数字波前分析仪

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数字波前分析仪相关的厂商

  • 汇谱分析仪器制造河北有限公司
    汇谱分析仪器制造河北有限公司是一家集研发、生产、销售和服务于一体的专业分析仪器生产厂家。资金300万元人民币。主要生产:气相色谱仪、顶空进样器、热解析仪、解析管老化仪、数字皂膜流量计、氢气发生器、空气发生器、氮气发生器等产品，已获的多项国家专利。公司位于京津地区最近的高原地区，夏天气候凉爽的避暑胜地——张北县。 公司拥有一批长期从事色谱仪开发及分析应用、维修经验丰富的工程师，在色谱类仪器的维护、维修、和调试等方面的技术力量雄厚。近年来，我们已为国内著名高等院校、科研单位、生产企业及检验检测机构提供了大量先进的分析仪器和设备及完整的系统解决方案。正是因为高品质的产品、专业的应用及完善的售前售后服务，我们赢得了广大用户的支持与信赖，具有良好的声誉。 公司坚持“品质领先、科技领先” 的经营理念，不短追求技术进步，为用户提供最优质的服务，矢志不渝的推进“汇谱”品牌建设。
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  • 南京宁博分析仪器有限集团公司
    南京宁博分析仪器有限公司是集科研、生产、销售为一体的高新技术型企业。公司拥有一批多年从事高速分析技术研究的尖端专业人才，并荣获了多项专利发明，开发了国内多元素一体化分析仪的第一代检测软件并获得了国家知识产权保护！公司总工季一渤高级工程师是中国第一代研究、生产高速分析仪器的专家。七十年代他就开始研究元素高速分析仪器，多年来已经为全国众多企业解决了无数难题，获得了企业与社会的一致好评。季一渤高工在黑色金属、有色金属的炉前快速分析、成品分析以及各种矿物分析方面拥有极其丰富的实际经验，可为各类型实验室提供完整的解决方案，并可培训相关技术人员。公司在售后服务方面也开创了国内同行业先例，首家推出了400国内免费电话，完全解决了企业售后服务难题。公司秉承一贯的“和谐、奋进、真诚……”理念，将售后服务工作放在工作的首位，在全国各地区均设立了售后服务部，24小时全天候服务，彻底消除了广大用户的后顾之忧！南京宁博分析仪器有限公司主要生产金相分析仪、直读光谱仪、微机高速分析仪、碳硫分析仪、高频红外碳硫分析仪、电弧红外碳硫分析仪、管状炉碳硫分析仪、三元素分析仪、多元素分析仪、电脑多元素联测分析仪、电脑多元素一体化分析仪、非水定碳仪、定碳仪、定硫仪、可见分光光度计、紫外可见光分光光度计、看谱仪、二用式看谱仪(小光谱仪)、测温枪、炉前铁水碳硅快速分析仪等。
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  • 博山同业分析仪器厂
    博山同业分析仪器厂是研制、开发、生产分析仪器的专业厂家。产品已广泛应用于电力、石油、化工、农药、医药等行业。我厂本着“质量第一，用户至上”的宗旨，以高新技术为产业支柱，善于学习，勇于创新，按现代企业制度规范企业行为，始终遵守“品质至上，至诚至信”的信念，致力于中国分析仪器的发展。凭借自身优势，建立具有核心竞争力和持续发展力的新型企业。在这里汇集了高素质的科技人才，具有较强的技术力量，有着强烈的追求信念，不断为客户提供高品质的产品。 企业按规范化、合理化、标准化、科学严谨的管理手段，使产品质量有一套完善的控制程序。我们视质量为生命、信誉为市场、力尽完美、全心负责。因此我们的产品每时每刻都在进取。 同业仪器愿与各界人士通力合作，相互信任，共创伟业！
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数字波前分析仪相关的仪器

  • 波前传感器横向剪切波前分析仪 400-860-5168转2831
    PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器关键词：分析仪，PHASICS波前分析仪，波前传感器，波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简单等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！PHASICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。图1 波前校正前与校正后对比 PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉专利技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。 第一部 产品介绍 SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测等）。