射线显微分析仪

传统原位载台仅能够提供样品表面在拉伸或压缩情况下结构的变化，而搭载在X射线显微分析系统的原位拉伸载台则能够提供样品内部结构及物理性能变化的过程，通过结合X射线显微分析系统和具备原位加热或冷冻耦合功能的拉伸压缩系统则能够提供样品在力场及温度场条件下独特的三维原位分析能力。该系列原位载台系统专为X射线显微分析系统开发，能够提供拉伸及压缩功能，同时覆盖几N到20kN载荷范围，同时可以提供100Nm的扭转功能。低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料，高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品，我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。该系列载台依旧可以提供3点及4点弯曲夹具，以及压缩夹具选择。通过采用基于Windows操作系统的软件进行精准控制，载台与控制电脑通过USB或RS-232接口进行连接。同时也可以提供单独加热或冷冻载台，该类载台可以用来分析冷冻样品或进行原位变温实验。l 加载范围 20kN/0.1KNml 拉伸，压缩，扭力l 加热&冷却l 液体&气体氛围腔室应用领域：低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料，高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品，我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。CT5000原位载台系统在地质材料中的应用作为UGCT联合创始人的Veerle Cnudde教授领导的地质材料多尺度孔隙结构分析课题（PProGRess），其研究组利用该技术对地质材料中多尺度孔隙结构变化过程的研究来进行岩石在地质运动及成藏反应中显微结构的变化及演进过程分析。UGCT实验室的X射线显微分析系统搭载了Deben CT5000原位拉伸/压缩载台，得益于该载台能够让Veerle Cnudde教授的实验方案得以实施。咨询Veerle Cnudde教授为什么选择Deben的CT5000原位载台，其回答到：“CT5000系列原位X射线载台系统作为为数不多的原位载台系统，其强大的适配性能够完美满足我们不同类型的实验需求，目前该载台能够实现在高载荷条件下岩石不会炸裂开，结合提供多种定制化夹具设计能力，则能够提供满足不同尺寸及不同拉伸距离所需的样品夹具，这是也目前为什么UGCT实验室两台X射线显微分析系统均配备CT5000系列原位载台系统的原因。”CT20kN开放式拉伸载台系统在奥本大学安装测试成功美国阿拉巴马州奥本大学安装了Deben开放式原位拉伸载台，该载台可以实现拉伸、压缩和扭转测试，能够施加高达20kN的力，专为同步加速器和X射线显微成像系统设计的，该大学将开放式原位拉伸载台与其Pinnacle型号PXS-500/90 CT系统集成在一起，并已经计划在新的开放框架系统上运行一系列原位载荷测试。CT5000原位载台系统在均质材料研究中的应用Fredrik Forsberg博士是瑞典吕勒奥理工大学工程科学与数学系的副高级讲师，他在X射线显微成像实验室的研究目标是开发新的方法和新的分析工具来帮助更好地了解异质材料以及它们在不同环境和不同空间尺度下的物理行为。Forsberg博士描述了他最近使用这种实验装置的一个项目：“我们非常自豪的分享最近的一项对微尺度雪晶体的3D定量原位成像研究，以及它们对压缩载荷测试的反应。这项研究相当具有挑战性，需要大量的仔细规划，但目前实验结果非常好。如果没有Deben公司CT5000TEC原位载台系统，这些测量将很难实现，因为它们需要精确、同时控制机械负载和温度（冷冻能力）。以前，我们主要使用自己构建的测试载台，但是这些都没有温度控制，同时使用Deben原位载台系统的另一个巨大好处是非常方便使用不同载荷传感器，这些载荷传感器可以根据材料强度和应用需求进行选择。此外，该软件界面易于使用，并得到蔡司Scout and Scan软件的支持，该软件用于控制型号为Versa的X射线显微镜。”

X射线显微分析仪（μXRF）XGT-9000应对外来物质分析和元素分布检测的解决方案。运用强大的“快速分析模式”和“细节分析模式”，对外来物质分析，XGT-9000作为单一一台仪器即能迅速完成筛查和形状确认。 1外来物质分析的新生解决方案快速扫描结合图像处理的颗粒增强技术让外来物质分析非常容易。快速分析模式能够迅速筛查外来物质，细节分析模式进一步确认外来物质的形状。2快速、清晰、生动的元素分布成像检测时间的缩短和低背景元素分布分析成像大幅减少的总的分析时间3光学观察系统和X射线束独特的同轴设计确实保证了精确的微区分析新设计的光学系统具备两种照明方式—环状照明和同轴照明。无论是镜面样品还是凸凹不平的样品，通过这两种照明方式都能进行清晰的观察。细节摄像机可以调整工作焦距，像印刷电路板这样具有很大高度差表面的样品也能清晰地观察。4多种分析模式丰富的图像处理手段能够帮助获得精确地元素分布信息。通过多重元素分布像的叠加可以轻松获得共存元素及多种元素的分布图像。5XGT-9000技术规格

