平台遮光罩暗室

在检修紫外可见分光光度计时必须打开仪器的外罩才可进行，这是众所周知的常识；但是取下仪器外罩后势必就会将样品室暴露在有光照射的环境中，如果这时要带电检修仪器的光信号时，这些外部的光线则会进入仪器的检测器，造成不必要的干扰。为了解决这个矛盾，一般做法是用一块黑色布将整个仪器或样品室罩住，但是这种措施有时难免会造成漏光，并且还不利于散热。为此我想出了一个简单易行的好办法，并且已经多次采用，效果还不错。现在用图解法介绍如下：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304011049_433171_1602290_3.jpg图-1 仪器外观http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304011050_433172_1602290_3.jpg图-2 去掉样品池架的样品室http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304011051_433173_1602290_3.jpg图-3 去掉仪器外罩的样品室http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304011051_433174_1602290_3.jpg图-4 样品室细横向尺寸(12.5cm)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304011052_433175_1602290_3.jpg图-5 找一段内径大于石英窗外径的纸轴（薄膜轴芯，羽毛球筒，薯片包装筒均可）截成长度略大于样品室横向尺寸(13cm)的两段遮光筒。长度略大于样品室横向尺寸的目的是紧密贴紧两端的石英窗口处的海绵，防止漏光。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304011059_433177_1602290_3.jpg图-6 将两个遮光筒分别安装在样品及参比光路中。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304011111_433178_1602290_3.jpg图-7 遮光筒安装在样品室里的总外观完成上述工作后，则可进行其他的电路的检修工作了；这样既不影响光路的正常走向，又不会影响电路的检修；可谓两全其美啦！

遮光率是指被颗粒散射和吸收掉的光占光总量的百分比，是激光粒度测试中用来表示悬浮液光学浓度的一个量。遮光率的计算方法是原始光强 I0 与加入样品后探测器中心点的光强 Ii 的差除以 I0 再乘以 100% 得到，即遮光率 =（I0-Ii）/I0×100%。一般遮光率的范围在 10±5 之间。在实际粒度测试时，遮光率是复散射和代表性之间的平衡点，即把复散射减到最小，又能保证样品的代表性。为了这个目的，遮光率的范围与样品的粒度有关：粒度越大，遮光率越大；粒度越小，遮光率越小。常见遮光率与粒度的对应关系如下：[align=center][img=,521,129]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/10/201810151047254583_14_676_3.png!w521x129.jpg[/img][/align]

[b][font=微软雅黑][/font][font=&][color=#333333]为了解决光电液位传感器受水珠影响导致误判的问题，可以调整液位阈值电压设定，提高传感器的灵敏度，减少误判的可能性。[/color][/font][font=&][color=#333333][/color][/font][font=&][color=#333333]为避免液面波动引起的误判，可以在程序中加入防抖逻辑，通过延时或滤波等方式规避这个问题。[/color][/font][font=&][color=#333333][/color][/font][font=&][color=#333333]在阳光直射下，光电式液位传感器可能受到红外线干扰，导致误判。为解决这一问题，可以使用遮光罩来阻挡阳光直射，或者更改传感器的安装方式，使其不受阳光直射影响。[/color][/font][font=&][color=#333333][/color][/font][/b][align=center][b][img=光电液位传感器,690,454]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/07/202307011714102517_6706_4008598_3.png!w690x454.jpg[/img][/b][/align][font=&][color=#333333]水汽、水蒸气或水珠会导致传感器误判，为了解决这个问题，可以采取措施调整液位阈值电压设定，提高传感器的灵敏度，减少误判的可能性。[/color][/font][font=&][color=#333333][/color][/font][font=&][color=#333333]为了提高[url=https://www.eptsz.com]光电液位传感器[/url]的准确性和可靠性，可以采取措施，如调整液位阈值电压设定、加入防抖逻辑、使用遮光罩或更改安装方式，以解决因水珠、液面波动或红外线干扰引起的误判问题。[/color][/font][font=&][color=#333333][/color][/font][font=微软雅黑][/font][font=微软雅黑][/font]

