扫描探针显微镜

高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜，SPM显微镜， 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成，同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台，包括各种扫描位移台，以确保用户大面积扫描样品，扫描探针显微镜具有最佳的多功能性，可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察（正置和倒置）扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性： 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统： 数字控制器和模拟反馈系统，具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件，控制所有的硬件工作。

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - MESP-V2布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 NP-O10布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 DNISP布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - DNP-10布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 SCANASYST-AIR布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - MLCT布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - SCM-PIT-V2 布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI,PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 SNL-10布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 RTESPA-300 布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 OTESPA-R4布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 SCANASYST-FLUID+布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

单点开尔文探针系统配件是全球首款用于室温条件和普通实验室条件下的系统，具有极为紧凑结构，可安放到各种环境箱或防尘罩中，探针头与振荡薄膜一起使用，预放大器集成到探针头中，方便更换。 单点开尔文扫描探针系统配件参数 探针与样品表面之间采用电动控制调节距离 Z轴定位分辨率: 5 μm 功函分辨率: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 开尔文探针头采用纯金工艺，底板表面镀金 样品架磁性固定到底板上 样品架直径：40mm 带有 3 mm 孔用于标准SEM样品架子 最大可测样品尺寸: 100 mm x 100 mm (mounted on Base plate) 振动隔离腿设计 包括参考样品材料: HOPG, Au on Si 配备汤姆森控制器和计算机 可选配温度和湿度传感器

布鲁克AFM原子力显微镜探针 SCM-PIT-V2布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - SCANASYST-FLUID布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - RTESPA-525 布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - OLTESPA-R4布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - PFQNE-AL布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2,MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - DNISP-HS 布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - RTESPA-150布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 RFESPA-75布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMount DescriptionPack SizeTip Radius (nm) OBL-10UnmountedAu Coated tips 2 Cantilevers, 0.006-0.03N/m, Au Reflective Coating1030

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

1、不锈钢基片 原子力显微镜AFM基片用于原子力显微镜承载样本之用，边缘光滑，表面平整，不锈钢材料，适合各种品牌的原子力显微镜。 货号产品名称规格75010-1212 mm Specimen Metal Discs for AFM50/pk75010-1515 mm Specimen Metal Discs for AFM50/pk 2、镀金基片镀金样本台具有抗电迁徙、高导电性、高导热性等优秀性能，所以可以作为AFM/STM(原子力显微镜/扫描隧道显微镜)等电镜样本支撑的首选。黄金是最惰性的金属，它和聚合物的粘合是很困难的，除非使用UV光和等离子辉光处理。 金膜厚度0.25微米，全包被。4种直径大小可选。不锈钢本体厚度大约0.76mm。订购信息：货号产品描述规格TP16207镀金样本基片（镀金样本台），10mm20个TP16208镀金样本基片（镀金样本台），12mm20个TP16218镀金样本基片（镀金样本台），15mm16个TP16219镀金样本基片（镀金样本台），20mm4个其它基片简介： 1）镀金硅片可用作纳米领域的基片、扫描电镜（SEM）、原子力显微镜（AFM）及其它扫描探针显微镜的测距，以及细胞培养，蛋白质DNA 微阵列和反射计等方面。尽管很多实验室拥有镀金能力，但由于很多用户共同使用的原因，设备难免受到不同程度的污染。有资料表明即使轻微污染，也会对细胞成长表层特性造成影响。直径100mm，金镀层10nm，基片厚度525un。 2）镀金云母片 通过将金蒸镀到刚剥离的云母基片制成。建议使用前先进行退火处理。基片的原子表层一经生产便会有玷污发生，退火的金基片也不例外。建议在收到产品后立即使用，可能基片还未被玷污，处于待用状态。但在到货三至四个月后，基片会发生玷污，即使我们将其封装在一个惰性无尘的环境中。通常原子能平台约为300nm宽。经氢焰退火后，尺寸略有增大。原材料为厚度100μm至150μm的云母条。它接下来会被剥离成两片，形成两片厚度大约在50μm至75μm的薄条。

大面积扫描开尔文探针系统配件能够在垂直方向移动开尔文探针实现电动控制开尔文探针与样品的距离。 样品安装到真空吸盘上，真空吸盘可带着样品移动150x150mm位移，从而实现开尔文扫描探针系统大面积扫描样品表面。大面积扫描开尔文探针系统配件特色: 电动控制开尔文探针与样品的距离 电动控制样品XY移动范围150 mm x 150 mm 具有编码器的主动定位定位追踪系统 Z方向步进大小: 625 nm X - and Y-方向: 5 μm / microstep 功函分辨率:: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 框架表面镀金 开尔文探针头采用纯金工艺 最大外形尺寸: 50 cm (W) x 60 cm (D) x 25 cm (H) 最大样品尺寸: 150 mm x 150 mm 真空样品吸盘 包含参考样品标准: HOPG, Au on Si, Al/Au-edge, Potential Check 可选配温度和湿度传感器

NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。 2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP； 2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP 2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜，完全改变了动辄百万人民币的电镜价格，它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件具有传统显微镜20倍的分辨率，提供高分辨率成像，非常适合科研人员，工程师获取高质量的亚微米分辨率图像，非常容易使用，用户接受培训10分钟即可独立操作，非常适合材料科学，微电子等领域获取高分辨率图像。扫描电子显微镜配件参数放大倍数：24-24000X图像分辨率：高达2048x2048像素空间分辨率：高达30nm样品加载：小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量：55kg扫描电子显微镜配件规格系统主要部件：成像模块，17' ' 触摸屏显示器，旋转手柄，真空泵，USB接口驱动光学放大：固定24X放大电学放大：120-24000X可调光学探测：彩色CCD相机电学探测：高灵敏度背散射探测器图像输出格式：JPEG,TIFF, BMP，图像分辨率：456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储：优盘样品台：计算机控制电动XY台样品容纳大小：直径25mm ，高度30mm样品加载时间：光学成像5s , 电学成像30s减震桌要求：120x75cm 尺寸以上的减震桌

台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜，完全改变了动辄百万人民币的电镜价格，它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件特点：具有传统显微镜20倍的分辨率，提供高分辨率成像，非常适合科研人员，工程师获取高质量的亚微米分辨率图像，非常容易使用，用户接受培训10分钟即可独立操作，非常适合材料科学，微电子等领域获取高分辨率图像。台式扫描电子显微镜配件参数放大倍数：24-24000X图像分辨率：高达2048x2048像素空间分辨率：高达30nm样品加载：小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量：55kg台式扫描电子显微镜配件构成系统主要部件：成像模块，17' ' 触摸屏显示器，旋转手柄，真空泵，USB接口驱动光学放大：固定24X放大电学放大：120-24000X可调光学探测：彩色CCD相机电学探测：高灵敏度背散射探测器图像输出格式：JPEG,TIFF, BMP，图像分辨率：456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储：优盘样品台：计算机控制电动XY台样品容纳大小：直径25mm ，高度30mm样品加载时间：光学成像5s , 电学成像30s减震桌要求：120x75cm 尺寸以上的减震桌