软射线分析谱仪

电子光学仪器上发射的电子束与样品发生复杂的交互作用，产生各种信号，收集不同信号进行分析，可以获得样品的各种不同信息。软X射线分析谱仪就是通过采集样品上被激发出来的软X信号进行分析的仪器。它的能量分辨率为0.3eV，远高于能谱仪（EDS)和波谱仪（WDS）的分辨率；对轻元素的定量分析非常准确，比如B元素的检出极限可达20ppm；还可以进行元素价态分析。将扫描电镜从以侧重图像为主的仪器变身为图像、成分、价态均可清晰表达的超级分析仪器。也将电子探针的分析能力大幅度提升。 详情请咨询日本电子株式会社在中国的全资子公司捷欧路（北京）科贸有限公司及其各分支机构。

欢迎来到元素分析的新时代极光Revontium紧凑型X射线荧光光谱仪极光兼具落地式XRF和ICP仪器的性能与台式仪器的诸多优势。极光占用的空间和造成的环境影响更少，减少了对耗材、大量样品制备和维护的需求，使用成本可以降低25%以上。在结果方面，其可提供可靠的元素数据，助力行业的可持续发展。极光特色功能一览具有正压功能的盖子可防止样品污染灰尘静音风冷消除了可能存在的管路溢水风险X射线管的Chi-blue涂层可增强防污染保护可测量多达32个直径为52mm的样品 使用的便利性：全新的全谱解析算法，可实现多材料宽元素范围图谱的全自动解析而无需人工干预，有效提升无标定量和复杂应用的分析结果可靠性；维护的可靠性：无漂移设计，内置多元素自动监控程序，可实现常见应用方法的自动漂移补偿；更高的分析精度：得益于先进的高压发生器、探测器通量、阳极距离补偿和热管理设计，Revontium可实现媲美高功率落地式光谱仪的精密度。

软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。产品规格能量分辨率0.3eV（Al-L 光谱图73eV处测试）获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区50-170eV获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区70-210eV分光谱仪艙安装位置：EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右侧）FE-SEM的WDS接口（正面左后侧）分光谱仪尺寸　W 168mm×D 348mm ×H 683mm* 从接口包括CCD的距离分光谱仪重量　25kg适用机型EPMA ： JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200SEM ： JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F

产品详情日本JEOL软X射线分析谱仪SXES 软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。产品规格： 产品规格 能量分辨率0.3eV（Al-L 光谱图73eV处测试） 获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区50-170eV 获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区70-210eV 分光谱仪艙安装位置： EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右侧） FE-SEM的WDS接口（正面左后侧） 分光谱仪尺寸　W 168mm×D 348mm ×H 683mm * 从接口包括CCD的距离 分光谱仪重量　25kg 适用机型 EPMA ： JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200 SEM ： JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F 产品特点： 软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。 系统简介 最新开发设计的分光系统，不需移动衍射光栅或检测器（CCD）就能同时获取不同能量的谱图。而且由于能量分辨率很高，还可以采集状态分析分布图 SXES、WDS、EDS的比较 各种分光方法中氮化钛样品的谱图 即使在WDS分析中氮化钛的谱峰也發生重叠，需要采取去卷积的数学方法处理。如下图所示，SXES具有很高的能量分辨率。 比较表 锂离子二次电池（LIB）分析实例 能观察到LIB的充电量 充满电后Li-K样品的谱图 说明: 由于理论上的原因，氧化锂的检测很困难 轻元素的测试实例 SXES测试碳素化合物的实例 可以测试金刚石、石墨、聚合物的不同。 各种氮素化合物的测试实例 氮素也可以根据波形分析化学结合状态。 硝酸盐和氮化物的波形完全不同，还能观察到易受电子束损伤的铵盐的独特波形。

仪器简介：软X射线光栅光谱仪 该系列的软X射线光栅光谱仪是McPherson公司最富盛名的产品，此类产品在全世界同步加速器以及核聚变研究方面的应用，已经成就了光谱测试领域的传奇，获得了一流科研院所用户的一致认可。 在这些光谱仪中，主要采用了掠入射光路设计，部分型号为经典的平场光谱仪。除主机外，还提供实验所需的周边附件，从而可以根据不同的实验需求，构成完整的测量系统。技术参数：波长范围光谱分辨率焦距长度 产品型号扫描功能多道检测功能光路设计1nm to 310nm0.018nm 1000mm248/310G有 有Grazing Incidence1nm to 90nm0.015nm1500mm 252/315有 有Grazing Incidence 1nm to 254nm 0.008nm2200mm247有 有Grazing Incidence1nm to 240nm 0.006nm3000mm249 有 有 Grazing Incidence1nm to 70nm0.002nm 10600mm 262无 有 Grazing Incidence1nm to 15nm0.007nm 70000mm 264有 无Grazing Incidence10nm to 170nm 0.05nm292mm251无有Flat Field Toroidal 1nm to 20nm0.02nm5649mm251MX无有Flat Field50nm to 320nm 0.1nm320mm343有 无 Toroidal

真空紫外 ～ 软X射线光谱仪总览 McPherson可提供掠入射极紫外光谱仪,C-T，S-N，正入射，平场掠入射，掠入射C-T等多种结构的光谱仪，满足不同的应用，覆盖红外 - 可见 - 紫外 - 真空紫外 - 极紫外 - 软X射线全波段。大多数光谱仪可以和Andor 真空紫外CCD相机配合使用，成为该波段的摄谱仪。同时，McPherson提供范围极为宽广的VUV - XUV 光源、真空内光学器件、真空快门、真空狭缝等等，并可组建完整的真空紫外光谱系统。 波长范围(nm)分辨率(nm)焦距(mm)型号结构扫描功能CCD/MCP适配成像超高真空（选项）30 - 2,2000.1200234/302像差矫正S-N●●●30 - 1,2000.05500235S-N●●●105 - 20,0000.04670207VC-T●●●●30 - 1,2000.0151,000205自动聚焦正入射●●●●30 - 1,2000.0251,000231S-N●●●105 - 20,0000.011,330209VC-T●●●●30 - 2500.0053,0002253自动聚焦正入射●●●●30 - 2500.0026,650265离面正入射●●●●1 - 3100.0181,000248/310罗兰圆掠入射●●●1 - 800.025,650251MX平场变栅距光栅掠入射●●8 - 1200.08800OP-XCT离面掠入射C-T●●●●8 - 1200.12,000XCT掠入射 C-T●●●●10 - 1700.05292251平场轮胎面光栅掠入射●●●离面掠入射C-T结构光谱仪234/302 S-N 结构光谱仪 XUV空心阴极光源真空紫外光谱测试系统

