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纳米形貌测量仪

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纳米形貌测量仪相关的论坛

  • 【求助】德国FRT纳米表面测量仪

    【求助】德国FRT纳米表面测量仪

    请问谁知道那个测试中心或者高校有下面网址展示的仪器 - 德国FRT 纳米表面测量仪http://www.beijingoec.cn/beijingoec_Product_23528.htmlhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/files/2012/09/201209171426_391456_1747015_3.JPG谢谢!有消息请联系我。

  • 优可测国产白光干涉三维形貌测量仪-高精度高速度测量

    优可测国产白光干涉三维形貌测量仪-高精度高速度测量

    [align=center][b][color=#ff0000][/color][/b][/align][align=center][b][size=24px][color=#ff0000]AM-7000白光干涉三维形貌测量仪[/color][/size][/b][/align][align=center][/align][align=center][url=https://img1.17img.cn/ui/simg/instrument/child/2022/edm/bg/index.html?v=a1http://]点击打开链接[img=,303,734]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211251256261550_4854_5842670_3.png!w303x734.jpg[/img][/url][/align]

  • 纳米粉体做透射观察形貌求助??

    求助!纳米粉体做透射观察形貌问题: 1、一种粉体是亲水的,可以直接用离子水做稀释溶解溶剂吗? 2、不亲水的纳米粉体用乙醇? 3、铜网用微珊的还是只是普通碳膜的? 粉体的大小在10nm-50nm之间,之上的一般浓度是多少最为合适?

  • 【分享】微结构决定的具有均一米状形貌的新奇银纳米颗粒的高产率合成

    金属纳米颗粒由于其良好的电学、光学、热导、催化以及磁学性质而得到广泛的研究。近年来,金属纳米颗粒奇异的光学性质引起人们极大的兴趣。其中,金银纳米颗粒由于在可见和红外光频区有着很好的表面等离子体共振性质而格外引人注目,在表面增强光谱、生物检测等方面具有巨大的应用前景。通过控制纳米颗粒的形貌可以有效的调制金属纳米颗粒的表面等离子体共振性质。因此,获得不同形貌的金属纳米颗粒是最近兴起的表面等离子体光子学研究领域中重要的研究方向之一。 最近,中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家实验室徐红星研究员研究组的梁红艳同学和王文忠教授首次用多羟基醇还原法合成了一种外形为纺锤状的银纳米颗粒(Ag Nanorice),并与李建奇研究员研究组的杨槐馨副研究员合作,发现这种银纳米颗粒为六方相和立方相交生形成,内部存在孪晶,堆垛层错,多重调制等多种缺陷结构,并且缺陷密度在银纳米颗粒的不同部位有着明显区别,这种微结构突破了传统银纳米颗粒常规的单晶、孪晶特性,决定了具有均一米状形貌的新奇银纳米颗粒的高产率合成。该项研究的意义不仅在于为有效调制表面等离子体共振特性提供新的纳米结构,还在于这种堆垛结构可能打破晶体生长时晶体结构对形貌的限制,为设计合成所需形貌晶体带来曙光。这将丰富纳米晶体结构控制生长的内涵,深化对金属晶体生长规律的认识,拓展金属纳米结构在光谱分析、超灵敏检测等方向的应用,因而具有十分重要的实际意义。 该工作发表于近期的J. Am. Chem. Soc. 131,6068-6069(2009)上。此项研究获得国家自然科学基金委杰出青年基金,科技部重大项目,中科院知识创新工程和教育部的“985”和“211”等项目的资助。

  • 新型电化学测量仪器——电化学扫描探针显微镜(EC-SPM)

    新型电化学测量仪器——电化学扫描探针显微镜(EC-SPM) 材料2106 李昊哲新型电化学测量仪器——电化学扫描探针显微镜(EC-SPM)是一种具有创新性的技术,它在电化学领域的研究和应用中起到了重要的作用。EC-SPM采用了先进的技术和方法,可以对电化学反应进行精确的测量和分析,为科学家们提供了更为准确和可靠的数据。EC-SPM的创新之处在于其结合了扫描探针显微镜(SPM)和电化学技术,实现了对电化学反应的原位观察和测量。传统的电化学测量仪器往往只能提供宏观的电化学数据,而EC-SPM通过在电极表面放置微小的探针,可以实现对电化学反应的纳米级别的测量。这种纳米级别的测量能够更加准确地了解电化学反应的动态变化,提供了更为详细和全面的信息。EC-SPM在前处理合计数方面也进行了改进和优化。传统的电化学测量仪器在前处理过程中往往需要复杂的操作和多个步骤,容易出现误差和不确定性。而EC-SPM通过引入自动化和智能化的前处理系统,可以实现对样品的快速处理和准确计数。这不仅提高了测量的效率,还减少了人为因素对结果的影响,提高了测量的精确度和可靠性。我有幸在实验室使用了电化学扫描探针显微镜(EC-SPM),并且对其性能和使用体验有了一些真实的心得体会。我认为EC-SPM的性能非常出色。它采用了先进的扫描探针显微镜技术,可以实现纳米级的高分辨率测量。在我的实验中,我使用EC-SPM对一种新型材料进行了表面形貌和电化学性质的同时测量,结果非常令人满意。EC-SPM能够清晰地显示出样品的表面形貌,并且能够通过电流-电压曲线来研究材料的电化学行为。这对于我研究材料的结构与性能之间的关系非常有帮助,其次,EC-SPM的操作非常简便。它采用了直观的用户界面,使得操作人员能够快速上手。在我使用的过程中,我只需要按照仪器的操作指南进行操作,就能够轻松地完成测量。而且,EC-SPM还具有自动化的功能,能够实现自动扫描和测量,省去了繁琐的手动调整步骤,提高了实验效率。最后,EC-SPM的数据处理和分析功能也非常强大。它可以对测量得到的数据进行实时处理和分析,并且能够生成高质量的图像和曲线。在我的实验中,我使用EC-SPM获得了一系列的电流-电压曲线,并且通过对这些曲线进行分析,我能够得到材料的电化学性质,比如电荷转移速率和电化学反应动力学参数。这对于我研究材料的电化学性能非常有帮助。EC-SPM在电化学领域的研究和应用中取得了重要的成果。例如,在电池研究中,EC-SPM可以帮助科学家们更好地了解电池中的界面反应和电化学性能,从而提高电池的效率和稳定性。在催化剂研究中,EC-SPM可以实时观察催化剂表面的电化学反应,揭示催化剂的活性和稳定性等关键性质。此外,EC-SPM还可以应用于材料科学、生物医学等领域,实现对材料表面性质和生物分子相互作用的研究。EC-SPM作为一种新型电化学测量仪器,具有创新性的技术和方法。它通过纳米级别的测量,实现了对电化学反应的精确观察和分析。在前处理合计数方面的改进,使得测量结果更加准确和可靠。研究成果在电化学领域的应用广泛,为科学家们的研究和实践提供了重要的支持。它的高分辨率测量能力、简便的操作和强大的数据处理功能使得我能够更好地研究材料的电化学性质。我相信,随着电化学扫描探针显微镜技术的不断发展,EC-SPM将会在材料科学、电化学等领域发挥更加重要的作用。

