射线显微分析仪

材料显微分析工作不仅限于通过显微镜等设备对材料的微观形貌进行拍摄，还包括了对所拍摄到的微观图像进行分析。对这些数据的分析工作要求我们一定要考虑到：对样品自身背景、取样方法、制样工艺、拍摄条件以及接收信号种类对测试结果的影响。对电镜原理及分析技术的理解不仅可以让我们得到漂亮美观的显微图像数据，可以帮助我们挖掘到很多关于材料本身的信息。我们知道扫描电镜对样品的微观信息进行分析，有各种个样的成分信息。比如背散射电子、二次电子、背散射电子衍射花样、阴极荧光、特征X射线、韧致辐射X射线等等。[align=center][img=,690,329]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707310824_01_1735_3.jpg[/img][/align][align=center]图1、 不同二次电子的特征及产生机理示意图[/align]拿二次电子衬度形貌的分析来举例如图1所示，二次电子在扫描电子显微镜中主要分三大类：第一类是一次二次电子SE1，主要是由入射电子与样品极表面（几纳米的深度）相互作用而产生的，它的产率受入射电子束方向与样品表面夹角的影响，因此体现的是样品的形貌衬度；第二类是二次二次电子SE2，主要是由入射电子束在材料机体内发生弹射后又从电子束进入材料的入射点周围及附近弹出时，与材料表面相互作用而引起的，它的产率受材料主体成分及材料晶体取向的影响，因此体现的是材料成分信息及材料晶体取向信息（一般情况下SE1信号在材料的观测中为主要衬度，只有在SE1衬度极弱的条件下，SE2信号的衬度才可以被我们观察到）；第三类是三次二次电子SE3，主要是由电镜样品舱内或物镜极靴或样品台与弹射出样品的背散射电子作用而产生的，它一般是作为噪音来被二次电子探测器接收到的，这类信号越多，电镜拍摄到的图像衬度越差。[align=left][b]SE2二次电子的应用[/b][/align]我们都知道一般SE1二次电子用来观测图像的形貌衬度，而把SE2或SE3当做噪音来看待，但是随着制样工艺及电镜表征技术的发展，SE2二次电子信号也可以被我们用来分析材料的微观结构信息，如下图粉末颗粒截面：[align=center][img=,690,518]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707310824_02_1735_3.jpg[/img][/align][align=center]图2 电极材料截面形貌观测[/align][align=center][/align][align=left]我们可以观测，当通过氩离子束抛光把样品表面抛的绝对平的时候，SE1的形貌衬度在图中样品的平面部位的衬度就很弱，因此反应晶体取向衬度的SE2信号就被我们观察到了，图像中颗粒截面的这种亮暗不同是由不同 取向的晶粒造成的，通过它我们可以很直观的看到样品的晶粒度（亮暗区域的大小）、晶体取向差（亮暗灰度绝对值）。对我们研究新材料的性能及合成工艺有很大的帮助。[/align][align=center][/align]

======================================================================= （综述）电子显微分析技术在高分子材料中的应用 Applications of Electron Microscopy for Polymers~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~摘要透射电子显微镜（TEM）已经逐渐成为材料研究领域最重要的成像和表征手段之一。这篇综述主要介绍了近年来出现的几种电子显微分析技术，并结合高分子聚合物材料的特点列举了这些技术在实际研究中的应用。这些技术包括：高分辨透镜（HRTEM）成像，扫描透镜（STEM）成像，能量过滤透镜（EFTEM）成像以及电子能量损失谱（EELS）分析。综合运用这些成像和分析工具，可以更全面了解高分子材料在各个微观尺度下的性质。AbstractThe transmission Electron Microscope (TEM) has been used extensively as one of the most versatile and powerful tools for materials characterization. This review highlights important development of several microscopy and analysis techniques in the field of polymers. These techniques include High Resolution TEM (HRTEM), Scanning TEM (STEM), Energy Filtered TEM (EFTEM), and Electron Energy-loss Spectroscopy (EELS). By combining multiple microscopy techniques, we are able to gain a better understanding of polymers properties in various scales.http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252216_567945_1982636_3.png~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~1. 