软射线分析谱仪

日本电子株式会社（JEOL)近期发布了扫描电镜和电子探针用软X射线分析谱仪（SXES ：Soft X-Ray Emission Spectrometer），将扫描电镜和电子探针对材料分析水平、能力和精度大大扩宽。 电子光学仪器上发射的电子束与样品发生复杂的交互作用，产生各种信号，收集不同信号进行分析，可以获得样品的各种不同信息。软X射线分析谱仪就是通过采集样品上被激发出来的软X信号进行分析的仪器。它的能量分辨率为0.3eV，远高于能谱仪（EDS)和波谱仪（WDS）的分辨率；对轻元素的定量分析非常准确，比如B元素的检出极限可达20ppm；还可以进行元素价态分析。将扫描电镜从以侧重图像为主的仪器变身为图像、成分、价态均可清晰表达的超级分析仪器。也将电子探针的分析能力大幅度提升。 详情请咨询日本电子株式会社在中国的全资子公司捷欧路（北京）科贸有限公司及其各分支机构。上图：EDS-WDS-SXES谱峰分辨率比较上图：各种氮化物的谱图检测分析上图：各种碳化物的谱图分析上图：锂电池充电过程观察

软 X 射线是波长介于 0.1nm 到 10nm 之间的 X 射线，由于在这个能量波段的光子能够特异性地激发元素周期表上大多数元素的原子共振能级，并发射出特征荧光或俄歇电子，因此，软 X 射线吸收谱能够适用的材料研究非常广泛。利用软 X 射线吸收谱进行材料结构及其变化过程研究的一个非常重要的因素就是它可以在不破坏研究材料结构的前提条件下同时获得材料近表面和亚表面的结构信息，另一方面，由于软 X 射线吸收谱对原子的轨道电子结构具有高度的敏感性，可以同时实现研究材料中元素价态、轨道电子自旋态以及轨道杂化等信息的探测。基于这些特点和优势，软 X 射线吸收谱在材料科学、生物科学、能源科学及环境科学等多学科及交叉学科领域复杂体系材料结构表征中发挥了非常重要的作用，为重大科学问题的研究提供了重要的实验数据支持。传统光谱表征技术（像 UV-Vsi、FT-IR 等）受激发波长的限制，其对材料结构的表征往往止步于分子层面。软 X 射线吸收谱能够以亚原子的分辨能力，通过选择性地激发原子芯能级轨道电子，实现对同一元素在不同环境条件下的键荷分析。这里以辐照前后的 PET 聚合物的结构表征为例，通过特征元素吸收边附近的能量激发，可以获得材料在二维图像上的元素分布信息和特征元素原子与周围原子的轨道杂化信息，继而解决了传统光谱表征技术对材料结构分析的局限。在能源催化领域，软 X 射线吸收谱能够定性和定量地解析催化剂材料中的活性官能团，为催化剂材料的构效关系建立提供必要的数据支撑。在这篇文章的工作中，伦敦大学 Parkin 教授的研究团队利用 SiO2 作为模板制备了氧官能团修饰的多孔碳催化剂，通过 C 和 O 的 K 边吸收谱，精确地揭示了催化剂材料中氧官能团的轨道电子结构在不同退火温度条件下的可控变化，并结合电化学分析，为醌基官能团在双电子氧还原制备 H2O2 中的优越性提供了重要的实验证据。在能源电池领域，软 X 射线吸收谱对解析正极材料中阴离子的电荷补偿行为同样表现出了独特的优势。传统的观点认为，锂电池材料中锂的脱嵌过程只涉及金属离子得失电子，因而金属离子中可转移的电子总数决定了正极材料的理论电容。但在这篇文章的工作中，东京大学 Mizokawa 教授小组通过 O 的 K 边和 Co 的 L 边吸收谱同时研究了 LixCoO2 正极材料在不同脱锂状态下的轨道电子结构变化。结果发现，不仅 Co 离子在这个过程中发生了氧化还原反应，O 阴离子同样也参与了这个反应过程。更有意思的是在 0° 和 60° 的不同入射角度条件下的 O 的 K 边吸收谱表征结果表明，材料在脱锂状态下的 Co-3d 和 O-2p 轨道杂化表现出明显的各向异性，从微观层面上揭示了 LixCoO2 正极材料在充放电过程中具有良好导电性的根本原因。在生物科学领域，利用软 X 射线吸收谱研究土壤和岩石矿物中金属和有机质的组成结构演化，有利于打破传统土壤腐殖质学对土壤有机质过程和功能认识的局限，让我们能够从生命活动的本质及其代谢产物与矿物的相互作用重新审视土壤和岩石矿物与生命耦合的协同关系。此外，基于水窗波段的软 X 射线对水分子的高透性，软 X 射线吸收谱能够实现生物膜上不同磷脂分子层的结构表征，对针对性地设计和研发生物体的靶向纳米药物具有重要的指导意义。在生命医疗领域，从亚细胞水平研究人体骨组织的结构和病理机制，有利于骨关节炎的前期诊断和治疗。在这篇文章的工作中，圣彼得堡国立大学的 Sakhonenkov 教授团队通过 Ca 的 L 边和 O 的 K 边吸收谱研究了正常骨组织与受损骨组织中羟基磷灰石的结构差异。发现骨质的硬化过程伴随着新的氧价态的生成和 Ca-O、磷酸键的增加，这不仅让我们对骨关节炎发生过程中骨组织的微观结构变化有了新的认识，同时也为骨关节炎的前期诊断和治疗提供了新的思路。总的来说，软 X 射线吸收谱在多学科领域复杂体系的材料结构表征中扮演了非常重要的角色，且随着 X 射线显微技术的发展，STXM-NEXAFS 技术联用为材料结构的多尺度高分辨表征提供了可能。但相比于硬 X 射线吸收谱而言，由于软 X 射线本身在材料中的强吸收效应，要在常规实验室条件下实现软 X 射线吸收谱表征，其难度非常之高。不仅要求高的真空操作环境，高亮的软 X 射线发射光源，同时要求各光学组件对射线的吸收也要小。因此，目前软 X 射线吸收谱表征主要还是依赖同步辐射光源。但矛盾的是，同步辐射光源的机时紧张，很难满足日益增长的科学研究需求。近年来，随着实验室 LPP、DPP 等软 X 射线光源及高精度光学组件（例如反射式波带片、平场光栅等）的开发，基于激光驱动等离子体光源的软 X 射线吸收谱仪系统也逐渐发展成熟，并成功应用到多学科领域的材料结构表征。其中，基于平场光栅几何的软 X 射线吸收谱仪系统以其紧凑的结构设计、宽的摄谱范围以及高的光谱分辨率脱颖而出，并成功实现了商业化应用，基本能够满足实验室软 X 射线吸收谱表征的需求。由德国 HP Spectroscopy 公司推出的实验室软 X 射线吸收谱，尤其适用于薄膜材料的结构表征。同时我们也可以提供针对 5-12 keV 能量波段的实验室硬 X 射线吸收谱，希望能够给相关老师和研究人员在科学研究中提供帮助。HP Spectroscopy德国 HP Spectroscopy 公司成立于 2012 年，致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳 X 射线解决方案，是全球领先的科研仪器供应商。现可提供 5-12keV 的非扫描式桌面 X 射线吸收精细结构谱仪 hiXAS，以及200-1200eV 的平场光栅软 X 射线吸收精细结构谱仪 proXAS，产品线还包括 XUV/VUV/X-ray 光谱仪，beamline 产品等。主要团队由 x 射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline 等领域的专家组成。长期与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作，关注前沿技术，保持产品的迭代与创新。众星联恒作为 HP Spectroscopy 中国区 XAS 系统授权总代理商，为中国客户提供所有产品的售前咨询，销售及售后服务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的 EUV、X 射线产品及解决方案。如果您有任何问题，欢迎联系我们进行交流和探讨。 相关阅读 小尺度，察纹理！实验室软X射线显微和吸收光谱探索微观结构的奥秘非扫描台式X射线吸收精细结构谱仪，加速非晶材料结构及其演化过程探索的步伐“足不出户，走进XAFS” proXAS高分辨实验室桌面NEXAFS谱仪助力材料化学结构表征分析太强了！看最新非扫描式桌面XAFS谱仪在催化领域出神入化的应用 参考文献 1. Prasad S., et al. Intl. J. Spectrosc. 7, 249 (2011)2. Wachulak P., et al. Spectrochim. Acta Part B At. Spectrosc. 145, 107 (2018)3. Liu L., et al. Angew. Chem. Int. Ed.20234. Mizokawa T., et al. Phys. Rev. Lett. 111, 056404 (2013)5. Holburg J. et al. Anal. Chem. 94, 3510 (2022)6. Novakova E., et al. Biointerphases, 3, FB44 (2008)7. Sakhonenkov S., et al. Nano. Ex. 2, 020009 (2021)8. Jonas A., et al. Opt. Express, 27, 36524 (2019) 9. Holburg J. et al. Anal. Chem. 94, 3510 (2022)

项目编号：HCZB-2022-ZB0536项目名称：高精度软X射线分析仪预算金额：780.0000000 万元（人民币）采购需求：设备名称数量（套）简要规格/要求交货期交货地点备注高精度软X射线分析仪1软X射线谱仪1套：场发射主机系统1套；主机配备的必要的稳压电源、降压变压器1套 电制冷能谱仪1套 波谱 4道 扫描系统1套 原厂高真镀膜仪1套 标准样品1套 循环水冷系统1套 长期使用的备品备件、消耗品完整1套等。各系统及配套装置详细技术指标见第四章采购需求。合同签订之日起12个月内全部到货。中国地质科学院地质力学研究所接受进口设备投标合同履行期限：自合同签订生效后开始至双方合同义务完全履行后截止。本项目( 不接受 )联合体投标。

众所周知，光学显微镜的分辨率即使达到波动光学理论的极限也只不过 200nm，对材料微观结构的认识还存在一定的局限。电子显微镜的点分辨率虽然可以达到 0.1nm，但考虑到电子的穿透深度较低，同时与结构原子相互作用可能引起结构的改变，难以实现蛋白质、DNA 等生物大分子的原位无损观测。近年来，基于水窗波段（2.3nm-4.4nm）的软 X 射线显微和光谱学技术的发展为土壤和生物细胞的原位分析提供了新的途径，避免了化学提取或样品处理过程产生的人为干扰。基于透射 X 射线吸收成像原理的软 X 射线显微成像技术，能够在纳米尺度的空间分辨率上获得材料的三维图像信息，实现样品的无损观测。软 X 射线吸收精细结构光谱分析能够获取样品内在元素价态及分子结构的变化信息。两种技术相结合的软 X 射线原位成像和光谱分析已成功在同步辐射光源上得以验证，并在纳米尺度上观测到土壤有机质和生物体细胞内碳元素种类的异质性分布。但同步辐射测试机时紧张，往往跟不上科研需求，极大地限制了这类表征技术在各领域的应用。鉴于此，德国 HP Spectroscopy 公司推出了实验室软 X 射线吸收精细结构光谱仪和显微成像系统。该系统采用双光路设计，核心是激光驱动气体等离子体产生的 XUV 光源，能够同时满足水窗波段的软 X 射线显微和高分辨率的 NEXAFS 表征。图1. 激光驱动等离子体 XUV 光源系统得益于水分子对水窗波段的软 X 射线的高透性，利用该系统可以原位观测一种耐辐照球菌和囊裸藻类生物的活体显微结构，如图2 所示。从显微图像可以看出，受限于生物样品的厚度，虽然这些生物体内部更详细的结构信息难以被观测到，但生物体的边界轮廓非常清晰。图2.一种耐辐照球菌（DSM no. 20539）（左）和囊裸藻类生物（SAG 1283-11）（右）的软 X 射线显微成像图，曝光时间分别为 5 min 和 60 min与此同时，利用软 X 射线吸收精细结构光谱的元素的特异性及局域环境的敏感性，通过原位探测土壤有机质的分子结构变化，能够让我们从生命活动的产物在土壤中的滞留状态及这种状态与土壤中生命的关系重新审视土壤有机质的本质。例如，NEXAFS 光谱中脂肪族 C 峰强度的增加可能与根系沉积物的滞留有关等。图3 聚酰亚胺、腐植酸、富里酸和淋溶土的碳 K 边 NEXAFS 谱图（左）和几类有机质的碳 K 边 NEXAFS 谱图，单个光谱采集时间为2.5 min软 X 射线吸收精细结构光谱和显微成像系统——proXAS德国 HP Spectroscopy 公司采用的激光驱动等离子体产生 XUV 光，无固体碎屑产生，可满足 1-6nm 波长范围内的光谱分析及多个特征波长的单色 XUV 光发射。像差校平场光栅结构能够实现最高 400 eV 带宽的摄谱范围，元素吸收边覆盖 C、N、O 等轻元素的 K 边及 Ti、V、Mn 等过渡金属元素的 L 边。目前得到的 1-6nm 波长范围内的 NEXAFS 光谱分辨率 ≥1500。系统主要参数描述如下激光驱动XUV光源波长/能量范围1-6 nm/200-1200 eV重频20 Hz像差校正平场光栅谱仪光源光通量1E15 photons/s/sr @ 200-800 eV光谱分辨率λ/∆ λ≥1500 @ 200-1200 eV摄谱能量带宽∆ E=250-400 eV @ 200-1200 eV光谱采集时间≤5 min (100 nm有机薄膜)分析元素浓度≥0.2 wt%腔室真空度≥1E-5 mbar控制及光谱分析系统探测器类型CCD探测器探测器像素尺寸≤13.5 μm×13.5μm控制及光谱分析软件集成光谱系统控制、光谱分析及校正功能软X射线显微系统单色波长λ=2.88 nm（其他波长可定制）空间分辨率≤50 nm相关阅读利用实验室XANES改进电解催化剂使用实验室XANES优化合成气转化催化剂“足不出户，走进XAFS” proXAS高分辨实验室桌面NEXAFS谱仪助力材料化学结构表征分析太强了！看最新非扫描式桌面XAFS谱仪在催化领域出神入化的应用非扫描台式X射线吸收精细结构谱仪，加速非晶材料结构及其演化过程探索的步伐关于HP Spectroscopy德国 HPSpectroscopy 公司成立于 2012 年，致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳 X 射线解决方案，是全球领先的科研仪器供应商。现可提供 5-12keV 的非扫描式桌面 X 射线吸收精细结构谱仪 hiXAS，以及200-1200eV 的平场光栅软 X 射线吸收精细结构谱仪 proXAS，产品线还包括 XUV/VUV/X-ray 光谱仪，beamline 产品等。主要团队由 x 射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline 等领域的专家组成。长期与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作，关注前沿技术，保持产品的迭代与创新。众星联恒作为 HP Spectroscopy 中国区 XAS 系统授权总代理商，为中国客户提供所有产品的售前咨询，销售及售后服务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的 EUV、X 射线产品及解决方案。如果您有任何问题，欢迎联系我们进行交流和探讨。参考文献：[1] Zhe (Han) Weng, Johannes Lehmann, et al. Probing the nature of soil organic matter, Critical Reviews in Environmental Science and Technology, 52(22), 4072-4093 (2022). DOI: 10.1080/10643389.2021.1980346.[2] Jonathan Holburg, Matthias Müller, et al. High-Resolution Table-Top NEXAFS Spectroscopy, Analytical Chemistry 94 (8), 3510-3516 (2022). DOI: 10.1021/acs.analchem.1c04374.[3] Matthias Müller, Tobias Mey, et al. Table-top soft x-ray microscope using laser-induced plasma from a pulsed gas jet, Opt. Express, 22, 23489-23495 (2014). DOI: 10.1364/OE.22.023489.[4] Matthias Müller, Tobias Mey, et al. Table-top soft X-ray microscopy with a laser-induced plasma source based on a pulsed gas-jet, AIP Conf. Proc., 1764, 030003-03008 (2016). DOI: 10.1063/1.4961137.免责声明：此篇文章内容（含图片）部分来源于网络。文章引用部分版权及观点归原作者所有，北京众星联恒科技有限公司发布及转载目的在于传递更多行业资讯与网络分享。若您认为本文存在侵权之处，请联系我们，我们会在第一时间处理。如有任何疑问，欢迎您随时与我们联系。