皮肤镜多少钱一台？医用皮肤镜价格？医用CBS医用皮肤镜数码显微分析仪厂拿货价多少？国内专业医疗器械供应商-金鑫谷科技，可大量提供医用皮肤镜，皮肤镜，皮肤检测仪，皮肤显微镜，cbs数码显微分析仪等，售后服务体系完善，证件齐全，可授权招标，您来电可免费获得产品彩页小册子等资料。现在很多权威的医院皮肤美容科室和美容机构，都会购置一台医用皮肤镜，这是为什么呢?首先：促进业务转化，提升业绩1、促进医生与患者的沟通和信任；2、对治疗项目的媒介和引导；3、治疗效果的验证；第二：使用专业医用皮肤镜可以减少误判、规避风险 是寻常痣、还是恶性黑色素瘤？ 是红血丝局部病变还是非色素性基底细胞癌？ 是血痣、蜘蛛痣还是血管瘤？ 是日光性黑子还是恶性黑色素瘤？ 是普通的过敏还是慢性湿疹第三：数码显微分析仪对于常见色素斑的有效评估如雀斑、黄褐斑、咖啡斑、颧部褐青色痣等的有效甄别有助于在诊治中进行有针对性的诊治（不同性质的治疗方案）第四：美容项目的评估痤疮发炎情况、红血丝分布、瘢痕面积测量，毛孔的大小、皮肤油分含量、水分、色素含量，皮肤颜色变化、胶原蛋白纤维评估第五：面部常见损容性疾病的辅助诊断雀斑、日光性黑子、黄褐斑、咖啡斑；先天性痣、太田痣、颧部褐青色痣、恶性雀斑样痣；色素痣、 脂溢性角化、基地细胞癌等；血管瘤、扁平疣、日光性角化；其他：激素依赖性皮炎、白癜风、黑皮病等；CBS-908医用皮肤检测仪产品简介CBS-908医用皮肤镜是国内最先获得注册证的数字化皮肤检测仪，鄂械注准:20152222204，CBS-908医用皮肤镜采用偏振光技术，使用高清交叉偏振光技术对病患进行观察,有效地排除了皮肤表面反射光的干扰，可以观察到表皮、表皮真pi交界处和真浅皮层内的厚度变化、颜色发展变化等等。目前临床上运用的广泛、科学、严谨，并且经过国家食药监局检测通过的设备，以50X交叉偏振光技术为主要检测手段，皮肤各类疾病，以及大部分色素恶性瘤的诊断，都为以此技术拍摄的图片为诊断依据。目前CBS皮肤毛发镜，交叉偏振光可高达220X。皮肤镜组成：1. 数码显微分析仪组件2. CBS皮肤影像管理系统V1.03. 触摸电脑工作站4. 金属转向台车5. 彩色打印机更多产品信息，欢迎您致电咨

产品详情JXA-iHP100 电子探针显微分析仪 可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。 产品规格：检测元素范围WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～UX射线检测范围WDS检测的波长范围: 0.087～9.3nm,EDS EDS检测的能量范围: 20keV分光谱仪数量WDS: 1～5道可选、EDS: 1台最大样品尺寸100mm × 100mm × 50mm（H）加速电压0～30kV（以0.1 kV为步长）束流电流范围10-12 ～ 10-5 A束流电流稳定度5%/h, ±0.3%/12h（W）二次电子分辨率6nm（W）, 5nm（LaB6）*2（W.D. 11mm, 30kV）扫描倍率×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm）扫描图像分辨率最大 5,120× 3,840彩色显示器EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024光学显微镜分辨率～1um焦深1um真空系统机械泵、分子泵、离子泵 *2真空度样品室: 优于8.0 x 10-4Pa,电子枪: 优于9.0 x 10-5Pa 产品特点： 可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。 日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-iHP100具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-iHP100电子探针是下一代能完全满足多种需求的强力分析工具之一。 EPMA快速启动 点击任何一点，就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。 用户菜单（User recipes） 能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件，菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。 EDS 的性能 数字化脉冲处理器 全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描) 无风扇SDD (选配)

