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探针导热系数仪

仪器信息网探针导热系数仪专题为您提供2024年最新探针导热系数仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括探针导热系数仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的探针导热系数仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合探针导热系数仪相关的耗材配件、试剂标物,还有探针导热系数仪相关的最新资讯、资料,以及探针导热系数仪相关的解决方案。

探针导热系数仪相关的仪器

  • 1、产品介绍 TC4000探针导热系数仪将热线法与探针法相结合,在保证测量精度的同时提高了操作的便携性,用户仅需将传感器插入被测试样,通过简单的软件操作即能获得被测试样的导热系数,适用于高粘流体、胶状食品、颗粒、粉末等材料的导热系数测量,具有操作简单、便于携带、适用广泛等特点。2、主要特点 ★ 测量快速:通常 1~5 分钟即可获得结果; ★ 直接测量法:直接获得导热系数,不需要被测样品的密度、比热等其他物性数据; ★ 无损检测:测量快速、不会破坏样品成分; ★ 方便携带:尺寸更小,携带更方便,除实验室测量外,还可以在线测量和野外现场测量; ★ 适用广泛:适用于保温材料、导热材料、相变材料等各种材料,尤其适合于土壤、果汁等疏松材料,即插即用,方便快捷。3、适用范围 适用于膏体、胶体、液体、粉末、颗粒以及疏松块状材料均可;对于硬质但可预打孔的岩石、混凝土等对象也可实现测量。4、技术参数TC4000E测量原理瞬态热线法测量范围0.02~5 W/(mK)分 辨 率0.01 W/(mK)准 确 度± 5 %重 复 性± 3 %耐温范围-50~100℃测量时间1~5 min探针尺寸直径1.6 mm ,深度120 mm样品形状膏体、胶体、液体、粉末、颗粒以及疏松块状材料均可外形尺寸350×250×150(L×W×H,mm)数据传输USB操作系统Windows工作环境0~40 ℃,≤65% RH电 源220 V,50 Hz5、典型应用★ 粉末颗粒:土壤、河泥、木屑、碳粉、矿渣、谷类面粉、化学试剂等;★ 保温材料:聚氨酯发泡板、挤塑板、苯板、酚醛板等;★ 膏体:导热硅脂、粘稠溶液、原油沥青、琼脂液体等;★ 其他:可预打孔的硬质材料如岩石、混凝土等。
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  • TC 4000E Jthermo探针式快速导热仪采用针型探头,在测试时用户仅需将传感器插入被测试样内部就可直接获取导热系数参数,适用于高粘流体、胶状食品、颗粒、粉末等材料的导热系数测量, 在土壤测试和地质勘探中应用非常广泛。由于仪器体积小巧,特别适合现场测量。Jthermo探针式快速导热仪主要特点高性价比:延续了热线法的主要优点,而价格更有优势;测量快速:通常1~5分钟即可获得结果;直接测量法:直接获得导热系数,不需要被测样品的密度、比热等其他物性数据;无损检测:测量快速、不会破坏样品成分;方便携带:尺寸更小,携带更方便,除实验室测量外,还可以在线测量和野外现场测量;适用广泛:适用于保温材料、导热材料、相变材料等各种材料,尤其适合于土壤、果汁等疏松材料,即插即用,方便快捷。 Jthermo探针式快速导热仪技术指标测量原理:探针法测量范围:0.02~5.0 W/(mK)分 辨 率:0.001 W/(mK)准 确 度:± 5 %重 复 性:± 3 %温度范围:室温测量时间:1~5分钟探针尺寸:直径 1.6 mm,深度120 mm)样品形状:膏体、胶体、液体、粉末、颗粒以及疏松块状材料均可外形尺寸:350×250×150(长×宽×高,mm)数据传输:USB参考标准:ASTM C1113 ASTM D5334 GB/T 10297 GB/T 11205 Jthermo探针式快速导热仪适用范围块状/片状材料:各种聚苯乙烯泡沫板(EPS)、挤塑聚苯板(XPS 板)、岩棉板、酚醛板、珍珠岩、聚氨酯发泡料、碳纤维毡等;熔融盐、石蜡、多元醇等各种无机类、有机类及复合类相变材料;胶体膏体:导热膏、灌封胶、导热脂、油漆、沥青、涂料、粘结剂、润滑脂、凝胶、果汁、粘稠溶剂、粘稠盐溶液等;粉末颗粒:各种农作物秸秆、纳米粉末/颗粒、金属粉末、碳化硅粉末、矿物粉末、氧化铝粉末、气凝胶粉末、土壤、谷物等;其他:各类土块、岩石、肉类等不规则样品等;水果、食物、生物质材料。
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  • 电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜是由德国PANCO公司与德国宇航中心联合研发的热电材料精细测量设备,该设备主要用来测量热电材料中电势和塞贝克系数的二维分布情况。集成化、自动化的设计方案使系统使用非常方便。的稳定性和可靠性彰显了传统德国制造业的优良品质。全新推出的二代电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜(PSM II)在代的基础上具有更高的位置分辨率和更高的测量精度。产品特点:+ 可以测量Seebeck系数二维分布的商业化设备。+ 的力学传感器可以确保探针与样品良好的接触。+ 采用锁相技术,精度超过大型测试设备。+ 快速测量、方便使用,可测块体和薄膜。主要技术参数: + 位置定位精度:单向 0.05 μm;双向 1 μm+ 大扫描区域:100 mm × 100 mm 典型值+ 局部测量精度:5 μm(与该区域的热传导有关)+ 信号测量精度:100 nV(采用高精度数字电压表)+ 测量结果重复性:重复性误差优于3%+ 塞贝克系数测量误差: 3% (半导体); 5% (金属)+ 电导率测量误差: 4%+ 测量速度:测量一个点的时间4-20秒应用领域:1、热电材料,超导材料,燃料电池,导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量2、测量功能梯度材料的梯度3、观察材料退化效应4、监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移5、固体电介质材料中的传导损耗6、阴材料的电导率损耗7、GMR 材料峰值温度的降低,电阻率的变化8、样品的质量监控系统组成部分+ 三矢量轴定位平台及其控制器+ 定位操纵杆+ 加热、测温探针+ 力学接触探测系统+ 模拟多路器+ 数字电压表+ 锁相放大器+ 摄像探测系统+ 带有专用控制软件和数据接口的计算机+ 样品台与样品夹具样品夹具加热测温探针部分测试数据1、塞贝克系数测量Bi2Te2.85Se0.15梯度材料表面的塞贝克系数分布(数据来源,PANCO实验室)2、接触电阻测量存在界面的样品通过该设备还可以测量出界面处的接触电阻。通过测量电阻率随针位置的变化,可以得到样品界面处的接触电阻。接触电阻可以通过连续测量界面两侧的电势分布计算得到,图中ΔR正比于接触电阻。(数据来源,PANCO实验室)全球部分用户名单:Beijing University of TechnologyCorning CompanyKorea Research Institute of Standards and ScienceShanghai Institute of Ceramics, CASGermany Air Force Research LabSimens Company Gwangju Institute of Science and Technology Hamburg University Munich University
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  • 微型探针腔室 400-860-5168转1730
    产品介绍:微型探针腔室是一种适用于检测分析材料的电学和光学特性的独特装置. 它的优势是可实现原位测量在各种环境下(如真空,温度,气体导入,湿度,光照射......)的电学和光学性能. 探针腔室操作简单方便.它可与其他检测仪器连用(如,IV测试源表、LCR表、拉曼光谱仪、AFM 、XRD ......).非常适合高校,研究所,企业研发用.产品应用:- IV测试- 光电流扫描- OPV,钙钛矿光伏电池- OLED,钙钛矿LED- 热电材料的特性- 晶体管,二极管,LED........测试- 薄膜材料的导热系数测量- 相变材料的电学/光学特性(金属氧化物、忆阻器等)- MEMS/NEMS的特性- 与拉曼光谱连用- 霍尔效应测试- 二维材料特性测试- ........主要客户:华中科技大学,武汉大学,西湖大学,陕西师范大学,中国科学技术大学......