PI的X射线相机使用科学级，二维CCD探测阵列。每一个产品都融入了超低噪声电子电路，多读出口，多增益等非常优秀的工艺。高速读出的速度可以方便准直，聚焦，高速采集等操作；低速读出有利于低噪声精准的数据采集。 多增益可以在低噪声的同时提升图像的信噪比。我们的X射线相机具备16位的数模转换电路，工业标准的接口，方便搭建实践平台和OEM扩展。 PIXIS-XO 软X射线相机适用于紫外，深紫外的X射线相机高敏感度，热电制冷的PIXIS-XO相机有多款不同的深耗尽式和背照式CCD芯片，用于直接探测 ~30 eV and ~20 KeV 能量范围的X射线。 可旋转型的ConFlat 法兰的高真空设计，可软件选择的增益和读出速度，使得这款相机非常适合各种高真空的应用。 软X射线相机" height="210" src="https://img1.17img.cn/17img/images/202407/uepic/3d35cd72-7b7e-4506-a694-e298fa19232e.jpg" width="188" style="border:0px vertical-align:middle max-width:100% height:auto !important " PIXIS-XO具有以下优点:&bull 多样的芯片选择（1340 x 100 to 2048 x 2048 pixel arrays 13 x 13 µ m to 20 x 20 µ m pixel sizes）&bull 可探测范围：30 eV to ~20 keV&bull 可旋转的CF法兰接口&bull 灵活的双读出放大器&bull 高速USB2.0接口&bull LightField可实现全面的控制 产品综述探测到更多的X射线光子! PIXIS-XO相机致力于提供非常高的直接探测性能，广泛用于X射线谱仪，X射线成像，X射线显微镜，X射线等离子诊断，深紫外刻蚀技术。 伴随着众多可选的CCD格式，100%覆盖率，低噪声电子电路，-70℃ 到 -90℃的热电制冷等，PIXIS-XO为用户提供了方便快捷的实验操作和OEM条件。 产品特点可探测范围：30 eV to ~20 keV适合各类应用 高速USB2.0数据接口:任何电脑直接连接，无需额外硬件即插即用真正的16位数据传输能力，最高可达2MHz读出速度 可旋转的CF法兰盘: 方便准直X射线光路，提高成像和成谱质量。灵活的双读出放大器:灵活设置，优化实验高敏度ADC提供最低的读出噪声大容量ADC提供最高的动态范围最好的线性度 LightField的64-位操作平台:直观易上手的用户界面设计自动背景扣除，平场纠正和误差检测PICAM（64）位通用程序语言，方便的程序修改与编译 型号规格PIXIS-XO Direct Detection X-Ray相机型号比较和数据表型号像素像素尺寸传感器型号100B 1340 x 10020 x 20 μm背照式100BR 1340 x 10020 x 20 μm背照式, 深度耗尽400B 1340 x 40020 x 20 μm背照式400BR 1340 x 40020 x 20 μm背照式, 深度耗尽1024B 1024 x 102413 x 13 μm背照式1024BR 1024 x 102413 x 13 μm背照式, 深度耗尽1300B 1340 x 130020 x 20 μm背照式2KB 2048 x 51213.5 x 13.5 μm背照式2048B 2048 x 204813.5 x 13.5 μm背照式PIXIS-XO 直接探测型相机的量子效率* 有关各型号中可用的 CCD 类型，请参阅数据表。 产品应用1.X 射线等离子体诊断学热等离子体和高密度等离子体在基础物理学研究中具有重大意义，因为它们会产生许多有趣的现象。 2.软 X 射线显微镜软 X 射线显微镜用于成像和研究生物样本等的元素组成和结构。 3.超紫外线光刻技术超紫外线光刻技术保留了传统光学光刻工艺的外观和感觉（即使用 13.5 纳米波长），并使用相同的基本设计工具，因此越来越受欢迎。 4.X 射线光谱法X 射线吸收光谱是对材料中元素局部结构的一种特定元素探测。

软X射线的世界，“大”有可观 —Andor 发布4k×4k直接探测软X射线相机Andor 最新发布iKon-XL SO直接探测软X射线CCD相机，为您提供目前靶面最大、分辨率最高的软X射线直接探测成像设备，极大拓展软X射线成像的分辨率和视场，让您看得更宽，看得更细......软X射线相机技术参数： 4096×4112分辨率 15微米像素尺寸 61.7mm×61.7mm幅面 16MHz（4MHz×4）读出 -70℃深度致冷 背照及背照/深耗尽芯片 近红外 - 20keV直接探测 350,000 e- 满阱容量 USB3.0及光纤传输接口软X射线相机典型应用： 同步辐射托卡马克VUV/EUV/XUV成像X-Ray 显微相衬成像XRD激光等离子体/磁控等离子体诊断高次谐波与阿秒 Andor 直接探测系列相机：型号分辨率像素尺寸（微米）幅面（mm）可选芯片类型DO9341024×102413×1313.3×13.3FI, BN, BR-DD,FI-DDDO9201024×25626×2626.7×6.7FI, BN, BR-DDDO9402048×51213.5×13.526.7×6.7FI, BNDO9362048×204813×1326.7×26.7FI, BN, BR-DDiKon XL SO4096×411215×1561.7×61.7BN, BR-DD

仪器简介：软X射线探测器分为AXUV系列，SXUV系列 ，UVG系列 这三个系列，其中AXUV系列适用于真空紫外、极紫外和软X射线探测器。SXUV系列探测器是专门为高通量的光子探测设计的，如配合使用在第三和第四代同步加速器和准分子激光器。该系列二极管由超大规模集成电路制造而成。UVG系列PN结光电探测器可以实现100%的光生载流子收集效率，所以被使用在近紫外和真空紫外（600--160nm）。技术参数：AXUV系列 AXUV系列适用于真空紫外、极紫外和软X射线探测器，由于不同于常见的pn结二极管，这些二极管没有掺杂死区，加之零表面复合处理，可以在紫外/极紫外范围内，达到理想化的100%内部量子效率转化。 IRD还提供与Cr,W,Au,Fe,Al等滤光片耦合的探测器，可以达到探测指定波长的效果。 SXUV系列 由于在硅PN结光电二极管前耦合铂硅化物入射窗，使得探测器可以探测超紫外光子（能量范围4ev&mdash 12KeV）。这些探测器是专门为高通量的光子探测设计的，如配合使用在第三和第四代同步加速器和准分子激光器。该系列二极管由超大规模集成电路制造而成。 IRD还提供与Zr，Si3N4,Si,SiC,Mo,Al滤光片耦合的探测器，可以达到探测指定波长的效果。 当脉冲能量超过20mJ,IRD还开发了带衰减器的探测器，以减少UV/EUV脉冲射线对探测器的冲击。 UVG系列 UVG系列PN结光电探测器可以实现100%的光生载流子收集效率，所以被使用在近紫外和真空紫外（600--160nm）。与传统的二极管不同的是，这些二极管没有掺杂死区，加之零表面复合处理，可以在紫外/极紫外范围内，达到理想化的100%内部量子效率转化主要特点：1.软X射线可直接照射探测器，无需闪烁晶体做转换 2.按可检测X射线能量范围不同及应用的需要，分为AXUV,UVG和SXUV三大产品系列，最低可检测0.04nm的软X射线 3.快速响应的探测器，响应速度达到ps量级 4.多元阵列，积分放大电路，并可根据需要集成带通滤光片 5.四象限位置传感器（Quadrant PSD）