概要 最新一代的X射线荧光分析显微镜XGT-7000开创了科学分析的新时代。它将光学图像与元素分析完美地结合，为科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。 SDD检测器保证了高速、高精度元素面扫描；高能量分辨率，高计数率的测量，且无需液氮。 双真空式设计确保用户可以在几秒钟内完成样品室内部氛围的切换（大气或真空）。即使测量含水样品、生物样品时也可以保证测量所有元素的高灵敏度。 独特的硬件设计确保了XGT-7000操作的灵活性和广泛的应用范围。通过软件控制x射线导管在10 μm和1.2 mm间切换，以保证获得最佳测量条件，无论是微观到宏观。 与x射线导管同轴的CCD相机，可以迅速、精确地定位感兴趣区域。单点及多点自动分析 单点和自动多点分析功能使得无论是从单个分析位置或是用户定义的一系列位置上均可以获得高质量的谱图。可自动标注元素谱峰。使用基本参数法或单标样基本参数法或是标准样品校正曲线法定量计算，最低可测量ppm级的含量。膜厚分析软件可以分析nm级或μm级样品的多层膜厚。高光谱面扫描 SmartMap软件在每个像素点采集元素谱图。采集结束后，用户可以根据自己的分析，添加或删除某个元素面分布图，实现已有数据实现脱机分析。 X射线透射图像有利于用户观察样品内部构造，实现真正的无损内部观测。 特征 有着诸多创新的XGT-7200在众多领域有着广泛的应用：电子电器、发动机磨损分析、法医科学、地质矿物、医药、博物馆、冶金、生物等。XGT-7200的灵活设计，保证用户通过简易的操作即可获得高质量的分析结果，无论是分析大区域，还是对微区细节分析，或是同时采集X射线荧光图像和X射线透过像。 *最高的空间分辨率 HORIBA独特的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析，X射线光斑直径小到10微米。这种最高强度的超细光斑，可进行快速无损的微细结构分析。*X射线透过像 同时采集XRF图像和X射线透过像的功能，可以用来分析无法用肉眼观察到的样品内部构造和元素组成。采用超细垂直的X射线束，即使观察不平坦样品也可以获得清晰的内部图像。*双真空模式 独一无二的双真空模式设计- 彼此间的切换在数秒内即可完成。 全真空模式，整个样品室处于真空氛围以保证轻元素分析的高灵敏度。 局部真空模式，样品处于大气氛围中，适宜于含水样品的分析，如生物组织、文物碎片和馆藏文物等。*完整地分析整个样品*整合数据采集和分析的操作软件 界面友好的操作软件允许用户方便的控制硬件、选择测量区域和全数据分析。功能包括：自动标定谱峰、定性定量测量、RGB图像合成，线分析等。大尺寸的样品室使得分析整个样品成为可能，用10微米束斑可以分析微小区域甚至到测量大至10cm x 10cm的区域。技术参数测量元素： Na~UX射线管： 铑（Rh）靶 /管电压 50 kV / 管电流 1 mAX射线荧光检测器： SDD硅漂移检测器透过X射线检测器： NaI（Ti）晶体X射线导管： 单毛细管 10μm / 100μm 无滤光片光学图像： 样品整体光学像及共轴放大图像样品台尺寸： XY：100mm×100mm样品仓： 全真空模式/ 最大真空 300mm×300mm×80mm信号处理： 数值脉冲处理器（INCA处理器 ）定性分析： 自动定义谱峰/ KLM线标注/ 谱峰查找/ 谱峰匹配定量分析： 无标样基本参数法/ 标准无标样基本参数法/ 标准文件匹配基本参数法/ 校正曲线/ 多层膜基本参数法/ 多点分析（最多5000）/ 多点结果输出至Excel® 面扫描功能： 透过X射线像/ 元素面分布图/ 谱图面扫描 /矩形面扫描/ 生成谱图/ RGB合成/ 标尺/ 线分析其它功能： 可同时开启XGT-5200操作软件

日本电子JEOL场发射电子探针显微分析仪 JXA-iHP200FJXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。 产品规格：检测元素范围：WDS: Be＊1 / B to U, EDS: Be to U检测X-ray 范围：波长范围WDS: 0.087 to 9.3 nm能量范围EDS: 20 keV谱仪数：WDS: 最多5个可选, EDS: 1个最大样品尺寸：100 mm × 100 mm × 50 mm (H)加速电压：1 to 30 kV (0.1 kV steps)探针电流范围：1 pA to 3 μA探针电流稳定性：± 0.3％ / h, ± 1.0％ /12 h＊2二次电子像分辨率（观察模式）：2.5 nm二次电子像分辨率（分析模式下）： 20 nm（ 10 kV, 10 nA） 50 nm（ 10 kV, 100 nA）扫描放大倍率：×40 to 300,000 (W.D. 11 mm)扫描图像分辨率：Maxium 5,120 × 3,840产品特点：电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域，作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用，其用途越来越广。此外，在学术领域 ，地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用，矿物等资源能源研究、各种新型材料研究等，期待在各种各样前沿研究中做出贡献。与此相应，在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。JXA-iHP200F能更加有效地进行观察分析操作，是更先进的一体化集成场发射EPMA。* EPMA是Electron Probe Microanalyzer简称◇ [Setting] 自动定位，准确安装样品台！迅速找到想观察的点！进样和获取样品台导航像一键完成。从导航像能够指定分析区域。◇ [Analysis] 充分的自动功能，谁都可以拍到高级的SEM像繁琐的设定也能对应，EPMA立马进行元素分析光学显微镜的自动聚焦功能与配备高精度/高速化新系统的SEM自动功能相结合，任谁都可以拍到高级的SEM像。【live Analysis】通过【live Analysis】能够在观察中进行筛选分析。初学者也能操作的【简单的EPMA】。用【EPMA-XRF integration】在XRF数据的基础上能够进行EPMA的条件设定。用【WD/ED integration】能够缩短分析时间。SEM、EDS、XRF、WDS、光学像的集成一体化提高了仪器的操作性能。 通过WD/ED integration，分析时间缩短的例子integration：用这些仪器推定的元素在一体化EPMA上可以一键设定分光晶体的组合◇ [Self Maintenance] 内置18种类校正样品，有效进行校正配置【分光器校正功能】减轻了定期进行分光器校正的作业而且也避免了校正样品设定时的人为失误；利用夜间对仪器进行校正，提高了工作效率。按照【维护通知功能】，在必要时期对仪器进行自我维护，保持设备最佳状态。 维护通知功能【客户支持工具】◇ 标配场发射电子枪能够在高倍率下获得高空间分辨率的SEM像和分析结果。在大电流下保持长时间稳定的热电子枪在短时间内分析微量元素的时候、整夜运行分析大量样品的时候显示出它的威力。