前言 从Ernst Ruska在1931年发明了第一台透射电子显微镜（TEM）开始，电子显微分析已逐渐成为材料科学领域特别是材料微观表征的重要方法之一。经过80多年的发展，现代透射电镜在传统的TEM模式之外又相继衍生出了高分辨（HRTEM）和扫描透射（STEM）两种不同的电子成像模式。结合附加的X射线能谱仪（EDS）和电子损失能谱仪（EELS）等，TEM又可以拓展为功能强大的结合了成像和化学分析能力的分析级电子显微镜(AEM)。近20年来TEM和相应的成像分析技术都得到了长足的进步，在分辨率已经突破亚埃级（0.5埃=0.05纳米）的基础上又陆续发展出冷冻电镜 (Cryo-TEM) ，三维成像 (Tomography) ，低电压电镜（LVEM），能量过滤电镜 (EFTEM) 等新兴技术。伴随着这些新技术的发展，TEM的应用领域也不仅仅局限于传统的硬材料(金属，半导体，陶瓷等）而是一直延伸到各种软材料（高分子，生物和复合材料）（参见5）。这篇综述简要介绍了各种显微分析技术的特点和原理，针对高分子样品的制备手段并介绍了各种分析手段在实际研究中的应用。2. 样品制备 在电子显微分析中，样品制备往往是决定图像质量，保证分析准确的最重要一步。不同于常规硬材料，高分子材料普遍存在着硬度较低，物理化学性质不稳定的特点。这些特点决定了它们需要使用不同于常规硬材料的减薄方法来制样才能满足不同的表征要求。制样的第一原则就是在保证不破坏材料原有性质的情况下得到尽可能薄的样品。由于高分子材料大多由碳氢氧等轻元素组成，传统的制样过程一般会采用类似于生物样品的重金属染色方法。利用电子散射能力较强的金属制剂对样品进行染色。金属原子可以与样品里特定的分子键合来提高图像的衬度。然而使用这种方法需要人为的加入样品以外的成分，这样做往往会破环样品原始的特性。特别当需要对样品进行原子级别的分析时，来自金属染色剂的大量的背景信号会影响最终化学元素分析的准确性。现在，即使在不使用染色剂的情况下，利用多种新型成像技术（包括STEM，LVEM，EFTEM 和Cryo-TEM）我们也可以有效地提升图像衬度并减少样品在电子束辐射下的损伤。这就要求我们找到合适的制备方法来得到保持材料原有特性的超薄样品。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252223_567948_1982636_3.png图一. 制备固体或溶液形态的高分子样品的不同步骤 （参见6）。针对两种常见的高分子材料形态（固态和溶液态）有两种不同的处理样品方法（参见6），见图一：1）块状或薄膜状的材料可以首先用树脂包埋，预切后在冷冻超薄切片机中调节合适的温度切片。使用的冷却温度可以根据高分子材料的Tg温度来调节，一般设置在起始温度在-80度左右。得到的切片可以直接用铜网收集，厚度大致在20-80nm； 2）高分子的溶液（也可以为水溶液）可以用Solution Casting方法。在覆盖碳膜的铜网上滴上5-20微升的样品溶液。然后使用Cryo-plunger自动吸出多余的溶液后浸入液体乙烷中快速冷冻。第一种方法保证了固体高分子材料的原有特征不被破坏，同时保证了样品合适的厚度。第二种方法特别适用于观察高分子物质在液态中的特征，整个冷冻过程保证了材料在溶液中的形态。利用集成的湿度控制装置可以直接对亲水性高分子材料进行制备。3. 分析电镜技术简介及其在高分子材料中的应用 3.1 电子成像和分析原理在透射电镜中，平行电子束在透过样品时会与样品内部发生一系列相互作用。透过样品的散射电子和产生的其他信号在收集后可以被用来进行成像和不同类型的显微分析。图二中简单概括了电子束和样品之间的相互作用。根据是否有能量损失，散射电子又分为弹性散射电子(elastically scattered electrons)和非弹性散射电子(inelastically scattered electrons)。部分入射电子束在与原子核作用后发生弹性散射，并最终被CCD捕捉形成传统的明场（Bright Field简称BF）TEM图像。与此同时，入射电子可以与原子核外电子云作用。在损失一部分能量后，经过非弹性散射的电子束可以用来形成电子能量损失谱（Electron Energy Loss Spectroscopy简称EELS)。而另一部分被激发的外层电子会填入内层电子的空位，这之间的能量差所产生的特征X射线可以通过X射线能谱仪(Energy-dispersive X-ray spectroscopy 简称EDS)来探测。结合图像和能谱，还可以实现能谱成像(Spectrum Imaging 简称SI)和能量过滤成像（Energy Filtered TEM 简称EFTEM)（参见7）。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252225_567949_1982636_3.png图二. 