看过土豆的寻找地沟油之5——相对密度测定的，就知道在天平室里除了测定样品油的相对密度，我应该还见缝插针地同时测定了折光率，只是土豆无耻地把同时发生的实验过程分成两篇原创来描述了，呵呵。 记得有篇文献记载了不同的油它们的折光率有明显区别，而且折光率测定对温度也是有要求的，要求在20℃下测定，所以我把相对密度和折光率测定都放在天平室里，同时测定了。 虽然实验室里有一台折光率测定仪，但我还真没用过。找来同事一请教，原来折光仪这么简单啊——甚至有点简陋。见下图。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/11/201111292025_334037_1645752_3.jpg 这也太简单了，下方两个圆圆的旋钮，一个是放水去校正的时候调位置的，一个是放样品上去的时候调整读数的。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/11/201111292030_334041_1645752_3.jpg 上边这两张图唯一不同的就是第一张是样品池打开的，把油样沾在样品池上就可以了。第二张图是合上了样品池了，合上后就可以通过镜筒来观察并读数了。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/11/201111292027_334039_1645752_3.jpg 上图是折光仪的正面，通过正前方的镜筒观察里边的图像，然后调整右侧旋钮使明暗交界明显，就可以读数了。为什么要放在小圆凳上呢，因为在天平室里光线不够，所以把窗帘拉开了，而且把小圆凳放在窗前，这样才有良好的视野啊。 操作步骤是先用烧开放冷的水来校正折光仪，使其折光率等于某个数值，是多少呢忘了。然后就可以测定液体样品了，油就是麻烦，每次都把样品池搞的油乎乎的，只好用擦镜纸蘸上酒精来擦拭过再测下一批样品。而且通过镜筒观察到的刻度读数，我也有点拿不准，尤其是最后一位，跟游标卡尺的刻度类似的，好在我们这次测定不要求精确到最后一位，所以保证小数点后第3位数准确就可以了。 测定结果还是让我很开心的，感觉用折光率来衡量油的好坏似乎还有点靠谱，如果真是这样真是方便简洁啊。数据如下。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/11/201111292048_334045_1645752_3.jpg 从上图数据可以分析，凡是不合格的油样，折光率都偏低，大部分都低于1.47，这点跟文献报道的趋势倒是一致的哦。

