台式超轻元素版

借助 XRF 光谱仪 Epsilon 3 系列的经验打造而成，Epsilon 4 是一款多功能台式 XRF 分析仪，广泛用于从研发到流程控制等各个领域中需要从氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行业细分市场。 Epsilon 4 X射线荧光光谱仪 将激发和检测技术与成熟软件和智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光谱仪。Epsilon 4 任意位置由于较低的基础设施要求，可以将 Epsilon 4 放到生产过程中靠近生产线的任意位置。 其高性能使大多数应用能够在环境条件下运行，从而降低氦气或真空维护的成本。超越分析的价值能量色散式 X-射线荧光光谱仪可分析从碳 (C) 到镅 (Am) 的元素，涵盖从百万分之一以下到 100 wt% 的浓度。 将 Omnian 用于无标分析，当需要快速分析鉴定时，则使用 FingerPrint 来进行材料测试，或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。 还可以使用支持与 FDA 21 CFR 第 11 部分等法规合规的增强的数据安全性，或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新润滑油和使用过的润滑油。支持各类样品Epsilon 4 X射线荧光光谱仪可处理多种样本类型，包括固体、压片和疏松粉末、液体和滤膜。 在重量从几毫克到几千克的样品上，对从碳 (C) 氟到镅 (Am) 的元素进行非破坏性的定量分析，涵盖从 100% 到百万分之一以下的浓度范围。Epsilon 4 是稳健、可靠的传统系统替代方案，已在许多行业和应用领域中得到广泛应用，甚至在轻元素分析非常重要的环境中，包括：水泥生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、RoHS 筛选及定量、石油和石化、聚合物及相关行业、玻璃生产、法医学、制药、保健产品、环保、食品和化妆品。特点灵活的配置Epsilon 4 是高度灵活的分析工具，可在 10 瓦版本中用于从研发到过程控制等各个领域的元素分析 (F - Am)。 要实现更高的样品处理量或扩展的轻元素功能，并且处于更加具有挑战性的环境，可以使用 15 瓦版本，甚至可以对碳、氮和氧进行分析。新发展Epsilon 4 仪器将射线探测技术与分析软件结合到了一起。 15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、硅漂移探测器 SDD30 以及紧凑的光路设计相结合，提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统以及台式 WDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源利用效率。迅速、敏感利用可生成更高强度的硅漂移探测器技术实现迅速测量。探测器电路提供的线性计数率可超过 1,500,000 cps（在 50% 的死时间下），和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV，可更好地分离光谱中的分析谱线。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行，因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比，实现了更高的样品通量。降低氦气消耗量Epsilon 4 的高性能使得许多应用可以在空气环境中运行，无需较长的进样时间和费用来维护氦气或真空系统。 在空气中测量时，钠、镁和铝的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化，确保在各种气候条件下结果不受影响。

M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品，M4 TORNADOPLUS又增添了功能，例如孔径管理系统，高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。更轻、更快、更深M4 TORNADOPLUS采用轻元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）实现对轻元素碳的检测，高通量脉冲采样，BRUKER孔径管理系统（AMS）可以获取大景深，对表面不平整样品分析具有优势。轻元素检测M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪，具备两个具有轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同，M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下，还可以检测原子数小于11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（N）和碳（C）。随着功能性的增强，M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中，例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。应用实例-萤石和方解石的区分萤石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟（F），氧（O），碳（C）；由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z＜11(Na）的元素，无法区分这两种矿物，所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。利用轻元素探测器，M4 TORNADOPLUS可以检测氟（F）、氧(O)和碳(C)，从而鉴别这两种矿物。图：鉴别萤石与方解石 左：方解石（红）和萤石（蓝）的元素分布图；图像尺寸：20×12mm2；扫描分辨率：800×460pixels 右：萤石（蓝）和方解石（红）的轻质元素光谱图。应用实例-电路板由于AMS的场深度深，如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外，由于激发X射线光子的入口和出口角度减小，光束能量依赖性变得不那么明显。图：具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上，元件的高点失焦，显得模糊。右图: AMS系统加载下图像显示高景深，组件聚焦在更大的景深范围内。

XRF 分析（X射线荧光）与高度灵活和强大的能量色散X射线荧光 (EDXRF) 光谱仪 X-Supreme8000 和 Lab-X5000，在各种应用中保证质量和过程控制要求；例如原油和汽油、木材处理、矿物、采矿、化妆品、水泥和纸张。为什么选择日立分析仪器台式 XRF 光谱仪？操作方便极大减少样本制备时间检测限低针对恶劣环境的结实耐用的设计便于用户定制和方法开发的灵活软件容易调整的仪器参数综合定性或全面定量分析比较产品X-Supreme8000 台式 XRF 光谱仪X-Supreme8000 XRF针对进行质量保证和过程控制要求的分析仪。分析可被应用于多种样品种类，包括固体、液体、粉末 、软膏、薄膜等，从PPM到%级，覆盖元素周期表中 Na11 至 U92 的范围。最少或无需样本制备。无人操作，且非实验室操作员也可使用FocusSD 技术提供快速、准确和长期的可靠性灵活进行定性、半定量和全定量分析X-Supreme8000符合ASTM D4294、ISO8754、ISO20847和ISO13032检测方法。X-Supreme8000Lab-X5000 台式 XRF 光谱仪LAB-X5000是一款旗舰版元素分析仪，可实现快速、轻松的质量控制。该软件高效简洁，通过缩短从收集样品到获得结果的时间提高测试的工作量。我们的专业开发人员优化了分析例行程序和硬件配置，以获得对石油化工产品、纸、聚合物、矿物和一般化学物质的高质量分析。结果通过大型工业级触摸屏显示，有助于轻松查看合格/不合格信息和智能检验 (SmartCheck) 信息，该信息为如何处理不符合规格的样品提供说明。为充分发挥LAB-X5000的灵活性，高级用户可轻松为其新应用创建校准。Lab-X5000

M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品，M4 TORNADOPLUS又增添了功能，例如孔径管理系统，高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。更轻、更快、更深M4 TORNADOPLUS采用轻元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）实现对轻元素碳的检测，高通量脉冲采样，BRUKER孔径管理系统（AMS）可以获取大景深，对表面不平整样品分析具有优势。轻元素检测M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪，具备两个具有轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同，M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下，还可以检测原子数小于11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（N）和碳（C）。随着功能性的增强，M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中，例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。应用实例-萤石和方解石的区分萤石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟（F），氧（O），碳（C）；由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z＜11(Na）的元素，无法区分这两种矿物，所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。利用轻元素探测器，M4 TORNADOPLUS可以检测氟（F）、氧(O)和碳(C)，从而鉴别这两种矿物。图：鉴别萤石与方解石 左：方解石（红）和萤石（蓝）的元素分布图；图像尺寸：20×12mm2；扫描分辨率：800×460pixels 右：萤石（蓝）和方解石（红）的轻质元素光谱图。应用实例-电路板由于AMS的场深度深，如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外，由于激发X射线光子的入口和出口角度减小，光束能量依赖性变得不那么明显。图：具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上，元件的高点失焦，显得模糊。右图: AMS系统加载下图像显示高景深，组件聚焦在更大的景深范围内。

轻元素由于其外层电子密度低，元素荧光产额低，是XRF难以进行高灵敏度检测的元素范围。北京安科慧生通过单色化激发技术，实现对轻元素的高灵敏度激发与低背景检测，轻松将轻元素（硅、磷、硫、氯等）的检出限降低到1ppm以内，在石油化工、精细化工、环境保护、制药等领域具有广泛的应用前景。 产品特点：? 高灵敏度 世界上最高灵敏度的轻元素X射线荧光光谱仪，硫LLD：0.2ppm，氯LLD：0.1ppm，硅LLD：0.8ppm，同时可以分析元素周期表中从Na到Ti的区间元素，可以扩展分析C、N、O、F等元素；? 选择性激发 采用高通量全聚焦双曲面弯晶技术，将X射线管出射高强靶材特征谱单色化聚焦入射样品，选择性激发样品中轻元素，降低背景干扰，提升峰背比； ? 轻元素分析一体化 一次样品分析即可精确定量车用燃油中硫、氯、硅的含量，无需样品分析在多台仪器进行各个元素含量分析，缩短分析时间、降低人力物力消耗；? 高稳定性 光路固锁系统XFS（X-Ray Fixed System），工厂精密调谐后，不再产生位移或偏差，最大限度的保证了仪器的长期稳定性；? 低维护、低消耗 无需真空保护膜、无需钢瓶气体、无需复杂的仪器维护，只需要消耗样品杯和样品膜；