特点：u 高分辨率（250x250）u 通光孔径大（8.0mmx8.0mm）u 覆盖紫外光谱u 灵敏度高（0.5um）u 优化信噪比 图2 SID4-UV波前分析仪 SID4 波前传感器可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布，波前像差，激光的M2，泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。特点：? 波长范围：400-1100nm? 分辨率高（160x120） ? 消色差 ? 测量稳定性高 ? 对震动不敏感 ? 操作简单 ? 结构紧凑，体积小 ? 可用笔记本电脑控制 图3 SID4位相检测 SID4-HR 波前相差仪可用于检测各种透镜，光学系统的检测，可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像：传函仪、干涉仪，具有操作简便，测量精度高，参数输出方便等优点，正在被越来越多的客户推崇。特点：u 波长范围：400-1100nmu 高性能的相机，信噪比高u 实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）u 曝光时间极短,保证动态物体测量u 操作简单 图4 SID4-HR图5 SID4-HR传递函数检测 SID4 NIR 波前分析仪主要针对1550 nm（1.5um-1.6um）激光的检测，具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。特点：2 高分辨率（160x120） 2 快速测量 2 性价比高 2 绝对测量 2 对振动不敏感 图6 SID4 NIR激光波前检测 SID4 DWIR 波前仪具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um 和8-14um的波前位相，强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。特点：u 光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。 u 光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等u 高分辨率（96x72） u 可实现绝对测量u 可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量，无需额外中转透镜 u 快速测量 对振动不敏感 u 可实现离轴测量 u 性价比高 图7 SID4 DWIR SID4产品型号参数汇总型号SID4SID4-HRSID4 UV-HRSID4 NIRSID4 DWIRSID4-SWIR孔径尺寸（mm2）3.6 x4.88.9 x11.88.0 x8.03.6x4.813.44x10.089.6x7.68空间分辨率(um)29.629.63229.6140120测量点数160x120300x400250x250160x12096x7280X64波长范围350-1100 nm350-1100 nm190-400 nm1.5-1.6μm3-5μm 8-14μm0.9- 1.7μm精准度10nm RMS10nm RMS10nm RMS15nm RMS75nm RMS10nm RMS动态范围100μm500μm200um100μm/~100μm采样速度60 fps10 fps30 fps60 fps50 fps60fps处理速度10fps3 fps1fps10fps20 Hz10Hz 第二部 SID4波前分析仪控制软件 SID4波前分析仪控制软件SID4波前分析仪控制软件与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图，测量光强分布和波前信息。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。Adaptive Optics Loops将SID4 Wavefront Sensor结合您的应用，选配合适的可变形镜或相位调制器，提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠，高精度的解决方案。图8 SID4控制界面SID4光学测量软件KaleoPhasics基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合，可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟，我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系数，曲率半径，PSF等。 