5月22日，中科院计划财务局组织专家组对中科院合肥物质科学研究院等离子体所承担的中国科学院科研装备研制项目“EAST软X射线——极紫外高分辨率光谱诊断系统”进行了现场验收。 验收会现场 　　“EAST软X射线——极紫外高分辨率光谱诊断系统”研制项目由等离子体所承担，中国科技大学作为合作单位参与。该项目采用软X射线-极紫外波段平场分光技术，实现宽波段、高光谱分辨和空间分辨测量，同时获得高质量的杂质辐射数据，填补了EAST该波段诊断的空白，为EAST等离子体芯部杂质辐射和杂质输运研究提供必要的装备条件，建成后可对等离子体芯部杂质辐射和杂质输运进行研究。 　　验收专家组听取了项目组的工作报告、财务报告、使用报告和测试组的测试报告，审核了文件档案及财务账目，并现场检查了装备运行情况。验收专家认为项目组圆满地完成了研制任务，系统运行正常，各项技术指标达到实施方案规定的要求，其中光谱分辨率指标达到国际先进水平，同意通过验收。

鑫图Dhyana 95/400BSI是背照式sCMOS相机的典型代表，已成功应用于国内外多个软X射线研究领域，能有效解决传统背照式CCD因读出噪声过大带来的采集时间拉长，动态范围受限和图像对比度较低的问题，大幅提升软X射线成像品质，数十倍帧率的提升为动力学实验提供了更多可能性，而且性价比极高，已成为软X射线应用研究的新宠。 成像性能再升级，鑫图专业软X射线相机上线 为进一步提升在软X射线领域的应用优势，鑫图在第一代Dhyana 95/400BSI应用基础上进行了卓有成效的技术改进，基于定制的无抗反射镀膜芯片进行再开发，实现了软X射线短波段近100%超高量子效率的重大突破，同时采用灵活的法兰适配方案，能更好地满足真空系统的密封要求，是新一代软X射线探测系统的不二之选。 无抗反射镀膜芯片，近100%量子效率 如图所示：鑫图专业sCMOS软X射线相机采用的全新一代无抗反射镀膜芯片，在1.24-12.4nm区间内量子效率得到了大幅提升，整体超过了90%，部分波段近乎达到了100%的超高水平，在对应的80–1000 eV光子能量范围内，具备更专业的成像性能。 法兰可定制，灵活适配真空系统 鑫图专业软X射线相机适配真空系统的法兰可提供标准方案，也可根据您系统定制尺寸，全力满足您的应用需求。 CF63,CF100,CF150... 鑫图专业软X射线相机，多种成像方案可选 Dhyana 400BSI-SV/Dhyana95-SV是基于鑫图成熟相机平台推出两款专业软线相机，后期我们还可根据用户需求开发更多软X射线产品方案。产品型号中的 “S”代表“Soft”,”V”代表 “Vacuum”，“SV”后缀即“软线真空”的意思，将作为鑫图专业软线相机型号命名使用。 目前，鑫图“SV”系列软X射线相机已有少量标准品可接受试用，无论您是预约测试还是需要更深入的技术探讨，欢迎与我们联系！

近日，活细胞结构与功能成像等线站工程暨上海软X射线自由电子激光装置调试工作取得系列进展。继实现532米X射线自由电子激光装置的全线调试贯通、带光运行后，装置于6月21日凌晨首次实现了2.4纳米单发激光脉冲的相干衍射成像，获得了首批实验数据，并完成了对衍射图样的快速图像重建。该成果体现了活细胞结构与功能成像等线站工程暨上海软X射线自由电子激光装置整体性能的先进性，标志着我国在软X射线自由电子激光研制和使用方面步入国际先进行列。基于该成果，活细胞结构与功能成像等线站工程暨上海软X射线自由电子激光装置成为了国际上仅有的两个已实现“水窗”波段相干衍射成像实验的自由电子激光装置之一。“水窗”是指波长在2.3纳米到4.4纳米范围的软X射线波段。在此波段内，水不吸收X射线，对X射线相对透明。但是碳元素等构成生物细胞的重要元素，仍会与X射线相互作用，因而水窗波段的X射线可用于活体生物细胞的显微成像等，具有重要的科学意义和应用价值。在水窗波段，自由电子激光脉冲的峰值亮度比同步辐射高十亿倍以上，具备横向和纵向相干性，能够为物理、生物、化学等学科提供研究工具，还可为在建的上海硬X射线自由电子激光装置技术研发提供支撑。作为我国首台X射线自由电子激光装置，上海软X射线自由电子激光装置由活细胞结构与功能成像等线站工程和软X射线自由电子激光用户装置共同构成，两个项目同步建设，有机衔接。该装置将与已建成的上海同步辐射光源、超强超短激光装置和在建的硬X射线自由电子激光装置等一起，在浦东张江构建具有全球影响力的光子科学设施集群和光子科学研究中心。活细胞结构与功能成像等线站工程由上海科技大学、中国科学院上海应用物理研究所、中科院上海高等研究院团队共同建设，项目于2016年11月开工建设，含用户波荡器束线、活细胞成像束线、生物成像实验站、活细胞荧光超分辨显微镜站、超快物理实验站、超快化学实验站、分子动态成像实验站及实验辅助设施，预计在2021年内完成验收。活细胞结构与功能成像等线站工程和软X射线自由电子激光用户装置由国家发展和改革委员会与上海市政府共同出资建设。自2021年6月2日首次实现生物成像实验站通光后，上海科技大学和上海高研院的项目团队密切协作、昼夜调试，不断创造项目贯通调试和运行的加速度，取得了首批相干衍射实验数据，实现了数据的快速图样重组，为今后开展生物活体细胞成像、新材料动态结构分析以及多物理场原位成像等前沿科学研究打下了基础。装置拟于明年面向全世界开放运行。图1.标准样品圆孔、方孔及鹦鹉螺图案的相干衍射图样图2.上海软X射线自由电子激光装置图3.用户波荡器束线图4.用户大厅图5.生物成像实验站

p 　　 strong 微光成像和光谱仪器的领先制造商—普林斯顿仪器公司于昨日发布了数款全新的快速、超低噪相机，可应用于 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 真空紫外线(VUV) /span 和 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 软X射线 /span 的直接检测。SOPHIA-XO相机平台专用于 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " VUV/EUV/XUV成像，X射线衍射，X射线显微镜，X射线全息摄影，X射线光谱，和X射线等离子 /span 这类科学应用领域。 /strong /p p style=" text-align: center " strong img width=" 400" height=" 331" title=" 2-1.png" style=" width: 400px height: 331px " src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/d593b932-f14f-4b17-b345-c1a9331d0d1d.jpg" border=" 0" vspace=" 0" hspace=" 0" / /strong /p p 　　新式SOPHIA-XO相机使用了 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 背照式CCDs /span ，这种CCDs可直接检测到 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 极宽范围的VUV和X射线(5eV到30keV) /span 。这些新款“XO”相机机型，丰富了普林斯顿仪器公司受欢迎的SOPHIA& reg 产品线，具有 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 100%填充系数的2048× 2048和4096× 4096图片格式，高达150000e-的最大阱容，& gt 95%的QE(Quantum Efficiency量子效率)峰 /span 的特点，可读出 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 低至3.5e- rms(root mean square均方根)的噪声 /span 。一个 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 4端口，16MHz的读出架构 /span 使这些新型相机可 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 每秒传递超过3个全帧 /span —这比之前的两端口相机要快 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 7倍至10倍 /span 。 /p p 　　SOPHIA-XO可用于VUV应用所需的紫外线增强膜或软X射线应用所需的非减反射膜。所有SOPHIA-XO相机均采用普林斯顿仪器公司的 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 创新性专利技术ArcTec& #8482 span style=" color: rgb(0, 0, 0) " ， /span /span 该技术使用气体或液体热电冷却的形式将温度降至 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " -90℃ /span 。 /p p 　　将快速、高灵敏性独特而严密的、完善的结合在一起，使新型SOPHIA-XO相机在实验室、同步加速器和OEM系统的无数大视野X射线应用中表现完美。通过一个可旋转的、符合行业标准的、具有高真空度密封设计的 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " CF法兰 /span 与 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " UHV仪器 /span 进行连接简单而方便。 /p p 　　 span style=" color: rgb(31, 73, 125) " i “SOPHIA-XO提供了真正杰出的直接检测性能，”普林斯顿仪器公司的影像产品经理Michael Melle讲道。“我们的工程师精心地设计‘XO’的每一个方面以制作一个完美的相机平台，为我们的客户提供无与伦比的高帧率低噪灵敏度，为激动人心的新技术及科学发现提供可能。” /i /span /p p 　　SOPHIA-XO相机支持采用普林斯顿仪器公司的知名 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 64位LightField& reg 影像和光谱分析软件 /span ，并将其作为一个可供选择的系统。LightField提供了数百种用户增强功能，包括内置一个强大的实时数据分析数学引擎。LightField同样允许使用第三方软件包直接进行控制，如 span style=" color: rgb(79, 129, 189) " LabVIEW& reg (美国国家仪器公司)、MATLAB& reg (迈斯沃克)、Python& reg (PSF)和EPICS(Experimental Physics and Industrial Control System实验物理和工业控制系统)同步加速器软件 /span 。 /p