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  • 仪器简介:该隔热材料热线法导热系数测试仪、高温导热仪用于测试定形隔热耐火制品,粉状料等材料的导热系数,非金属固体材料导热系数,参考标准:GB5990-86《定形隔热耐火制品导热系数试验方法(热线法)》。GB/T 10297-1998《非金属固体材料导热系数的测定(热线法)》,GB/T 17106-1997《耐火材料导热系数试验方法(平行热线法)》。技术参数:1.导热系数测试范围:交叉热线0.015~1.7w/m.k。平行热线:0.015~20w/m.k; 2.准确度:5%; 3.测试温度1000℃,1400℃,1600℃。(可供选择); 4.试样尺寸要求:Max230*114*65(mm); 5.计量加热功率可调节,也可有计算机控制; 6.同时实现交叉热线和平行热线法测试; 7.连接计算机实现全自动测试分析,windows 7/xp中文操作热分析应用软件; 8.在同一机器配比热容测试模块,可测定固体,粉体材料的比热容。比热容测试精度:7%到10%。 根据用户的测试要求可配置热带法测试和探针法测试方法的仪器。主要特点:仪器集交叉热线和平行热线于一体,合理的设计,由计算机实现全自动测试分析。广泛应用于科研教学,工矿企业质量检测,新材料热物性检测等。
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  • DRX-II-SPB 碳毡高温导热系数测定仪碳毡高温导热系数测定仪主要测试含碳耐火材料,耐火陶瓷纤维制品,复合材料,隔热砖及隔热板,碳毡等低导热系数材料的导热系数。该仪器基于热流计法的原理,兼配GB/T10295等相关国标要求,并作出了相应的改进,由计算机自动完成测试工作,并对各状态点进行数字化显示。亦以可人工完成测试,满足了材料检测研究部门对材料导热系数的高精度测试要求。仪器参考标准:GB/T 17911.8-2002耐火陶瓷纤维制品 导热系数实验方法 和YB/T 4130-2005耐火材料 导热系数实验方法(热流计法)。主要技术参数: 1.使用温度范围:600℃~1600℃。试样尺寸:φ120×(30-50)mm热导率测试范围:0.03~2W/m.k准确度:≤3%,重复性:≤3%全自动测试分析软件。加热方式:1600℃采用钼棒加热(钼棒为易损件)。试验腔内可充气氛和抽真空。冷极热流采用热流传感器测量。实现压力可调节:0-0.1MPa,炉体用冷却水冷却; 9.可连接上位机,全自动分析测试软件。 10.真空度:≤1000Pa;产品配置:DRX-II-SPB导热仪主机 一台控制柜数据采集器 一台冷却恒温槽 一台测试分析软件 一套高温进口热流传感器装置 一套台式计算机 一套(用户自备或代购)设备安装要求1:电源为三相四线,功率为12KW,2:试验室需要提供系统3:场地要求湿度小于80%RH4:占地面积为15平方
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  • 导热系数是导热材料(如各种导热胶、导热膏、导热脂)、保温材料(如发泡材料、多层材料、气凝胶、建筑保温材料等)、相变材料、橡胶、塑料、陶瓷、金属材料等的重要热性质之一。西安夏溪科技测试中心可提供各种材料的导热系数,对于样品的形状基本没有要求,样品可以是圆形、方形、不规则形等,样品种类包括固体片状、块状、膏体、粉末、胶体等。 测试范围:0.001~2000 W/(mK)温度范围:-30℃~1600℃测量方法:瞬态热线法、探针法、热流计法、防护平板法、激光法样品形态:片状、块状、膏体、胶体、粉末样品形状:基本没有要求,圆形、方形、不规则形均可参考标准:ASTM C1113、ASTM D5930、GB/T 10297、GB/T 11205、ASTM C117、GB/T 10294、ASTM C518、ASTM E1530、GB/T 10295
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  • C-Therm公司推出的新型三合一导热系数测试仪Trident,又称导热系数分析仪,热常数分析仪,它将高精度的改良瞬态平面源(Modified Transient Plane Source,MTPS)与灵活的瞬态平面源(Transient Plane Source,FLEX TPS)和强大的瞬态热线法(Transient Line Source,TLS NEEDLE)三种技术结合在一起。C-Therm的MTPS传感技术,使得导热系数的测试更加简单,更易进行。目前市场上没有比之更快更简便的测试导热率、热扩散率和吸热系数的方法。与其它瞬态法相比,C-Therm Trident导热系数测试仪无需进行复杂的回归分析,无需对样品进行特殊制备,不需要预先了解材料其他的性能参数,例如比热容。 产品特征:1. 广泛的温度范围:-50℃到500℃。2. 易操作,无需校准。3. 灵活性高,可用于实验室,质量控制和在线检测。4. 无需制备样品,样品尺寸不受限制。5. 适用范围广:可以测试固体,液体,粉末,胶体,各向异性材料和薄膜,且可以在各种环境中灵活操作。6. 无损测试:样品不受损坏。技术参数 MTPSFlex TPSNeedle测试方法改良瞬态平面热源法瞬态平面热源法探针法导热系数范围0 ~ 500 W/mK0 ~ 2000 W/mK0.1 ~ 6 W/mK热扩散系数范围0 ~ 300 mm2/s0 ~ 1200 mm2/s不适用比热范围~ 5 MJ/m3K~ 5 MJ/m3K不适用吸热系数范围5 ~ 40,000 Ws1/2/m2K不适用不适用精度优于1%优于1%优于3%准确度优于5%优于5%±(3%+0.02) W/mK国际标准ASTM D7984ISO 22007-2.2, GB/T 32064ASTM D5334, D5930, IEEE 442
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  • 介绍:MP-V 导热系数测量平台,可准确测量固体、液体、膏状物和粉末的热导率、热扩散率、比热和热逸散。平台由四种方法组合而成,包括瞬态平面热源法(TPS,ISO 22007-2,ISO 22007-7/ GB/T 32064),瞬态热丝法(THW,ASTM D7896-19),改良式瞬态平面热源法(MTPS,ISO22007-7)和瞬态热线法-探针式(TLS,ASTM D5334-22a,D5930, IEEE-442)。特点:瞬态方法在理论上有相似之处,但在主要设计上具有特定的差异。传感器与电源和感应电路电连接,电流通过传感器,使温度升高并随时间记录变化。产生的热量根据材料热传输特性的速率扩散到样品中。iTransient智慧化检测流程,实现测试和分析的自动化。原始数据可永久保留,以利于結果的确认及分析。只需将样品命名,一键启动后,iTransient会完成测试及数据分析的工作。方法:MP-V 可用于测试导热系数、热扩散系数、比热和热逸散系数,其主要的测试方法包括瞬态平面热源法(TPS) 和瞬态热丝法(THW),分别符合ISO以及ASTM国际标准测试法,也专为个别主要的应用设计而成。不论哪种测试方法,皆为 ”绝对测试法”,因此测试结果是根据原始数据计算,不需校准以及介质,方可直接进行测试。瞬态平面热源法 (TPS, ISO 22007-2, ISO 22007-7 / GB/T 32064)TPS(双螺旋)传感器放置在两块相同材质与尺寸的样品之间(如图1所示)。此方法中,样品假定为半无限体,Thermtest独家 iTPS 功能可协助判定测试所需时间与功率 (MP-V可选的测试时间范围为2 至 160 秒)。此外, 多样的传感器尺寸可供选择,以灵活应变不同的样品尺寸。其他可选的测试模组包括各向异性、薄膜和比热。瞬态热丝法 (THW, ASTM D7896-19)THW传测器插入液体样品置具中(如图2所示)。小直径的传测器线丝和短测试时间,可有效减少对流的影响,且提升准确度。因此,THW方法被公认且广泛被用于液体测试。改良式瞬态平面热源法 (MTPS, ISO 22007-7)MTPS 传测器(如图3所示)遵循与 TPS 相同的工作原理。此传测器配置用于非对称(单面)测试,非常适合只有单件样品可用或者不易分割之大件样品的情况。测试模组包括块体、各向异性、板材和一维,以用于不同表征的材料。瞬态热线法-探针式 (TLS, ASTM D5334-22a, D5930, IEEE-442)TLS传测器(如图4所示)由细电热丝和温度感测器所组成。测试时,只需将传测器完全没入待测样品中。 图1 图2 图3 图4方法瞬态平面热源(TPS)瞬态热丝法(THW)材料固体、膏状物和粉末液体方向3D / 1D: 各向异性、板材、薄膜整体热导率 (W/m&bull K)0.01 ~ 500 W/m&bull K0.01~2 W/mK样品尺寸*10 x 10 mm ~无上限20 mL样品厚度*0.05 mm ~无上限N/A其他属性热扩散率 | 比热 | 热逸散(蓄热系数)率热扩散率 | 比热温度范围-75~300℃-50~100℃准确率优于5%优于2%可重复性优于1%优于1%标准ISO 22007-2, ISO 22007-7/ GB/T 32064ASTM D7896-19方法改良式瞬态平面热源法(MTPS)瞬态热线法(TLS)材料固体、膏状物和粉末土壤和高分子聚合物方向3D / 1D: 各向异性、板材、薄膜整体热导率 (W/m&bull K)0.03 ~ 500 W/m&bull K0.1~8 W/mK样品尺寸*25 x 25 mm ~无上限50mm~无上限样品厚度*0.1 mm ~无上限100mm~无上限其他属性热扩散率| 比热 | 热逸散(蓄热系数)率N/A温度范围-50~200℃-40~100℃准确率优于5%优于5%可重复性优于2%优于2%标准ISO 22007-7ASTM D5334-22a, D5930, IEEE-442