第三部 SID4波前分析仪与传统哈特曼波前分析仪比较 与传统哈特曼波前传感器测量结果对比： 技术参数对比：PHASICSShack-Hartmann区别技术剪切干涉微透镜阵列PHASICS投放市场时，已经申请技术专利，是对夏克-哈特曼技术的升级重建方式傅里叶变换分区或模式法夏克-哈特曼波前探测器，局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似，误差大强度对强度变化不敏感对强度变化灵敏PHASICS测量精度高，波前测量不依赖于强度水平校准用针孔校准、方便快捷安装困难，需要精密的调节台PHASICS使用方便取样点SID4-HR达300X400测量点128X128测量点（多个微透镜）PHASICS具有更高的分辨率数值孔径NA：0.5NA：0.1PHASICS动态范围更高分辨率29.6μm115μmPHASICS具有更高的空间分辨率测量精度2nm RMS5nm RMSPHASICS更好的测量精度获取频率60fps30fpsPHASICS获取速度快处理频率10Hz30HzPHASICS可满足大部分处理要求消色差无需对每个波长进行校准需要在每个波长处校正PHASICS更灵活，可以测试宽波段，而不需要校准 第四部 应用领域 ? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域OKO 可变形镜数字波前分析仪XY系列向列液晶空间光调制器XY系列铁电液晶空间光调制器
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    厂商： 上海昊量光电设备有限公司
    品牌： Phasics
    型号： 4 Wave Lateral Shearing Interferometry
    价格： 面议
  • 波前分析仪CLAS-2D 400-860-5168转1980
    美国LUMETRICS公司自主研发的CLAS-2DTM系列波前分析仪（CLAS-2D™ , CLAS-XP™ , CLAS-HP™ , CLAS- NearIR-320™ , CLAS-NearIR-640™ ）能够快速、简单、准确的测量激光光束的波前相位参数，例如波前倾斜，峰谷误差，均方根波前误差，像散，球差，聚焦误差/准直。LUMETRICS公司的波前分析仪是集四波横向剪切干涉仪，光束质量分析仪，自准直仪和四象限探测器为一体的快速、紧凑型波前分析仪器。运用独特的算法能够精确测量三个波段的波前参数：300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。另外, 美国LUMETRICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。波前分析仪产品特点：CLAS-2DTM系列波前分析仪具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！LUMETRICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。波前分析仪应用范围：? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域 CLAS-2DTM产品型号汇总 COMPLETE CLAS-XP System型号81000-0081000-4681000-4781000-4881000-4981000-50焦距（mm）2.02.0474.758.1915.4825.08灵敏度λ/30λ/30λ/50λ/100λ/150λ/200动态范围120λ120λ80λ60λ40λ30λ透镜尺寸（mm）0.0720.0720.1080.1440.1980.252透镜阵列102*102102*10268*6851*5137*3729*29 COMPLETE CLAS-HP System型号81000-2081000-2181000-2381000-24焦距（mm）4.987.7819.9229.62灵敏度λ/100λ/150λ/200λ/250动态范围211λ169λ105λ115λ透镜尺寸（mm）0.1120.1400.2240.280透镜阵列128*128102*10264*6451*51 COMPLETE CLAS-Near IR 320 System型号81000-3281000-3381000-3481000-3581000-3681000-27焦距（mm）25.6936.9911.4417.8725.749.3灵敏度λ/83λ/100λ/46λ/58λ/70λ/50动态范围44λ37λ78λ63λ53λ55λ透镜尺寸（mm）0.4000.4800.3200.4000.4800.225透镜阵列24*1920*1630*2424*1920*1671*56
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    厂商： 先锋科技（香港）股份有限公司
    品牌： 未知
    型号： CLAS-2D
    价格： 35万元
  • Phasics波前分析仪 400-860-5168转5082