在过去的近百年里，电子显微镜在现代材料科学研究中起着不可或缺的作用。随着电子显微镜技术的发展，能量色散光谱（EDS）、波长色散光谱仪（WDS）以及电子能量损失谱（EELS）等基于电子显微镜的光谱分析手段不断涌现。在电镜空间分辨率的基础上，这些光谱分析手段为电镜表征又赋予了能量分辨率的维度，通过将两者相融合，电镜技术得以在分析过程中获得高能量分辨率和高空间分辨率并存的结果。近年来，随着先进光谱分析手段的发展，出现了一种基于电镜且十分便捷高效的X射线发射光谱分析方法：软X射线发射光谱（SXES）。吉林大学张伟教授在国内、乃至国际，较早的围绕SXES展开了系列研究，并取得了诸多亮眼成果。近三十年，张伟教授围绕电镜，在诸多材料体系均有代表性成果产出，这不仅基于他对电子显微学的热爱，也离不开对电镜技术的“敏感”。近日，仪器信息网有幸采访了张伟教授，请其分享了SXES技术的最新进展与应用潜力，也聆听了其与电镜的故事。张伟，吉林大学电子显微镜中心主任、材料科学与工程学院“唐敖庆学者”领军教授。现任吉林省电子显微镜学会理事长、英国皇家化学会会士（2022），科睿唯安“全球高被引科学家榜单”（2023，交叉学科）。关注电化学能源存储/转换材料的表/界面的化学和物理调控及与性能的构效关系，强调先进材料的电子显微分析。作为学术带头人引进人才来吉林大学工作前，先后在日本国立材料研究所、韩国三星综合技术研究院、德国Fritz-Haber研究所、丹麦技术大学、西班牙能源协作研究中心从事合作和独立的科学研究。2017年起先后任电子显微镜中心副主任、主任。2020年起任唐敖庆学者-领军教授。27载电镜魅力职业：既是技术手段，更是一门学问“热爱，往往收获意外的惊喜”1997年至2004年，张伟在我国电子显微学重要发展地之一的中国科学院金属研究所攻读硕士和博士，师从我国著名电子显微学专家李斗星研究员、隋曼龄教授。在此，张伟开始开展电镜相关研究，与电镜结缘，并对这个学科产生浓厚兴趣。2004年博士毕业以后又先后在多个国家从事合作和独立的科学研究。2014年开始到吉林大学工作。这十余年间，虽然研究的材料体系广泛、领域不同，但电镜都是最重要的研究手段或对象。回顾以往，“因为我可能经历的地方很多，当时我的直觉，在哪个地方离开的时候都要留下些什么”。在这种直觉和热爱驱动下，十余年的科研历程收获诸多“意外惊喜”，每个领域和阶段也都有一些值得回忆的成果。攻读博士期间，张伟专注于金属与合金的研究。利用电镜深入探索，通过快速加热的方法，发现了传统钛合金中一种特殊的相变形式——快速升温马氏体相变。由于马氏体相变在材料科学和凝聚态物理领域都扮演着至关重要的角色，这一成果在当时备受关注，不仅发表在应用物理快报上，还得到了中国科学院官方报纸科学时报的专门报道。在德国研究期间，基于团队自由的学术氛围，得以深入研究一些有趣的方向。在电镜中，张伟发现了一种超大单胞的表面终结状态，这在当时具有重大意义。传统观念上，透射电镜主要研究块体结构，但此研究成功挑战了表面研究的难题。通过调整衬度传递函数，结合先进球差电镜中的HAADF-STEM技术，揭示了超大单胞结构表面终结于非完整通道的现象，解决了团队长期关于侧面或表面态原子排布的争议。这一工作发表后，引起了广泛关注，并启发了后续相关的诸多研究。回顾这一发现，张伟认为这依旧是自己目前最具原创性的工作之一。随后在丹麦继续研究期间，张伟在电镜中随意观察石墨烯样品时，意外发现石墨烯上会留下痕迹，敏锐地意识到这可能是一种纳米书写工具。于是深入探究，最终发表了题为“以石墨烯为纸，电子束为墨”的纳米书写技术论文。发表后迅速受到国家科技日报海外头版头条报道，这一结果因他灵活的想法和电镜的作用而备受关注，也让张伟备受激励。回国后，张伟致力于能源存储领域研究，并与西班牙能源协作研究中心和韩国基础科学研究所合作，发现了氢氧化物赝电容超级电容器的新机制，即氢离子的嵌入脱出过程，而非传统认为的表面氧化还原反应。成果发表受到广泛关注，至今被引超过250多次。2019年诺贝尔化学奖获得者古迪纳夫教授甚至专门撰写文章评价了这一工作的重要意义。尽管运用了多种研究手段，但核心仍是张伟对电镜的敏锐洞察，通过观察特征形貌演变和电子衍射谱分析，发现了充电和放电结构的高度相似性，这一发现对后续研究起到了关键作用。张伟讲授“电子显微镜魅力职业”课堂一瞥问及在诸多材料体系中都有一定成果的原因，张伟讲到，“一个可能是我兴趣在，再有一个也确实热爱”。正如张伟曾经给本科生、研究生和留学生讲授几门相关的课程“材料科学测试方法”、“电子显微镜应用与实例分析”或讲座“电子显微镜魅力职业与追求”中所阐释的，电镜除了是生存手段，更成为喜欢的一个魅力职业。“双管齐下”的学科：电镜既是手段，更是一门学问在谈到电子显微学这门学科时，张伟认为，首先，电子显微学是一门实用性极强、应用范围广泛，起着为其他学科服务支撑的重要作用。但另外，电子显微学本身也蕴含了丰富的理论，是一门需要不断研究、探索和突破的学问。作为现代科研的重要支撑学科，电子显微学在材料物理化学等领域扮演着不可或缺的角色。无论是探索新现象、新机理，还是揭示物质结构，电镜都发挥着举足轻重的作用。通过电镜对材料的深入研究，科学家们得以发现许多未知的领域，为科学进步贡献着力量。回顾以往，许多革命性成果的获得，正是依赖于电子显微学的突破性发现。例如，碳纳米管、准晶的发现等，背后都离不开电子显微学的直接贡献。同时，随着电镜技术的飞速发展，空间分辨率、能量分辨率以及时间分辨率等方面都取得了前所未有的提高，这些进步离不开新的理论支撑。例如，空间分辨率方面，球差电镜如今已经能够达到0.5埃甚至0.4埃的尺度。然而，一篇物理快报中提到，如果能克服某些限制，分辨率甚至可以达到0.01埃以下。这些突破性的进展，都需要其他学科的研究支持，以实现对分辨率不断突破的目标。总之，电子显微学是一门“双管齐下”的学科。它在支撑其他学科发展的同时，也在自身领域内不断取得新的突破和进展。二者相辅相成，共同推动着电子显微学不断向前发展。张伟的科研工作也与电子显微学的以上两个特性十分契合，在不同材料体系中广泛应用电镜的同时，也在围绕一些电子显微技术进行系统研究。2017年，吉林大学成立电子显微镜中心，张伟先后任电子显微镜中心副主任、执行主任、主任，并开始“双肩挑”的工作。一方面继续在材料学院从事科研工作，一方面也在电镜中心负责管理行政工作，同时也开始“回归”电镜相关研究，希望能通过一些原创性工作，为电子显微学的发展做出一些贡献。其中，软X射线发射光谱的应用与发展就是张伟近来比较聚焦的一个研究方向。探索新方向：基于电镜，以高能量分辨率表征电子态信息的SXES技术SXES技术发展历程：一种高效表征键合电子态信息的光谱方法诞生X射线发射光谱（XES）属于X射线光谱学，其分析原理是入射电子束辐照内层能级电子使其激发，被激发的电子脱离原来稳定的系统，内壳层会存在空穴，此时整个系统处于一种不稳定的激发态。与此同时，外层电子会向内壳层的空穴发生跃迁（退激发De-excitation），从而促使X射线的发射，通过分析发射光子的能量可以获得相关材料的电子信息。X射线发射光谱有多种类型，其中，软X射线发射光谱（SXES）也可用于确定材料的电子结构。1924年，林德（Lindh）和伦德奎斯特（Lundquist）首次发表了关于X射线发射光谱的实验结果，随后X射线发射光谱被广泛应用在材料研究中。虽然这些早期研究提供了对小分子电子构型的基本见解，但X射线发射光谱直到在同步辐射设施提供高X射线强度束后才得到更广泛的应用。近年来，随着先进光谱分析手段的发展，出现了一种基于电子显微镜且十分便捷高效的X射线发射光谱分析方法：软X射线发射光谱（SXES）。SXES的能量分辨率和检出限分别可以达到0.3 eV和20 ppm，优于EDS（120-130 eV、5000 ppm）和WDS（8 eV、100 ppm）。这意味着SXES的诞生为研究更精细的材料电子结构提供了更多的可能性。SXES与WDS,EDS对比（参考日本电子数据，根据安装的装置不同而不同）SXES作为附着在电子显微镜上的光谱分析方法，其目标是获得更高的分辨率，为了达到超高的能量分辨率以及空间分辨率，该技术也经历了几代漫长的发展。2000年，日本东北大学M Terauchi等人开发了连接到透射电子显微镜的第一代亚电子伏特分辨率软X射线光谱仪（JEM 2000FX）。光谱仪由VLS光栅和冷却的CCD探测器组成。首次在TEM中以0.6 eV能量分辨率的特定样品区域观察到价带（VB）的部分态密度（DOS）。然而，由于空间分辨率仅为1μm，在分析更小结构时能力不足。2002年，第二代软X射线发射光谱仪被开发。与第一代相比，能量分辨率从0.6 eV提高到0.4 eV，空间分辨率从1 μm提高到400 nm。可以设置两种不同的光栅，能量范围为60-1200 eV。然而，高能量区域的收集角和能量分辨率仍然不够。因此，从2008年到2012年，日本科学技术振兴机构(JST)资助了一项产学研联合种子创新项目，开发了一种光谱仪，该光谱仪利用VLS光栅作为色散元件，以达到超高的能量分辨率，可以在50 eV到4000 eV的宽能量范围内对软X射线光谱进行测量。成功研发出新一代商用软X射线发射光谱仪（SS- 94000 SXES），随后日本电子以商业化产品推向市场。该光谱仪带有两个光栅，可以检测50 -210 eV的一阶光谱和高达420 eV的二阶光谱，以及更高阶的光谱。该光谱仪可以探测到70多种元素的软X射线发射信号。到目前为止，SXES已经成为在纳米尺度上描述材料物理性质的成熟技术。SXES技术优势：高分辨，无损、化学键状态、锂元素分析X射线发射光谱工作原理示意图X射线发射主要是由电子束辐照引发的电子从价带（键合电子）到核心能级的电子跃迁。发射的X射线携带着有关键合电子（如Li的2s电子，C的2s和2p电子）的能量状态信息。通过检测电子从价带跃迁到内壳引起的X射线发射（上图），可以获得键合电子的部分态密度。由于核心能级态具有良好的对称性，发射强度分布反映了价带的部分态密度。作为一种基于电子显微镜的光谱分析方法，在样品制备过程中无需对样品进行特殊处理；在低加速电压下工作时，可以实现纳米级空间分辨率；在对简单金属、半导体和铝基化合物进行光谱分析时可以探究其能带结构效应。也就是说，一种新的、方便的表征键合电子态信息的光谱方法诞生了，该方法正在蓬勃发展，并在各个领域中得到应用。SS-94000 SXES检测金属Li图谱（图自日本电子）关于SXES技术的优势，张伟表示，一方面是分辨率高，其能量分辨率和检出限分别可以达到0.3 eV和20 ppm，优于EDS和WDS。这意味着SXES的诞生为研究更精细的材料电子结构提供了更多的可能性。另一方面，SXES还具有可视化和选择分析区域的优势，这使得SXES能够获得材料的局部或平均信息。此外，SXES 还具有几个独特的优势。第一，SXES的检测深度在几纳米到几百纳米之间，这使得SXES能够对样品进行无损的分析。其次，由于SXES具有非常高的能量分辨率和检出限，因此高能量分辨率的SXES可用于分析材料中化学键的状态。第三，也是最重要的一点，SXES可以对材料中的锂元素进行分析，这对于当下热点研究的新能源材料、能量存储材料中的应用是十分重要的。SXES技术应用进展：成果广泛，应用潜力被低估当前，从事基于电镜SXES技术研究与应用的团队较少，国际上主要是日本在推进相关研究，张伟则是我国鲜有的从事相关应用研究团队。日本偏技术推进，而张伟则在应用研究方面做了系列工作。并在全球率先发表了以基于电镜SXES技术应用研究为主题的综述。安装于吉林大学的国内首台基于扫描电子显微镜的软X射线发射光谱仪吉林大学也在2017年，购置了国内首台基于扫描电子显微镜的软X射线发射光谱仪（SS-94000 SXES），配置在JSM-7900F热场发射扫描电子显微镜上。基于SXES，张伟团队成功地将SXES应用于电化学能源和电催化领域，并为团队一些文章提供了关键数据，起到画龙点睛的作用。近两年来，张伟团队产出6篇实验型文章，1篇综述型文章。在水系电池领域，通过SXES揭示了CuHCF正极材料中铵离子的可逆嵌入/脱出，伴随Cu/Fe可逆价态转变的储能机制，发表于国际纳米领域的权威期刊Nano Lett上（Nano Lett. 23 (2023) 5307-5316）。在双离子电池工作中，团队利用SXES技术检测了石墨电极中Li-K和C-K边发射峰，证明了Li+成功的预嵌入石墨电极中，发表在国产卓越行动计划期刊JEC上(Journal of Energy Chemistry 71 (2022) 392-399)。团队将SXES与XANES的结果一同分析，研究了充放电过程中Bi电极和碱金属离子（Li+、Na+ 和K+）之间的电子结构演化过程，发表在影响因子高达20.4的ESM期刊中(Energy Storage Materials 45 (2022) 33-39)。此外团队也将这种表征手段应用于OER中，采用熔融盐辅助硼热反应法制备了FeCoB2。通过SXES对OER反应后催化剂的表征，证实OER反应后的催化剂中B原子与FeBO4中B的存在形式相同，与XPS的结果一致(Journal of Energy Chemistry 72 (2022) 509-515)。在HER中，通过SXES对反应前后对MXene量子点催化剂进行表征，证明了在电化学反应后，-Cl基团被氧基团取代，从而优化了HER性能，在EEM期刊上发表，并且作为封面 (Energy Environment Materials 6 (2023) e12438)，正逢MXene量子点获得诺贝尔化学奖之际。在ORR中，借助SXES 分析了铠甲催化剂的电子结构，通过对比金属Co元素引入的Co-NC催化剂与没有金属引入的NC催化剂的SXES峰位，表明金属Co物种的引入会使石墨电子结构发生变化，与同步辐射的结果一致，并且在国产卓越行动计划期刊JEC上发表(Journal of Energy Chemistry 70 (2022) 211-218)。随后团队对SXES在锂离子电池中的应用进行了全面的总结，在专注研究材料领域创新性研究成果的国际顶级快报MRL期刊上（年发文量74篇）发表了全球首篇关于软X射线发射光谱仪在锂离子电池研究领域应用的综述型文章，（Materials Research Letters 11 (2022) 239-249）并对SXES未来的发展提出了合理的展望。近两年，张伟团队产出的部分成果显然，SXES将成为在材料科学领域剖析电子结构信息的一个非常重要和强大的表征手段。尽管已经取得了一些进展，但SXES技术在许多的研究领域中的作用仍然被忽视。张伟认为，随着应用的不断深入，相关成果不断涌现，相信SXES技术会受到更多科研工作者的青睐。SXES作为一种简单、方便的光谱分析工具，并不局限于能源和催化领域。另外，张伟也十分看好SXES与其他表征手段联用技术，通过SXES辅助其它表征手段可以简化材料电子结构的研究，通过与其他表征手段的结合可以实现1+1远远大于2的效果。2024年1月，日本电子软X射线发光分光器出货第100台合影留念关于SXES技术的未来展望，张伟十分看好SXES技术以及相关联用技术，并认为，虽然目前SXES技术的研究与应用还处于一个相对初期的阶段，但相信在仪器使用者、研究者，以及仪器企业等多方共同努力下，SXES技术必将在材料电子结构研究领域掀起一个巨大浪潮，从而促进催化、能源以及其他领域的蓬勃发展。后记基于电镜技术，张伟在多个材料体系研究中取得显著成果，并较早投入SXES技术的研究，取得了系列突破。分享经验时，他强调了兴趣的重要性，提倡夯实基础知识，聚焦研究领域，并注重多学科交流。他特别提到，科研应摆脱功利心态，以平和之心面对挑战。就像团队学生们以“正能量满满”来描述张老师，兴趣为伴，乐观的心态下，有生活也有理想，科研与生活之旅中自然收获惊喜。或许，这便是张伟与电镜故事的真实写照。附：4分钟视频一览SXES的特点和功能（视频自日本电子官网）

