扫描射线荧光仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

CRONO移动式微区X射线荧光光谱仪是一款可移动且可重新配置的快速检测的微型XRF扫描仪。基于EDXRF技术，可对大型样品进行原位，非破坏性和快速检测。XRF组件完全集成到一个紧凑的测量头中，元素检测范围从Na到Am，即使在低于2keV或高于25keV时（例如Sn，Sb和Ba k激发）。测量头安装在电动机上，探测器芯片面积50m㎡。电动框架和移动拉杆可以很容易地拆卸运输。若将测量头安装在轻型三脚架上，CRONO又可以变成一款便携式的用于单点测量的便携式XRF。该系统完全非接触式工作，距离样品1厘米，同时由于监测系统的设置，该分析区域将shi终处于控制之下。CRONO拥有两种前端的技术支持。其中CUBE是CMOS前置放大器，同时数字脉冲处理器DANTE可对样品进行快速的实时扫描。CRONO的软件可以控制和查看每一个界面，并实时显示光谱和元素分布图，同时每一个像素点的光谱都被自动存储，报告工具可自动为每个单独检测或整个项目检测生成pdf格式的测量报告。50厘米x 40厘米绘画的元素分布图（左1图）。测量时间：30分钟，线扫描速度：20mm/s，准直器孔径2 mm，X射线管设置50 kV和100μA。从左2图：BaLα，PbLα，CaKα 元素浓度范围从高到低依次是红色，黄色，绿色，蓝色。

仪器简介：同时分析36个元素，增加扫描道可同时分析48个元素。高稳定性• 高自动化，快速，高灵敏度• 高精度分析。第二届岛津X荧光用户会议征文正在进行，截止日期：2008年5月31日 ，联系人：王岩小姐 联系电话： ，请将论文word文字稿发至以及 苗国玉先生。技术参数：●分析元素 4Be ~ 92U ●固定分光器 弯曲晶体聚焦分光，全元素真空型●扫描型分光器 平板晶体平行束方式●软件 定量• 定性分析、工作曲线、作表、传输第二届岛津X荧光用户会议征文正在进行，截止日期：2008年5月31日 ，联系人：王岩小姐 联系电话： ，请将论文word文字稿发至以及 苗国玉先生。主要特点：适用于工艺管理，可在约1分钟的时间里同时分析36种元素。采用4kW薄窗X射线管。采用封气型检测器，直至Na的检测也实现了长期稳定性，可以微量区域开始，在宽广的范围内进行出色的分析。第二届岛津X荧光用户会议征文正在进行，截止日期：2008年5月31日 ，联系人：王岩小姐 联系电话： ，请将论文word文字稿发至以及 苗国玉先生。

仪器简介：ZSX PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪，分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 可以分析材料的领域包括：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。 技术参数 X射线发生器部分 X射线管：端窗式Rh靶 4kW或3kW 高压发生器：高频变频方式 额定电压,电流：4kW,60kV-150mA 稳定度：± 0.005%(对电源± 10%变化时) 冷却水：水冷冷却水(内置) 分光部部分 样品交换器：可以选择12,24,36,48样品交换器 样品尺寸：&phi 51mmx40mm(H) 分析样品面：最大&phi 35mm 样品旋转：30rpm 1次X射线滤波片：4种(Al,Ti,Cu,Zr) 视野限制光阑：6种自动交换机构(&phi 35,30,20,10,1,0.5 mm) 发散狭缝：3种自动交换机构(标准分辨率、高分辨率、超轻元素用(选件) 接收狭缝：SC用,F-PC用 测角仪：&theta -2&theta 独立驱动 测角范围：SC、5° -118° ， F-PC、13° -148° 最大扫描速度：1400° /min(2&theta ) 连续扫描：0.1-240° /min 晶体交换机构：10分光晶体自动交换机构 分光晶体：(标准)LiF(200)、Ge、PET、RX25 (选件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP 真空排气系统：双真空室高速排气系统(双真空泵) 粉末样品附件(选件) 氦气置换机构(选件)：带隔板 恒温化机构：36.5度 记数.控制部分： 重元素用：SC闪烁计数管，记数线性1000kcps 轻元素用：F-PC流气比例计数管，记数线性2000kcps 芯线加热自动清洗机构 衰减器：IN-OUT自动切换(衰减率1/10) 计算机：windows PC 软件： 定性分析：自动鉴定分析功能，包括平滑,扣背景 定量分析：检量线法 JIS法 各种基体校正 无标样分析法 EZ扫描,应用模板, 样品径自动选择 谱峰分离 定精度测试 E-mail传送功能,多功能标准样品 其它选件 维护功能: 自动PHA调整(PAS) 全自动芯线清洗 自动老化 自动诊断 远程诊断主要特点：1、 大幅度提高了超轻元素(B,C)的分析灵敏度、准确度 使用理学独创的强度最高的分光晶体RX-25，RX-61，RX-75，保证轻元素分析的灵敏度 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命X光管，最适合超轻元素分析 2、 采用新光学系统，实现对重元素的高灵敏度分析 3、 强大的粉末样品测试功能 上照式，可以长时间防止粉末污染分光室 双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室)，防止粉末样品的细微粉尘混入分光室 粉末附件，采用电磁阀真空密封，防止细微粉尘进入真空泵内 4、 加装CCD视频摄像机构，位置分辨率可达100um，可以进行0.5mm的微区分析，可以测量Mapping(理学专利) 5、 提高少量样品的分析准确度 使用r-&theta 样品台(理学专利)，彻底解决了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题，保证样品在X射线最强、最佳条件下测量。 6、 样品室与分光室之间有专用隔膜装置 7、 48位自动进样器 8、 PAS自动调整脉冲高度系统(理学专利) ACC自动清洗F-PC芯线系统(理学专利) 可以保证仪器在最佳状态下使用 9、 节约能源(自动减少X射线管的输出)；节约PR-10气体；节约He气(选用He室时)；节省空间 10、 自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件 11、 先进的软件分析，NEW SQX软件 12、 全中文界面

工业CT系统，X射线计算机断层扫描技术，X射线成像系统,工业CT断层扫描仪基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。 咨询或索取详细产品资料，请联系越联仪器工作人员。 广东越联仪器有限公司---德国蔡司一级代理商。产品：工业CT系统，X射线计算机断层扫描技术，X射线成像系统,工业CT断层扫描仪

欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息、下载文件！C9750 的相关产品搜索X射线线阵扫描相机 C9750-20TCN产品型号：C9750-20TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10TCN产品型号：C9750-10TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10FCN产品型号：C9750-10FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-05FCN产品型号：C9750-05FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCD产品型号：C9750-27FCD，产品名称：C型X射线线阵相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCC产品型号：C9750-27FCC，产品名称：C型X射线线阵相机

德国ZEISS公司生产的METROTOM系列工业CT,高精度工业CT断层测量机,先进的技术,工业CT价格咨询,工业CT技术服务都可以联系越联公司基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）工业CT，X射线工业CT断层扫描测量仪利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。

