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突起路标反射器

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突起路标反射器相关的论坛

  • 多棱镜扩束器的共振反射器效应

    [font=&]【题名】: 多棱镜扩束器的共振反射器效应[font=Arial, Helvetica, sans-serif, ????][size=12px][/size][/font][/font][font=&]【链接】: http://61.175.198.136:8083/rwt/288/http/GEZC6MJZFZZUPLSSG63B/KCMS/detail/detail.aspx?filename=LDXU198904015&dbcode=CJFQ&dbname=CJFD1989[/font]

  • 银反射器试片反射率大于了100%,原因何在?

    银反射器试片反射率大于了100%,原因何在?

    采用电镀制备的光亮银,在岛津的3500上测试,结果测出反射率在可见光及部分红外区域大于100%。在800nm附近出现峰值,大约140%,测试结果见附图。检测方采用银标准片测试却是正常的。不知道问题出在哪里,还请大家指教。个人感觉采用的是相对法测试的,因为测试的同时还有一个非常光亮的银镜在另一个孔上并行的。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112192133_339520_1686743_3.jpg

  • GC固定时间出馒头突起

    如图,已经折腾两天,精疲力尽。原先两处突起,老化后7分钟突起基本很小了。但是这个4分钟的反而很顽固。程序升温,100-240,昨天在250老化了半天。打丙酮作用不大,请教这是什么情况,感激不尽[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712061459_01_2782094_3.jpeg[/img]

  • 反射光栅在紫外检测器中的原理与应用

    反射光栅在紫外检测器中的原理与应用

    下图为一检测器光栅衍射分光的实拍图:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/01/201501280955_533330_2960432_3.png上述反射光栅的光路原理应该和下面的原理相似,但也有不同之处:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/01/201501281105_533343_2960432_3.png图F5-1是离轴抛物镜光学系统图。光源或照明系统发出的光均匀地照亮位于离轴抛物镜焦面上的入射狭缝S1,光经过离轴抛物镜6fl平行照射到光栅G上,经光栅衍射回到M1,经反射镜M2会聚到出射狭缝S2,最后经过滤光片M3到接收元件上。由于光栅的分光作用,从出射狭缝出来的光束为单色光。当光栅转动时.使不同波长的光束经出射狭缝S2射出。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/04/201504201928_542753_2960432_3.jpg简单说,光栅是将光源射出的不同波长混合在一起的复色光分开为一个扇形分布的光谱带,狭缝的作用是只让这个扇形光谱带中的某一部分波长通过。这两个部件组合起来使用才能获得检测用的“单色光”。对于单色器的详细解读下面一贴更详细:主题:【讨论】说说大家所知道的光栅单色器 昵 称:xiejun110 网址:http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130716/4853417/index_1.shtml file:///c:/documents and settings/aaa/application data/360se6/User Data/temp/2015013102041867.png

  • 反射吸收法

    用于样品表面、金属板上涂层薄膜的红外光谱测定。甚至用于单分子层的解析。入射光经反射镜照射到样品表面,其反射光再经另一反射镜进入仪器。反射吸收测定的原理是,只有与基板垂直的偶极矩变化可以被选择性地检测。

  • 【线上讲座240期】基于反射技术的红外光谱分析方法(之三:镜面反射技术光谱法)···火热上线 ······至5月18日

    欢迎大家前来与tianzhen老师一起就镜面反射光谱技术知识的相关问题进行探讨!活动时间:2014年05月09日——2014年05月18日【线上讲座240期】基于反射技术的红外光谱分析方法(之三:镜面反射技术光谱法) 主讲人:tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间:2014年05月09日——2014年05月18日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座!http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif引言对红外光谱来说,常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法,不仅可以得到更加准确的结果,而且可能有效地节省分析时间,简化分析过程。但同时,在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说,其它的分析方法还无法与透射法相比,但随着反射法硬件及分析方法的完善,反射分析方法正越来越多地受到重视,本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分,每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多,讲座拟定分三期进行,第一期为衰减全反射技术http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130908/4954048/、第二期漫反射技术http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20131204/5092349/、第三期镜面反射技术。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif提要一、镜面发射技术应用领域二、镜面反射技术的类型、原理三、镜面反射技术光谱的应用http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就镜面反射光谱技术相关的内容进行探讨交流!以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间:2014年05月09日--05月18日答疑时间: 2014年05月09日--05月18日特邀佳宾:IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员:仪器论坛全体注册用户活动细则:1、请大家就镜面反射技术知识的相关问题进行提问,直接回复本帖子即可,自即日起提问截至日期2014年05月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励(1-50分不等),提问的也有奖励3、提问格式:为了规范大家的提问格式,请按下面的规则来提问 :tianzhen老师您好!我有以下问题想请教,请问:……http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif说明:本讲座内容仅用于个人学习,请勿用于商业用途,由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结,但是也凝聚着笔者大量心血,版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的,理解片面、错误之处肯定是有,欢迎大家指正。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif

  • 【线上讲座236期】基于反射技术的红外光谱分析方法(之二:漫反射技术光谱法)。。。即日起至12月14日

    欢迎大家前来与tianzhen老师一起就漫反射光谱技术知识的相关问题进行探讨!活动时间:2013年12月05日——2013年12月14日【线上讲座236期】基于反射技术的红外光谱分析方法(之二:漫反射技术光谱法) 主讲人:tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间:2013年12月05日——2013年12月14日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座!http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif引言对红外光谱来说,常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法,不仅可以得到更加准确的结果,而且可能有效地节省分析时间,简化分析过程。但同时,在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说,其它的分析方法还无法与透射法相比,但随着反射法硬件及分析方法的完善,反射分析方法正越来越多地受到重视,本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分,每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多,讲座拟定分三期进行,第一期为衰减全反射技术http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130908/4954048/、第二期漫反射技术及第三期镜面反射技术。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif提要一、红外光的特点及红外光谱分析方法二、漫反射的原理及特点三、漫反射光谱的应用http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就漫反射光谱技术相关的内容进行探讨交流!以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间:2013年12月05日--12月14日答疑时间: 2013年12月05日--12月14日特邀佳宾:IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员:仪器论坛全体注册用户活动细则:1、请大家就漫反射技术知识的相关问题进行提问,直接回复本帖子即可,自即日起提问截至日期2013年12月14日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励(1-50分不等),提问的也有奖励3、提问格式:为了规范大家的提问格式,请按下面的规则来提问 :tianzhen老师您好!我有以下问题想请教,请问:……http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif说明:本讲座内容仅用于个人学习,请勿用于商业用途,由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结,但是也凝聚着笔者大量心血,版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的,理解片面、错误之处肯定是有,欢迎大家指正。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif

  • 气相色谱基线凸起

    FID检测器入口处死堵,未接柱子,高纯氮气换的新的,氢气发生器和空气发生器的压力值未发现明显波动。氢气流速40,空气流速400,尾吹流速40的条件下监视基线(只有检测器信号,未接柱子),出现图中情况,基线总是想上凸起,请教各位同仁是什么原因,该如何解决!谢谢![img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808071751513695_877_2857050_3.jpeg[/img]

  • 【线上讲座232期】基于反射技术的红外光谱分析方法(之一:ATR衰减全反射光谱法)

    欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术知识的相关问题进行探讨~!活动时间:2013年09月09日——2013年09月18日【线上讲座232期】基于反射技术的红外光谱分析方法(之一:ATR衰减全反射光谱法) 主讲人:tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间:2013年09月09日——2013年09月18日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座!http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif引言对红外光谱来说,常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法,不仅可以得到更加准确的结果,而且可能有效地节省分析时间,简化分析过程。但同时,在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说,其它的分析方法还无法与透射法相比,但随着反射法硬件及分析方法的完善,反射分析方法正越来越多地受到重视,本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分,每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多,讲座拟定分三期进行,第一期为衰减全反射技术、第二期漫反射技术及第三期镜面反射技术。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif提要一、红外光的特点及红外光谱分析方法二、衰减全反射的原理及特点三、衰减全反射光谱的应用http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术相关的内容进行探讨交流~!以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间:2013年09月09日--09月18日答疑时间: 2013年09月09日--09月18日特邀佳宾:IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员:仪器论坛全体注册用户活动细则:1、请大家就ATR技术知识的相关问题进行提问,直接回复本帖子即可,自即日起提问截至日期2013年09月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励(1-50分不等),提问的也有奖励3、提问格式:为了规范大家的提问格式,请按下面的规则来提问 :tianzhen老师您好!我有以下问题想请教,请问:……http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif说明:本讲座内容仅用于个人学习,请勿用于商业用途,由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结,但是也凝聚着笔者大量心血,版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的,理解片面、错误之处肯定是有,欢迎大家指正。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif

  • 【求助】怎样利用漫反射做出高品质的谱图来?