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  • 简介MP-2 导热系数测量平台,用于测试固体、液体、膏状物和粉状物的导热系数、热扩散率和比热,平台由四种方法组合而成,包括瞬态平面热源法(TPS),瞬态热丝(THW,ASTM D7896-19),探针式瞬态线热源(TLS)和瞬态平面热源(TPS,ASTM D7984-21)。MP-2传感器传感器材料TPS-4固体、膏状物和粉末THW-L3液体和膏体TLS 50 mm岩石和混凝土TLS 100 mm土壤和聚合物TLS 150 mm土壤和聚合物TPS-EFF织物和面料瞬态平面热源法TPSTPS-4材料聚合物和复合材料测量功能整体性质热导率0.03~5 W / m&bull K测试时间10, 20, 40 秒重复率±2%准确率±5%温度范围10~40°C最小样品尺寸35 mm 直径 或 长宽最大样品尺寸不限传感器尺寸12.8 mm 直径测试方法瞬态平面热源法(TPS)瞬态热丝THWTHW-L3材料液体、膏体和粉末测量功能整体性质热导率0.01~1 W / m&bull K测量时间1秒再现性±2%准确率±5%温度范围10~40°C最小样品尺寸15 mL最大样品尺寸不限标准ASTM D7896-19瞬态线热源TLS(探针式)TLS 50 mmTLS 100 mmTLS 150 mm材料混凝土、岩石和聚合物土壤、膏体、粉末和固体土壤、膏体、粉末和固体测量功能整体性质整体性质整体性质热导率0.3~5 W / m&bull K0.1~5 W/m&bull K0.1~3 W/m&bull K热阻率0.2~3.3 mK / W0.2~10 mK/W0.3~10 mK/W测量时间3分钟3分钟3分钟再现性± 2%± 2%± 2%准确率± 5%± 5%± 5%温度范围-40~100℃-40~100℃-40~100℃最小样品尺寸长50 mm,直径50 mm长100 mm,直径50 mm长150 mm,直径50 mm最大样品尺寸不限不限不限标准修改後的 ASTM D5334-22ASTM D5334-22, IEEE 442-1981ASTM D5334-22, IEEE 442-2017瞬态平面热源TPSTPS-EFF材料织物、面料和固体测量功能单一维度热渗透率范围35-1700 W√s/m² K测量时间2秒和10秒再现性±2%准确率±5%温度范围-10-50℃最小样品尺寸直径35mm*厚度 取决于热渗透率最大样品尺寸不限湿度范围0-90%(无凝结)传感器直径30mm标准ASTM D7984-21测试方法瞬态平面热源
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  • 湘潭湘科DRP-II导热系数测试仪(平板稳态法) 一、 概述测量热导率的方法大体上可分为稳态法和动态法两类。本测试仪采用稳态法测量不同材料的导热系数,其设计思路清晰、简捷、实验方法具有典型性和实用性。测量物质的导热系数是热学实验中的一个重要内容。本测试仪由加热器、数显温度表、数显计时器等组成(采用一体化设计)二、 技术参数 1、电源:AC 220V 50HZ2、热源:加热铜块,采用36V安全电压加热3、测试材料:硅橡胶、胶木板、珍珠岩、金属铝、空气等,加围框可做颗粒状、粉状、胶状材料。4、测量温度范围:室温~110℃,精度±1℃;5、计时部分:范围0~999.9s;分辨率0.1s;6、 导热系数测量精度:≤10%7、试样尺寸:Φ130×(1-100)mm8、导热系数测试范围:0.1~300w/mk
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  • 多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-5~2×106Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.1%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原 FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-4~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-5~2×104Ω-cm3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.2%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原
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  • 湘潭湘科DRS系列高温导热系数测试仪(防护热流计法)一、概述本仪器是从我厂DRS-2水流量平板法导热系数测试仪基础上发展而成的保温材料高温导热系数测试仪器。与DRS-2比较,提高了分辩率和自动化程度,缩短了测试时间,维护更容易,仪器性能更可靠。本仪器适用于耐火保温、陶瓷纤维、毡、纺织物、板、砖等材料在不同温度下导热系数的测试。广泛应用在大中院校,科研单位,质检部门和生产厂的材料分析检测。本仪器参考标准:ASTM C518-04用热流计法测定稳态热通量和热传递特性的试验方法;ASTM C182-88(2004)隔热耐火砖导热系数的标准测试方法;ASTM C202-93(2004)耐火砖导热系数的标准测试方法;ASTM C417-05不定形耐火材料导热系数的标准测试方法;ASTM C201-93(2004)耐火材料导热系数的标准测试方法;GB10295-88绝热材料稳态热阻及有关特性的测定(热流计法);YB/T 4130-2005耐火材料 导热系数试验方法(水流量平板法);GB/T 17911耐火陶瓷纤维制品 导热系数实验方法等。二、主要技术参数 DRS系列仪器主要用于高温下绝热保温材料的导热系数检测。DRS-3B具有防止样品氧化的真空气氛保护功能。仪器型号规格DRS-3DRS-3ADRS-3B1、导热系数范围0.0100-2W/mk0.0100-2W/mk0.0100-2W/mk2、测试精确度±5%±5%±5%3、热面温度范围100-1200℃100-1200℃100-1200℃4、量热控温方式恒温水槽半导体制冷半导体制冷5、护热控温方式半导体制冷半导体制冷半导体制冷6、量热板尺寸100×100(mm)100×100(mm)100×100(mm)7、热流计尺寸100×100(mm)100×100(mm)100×100(mm)8、试样测温点数4449、试样气氛环境空气空气-0.095MPa;气氛保护10、试样尺寸230×230~250×250(mm);厚度10~100(mm)11、测量控制方式计算机全自动测试、数据处理,并可生成检测报告,打印输出。12、主机电源电压220V;频率50Hz;总功率≤5KWDRS-4和DRS-4A均为电动加压和自动测厚,区别是DRS-4热板采用耐热不锈钢,使用温度稍低,而DRS-4A热板采用碳化硅,耐压能力稍低,而且厚度测量需多一套厚度修正系统,但热面使用温度更高。仪器型号规格DRS-4DRS-4A1、导热系数范围0.01-2W/mk0.01-2W/mk2、测试精确度优于5%优于5%3、热面温度范围200-800℃200-1200℃4、量热控温方式半导体制冷半导体制冷5、护热控温方式半导体制冷半导体制冷6、量热板尺寸100×100(mm)100×100(mm)7、热流计尺寸100×100(mm)100×100(mm)8、试样测温点数449、加卸载方式电动电动10、压力范围0-1000(N)0-500(N)11、测厚范围0-120(mm)0-120(mm)12、厚度修正实验修正位移计即时修正13、试样气氛环境空气空气14、试样尺寸230×230~250×250(mm);厚度10~100(mm)15、测量控制方式计算机全自动测试、数据处理,并可生成检测报告,打印输出。16、主机电源电压220V;频率50Hz;总功率≤5KW 注:另可根据用户要求订做热面温度1500℃规格。
