偏振射线荧光仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

布鲁克是全球X射线荧光光谱分析仪器及软件的主要供应商之一。分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案，用以分析表征广泛的产品，例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。 产品简介：S2 POLAR仪器为台式偏振式能量色散X 射线荧光 (POLARIZED EDXRF) 光谱仪，采用了偏振激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中的元素均具备分析性能，特别是油品之类轻基体样品中的S, Cl, Si, Mg, P, S, Cl, Ca, Zn, Mo等元素有着优异的分析效果和检测限。S2 POLAR针对油品等轻基体油品，通过偏振方式增强其功能，符合ASTM D6481 ASTM D7751 ASTM D7220 ISO 13032 ASTM D4294 ISO 20847 ISO 8754 IP 336, 496, 532 JIS K2541-4和GB/T 11140等诸多国内外标准，是一款经济实惠、高度灵活的分析工具，可适用于包括现场检测等各种应用场合。 S2 POLAR• 通过偏振激发和检测设计实现优异的灵敏度和检出限• 仪器可预置油中硫，油中氯以及润滑油中Mg, P, S, Cl, Ca, Zn, Mo等诸多元素的曲线• SampleCare保护系统，最大程度确保核心部件安全性，不受液体影响• 确保X 射线安全• 完全的数据可追溯性• 符合法规• 全球在线支持• 高度灵活的分析工具，可适用于现场检测需求 S2 POLAR 光谱仪可以处理类型广泛的样品，包括固体、稀松或压片粉末、液体和滤片，重量从几毫克到更大的实体样品不等。

仪器简介：全新偏振型能量色散X射线荧光光谱仪 — 开创XRF分析新纪元SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散XRF的分析性能在能量色散 X 射线荧光技术（ED-XRF）领域独树一帜。 具备多元素和多浓度（主量、微量和痕量）的突破性分析能力。信号和光谱处理的新技术的运用显著提高了结果的精确性和准确度。1. 采用世界上最新的、最先进的偏振X射线荧光激发技术，区别于其他X射线荧光仪， 仪器的背景最低，信噪比最佳， 检出限最低。 2. 采用Pd/Co双靶材技术搭配不同的激发光路，在更宽的元素范围内改善了灵敏度和检测限。相当于一台仪器上配备了两种X光射线管，激发方式得到优化，以达到理想的分析效果。3. 优异的精度/极快的数据读取具有业界最高的灵敏度。高精度地同时分析主，次量元素，卓越的检出下限使仪器对那些难以分析的痕量元素也可以轻松应对。 对需要快速分析的样品，在稍稍牺牲精度的条件下，可大大缩短分析时间。4. XEPOS型仪器配有无需液氮冷却的SDD检测器， 计数率高达1,000,000pcs。 可有效防止计数溢出。 不会产生Si(Li)计数器所发生的在无需液氮冷却的情况下， 所产生的分辨率降低，背景升高，信噪比变差的情况。5. 涂镀层分析能力，具备了涂镀层的厚度（低至1纳米）及 成分分析功能，包括贵金属镀层分析，最 多8层55元素。6. 仪器可选择配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可对任何完全未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比，TURBOQUANT 更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数十种国际标准样品，实测结果并予以固化。 7. 仪器在Windows操作系统上建立斯派克的分析软件，操作极为方便。采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。8. 仪器具有多达十几种校正模式(数学模型)(方法)，在定量分析中可充分应用，已取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和危废检测以及科研和高校。

3D全偏振X荧光多元素分析仪技术指标产品名称：3D全偏振X荧光多元素分析仪产 地：美国型 号：NEX CG II厂家名称：美国理学公司分析标准：符合汽油铁、锰、铅新国标NB/SH/T 6043,ASTM D7220, D4294, GB/T 17040检测元素：11钠～92铀石化行业油品经典元素检测下限（实测值）： 硅Si磷P硫S氯Cl锰Mn铁Fe铅Pb1.1ppm0.8ppm0.5ppm 0.4ppm0.9ppm0.7ppm0.7ppm样 品 量：5ml标准校正：康普顿散射C/H比校正X射线管：Pd钯靶，最高电压50kV, 最大功率50W偏振单色器：配置5个偏振单色器，对应于不同应用，以获得最佳的样品激发。核心结构：X光管-偏振靶/二次靶-样品-检测器的位置摆放采用Cartesian笛卡尔三维立体结构，最大程度较少背景。检 测 器：硅漂移检测器(SDD)，帕尔贴电子制冷进 样 器：15位自动样品转盘数据输出：USB及以太Ethernet网线输出环境温度：18 ~ 28°C (65 ~ 82℉)相对湿度：小于75%，仪器外表及内部无凝结水其他要求：人类感受不到的振动，无腐蚀性气体、粉尘和颗粒物电 源：AC，200 ~ 240V, 1.6A (50/60Hz)尺 寸：463 x 492 x 382 mm (宽x深x高)分析仪特点:理学公司是一个具有60多年X射线仪器生产历史的专业公司，在中国已有数千台套的X射线分析检测仪器在高效地使用中。为适应不断变化的石化分析市场，理学美国工厂推出了一系列高性能，高性价比，坚固耐用的X射线荧光分析仪。使之成为国内油品分析领域行业翘楚。1. 最优化的几何设计，使X射线光程最大程度缩短，减少损耗。2. 提供固化的控制样品，方便QC控制。3. 根据需求提供标准样品。 4. 外形小巧，可放置于任何实验室, 方便转运及非安装地的异地使用。5. 优异的C/H校准可用于补偿不同类型的油所导致的校准错误。6. 在检测器与样品架之间设置有一个可轻松更换的塑料膜，能够在泄露或溢出的情况下保护仪器。7. 无接触，无裁剪的样品杯膜，线性好、维护量超低。8. 未来使用过程中如遇到重要部件维修（如X光源、高压电源等），可在中国境内完成部件更换及维修，无需返厂处理。9. 备有以太网RJ-45插孔和USB端口用于输出到LIMS或U盘，数据以CSV或PDF格式提供。

杰出的灵敏度带来高达3倍的精度改进——这是分析维量到主量元素含量时高准确性的基础 可以检测到极低的痕量元素：自适应激发、前沿的X光管设计和高计数率的检测系统显著降低了多种元素（通常为1/3）的检测极限 掌握未知：Turboquant II软件工具提供一种前所未有的能力——分析未知样本，不管是液体、固体还是粉末状，无论是树叶、塑料、油品、石墨… … 新型SPECTRO XEPOS光谱仪代表了能量色散X射线荧光技术上的巨大突破。它带来主量、微量和痕量元素含量水平多元素分析方面的突破性进展。激发和检测方面的新发展实现了杰出的灵敏度和检测极限——大幅提高精确性和准确度。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和废物检测以及科研和高校。不同版本最大化特定基体中所含特定元素组的性能。创新的X射线管和独特的新型自适应性激发技术造就最高灵敏度，全面优化所选的目标元素。重复性： 0.1%分析含量范围： 亚ppm-100%价格区间： 50万-100万能量分辨率： 130eV元素分析范围： Na-U仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF

圆偏振荧光光谱仪CPL-300 在圆二色的基础上，人们发现手性发光体系发射出的左、右圆偏振光强度不同，这种现象称为圆偏振发光（Circularly Polarized Luminescence ,简称CPL），常规的圆二色谱仪CD仅能检测材料基态的手性，而该仪器能检测材料激发态的手性信息。主要用于研究手性发光体系的发射态（激发态）结构的特征。 主要应用：* 对镧系锕系离子配合物的光学性能研究* 对有机小分子的研究* 对生物体系的研究* 对过渡金属配合物及晶体的研究 测试原理:当发光手性分子被光激发后，产生的荧光在左右圆极化强度方面会体现出一定的差异性，这种现象被认为是圆偏振发光性（CPL）。常规的CD波谱仪仅能检测材料基态的手性，而该仪器能检测材料激发态的手性信息。 技术特点:-灵敏度高-空冷150W氙灯光源-高的信噪比

