能量色散测硫仪

探险者EXPLORER能量色散X荧光光谱仪是天瑞仪器结合10年手持式XRF技术研发经 验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，具有自主知识产权的全新一代便 携式XRF产品。 EXPLORER 9000能量色散X荧光光谱仪是使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的便携式土壤重金属分析仪。EXPLORER 9000可对土 壤污染物进行原位测试与修复分析，可对污染土壤中的汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、 钒、铬、锰等重金属元素进行有效检测，还可根据客户需求定制增加检测元素。仪器不仅体 积小、重量轻，可随身携带进行测量；而且性能卓越，堪比台式机，即使是重金属含量较低 的土壤也能轻松测定。应用领域优势土壤重金属普查内置GPS功能，在野外可随时搜索卫星信号，确定取样点的地理 位置信息，快速普查超大范围的土壤地质污染区，建立污染地 图，实时监控各区域的污染情况。对各类农业用地、居住用地、 商业用地、工业用地等级进行重金属污染环境评价。土壤重金属污染后的应急处理常用于污染事件发生后的应急处理。能快速、现场追踪污染异 常，有效寻找“污点”地带，圈定污染区域边界，进行实时勘察。助力污染区土壤修复对污染地带进行等级划分，圈定重点土壤污染区，按照划分好的区域进行重点优选治理，提高筛查效率，并实时监控污染区的土壤修复情况。六大性能优势更便捷的操作重量轻，体积小，人体工程学把手设计，配有专用仪器套，更易抓握，野外使用更方便。270 °可旋转5寸高清屏，支持多点操控，任何光线下都能清晰显示。密封式一体设计，具备防水防尘功能，可在恶劣环境下连续使用。无需制备样品，可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行快速测试，也能使用测试座对样品进行较长时间的精确测试。更卓越的性能无损快速检测，对准即测，一秒可报结果。性能堪比台式机，检测效果又快又准。 同时检测：汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒、铬、锰等重金属元素，还可根据客户需求定制增加检测元素。 超近光路设计，提高了计数率达到5倍以上，大大缩短了测试时间，完全可以满足手持检测需求。更强劲的电力选配超大27000mAh锂电池，续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器，保证电力供应。内置记忆电池，换电池不断电。更高端的配置微型光管、SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智能分析模块四大核心技术的引入，使其具有台式相近的测试精度。 采用超高主频及大内存，超大存储空间，可海量存储数据。全新自主研发的数字多道技术，保证每秒有效采谱计数可达500kcps。准直滤波系统，其组合达到极限12组，满足客户的不同条件下的检测需求。 800万高清晰摄像头，随时观察样品测试位置，使测量更加准确。更安全的防护智能三色预警系统：LED三色长灯带设计，360度无死角显示。通电开机时绿灯亮，测试红灯闪烁，设备故障黄色灯闪 烁，仪器状态，一目了然。 三重安全防护功能： a: 自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏。 b: 采用加厚防护测试壁，有效防止散射。 c: 配送防护安全罩，防周边轻基体散射。 安全联动锁装置，当软件无法控制关闭，轻轻一按，保护您的安全。更智能的软件EXPLORER 9000 能量色散X荧光光谱仪配有专门针对土壤污染物的专业应用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超标、操作简易、可实现边测边打印功能等特点。 全新的智能软件，一键智能操作，采用双模设计（用户模式和专家模式）。用户模式一键检测标准土壤重金属元素；专家模式可进行增加元素，增加特定曲线等深入分析操作。 内置强度校正方法，校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。仪器配置电子制冷的高性能半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、独立通道散热风路、智能一键测试模块、大面积触控电脑及全自动机械臂进样系统（选配），与以往机型相比，实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、高效率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时，大大提高了便捷性，可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式，真正的做到了智能自动检测。仪器可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究，从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化学研究、医药食品管控等多行业领域。产品的特点1.配置高性能检测系统，提高各项分析性能高性能半导体探测器，高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合，获得超高灵敏度。与以往机型相比，重元素检测下限可提升5~10倍，可应对高要求的检测需求。独立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性，提升分析结果的可靠性。2.轻松操作，自动便捷 一体机式设计、一键测试功能、全匹配分析模式确保样品检测一个动作完成。3.多层防护，安全可靠软件误操作提醒，仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。4.全自动进样机械臂（选配）配备水平多关节机械手，85位自动进样系统，可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂，有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观；碰撞即停的设置，使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本，通过人机协作可提高50%的人工效率。应用领域RoHS检测分析、有害元素分析地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、首饰销售和检测机构、电镀行业