  • 听清华大学朱永法教授和国家纳米科学中心刘忍肖老师在线讲述“纳米材料的形貌及粒度表征”,网络讲座不容错过!

    听清华大学朱永法教授和国家纳米科学中心刘忍肖老师在线讲述“纳米材料的形貌及粒度表征”,网络讲座不容错过!

    ”纳米材料的形貌及粒度表征“网络主题研讨会会议时间:2015年12月9日 14:00-17:00报告日程:报告一:纳米材料的形貌和粒度分析方法及应用报告人:朱永法清华大学化学系教授、博导,分析化学研究所副所长,国家电子能谱中心副主任。从事半导体薄膜材料的表面物理化学、纳米材料的合成与性能、环境催化以及光催化的研究工作。报告概要:主要讲述了纳米材料最常用的三种形貌分析方法的原理和应用特点以及粒度分析的方法和在纳米材料研究方面的应用实例。目前最常用的形貌分析方法是扫描电子显微镜、透射电子显微镜和原子力显微镜。扫描电镜视场广,样品制备简单,不会产生信息失真,可以观察形貌以及实现颗粒大小的分布统计。透射电镜可以观察纳米材料的形貌和颗粒大小,但视野范围小,样品制备过程容易产生大颗粒的丢失现象,但可以区分聚集态和一次粒子的信息。原子力显微镜可以观察薄膜的颗粒大小,也可以观察分散态的纳米材料的形貌及大小。此外,还可以测量颗粒的厚度以及薄膜的粗糙度分布。激光粒度仪是测量颗粒大小常用的方法,但无法观察纳米材料的形貌,是一种统计颗粒直径分布,容易失真。此外,很多纳米材料分散在溶液中,可能是水合方式存在,获得的是水合颗粒大小的分布,并不是真实的材料颗粒大小,但可以获得粒度分布的信息。此外,通过XRD和拉曼光谱还可以获得纳米材料晶粒大小的数据。报告二:基于PeakForce Tapping模式的纳米材料表征报告人: 孙昊布鲁克中国北方区客户服务主管报告提纲:PeakForce Tapping是由Bruker公司发明的一种新的基本成像模式。与传统的Contact、Tapping模式相比,PeakForce Tapping具有探针-样品作用力小、能够自动优化反馈回路、能够进行定量力学成像等优点。基于PeakForce Tapping模式,Bruker公司发展了一系列扩展成像技术,如智能成像(ScanAsyst),它可以轻易实现绝大部分常见样品的扫描参数自动优化,使刚入门的客户也能非常容易地得到专家级的图像;定量纳米力学成像(PeakForce QNM)可以在扫描形貌的同时实时定量地分析出样品的模量与粘滞力,为纳米力学测量带来了革新;峰值力表面电势测量(PFKPFM)与峰值力导电性测量(PFTUNA)使得在软样品表面同时的电学和力学测量成为可能。在这个Webinar中,我们将介绍基于PeakForce Tapping的一系列新的成像技术在纳米表征中的应用。报告三:纳米材料的粒度表征报告人:方瑛HORIBA 应用工程师报告概要: 颗粒的尺寸会影响纳米材料的各种性能,而溶液的电位则会影响纳米乳液的稳定性。纳米颗粒分析仪可以表征纳米颗粒的粒径和电位,报告会介绍粒径和Zeta电位的测试原理,重点会介绍颗粒分析在纳米材料中的应用。报告四:尺度表征用纳米标准样品报告人:刘忍肖博士,高级工程师,国家纳米科学中心/中科院纳米标准与检测重点实验室,主要工作领域为纳米技术标准化,承担了十余项纳米技术标准制修订、纳米标准物质/标准样品的研制工作;从事与纳米技术相关的标准化科研工作,参与两项国家重大科学研究计划项目和一项质检公益性行业科研专项,承担国家自然科学基金和北京市自然科学基金项目。报告提纲:纳米标准样品概况;尺度表征用纳米标准样品;示例:粒度、台阶高度纳米标准样品。报名条件:仪器信息网个人用户,自助报名当天参会。报名方式:扫描下方二维码或点击链接。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511231436_574762_2507958_3.png仪器信息网“纳米材料的形貌及粒度表征”网络主题研讨会http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/subjectInsidePage/1749