K-8000手持式合金分析仪 X射线荧光光谱仪 / 不锈钢合金分析仪 / 手持式合金测试仪 / 手持式铝合金检测仪 / 手持式金属检测仪 / 手持式X荧光分析仪 / 手持式金属元素分析仪 / 手持式钢材钢板合金分析仪 / 手持式合金钢分析仪 / 手持式合金分析光谱仪 / 国产手持式光谱仪厂家 / 国产手持式合金分析仪厂家仪器设计特点：1、散热性好：超过2/3的机体采用铝合金外壳设计，仪器顶部有的槽式散热装置，整个体系使散热非常有效，延长机器寿命, X射线分析仪工作更加更稳定，从而故障率极低。2、操作简单：仪器设计理念为简单经济原则，硬件方面采用固定高压、免去内部复杂电机和滤光片、外置316校准片等简单设计；软件采用傻瓜式操作界面。真正让客户用最少的成本获得更多的收益。轻轻3次屏幕点击即可做到45秒开机测试、0.8秒出牌号与含量；3、人性化设计：质量轻（1.6kg) 体积小（220mm*150mm*220) 坚固耐用防摔手腕绳；仪器底部电池电量反馈灯；顶部与底部辐射警告闪烁灯；菱形纹路软胶手柄；仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，无需手扶，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感；显示屏做到整机一体化设计，整机连体构造，PDA不可拆卸,可防尘,防雾,防水,故障低工业级高分辨率TFT触摸显示彩屏。4、测试数据精准：仪器软件采用成熟先进FP基本参数法，在分析合金前不需要预先知道合金种类，实现全自动分析标准库中有500多种标准牌号，能分析的合金高达万种，用户可自定义300种；不规则或小型样品的补偿性测试方法能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认；产品参数：重量净重1.50kg,上电池后1.65kg尺寸250mm*75mm*270mm(长*宽*高)激发源微型X射线光管与高压电源一体化装置标配:35KV固定高压、钨靶X射线光管、铝滤光片、无电机标配:50KV可变高压、铑靶X射线光管、6组滤光片、瑞士电机检测器标配:SI-PIN检测器(6mm2)，分辨率s190ev选配:SDD检测器(25mm² ) 分辨率≤129ev仪器电源可充电锂电池(7.2V\6600mAh) 标配2个电池1个充电器标准片KMX 316不锈钢校准片数据存储32GB大容量数据存储卡，可存储8万组数据及光谱图数据传输Type-C数据传输测试报告客户自定义格式EXCEL测试报表分析软件K-MAX Ally plus6.0,免费升级迭代软件仪器操作与安全仪器操作与安全操作:无需选择测试曲线开机即可测，一触式“扳机”或点击触摸屏“开始/停止” 安全:“一键式”检测,软件自动定时锁、自动停止测试功能 仪器外壳采用大面积铝合金框架设计，更好地屏蔽X射线辐射.分析元素范围标配Si-PIN探测器:(29种元素)钛 (Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf)、钽(Ta)、钨 (W)、铅(Pb)、铋(Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼 (Mo)、镉(cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼（Re)、铟 (In)、金 (Au)、银（Ag ）、铂(Pt)、钯(Pd)、钌(Ru)、铑 (Rh)、铱 (lr) 元素 选配SDD探测器:(34种元素)分析元素范围镁(Mg)、铝 (Al)、硅(Si)、硫(S)、磷 (P)、钛(Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁 (Fe) 、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf) 、钽(Ta)、钨(W)、铅(Pb)、铋 (Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼(Mo)、镉(Cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼 (Re)、铟 (ln)、金(Au)、银(Ag)、铂(Pt) 、钯(Pd)、钌(Ru)、铑(Rh) 、铱 (lr)元素

一． 用途 本机适用于轻金属薄板件，非金属材料、塑料件的无损探伤检验。通过X射线拍片法或通过实时成像系统，可以清晰准确地反映出金属薄板件的焊接质量和低原子序数物质的内部缺陷，能起到一般X射线机所起不到的优良效果。 二．结构特点 本机为阳极接地水冷式软X射线探伤机，其高压为全波整流电路。并有过电流、过电压等一系列安全保护装置，确保安全。 1、本机结构紧凑，可安装在实验室和车间固定处工作。 2、本机射线管焦点小、分辨率高，具有当前生产的所有高千伏x射线机不具备的优点。 三．技术数据 1、输入电压：220V，频率：50Hz 2、管电压：50千伏（峰值） 3、管电流：30毫安（平均值） 4、x射线管焦点：1×1或0.4×0.4 5、管功率：1.5千瓦 6、x射线圆锥角：40±1° 7、最大透照铝板：30mm。电压：50KVP，电流：20mA，焦距：700mm，灵敏度（无增感）：不大于1%（铝板） 8、冷却方式：水冷 四．组成部分 1、X光管：50KV，30mA 2、管套：固定x光管及图像增强器 3、主机控制部分 4、水循环系统（制冷水箱） 5、高压变压器（2KW） 6、高压电缆（60KV）

Xstress3000X射线应力分析仪主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。Xstress3000X射线应力分析仪技术规格：主控单元包括-电源-电子部件和固件控制单元-高压发生器-自循环液体冷却系统，不需外部供水-确保安全所需的所有互锁装置控制残余压力控制残余应力残余奥氏体测量实验室精度不需切割试样Xstress3000X射线应力分析仪探测器在几何系统的入射线两侧对称安装了高精密度的MOS线性成像探测器角精度：0.014°-0.057°象素软件Windows操作系统Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产便携式X射线应力分析仪和汽车变速箱烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。

X射线衍射分析软件XROCK简介： XROCK衍射分析软件是针对粘土和全岩石油地质工作人员设计，用于对矿物、全岩，粘土，伊利石结晶度和白云石有序度等地质样品的衍射数据进行分析的，满足SYT 5163-2018 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法标准的要求。 在石油及地质行业衍射谱图解释虽然有标准的详细指导仍然比较繁琐，如果是批量样品将是个巨大的工作量。在保证分析质量的前提下如何快速完成任务就需要XROCK分析软件的帮助。xrock基本实现了谱图处理的主要功能。 可以打开几十种谱图文件格式，甚至可以导入未知格式文件，平移缩放，背底，光滑，寻峰，积分，拟合，去除Ka2等功能，有PDF数据库可以物相检索。XRock开发了符合石油地质行业标准SYT 5163-2018的多个功能模块。主要功能： 全岩分析模块 粘土分析模块 伊利石结晶度分析模块 白云石有序度分析模块 快速全谱拟合矿物成分分析模块软件特点： 功能模块严格执行有关标准 软件算法思路清晰 主观见解在软件上自由体现 软件操作自动化辅助 软件操作简单化，用鼠标即可完成 大幅缩减谱图解释时间，消除谱图解释工作量软件安装环境：winXP,win7，win10

便携式X射线表面残余应力分析仪主要对各种多晶体材料进行残余应力和残余奥氏体分析和研究，它以计算机为中央微处理机，采用高精度探测技术、数据准确和可靠，不需要水冷，方便安装和移动使用，系统灵敏度高，适合测量的材料范围广，配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力，便携方便，可在实验室和野外现场测量。残余应力分析仪主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。广泛应用于航空航天、电力、核工业、汽车、铁路交通和石油化工等。便携式X射线表面残余应力分析仪技术参数：■ 采用微软Windows界面，功能强大 ■ 可采用随意设定测量条件、测量、计算和其它功能的操作可同时进行。 ■ 具有RS232接口。可与其它微机、打印机联机。 ■ 提供友好菜单驱动操作 － 残余奥氏体测定 － 材料参数数据库 － ASTRIM三维应力分析 ■ 包括： － 电源 － 控制电子部件和固件 － 高压发生器 － 自循环液体冷却系统，不需外部供水 － 确保安全所需的所有互锁装置 ■ 设计紧凑，超级便携性，可使用于工厂、车间、工地和实验室等多种应用■ 固态位敏正比计数管 ■ 先进的直接暴光光学探测器的采用，可准确，迅速地记录衍射峰，在几秒内就可完成一次精确测量 便携式X射线表面残余应力分析仪X射线管 微型，5～30KV/0～6.7mA/200W可调，Cr，Cu，Co，Fe，V，Ti，Mn等各种 靶材，Cr靶X射线管可作为标准件提供。无需专用工具，X射线管能在10分钟内更换完毕。