JSX-1000S是日本电子在2014年3月在全世界同步推出的最新一款能量色散X射线荧光元素分析仪，软件设计简单，操作极为方便；灵敏度高、效率好；还未不同的应用专门设计的特色软件应对，实现了准确、高效的元素分析，应用范围极为广泛。 JSX-1000S由设计顶级设计团队设计外观，洋溢现代美感，充分体现了该仪器的高端气质。 主要技术指标：探测范围:标准配置Mg～U 选配Na～U X-射线发生装置：5～50　kV , 1mA靶材：Rh过滤器（最大九种）：标准配置OPEN, ND, Cr, Pb, Cd　；选配Cl, Cu, Mo, Sb检测器：硅漂移探头样品室尺寸：300mmφ×80mmH样品室真空：标准配置（大气）；选配真空样品室内观察系统：彩色相机分析软件：定性分析、定量分析、RoHS对应软件（Cd,Pb,Hg,Br,Cr)、简易分析软件、报告书软件、日常检查软件等

追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。应用领域电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等超高硬件配置采用Fast-SDD探测器,125eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。设计亮点上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，满足微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，大大提高测样效率。自带数据校对系统。软件界面人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。曲线的中文备注，让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。仪器配置电子制冷的高性能半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、独立通道散热风路、智能一键测试模块、大屏幕触控电脑及全自动机械臂进样系统（选配），与以往机型相比，实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、高效率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时，大大提高了便捷性，可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式，真正的做到了智能自动检测。应用领域RoHS检测分析、有害元素分析地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、首饰销售和检测机构、电镀行业产品特点配置高性能检测系统，提高各项分析性能高性能半导体探测器，高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合，获得灵敏度。与以往机型相比，重元素检测下限可提升5~10倍，可应对高要求的检测需求。独立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性，提升分析结果的可靠性。轻松操作，自动便捷一体机式设计、一键测试功能、全匹配智能分析模式确保样品检测一个动作完成。多层防护，安全可靠软件误操作提醒，仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。全自动进样机械臂（选配）配备水平多关节机械手，85位自动进样系统，可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂，有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观；碰撞即停的设置，使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本，通过人机协作可提高50%的人工效率。

美国XOS Petra 4294 X荧光硫含量分析仪，采用高分辨率 X 射线荧光 (HDXRF) 技术，适用于检测原油、柴油、汽油、喷气燃料和润滑剂等碳氢化合物，以及煤炭等固体样品。Petra 4294采用创新的进样系统，该系统可将意外溢出的液体引至滴盘并远离重要部件，避免频繁维护。仪器符合ASTM D4294、GB/T 17040、GB/T 17606、ISO 8754 和 IP 336 标准方法。 产品特点：l 采用HDXRF高分辨率能量色散X荧光技术，超低背景l 检测下限（LOD）可达2.6 ppm @ 600 sl 简易样品制备及仪器操作过程，检测速度快l 检测过程中样品杯垂直放置，如遇意外泄漏，可直接落入积油盘，不会进入仪器l 无需样品损耗或转化，无需消耗气体及高温操作l 超低维护量，较少的校准频率l 体积小巧，可放置于任何实验室，即插即用l 分析器内无运动部件l 可选带二维码样品杯，仪器可直接扫码记录信息l 可升级自动进样装置 符合标准：ASTM D4294-16 能量色散X射线荧光光谱法测定石油及石油产品中的硫GB/T 17040 -2019 石油和石油产品中硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法GB/T 17606 -2009 原油中硫含量的测定 能量色散X-射线荧光光谱法 技术参数：l 检测下限可达2.6 ppm @ 600 sl 有效测量范围：2.6 ppm – 10 wt%l 样品用量：不大于10 mLl 分析过程只需电源，无需燃烧和气体消耗l 具有多校准曲线存储功能，可实现对不同样品的测量l 测量时间：30 – 900秒，可自由设定 应用领域：石化产品如，车用汽油、柴油、调和用馏分油、喷气燃料、煤油、生物柴油、生物柴油调和燃料、乙醇汽油、石脑油、渣油、润滑油、原油、催化剂等。适用于石化企业，地炼、质检部门、第三方检测等行业。