  • 【资料】工业应用中的三维几何测量仪器

    机床是制造业的母机,数控机床是机床产品的先进技术体现,特别是高档数控技术是装备制造业现代化的核心技术,是国家工业发展水平、综合国力的直接体现,此次展会汇集了当今世界机床发展和先进制造技术的最新成果,全面展示了我国数控机床产业近几年来高速发展的最新产品和技术。作为数控技术的重要环节——测量设备,在这次展会上展出了一批新技术、新产品,体现了当今测试计量技术发展动向和特点。 测量精度高  随着现代科技向高精度方向发展,机床作为装备工业的基础发展更应超前,而测量设备更由传统的微米、亚微米精度向着纳米量级精度方向发展。随着超精密加工技术的需要,数控精度愈来愈高,对测量设备的精度要求更高,这次展会展示了一批纳米量级的测量设备,除各种激光干涉仪外,光栅测量技术也达到纳米量级。如海德汉的LIP382超高精度直线光栅尺,其测量步距可以达到1nm。基于测量技术的发展,纳米量级的机床成为现实,如上海机床厂展出的纳米级精密微型数控磨床成为展会的一个亮点。测量速度高  现代制造业进行的是大规模、大批量、专业化生产,需要多参数、实时在线测量,故要求测试仪器的测量速度高、设备轻便、操作界面直观。如激光干涉测量技术作为精密测量的一种重要方法,各种激光干涉测量系统向着轻巧、便携、高测速的方向发展。雷尼绍XL-80干涉仪款型小巧,可提供4m/s最大的测量速度和50kHz记录速率,可实现1nm的分辨率;激光跟踪仪可实现快速数据采集与处理,有利于测量精度的提高。各种影像测量设备利用触摸屏可以方便直观地实现特征尺寸的测量。三维测量多样化  三维测量技术向着高精度、轻型化、现场化的方向发展。传统基于直角坐标的三坐标测量机经过50年的发展,其技术愈加成熟,测量更加快捷,功能更加强大。这次参展的国内外数十家坐标测量机生产厂商,各具特色,特别是国内很多厂家推出实用廉价的各种三坐标测量机,说明三坐标测量技术在我国已经走向全面实用化、特色化发展的道路。除直角坐标测量系统外,极坐标测量仪器体现出自身独特的优势,如FARO、ROMER等厂家生产的激光跟踪仪对大尺寸结构的装备现场具有方便灵活的特点。对于小尺寸测量,FARO、ROMER等生产的关节臂测量机因其低廉的成本、较高的精度、现场方便的操作等优势,在汽车等行业展现出广阔的应用前景。测量智能化  测量设备借助于计算机技术向着智能化、虚拟化的方向进一步发展。测量仪器的虚拟化、接口的标准化以及测量软件的模块化,加速了测量技术的发展,使测量仪器的应用更加方便、直观、智能。根据测量需求以及测量对象的不同,可基于同一软件平台使用不同的仪器协同工作,采用不同的测量软件模块,实现了广普测量仪器的网络化、协同化,提高了测量的自动化水平。在这次展会上,国内一些独立的测量软件公司进行了参展,对于测量设备的智能化、网络化具有推动作用。  这次展会展示了当今工业测量设备的新技术、新产品。但也同时看到,我国在测量仪器制造特别是高精度仪器制造方面缺乏自主创新的成果,一些高精度测量仪器在国内还没有相关单位能够生产。通过这次展会,对推动我国几何量测量设备的发展具有实际意义。

  • 精密测量仪器热卖

    本公司专门供应各种精密测量仪器: 工量具包括:进口/国产游标卡尺、数显/带表卡尺、高度尺、千分尺、标准量块。 光学测量仪器包括:投影仪、影像二维、三坐标测量设备、显微镜等。 各种硬度计:进口/国产洛氏硬度计、维氏硬度计、邵氏硬度计。可测量各种材料的硬度值,可打印测量数据。 另有各种进口测高仪、其它各类仪器。 联系人:柴小姐 13916024531 cdyoyh@sina.com

  • 微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌,达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图(1000fps), 还可测频率响应(高达25MHz) 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试,微小光学元件检测,微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜,测量透明样品形貌,还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像,大面积三维形貌表征,表面粗糙度,MEMS振动测量分析,表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131407_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_02_1546_3.jpg[/img]

  • 微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征

    微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征

    科研史上前所未有的观测手段——数字全息可高速实时测量三维形貌,达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图(1000fps), 还可测频率响应(高达25MHz) 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试,微小光学元件检测,微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜,测量透明样品形貌,还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像,大面积三维形貌表征,表面粗糙度,MEMS振动测量分析,表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131349_01_1546_3.jpg[/img][img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131350_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131354_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_04_1546_3.gif[/img][img=,384,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131358_01_1546_3.jpg[/img]

  • 微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    微纳形貌分析利器——4D微纳形貌动态表征DHM

    科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌,达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图(1000fps), 还可测频率响应(高达25MHz) 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试,微小光学元件检测,微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜,测量透明样品形貌,还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像,大面积三维形貌表征,表面粗糙度,MEMS振动测量分析,表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_02_1546_3.jpg[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_03_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_04_1546_3.gif[/img]

  • 【经验】数字化影像测量仪(CNC版)与手摇式影像测量仪的区别!!!!

