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赛效应测量系统

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赛效应测量系统相关的论坛

  • 2016新品-LSR4(哈曼法/赛贝克效应/电阻率)

    2016新品-LSR4(哈曼法/赛贝克效应/电阻率)

    LSR4(哈曼法/赛贝克效应/电阻率)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151419_581968_3060548_3.jpg特点、直接测量ZT值+ 可用以计算热传导系+ 高准确度 (使用双样品校正模式)赛贝克系数:静态直流法电阻:四端法ZT:哈曼法用哈曼法测定热电优值是通过样品上(在直流电和绝热条件下)的热电压与欧姆电势降的比值来实现的。在样品中通直流电则相应的“欧姆”压降可直接测得。因为珀尔贴效应,样品一端会被加热而另一端会被冷却,即在样品中产生温度梯度。通过测量产生的压降和热电压,ZT值便可直接得到。LSR—4测试系统可以同时测量塞贝克系数和电阻(电阻率)可以测量圆柱形或棱柱形的样品,长度6——23毫米利用独特的测量适配器可以测量线状和薄片状样品通过三种可更换的炉体,测量温度范围可以覆盖-100到1500 ℃样品架的设计保证了极好的测量重复性最先进的32位软件可以通过程序实现自动测量测量数据导出测量原理:圆柱形或棱柱形的试样垂直放置的两个电极之间,下部电极块包含一个加热器。整个测量装置放置在炉体中。将整个炉体和样品加热到特定的温度,在此温度下利用电极块中的二级加热器建立一组温度梯度,然后两个接触热电偶测量温度梯度T1和T2。独特的热电偶接触机制保证了以最高的温度精度测量每个热电偶上每条导线电动势dE。

  • 【原创】浅析交直流两用塞曼效应背景校正器

    一直以来认为国内并没有成功商品化交变磁场调制反塞曼效应背景校正(简称交流塞曼)技术,近日上网一搜,才发现自己严重Out了。早在2009年,上海光谱的SP-3880AA就已经把交流塞曼和直流塞曼(直流磁场激励反塞曼效应背景校正)共冶一炉,居然在一台机子上实现了!一个感觉——震撼。如果再看这型仪器的其他配置,更觉震撼:开关型直流化石墨炉电源、横向加热石墨炉、固体进样技术、etc。呵呵,我不相信横向加热石墨炉,因为这一项和仪器的其他部分不匹配。但其他几项,就算拿到国际上,也算先进了。不说其他,单论这交直流塞曼合体。我们知道,恒定磁场反塞曼效应背景校正(恒磁塞曼,以区别于直流塞曼)要使用塞曼分裂的p成分(即偏振方向平行于磁场的成分)作为总吸收信号的测量光束,而对于部分反常塞曼效应的原子吸收谱线,其p成分内部因为磁致分裂较大,导致分析谱线峰值下降,从而损失相对灵敏度。Cu、Au、Ag、Cr、As等元素的灵敏线不幸都落在这个部分中。因此,从相对灵敏度来说,恒磁塞曼不如交流塞曼,后者虽然也存在同样的问题,但一来相对灵敏度损失不太大(因为不使用p成分),二来还可以通过调节磁场强度来解决。恒磁塞曼使用永久磁铁,自然也就无法调节磁场。所以,用直流电磁铁来激励一个强度可调的直流磁场,就成为一种顺理成章的思路,这就是直流塞曼技术。直流塞曼的光路结构完全和恒磁塞曼相同,但磁场却与交流塞曼匹配。如果用交变信号激励磁场,在磁场最大时让s成分(偏振方向垂直于)输出,而在零磁场时让p成分输出,那么就实现另一种形式的交流塞曼,磁场调制和信号测量的同步方法实际上很简单,此处不叙。和经典的交流塞曼系统相比,只是在零磁场时用p成分代替s成分而已,而这二者是完全等价的。换句话说,交直流塞曼本来就可以合体的!为何过去没有人意识到这一点呢?我想应该是没有人认为有交流塞曼还需要直流塞曼吧。如果用两个光电检测器同时测定p成分和s成分,直流塞曼在处理高速背景方面无疑占有优势,这也就是二者合体的意义。不过,这需要有双检测器为前提。SP-3880AA并没有说明这一点,表明这型仪器没有使用双检测器,所以其交直流塞曼合体的意义并不太大。不过,这是一型真正的商品化交流塞曼原子吸收系统,仅就此而言,填补国内空白是可以自称的。顺便指出,双检测器并非增加一个PMT那么简单,要求两个PMT性能上严格匹配,并且对光路要求很严格,所以会增加成本。SP3880AA有如此的技术,但除了频频获奖外,并没有吸引多少眼球。我曾在本坛中从2008年搜到2011年,竟然没有一篇帖子谈论上海光谱的这型仪器。个中原因恐怕只有上海光谱自己知道了。其实据我所知,交流塞曼,甚至纵向交流塞曼在国内早有人研制出来了,但一到产品阶段就卡壳,无法进行下去。我国的仪器产业,固然在理论水平方面落后于国外,但更主要的原因是先进制造能力,当然还有市场能力的缺乏。但愿这种看法是错误的。

  • 正常塞曼效应和反常塞曼效应扣背景

    求教:关于塞曼效应扣背景听说有正常塞曼效应和反常塞曼效应两种方法,请问熟悉的专家高手这两种塞曼扣背景方式具体有什么区别?各有什么优缺点?另外目前市场上采用这两种扣背景方式的常见仪器又有哪些型号呢?

  • 请教塞曼效应在原吸中的应用

    塞曼效应(Zeeman effect),在原子、分子物理学和化学中的光谱分析里是指原子的光谱线在外磁场中出现分裂的现象。在外磁场中,总自旋为零的原子表现出正常塞曼效应,总自旋不为零的原子表现出反常塞曼效应。例如钠原子的589.6nm和589.0nm的谱线,在外磁场中的分裂就是反常塞曼效应。镉的643.847nm(1D2态向1P1态的跃迁)谱线在磁场不太强时就是表现出正常塞曼效应。只有当外磁场的强度比较弱,不足以破坏自旋-轨道耦合时才会出现反常塞曼效应,这时自旋角动量和轨道角动量分别围绕总角动量作快速进动,总角动量绕外磁场作慢速进动。当磁场很强时,自旋角动量和轨道角动量不再合成总角动量,而是分别围绕外磁场进动。这时反常塞曼效应被帕邢-巴克效应所取代,其效果是恢复到正常塞曼效应,即谱线分裂成3条,相互之间间隔一个洛伦兹单位。这里磁场的“强”与“弱”是相对的,例如3T的磁场对于钠589.6nm和589.0nm的双线是弱磁场,不会引起帕邢-巴克效应,但对于锂的670.785nm和670.800nm的双线是强磁场,足够观察到帕邢-巴克效应以上内容均为摘录。我的问题在于我关注的Pb\Cr\本身属于正常塞曼分裂还是反常塞曼分裂?如果是反常塞曼分裂,需要施加多大的磁场?