产品介绍Dhyana XF95（简称：XF95）是鑫图开发的专业软X 射线腔内/ 腔外sCMOS 相机。它们在对应的80-1000 eV 光子能量范围内近乎达到了100% 的高量子效率水平，已成功应用于国内外多个同步辐射相关研究项目中。近100%量子效率 @ 80eV-1000eV采用新一代无抗反射镀膜背照式sCMOS芯片，在对应80eV-1000eV光子能量范围内量子效率大幅提升，整体超过了90%，部分波段达到了近乎100%的超高水平，具有更专业的软X射线、极紫外成像性能和抗辐射损伤能力。10⁻ ⁷ Pa 真空兼容度 采用鑫图先进制冷密封技术，真空兼容度最高可达10⁻ ⁷ Pa的超高水平，制冷深度最高可达-50℃@20℃，可大幅降低相机暗电流噪声，提升长曝光应用时间。高速高动态成像优势背照式sCMOS技术成像速度是CCD技术的数十倍，并整体呈现出非常高的动态范围优势。如图所示，其在采集在软X射线衍射图例中，其衍射级数达到6阶的极大值。型号Dhyana XF95传感器类型无抗反射镀膜背照式sCMOS传感器型号Gpixel GSENSE400BSI / EUV-Enhanced GSENSE400BSI峰值量子效率~100%彩色 / 黑白黑白对角线尺寸31.9 mm有效面积22.5 mm x 22.5 mm分辨率4 MP, 2048 (H) x 2048 (V)像素尺寸11 μm x 11 μm满阱容量典型值: 90 ke-动态范围90 dB光谱范围80-1000 eV 200-1100 nm帧率HDR: 24 fps STD: 48 fps读出噪声高增益: 1.6 e- (Median)快门类型卷帘曝光时间21 μs ~ 10 s线性度 99%DSNU2.00E-01PRNU0.3%位深12 bit, 16 bit制冷方式风冷 , 水冷最大制冷温差低于环境温度 70 ℃暗电流0.1 e-/pixel/s @ -50 ℃真空兼容度10-7 Pa (Max)Binning2 x 2, 4 x 4ROI支持时间戳1 μs触发模式硬件,软件外触发输出曝光开始, 全局, 读出结束, 高电平, 低电平触发接口SMA数据接口CameraLink , USB 3.0法兰尺寸DN100CF / 接受客户定制电源12 V / 8 A功耗40 W相机尺寸103 mm x 103 mm x 152 mm重量3900 g软件Mosaic, Samplepro, LabView, Matlab, Micromanager, MetaMorphSDKC , C++, C#操作系统Windows , Linux操作环境温度 0~40 °C , 湿度 10~85%

SH407B X荧光射线硫分析仪采用能量色散原理,机电一体微机化设计,分析快速、准确。其重复性、再现性都符合国家标准GB/T 17040-2008《石油产品硫含量测定法（能量色散X射线荧光光谱法）》和GB/T 11140-1989《石油产品硫含量测定法（X射线光谱法）》GB/T17606 原油中硫含量的测定 能量色散X-射线荧光光谱法的相关要求,同时完全符合美国国家标准ASTMD4294-02的要求。 SH407B荧光硫分析仪主要测量原油、石油、重油、柴油、煤油、汽油、石脑油的总硫质量百分比含量，也可测量煤化工产品（例如初级苯）、其它液体样品中总硫或硫化合物含量；还可细粉末样品中总硫或SO3含量的测定等等.符合GB/T17606。 X荧光射线硫分析仪SH407B石油产品测硫仪 主要技术特点● 采用进口SDD探测器，分辨率小于125eV，计数率最高2000kcps；● 30W微焦斑薄铍窗X射线管；● WISMAN 30W X射线管精密高压电源，高压稳定度每8小时波动值小于0.05%；● 8寸宽视角电容触摸屏（1024*768）显示,背光亮度可通过软件设置，无需键盘，界面简洁美观 ● 检测品种广,检测量程宽,分析速度快,无需化学试剂 ● 采用荧光强度比率分析方法, 温度、气压自动修正 ● 仪器的自动诊断功能,判断仪器的工作状态和电气参数 ● 封闭式定向风冷散热，保证X射线管工作温度稳定，延长使用寿命；● 优化光路设计，软、硬件可靠性进一步提升；● 数据存储量大,方便用户读取数据；X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证辐射安全。主要技术参数及指标● 测量范围: 硫0.0005%～5% (5ppm-50000ppm)● 测量时间: 120-240秒 ● 单样品自动测量,测量重复次数: 1、2、3次任意设定,测量结束给出平均值和标准偏差 ● 重复性(r):＜0.4347 X0.6446 (X=两个重复试验结果的平均值) ● 再现性(R):＜1.9182 X0.6446 (X=两个单一、独立试验结果的平均值) ● 样品量:5ml～6ml ● 仪器可存储10条标定曲线 ● 工作条件: 温度:10～30℃ 相对湿度:≤85%（30℃） 电源:AC100-220V/50Hz；额定功率:≤50W ● 尺寸和重量: 460*260*260mm3 重量：11kg。● 仪器包装尺寸 340*545*345mm3 纸箱包装重量：11kg● 标配配件包装 550*135*335 mm3 重量：3kg 装 箱 清 单序 号名 称数 量单 位1X荧光油品硫分析仪主机1台2三芯电源线1根3样品杯200套4样品杯膜2盒（100张/盒）5防漏油部件(二件一套)1套6多功能压件(二件一套)1套7打印纸2个8标定（校准）标准样品1套

仪器简介：Simultix 14是理学公司最新奉献的多道同时分析式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 Simultix 14是多道同时分析式荧光光谱仪，分析速度快，分析精度高。 Simultix 14可以同时最多分析40种元素。 可以对4Be到92U进行分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%。 可以分析材料的领域包括：钢铁、有色金属合金、水泥、化学工业、能源、农业、商品、环境保护等。主要特点：1、 最多可以同时分析40种元素，可以包括1个重元素扫描道、一个轻元素扫描道 2、 高灵敏度、高精度分析 新开发的分光器，高灵敏度、低背景 高计数电路设计，计数率是传统型仪器的2倍，进一步提高高含量区域的分析精度。 接触式样品定位装置，可以消除样品面的定位误差，确保测量数据的重复性。 3、 小型化、超高速 高速样品传送系统(理学专利) 小型化设计，占地面积仅1m2 4、 更加适合超轻元素分析 采用新开发的人工晶体，不仅提高了C、B的分析精度，而且使Be分析成为可能。对数螺旋方式的弯曲晶体，可以大型化加工，灵敏度高于其它弯曲方式 可以选用适合轻元素的X光管 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 5、 确保分析精度 内置恒温化装置，可以保证内部温度不变 更迅速、更可靠的真空装置 X射线光闸，可以延长探测器的寿命 芯线清洗装置，仪器照常运转，根据计算机屏幕进行简单操作，即可准确有效地清洗芯线，保证计数器在最佳状态运行。 气体密度稳定器(GDS)，可使检测器的脉冲高度值保持稳定，对轻元素分析稳定性最为有效 6、 简单易懂、使用方便的软件系统 程序选择画面简单 运行状态显示 多任务、多窗口 自动组选择 定量分析 校正曲线的作成 背景校正 定性分析 7、 出色的保养维护功能 在荧光屏上显示仪器的状态 可以显示故障内容及排除方法 8、 标准8样品进样器ASC8，选件可以提供ASC20、ASC50、ASC100