布鲁氏菌病强化监测项目推荐产品！型号规格：平和FLUPO Ⅶ 系列青岛中创汇科生物科技有限公司联系电话：，网址：基本原理：某一分子在液体介质中的自旋速度与其分子质量有关，分子质量越小其自旋速度越快，偏振光束去极化越高，而分子质量越大自旋速度越慢， 偏振光越弱。 FPA以mP（milli-Polariaztion ） 为单 位 测 定 分 子 的去极化程度。用异 硫 氰 酸 盐 标 记（FITC） 某种特异性抗原／抗体,若检测样本中存在该病抗体／抗原，抗原抗体结合后立即观察结果，则可通过相关仪器检测到产生的大量荧光复合物,通过给定的角度（68.5°），利用偏振光测量其去极化光。在阴性样本中,抗原／抗体呈现非复合状态，由于该单体物质的分子量较小,自旋较快，因此，产生的去极化光较阳性复合物强。检测样本：血清及其它样品如全血、血浆、脑脊液、淋巴液、奶液等。主要功能：检测人血清中的全部布鲁氏菌抗体，包括IgG1，IgG2、IgG3、IgG4、IgM、IgA、IgD等全部类型的抗体。仪器特点：1、中国自主知识产权，一种便携式的针对荧光偏振测定方法的仪器，用于检测人抗所有平滑型布鲁氏菌抗体的分析仪器。本仪器可以通过仪器中的预先设计的程序直接计算显示结果，最短时间 2 分钟出结果，使用单个试管，手提箱包括荧光偏仪器全部设备。 　　2、德国钢、金属制成外壳，仪器简单、轻巧、便携、耐用。是理想的现地检测的试验工具，同样适用于实验室应用。 　　3、光源为发光二极管，探测器为光电倍增管，这种结合仪器让仪器使用更持久，更精确，运行速度更小快、更准确。 　　5、操作温度：-20-50℃（负 20 度至 50 度） 　　6、接口：配套数据线连接仪器与计算机 　　7、电源：计算机电源驱动仪器，无电源情况下也能操作实验 　　8、滤光器：激发光：485nm；发射光：535nm 　　9、试管规格：10x75mm 硼硅酸盐玻璃或高硼硅玻璃试管 　　10、测量时间：最短 2 分钟 　　11、精度：0.3mp 标准偏差 1nM 荧光素，每次打开软件可以检测 1000 个样品以上。 　　12、外观：宽：150 毫米 长：220 毫米 高：110 毫米 　　13、自带软件，操作极其简单，结果颜色显现，浅显易懂；也可以连接打印机及电子传输数据，也可以直接输出为 Excel 表格形式，易于编辑、传送和长久保存。

荧光偏振仪型号：FLUPO VII 检测原理：采样独特的荧光偏振检测原理，利用偏振光测量其旋转时间，检测血清中含有抗体，根据 FPA检测仪显示的mp读值判断结果阴阳性；荧光偏振测定法是均一、无需清洗步骤或去除未反应的成分的检测方法。 主要应用：用于实验室和采样现场人抗布鲁氏菌抗体检测分析。 适用样本：血清及其它样品如全血、血浆、脑脊液、淋巴液、奶液等。 仪器特点：1、中国自主知识产权的一种简捷的针对荧光偏振测定方法的仪器，结合德国先进技术，仪器简单、轻巧、便携、耐用；用于流行病学调查和疫情处置现场检测、临床实验室和疾控实验室疑似样本的快速检测。2、可检测人血清中的全部布鲁氏菌抗体，包括IgG1，IgG2、IgG3、IgG4、IgM、IgA、IgD等全部类型的抗体。3、采用计算机软件驱动，无需额外电源，仪器自带校正功能，仪器稳定，软件操作简单。4、光源：发光LED及LCD复合光源，水平及垂直方向双向检测。5、滤光器：电子滤光片。激发光：485nm；发射光：520 nm和535nm。6、测量时间：样品孵育2分钟，仪器1秒钟完成检测。7、精度：使用1nM荧光素连续测量，结果稳定，差异小于0.1nM。8、仪器自带校正功能，使用单个试管完成全部试验，无清洗步骤。 主要配置：1、主机1台2、漩涡震荡仪一台3、连续加样器一套4、计算机工作站1套5、手提箱一个

能量色散X射线荧光（EDXRF）是一种常规的分析技术，广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的实用性源于：快速、准确、无损的多元素分析；元素分析范围涵盖从钠（Na）至铀（U）；含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量（wt%）。 日本理学NEX CG功能多样，可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品，到固态、金属、泥浆、粉末和胶状样品。特别适用于对成分完全未知的样品进行半定量分析。NEX CG欠打的分析能力，灵活、方便的使用性，使其在科研、工业及现场检测领域有着广泛的需求。 独立的2次靶光学系统、能为范围广泛的元素提供很好分析。钠 (Na) 、镁(Mg)、氯(Cl)等用EDX分析比较困难的元素也能用NEX CG进行分析。能量色散X射线荧光（EDXRF）分析的特点*检测样品完全无损*元素分析从钠（Na）至铀（U）*适用于固态、液态、粉末及稀薄样品*偏振式激发使检出限（LOD）更低*无需标准样品即可进行半定量分析*使用RPE-SQX软件减少对标样需求*独特的光谱重叠处理方法使误差降低*EZ分析程序用户界面简单

圆偏振荧光光谱仪 型号：CPL-300概要手性等化合物在单色光激发下，发射出左右圆偏振光强度不同，这样的现象被叫圆偏振发光现象（CPL）。常规的ECD测量可得到基态手性分子的信息，而CPL能够测量得到激发态手性物资的信息。 CPL-300使用由Steinberg提出的原始180°荧光收集方法。 标准的无臭氧150W Xe灯可由用户更换为Hg / Xe源。 仪器的双棱镜激发和发射单色器提供非常低的杂散光，并且没有衍射光栅引起的杂散线性偏振效应。规格光源150W 空冷氙灯(选配:150W 空冷Hg-Xe灯等)检测器光电子倍增管PMT调幅器压电弹性调幅器电气系统锁定放大器单色器Ex (激发)Em (发射)部分均为双棱镜单色仪测量波长范围250到 850 nm400 到1100 nm (选配PMT检测器)波长精度±0.2 nm (250 to 500 nm)±0.5 nm (500 to 800 nm)±1.5 nm (800 to 1100 nm)波长重现性±0.05 nm (250 to 500 nm)±0.1 nm (500 to 800 nm)±0.5 nm (800 to 1100 nm)狭缝宽度1 - 4000 μm数字积分时间(D.I.T.)0.1 msec to 30 sec扫描方式连续扫描步进扫描自动响应时间扫描扫描速度最大到10000 nm /min测光模式CD (AC电子元件元件 = CPL)，DC (DC 电子元件=荧光)，HT (高电压f PMT), and AC/DCCPL分辨率0.00001 mdeg波长分辨率0.025 nm杂散光小于0.001%外部输入端子双通道数据采集(输入范围: -1 to 1 V DC)汞灯用于仪器校准遮板在EX激发和Em发射单色器样品室150 mm (W) x 310 mm (D) x 165 mm (H)尺寸2000 mm (W) x 700 mm (D) x 1000 mm (H)重量180 kg量程± 8000 mdeg功率240 V 50/60 Hz, 400 VA程序软件包Spectra Manager 2

该产品基于第一原理设计，具有极高的圆偏正和荧光偏振特性，价格非常有竞争力，尺寸仅为竞争对手产品的1/4，且具有出色的灵敏度和稳定性。 明亮且稳定的滤波LED源可实现最大的激励；使用高通量单色仪和门控光子计数检测器可实现最大的发射灵敏度。具有工厂锁定校准的所有数字性能，即无需锁定放大器，无需G因子校正。两种型号，一种用于UV/Vis，另一种用于NIR。可以增强UV/Vis型号以测量磷光寿命，从而测量CPP。所有配置均可以实现极化和非极化激励。