特性--在线检测，检测宽度达221 mm--高分辨率、高灵敏度： 4608 (H)×128 (V)--读出速度快，2×2拼接下约为36.8 m/min--12位数字输出，高信噪比--Camera Link 接口（基本配置）--+15V单电源工作--实时暗电流/阴影校正功能--针对简易安装校准的帧读出模式 原理时间延迟积分(Time Delay Integration)扫描技术用于通过帧转移设备对移动物体获得持续的视频图像。通过控制一群线性阵列组合对物体的运动进行同步。这样，当图像从一行移动至下一行时，积累起来的电荷也随之移动，相比于线扫描相机能够在更弱的光强下提供更高的分辨率。应用--PCB检测--电池检测--表面贴装器件检测--高分辨率非脱机无损检测测量示例BGA的空洞检测传统方式的BGA空洞检查需要拍摄详细的切片图像，并需要使用大型的三维CT设备。使用三维CT的检测方式，由于零部件会受到大量辐射，因此会出现一些IC零部件被损坏的可能性。使用TDI相机的检测方式，X射线的照射范围将局限在扇形的狭窄区域，只要被测物体在此区域高速移动即可完成检测，从而大幅降低对于电路板的辐射量。由于具有卓越的信噪比性能，即使在低能量的照射下也能分辨出有无空洞。通过缩小X射线的照射区域，减少从检测设备中泄漏的辐射量，这将有利于设备本身的小型化。焊锡背面的焊缝检测如果在印刷电路板零部件的背面焊接中出现焊接不良，如稍有震动焊接处将会脱落从而引起接触不良。由于传统的检测方式为X射线透射的方式，因此只能在离线的状态下进行检测。通过TDI检测方式就能取得高速高灵敏度的一维分析数据，并且只要在所获取的一维数据中设定阈值就能实现在线状态的不良检测。一维数据可通过软件编辑把不同亮度信息显示为三维图像。锂离子电池检测使用2D传感器时，由于在X射线辐射的边缘处图像的畸变，无法准确进行尺寸的测量。长度长的样品需要放置在X射线源的中央，因此每次采集都需要重新放置样品。X射线TDI相机通过采用线扫描方式实现了无畸变的图像采集，因此无需重置样品，可以对长度长的物体进行连续不间断地检测。规格表型号C12200-321闪烁体FOS（闪烁体型光学纤维面板）推荐使用范围约25 kV~ 90 kVX射线容限130 kV，80 μA (max.)像素数4608 (H)×128 (V)有效像素数4608 (H)×110 (V)像素尺寸48 μm×48 μmX射线敏感区域221 mm (H)×6 mm (V)CCD像素时钟5.0 MHzTDI线速率Max.8.0 kHz (23.04 m/min)TDI线速率控制外部模式或内部模式A/D转换器12位外部控制接口Camera Link基本配置像素时钟40.0 MHz(Camera Link)A/D增益0 dB~ 14 dB (64 阶)*2电源DC+15 V(±1 V)功耗最大40W外形尺寸图（单位：mm）像素之间的死区C12200-321在芯片之间有死区。死区对X射线图像的影响取决于测量条件诸如X射线放大倍率和X射线源焦点尺寸。

多量程X射线纳米CTSkyScan 2211多量程X射线纳米CT系统可涵盖范围最广样品的对象尺寸和空间分辨率。它可为油气勘探、复合材料、燃料电池、电子组装等许多应用带来独一无二的材料三维成像和精确建模机会。技术规范：X射线源：20…190kV，4/10/25 W，亚微米焦点尺寸，5档滤线器；开放（泵送）X射线源（带双级电子光学器件）；靶材—钨（标准）；铜、钼、银（可选）X射线探测器： 300万像素CMOS平板探测器 1920×1536像素 1100万像素冷却式CCD探测器 4032×2670像素重建图像格式：平板：1920×1920×1160像素（中心位置）3776×3776×1160像素（两个偏移位置） CCD：4032×4032×2272像素（中心位置）8000×8000×2272像素（两个偏移位置）重建速度：1分12秒：针对600次投影进行2K×2K×1K重建 11分：针对1319次投影进行4K×4K×2K重建样品对象定位：直接驱动空气轴承带集成式微定位平台 使用压电式驱动器（5.5毫米行程）细节探测能力：100纳米扫描容积： 最大直径204毫米，长度200毫米，重量25千克辐射安全：在距离仪器表面10厘米的任何一点上＜0.5 μSv/h （在190 keV、4 W条件下于目标上测得）电源：100-130V或200-240 V AC，50-60 Hz， 2.5 kW + 1.5 kW（压缩机）（65 A峰值电流）系统随附闭环水冷器和无油空压机及必要的粒子过滤器和干燥机