    法国Phasics公司波前分析仪 公司成立于2003年，从法国科学研究中心LULI实验室分拆出来，技术源于法国国家航天实验室。其独特四波横向剪切干涉技术，克服了夏克-哈特曼技术的限制，具有高分辨率、高动态范围、高稳定性、易使用、零色差等特点。 Phasics公司的波前分析仪结构紧凑，在没有中继光学器件的情况下可对激光进行直接测量：位相、泽尼克/勒让德系数、斯特列尔比、PSF、光斑直径、束腰位置、M2等全方位的激光参数信息。Phasics以客户为中心，关心满足所有需求：其强大的研发团队不断开发创新功能和探索新应用，并根据客户要求定制标准配置。 1、主要应用 激光 自适应光学及等离子体检测 光学元件及光学系统计量 微观材料检测 2、技术参数型号波段口径空间分辨率相位分辨率取样分辨率绝对精度采样速率实时处理速率SID4-UV-HR190-400nm13.8×10.88mm38.88um1nmRMS355x28010nmRMS30fps＞3fpsSID4-UV250-400nm7.4×7.4mm29.6um2nmRMS250x25010nmRMS30fps＞2fpsSID4-sC8400-1050nm16.61×14.04mm19.5um＜1nmRMS852x720NA40fps10fpsSID4-Bio400-1100nm11.84×8.88mm取决显微镜放大倍率＜1nmRMS400x300NANANAfpsSID4-HR400-1100nm11.84×8.88mm29.6um2nmRMS400x30015nmRMS10fps3fpsSID4400-1100nm4.73×3.55mm29.6um＜2nmRMS160x12010nmRMS40fps＞10fpsSID4-UHR400-1100nm15.16×15.16mm29.6um（可拓展至22.2um）2nmRMS512x512 (可拓展至666x666）15nmRMS8fps1fpsSID4-V400-11004.73×3.55mm29.6um＜2nmRMS160x12010nmRMS60fps＞10fpsSID4-SWIR900-1700nm9.6×7.68mm120um＜2nmRMS80x6415nmRMS30fps7fpsSID4-eSWIR900-2350nm9.6×7.68mm120um＜6nmRMS80x64＜40nmRMSNA10fpsSID4-SWIR-HR900-1700nm9.6×7.68mm60um2nmRMS160x12815nmRMS30fps7fpsSID4-DWIR3-5um 8-14um10.88×8.16mm68um25nmRMS160x12075nmRMS50fps＞10fpsSID4-LWIR8-14um16×12mm100um25nmRMS160x12075nmRMS24fps10fps3、Phasics还可以基于现有的波前分析仪根据客户要求定制各种测量系统。1）多色动态干涉仪Kaleo MultiWAVE主要特点：最高可以集成8个波长波长可以覆盖紫外到中远红外透射波前误差和反射波前误差均可测量纳米级相位分辨率＞500条纹数超高的动态范围 最高130mm的有效口径RMS重复精度＜0.7nm(＜λ/900)精度80nm PV动态范围500条纹数可测反射率范围4%-100%光学结构双通道波长数量1-2，最高至8波长范围193-14um有效口径130mm视场角对准±2°可调对角范围±2.5m2）全自动镜头质量检测工作站Kaleo MTF主要特点：同轴（＜1%）和离轴（＜2%）MTF精确测量大视场角测量（广角镜头、鱼眼… … ）汽车/移动物镜的轻松镜头定位适应生产环境全自动测量，一次采集可以得到完整的测试参数共轴OPD精度＜20nmRMS共轴重复精度＜0.5%离轴重复精度＜1%MTF最大截止频率1000lp/mmEFL重复精度0.5%共轴OPD重复精度＜5nmRMS光学设置有限到无限配置波长405-940nm,最高8波长入射直径最高8.8mmf#＞1.7焦距5-40mm法兰焦距8-33mmFOV可至±90°主射线角可至50°更多信息，请与我们联系！
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    厂商： 深圳精信立科技有限公司
    品牌： 精信立/PRECS
    型号： 波前分析仪
    价格： 1万元
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  • 波前检测技术和晶体加工技术取得重要进展