仪器简介：在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数，如：布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点，因而，椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。技术参数：规格与主要技术指标： 测量范围：薄膜厚度范围：1nm-300nm； 折射率范围：1-10 测量最小示值：≤1nm 入射光波长：632.8nm 光学中心高：80mm 允许样品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm 偏振器方位角范围：0°- 180°读取分辨率为0.05° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为：±1nm和±0.01 主机重量：25kg 入射角连续调节范围：20°- 90°精度为0.05°主要特点：仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及方便测量等特点； 光源采用氦氖激光器，功率稳定、波长精度高； 仪器配有生成表、查表以及精确计算等软件，方便用户使用。

JASCO日本分光株式会社1961年研制生产出圆二色光谱仪投入科研使用后，经多年发展，圆二色光谱仪（ＣＤ）产品技术和各项性能均稳定可靠，随着产品及技术升级，JASCO推出手性全系列产品如圆二色光谱仪、振动圆二色光谱仪、圆偏振发光测量系统、旋光仪等，其先进的技术和更加卓越的性能满足和实现手性物质各方面复杂研究应用。1、应用范围-镧系锕系复合物的光学性能研究-手性发光材料的光学活性研究-手性发光纳米粒子的光学活性研究-聚集诱导发光领域研究………2、测试原理手性等化合物在单色光激发下，发射出左右圆偏振光强度不同，这样的现象被称为圆偏振发光现象（Circularly Polarized Luminesence: CPL）。常规的ECD测量可得到基态手性分子的信息，通过CPL测量可以获取手性分子在激发态的信息。 CPL-300使用由Steinberg提出的原始180°荧光收集方法，采用标准的无臭氧150W Xe灯或者可更换为Hg / Xe源，仪器双棱镜激发和发射单色器提供极低杂散光，可消除衍射光栅引起的杂散线性偏振效应。CPL-300是迄今结合手性测定技术而推出的一款高灵敏度圆偏振发光测量装置3、技术特点&bull 双光源设计，软件自由切换标配150W无臭氧氙灯，满足紫外可见近红外波长测试需求；内置汞灯设计，可实时根据需要自主进行波长校准检验。&bull 双棱镜分光系统系统激发侧和发射侧都采用双棱镜单色仪，极大限度的抑制杂散光，同时避免了使用光栅过程二阶衍射、伍德异 常及线偏振的影响，确保测试数据的准确性。&bull 180°非偏振光直接激发样品对于溶液、固体或者难溶性样品，180°直接激发，避免样品激发过程中伪影的产生。&bull 快速数据收集和处理CPL信号和荧光信号同时测量，可一键转换△I和Glum数据。 4、樟脑醌的CPL案例介绍樟脑醌的CPL光谱测量，通过测量CD和CPL对樟脑醌在激发态和基态下手性结构分析。

OLIS CPL Solo UV/Vis小巧、经济且全数字化的圆偏振发光该型号以最高灵敏度CPL和荧光偏振的第一原理设计，价格是竞争对手产品的三分之一，尺寸是竞争对手产品的四分之一，但具有出色的灵敏度和稳定性。使用明亮且稳定的滤波LED 光源实现最大激发 ；使用高通量单色器和门控光子计数检测器可实现最大发射灵敏度。具有工厂锁定校准的所有数字性能，即无需锁定放大器，无需 G 因子校正。两种型号，一种用于 UV/Vis，另一种用于NIR。可以增强 UV/Vis 模型以测量磷光寿命，从而测量 CPP。所有配置均可实现极化和非极化激发。应用领域：OLED发展镧系元素表征蛋白质折叠-展开转换光谱扫描&动力学圆二色性光谱扫描&动力学荧光强度光谱扫描&动力学荧光各向异性光谱扫描&动力学圆偏振发光光谱扫描&动力学荧光检测圆二色性标准模型性能：圆偏振光荧光荧光偏振支持升级：极化激励磷光寿命珀耳帖热池支架薄膜支架DeSa永磁体CPL-SOLO.pdf

X射线荧光光谱仪FEDX-M810：一、技术规格：1.分析元素范围：Na(11)-U(92)2.含量分析范围：1ppm-99.999% 3.样品种类：颗粒、固体、液体、粉末等4.分析精度：标准偏差≤0.1%（国标标样）5.X射线源靶材：Ag靶6.滤光系统：6种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等组合)7.准直器：6mm、4mm、3mm、1mm、0.5mm可选。8.真空系统：配置真空系统，优化样品分析环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。9.仪器外观：台机结构；内设防震降噪装置、射线外溢屏蔽装置和四道散热装置；坚固耐用；确保仪器安全可靠稳定运行。10.X射线防护：符合GBZ 115-2002《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》。二、核心硬件配置：1. 探测器1.1. 美国探测器Amptek FASTSDD/Peltier1.2. 分辨率≤130eV1.3. 输出计数率高至1000KCPS1.4. 峰化时间≤12.8μs1.5. 峰背比180002. X射线源2.1. 电压0-50KV、步进1KV连续可调2.2. 电流0-1000uA、步进1uV连续可调2.3. 最大功率50W3. 高压发生器3.1. 电压0 -50 KV3.2. 电流0-1000uA3.3. 最大功率50 W3.4. 8小时稳定性≤0.05%

凭借前所未有的卓越元素分析性能,新型SPECTRO XEPOS光谱仪重新定义了ED-XRF能量色散X射线荧光光谱仪分析技术。SPECTRO XEPOS光谱仪这一令人称奇的全新仪器采用了元素激发和光谱检测技术的最新研究成果，具有最无与伦比的灵敏度和最优秀的检测极限，同时具有极高的检测精度和准确度。SPECTRO XEPOS光谱仪的出色性能足以将价格昂贵的WD-XRF波长色散X射线荧光光谱仪“挑落马下”，同时还大大降低了成本。此外，经过深度优化、重新设计的操作软件也能够帮助客户大幅简化操作，独一无二的新一代TurboQuant II软件则支持各种先进功能，可以更快速、更精确地分析各种类型的未知液体、固体或粉末。

凭借前所未有的卓越元素分析性能,新型SPECTRO XEPOS光谱仪重新定义了ED-XRF能量色散X射线荧光光谱仪分析技术。SPECTRO XEPOS光谱仪这一令人称奇的全新仪器采用了元素激发和光谱检测技术的最新研究成果，具有最无与伦比的灵敏度和最优秀的检测极限，同时具有极高的检测精度和准确度。 SPECTRO XEPOS光谱仪的出色性能足以将价格昂贵的WD-XRF波长色散X射线荧光光谱仪“挑落马下”，同时还大大降低了成本。此外，经过深度优化、重新设计的操作软件也能够帮助客户大幅简化操作，独一无二的新一代TurboQuant II软件则支持各种先进功能，可以更快速、更精确地分析各种类型的未知液体、固体或粉末。

SH407 X荧光射线硫分析仪采用能量色散原理,机电一体微机化设计,分析快速、准确。其重复性、再现性都符合国家标准GB/T 17040-2008《石油产品硫含量测定法（能量色散X射线荧光光谱法）》和GB/T 11140-1989《石油产品硫含量测定法（X射线光谱法）》GB/T17606 原油中硫含量的测定 能量色散X-射线荧光光谱法的相关要求,同时完全符合美国国家标准ASTMD4294-02的要求。 石油产品SH 407 X荧光射线测硫仪 SH407荧光硫分析仪主要测量原油、石油、重油、柴油、煤油、汽油、石脑油的总硫质量百分比含量，也可测量煤化工产品（例如初级苯）、其它液体样品中总硫或硫化合物含量；还可细粉末样品中总硫或SO3含量的测定等等.符合GB/T17606。 主要技术特点● 采用荧光强度比率分析方法，检测品种广,检测量程宽,分析速度快,标准样品耗量少。● 采用机电一体微机化设计，液晶显示，操作界面人机对话，具有自动诊断功能，判断仪器的工作状态和电气参数，温度、气压自动修正，碳氢比（C/H）亦可修正。● 采用一次性Mylar膜样品杯，可避免交叉污染。● 安全的X射线防护措施，经过严格测试，对个人和群体绝无X射线电力辐射伤害。主要技术参数及指标● 测硫范围： 10ppm～50000ppm● 精密度： a：重复性(r): ＜0.02894(X+0.1691)；b：再现性(R): ＜0.1215(X+0.05555)。● 样品量： (2～3)ml(相当样品深度3mm～4mm)。● 测量时间： 60秒、120秒、240秒、300秒、600秒，任意设定。● 样品测量： 单样品自动测量，测量次数2、3、5、10、50次任意设定，测量结束给出平均值和标准偏差。● 校正曲线数： 仪器可存储9条标定曲线，5条为一元一次直线，4条为二项式抛物线。● 标定(校准)样：12个（10ml/个）。● 工作电源： AC220V±20V、50Hz；l 额定功率 : 30W● 仪器包装尺寸 34*54.5*34.5 重量 11kg● 标配配件包装 55*13.5*33.5 重量 :3kg 装 箱 清 单 序 号名 称数 量单 位1X荧光油品硫分析仪主机1台2三芯电源线1根3样品杯200套4样品杯膜2盒（100张/盒）5防漏油部件(二件一套)1套6多功能压件(二件一套)1套7打印纸2个8标定（校准）标准样品1套