    最近利用红外做大米粉末的漫反射谱图,参照别人的文献做,200目粉碎度时信噪比依旧很差,另外谱图的信号很杂乱,不知道是大米本身就是信号这么混乱,还是我采样参数设置有问题,又或者是仪器出了问题。请问有人做过相关的采集么,像这样的问题应该如何处理?谢谢!

  • 岛津GCMS基线凸起

    岛津GCMS基线凸起

    中间基线凸起,点开看了下基本都是直链烷烃,进了30多个样品,前半部分样品的基线都是平的,差不多从中间开始凸起越来越高越来越大,连后面进的正己烷也有凸起,可是最后进的标准曲线的基线是平的,以为是样品处理的不干净,就重新处理了一遍,结果还是这样,请问是什么原因[img]https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09509.gif[/img][img]https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09509.gif[/img][img=,690,461]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/11/201811192142050556_1946_2947586_3.png!w690x461.jpg[/img]这个是升温曲线,基本上都是15min开始出现凸起,17.5min结束[img=,545,584]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/11/201811192143354826_9507_2947586_3.png!w545x584.jpg[/img]

  • 实验室分析仪器--有机质谱飞行时间分析系统结构分析

    离子受到加速电压的作用离开离子源后在一个无场区域内飞行直至抵达检测器,各种质荷比的离子受到相同的加速电压作用,但由于它们的质荷比不同,在无场区域内飞行的速度不同,导致到达检测器的时间也不同。利用离子到达的时间不同达到区分不同质荷比的效果,这就是飞行时间分析系统的原理。图是经典的线性飞行时间质谱分析系统示意图。飞行时间的离子可以由脉冲产生,也可以是连续离子流。但不管如何,在进入分析器前要经过适当的调制。这是因为确定离子的质荷比值是直接依赖于离子在无场区域内的准确飞行时间,也就是说要求所冇离子应同步进入加速区。利用脉冲给予离子加速,一次脉冲,其宽度为ns至10μs可调。随时间的推移,不同质荷比离子相继到达收集器。仪器在小于100μs内输出一张谱图,重复频率是10?100kHz。[img=CL]`WJ@@20C$~LQ$HQEU]1G.png,448,180]https://i4.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643164929408286.png[/img]分辨率是整个仪器综合性能的反映。所以在讨论分辨改善的同时,除了 TOF本身外还涉及离子源的技术改进。从理论上讲,要求相同质荷比的离子具有相同的飞行时间,而不同质荷比的离子具有足够的时间差。但实际上有相同质荷比的离子达到收集器上的时间有微小的差异,从而导致谱线加宽和分辨率的下降。其原因在于下述三种情况:第一,相同质荷比离子在加速前在源中处于不同的位置,因此获得不同的加速能量;第二,由于热运动使离子有初始能量的分布,表现在初始速度上的差异;第三,即使它们的位置相同,但在脉冲加速前它们的运动方向上有差异,极端的情况是运动方向背向于栅极的那些离子需要有一定的时间进行调头或称回转,然后才得到相同的加速能量进入分析器。其结果,到达收集器的时间发生了滞后。[b]一、分辨率的改善1、双栅极结构 [/b]单栅极的结构使离子被加速到最大能量所需要的时间为飞行时间的十分之几,而由于脉冲控制栅极和脉冲加速栅极构成的双栅极的时间只是飞行时间的百分之几,这样,就初始能量的差异对分辨率影响而言,后者是减小了。[b]2、延迟引出技术(Delay Extraction, DE)[/b] 这一技术是AB Sciex公司的专利, 据称可以提高分辨率1?3倍。它的原理是让离子产生后在源内延迟片刻,然后给予脉冲引出到飞行区。此时,靶极(指离子产生处)与栅极是相同的电位而处于无场状态初始速度稍大的离子离耙极远,离栅极近;初始速度小辟则相反。一旦延迟结束,离栅极近的离子受到栅极脉冲加速的能量要稍低于离栅极远的离子,这样,因为初始速度不 同的相同质荷比离子得到了补偿。