DM2400型MEDXRF轻元素光谱仪满足国Ⅴ、国VI对车用汽柴油超低S检测要求超低检测限（300s）： Si: 0.7ppm， P: 0.4ppm，S: 0.15ppm，Cl: 0.08ppm采用 单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术 高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体 高计数率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探测器 合理 kV、mA、靶材组合的微焦斑薄铍窗X射线管 符合标准：GB/T 11140ISO 20884ASTM D2622ASTM D7039ASTM D7220ASTM D7757ASTM D7536ISO 15597ASTM D6481概述DM2400型单色激发能量色散X射线荧光轻元素（Si、P、S、Cl）光谱仪，简称DM2400型MEDXRF轻元素光谱仪，是本公司集数十年X荧光光谱仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光测硫仪、X荧光多元素分析仪、波长色散X射线荧光多道光谱仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的XRF光谱仪。它采用以下技术和器件，使采用50W光管的能谱仪DM2400具有出色的再现性和稳定性，超低检出限，实已将现代科技发挥到极致。图1. MEDXRF分析技术原理图单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术X射线荧光光谱仪的检出限LOD（limit of detection）是指由基质空白所产生的仪器背景信号标准偏差的3倍值的相应量，即： （1）式中，Rb为背景（本底）计数强度，N为已知浓度为C的低浓度试样的计数强度，T为测量时间。从式（1）可以看出检出限与灵敏度（N-Rb）/C成反比，与背景Rb的平方根成正比。在测量时间一定的情况下要降低检出限，就必须提高灵敏度和（或）降低背景。传统XRF，无论是EDXRF还是WDXRF，无法实现较低检出限的一个主要原因是X射线光管出射谱中连续轫致辐射的散射使得荧光光谱的连续散射背景较高。 单色激发能量色散X射线荧光 (Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) 分析技术，就是采用光学器件将X射线光管出射谱单色化，进而使得荧光光谱的连续散射背景极大地降低，同时尽可能少的降低甚至于可能的话增加所需激发X射线的单色化的线或窄能量带的强度，从而大大降低了检出限。相比传统的EDXRF降低了1至2个数量级，相比大功率（如4kw）的WDXRF也要低得多。图2.样品的XRF光谱图高衍射效率对数螺线旋转点对点聚焦人工单色晶体将X射线光管出射谱单色化的方法很多，有滤波片法，二次靶法和衍射法等。而衍射法中的双曲面衍射晶体DCC（Doubly CurvedCrystals）是单色化最好和效率最高的。衍射必须满足Bragg定律：nλ=2dsinθ （2）也就是说从源出射的射线其波长必须满足（2）式才被衍射，所以其具有极好的单色化。又由于DCC能将点源聚焦，所以有大的收集立体角，从而有极高的效率。另外，聚焦还能使照射到样品的光斑很小，从而使小面积的半导体探测器Si-PIN或SDD可以接受大部分样品较小面中的荧光射线，也就是说DCC还提高了探测效率。图3. 实线为 X 射线管的出射谱 ，红色为经LSDCC单色化的特征X射线入射谱 DCC按其曲面又分为半聚焦（Johann），全聚焦（Johansson）和对数螺线（Logarithmic Spiral）等。其中半聚焦只是部分满足衍射条件，所以经半聚焦DCC单色化的特征X射线入射谱是最差的。全聚焦是完全满足衍射条件且是点对点聚焦的。但全聚焦DCC的制造工艺极其复杂，除弯曲外它必须有一个磨成R曲面的过程，天然晶体如Si，Ge等是很脆的，极不容易磨制，而人工晶体是不可能磨制的，另外天然晶体通常在非常窄的光谱区域中衍射X射线。导致靶材特征X射线只有一部分被衍射，积分衍射率低 DM2400采用的对数螺线旋转双曲面人工晶体DM30L，是集本公司技术精英经2年的刻苦专研研制而成的专利产品。对数螺线DCC也是完全满足衍射条件的，虽然聚焦不是点对点的，而是点对面的，但由于这个面很小，一般只有2mm左右，所以可认为是点对点的。它用的是DM人工晶体，该晶体的积分衍射率是天然晶体的3到10倍，所以该晶体具有极高的效率。另外，它只需弯曲无需磨制和拼接，制造方便。图4. LSDCC点对点聚焦原理图高分辨率(123eV)高计数率(2 Mcps)的SDD探测器X射线探测器的种类有很多，有正比计数管，Si-PIN探测器和硅漂移探测器SDD等。探测器的分辨率以全能峰的半宽度表示，全能峰的净计数与半宽度无关，但其背景计数与半宽度成正比，所以分辨率越高则检出限越低。正比计数管的半宽度是半导体探测器的8倍左右，所以检出限高8的平方根倍左右。Si-PIN的分辨率比SDD的稍差，且其在高计数率下分辨率急剧下降。所以SDD是其中最好的。DM2400采用德国KETEK公司生产的VITUS H20 CUBE(最高级)SDD探测器，其分辨率小于123eV，有效探测面积20mm2，计数率2 Mcps。最佳kV、mA、靶材组合的微焦斑薄铍窗X射线管激发样品的X射线能量越接近所需分析元素的吸收限，其激发效率就越高。DM30L晶体仅衍射X射线管出射谱中的高强度特征X射线，其有靶材发出。所以合理的选用靶材能得到最高的激发效率。DM2400标准型由于可测量Cl以下的元素，所以选择Ag作为靶材。选定靶材后，在X射线光管最大功率一定的情况下，如50W，合理的光管高压（kV）和电流（mA）组合能达到最大的激发效率。由于采用点对点的聚焦，所以必须采用微焦斑的X光管。由于靶材的特征X射线能量很低，所以必须用薄铍窗X射线管。 DM2400采用50W微焦斑薄铍窗X射线管，标准型选用Ag靶，并对kV、mA进行最佳组合。标定用已知含量的7个含Si、P、S、Cl样品对仪器进行标定，得图5的工作曲线。图5. 含Si、P、S、Cl样品工作曲线这些工作曲线的相关系数γ 均大于0.999，表示DM2400光谱仪的线性误差极小。 准确度为了进一步测试分析的准确性，制备了具有不同硫含量的柴油和轻质油的五个样品，每个样品装入两个不同的样品杯中进行S准确度试验：表2. 用五个未知样品测定S分析的准确度结果样品标称值（ppm）1号样品杯（ppm）2号样品杯（ppm）柴油554.914.82柴油333.023.05汽油222.122.00汽油101010.810.2汽油252524.525.2 表2示出了获得的浓度结果（ppm），以及与标称值的比较。这些结果表示在低浓度水平下，用DM2400光谱仪可以实现S的优异的准确度。精确度对三种，每种各装入七个不同样品杯的汽油样品进行S重复性试验：表1. S汽油样品S分析的重复性测试数据样品杯号第1种样品（ppm）第2种样品（ppm）第3种样品（ppm）11.155.3110.3221.084.929.8930.905.0510.1140.934.789.6751.014.889.5161.035.169.9070.975.269.81平均值1.015.059.89标准偏差0.0860.2010.269RSD8.6%4.00%2.69%这些结果表示在低浓度水平下，用DM2400光谱仪可以实现S的优异的重复性。 特点快速同时–所需测量元素同时快速分析，一般几十秒给出含量结果。低检出限–采用先进MEDXRF技术，LSDCC核心技术，达到超低检出限。具极高的重现性和再现性。长期稳定–采用可变增益数字多道,有PHA自动调整、漂移校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。环保节能–射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。使用方便–触摸屏操作。样品直接装入样品杯，放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。高可靠性–一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。高性价比–无需钢瓶气体，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半。是真正的高性价比产品。适用范围适用于炼油厂、检测及认证机构、油库、实验室测量范围从0.5ppm到10%的各种油品(如汽油、柴油、重油、残渣燃料油等)、添加剂、含添加剂润滑油、以及炼化过程中的产品。亦适用于各行各业任何材料中Cl以下元素的同时测量 主要技术指标测量元素Si、P、S、Cl(可选择B～Cl中的任意元素组合)X射线管电压：≤50keV，电流：≤2mA，功率≤50W，靶材：Ag（Mo、Rh、Pd、Cr等可选）探测器SDD，有效面积：20mm2，分辨率：≥123eV，计数率：≤2Mcps，入射窗：8μm铍 （AP3.3可选）检测限（300s）Si：0.12ppm，P：0.7ppm，S：0.26ppm，Cl：0.14ppm（标准型，1块LSDCC晶体）Si：0.7ppm，P：0.4ppm，S：0.15ppm，Cl：0.08ppm（增强型，3块LSDCC晶体）测量范围检测限的3倍～9.99%线性误差分析精度测S：满足GB/T 11140，ISO20884，SH/T 0842，ASTMD2622、D7039、D7220等的相关要求。 测Si：满足ASTM D7757，SH/T 0706，SH/T 0058等的相关要求。测Cl：满足ASTM D7536，ISO 15597，SH/T 0161等的相关要求。测P：满足ASTM D6481，SH/T 0296，SH/T 0631等的相关要求。系统分析时间1～999s，推荐值：微量测量为300s，常量测量为60s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤200W测量氛围自充气系统或氦气尺寸及重量540mm×500mm×450mm，35kg注：如用户认为标准型的DM2400不能满足要求，可向本公司提出，本公司可尽可能满足用户的要求。如要求更低的检测限，本公司可将晶体从1块增加到3块以降低检测限为原来的1/1.73。如要求测量F以下原子序数的元素，本公司可为用户选择AP3.3入射窗的SDD。如用户要在高S的基体下测微量Al和Si，本公司可将标准型的Ag靶改为Mo靶，以满足用户要求。