欢迎来到元素分析的新时代极光Revontium紧凑型X射线荧光光谱仪极光兼具落地式XRF和ICP仪器的性能与台式仪器的诸多优势。极光占用的空间和造成的环境影响更少，减少了对耗材、大量样品制备和维护的需求，使用成本可以降低25%以上。在结果方面，其可提供可靠的元素数据，助力行业的可持续发展。极光特色功能一览具有正压功能的盖子可防止样品污染灰尘静音风冷消除了可能存在的管路溢水风险X射线管的Chi-blue涂层可增强防污染保护可测量多达32个直径为52mm的样品 使用的便利性：全新的全谱解析算法，可实现多材料宽元素范围图谱的全自动解析而无需人工干预，有效提升无标定量和复杂应用的分析结果可靠性；维护的可靠性：无漂移设计，内置多元素自动监控程序，可实现常见应用方法的自动漂移补偿；更高的分析精度：得益于先进的高压发生器、探测器通量、阳极距离补偿和热管理设计，Revontium可实现媲美高功率落地式光谱仪的精密度。

X射线便携式残余应力分析仪器可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。 X射线便携式残余应力分析仪器主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。X射线便携式残余应力分析仪器主要应用领域：船舶、电力、石油化工、锅炉压力容器、冶金、机械制造、核工业、石油、科研机构、大学等。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产便携式X射线应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。北京华欧世纪光电技术有限公司代理各类X射线应力分析仪，残余应力检测分析仪，残余应力测定仪，残余奥氏体检测仪，激光小孔法应力分析仪，磨削烧伤检测仪，热处理硬度分拣仪，曲轴表面质量检查仪，凸轮轴表面质量检查仪，轴承表面质量检查仪，齿轮表面质量检查仪，变速箱烧伤检测仪，飞机起落架烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。

仪器简介： 在工业及科研领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析，同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度，非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX　X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。 　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX　适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX　也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。 　　SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。技术参数：&bull 激发 - Mo 靶X光管 最大功率：30W,最大电压：48kV - 测量点尺寸 Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm 样品室 - 可显示样品的摄像系统(可调焦) - 手动调节样品台，样品定位简便 - 马达驱动精确移动的XYZ样品台， 最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3&rsquo &rsquo (宽x深x高)， 最大样品重量：3kg/6.6 lbs 计算机 - 外置式计算机系统，Windows 操作系统， - 键盘，鼠标，显示器，打印机 - 菜单式软件，光谱仪参数调整和 数据评估及计算，元素成分及分布显示 检测器 - Peltier 冷却的Si 漂移检测器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2 - 以Mn K&alpha 线，在测量计数率为 10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM 160 eV - 微处理器控制的检测器和读出电路 - 脉冲计数率可达250，000 cps 光谱仪数据 - 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz, - 光谱仪能耗：200W - 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm 580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1&rdquo - 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 &rdquo - 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置 分析 - 用于合金元素分析的基本参数程序FP + - 塑料及复合材料的RoHS指令检测 环境条件 - 周围环境温度：5-30° C （41-85° F） 在20-25° C （68-77° F）下，可达到标定仪器性能 - 在 25° C (77° F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘主要特点： SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代专利产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。 1 超大样品室● 长：520 mm(20.5 '')● 宽：310mm(12'') 2 微聚焦分析，不需要破坏 3 自由样品台. &bull 创新点 &bull 1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线，集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制，代表性强，实用性强，准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。 2.采用高分辨，高计数率，电制冷的SDD检测器，实际分辨率160eV，计数率高达250,000cps，非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单，无需繁琐而危险的液氮添加过程。 3.激光配合CCD摄像机双定位，样品分析点可视，可调。定位精度高。分析点的照片可截屏，出具报告时可以粘贴在报告中。 4.分析速度快，可在180秒内完成各类样品的分析任务 5.可选配狭缝交换器，测试点的尺寸可调，由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分，一般分析点的尺寸为1毫米。 6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台，完成点，线，面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。 7.超大样品室，可完成超大样品的分析，样品的尺寸可以达到300*200*150mm（长*宽*高）。同时可完成超小样品1mm样品的分析

产品简介hiXAS提供了完整的基于实验室拓展X射线精细结构吸收谱(EXAFS)和X射线近边结构吸收谱（XANES）的解决方案。在较小的占地面积内，它集成了X射线光管光源、高分辨光谱仪、光子技术像素化X射线探测器，以及用于仪器控制和数据的分析的控制软件。由于hiXAS的光谱质量于同步辐射测量的结果相当，使得冗长的同步辐射测量机时申请和等待变得不再有必要。X射线光管光源和光谱仪可以覆盖的能量范围为5-12KeV，因此包括了3d过度金属的K吸收边。专门优化的HAPG Von Hamos光谱仪结构可以获得极高信噪比的光谱。因此，可分析的样品浓度可以低至数个质量百分比。同时光谱仪在覆盖的吸收边范围内，保持很高效率和恒定的高分辨率（E/ΔE = 4000）。我们还可以根据您的各种应用需要，提供定制化的hiXAS系统。hiXAS可用于EXAFS和XANES测量的元素范围。HiXAS可以在几分钟的时间内测量出分析物浓度仅为几个重量百分比的稀释样品。主要参数核心元件X射线光管光源von Hamos HAPG 光谱仪光子计数，像素化X射线探测器能量范围5-12keV样品浓度低至 数个质量百分比样品安装多样品转轮占地尺寸2.0m x 1.0m软件套件集成系统控制，各种光谱校准和分析功能EXAFS 模式XANES 模式光谱分辨能力1800*4000*（*整个能量范围内不变）能量带宽1000eV300eV采集时间3分**8分钟**（**归一化分析物浓度）主要应用化学形态分析和浓度比复合物研究催化剂分析短程有序和键长确定测量结果Cu箔样品X射线吸收测量，采集时间:3分钟含样品，1.5分钟不含样品C. Schlesiger et al, Recent progress in the performance of HAPG based laboratory EXAFS and XANES spectrometers, J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020)

Dhyana XV95（简称：XV95）是鑫图开发的专业软 X 射线腔内 / 腔外 sCMOS 相机。它在对应的 80-1100 eV 光子能量范围内近乎达到了100% 的高量子效率水平，已成功应用于国内外多个同步辐射相关研 究项目中。经典应用： 软 x 射线散射 / 光谱 极紫外光谱 叠层衍射成像 高次谐波辐射量子效率： 产品尺寸：mm 技术参数：型号 Dhyana XV95芯片型号 Gpixel 400BSI(Non-ARC)/Gpixel 400BSI(Normal)芯片类型背照式sCMOS 峰值量子效率~100%@80-1000eV/95% @200-1100nm彩色/黑白 黑白对角线尺寸 31.9mm 有效面积22.5mm x 22.5mm分辨率 2048(H) x 2048(V)像素尺寸 11μm x 11μm满阱容量 典型值：90ke-动态范围 90 dB光谱范围 80 ~1000 eV/200 ~1100 nm帧率 HDR: 24 fps STD: 48 fps读出噪声 典型值：1.6e-(Median)快门类型 卷帘曝光时间 21μs~10sDSNU 99% PRNU 0.2e-线性度 99% 位深 12 bit, 16 bit制冷方式 水冷最大制冷温差 低于环境温度 70 ℃暗电流 0.1e-/pixel/s @ -50 ℃真空兼容度 10-6 Pa (Max)Binning 2 x 2, 4 x 4ROI 支持时间戳精度 1 μs触发模式 硬件 & 软件外触发输出 曝光开始, 全局, 读出结束, 高电平, 低电平触发接口Hirose数据接口 USB3.0法兰尺寸 后穿墙盘 DN100CF/ 用户可定制 电源12V / 8A功耗 100W相机尺寸 110mm x 110mm x 156mm重量 ~3700g软件 Mosaic, Samplepro, LabView, Matlab, MicromanagerSDK C, C++, C#操作系统 Windows / Linux操作环境温度 0~40 °C, 湿度 10~85%储存环境温度 -10~60 °C, 湿度 0~85%