产品名称：石油产品能量色散X荧光硫含量分析仪产 地：美国型 号：NEX QC厂家名称：Rigaku理学公司分析标准：符合ASTM D4294、GB/T 17040检测下限：硫：5ppm测量范围：0-10样 品 量：5ml打 印 机：内置打印机标准校正：康普顿散射C/H比校正数据输出：USB及以太Ethernet网线输出分析时间：标准分析时间300秒, 可根据应用选择1-999秒自由选择入射光净化：多层复合滤光片相对湿度：小于85%，仪器外表及内部无凝结水其他要求：人类感受不到的振动，无腐蚀性气体、粉尘和颗粒物

XRF9能量色散X射线荧光分析仪n XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。n XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点n 先进的多光束可调系统n 具有高分辨率的探测器n 采用XYZ三维样品台n 大型样品分析室n CCD摄像及自动定位系统n 自动调节双层六通道滤光系统n 完善的辐射安全防护n 强大功能的软件操作系统n 短时间多元素同时分析n 无损分析和先进的薄样分析技术相组合n 多种定量分析方法n 无需液氮和水循环冷却n 种类齐全的选配标准样品n RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置n 外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3n 样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3n 主机质量：约45Kgn 工作环境温度：0~40oCn 工作环境相对湿度：≤80%n 元素分析范围：AI-Un 含量分析范围：1ppm~99.99%n 重复性：＜5%n 测量时间：一般60~300sn 测量对象：块状物体、粉末、液体n 激发功率：50Wn 探测器分辨率：149gevn 输入电源：AC110V/220Vn 高压电源：0~50kv/0~1mAn X射线辐射剂量：≤1μSv/h代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标塑料基体CrBrCdHgPb LOD82 4 4 5

产品名称：高精度能量色散X荧光总硫及多元素分析仪型 号：NEX DE适用产品：柴油、船用燃料油、蜡油、渣油、原油分析标准：GB/T 17040、ASTM D4294、ASTM D8252、ASTM D6481元素检测范围：钠Na～铀U样 品 量：5ml软 件：QuantEZ分析软件，支持中文分析时间：标准分析时间300秒, 可根据应用在30-900秒自由选择入射光净化：多层复合滤光片环境温度：10 ~ 35°C 相对湿度：小于80%，仪器外表及内部无凝结水其他要求：人类感受不到的振动，无腐蚀性气体、粉尘和颗粒物数据输出：USB及以太Ethernet网线输出 油品分析经典元素检测（ppm）：

能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品，位于元素周期表上从4号元素铍（Be）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从0.1ppm到100%，而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快（30s-900s）、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明： ●电子、塑胶、五金材料：各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料：纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭：石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥：陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品：土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属：铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁：生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业：无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境：各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学：有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同，因此，受激发后发出的X射线光子能量互不相同，即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线，代表了该元素的特征，因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量，检测到此种能量的X射线，即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上，激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光)，使用具有高能量分辨率的X射线探测器，得到X射线荧光能谱，不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系，通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析，以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性，用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介：能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能：●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数：2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。 1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%纹 波：输出电压的0.25%峰-峰 温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃ 稳 定 性：预热半小时后，0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1．一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。2．人性化的人机界面3．各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。4．测试数据自动存储，具有历史查询功能。5．最前沿的定性定量分析方法。6．可同时分析几十种元素。7．元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。8．长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。9．对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。10．实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

产品名称：CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪 产品说明、技术参数及配置 CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪，是先达公司2003年推出的达到世界先进水平、国内领先水平的全元素分析仪器，当年被科技部、质监总局、税务总局等五部委联合批准为&ldquo 国家重点新产品&rdquo ，同时被国家列入十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用低能X光管进行激发，采用了国外最先进的半导体电制冷探测器进行探测，数字化谱分析技术，2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析，一次性可以完成20多种元素的快速、准确分析。 适用范围 钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析； 耐火材料：各类样品成份分析； 有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析； 质检部门：工业产品、金、银等各种成份分析。 型号：CIT-3000SM 性能特点 采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率； 采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器，分辨率高，无需液氮制冷，使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测； 高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流0-lmA连续可调，数码显示，精度高，无故障操作； 样品种类：固体、粉末、液体均可，压片无需添加任何试剂； 腔内环境：空气或真空； 真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围； 2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成； 可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析； 自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定； 专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件； 全中文Windows应用软件，操作简单。 技术指标 分析元素：Mg-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等 分析范围：1ppm-99.99% 同时分析：20多种元素同时分析 能量范围：1-30keV 测量时间：1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析 探测器的分辨率：150ev 管电压：0-50Kv 管电流： 1～1000 &mu A 仪器的分析精度：标准偏差&le 0.08% 分析误差：优于国家标准要求 辐射剂量：25&mu sv/h. 工作环境：温度10～35 ℃ 湿度30～70%RH 電源：AC 220 V± 10 %、50/60 Hz 仪器配置 仪器主机一台 控制面板 进口电制冷半导体探测器 X光管（1KV-40KV） 高压电源 计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套

XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘，显著提高检测灵敏度，降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室，无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作，简单易用，使用方便，人机交互友好，无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析，测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片，X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能，分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式，分析结果自动保存，可方便对历史数据进行查询及统计，只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置，并且对样品进行拍照，样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对，对不同元素含量的谱图进行比对，进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法，全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台，可为客户量身定做有害物质检测方案。

能量色散X射线荧光（EDXRF）是一种常规的分析技术，广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的实用性源于：快速、准确、无损的多元素分析；元素分析范围涵盖从钠（Na）至铀（U）；含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量（wt%）。 日本理学NEX CG功能多样，可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品，到固态、金属、泥浆、粉末和胶状样品。特别适用于对成分完全未知的样品进行半定量分析。NEX CG欠打的分析能力，灵活、方便的使用性，使其在科研、工业及现场检测领域有着广泛的需求。 独立的2次靶光学系统、能为范围广泛的元素提供很好分析。钠 (Na) 、镁(Mg)、氯(Cl)等用EDX分析比较困难的元素也能用NEX CG进行分析。能量色散X射线荧光（EDXRF）分析的特点*检测样品完全无损*元素分析从钠（Na）至铀（U）*适用于固态、液态、粉末及稀薄样品*偏振式激发使检出限（LOD）更低*无需标准样品即可进行半定量分析*使用RPE-SQX软件减少对标样需求*独特的光谱重叠处理方法使误差降低*EZ分析程序用户界面简单

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

微谱科技5E-XRF2510高性能能量色散X射线荧光光谱仪5E-XRF2500 X射线荧光光谱仪凭借其紧凑的尺寸，优异的分析性能，超高的测试效率，可以精准测试从F到U的所有元素。广泛应用于水泥、采矿、金属冶炼、玻璃陶瓷、化妆品、催化剂、石化等行业。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：3种可选，空气，真空，氦气触屏大小：10寸产品特点：操作简单在测试过程中，可随时查看仪器运行状态：管压、管流、光管温度、光谱室真空度、各类传感器状态、探测器温度信息，随时全面掌握仪器的工作信息样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确高性能能量色散X射线荧光光谱仪，从灵敏度，分辨率和稳定性体现更高的灵敏度微谱科技5E-XRF2500设备采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。例如，通过上述创新性技术，可以使用熔融制样方法对样品中的钠元素进行准确定量分析，以前只有价格昂贵的WDXRF才可以完成的任务，而现在使用微谱科技的EDXRF就可以完成更高的分辨率5E-XRF2500采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析。更高的稳定性5E-XRF2500创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术。使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