X-射线衍射（XRD）分析技术作为材料结构表征的重要手段，业已成为探索物质微观结构的必不可少的方法之一。随着其用途范围的日益拓展，X射线衍射技术在材料、化学、生物医药、环境、物理等学科及地质矿产、钢铁冶金、冶金建材、石油化工、能源环保、电子信息、新药研发、航空航天等产业部门及司法、考古、商品鉴定等领域都得到广泛的应用。近年来随着新技术的大量出现和引入，XRD软、硬件技术和应用功能不断推陈出新，并迅猛发展。X射线衍射技术的理论教学也受到理工农医在校学生和社会科研院所科技工作者的普遍欢迎，为适应广大分析技术工作者的需求，进一步提高XRD用户的应用和研究水平，推动XRD分析应用的进一步发展，上海交通大学分析测试中心特举办“X-射线衍射分析技术”培训班，全国分析检测人员能力培训委员会（NTC）授权单位培训机构上海交通大学分析测试中心承办并负责相关会务工作。现将有关事项通知如下：1、 培训目标：了解X-射线衍射的原理与衍射仪的基本结构（涵盖粉末和单晶衍射）；了解X-射线衍射检测/校准项目及相关要求；掌握国家标准中X-射线衍射的检测方法；上机实践训练。（一）掌握XRD的测试技术，了解仪器维护方法，确保机器运转最佳状态。（二）面对数据分析中的常见问题，学员可理论联系实际，找到问题原因所在，掌握X-射线衍射分析技术的一般方法及技巧。2、 时间地点： 培训时间：2023年10月16日-10月18日 上海（时间安排：授课2天，考核1天）3、 课程大纲：课程内容10月16日上午X-射线衍射技术基本原理（晶体结构、倒易空间、布拉格衍射方程等）10月16日下午X-射线衍射测试原理及技术要点（各种衍射几何、多物相定性定量分析、测量的误差产生的根源及改进的方法）10月17日上午XRD谱图分析方法10月17日下午XRD仪器结构、功能和主要性能指标（包括零维、一维、二维衍射模式）10月18日上午X-射线衍射仪基本操作（调试操作与维护，仪器类型：Aeris 600、Mini Flex 600及Bruker D8系列）。10月18日下午考核4、 主讲专家：主讲专家来自上海交通大学分析测试中心，熟悉ATP 005 X-射线衍射分析技术大纲要求，具有NTC教师资格，长期从事X-射线衍射技术研究的专家。5、 授课方式：（1） 讲座课程；（2） 仪器操作6、 培训费用：（一）培训费及考核费：每人3000元（含报名费、培训费、资料费、考试认证费），食宿可统一安排费，用自理。（二）本校费用：每人1500 元（含报名费、培训费、资料费、考试认证费；必须携带学生证）。7、 颁发证书：本证书由国家科技部、国家认监委共同推动成立的全国分析检测人员能力培训委员会经过严格考核后统一发放，证书有以下作用：具备承担相关分析检测岗位工作的能力证明；各类认证认可活动中人员的技术能力证明、该能力证书可作为实验室资质认定、国际实验室认可的技术能力证明；大型仪器共用共享中人员的技术能力证明。 考核合格者将由发放相应技术或标准的《分析检测人员技术能力证书》。考核成绩可在全国分析检测人员能力培 训委员会(NTC)网站上查询（https://www.cstmedu.com/）。 8、 报名方式：（一）请详细填写报名回执表（附件1）和全国分析检测人员能力培训委员会分析检测人员考核申请表（附件2），邮件反馈。 （二） 注：请学员带一寸彩照2张（背面注明姓名）、身份证复印件一张，有学生证的学员携带学生证复印件。 （三） 报名截止时间是10月10日16:00前。 （四） 如报名人数不足5人取消本次培训。9、 联系方式联系人：吴霞（报名相关事宜）、饶群力（技术咨询）电话： 021-34208499-6102（吴霞）、021-34208499-6212（饶群力）E-mail：iac_office@sjtu.edu.cn官方网址：iac.sjtu.edu.cn

5月29日，Greateyes国内首台定制款的软X射线CCD相机于上海同步辐射E-line线站成功安装。我司工程师在用户现场主导了相机的安装和调试工作。用户对相机安装调试工作的顺利进行表示肯定。这既是对我司工程师售后服务能力的肯定，也是对Greateyes公司产品的认可。 该款相机根据客户需求，对真空法兰的类型和sensor的位置进行了定制。具体表现在，相机采用可旋转的真空法兰，为安装提供了更大的调节灵活性。而突出的sensor位置（较法兰面前凸约25mm）使相机的可探测角度最大化，能够充分利用相机的靶面，从而更好的满足用户的实验需求。Greateyes GmbH成立于2008年的greateyes公司，以德国柏林洪堡大学的技术为基础，迅速发展成为了国际知名的科研级CCD相机生产企业。目前，其用户遍布全球多个国家的科研与工业领域，典型的用户如表一所示。自成立以来，Greateyes公司一直致力于科研级高性能CCD相机的研发、生产和销售，其产品被广泛应用于成像和谱学应用领域。同时，greateyes公司也为光伏企业提供基于电致发光与光致发光的成套检测系统和方案。基于独特的平台概念，greateyes公司可提供带真空接口的一系列相机，可用于真空紫外、极紫外以及软/硬X射线的成像和光谱应用。基于直接探测技术路线，能确保相机在真空紫外、极紫外以及软/硬X射线波段的良好响应。同时，在紫外、可见和近红外波段，也能提供性能优异的产品。作为Greateyes中国区授权总代的北京众星联恒科技有限公司，我们的工程师均经过原厂培训，拥有专业的售前产品知识和过硬的售后服务经验，从而能够为客户提供专业、及时的服务。目前，我司已成功将greateyes公司的科研级CCD相机产品推广到多个研究机构，这不仅让更多的科研用户了解到了性能优异的科研级CCD相机产品，为科研工作者的调研工作提供了更多选择，也增强了Greateyes公司在中国市场的品牌影响力。了解更多Greateyes产品：

近期，专业的科学成像与光谱解决方案供应商牛津仪器Andor Technology宣布推出新的Marana-X系列相机，专业用于高能射线的检测分析和成像。兼具高帧频、高动态范围、高量子效率 该产品集成全新科研CMOS技术（sCMOS），专为超快软X射线/EUV层析成像和高次谐波产生（HHG）等应用而设计。与传统的慢扫描CCD相机相比，Marana-X的出现代表了重大的技术进步。它通过同时提供高帧频、高灵敏度和高动态范围，克服了软X射线-EUV能量范围内慢扫描CCD的传统局限性。它集成了“无涂层”、420万像素的sCMOS传感器，在80 eV-1keV范围内量子效率大于90%、全幅速率为74帧/秒以及更高的动态范围（34000:1@16bit）， 这种独特的组合使用户可以更好地采集动态变化的过程，增加高质量图像数据的输出通量，同时可缩短实验时间，非常适用于大型层析扫描图像的重构等实验。sCMOS内置的无快门技术解决了传统机械快门寿命和重复率有限的问题。Marana-X 同时配备即插即用的USB3接口和适用于高能物理环境的CoaXPress接口，可轻松集成到各种基于真空的实验装置中。牛津仪器Andor-高能探测产品专家Thomas Woodward 评价该款仪器："Marana-X是对Andor高性能sCMOS产品系列的进一步补充。随着世界范围内高能物理光源升级到更高的光学通量和重复频率，科学家需要合适的探测器技术来最大限度地利用这些新的高能光源。Marana-X具备的高灵敏度、高帧频和出色的动态范围，是应对这些实验挑战的理想选择。" Marana-X 参数 项目参数高灵敏:QE高达99%高帧频:可高达74帧/秒高动态范围:可高至16位抗EMP:CoaXPress数据接口真空深度冷却:-45℃ 制冷

会议简介 第12届上海市X射线衍射分析学术交流会拟定于2023 年7月8日在上海市嘉定区召开。会议将就X射线衍射分析领域的研究与应用前沿和关键技术问题，邀请知名专家学者作专题报告。热忱欢迎来自上海地区高校、科研院所及企事业单位的专家、学者及工程技术人员参加本次学术交流会。本次学术交流范围包括但不限于：①X射线物相定性与定量分析，②Rietveld 法结构精修与应用，③单晶结构解析，④薄膜与界面分析，⑤织构与各向异性分析，⑥宏观应力与微观应力分析，⑦小角散射分析，⑧X射线成像技术，⑨X射线衍射在工业中的应用，⑩同步辐射装置衍射散射及应用等。 时间地点 会议日期：2023年7月8日 9:00-17:00会议地点：中国科学院上海硅酸盐研究所嘉定园区其它说明：免会议费、免资料费，提供午餐 组织单位 会议学术委员会主任：姜传海副主任：文闻 程国峰 吴建国秘书长：程国峰（兼）副秘书长：吴雪艳委员： 陈波、黄金萍、李东栋、李晓龙、骆军、裴燕、师育新、武立宏、杨昕昕、杨征、詹科、赵秀阁、赵远涛、周丽绘、郑琦、周莹 （按拼音排序）资深委员：马礼敦、魏光普、杨传铮、黄月鸿主办：上海市物理学会X射线衍射与同步辐射专业委员会承办：中国科学院上海硅酸盐研究所 联系方式 X射线结构表征组无机材料分析测试中心中国科学院上海硅酸盐研究所 阮老师、刘老师: ysun@mail.sic.ac.cn，ryj@mail.sic.ac.cn021-69163600/69163558, 13761228831, 13816381456