  • 塞曼效应研究

    大家好,最近再摸索塞曼扣背景的原理,有几个问题想请教一下大家问题一:因为我们的仪器是PE AA 800的,应该是横向加热,交变磁场塞曼扣背景的(据说磁场强度是1.9T),由于磁场下的正常塞曼效应是列分为π和O正负(那个叫“诗歌吗”的符号不会打),根据塞曼原理,应该是元素原子在磁场中高能级态的谱线分裂成三条??还是空心阴极灯发出的光在磁场中发生分裂???

  • 【分享】热电偶温度计测量系统原理图

    热电偶温度计属于接触式温度测量仪表。是根据热电效应即塞贝克效应原理来测量温度的,是温度测量仪表中常用的测温元件。将不同材料的导体A、B接成闭合回路,接触测温点的一端称测量端,一端称参比端。若测量端和参比端所处温度t和t0 不同,则在回路的A、B之间就产生一热电势EAB(t,t0 ),这种现象称为塞贝克效应,即热电效应。EAB大小随导体A、B的材料和两端温度t和t0 而变,这种回路称为原型热电偶。在实际应用中,将A、B的一端焊接在一起作为热电偶的测量端放到被测温度t处,而将参比端分开,用导线接入显示仪表,并保持参比端接点温度t0稳定。显示仪表所测电势只随被测温度而t变化。

  • 【分享】内燃机缸套-活塞环摩擦副是一个典型的摩擦学系统,

    内燃机缸套-活塞环摩擦副是一个典型的摩擦学系统,其中含有多种类型的摩擦和磨损,润滑、摩擦、磨损的相互作用十分显著。其摩擦学性能对提高内燃机的可靠性和耐久性,保证内燃机经济、可靠地工作具有决定性的作用。其摩擦学问题的研究一直是人们关注的热点之一。  关键词:内燃机 缸套 活塞环 摩擦学研究  内燃机中缸套-活塞环摩擦副对内燃机工作性能(动力性、经济性以及稳定性等)和使用寿命有着举足轻重的影响。如何控制好这对摩擦副的摩擦学行为是人们魂系梦牵的事情。由于缸套-活塞环摩擦副的工作条件十分苛刻,经常处于高温、高压和高冲击负荷工作状态。为了解决好这对摩擦副的润滑和抗磨问题,国内外许多汽车工程技术人员,长期以来孜孜以求地投入了大量的研究工作,至今仍在探索。1 缸套-活塞环摩擦学理论研究概述  从缸套-活塞环研究的历史上看,早期对缸套-活塞环的摩擦学研究主要是求内燃机的摩擦功耗,自Stanton,T.E.1925年发表第一个摩擦力研究结果以来,人们围绕着缸套-活塞环的摩擦及润滑问题做了许多工作,Rogowki,A.R.指出活塞连杆系统的摩擦功耗可占到整个内燃机机械损失的75%,而缸套-活塞环的摩擦功耗又占活塞连杆系统的75%,Ricardo,H.的研究表明当内燃机以1600r/min转速运转时,活塞连杆系统的损失占机械损失的58%,并指出“对所有内燃机来说,活塞连杆系统的摩擦功耗是机械损耗的最大组成部分,但又是最难准确地定量描述的部分。”最早在点火内燃机上进行摩擦力测量的是美国麻省理工学院的学者们,他们通过研究得出了摩擦力随气体压力升高略有增加的结论。Farobarros,A.T Dyson,A.研究了不同粘度润滑油对摩擦力的影响以及在混合润滑区内减摩添加剂的作用。Wakuri,Y.等人通过对摩擦力的测量和分析,指出贫油对摩擦力有巨大的影响,同时还探讨了环组中活塞环的数目对摩擦力的影响以及缸套-活塞环间油膜厚度随润滑油粘度的变化。Furuhama,s.等人在缸套-活塞环摩擦学特性研究作出了巨大的贡献,他们于70年代末期研制的可动缸测量摩擦力装置,有效地克服了惯性力、气体压力等因素的影响,测得了在整个内燃机工作循环中的摩擦力变化过程,提出了内燃机载荷主要由流体润滑膜承担,而摩擦力主要受混合润滑区域影响的论断,这一点已被后来进一步的理论研究所证实。  Riches,M.F.等人侧重于混合润滑效应,从理论和实验两方面对缸套-活塞环间的摩擦力进行了研究,指出在低速及低粘条件下充分考虑混合润滑作用的重要性。活塞环的摩擦影响着内燃机的效率,而缸套-活塞环的磨损则影响着它们的使用寿命,近年来,对高性能内燃机提出要求之一就是延长不解体检测的运行时间。为此,减少缸套-活塞环的磨损就成了首要的任务。缸套-活塞环的磨损是非常复杂的,它受到许多因素的影响,同时其磨损又包含粘着磨损、磨粒磨损、腐蚀磨损等多种磨损形式。针对这种情况,Nealc,M.J.经过广泛调查,于1970年发表文章阐述了缸套-活塞环一般的磨损机理,提出了一些改善措施,指出了需要加强研究的问题。基于Archard,J.F.磨损定律,Ting,L.L.等人提出了一种分析缸套-活塞环磨损的模型,分别计算了缸套上推力面和次推力面的磨损,得出了缸套磨损曲线。国内的桂长林教授也提出了一种将Archard,J.F.模型用于机械零件磨损设计的算法,并重点分析了缸套-活塞环的磨损问题。该文指出了缸套-活塞环的磨损问题的研究成效不显著的原因,主要是在设计上没有建立起一个可以预测缸套-活塞环耐磨寿命的计算模型和计算方法。Baker,A.J.S.等人探讨了影响活塞环擦伤的动力学因素,提出了一种用无量纲临界功能法分析内燃机活塞环工况的方法,此外还探讨了载荷因素对缸套磨损的影响,并对磨损进行了测量。此外,孔凌嘉较全面地讨论了缸套-活塞环的磨损问题,并第一次把磨损和润滑放在一个模型中加以研究,并考察了它们之间的偶合关系,建立了一个同时考虑边界润滑条件下的磨损与三体磨粒磨损的综合分析模型,对磨粒尺寸、磨粒浓度对磨损的影响做了定量的计算。刘琨以内燃机活塞系统为研究对象,较系统地研究了缸套-活塞环、缸套-活塞裙部的摩擦学特性,为进行高性能的内燃机活塞系统设计提供了理论基础。桂长林等人从缸套的磨合、耐磨性、摩擦功耗和机油消耗诸方面对设计上需要确定的表面形貌进行了探讨,给出一些参数组合。缸套-活塞环间的磨损在上、下止(死)点处最大,尽管在冲程中部是流体润滑,但也是磨损存在,这就为磨损提出了新课题,促进人们进一步的研究。润滑是降低摩擦、减少磨损的重要途径,因此缸套-活塞环的润滑也是长期以来人们所致力研究的领域。Castleman,R.A.假定在冲程中部具有典型的载荷和速度,最先对缸套-活塞环流体润滑进行了计算,证实了表面外凸的活塞环可以与缸套间产生足够厚的油膜。后来人们又发现,在分析和求解油膜厚度时,必须考虑挤压效应,这样才能在整个循环中求解。分析表明,活塞环的曲率半径是影响油膜形成的关键因素。在上、下止点处为了保证挤压效应,则活塞环应有较大的曲率半径,而在冲程中部为了保证动压效应,则希望曲率半径小。因此,设计时应综合考虑。在这个阶段,缸套-活塞环的润滑分析是采用简化了的Reynolds方程]。