    日前，中科院高能所多学科中心光学团队基于北京同步辐射装置BSRF和晶体实验室实现了衍射极限水平的波前检测和晶体加工技术。高能同步辐射光源HEPS光束线建设的又一项关键技术取得了突破性进展。大块硅单晶体是硬X射线单色器及谱仪的核心光学元件，而晶体的表面形貌起伏、加工破坏层和晶格应力等诸多因素都会对X射线波前产生严重影响，从而破坏相干性和衍射极限聚焦。对于前几代同步光源，由于光束相干尺寸小，即使是高相干要求的纳米探针或者相干散射束线，也只要求晶体能够挑选出较小的局部范围保持波前即可。而作为衍射极限水平的第四代同步辐射光源，HEPS的相干尺寸较三代光源高出约2个量级，要求全光束范围里获得完美波前，这对晶体的加工能力提出了严峻的挑战，是国际上第四代光源共同面临的技术挑战之一。该团队在X射线晶体实验室已开发的晶体加工工序基础上，通过引入一种新的柔性化学机械抛光方法，实现了全光束口径近厘米范围内超高精度波前保持的晶体加工。同时，该团队还创新性地提出了双刃波前检测的方法，解决了相干性不足、稳定性不足以及入射波前畸变几项关键问题，在第一代同步辐射光源上实现了衍射极限水平的波前检测，为波前保持的晶体加工工艺探索提供了高精度检测手段。2022年7月BSRF专用光期间，该团队在1B3B测试束线上，验证了自研双刃波前检测装置的性能，并利用该装置以日本进口国际前沿水平的“晶格无扰乱”晶体作为参照样品，开展了自研晶体和参照晶体的波前检测对比实验。结果显示，在晶体上50μm横向空间分辨率下，该装置的单次扫描斜率检测精度达到25～50 nrad RMS，波前高度检测精度高达1.5pm RMS；自研晶体波前精度达到60～100 nrad RMS，与参照样品（70～100 nrad RMS）基本处于同一水平，满足HEPS光束线指标要求。团队成员承担PAPS光学系统、HEPS测试束线和光学设计系统等多个项目任务。接下来，团队还将进一步优化实验条件，提升波前检测能力，完善晶体加工工艺。图1 晶体双刃波前检测实验图2双刃法单次扫描波前检测误差25.8nrad 1.5 pm RMS图3 自研柔性化学机械抛光晶体，波前精度61.7nrad 6.0pm RMS图4 日本进口“晶格无扰乱”晶体，波前精度73.2nrad 7.8pm RMS图5 团队现场合影
    时间： 2022-08-23
    作者： 葱头
  • 波前检测技术和晶体加工技术取得重要进展
    日前，中科院高能所多学科中心光学团队基于北京同步辐射装置BSRF和晶体实验室实现了衍射极限水平的波前检测和晶体加工技术。高能同步辐射光源HEPS光束线建设的又一项关键技术取得了突破性进展。大块硅单晶体是硬X射线单色器及谱仪的核心光学元件，而晶体的表面形貌起伏、加工破坏层和晶格应力等诸多因素都会对X射线波前产生严重影响，从而破坏相干性和衍射极限聚焦。对于前几代同步光源，由于光束相干尺寸小，即使是高相干要求的纳米探针或者相干散射束线，也只要求晶体能够挑选出较小的局部范围保持波前即可。而作为衍射极限水平的第四代同步辐射光源，HEPS的相干尺寸较三代光源高出约2个量级，要求全光束范围里获得完美波前，这对晶体的加工能力提出了严峻的挑战，是国际上第四代光源共同面临的技术挑战之一。该团队在X射线晶体实验室已开发的晶体加工工序基础上，通过引入一种新的柔性化学机械抛光方法，实现了全光束口径近厘米范围内超高精度波前保持的晶体加工。同时，该团队还创新性地提出了双刃波前检测的方法，解决了相干性不足、稳定性不足以及入射波前畸变几项关键问题，在第一代同步辐射光源上实现了衍射极限水平的波前检测，为波前保持的晶体加工工艺探索提供了高精度检测手段。2022年7月BSRF专用光期间，该团队在1B3B测试束线上，验证了自研双刃波前检测装置的性能，并利用该装置以日本进口国际前沿水平的“晶格无扰乱”晶体作为参照样品，开展了自研晶体和参照晶体的波前检测对比实验。结果显示，在晶体上50μm横向空间分辨率下，该装置的单次扫描斜率检测精度达到25～50 nrad RMS，波前高度检测精度高达1.5pm RMS；自研晶体波前精度达到60～100 nrad RMS，与参照样品（70～100 nrad RMS）基本处于同一水平，满足HEPS光束线指标要求。团队成员承担PAPS光学系统、HEPS测试束线和光学设计系统等多个项目任务。接下来，团队还将进一步优化实验条件，提升波前检测能力，完善晶体加工工艺。图1 晶体双刃波前检测实验图2双刃法单次扫描波前检测误差25.8nrad 1.5 pm RMS图3 自研柔性化学机械抛光晶体，波前精度61.7nrad 6.0pm RMS图4 日本进口“晶格无扰乱”晶体，波前精度73.2nrad 7.8pm RMS图5 团队现场合影
    时间： 2022-08-22
    作者： 情绪波动
  • 上海屹尧摸索出应对消费品安全改进法案的微波前处理方案
    近期中国玩具业大规模召回事件屡次发生，据悉，2007年美国CPSC共召回88起，数量约1800 万件的我国产含铅超标产品，2008年8月14日签署了《2008消费品安全改进法案》（H.R. 4040），其中明确规定了儿童产品中铅和邻苯二甲酸酯的含量要求，这一方案的实施成为玩具出口新壁垒，中国玩具业应如何面对？答案毫无疑问关键是加强自身产品的检测力度，建立良好的内部监控系统，实现简便、快速、精确的定量分析铅与邻苯二甲酸酯具有非常重要的实际意义。 基于此，我们公司协同合作实验室和部分客户对玩具类产品中铅和邻苯二甲酸酯进行了微波前处理和后续分析检测的研究。用微波消解处理玩具类样品用于铅的测定，根据样品的性质我们实验了HCl、 HNO3、 HF、H2O2 等多种酸消解体系考察对玩具类样品的消解情况，并摸索出了一套优化的实验方案，该方法的平均回收率为93.6%-108.3%，RSD为1.9%-4.5%。用微波萃取处理玩具类样品用于邻苯二甲酸酯的测定，对萃取溶剂、微波萃取时间和微波萃取温度选做了考察，摸索出了优化的实验方案，该方法平均回收率为91.6%-103.3%，RSD为2.5%-4.8%。以上实验皆取得了满意的结果，满足企业及检测机构的要求。 如果需要具体的应用方法，请拨打电话：021-54427057 / 54427605 / 54426558转市场部马小姐咨询，或发Email至marketing@eu-chem.com索取。