布鲁克S8 XRFX射线荧光光谱仪的详细资料 自上世纪60年代德国西门子推出全封闭型的X射线荧光光谱仪（XRF）以来，已经有50多年的商业化进程。布鲁克AXS公司（前身是德国西门子公司的X射线分析仪器部）一直坚持专业化的道路，领导着X射线分析技术发展的潮流。根据新的技术和对用户需求的深入了解，围绕分析测试任务的核心整体设计仪器和功能。2008年布鲁克成功推出S8 TIGER，在灵敏度、准确度、精密度、安全性、可靠性、操作简便性、分析速度、功能完备的分析软件等方面，把XRF分析技术又一次推向了全新的历史阶段。 2017年，第二代S8 TIGER成功推出，采用HighSenseTM技术，保证从铍（4Be）到镅（95Am）的所有元素提供高灵敏度。HighSense技术包括紧凑的HighSense光路、HighSense X射线发生器、HighSense X射线管、HighSense XS系列分光晶体、HighSense计数电子元件。凭借HighSense技术、高分辨率WDXRF技术以及对轻、中、重元素的检测，第二代S8 TIGER的XRF2 微区分析系统可提供高灵敏度、300μm的小光斑尺寸以及高的空间分辨率。 一、高灵敏度、高准确度及高精密度紧凑的HighSense光路HighSense光路，阳极—样品—探测器之间距离短，信号损失少，保证了高灵敏度HighSense高稳定性固态发生器采用新技术模块化设计的固态发生器，稳定性优于±0.00005%，可靠性好。S8 TIGER 1kW，激发电流50mA，激发电压50kV，同级别中强度高。配有内部水冷机，不需要外部水冷机，插上电源就可以使用。S8 TIGER 3kW，激发电流150mA，激发电压60kV，强度上堪比传统的4kW荧光仪。S8 TIGER 4kW，激发电流170mA，激发电压60kV，市场上好的荧光仪。HighSense低温X射线光管HighSense超尖锐端窗陶瓷光管，设计功率4200W，设计电压75kV，设计电流200mA。独特的双路水冷系统，除阳极冷却外，光管头部增加特殊冷却回路，避免光管头部热量对样品的影响，提高易挥发元素及低熔点样品测量的稳定性。提高了分析液体样品、低熔点样品的安全性。此外在阴极与铍窗之间增加隔板，避免蒸镀现象，光管强度不衰减。标配75 μm铍窗，HighSense光管50μm铍窗，强度提高15%，HighSense光管28μm铍窗，超轻元素强度提高50%。HighSense光管铍窗上有保护性涂层，耐腐蚀。高灵敏度、高稳定性的分光晶体HighSense系列人工合成晶体，大大提高了轻元素的检测能力，其中：XS-B晶体提高B元素分析灵敏度百分之百；XS-N晶体提高N元素分析灵敏度百分之百；XS-C显著地降低了背景，提高信噪比30%；XS-55晶体对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上；XS-400晶体与LiF200晶体覆盖的元素完全相同，但是灵敏度提高了35%；XS-CEM人工多层膜晶体，测量Al—S间元素具有无以匹敌的长期稳定性，没有PET晶体的潮解现象，没有PET晶体随着时间的推移强度降低的现象，没有其它天然晶体的温度效应。是水泥、玻璃、矿物、采矿、地质、铝业等领域测量主含量Al、Si的晶体；XS-Ge-C锗弯晶提高P灵敏度40%，提高S灵敏度20%以上；XS-PET-C弯晶提高Al的灵敏度20%。HighSenseTM探测器技术及动态匹配TM功能 HighSenseTM流气正比计数器和闪烁计数器，极快的死时间校正，即刻显示PHA扫描图，数字信号传输，线性范围高达4Mcps（线性偏差≤1%）。动态匹配TM功能，软件自动降低电流，使高含量元素的计数不超过探测器的物理限制，测量更准确，低含量元素自动在满功率条件下测量，使痕量元素也能准确地测量。采用动态匹配功能探测器的高计数率可以达到13Mcps。动态匹配功能可以采用相同的谱线分析样品中从ppm到百分之百含量范围的成份。 HighSense高效的微区分析系统XRF2 借助HighSenseTM技术，第二代S8 TIGER能针对小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析，步长0.1mm。轻元素采用正比探测器，重元素采用闪烁探测器，灵敏度提高10倍，实现了同级别仪器里真正的微区分析。此外，高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片，保证微区分析的针对性和重现性。 高透光性的真空封挡在测量液体和松散粉末样品时，程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开，允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气（氮气），真空封挡显著地降低气体消耗量，同时探测器的稳定性更高，结果的精密度更好。在测量过程中，独特的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室，防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。高精度光学定位测角仪采用高精度光学定位测角仪，定位精度高，测角仪直接到达预设角度，快速连续前进，无需反复调整，长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°，角度重现性优于±0.0001°,扫描速度1200°/分钟，转角速度4800°/分钟。变动理论α系数法采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行全面的集成的基体效应校正，这就是变动理论α系数法。其显著的优点是：需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正，三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题，非常易于使用。未知烧失量校正对于烧失量或烧增量很大的样品，通常的做法是将样品预先灼烧，然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正，分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量，软件会根据其它分析成分估算一个LOI，然后经过多次迭代和拟合，无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正，大大地提高了分析速度也节约了分析成本。角度偏移校正校正价态、矿源差异等引起的峰位位移，测量结果更准确。独有技术几何校正通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正，从而得到更准确的测量结果。独有技术制样校正软件对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法，采用任意配比、随意称量、准确输入的方法，称样误差小，称样速度快，不同的制样方法可以共用同一工作曲线。独有技术P10气体密度稳定器在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器，使探测器里的气体密度始终保持恒定，保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制，控制更精密。高稳定性的光谱室光谱室温度稳定性优于±0.05℃，避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化，从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。采用真空度控制测量对于固体样品，采用真空度控制测量，只有达到预设的真空度才开始测量，避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。 二、高安全性、高可靠性 样品保护™ 功能，四重保护，保证仪器长期可靠运行在样品进入和退出样品室时采取独特的保护，使仪器的故障率低，维护成本少两个污染防护屏，分别保护光管和光谱室粉尘接收盘，收集掉落下来的样品颗粒 测量过程中的独特保护 光管保护屏DuraBeryllium™ 高强度铍窗，保护光管窗口 独特的高透光性真空封挡保护光谱室原位进样系统S8 TIGER采用了直接进样技术，即样品直接装入到仪器的测量位，保证样品到光管的距离不会变化。采用这种直接进样方法的样品室可以设计得很紧凑，又保证了抽真空和充氦气的快速可靠。传统的光谱仪使用样品转台系统来进样，转台上的2个位置经常会出现位置不准的问题，光管到样品的距离的细微变化都会降低分析精度，这时就需要维修，或放弃样品转台的第二个位置。同时这种设计不可避免地扩大了样品室的 体积，增加了进样机械装置的复杂性和保养维护难度。直接进样系统在进样和出样过程中，光管的高压关闭，是完全没有X射线的。在执行这些操作时，光管的灯丝加热电流一直是通的，维持光管的稳定性。1.直接进样代替分步进样，机械结构简单，零故障。2.避免样品在仪器内部过多的运动，避免粉尘积聚、 液体侧翻的风险。3.清洗样品室简单，不需要打开仪器，易于维护。 4.进样速度快。 等级密码保护功能对不同的人给予不同的用户许可权，对曲线参数、数据库、谱线库、仪器参数等加以保护。??双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制，保证操作简单而无失误，即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等，通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制，即使一台出现问题，也不影响测量工作全新设计的安全回路电路板全新设计的探测器、多道分析器、安全回路电路板、马达驱动板、4轴板等，仪器的运行更可靠。防尘设计防尘设计机柜，仪器整体密封，箱体内采用循环水冷却，避免了风冷容易在电路板上带来粉尘的缺点，仪器内部恒久保持洁净，可以在任何恶劣的环境下长期正常工作。产品认证经过德国第三方检测机构对技术指标、辐射保护、电器安全的严格测试，符合德国DIN54113射线防护和CE电器安全等“产品认证”，是德国政府核准的定型仪器。 三、操作简单 触屏控制™ 1. 直观的触摸屏，操作简单，无需 培训，仅需三步就可以得到准确的结果.2.实时显示及查找以前测试结果3.S8 TIGER实时状态显示4.在线帮助功能5.中文操作软件，在线的多语言界面自由切换快速的符合人体工程学的样品装载1.75位带有托盘的自动进样器，可识别样品类型2.60位大样品杯进样器，适合各种类型及形状样品3.108位不用样品杯进样器，机械手直接吸取样品 四、非常快的分析速度非常快的分析速度基于：高强度的X射线光管、快速运行的电子电路板、快速的内部通讯在保证分析精度的前提下，根据元素的含量不同，每个元素的测量时间在2-10秒钟。例如水泥样品中10个元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3)，从放入样品到显示结果不超过2分钟，分析速度完全可以和多通道荧光仪相媲美，而分析的灵活性和高准确度是多通道荧光仪所不具备的。 五、功能完备的分析软件SPECTRAplus V4定性、定量分析软件 SPECTRAplus V4是专为第二代S8 TIGER研发的功能强大的现代分析软件。SPECTRAplus V4包括了定性、定量分析的所有功能，运行在Windows 10环境。SPECTRAplus V4为简单、快速的操作而特别开发的，支持第二代S8 TIGER的独特的TouchControlTM触屏控制的全部功能。 SPECTRAplus V4支持网络功能，用网络中的任何计算机都可以实现全部的分析功能，如分析曲线开发、无标样评估、数据报表。网络计算机的数量没有限制。 SPECTRAplus V4定性分析软件具有交互及自动寻峰以及元素识别功能、自动背景扣除与平滑、高分辨显示样品谱图、坐标轴变换、自动提醒干扰谱线等功能。 SPECTRAplus V4定量分析软件具有集成的智能专家系统，确保用户充分利用S8 TIGER的分析性能创建用户自己特殊应用。分析曲线的自动导航功能从材料的定义到结果的输出，引导用户一步步完成，从开始就可以完成高质量的分析。可以灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息。采用基本参数法进行完全一体化的基体校正（变动“理论α系数法”，计算每一个样品的校正系数），也可以采用理论系数法与经验系数法相结合的固定α系数法进行强度及强度/浓度混合模式的基体校正。用图形显示测量强度、校正强度及背景强度。用户可以指定结果输出格式，非常容易地编辑成报告格式。分析结果超出警戒线会自动显示与报警。全局或指定漂移校正功能。“Daily-Check-Routine”程序定期检查仪器，满足GLP要求。在线统计分析。 SPECTRAplus V4完全汉化，所有程序全部有中文界面、中文提示。并且版本可以保持与英文版同时升级，可以随时切换成中文、英文、法文等界面。 QUANT EXPRESSTM无标样软件包 QUANT EXPRESSTM允许在没有标准曲线的情况下对完全未知的样品进行自动分析。 QUANT EXPRESSTM提供了无以匹敌的分析灵活性。可以在2分钟之内采用扫描模式进行无标样分析，也可以对痕量级的元素进行准确测定。根据用户的需求，QUANT EXPRESSTM可以提供用于交互评估的扫描测量模式，也可以提供峰/背比测量模式。 QUANT EXPRESSTM是一体化分析智能的一部分。可以执行自动寻峰、元素与谱峰的识别、微区定性的元素分布及每一个单点的元素浓度显示、经背景与谱线重叠校正之后净强度的测定等。SPECTRAplus V4软件中独有的强大的变动α系数法基体校正功能，自动执行基体校正及不同类型样品（薄膜、无限厚或非无限厚样品）的校正。用户输入的样品的特性、已知元素的浓度和基体成分都可以集成到一起，进一步提高分析结果的准确度。 QUANT EXPRESSTM可以完全用于用户特定的标准曲线中，采用变动α系数法测定没有标样的元素。它是SPECTRAplus V4集成部分，作为专家系统提供任何应用的谱线设置。S8 TOOLS诊断、维护和服务软件独特的诊断、维护和服务软件包，允许直接控制和检查S8 TIGER的所有部件，确保仪器的控制和分析非常容易。操作过程中的故障很容易识别和消除，确保操作简单、维护方便及长时间正常运行。运行在Windows界面下的自诊断软件，非常直观，可以全面监测系统的几百种状态，您可以将整个状态存盘，发送给维修人员，从而可有效降低维修费用，缩短维修时间。 WebeX远程服务-维护-支持软件允许Bruker AXS专家通过网络进行远程支持，使第二代S8 TIGER达到好的可用性。专业解决方案软件包◆ML PLUS多层膜分析软件：采用先进的完全基本参数法，具有吸收法和发射法两种分析模式；薄层分析采用发射法，厚层分析采用吸收法（准确度更高）。可分析多达15层（每层16个元素）的镀膜样品，测定每层膜的厚度和元素含量。◆PETRO-QUANT软件，可以对油品、塑料、橡胶、聚合物等样品中的30个元素进行优化的无标样定量分析，以及预定义的EN、ISO、ASTM、DIN分析油品的方法和预校准分析曲线。为用户提供交钥匙方案，仪器安装后可以按照国际标准方法立刻进行常规分析。◆GEO-QUANT ADVANCED氧化物分析软件，是地质、矿物、采矿、耐火材料、玻璃与陶瓷业的解决方案，采用熔片法制样，可以分析氧化物中21个主、次元素。◆GEO-QUANT T软件，基于数百个国际参考样品建立的校准曲线，测量地质样品中微量、痕量元素，是地质方面的研究、监测、环保等全面解决方案。◆CEMENT-QUANT软件，采用国际标样建立的水泥工业完整的解决方案，可用于生料、水泥、熟料及采石厂来料中14个元素快速、简单、精密的定量分析。◆METAL-QUANT软件，金属材料的解决方案，可以分析铁基、钴基、镍基、铜基、铅基、锡基中23个主、次及痕量元素。◆POLMER-QUANT软件，用于分析聚合物中的微量和痕量成分。◆GEO-QUANT Iron Ore软件，可以分析铁矿石、铁精矿、球团矿、烧结矿等含铁矿物中20个主、次及痕量元素。