近日，中科院高能所自主研制的球面弯曲分析晶体取得突破性进展，助力高能同步辐射光源（HEPS）高能量分辨谱学线站建设。针对国内高压科学、能源材料等多学科的学科优势，为满足广大用户需求，HEPS高能量分辨谱学线站正在设计建造一台具有先进国际水平的X射线拉曼散射（XRS）谱仪—“乾坤”。其中，球面压弯分析晶体基于罗兰圆几何条件，将特定能量的X射线聚焦至探测器上，是XRS谱仪的核心光学部件。聚焦面形精度和高能量分辨是球面弯曲分析晶体的两项极为关键，又互相影响的技术指标，因而极具挑战性。“乾坤”谱仪采用6组模组化分析晶体阵列，由90余块半径1m的分析晶体构成，其晶体能量分辨的设计指标与电子-空穴态寿命展宽数量级相当，达到ΔE/E~10-5，球面弯曲面形精度满足1:1聚焦需求。在HEPS工程指挥部的部署下，HEPS高能量分辨谱学线站团队与光学设计、光学机械、光束线控制系统相关人员，联合多学科中心晶体实验室积极攻关。线站核心成员郭志英、多学科中心晶体实验室刁千顺，经过多年技术攻关和反复尝试，不断改进优化分析晶体制备工艺，最终探索出兼顾能量分辨与聚焦特性于一体的球面弯曲分析晶体制备方法。今年10月2日-5日，项目团队在北京同步辐射装置（BSRF）1W2B线站上，采用Si(111)双晶单色器Si(220)切槽单色器两次单色化、毛细管微聚焦的光学配置，利用自研三元谱仪样机，对谱仪单模组内15块分析晶体（图1），采用EPICS-Bluesky控制系统实现单色器联动扫描，开展了批量、高精度指标测试（装置见图2）。优化后入射能量带宽实现高分辨，达到半高全宽0.8eV@9.7keV，分析晶体自身能量分辨（图3）达到半高全宽~1eV@9.7keV，与理论预测值相当，聚焦特性得到充分验证(图3、图4)，各项指标全部满足工程设计需求。HEPS高能量分辨谱学线站是我国首条专注于硬X射线非弹性散射谱学实验的线站，聚焦核能级超精细结构、声子态密度、芯能级电子跃迁和价电子激发的探测，主要提供核共振散射（NRS）、XRS、共振非弹性散射（RIXS）等谱学方法，服务于量子科学、能源科学、材料科学、凝聚态物理、化学、生物化学、地学、高压科学、环境科学等多学科前沿研究。其中，XRS是一种基于X射线非弹性散射原理的先进谱学实验技术，欧洲ESRF （72块分析晶体）、美国APS（19块分析晶体）、日本SPring-8（12块分析晶体）、法国SOLEIL（40块分析晶体）、英国Diamond光源等光源已建成或规划建设XRS旗舰线站。由于非弹性散射截面极小，比X射线吸收截面小4~5个量级，XRS实验技术需要高亮度光源以增加入射光子通量，同时也需要大立体角谱仪提高探测效率，而大立体角探测需要多块发现晶体实现。首批分析晶体的指标通过在线测试，将满足大批量分析晶体加工的工程需求，对HEPS“乾坤”谱仪、高能量分辨谱学线站的实施都具有里程碑意义。值得一提的是，该类型分析晶体的工艺也已经用于多种类型谱仪分析晶体的研制。接下来，该团队将高质量完成其余模组分析晶体的批量加工，同时，将致力攻关无应力高能量分辨分析晶体的研制。晶体研发工作还获得先进光源技术研发与测试平台PAPS的支持，BSRF-1W2B、3W1、4W1A、4W1B线站提供机时。图1. HEPS自研分析晶体图2. 分析晶体测试装置，其中，左图给出了散射光和分析晶体分析光路示意图图3 分析晶体测试结果，左上为4#晶体能量分辨率实验结果和拟合曲线，左下为三块晶体在探测器上的聚焦光斑，右侧为分析晶体能量分辨率批量测试结果图4 扫描单色器能量时探测器上的光斑变化情况图5 测试人员合影

仪器信息网讯 2011年10月12-15日，第十四届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2011)在北京展览馆隆重举行。为让广大网友及仪器用户深入了解BCEIA 2011仪器新品动态，仪器信息网特别开展了以“盘点行业新品 聚焦最新技术”为主题大型视频采访活动，力争将科学仪器行业最新创新产品、最新技术进展及最具有代表性应用解决方案直观地呈现给业内人士。以下是仪器信息网编辑采访北京东西分析仪器有限公司资深工程师杨东华先生的视频。 　　东西分析具有20多年的光谱仪器研制经验，在此次展会上，东西分析首次推出了两款新型的X射线光谱仪，XD-8000能量色散X射线荧光光谱仪和XF-8100波长色散X射线荧光光谱仪。杨东华先生在采访中向广大网友详细介绍了这两款仪器的主要特点、应用情况，以及研发历程。 　　杨东华先生介绍说：“东西分析研制这两款X射线荧光光谱仪，前后花了5年多的时间。在研发的过程中东西分析不断吸收目前市场上X射线荧光光谱仪的优点，改正其缺点，因而在产品的精确度、可靠性和稳定性方面都有提高。” 　　具体产品展示、技术特点介绍、应用领域分析，请点击查看采访视频。　 　　关于北京东西分析 　　北京东西分析仪器有限公司，成立于1988年，主要业务包括分析仪器及相关产品的研发、应用服务与生产销售。经十余年艰苦奋斗，已成功自行开发生产了一系列具有高技术含量的分析仪器产品。 荣获中国“十大知名分析仪器品牌”、“分析测试协会BCEIA金奖”、“产品信得过单位”、“煤炭部定点安全仪器生产厂”等荣誉称号。

3月24日，宁夏大学测试分析中心公开招标，购买一台多功能全自动X射线光电子能谱仪，预算580万元。　　采购计划编号： 2021NCZ000424　　项目编号： NXTD-21007　　项目名称： 宁夏大学测试分析中心多功能全自动X射线光电子能谱仪设备采购项目　　采购需求：采购标段标的名称数量简要规格描述或项目基本概况预算金额(元)备注1标段其他光学仪器1多功能全自动X射线光电子能谱仪，详细货物需求与技术参数见招标文件5800000.00数量合计：1预算合计：5800000.00　　合同履行期限：交货期：合同签订后150日内　　本项目不接受联合体投标　　开标时间：2021-04-14 09:00:00(北京时间)宁夏大学测试分析中心多功能全自动X射线光电子能谱仪设备采购项目-招标文件2021.3.24定稿.pdf

p 　　如今，许多研究人员需要利用电子显微镜快速获得样本的化学组分，而这其中不少人的研究对象是电子束敏感材料，这使得获得所需的数据相当困难。日前，赛默飞推出的新型双X射线能谱仪为解决这些难题带来了福音。 /p p 　　为帮助研究人员在低束流条件下更快速地获得各类型样品(包括电子束敏感材料)的二维和三维化学信息，赛默飞在Talos F200i扫描透射电镜(S/TEM)中加装了一对对称设计的100 mm2 Racetrack能谱仪(双X射线)。这一更新突破了使用非对称EDS难以获得有效定量数据的瓶颈，并能让科研工作者以最快的方式在(亚)纳米尺度对材料进行表征。 /p p 　　据介绍，双X射线能谱仪有着迄今最强的分析能力，这让X射线能谱分析较之以往用时或将大大减少。如大面积的EDS元素分布图采集用时不超过一分钟。 /p p 　　该高速双X射线能谱仪可以配合高亮度X-FEG电子枪使用，以最大限度地保证成像和能谱性能。 /p p style=" text-align: center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 600px height: 298px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201908/uepic/82efd443-346e-4f6d-baa8-05602797d33e.jpg" title=" 001.jpg" alt=" 001.jpg" width=" 600" height=" 298" border=" 0" vspace=" 0" / /p p 　　双X射线能谱仪可在1分钟内生成大面积、高分辨率的金-镍纳米颗粒EDS图谱(图中样本由布尔诺材料物理研究所成员J. Bursik提供)。 /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　 strong 　双X射线能谱仪的优点归纳如下： /strong /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　　1 双X射线能谱探头对称安装，可实现低束流条件下各类型样品的最高效化学分析 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　　2 双X射线能谱仪已集成在Velox软件中，便于用户获取和分析多模态数据，凭借单个测试系统就可获取最完整的材料表征信息。 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　　3 Velox软件拥有独特的EDS吸收校正功能，保证数据定量化分析的高准确性。无论试样的空间位置，用户均可获得最准确的元素信息。 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　　4 双X射线能谱仪针对如下功能进行了深度集成和优化： /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　　(1) 高速、自动、无人化的三维EDS断层扫描保证数据的高效获取 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　　(2) STEM和EDS图谱软件可自动获取高分辨率、大面积图谱的相关统计数据。从不同成像和分析模式得到的数据可进一步通过Thermo ScientificTM AvizoTM软件进行实时处理和统计。 /span /p p 　　此外，双X射线能谱仪(Dual-X)可与现有 a href=" https://www.instrument.com.cn/netshow/sh100537/C11108.htm" target=" _blank" strong Talos /strong /a strong /strong 配合使用。这不仅有望帮助科学家突破以前难以解决的问题，并能将二维和三维的 EDS自动化分析带上新的平台。 /p p 　　更多详情请点击： a href=" https://www.instrument.com.cn/netshow/sh100537/C11108.htm" _src=" https://www.instrument.com.cn/netshow/sh100537/C11108.htm" https://www.instrument.com.cn/netshow/sh100537/C11108.htm /a & nbsp /p p br/ /p

X 射线分析仪器技术是近年来迅速发展的一门分析技术，它可在材料研究、分析以及各种工业过程和质量控制中测定从金属、矿物、油和其他液体一直到塑料、药物、陶瓷材料、纳米材料及半导体等各种材料的化学成分和晶体结构。为了与X 射线分析仪器界的同仁共同携手促进X 射线分析仪器的发展和广泛交流最新的研究进展，陕西省分析测试协会和荷兰帕纳科公司（PANalytical B.V.）将于2016年5 月26 日（周四）在古城西安举办“帕纳科最新X 射线分析技术研讨会”，届时将向您介绍X 射线荧光光谱分析的最新进展！ 与此同时，帕纳科还将现场展示最新推出EDXRF 能谱仪台式一体机—Epsilon1，您将看到其为不同行业量身定做的多种解决方案！特此邀请您光临出席此次研讨会，共同探讨X 射线分析仪器技术的发展！ 会议信息2016 年5 月26 日 中国 ? 西安主办单位：陕西省分析测试协会 荷兰帕纳科公司时间：08:30-17:00地点：西安富凯禧玥酒店会议地址：西安市南新街27 号（新城广场东南角）TimeProgress08:30-09:00报到登记09:00-09:15致欢迎辞陕西省分析测试协会领导致辞09:20-10:30帕纳科X 射线衍射系统（XRD）的多领域应用10:30-10:45茶歇10:45-12:00X 射线荧光光谱技术最新发展12:00-14:00午餐14:00-15:00帕纳科XRF 在地质行业及环保领域的优势与应用15:00-16:30??帕纳科小型台式能量色散X 射线荧光光谱仪——Epsilon1 现场演示如果您对我们的会议感兴趣，请联系：大昌华嘉商业（中国）有限公司联系人：金小姐联系方式：029-88337412邮箱地址：ins.cn@dksh.com大昌华嘉网站：www.dksh-instrument.cn扫描关注“大昌华嘉科学仪器部”公众号

为了保证产晶质量，使用安全优质的原材料是必要条件，原材料的重要性不言而喻。但对利润最大化的追求使得原料供应商往往按照性能要求下限来提供原材料，更有甚者在未告知的情况下替换材料，导致生产过程中出现各种品质问题。因此，对来料的性能监控十分关键。本文结合红外光谱仪（FTIR）和能量色散型X射线荧光分析仪（EDX)对树脂成份进行了全面分析，通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。 了解详情，敬请点击《使用岛津红外光谱仪（FTIR）和能量色散型X射线荧光分析仪（EDX）分析树脂原材料》 关于岛津 岛津企业管理（中国）有限公司是（株）岛津制作所于1999年100%出资，在中国设立的现地法人公司，在中国全境拥有13个分公司，事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心，并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站，已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念，始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务，为中国社会的进步贡献力量。

项目编号：CBNB-20222340G 项目名称：宁波大学分析测试中心采购X射线光电子能谱仪项目预算金额（元）：6500000 最高限价（元）：6500000 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途：主要用于粉末、薄膜、高分子等材料的表面几个原子层（1～10纳米厚的表面）的化学组成、价态，深度剖析及成像、功函数特性的分析与表征；具体详见第二章《招标需求》。 备注：本项目允许采购进口产品。 合同履约期限：标项 1，自合同签订生效后开始至双方合同义务完全履行后截止。本项目（是）接受联合体投标。