  • gjb 8848-2016 系统电磁环境效应试验方法

    工业与信息化标准网整理:GJB 8848-2016 系统电磁环境效应试验方法基本信息分类号:b0110页数:148实施时间:2016.08.01主办单位:海军批准单位:中央军委装备发展部主编单位:中国人民解放军海军装备研究院标准规范研究所、技术基础管理中心、第二十一试验训练基地、军械工程学院、中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所、工业和信息化部电子第四研究院、中国船舶重工集团公司第七〇一研究所、中国兵器工业集团第二〇一研究所、中国航天科工集团第二研究院二〇三所、中国人民解放军理工大学、北京航空航天大学、中国航空综合技术研究所、中国人民解放军三一〇〇七部队、中国航天科工集团第三总体设计部、东南大学、中国空间技术研究院总体部、中国船舶重工集团公司第七二三研究所、中国电子科技集团公司第二十九研究所、国防科学技术大学、中国电子科技集团公司第十四研究所、空军装备研究院、武器装备论证研究中心、工业和信息化部电子第五研究所适用范围本标准规定了系统电磁环境效应试验方法,包括安全裕度试验与评估方法、系统内电磁兼容性试验方法、外部射频电磁环境敏感性试验方法、雷电试验方法、电磁脉冲试验方法、分系统和设备电磁干扰试验方法、静电试验方法、电磁辐射危害试验方法、电搭接和外部接地试验方法、防信息泄漏试验方法、发射控制试验方法、频谱兼容性试验方法和高功率微波试验方法。本标准适用于各种武器系统,包括飞机、舰船、空间和地面系统及其相关军械等。引用标准GB/T 6113.101 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 无线电骚扰和抗扰度测量设备 测量设备GB/T 6113.104 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 无线电骚扰和抗扰度测量设备 辅助设备 辐射骚扰GB/T 17626.21 电磁兼容 试验和测量技术 混波室试验方法GB 18871 电离辐射防护与辐射源安全基本标准GJB 72A-2002 电磁干扰和电磁兼容性术语GJB 151B-2013 军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量GJB 376-1987 火工品可靠性评估方法GJB 573A-1998 引信环境与性能试验方法GJB 1143 无线电频谱特性的测量GJB 1389A-2005 系统电磁兼容性要求GJB 3567 军用飞机雷电防护鉴定试验方法GJB 5313 电磁辐射暴露限值和测量方法GJB 7504-2012 电磁辐射对军械危害试验方法GJB 8815 电磁兼容测量天线的天线系数校准规程GJB/Z 170 军工产品设计定型文件编制指南GJB/Z 377A-1994 感度试验用数理统计方法

