依巴斯汀参考光谱

ALL-CKMD400型晶棒参考面X射线定向仪ALL-CKMD 400 MODEL X-RAY CRYSTAL ORIENTATION INSTRUMENT BY THE REFERENCE PLANE 产品特点⑴ 测量晶棒夹具的结构与功能介绍：基准平台：此件固定在主机的台面板上，测量时做水平基准面，基准平台的右侧为定位面，左侧为夹紧装置，左侧的夹紧装置上有夹紧螺钉，设备配套的夹具在测量时放于基准平台上。⑵ 测量〈A〉面：晶体主参考面面定向：可测量晶棒直径为2、4、6英寸,面的θ角：18.917°(18°55′00″)(或按客户需要做C向、R向)。①仪器的校准：用标准晶棒校准仪器。晶向〈A〉的θ角：18.917° (18°55′00″)②将装有晶棒的夹具，清理洁净后放到仪器的基准平台上，调整前后位置，使X光能够照射到晶棒的外圆柱面上，旋转基准平台左侧的夹紧螺钉，把紧。打开X射线光闸，使待测量晶棒在夹具内慢慢转动，寻测峰值。当μA表针为最佳状态时(即为最大值时)，保证晶棒不动，夹紧晶棒。③将夹具从定向仪下移出，转到磨床上磨削平面。④自动升降测试。 Features⑴ Construction and function of crystal clipBenchmark platforms: it is fixed on the host machine panel, used for the horizontal platform when testing the sample.The right side of the base platform for locating surface, left platform for clamping .The clip has the screw clamping device.Please put the clip on the horizontal platform when begin to have a testing .⑵Measuring the A direction : crystal main reference A flat orientation: it can measure crystal rods for 2, 4, 6 inch in diameter, direction θ angle：18.917°(18 ° 55 ' 00 ") (or according to customers requirement ,use the C or R direction).①The calibration of instruments: use a standard crystal rod calibration instrument. Crystal (A) θ Angle :18.917 ° (18 ° 55 ′00 ")②After cleaning up the clip ,and put it on the horizontal platform for adjusting its position ,in order to enable the x-ray exposure on the outside skin of the cylinder crystal ,and fix the screw on the left of rotated horizontal.Open the X-ray shutter ,and let the crystalrotating slow to find the peak .When the μA meter find the best status (i.e the max.value) ,make sure the crystal being static,and fix it tightly.③Unload the clip from the instrument ,and put it on the grinding plane of the grinding machine.④Auto lifting test. 技术指标●输入电源：单相交流220V，50Hz，0.25kW。 ●X射线管：铜靶，风扇冷却，阳极接地。 ●最大管电压电流：30kV，5mA连续可调，使用2.0mA以上， 有可能损坏X光管并加大辐射危害。 ●探测器：计数器。工作电压最高为DC1000V；或闪烁探测器, 工作电压最高为DC1200V。●时间常数：1（快）、2（慢）两档。●测角角度：θ=18.917°（18°55′00″）●主光闸：自动。●显示板：射线强度表。●外型尺寸：1132（长）×642（宽）×1460（高）mm●重量：200kg Technical Parameters●Input power: Single phase with AC 220V,50Hz,0.25kW●X-ray tube : Cu target ,cooled by fan ,and anode earthMax.tube voltage and current :30kV ,5mA ,being continued adjustment .If using the current is more than 2.0mA ,which may be damaged the X-ray tube insert and enlarge the radiative harm●Detector: counter . The max. working voltage is DC1000V Or scintillation counter,the max.working voltage is DC1200V●Time parameter:1(fast)/2(low)●Testing angel :θ=18.917°（18°55′00″）●Main shutter:auto●Displaying board: radiative rose chart●Size:1132（L）×642（W）×1460（H）mm●Weight:200kg