DE技术不仅改善了初始能量的差异,也有助于减小 回转时间的影响,分辨率的提高也必然改善精确质量测定的准确度。[b]3、脉冲场聚焦[/b] 这是减小回转时间的一种解决方法。[b]4、反射式TOF[/b] 经第一级TOF飞行,离子进入称为反射器的离子镜,离子被反射以后在第二级收集器上被检测。如果单用第一级检测器,这就是线性TOF,而经反射以后,对于空间位置和初始速度上的色散都能获得补偿。如此减小相同质荷比的离子在动能上的差异而达到飞行时间上的一致性,由此提高了分辨。反射式TOF结构很紧凑,反射阶段的飞行距离要比线性阶段的飞行时间来得短,但是分辨率远远高于线性TOF。这是因为反射器是一个均匀的电场,对于相同质荷比的离子,若初始能量大的则进人反射器区域的路径要长,飞行时间要多一些;若初始能量小的则进入反射器的路径要短,飞行时间要少一些。本来在线性TOF阶段,初始能量大的飞行时间要小于初始能量小的,现在经过反射器阶段后,前者和后者都在时间上得到纠正,所以,使用反射TOF能够使初始能量有差异的相同质荷比离子几乎同时到达第二个检测器。实际上,位置上的色散也是反映在获得加速能童上的差异并导致最终在飞行时间上差异,因而反射式TOF也能将其补偿。下图是使用 AB Sciex 公司的 Super Voyager—DE STR MALD—TOF 仪上获得细胞色素C(cytochrome C)的质谱图,其分辨率达到28000 (FWHM)。增加反射式 TOF的飞行长度可以提高分辨率,但对线性TOF来说行不通。这是因为初始能量的色散在增加飞行长度后差异会变得更大,但在反射式TOF中是在时间上得到了补偿,如同磁质谱仪的双聚焦仪器在空间上进行的补偿那样。当离子初始能量的差异得到显著减小后,仪器的分辨率将由电器稳定性和检测器的 性能所决定。要说明的是,在讨论MALDI源 的时候,离不开TOFMS的结合,但是在这里讨 论TOFMS的时候,不必将离子源限定在MAL-DI, 这意味着TOFMS可以配用电喷雾的离子源,即ESI —TOFMS进行分析。[img=image.png,302,300]https://i4.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643164929914874.png[/img]TOF分析器具有大的质量测定范围(通常可达50万u,个别的甚至更高)、高的灵敏度 (肽或蛋白质测定的Fmol量级)、高分辨率的精确质量测定[精度(5~10) X10[sup]-[/sup][sup]6[/sup]],再加上仪器结构简单和操作方便,因而具有很大的应用潜力(提高外标法的精确质量测定将有更大的竞争能力)。[b]二、源后分解(PSD)[/b]如同磁质谱的无场漂移区产生亚稳离子那样,当离开离子源的离子在很长的距离中 飞行,有些离子在飞行时间内发生碎裂反应。碎裂后的子离子基本上按前体母离子的速 度飞行,因此到达检测器的时间是与其母离子相同的。对于TOF仪器测出这种亚稳峰 的原理作如下说明:当离子进PSD (post -source decay)反射器,受到静电镜的推斥而转向第二个检测器。正常的母离子(m1)具有速度v1的全加速能量,而亚稳峰具有速度v1,但具有全加速的m2/m1能量,因此推斥它只需要低于全加速的能量。显然,正常的母离子m1和正常的子离子(m2)能够深入静电镜,而亚稳峰m*则不会深入,这意味着亚稳离子先到达第二检测器,随后才是正常的母离子 (m1)。静电镜的正常设置是聚焦正常母离子(m1),对亚稳峰m*来说处于去焦状态。 当降低反射器电压至m2/m1使亚稳离子此时能够到达静电镜的深处,即达到如同正常母离子或者说所有全加速的离子的聚焦位置,这样,就能把亚稳峰聚焦到在第二个检测器上,而所有正常离子则不再发生反射而留在第一检测器内。可以设想正常母离子会在飞行区内发生许多碎裂反应,由此形成不同能量的亚稳离子,设置不同的反射镜电压,就可以获得母离子m1的所有亚稳跃迁。这里需要说明的是,单纯依靠m2/m1值的调整测出的亚稳离子还有其不确定性。因为一个化合物可能有各种不同的母离子的亚稳跃迁,从理论 讲就可能存在m2/m1值相同又分属于不同的母一子离子对,所以PSD分析还应包括一个定时的离子选择器。它的位置在飞行的路径上,它允许让某一个前体离子通过,不允许不同时间到达的其他离子通过,这就确保了仅有这一前体离子产生的亚稳峰被检测