  • 【原创大赛】2016国产磁测量好仪器系列之四:磁电输运性质测量系统ET-9000系列

    【原创大赛】2016国产磁测量好仪器系列之四:磁电输运性质测量系统ET-9000系列

    2016国产磁测量好仪器系列之四:磁电输运测量系统ET-9000原创:刘小军、刘卫滨、李鹏飞 工程师,北京东方晨景科技有限公司推荐:陆俊 工程师,中科院物理所磁学室2016年9月25日一句话推荐理由:从引进吸收到成功集成改良的磁测量好仪器。一、引言电阻是人们借助电传输能量与信息时必须面临的基本物理现象,它导致电损耗及发热,因而几乎所有的电学材料都有必要考察其电阻率。对于电阻或电阻率的测量比较陌生的读者可以看一篇相关通俗意义的介绍“电阻测量的光与影”。本文要介绍的是磁场下电输运测量,根据加载磁场与电流的方向可以分为纵向磁阻(或简称磁阻效应)与横向磁阻(或简称霍尔效应)。进行磁电输运测量的意义在于磁自由度引入,通过电阻率随磁场的变化规律不仅仅可以用来测量磁场的大小,而且让电阻能展现出更深层次物质结构的信息(比如因晶格或拓扑等因素带来的电子自旋相关的能带结构变化)。其中最吸引人的是电子能量结构的量子化过程,竟可以只是通过简单的通过加磁场测电阻的方法予以揭示,参考图1,如1985年的诺贝尔物理学奖颁发给Klaus von Klitzing的量子霍尔效应、1998年的诺贝尔物理学奖颁发给崔琦等三位物理学家的分数量子霍尔效应、2007年诺贝尔物理学奖颁发给Albert Fert与Peter Gruenberg的巨磁电阻效应以及不久前中国刚公布的“未来科学奖”颁发给清华大学薛其坤的量子反常霍尔效应等奇特量子效应(也有可能在不久的将来获得诺贝尔奖)。因而磁场下进行电输运测量成为凝聚态物理学研究中的家常便饭式的手段。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/09/201609291741_612654_1611921_3.png图1 磁电输运测量相关的诺贝尔奖级别工作图示二、背景磁电输运测量相关的仪器虽然很轻松就能实现,但要达到在证明被研究物质的奇特量子性质并不容易。其中涉及到的主要技术不仅仅是电压与电流的稳定测量,还包括磁场的稳定与测量,此外还可能涉及到低噪声的低温甚至光学配件等,因而其综合性导致其从头开始的研发周期较长。几十年来,磁电输运测量仪器主要来自于美国的量子设计公司与Lakeshore两家公司。北京东方晨景科技有限公司从20世纪末开始引进代理Lakeshore公司设备,经过十多年的消化吸收,逐步掌握了国外公司在输运测量、磁场电源、低温等系统集成方面的技术,不仅如此,还针对国外公司在应用过程中的让用户感到不便的软硬件问题,进行了自主的改良研制,逐步形成ET-9000测量系统,系统照片如图2所示,该系统从2010年正式推出至今,明显的增加了国内外磁电输运测量仪器系统的比例(约从20%上升到40%)。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/09/201609291741_612655_1611921_3.png图2 ET-9000 型磁电输运测量仪器照片三、简介ET-9000系列磁电输运性质测试系统是集霍尔效应、磁阻、变温电阻、I-V特性等测试于一体的全自动化测试系统,其总体原理框图如图3所示。系统全面地考虑了集成一体性、屏蔽防干扰能力和操作人性化等用户经常忽略的问题,选取了美国Keithley的电测量仪表,高精度高稳定性电磁铁平台,配备灵巧的测量样品杆和快速插拔样品卡,加上全自动化的专用测试软件,能让用户快速方便地进行电输运测试,并获得准确可靠的数据。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/09/201609291741_612657_1611921_3.png图3 ET-9000磁电输运测量仪器的测试原理框图ET-9000根据不同的材料不同的测试需求分为多种型号,综合各类型号,其主要技术指标列表如下:物理学参数迁移率1 ~ 1 × 106 cm2/vs载流子浓度6 × 108 ~ 6 × 1023 cm-3霍尔系数±1 × 10-5 ~ ±1 × 1010 cm3/C电阻率5 × 10-9 ~ 5 × 106 Ω·cm电学参数电阻100nΩ ~ 100GΩ电流源±0.1pA~±1A(±1.05A@±21V, ±105mA@±210V)电压源±5μV~±200V(±21V@±1.05A, ±210V@±105mA)电流测量±10fA~±1.05A(10pA为最小分辨率)电压测量±1nV~±200V(0.1μV为最小分辨率)磁场环境室温磁场2.6T@10mm间距变温磁场2T@低温恒温器温度(选件)单点液氮盒77K闭循环恒温器4K~325K(4K型),10K~325K(10K型)高温炉325K~1000K其他样品最大尺寸50mm*50mm*3mm样品数量2个(增加选件可扩展到4个)光学配件[

  • 【讨论】测量时关于金属的记忆效应

    做rohs检测pb,cd。Y做内标。发现Pb的记忆效应比较大 打标准曲线的时候 ,中途用水洗和用酸洗,测量出来的pb值差10%。此外,Y的值也会大幅度下降。不知道各位有没有这样的情况出现?

  • 【原创大赛】材料综合物性综合测量系统(PPMS)原理及应用

    材料综合物性综合测量系统(PPMS)原理及应用  美国Quantum Design 公司的产品PPMS( Physics Property Measurement System) 是在低温和强磁场的背景下测量材料的直流磁化强度和交流磁化率、直流电阻、交流输运性质、比热和热传导、扭矩磁化率等综合测量系统。北京科技大学材料学院与美国Quantum Design 公司在北京科技大学材料学院实验中心联合成立了PPMS材料综合物性测量研究实验室,安装了PPMS-9综合物性测量系统、HH-15振动样品磁强计、材料磁电阻效应、霍尔效应及磁致伸缩效应测量仪等仪器,现已全面对学生教学和科研测试开放。  一、实验目的  1、了解PPMS-9综合物性测量系统的结构、组成、测量原理及应用范围;  2、熟悉PPMS-9仪器开关机步骤及更换样品、测量附件的方法;  3、熟悉PPMS-9仪器软件控制程序及参数设置方法;  二、PPMS仪器测量原理和方法  PPMS是Quantum Design 公司在成功推出MPMS1之后,于20 世纪90 年代中期推出的又一款产品。一个完整的PPMS 系统也是由一个基系统和各种选件两个部分构成,根据内部集成的超导磁体的大小基系统分为7 特斯拉、9 特斯拉、14 特斯拉和16 特斯拉系统。但与MPMS 专注于磁测量不同,PPMS 在基系统搭建的温度和磁场平台上,利用各种选件进行磁测量、电输运测量、热学参数测量和热电输运测量。基系统主要包括软件操作系统,温控系统,磁场控制系统,样品操作系统和气体控制系统。下面结合各种选件对PPMS 的测量原理和方法加以说明。  1. 交直流磁化率选件  该选件是研究各种材料在低温下磁行为的主要设备之一,包括探杆、样品杆、伺服电机、电子控制部分、精密电源和软件部分(集成于系统软件) 。可以在同一程序中对一个样品先后进行交流磁化率和直流磁化强度的测量而不需要对样品进行任何调。样品杆处于探杆的中间,样品置于样品杆的一端,样品杆的另一端连接在伺服电机上。探杆之外由内到外依次由校正线圈组(用于消除仪器电子装置自身带来的信号增益和漂移) 、抗磁温度计、样品磁矩探测线圈、AC 驱动线圈(用于提供交流磁场) 以及AC 驱动补偿线圈(用于把交流磁场限制在线圈内部、防止它和外部的测量装置相互作用) 组成。  AC 磁化率测量原理 交流激发信号被输入到交流驱动线圈中,伺服电机驱动样品依次到两个绕向相反的探测线圈的中心,同时,与时间相关的样品信号被收集。把测得的样品在两个探测线圈中心的信号相减以消除驱动线圈和探测线圈间的随机相互作。通过对多次测量的采样和平均,可以减少测量过程中的信号噪音。与一般交流磁化率测量仪器相比,PPMS上AC磁化率测量装置有两个特点值得指明:首先它没有采用传统的单相锁相技术来处理信号,而是采用高速数字信号处理器(DSP),这样它不仅提高信噪比、加快测量速度,而且还不再需要在实部信号和虚部信号之间进行转换。其次,对于如何消除仪器电子设备自身给测量数据带来的增益或漂移的技术问题,PPMS上AC 磁化率测量装置使用校正线圈。在每次测量之前把校正线圈接入到探测线圈线路中,进行正向和反向的测量,比较探测信号与初始激发信号的差别,进而修正仪器本身电子设备引起的相漂移。同样道理,校正线圈还可以精确的校正实际所加交流磁场强度的幅值,提高B - H 测量精度。正因为如此,PPMS上AC 磁化率测量装置在允许的工作频段内(10Hz~10kHz) 的测量精度可以达到与SQUID 相媲美的程度。DC磁矩测量:采用提拉法,样品速度可达1m/ s。  该选件的技术指标如下:  AC 磁化率灵敏度:2 x 10-8emu @10 kHz  DC 磁矩测量灵敏度:2.5 x 10-5emu  AC 驱动频率:10 Hz~10 kHz  AC 驱动磁场幅值:0.002~ 15 Oe  DC 提拉速度:100 cm/ s  样品尺寸: 直径7.5 mm  2. 比热测量选件  该选件是结合了绝热法和弛豫法,利用双τ模型精确的计算样品的比热。在测量过程中,系统处于高真空状态,样品的顶部有遮热屏。整个样品平台温度非常相近。这样,严格限制热量通过对流和辐射散失。与实时数据采集系统相结合,从而实现对热流密度和温度、时间的精确监控。该选件配有两个专用温度计和一个加热器件,实现精确控温。这样,通过实验曲线和数学模型相结合,就可以得到样品的比热。另外,软件会假设样品和样品托传热不理想,这样引进两者之间的导热系数,用另外一套模型进行拟合,最后,在二者中选择拟合结果更加合理的一个。  该选件有以下几个优点:方便的将样品安装到高真空系统中,不需要插入探测器; 特殊的仪器设计使得那些对于比热测量不熟悉的人也能很容易进行操作;完备的数据采集电子器件和分析软件;自动的微观量热学驰豫技术;自动校准程序和内置的背景比热消除功能;在每一个测量点对德拜温度的进行校正和记录。  该选件的技术指标如下:  温度范围:1.9~400 K (配相关选件将达 300 K  塞贝克系数: S = ΔV/ΔT  测量范围: μV/ K - V/ K  误差大小: ±5 % 或±0.5μV  热电品质因数: ZT = S2T/ (ρκ)  复合误差: ±15 % —基本上依赖于S  数据获取速度:(连续数据采集) 一般±0.5 K/ min,从390~119 K的测量需要  13 个小时  5. 扭矩磁强计选件  该选件是QD 公司与IBM公司共同开发,专为测量小尺寸的各向异性样品而设计,提供全自动测量与角度有关的磁矩的途径。该选件采用压电转换技术来测量扭矩,将惠斯通电桥集成在扭矩测量芯片中从而达到电路高度平衡和稳定性。芯片上集成了校准电流线圈从根本上消除了地球引力作用的影响。  该选件的技术指标如下:  均方根扭矩噪音: 1 ×10-9Nm for 40 s 采样  均方根磁矩灵敏度:1 ×10 - 7emu @9T fo

