜测厚仪。　　[b]湿膜测厚仪应用：[/b]　　有研究表明，涂层固化过程中会出现应力是不争的事实。大部分涂层在固化过程中会收缩，由此在涂层内部就出现了拉应力 要是在涂层固化过程中涂料分子的结构发生变化，涂层就会膨胀，涂层内部就会存在压应力。　　另外，涂层和基材热膨胀系数不同以及各道涂层间性能的差别等因素都会使涂层内部产生应力。如果涂层中的应力超过了涂层的抗拉强度，涂层就会开裂。内应力的存在还可能使涂层的附着力和抗疲劳性能下降，致使涂层的使用寿命缩短。一旦在涂层完全固化后发现涂层厚度不符合设计要求，就很有可能需要将原先的涂层清除干净后重新涂漆，由此造成的损失会很大。因此，我们需要在涂装过程中随时检查涂层的湿膜厚度。　　[b]干膜测厚仪应用：[/b]　　涂装施工正式结束之前，要按有关要求或标准对涂层的厚度进行全面的检查。检查涂层厚度的方法有很多，但在涂装施工现场，无损检测法是测量涂层厚度最为常用的方法，这种方法操作简便，工作效率高，经济性好，对涂层不会造成破坏性影响。　　为了满足用户对粉末涂料固化前的厚度进行非接触、无破坏性测量，TQC新推出一款可用于湿膜和干膜分析的粉末涂层测厚仪，采用光热法，能够非接触，无破坏性对粉末涂料固化前后的厚度进行分析测量。这台轻巧稳健的仪器可快速精准地测量在金属和MDF底材上粉末涂层在固化前后的厚度。测量系统由传感器和显示器组成，通过一条电缆连接。　[b]　TQC Powder TAG 粉末涂层测厚仪特点：[/b]　　1、操作简便。只需将探头在合适的距离指向测量物品的表面，然后按下“测量”按钮。　　2、可测量任意形状和尺寸的样品，包括边框和边缘的样品。　　3、测量范围大，测量值极其精准。　　4、可测量任意金属底材品如钢、铝及非金属底材如中密度纤维板。　　5、适用于固化或未固化粉末涂料。[align=center][url=http://www.tqc-china.com][img=TQC Powder TAG 粉末涂层测厚仪,416,369]http://www.tqc-china.com/system/upload/day_170711/201707111119434805.png[/img][/url][/align][b]关于TQC Powder TAG 粉末涂层测厚仪更多信息，欢迎随时咨询翁开尔热线：400-680-8138，或者登陆:[/b]www.tqc-china.com.

随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

涂层测厚仪主要的作用是测量材料以及物体的厚度，有很多不同的种类，每个种类都利用的是不同原理，本文为大家介绍涂层测厚仪的操作规程　　涂层测厚仪操作规程　　一、技术参数　　采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非阿磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 　　测量范围：(0~1250)μm(F1、N1测头)，F10测头可达10mm 分辨率：0.1μm(F1、N1测头)。　　示值精度：±(3%H+1)μm H为被测涂层厚度。　　二、操作流程　　开启仪器--校准仪器--进行测量--关闭仪器[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=374][color=#333333]超声波测厚仪[/color][/url]　　三、操作步骤　　基本测量步骤　　1.准备好待测工件 　　2.将测头插头插入主机的测头插座中 　　3.仪器开机 　　4.判断是否需要校准仪器。如果需要，选择适当的校准方法进行校准 　　5.测量。将测头垂直接触工件的测量面，并轻压测头的加载套，当测头与被测工件表面接触稳定后，随着一声蜂鸣声，屏幕将显示标识和测量值。如果测量标识闪烁或无测量标识则表示测头不稳定.移开测头后，测量标识消失，厚度值保持。　　6.仪器关机。　　四、操作注意事项　　1.如果在测量中测头放置不稳，会引起测量值与实际值偏差较大 　　2.如果已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内 　　3.仪器的任何一个测量值都是五次看不见的测量平均值 　　4.为使测量更加精确，可在一个点多次测量，并计算其平均值作为最终的测量结果 　　5.显示测量结果后，一定要提起测头至距离工件10mm以上，才可以进行下次测试。

我是搞电镀的,请问那位专家知道电镀镀层内应力在线测量仪器?

基体是陶瓷，陶瓷上有层钼和锰的氧化物层，厚度10UM--50多UM，外层是镍层，厚度是1-10UM，请问用什么仪器可以测两层或多层厚度，暂时我了解了X荧光测厚仪，换有别的仪器可以测量吗

【求助】哪位高人能告知片状材料（厚度0.1mm-0.8mm）厚度方向的热膨胀系数的测量仪器和方法，多谢

目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

有什么仪器或方法能测量表面的涂层厚度啊？基体是钛合金，导电不导磁，涂层材料是碳化钨，同样导电不导磁。。。。