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  • MicroSet 8X探针式植物茎流(液流)测量系统用途:MicroSet 8X探针式植物茎流(液流)测量系统用于自动监测树木的茎流量来确定植物的水分消耗,适用于茎杆直径在12厘米以上的树木。采用模块化设计,连接安装方便,和其他茎流测量系统对比的优点是具有可以直接计算出茎流量的特点,而不需要后期的人工数据计算。工作原理树木茎流测量系统根据热平衡原理(THB):输入能量等于散失的传导热与茎流温度的升高,具体公式如下:P = Q dT cw + dT z 公式中P为输入能量(W),Q为茎流速度(Kg.sec-2),dT为测量点温度差(K),cw为水的比热(J.kg-1.K-1),z为测量点传导热丧失系数(W.K-1)。HB法不需要任何校准,测量的茎流为kg/hr。技术参数:MicroSet 8X茎流测量模块常规供电电压12 VDC启动电压11.7 V断开电压10 V最大工作电压16 V最大承受电压60 V最大耗电约400 mA平均效率优于90%加载电阻范围200 Ω~25 KΩ加热电压1 kHz,非正弦,最大150 Vef @25 kΩ平均耗电日平均约20 mA~50 mA(视茎流速率)预设温度差异1、2或3K工作范围7~16 V存储容量约120000个读数(茎流速率和茎干生长记录间隔10分钟约可保存1年)内存类型非丢失性备份电池SAFT 14250电池用于内部时钟备份电池电量10年通讯方式红外线工作温度-20~+50℃重量约0.5 Kg尺寸160×80×60毫米SF 81茎流传感器测量单位茎流Kg/h,茎干生长cm测量范围0~0.25 Kg/h/cm加热技术木质部组织直接加热电极片60、70和80毫米长三种不锈钢片,宽度25毫米,厚度1毫米电极片间距20毫米温度传感器T型热电偶温度传感器排列每个电极片中间插入1根直径1毫米的温度传感器探针温度控制三个电极片的平均值
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  • 四探针测试仪FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购. 规格型号FT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方块电阻范围10-5~2×105Ω/□10-4~2×103Ω/□10-3~2×105Ω/□10-3~2×103Ω/□10-2~2×105Ω/□10-2~2×103Ω/□2.电阻率范围10-6×106Ω-cm10-5×104Ω-cm10-4~2×106Ω-cm10-4~2×104-cm10-3~2×106Ω-cm10-3~2×104-cm3.测试电流范围0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式普通单电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W 9.整机不确定性误差≤4%(标准样片结果)10.选购功能选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;与智慧之原 四探针测试仪四探针测试仪
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  • 导热系数仪 400-801-8116
    产品介绍:DZDR-S导热系数仪是南京大展检测仪器生产一款瞬态热源法导热仪,是一种测量样品(固体、液体或粉末)的导热系数随温度的函数关系的仪器。采用全新的外形设计,简约小巧,具有测量速度快,操作简单,应用范围广等优势。测试方法:瞬态平面热源技术(TPS)开发的导热系数测试仪,可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。在研究材料时能够快速准确的测量导热系数,为企业质量监控、材料生产以及实验室研究提供了很大的方便,可以选配有粉末测试容器、液体杯。性能优势:1.直接测量,测试时间5-160s左右可设置,能快速准确的测出导热系数,节约了大量的时间。2.不会和静态法一样受到接触热阻的影响。3.无须特别的样品制备,对样品形状并无特殊要求,块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可;4.对样品实行无损检测,意味着样品可以重复使用。5.探头采用双螺旋线的结构进行设计,结合专属数学模型,利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算。6.样品台的结构设计巧妙,操作方便,适合放置不同厚度的样品,同时简洁美观;7.探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片,该芯片的高分辨率,能使测试结果更加准确可靠。8.主机的控制系统使用了ARM微处理器,运算速度比传统的微处理器快,提高了系统的分析处理能力,计算结果更加准确。9.仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定。技术参数:测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃探头直径一号探头7.5mm;二号探头15mm;三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率<500w测试样品功率P 一号探头功率0;二号探头功率0样品规格一号探头所测样品(≥15*15*3.75mm)二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)(选配,也可以定制其他规格)定制粉末测试容器一套
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  • 产品介绍:DZDR-S导热系数测试仪是南京大展仪器推广一款采用瞬态热源法的热分析仪器,具有测量速度快,能够在5~160s计算出导热系数,并且测量范围广泛,可对液体、固体、金属、粉末、薄膜、膏体和胶体等样品进行测量,双向控制系统,仪器与计算机双向操作,触摸屏显示,清晰度高。测试方法:瞬态平面热源技术(TPS)开发的导热系数测试仪,可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中最新型的一种,它使测量技术达到了一个全新的水平。在研究材料时能够快速准确的测量导热系数,为企业质量监控、材料生产以及实验室研究提供了极大的方便,可以选配有粉末测试容器、液体杯。测试范围:瞬态法(非稳态法)是一种可测试固体,粉末和流体的导热系数测试方法,金属、陶瓷、合金、矿石、聚合物、复合材料等都是瞬态法的可测试范围。性能优势:1.测试范围广泛,测试性能稳定;2.直接测量,测试时间5-160s左右可设置,能快速准确的测出导热系数,节约了大量的时间;3.不会和静态法一样受到接触热阻的影响;4.无须特别的样品制备,对样品形状并无特殊要求,块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可;5.对样品实行无损检测,意味着样品可以重复使用;6.探头采用双螺旋线的结构进行设计,结合专属数学模型,利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算;7.样品台的结构设计巧妙,操作方便,适合放置不同厚度的样品,同时简洁美观;8.探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片,该芯片的高分辨率,能使测试结果更加准确可靠;9.主机的控制系统使用了ARM微处理器,运算速度比传统的微处理器快,提高了系统的分析处理能力,计算结果更加准确;10.仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定;11.智能化的人机界面,彩色液晶屏显示,触摸屏控制,操作方便简洁;12.强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统。DZDR-S 导热系数测试仪的技术参数:测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃(可定制)探头直径一号探头7.5mm;二号探头15mm;三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率<500w测试样品功率P 一号探头功率0;二号探头功率0样品规格一号探头所测样品(≥15*15*3.75mm)二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)(选配,也可以定制其他规格)定制粉末测试容器一套DZDR-S 导热系数测试仪的操作步骤:
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  • MicroSet EMS81探针式植物茎流测量系统名称:探针式植物茎流测量系统 型号:EMS81 产地:捷克用途:MicroSet 8X探针式植物茎流测量系统是评估树木水分状况的常用工具。基于可变功率和恒定 dT 的组织热平衡 (THB) 的方法来自动监测树木的茎流量来确定植物的水分消耗,适用于茎杆直径在12厘米以上的树木。采用模块化设计,连接安装方便,和其他茎流测量系统对比的优点是具有可以直接计算出茎流量的特点,而不需要后期的人工数据计算。工作原理:树木茎流测量系统根据热平衡原理(THB):输入能量等于散失的传导热与茎流温度的升高,具体公式如下:P = Q dT cw + dT z 公式中P为输入能量(W),Q为茎流速度(Kg.sec-2),dT为测量点温度差(K),cw为水的比热(J.kg-1.K-1),z为测量点传导热丧失系数(W.K-1)。HB法不需要校准,测量的茎流为kg/hr。 特点:红外无线数据接入;Mini32 软件支持;恒温差可调至1、2或3K;基于具有可变功率和恒定 dT 的组织热平衡 (THB) 方法; 技术规格MicroSet 8X茎流测量模块常规供电电压12 VDC启动电压11.7 V断开电压10 V最大工作电压16 V最大承受电压60 V最大耗电约400 mA平均效率优于90%加载电阻范围200 Ω~25 KΩ加热电压1 kHz,非正弦,最大150 Vef @25 kΩ平均耗电日平均约20 mA~50 mA(视茎流速率)预设温度差异1、2或3K工作范围7~16 V存储容量约120000个读数(茎流速率和茎干生长记录间隔10分钟约可保存1年)内存类型非丢失性备份电池SAFT 14250电池用于内部时钟备份电池电量10年通讯方式红外线工作温度-20~+50℃重量约0.5 Kg尺寸160×80×60毫米SF 81茎流传感器测量单位茎流Kg/h,茎干生长cm测量范围0~0.25 Kg/h/cm加热技术木质部组织直接加热电极片60、70和80毫米长三种不锈钢片,宽度25毫米,厚度1毫米电极片间距20毫米温度传感器T型热电偶温度传感器排列每个电极片中间插入1根直径1毫米的温度传感器探针温度控制三个电极片的平均值
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  • Tci导热系数仪 400-860-5168转3842
    Tci导热系数仪C-therm公司新代专利技术产品TCi将测量热导率和蓄热系数的功能提高了更高水平。它可以简便、精确、无损地进行热物性测试,为实验室研究、工厂质量控制及生产监测提供了极大的方便。该测试仪使用前不需要标定,并且对试样没有严格的要求,测试时间仅需5秒,不仅具备宽广的温度适用范围( -50℃-200℃),同时具备极大的测试量程( 0-220W/mK)。 Tci导热系数仪可配备1或2个探头,以提高用户的测式效率。仅5秒,就可以实现固体、液体、粉体和胶体的精准测试,这是其他产品无可比拟的。由于测试过程中样品不造成任何损坏,样品在测试后仍旧完好无损且可重复使用。测试环境不受任何限制,可在热处理室、高压容器及手套箱内操作。 工作原理:给仪器的传感器探头一个既定的电流,会产生微小的热量变化。这将会使样品与传感器界面处的温度开高,从而导致传感器元件的电压降出现变化。根据传感器电压升高的速率即可判断样品的热物性。其热物性与电压变化成反比。即样品材料的绝缘性能越好(比如泡沫),电压的升高速率越快。测试结果将在系统自带的牧件上实时展现出来。 工作方法:TCi导热系数仪的应用原理为革新的瞬态平面热源法。其使用一个与样品界面接触的单面热反射探头为样品提供一个瞬态的热源, 然后用其配备的数据模型对样品的热导率及器热系数进行直接的测量和分析,使样品的热物性实现直观的,全面的呈现。 技术参数:导热系数测量范围0 to 500 W/mK测量时间0.8 到 3 秒最小测试样品尺寸0.67" (17mm) 直径最大测试样品尺寸不限最小测试样品厚度通常0.02" (0.5mm),取决于测试物体的热传导性最大测试样品厚度不限温度范围-58o到 392oF (-50oC到 200oC),可拓展至500oC精确度一般优于1%准确度优于 5%额外安装要求无软件Windows环境下直观简易的软件操作界面。测试结果可导入Microsoft Excel。附加功能可提供间接测量如下材料属性:热扩散值比热容密度电源110-230 VAC 50-60 Hz质量认证FCC,CE,CSAASTM标准ASTM D7984-16(改良的瞬态平面热源法-MTPS)
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  • TCT-S2导热系数测定仪材料的热导率是研究材料物理性能的一个重要参数指标,在航空、原子能、建筑材料、非金属材料等工业部分都要求对有关材料的热导率,进行预测或实际测定。该仪器基于瞬态平面热源法的原理,以及相关国标要求,并做出了相应的改进,由计算机自动完成测试工作。满足了材料检测部门对材料导热系数的高精度测试要求。仪器参考标准:ISO 22007-2 2008一、仪器简介TCT-S2是利用瞬态平面热源技术(TPS)开发的导热系数测定仪,可用于各种不同类型材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能中精确、方便、快速的一种方法。它是一种新技术,在研究材料时能够快速准确的测量热导率。该方法采用双螺旋结构的平面探头(如下图),用合金薄片刻蚀而成。测量时,平面探头要放置在两个样品之间(如下图),探头既是热源,又是传感器。测量样品时,利用惠斯通电桥的原理来检测探头上电压的变化,然后把采集的数据送给上位机软件分析处理,最后得到导热系数。 主要技术参数和测试要求1、测试范围:0.005—300 W/(m*K)2、探头直径:7.5mm和15mm3、测试精度:±5%4、重复性误差:≤5%5、测试时间:5~160秒6、电源电压:AC 220V7、整机消耗功率:﹤500W8、测量温度范围:室温~130℃(可以根据需求选配最低达-20℃的低温系统)测试要求:1、样品制样 要求平整光滑,样品直径大于3cm;2、样品放在夹具并夹紧,探头处在中间位置;3、如果有标准样品可进行仪器系数的校准,然后再测试;4、每次试验最好设置相同的功率和基准;5、每次实验最好间隔20分钟以上;相同测试条件下记录5组数据,去掉最大和最小值,剩下3组取平均值测得样品的导热系数。三、仪器特点1:测试材料范围广泛,可用于固体、液体、膏体等材料的测定,测试性能稳定;2:无须特别的样品制备,对样品形状并无特殊要求,只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可,至于单片样品的厚度可以参考表2;3:先进的控制系统。内部采用ARM微处理器对系统进行控制,仪器工作效率更加高效。四、仪器界面功能键说明触摸键设置,为客户提供更方便的操作方式。开机进入操作界面,在主界面下有【设定时间】【调节功率】【调节基准】【环境温度】等显示。点击【设定时间】,进入子界面可以设定测量时间,该仪器可设定的测量时间为5S、10S、40S和160S,设置结束后点击【OK】,(不同待测材料的时间选择可参考表格)。点击【选择探头】,进入子界面可以看见【探头型号】【探头阻值】栏,该界面下,可以选择探头型号,计算所使用的探头阻值,使用功率旋钮调节实验所需的功率,设置结束后点击【确定】,进入主界面(不同待测材料的功率选择可参考表格)。【设定时间】和【调节功率】设置完毕后,点击 主界面下的【调节基准】,根据实验要求使用基准旋钮调节即可,该功能主要是防止上位机软件显示曲线时溢出。【环境温度】显示当前仪器内的温度。主界面设置完成后,打开上位机软件,此时即可进行材料的热导率测量,点击【开始Run】进行测量,主机数据采集完成后,主机会把数据自动传送给上位机的软件,伴随着主机中蜂鸣器的响声,此时上传数据完毕。利用上位机软件进行数据的分析处理,得到待测材料的导热系数。测试完毕后,关闭上位机软件,关闭主机电源。五、软件安装操作说明1、软件安装双击出现如下界面,单击下一步。选择同意许可协议的条款,点击下一步。输入名称,点击下一步。选择安装路径,点击下一步。创建快捷方式文件夹,点击下一步。确认信息,点击下一步。安装成功,点击完成。安装结束,桌面自动出现快捷方式。2、软件卸载选择开始 — 程序 — 导热系数测定仪—卸载。卸载界面出现,点击下一步卸载结束,点击完成。卸载完成后,桌面快捷方式自动删除。3、软件使用打开软件,进入主界面。主界面如下图所示:打开设备,并插上数据线,选择菜单栏中的“设置”-“通信连接”,如下图所示联接成功,状态栏会显示:此时设备已经联接到计算机,可用软件接收对其进行控制和数据处理。如果设备未连接,则会弹出联接失败对话框:请检查设备是否连接到计算机。开始实验前,请填好以下信息。输出功率、探头电阻值见主机。