DM2500MMEDXRF轻中元素光谱仪（标准型）（水泥行业专用）多单色激发实现高峰背比，使能测元素（B～Zn），其准确度媲美大型波长色散光谱仪标准型针对水泥行业设计。亦或经微改后用于各行各业采用多单色激发能量色散X射线荧光(MMEDXRF)分析技术对数螺线型双曲面弯晶(LSDCC)实现衍射并作为二次靶高计数率、高分辨率、高透过率(AP3.3窗)SDD探测器电压、电流、靶材完美组合的微焦斑薄铍窗X射线管源符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM2500MMEDXRF轻中元素光谱仪，详称DM2500多单色激发能量色散X射线荧光轻中元素（B～Zn）光谱仪，是本公司集数十年X荧光光谱仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光硫钙铁分析仪、X荧光多元素分析仪、X荧光光谱仪等的基础上研制推出的一种具创新性的XRF光谱仪。它采用多单色激发能量色散X射线荧光(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技术。主要部件，如：单色晶体采用本公司研制的具有本公司专利的对数螺线旋转点对点聚焦锗单色晶体，X射线管采用KeyWay公司生产的50W微焦点大辐射角薄铍窗X射线管，并对其高压、电流、靶材进行最佳组合， X射线探测器采用德国Ketek公司生产的具有高计数率、高能量分辨率、高透过率的常温用SDD半导体X射线探测器。并且采用具有本公司自主知识产权的轻元素专用的光学系统及多种方法组合使用的多个单色激发系统等独有的技术，极大地提高了仪器的灵敏度和峰背比。它还采用X射线向下照射系统，样品自旋装置，特别适合粉末压片样品，且可根据应用选择真空系统或自充气系统。由此使本光谱仪达到国际领先水平。在与大型波长色散光谱仪的比较试验中，其大部分性能指标接近或达到大型波长色散光谱仪的性能指标，某些甚至超过。其性能指标相比进口同类产品更好，而价格仅为进口同类产品的一半，具有无可比拟的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。且本光谱仪良好的屏蔽防护设计保证无任何射线泄漏，满足辐射豁免要求。适用范围DM2500MEDXRF轻中元素光谱仪的标准型是针对水泥行业专门设计制造的，可用于水泥生料、熟料、原料等的含量测量。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。DM2500MEDXRF轻中元素光谱仪除用于水泥行业外，还能用于其他各行各业所有物料的含量测量。其标准型虽然是针对水泥行业专门设计制造的，但只要用户所要求的测量元素在B(5)～Zn(30)的范围内，则大部分情况可直接使用标准型进行测量。如贵用户对某些元素的测量有特殊的要求，则本公司可根据用户的要求更改单色激发系统和或软件系统以满足用户对测量元素的要求。特点快速同时–所需测量元素同时快速分析，一般几十秒给出含量结果。高准确度–采用先进MMEDXRF技术，LSDCC核心技术，根据所要测量的元素来选择单色光的能量及产生单色光的方法，极大地提高了仪器的灵敏度和峰背比，具出色的重复性和再现性，极高的准确度。向下照射–采用X射线向下照射系统，杜绝了样品粉末污染损坏探测系统的可能，特别适合水泥生熟料等粉末样品。样品自旋–具有样品自旋装置，消除了压片样品中由于特硬物质的存在而不易粉碎造成的样品不均匀性。长期稳定–采用可变增益数字多道，有PHA自动调整、漂移校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。环保节能–射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。使用方便–触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。高可靠性–一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。高性价比–无需钢瓶气体，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半。是真正的高性价比产品。尖端技术多单色激发能量色散X射线荧光(MMEDXRF)分析技术传统XRF，特别是EDXRF，无法实现超轻元素准确测量的一个主要原因是X射线光管出射谱中连续轫致辐射的散射使得X射线荧光光谱的连续散射背景较高，而原子序数越低的元素荧光产额越低，较低的荧光射线强度将淹没在较高的背景之中。单色激发能量色散X射线荧光(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技术，就是采用光学器件将X射线光管出射谱单色化，进而使得荧光光谱的连续散射背景极大地降低，同时尽可能少的降低甚至于可能的话增加所需激发X射线的单色化的线或窄能量带的强度，从而大大提高所测元素X射线荧光光谱的峰背比，实现超轻元素的准确测量。其原理图如图1。图1.MEDXRF分析技术原理图激发样品的X射线能量越远离所需分析元素的吸收限，其激发效率就越低。这就使得单色激发的光谱仪有一个局限，就是某一个单色能量的激发源只能测定一定原子序数范围内的元素。由于DM2500要求轻中元素都可测量，所以用只有一个单色能量的激发源将使轻元素的激发效率很低从而无法准确测量轻元素，为此2500采用2个单色能量的激发源，分别激发轻元素（Cl以下）和中元素（K-Zn）。故称多单色激发。用于轻元素测量的高衍射效率点对点聚焦的对数螺线旋转双曲面晶体 (LSDCC)将X射线光管出射谱单色化的方法很多，有滤波片法，二次靶法和衍射法等。衍射必须满足Bragg定律：nλ=2dsinθ，所以其具有极好的单色性。而衍射法中的双曲面衍射晶体DCC（Doubly CurvedCrystals）又由于能将点源聚焦，所以有大的收集立体角，从而有极高的效率。另外，聚焦还能使照射到样品的光斑很小，从而使小面积的半导体探测器Si-PIN或SDD可以接受大部分样品较小面中的荧光射线，也就是说DCC还提高了探测效率。由于对数螺线LS（Logarithmic Spiral）DCC有制作方便，可制作较大面积等优点。所以DM2500采用的对数螺线旋转双曲面晶体LSDCC。其点对点聚焦原理图如图2。图2. LSDCC点对点聚焦原理图图3.蓝线为X射线管的出射谱，红色为经锗LSDCC单色化的X射线入射谱由于轻元素荧光产额很低，所以DM2500用以LSDCC实现单色化的高效率单色激发射线来激发轻元素。用于中元素测量的锗二次靶由于中元素荧光产额较高，对激发射线的强度要求不高，所以我们采用了二次靶的方法来实现中能量的单色化。巧的是，能实现轻元素单色化的LSDCC其可选择的晶体材料中有一种是锗晶体，锗的X射线荧光能激发Zn以下所有元素，所以DM2500用锗晶体作为LSDCC的材料同时兼作为二次靶。也就是说DM2500巧妙地用一个光学器件实现了二种方法产生的2个单色能量的激发源。激发源的能谱图如图3。图4为实际测得的水泥生料样品的XRF光谱图。图4.水泥生料样品的XRF光谱图高分辨率(123eV)高计数率(2 Mcps) 高透过率(AP3.3窗)的SDD探测器X射线探测器的种类有很多，其中硅漂移探测器SDD是最好的，其分辨率一般小于140eV，是波长色散的5倍左右。而单色激发能将背景下降一个数量级，所以理论上讲如果没有谱线重叠干扰，则单色激发能量色散的峰背比好于一般的波长色散的。DM2500采用德国KETEK公司生产的VITUS H20LE SDD探测器，其分辨率小于129eV，有效探测面积20mm2，计数率2 Mcps，窗为AP3.3 polymer，最低可测量B Kα（185 eV）。图5. 硅漂移探测器SDD合理kV、mA、靶材组合的微焦斑大辐射角薄铍窗X射线管为准确测量轻元素，LSDCC仅衍射X射线管出射谱中的高强度特征X射线，其有靶材发出，合理的选用靶材能得到最高的激发效率。DM2500标准型由于所测轻元素为Cl以下的元素，所以选择Ag作为靶材。选定靶材后，在X射线光管最大功率一定的情况下，如50W，合理的光管高压（kV）和电流（mA）组合能达到最大的激发效率。由于采用点对点的聚焦，所以必须采用微焦斑的、大辐射角的X光管。由于靶材的特征X射线能量很低，所以必须用薄铍窗X射线管。图6. 微焦斑大辐射角薄铍窗X射线管校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的含量计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度（即原始道计数率），IC为处理后强度（或修正后强度），D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）的系数。用已知含量的11个水泥生料国家标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料国家标准样品校准结果数据成分系数D系数E系数F相关系数γNa2O-0.28630.00459700.9863MgO-0.33670.001903000.9937Al2O3-0.42440.001000700.9983SiO2-3.06720.0006498400.9985SO30.00930.0001101700.9886Cl--0.00760.00002948700.9690K2O-0.32180.003233800.9988CaO11.91950.002291800.9931TiO20.00150.001355900.9903Fe2O3-1.36480.003544000.9984这些校准曲线的相关系数γ大部分都大于0.99，最小也有0.9690，表示DM2500光谱仪的线性误差极小。重复性对水泥生料国家标准样品中的XS1标样，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）XS11标样Na2OMgOAl2O3SiO2SO3Cl-K2OCaOTiO2Fe2O3标准值0.462.744.1616.710.700.030.7537.610.263.16平均示值0.452.674.1816.860.690.030.7537.750.263.17最大示值0.462.684.1916.900.690.030.7637.820.263.19最小示值0.442.664.1616.800.690.030.7537.690.263.15极差0.020.020.030.10000.010.1300.04示值标准偏差0.0060.00540.00940.0320.0010.0010.0030.0350.0010.0133倍示值标准偏差0.0180.01620.02820.0960.0030.0030.0090.1050.0030.039GB/T176的重复性限0.050.150.200.200.150.0050.100.250.050.15DM2500与国标的符合性远优远优远优远优远优远优远优远优远优远优注：粉末压片样品。在X射线源为半功率（25W），测量时间为180s的条件下，连续进行11次测量所得的结果。按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限，从表2可知，用DM2500光谱仪可以实现所有元素远优于国家标准GB/T 176—2017所要求的重复性。主要技术指标测量元素可选择B(5)～Zn(30)中的任意元素X射线管电压：≤50keV，电流：≤2mA，功率≤50W，靶材：Ag（Mo、Rh、Pd、Cr等可选）探测器SDD，有效面积：20mm2，分辨率：≥123eV，计数率：≤2Mcps，入射窗：AP3.3测量范围0.01%～99.99%。测量宽度Na2Omax—Na2Omin≤5%，MgOmax—MgOmin≤5%，Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min≤10%，SO3 max—SO3 min≤5%，Clmax—Clmin≤5%，K2Omax—K2Omin≤5%，CaOmax—CaOmin≤10%，TiO2 max—TiO2 min≤5%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%线性误差Na2O：≤0.03%，MgO：≤0.10%，Al2O3：≤0.14%，SiO2：≤0.14%，Cl-：≤0. 003%，SO3：≤0.10%，K2O：≤0.05%，CaO：≤0.18%，TiO2：≤0.03%，Fe2O3：≤0.10%测量精度S Na2O≤0.01%，SMgO≤0.01%， S Al2O3≤0.02%，SSiO2≤0.05%，S SO3≤0.01%，S Cl≤0.001%，S K2O≤0.003%，SCaO≤0.04%，STi2O≤0.001%，S Fe2O3≤0.02%。系统测量时间1～999s，推荐值为180s测量氛围自充气系统或氦气使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤200W尺寸及重量540mm×500mm×450mm，35kg注：测量技术指标针对水泥生料为对象给出。

大功率台式顺序波长色散型X射线荧光光谱仪固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析氧到铀的元素分析与竞争对手的XRF系统相比Rigaku Supermini200在高分辨率仪器中提供了优越的基本参数和经验软件功能，占地面积小。作为一款高功率台式顺序波长色散x射线荧光(WDXRF)光谱仪，Supermini200具有独te的低成本(Coo)、高分辨率和低检测限(LLD)，可用于几乎任何材料中通过铀(U)进行氧(O)元素分析。WDXRF性能好，成本低 Rigaku Supermini200光谱仪不仅是您的XRF元素分析需求的经济实惠的选择，运行成本也很低。P10气体用于流量比例检测器是唯yi的消耗品。Supermini200不需要冷却水、管道或外部冷水机，从而减少了系统维护，降低了系统的整体使用寿命成本和每年的耗材和维护预算。WDXRF用于轻元素性能该仪器的核心能力是分析具有广泛的轻元素和重元素的复杂基质材料，从痕量到高浓度水平。凭借其高功率(200 W) x射线管，Rigaku Supermini200为轻元素提供高XRF灵敏度，具有zhuo越的光谱分辨率，可解决复杂矩阵中的线重叠，而无需复杂的数学峰值反褶积。分析低浓度的轻元素(F、Na、Mg、Ca、Si、Al和P)很容易。对困难样品的最高分辨率Supermini200 WDXRF光谱仪配备了一个三位置晶体转换器，其中LiF(200)和PET作为标准晶体安装。RX25或Ge可以选择性地添加，RX25为从氧到镁的峰提供了非常高的分辨率。通过铀(O→U)分析氧分析固体，液体，粉末，合金和薄膜大气:氦或真空x射线管:50kv, 200w pd阳极主波束滤波器:Zr为标准 可选探测器:闪烁计数器和F-PC(S-PC不需要P10气体可选)晶体:3位转换器样品尺寸:可容纳直径51.5毫米的样品自动换样器(ASC)标准:10个样品位置(51.5 mm直径的样品)可选:12个样品位置(最大44mm直径的样品)真空:标准旋转泵电源:100 - 120V (50/ 60hz) 15A或200 - 240V (50/ 60hz) 10A操作简单2001年理学台式WDXRF代表了现代工业模式的转变，它即具有大WDXRF的优势又极大的降低了费用，安装也变得方便。推出的高功率200W 台式Supermini系统保持了台式机的所有优势。灵敏度高200W光源驱动使Supermini灵敏度满足在金属，水泥，环境和法规执行上超低检出限的要求。功能强大Supermini 灵活性强，可分析从F到U的固体，液体和粉末，在真空或充氦环境。标准配置12位自动进样器，自动操作。作为ZSX系列理学台式波长色散X射线荧光系统中的成员，Supermini配置了可以与其他成员共用的所有软件。数据处理功能强大且简单，使用理学标志的流程条界面进行定性和定量分析。大功率台式顺序波长色散型X射线荧光光谱仪特点高功率台式WDXRF光谱仪200W 射线光管缩短测量时间提高灵敏度适用于矿石分析使用MDL方法分析基体复杂样品安装方面的台式设计无需液氮及冷却循环水应对WEEE/RoHS & ELV 指令可以分析痕量重元素降低操作费用低P-10气体流量空冷光管CE认证高效分析12位自动进样器

仪器简介：PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.技术参数：硬件： 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化，最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱， 在减低背景干扰方面发挥威力。 双泵、双真空系统 采用双真空系统（样品室/预抽真空室）。 防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计，样品交换实现更高效率。 粉末附件 电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。 定点分析 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间 节能功能（自动减少X射线光管输出） 减少冷却水量 5L/min（水温30?以下） PR气体流量减少（5mL/min） 省空间 采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。 便于维护 PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 软件 新版SQX软件 在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。 委托分析EZ扫描 采用对话框形式设定，可进行SQX分析。 定角测试模式 微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 应用模板 各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 散射线FP法 不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。 流程条 测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能 ? SQX分析功能 ? Mapping数据库 ? 材质辨别 ? 理论重叠校正 ? 自动程序运转 ? 校正投入量计算 应用软件包 应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品） CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。主要特点：特点： 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 完美的无标样分析-最新的SQX软件 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间

PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.技术参数：硬件： 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化，最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱， 在减低背景干扰方面发挥威力。 双泵、双真空系统 采用双真空系统（样品室/预抽真空室）。 防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计，样品交换实现更高效率。 粉末附件 电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。 定点分析 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间 节能功能（自动减少X射线光管输出） 减少冷却水量 5L/min（水温30?以下） PR气体流量减少（5mL/min） 省空间 采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。 便于维护 PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 软件 新版SQX软件 在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。 委托分析EZ扫描 采用对话框形式设定，可进行SQX分析。 定角测试模式 微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 应用模板 各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 散射线FP法 不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。 流程条 测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能 ? SQX分析功能 ? Mapping数据库 ? 材质辨别 ? 理论重叠校正 ? 自动程序运转 ? 校正投入量计算 应用软件包 应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品） CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。主要特点：特点： 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 完美的无标样分析-最新的SQX软件 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间

产品名称：CIT-3000SMQ 水泥全元素分析仪 产品说明、技术参数及配置 在国土资源部&ldquo 水泥行业专用多元素分析仪&rdquo 项目的支持下，先达公司综合了我国大、中型水泥生产的需求和建议，在原有多元素分析仪器的基础上，独立成功开发了国内领先水平的水泥全元素分析仪。该设备采用数字化谱分析技术，可以一次性分析水泥生熟料中的九种元素（Cl、K、Si、Mg、Al、S、P、Ca、Fe），自动计算三率值，可以分析各种原料的元素成分，具有分析速度快、精度高、稳定性好、操作简单、故障率低等显著特点，对水泥企业用来及时控制生产起到了很好的效果。 适用范围 水泥制造企业：原料、生料、熟料、水泥等各种成分分析； 石灰石企业：石灰石各种成分分析。 型号：CIT-3000SMQ 技术指标 分析元素：Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe等 样品用量：10-15克 探测器的分辨率：优于125ev 管电压：0-50Kv 管电流： 1～1000 &mu A 分析范围：1ppm-99.99%. 能量范围：1-30keV. 同时分析：9种元素同时分析 测量时间：1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析 仪器的分析精度：标准偏差&le 0.08% 分析误差：优于国家标准要求 辐射剂量：25&mu sv/h. 工作环境：温度10～35 ℃ 湿度30～70%RH 電源：AC 220 V± 10 %、50/60 Hz 性能特点 台式结构，人性化设计，便于操作，美观大气； l采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； .采用X光管激发样品，一次激发全部九种待测元素； 高压电源：电压 0V-25kV连续可调；电流0-lmA连续可调。数码显示，精度高，无故障操作； 采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器，无需液氮制冷，使用方便。探测器分辨率优于160eV(55Fe)； 真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和灵敏度； 2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成； 水泥企业专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件； 可一次性实现水泥中九元素的快速、无损、准确分析； 自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定； 全中文Windows应用软件，操作简单。 仪器配置 仪器主机一台 进口电制冷半导体探测器 X光管（0-25KV） 高压电源 品牌计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套

EcoChem激光光谱元素分析系统 技术背景： 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级。测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素。 系统功能：快速检测土壤、植物、种质资源、中药材、刑侦材料、矿石、合金、珠宝等样品中的? 常量元素N, P, K, Ca, Mg? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B, Mo, Ni, Cl? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素? 其他：有机元素C、H、O和轻元素 Li、Be、Na等（其他技术很难同时分析） 应用领域： 土壤、植物样品检测中药材元素测量及鉴定种子分类及活力分级检测农产品重金属检测地质矿物分析煤粉组分检测重金属污染检测合金元素分析刑侦微量物证分析宝石鉴定材料组分分析 工作原理： EcoChem激光光谱元素分析系统的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。 技术指标：激光系统：激光能量：200mJ@1064nm，能量输出0-100%可调；（266nm激光可选）光斑质量控制系统重现率：20Hz，脉宽6ns，DI水冷却系统光斑大小：20-200μm连续可调激光光闸：自动双光闸，稳定控制激光能量和LIBS信号激光安全：I级，有激光锁定保护装置检测器：谱宽：190-1040nm具有自动高度调整的功能 操作软件：中文界面，包含NIST和ElementLIBS数据库。可以轻松检测和识别元素周期表上的元素并进行信息标记。软件还同时具备如下功能：软件可针对所有硬件部件（激光器，光谱仪，三维工作台，气路等）进行指令操作，界面友好，操作直观，使用简单；内置多种打样方式选择，包括单点，多点，直线，矩阵点等；具有自动聚焦控制，可快速且方便的识别样品；可对系统内置的双镜头（全景视野和放大视野）进行控制；内置PLS等多种定标计算模型，可快速计算元素含量；内置PCA等多种计算模型，可进行元素分类分析及溯源；可进行元素的分布（mapping）分析；对气路进行精准控制；内置国内常见土壤和植物标准曲线库，方便用户参考和调用。 数据处理中心：专用i7台式电脑及24’显示器 系统应用： 1， 元素识别及定性分析系统可以轻松实现元素的识别并标记，内置专业ElementLIBS元素识别数据库方便元素的快速查找。非金属元素检测金属微量元素的检测 重金属元素的检测2， 元素定量计算系统可以很好的针对土壤和植物或其他多种样品中的各种金属和非金属元素进行定量计算。内置PLS等多种定量计算模型，减少基质中的影响因素，提高分析计算的准确性。PLS多变量定量计算模型 3， 元素分布分析系统可以很好的原位测量植物、作物或其他样品的元素分布，并绘制元素分布热图。 中药材元素分布 植物叶片病变处元素分布分析大豆种子元素分布分析 玉米元素分布分析 4， 物质鉴别及分类溯源不同等级和地域的土壤特性也不相同，系统可以有效地对这些土壤进行分级分类和鉴别，甚至建立我国的土壤特征库。系统内置的PCA主成分分析模型可以针对土壤的分级分类进行测量和评价。 不同土壤分类特征明显 系统通过检测种子的元素光谱特征，组分特征来进行种子分类及鉴定、转基因产品检测、种子活力分级检测等。这是一种新的方法和快速检测手段。玉米种子的分类 不同玉米种子分类特征明显，区分度可达100%

仪器简介： ZSX Primus Ⅳ是理学公司全新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高。超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析。48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景。双真空,双泵设计,节省抽真空时间。防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵。微区分析可达500，适合少量样品分析。 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描。应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中。FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析。流程条,按顺序显示测试处理内容。标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户。 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便。技术参数：硬件： 1. 对应超轻元素的X射线光管：采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 2. 采用新型光学系统：采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 3. 48样品交换器：实现平台式共享化，可放置48个样品，多样品交换器实现了省空间。 4. 1次X射线滤光片：除去X射线光管的特征X射线光谱，在减低背景干扰方面发挥威力。 5. 双泵、双真空系统：采用双真空系统（样品室/预抽真空室）；防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统的 结构设计，样品交换实现更高效率。 6. 粉末附件：电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入真空泵内。 7.定点分析： 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到很佳灵敏度分析结果。(无r-θ样品台) 节能、节省空间、节能功能（自动减少X射线光管输出）减少冷却水量5L/min（水温30以下）PR气体流量减少（5mL/min）省空间。采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。便于维护PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗。 软件： 1. 新版SQX软件：在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。 2. 委托分析EZ扫描：采用对话框形式设定，可进行SQX分析。 3. 定角测试模式：微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 4. 应用模板 ：各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 5. 散射线FP法： 不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。 流程条： 测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能： SQX分析功能 Mapping数据库 材质辨别 理论重叠校正 自动程序运转 校正投入量计算 应用软件包： 应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品） CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。主要特点：1. 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 2. 配备全新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 3. 重金属的高灵敏度分析-采用全新型光学系统 4. 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 5. 完美的无标样分析-全新的SQX软件 6. 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间

真空型矿产元素分析仪EDX 9000B矿产检测专家Simply the Best美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果无损元素分析涵盖11Na to 92U适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：• 铁矿• 铜矿• 铝土矿• 贵金属矿产• 稀土矿• 原料• 磷酸盐• 煤炭• 铅锌矿• 锰矿• 镍矿• 石灰石• 粘土• 石膏• 玻璃• 土壤• 水泥• 耐火材料及其他等EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等产品特点作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位矿产元素检测专家EDX9000B仪器参数仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm仪器重量: 45Kg元素分析范围：Na11-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线熔片机电源线电子秤测试薄膜矿石标准样仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子功能强大而界面友好的测试软件界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印磁铁矿样品10次测试稳定性报告测量次数/元素Fe(%)SiO2(%)TiO2(%)MnO(%)Zn(%)S(%)P(%)Pb(%)K2O(%)1_165.40146.69360.11230.04890.00900.83090.01180.00760.06841_265.43366.65750.10380.04650.00950.90920.01210.00750.06671_365.36036.71270.11320.04950.00930.89030.01190.00710.06771_465.39356.72330.12780.04830.00970.83030.01170.00680.06841_565.38126.71450.10580.04930.00970.83030.01170.00660.06841_665.39056.74210.10210.05030.00970.83030.01170.00650.06841_765.36036.70410.10750.04950.00930.89030.01190.00710.06771_865.41616.72800.10860.04610.00930.89380.01150.00740.06681_965.43206.70360.11820.05120.00960.90050.01200.00790.06691_1065.45466.77070.10720.05020.00970.88680.01210.00670.0677平均值Average65.40246.71500.11070.04900.00950.86930.01180.00710.0677标准偏差SD0.03160.03000.00770.00160.00020.03400.00020.00050.0007相对标准偏差RSD0.0483%0.4466%6.9348%3.3142%2.5743%3.9090%1.6512%6.6142%1.0337%测量次数/元素Na2O (%)MgO (%)Al2O3 (%)As (%)Cr (%)Ni (%)Cu (%)Sn (%)CaO (%)1_10.02030.75230.52220.00650.16360.07600.04760.01310.63591_20.02320.81340.52300.00610.15840.07870.04880.01140.63361_30.02130.80590.54070.00710.16670.07960.04940.01440.63451_40.02160.76350.52340.00720.16400.07610.04850.01310.62671_50.02230.78150.53340.00720.16400.07510.04850.01310.62671_60.02220.73110.55120.00720.16400.07410.04850.01310.62671_70.02120.75590.54070.00710.16670.07560.04940.01440.63451_80.02490.77370.52330.00680.15760.07600.04710.01310.63241_90.02040.77120.51230.00640.16590.07500.04750.01400.62411_100.02360.80170.54350.00710.16630.07300.04890.01300.6414平均值Average0.02210.77500.53140.00690.16370.07590.04840.01330.6317标准偏差SD0.00150.02610.01230.00040.00330.00200.00080.00090.0054相对标准偏差RSD6.6056%3.3702%2.3177%5.8244%1.9863%2.5892%1.6256%6.5508%0.8578%