随着电磁研究的深入和电子技术的发展，天线的发展和应用已经渗透到导航、通信、电子对抗和雷达等诸多领域，多波束天线可通过相控阵同时或分时地形成多个相互独立的发射或接收波束，实现波束形状的灵活控制和波束指向的迅速切换。目前最广泛应用的相控阵天线测试方法主要有三种：远场法、近场法和紧缩场法。每种测试方法都有各自的优缺点，如远场测量适用于低增益、低频天线的测量；近场测量适用于高增益、高频、口径全息测量等，测试方法的选择需要对各种因素进行折中考虑。本文对相控阵天线的远场测试方法进行了论述研究，主要包括EIRP、G/T 值以及方向图等指标特性。受限于实施基站天线远场测试时间和成本，许多移动运营商不能如愿测试天线。因为搭建远场需要极远距离，所以不适宜直接在全电波暗室测试远场。很难找到室外测试基地，并且使用室外基地受天气因素所限。这就要求有特定房间能够运用特定技术测试大型天线。另外，许多基站天线经过机械调整会改变阵列模式，这就需要一种拥有多个设置的测试方法。基于上述困难，在全电波暗室进行测试每天至少要花费1800到2000美元，每次测试需要3到4天。如果测试表明设计要改良，移动运营商很可能要进行额外的测试，除非他们在全电波暗室测试前进行了预测试。预定全电波暗室测试长达两或三个月，所以仅预定这项测试就使项目发布延迟了相当多时间。为克服这些困难，一家大型移动运营商的工程师们采用了EMSCAN RFX2天线模型测试系统。桌面扫描仪生成天线测试数据，把结果映射到远场模型上。这种情况下，测试组在700MHz和1950MHz的环境下进行测试。由于阵列尺寸超过了扫描仪可扫描的范围，测试组不能通过一次来测试天线。为解决这个难题，他们进行了四次扫描，每40cm扫描一次，形成总共160cm*40cm的扫描面积。[b]测试设置[/b]注意图1中天线阵悬浮于RFX2扫描仪上方最大可支撑距离115mm处来使扫描仪和在测天线之间影响最小化。在测天线阵重20kg，长150cm，宽 30cm，厚15cm。下图1中第一个测试位置RFX2接近天线阵顶部。覆盖扫描仪的吸收材料也有助于最小化人工移动扫描仪40cm向下一段位置时的影 响。如此移动扫描仪对应于扫描仪的扫描范围。测试期间，当工程师们手动扫描仪到下一段位置时，他们借助于网络分析仪监控天线的S11。吸收材料正如所期望 那样发挥效用，当扫描仪移动时回波损耗几乎无变化。第一个扫描仪测完第一段之后，扫描仪向左移动40cm由第二个扫描仪进行测试，无其他变化。每次扫描耗 时不到2秒，测试组直到四个扫描仪完成扫描之后才把扫描仪移动到接下来的测试位置。每个随后的测试与之前扫描面积重叠形成一个校准点把四个扫描仪准确的连 成一线。整个测试及后续处理时间需要约30分钟。[align=center][img=,412,241]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803281637374582_4789_3345709_3.png!w412x241.jpg[/img][/align][align=center]图1：测试设置[/align][b]700MHz时结果[/b]使用后续处理技术，测试组把四个图像合为一体。这样四个测试位置之间形成相位连续性。尽管在这个研究实例中相位改变是手动实现的，但因为硬件研发中的一 个小小变化相位连续性是自动的。图2为700MHz时采用非常近场测试的电磁场(H-field)合并结果。下图中每个图分别列有Hx振幅，Hy振 幅，Hx相位和Hy相位。每幅图的右边通过连接器对应天线的末端。[align=center][img=,393,513]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803281638001972_9488_3345709_3.png!w393x513.jpg[/img][/align][align=center]图2:700MHz电磁场(H-Field)[/align]运用后期的处理技术把700MHz时的近场测试结果处理转化为远场结果，接着运用定制化的、拥有专利程序将其转换成远场结果，同时，消除测试阵列中可预测的耦合效应。[align=center][img=,389,235]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803281638214372_7696_3345709_3.png!w389x235.jpg[/img][/align][align=center]图3：700MHZ辐射图VS产品说明书中数据[/align]下图所示1950MHz时结果与第4页700MHz时结果相同。图4中每幅图分别列有Hx振幅，Hy振幅，Hx相位和Hy相位。[align=center][img=,381,516]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803281638446364_4408_3345709_3.png!w381x516.jpg[/img][/align][align=center]图4： 1950MHZ时电磁场(H-Field)[/align]运用同样后期的处理技术和定制程序把1950MHz时的近场测试结果处理转化为远场结果(如下图5)。我们注意到这两个波长结果图与700MHz时波长结果图有相似之处，但1950MHz的波长光速更窄，水平方向不像700MHz波长结果图所显示的那么全方位。[align=center][img=,390,238]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803281639033232_2048_3345709_3.png!w390x238.jpg[/img][/align][align=center]图5：1950MHZ辐射图VS产品说明书中数据[/align][align=center]注：Φ=0°是垂直截面，Φ=90°是水平截面[/align][b]结论：近场天线测试的优势[/b]所有移动服务运营商都面临测试大型基站天线的问题。测试这种天线需要配有特殊性能极大且昂贵的全电波暗室。对于这些运营商来说，RFX2天线特性测试系统解决了在大型暗室测试的难题，即高的让人望而却步费用及耗时的测试过程。