    影像测量仪(又名影像式精密测绘仪)是在测量投影仪的基础上进行的一次质的飞跃,它将工业计量方式从传统的光学投影对位提升到了依托于数位影像时代而产生的计算机屏幕测量。值得一提的是,目前市面上有一种既带数显屏又接计算机的过渡性产品。从严格意义来说,这种仅把电脑用作瞄准工具的设备不是影像测量仪,只能叫做“影像式测量投影仪”或“影像对位式投影仪”。换句话说:影像测量仪是依托于计算机屏幕测量技术和强大的空间几何运算软件而存在的。影像测量仪又分数字化影像测量仪(又名CNC影像仪)与手摇式影像测量仪两种,它们之间的区别主要表现在如下几个方面:一:数字化CNC技术实现了点哪走哪:手摇影像测量仪在测量点A、B两点之间距离的操作是:先摇X、Y方向手柄走位对准A点,在用手操作电脑并点击鼠标确定;然后摇手到B点,重复以上动作确定B点。每次点击鼠标该点的光学尺位移数值读入计算机,当所有点的数值都被读入后计算机自动进行计算并得到测量结果,一切功能与操作都是分离进行的;数字化CNC影像测量仪则不同,它建立在微米级精确数控的硬件与人性化操作软件的基础上,将各种功能彻底集成,从而成为一台真正义上的现代精密仪器。具备无级变速、柔和运动、点哪走哪、电子锁定、同步读数等基本能力;鼠标移动找到你所想要测定的A、B两点后,电脑就已帮你计算测量出结果,并显示图形供校验,图影同步,既使是初学者测量两点之间距离也只需数秒钟。二:数字化技术实现了工件随意放置:手摇式影像测量仪在进行基准测量时,需要摇动工作平台,然后通过认为判断所要求的点。而数字化影像测量仪可以利用软件技术完成空间坐标系旋转和多坐标系之间的复杂换算,被测工件可随意放置,随意建立坐标原点和基准方向并得到测量值,同时在屏幕上呈现出标记,直观地看出坐标方向和测量点,使最为常见的基准距离测量变得十分简便而直观。三: 数字化技术能进行CNC快速测量:手摇式影像测量仪在进行同一工件的批量测量时,需要人工逐一手摇走位,有时一天得摇上数以万计的圈数,仍然只能完成数十个复杂工件的有限测量,工作效率低下。数字化影像测量仪可以通过样品实测、图纸计算、CNC数据导入等方式建立CNC坐标数据,由仪器自动走向一个一个的目标点,完成各种测量操作,从而节省人力,提高效率。数十倍于手摇式影像测量仪的工作能力下,操作人员轻松而高效.如有疑问请登陆www.yr17.net

  • 全自动影像测量仪的技术

    全自动影像测量仪是在数字化影像测量仪基础上发展起来的人工智能型现代光学非接触测量仪器,其承续了数字化仪器优异的运动精度与运动操控性能,融合机器视觉软件的设计灵性,属于当今最前沿的光学尺寸检测设备。全自动影像测量仪能够便捷而快速进行三维坐标测量与SPC结果分类,满足现代制造业对尺寸检测日益突出的要求:更高速、更便捷、更精准的测量需要,解决制造业发展中的又一个瓶颈技术。全自动影像测量仪基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术,具有“点哪走哪”自动测量、CNC走位自动测量、自动学习批量测量,影像地图目标指引,全视场鹰眼放大等优异功能。同时,基于机器视觉与微米精确控制下的自动对焦过程,可以满足清晰造影下辅助测高需要(亦可加入触点测头完成坐标测高)。支持空间坐标旋转的优异软件性能,可在工件随意放置的情况下进行批量测量,亦可使用夹具进行大批量扫描测量与SPC 结果分类。全自动影像测量仪是影像测量技术的高级阶段,具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸测量变得便捷而惬意,拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能,依托数字化仪器高速而精准的微米级走位,可将测量过程的路径,对焦、选点、功能切换、人工修正、灯光匹配等操作过程自学并记忆。全自动影像测量仪可以轻松学会操作员的所有实操过程,结合其自动对焦和区域搜寻、目标锁定、边缘提取、理匹选点的模糊运算实现人工智能,可自动修正由工件差异和走位差别导致的偏移实现精确选点,具有高精度重复性。从而使操作人员从疲劳的精确目视对位,频繁选点、重复走位、功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来,成百倍地提高工件批测效率,满足工业抽检与大批量检测需要。最新推出的全自动影像测量仪具有人工测量、CNC扫描测量、自动学习测量三种方式,并可将三种方式的模块叠加进行复合测量。可扫描生成鸟瞰影像地图,实现“点哪走哪”的全屏目标牵引,测量结果生成图形与影像地图图影同步,可点击图形自动回位、全屏鹰眼放大。可对任意被测尺寸通过标件实测修正造影成像误差,从而提高关键数据的批测精度。全自动影像测量仪人机界面友好,支持多重选择和学习修正,其优异的高速测量可达1500mm/min,重合精度: ±2μm,线性精度:±(3+L/150)μm。优秀性能使其在各种精密电子、晶圆科技、刀具、塑胶、精密零件、弹簧、冲压件、接插件、模具、军工、二维抄数、绘图、工程开发、五金塑胶、PCB板、导电橡胶、粉末冶金、螺丝、钟表零件、手机、医药工业、光纤器件、汽车工程、航天航空、高等院校、科研院所等领域具有广泛运用空间。SK全自动影像测量仪承续了SK数字化影像仪的以下技术特点:集CNC快速测量、CAD逆向测绘、图影管理于一身。运用了现代光学、计算机屏幕测量、空间几何运算和精密运动控制等前沿技术,是集光、机、电、软件为一体的高度智能化设备。具有三轴数控、点哪走哪、图影同步、实时校验、误差修正、工件随意放置、CNC快速测量等基础性能。具有极高的数字化程度,全部操作均由鼠标完成。柔和的三轴微米数控能力,实现“点哪走哪”、同步读数、人机合一;良好的人机界面将烦琐的操作过程有机集成,摆脱手摇时代的机械局限;实时非线性误差修正使其突破了传统设备中存在的精度与速度极限;便捷的CNC快速测量,通过样品实测、图纸计算、CNC 数据导入等方式建立CNC坐标数据,由仪器自动走向每一个目标点进行测量操作,数十倍于手摇式测量设备的工作能力下人员轻松高效。具有优异的高速性能,基于独有的高速位移传感技术,其±2um测量精度下的速度可达500mm/min,其工作效率是工具手摇式测量仪器的数十倍以上。位移驱动为0.1μm,位移解析度为0.4μm,重合精度达±2μm,线性精度±(3+L/150)μm,这些参数均优于传统设备和同类产品。具有空间几何运算能力,可以利用软件技术完成空间坐标系旋转和多坐标系之间的复杂换算,被测工件可随意放置,随意建立坐标原点和基准方向并得到测量值,同时在屏幕上呈现出标记,直观地看出坐标方向和测量点,使最为常见的基准测量变得十分简便而直观,也使分度盘这个机械时代的产物与摇柄一起成为历史。具有支持个性化的软件平台,具有图像保存、编辑、处理等图影管理功能。全新的测绘操作,可轻松描绘或导入CAD图形。还可根据客户需求扩充测量模块,从而满足个性化特点和综合测量的快速需要,使测量设备具有量身定做的软件灵魂。