EDX-9000B XRF Spectrometer能量色散X荧光光谱仪矿产检测专家Simply the Best美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果无损元素分析涵盖11Na to 92U适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：• 铁矿• 铜矿• 铝土矿• 贵金属矿产• 稀土矿• 原料• 磷酸盐• 煤炭• 铅锌矿• 锰矿• 镍矿• 石灰石• 粘土• 石膏• 玻璃• 土壤• 水泥• 耐火材料及其他等EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等产品特点作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位矿产元素检测专家EDX9000B仪器参数仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm仪器重量: 45Kg元素分析范围：Na11-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线熔片机电源线电子秤测试薄膜矿石标准样仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子功能强大而界面友好的测试软件界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印磁铁矿样品10次测试稳定性报告测量次数/元素Fe(%)SiO2(%)TiO2(%)MnO(%)Zn(%)S(%)P(%)Pb(%)K2O(%)1_165.40146.69360.11230.04890.00900.83090.01180.00760.06841_265.43366.65750.10380.04650.00950.90920.01210.00750.06671_365.36036.71270.11320.04950.00930.89030.01190.00710.06771_465.39356.72330.12780.04830.00970.83030.01170.00680.06841_565.38126.71450.10580.04930.00970.83030.01170.00660.06841_665.39056.74210.10210.05030.00970.83030.01170.00650.06841_765.36036.70410.10750.04950.00930.89030.01190.00710.06771_865.41616.72800.10860.04610.00930.89380.01150.00740.06681_965.43206.70360.11820.05120.00960.90050.01200.00790.06691_1065.45466.77070.10720.05020.00970.88680.01210.00670.0677平均值Average65.40246.71500.11070.04900.00950.86930.01180.00710.0677标准偏差SD0.03160.03000.00770.00160.00020.03400.00020.00050.0007相对标准偏差RSD0.0483%0.4466%6.9348%3.3142%2.5743%3.9090%1.6512%6.6142%1.0337%测量次数/元素Na2O (%)MgO (%)Al2O3 (%)As (%)Cr (%)Ni (%)Cu (%)Sn (%)CaO (%)1_10.02030.75230.52220.00650.16360.07600.04760.01310.63591_20.02320.81340.52300.00610.15840.07870.04880.01140.63361_30.02130.80590.54070.00710.16670.07960.04940.01440.63451_40.02160.76350.52340.00720.16400.07610.04850.01310.62671_50.02230.78150.53340.00720.16400.07510.04850.01310.62671_60.02220.73110.55120.00720.16400.07410.04850.01310.62671_70.02120.75590.54070.00710.16670.07560.04940.01440.63451_80.02490.77370.52330.00680.15760.07600.04710.01310.63241_90.02040.77120.51230.00640.16590.07500.04750.01400.62411_100.02360.80170.54350.00710.16630.07300.04890.01300.6414平均值Average0.02210.77500.53140.00690.16370.07590.04840.01330.6317标准偏差SD0.00150.02610.01230.00040.00330.00200.00080.00090.0054相对标准偏差RSD6.6056%3.3702%2.3177%5.8244%1.9863%2.5892%1.6256%6.5508%0.8578%

LVEM5 台式透射电子显微镜（Bench-top TEM） 详细介绍Delong Instruments 荣誉出品 • 世界唯一的小型台式透射电子显微镜（TEM）• 世界唯一的多用途台式电子显微镜• 透射电镜（TEM）、电子衍射（ED）、扫描电镜（SEM）、扫描透射电镜（STEM）四种成像模式• 分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）• Schottky场发射电子枪：高亮度、高对比度• 观察生物样品无需染色• 体积仅为传统透射电镜1/10，操作维护简单 台式设计：体积小巧，灵活性高，价格低传统透射电子显微镜体积庞大，对放置环境有着严格的要求，并且需要制冷机等外置设备。通常会占据整间实验室。 LVEM5从根本上区别于传统电镜，尺寸较传统电镜缩小了90%，对放置环境无严格要求，无需任何外置冷却设备，可以安装用户所需的任意实验室或办公室桌面，是目前性价比最高的电子显微镜。Schottky场发射电子枪：高亮度/高对比度电子枪类型是决定电镜性能的重要参数。LVEM5采用特殊设计的倒置肖特基（Schottky）场发射电子枪，提供高亮度高相干的电子束。电子枪使用寿命可达2000小时以上。传统TEM多采用100kV以上电子束加速电压，高能电子束不能区分轻材料中相近的密度和原子序数，对于轻元素样品（C、N、O样品，生物样品）难以获得好的对比度，影响图像质量。LVEM5采用5kV低电压设计，低电压电子束对密度和原子序数有很高的灵敏度，对于小到0.005 g/cm3的密度差别仍能得到很好的图像对比度。例如，对20nm碳膜样品，5KV电压下比100KV电压下对比度提高10倍以上。而LVEM5的空间分辨率在低电压下仍能达到1.5nm。 未经染色的老鼠心脏切片在80kV透射电镜下得到的图像，与LVEM5下得到的图像。LVEM5采用5kV低加速电压，图像具有更好的对比度. TEM-STEM-ED-SEM 四种成像模式TEM模式LVEM5是世界上唯一的台式透射电子显微镜，同时也是唯一的低加速电压（5kV）透射电镜。同传统透射电镜（80-200kV）相比，增加了电子束与样品的相互作用，从而提高了图像对比度。 提高了图像对比度。 无需重金属染色即可观察轻元素样品（如生物样品）。 避免染色造成的假象，观察样品真实结构分辨率2nm，放大倍数 5000-202,000x，图像采集：2048 x 2048 添加TEM升级选件，分辨率提升至1.5nm，放大倍数 50万倍 SEM模式扫描电镜（SEM）模式可用于观察任意固体样品。在SEM模式下，LVEM5采用4分割背散射探测器，提供多个观测角度。普通扫描电镜在观察不导电样品时，需要对样品进行喷金、喷碳处理，以增加样品导电性。LVEM5的另一优点在于，无需喷金可直接观测不导电样品。分辨率10nm，放大倍数 640x - 100,000x，图像采集像素：2048 x 2048 STEM模式在扫描透射电子显微（STEM）模式下，电子束被聚焦到很小直径，在样品上进行扫描。可用于观察厚度较厚的样品或染色样品 ED模式电子衍射（ED）可用于确定样品的晶体结构、结晶度、相组成. 操作简单，换样快捷，成本低廉LVEM5直观的用户界面、简便的控制台设计，使用户仅需极少的培训，即可轻松操作。让用户在使用时更加舒适。不同于传统透射电镜每次更换样品后需要几十分钟的抽真空时间，LVEM5更换样品仅需3min，节省大量时间。LVEM5首次购置费用远低于传统电镜，且在一款仪器中集成了透射电镜与扫描电镜功能，真正的物超所值。LVEM5独特的设计优势，在使用中无需冷却水，无需专业实验室，维持成本极低。 应用案例

仪器简介：面对美国CPSIA/HR4040法案、ASTM F963-08标准；欧盟RoHS/WEEE、EN-71法令，各出口型企业纷纷使出浑身解数积极应对，产品品质管控重点在于如何把握“供应商来料”、“生产过程”、“最终出货”三个环节，然而高昂的送检费用与漫长的检测周期让许多企业苦不堪言，原料成本的上涨和生产效率的低下更让众多企业雪上加霜，Thermo Scientific Niton XRF提供一系列的解决方案，为您的企业保驾护航。Thermo Scientific Niton XRF Analyzers问世于1987年，拥有二十多年生产及应用经验，经过无数客户的验证，得到行业的肯定，并且已经成为现场材料分析的检测标准。在航天航空、石油化工、矿产勘测、合金分析、废金属回收、环境分析、消费品制造等领域以及对应CPSIA/HR4040、RoHS/WEEE、EN-71等法令的检测均有广泛应用。*全球第yi台便携式XRF*美国海关及欧盟多国海关均在使用*美国消费品安全委员会（CPSC）及欧洲产品安全实施委员会（PROSAFE）均在使用*全球销量已经突破20000台赛默飞世尔科技（Thermo Fisher Scientific纽约证交所代码：TMO），是全球科学服务领域的专业生厂商。我们致力于帮助客户使世界更健康，更清洁，更安全。公司年销售额超过105亿美元，拥有员工约34，000人，在全球范围内服务超过350，000家客户。主要客户类型包括：医药和生物公司，医院和临床诊断实验室，大学、科研院所和政府机构，以及环境与工业过程控制装备制造商等。公司借助于Thermo Scientific和Fisher Scientific这两个主要的品牌，帮助客户解决在分析化学领域从常规的测试到复杂的研发项目中所遇到的各种挑战。技术参数：重量 ＜1.3kg尺寸 9.60×9.05×3.75英寸 （244×230×95.5mm）激发源 高性能微型X射线管 金靶，50kV/40uA 、银靶，用于选配充氦装置，可分析轻元素探测器 高性能Si PIN 探测器电池 可充电锂离子电池 （可续航使用10个小时）显示器 角度可0～90度调节的高亮度VGA彩色触摸屏标准分析范围 从Ti到U中，28个标准元素：Cl,Br,As,Hg,Cd,Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Sn, Hf, Ta, W, Re, Pb, Bi, Se, Sb （非标准元素亦可分析，需根据具体情况协商确定）充氦装置 选购充氦装置可增加对轻元素的分析：Mg、Al、Si、P、Ru数据存储 可存储超过10,000个数据和谱图模式 金属分析模式、塑胶分析模式、全自动分析模式、产品油漆涂层模式数据输入 触摸屏及键盘主要特点：●精度高，接近实验室水平的分析精度●角度可调的VGA彩色触摸屏，用户界面先进、直观，操作方便●简体中文显示●高强度、高密封性设计，防水及抗冲击性好●可实现对现场材料进行完全无损的快速检测●仪器无需外接PDA，抗电脑病毒能力强●仪器一体化程度高，具有防尘防水功能，操作便捷●通过内置USB接口或蓝牙通讯设备，可直接向电脑或网络存储设备传输数据●随机配置NDT软件，可进行数据上传或下载，可编辑、输出PMI分析报告，可实现PC机远程控制●自动存储10,000点以上的分析数据及图谱●XL3t系列不含放射性同位素激励源●具有自动校准、诊断和故障报告功能●可通过Internet实现软件升级●操作简便，即使是非技术人员也可轻松掌握●体积小，重量轻，仅1.3kg●NITON NDT软件可对仪器进行定制，设置用户权限，生成定制报告和打印分析证书，还可以实现对仪器的远程操控●选配充氦装置，仪器可增加S、Mg、Al、Si、P等轻元素的分析●选配3mm小点瞄准模式，满足小面积不同材料之检测需要●选配集成CCD摄像头，可实时对检测区域进行拍照