仪器简介：X射线荧光定硫仪 RX-620高精度X射线荧光定硫仪利用一个紧凑的X射线管迅速的非破坏性测试石油含硫量测量30ppm到6wt%宽阔的测量范围一体机结构包括了显示器、操作键盘和内置打印机有一个放12个样品的turret，可当作内置样品转换器除正在测量的样品，其它样品在测量过程中可自由插入和取出， 采用单一样品池探测系统，在测量中可做到完善的现场防护。 由PTFE制造的样品池，可重复使用聚脂薄膜是唯一耗材X射线荧光定硫仪 Model RX-360---仅仅没有turret 的单点测量型号 重量（只有12公斤）内置打印机自动1点、2或多点（10）校准便携（直流+12V车用蓄电池）技术参数：测量原理：能散X射线荧光法测量标准：ASTM D4294,ISO 8754,JIS K2541 B7995测量样品：Kerosine, 石脑油，柴油，原油和重油等测量范围：0.003-6.00wt%样品量：大约3到5ml测量精度：5-200ppmC/H ratio correction:0.003wt%/1C/H,with sample containing 1wt%自动校准：自动1点、2点或3点标定，自动多点（最大12点）标定样品转换器：Turret型12个位置转换器，acrylic防尘盖外部接口：RS-232C(1个端口)打印机：内置点矩阵打印机显示：液晶显示器（4行20个数字）X射线泄漏：0.6µ Sv/Hr 或更小在器械表面安全：互锁机械装置，防止X射线意外泄漏主要特点：

SH407B X荧光射线硫分析仪采用能量色散原理,机电一体微机化设计,分析快速、准确。其重复性、再现性都符合国家标准GB/T 17040-2008《石油产品硫含量测定法（能量色散X射线荧光光谱法）》和GB/T 11140-1989《石油产品硫含量测定法（X射线光谱法）》GB/T17606 原油中硫含量的测定 能量色散X-射线荧光光谱法的相关要求,同时完全符合美国国家标准ASTMD4294-02的要求。SH 407B 石油产品测硫仪 X荧光射线硫 SH407B荧光硫分析仪主要测量原油、石油、重油、柴油、煤油、汽油、石脑油的总硫质量百分比含量，也可测量煤化工产品（例如初级苯）、其它液体样品中总硫或硫化合物含量；还可细粉末样品中总硫或SO3含量的测定等等.符合GB/T17606。主要技术特点● 采用进口SDD探测器，分辨率小于125eV，计数率最高2000kcps；● 30W微焦斑薄铍窗X射线管；● WISMAN 30W X射线管精密高压电源，高压稳定度每8小时波动值小于0.05%；● 8寸宽视角电容触摸屏（1024*768）显示,背光亮度可通过软件设置，无需键盘，界面简洁美观 ● 检测品种广,检测量程宽,分析速度快,无需化学试剂 ● 采用荧光强度比率分析方法, 温度、气压自动修正 ● 仪器的自动诊断功能,判断仪器的工作状态和电气参数 ● 封闭式定向风冷散热，保证X射线管工作温度稳定，延长使用寿命；● 优化光路设计，软、硬件可靠性进一步提升；● 数据存储量大,方便用户读取数据； X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证辐射安全。主要技术参数及指标● 测量范围: 硫0.0005%～5% (5ppm-50000ppm)● 测量时间: 120-240秒 ● 单样品自动测量,测量重复次数: 1、2、3次任意设定,测量结束给出平均值和标准偏差 ● 重复性(r):＜0.4347 X0.6446 (X=两个重复试验结果的平均值) ● 再现性(R):＜1.9182 X0.6446 (X=两个单一、独立试验结果的平均值) ● 样品量:5ml～6ml ● 仪器可存储10条标定曲线 ● 工作条件: 温度:10～30℃ 相对湿度:≤85%（30℃） ● 电源:AC100-220V/50Hz；● 额定功率:≤50W ● 尺寸和重量: 460*260*260mm 11kg。 ● 仪器包装尺寸 34*54.5*34.5 纸箱11kg ● 标配配件包装 55*13.5*33.5 重3kg山东盛泰仪器有限公司对出售给贵方的仪器提供如下质量保证：----提供的仪器材料是全新的、符合国家质量标准和具有生产厂家合格证的货物；----提供的材料、主要元器件符合技术资料中规定的技术要求；----设备整机质量保证期为一年（不含易损件正常磨损）。----在质量保证期内出现的仪器质量问题，我方负责免费维修。由于使用方责任造成设备故障，我方负责维修，合理收费。 ----设备终生优惠供应零部件，整机终生维护维修。 ----保质期满后，使用方需要维修及技术服务时，我方仅收成本费。 装 箱 清 单 序 号名 称数 量单 位1X荧光油品硫分析仪主机1台2三芯电源线1根3样品杯200套4样品杯膜2盒（100张/盒）5防漏油部件(二件一套)1套6多功能压件(二件一套)1套7打印纸2个8标定（校准）标准样品1套

1、应用范围：-镧系锕系复合物的光学性能研究-手性发光材料的光学活性研究-手性发光纳米粒子的光学活性研究2、测试原理当发光手性分子被光激发后，产生的荧光在左右圆极化强度方面会体现出一定的差异性，这种现象被认为是圆偏振发光性（CPL）。常规的CD波谱仪仅能检测材料基态的手性，而该仪器能检测材料激发态的手性信息。3、技术特点：-灵敏度高-空冷150W氙灯光源-高的信噪比 规格光源150W 空冷氙灯(选配:150W 空冷HgXe等)检测器光电子倍增管PMT调幅器压电弹性调幅器电气系统锁定放大器单色器Ex (激发)和 Em (发射)部分均为双棱镜单色器测量波长范围250到 850 nm400 到1100 nm (选配 PMT检测器)波长精度±0.2 nm (250 to 500 nm)±0.5 nm (500 to 800 nm)±1.5 nm (800 to 1100 nm)波长重现性±0.05 nm (250 to 500 nm)±0.1 nm (500 to 800 nm)±0.5 nm (800 to 1100 nm)狭缝宽度1 - 4000 μm数字积分时间(D.I.T.)0.1 msec to 30 sec扫描方式连续扫描步进扫描自动反应(D.I.T)扫描扫描速度10000 nm /分钟测光模式CD (AC电子元件元件 = CPL)，DC (DC 电子元件=荧光)，HT (高电压f PMT), and AC/DCCPL分辨率0.00001 mdeg波长分辨率0.025 nm杂散光小于0.001%外部输入端子双通道数据采集(输入范围: -1 to 1 V DC)汞灯用于仪器校准遮板在EX激发和Em发射单色器样品室150 mm (W) x 310 mm (D) x 165 mm (H)尺寸2000 mm (W) x 700 mm (D) x 1000 mm (H)重量180 kg满量程± 8000 mdeg功率100 - 240 V 50/60 Hz, 400 VA程序软件包光谱管理器2