以场发射 (FE) 电子枪为特色的JEOL电子探针显微分析仪（ EPMA），带来了表面分析世界。JXA-8530F在继承了JXA-8500F的强力硬件（包括 FE 电子枪、电子光学系统和真空系统）的同时，采用电脑操作进行数据的采集和分析，实现了微区分析。友好的PC控制操作环境，使得在极高的放大倍数下能够便利地进行快速、便捷的分析。 - PC平台操作 - 用FE电子枪进行高空间分辨率成像 - “Click Point Analysis”功能和用户菜单（User,s recipe） - 先进的操作 - WD/ED组合系统

高分辨微焦点X射线成像分析仪一、概述X-viewer 作为平生公司一款科研级微焦点X射线数字成像产品，以其优异的硬件性能精湛的图像算法和成熟的处理软件，满足了各个高端科研领域用户对于非破坏结构成像的多样化需求，丰富的档位兼顾了空间分辨率和更宽广的观测视野需求。设备融入了公司十余年来在分子影像设备研发和应用上的宝贵经验，面世以来收获了广泛的认可和高度评价。X-viewer 具有快速成像特点，分辨率高、信息量大、目标辐射损伤小、运行及维护成本低、安全性高等一系列优点。在生命科学领域，可以快速观察动植物体内的组织和结构，快速诊断或评价；也可作为Micro CT预实验、快速筛查等的补充设备，可列装于各大高分辨无损结构成像的实验室。全屏蔽设计的机身已通过出厂安规检测，搭配可移动承重平台，使用更安全，操作更简便。二、应用领域• 小动物活体成像：大小鼠/啮齿类小动物研究（骨骼、骨质、钙化点、关节炎症、肺部病变、肿瘤、心脑组织及血管的造影）。• 离体组织成像：颅脑、口腔、齿科研究，离体骨骼或组织造影观测。• 水生生物（包括海洋生物）的研究：鱼类、两栖类水生生物表型研究，水产养殖过程中的个体差异性研究等• 植物及农业学：种子筛选及评估，研究病虫害或其他外力损伤对种子萌发的影响；提供中草药品质品性的图像甄别依据；为部分研究农业昆虫的用户提供高分辨昆虫内部结构图像。• 验室无损检测：在体生物材料成像、珠宝杂质测、医疗器械检测、PCB失效性检测等。• 已装有Micro-CT的用户，可搭配X-viewer使用，为Micro-CT提供预实验，提高效率。三、产品特点• 2-15秒，实现快速拍摄、即时出图极短的拍摄时间，尽量降低对实验动物的曝光剂量，实现真正无损、快速成像。• 超高分辨，展现更多结构细节采用微焦点X射线源，搭配高清平板探测器，1-40倍多级放大设计，实现微米级的图像分辨率，展现更加丰富的细节。• 更大的成像视野选用大尺寸平板探测器，可以对兔子、猫等活体小动物全身成像。• 强大便利的图像软件自识别目标档位，测量参数自动匹配，多种测量、标注、图像处理功能，应用于不同目标物体（如小动物、离体标本、水生生物、植物农业、珠宝、电子器件等）的多种场景拍摄。提供多种图像处理效果，操作结果可实时保存并导出，保障数据可靠性。• 使用安全和便利性设备曝光工作时，任意表面辐射剂量1μSv/h——达到本底辐射水平。操作人员无需专业的X射线知识，简单培训即可使用设备。• 产品稳定、维护简单产品设计优良、性能稳定，维护成本低；同时，厂家具备完善的售后服务体系。?四、图像案例1.小动物活体成像 2.组织与离体标本 ?3.水生生物学研究 4.农业与植物学 5.其他无损检测五、售服平生医疗科技（昆山）有限公司（简称“平生”）是国内临床前分子影像科研设备的领航开发制造商，也是国内在生命科学领域生产并推广高分辨全景X射线成像分析仪的厂家。平生旗下的临床前分子影像产品自推出市场以来，已有诸多成功装机客户，设备的性能和可靠性得到了客户的认可。同时，平生总部在昆山、子公司在上海，全国七大中心城市设有办事处，拥有自己的售服工程师团队，能为客户提供及时有效的售后响应。高效的售服保障、良好的性价比以及产品的性能可满足客户实验要求：• 重要指标如空间分辨率达到国际同类产品的前沿水准• 与进口同类产品相比，售服响应更有保障、服务质量更有优势• 厂商可提供定制化服务，发挥了国产制造商的优势• 售价合理，并能公开透明设备的维修零部件价