    时间： 2008-12-11
    作者： 上海屹尧
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  • 【分享】激光粒度分析仪

    [size=6][b]激光粒度分析仪[/b][/size]　　 光在传播中，波前受到与波长尺度相当的隙孔或颗粒的限制，以受限波前处各元波为源的发射在空间干涉而产生衍射和散射，衍射和散射的光能的空间（角度）分布与光波波长和隙孔或颗粒的尺度有关。用激光做光源，光为波长一定的单色光后，衍射和散射的光能的空间（角度）分布就只与粒径有关。对颗粒群的衍射，各颗粒级的多少决定着对应各特定角处获得的光能量的大小，各特定角光能量在总光能量中的比例，应反映着各颗粒级的分布丰度。按照这一思路可建立表征粒度级丰度与各特定角处获取的光能量的数学物理模型，进而研制仪器，测量光能，由特定角度测得的光能与总光能的比较推出颗粒群相应粒径级的丰度比例量。

  • 【原创】微波前处理技术应对消费品安全改进法案（H.R.4040）

    近期中国玩具业大规模召回事件屡次发生，据悉，2007年美国CPSC共召回88起，数量约1800 万件的我国产含铅超标产品，2008年8月14日签署了《2008消费品安全改进法案》（H.R. 4040），其中明确规定了儿童产品中铅和邻苯二甲酸酯的含量要求，这一方案的实施成为玩具出口新壁垒，中国玩具业应如何面对？答案毫无疑问关键是加强自身产品的检测力度，建立良好的内部监控系统，实现简便、快速、精确的定量分析铅与邻苯二甲酸酯具有非常重要的实际意义。 基于此，公司协同合作实验室和部分客户对玩具类产品中铅和邻苯二甲酸酯进行了微波前处理和后续分析检测的研究。用微波消解处理玩具类样品用于铅的测定，根据样品的性质我们实验了HCl、 HNO[sub]3[/sub]、 HF、H[sub]2[/sub]O[sub]2[/sub] 等多种酸消解体系考察对玩具类样品的消解情况，并摸索出了一套优化的实验方案，该方法的平均回收率为93.6%-108.3%，RSD为1.9%-4.5%。用微波萃取处理玩具类样品用于邻苯二甲酸酯的测定，对萃取溶剂、微波萃取时间和微波萃取温度选做了考察，摸索出了优化的实验方案，该方法平均回收率为91.6%-103.3%，RSD为2.5%-4.8%。以上实验皆取得了满意的结果，满足企业及检测机构的要求。

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  • 波前分析仪系统配件
    波前分析仪系统配件受机械噪声和振动的影响小，可以分析宽范围内的波长，也可以测量连续波，飞秒级的脉冲辐射，是实时测量的。可以用来测量波长、光束强度同时估算光束质量。该传感器（分析仪）可以轻易地置入自适应光学系统中使用！波前分析仪测量结果显示：桌面： PV, RMS. 以泽尼克表示的波前像差系数最高是36和赛德尔像差（倾斜、离焦、像散、彗差、球面）。 激光束表征参数。 图形窗口： Hartmannogram图像。 各种相位和光束强度（灰度或调色板）的3D,2D图形分布图，合成的条纹和梯度映射图根据获得的数据改变。 光束的点扩展函数表示聚焦中的光强分布。 不同类型的光束孔径（圆形，椭圆，矩形，多边形）。 对齐选项。 报告以多种格式储存，可以打印图像。 软件具有用户友好型图形界面，界面上有菜单，热键和帮助项。波前分析仪应用: 科学研究中心，教育和研究实验室。 生产激光系统和激光机床的工业企业或商务公司。 制造业，使用激光辐射为工具用在不同技术领域，特别是必须要精确控制光束的应用 研究光学测试设备的制造业。 医疗和诊断中心。 范例，该照片显示了11WFS是如何置入自适应光学系统（AOS）。AOS是为了校正波前像差。入射光束从第一平面反射，然后从可变形反射镜发射，穿过分离器。一部分光束到达11WFS和另一部分穿过输出孔。 波前分析仪配件: 光学接口：调整系统，让光束准直可达100 mm。 固定支架上是中性密度滤光器（30%，1%，0.1%，直径25mm，光学质量是λ/ 10）。 平面参考波前源（准直器，一个波长的光纤耦合激光器，固定支架）。 STANDA公司的线路板和机械工具。波前分析仪规格 波长范围, mm 400...1100 传感器的孔径（布局）, mm 1/3"(1/2") - 4.5x2.8 (6.4x4.8) 相机分辨率 744х480 pixels（1 / 3“相机的基础版本） 微透镜阵列参数， （间距，mm-焦距，mm）0.15 - 6（基础版本） 微透镜数 30x18 (42x32) 帧速率 60 Hz 波前精度 波长/ 10 波前动态倾斜范围 波长*50 尺寸 55 x 55 x 70 mm