  • 【原创】色谱系统堵塞的问题交流

    第一条1、最让自己头疼的液相部件是哪个或哪些?流动相的滤头2、为什么那么头疼?流动相的PH值接近中性,容易长菌造成滤头堵塞,流动相上不去3、最后通过什么办法解决了?是不是过了一段时间又来了?每两天拆下滤头碱洗,超声。问题不会出现了第二 用含无机盐的流动相的时候,泵有异响 新买的1525系统,用含无机盐的流动相的时候,泵有异响,泵头有盐析出。 原因是买的时候为了省钱,没有买洗泵头的管路,后来对泵进行清洗,买了洗泵头的管路问题得到解决 强烈建议买色谱系统的时候一定要考虑对泵在线清洗。第三 泵到柱子这段管路用盐的时候容易堵塞 我用的最高的是100mmol的无机盐流动相,我看有的版友用250mmol的 譬如说,色谱系统先用的磷酸盐,要换到柠檬酸盐,中间一定要用水过渡,因为存在盐析效应,可能会有盐析出,造成堵塞。抛砖引玉,请大家多多分享自己的经验

  • 顺磁共振的理论基础[EPR]-塞曼效应

    塞曼效应是指原子光谱在外加磁场下发生分裂。 电子的自旋运动会产生环电流,进而会产生磁场;在外磁场作用下,同一轨道中自旋不同的电子能量不同导致了原子光谱的分裂。我们可以通过考虑和不考虑外加磁场时的薛定谔方程表达式来解释塞曼效应: 不考虑外加磁场时薛定谔方程的表达式是:HΨ=EΨ, 在这个表达式中能量只与n、l和m有关,而与磁量子数无关,也就是说与电子的自旋无关,所以具有同样的n、l和m的电子[也就是同一轨道中自旋反平行的两个电子]具有相同的能量;测试原子光谱时只有一条谱线。 考虑外加磁场时薛定谔方程的表达式:(H+Hb)Ψ=(E+Eb)Ψ, 此时Hb表示的是外加磁场对体系哈密顿量的影响, (H+Hb)是有外加磁场时的哈密顿量;Eb则有外场时Hb所对应的能量值,(E+Eb)是有外磁场时体系的能量;由于在外加磁场下自旋不同的电子有不同的能量,Eb值不同,所以在外磁场存在时原子光谱发生了分裂。

  • 【分享】微型光纤光谱仪---荧光测量系统

    当前,微型光纤光谱仪非常流行,受到了众多应用领域的青睐。与大型光谱仪相比较,微型光纤光谱仪价格便宜(仅是大型光谱仪的零头);携带方便(只有手掌大小);测量速度快(毫秒级的数据采集,实现在线实时分析);操作方便,性能稳定可靠(无需专人维护)等长处。因此,在满足使用要求的前提下,微型光纤光谱仪是一种最佳的选择。 我司微型光纤光谱仪的主要功能有:吸光度测量;反射率测量;透射率测量;颜色测量;相对辐射和绝对辐射测量。具体应用包括吸光度测量系统(包括气体、液体、固体的吸光度测量);颜色测量系统(纸张、油漆、颜料、布料、动物皮肤、植物、光源等等);膜厚测量系统(感光保护膜、半导体薄膜、金属膜、等离子体镀膜、光学镀膜等);SLM系列光源测量系统(白炽灯、荧光灯、ARC、HRC、以及发光二级管等光源的各种参数测量);SMS光照度/辐照度测量系统(光通量、光强、光照度或光亮度测量);LCS系列LED测量系统(测量LED光源、大型光源的光学、光谱、颜色、纯度等特征信息);氧含量测量系统(连续测量氧饱和度、总含量、含氧和去氧血色素的浓度);[color=#00008B][color=#00FFFF][color=#DC143C][size=4]荧光测量系统(测量皮克级的含有荧光团的物质);[/size][/color][/color][/color]近红外测量系统(糖、酒精、湿度、脂肪等成分的分析);拉曼测量系统(药物、爆炸物、水质、现场材料的分析,制药监控,石化工业过程控制等);LIBS2500光纤光谱仪系统(无损地对气体、液体、固体进行定性和半定量的实时元素分析);PlasCalc等离子监控器系统(监测等离子蚀刻,检查表面清洁处理,分析等离子反应腔控制情况,检测异常污染和排放现象,等离子开发过程的检测和控制,等等);防晒指数测量系统(化妆品、防晒用品、防紫外服、感光乳剂等的SPF值测量);量子效应测量系统(量子效率的测量等)。另外,我司还有闪光光解光谱仪(演示化学动力学原理);各种光源(钨光源、氘光源、氘-钨光源、氙光源、LED系列光源、校准光源等)及各种光纤(普通光纤、中红外光纤、红外光纤、高功率传输光纤、图像传输光纤、医疗光纤等)。 谢谢您的关注!详情请见我司的网站(http://www.psci.cn)或与我联系(电话:0571-88225151-8020,13738178070,Email:zqchen@psci.cn 陈振泉)。