  • 高速实时非接触3D测量技术——0.001秒实时非接触动态测量,亚纳米精度

    高速实时非接触3D测量技术——0.001秒实时非接触动态测量,亚纳米精度

    数字全息显微镜DHM测量材料动态的3D形貌,亚纳米分辨率,基于菲涅尔衍射的数字全息重建技术 [table=100%][tr][td][img=动态3D细胞监测,690,138]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241018_01_1546_3.jpg!w690x138.jpg[/img]仅0.001秒即可测出物体三维形貌,并且是亚纳米的分辨率。不同于传统白光干涉仪、共聚焦显微镜、扫描探针轮廓仪等需要扫描的成像方式,DHM仅需0.001秒采集单张全息图即可测出物3D形貌信息,做到了快速动态监测。 和传统全息术不一样的是没有采用干板而是采用CCD记录全息图,全息图中 光强图:提供与传统显微镜一样对比度的图像 相位图:提供量化数值,得以对被测物体进行精确三维测量 该系统为预放大全息显微镜,其中的相位图解析中用到了大量的算法,实时相位解包裹技术 实时形貌测量的案例二:石墨烯薄膜受力形变实时测量[img=石墨烯薄膜受力形变,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241017_02_1546_3.gif!w384x216.jpg[/img][img=MEMS跟踪测量,690,389]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241017_03_1546_3.gif!w690x389.jpg[/img][/td][/tr][/table]

  • 天泽全自动影像测量仪的特点

    [color=#2f2f2f]来源:http://www.dg[/color][url=https://links.jianshu.com/go?to=http%3A%2F%2Fbbs.elecfans.com%2Fzhuti_715_1.html]ti[/url][color=#2f2f2f]anze.com 作者:天泽精密仪器[/color] [url=http://www.dgtianze.com/]全自动[b]影像测量仪[/b][/url]是现代光学非接触式测量仪器,它是在数字化基础上发展而来的人工智能型测量仪。这种测量仪器继承了数字化运动精度、运动操控的特点,结合视觉软件的创新。全自动影像测量仪具有高精度、高效率、自动化、稳定性好等优点。解决了制造业的几大难题,影像测量仪界的骄傲。天泽精密推出的全自动影像测量仪具有人工测量、CNC扫描、自动学习测量三种方式,还可以将三种性能融合,实现复合扫描。也可以进行跟踪式扫描,实现点哪走哪的测量,并且能够对成像误差进行修正。全自动影像测量仪具有以下特点:1. 高数字化程度 全自动影像测量仪的测量操作全部由鼠标操作,微米数控实现了人机合一点哪走哪的愿望。以前的手动仪器测量过程很繁琐,也容易造成人工误差,而全自动测量仪在这方面就得到改善,摆脱了人工缺陷。增加的非线性误差修正使得仪器在精度、速度上都有巨大提高。 2. 空间运算几何能力 全自动影像测量仪具有高端软件技术,能够实现坐标系旋转和坐标系的复杂运算。就算将被测工件随意放置,也可以对其进行检测,能够直观的看出坐标方向和测量点,一目了然又容易操作。 3. 个性化软件 全自动影像测量仪具有强大的软件功能,能够进行图像的编辑、保存、处理等,还能够很容易的描绘、导入CAD图形。还可以依据客户需求,设计增添个性化的测量模块,为客户量身打造所需测量仪。 全自动影像测量仪高智能化、自动化的特点,使得测量变得简便。融合了机器视觉和自动学习的能力,并结合数字微米走位,使得测量过程能够被仪器记忆和学习。全自动影像测量仪便于操作员使用学习,满足企业抽检和大批量检测的要求,提高企业工作效率,能正真为企业做贡献。 天泽精密仪器作为国内知名仪器制造企业,其励精图治研究开发的的全自动影像测量仪也十分先进。比如全自动系列中的&ldquo VIP大行程龙门式&rdquo 影像测量仪,其功能强大,精度极高,并且能测量大尺寸的工件,测量行程可达2000*1500mm。另外&ldquo VIP系列全自动光学影像坐标测量仪&rdquo 也是天泽精密仪器全自动测量仪中的一个系列,其x/y线性精度高达2+L/3&mu m,显示分辨率高达0.0001mm。而且配有强大的软件功能,还可根据客户需求进行调节设计,售后软件升级也配有保障,客户可以放心选择。