产品简介首台一体化桌面NEXAFS系统不在需要申请和等待同步辐射机时用于地质、生物、材料研究的化学态分析同步辐射级的光谱质量proXAS是一台实验室级别NEXAFS测量的系统。 现在可以在科研人员自己的实验室进行获得快速，准确的元素指纹分析。 它结合了高度可靠的激光驱动等离子体XUV光源和定制的具有1900极高分辨能力的光谱仪。200-1200eV的能量范围允许分析C，N，O，Ca，Ti等元素边。主要参数光源无碎片的激光驱动 XUV 光源能量范围200-1200eV / 1-6nm重复频率25Hz光源功率稳定性±1.5%光谱仪像差校正平场光谱仪分辨率1500样品安装多样品转轮占地面积1.5m x 1.0m软件套件集成系统控制，各种光谱校准和分析功能主要应用l 表面科学l 地球化学中的化学状态分析l 电子结构与氧化态分析测量结果左图是用桌面系统测试200nm聚酰亚胺薄膜的碳K边NEXAFS光谱（60发脉冲平均值）。右图为桌面系统测试结果与同步辐射测试结果的对比。(data courtesy of Dr. K. Mann, IFNANO)

Xstress3000X射线衍射法应力分析仪能快速检测齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。　Xstress3000X射线衍射法应力分析仪进行长途运输前，要安装角形支架，可以防止x射线管套在运输途中受震而移位。在重新使用x射线应力仪前，请务必先拆除这个角形支架，否则会烧损伺服电机。在联接高压电缆时，注意高压管头不要粘有杂物（如果有必要，可以用酒精擦拭高压管头，在联接主机前，一定要保证管头干燥。）。平时，不要用手触摸白色陶瓷部分和前端金属头，拆下电缆后，要即时安装上黑色保护套。应力分析仪主要对各种多晶体材料进行残余应力和残余奥氏体分析和研究，以计算机为中央微处理机，采用高精度探测技术、数据准确和可靠，不需要水冷，方便安装和移动使用，系统超高灵敏度，适合测量的材料范围广，配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力，便携方便，可在实验室和野外现场测量。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。主要特点：具有自动校准功能，方便操作自动对焦功能，可以根据物体距离自动调节激光定位：保证了测量的准确性设备重量轻，方便携带测角仪有效的避免了探臂式结构的干扰现象

公司介绍：成立于2008年的greateyes，是以德国柏林洪堡大学的技术为基础，迅速发展成为国际知名的先进探测器生产企业。如今，其科研与工业客户群体已遍布多个国家。greateyes开发、生产并销售高性能科学相机。其作为精确探测器，被广泛应用于成像与谱学应用领域。同时，greateyes公司也生产用于太阳能产业的电致荧光与光致荧光检测系统。 产品介绍：greateyes基于独特的平台概念，可为真空紫外（VUV）、极紫外（EUV）、软X射线和硬X射线成像与谱学客户提供一系列科学级真空相机。该系列相机由不锈钢或铝制成，提供优异的真空兼容性。单个附加法兰集成了半导体制冷和水冷通道。入射光子由CCD传感器直接探测。 所有 greateyes 相机结合科学级CCD传感器与超低噪声电子技术，以优化检测弱信号能力。选择不同的光谱灵敏度和传感器技术，为您的成像和光谱应用找到最佳解决方案。该系列CCD相机采用多级的半导体制冷方式。同时，其具备丰富的功能，包括灵活的像素联用方式，多种触发以及同步模式，软件可切换增益以及CCD传感器和散热系统的温度监控。 主要特点： 结构紧凑灵活的联用模式量子化效率高达98%满井容量高达700.000 eˉ可切换增益设置深度制冷温度低至-70°C读出噪声最小低至2.4 eˉ16 bit 动态范围真空水冷 性能参数：

传统原位载台仅能够提供样品表面在拉伸或压缩情况下结构的变化，而搭载在X射线显微分析系统的原位拉伸载台则能够提供样品内部结构及物理性能变化的过程，通过结合X射线显微分析系统和具备原位加热或冷冻耦合功能的拉伸压缩系统则能够提供样品在力场及温度场条件下独特的三维原位分析能力。该系列原位载台系统专为X射线显微分析系统开发，能够提供拉伸及压缩功能，同时覆盖几N到20kN载荷范围，同时可以提供100Nm的扭转功能。低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料，高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品，我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。该系列载台依旧可以提供3点及4点弯曲夹具，以及压缩夹具选择。通过采用基于Windows操作系统的软件进行精准控制，载台与控制电脑通过USB或RS-232接口进行连接。同时也可以提供单独加热或冷冻载台，该类载台可以用来分析冷冻样品或进行原位变温实验。l 加载范围 20kN/0.1KNml 拉伸，压缩，扭力l 加热&冷却l 液体&气体氛围腔室应用领域：低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料，高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品，我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。CT5000原位载台系统在地质材料中的应用作为UGCT联合创始人的Veerle Cnudde教授领导的地质材料多尺度孔隙结构分析课题（PProGRess），其研究组利用该技术对地质材料中多尺度孔隙结构变化过程的研究来进行岩石在地质运动及成藏反应中显微结构的变化及演进过程分析。UGCT实验室的X射线显微分析系统搭载了Deben CT5000原位拉伸/压缩载台，得益于该载台能够让Veerle Cnudde教授的实验方案得以实施。咨询Veerle Cnudde教授为什么选择Deben的CT5000原位载台，其回答到：“CT5000系列原位X射线载台系统作为为数不多的原位载台系统，其强大的适配性能够完美满足我们不同类型的实验需求，目前该载台能够实现在高载荷条件下岩石不会炸裂开，结合提供多种定制化夹具设计能力，则能够提供满足不同尺寸及不同拉伸距离所需的样品夹具，这是也目前为什么UGCT实验室两台X射线显微分析系统均配备CT5000系列原位载台系统的原因。”CT20kN开放式拉伸载台系统在奥本大学安装测试成功美国阿拉巴马州奥本大学安装了Deben开放式原位拉伸载台，该载台可以实现拉伸、压缩和扭转测试，能够施加高达20kN的力，专为同步加速器和X射线显微成像系统设计的，该大学将开放式原位拉伸载台与其Pinnacle型号PXS-500/90 CT系统集成在一起，并已经计划在新的开放框架系统上运行一系列原位载荷测试。CT5000原位载台系统在均质材料研究中的应用Fredrik Forsberg博士是瑞典吕勒奥理工大学工程科学与数学系的副高级讲师，他在X射线显微成像实验室的研究目标是开发新的方法和新的分析工具来帮助更好地了解异质材料以及它们在不同环境和不同空间尺度下的物理行为。Forsberg博士描述了他最近使用这种实验装置的一个项目：“我们非常自豪的分享最近的一项对微尺度雪晶体的3D定量原位成像研究，以及它们对压缩载荷测试的反应。这项研究相当具有挑战性，需要大量的仔细规划，但目前实验结果非常好。如果没有Deben公司CT5000TEC原位载台系统，这些测量将很难实现，因为它们需要精确、同时控制机械负载和温度（冷冻能力）。以前，我们主要使用自己构建的测试载台，但是这些都没有温度控制，同时使用Deben原位载台系统的另一个巨大好处是非常方便使用不同载荷传感器，这些载荷传感器可以根据材料强度和应用需求进行选择。此外，该软件界面易于使用，并得到蔡司Scout and Scan软件的支持，该软件用于控制型号为Versa的X射线显微镜。”