  • 科学家将“自旋塞贝克效应”放大千倍 有助于推动新型热电发动机研究

    中国科技网讯 热电循环需通过“塞贝克效应”来产生热,据物理学家组织网7月11日报道,俄亥俄大学找到了一种新方法,能将“自旋塞贝克效应”放大1000倍,将其向实际应用推进了一大步。该研究有助于热电循环的实现,从而最终有望开发出新型热电发动机,还可用于计算机制冷。相关论文发表在本周出版的《自然》杂志上。 热电循环是电子设备循环利用自身产生的部分废热,将废热转化成电。根据“塞贝克效应”,当导体被放在一个温度梯度中时,会产生电压使热能转变为电能。而2008年日本发现了“自旋塞贝克效应”,即在磁性材料中,自旋电子会产生电流使材料接点产生电压。这以后,许多科学家都在试图利用自旋电子学来研发读写数据的新型电子设备,以便在更少空间、更低能耗的条件下更安全地存储更多数据。但这种“自旋塞贝克效应”产生的电压一般非常小。 目前新方法是将此效应放大为“巨自旋塞贝克效应”。研究人员利用锑化铟及其他元素掺杂制成所需材料,并将温度降低到零下253℃至零下271℃附近,外加3特斯拉磁场。当他们将材料一面加热使其升高1℃时,在另一面检测到电压为8毫伏,得到比以往的5微伏高三个数量级的电流,是迄今为止通过标准“自旋塞贝克效应”产生的最高电压,且功率提高了近百万倍。 俄亥俄大学物理学与机械工程教授约瑟夫·海尔曼斯说,科学家认为热是由振动量子所组成,他们能在半导体内部引发强大的振动量子流,在流过材料时撞击电子使电子向前运动。而由于材料中原子使电子自旋,电子最终就像枪管中的子弹那样旋转前进。 以往人们只在磁性半导体和金属中发现过“自旋塞贝克效应”,而此次“成功的关键是选择材料,”该校材料科学与工程夫教授罗伯托·梅尔斯说,但由于材料是非磁性的,还需要外加电场和低温环境,这是实验的不足之处,他们还在进一步研究其他材料。 海尔曼斯表示,其最终目标是开发出一种低成本高效率将热转化为电能的固态发动机。这些发动机没有运动部分,不会磨损,可靠性几乎是无限的。“这是真正的新一代热电发动机。17世纪我们有了蒸汽机,18世纪有了燃气机,19世纪有了第一个热电材料,而现在我们正要用磁来做同样的事。”(常丽君) 《科技日报》(2012-07-13 二版)

  • 【原创大赛】材料综合物性综合测量系统(PPMS)原理及应用

    材料综合物性综合测量系统(PPMS)原理及应用王立锦编北京科技大学材料学院实验测试中心2007年6月材料综合物性综合测量系统(PPMS)原理及应用 美国Quantum Design 公司的产品PPMS(Physics Property Measurement System) 是在低温和强磁场的背景下测量材料的直流磁化强度和交流磁化率、直流电阻、交流输运性质、比热和热传导、扭矩磁化率等综合测量系统。北京科技大学材料学院与美国Quantum Design 公司在北京科技大学材料学院实验中心联合成立了PPMS材料综合物性测量研究实验室,安装了PPMS-9综合物性测量系统、HH-15振动样品磁强计、材料磁电阻效应、霍尔效应及磁致伸缩效应测量仪等仪器,现已全面对学生教学和科研测试开放。一、实验目的 1、了解PPMS-9综合物性测量系统的结构、组成、测量原理及应用范围; 2、熟悉PPMS-9仪器开关机步骤及更换样品、测量附件的方法; 3、熟悉PPMS-9仪器软件控制程序及参数设置方法;二、PPMS仪器测量原理和方法PPMS是Quantum Design 公司在成功推出MPMS1之后,于20 世纪90年代中期推出的又一款产品。一个完整的PPMS 系统也是由一个基系统和各种选件两个部分构成,根据内部集成的超导磁体的大小基系统分为7 特斯拉、9特斯拉、14 特斯拉和16特斯拉系统。但与MPMS 专注于磁测量不同,PPMS 在基系统搭建的温度和磁场平台上,利用各种选件进行磁测量、电输运测量、热学参数测量和热电输运测量。基系统主要包括软件操作系统,温控系统,磁场控制系统,样品操作系统和气体控制系统。下面结合各种选件对PPMS 的测量原理和方法加以说明。1. 交直流磁化率选件  该选件是研究各种材料在低温下磁行为的主要设备之一,包括探杆、样品杆、伺服电机、电子控制部分、精密电源和软件部分(集成于系统软件) 。可以在同一程序中对一个样品先后进行交流磁化率和直流磁化强度的测量而不需要对样品进行任何调。样品杆处于探杆的中间,样品置于样品杆的一端,样品杆的另一端连接在伺服电机上。探杆之外由内到外依次由校正线圈组(用于消除仪器电子装置自身带来的信号增益和漂移) 、抗磁温度计、样品磁矩探测线圈、AC 驱动线圈(用于提供交流磁场) 以及AC 驱动补偿线圈(用于把交流磁场限制在线圈内部、防止它和外部的测量装置相互作用) 组成。 AC 磁化率测量原理 交流激发信号被输入到交流驱动线圈中,伺服电机驱动样品依次到两个绕向相反的探测线圈的中心,同时,与时间相关的样品信号被收集。把测得的样品在两个探测线圈中心的信号相减以消除驱动线圈和探测线圈间的随机相互作。通过对多次测量的采样和平均,可以减少测量过程中的信号噪音。与一般交流磁化率测量仪器相比,PPMS上AC磁化率测量装置有两个特点值得指明:首先它没有采用传统的单相锁相技术来处理信号,而是采用高速数字信号处理器(DSP),这样它不仅提高信噪比、加快测量速度,而且还不再需要在实部信号和虚部信号之间进行转换。其次,对于如何消除仪器电子设备自身给测量数据带来的增益或漂移的技术问题,PPMS上AC 磁化率测量装置使用校正线圈。在每次测量之前把校正线圈接入到探测线圈线路中,进行正向和反向的测量,比较探测信号与初始激发信号的差别,进而修正仪器本身电子设备引起的相漂移。同样道理,校正线圈还可以精确的校正实际所加交流磁场强度的幅值,提高B - H 测量精度。正因为如此,PPMS上AC 磁化率测量装置在允许的工作频段内(10Hz~10kHz) 的测量精度可以达到与SQUID 相媲美的程度。DC磁矩测量:采用提拉法,样品速度可达1m/ s。 该选件的技术指标如下:AC 磁化率灵敏度:2 x 10-8emu @10 kHzDC 磁矩测量灵敏度:2.5 x 10-5emuAC 驱动频率:10 Hz~10 kHzAC 驱动磁场幅值:0.002~ 15 OeDC 提拉速度:100 cm/ s样品尺寸:直径7.5 mm2. 比热测量选件  该选件是结合了绝热法和弛豫法,利用双τ模型精确的计算样品的比热。在测量过程中,系统处于高真空状态,样品的顶部有遮热屏。整个样品平台温度非常相近。这样,严格限制热量通过对流和辐射散失。与实时数据采集系统相结合,从而实现对热流密度和温度、时间的精确监控。该选件配有两个专用温度计和一个加热器件,实现精确控温。这样,通过实验曲线和数学模型相结合,就可以得到样品的比热。另外,软件会假设样品和样品托传热不理想,这样引进两者之间的导热系数,用另外一套模型进行拟合,最后,在二者中选择拟合结果更加合理的一个。 该选件有以下几个优点:方便的将