主要特点 1. 小型化轻量化的紧凑型设计小型化设计的测试头单元测试头尺寸：114 mm(W)×248 mm(D)×111 mm(H)重量：3 kg是目前世界上最小最轻的X射线应力分析仪可以对内径200 mm圆筒内壁进行测试 2. 使用半导体型二维探测器进行快速测试使用两张半导体面探实现装置的小型化可以一次得到大量的二维信息测试时间大大缩短 3. 操作安全，X射线照射的防护措施激光定位仪测算相机长度3轴加速度传感器测定测试头倾斜情况可以提供X射线遮蔽外罩（在实验室使用，选件） 4. 触屏平板电脑控制操作简单便捷可进行作业现场测试从而保证工作效率通过有线LAN或无线LAN（Wi-Fi）*1控制测试操作

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

有害的残余应力会大大降低工件的抗疲劳强度和耐蚀性能等，从而缩短工件的寿命，甚至会造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。X射线残余应力分析仪采用了X射线衍射法，是比较流行，准确，可靠的测量方法。其轻便精巧的设计扩展了设备的使用领域，使得设备能够走出实验室，在现场甚至户外的使用变得有效可行。 软件 ◆ 操作系统： Windows ◆ X射线的发生和控制 ◆ 实时监控高压系统 ◆ 多种X射线曝光模式 ◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作 ◆ 多点曝光模式，互相关法计算峰位移 ◆ 丰富的材料数据库 X射线残余应力分析仪测角仪 ◆ 倾斜和旋转 ◆ 改进的y几何（侧倾法） ◆ 对称安装的双探测器 ◆ 连续可调的2q角范围：117-170度 电 源100-240 VAC，50/60Hz X射线管 微型X射线管，5~30KV/0~10mA/300W可调，Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可供选择。无需专用工具，X射线管能在几分钟内更换完毕。 Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。北京华欧世纪光电技术有限公司代理各类X射线应力分析仪，残余应力检测分析仪，残余应力测定仪，残余奥氏体检测仪，激光小孔法应力分析仪，磨削烧伤检测仪，热处理硬度分拣仪，曲轴表面质量检查仪，凸轮轴表面质量检查仪，轴承表面质量检查仪，齿轮表面质量检查仪，变速箱烧伤检测仪，飞机起落架烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。

北京华欧世纪光电技术有限公司是主要代理便携式X射线残余应力分析仪，残余应力分析仪，应力测定仪，X射线应力分析仪，X射线应力检测仪，便携式X射线应力分析仪，曲轴磨削烧伤检测仪，轴承磨削烧伤检测仪，凸轮轴磨削烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。用户主要面向航天、航空，石化、电力，锅炉压力容器，机械加工与制造，汽车制造，科研机构等领域。 便携式X射线残余应力分析仪可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有效避免有害的残余应力对工件的抗疲劳强度和耐蚀性能的降低，延长工件使用寿命，避免造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。便携式X射线残余应力分析仪中央系统，包含系统接口线路板、安全控制锁、水冷高压发生器、热交换器和自循环水冷却系统。— 笔记本或台式电脑。配置了各种安全锁，满足工业安全标准。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

Xstress3000X射线应力分析仪主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。Xstress3000X射线应力分析仪技术规格：主控单元包括-电源-电子部件和固件控制单元-高压发生器-自循环液体冷却系统，不需外部供水-确保安全所需的所有互锁装置控制残余压力控制残余应力残余奥氏体测量实验室精度不需切割试样Xstress3000X射线应力分析仪探测器在几何系统的入射线两侧对称安装了高精密度的MOS线性成像探测器角精度：0.014°-0.057°象素软件Windows操作系统Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产便携式X射线应力分析仪和汽车变速箱烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。

芬兰品质X射线残余应力分析仪可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有效避免有害的残余应力对工件的抗疲劳强度和耐蚀性能的降低，延长工件使用寿命，避免造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。芬兰品质X射线残余应力分析仪采用固态线性探测器技术， 可将X射线直接转换成电信号。起基本构成如下：— 采用改进的Ψ衍射几何（对称侧倾法）的紧凑测角仪G2，具有双侧512 通道线性成像探测器。标准Ψ角范围是 –45°至 +45°，单点曝光几何、 扩展Ψ角（–45°至 +60°）和Φ旋转为可选功能。所有动作由计算机控制的高 精度直流伺服马达执行。芬兰制造X射线残余应力分析仪中央系统，包含系统接口线路板、安全控制锁、水冷高压发生器、热交换器和自循环水冷却系统。作为一个单一紧凑的便携式装置并配置了各种安全锁系统的设计和制造满足对辐射装置的所有工业安全标准。芬兰品质X射线残余应力分析仪主要应用领域：航天、航空、船舶、汽车制造、3D打印、电力、石油化工、锅炉压力容器、冶金、机械制造、核工业、石油、科研机构、大学等。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。