  • 分享影像测量仪的性能特点

    影像测量仪应用在各个不同的精密产品的行业中,是院校、研究所和计量检定部门的计量室、试验室以及生产车间不可缺少的计量检测设备之一。  影像测量仪的性能:  1、影像测量仪具备基本的点、线、圆、两点距离、角度等基本测量功能及坐标平移的功能,能满足基本的二次元测量要求。  2、花岗石底座与立柱,机构稳定可靠  3、影像测量仪的X、Y轴装有光栅尺,定位精确。  4、Z轴采用交叉导轨加配重块的全新设计,镜头上下升降受力均衡,确保精度。  5、LED冷光源(表面光合轮廓光)避免工件受热变形。  6、激光定位指示器,精确制定当前测量位置,方便测量。  7、影像测量仪可以使用OVMLite软件。  8、影像测量仪的镜头:3DFAMILY-S型0.7X-4.5X连续变倍镜头,影像放大倍率:28X-180X。

  • 《锡膏厚度测量仪校准规范》征求意见稿发布

    [color=#444444] 10月25日,全国新材料与纳米计量技术委员会发布了《锡膏厚度测量仪校准规范》征求意见稿,并面向全国有关单位征求意见。[/color][color=#444444][/color][align=left] 锡膏厚度测量仪是一种利用光学原理,快速测量印刷电路板上的锡膏块的厚度等几何元素的非接触式测量仪器,广泛应用于SMT(Surface Mount Technology)生产贴片领域,是评价和管控锡膏印刷质量的重要测量设备。[/align][align=left] 本规范由广东省计量科学研究院、山东省计量科学研究院、苏州市计量测试院、中国计量科学研究院、广州计量检测技术研究院和天津大学负责制定。[/align][align=left] 本规范主要依据JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》进行编制,JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-2012《测量[url=http://www.jlck.net/forum-279-1.html]不确定度[/url]评定与表示》、JJF 1094-2002《测量仪器特性评定》共同构成支撑校准规范制定工作的基础性系列规范。[/align][align=left] 本规范为首次制定,主要技术内容和计量特性参考了JJF 1306-2011 《X射线荧光镀层测厚仪校准规范》和JJG 818-2005 《磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程》的部分内容。[/align][align=left] 按照JJF 1071—2010《国家计量校准规范编写规则》的要求制定锡膏厚度测量仪校准规范,在内容和格式上与JJF 1071—2010保持一致。校准规范的具体内容有范围、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果的表达、复校时间间隔等。[/align][align=left] 本规范适用于分辨力为(0.1-1)m、测量范围不大于600m的锡膏厚度测量仪的校准。[/align][align=left] 目前使用中的锡膏厚度测量仪的测量范围大多在(20-400)μm左右,部分新的仪器最大厚度可达到1mm以上。根据查询资料及调研统计,大部分锡膏测厚仪的常用范围在(100-150)μm,极少有达到几百微米以上,实际上不可能将锡膏做到这么大的厚度。起草组经讨论后决定将规范适用范围定为(0-600)μm,最大校准点达到测量上限的2/3,故标准台阶块最大厚度达到400 μm即可。(更多详情请见附件)。[/align][align=left]附件:[u][url=http://www.zhaojiliang.cn/data/uploads/bdattachment/file/20181026/1540524700379110.docx]锡膏厚度测量仪校准规范 (征求意见稿).docx[/url][/u][/align]