选择菜单栏中的“绘图”——“开始绘图”,或者点击图标进行试验,如下图所示:此时在设备上选择测量时间、功率,点击开始。测量完成时,设备向PC机发送数据,软件接收数据,如下图所示此时实验信息中会显示测量时间、采样间隔等实验数据,如图所示:试验数据显示在“记录数据”区。“平均数据”区显示试验数据的平均值。选择菜单栏中的“绘图”——“结束绘图”,或者点击图标停止试验,如图所示:软件停止测试。状态栏显示如图所示此时点击“数据分析”---“导热系数”软件自动计算材料的导热系数。显示在“实验信息”---“导热系数”一栏中。计算时间从几秒钟到几分钟不等,请耐心等待。分析数据时请不要进行其他相关操作,可使分析过程快速完成。计算完成后,弹出下图窗体,点击确定按钮。实验信息中显示计算结果。点击“数据分析”——“仪器系数”弹出如图所示: 输入理论和实测导热系数,点击“计算”,得到仪器系数。结果同时出现在实验信息栏中。选择菜单栏中的“绘图”——“清空绘图”,或者点击图标清空绘图。如图所示:4、数据保存选择菜单栏中的“文件”——“保存” ,或者点击图标保存绘图。如图所示:选择保存后,会弹出保存界面,用户可以根据自己需要在输入保存的文件名,选择保存地址,数据会以txt文本格式保存,同时保存一同名的excel文件。如图所示:数据保存成功完成后,会弹出对话框提示保存成功,如图所示:5、打开数据文件选择菜单栏中的“文件”——“打开” ,或者点击图标打开文件。如图所示:选择打开后,会弹出打开界面,用户可以选择要进行的数据处理的文件打开,如图所示:6、退出程序选择菜单栏中的“文件” ——“ 退出” ,或者点击图标,会弹出是否退出程序的对话框,点是则退出程序,对话框如图所示:选择“是”后将会退出程序。表1:(实验参数设置条件)金属合金致密陶瓷不锈钢陶瓷聚合物绝缘材料导热系数[w/(mk)]17040141.50.190.028温升△T(K)1.02471012实验时间(s)5101040160160测试功率(w)10751.20.20.023探头型号1号××××√√2号√√√√√√表2:(导热仪探头型号适用条件参考)时间(S)导热系数[w/(mk)] (注3)探头型号0<d<r1r1≤d≤r2r2<d(注2)温升△T(K) (注4)160≤0.2*1号√√√√10~152号××√>0.2*0.2~0.42号(注1)√√√√√8~10400.4~25~8102~1002~55>1001~2注:1、导热系数>0.2此栏,探头型号只能选择2号探头2、d是单片样品的厚度;r1是1号探头半径(3.75mm);r2是2号探头半径(7.5mm);“√”代表可以测试;“√√”代表样品叠加测试,“×”代表不可以测试,“*”代表经验值,该值由实验试测分析得到。3、该导热系数为经验值;4、具体温升根据实际测试状态选定,包括探头、仪器等因素。六、实验步骤1、预热首先观察拿到的样品,要使被测样品的表面保持平整光滑。预热过程:把探头放置在两个待测样品之间,利用弹簧架将探头压紧,且确保探头置于样品中心位置。将主机的电源线和与电脑之间的连接线接好。把功率旋钮逆时针旋到底,然后打开主机电源通电30分钟,在软件中设置与仪器的通信连接,并连接成功。 这段时间内不作任何操作;2、预测试预测过程:预热过程结束以后,可先对样品进行预测,从而确定样品导热系数的大致范围。首先用2号探头对被测样品进行预测。测量时间设置为160S,然后单击OK,时间设置完成;设置计算探头电阻,然后把功率调到最小,再调节曲线基准(测试时间为160S时,调至0.02-0.03之间;测试时间为40S时,调至0.03-0.05之间;测试时间为10S时,调至0.05-0.07之间;测试时间为5S时,调至0.07-0.10之间;)待主机参数设置后,不断点击探头阻值后的计算按钮直至探头阻值不发生变化并保持稳定为止;(设置样品的测试参数)在计算机软件中将仪器设置的数据输入进计算机中。根据预测的实验数据确定所用探头型号,如果样品大致的导热系数小于0.2就用1号探头进行测试,如果样品的导热系数大于0.2可以使用2号探头进行测试。用1号探头测试的样品其测试软件中的TCR设置为0.009,用2号探头测试的样品其测试软件中的TCR设置为0.005。为保证探头的安全性,1号探头的功率不能超过0.4W,2号探头的功率不能超过14W。按主机上功能键设置的参数填写软件,;然后开始测量,等到主机的蜂鸣器响起,此时主机上传数据结束;测试结束静置10分钟以后,即可进行正常的实验测试;3、测试预测试结束后,多次重复上述测试步骤,得出有关结果。注:在软件设置中1号探头设置TCR为0.009;2号探头设置TCR为0.005。4、结果根据要求操作上位机软件,分析得到待测材料的导热系数。探头使用注意事项:1、探头不能在没有接触样品的情况下测试,以免造成探头永久性损坏;2、测试中功率不能无限加大,否则会有烧毁探头的风险。3、仪器在使用前和结束后都应当将功率调节最小,防止仪器开启时功率过大损伤探头注 1、多次实验时,前后时间间隔不少于5分钟;2、实验开始前功率旋钮一定要逆时针旋到底,遵循功率由低到高进行调节;3、由于上位机软件自身算法的需要,建议软件连续运行不超过3小时,如超过需关闭软件然后重新打开运行。七、系统配置1、测试主机一台2、测试探头一号、二号各一个3、样品支架一台4、电源线一根5、保险丝5只6、测试软件(含专用数据线,数据U盘一张)7、仪器说明书,实验案例、出厂合格证、保修卡各一份(客户自配计算机(USB插头))
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  • 湘潭湘科DRPL-II系列导热系数测试仪(防护平板热流计法)一、 概述 本仪器采用国际上流行的热流计检测导热系数方法,配计算机实现全自动检测,是在我公司原DRPL-1基础上重新优化设计而成,适应各种常见材料导热系数的测试要求。本仪器基于稳态平板法测试原理,在热面加入稳定的热面温度,热量通过试样传递到冷面,测量传递的热流,再根据试样的厚度和传热面积可计算导热系数和热阻。此测试方法简便,快捷,重复性好。非常适用于材料传热方面的研究和开发。可用于塑料、橡胶、石墨、保温材料等测试,广泛应用在大专院校、科研院所、质检、厂矿。本仪器参考标准:ASTM E1530-06用保护的热流计技术评定材料的耐传热性能的测试标准、GB/T29313-2012电气绝缘材料热传导性能试验方法、ASTM C518-04用热流计法测定稳态热通量和热传递特性的试验方法;GB10295-2008绝热材料稳态热阻及有关特性的测定(热流计法)。二、主要技术参数序号主要参数DRPL-2DRPL-2ADRPL-2BDRPL-2C1导热系数范围板状样0.015-5W/mk;圆柱状样3-500W/mk5-1000W/mk2测试精度优于5%优于4%优于4%优于5%3热板温控室温—99.99室温—150.00或室温—300.00室温—150.00或室温—300.00室温—150.00或室温—300.004冷面温度强制风冷强制风冷恒温槽(根据温度选配)恒温槽(根据温度选配)5测试面尺寸150*150φ60(或φ80)φ60(或φ80)装夹样品宽606实验时间约3小时约3小时约1.5小时约1.5小时7护热装置无有有有8热流量范围0.5-2000W/m2,分辫率0.25 W/m2。9测控系统计算机自动测试10电源220V;50Hz;功率小于1KW(不含恒温槽)11热流计采用WPY热流计,热流参数23.26w/m2*mV。12其它采用有机玻璃防风罩,可直接观察实验过程。13配置含DRPL-2测试主机壹台,软件壹套,有机玻璃防风罩壹个,需方自备电脑及打印机。含DRPL-2A测试主机壹台,软件壹套,有机玻璃防风罩壹个,需方自备电脑及打印机。含DRPL-2B测试主机壹台,软件壹套,有机玻璃防风罩壹个,高精度恒温水槽壹台,需方自备电脑及打印机。含DRPL-2C测试主机壹台,软件壹套,有机玻璃防风罩壹个,高精度恒温水槽壹台,装样夹具壹套,需方自备电脑及打印机。注:DRPL-2C型号仪器是专测高导热薄板样(金属片、石墨片等)的仪器。