测量元素：Na~UX射线管：铑（Rh）靶 /管电压 50 kV / 管电流 1 mAX射线荧光检测器：SDD硅漂移检测器透过X射线检测器：NaI（Ti）晶体X射线导管：单毛细管 10μm / 100μm 无滤光片光学图像：样品整体光学像及共轴放大图像样品台尺寸：XY：100mm×100mm样品仓：全真空模式/ 最大真空 300mm×300mm×80mm信号处理：数值脉冲处理器（INCA处理器 ）定性分析：自动定义谱峰/ KLM线标注/ 谱峰查找/ 谱峰匹配定量分析：无标样基本参数法/ 标准无标样基本参数法/ 标准文件匹配基本参数法/ 校正曲线/ 多层膜基本参数法/ 多点分析（最多5000）/ 多点结果输出至Excel® 面扫描功能：透过X射线像/ 元素面分布图/ 谱图面扫描 /矩形面扫描/ 生成谱图/ RGB合成/ 标尺/ 线分析其它功能：可同时开启XGT-5200操作软件

仪器简介：芬兰品质X射线应力分析仪是检测齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中残余应力的可靠工具。有害的残余应力会大大降低工件的抗疲劳强度和耐蚀性能等，从而缩短工件的寿命，甚至会造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。 芬兰品质X射线应力分析仪轻便精巧的设计，扩展了设备的使用领域，使得设备能够走出实验室，在现场甚至户外的使用变得有效可行。 软件 ◆ 操作系统： Windows ◆ X射线的发生和控制 ◆ 实时监控高压系统 ◆ 多种X射线曝光模式 ◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作 ◆ 互相关法计算峰位移 ◆ 丰富的材料数据库 测角仪 ◆ 倾斜和旋转 ◆ 改进的y几何（侧倾法） ◆ 对称安装的双探测器 ◆ 连续可调的2q角范围：117-170度 ◆ 多种准直器可更换◆ 全自动校准，自动调整测距，行程误差小于0.003mm 主机◆ 结构紧凑，小巧轻便 ◆ 全电脑控制 ◆ 各种安全锁 ◆ 密闭循环冷却系统，带强冷装置 ◆ 各种接口 探测器◆ 固态位敏正比计数器（MOS线性成像探测器） ◆ 灵敏度高，信噪比好 ◆ 角精度0.029°/像素, 512像素 ◆ 简洁紧凑，无需高压，功耗1mW 电 源100-240 VAC，50/60Hz X射线管 微型X射线管，5~30KV/0~10mA/300W可调，Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可供选择。无需专用工具，X射线管能在几分钟内更换完毕。 安全性能 ◆ 若窗口堵塞、打开或移动，管壳松动或被移动，冷却液温度过高或其它流动不畅通时，能自动关闭X射线。

X射线残余应力分析仪，应力测定仪，应力测试仪X射线应力测定仪 主要技术参数:采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪★２θ扫描范围：120°～170°；２θ扫描***小步距：0.01°２θ扫描每步计数时间：0.1S～20Sψ角范围：0°～ 65°ψ角摆动角度：0°～±6°X射线管电压：15～30kV,连续可调X射线管电流：3～10mA,连续可调X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。衍射几何：聚焦法准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。测角仪重量：10 kg***简装置总重量：45 kg供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

X射线残余应力分析仪采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。主要技术参数: ★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。 定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。 仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差 在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。 ★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪 ★２θ扫描范围：120°～170°； ２θ扫描***小步距：0.01° ２θ扫描每步计数时间：0.1S～20S ψ角范围：0°～ 65° ψ角摆动角度：0°～±6° X射线管电压：15～30kV,连续可调 X射线管电流：3～10mA,连续可调 X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。 衍射几何：聚焦法 准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量：10 kg 简装置总重量：45 kg 供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

X射线残余应力分析仪主要技术参数: 采用瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。 ★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。 定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。 仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差 在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。 ★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪 ★２θ扫描范围：120°～170°； ２θ扫描***小步距：0.01° ２θ扫描每步计数时间：0.1S～20S ψ角范围：0°～ 65° ψ角摆动角度：0°～±6° X射线管电压：15～30kV,连续可调 X射线管电流：3～10mA,连续可调 X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。 衍射几何：聚焦法 准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量：10 kg 简装置总重量：45 kg 供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