仪器简介：WinFTMV6 是一套专门为解决含量分析和镀层测量的软件WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平台上运行；因为透过简单操作及准确的分析结果，所以便能够提升生产力。WinFTMV6还有以下的特色……特大屏幕能提供画中画显示分析结果，光谱及彩色影像图，图像亦可以用JPG格式储存。仪器能同时间分析最多24种不同的元素；根据可检定的元素范围由x ppm到100%，所以原子序号可由氯Cl=17）到铀（Uranium Z=92）。可同时测量23层不同元素镀层的厚度。共有1024频道显示清晰光谱，可随意选用不同颜色及储存光谱图，方便日后加以分析。因为不同受检样本的光谱可以进行比较，所以便快捷和容易地得出两种不同样本含量的分别。快速的频谱分析以决定合金成分。可以随意创建元素分析应用程式。透过预先设入的14种纯元素作为资料库，仪器便可以不需用标准片调校亦能以基本系数（FP）进行分析；如果输入已知的元素更可快捷地得出含量结果。可同时接受最多10种不同含量的标准片来调校仪器，所得出的结果更精确及可信赖。用滑鼠选择已经储存的应用档案后，便可即时进行含量分析。测量样品后，可透过“analysis”功能按键，仪器便会自动侦测内里的元素含量。自带SOFTWARE PDM（Product Data Management产品数据管理）提供了以下的附加功能：通过可定义的文件夹实现产品文件管理（产品文件包括应用，数据呈现方式，打印形式定义，输出模板设置和记事簿）。打印形式可由用户随意设定，例如输出公司标题之类的小图片。包括字体管理以及随意定义页面设置。单个的应用可连接至任何的产品文件（这种连接大大减少了校验和标准化所需的步骤数）。使用条形码标签以及可选择的条形码读入器键盘，可实现产品自动选择。允许仅对选择的数据进行评估。从选择的数据块中进行单组读数的数据输出。FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-u可以透过RS232接口、磁碟片或网络卡将所要的资料汇出到其他电脑进行统计。XYZ运行程序功能：随机的单个点，第一点和最后一点以及距离固定的中间点，列阵点，鼠标左键选点功能，右键可作为控制键。语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文技术参数：1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568；2.测量箱结构坚固，使用合格的机械和电气部件；3.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大约为90kg；4.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）140mm×560 mm×530 mm，带向上回转箱门；5.原始射线从上至下；6.高性能的X-射线管，高压及电流设定可调节至最佳的应用，高压设定：50kV，40kV或30kV；阳极电流：连续可调至0.8mA；7.最小测量点: 50×100um8.聚焦范围: 2.5 mm9.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用；10.高能量解像度的半导体接受器带帕耳帖冷却；内部光谱处理的ADC的通道为4096，压缩为1024个输出通道；；11.快速编程，高精确度，电机带动的XY工作台运行范围：X=250mm， Y=220mm. ；定位精度0.005mm； 工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆工作台面板可自动移出至工件放置位置；定位容易；12.电机驱动及高度（Z-轴）Z-轴运行=95mm；13.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看；可选择的双重放大率30-1108倍，带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示；14.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择，操纵杆控制X-Y工作台，钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动，LED状态指示灯。主要特点：新型号的FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-µ 是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几?reg 微米的结构上进行测量。在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。XDVM-µ 可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。具有强大功能的X-射线XDVM-µ 带WinFTM V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。