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

多元素分析高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF)高性能XRF台式机PHECDA-HE&HES1.概述高灵敏度X射线荧光光谱仪（HS XRF® ） 型号：PHECDA-HES型号：PHECDA-HE核心技术： 硬件：单色化聚焦技术HS XRF® 软件：快速基本参数法Fast FP® &bull 硬件核心技术：单色化聚焦激发技术 全聚焦双曲面弯晶将X射线管出射谱某一特定波长单色化并聚焦衍射至样品点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在连续散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。 &bull 软件核心技术：快速基本参数法快速基本参数法Fast FP2.0 XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题，对于不同类型样品的定量分析带来挑战。 基本参数法是当前X射线荧光领域的研究前沿， 快速基本参数法（Fast FP® ）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型，基本参数法充分计算X射线光产生的各种效应，减少分析误差，通过少量标准物质（或定值样品）的校正得到更为精确的元素定量结果。&bull 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案：解决方案解决问题应用特点应用领域土壤无机元素分析 &bull 满足《GB15618-2018土壤环境质量农用地土壤环境污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 满足《GB36600-2018土壤环境质量建设用地土壤污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 各类土壤与沉积物中50多种无机元素含量分析 &bull 优化镉的检出能力，土壤镉的检出限达到0.06mg/kg &bull Fast FP算法消除土壤基体差异，达到土壤无机元素精确定量分析环境监测、地质地矿、土壤检测、大学科研水质重金属检测 &bull 满足地表水、地下水、生活饮用水、企业排污水等重金属限值含量检测 &bull 环境水质污染事件重金属含量现场快速检测 &bull 重金属富集膜片技术（HMET）与HS XRF联用，将水质重金属检出限降低至1-3ug/L环境水质应急监测、环境水质现场检测固废重金属检测 &bull 满足固废中27种毒性元素和7种氧化物快速定量分析 &bull 危废鉴别-毒性元素含量分析 &bull Fast FP对各类固体废物的基体自适应 &bull 样品处理简单，快速定量分析环境监测、环境司法鉴定、科学研究、固废处理企业PM2.5无机元素分析 &bull 满足《HJ 829-2017 环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》 &bull 提供从PM2.5无机元素分析到污染源溯源数据分析 &bull PM2.5膜片中三十几种无机元素含量快速含量分析 &bull Fast FP完成无标样（或少标样）情况下PM2.5膜片元素含量分析 环境监测、空气污染源调查、科学研究食品重金属快速检测 &bull 满足《GB2762-2017食品安全国家标准 食品中污染物限量》中部分食品重金属限量值检测要求 &bull 水产品、肉类、调味品、水果蔬菜、粮食、茶叶等食品及其制品中铅、镉、砷、铬、镍、锡等重金属含量检测 &bull 提供全套食品前处理设备与方案，样品处理简单，检测速度快 &bull Fast FP软件对各类食品基体的自适应 &bull 与实验室参比方法高度一致性食品安全领域、公安系统食品安防、海关食品监管矿石全元素分析 &bull 铁矿石、铅矿石、铜精矿、锰矿石等无机元素含量分析 &bull 矿石中有害元素（铅、砷、汞、镉等）含量分析 &bull 稀土元素含量分析 &bull 提供现场矿石元素含量整体解决方案 &bull Fast FP算法对各类矿石产品的精确定量分析能力地质、矿产、有色、海关 中药重金属含量检测 &bull 满足中国药典规定的中药重金属（铅、镉、砷、铜）限量值含量检测要求 &bull Fast FP算法对各类中药基体的适应与背景扣除 &bull 快速、简单、精确中药行业石化产品中金属元素含量分析 &bull 满足汽柴油产品中铁、锰、铅限量值含量检测 &bull 润滑油、机油、汽柴油等各类油品中金属元素含量分析 &bull 对石化产品中金属元素检出限达到0.1mg/kg水平 &bull 二十多种金属元素同步分析石油化工水泥窑协同处置 &bull 满足环保和建材行业对水泥窑协同处置中规定的从生料、熟料到水泥及水泥浸出物的重金属元素含量检测 &bull 水泥工业全元素（钠、镁、铝、硅、铁、钙、氯等）含量分析，分析添加材对水泥质量影响的判断 &bull Fast FP算法对各类样品基体的自适应 &bull 重金属膜片富集技术（HMET）满足水泥熟料浸出物中重金属含量检测建材工业、水泥企业 2.特点 高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。 2.1 单色化聚集激发技术 高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射线的信噪比。 2.2采用高性能SDD探测器 硅漂移探测器（SDD）是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件，其性能取决于晶体面积、窗口材料、计数率、分辨率等，PHECDA 系列采用当今高性能的SDD探测器，确保元素分析性能。 2.3 Fast FP算法 （1）XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关，也与其它元素含量有关，这就是所谓的基体吸收-增强效应，而这种物理效应，使得选择合适的标准样品成为困难，若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围，就会对实际样品分析带来误差。 （2）基本参数法（Fundamental parameters method）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到更为精确的元素定量结果。 2.4 优化镉元素检出能力 镉是有毒重金属，在环境保护和食品安全等领域备受关注，常规XRF对镉（Kα：23.1KeV）的激发和探测存在挑战，高灵敏度X射线荧光光谱仪通过对镉的单色化聚焦激发，对镉的检出限达到的0.06mg/kg水平。 2.5 高通量 PHECDA-HES 配置30位以上自动进样单元； 无需气体、真空等辅助设备 3.规格 指标参数说明原理 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱法元素范围 Mg-U检出限(mg/kg) Cd：0.06mg/kg Pb：0.4mg/kg Cr:1.0mg/kg 土壤基体，元素扫描时间300秒重复性 Cd:0.3mg/kg RSD＜15% 土壤基体，元素扫描时间300秒样品种类 固体样品、液体样品、粉末样品、粘稠样品 提供不同样品的制备方案自动进样 PHECDA-HES配置30位自动进样单元，可条形码扫描软件 Fast FP软件系统，支持各种样品应用开发、谱图显示对比、无标定量、标样校正、元素定量分析、数据存储、网络传输富集技术 重金属富集膜片（HMET® ）与HS XRF联用技术，水质重金属检出限达到1~3ug/L详细技术参数与应用方案请咨询安科慧生工作人员！ 4.应用4.1 痕量元素检出能力 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪基于全聚焦性双曲面弯晶的单色化聚焦技术，提升元素信号强度的同时大幅降低散射线背景，大幅提升样品元素信噪比，从而将XRF对元素分析延伸至微量和痕量应用领域。 4.2 软件准确定量能力 安科慧生科研人员历时十几年成功开发先进的快速基本参数法（Fast FP），其通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，快速基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA系列与快速基本参数法（Fast FP）的强强联合，为以下行业提供完整的解决方案：应用领域解决方案 编号编号环境保护 农用地和建设用地土壤无机元素含量分析 HMET+HS XRF联用应对环境水质重金属应急监测 固体废物重金属含量检测 PM2.5无机元素含量分析与数据溯源食品安全 食品中重金属含量快速测定-X射线荧光基本参数法 中药中重金属含量检测-HS XRF with Fast FP 化妆品中重金属含量检测-高灵敏度XRF重金属分析仪地质矿产 HS XRF与Fast FP对各类矿石元素含量分析 稀土元素含量快速检测高纯金属（合金）分析（铜）精矿元素含量分析其它 水泥窑协同处置重金属含量分析 石化产品中金属元素含量分析