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  • 产品介绍:DZDR-S瞬态法导热系数测试仪是南京大展仪器生产的一款热分析仪器,采用瞬态热源法,具有测量速度快,测试广泛广,采用双向的控制系统,操作便捷,并且配有软件分析,可以直接出数据报告,采用全新的外形设计,简约小巧。测试方法:DZDR-S瞬态法导热系数测试仪采用的是瞬态平面热源技术(TPS),可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种,它使测量技术达到了一个新的水平。测试范围:DZDR-S瞬态法导热系数测试仪可测量块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等不同材料。性能优势:1、测量方法。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪采用非稳态法中的瞬态热源法,与其他测试方法相比,测量速度更快,准确性高。2、测量速度快。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪能够在5~160s内测量出导热系数,提升实验的效率。3、多功能性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪适用于不同类型材料的导热系数测试,其中包括:液体、固体、金属、膏体、胶体、薄膜、粉末和复合材料等等,适用性广泛。4、易用性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪采用双向操作控制系统,仪器和计算机同时操作,彩色触摸屏操作,使得使用和操作设备变得简单和便捷。5、数据准确性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪拥有配套的分析软件,能够提供准确可靠的导热系数测试数据,可直接提供数据报告。6、重复性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪对样品实行无损检测,样品可以重复使用。技术参数:测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃(可拓展到-40~300℃)探头直径一号探头7.5mm;二号探头15mm;三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率<500w测试样品功率P 一号探头功率0;二号探头功率0样品规格一号探头所测样品(≥15*15*3.75mm)二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)(选配,也可以定制其他规格)定制粉末测试容器一套
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  • 产品介绍:DZDR-S导热系数分析仪是南京大展检测仪器推出一款采用瞬态法的导热仪,测量速度快,能够在5~160s之内计算出结果,这对液体、固体、金属等材料进行材料,满足不同材料的测量,并且外形设计,简约小巧,操作简单优势。测试范围:DZDR-S导热系数测试仪可测量块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等不同材料。测量方法:DZDR-S导热系数测试仪采用的是瞬态平面热源技术(TPS),可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种,它使测量技术达到了一个新的水平。性能优势:1、快速准确。导热系数测定仪通过测量材料两侧的温度差和传热面积,结合精温度传感器和数据采集系统,可以快速准确地计算出材料的导热系数。2、操作简便。采用的是双向操作的系统,配有分析软件,可以在实验的过程中,采集数据处理功能,操作简单方便。3、测试范围广泛。可以适应不同性质和种类的材料测试,包括金属、液体、膏体、胶体、复合材料等。4、无损检测。导热系数测定仪对样品实行无损检测,不会对样品造成损伤,可以重复使用样品。5、良好的耐用性和稳定性:导热系数测定仪采用高品质的材料和制造工艺,具有较长的使用寿命和良好的稳定性,可以满足长期使用的需求。6、广泛的应用领域。这款导热仪的应用范围广,在如材料科学、物理学、化学、机械工程等。技术参数:测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃(可拓展到-40~300℃)探头直径一号探头7.5mm;二号探头15mm;三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率<500w测试样品功率P 一号探头功率0;二号探头功率0样品规格一号探头所测样品(≥15*15*3.75mm)二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)(选配,也可以定制其他规格)定制粉末测试容器一套
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  • 湘潭湘科DRJ-II金属高温导热系数测试仪该仪器采用试样直接通电纵向热流法,适用于80°~900℃温度范围内测量金属无相变温度下的导热系数,由计算机自动完成测试。满足了材料检测研究部门对金属材料导热系数的测试要求。仪器参考标准:GB/T3651-2008《金属高温导热系数测量方法》。主要技术指标1、 导热系数测试范围:1~500W/mK;2、 准确度:优于5%;3、 对实验温度实现可控状态下的测试,电炉最高温度1000℃;4、 电源:220V,50HZ;5、 连接上位机,实现计算机自动测试、实现数据打印输出;6、 试样尺寸要求:棒状试样:Ф3-5×220(mm)丝状试样:Ф1-3×20-45(mm)
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  • 一、导热系数测定仪DR3030荣计达仪器产品概述:导热系数是用来衡量耐热材料的导热特性和保温性能的重要参数,导热系数测定仪用于测定材料在不同温度状态下的导热系数。二、导热系数测定仪DR3030荣计达仪器适用标准:GB/T 10294-2008 《绝热材料稳态热阻及有关特性的测定》GB/T 3399-1982 《塑料导热系数试验方法—护热平板法》GB/T 10801.1-2002 《绝热用模塑聚苯乙烯泡沫塑料》GB/T 10801.2-2002 《绝热用挤塑聚苯乙烯泡沫塑料(XPS)》GB/T 3139-2005 《纤维增强塑料导热系数试验方法》GB/T 17794-2008 《柔性泡沫橡塑绝热制品》三、智能型导热系数测定仪型设计原理:在冷板、热板和护板达到稳态热平衡的条件下,按照一维稳态传热方程, 热板加热器产生的热量通过试件传递到冷板,并由冷板的循环水等介质传递到系统外,形成了一个热力循环。 该循环的热力方程式如下:式中: ——加热单元计量部分的平均加热功率,单位为瓦(W);d ——试件平均厚度,单位为米(m); ——试件热面温度平均值,单位为开(K); ——试件冷面温度平均值,单位为开(K); A ——计量面积,单位为平方米(m2)。导热系数测定仪校准规范四、应用领域:该仪器属于建筑材料节能检测类仪器。该仪器可以广泛用于耐热和保温材料的生产企业、相关质量检验部门和单位、高等院校和研究所等科研单位。主要测试的材料有:1、外墙保温材料:硅酸盐保温材料、陶瓷保温材料、胶粉聚苯颗粒、挤塑板XPS、硬泡聚氨酯保温板、发泡水泥板和A级无机防火保温砂浆等。2、屋面材料:陶瓷保温板、XPS挤塑板、EPS泡沫板、珍珠岩及珍珠岩砖、蛭石及蛭石砖和发泡水泥等。3、热力、空调材料:酚醛树脂、聚氨酯防水保温一体化、橡塑海绵、聚乙烯、聚苯乙烯泡沫、玻璃棉和岩棉等。4、钢构材料:聚苯乙烯、挤塑板、聚氨酯板和玻璃棉卷毡等。5、无机保温材料:发泡水泥等。选配仪器:制样机 养护箱 干燥箱 绝热材料导热系数参比板 电子天平导热系数测定仪操作规程五、产品特点:机械结构部分箱体外观:外观质量优异,机械强度高,耐腐蚀。测量准确度高:双试件式设计,避免因系统的误差导致材料的导热系数的偏差。设备灵活性高:箱体底部采用脚轮设计。电子硬件部分控制核心采用进口OMRON(欧姆龙)可编程逻辑控制器CPU单元及其配套温度扩展模块,抗干扰能力强,稳定性高。执行器采用施耐德新型固态无触点开关器件隔离控制,可靠性高、噪音低、开关速度快。数据接口采用计算机标准RS-232串行端口,数据稳定,可靠性高,使用方便。控制方法为PID控制,通过软件自整定调节PID参数,保障了控温精度。软件部分软件界面友好,操作方便。软件控制系统包括自动控制和手动控制两种方式。自动控制方式可以自动控制设备运行、自动检测、自动采集、自动显示试验曲线、自动完成试验,同时还可以自动生成测试结果、自动生成检测报告等。手动控制方式有助于设备的调试功能。应用部分测试主机与制冷设备的独立分离设计,减少干扰,便于维护。在线测量厚度,在恒定的压力状态下,其数值在数显表上直接显示。测试时间短,常规的测量时间为(120-150)min。测量的范围大,量程(0.001-2.000)W/(mK)。全温度测量,可以自行测试温度范围内的任一点温度的导热系数。在线计量校准程序-我公司采用独有的技术,可同时标定温度、标定系统误差,准确、快速,方便计量检定。六、技术参数:试件标准尺寸:300mm×300mm×H(5~40) mm;2、试件平整度:0.1mm;3、导热系数测量范围:(0.001—2.000)W/ (m&bull K);4、热阻测量范围:≥0.02 m2K/W;5、导热系数测量精度:±3%;6、导热系数测量重复性:±1%;7、温度分辨率:0.01℃;8、试验室温度:(15—30)℃,标准温度(23±2)℃;9、试验室湿度:(20—80)%RH,标准(40—60)%RH;10、电源电压:AC 220V±10%, 2.5KW;11、标准厚度:25mm;12、夹紧力:≤2.5kPa;13.常规测试时间:(120-150)min;14.控制核心采用进口欧姆龙PLC;15.控温范围:-5℃—95℃;*16.触摸屏工控机嵌入在仪器上,节省空间。*17.冷板控温采用自制恒温槽,软件自动控制。*18.制冷核心部件采用进口丹弗斯压缩机。*19.电子尺自动读取试件厚度到软件。*20.电路部分控制器采用日本欧姆龙PLC。*21.温度采集模块采用24位高精度模块。*22.热板控温电源功率精度0.00001w。试验室环境要求电源电压:AC 220V±10%, >2.5KW,安全接地线;试验室温度:(15—30)℃,推荐温度(23±2)℃;试验室湿度:(20—80)%RH,推荐(40—60)%RH;试验设备占地空间:2.3m×1m×1.2m;试验室门尺寸:>0.9m。