电子束与样品间相互作用以及产生的多种电子和能量信号(参见7)。3.2 高分辨成像（HRTEM）及其应用 除常规的TEM成像，高分辨成像(HRTEM)可以用来直接观察高分子材料内部的原子排列特别适用于对高分子晶体结构的研究。尽管HRTEM在硬材料方面的研究应用已经很普遍，但局限于样品制备和电子辐射损伤的影响，对于高分子结构的高分辨成像和解析还不多。图三是聚四氟乙烯(PTFE)晶体的高分辨HRTEM图像，右侧相对应的是PTFE高分子链的重复单元结构示意图。通过高分辨成像，可以清晰地辨别出分子链上紧密排布的原子和相对应的157螺旋结构。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252237_567950_1982636_3.png图三. 聚四氟乙烯(PTFE)晶体的高分辨图像和分子链重复单元结构（参见3）。3.3 扫描透射电镜 (STEM) 成像及其应用 如图四所示，STEM模式下聚焦的电子束在材料表面扫描，透过的电子信号根据散射角度的不同被不同位置的探测器收集后分别形成STEM-BF明场，STEM-ADF暗场以及STEM-HAADF高角度环形暗场图像。因为图像的明暗程度直接和所观察区域内的原子序数有关，高角度环形暗场（High-angle Annular Dar

[align=center][b][color=#cc0000]电子探针X射线显微分析仪（JCXA-733）故障维修几例[/color][/b][/align][align=center][color=#cc0000][b] [/b][/color][/align][b][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【前言】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 电子探针X射线显微分析仪（Electron ProbeMicroanalysis，缩写EPMA）（简称电子探针）是一种显微分析和成分分析组合微区分析的电子仪器，它主要用于分析样品微小区域的结构组织和元素分布状态，非常适用于样品微小区域的化学分析和材料研究。电子探针镜筒结构与扫描电镜基本相同，它的检测器（分析晶体或分光晶体）部分使用的是X射线谱仪，用来检测X射线的特征波长（波谱仪，WavelengthDispersive Spectrometer,缩写WDS ）或能量（能溥仪，Energy DispersiveSpectrometer,缩写EDS），由此对材料样品的成分进行微区分析。电子探针结构原理框图参见图1.[/color][/b][align=center][b][color=#cc0000][img=,554,410]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/10/201810312104490648_2578_1841897_3.jpg!w554x410.jpg[/img][/color][/b][/align][align=center][color=#cc0000][b]图1 电子探针结构原理框图[/b][/color][/align][color=#cc0000][b][/b][/color][color=#cc0000][b] 我国在80年代初购置了一定数量的日本电子公司生产的JCXA-733电子探针，该仪器二次电子图像分辨率高达7nm，放大倍数十万倍，元素分析范围B5～U92，大部分元素的分析灵敏度可达10[sup]-5[/sup]，并配有计算机自动控制系统和相应的自动分析软件。因为我们属于科研单位，所以有幸购置安装了一台JCXA-733电子探针，由于此电子探针属于日本电子公司生产的大型电子仪器，结构庞大，电路复杂，在我国有些地方水土不服，尤其是南方潮湿的环境下工作容易发生故障。该仪器在我单位使用过程中前前后后也产生了不少问题，本人在多年的维护保养工作中，遇到过多种不同类型的故障。以下是我单位JCXA-733电子探针出现一些典型故障及维修处理实际例子的经验小结，供大家分享。由于案例大多是根据好多年前的维修笔记整理而成的，那时基本都没有拍照留影，实物图片无法提供，敬请各位谅解！[/b][/color][color=#cc0000][b][/b][/color][color=#cc0000][b]一、【故障现象】：[/b][/color][color=#cc0000][b][/b][/color][color=#cc0000][b] 波谱仪（简称谱仪）X-RAY ，第二道CH2线扫描指示仪表（RM，计数率计指示仪表）无峰值指示。[/b][/color][color=#cc0000][b][/b][/color][color=#cc0000][b] 【检查与处理】：[/b][/color][color=#cc0000][b][/b][/color][b][color=#cc0000] 该谱仪有5个通道CH1-CH5，首先确认CH1，CH3-CH5的指示均正常，说明电源系统是正常的。