  • 【原创】小吃:塞曼背景校正的分类简要介绍

    应用塞曼效应进行背景校正时,仪器结构并不是固定或一致的,校正方式也可进一步细分为若干种,它们与磁场位置、磁场方向、以及磁场性质等方面的不同选择都是息息相关的:1.塞曼背景校正装置的安装位置不同分为光源调制与吸收线调制两种,前者是指光源在磁场中发射线的塞曼分裂,后者是指原子化器在磁场中吸收线的塞曼分裂。2.而由于磁场与光束间的方向不同又分为垂直(横向塞曼效应)与平行(纵向塞曼效应)两种。3.而根据磁场自身的工作方式又可分为两种:采用恒定磁场的偏振调制方式、采用交变磁场的磁场调制方式。上述这三条依次组合会有2*2*2=8种形式的塞曼背景校正方式:光源调制横向恒磁场塞曼背景校正光源调制纵向恒磁场塞曼背景校正光源调制横向交变磁场塞曼背景校正光源调制纵向交变磁场塞曼背景校正吸收线调制横向恒磁场塞曼背景校正吸收线调制纵向恒磁场塞曼背景校正吸收线调制横向交变磁场塞曼背景校正吸收线调制纵向交变磁场塞曼背景校正但是:1.光源调制方式对于仪器光源结构有较大要求,使得元素灯不具有通用性,逐渐被市场所淘汰吧就算...因此,目前市场上的塞曼背景校正的仪器都是采用原子化器调制方式,没有使用光源调制的类型了。2.关于横向与纵向磁场的问题。横向磁场效应产生的是波长不变的π成分和波长变化的σ±成分,前者用于测量原子吸收信号,后者不产生原子吸收信号,是用于对背景校正。而纵向磁场仅能产生σ±成分,也就是说仅能产生背景信号。3.因此,横向磁场可以使用恒定磁场和交变磁场来实现原子吸收与背景吸收的测量。而纵向磁场只能采用交变磁场,通过磁场的有无来分别实现对原子吸收信号和背景信号的测量,纵向磁场若采用恒定磁场则只有背景信号,不能用于原子吸收仪器分析。纵上所述,所以目前市场上只有3种塞曼背景校正的仪器:吸收线调制恒定磁场横向塞曼型:WFX-810型(北京瑞利分析仪器公司)Z8000/Z5000/Z2000系列(日本Hitachi公司)吸收线调制交变磁场横向塞曼型:ZEEnit系列(德国analytik-jena公司)Z3030型(美国Perkin-Elmer公司)吸收线调制交变磁场纵向塞曼型:ZL4100/Z600/Z800 AnalytTM600/800型(美国Perkin-Elmer公司)继续,这就引起了一个问题,就是您所提到的问题了,采用交变磁场背景校正的,它必须要求有复杂、庞大的电路系统,而且磁间隙有限,现有的机械、电学、物理学等水平决定了它不能够生产出有火焰燃烧缝那么长(一般15cm左右)的磁场,仅仅应用于石墨炉分析的纵向交变磁场的正常消耗功率就已经达到了4kW!这已经对用于分析的实验室的电路造成了很大的负荷,而且还不包括石墨炉电源,仅仅是它的交变磁场就是4kW了。因此目前采用交变磁场背景校正的仪器,仅仅是石墨炉分析而已,仪器在火焰一侧的背景校正方式采用的必然是D2灯。而横向恒定磁场就没有这个问题了,可以实现火焰与石墨炉的塞曼背景校正,但是并不是说这就比交变磁场要好或是技术更先进,应该说是各有所长也各有所短,真正的评判依据在于用户,用户分析自己的样品适用的方式,就是对他来说好的方式。对本文中出现的错误或各位读者有什么意见建议,欢迎大家批评指正...加一句:原创帖是个人知识、智慧与汗水,应用或转载请注明出处...不关是我的帖子,所有原创帖大家都应支持与保护!谢谢!