ARL PERFORM’X 顺序式 X射线荧光（XRF）光谱仪为实验室提供了一个先进的平台，用于快速、准确分析多达90种几乎在所有固体和液体样品中存在的元素,该技术具有如下优点：● 制样简单、快速● 样品整个表面、表面某一部分或特定点处的分析● 分析速度快● 稳定性高、精度高● 动态范围宽（从ppm 至100%）应用领域：地质、环境、石化、金属、矿物、水泥、玻璃等众多工业及科研领域ARL Perform’X 4200是Thermo Fisher Scientic公司2011年推出的顺序扫描型波长色散X射线荧光光谱仪，该仪器采用模块化结构，设计精巧、结构紧凑、稳定性高，是质量与过程控制和材料科学研究的最佳选择，其卓越的分析性能主要取决于下述技术特点：分析元素范围: Be-U(配备相应的晶体), O-U(标准配置).浓度范围: ppm-100%样品类型: 粉末压片, 熔融玻璃片，固体粉末及液体样品. 真空恒温光谱室保证分析的稳定性。温度是由差动加热/冷却系统控制，光谱室和晶体双温控系统，确保每块晶体的温度都控制在±0.1°C，保证分析数据的可靠性和稳定性。超薄Be窗(50um) 铑靶X射线管；最大功率4.2kW，最大电压60kV，最大电流120mA， 全元素有极好的灵敏度和分析精度。同一样品中不同元素可使用不同激发条件，自动转换管压、管流，转换时间短。降低电源消耗、增加X光管寿命的绿色模式。即当仪器要停止工作1小时或数小时时，X光管的电源在规定时间内自动减小到一种待机状态，当用户开始工作，所要求的工作条件会自动到达。第二代高稳定性固态高压发生器，功率4.2KW，最大电压60kV，最大电流120mA。最大线电压变化在–15% ~ +10%之间时，外电压每波动1%时，稳定性为±0.0001%。电压可在0-60KV之间选择，每步1KV；电流可在0-120mA选择，每步1mA。专利技术的超短距光学耦合设计（UCCO），使样品与阳极靶的距离更近，仪器的分析灵敏度提高20%。第六代莫尔条纹测角仪(ARL专利技术)，无齿轮磨损，由可编程微处理器控制，无需任何机械调整。探测器和晶体系统独立转动，由电子-光学读出器计算两个光栅系统干涉所产生的莫尔条纹来准确定位。在多任务模式中的微处理器保证晶体、准直器和两个探测器的快速和准确定位。这种测角仪是目前最先进的测角仪，并且Thermo Fisher Scientific已有了28年的使用和生产经验。测角仪最大定位速度4800° 2θ/分，定位时间短，比普通光学定位测角仪快2倍，比传统齿轮定位测角仪快4倍；最大连续扫描速度327°2θ/分角重现性 0.0002°：莫尔条纹测角仪由于没有机械磨损，定位精度高，并且彻底避免了普通测角仪因长期使用所产生的机械磨损使分析精度变差现象；9位置晶体交换器：双向旋转，最多装9块晶体；4位置的初级准直器交换器：标配4位准直器，细0.15°、中0.4°、粗1°和超粗2.5°，各元素均可在最佳的分辨率和强度下进行检测。6位初级滤光片：Al20, Al200, Al500, Al750, Cu250，使各元素的分析都具有最佳的峰背比！探测器：免维护的流气正比计数器（终身无需更换芯线）和闪烁计数器两个检测器，检测器的并联设计使光路更短以提高强度。高性能超薄窗(0.6um)流气正比计数器（节约P10气体，P10气流量2升/小时），轻元素检测效率高，全角可控制的角度扫描范围：0~153°/2θ。采用当代最先进的电子技术，仪器全部由微处理器控制。所有控制板上均装有微处理器，分别控制进样器、光谱室真空、温度、探测器、X光管及发生器、水冷、测角仪等，每隔几秒监测仪器的两百多个状态点，发现问题及时报警。可编程的内部双位自动进样系统：即第一个样品在分析状态时，第二个样品进入样品室进行预抽真空；待第一个样品分析完成退出时，第二个样品随即进入分析位置。这样不仅缩短了样品预处理时间，提高了测量速度。同时也避免了粉尘污染光谱室和晶体的可能性。可设置优先分析位置。样品位数：最多可放置112个样品的XY台，具有紧急样品优先分析位置。液体样品分析系统(选配项)，高效的氦气快门装置，确保在分析液体样品时光谱室处于真空环境，而样品室在氦气环境下，分析时流量小于1升每分钟，实现固体样品和液体样品分析环境快速切换（1.5分钟）。此外，在液样盒进入样品室之前，仪器自动识别。防溢出与除尘系统（选配）：分析粉末样品或液态样品是，可选配防溢出和除尘系统，对光谱仪进行实时安全防护！电动的安全闭锁装置，自动控制，结构简单，安全可靠。无需其他辅助设备。

仪器简介：PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.技术参数：硬件： 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化，最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱， 在减低背景干扰方面发挥威力。 双泵、双真空系统 采用双真空系统（样品室/预抽真空室）。 防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计，样品交换实现更高效率。 粉末附件 电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。 定点分析 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间 节能功能（自动减少X射线光管输出） 减少冷却水量 5L/min（水温30?以下） PR气体流量减少（5mL/min） 省空间 采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。 便于维护 PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 软件 新版SQX软件 在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。 委托分析EZ扫描 采用对话框形式设定，可进行SQX分析。 定角测试模式 微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 应用模板 各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 散射线FP法 不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。 流程条 测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能 ? SQX分析功能 ? Mapping数据库 ? 材质辨别 ? 理论重叠校正 ? 自动程序运转 ? 校正投入量计算 应用软件包 应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品） CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。主要特点：特点： 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 完美的无标样分析-最新的SQX软件 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间

德国ZEISS公司生产的METROTOM系列工业CT,高精度工业CT断层测量机,先进的技术,工业CT价格咨询,工业CT技术服务都可以联系越联公司基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）工业CT，X射线工业CT断层扫描测量仪利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。

CRONO移动式微区X射线荧光光谱仪是一款可移动且可重新配置的快速检测的微型XRF扫描仪。基于EDXRF技术，可对大型样品进行原位，非破坏性和快速检测。XRF组件完全集成到一个紧凑的测量头中，元素检测范围从Na到Am，即使在低于2keV或高于25keV时（例如Sn，Sb和Ba k激发）。测量头安装在电动机上，探测器芯片面积50m㎡。电动框架和移动拉杆可以很容易地拆卸运输。若将测量头安装在轻型三脚架上，CRONO又可以变成一款便携式的用于单点测量的便携式XRF。该系统完全非接触式工作，距离样品1厘米，同时由于监测系统的设置，该分析区域将shi终处于控制之下。CRONO拥有两种前端的技术支持。其中CUBE是CMOS前置放大器，同时数字脉冲处理器DANTE可对样品进行快速的实时扫描。CRONO的软件可以控制和查看每一个界面，并实时显示光谱和元素分布图，同时每一个像素点的光谱都被自动存储，报告工具可自动为每个单独检测或整个项目检测生成pdf格式的测量报告。50厘米x 40厘米绘画的元素分布图（左1图）。测量时间：30分钟，线扫描速度：20mm/s，准直器孔径2 mm，X射线管设置50 kV和100μA。从左2图：BaLα，PbLα，CaKα 元素浓度范围从高到低依次是红色，黄色，绿色，蓝色。