布鲁克S8 XRFX射线荧光光谱仪的详细资料 自上世纪60年代德国西门子推出全封闭型的X射线荧光光谱仪（XRF）以来，已经有50多年的商业化进程。布鲁克AXS公司（前身是德国西门子公司的X射线分析仪器部）一直坚持专业化的道路，领导着X射线分析技术发展的潮流。根据新的技术和对用户需求的深入了解，围绕分析测试任务的核心整体设计仪器和功能。2008年布鲁克成功推出S8 TIGER，在灵敏度、准确度、精密度、安全性、可靠性、操作简便性、分析速度、功能完备的分析软件等方面，把XRF分析技术又一次推向了全新的历史阶段。 2017年，第二代S8 TIGER成功推出，采用HighSenseTM技术，保证从铍（4Be）到镅（95Am）的所有元素提供高灵敏度。HighSense技术包括紧凑的HighSense光路、HighSense X射线发生器、HighSense X射线管、HighSense XS系列分光晶体、HighSense计数电子元件。凭借HighSense技术、高分辨率WDXRF技术以及对轻、中、重元素的检测，第二代S8 TIGER的XRF2 微区分析系统可提供高灵敏度、300μm的小光斑尺寸以及高的空间分辨率。 一、高灵敏度、高准确度及高精密度紧凑的HighSense光路HighSense光路，阳极—样品—探测器之间距离短，信号损失少，保证了高灵敏度HighSense高稳定性固态发生器采用新技术模块化设计的固态发生器，稳定性优于±0.00005%，可靠性好。S8 TIGER 1kW，激发电流50mA，激发电压50kV，同级别中强度高。配有内部水冷机，不需要外部水冷机，插上电源就可以使用。S8 TIGER 3kW，激发电流150mA，激发电压60kV，强度上堪比传统的4kW荧光仪。S8 TIGER 4kW，激发电流170mA，激发电压60kV，市场上好的荧光仪。HighSense低温X射线光管HighSense超尖锐端窗陶瓷光管，设计功率4200W，设计电压75kV，设计电流200mA。独特的双路水冷系统，除阳极冷却外，光管头部增加特殊冷却回路，避免光管头部热量对样品的影响，提高易挥发元素及低熔点样品测量的稳定性。提高了分析液体样品、低熔点样品的安全性。此外在阴极与铍窗之间增加隔板，避免蒸镀现象，光管强度不衰减。标配75 μm铍窗，HighSense光管50μm铍窗，强度提高15%，HighSense光管28μm铍窗，超轻元素强度提高50%。HighSense光管铍窗上有保护性涂层，耐腐蚀。高灵敏度、高稳定性的分光晶体HighSense系列人工合成晶体，大大提高了轻元素的检测能力，其中：XS-B晶体提高B元素分析灵敏度百分之百；XS-N晶体提高N元素分析灵敏度百分之百；XS-C显著地降低了背景，提高信噪比30%；XS-55晶体对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上；XS-400晶体与LiF200晶体覆盖的元素完全相同，但是灵敏度提高了35%；XS-CEM人工多层膜晶体，测量Al—S间元素具有无以匹敌的长期稳定性，没有PET晶体的潮解现象，没有PET晶体随着时间的推移强度降低的现象，没有其它天然晶体的温度效应。是水泥、玻璃、矿物、采矿、地质、铝业等领域测量主含量Al、Si的晶体；XS-Ge-C锗弯晶提高P灵敏度40%，提高S灵敏度20%以上；XS-PET-C弯晶提高Al的灵敏度20%。HighSenseTM探测器技术及动态匹配TM功能 HighSenseTM流气正比计数器和闪烁计数器，极快的死时间校正，即刻显示PHA扫描图，数字信号传输，线性范围高达4Mcps（线性偏差≤1%）。动态匹配TM功能，软件自动降低电流，使高含量元素的计数不超过探测器的物理限制，测量更准确，低含量元素自动在满功率条件下测量，使痕量元素也能准确地测量。采用动态匹配功能探测器的高计数率可以达到13Mcps。动态匹配功能可以采用相同的谱线分析样品中从ppm到百分之百含量范围的成份。 HighSense高效的微区分析系统XRF2 借助HighSenseTM技术，第二代S8 TIGER能针对小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析，步长0.1mm。轻元素采用正比探测器，重元素采用闪烁探测器，灵敏度提高10倍，实现了同级别仪器里真正的微区分析。此外，高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片，保证微区分析的针对性和重现性。 高透光性的真空封挡在测量液体和松散粉末样品时，程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开，允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气（氮气），真空封挡显著地降低气体消耗量，同时探测器的稳定性更高，结果的精密度更好。在测量过程中，独特的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室，防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。高精度光学定位测角仪采用高精度光学定位测角仪，定位精度高，测角仪直接到达预设角度，快速连续前进，无需反复调整，长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°，角度重现性优于±0.0001°,扫描速度1200°/分钟，转角速度4800°/分钟。变动理论α系数法采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行全面的集成的基体效应校正，这就是变动理论α系数法。其显著的优点是：需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正，三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题，非常易于使用。未知烧失量校正对于烧失量或烧增量很大的样品，通常的做法是将样品预先灼烧，然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正，分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量，软件会根据其它分析成分估算一个LOI，然后经过多次迭代和拟合，无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正，大大地提高了分析速度也节约了分析成本。角度偏移校正校正价态、矿源差异等引起的峰位位移，测量结果更准确。独有技术几何校正通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正，从而得到更准确的测量结果。独有技术制样校正软件对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法，采用任意配比、随意称量、准确输入的方法，称样误差小，称样速度快，不同的制样方法可以共用同一工作曲线。独有技术P10气体密度稳定器在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器，使探测器里的气体密度始终保持恒定，保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制，控制更精密。高稳定性的光谱室光谱室温度稳定性优于±0.05℃，避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化，从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。采用真空度控制测量对于固体样品，采用真空度控制测量，只有达到预设的真空度才开始测量，避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。 二、高安全性、高可靠性 样品保护™ 功能，四重保护，保证仪器长期可靠运行在样品进入和退出样品室时采取独特的保护，使仪器的故障率低，维护成本少两个污染防护屏，分别保护光管和光谱室粉尘接收盘，收集掉落下来的样品颗粒 测量过程中的独特保护 光管保护屏DuraBeryllium™ 高强度铍窗，保护光管窗口 独特的高透光性真空封挡保护光谱室原位进样系统S8 TIGER采用了直接进样技术，即样品直接装入到仪器的测量位，保证样品到光管的距离不会变化。采用这种直接进样方法的样品室可以设计得很紧凑，又保证了抽真空和充氦气的快速可靠。传统的光谱仪使用样品转台系统来进样，转台上的2个位置经常会出现位置不准的问题，光管到样品的距离的细微变化都会降低分析精度，这时就需要维修，或放弃样品转台的第二个位置。同时这种设计不可避免地扩大了样品室的 体积，增加了进样机械装置的复杂性和保养维护难度。直接进样系统在进样和出样过程中，光管的高压关闭，是完全没有X射线的。在执行这些操作时，光管的灯丝加热电流一直是通的，维持光管的稳定性。1.直接进样代替分步进样，机械结构简单，零故障。2.避免样品在仪器内部过多的运动，避免粉尘积聚、 液体侧翻的风险。3.清洗样品室简单，不需要打开仪器，易于维护。 4.进样速度快。 等级密码保护功能对不同的人给予不同的用户许可权，对曲线参数、数据库、谱线库、仪器参数等加以保护。??双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制，保证操作简单而无失误，即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等，通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制，即使一台出现问题，也不影响测量工作全新设计的安全回路电路板全新设计的探测器、多道分析器、安全回路电路板、马达驱动板、4轴板等，仪器的运行更可靠。防尘设计防尘设计机柜，仪器整体密封，箱体内采用循环水冷却，避免了风冷容易在电路板上带来粉尘的缺点，仪器内部恒久保持洁净，可以在任何恶劣的环境下长期正常工作。产品认证经过德国第三方检测机构对技术指标、辐射保护、电器安全的严格测试，符合德国DIN54113射线防护和CE电器安全等“产品认证”，是德国政府核准的定型仪器。 三、操作简单 触屏控制™ 1. 直观的触摸屏，操作简单，无需 培训，仅需三步就可以得到准确的结果.2.实时显示及查找以前测试结果3.S8 TIGER实时状态显示4.在线帮助功能5.中文操作软件，在线的多语言界面自由切换快速的符合人体工程学的样品装载1.75位带有托盘的自动进样器，可识别样品类型2.60位大样品杯进样器，适合各种类型及形状样品3.108位不用样品杯进样器，机械手直接吸取样品 四、非常快的分析速度非常快的分析速度基于：高强度的X射线光管、快速运行的电子电路板、快速的内部通讯在保证分析精度的前提下，根据元素的含量不同，每个元素的测量时间在2-10秒钟。例如水泥样品中10个元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3)，从放入样品到显示结果不超过2分钟，分析速度完全可以和多通道荧光仪相媲美，而分析的灵活性和高准确度是多通道荧光仪所不具备的。 五、功能完备的分析软件SPECTRAplus V4定性、定量分析软件 SPECTRAplus V4是专为第二代S8 TIGER研发的功能强大的现代分析软件。SPECTRAplus V4包括了定性、定量分析的所有功能，运行在Windows 10环境。SPECTRAplus V4为简单、快速的操作而特别开发的，支持第二代S8 TIGER的独特的TouchControlTM触屏控制的全部功能。 SPECTRAplus V4支持网络功能，用网络中的任何计算机都可以实现全部的分析功能，如分析曲线开发、无标样评估、数据报表。网络计算机的数量没有限制。 SPECTRAplus V4定性分析软件具有交互及自动寻峰以及元素识别功能、自动背景扣除与平滑、高分辨显示样品谱图、坐标轴变换、自动提醒干扰谱线等功能。 SPECTRAplus V4定量分析软件具有集成的智能专家系统，确保用户充分利用S8 TIGER的分析性能创建用户自己特殊应用。分析曲线的自动导航功能从材料的定义到结果的输出，引导用户一步步完成，从开始就可以完成高质量的分析。可以灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息。采用基本参数法进行完全一体化的基体校正（变动“理论α系数法”，计算每一个样品的校正系数），也可以采用理论系数法与经验系数法相结合的固定α系数法进行强度及强度/浓度混合模式的基体校正。用图形显示测量强度、校正强度及背景强度。用户可以指定结果输出格式，非常容易地编辑成报告格式。分析结果超出警戒线会自动显示与报警。全局或指定漂移校正功能。“Daily-Check-Routine”程序定期检查仪器，满足GLP要求。在线统计分析。 SPECTRAplus V4完全汉化，所有程序全部有中文界面、中文提示。并且版本可以保持与英文版同时升级，可以随时切换成中文、英文、法文等界面。 QUANT EXPRESSTM无标样软件包 QUANT EXPRESSTM允许在没有标准曲线的情况下对完全未知的样品进行自动分析。 QUANT EXPRESSTM提供了无以匹敌的分析灵活性。可以在2分钟之内采用扫描模式进行无标样分析，也可以对痕量级的元素进行准确测定。根据用户的需求，QUANT EXPRESSTM可以提供用于交互评估的扫描测量模式，也可以提供峰/背比测量模式。 QUANT EXPRESSTM是一体化分析智能的一部分。可以执行自动寻峰、元素与谱峰的识别、微区定性的元素分布及每一个单点的元素浓度显示、经背景与谱线重叠校正之后净强度的测定等。SPECTRAplus V4软件中独有的强大的变动α系数法基体校正功能，自动执行基体校正及不同类型样品（薄膜、无限厚或非无限厚样品）的校正。用户输入的样品的特性、已知元素的浓度和基体成分都可以集成到一起，进一步提高分析结果的准确度。 QUANT EXPRESSTM可以完全用于用户特定的标准曲线中，采用变动α系数法测定没有标样的元素。它是SPECTRAplus V4集成部分，作为专家系统提供任何应用的谱线设置。S8 TOOLS诊断、维护和服务软件独特的诊断、维护和服务软件包，允许直接控制和检查S8 TIGER的所有部件，确保仪器的控制和分析非常容易。操作过程中的故障很容易识别和消除，确保操作简单、维护方便及长时间正常运行。运行在Windows界面下的自诊断软件，非常直观，可以全面监测系统的几百种状态，您可以将整个状态存盘，发送给维修人员，从而可有效降低维修费用，缩短维修时间。 WebeX远程服务-维护-支持软件允许Bruker AXS专家通过网络进行远程支持，使第二代S8 TIGER达到好的可用性。专业解决方案软件包◆ML PLUS多层膜分析软件：采用先进的完全基本参数法，具有吸收法和发射法两种分析模式；薄层分析采用发射法，厚层分析采用吸收法（准确度更高）。可分析多达15层（每层16个元素）的镀膜样品，测定每层膜的厚度和元素含量。◆PETRO-QUANT软件，可以对油品、塑料、橡胶、聚合物等样品中的30个元素进行优化的无标样定量分析，以及预定义的EN、ISO、ASTM、DIN分析油品的方法和预校准分析曲线。为用户提供交钥匙方案，仪器安装后可以按照国际标准方法立刻进行常规分析。◆GEO-QUANT ADVANCED氧化物分析软件，是地质、矿物、采矿、耐火材料、玻璃与陶瓷业的解决方案，采用熔片法制样，可以分析氧化物中21个主、次元素。◆GEO-QUANT T软件，基于数百个国际参考样品建立的校准曲线，测量地质样品中微量、痕量元素，是地质方面的研究、监测、环保等全面解决方案。◆CEMENT-QUANT软件，采用国际标样建立的水泥工业完整的解决方案，可用于生料、水泥、熟料及采石厂来料中14个元素快速、简单、精密的定量分析。◆METAL-QUANT软件，金属材料的解决方案，可以分析铁基、钴基、镍基、铜基、铅基、锡基中23个主、次及痕量元素。◆POLMER-QUANT软件，用于分析聚合物中的微量和痕量成分。◆GEO-QUANT Iron Ore软件，可以分析铁矿石、铁精矿、球团矿、烧结矿等含铁矿物中20个主、次及痕量元素。