产品优势　　1.高性能进口X射线发射管和高分辨率探测器，结合数字多通道处理技术，使TrueX手持式矿石分析仪具有更高的分析精度。　　2.压力因数可根据海拔高度自动调整，压力模型参数可根据海拔高度反应自动调整。 轻元素的激发作用增加了40％，稀土元素的激发作用增加了30％。　　3.设备可以连接到Internet，并且可以远程设置和维修设备。　　4.内置的GPS经纬度数据和高程数据可以结合使用，通过导入第三方GIS分析软件来快速评估矿藏或地质环境灾区，从而构建元素含量的地理三维分布图。　　可分析的矿石种类　　铁矿(赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等)　　铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等)　　铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等)　　钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等)　　钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等)　　钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等)　　铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等)　　镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等)　　其它矿类　　产品特点　　1.仪器尺寸更小，重量更轻，便于携带。　　2.高速处理芯片，先进的算法和高效的软件使仪器分析更快。　　3.工业电阻触摸屏具有比电容屏更好的背光性能，即使在强光下仍然可以清晰地看到，同时避免了在特殊环境下操作的危险。　　4.机身采用防滑耐磨流线型设计，非常轻巧，便于携带和运输，融合了尖端的科学研究和波音的创新。　　5，支持仪器电池热插拔，可以在工作状态下更换电池，无需关机。　　6.用户可以创建定制的专业报告，包括公司徽标，公司地址，测试结果，光谱和其他样品信息（例如产品说明，产地，批号等）。　　相关客户还搜素：　　矿石元素分析仪，innov矿石元素分析仪，niton矿石元素分析仪，便携矿石元素分析仪，便携式矿石元素分析仪，便携式矿石元素分析仪vcr，便携式式金属矿石元素光谱分析仪，便宜的矿石元素分析，多元素矿石分析仪，二手矿石元素分析仪，二手矿石元素分析仪器价格，国产矿石元素分析仪，国丰矿石铁元素分析，简便矿石元素分析仪器，简单矿石元素分析，金矿石光谱分析元素项目，金矿石光谱全分析元素项目，金矿石全分析的9种元素，金矿石有害元素分析，金元素矿石分析仪，近红外矿石元素分析，矿石的多元素分析，矿石的多元素分析包括哪些，矿石的多元素分析仪，矿石的元素分析，矿石多元素分析，矿石多元素分析仪，矿石多元素化学分析，矿石多元素检测分析，矿石分析仪 元素范围 钼，矿石分析有多少种元素，矿石各元素分析误差表，矿石钴 镍 锂元素分析，矿石化学全分析主要有哪些元素，矿石化学元素分析，矿石化学元素全分析，矿石化验的多元素分析，矿石金属元素分析，矿石金元素分析报告单，矿石全元素分析，矿石全元素分析标准，矿石全元素分析论文，矿石全元素分析相和，矿石全元素分析样化验报告，矿石全元素分析有多少，矿石如何做元素分析，矿石如何做元素分析原理，矿石微量元素分析，矿石微量元素分析仪，矿石与化学元素分析论文，矿石元素成分分析，矿石元素成分分析仪，矿石元素成分分析仪器，矿石元素的分析，矿石元素分析，矿石元素分析 火焰法，矿石元素分析报告，矿石元素分析方法，矿石元素分析机构，矿石元素分析检测的标准，矿石元素分析检测相关的书，矿石元素分析检测仪，矿石元素分析设备，矿石元素分析手册，矿石元素分析书籍，矿石元素分析样化验报告，矿石元素分析仪 二手，矿石元素分析仪 原理，矿石元素分析仪6，矿石元素分析仪报价，矿石元素分析仪的使用，矿石元素分析仪二手，矿石元素分析仪构造，矿石元素分析仪价格，矿石元素分析仪价格 矿石分析仪，矿石元素分析仪品牌，矿石元素分析仪器，矿石元素分析仪器价格，矿石元素分析仪原理，矿石元素分析用物理检测准确吗，矿石元素分析允许值，矿石元素含量分析，矿石元素快速分析仪，矿石元素全分析报告单，矿石元素全分析价格，矿石中Ag元素的物相分析，矿石中常见元素的化学分析，矿石中的元素含量分析，矿石中分散元素分析规程，矿石中金属元素化学分析，矿石中金属元素化学分析方法研究，矿石中金元素分析，矿石中微量元素分析仪，矿石中稀土元素定性分析，矿石中元素的定性和半定量分析，矿石中元素分析，矿石中元素分析标准，尼通XL3T950矿石元素分析仪，尼通矿石元素分析仪，尼通手持式矿石元素分析仪，镍矿石元素分析仪，牛津矿石元素分析仪，硼镁铁矿石中硼元素的分析，铅锌矿石组合样分析元素，青岛矿石化学元素全分析，如何分析矿石中是否含有金元素，如何使用矿石元素分析仪，山东金属矿石元素分析，山东金属矿石元素分析仪，山东矿石元素分析，设计矿石元素分析，什么矿石元素分析仪好，手持矿石元素分析仪，手持矿石元素分析仪产品构成，手持式矿石元素分析仪，手持式矿石元素分析仪价格，手持式矿石元素分析仪使用指南，手持式矿石元素分析仪应用，手提式矿石元素分析仪，台式矿石元素分析仪，铁矿石 有害元素行为分析，铁矿石多元素分析，铁矿石多元素分析仪，铁矿石化学全分析元素包含哪些，铁矿石全元素分析，铁矿石全元素分析的要求，铁矿石微量元素分析，铁矿石微量元素分析仪，铁矿石元素分析，铁矿石元素分析标准，铁矿石元素分析方法，铁矿石元素分析仪，铁矿石中常见元素的分析，铁矿石中各种元素化验分析，铁矿石中硼元素的分析，铁矿石中铁元素分析，铁矿石组合分析包括哪些元素，铜矿石化学全分析元素，铜矿石主要分析哪些元素，潍坊矿石元素分析仪，携带矿石元素分析仪，岩矿石光谱全分析元素项目，野外矿石元素分析仪，一般用什么仪器分析矿石元素，铀矿石分析哪些元素，元素矿石光谱仪元素分析，郑州矿石元素分析

SciAps X-505 手持式矿石元素分析仪 性能和经济性完美结合 最大激发电压：50kV，最大电流：200uA 测试范围：Mg-U元素，优异的Mg, Al, Si, P, S等轻元素及Sb、Ag等重金属检测能力 SciAps X 全新系列手持式矿石元素分析仪，在设计上实现了完美平衡，为手持式 XRF 树立了全新的性能标杆。设备搭载先进的高性能硬件、高度优化的内部几何结构，超高计数率，分析速度更快、精度更高、体积更小，为用户现场使用即时提供地球化学与矿物学信息。

SciAps X-550 手持式矿石元素分析仪 高精度要求的解决方案 最大激发电压：50kv 最大电流：500uA 超高计数率，提供更强、更稳定的测试信号，提升测试精度，特别是Mg, Al, Si, P, S等轻元素 SciAps X 全新系列手持式矿石元素分析仪，在设计上实现了完美平衡，为手持式 XRF 树立了全新的性能标杆。设备搭载先进的高性能硬件、高度优化的内部几何结构，超高计数率，分析速度更快、精度更高、体积更小，为用户现场使用即时提供地球化学与矿物学信息。

Epsilon 3XLE 台式能量色散型X射线荧光光谱仪构建在其前代产品的经验和成功的基础之上，采用了激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中元素均具备卓越的分析性能。Epsilon 3XLE 光谱仪依靠各种软件模块是一款经济实惠、高度灵活的分析工具，适用于各种应用场合。Epsilon 3XLE 具有如下特点：通过智能激发和检测设计实现高灵敏度市场领先的轻元素性能确保X射线安全完全的数据可追溯性符合法规全球在线支持高度灵活的分析工具，适用于各种应用场合：Epsilon 3XLE - 具有改进的和扩展的轻元素功能（C - Am），用于实现更高的样品生产量Epsilon 3XLE 中配备的SDDultra硅漂移探测器甚至可以分析超轻元素，例如碳、氮和氧。Epsilon3XLE 光谱仪可以处理类型广泛的样品，包括固体、稀松或压片粉末、液体和滤片，重量从几毫克到更大的实体样品不等。广泛应用于石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。Epsilon3X 光谱仪配有各种专用行业软件可选：Omnian - 先进的无标样分析软件；针对多种不同类型未知材料样品，实现快速可靠的定量分析。Oil-Trace - 石化行业专用软件；专用于解决对石油和石化进行分析时常面临的挑战的创新软件包。Stratos - 涂层厚度软件；Stratos模块采用的算法可同步确定化学成分和分层材料的厚度。FingerPrint - “指纹识别”软件；采用快速的光谱数据统计分析，可用于更全面的诊断分析的常规成分测定。

产品说明、技术参数及配置天瑞仪器在累计数万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上,十年磨一剑,开发出将多种测试需求融于一体的新一代X荧光分析装置-EDX6000C。该仪器配置大面积石墨烯超薄窗口的电制冷半导体SDD检测器、超近低损耗测试光路、超薄铍窗牛津光管激发光源、西门子PLC(单杯位、9杯位、12杯位、20杯位)控制多样品腔系统、真空和氦气二合一系统、样品自旋系统、仪器三重安全防护系统(探测器防扎功能、高压钥匙保护、样品盖自锁功能)。仪器单样品腔及多样品腔进样两种模式完美结合,软件配套天瑞最新研发成果XRF成份分析软件4.0版本和RoHS5.0版本全智能版本软件,实现液体、固体一键测试功能,强大的智能算法可自动识别样品材质和自动选择相应曲线,真正的做到多杯位样品智能自动检测。仪器使用运行成本低、提升维护性能的同时,大大提高了便捷性。该产品可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究,从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化工元素分析、医药食品管控、地质矿元素分析、水泥、耐火材料、玻璃等多个行业的元素分析领域。性能优异,卓尔不群大面积石墨烯超薄窗口的电制冷半导体SDD检测器,4096道高速数字处理多道及高功率高管压高压和激发光源与分析光路最佳配合,可获得超高灵敏度。与以往机型相比,元素范围拓展到F元素,元素检测下限可提升5~10倍,检出限低至0.2ppm(轻基体),计数率可提高至300KCPS,可应对高要求的检测需求,提升分析结果的可靠性。智能切换，测试无忧人工智能样品识别系统配合全匹配分析模式,确保样品检测一个动作完成,免去人为选择曲线造成的误差。多重背景模拟功能,帮助去除样品差异带来的偏差。强大的智能算法可自动识别样品材质和自动选择相应曲线,真正的做到多杯位样品智能自动检测。粉末抽真空及液体充氦气测轻元素,软件实现双气路一键切换,彻底解决普通XRF无法在液体测轻元素。多重防护,安全无忧探测器保护装置在仪器测试完后关闭探测器窗口,防止探测器窗口被扎 仪器的防护盖、防护电磁锁与X光管高压联动,测试过程中无法打开样品腔盖,防止误操作打开盖子时瞬时X射线对操作人员的伤害。软件误操作提醒,仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重X射线防护措施确保使用人员安全。自旋进样,无人值守配备西门子PLC(9杯位、12杯位、20杯位)控制多样品腔系统可供选择,12杯位和20杯位可1秒切换成单样品腔体,满足大小样品测试需求。9杯位自旋系统可提高非均一性样品元素测试。多杯位样品腔进样节约50%的设备成本,通过人机协作可提高50%的人工效率。应用领域1、ROHS、ELV、玩具安全、鞋材皮革等有害元素检测分析2、环境土壤、固废、土壤修复等元素测定3、地址矿产分析4、合金(铜、不锈钢等)成分分析5、金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定6、黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测7、石油化工产品含量分析8、水泥、耐火材料、玻璃等建材行业的元素分析领域9、饲料、肥料等有益有害元素测定10、其他无机元素分析行业等等