将CH2与CH1分析晶体探测器接口互换，结果CH2有峰值指示，判断CH2分析晶体与探测器正常，故障在后级电路。根据检测原理分析，整个检测通道由前置放大器（121J），主放（490J），计数率计（441J）及指示仪表（RM）等多个单元组成，故障就应该在这几个单元中。由于谱仪各通道单元是独立的，而且是可以互换的，所以故障相对来说可采用互换法检查比较方便。谱仪工作原理参见图2.。[/color][/b][align=center][b][color=#cc0000][img=,509,377]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/10/201810312105398621_5548_1841897_3.jpg!w509x377.jpg[/img][/color][/b][/align][align=center][b][color=#cc0000]图2 谱仪工作原理图[/color][/b][/align][b][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 前面已判断分析晶体和探测器正常无需检查了，所以首先从CH2的前级开始，先将CH2前放（121J）与CH1前放互换，故障不变，再将主放（490J）与CH2的主放互换，结果CH2（RM）峰值指示恢复正常，说明CH2主放（490J）有故障。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 检查主放（490J）电路，打开内部测量电源电压，结果发现无-24V，沿电路查找发现-24V电源滤波电阻（100Ω，0.5W）烧焦，焊下测量已断开，因为是电源电路故障，所以暂不轻易更换电阻，继续查找结果发现-24V滤波电解电容220μF，35V有漏液现象，焊下测量结果已严重漏电几乎被击穿，再检查其它元件及电路未发现异常。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 更换新电解电容（220μF，35V）和电阻（100Ω，1W），检测电源电压-24V恢复正常，复原主放（490J），CH2有峰值指示了，谱仪恢复正常工作。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】：由于主放（490J）是个密封金属盒，内部散热不是很好，电解电容在发热环境下受高温影响，导致电解液膨胀使电解电容破裂溢出，造成严重漏电被击穿。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000]二、【故障现象】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 波谱仪X-RAY ，CH1—CH5面扫描（PHA）图像正常，线扫描图像无峰出现。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 根据原理分析通道CH1—CH5面扫描（PHA）图像正常，判断分析晶体及探测器正常，也说明扫描电路前放（121J），主放（490J），计数率计（441J）均正常，线扫描图像由计数率计441J输出至图像通道选择器（通道选择开关），检查图像选择器CHA—CHE记录输出端子，发现已经松动不稳，重新固定输出端子，线扫描图像显示已有峰值信号，仪器恢复正常工作。为更可靠的工作，同时将通道选择开关用电子清洗剂一起清洗，以保证选择开关触点接触良好。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】：仪器长期使用受环境影响有些接线端已发生松动，接触不良，造成电子信号异常，仪器无法正常工作。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000]三、【故障现象】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 开机抽真空，机械泵（RP）不能正常工作，RP故障指示灯点亮。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 机械泵在开机时，机械泵（RP）旋转几秒钟后，随后进入故障失控状态，自动停止旋转。打开机械泵箱，检查机械泵工作传感器位置正常，用手压传动皮带发现很松，已经有打滑现象，由于该机械泵传动皮带无原装配件，国产皮带又无合适尺寸的可替代。经过分析决定采用升高机械泵的方法来解决此问题。寻找到不同厚度的垫圈，准备根据具体情况来选择合适厚度的垫圈，将机械泵底座四个固定螺钉取下，分别垫上一个垫圈，使机械泵整体抬高，确定最合适厚度的垫圈，适度将传动皮带拉紧一些，重新固定螺钉，此时皮带松紧正合适，开机机械泵旋转正常，故障排除，仪器恢复正常工作。[/color][color=#cc0000][/color][/b][color=#cc0000][b] 【小结】：该仪器的真空泵为间歇式启动停止工作方式，仪器连续工作时间很长，机械泵的工作频率也很高，长期运行导致传动皮带磨损发软松弛，最后出现打滑现象。