波长色散X荧光分析仪是我公司总结我国多年来研制该类型仪器的经验和教训,并吸收与参照国际先进技术基础上，深入进行产业化研发形成的高科技产品，各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，例如建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素如S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和微量分析的可靠工具，也应用于大专院校和科研单位。 波长色散X射线荧光光谱仪，是本公司吸取国外先进经验，整合国内技术优势，精心设计的实验室设备。其卓越的性能可以满足不同客户的分析要求，极具吸引力的价格，使用户在低成本分析过程中受益。目前我们的仪器已经在建材（水泥、玻璃、陶瓷）行业、有色金属、钢铁、石油化工等领域得到了广泛的使用。应用效果良好，满足用户的实际需要。 应用领域：●AL-BP-9010A非常适合在大、中、小型水泥厂（单、双窑）做质量过程控制使用。可用于分析原料（如石灰石、沙土、矾土、菱镁矿和其他矿物）中主量和次量氧化物的分析 生料、熟料和水泥中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常规元素的测定。●钢铁行业的应用：依据GB/T 223.79-2007测定Si、Mn、P、S、Cu、A、Ni、Cr、Mo、V、Ti、W、Nb元素。●其它行业的应用：石油中的S、P测定，玻璃、陶瓷、有色金属、矿业、地质、化工、质量检验等。 特 点：高度自动化的分析，省力省时适合原材料、新材料、产品的研究及管理等分析，可对多种样品进行从微量到高含量的分析。仅需约3分钟即可完成1个样品中十几种元素的定量分析，由于仪器整机的高稳定性充分保证了全自动分析。 生产流程的管理分析可快速获得分析结果，经数据处理后，可进行质量检验、规格判断等，应用于生产管理分析（特别是炉前分析）。 质量控制迅速分析从生产线采集的样品。将分析结果（配比计算）作为原料配制的控制数据进行反馈，用于提高质量及稳定质量。 优 势：为了保证仪器性能，本仪器所用核心部件，如X射线管、高压电源、探测器、流气控制系统、分光系统均采用进口部件。与同等性能的仪器相比我司的仪器价格仍具一定优势。 技术参数●分析元素种类：从11Na～92U 的任意十种元素。●X射线管：Varian 公司生产的400W 薄铍窗端窗X射线管，Rh 靶（Pd 靶可选） 。●X射线管冷却：专业的循环制冷冷却，无需冷却水。●高压电源：400W ( 50kV8mA ) ，管压管流12 h稳定度：优于0.05 % 。 ●恒温室温度控制精度：设定值±0.1℃●探 测 器：流气正比探测器、封闭计数管、闪烁计数器。●数据处理系统：12 路2048 道独立脉冲高度分析器。 ●真空系统：独立泵站结构，双真空室，易于维护，测量室最高真空度：低于7Pa。●流气系统：采用国外高精度密度流量控制系统，高精度流气密度稳定装置，压力稳定度达到士0.01kPa。 ●交流220V 供电设备：2kVA交流净化稳压电流。 ●稳 定 性：( 24 h) ≤2%。●计数器的能量分辨率：≤40%。●仪器计数线性：≤1%。●单个样品测量时间：（含换样抽真空时间）≤(2-5)min 。●样品尺寸：40mmx10mm(H) ●分析样品面：最大35mm ●样品旋转：30rpm ●软 件：定性分析(自动鉴定解析功能(平滑,扣背景) ●定量分析：各种基体校正,标样分析法,应用模板, ●维护功能：自动诊断,远程诊断 软件特点1）自主开发的软件全中文软件系统，适合windows操作系统，软件操作简单，完全符合中国人操作的习惯，对操作人员无特殊要求；2）操作界面直观，可多任务同时执行，人机对话，方便修改和设定各种参数；3）采用全谱检测，实时智能校正仪器漂移到最佳运行状态；4）仪器采用最先进的数理模型算法标定工作曲线过程简单，更符合用户生产工艺特点；5）强大的数据库系统支持，实现各种基体、背景干扰校正；6）配备水泥行业在线率值配料配比反馈调节计算和水泥组分测定模块，测量生产样品结果的统计，帮助工艺工程师分析配料变化情况；7）强大的历史记录查询功能，随时动态掌握生产工艺变化；8）强大的自诊断功能，实时监控仪器状态，自动的保护功能；9）具有流行的DCS通讯协议,可以方便地与DCS系统进行数据共享。 水泥行业应用：波谱仪系统主要由样品制备设备（包括振动磨、压片机）、波谱仪主要、计算机系统（主要包括主机、监视器、打印机、键盘、数据通讯接口）等，与其他相关设备配合构成波谱仪生料质量控制系统。波谱仪主要用于生料化学成分的分析，以实现原料配比的在线自动化控制，保证入窑生料率值的标准偏差达到规定指标；同时，X荧光分析仪也可用于各种原料、燃料、熟料、水泥的离线分析。 本仪器是同时式波长色散型光谱仪，可装载10个以上（含10个）分析通道用于多元素同时测定，元素分析范围为钠到铀，元素预设范围为水泥10大元素Ca、Fe、Si、Al、Na、Mg、S、K、Cl、P，分析速度小于2分钟。输入电源为单相220/240VAC，并由主机向PC机和打印机供电。

仪器简介：BH1324B型微机多道X谱仪，是以BH1224型多道分析器卡为基础而改进 的新产品。它集高压、放大器和多道分析器卡为一体，通过RS-232串口电缆 与计算机连接，多道分析器本身受计算机制约的因素减少，为用户选择各种档 次、不同机型的计算机提供方便。配套的PHA18采集软件，在Win98操作系统 下运行。 　　该谱仪可测量X射线，供从事有关放射元素工作单位进行安全监督检查分 析。被测得的X射线以谱的形式在计算机上显示出来，通过软件进行分析。 　　该产品严格按照ISO9001质量体系进行质量控制。技术参数：1、系统的能量分辨率：＜65%（对239Pu） 2、系统的能量线性：≤±1%（60Kev～2.0Mev） 3、系统稳定性：≤±1%（8h）主要特点：工作环境 1、环境温度：+5℃～+35℃ 2、环境湿度：≤80%（30℃） 3、电源：交流220V±22V，50Hz±1Hz 成套设备 1、一体化多道分析器（含高压、放大器） 2、φ40×1mmX射线探头 3、通用γ谱仿真软件（PHA18） 4、计算机：当前市场的流行配置，标准配置为联想开天4600系列（可按户要求更换） 5、打印机：喷墨打印机Canon S100SP（可按用户要求更换）