仪器说明：Innov-X Systems 新推出的移动式X系列矿石分析仪，功能强大，便于携带，是同类分析仪的基准。X系列仪器采用10W，50Kv的射线管，超大探测面的探测器，多种分析模式，6个光束滤波器，是目前市场上功能最强大的移动式分析仪。这款仪器的硬件配置特别适合 La, Ce,Pr, Nd, Pm,& Sm等稀有元素及其它探测元素如，Y，Ba,Nb,Ta & Zr的分析.同时也很适合测Mg, Al, Si P, S, K & Ca等轻元素。标配清单：1. X-5000主机1台；2. 用户化Microsoft Windows XP操作系统1套；3. 土壤专用测试软件Soil Beam11套；4. 土壤专用测试软件Soil Beam1套；5. 土壤专用测试软件Soil Beam1套；6. 百分比含量专用测试软件Mining1套；7. 专用地球化学元素测试GeoChem模式1套；8. 数据传输线USB1条；9. 智能接驳座1个；10. 充电系统1套；11. 防水运输胶箱1个；12. U盘(内含用户手册,软件备份,PC软件等)1个；13. 快速操作指南1份；14. 校准证明1张。技术参数：尺寸外形尺寸：328x280x380mm；展开尺寸：328x690x460mm；样品室尺寸：287x145x114mm重量26lbs；11Kg环境要求环境湿度0~95%；环境工作温度-20℃~50℃；亮黄激发源0~50kV多段可选择的电压；200uA探测器SI-PIN；SDD；等不同的探测器可选择冷却系统采用了Peltier恒温冷却系统，探测器在-35℃下工作，保证仪器滤波器6个滤波片可自动切换电压、电流电压15~40kv,电流可达200uA电力要求10~240VAC；50~60Hz, 最小电力100W 主机供电系统10~240VAC；50~60Hz交流电；锂电池组、适配器，适配器DC输出16.4V 3A（可选项)显示器整机一体化设计，工业级高分辨率TFT 触摸显示彩屏10英寸，分辨率800*600显示器固定方式一体机设计,整机连体构造，可防尘,防雾,防水,极大的降低了故障率数据显示百分比%和ppm显示元素含量，动态显示，元素可排序数据存储内存504M，硬盘18.6G处理器CPUIntel Pentium CPU,Processor 1.40Ghz，RAM504M操作系统Microsoft Windows XP ,SP2

Delong America Inc. 荣誉出品 LVEM5 低电压台式透射电子显微镜（Bench-top TEM） &bull 小型台式透射电子显微镜（TEM）&bull 多用途台式电子显微镜&bull 透射电镜（TEM）、电子衍射（ED）、扫描电镜（SEM）、扫描透射电镜（STEM）四种成像模式&bull 分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）&bull Schottky场发射电子枪：高亮度、高对比度&bull 观察生物样品无需染色&bull 体积仅为传统透射电镜1/10，操作维护简单台式设计：体积小巧，灵活性高，价格低传统透射电子显微镜体积庞大，对放置环境有着严格的要求，并且需要制冷机等外置设备，通常会占据整间实验室。LVEM5从根本上区别于传统电镜，尺寸较传统电镜缩小了90%，对放置环境无严格要求，无需任何外置冷却设备，可以安装用户所需的任意实验室或办公室桌面，是目前性价比较高的电子显微镜。Schottky场发射电子枪：高亮度/高对比度电子枪类型是决定电镜性能的重要参数。LVEM5采用特殊设计的倒置肖特基（Schottky）场发射电子枪，提供高亮度高相干的电子束。电子枪使用寿命可达2000小时以上。传统TEM多采用100kV以上电子束加速电压，高能电子束不能区分轻材料中相近的密度和原子序数，对于轻元素样品（C、N、O样品，生物样品）难以获得好的对比度，影响图像质量。LVEM5采用5kV低电压设计，低电压电子束对密度和原子序数有很高的灵敏度，对于小到0.005 g/cm3的密度差别仍能得到很好的图像对比度。例如，对20nm碳膜样品，5KV电压下比100KV电压下对比度提高10倍以上。而LVEM5的空间分辨率在低电压下仍能达到2nm。 未经染色的老鼠心脏切片在80kV透射电镜下得到的图像，与LVEM5下得到的图像。 LVEM5采用5kV低加速电压，图像具有更好的对比度TEM-STEM-ED-SEM 四种成像模式TEM模式LVEM5是一款台式透射电子显微镜，同时也是一款低加速电压（5kV）透射电镜。同传统透射电镜（80-200kV）相比，增加了电子束与样品的相互作用，从而：+ 提高了图像对比度+ 无需重金属染色即可观察轻元素样品（如生物样品）+ 避免染色造成的假象，观察样品真实结构分辨率2nm，放大倍数 5000-202,000x，图像采集：2048 x 2048添加TEM升选件，分辨率提升至1.5nm，放大倍数 50万倍SEM模式扫描电镜（SEM）模式可用于观察任意固体样品。在SEM模式下，LVEM5采用4分割背散射探测器，提供多个观测角度。普通扫描电镜在观察不导电样品时，需要对样品进行喷金、喷碳处理，以增加样品导电性。LVEM5的另一优点在于，无需喷金可直接观测不导电样品。分辨率3nm，放大倍数 640x - 1,000,000x，图像采集：2048 x 2048STEM模式在扫描透射电子显微（STEM）模式下，电子束被聚焦到很小直径，在样品上进行扫描。可用于观察厚度较厚的样品或染色样品ED模式电子衍射（ED）可用于确定样品的晶体结构、结晶度、相组成操作简单，换样快捷，成本低廉LVEM5直观的用户界面、简便的控制台设计，使用户仅需很少的培训，即可轻松操作。让用户在使用时更加舒适。不同于传统透射电镜每次更换样品后需要几十分钟的抽真空时间，LVEM5更换样品仅需3min，节省大量时间。LVEM5次购置费用仅为传统电镜的1/3左右，且在一款仪器中集成了透射电镜与扫描电镜功能，真正的物超所值。LVEM5特的设计优势，在使用中无需冷却水，无需专业实验室，维持成本低。部分测试数据 TEM：碳纳米管 ED：ZnO单晶 STEM：聚乙烯单晶 SEM：水凝胶 应用案例材料领域 生物领域用户列表LVEM5在全球范围已拥有麻省理工、加州大学、乔治亚理工、慕尼黑大学、曼彻斯特大学等50多个用户。优异的性能为LVEM5赢得了用户的一片赞誉。

在同档次中唯一得到广大水泥企业认可的，能同时测量Al、Si、S、Ca、Fe的X荧光多元素分析仪。获得全国首张辐射豁免函，是真正的绿色环保产品。概述DM2100型X荧光多元素分析仪是由本公司研制生产的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用X光管激发，使仪器能长期使用而不象同位素源激发受源衰减的影响。仪器虽属小型X射线荧光能谱分析仪，但由于采用了国内首创的分谱技术，使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素（如水泥生料中的Al、Si），其测量准确度接近或达到进口大型仪器的水平，而价格只是进口大型仪器的十几分之一，特别适合我国国情。加之能克服化学分析的缺点，节约化学试剂，不污染环境，还可节约劳动力，一旦用上爱不释手。另外能真正实现生料的率值控制，提高水泥熟料的标号，其效益一年为数十万，一般小型水泥企业一年内即可收回投资。DM2100型X荧光多元素分析仪现已销售近千台，是国内销量最多的。目前国内生产多元素分析仪的企业不少，但真正能在水泥企业用上的只有DM2100型X荧光多元素分析仪。并且购买该仪器的用户没有一家不在使用、不产生效益的。DM2100型X荧光多元素分析仪现已获得实用新型专利和发明专利各一项，被认定为上海市高新技术成果转化项目，并已获上海市科技创新基金，获全国首张辐射豁免函。技术参数：1．分析元素或其氧化物种类: Al、Si、S、Ca、Fe或其氧化物。2．分析范围: "控制目标值±2.5%"的范围内，由所标定的曲线决定。3．系统分析时间: 300秒(活时间)。4．分析精度：S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%，S SO3≤0.05%，SCaO≤0.09%，S Fe2O3≤0.05%。5．使用条件: 环境温度：5-40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220±20V，50Hz。6．整机功耗: ≤50W。7．尺寸与重量: 长×宽×高:560×470×150mm 重量:23Kg。主要特点： (1) 多成份同时快速分析,一般几分钟给出SiO2 、Al2 O3 、CaO、Fe2 O3 百分含量结果。(2) 采用国内首创的分谱技术,能真正区分相邻元素,从而准确测量相邻轻元素等。(3) 采用X光管或长寿命同位素源激发,使仪器能长期使用,而不受源衰减的影响。(4) 仪器以大液晶屏显示,操作采用中文菜单方式,操作简便。打印机能打印测量数据。(5) 采用物理分析方法,分析中不接触、不破坏样品,无需化学试剂。(6) 仪器采用一体化设计,集成化程度高,可靠性好,维修方便。(7) 环境适应能力强,长期稳定性好。(8) 一体化的仪器分析系统,可独立使用,也可与配料系统联机使用。(9) 价格功能比低,适合我国国情。(10) 无三废公害,射线防护安全可靠。实用新型专利号：ZL200620040917.5发明专利号：200610025556.1高新技术成果转化项目编号：200607406

Delong低电压台式透射电子显微镜LVEM系列Delong Instruments推出的LVEM系列低电压台式透射电子显微镜（Low-Voltage Electron Microscope），采用Schottky场发射电子枪，电子束加速电压远低于大型透射电镜。低电压电子束对密度和原子序数有很高的灵敏度，对于轻元素样品，无需染色即可得到高质量成像，尤其适合高分子、生物等样品。同时，低电压透射电镜对样品的损坏较小。☆ 实验室台式透射电子显微镜系统，支持多种成像模式 ☆ 观察生物样品无需染色，简易快速地获得观察结果☆ 无需专门隔震防磁使用环境，操作维护简单☆ 无需冷却水，无需专业实验室，维护成本低各型号详情(点击图片即可了解) LVEM 5LVEM 5将高分辨率成像和纳米级分辨能力结合在一起，小型台式TEM设计。LVEM5能够在TEM、SEM和STEM成像模式下工作，同时保持经济实惠和使用简单，是高校或研究机构从事纳米工作的理想工具。LVEM 25LVEM 25是性能强大的紧凑型透射电子显微镜。它具有多功能性，将TEM、STEM两种成像模式，和ED分析模式结合到一台独立的机器中。实用和直观的设计以及令人印象深刻的分辨率使得LVEM25在高校或研究机构中纳米工作的研究成为一种乐趣。LVEM 25ELVEM 25E是All in One的紧凑型透射电子显微镜。它的多功能性在于它将3种成像模式（TEM、SEM和STEM）和2种分析模式（EDS和ED）结合到一台独立的仪器中。这种先进的设计与令人印象深刻的分辨力相结合，使LVEM 25E成为满足您纳米级成像要求的特殊伙伴。各型号参数对比 LVEM 5LVEM 25LVEM 25E（New!!!）操作模式 TEM, STEM, SEM, ED TEM, STEM, ED TEM, STEM, ED, EDS, Dark Field TEM, Dark Field STEM 工作电压5 kV10, 15, 25 kV10, 15, 25 kV分辨率（TEM）1.5 nm1.0 nm1.0 nm未染色样品的对比度高高高电子源场发射电子枪场发射电子枪场发射电子枪冷却水不需要不需要不需要压缩空气不需要不需要不需要换样时间3分钟3分钟2分钟