二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本介绍岛津EDX-720Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是最近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。为满足这种需求，畅销全球的EDX-720系列达到了更高的灵敏度与精度。二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本参数1.分析元素：11Na-92U（EDX-720），可以准确检测ROHS指令以外其它元素。2.样品型状：最大 300mmФ×150mmH ,可以满足样品的不规则性。3. X射线滤镜：5种自动交换，可以消除背景元素干扰，使仪器分析精度高于其它仪器。4.能量分辨率：Si/Li检测器，145eV.5.检测下限：Cd:1.7ppm Pb:2ppm Cr:2ppm Br:2ppm Hg:2ppm.满足ROHS 指令和索尼STM-0083标准。6.软件： 定性分析-测定/解析软件。 定量分析-工作曲线法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法固体、粉末、液体样品都不需要前处理的非破坏性的简便分析。适用快速评价RoHS、 ELV法规限制的有害元素的新装置！灵敏度比以往机型提高2倍，使用更方便，提高了筛选分析的效率！ EDX-720二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720主要特点：1、配置新型滤光片，提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍。2、配置高计数率电路，增加检测器的计数量。3、增加时间缩短功能，由荧光X射线强度算出测定精度，自动判断所需最少测定时间。4、增加自动工作曲线选择功能，依据识别样品种类的不同而选择最适宜的工作曲线。

波长色散X荧光分析仪是我公司总结我国多年来研制该类型仪器的经验和教训,并吸收与参照国际先进技术基础上，深入进行产业化研发形成的高科技产品，各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，例如建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素如S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和微量分析的可靠工具，也应用于大专院校和科研单位。 波长色散X射线荧光光谱仪，是本公司吸取国外先进经验，整合国内技术优势，精心设计的实验室设备。其卓越的性能可以满足不同客户的分析要求，极具吸引力的价格，使用户在低成本分析过程中受益。目前我们的仪器已经在建材（水泥、玻璃、陶瓷）行业、有色金属、钢铁、石油化工等领域得到了广泛的使用。应用效果良好，满足用户的实际需要。 应用领域：●AL-BP-9010A非常适合在大、中、小型水泥厂（单、双窑）做质量过程控制使用。可用于分析原料（如石灰石、沙土、矾土、菱镁矿和其他矿物）中主量和次量氧化物的分析 生料、熟料和水泥中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常规元素的测定。●钢铁行业的应用：依据GB/T 223.79-2007测定Si、Mn、P、S、Cu、A、Ni、Cr、Mo、V、Ti、W、Nb元素。●其它行业的应用：石油中的S、P测定，玻璃、陶瓷、有色金属、矿业、地质、化工、质量检验等。 特 点：高度自动化的分析，省力省时适合原材料、新材料、产品的研究及管理等分析，可对多种样品进行从微量到高含量的分析。仅需约3分钟即可完成1个样品中十几种元素的定量分析，由于仪器整机的高稳定性充分保证了全自动分析。 生产流程的管理分析可快速获得分析结果，经数据处理后，可进行质量检验、规格判断等，应用于生产管理分析（特别是炉前分析）。 质量控制迅速分析从生产线采集的样品。将分析结果（配比计算）作为原料配制的控制数据进行反馈，用于提高质量及稳定质量。 优 势：为了保证仪器性能，本仪器所用核心部件，如X射线管、高压电源、探测器、流气控制系统、分光系统均采用进口部件。与同等性能的仪器相比我司的仪器价格仍具一定优势。 技术参数●分析元素种类：从11Na～92U 的任意十种元素。●X射线管：Varian 公司生产的400W 薄铍窗端窗X射线管，Rh 靶（Pd 靶可选） 。●X射线管冷却：专业的循环制冷冷却，无需冷却水。●高压电源：400W ( 50kV8mA ) ，管压管流12 h稳定度：优于0.05 % 。 ●恒温室温度控制精度：设定值±0.1℃●探 测 器：流气正比探测器、封闭计数管、闪烁计数器。●数据处理系统：12 路2048 道独立脉冲高度分析器。 ●真空系统：独立泵站结构，双真空室，易于维护，测量室最高真空度：低于7Pa。●流气系统：采用国外高精度密度流量控制系统，高精度流气密度稳定装置，压力稳定度达到士0.01kPa。 ●交流220V 供电设备：2kVA交流净化稳压电流。 ●稳 定 性：( 24 h) ≤2%。●计数器的能量分辨率：≤40%。●仪器计数线性：≤1%。●单个样品测量时间：（含换样抽真空时间）≤(2-5)min 。●样品尺寸：40mmx10mm(H) ●分析样品面：最大35mm ●样品旋转：30rpm ●软 件：定性分析(自动鉴定解析功能(平滑,扣背景) ●定量分析：各种基体校正,标样分析法,应用模板, ●维护功能：自动诊断,远程诊断 软件特点1）自主开发的软件全中文软件系统，适合windows操作系统，软件操作简单，完全符合中国人操作的习惯，对操作人员无特殊要求；2）操作界面直观，可多任务同时执行，人机对话，方便修改和设定各种参数；3）采用全谱检测，实时智能校正仪器漂移到最佳运行状态；4）仪器采用最先进的数理模型算法标定工作曲线过程简单，更符合用户生产工艺特点；5）强大的数据库系统支持，实现各种基体、背景干扰校正；6）配备水泥行业在线率值配料配比反馈调节计算和水泥组分测定模块，测量生产样品结果的统计，帮助工艺工程师分析配料变化情况；7）强大的历史记录查询功能，随时动态掌握生产工艺变化；8）强大的自诊断功能，实时监控仪器状态，自动的保护功能；9）具有流行的DCS通讯协议,可以方便地与DCS系统进行数据共享。 水泥行业应用：波谱仪系统主要由样品制备设备（包括振动磨、压片机）、波谱仪主要、计算机系统（主要包括主机、监视器、打印机、键盘、数据通讯接口）等，与其他相关设备配合构成波谱仪生料质量控制系统。波谱仪主要用于生料化学成分的分析，以实现原料配比的在线自动化控制，保证入窑生料率值的标准偏差达到规定指标；同时，X荧光分析仪也可用于各种原料、燃料、熟料、水泥的离线分析。 本仪器是同时式波长色散型光谱仪，可装载10个以上（含10个）分析通道用于多元素同时测定，元素分析范围为钠到铀，元素预设范围为水泥10大元素Ca、Fe、Si、Al、Na、Mg、S、K、Cl、P，分析速度小于2分钟。输入电源为单相220/240VAC，并由主机向PC机和打印机供电。