项目编号：招案2022-1675（地大编号：DDCG-20221054）项目名称：中国地质大学（武汉）原位X射线光电子能谱分析系统采购项目预算金额：430.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：430.0000000 万元（人民币）采购需求：采购一套原位X射线光电子能谱分析系统（详见招标文件第三部分 采购需求）；合同履行期限：国产产品：合同签订后60天内安装调试到位；进口产品：合同签订后180天内安装调试到位；本项目( 不接受 )联合体投标。

摘要：针对一起110kV隔离开关触头的腐蚀故障，采用手持式X射线荧光光谱仪分析故障隔离开关触头镀层的化学成分，发现厂家使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层。分析认为在工业含硫大气环境中，Ag-SnO2镀层中的银被SO2、H2S等硫化物腐蚀，铜基体在潮湿环境下腐蚀生成Cu2(OH)2CO3，从而导致隔离开关触头导电回路的接触电阻升高，引发过热故障。针对此次故障，提出了解决措施和建议。关键词：手持式X射线荧光光谱仪；隔离开关触头；电刷镀银；银氧化锡；腐蚀中图分类号：TQ153.16 文献标志码：A 文章编号：1004 – 227X (2019)23 – 1 – 04高压隔离开关是电力系统中使用最多、应用最广的一次设备。由于高压隔离开关多在户外运行，长期受风吹、雨淋、雷电、潮气、盐雾、凝露、冰雪、沙尘、污秽，以及SO2、H2S、NO2、氯化物等大气污染物的影响，因此各部件会发生不同程度的腐蚀[1-2]。高压隔离开关触头是关键部件，承担着转接、隔离、接通、分断等任务，其工作状态的好坏直接影响整个电力系统的运行[3]。高压隔离开关触头的基体为纯铜，但纯铜易被腐蚀，会造成表面接触电阻升高，引发过热故障，影响开关设备和电网的安全稳定运行[4-6]。为了减小接触电阻，DL/T 486–2010《高压交流隔离开关和接地开关》、DL/T 1424–2015《电网金属技术监督规程》和《国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(2018年修订版)及编制说明》[7]中明确规定：隔离开关触头表面必须镀银，且镀银层厚度不小于20 μm，以获得较低的接触电阻，从而保证良好的导电性。然而，在实际运行中，很多厂家生产的高压隔离开关产品会出现触头腐蚀、变色发黑、发热等故障，一般是由触头镀锡代替银或镀银层厚度不足造成，这些缺陷都可以通过国家电网公司开展的金属专项技术监督检测隔离开关触头镀银层厚度而发现[8]。近期，四川电网在金属技术监督中发现一起高压隔离开关触头腐蚀案例，镀银层厚度检测结果合格，但在采用手持式X射线荧光光谱仪分析镀层化学成分时发现，厂家竟然使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层，该造假手段通过颜色判断和镀层测厚无法发现，非常隐蔽，很容易因未进行镀层成分分析而误判合格，严重威胁电网的安全运行，希望引起各运维单位注意。 1 高压隔离开关触头的腐蚀故障某110 kV变电站于1991年投运，当地大气污秽等级为E级，大气类型为工业污染。周边潮湿多雨，化工、煤炭、玻璃等重工业污染企业密集，空气中SO2、H2S等硫化物浓度较高，大气的腐蚀性较强。2013年更换隔离开关触头，防腐措施为铜镀银。2017年站内巡检发现某110 kV隔离开关触头腐蚀严重，动、静触头接触面大部分呈绿色，少部分呈黑色(见图1)。红外测温发现该隔离开关触头存在过热故障，若继续运行，可能会造成隔离开关烧毁，甚至大面积停电等恶性事故，运维单位国网泸州供电公司紧急安排停运该隔离开关，并与国网四川电科院联合开展故障分析。图1 某110 kV隔离开关触头的腐蚀情况2 手持式X射线荧光光谱仪的检测原理X射线荧光光谱分析是用于高压隔离开关触头表面金属成分检测的一种非常有效的分析方法，具有快速、分析元素多、分析浓度范围宽、精度高、可同时进行多元素分析、无损检测等优点，被广泛应用于元素分析和化学分析领域[9]。其原理[9-12]为：由激发源产生高能量X射线照射被测样品，样品表面元素内层电子被击出后，轨道形成空穴，外层高能电子自发向内层空穴跃迁，同时辐射出特征二次X射线。每种元素都有各自固定的能量或波长特征谱线，具体与元素的原子序数有关。检测器测量这些二次X射线的能量及数量或波长，仪器软件将收集到的信号转换成样品中各种元素的种类和含量。X射线荧光光谱仪通常可分为波长色散型和能量色散型两大类，各自原理如图2 [11]所示。波长色散型光谱仪一般采用X射线管作为激发源，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分，属于台式仪器。能量色散型光谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并进行检测，从而确定元素成分和含量，可以同时测定样品中几乎所有的元素，激发源使用的X射线管功率较低，且使用半导体探测器，避开了复杂的分光晶体结构，因此仪器工作稳定，体积小，便携性高，价格也较低，能够在数秒内准确、无损地获得检测结果，被广泛应用于金属材料中元素的精确定量分析[12-13]。 图2 波长色散型(a)和能量色散型(b)X射线荧光光谱仪的检测原理目前市售手持式X射线荧光光谱分析仪基本都是能量色散型X射线光谱仪。图3是目前四川电网基层供电公司使用的美国Thermo Fisher Scientific Niton XL2 800手持式X射线荧光光谱仪，它不受分析样品的大小、形状、位置限制，无需拆卸隔离开关，可以携带至变电站现场，能够分析Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb,Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hf, Ta, W, Re, Au, Pb, Bi等25种元素。图3 手持式X射线荧光光谱仪3 现场检测结果3. 1 镀层化学成分分析表1 110 kV隔离开关触头镀层上不同颜色区域及铜基体的元素成分分析结果[4] 梁方建, 张道乾. GW5-110型隔离开关触头发热缺陷分析及检修处理[J]. 高压电器, 2008, 44 (1): 88-90.

日本的分析技术市场在世界上占有率居于第三，德国耶拿公司在日本设有分公司。作为商业合作伙伴，日本TECHNO-X公司与德国耶拿日本分公司将合作推出X射线荧光光谱仪。 德国耶拿CEO Klaus Berka 提到&ldquo 随着我们与Techno-X新合作关系的建立，我们将引入X射线荧光设备以扩大我们的产品线，这也是全球市场增长的一个标志。公司初步计划是仅在日本开始销售。Berka 还提到&ldquo 我们希望通过将合作伙伴在X射线荧光光谱仪领域的技术专长和德国耶拿股份公司的销售技巧相结合以加强我们在日本市场上的地位，在未来的日子里，Techno-X将更多地致力于产品的研究和发展。&rdquo Techno-X， X射线荧光光谱仪，主要用于在线分析应用的手段 - 例如，在石油化工领域分析硫和氯，在食品检验实验室用于检测稻米中的镉含量等。

p 　　 strong 仪器信息网讯 /strong 2015年10月17日，由中国工程物理研究院材料研究所、四川艺精科技集团有限公司、中国兵器工业第五九研究所等单位承担的国家科技部重大科学仪器设备开发专项“短波长X射线体应力无损分析仪开发及应用”的研究成果，顺利通过了四川省科技厅、四川省经济和信息化委员会组织的科技成果及新产品鉴定。 /p p style=" TEXT-ALIGN: center" img title=" 现场.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201510/insimg/0320ff88-b9a6-43a1-a3b3-8557088232ef.jpg" / /p p style=" TEXT-ALIGN: center" span style=" FONT-FAMILY: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai" strong “短波长X射线衍射分析技术暨短波长X射线体应力无损分析仪新产品鉴定会”现场 /strong /span /p p 　　按照鉴定会程序，鉴定委员会听取了研制工作报告、技术报告，观看了技术研发视频，审核了第三方机构检测报告，考察了仪器现场，并进行了充分讨论、质疑。最后，鉴定委员会一致认为“短波长X射线衍射分析技术及短波长X射线体应力无损分析仪新产品”属于国际首创的技术与仪器，获得了多项国际、国内专利授权，对我国重大装备制造业水平的提升具有推动作用。 /p p style=" TEXT-ALIGN: center" img style=" WIDTH: 400px HEIGHT: 455px" title=" image002.jpg" border=" 0" hspace=" 0" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201510/insimg/8971472e-bb72-4eae-b3d8-d8216642d878.jpg" width=" 400" height=" 455" / /p p style=" TEXT-ALIGN: center" strong span style=" FONT-FAMILY: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai" 短波长X射线体应力无损分析仪新产品 /span /strong /p p 　　材料及工件的应力分布特征是影响物理化学性能的重要因素，在国防军工、航空航天等各个领域，由于材料、工件内部应力导致失败的案例很多，给国家和人民造成重大损失。目前，虽然 a href=" http://www.instrument.com.cn/zc/77.html" target=" _self" title=" " strong X射线(衍射)应力仪 /strong /a 已经得到商业化普及，但其功能只可测定试样约10微米深度表层的应力，无法完成体应力的测定。中子衍射和同步辐射高能X射线应力装置能够开展材料体应力测试，但该类仪器都是以反应堆或同步辐射光源等大型装置为基础，这些装置设备庞大、造价昂贵，无法市场化推广。 /p p 　　针对此现状，中国工程物理研究院材料研究所在“国家科技部重大科学仪器设备开发专项”支持下，研制了实验室用短波长X射线体应力无损分析仪，体积相对较小、价格较低，既可测定体应力，又可市场化推广，在一定程度上填补了以上两类装置之间的空白。 /p p 　　“短波长X射线体应力无损分析仪”采用钨靶发出的波长短、穿透性强的特征X射线，测试材料的内部应力、物相、织构等 利用能量法，改善了入射X射线强度的衰减 采用透射式和反射式的光路设计，获取材料内部结构沿深度分布的信息。该仪器高精度的测角仪、欧拉环等部组件，以及自动控制和应力分析软件等皆是项目组自主研发。样品台最大可承重20Kg 测试铝材当量厚度大于40毫米，无应力铁粉测试误差小于正负20兆帕 空间分辨能力可调，最小空间分辨率为0.1× 0.2× 2mm sup 3 /sup (宽× 高× 厚)，对具有一定厚度的样品能够获得三维空间应力分布。 /p p 　　据介绍，项目组实施了边研制边应用、销售的策略，该仪器已在兵器工业、航空航天、交通运输领域及科研院所得到应用 初步实现仪器的销售，可对外提供材料工件体应力检测服务，目前已创造经济效益696万元。 /p p style=" TEXT-ALIGN: center" img title=" 专家组.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201510/insimg/9f7dfd71-eb8a-403a-a7bb-26d116d3c3fe.jpg" / /p p style=" TEXT-ALIGN: center" span style=" FONT-FAMILY: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai" strong 项目负责人与鉴定委员会成员合影 /strong /span /p p 　　此次鉴定会的鉴定委员会成员包括：中科院物理研究所/中国物理学会X射线衍射联合委员会主任麦振洪研究员、清华大学材料学院院长张政军教授、中国工程物理研究院高级顾问/院士武胜研究员、全国无损检测协会副理事长/爱德森(厦门)电子有限公司总经理林俊明研究员、西南交通大学材料学院院长黄楠教授、中国核动力研究设计院二所书记兼副所长/核工业西南无损检测中心主任唐月明研究员、重庆大学材料学院/全国残余应力学术委员会副秘书长叶文海教授、中国东方电气集团有限公司核电设计所所长唐伟研究员、中航工业贵州黎阳航空发动机(集团)有限公司冶金处处长朱明研究员。麦振洪研究员、张政军教授分别为鉴定委员会正、副主任。 /p p 　　此次鉴定会还邀请了中国工程物理研究院科技委前副主任孙颖研究员等12位专家作为见证嘉宾。国家科技部、四川省科技厅、四川省经济和信息化委员会、绵阳市经济和信息化委员会、中国工程物理研究院、中国工程物理研究院材料研究所、四川艺精科技集团有限公司相关领导，该项目负责人中国工程物理研究院材料研究所副总工程师张鹏程研究员及其他项目骨干等出席了本次鉴定会。 /p p style=" TEXT-ALIGN: right" 撰稿：刘丰秋 /p p br/ /p