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
  • 横向剪切波前分析仪
    所属类别：? 光学/激光测量设备 ?波前分析仪所属品牌：法国Phasics公司Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测量专利技术之上，即4波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。SID4: 一款紧凑型的波前传感器SID4波前传感器体积小巧，结合了传统的剪切干涉的优势，安装使用简单。我们的优势在于4波横向剪切干涉技术（基于改善后的哈特曼衍射遮挡板）。SID4是测量光束特性的必要工具，在光学测量方面有着许多应用。波长范围：350-1100nm分辨率高（160*120）消色差测量稳定性高对震动不敏感操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制SID4 HR:高分辨率波前传感器SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400个测量点的相位图，保证了高精度测量，可用于对各种光学器件的测量，如透镜，物镜，球面镜，微透镜特征测量等波长范围：400-1000nm高性能的相机，信噪比高实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）曝光时间极短保证动态物体测量SID4 HR操作简单SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围从190nm到400nm。SID UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器SID4 UV-HR非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测…）。高分辨率（250*250）通光孔径大（8.0mm*8.0mm）覆盖紫外光谱灵敏度高（0.5um）优化信噪比SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器SID4 NIR是一款覆盖近红外范围（1.5um-1.6um）的高分辨率波前传感器。用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。高分辨率（160*120）绝对测量快速测量对于振动不敏感性价比高SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器PHASICS推出了业界第一款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 μm to 5 μm and from 8 μm to 14 μm)SID4 DWIR光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等）高分辨率（96*72）可实现绝对测量可覆盖中红外和远红外波段大数值孔径测量，无需额外中转透镜快速测量对振动不敏感可实现离轴测量性价比高 SID4软件介绍与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的电磁场分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图测量光强分布和波前。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。adaptiveoptics loops将SID4 wavefront sensor结合自适应光学，选择最合适的应用。应为可变形镜和相位调制器都是可以提供的。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，利于激光光束和成像系统。传统的测量结果与Phasics的测量结果对比：
    供应商： 筱晓（上海）光子技术有限公司
    品牌： 完美光子
    价格： 面议
  • 波前传感器
    波前传感器ML4560.波前传感器由传感器头部和新软件raylux ML1240组成，它具有高动态范围及高精度。传感器头部为预校准的，基准波前已置于软件之内。无需再校准即可进行高精度的测量。该软件包括激光波前的分析，并且光束质量分析软件beamlux ML1200符合ISO标准。运用ML3743摄像头，可随意的对光束进行分析。规格：
    供应商： 筱晓（上海）光子技术有限公司
    品牌： 完美光子
    价格： 面议
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