1.产品名称及机型指标介绍:　　1.1. 产品名称及型号：　　能量色散X荧光光谱仪-------R-350 型　　1.2. 制造商：山东云唐　　1.3. 仪器规格　　仪器腔尺寸 439mmX300mmX150mm　　仪器外观尺寸 550mmX410mmX320mm　　仪器重量 45kg　　1.4. 工作条件：　　● 工作温度：15-30℃　　● 相对湿度：40%～50%　　● 电 源：AC :220V ±5V　　1.5. 能量色散X荧光光谱仪技术性能及指标:　　1.5.1. 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 　　1.5.2. 元素含量分析范围为1 PPm到99.99% 　　1.5.3. 测量时间：100-300秒 　　1.5.4. RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)其检测限度高达1PPM 　　1.5.5. 能量分辨率为149±5电子伏特 　　1.5.6. 温度适应范围为15℃至30℃ 　　1.5.7 电源：交流220V±5V (建议配置交流净化稳压电源。)　　1.6.产品特点　　1.6.1 R-350是专门针对RoHS、EN71等环保指令设计得一款产品。　　1.6.2打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。　　1.6.3采用美国新型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。　　1.6.4采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确。　　1.6.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。　　1.6.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。　　1.6.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。　　1.6.8先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全。　　1.6.9机芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。　　1.6.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。　　1.6.11RoHS专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。　　1.6.12本机采用USB2.0接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。　　2.仪器硬件部分主要配置　　2.1Si-pin电制冷半导体探测器:(最新型探测器)　　2.1.1. Si-pin电制冷半导体探测器 分辨率：149±5电子伏特　　2.1.2. 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测 把探测采集的信息,进一步放大。　　2.2 X射线激发装置:　　2.2.1. 灯丝电流灯丝电流输出MAX：1mA 　　2.2.2 .属于半损耗型部件，50W，空冷。　　2.3 高压发射装置:　　2.3.1. 电压电压输出MAX： 50KV 　　2.3.2.电压输出MIN: 5KV，可控调节　　2.3.3.自带电压过载保护　　2.4 多道分析器:　　2.4.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。　　2.4.2 .道数MAX：4096 　　2.4.3 包含信号增强处理　　2.5光路过滤模块　　2.5.1 降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确。　　2.5.2 将准直器与滤光处整合 　　2.6 准直器自动切换模块　　2.6.1多达8种选择，口径分别为8#, 6#, 4#, 3#，2#, 1#, 0.5#,0.2#。　　2.7 滤光片自动切换模块　　2.7.1六种滤光片的自由选择和切换。　　2.8 工作曲线自动选择模块　　2.8.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化　　3. 专用软件JPSPEC-FP　　3.1.1软件简介　　专门针对RoHS检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。　　3.1.2功能介绍　　※专门应对欧盟RoHS指令中六种物质涉及的六种元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr，Cl测试，测量时间为100-300秒　　※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作　　※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确。　　※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能　　※自动校准仪器。　　※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线　　※多种报告形式打印。　　※可同时显示多个光谱图　　※机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。　　4. 样品配置　　标准样品用于制作工作曲线　　4.1 样品腔　　开放式大样品腔　　4.2 标样　　欧盟标样E60K　　纯银样品　　5. 产品保修及售后服务　　5.1 对客户方操作人员免费进行培训。　　5.2 安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。　　5.3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器自验收合格之日起保修一年。　　5.4 产品终身维修。(客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证，保修卡等)　　5.5 免费提供软件升级 　　5.6 提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

美国XOS Petra MAX X荧光多元素含量分析仪除了能够进行 D4294 硫含量分析之外，还可以检测从磷到锌的 12 种元素，尤其适用于亚 ppm 级别的钙、铁、钾、镍和钒等主要元素。采用高分辨率 X 射线荧光 (HDXRF) 技术，适用于检测原油、柴油、汽油、喷气燃料和润滑剂等碳氢化合物，以及煤炭等固体样品。Petra MAX采用创新的进样系统，该系统可将意外溢出的液体引至滴盘并远离重要部件，避免频繁维护。仪器符合ASTM D4294、GB/T 17040、GB/T 17606、ISO 8754 和 IP 336 等标准方法。 产品特点：l 采用HDXRF高分辨率能量色散X荧光技术，超低背景l 检测元素：硫、磷、氯、钾、钙、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌l 检测下限（LOD）可达5.7 ppm @ 600 s（硫）l 简易样品制备及仪器操作过程，检测速度快l 检测过程中样品杯垂直放置，如遇意外泄漏，可直接落入积油盘，不会进入仪器l 无需样品损耗或转化，无需消耗气体及高温操作l 超低维护量，较少的校准频率l 体积小巧，可放置于任何实验室，即插即用l 分析器内无运动部件l 可选带二维码样品杯，仪器可直接扫码记录信息l 可升级自动进样装置 符合标准：ASTM D4294-16 能量色散X射线荧光光谱法测定石油及石油产品中的硫GB/T 17040 -2019 石油和石油产品中硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法GB/T 17606 -2009 原油中硫含量的测定 能量色散X-射线荧光光谱法ASTM D8252-19 X荧光光谱法测定原油和残渣油中矾和镍的标准试验方法 技术参数：l 检测下限可达5.7 ppm @ 600 sl 有效测量范围：5.7 ppm – 10 wt%l 样品用量：不大于10 mLl 分析过程只需电源，无需燃烧和气体消耗l 具有多校准曲线存储功能，可实现对不同样品的测量l 测量时间：30 – 900秒，可自由设定 应用领域：石化产品如，车用汽油、柴油、调和用馏分油、喷气燃料、煤油、生物柴油、生物柴油调和燃料、乙醇汽油、石脑油、渣油、润滑油、原油、催化剂等。适用于石化企业，地炼、质检部门、第三方检测等行业。