  • 基质效应

    化学分析中,基质指的是样品中被分析物以外的组分。基质常常对分析物的分析过程有显著的干扰,并影响分析结果的准确性。例如,溶液的离子强度会对分析物活度系数有影响,这些影响和干扰被称为基质效应(matrix effect)。  目前最常用的去除基质效应的方法是,通过已知分析物浓度的标准样品,同时尽可能保持样品中基质不变,建立一个校正曲线(calibration curve)。固体样品同样有很强的基质效应,对其校正也尤为重要。  对于复杂的或者未知组分基质的影响,可以采用标准添加法(standard addition method)。在这一方法中,需要测量和记录样品的响应值。进一步加入少量的标准溶液,再次记录样品的响应值。理想地说来,标准添加应该增加分析物的浓度1.5到3倍,同时几次添加的溶液也应该保持一致。使用的标准样品的体积应该尽可能小,尽量降低过程中对基质的影响。  评价方法  较简单的采用相对响应值法  A:在纯溶剂中农药的响应值 B:样品基质中添加的相同含量农药响应值  基质效应Matrix Effect (%)=B/A×100  比较复杂的标准曲线测定法  配制3组标准曲线。第1组用有机溶剂配制成含系列浓度待测组分和内标的标准曲线,可以做5个重复。第2组标准曲线是将5种不同来源或不同品种的的空白样品经提取后加入与第1组相同系列浓度的待测组分和内标后制得。第3组标准曲线采用与第2组相同的空白样品在提取前加入与第1组相同系列浓度的待测组分和内标后再经提取后制得。通过比较3组标准曲线待测组分的绝对响应值、待测组分与内标的响应值比值和标准曲线的斜率,可以确定基质效应对定量的影响。第1组测定结果可评价整个系统的重复性。第2组测定结果同第1组测定结果相比,若待测组分响应值的相对标准偏差明显增加,表明存在基质效应的影响。对第3组测定结果,若待测组分响应值的相对标准偏差明显增加,表明存在基质效应和提取回收率因样品来源不同而产生的共同影响。

  • LPTG7600-5活塞校验系统标准方案

    LPTG7600-5活塞校验系统标准方案

    [align=left][font=宋体]北京莱森泰克科技有限公司是从事自动化仪器仪表销售、提供量身定制的系统解决方案和系统集成软硬件开发的高技术公司,竭诚为各界用户提供高品质的解决方案和完善的技术服务。[/font][/align][align=left][font=宋体]莱森公司经营的产品主要有:精密压力检验与控制仪器,数字压力计,活塞式压力计,智能气体配比仪,温湿度仪表,露点仪,温度检验仪,多功能检验仪,以及为各行业量身定制的系统集成软、硬件等。[/font][/align][b]LPTG7600-5[font=宋体]活塞校验系统[/font]1. [font=宋体]系统要求:[/font][/b]1) [font=宋体]压力范围:按高精度活塞现有量程范围(或按需求)[/font]2) [font=宋体]精度总体不确定度:[/font]0.002%3) [font=宋体]被检设备:精度[/font]0.01%[font=宋体]、[/font]0.02%[font=宋体]的压力控制器或传感器等具备数字通讯协议。[/font]4) [font=宋体]检测数量:[/font]5[font=宋体]路[/font]/[font=宋体]次(或按需求定做)[/font][b]2. [font=宋体]系统概述:[/font][/b][font=宋体]LPTG7600-5[/font][font=宋体]高精度压力校准系统由高精度活塞、压力校验仪、显示器、真空泵、工控机、智能气路控制器、220V供电、高中低压控制台和被检设备所组成。以纯净干燥氮气或空气为工作介质,以莱森公司控制软件为核心,通过计算机进行自动控制压力校验仪设定所需的压力,通过指令自动传输到高精度活塞,被检设备均为测量状态,产生标准压力值后自动采集被检设备数据,并自动记录、存储校准数据,根据指令打印原始记录或检定证书。[/font][b]3. [font=宋体]系统功能:[/font][/b]1) [font=宋体]通过控制压力校验仪给出需要的气压,传输至高精度活塞产生标准值。[/font]2) [font=宋体]自动采集[/font]1-5[font=宋体]路(或按需定制)被检设备(高精度压力控制器、传感器)的输出值,并对其输出精度和稳定性进行实时监测。[/font]3) [font=宋体]检测过程中可同时自动记录、处理、存储被检设备测试数据。[/font]4) [font=宋体]具有良好、简洁的人机操作中文界面。[/font]5) [font=宋体]试验台整体为可移动式(气瓶、高精度活塞、打印机除外),所有设备均固定安装在试验台上,外形美观,实现各组成部件的系统集成,实现电路和气路的内部连接。[/font]6) [font=宋体]在高压进气及高压输出接口增加高压过滤及除湿功能,保证系统安全运行。[/font][img=,600,600]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206221512151287_876_5627570_3.jpg!w600x600.jpg[/img][img=,600,600]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206221512151287_876_5627570_3.jpg!w600x600.jpg[/img]

  • netzsch 404c DSC 测量5083 h22铝合金的recovery 和recrystallisation的热效应

    netzsch 404c DSC 测量5083 h22铝合金的recovery 和recrystallisation的热效应

    用netzsch 404c DSC 测量5083 h22铝合金的recovery 和recrystallisation的热效应样品以annealed 5083作为参考,经过 两个run(不打开chamber)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/11/201111141816_330460_1148667_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/11/201111141815_330459_1148667_3.jpg有几个小问题:1.为什么第一个run在第二个run的下面(出了有明显热效应的部分)2.after substraction 之后,基线怎么不在0的位置(似乎和第一问题重合),呵呵3.recovery 和recrystallisation的热效应一般是多大啊,在实验中怎么这么不明显谢谢大家的赐教,对这个东西实在是理解不了,谢谢

  • 【分享】测量系统指南

    第一节 通用测量系统指南在SPC中已涉及到测量系统的一些知识,测量数据的质量是过程控制的重要基础。正确地选择与运用测量系统,能保证较低的测量成本获得高质量的测量数据。一、 几个重要概念1. 测量过程和测量值赋值给具体的事务的表示事物特性的过程叫做测量过程。测量值即测量数据,是该过程的输出。2. 量具任何用来获得测量结果的装置,经常是指在车间使用的测量装置,也包括通过不通过的测量装置。3. 测量系统用来测量的仪器、设备、软件、程序、操作以及操作人员的集合和过程。4. 测量数据的质量测量数据的质量,可以从以下几个方面来描述:① 测量数据的质量是以稳定条件下运行的测量系统的多次测量结果的统计特性来描述。② 测量数据的质量通常用偏倚和方差表示,理想的质量是零偏倚、零方差。③ 测量数据质量低的最普遍原因表现为数据的变差。变差是测量系统和环境之间交互作用的结果。绝大多数变差是不期望的,但能反映被测特性微小变化的变差是有意义的,它反映了测量系统的灵敏度。

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