关于举办《紫外可见分光光度计、原子吸收光谱仪、X射线荧光分析仪》 学术交流会邀请函 随着加入WTO与国际接轨，新的要求、新的标准给仪器应用带来了更广泛的领域，同时，随着科技的发展、市场的繁荣给分析工作带来了新的仪器、新的技术。为更进一步了解仪器的原理性能，使现有的资金——购置最适用的设备；使现有的设备——发挥最出色的作用，北京普析通用仪器有限责任公司特举办此交流会，并邀请专家授课。现将有关事宜通知如下： 一、日期：2006年4月26日 二、讲课内容及时间安排： l 上午8：45－11：45介绍讲解 李昌厚教授专程主讲 紫外可见分光光度计部分 1． 目前国内、外紫外可见分光光度计仪器及应用的最新进展。 2． 紫外可见分光光度计的主要性能指标（定义、测试方法、对分析误差的影响、应用上的重要性）。 3． 如何评价（挑选）紫外可见分光光度计使之适用于本职的分析工作。 4． 如何使用好紫外可见分光光度计的关键问题。 l 下午1：00－2：30介绍讲解 李昌厚教授专程主讲 原子吸收分光光度计部分 1． 目前国内、外原子吸收分光光度计仪器及应用的最新进展。 2． 原子吸收光谱仪的主要性能指标（定义、测试方法、对分析误差的影响、应用上的重要性。） 3． 如何比较一台原子吸收光谱仪的功能，它给分析工作带来的优越性是什么？ 4． 如何选择原子吸收光谱仪的最佳分析条件，及提高灵敏度的方法。 l 下午2：30－4：00介绍讲解 田宇纮教授专程主讲 X射线荧光分析仪部分 全反射X射线荧光(TXRF)分析技术是近年才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF可以大大提高能量分辨率和灵敏度。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段、在原子谱仪领域内处于领先地位。本讲座将要介绍的就是X射线荧光分析仪在材料分析中的应用技术与最新的发展情况。 三、 原吸紫外主讲人： 李昌厚教授 中国分析仪器学会副理事长 中国光学仪器学会　物理光学仪器专业委员会　副主任 中国国家技术监督局　国家级计量认证评审员 中国科学院上海生物工程研究中心 仪器分析室主任、研究员、博士生导师：李昌厚教授专程主讲 X射线荧光分析仪主讲人： 田宇纮教授 中国科学院近代物理研究所 教授 X射线荧光分析仪设计与制造 专家 四、 会议地点： 唐山饭店 多功能厅 唐山市建设南路46号(唐山市百货大楼对面) 报名联系人：孟令红 田凤 电话：13383059598 0311-86050158 五、 本次研讨会免费听取，并提供中午工作餐。 六、 到场请认真填写《会议信息反馈表》，及时交到会务组，凭此领取礼品。 七、 为提高听课质量，敬请与会者在主讲人授课时间保持手机安静。 八、 乘车路线：唐山市火车站汽车站坐车到唐山市百货大楼对面。车程十五分钟。 注：具体讲课时间以4月26日当天的研讨会现场安排为准，如有变动不另行通知。 北京普析通用仪器有限责任公司河北联络处 2006年4月12日 参　会　回　执 单位全称： 部门（科、室）： 通讯地址： 邮　　　　编： 参会人数： 电　　　　话： 参会人员姓名： 联 系 电 话： 其他要求： 注：因会场空间有限，名额仅限150人。请参会人员及时准确填写回执。并请传真至0311-86050158-810。凭此回执参加研讨会。 另：如不方便发传真，也可电话及邮件报名 报名联系人：田凤 联系电话：0311-86050158 E-mail:hebeioffice@pgeneral.com

“对于相干衍射成像（CDI），微米级像素的非晶硒CMOS探测器将专门解决大体积晶体材料中纳米级晶格畸变在能量高于50 keV的高分辨率成像。目前可用的像素相对较大的（〜55μm像素），基于medipix3芯片光子计数、像素化、直接探测技术无法轻易支持高能布拉格条纹的分辨率，从而使衍射数据不适用于小晶体的3D重建。” 美国阿贡国家实验室先进物理光子源探测器物理小组负责人Antonino Miceli博士讲到。相干X射线衍射成像作为新兴的高分辨显微成像方法，CDI方法摆脱了由成像元件所带来的对成像分辨率的限制,其成像分辨率理论上仅受限于X射线的波长。利用第三代同步辐射光源或X射线自由电子激光，可实现样品高空间分辨率、高衬度、原位、定量的二维或三维成像，该技术在材料学、生物学及物理学等领域中具有重要的应用前景。作为一种无透镜高分辨、无损成像技术，CDI对探测器提出了较高的要求：需要探测器有单光子灵敏度、高的探测效率和高的动态范围。目前基于软X射线的相干衍射成像研究工作开展得比较多，在这种情况下科研工作者通常选用是的基于全帧芯片的软X射线直接探测相机。将CDI技术拓展到硬X射线领域（50keV）以获得更高成像分辨率是目前很多科研工作者正在尝试的，同时也对探测器和同步辐射光源提出了更好的要求。如上文提到，KAimaging公司开发了一款非晶硒、高分辨X射线探测器（BrillianSe）很好的解决的这一问题。下面我们来重点看一下BrillianSe的几个主要参数1. 高探测效率 如上图，间接探测器需要通过闪烁体将X射线转为可见光， 只有部分可见光会被光电二极管阵列，CCD或CMOS芯片接收，造成了有效信号的丢失。而BrillianSe选用了具有较高原子序数的Se作为传感器材料，可以将大部分入射的X射线直接转为光电子，并被后端电路处理。在硬X射线探测效率远高于间接探测方式。BrillianSe在60KV (2mm filtration)的探测效率为：36% at 10 cycles/mm22% at 45 cycles/mm10% at 64 cycles/mm非晶硒吸收效率（K-edge=12.26 KeV）BrillianSe在60KV with 2 mm Al filtration的探测效率，之前报到15 μm GADOX 9 μm pixel 间接探测器QE 为13%。Larsson et al., Scientific Reports 6, 20162. 高空间分辨BrillianSe的像素尺寸为8 µm x8 µm，在60KeV的点扩散为1.1 倍像素。如下是在美国ANL APS 1-BM光束线测试实验室布局使用JIMA RT RC-05测试卡，在21keV光束下测试3. 高动态范围75dB由于采用了100微米厚的非晶硒作为传感器材料。它具有较大满井为877,000 e-非晶硒材料，不同入射光子能量光子产生一个电子空穴对所需要电离能BrillianSe主要应用：高能（50KeV）布拉格相干衍射成像低密度相衬成像同步辐射微纳CT表型基因组学领域要求X射线显微CT等成像工具具有更好的可视化能力。此外需要更高的空间分辨率，活体成像的关键挑战在于限制受试者接收到的电离辐射，由于诱导的生物学效应，辐射剂量显着地限制了长期研究。可用于X射线吸收成像衬度低的物体，如生物组织的相衬X射线显微断层照相术也存在类似的挑战。此外，增加成像系统的剂量效率将可以使用低亮度X射线源，从而减少了对在同步辐射光源的依赖。在不损害生物系统的情况下，在常规实验室环境中一台低成本、紧凑型的活体成像设备，对于加速生物工程研究至关重要。同时对X射线探测器提出了更高的要求。KAimaging公司基于独家开发的、专利的高空间分辨率非晶硒（a-Se）探测器技术，开发了一套桌面高效率、高分辨的微米CT系统（inCiTe™ ）。可以从inCiTe™ 中受益的应用:• 无损检测• 增材制造• 电子工业• 农学• 地质学• 临床医学• 标本射线照相 基于相衬成像技术获得优异的相位衬度相衬成像是吸收对比（常规）X射线成像的补充。 使用常规X射线成像技术，X射线吸收弱的材料自然会导致较低的图像对比度。 在这种情况下，X射线相位变化具有更高的灵敏度。因为 inCiTe™ micro-CT可以将物体引起的相位变化转为为探测器的强度变化，所以它可以直接获取自由空间传播X射线束相位衬度。 同轴法相衬X射线成像可将X射线吸收较弱的特征的可检测性提高几个数量级。 下图展示了相衬可以更好地显示甜椒种子细节特征不含相衬信息 含相衬信息 低密度材料具有更好的成像质量钛植入样品图像显示了整形外科的钛植入物，可用于不同的应用，即检查骨-植入物的界面。 注意，相衬改善了骨骼结构的可视化。不含相衬信息 含相衬信息 生物样品inCiTe™ 显微CT可实现软组织高衬度呈现电子样品凯夫拉Kevlar复合材料样品我们使用探测器在几秒钟内快速获取了凯夫拉复合材料的相衬图像。可以清楚看到单根纤维形态（左图）和纤维分层情况（右图）。凯夫拉尔复合物3维透视图 KA Imaging KA Imaging源自滑铁卢大学，成立于2015年。作为一家专门开发x射线成像技术和系统的公司，KA Imaging以创新为导向，致力于利用其先进的X射线技术为医疗、兽医学和无损检测工业市场提供最佳解决方案。公司拥有独家开发并自有专利的高空间高分辨率非晶硒（a-Se）X射线探测器BrillianSeTM，并基于此推出了商业化X射线桌面相衬微米CT inCiTe™ 。我们有幸在此宣布，经过双方密切的交流与探讨，众星已与KA Imaging落实并达成了合作协议。众星联恒将作为KA Imaging在中国地区的独家代理，全面负责BrillianSe™ 及inCiTe™ 在中国市场的产品售前咨询，销售以及售后业务。KA Imaging将对众星联恒提供全面、深度的技术培训和支持，以便更好地服务于中国客户。众星联恒及我们来自全球高科技领域的合作伙伴们将继续为中国广大科研用户及工业用户带来更多创新技术及前沿资讯！

锌精矿化学分析方法以往都是采用湿法化学或ICP/原子吸收法，今年新增了第22部分，采用波长色散射线荧光分析锌精矿中Zn, Cu, Pb, Fe, Al, Ca, Mg共七种元素。标准已于2021年8月1日开始实施。 GB/T 8151.22-2020 锌精矿化学分析方法第22部分：锌、铜、铅、铁、铝、钙和镁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 岛津全系列的波长色散X射线荧光可满足以上标准对锌精矿的测试要求。部分元素测试精度实例：

p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1948年，世界第一台波长色散X射线荧光光谱仪研制成功，经历了70多年的发展，X射线荧光光谱仪已成为大多数实验室及工业部门不可或缺的分析仪器设备，X射线荧光光谱分析技术已在各种科研和工业领域得到广泛的应用，而且正在向更深的领域发展，为经济建设和改善人类生活发挥越来越大的作用。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 为积极推动X射线荧光光谱的快速发展，展示X射线荧光光谱最新技术及应用， strong 由仪器信息网与国家地质实验测试中心联合举办的 a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" span style=" color: rgb(227, 108, 9) " & quot X射线荧光分析技术与应用新进展” /span /a 网络研讨会将于8月7日举行。 /strong 此次网络会议为参会者提供一个突破时间地域限制的免费学习、交流平台，让大家足不出户便能聆听到精彩报告。 /p p style=" text-align: center" a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/62470df2-4ee7-45bb-9913-8b302d9b4aee.jpg" title=" 192042020200705.jpg" alt=" 192042020200705.jpg" / /a /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" span style=" color: rgb(84, 141, 212) " strong 点击图片报名参会 /strong /span /a /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-size: 18px " strong 一、会议信息 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 主办单位： /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 仪器信息网 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 国家地质实验测试中心 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-size: 18px " strong 二、会议详情 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1. 会议时间：2020年8月7日 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2. 会议形式：网络在线交流 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 3. 报告专家及报告题目： /strong /p table border=" 1" cellspacing=" 0" cellpadding=" 0" style=" border-collapse:collapse border:none" width=" NaN" tbody tr style=" height:39px" class=" firstRow" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 39" width=" 79" p style=" text-align:center" strong 时间 /strong /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 39" width=" 326" p style=" text-align:center" strong 报告题目 /strong /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 39" width=" 258" p style=" text-align:center" strong 专家 /strong /p /td /tr tr style=" height:37px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 37" width=" 79" p style=" text-align:center" span 09:30--10:00 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 37" width=" 326" p style=" text-align:center" span X /span 射线荧光光谱分析新技术、新进展 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 37" width=" 258" p style=" text-align:center" 邓赛文 /p p style=" text-align:center" 国家地质实验测试中心 研究员 /p /td /tr tr style=" height:37px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 37" width=" 79" p style=" text-align:center" span 10:00--10:30 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 37" width=" 326" p style=" text-align:center" 需求催生的先进检测手段 span ----XGT-9000 /span 微区 span X /span 射线荧光分析仪 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 37" width=" 258" p style=" text-align:center" 周延民 /p p style=" text-align:center" span HORIBA /span 科学仪器事业部 & nbsp 技术主管 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 10:30--11:00 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span XRF /span 在环境监测领域的应用、问题及展望 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 李玉武 /p p style=" text-align:center" 国家环境分析测试中心 研究员 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 11:00--11:30 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span MWDXRF /span 技术在油品分析领域的应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 张程 /p p style=" text-align:center" 上海仪真分析仪器有限公司 产品经理 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 11:30--12:00 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span X /span 射线荧光光谱在冶金分析中的应用进展 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 孙晓飞 /p p style=" text-align:center" 国家钢铁材料测试中心 高级工程师 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 14:00--14:30 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span X /span 射线荧光光谱在建材样品分析中的新应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 刘玉兵 /p p style=" text-align:center" 中国建材检验认证集团股份有限公司 教授级高工 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 14:30--15:00 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span X /span 射线荧光光谱在传统工业中的新技术 span / /span 新应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 方瑛 /p p style=" text-align:center" 岛津 产品专家 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 15:00--15:30 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span X /span 射线荧光光谱在固体废物分析中的应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 朱瑞瑞 /p p style=" text-align:center" 湖南省生态环境监测中心 工程师 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 15:30--16:00 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span X /span 射线荧光光谱在现场分析中的应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 樊兴涛 /p p style=" text-align:center" 国家地质实验测试中心 副研究员 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 16:00--16:30 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" 手持式 span X /span 射线荧分析仪在合金及矿石行业中的应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 钟逸 /p p style=" text-align:center" 朗铎科技 span ( /span 北京 span ) /span 有限公司 技术支持工程师 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 16:30--17:00 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span XRF /span 在商品检测方面的应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 邱越 /p p style=" text-align:center" 原天津海关化验中心 工程师 /p /td /tr /tbody /table p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 报告嘉宾： /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong /strong /p p style=" text-align: center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/396c5c0b-3626-45fa-9112-b2541102124d.jpg" title=" 捕获.JPG" alt=" 捕获.JPG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-size: 18px " strong 三、参会指南 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong （一）报名方式： /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1、点击 a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" strong span style=" color: rgb(84, 141, 212) " “X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会 /span /strong （https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/） /a 官方页面进行报名。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2、报名开放时间为即日起至2020年8月7日。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 3、为使更多用户能够通过网络平台进行学习与交流，报名参加“X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会不收取注册及参会费用。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong （二）参会条件： /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1、“X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会将在仪器信息网网络会议平台上举办，报告人PPT视频和讲解将实时传送给所有参会者，参会者也可通过文字向报告人提问，报告人在报告结束后统一进行解答。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2、参与网络会议听众需要自备一台能上网的电脑或智能手机，网络带宽超过128K。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong （三）参会方式： /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1、报名参会并通过审核后，将会收到邮件通知，并在会前一天收到提醒参会的短信通知。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2、会议当天进入 a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" span style=" color: rgb(84, 141, 212) " strong “X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会 /strong /span （https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/） /a 官方页面，点击“进入会场”，填写报名时手机号，即可登录会场参会。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong /strong /p p style=" white-space: normal text-align: center " a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/62470df2-4ee7-45bb-9913-8b302d9b4aee.jpg" title=" 192042020200705.jpg" alt=" 192042020200705.jpg" style=" max-width: 100% max-height: 100% " / /a /p p style=" text-indent: 0em white-space: normal text-align: center " a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" span style=" color: rgb(84, 141, 212) " strong 点击图片报名参会 /strong /span /a /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-size: 18px " strong style=" text-indent: 2em " 四、联系方式 /strong /span strong br/ /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 会议联系人：吴编辑 18640355925 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 联系邮箱：wuyou@instrument.com.cn /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-size: 18px " strong 五、会议赞助商 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 岛津企业管理(中国)有限公司、 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 堀场（中国）贸易有限公司（HORIBA） /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 朗铎科技（北京）有限公司 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 上海仪真分析仪器有限公司 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp /p p style=" text-align: right text-indent: 2em " dir=" rtl" 仪器信息网 /p p style=" text-align: right text-indent: 2em " dir=" ltr" 国家地质实验测试中心 /p p style=" text-align: right text-indent: 2em " dir=" rtl" 2020年7月& nbsp & nbsp & nbsp /p