  • 首个中红外波长超级反射镜制成

    来自奥地利、美国和瑞士的科学家组成的国际科研团队,研制出了首个中红外波长范围超级反射镜,有望用于测量微量温室气体或用于切割和焊接的工业激光器等领域。研究论文发表于最新一期《自然通讯》杂志。在可见光波长范围内,现有金属反射镜的反射率为99%。在近红外范围,专用反射镜涂层的反射率高达99.9997%;但迄今最好的中红外反射镜的反射率为99.99%,光子丢失率是近红外超反射镜的33倍。人们一直希望将超反射镜技术扩展到中红外领域,以促进很多领域取得重大进展,如测量与气候变化有关的微量气体、分析生物燃料,以及提升广泛应用于工业和医疗领域的切割激光器和激光手术刀的性能等。此次,研究团队研制出的中红外超反射镜的反射率高达99.99923%。为制造出中红外超级反射镜,研究团队结合传统薄膜涂层技术与新型半导体材料和方法,开发出一种新涂层工艺。为此,他们先研制出直径为25毫米的硅基板,然后让高反射半导体晶体结构在10厘米的砷化镓晶片上生长,接着将其分成更小的圆形反射镜,再将这些反射镜安装到硅基板上,得到了超级反射镜并证明了其性能。[b]研究人员指出,这款新型超反射镜的一个直接应用是显著提高中红外气体分析光学设备的灵敏度,可准确计量微量环境标志物,如一氧化碳等。[/b][来源:科技日报]

  • 紫外+光电抢占液相检测器50%的市场——液相色谱仪检测器配置调查,蒸发光散射检测器异军突起

    紫外+光电抢占液相检测器50%的市场——液相色谱仪检测器配置调查,蒸发光散射检测器异军突起

    之前版面做了个检测器配置调查,投票得到了积极响应,而且最多的检测器有上百票,数据也体现了一定的真实性你们实验室高效液相色谱仪配置了何种检测器?http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20111124/3665675/不同的检测器,检测项目不一样,应用领域也不一样,我们配置仪器,都是根据自己所需来定。先来看看这次的投票结果吧,如下图:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/06/201306301645_448473_1608710_3.jpg图例分析:1、紫外检测器还是液相色谱的主导,因为它可以检测大部分液相色谱可以检测的化合物。VWD和DAD两项的投票基本一致,只是现在检测器在可变波长与二极管阵列的价格上有很大出入,VWD相对价格便宜,所以仪器配置的比例还是更高。2、示差检测器已经商品化很多年,再加上其独特的检测领域,特别是GPC分析仪器上的配置,所以它还占有很大比例。3、异军突起的我想应该是蒸发光散射检测器(ELSD)了,它的出现没有多少年,而它的配置居然占到了12%。目前虽然ELSD的很多检测方法没有标准化,但是中国药典在一部已经有很多采用了ELSD检测,而中药的分析,也是药品分析中的重要组成,很多药品企业应该都会考虑它吧。4、荧光检测器由于其灵敏度高,而且在液相领域应用也很广,检测机构一般都会配置。5、而目前有几个检测器,比如电化学检测器、电喷雾检测器等,这些都具有专一行,通用性差,所以基本都是专用液相配置的多。大家有自己的想法,欢迎补充!!!