TDF系列X射线晶体分析仪概述TDF系列X射线晶体分析仪是研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器，主要应用于单晶定向、检验缺陷、测定点阵参数、测定残余应力、研究板材、棒材的结构、研究未知物质的结构和单晶位错等。特点TDF系列X射线晶体分析仪采用立式管套，四个窗口可以同时使用。TDF系列X射线晶体分析仪采用进口PLC控制技术，控制精度高、抗干扰性好，可实现本系统可靠地工作，PLC控制高压的开关、升降、具有自动训练X光管的功能，有效的延长X射线管及仪器的使用寿命。高压发生器（采用进口PLC控制）管电压：10-60KV；管电流：2-60mA；管电压、管电流稳定度≤±0.005%；额定输出功率：3KW。高压电缆 介电电压≥100KV；长度：2M。X射线管额定功率：2.4KW；焦点尺寸（mm2）：点焦点（1×1）线焦点（1×10）；靶材：Cu、Co、Fe、Cr、Mo、W等。 X射线照相机劳厄相机（大小粉末）平板相机三维样品台美国Multiwire相机X射线防护罩采用高密度、高透光性道德铅玻璃作为X射线防护罩，外射线量不大于0.1µ Sv/h

型号XGT-5200原理能量色散型X射线荧光光谱分析法检测元素Na～U(试样在大气中)样品形态塑料、金属、纸、涂料和油漆等的液体(液体试样容器为可选项)，生物样品样品室环境大气X射线光斑10μm，50μm，100μm，400μm，1.2mm,3mmX射线管50kV/1mA, 铑（Rh）靶材检测器SDD硅漂移检测器样品台100mm×100mm(面扫描最大尺寸),200mm×200mm(可选)样品室400×350×40mm(可定制特殊尺寸)光学成像整体图像: 100mm×100mm (标准:400,000象素, 可选: 2百万象素)细节图像:同轴100倍放大分析方法定性: 自动定性功能,背景显示, ROI 颜色分辨, 匹配功能定量: FPM, 校准曲线, 有害元素 (Cl补偿,厚度补偿，电线补偿)测量导航: 条件设置, 定量分析l数据管理(可选)Excel® 数据管理软件,检测报告输出电源AC100, 120, 220, 240V 50/60Hz重量约 280kg外形尺寸680(W)833(D)670(H)mm

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。

高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属 PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测，XR101对设备进行了特殊的结构优化，结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备，佳谱科技采用低功率X射线管，使用独特的滤光技术，获得更加出色的检测精度，大米中镉检测下限可到0.03mg/kg。同时低功率的使用环境，带来产品的低故障率，降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻，体积小，可以携带到现场快速检测，节省时间，提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物等作物中的镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限最低可达0.03mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查，5分钟对样品准确测量。 ◆ 辐射安全：射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合，XR101粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差，使便携式仪器具有高端台式机的分析性能，分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V，50/60 赫兹；12VDC-8A；电源交直流两用 温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV，1mA 探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 11KG冷却系统 带风扇冷却功能 进样方式 采用样品侧面进样方式，降低探测器铍窗损坏和被污染风险处理器 1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换 分析模式 配备不同分析模式（30秒-900秒），以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限：镉0.03mg/kg

SAXSpace纳米结构分析仪（X-射线结构分析）使用小角和广角X-射线散射(SAXS/WAXS) 方法研究纳米结构，研究对象包括蛋白质、食品、药品、聚合物和纳米复合材料、纳米粒子和催化剂等。样品：液体、固体、粉末、薄膜、纤维、膏状体、纳米结构表面粒径、体积：最大 100 nm（间距 200 nm），最小 10 μL温度范围：-150 °C到300 °C

Xstress DR45是新一代X射线残余应力分析仪，快速、精度高，提供的数据可靠。直观、简捷。DR45X射线残余应力分析仪用于制造业快速测量，甚至适用于生产领域操作员易于使用的软件可用于频繁测量的模板DR45X射线残余应力分析仪用于实验室DR45X射线残余应力分析仪可进行多种计算，包括线性和椭圆回归，应力张量和主应力等功能。峰拟合功能包括互相关，抛物线，高斯，洛伦兹，修改的洛伦兹等。可测量不同尺寸和形状的零件的巨大差异轻松快捷地更换X射线管DR45X射线残余应力分析仪现场使用快速组装，可在10分钟内使用衍射仪和Xstress MU的稳健设计可在不平坦的表面上进行测量；用磁脚固定在不同的位置。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。

单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪产品介绍： 单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为che底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级。适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测；可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素。应用方向：可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作的筛选综合工具；快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素。适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测；技术参数：测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属 PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测，XR700对设备进行了特殊的结构优化，结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备，佳谱科技采用低功率X射线管，使用独特的滤光技术，获得更加出色的检测精度，大米中镉检测下限可到0.02mg/kg。同时低功率的使用环境，带来产品的低故障率，降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻，体积小，可以携带到现场快速检测，节省时间，提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物、小麦等作物中的镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限最低可达0.02mg/kg。 ◆ 2-3分钟快速筛查，5分钟对样品准确测量。◆ 辐射安全：射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合，XR700粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差，使便携式仪器具有高端台式机的分析性能，分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件 电源 110V至240 V，50/60 赫兹；12VDC-8A；电源交直流两用温度 -5C至50℃技术性能指标 曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV，1mA 探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 9.5KG冷却系统 带风扇冷却功能 进样方式 采用样品侧面进样方式，降低探测器铍窗损坏和被污染风险晶体 DCC晶体实现激发X射线单色化 处理器 　1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换分析模式 配备不同分析模式（30秒-900秒），以满足不同的分析应用需求 分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式 粮食 典型元素检出限：镉0.02mg/kg