10.11直播！X射线荧光分析技术与应用新进展，大咖分享，不容错过！X射线荧光光谱仪已成为大多数实验室及工业部门不可或缺的分析仪器设备，其作为一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术，已经成熟运用多年。一般可用于分析固体、液体和粉状物，其可识别浓度范围较宽，最低可至百万分级，既可以提供被测样品的定性信息，也可以进行定量测量。具有分析速度快，可测量多种类型的元素及其在不同类型材料中的含量浓度，技术成本较低等优势。为积极推动X射线荧光光谱的快速发展，展示X射线荧光光谱最新技术及应用，仪器信息网将于10月11日举办"X射线荧光分析技术与应用新进展”网络研讨会。此次网络会议为参会者提供一个在线交流、学习平台，让大家足不出户便能聆听到精彩报告。会议日程会议时间报告题目报告人14:00-14:30X射线荧光光谱无标样定量分析方法及其应用卓尚军中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员14:30-15:00材料分析利器：赛默飞EDXRF产品+UniQuant无标分析软件居威材赛默飞世尔科技（中国）有限公司 XRF及XRD应用专家15:00-15:30X射线荧光光谱仪在地质野外现场中的应用樊兴涛国家地质实验测试中心 副研究员15:30-16:00EDXRF的多样化应用及新品介绍方瑛岛津 产品专家16:00-16:30X射线荧光准确快速分析及其在水泥生产质量控制中的最新应用刘玉兵中国国检测试控股集团股份有限公司中央研究院 总工/教授级高工16:30-17:00X射线荧光在钢铁（不锈钢）成分测定的应用及研究王化明酒钢集团不锈钢分公司 主任工程师/高级工程师演讲嘉宾（排名不分先后）会议报名点击下方链接或扫描二维码报名链接：https://insevent.instrument.com.cn/t/g5a 扫码报名赞助参会请联系扫码联系

近日，浙大城市学院预算158.59万元申请采购一台进口X射线残余应力分析仪，该设备的采购已经由归口部门科研处组织5名熟悉该产品性能的专家（含1名法律专家），进行了X射线残余应力分析仪的可行性论证及进口设备专家认证，现予以公示。详情如下：一、 采购人名称：浙大城市学院二、 进口产品公示编号：importedProduct202208743286259三、 采购项目名称：浙大城市学院X射线残余应力分析仪设备四、 申请理由该设备的采购已经由归口部门科研处组织5名熟悉该产品性能的专家（含1名法律专家），进行了X射线残余应力分析仪的可行性论证及进口设备专家论证，论证会就设备购置的理由和必要性进行了充分论述，同时对国内外厂商设备的技术参数进行了详尽的对比分析，并对设备采购后的使用效益进行了预期成果评估。在听取了采购单位的设备需求调研报告后，技术评审专家认为进口设备在探测器技术（进口设备:圆形全2维面探测器 VS 国产设备:1维线探测器）、2θ角度范围宽（进口设备:120°～169° VS 国产设备:144°～168°）、可测试材料种类（进口设备:可测试铁素体、马氏体、奥氏体、铝合金、镍合金、镁合金、钛合金、铜、钨、碳化钨等多种材料 VS 国产设备:标配Cr靶可测试材料种类为3种，含铁素体、奥氏体、铝合金等材料）、测试效率（进口设备:1次X射线入射即可完成残余应力测试 VS 国产设备:至少5~7次）、X射线管功率（进口设备:45W VS 国产设备:12W）、高精度（进口设备:基于500个衍射峰进行残余应力拟合 VS 国产设备:残余应力拟合采用的最多衍射峰数量为20个）等方面涉及多项技术专利，具有国产设备不可替代性。五、 论证专业人员信息及意见论证专业人员专家人员职称专业人员工作单位专家一教授重庆大学专家二副教授哈尔滨工程大学专家三副教授上海交通大学专家四副教授上海交通大学机械与动力工程学院专家五律师福建杰斐逊律师事务所专家一：X射线残余应力分析仪可实现材料的残余应力检测，对准确、全面的评估材料的表面力学性能有极其重要的作用。目前国际市场上，占有率较大的品牌有日本Pulstec，芬兰Stresstech等等。主要参数性能指标:1. 探测器技术：圆形全二维面探测器；2. 冷却方式：内置风冷。国内市场上的国产设备，占有率较大的国产品牌有邯郸AST，丹东Haoyuan等等。主要参数性能指标: 1. 探测器技术：一维线阵测器；2. 冷却方式：水冷。国产设备无法满足申请单位需求，具体体现在：1. 探测器技术：目前还停留在一维线阵探测器水平，而进口设备已圆形全二维面探测器技术；2. 冷却方式：水冷，设备产生的热量太大，需要水冷才能满足需求，产生热量大容易烧坏X射线管，有潜在的使用风险。综上，结合浙大城市学院对X射线残余应力分析仪探测器技术要求必须采用大尺寸圆形全二维面探测器且需要内置风冷的方式；同时在设备应用中，国产设备的测角仪装置会限制复杂形状样品的原位测量，对于复杂形状样品的测量难以胜任，而进口设备由于采用大尺寸圆形全二维面探测器技术，因此设备可避免传统测角仪装置带来的测试局限。因此，建议采购进口设备。专家二：X射线残余应力分析仪可对金属零件进行残余应力检测，通过对材料残余应力检测分析，可为材料的加工、处理等工艺的改善优化提供实验上的数据支持，促进实现材料表面改性。目前国际市场上，占有率较大的品牌有日本pulstec、日本Rigaku等等。主要参数性能指标：1. 标配Cr靶可测试材料种类：5种（含：铁素体、奥氏体、铝合金、镍合金、镁合金等材料）；2. 2θ角度范围：120°～169°。国内市场上，占有率较大的国产品牌主要是邯郸AST等。主要参数性能指标：1. 标配Cr靶可测试材料种类：3种（含：铁素体、奥氏体、铝合金等材料）；2. 2θ角度范围：144°～168°。国产设备无法满足单位需求，具体体现在：1. 标配Cr靶可测试材料种类：只能测3类材料，功能上不及进口设备；2. 2θ角度范围：范围比较窄，功能上不及进口设备更为宽。综上，结合浙大城市学院对铁素体、奥氏体、铝合金、镍合金、镁合金等多种材料的残余应力测试需求，以及需要较大范围的2θ角度范围（120°～169°）保证性能，因此建议采购进口设备。专家三：X射线残余应力分析仪可对各种金属工件进行残余应力测试表征，残余应力对工件的疲劳断裂、服役寿命等至关重要，可靠的残余应力数据获取对研究材料的失效行为有着极其重要的意义。目前国际市场上，占有率较大的品牌有日本pulstec、日本Rigaku等等。主要参数性能指标：1. 完成残余应力测试需要X射线入射次数：1次；2. 残余应力拟合采用的最多衍射峰数量：500个。国内市场上，占有率较大的品牌有丹东Haoyuan等。主要参数性能指标：1. 完成残余应力测试需要X射线入射次数：5~14次；2. 残余应力拟合采用的最多衍射峰数量：5~28个。国产设备无法满足单位需求，具体体现在：1. 完成残余应力测试需要X射线入射次数：需要多次才能完成残余应力测量，不如进口设备测试效率高；2. 残余应力拟合采用的最多衍射峰数量：只能达到几个或几十个的量级，不如进口设备的500个得到的数据信息丰富。综上，结合浙大城市学院高精度、高效的残余应力测试需求，需要1次X射线入射即可最多获取500个衍射峰用于残余应力检测分析，因此建议采购进口设备。专家四：X射线残余应力分析仪是对零件进行残余应力检测的重要科研设备。目前国际市场上，占有率较大的品牌有日本Pulstec、德国Huber等等。主要参数性能指标：1. 标配Cr靶可测试材料种类：5种（含：铁素体、奥氏体、铝合金、镍合金、镁合金等材料）；2. V靶可测试材料种类：4种（含：钛合金、铜、钨、碳化钨等材料）；3. 衍射信息呈现方式：支持3种模式（2D德拜环、3D德拜环、衍射峰）。国内市场上，占有率较大的国产品牌有AST、Haoyuan等等。主要参数性能指标：1. 标配Cr靶可测试材料种类：3种（含：铁素体、奥氏体、铝合金等材料）；2. Cu靶可测试材料种类：2种（含：钛合金、钨等材料）；3. 衍射信息呈现方式：1种模式（衍射峰）。国产设备无法满足单位需求，具体体现在：1）标配Cr靶可测试材料种类：只能测3种，不如进口设备的多；2）Cu靶可测试材料种类：只能测2种，不如进口设备的多；3）衍射信息呈现方式：只能采用1种模式，不如进口设备功能强大。综上，结合浙大城市学院对多种材料（铁素体、奥氏体、铝合金、镍合金、镁合金、钛合金、铜、钨、碳化钨）的残余应力测试及丰富衍射信息的需求，因此建议采购进口设备。专家五：（一）浙大城市学院拟采购的进口设备符合《政府采购进口产品管理办法》（财库【2007】119号）第三条以及《关于政府采购进口产品管理有关问题的通知》（财办库【2008】248号）二、三的认定情形。（二）该设备未列入商务部《限制进口机电产品目录》和《中国禁止进口限制进口技术条目》。（三）根据市场调研，国产设备在探测器技术、2θ角度范围、可测试材料种类、测试效率等方面存在数据不准确、可重复性差、效率低等问题，与进口设备相比存在较大差距，不满足采购单位需求。该设备属于国家的非限制进口仪器设备，符合国家相关进口产品的法律规定，建议该项目采购进口设备。六、联系方式1、采购人名称：浙大城市学院联系人：胡敏联系电话：0571-88011058地址：杭州市拱墅区湖州街48号2、同级政府采购监督管理部门联系人：厉先生监管部门电话：0571-89580456传真：0571-89580456地址：杭州市中河中路152号614办公室七、附件：进口专家意见论证.pdf