  • 【资料】全自动影像测量仪的技术应用特点

    全自动影像测量仪是在数字化影像测量仪基础上发展起来的人工智能型现代光学非接触测量仪器,其承续了数字化仪器优异的运动精度与运动操控性能,融合机器视觉软件的设计灵性,属于当今最前沿的光学尺寸检测设备。全自动影像测量仪能够便捷而快速进行三维坐标测量与SPC结果分类,满足现代制造业对尺寸检测日益突出的要求:更高速、更便捷、更精准的测量需要,解决制造业发展中的又一个瓶颈技术。全自动影像测量仪基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术,具有“点哪走哪”自动测量、CNC走位自动测量、自动学习批量测量,影像地图目标指引,全视场鹰眼放大等优异功能。同时,基于机器视觉与微米精确控制下的自动对焦过程,可以满足清晰造影下辅助测高需要(亦可加入触点测头完成坐标测高)。支持空间坐标旋转的优异软件性能,可在工件随意放置的情况下进行批量测量,亦可使用夹具进行大批量扫描测量与SPC 结果分类。全自动影像测量仪是影像测量技术的高级阶段,具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸测量变得便捷而惬意,拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能,依托数字化仪器高速而精准的微米级走位,可将测量过程的路径,对焦、选点、功能切换、人工修正、灯光匹配等操作过程自学并记忆。全自动影像测量仪可以轻松学会操作员的所有实操过程,结合其自动对焦和区域搜寻、目标锁定、边缘提取、理匹选点的模糊运算实现人工智能,可自动修正由工件差异和走位差别导致的偏移实现精确选点,具有高精度重复性。从而使操作人员从疲劳的精确目视对位,频繁选点、重复走位、功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来,成百倍地提高工件批测效率,满足工业抽检与大批量检测需要。最新推出的全自动影像测量仪具有人工测量、CNC扫描测量、自动学习测量三种方式,并可将三种方式的模块叠加进行复合测量。可扫描生成鸟瞰影像地图,实现“点哪走哪”的全屏目标牵引,测量结果生成图形与影像地图图影同步,可点击图形自动回位、全屏鹰眼放大。可对任意被测尺寸通过标件实测修正造影成像误差,并对其进行标定,从而提高关键数据的批测精度。全自动影像测量仪人机界面友好,支持多重选择和学习修正,其优异的高速测量可达1500mm/min,重合精度: ±2μm,线性精度:±(3+L/150)μm。优秀性能使其在各种精密电子、晶圆科技、刀具、塑胶、精密零件、弹簧、冲压件、接插件、模具、军工、二维抄数、绘图、工程开发、五金塑胶、PCB板、导电橡胶、粉末冶金、螺丝、钟表零件、手机、医药工业、光纤器件、汽车工程、航天航空、高等院校、科研院所等领域具有广泛运用空间。SK全自动影像测量仪承续了SK数字化影像仪的以下技术特点:集CNC快速测量、CAD逆向测绘、图影管理于一身。运用了现代光学、计算机屏幕测量、空间几何运算和精密运动控制等前沿技术,是集光、机、电、软件为一体的高度智能化设备。具有三轴数控、点哪走哪、图影同步、实时校验、误差修正、工件随意放置、CNC快速测量等基础性能。具有极高的数字化程度,全部操作均由鼠标完成。柔和的三轴微米数控能力,实现“点哪走哪”、同步读数、人机合一;良好的人机界面将烦琐的操作过程有机集成,摆脱手摇时代的机械局限;实时非线性误差修正使其突破了传统设备中存在的精度与速度极限;便捷的CNC快速测量,通过样品实测、图纸计算、CNC 数据导入等方式建立CNC坐标数据,由仪器自动走向每一个目标点进行测量操作,数十倍于手摇式测量设备的工作能力下人员轻松高效。具有优异的高速性能,基于独有的高速位移传感技术,其±2um测量精度下的速度可达500mm/min,其工作效率是工具显微镜或测量投影仪等手摇式测量仪器的数十倍以上。位移驱动为0.1μm,位移解析度为0.4μm,重合精度达±2μm,线性精度±(3+L/150)μm,这些参数均优于传统设备和同类产品。具有空间几何运算能力,可以利用软件技术完成空间坐标系旋转和多坐标系之间的复杂换算,被测工件可随意放置,随意建立坐标原点和基准方向并得到测量值,同时在屏幕上呈现出标记,直观地看出坐标方向和测量点,使最为常见的基准测量变得十分简便而直观,也使分度盘这个机械时代的产物与摇柄一起成为历史。具有支持个性化的软件平台,具有图像保存、编辑、处理等图影管理功能。全新的测绘操作,可轻松描绘或导入CAD图形。还可根据客户需求扩充测量模块,从而满足个性化特点和综合测量的快速需要,使测量设备具有量身定做的软件灵魂。

  • 购买量具、测量仪器的请找我

    本公司专门供应各种精密测量仪器:工量具包括:进口/国产游标卡尺、数显/带表卡尺、高度尺、千分尺、标准量块。光学测量仪器包括:投影仪、二维影像式测量仪器、三坐标测量设备、显微镜等。各种硬度计:进口/国产洛氏硬度计、维氏硬度计、邵氏硬度计。可测量各种材料的硬度值,可打印测量数据。 另有各种进口测高仪、其它各类仪器。欢迎来电垂询,索取资料。 柴小姐13916024531cdyoyh@sina.com