仪器简介：Simultix 14是理学公司最新奉献的多道同时分析式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 Simultix 14是多道同时分析式荧光光谱仪，分析速度快，分析精度高。 Simultix 14可以同时最多分析40种元素。 可以对4Be到92U进行分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%。 可以分析材料的领域包括：钢铁、有色金属合金、水泥、化学工业、能源、农业、商品、环境保护等。主要特点：1、 最多可以同时分析40种元素，可以包括1个重元素扫描道、一个轻元素扫描道 2、 高灵敏度、高精度分析 新开发的分光器，高灵敏度、低背景 高计数电路设计，计数率是传统型仪器的2倍，进一步提高高含量区域的分析精度。 接触式样品定位装置，可以消除样品面的定位误差，确保测量数据的重复性。 3、 小型化、超高速 高速样品传送系统(理学专利) 小型化设计，占地面积仅1m2 4、 更加适合超轻元素分析 采用新开发的人工晶体，不仅提高了C、B的分析精度，而且使Be分析成为可能。对数螺旋方式的弯曲晶体，可以大型化加工，灵敏度高于其它弯曲方式 可以选用适合轻元素的X光管 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 5、 确保分析精度 内置恒温化装置，可以保证内部温度不变 更迅速、更可靠的真空装置 X射线光闸，可以延长探测器的寿命 芯线清洗装置，仪器照常运转，根据计算机屏幕进行简单操作，即可准确有效地清洗芯线，保证计数器在最佳状态运行。 气体密度稳定器(GDS)，可使检测器的脉冲高度值保持稳定，对轻元素分析稳定性最为有效 6、 简单易懂、使用方便的软件系统 程序选择画面简单 运行状态显示 多任务、多窗口 自动组选择 定量分析 校正曲线的作成 背景校正 定性分析 7、 出色的保养维护功能 在荧光屏上显示仪器的状态 可以显示故障内容及排除方法 8、 标准8样品进样器ASC8，选件可以提供ASC20、ASC50、ASC100

MXF-2400型 多道X射线荧光光谱仪 FACTORY LAB 多道X射线荧光光谱仪 MXF-2400型：从主元素到杂质元素，可同时无损分析36种元素。（分析范围：4Be，5B，6C～92U） 配置4kW（薄窗）的X射线管，提高X光源功率。 岛津多道X射线荧光光谱仪MXF-2400是升级型的多道型X射线荧光光谱仪。 MXF-2400采用根据X射线荧光分析原理新设计的硬件以及配备丰富软件数据处理装置，全自动进行分析数据的管理，非常适合工程管理、研究使用。可同时分析36种元素，再加上单道扫描型分光器可同时处理48种元素，实现了传统X射线荧光装置难以做到的数ppm级的高灵敏度、高精度分析。 产品信息 高度自动化的分析，省力省时 适合原材料、新材料、产品的研究及管理等分析，可对多种样品进行从微量到高含量的分析 仅需约1分钟即可完成1个样品中36种元素的定量分析，由于仪器整机的高稳定性充分保证了全自动无人管理分析，可以节省人力与 运行费用。配制单道扫描型分光器，可以进行自动定性分析的元素判别，广泛应用于研究分析。 生产流程的管理分析 可快速获得分析结果，经数据处理后，可进行质量检验、规格判断等，应用于生产管理分析（特别是炉前分析）。 质量控制 迅速分析从生产线采集的样品。将分析结果（配比计算）作为原料配制的控制数据进行反馈，用于提高质量及稳定质量。 应用领域 钢铁 生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、炉渣、矿石、铁合金、特种钢、表面处理钢板、电镀液 有色金属 铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、贵金属 建筑材料 水泥、水泥原料、熟料、石灰石、粘土、玻璃、砖 电子/磁性材料 半导体、光磁盘、磁铁、电池、线路板、电容 化学工业 无机/有机产品、化学纤维、催化剂、涂料、颜料、药品、 化妆品、洗涤剂 石油/煤炭 石油、重油、润滑油、树脂、煤炭、焦炭 农业、食品原料 土壤、肥料、植物、食品 环境样品 工厂排水、海水、河水、大气悬浮粉尘、工业废弃物 纸/纸浆

上市时间：2020年2月专为工业生产现场而设计 无语伦比的优异性能:快速高效,高稳定性 密不透风的防尘设计 "初次见面"也能轻松上手 低成本运行电源保护Plus防尘设计岛津独有“无故障”高压发生器对外部电源要求较同类仪器低：-外部电压允许波动220V±10%-接地电阻十分宽泛≤30?全面的防尘设计 ①X射线管上照射方式: 避免样品粉尘对X射线管窗口的污染②每个通道真空全密封，无污染风险③电路板密封保护，特殊散热，拒绝粉尘污染 ④全新设计的真空管路粉尘吸附装置: 避免粉尘进入真空泵和电磁阀低故障Plus低维护成本高稳定性的高压发生器经过长期使用检验，几乎无故障高压发生器极小的真空室可自行维护，无需依赖厂家上门收费服务，不耽误生产真空泵负载小，故障低新设计滑竿式进样装置改变原有的轴承系统，到位更准确，故障更少全密封计数器不使用氩甲烷气体，节省成本，避免漏气等各种故障没有流气计数器芯线污染问题，无需更换芯线操作简单Plus分析快速全新分析软件专门开发的全中文软件，按钮式操作 单一窗口界面，一键数据查询传输，简单明了 仪器运行全过程监控 • 内置“大曲线” (生料/熟料/水泥，无需用户自己准备“标样”做曲线) 分析速度快 全元素固定通道，无移动光学部件 每个样品只需1分钟 （比扫描型块3倍以上) 高精度Plus长期稳定性每个元素专用全聚焦晶体，最短光路，高强度，避免杂散光干扰 每个元素专用独立全密封正比计数器----对同一水泥样品，长期测试结果统计（从海外工厂移到上海中心重新安装）--------------------低合金钢中轻元素到重元素重复性结果---------------多道同时型波长色散X射线荧光光谱仪信息由岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司为您提供，如您想了解更多关于多道同时型波长色散X射线荧光光谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

产品详情 FACTORY LAB 多道X射线荧光光谱仪 MXF-2400型：从主元素到杂质元素，可同时无损分析36种元素。（分析范围：4Be，5B，6C～92U）配置4kW（薄窗）的X射线管，提高X光源功率。岛津多道X射线荧光光谱仪MXF-2400是升级型的多道型X射线荧光光谱仪。MXF-2400采用根据X射线荧光分析原理新设计的硬件以及配备丰富软件数据处理装置，全自动进行分析数据的管理，非常适合工程管理、研究使用。可同时分析36种元素，再加上单道扫描型分光器可同时处理48种元素，实现了传统X射线荧光装置难以做到的数ppm级的高灵敏度、高精度分析。 高度自动化的分析，省力省时 适合原材料、新材料、产品的研究及管理等分析，可对多种样品进行从微量到高含量的分析 仅需约1分钟即可完成1个样品中36种元素的定量分析，由于仪器整机的高稳定性充分保证了全自动无人管理分析，可以节省人力与 运行费用。配制单道扫描型分光器，可以进行自动定性分析的元素判别，广泛应用于研究分析。 生产流程的管理分析 可快速获得分析结果，经数据处理后，可进行质量检验、规格判断等，应用于生产管理分析（特别是炉前分析）。 质量控制 迅速分析从生产线采集的样品。将分析结果（配比计算）作为原料配制的控制数据进行反馈，用于提高质量及稳定质量。 应用领域 钢铁 生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、炉渣、矿石、铁合金、特种钢、表面处理钢板、电镀液 有色金属 铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、贵金属 建筑材料 水泥、水泥原料、熟料、石灰石、粘土、玻璃、砖 电子/磁性材料 半导体、光磁盘、磁铁、电池、线路板、电容 化学工业 无机/有机产品、化学纤维、催化剂、涂料、颜料、药品、 化妆品、洗涤剂 石油/煤炭 石油、重油、润滑油、树脂、煤炭、焦炭 农业、食品原料 土壤、肥料、植物、食品 环境样品 工厂排水、海水、河水、大气悬浮粉尘、工业废弃物 纸/纸浆