简介该产品采用X射线荧光（XRF）法，自动对环境空气中的PM₂ .₅ 进行连续采集、处理、分析，可同时监测铅、铬、镉、砷、铜、锌等30种以上元素成分浓度水平。产品特点● 配有氦气置换系统，检测灵敏度高，特别适用于轻元素的检测；● 双层铅板全封闭防护，确保X射线无泄漏；● 开门自动截断X射线管高压并界面警示；● 6档滤光片可切换，满足不同元素的测量；● 耗材管理系统，及时提醒耗材更换。

DM8000多元素分析仪（波散） 多道同时测量，快速、可靠、准确度高尤其适合工矿企业对多元素测量的要求采用波长色散X射线荧光(WDXRF)分析技术美国进口Varian公司薄铍端窗X射线管Moxtek公司0.6μm超薄聚酯探测器窗符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM8000多元素分析仪（波散）是由本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用同时式(或称多道式)波长色散X射线荧光(WDXRF)分析技术，所有道同时测量从Na到U的任意十种元素。对大多数元素，其测量范围可低至ppm高至100%。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作人员劳动强度低、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。DM8000多元素分析仪（波散）关键部件采用进口产品，如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管，Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗，恒温室温度控制精度小于0.1℃，流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa，还具有样品自旋装置以消除样品不均匀所产生的测量误差。由此使本分析仪具有极高的精度和准确度，达到国际先进水平。本分析仪屏蔽防护的良好设计保证无任何射线泄漏，满足辐射豁免要求。DM8000多元素分析仪（波散）应用于我国水泥行业尤其显示出其优越性。这是由于该款仪器最初是为水泥行业专门开发的，其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。其性能对水泥行业来说比进口同类产品更好，而价格仅为进口同类产品的一半，具有无可比拟的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等的浓度测量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等工矿部门的固体、液体和粉末样品中Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等的浓度分析。特点快速同时––同时式(或称多道式)，所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––波长色散XRF分析技术，具有能量色散无法企及的极高分辨率，从而准确测量相邻轻元素。使用方便––样品粉碎压片或熔融，放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。长期稳定––有恒温室、流气密度稳定、样品自旋等装置，还有可变增益数字多道，具极好的长期稳定性。高可靠性––固定道使仪器基本没有移动部件，且集成化程度高，环境适应能力强，从而可靠性高。软件强大––有比率或基体效应校正、偏差修正、合格率等统计、率值计算、出错提示等多种功能，还可免费 更新最新版本，根据用户要求增加软件功能。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。高性价比––无需水冷，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。原理其原理如图2所示。X射线管垂直放置，直接向上照射样品，这样可使它们之间的距离尽可能的近，从而达到最大激发效率。样品接受X射线管所发出X射线的照射将产生X射线荧光，其将进入分光室进行分光。一种元素对应一个分光室。X射线荧光经狭缝（如果分光晶体用的是弯晶）或索拉狭缝（如果分光晶体用的是平晶）射向分光晶体，经晶体分光后满足衍射条件布拉格方程的对应该元素的特征X射线荧光再经狭缝或索拉狭缝射向探测器。经探测器探测并经后面的电子线路计数后将得到该元素特征X射线荧光的强度，再经校准方程计算得到元素的浓度。图2 多道 WDXRF分析技术原理图由于其X射线荧光是经晶体按波长来区分的，所以称之为波长色散。其分辨率与探测器无关只与晶体有关，所以有很高的分辨率，相比于能量色散的要高1个数量级。关键部件进口美国Varian公司生产的薄铍端窗X射线管采用美国Varian公司生产的EG-60薄铍端窗X射线管。该X射线管是端窗的，X射线束垂直于靶，焦斑到样品距离极短，从而提高激发效率。其窗用薄铍，靶材用的是铑，所以能高效地探测轻元素。其阴极接地，消除了对高度绝缘的灯丝变压器的需要，也消除了铍窗口的电子轰击和由此产生的加热。其功率为400W，只需用风冷而不需用水冷，由于是多道同时测量，其效果相当于扫描式(或称单道式)的4000W大型X射线管。其外形图见图3。图3 EG-60薄铍端窗X射线管进口美国Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗对于轻元素的测量，比如Na、Mg，探测器的窗是很重要的，其必须足够薄并且足够牢。本仪器采用美国Moxtek公司生产的0.6μm厚的ProLINE系列20窗，其由超薄层聚合物和涂有200埃的铝的电荷耗散层连接到坚固的金属六边形支撑框架上，从而达到低能量x射线的高透射。B（Kα）的分析都是可能的。图4为其外形图。图5是其能量与透射率关系图。图4 Moxtek的超薄聚酯窗图5 ProLINE系列能量与透射率恒温室温度控制精度小于0.1℃波长色散分析仪是个精细的仪器，特别是晶体对机械尺寸的要求极高，当温度有一定的变化而造成尺寸那怕是微小的变化时会造成强度的变化，所以分光室必须恒温。本仪器的恒温室温度控制精度小于0.1℃，并且除分光室外，其他如探测部分及其电子线路等均在恒温室内，从而使仪器不受外界温度的影响。流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa本仪器所用探测器为本公司自己开发生产的流气正比计数管，其所流过的气体的密度必须恒定才能保证探测器的稳定，本仪器流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa。具有样品自旋装置以消除样品不均匀所产生的测量误差。样品若用粉末压片的方法制备的话，如含SiO2，由于其硬度很高，磨得的颗粒大小不一，从而使样片的表面不均匀。所以本仪器设计安装了样品自旋装置以最大程度的消除样品不均匀所产生的测量误差。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个国家水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分系数D系数E系数F相关系数γNa2O-0.12816.7578×10-600.8296MgO-0.22926.0429×10-500.9968Al2O3-0.10961.2584×10-400.9945SiO2-5.11162.1326×10-500.9727SO3-0.22071.1990×10-500.9687K2O0.02677.0202×10-600.9952CaO11.48801.1060×10-500.9980Fe2O3-1.71809.9915×10-600.9967这些校准曲线的相关系数γ大部分都大于0.99，表示DM8000多元素分析仪（波散）的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）XS1标样Na2OMgOAl2O3SiO2SO3K2OCaOFe2O3标准值0.092.594.2714.430.240.3039.841.96平均示值0.072.514.3114.340.260.2939.951.95最大示值0.072.544.3614.390.270.2939.981.96最小示值0.072.504.2914.290.260.2939.921.94极差00.040.070.10.0100.060.02示值标准偏差0.0010.010.020.020.0020.00140.020.0053倍示值标准偏差0.0030.030.060.060.0060.00420.060.015GB/T176的重复性限0.050.150.200.200.150.100.250.15DM8000与国标的符合性远优远优优优远优远优优远优GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM8000多元素分析仪（波散）可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤50keV，电流：≤8.0mA，功率：≤400W探测器超薄窗流气正比计数管可测元素或其氧化物种类从Na到U的任意十种元素或其氧化物，以水泥为例（下同）具体是：Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等。测量范围Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Na2O max—Na2O min≤5%，MgO max—MgO min≤5%，Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min7≤%，SO3 max—SO3 min≤5%，TiO2 max—TiO2 min≤5%，K2O max—K2O min≤5%，CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%。测量精度SNa2O≤0.01%，SMgO≤0.03%，SAl2O3≤0.04%，SSiO2≤0.04%，SSO3≤0.01%，STiO2≤0.01%，SK2O≤0.01%，SCaO≤0.03%，SFe2O3≤0.02%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：180s恒温室温度36℃±0.1℃使用条件环境温度：15～28℃，相对湿度：≤75%(25℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤1.0kW尺寸及重量790mm（W）× 760mm（D）× 1200mm（H），195kg

仪器简介：PrimusIV上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4kw,薄窗,适合轻元素分析 .1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.

技术参数：分析对象:4Be-92U 分光系统:波长色散式 X射线发生部 X射线管:端窗式Rh靶 4kW或3kW 高压发生器:高频变频器方式 额定电压,电流:4kW,60kV-150mA 稳定度: 正负0.005%(对于正负10%输入变动) 冷却水:水冷冷却水(内置) 分光部 样品交换机:从12,24,36,48样品4种中选择一种 样品尺寸:51mmx30mm(H) 分析样品面:最大35mm 样品旋转:30rpm 1次X射线滤波片:4种(Al,Ti,Cu,Zr) 视野限制光阑:6种自动交换机构(35,30,20,10,1,0.5) 发散狭缝:3种自动交换机构(标准分辨率,高分辨率,超轻元素用(选件) 接受狭缝:SC用,F-PC用 测角仪:独立驱动 测角范围:SC5-118度 F-PC:13-148度 最大扫描速度:1400度/min 连续扫描:0.1-240度/min 晶体交换:10晶体交换 分光晶体:标准:liF(200),Ge,PET,RX25 选件:LiF(220),RX4,RX9,RX40,RX45,RX61,RX75,RX80,RX61F,TAP 真空:双真空室(双真空泵),粉末样品附件(选件) 氦气置换机构:带隔板 恒温化机构:36.5度 记数.控制部:重元素用:SC,记数线性:1000kcps,轻元素用,芯线加热自动清洗 衰减器:IN-OUT自动切换 硬件:计算机:windouws PC 软件:定性分析(自动鉴定解析功能(平滑,扣背景) 定量分析:检量线法JIS法,各种基体校正,无标样分析法)EZ扫描,应用模板, 样品径自动选择,谱峰分离,定精度测试,E-mail传送功能,多功能标准样品 其它为选件 维护功能:自动PH调整(PAS),全自动芯线清洗,自动老化,自动诊断,远程诊断主要特点：硬件: 采用新光学系统 1新型分光晶体,大幅度提高轻元素的灵敏度. 超轻元素对应的X射线光管(4kW,30薄窗) 48样品交换器 1次滤波片 双真空,双泵 粉末附件,防止污染真空泵 定点分析:最小直径500,MAPPING分辨率100 节省空间,节能 软件 新的SQX软件 委托分析EZ扫描 定角度测试模式 应用摸板 散射线FP法 流程条 其他软件 应用软件包