  • 路面太阳辐射反射系数检测仪

    路面太阳辐射反射系数检测仪

    路面太阳辐射反射系数检测仪太阳辐射反射系数检测仪是在水平表面上从2π球面度立体角中接收到的太阳直接辐射和太阳散射辐射之和(短波),即太阳直接辐射的垂直分量和水平面上接受到的散射辐射总量,业务上通常用太阳辐射反射系数检测仪来进行观测。根据安装状态不同,太阳辐射反射系数检测仪可分别测量太阳总辐射、反射辐射,或借助遮光装置测量散射辐射。对于太阳辐射反射系数检测仪传感器的选择主要有以下三点:一、能否达到既定的太阳辐射测量精度要求;二、在满足测量精度的情况下,太阳辐射反射系数检测仪尽量使用低功耗的传感器,这是由于系统的设计电源是采用电池供电;三、太阳辐射反射系数检测仪传感器要能满足被测介质和使用环境的特殊要求,例如在高温、低温下的工作情况以及防腐等。[img=太阳辐射反射系数检测仪,400,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210170914044180_4640_4136176_3.jpg!w690x690.jpg[/img]用于测量太阳和天空辐射,适应很宽的波长范围。太阳辐射反射系数检测仪为可以借助不同牌号的有色光学玻璃制作的半球形外进行不同宽波段太阳辐射的测量。太阳辐射反射系数检测仪由一个组合热电堆电路组成,可以很好的抵抗机械震动和打击。太阳辐射反射系数检测仪的接收器上有一层黑漆,底部为一个半球形玻璃项罩。玻璃半球使用的是测量用玻璃,其对于0.305pm-2.8pm的波长具有非常好的透光性,而且能量传输非常的均一。太阳辐射反射系数检测仪根据黑色涂料吸收太阳辐射产生热效应的温升值来确定辐射强度。温升值采用热电堆测得。[img=太阳辐射反射系数检测仪,400,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210170914391157_1723_4136176_3.jpg!w690x690.jpg[/img]

  • 介绍一个角度可变绝对反射附件——按图索骥(4)

    介绍一个角度可变绝对反射附件——按图索骥(4)

    紫外可见分光光度计一般台式的居多,同时使用比色池分析液体样品的也居多。但是不知大家对于那种落地式的大紫外熟悉否?这种大紫外的功能主要是测试以光学固体样品为主,同时使用了许多附件;今天就将一款用于测量固体样品的角度可变绝对反射附件展现给大家:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205012028_364412_1602290_3.jpg图-1 含有大样品仓的落地式大紫外的分光光度计外观。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205011042_364375_1602290_3.jpg图-2 这种可变角附件用于测量固体样品的透射率的状态;此时样品转台和检测器(积分球)转台均处于0角度,目的是测样品的透射值。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205011047_364376_1602290_3.jpg图-3 这种可变角附件用于测量固体样品的反射率的状态;此时样品转台和检测器(积分球)的角度均可改变。其有效角度在20°~60°范围内改变。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205011049_364377_1602290_3.jpg图-4 这是样品转台的细部照片http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205011050_364378_1602290_3.jpg图-5 这是样品转台和检测器转台改变角度的调节刻度的细部照片http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205011051_364379_1602290_3.jpg图-6 这是样品光束起偏器的细部图。当测量样品的反射率的入射光的入射角大于15°时,如果不采用起偏器来测量就会产生测量误差。因为入射光束是具有各向异性光,而仪器单色器的光栅的刻槽的方向是固定的,这种各向异性的入射光射在光栅的反射强度也会不同。为此可以通过起偏器将入射光分别调整为垂直光栅刻槽和平行光栅刻槽的两束光。用这两束光分别测试样品,最后求和,就可得到近似真值的样品的透过率或吸光度。

  • 【求助】报告要用原位漫反射光谱图,请教谱图处理

    直接实验扫出的各个温度的漫反射光谱图放一块儿比较乱,峰变化不容易看出来,我想放在作报告的ppt上,请教高手如何处理……把数据导出来用origin作图还要调整图谱间距,分辨率也不高,有没有更好的办法?发现红外软件有个“offset scale",谱图分开很好,能否用呢?

  • 我今天终于找到了什么叫漫反射,和不知道的人一起分享!

    我今天终于找到了什么叫漫反射,和不知道的人一起分享!

    漫反射光是指从光源发出的光进入样品内部,经过多次反射、折射、散射及吸收后返回样品表面的光.漫反射光是分析与样品内部分子发生作用以后的光,携带有丰富的样品结构和组织信息.与漫透射光相比,虽然透射光中也负载有样品的结构和组织信息,但是透射光的强度受样品的厚度及透射过程光路的不规则性影响,因此,漫反射(diffuse re—flectance)测量在提取样品组成和结构信息方面更为直接可靠.积分球是漫反射测量中的常用附件之一.入射光进入样品后,其中部分漫反射光回到积分球内部,在积分球内经过多次漫反射后到达检测器.由于信号光从散射层面发出后,经过积分球的空间积分,因此可以克服漫反射测量中随机因素的影响,提高数据稳定性和重复性.