一,Tydex太赫兹线栅偏振片一,Tydex太赫兹线栅偏振片对于RF和THz范围，我们生产线栅偏振器，用于极化150μm至数cm波长范围内的辐射。它们由11μm厚的平行钨丝制成，安装在无衬底的支架中。Tydex太赫兹线栅偏振片,Tydex太赫兹线栅偏振片通用参数特征：&bull 能够承受高能量的入射辐射；&bull 由于没有衬底提供所需极化的高透射率；&bull 提供高度极化；&bull 由钨丝制成；&bull 安装在支架上（标有电线方向的保护环）。线栅偏振器相对于聚丙烯栅极偏振器的优势：&bull 由于没有衬底，因此可以更好地传输所需的极化；&bull 能承受高强度辐射。应用：&bull 太赫兹光谱学；&bull THz显微镜；&bull 传感器和探测器；&bull 傅里叶光谱学；&bull THz和SHF旋光法。规格：波长范围，μm≥ 150支架直径，mm≤ 152通光孔径，mm≤136所需偏振光透射率K1,%＞92 非所需偏振的透射率K2,%＜0.1消光系数Е=10*Log(K1/K2),dB＞30图1消光系数，dB图2.非期望极化的传输，%图3期望极化的传输率，%偏振器是在圆形（2-6英寸直径）支架中提供的。2英寸偏振片的工作孔径为36毫米，6英寸偏振片为136毫米。二 ,太赫兹线栅偏振片/偏振器THz wire grid polarizer (钨丝直径 5/10um)这些线栅太赫兹偏振片是由5um直径的钨丝制成，线间距可以缩短至12.5um， 适用于短波50 um（0.05-6THz）至更高的波长。 下面的表格中是我们所能提供的标准线栅太赫兹偏振片的规格（包括通光孔径、尺寸等）。10um直径的钨丝制成线栅太赫兹偏振片，线间距可以缩短至25um， 适用于短波100 um（0.05-3THz）至更高的波长。 下面的表格中是我们所能提供的标准线栅太赫兹偏振片的规格（包括通光孔径、尺寸等）。太赫兹线栅偏振片/偏振器THz wire grid polarizer (钨丝直径 5/10um),太赫兹线栅偏振片/偏振器THz wire grid polarizer (钨丝直径 5/10um)通用参数5 um线栅太赫兹偏振片 （5um直径的钨丝制成，0.1-6THz）刻痕表示透射光的偏振轴。线间距12.5um太赫兹偏振片：型号外径尺寸mm通光孔径mm厚度mm框架材料PW005-012-02525147电镀铝PW005-012-050503410电镀铝PW005-012-075755610电镀铝PW005-012-1001008012电镀铝PW005-012-15015012412电镀铝线间距16um太赫兹偏振片：型号外径尺寸mm通光孔径mm厚度mm框架材料PW005-016-02525147电镀铝PW005-016-050503410电镀铝PW005-016-075755610电镀铝PW005-016-1001008012电镀铝PW005-016-15015012412电镀铝线间距22um太赫兹偏振片：型号外径尺寸mm通光孔径mm厚度mm框架材料PW005-022-02525147电镀铝PW005-022-050503410电镀铝PW005-022-075755610电镀铝PW005-022-1001008012电镀铝PW005-022-15015012412电镀铝三,太赫兹线栅偏振片THz wire grid polarizer产品类型：1、5 um线栅偏振片 （5um直径的钨丝制成，高频至6THz/50um）这些线栅偏振片是由5um直径的钨丝制成，线间距可以缩短至12.5um，适用于短波50 um（6THz）至更高的波长。下面的表格中是我们所能提供的标准线栅偏振片的规格（包括通光孔径、尺寸等）。2、10 um线栅偏振片 （10um直径的钨丝制成，高频至3THz/100um）这些线栅偏振片是由10um直径的钨丝制成，线间距可以缩短至25um，适用于短波100 um（3THz）至更高的波长。下面的表格中是我们所能提供的标准线栅偏振片的规格（包括通光孔径、尺寸等）。

仪器简介：ZSX PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪，分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 可以分析材料的领域包括：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。 技术参数 X射线发生器部分 X射线管：端窗式Rh靶 4kW或3kW 高压发生器：高频变频方式 额定电压,电流：4kW,60kV-150mA 稳定度：± 0.005%(对电源± 10%变化时) 冷却水：水冷冷却水(内置) 分光部部分 样品交换器：可以选择12,24,36,48样品交换器 样品尺寸：&phi 51mmx40mm(H) 分析样品面：最大&phi 35mm 样品旋转：30rpm 1次X射线滤波片：4种(Al,Ti,Cu,Zr) 视野限制光阑：6种自动交换机构(&phi 35,30,20,10,1,0.5 mm) 发散狭缝：3种自动交换机构(标准分辨率、高分辨率、超轻元素用(选件) 接收狭缝：SC用,F-PC用 测角仪：&theta -2&theta 独立驱动 测角范围：SC、5° -118° ， F-PC、13° -148° 最大扫描速度：1400° /min(2&theta ) 连续扫描：0.1-240° /min 晶体交换机构：10分光晶体自动交换机构 分光晶体：(标准)LiF(200)、Ge、PET、RX25 (选件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP 真空排气系统：双真空室高速排气系统(双真空泵) 粉末样品附件(选件) 氦气置换机构(选件)：带隔板 恒温化机构：36.5度 记数.控制部分： 重元素用：SC闪烁计数管，记数线性1000kcps 轻元素用：F-PC流气比例计数管，记数线性2000kcps 芯线加热自动清洗机构 衰减器：IN-OUT自动切换(衰减率1/10) 计算机：windows PC 软件： 定性分析：自动鉴定分析功能，包括平滑,扣背景 定量分析：检量线法 JIS法 各种基体校正 无标样分析法 EZ扫描,应用模板, 样品径自动选择 谱峰分离 定精度测试 E-mail传送功能,多功能标准样品 其它选件 维护功能: 自动PHA调整(PAS) 全自动芯线清洗 自动老化 自动诊断 远程诊断主要特点：1、 大幅度提高了超轻元素(B,C)的分析灵敏度、准确度 使用理学独创的强度最高的分光晶体RX-25，RX-61，RX-75，保证轻元素分析的灵敏度 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命X光管，最适合超轻元素分析 2、 采用新光学系统，实现对重元素的高灵敏度分析 3、 强大的粉末样品测试功能 上照式，可以长时间防止粉末污染分光室 双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室)，防止粉末样品的细微粉尘混入分光室 粉末附件，采用电磁阀真空密封，防止细微粉尘进入真空泵内 4、 加装CCD视频摄像机构，位置分辨率可达100um，可以进行0.5mm的微区分析，可以测量Mapping(理学专利) 5、 提高少量样品的分析准确度 使用r-&theta 样品台(理学专利)，彻底解决了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题，保证样品在X射线最强、最佳条件下测量。 6、 样品室与分光室之间有专用隔膜装置 7、 48位自动进样器 8、 PAS自动调整脉冲高度系统(理学专利) ACC自动清洗F-PC芯线系统(理学专利) 可以保证仪器在最佳状态下使用 9、 节约能源(自动减少X射线管的输出)；节约PR-10气体；节约He气(选用He室时)；节省空间 10、 自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件 11、 先进的软件分析，NEW SQX软件 12、 全中文界面

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器，通过智能激发和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法，适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小，任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼（Mo）靶管电压5─50KV管电流1─1000ｕA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本，终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP（正版）数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10－35С，湿度30－70％RH重量60Kg（主机部分）外形尺寸550（W）×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100－300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 ％RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品，塑料和聚合物，食品和化妆品，环境，矿石，医药，建筑材料，中心实验室成品检验，金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好

XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品介绍： XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪手持式、台式、在线： XAN500型X射线荧光仪器是到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。产品特点：通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准重量1.9 kg一次电池充电可持续运行6个小时测量点：3毫米Ø 高分辨率硅漂移检测器用于户外的IP54等级用作台式设备的可选测量箱；使用完整版WinFTM软件进行数据统计产品应用：应用● 在生产过程中，实时检测镀层厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）● 可便捷且稳定地测量大尺寸部件，如管道、外壳或机械零件。● 将仪器放置到测量箱中，XAN500即成为全功能的台式仪器，可精确地测量小尺寸零件，如螺母和螺栓。● 还可整合到生产线的控制系统中，可以实现100%的质量监控产品使用：测试大型样件，装配测量箱后也可以测试小样件一次测试同时测定镀层的厚度和成分（例如，Fe上的ZnNi合金）未知合金的无标准片测量大型镀层零件（例如机器部件和外壳）的测量电镀层的测试电镀液金属含量的分析