1.能量色散X荧光光谱仪应用领域： 1.1.ROHS\无卤检测指令 1.2.合金分析领域（特别是轻元素） 锌铝合金成分分析 铝合金成分分析 铜合金牌号判定、成分分析 不锈钢成分分析（抽真空轻元素检测） 铸铁成份分析等 1.3.镀层成分分析 镀层厚度分析 镀层环保检测 1.4.能量色散X荧光光谱仪仪器规格 仪器腔尺寸：400mmX340mmX80mm 仪器外观尺寸：700mmX510mmX336mm 仪器重量：56kg 1.5.工作条件： ●工作温度：15-30℃ ●相对湿度：40%～70% ●电源：AC:220V±5V、 1.6.技术性能及指标: 1.6.1.元素分析范围从钠(Na)到铀(U)； 1.6.2.元素含量分析范围为1PPm到99.99%； 1.6.3.测量时间：100-300秒(可调)； 1.6.4.RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM； 1.6.7.能量分辨率为129±5电子伏特； 1.6.8.温度适应范围为15℃至30℃； 1.6.9.电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）； 1.7.产品特点 1.7.1HM-550，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰 1.7.2整体结构化设计，仪器美观大方。 1.7.3采用美国最新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。 1.7.4采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精准。 1.7.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。 1.7.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。 1.7.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。 1.7.8优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。 1.7.9独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 1.7.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控,让仪器工作更稳定、更安全。 1.7.11专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。 1.7.12本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。 1.7.13独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。 1.7.14一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。 1.7.15抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。 2.仪器硬件部分主要配置 2.1SDD电制冷探测器: 2.1.1.SDD电制冷探测器；分辨率：145±5e电子伏特 2.1.2.放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。 2.2X射线激发装置: 2.2.1.灯丝电流输出MAX：1mA； 2.2.2.属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时 2.3高压发射装置: 2.3.1.电压输出MAX：50KV； 2.3.2.电压输出MIN:5KV，可控调节 2.3.3.自带电压过载保护 2.4一体化真空系统 2.4.1具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统； 2.4.2几何抽速：60L/min（50Hz） 2.4.3压力：6.7×10-2Pa 2.5数字多道分析器: 2.5.1.将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件； 2.5.2道数MAX：4096； 2.5.3包含信号增强处理功能； 2.65光路过滤模块 2.6.1降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确； 2.6.2将准直器与滤光处整合； 2.7准直器自动切换模块 2.7.1多达7种选择，口径分别为8-1＃,8-2＃,8-3＃,8-4＃，6＃,4＃,2＃。 2.8滤光片自动切换模块 2.8.1五种滤光片的自由选择和切换。 2.9准直器和滤光片的自由组合模块 2.9.1多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。 2.10工作曲线自动选择模块 2.10.1自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 演绎得更完美，使操作更人性，更方便。 3.专用软件JPSPEC-FP 3.1.1软件简介 专门针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。 3.1.2功能介绍 ※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调） ※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作

能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（高分辨率SDD）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。 另外，近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS2.0应对手段。 追求省时省力，高速筛选分折降低运行成本、减少日常维护量配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的 筛选分析功能配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义 深入浅出利用［筛选分析］画面、操作简单方便从主成分判定到条件选择全部实现自动处理 配备所有必备功能标准配备了RoHS/ELV分析所需的各种功能超大样品室，可直接测试大型样品 配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的筛选分析功能 尽可能将需要荧光X射线分析知识的操作步骤自动化，可进行RoHS法规5元素+氯元素（选配）的高速筛选分析。EDX-LE从开始分析到得到结果只需要（根据样品）约1分钟。不仅可进行高速筛选分析，同时维持了高可信性的分析水平EDX-LE标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，就可以获得RoHS/ELV/无卤素分析系统。 具体货期&价格请与客服咨询为准！谢谢