  • 关于DSC背景曲线有凸起的问题

    我们的DSC是美国PE的,做背景坩埚的时候,之前出的曲线都比较平滑,测试过程中忽然出现了凸起,不平滑是怎么回事呢?有知道的老师吗?具体程序是15℃两分钟,2℃每分钟升至35℃,保持两分钟

  • 【原创大赛】给仪器建立健康档案

    【原创大赛】给仪器建立健康档案

    (一) 前言患者看医生,病历档案是必不可少的参考资料,医生们可以根据患者以往的病史,迅速准确地判断出病因所在,这是生活常识,地球人都知道。但是给仪器建立“健康档案”,就不一定为人所知了。不错,我在许多地方,确实看到了许多仪器的使用者给仪器立了一个记录本本,里面记录着某年某月,谁使用过仪器,谁检修过仪器等等;但是关于检修内容的记录,却少之又少。如果在仪器“健康”(状态正常)之时为仪器建立了一个档案,那么无论是今后的使用还是维修,都是一个难能可贵的原始资料。以紫外可见分光光度计为例:在仪器初始安装后的验收指标记录如:波长精度,基线平坦度,基线噪声以及光源能量的图谱和数据,就是一组不错的最佳的原始档案。例如,在紫外可见分光光度计的使用当中,经常遇到仪器初始化通不过或者噪声大的故障。而上述故障大多为光路系统不良的原因。如果这时翻出原始仪器档案资料,无论是对使用人员还是维修人员而言,对迅速找到故障的原因都是很有帮助的。(二)光源能量档案分光光度计的光能量档案可以说是最重要的健康档案了;例如仪器初始化通不过,基线噪声大的故障90%的原因都是光能量下降所致。但是这个重要的指标往往被忽略,甚至有的仪器厂家也未给出标准参考数据。光源能量是一个综合指标,它的大小并不完全取决于发光体(氘灯,钨灯,氙灯)的能量,其中还包括扩:光源镜,单色器,反射镜,检测器等因素;下面请看我记录的一台紫外可见分光光度计的光源能量原始资料:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307031049_449087_1602290_3.jpg图-1 氘灯和钨灯的正常能量图谱通过图-1可以演绎假设故障原因如下:1. 氘灯能量基本正常而钨灯能量明显降低:这种现象多为钨灯寿命到期的缘故。因为如果假设是光路中的光学器件(如各种反射镜)老化的原因,那么紫外区也就是氘灯能量的变化应该最为突出,但目前仅仅是钨灯的能量减弱,因此推断出是钨灯老化。2. 钨灯能量基本正常而氘灯能量明显降低:首先更换氘灯,如果能量得以提升,说明是氘灯本身的缘故,这种情况居多。当然还有其他的原因,例如光源镜老化等。参见图-2所示:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307031051_449088_1602290_3.jpg图-2 表面劣化的光源镜3. 两只灯的能量均下降且更换新的光源后效果不明显:这种现象多为反射器件由于受到环境的影响,表面已经产生严重劣化的缘故。例如光源镜,切光镜,反射镜,光栅等等;图-3和图-4是严重污染的切光镜及光栅的案例照片:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307031052_449089_1602290_3.jpg图-3 严重被污染的扇形镜(镜子右侧为对比原貌)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307031052_449090_1602290_3.jpg图-4 为严重劣化的光栅(表面已经变白了)(三)基线档案基线的平坦度也是一个重要的综合指标;它的平直度好坏不但牵扯到反射器件,还可以反映出滤光片的好坏及检测器的放大能力。图-5就是我记录的一台仪器安装后的良好基线案例:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307031054_449091_1602290_3.jpg图-5 良好的基线记录通过图-5可以演绎假设故障原因如下:(1) 如果紫外区基线很平坦仅仅是可见区域基线很差,并且在340~850nm区间两端基线噪声大的话,这种原因多为钨灯老化所致,例如图-6所示:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307031055_449092_1602290_3.jpg图-6 钨灯老化所致的基线(2)紫外区和近红外区的基线很好,仅仅是可见区的基线不良;这种故障最大的可能是滤光片劣化所致,见图-7,图-8 所示:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307031057_449093_1602290_3.jpg图-7 可见区滤光片不良的基线http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307031057_449094_1602290_3.jpg图-8 表面劣化的滤光片(3)整个区域的基线均为不良并有大的跳动。该故障多为波长电机不良所致,见图-9所示:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307031058_449095_1602290_3.jpg图-9

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