[/b][/color][b][color=#cc0000][/color][color=#cc0000]四、【故障现象】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 试样台卡死无法打开，样品室真空指示灯未亮，按手动放气钮无效，样品室内部呈真空状态，无法进行取样。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 按动试样台放气按钮，试样台真空指示灯灯不亮，无放气反应。关闭主机重新开机，再次试按放气钮仍然无效。由于主控台操作无效，于是决定采用应急放气方式，根据真空系统各密封室控制阀门工作流程分析，样品室由阀LV2控制，找到按钮开关LV2即可进行手动排气，在仪器尾部试将LV2按钮开关打到ON，排气成功。样品室可正常打开，将样品室内样品更换后，从新将LV2按钮开关打回OFF，再抽真空，真空度到位后试样台真空指示灯点亮，故障排除。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】：经仔细检查其原因是在装样品时样品架未推到位，此时就开始抽真空，结果导致真空指示灯未亮，同时放气按钮无效。[/color][color=#cc0000][/color][/b][color=#cc0000][b]五、【故障现象】：[/b][/color][color=#cc0000][b][/b][/color][color=#cc0000][b] 电子探针无灯丝电流，调节灯丝电流控制旋钮，电流表指针移动很小无峰值出现。[/b][/color][b][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 泄掉镜筒真空，打开镜筒上端盖，检查灯丝及灯丝安装座，灯丝良好未烧断，仔细观察发现灯丝簧片有烧黑现象，感觉是接触不良，有点像打火造成的，用酒精清洗效果不佳，用研磨膏打磨后再用酒精清洗，簧片恢复如初。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 灯丝完好确无灯丝电流，说明电路存在故障。检查灯丝电流推动电路，用万用表分别测量灯丝推动电路板上各元器件。结果发现有一只三极管烧坏，其它无异常发现，在备件库里找到同型号三极管更换后。重新安装灯丝，打开仪器抽真空，真空度到位后，调节灯丝电流控制旋钮，电流指示出现峰值，故障排除电路恢复正常工作。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】：此故障是由于安装灯丝时灯丝黄片位置未完全对位，固定螺丝上紧未压实黄片，导致灯丝黄片接触不良，灯丝电路启动中电流较大出现打火造成三极管损坏。因此安装灯丝时一定要注意，连接灯丝的簧片应对准位置并拧紧螺丝。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000]六、【故障现象】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 谱仪测量系统低压CH1—CH5均无电源指示，即低压指示灯未点亮。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 由于谱仪CH1—CH5电源（+12V、-12V、+24V、-24V）是公用的，CH1—CH5均无电源指示，说明谱仪低压总电源存在故障，检查总电源220VAC输入发现保险丝（4A）已烧断，该电源由电源变压器降压后分多路输出，整流稳压后输出各路低压直流电源，供给谱仪CH1—CH5各单元使用。分别检测各低压整流桥及相关电路元器件，结果发现有一只整流桥击穿，顺电路查找为+24V整流桥（3A，50V）击穿，再检查+24V滤波电解电容（2200μF，35V）严重漏电击穿，在备件库里找到保险丝（4A）、整流桥（3A,50V）和电解电容（2200μF，35V）更换后电源恢复正常，谱仪测量系统CH1—CH5低压电源（+12V、-12V、+24V、-24V）指示灯均被点亮。仪器恢复正常工作[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】：分析原因谱仪CH1—CH5电源在机柜里散热不是很理想，电源箱是密封的，在打开电源箱时发现散热风扇网栅有脏堵现象，造成机内温度较高，使电解电容受热导致损坏，最后击穿损坏整流桥和保险丝。为此特地重新清洗了散热风扇网栅，这样恢复并加强了机柜电源箱内部的散热力度。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000]七、【故障现象】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 样品室调节试样台上下限时，无上限报警，下限报警正常。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 查样品室工作正常，泄真空后取样、装样也正常，但试样台上下限到位后无上限报警，调整试样台上下限手柄，试样台运动平稳顺畅，无阻尼卡滞现象，观察看上限报警微动开关限位顶杆位置，未发现异常，感觉很奇怪，再次观察下限报警微动开关限位顶杆位置，与上限报警微动开关限位顶杆位置仔细对比，结果发现微动开关限位顶杆有微弱偏斜现象，原来问题出在这里。