先进的技术新一代硅漂移探测器 (SDD)先进的数字脉冲处理 (DPP) 技术高性能、多元素分析选配的 Thermo Scientific&trade UniQuant&trade 软件可提供优秀的无标样分析主要特点卓越的痕量分析灵敏度高测量通量，适合过程控制先进的非典型材料分析算法出色的样品处理灵活性机械简单性和可靠性紧凑、占地面积小，便于运输，适合现场测量快速、简单的安装，全面的现场定制化包含完整的实验室启动包可进行空气、真空和氦气中的样品分析经证实的硬件和一体化的软件现场协作式方法开发全面的技术应用支持数百种应用的专业知识大样品室、摄像机以及各种范围的准直器功能强大、易于使用的 Thermo Scientific&trade WinTrace&trade 软件无标样和半无标样分析。含标准品的基本参数 (FP) 和经验方法多层厚度和成分无限制的元素，无限制的标准品数量简单将结果传输到外部计算机或 LIMS支持九种及以上语言多种激发条件，自动化操作可选 UniQuant 高级无标样分析比任何其他 FP 分析更进一步，可选的 UniQuant 程序收集从氟到铀的所有可能元素发出的所有谱线。这种完整的样品光谱曲线使 UniQuant 能够自动校正所有在能量色散光谱中尤为复杂的可能重叠和背景效应始终可以分析所有元素将每份样品的独有物理特性（即面积、厚度和质量）均纳入计算校正 X 射线管输出的长期变化多种可选报告级别和格式，可以为任何类型的用户清楚地呈现结果UniQuant 在出厂时经过全面预先校准，为即用型

全新推出SPECTROSCOUT型便携式能量色散X射线荧光仪，集顶级实验室分析仪SPECTRO XEPOS及优异的手持式分析仪SPECTRO xSORT之大成，它可在野外为您迅速提供可靠的实验室级的实验数据。实现这一切所需的成本低到令人咂舌。SPECTROSCOUT型仪器的元素分析范围宽Na-U, 在各个含量段均显示出优异的性能。仪器易于收放，可在野外迅速展开工作，且可提供极佳的分析精度，是现场分析的理想选择。所有操作均可方便地通过一体化的触屏实现，预设分析应用软件包。独特的iCAL设计可在5分钟用单样品实现仪器标准化。仪器重量轻，体积小，易于携带。同时可选装摄像系统，准确地调整样品的分析位置，并可同时储存图像及结果。1.集台式和手持式X荧光分析仪之大成，能在现场提供真正实验室级别的数据，堪称“便携式实验室”。2.与同级仪器相比具有极佳的性能价格比，价格却只有实验室设备的一半。比如：地质勘探现场使用且提供实验室级的地矿样品数据，无需把样品送回实验室，投资回报率极高。3.仪器设计得小巧紧凑，大样品室，高功率X光管，一体化处理器及高出能电池。4.体积小（270mmX306mmX306mm)，方便在钻井平台及狭窄空间，拥挤的车间等场合放置和工作。5.仪器重12.75公斤，便于携带及运输现场检测，实验室级的分析数据。6.以优异的性能应对各个含量相关元素，分析含量范围覆盖微量及常量，分析速度快,3-10分钟。7.无论主次痕量元素均可提供高精度的测量结果。8.可在任何时间，任何地点检测土壤重金属及有害元素，地质及矿物样品品分析，页岩气钻探，珠宝，贵金属，冶炼厂，润滑油中的磨损金属，及车、船用燃料中总硫, 总氯及铝, 硅等含量。适合于检测机构，贵金属，环保，地质，码头、矿山、舰船、台架试验及其他重型机械等使用场合。9.续航时间长，连续分析可达5个小时10.检出限低，部分元素可达1ppm以下11.一体化计算机及触屏，简单易用，分析结果实时显示，便于查看12.可外接计算机系统13.硅漂移检测器SDD,Rh靶，最大50kV

微谱科技WEPER XRF2601超大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2601可以精准测试从Mg到U的所有元素。350mm×345mm×85mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。可选配12位样品自动进样系统，提高测试效率。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：台式电脑 产品特点：超大腔体350mm×345mm×85mm超大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。无人值守WEPER XRF2601可选配12位样品自动进样系统，提高了测试效率先进分析技术微谱科技WEPER XRF2601设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内

微谱科技WEPER XRF2600大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2600可以精准测试从Mg到U的所有元素。315mm×225mm×62mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率4w，最大电压50kV，最大电流200uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：10寸 产品特点：大腔体315mm×225mm×62mm大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。先进分析技术微谱科技WEPER XRF2600设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内