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  • 硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层,方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量,但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件,测量两内操针之间的电位差,引人与试样几何形软有关的修正因子,计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜,高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件,其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5",测量装置测量装置的典型电路叉图1,范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。
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  • 四探针电阻测试仪 400-860-5168转6231
    导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件,其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5",测量装置测量装置的典型电路叉图1,范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层,方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量,但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件,测量两内操针之间的电位差,引人与试样几何形软有关的修正因子,计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜,高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.
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  • 仪器简介:改良的瞬态平面热源(MTPS)测试方法导热系数仪,加拿大C-therm公司荣誉出品. 适用固体,液体,粉末,胶体的快速精确非破坏性测试. 其技术荣获R&D100大奖. 主要用户有美国海军弹药研究中心,美国陆军弹药研究所,加拿大自然资源协会, 澳大利亚国部, 中科院, 上海交大, Philip Morris,柯达等 。TCI适用于航空航天材料,能源及含能材料,聚合物,烟草,地矿,半导体材,制药等领域的热导率的快速精准测试。技术参数:技术参数:导热系数范围:0-500W/mK 温度范围: -50°C – 200°C 精度: 优于5% 尺寸:17mm直径 厚度:0.02mm 主要特点:主要特点: -简便,快速,用户界面友好,通用性强的导热系数仪 -产品获得著名全球"研发百强"奖,获得该殊荣产品包括了宝利来胶片,汽车ABS系统及银行ATM机等卓越的发明和创新的产品。 -适用范围:固体,液体,粉末,胶体。适应场合包括野外,室内,在线 -模块化结构可根据用户的需求自由扩充量程和测试条件 -测试不需特别样品制备,不破坏样品完整性 -可配备双探测传感器,多点测试-材料类型: 金属、陶瓷、矿石、复合材料、半导体、聚合物、胶体、 纸张、织物、印刷电路板、药剂, …… -耗材配件 :可选配SVTK(小体积样品支架)用于小剂量粉末,液体等样品的测试。 -双探头功能
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  • 四探针方阻测试仪,四探针电导率测试仪,双电测四探针测试仪FT-334普通四探针电阻率方阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围:10-3~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-4~2×104Ω-cm3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.3%读数5.电阻精度:≤0.5%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针
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  • 公司主要经营产品:霍尔效应测试仪、探针台系列、显微镜系列:三维视频显微镜、超长工作距离视频显微镜、测量显微镜、红外/近红外显微镜、传统光学显微镜(体式、生物、偏光、荧光、金相、相衬、比对等常用教学及教研类显微镜)、光学产品组件、工业科研无损检测设备及光学自动一体化系统集成项目。测试噪声小于5E-13A 可扩展上下双透视窗口用于光电测试 可扩展凹视镜 。观察窗口可下凹,使物镜离样品更近,方便观察。 加热台材质纯银块,导热更好,不易氧化专业检测设备生产研发经验,实力见证品牌国内家专业研发探针台设备厂家,有强大技术研发实力已与国内2000多所高校和研究院合作,为您提供*价值的技术解决方案*信赖的检测设备服务商涉及光学、电学、电子、材料、生物、医学等各检测领域拥有国内专业的技术研发团队在探针台电学量测方面拥有近十年的经验小型真空探针台KT-Z4019MRL4T小型真空探针台KT-Z4019MRL4T参数真空腔体类型高温型室温到350℃高低温型 室温到350℃ 室温到-196℃腔体材质304不锈钢 6061铝合金 可选腔体内尺寸127mmX57mmX20mm腔体外尺寸150mmX80mmX32mm腔体重量不锈钢材质 约1.5KG 铝合金材质 约0.5KG腔体上视窗尺寸Φ42mm(可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离)腔体抽气口KF16法兰(其余接口规格可转接)腔体真空测量口KF16法兰(其余接口规格可转接)腔体进气口6mm快拧 或 6mm快插腔体冷却方式腔体水冷+上盖气冷腔体水冷接口腔体正压≤0.05MPa腔体真空度机械泵≤5Pa (5分钟) 分子泵≤5E-3Pa(30分钟)样品台样品台材质不锈钢 银铜合金 纯银块银铜合金 纯银块样品台尺寸26x26mm样品台加热方式电阻加热电阻加热 液氮制冷样品台-视窗 距离11mm(可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离到6mm)样品台测温传感器PT100型热电阻样品台温度室温到400℃室温到400℃ 室温到-196℃样品台测温误差±0.5℃样品台升温速率高温100℃/min 最大值 低温7℃/min温控仪温度显示7寸人机界面温控类型标准PID温控 +自整定温度分辨率0.1℃温控精度±0.5℃温度信号输入类型PT100 (可选K S B型热电偶)温控输出直流线性电源加热直流线性电源加热+液氮流速控制器辅助功能温度数据采集并导出 实时温度曲线+历史温度曲线 可扩展真空读数接口温控器尺寸32cmX170cmX380cm温控器重量约5.6KG探针电信号接头配线转接 BNC接头 BNC三同轴接头 SMA 接头 香蕉插头 线长1.2米电学性能绝缘电阻 ≥4000MΩ 介质耐压 ≤200V 电流噪声 ≤10pA探针数量4探针(可扩展5探针)探针材质镀金钨针 (其他材质可选)探针尖10μm手动探针移动平台X轴移动行程20mm ±10mm(需手动推动滑台)X轴控制精度≥500μmR轴移动行程120° ±60°(需手动旋转探针杆)R轴控制精度≥500μmZ轴移动行程2mm ±1mmZ轴控制精度≤50μm(需手动螺纹调节探针杆)
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