二手岛津X射线荧光光谱仪 EDX-700HS特点：采用岛津独创的ｘ射线聚光透镜[集束毛细管透镜]，x射线只照射样品的50μmφ微小领域，实现高灵敏度、高精度分析。可以在大气中进行从轻元素到重元素（na～u：μedx-1300；al～u：μedx-1200/1400）的分析。配备双ccd（高倍率，低倍率）摄像头，可以在观察样品图像的同时方便地决定分析位置，进行分析。标准配备无标样定量fp法、薄膜成分/膜厚分析用的薄膜fp法以及可以测定聚合物薄膜的背景基本参数（bg-fp）法。作为微区ｘ射线荧光光谱分析装置，在世界上率先配备了5种1次ｘ射线滤光片自动交换机构，可消除来自ｘ射线管的特征ｘ射线，提高信噪比。配备多元素同时/自动扫描成图功能。采用高速扫描成图，在短时间内便可获得图像（μedx-1200/1300）。追加透射观察单元（选购），也可进行透射ｘ射线的同时测定。配备电子冷却式高计数率检测器。无需液氮，可进行高精度分析。可轻松地进行电子材料/部件的镀层膜厚測定、异物检测、失效解析及成图分析。二手岛津X射线荧光光谱仪 EDX-700HS配置参数：主机部分：1、X射线发生器单元X射线管类型 Rh靶冷却方法 空冷（附风扇）2、X射线电源单元电压 5-50kV，每步1Kv（测定重金属（Cd,Pb,Hg,Br,Cr等）时，可以用50ｋV。但测定轻元素时，15kV是***有效的。另在工作曲线法中，随时可设定***佳电压。）电流 1-1000μA，每步1μA稳定度 ±0.01%（外电压波动±10%）保护电路 过电压， 过电流， 过功率，3、一次X射线滤波片 5种自动交换特点说明：不同元素应该采用不同的滤光片进行分析，这样才能有效降低背景，得到高准确度的测量数据。EDX-720进行元素分析时可以自动判断元素和更换相应的滤光片，无须手动更换检测器部分：1、检测器类型 Si（Li）检测器液氮 只有在分析时添加液氮消耗 少于1升/天检测面积 10mm2分析元素 Na-U分辨率 ：小于150电子伏特特点说明：采用液氮制冷方式的检测器具有高分辨率，可以避免元素谱线之间的干扰，从而保证高准确度的分析。在性能、实绩、稳定性上，Si（Li）半导体是对性的实绩（岛津检测器是自己生产，在万一发生故障也迅速对应）。 掘场按振动检测器的性能下降。 精工较差的Si-PIN半导体分辨率为220eV、在分析树脂中的Cd、Pb时，容易受到Br和Sb等共存元素的干扰、并有时不能检出，还有因为是低强度，在测试金属中有害元素的感度也差。2、计数单元放大器拟合时间 10μ秒增益变化 高/低多道分析器（MCA）变频型 顺序比较ADC道数 2048道***大计数率 232-1/道样品室与测定室部分：1、样品室二手岛津X射线荧光光谱分析仪EDX-700HS，二手荧光光谱分析仪盖子 自动开启/关闭（带安全系统）每次测定时盖子自动上升与下降。***大样品尺寸 300mm 直径 x 150mm高二手岛津X射线荧光光谱分析仪EDX-700HS，二手荧光光谱分析仪（特点说明：样品室自动开启，样品盖子的结构设计有效避免X光的泄露，满足日本及中国X射线的泄露控制标准。超大型的样品室可以容纳大型的部件直接放入测试，无须切割）2、测定室X射线照射面积 下照射光栏直径 1、3、5、10mm可选特点说明：不同的分析面积采用不同尺寸的光栏，可以保证各种大小样品的高精度测试。测定室开孔 13mm3、测定气氛：大气4、CCD观察定位系统配备CCD数码观察系统，可以准确定位分析区域。

SH407 X荧光射线硫分析仪采用能量色散原理,机电一体微机化设计,分析快速、准确。其重复性、再现性都符合国家标准GB/T 17040-2008《石油产品硫含量测定法（能量色散X射线荧光光谱法）》和GB/T 11140-1989《石油产品硫含量测定法（X射线光谱法）》GB/T17606 原油中硫含量的测定 能量色散X-射线荧光光谱法的相关要求,同时完全符合美国国家标准ASTMD4294-02的要求。 石油产品SH 407 X荧光射线测硫仪 SH407荧光硫分析仪主要测量原油、石油、重油、柴油、煤油、汽油、石脑油的总硫质量百分比含量，也可测量煤化工产品（例如初级苯）、其它液体样品中总硫或硫化合物含量；还可细粉末样品中总硫或SO3含量的测定等等.符合GB/T17606。 主要技术特点● 采用荧光强度比率分析方法，检测品种广,检测量程宽,分析速度快,标准样品耗量少。● 采用机电一体微机化设计，液晶显示，操作界面人机对话，具有自动诊断功能，判断仪器的工作状态和电气参数，温度、气压自动修正，碳氢比（C/H）亦可修正。● 采用一次性Mylar膜样品杯，可避免交叉污染。● 安全的X射线防护措施，经过严格测试，对个人和群体绝无X射线电力辐射伤害。主要技术参数及指标● 测硫范围： 10ppm～50000ppm● 精密度： a：重复性(r): ＜0.02894(X+0.1691)；b：再现性(R): ＜0.1215(X+0.05555)。● 样品量： (2～3)ml(相当样品深度3mm～4mm)。● 测量时间： 60秒、120秒、240秒、300秒、600秒，任意设定。● 样品测量： 单样品自动测量，测量次数2、3、5、10、50次任意设定，测量结束给出平均值和标准偏差。● 校正曲线数： 仪器可存储9条标定曲线，5条为一元一次直线，4条为二项式抛物线。● 标定(校准)样：12个（10ml/个）。● 工作电源： AC220V±20V、50Hz；l 额定功率 : 30W● 仪器包装尺寸 34*54.5*34.5 重量 11kg● 标配配件包装 55*13.5*33.5 重量 :3kg 装 箱 清 单 序 号名 称数 量单 位1X荧光油品硫分析仪主机1台2三芯电源线1根3样品杯200套4样品杯膜2盒（100张/盒）5防漏油部件(二件一套)1套6多功能压件(二件一套)1套7打印纸2个8标定（校准）标准样品1套

仪器简介：PrimusIV上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4kw,薄窗,适合轻元素分析 .1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.

NAOMI-CT-纳奥美光学是世界知名的桌面型X射线三维扫描系统的制造商，总部位于日本长野市,拥有28个事业所及5个海外分部,面向全球用户提供高性价比的三维扫描、二维成像、缺陷检测、无损探伤等的数字化解决方案。NAOMI-CT纳奥美X射线三维扫描探伤系统广泛应用于铝压铸件、树脂、塑料制品、容器、橡胶制品、加工食品、糖果、水果、化妆品、文具、玩具、鞋子、生物、骨骼、文物、工艺品等领域。

PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.技术参数：硬件： 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化，最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱， 在减低背景干扰方面发挥威力。 双泵、双真空系统 采用双真空系统（样品室/预抽真空室）。 防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计，样品交换实现更高效率。 粉末附件 电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。 定点分析 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间 节能功能（自动减少X射线光管输出） 减少冷却水量 5L/min（水温30?以下） PR气体流量减少（5mL/min） 省空间 采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。 便于维护 PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 软件 新版SQX软件 在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。 委托分析EZ扫描 采用对话框形式设定，可进行SQX分析。 定角测试模式 微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 应用模板 各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 散射线FP法 不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。 流程条 测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能 ? SQX分析功能 ? Mapping数据库 ? 材质辨别 ? 理论重叠校正 ? 自动程序运转 ? 校正投入量计算 应用软件包 应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品） CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。主要特点：特点： 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 完美的无标样分析-最新的SQX软件 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间

欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息、下载文件！该C型X射线线阵扫描相机是为满足轮胎检测的需求而设计的。它基于滨松公司C9750系列线阵扫描相机，轮胎旋转一周后，该相机便可提供在水平方向上无缺口（小于1像素）的3456像素分辨率的图像。该相机灵敏度高，强度动态范围宽，具有快速而出色的探测率，可以可靠地用于轮胎检测。C9750 的相关产品搜索X射线线阵扫描相机 C9750-20TCN产品型号：C9750-20TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10TCN产品型号：C9750-10TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10FCN产品型号：C9750-10FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-05FCN产品型号：C9750-05FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCD产品型号：C9750-27FCD，产品名称：C型X射线线阵相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCC产品型号：C9750-27FCC，产品名称：C型X射线线阵相机

多元素分析高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF)高性能XRF台式机PHECDA-HE&HES1.概述高灵敏度X射线荧光光谱仪（HS XRF® ） 型号：PHECDA-HES型号：PHECDA-HE核心技术： 硬件：单色化聚焦技术HS XRF® 软件：快速基本参数法Fast FP® &bull 硬件核心技术：单色化聚焦激发技术 全聚焦双曲面弯晶将X射线管出射谱某一特定波长单色化并聚焦衍射至样品点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在连续散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。 &bull 软件核心技术：快速基本参数法快速基本参数法Fast FP2.0 XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题，对于不同类型样品的定量分析带来挑战。 基本参数法是当前X射线荧光领域的研究前沿， 快速基本参数法（Fast FP® ）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型，基本参数法充分计算X射线光产生的各种效应，减少分析误差，通过少量标准物质（或定值样品）的校正得到更为精确的元素定量结果。&bull 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案：解决方案解决问题应用特点应用领域土壤无机元素分析 &bull 满足《GB15618-2018土壤环境质量农用地土壤环境污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 满足《GB36600-2018土壤环境质量建设用地土壤污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 各类土壤与沉积物中50多种无机元素含量分析 &bull 优化镉的检出能力，土壤镉的检出限达到0.06mg/kg &bull Fast FP算法消除土壤基体差异，达到土壤无机元素精确定量分析环境监测、地质地矿、土壤检测、大学科研水质重金属检测 &bull 满足地表水、地下水、生活饮用水、企业排污水等重金属限值含量检测 &bull 环境水质污染事件重金属含量现场快速检测 &bull 重金属富集膜片技术（HMET）与HS XRF联用，将水质重金属检出限降低至1-3ug/L环境水质应急监测、环境水质现场检测固废重金属检测 &bull 满足固废中27种毒性元素和7种氧化物快速定量分析 &bull 危废鉴别-毒性元素含量分析 &bull Fast FP对各类固体废物的基体自适应 &bull 样品处理简单，快速定量分析环境监测、环境司法鉴定、科学研究、固废处理企业PM2.5无机元素分析 &bull 满足《HJ 829-2017 环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》 &bull 提供从PM2.5无机元素分析到污染源溯源数据分析 &bull PM2.5膜片中三十几种无机元素含量快速含量分析 &bull Fast FP完成无标样（或少标样）情况下PM2.5膜片元素含量分析 环境监测、空气污染源调查、科学研究食品重金属快速检测 &bull 满足《GB2762-2017食品安全国家标准 食品中污染物限量》中部分食品重金属限量值检测要求 &bull 水产品、肉类、调味品、水果蔬菜、粮食、茶叶等食品及其制品中铅、镉、砷、铬、镍、锡等重金属含量检测 &bull 提供全套食品前处理设备与方案，样品处理简单，检测速度快 &bull Fast FP软件对各类食品基体的自适应 &bull 与实验室参比方法高度一致性食品安全领域、公安系统食品安防、海关食品监管矿石全元素分析 &bull 铁矿石、铅矿石、铜精矿、锰矿石等无机元素含量分析 &bull 矿石中有害元素（铅、砷、汞、镉等）含量分析 &bull 稀土元素含量分析 &bull 提供现场矿石元素含量整体解决方案 &bull Fast FP算法对各类矿石产品的精确定量分析能力地质、矿产、有色、海关 中药重金属含量检测 &bull 满足中国药典规定的中药重金属（铅、镉、砷、铜）限量值含量检测要求 &bull Fast FP算法对各类中药基体的适应与背景扣除 &bull 快速、简单、精确中药行业石化产品中金属元素含量分析 &bull 满足汽柴油产品中铁、锰、铅限量值含量检测 &bull 润滑油、机油、汽柴油等各类油品中金属元素含量分析 &bull 对石化产品中金属元素检出限达到0.1mg/kg水平 &bull 二十多种金属元素同步分析石油化工水泥窑协同处置 &bull 满足环保和建材行业对水泥窑协同处置中规定的从生料、熟料到水泥及水泥浸出物的重金属元素含量检测 &bull 水泥工业全元素（钠、镁、铝、硅、铁、钙、氯等）含量分析，分析添加材对水泥质量影响的判断 &bull Fast FP算法对各类样品基体的自适应 &bull 重金属膜片富集技术（HMET）满足水泥熟料浸出物中重金属含量检测建材工业、水泥企业 2.特点 高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。 2.1 单色化聚集激发技术 高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射线的信噪比。 2.2采用高性能SDD探测器 硅漂移探测器（SDD）是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件，其性能取决于晶体面积、窗口材料、计数率、分辨率等，PHECDA 系列采用当今高性能的SDD探测器，确保元素分析性能。 2.3 Fast FP算法 （1）XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关，也与其它元素含量有关，这就是所谓的基体吸收-增强效应，而这种物理效应，使得选择合适的标准样品成为困难，若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围，就会对实际样品分析带来误差。 （2）基本参数法（Fundamental parameters method）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到更为精确的元素定量结果。 2.4 优化镉元素检出能力 镉是有毒重金属，在环境保护和食品安全等领域备受关注，常规XRF对镉（Kα：23.1KeV）的激发和探测存在挑战，高灵敏度X射线荧光光谱仪通过对镉的单色化聚焦激发，对镉的检出限达到的0.06mg/kg水平。 2.5 高通量 PHECDA-HES 配置30位以上自动进样单元； 无需气体、真空等辅助设备 3.规格 指标参数说明原理 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱法元素范围 Mg-U检出限(mg/kg) Cd：0.06mg/kg Pb：0.4mg/kg Cr:1.0mg/kg 土壤基体，元素扫描时间300秒重复性 Cd:0.3mg/kg RSD＜15% 土壤基体，元素扫描时间300秒样品种类 固体样品、液体样品、粉末样品、粘稠样品 提供不同样品的制备方案自动进样 PHECDA-HES配置30位自动进样单元，可条形码扫描软件 Fast FP软件系统，支持各种样品应用开发、谱图显示对比、无标定量、标样校正、元素定量分析、数据存储、网络传输富集技术 重金属富集膜片（HMET® ）与HS XRF联用技术，水质重金属检出限达到1~3ug/L详细技术参数与应用方案请咨询安科慧生工作人员！ 4.应用4.1 痕量元素检出能力 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪基于全聚焦性双曲面弯晶的单色化聚焦技术，提升元素信号强度的同时大幅降低散射线背景，大幅提升样品元素信噪比，从而将XRF对元素分析延伸至微量和痕量应用领域。 4.2 软件准确定量能力 安科慧生科研人员历时十几年成功开发先进的快速基本参数法（Fast FP），其通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，快速基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA系列与快速基本参数法（Fast FP）的强强联合，为以下行业提供完整的解决方案：应用领域解决方案 编号编号环境保护 农用地和建设用地土壤无机元素含量分析 HMET+HS XRF联用应对环境水质重金属应急监测 固体废物重金属含量检测 PM2.5无机元素含量分析与数据溯源食品安全 食品中重金属含量快速测定-X射线荧光基本参数法 中药中重金属含量检测-HS XRF with Fast FP 化妆品中重金属含量检测-高灵敏度XRF重金属分析仪地质矿产 HS XRF与Fast FP对各类矿石元素含量分析 稀土元素含量快速检测高纯金属（合金）分析（铜）精矿元素含量分析其它 水泥窑协同处置重金属含量分析 石化产品中金属元素含量分析