地质/环保伽马射线分析仪简介：RT-40代表了便携式伽玛射线谱仪的重大进步，为地球物理和环境应用提供了许多新特性。紧凑的，单手持拿与集成的GPS给用户非常愉快的现场操作体验。高灵敏度探测器与复杂的数学方法相结合，实时提供准确可靠的结果。GT-40和GT-40-S除了探测器的类型外，其他都是相同的。GT-40具有3 × 3”的NaI(Tl)探测器，灵敏度高，分辨率好，可在大多数现场应用中使用。GT-40-S具有2x2“带铅屏蔽的BGO探测器，应用于聚焦测量岩心或地层测量。GT-40可通过内部标定常数计算出K（%）、U（ppm）和Th（ppm）的浓度。测量结束后立即显示结果。它们可以存储在仪器中或通过蓝牙或Wi-Fi发送到外部设备。高灵敏度的集成GPS接收器，可以自动记录位置并存储在每一次测量的数据中。测量也可以通过语音标签记录。存储的语音信息可以通过内置扬声器重复。GT-40由内置充电器的高能可充电锂电池组供电。这允许实际的测量时间高达15小时多功能GeoView软件包提供所有必要的数据下载到电脑里，基于日历的测试结果，频谱视图，数据显示和将测量结果导出到地图软件上（例如谷歌地图）。特点：● 高灵敏度 使用 3”x 3” NaI(Tl)或 2”x 2” 屏蔽的BGO 探测器● 先进的数字信号处理器光谱仪● 自然本底下自动稳定● 大尺寸可读彩色显示器● 直观的用户导航操纵杆● 通过Wi- Fi或蓝牙进行无线通信● 集成GPS和语音记录的实时结果● 坚固的手持式设计应用：● 探测矿物● 油气探测● 地质探测● 地理测绘● K , U, Th 和 Cs--‐137 分析● 探测铀矿● 岩心录井● 环境监测方便携带：技术参数：探测器：GT-40：NaI(Tl), 体积345 cm3, 直径76 x 76 mm (3” x 3”), 双碱 PMTGT-40-S：BGO, 体积104 cm3, 直径51 x 51 mm (2” x 2”), 双碱 PMT，25 mm 厚度的铅屏蔽光谱仪：1024道, 40 MHz DSP，线性能量校正堆积排除器, 200 ns 分辨率显示器：彩色，穿透式, 360 x 240 dots, 72 x 54 mm (3.5”), 太阳下可读控制器：5点式带照明的导航杆声音部件：内置36 mm麦克风数据存储：最少2000个带全光谱，数据位置和语音信息的样本GPS：导航到 –162 dBm and –148 dBm 冷启动通信：数据传输、遥控装置通过： USB 2.0，1.2Class2 ，Wi-Fi 802.11n电源：7.2V/6600 mAh可充电锂电池(松下 CGR18650CG/2S3P) 最少可以操作20小时。外部交流适配器(12V/1A)充电。尺寸：直径120 mm x 420 mm重量：GT-40: 4 kg (8.8 lb)，GT-40-S:9 kg (19.8 lb)标准配置：GT-40 (GT-40-S) 谱 用户手册 交流电源适配器 1.5 米 USB 线 Geoview软件包 (CD) 坚固的Pelican牌储存和运输箱环境：操作温度范围 -10oC to +50oC ，IP-65 级防水防尘 RFI/EMF屏蔽符合FCC(47 CFR part 15)的A级CE认证

北京华欧供应X射线残余应力分析仪可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有效避免有害的残余应力对工件的抗疲劳强度和耐蚀性能的降低，延长工件使用寿命，避免造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。北京华欧供应X射线残余应力分析仪采用固态线性探测器技术， 可将X射线直接转换成电信号。起基本构成如下：— 采用改进的Ψ衍射几何（对称侧倾法）的紧凑测角仪G2，具有双侧512 通道线性成像探测器。标准Ψ角范围是 –45°至 +45°，单点曝光几何、 扩展Ψ角（–45°至 +60°）和Φ旋转为可选功能。所有动作由计算机控制的高 精度直流伺服马达执行。北京华欧供应X射线残余应力分析仪中央系统，包含系统接口线路板、安全控制锁、水冷高压发生器、热交换器和自循环水冷却系统。作为一个单一紧凑的便携式装置并配置了各种安全锁，系统的设计和制造满足对辐射装置的所有工业安全标准。北京华欧世纪光电技术有限公司代理各类X射线应力分析仪，残余应力检测分析仪，残余应力测定仪，残余奥氏体检测仪，激光小孔法应力分析仪，磨削烧伤检测仪，热处理硬度分拣仪，曲轴表面质量检查仪，凸轮轴表面质量检查仪，轴承表面质量检查仪，齿轮表面质量检查仪，变速箱烧伤检测仪，飞机起落架烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。