WS-1标准漫反射参考白板WS-1标准漫反射参考白板是用PTFE制成的。PTFE是一种具有可用作反射实验标准参照物的理想朗伯表面的漫反射塑性白胶。PTFE可以被地加工成需要的形状，做成无定形结构，参考板对400-1500 nm的反射率大于98%，对250-2000 nm的反射率大于95%。 WS-1具有非常好的长期使用稳定性，包括用紫外线照射的条件下。同时，它不易被水沾湿，化学性质也很稳定。 WS-1-SL标准Spectralon反射参考白板 WS-1-SL是Labsphere公司生产的标准漫反射白板，采用Spectralon反射材料制作。Spectralon不怕水浸而且热稳定性良好，可以在高达350度的条件下使用。稳定的材料保证客户可以获得准确的可重复的数据。相对于PTFE材料的白板，WS-1-SL的表面如果被污染或者有划痕，您可以将它打磨后继续使用。 WS-3-GEM白色参考板WS-3-GEM由漫反射材料PTFE制成，其不锈钢容器内部被做成凹面形，这使得光线照射时，WS-3-GEM成为一个积分球。WS-3-GEM可用于钻石或其他宝石的色度测量。WS-3-GEM对400-1500 nm的反射率大于98%，对250-2000 nm的反射率大于95%。与WS-1类似，WS-3-GEM的反射材料不易被水沾湿，化学性质也非常的稳定。 漫反射参考白板WS-1WS-1-SLWS-1-SSWS-3-GEM尺寸:38 mm 直径(外壳) 32 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)38 mm 直径(外壳)32 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)38 mm 直径(外壳)32 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)38 mm 直径(外壳)31 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)重量:30 g30 g30 g70 g光谱范围：250-2000 nm250-2500 nm250-2000 nm250-2000 nm外壳:铝塑料, 保护盖不锈钢不锈钢反射率:98% (250-1500 nm)95% (250-2200 nm)99% (400-1500 nm)96% (250-2000 nm)98% (250-1500 nm)95% (250-2200 nm)98% (250-1500 nm)95% (250-2200 nm) 镜面反射参考白板 通用且耐用的参考我们提供三种镜面反射白板，用作测量表明反射率的参考。每个白板由31.7mm的外径的光学反射材料组成，外面是铝制的外壳和带螺纹的盖子。表层的镀膜非常优异，性能稳定，可以承受高温和机械压力。 高反射率测量STAN-SSH高镜面反射率标准可以做为测量像感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等。 表面具有高镜面反射率值的物质时的参照。STAN-SSL 在200-800 nm波长范围内提供~85-90%反射率，在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。 有两种款式的STAN-SSH，STAN-SSH 型，NIST认可的STAN-SSH-NIST型 。 NIST型STAN-SSH-NIST是按照一个NIST校准（NIST号为NIST38060S, s/n 99G16）250-2500 nm精度大概为 0.1% 。与STAN-SSH-NIST一起交货给用户的还有一个校准说明书，一个做为波长函数的反射率值数据表，和一张光盘，其中数据可以上传到光谱仪操作软件上。 建议用户定期标定STAN-SSH-NIST 。 低反射率测量STAN-SSL 低镜面反射率标准是一个中性滤光片标准。可以做为测量像薄膜层，抗反射层，阻挡滤光片等。 表面具有低镜面反射率的物质时的参照。STAN-SSL的涂敷层 在200-2500 nm波长范围内提供~4.0% 反射率。STAN-SSHSTAN-SSH-NISTSTAN-SSL基底尺寸:31.75 mm 外直径 x 6.35 mm 高度31.75 mm 外直径 x 6.35 mm 高度31.75 mm 外直径 x 6.35 mm 高度外壳尺寸:38 mm 外直径 x 19 mm 高度38 mm 外直径 x 19 mm 高度38 mm 外直径 x 19 mm 高度重量:40 g40 g40 g反射率材料:Front-surface protected aluminum mirror on fused silica substrateFront-surface protected aluminum mirror on fused silica substrateSchott ND9 glass反射率:~87-93% (200-1000 nm)~93-98% (1000-2500 nm)~87-93% (200-1000 nm)~93-98% (1000-2500 nm)~5% (200-950 nm)~4% (950-2500 nm) 韵翔光电也可以为您提供配套的支架和测量仪器（光谱仪和照明光源）， 帮助您实现各种样品的反射测量。

光频梳偏频测量模块（f-2f自参考模块）一．载波包络偏移模块（f-2f自参考）/fceo频率产品概述 光学频率梳是当今激光与时间频率学科的前沿技术，载波包络偏移(f-2f自参考)有效地链接了光学频率与微波频率，在过去二十年间推动了精密光谱学、光学测量技术、量子精密操控、光钟等重要技术的发展。其基于飞秒锁模激光器，通过锁定重复频率(frep)和载波包络偏移频率(fceo)使梳齿稳定呈现出固定间隔的特征。 昊量光电新推出光频梳偏频测量模块(COSMO)，为测量载波包络偏移频率(fceo)的f-2f自参考锁定过程提供了一种紧凑且方便的解决方案。COSMO运用了非线性波导技术产生超连续谱，将频谱扩展到至少一个倍频区域，通过低频翻倍与高频进行重叠，从而精准测定fceo。同时，COSMO可以用极低的脉冲能量检测目标频率，从而实现更低的功耗或更高的重复频率。二．载波包络偏移模块（f-2f自参考）/fceo频率模块基本参数规格COSMO输入脉冲波长~ 1560 nm输入脉冲能量 200 pJ输入光纤PM 1550 Fiber输入光学信号接口FC/APC输出电信号接口SMA模块尺寸~ 50×35×22 mm输入平均功率400 mW工作温度0 to 40 ℃fceo峰值的信噪比 35 dB三．载波包络偏移模块（f-2f自参考）/fceo频率使用案例激光器载波包络偏频锁定实验装置 Menhir激光器产生波长1550 nm 1 GHz脉冲激光，并将其送入掺铒光纤放大器以增加脉冲能量。放大后的脉冲光通过一小段色散补偿光纤，输入至光频梳偏频测量模块(COSMO)，测定fceo。fceo信号在放大、滤波后进入锁相环等反馈模块，为激光器提供反馈信号。射频频谱分析仪可以看到具有相干尖峰的锁定fceo信号。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。