ARL QUANT'X X射线荧光能谱仪(EDXRF) Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可最大程度提高各种元素分析应用的分析量。能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。 先进的技术独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器数字脉冲处理 (DPP) 技术高性能、多元素分析 主要功能 出色的痕量分析灵敏度高分析量的进程控制适用于异常材料的高级分析算法出色的样品处理灵活性机械简化和灵活性占地面积小、易于运输以进行野外测量快速、简易的安装以及可完全现场定制随附完整的实验室启用套件经验证的硬件和全套软件现场、协同方法开发完整的技术应用支持汇集了数百种应用的专业知识 功能强大、易于使用的 WinTrace*软件 无标和半无标分析基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法多层厚度及成分不限元素、不限数量的标样利用自动化操作实现多个激发条件 可用于：悬浮颗粒物过滤器符合 RoHS 及 WEEE 的分析法医及痕量分析营养补充剂磁性介质和半导体土壤污染过滤器上的薄膜塑料中的有毒元素合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器，通过智能激发和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法，适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小，任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼（Mo）靶管电压5─50KV管电流1─1000ｕA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本，终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP（正版）数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10－35С，湿度30－70％RH重量60Kg（主机部分）外形尺寸550（W）×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100－300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 ％RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品，塑料和聚合物，食品和化妆品，环境，矿石，医药，建筑材料，中心实验室成品检验，金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好

仪器简介：X射线荧光定硫仪 RX-620高精度X射线荧光定硫仪利用一个紧凑的X射线管迅速的非破坏性测试石油含硫量测量30ppm到6wt%宽阔的测量范围一体机结构包括了显示器、操作键盘和内置打印机有一个放12个样品的turret，可当作内置样品转换器除正在测量的样品，其它样品在测量过程中可自由插入和取出， 采用单一样品池探测系统，在测量中可做到完善的现场防护。 由PTFE制造的样品池，可重复使用聚脂薄膜是唯一耗材X射线荧光定硫仪 Model RX-360---仅仅没有turret 的单点测量型号 重量（只有12公斤）内置打印机自动1点、2或多点（10）校准便携（直流+12V车用蓄电池）技术参数：测量原理：能散X射线荧光法测量标准：ASTM D4294,ISO 8754,JIS K2541 B7995测量样品：Kerosine, 石脑油，柴油，原油和重油等测量范围：0.003-6.00wt%样品量：大约3到5ml测量精度：5-200ppmC/H ratio correction:0.003wt%/1C/H,with sample containing 1wt%自动校准：自动1点、2点或3点标定，自动多点（最大12点）标定样品转换器：Turret型12个位置转换器，acrylic防尘盖外部接口：RS-232C(1个端口)打印机：内置点矩阵打印机显示：液晶显示器（4行20个数字）X射线泄漏：0.6µ Sv/Hr 或更小在器械表面安全：互锁机械装置，防止X射线意外泄漏主要特点：

这款台式X射线衍射仪是一种多用途多功能的实时测量的台式X射线衍射系统，特别为科研院校和企业应用而研发。这款实时台式X射线衍射仪与其它采用&ldquo 机械扫描测角仪器&rdquo 的X射线衍射仪不同，它采用独特的具有专利技术的曲线弧型探测器代替传统的机械扫描测角仪器，从而实现以超高分辨率超高速度实时完成2theta的测量。台式X射线衍射系统具有多种样品测量模式和多用户分析技术，使用最新的垂直安装的弧型X-eye高灵敏度探测器，以低于2毫秒的速度测量整个2 theta的全部衍射类型。该台式X射线衍射仪具有的实时测量功能使得它非常适合所有类型的动力学实验以及快速传统的X射线衍射研究。台式X射线衍射仪具有独特的110度角范围和180度曲率半径的弧度探测器，具有无以伦比的可靠性，非常适合大量测量任务的需要。台式X射线衍射系统产品特色* 不需要日常维护，超长保质期，超低使用成本，* 操作简餐，非常可靠，* 摆脱了机械扫描式的测角仪器；* 高灵敏度弧型X射线探测器* 超高速度：2毫秒可测量2 theta；* 实时测量实时分析结果；* 超高分辨率：0.10FWHM 台式X射线衍射系统操作情况：不需要任何使用经验的工程师也可快速使用，非常可靠，不需要日常维护，高速高分辨率高安全性测量。台式X射线衍射仪使用成本：使用高灵敏度弧型X射线探测器替代了昂贵的测角仪，整套系统的价格更低，使用成本更低。先进的技术：测量速度更快，它可以同时测量所有衍射峰，完成一次对多个样品全分辨率的测量仅需要几秒时间，不需要等待。超大样品室：由于替代了测角仪，这个台式X射线衍射仪以较小尺寸提供超大样品室，可以容纳更为广泛的样品操作附件，包括8位自动采样器，可以自动分析样品而不需要操作人员。样品尺寸要求：可以测量任何尺寸的样品，而其他产品一般完成分析测量的样品最大不超过2.0mm. 100微米的样品可直接分析而不需要额外的X射线源。X射线安全性：对样品的尺寸无要求，因此X射线安全性显著提高，传统的X射线衍射仪对样品尺寸存在要求，因此需要厚厚的安全防护装置和X射线窗口，但是整体的安全性依然得不到严格保证。单晶/粉末衍射功能：这套台式X射线衍射系统还可添加附件，实现对粉末,单晶的X射衍射测量。X射线荧光测量功能：提供标准的X射荧光测量软件模块，支持特殊的X射线荧光和X射线衍射测量。矿产和冶金特殊应用： 该台式X射线衍射系统特别为地质矿产和冶金等应用而设计。它卓越的性能和操作的方便性非常适合材料科学的研究。台式X射线衍射仪技术参数： 分辨率： 0.10度 FWHM探测器曲率半径：180mm2 theta：110度X射线源: 50W , 60KV/3KW电源功率：最大50W重量： 200Kg尺寸： 95x650x150cm台式X射线衍射系统可选附件：拉曼探针，X射线荧光附件，样品操作附件，X射线管Cu,W,Co, Mo, 单晶安装架，自动采样器等。

仪器简介： Simultix 14是理学公司新奉献的多道同时分析式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 Simultix 14是多道同时分析式荧光光谱仪，分析速度快，分析精度高。 Simultix 14可以同时分析40种元素。 可以对4Be到92U进行分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%。 可以分析材料的领域包括：钢铁、有色金属合金、水泥、化学工业、能源、农业、商品、环境保护等。 主要特点： 1、 可以同时分析40种元素，可以包括1个重元素扫描道、一个轻元素扫描道 2、 高灵敏度、高精度分析 新开发的分光器，高灵敏度、低背景 高计数电路设计，计数率是传统型仪器的2倍，进一步提高高含量区域的分析精度。 接触式样品定位装置，可以消除样品面的定位误差，确保测量数据的重复性。 3、 小型化、超高速 高速样品传送系统(理学专利) 小型化设计，占地面积仅1m2 4、 更加适合超轻元素分析 采用新开发的人工晶体，不仅提高了C、B的分析精度，而且使Be分析成为可能。对数螺旋方式的弯曲晶体，可以大型化加工，灵敏度高于其它弯曲方式 可以选用适合轻元素的X光管 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 5、 确保分析精度 内置恒温化装置，可以保证内部温度不变 更迅速、更可靠的真空装置 X射线光闸，可以延长探测器的寿命 芯线清洗装置，仪器照常运转，根据计算机屏幕进行简单操作，即可准确有效地清洗芯线，保证计数器在很好的状态运行。 气体密度稳定器(GDS)，可使检测器的脉冲高度值保持稳定，对轻元素分析稳定性最为有效 6、 简单易懂、使用方便的软件系统 程序选择画面简单 运行状态显示 多任务、多窗口 自动组选择 定量分析 校正曲线的作成 背景校正 定性分析 7、 出色的保养维护功能 在荧光屏上显示仪器的状态 可以显示故障内容及排除方法 8、 标准8样品进样器ASC8，选件可以提供ASC20、ASC50、ASC100