由于开关限位顶杆有微弱偏斜使微动开关杠杆压片未对准限位端位置，重新调整上限限位报警微动开关位置并固定紧，并使杠杆压片对准限位端位置，关闭样品室重新抽真空，调节试样台上限位报警恢复正常。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】：经过与操作者沟通最后了解到，可能是在装取样品时，由于异性样品未注意碰到了上限位报警微动开关，微动开关产生了轻微的偏移。由于此仪器是精密仪器，各个部位位置都要求很精准，即使是微小的偏离也会造成故障。因此必须要注意在装取样品操作时一定小心，绝对拒绝鲁莽的动作出现，否则就会发生一些看似轻微，但很难察觉的意想不到的故障。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000]八、【故障现象】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 在进行电子探针图像观察时，显示屏无图像，调节亮度、辅助亮度、对比度各种旋钮和各种工作模式按键开关均无图像[/color][color=#cc0000]显示[/color][color=#cc0000]。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【检查与处理】：[/color][color=#cc0000][/color][/b][color=#cc0000][b] 根据电路分析，显示屏工作由CRTHV UNIT 单元电子电路完成，CRT HVUNIT单元为显示管（注：显示管与电视机显像管不同，主要区别在高分辨率与余辉指标上）提供各种工作电压，其工作原理类似于黑白电视机显像管的电路原理，有灯丝、阴极、控制栅极（-10 V～+40V）、第二栅极（加速极，+400V）、聚焦极（≤1.5kV）及阳极（高压，10KV）等，显示管原理如图3所示。[/b][/color][align=center][b][color=#cc0000][img=,550,379]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/10/201810312111102102_8641_1841897_3.jpg!w550x379.jpg[/img][/color][/b][/align][b][color=#cc0000][/color][/b][align=center][b][color=#cc0000]图3 显示管原理图[/color][/b][/align][color=#cc0000][b][/b][/color][color=#cc0000][b] 打开显示屏主机柜后盖，仔细观察显示管灯丝是亮的，说明灯丝电路正常，再仔细观察高压盒，发现高压盒加速极接线端子严重发黑并伴有打火现象，该加速极电压正常为+400V，用万用表测量只有几十伏且不稳定，由此说明该电压过低导致显示屏无亮度，也就造成无图像显示。[/b][/color][b][color=#cc0000][/color][/b][color=#cc0000][b] 关闭总电源，将高压盒外围清理干净，仔细观察加速极接线端子很脏，严重发黑，但未见烧坏痕迹，于是先用酒精清洗接线端子和绝缘瓷柱，再用金相砂纸打磨接线端子绝缘瓷柱周边发黑部位，最后用酒精彻底清洗干净，晾干后，再用电吹风吹干所有部位，用704硅绝缘胶涂抹接线端子瓷柱，及周边有可能会发生打火的部位，48小时固化后装回加速极接线端。检查接线及其它无误后，开机显示屏有图像显示了，调节亮度、辅助亮度及对比度旋钮图像随之变化正常，无电子图像故障排除，显示屏电子图像功能恢复正常使用。[/b][/color][b][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【小结】： 由于我们地处南方，梅雨季节环境潮湿，使很多电子元件容易受潮，尤其是在仪器停机一段时间后，再开机机内容易发生打火，电晕，爬电等现象，造成仪器无法正常工作。因此平时应尽量多打开仪器让其工作，这样机内的热量可以烘走潮气，有空调的可用抽湿功能进行除湿，另外有条件可安装抽湿机，以保证仪器在潮湿的环境下也能正常工作，同时也减小了仪器发生故障的概率。[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] 【结语】：[/color][color=#cc0000][/color][color=#cc0000] JCXA-733型电子探针是日本电子公司八十年代的早期产品，在当时属于顶极的电子仪器产品，现在看来此仪器已经比较老旧了，但仍具有较优良的技术指标和性能。无论如何，不可否认的是，在那个年代JCXA-733型电子探针还是为我国的科学研究、学术教学和产品研发做出了一定的贡献。虽然在仪器使用过程中多多少少出现了一些这样那样的问题，个人认为就日本的电子技术产品设计和研发的态度，以及对仪器生产、组装、调试的严谨性而言，此仪器仍不失为优秀的电子仪器，这也是值得我国电子仪器研发单位和生产厂家所应该学习的。大家都应该记住，科学无国界，技术共发展。[/color][/b]