  • 粮食水份测量仪价格 粮食水份测量仪品牌 粮食水分快速测量仪-郑州中谷机械设备有限公司

    粮食水份测量仪价格 粮食水份测量仪品牌 粮食水分快速测量仪-郑州中谷机械设备有限公司

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606280937_598428_1941670_3.jpg详细介绍 LSKC-8型智能粮食水份测量仪是应用现代微处理芯片(CPU)及VFC形式上A/D转换技术而开发的新一代粮食水份测量仪,该仪器具有自动温度补偿,快速、准确、操作简单等优点,是粮油收购、储藏等部门测量粮油水份的适宜测量仪器,也可用于种子公司及其它部门同类品种的测量。一、基本指标1、测量品种:早籼、晚籼、小麦、玉米、大米、油菜籽等颗粒状原粮、半成品粮及粉状粮。2、测量范围:粮食类(10%-20%)、油菜籽(5%-17%)3、测量误差:按(Q/PQCI-89)《粮食、油料检验水份测定法》对照进行,应符合下表:误差范围品种 ±0.5% ±1% 早籼、晚籼、玉米 12%-17% 10%-12% 17%-20% 小麦、玉米 、 高梁 12%-16% 0%-12% 16%-20% 油菜籽 8%-14%(新样)6%-12%(新样) 6%-8% 14%-17% 4%-6% 12%-15% 大米 12%-17% 11%-12% 17%-21%4、电源:1.5V(R20)电池两节5、仪器工作条件:环境温度:0°C-40°C、相对湿度:不大于80%(40°C)、电源电压:2.4V-3.2V 6、外形尺寸:240×172×110(mm)7、重量:3.6kg 粮食水份测量仪☆粮食水份测量仪☆粮食水份测量仪价格是多少粮食水份测量仪☆粮食水份测量仪☆粮食水份测量仪厂家哪个好粮食水份测量仪就选郑州中谷粮食水份测量仪,,厂家直销,价格优惠!性能稳定,质量可靠, 优质服务欢迎选购 电话:0371-55862289 传真:0371-61175791 网址:http://www.zzzhonggu.com手机:13513890822 18037122128信箱:zhonggu668@163.com详细资料,敬请登录中谷机械设备公司以下网站: http://www.zzzhonggu.com 郑州中谷机械设备有限公司更多推荐产品粮食水份测量仪http://www.zzzhonggu.com/1005-12.html谷物选筛http://www.zzzhonggu.com/1014-6.html害虫选筛http://www.zzzhonggu.com/1014-16.html容重器http://www.zzzhonggu.com/1014-2.html电子容重器http://www.zzzhonggu.com/1014-19.html钟鼎式分样器http://www.zzzhonggu.com/1014-11.html不锈钢分样器http://www.zzzhonggu.com/1014-14.html小麦硬度测定仪http://www.zzzhonggu.com/1014-18.html碎米分离器http://www.zzzhonggu.com/1014-20.html精米机http://www.zzzhonggu.com/1014-3.html检验砻谷机http://www.zzzhonggu.com/1014-8.html单管通风机http://www.zzzhonggu.com/1001-2.html多管通风机http://www.zzzhonggu.com/1001-3.html谷物水分测定仪http://www.zzzhonggu.com/1005-2.html快速水分测定仪http://www.zzzhonggu.com/1005-3.html电脑快速水分仪http://www.zzzhonggu.com/1005-6.html粮食水分测定仪http://www.zzzhonggu.com/1005-11.html不锈钢粮食取样器http://www.zzzhonggu.com/1010-1.html粮食扦样器http://www.zzzhonggu.com/1010-5.html散粮车取样器http://www.zzzhonggu.com/1010-7.html油脂酸价测定仪http://www.zzzhonggu.com/1019-16.html罗维朋比色计http://www.zzzhonggu.com/1019-14.html

  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别?

    随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 【资料】电子测量仪器的分类及应用

    电子测量仪器按其工作原理与用途,大致划为以下几类。1.多用电表  模拟式电压表、模拟多用表(即指针式万用表VOM)、数字电压表、数字多用表(即数字万用表DMM)都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。2.示波器  示波器是一种测量电压波形的电子仪器,它可以把被测电压信号随时间变化的规律,用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌,而且可以通过它显示的波形,测量电压和电流,进行频率和相位的比较,以及描绘特性曲线等。3.信号发生器  信号发生器(包括函数发生器)为检修、调试电子设备和仪器仪表时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如:产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。4.晶体管特性图示仪  晶体管特性图示仪是一种专用示波器,它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性;二极管的正向、反向特性;稳压管的稳压或齐纳特性;它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、自或a参数等。5.兆欧表  兆欧表(俗称摇表)是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表,通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电,故称摇表。由于它的刻度是以兆欧(MΩ)为单位,故称兆欧表。6.红外测试仪  红外测试仪是一种非接触式测温仪器,它包括光学系统、电子线路,在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种,主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。7.集成电路测试仪  该类仪器可对TI1、PM0S、CM0S数字集成电路功能和参数测试,还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。8.LCR参数测试仪  电感、电容、电阻参数测量仪,不仅能自动判断元件性质,而且能将符号图形显示出来,并显示出其值。其还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数,且显示出等效电路图形。9.频谱分析仪  频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率,测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如:逻辑电路的控制信号、基带信号,射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。  除以上常用的电子测量仪器外,还有时间测量仪、电桥、相位计、动态分析器、光学测量仪、应变仪、流量仪等。

  • 噪声测量仪是个啥东西,分贝仪到是听过,有啥区别啊?

    车间噪音挺大的,领导说要我们去测一下,问有没有噪声测量仪,然后我说是不是分贝仪啊。领导说貌似是的吧。回来百度一下,好像噪声测量仪和分贝仪还是有区别的,但是还是不是灰常清楚。还有,这噪声仪随便买一台就能用呢还是需要注意什么啊?

  • 叶面积测量仪测量范围是多少

    叶面积测量仪测量范围是多少

    [size=16px]  叶面积测量仪测量范围是多少  叶面积测量仪的测量范围取决于具体的仪器型号和制造商,不同型号的叶面积测量仪可能有不同的测量能力和规格。一般来说,叶面积测量仪的测量范围通常包括以下方面:  叶片面积:叶面积测量仪主要用于测量植物叶片的表面积,其范围可以从小型植物的小叶片到大型树木的大叶片。测量范围通常以平方厘米(cm2)或平方米(m2)为单位。  叶片数量:一些叶面积测量仪具有多个测量通道,可以同时测量多片叶子的面积。这对于效率和大规模叶面积测量非常有用。  叶片形状和尺寸:测量仪通常能够适应不同形状和尺寸的叶片,包括圆形、椭圆形、线性和复杂的形状。  叶片厚度:有些叶面积测量仪还可以估算叶片的厚度,从而提供更详细的叶片特征信息。  具体的测量范围将根据仪器的设计和规格而异,所以在选择叶面积测量仪时,您应该查看仪器的技术规格和制造商提供的信息,以确保它满足您的测量需求。如果需要测量较大范围的叶面积,可能需要考虑使用专业的大型叶面积测量仪或使用多次测量的方法来覆盖整个叶片。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/09/202309151025162609_7338_6098850_3.png!w690x690.jpg[/img][/size]

  • 【分享】三维光学测量仪的特征及功能简介

    三维光学测量仪又可称为三维影像测量仪或非接触式光学测量仪,是集光学、机械、电子、计算机图像处理技术于一体的高精度、高效率、高可靠性的测量仪器。三维光学测量仪采用非接触式三维测量方式,可进行快速精密的几何尺寸和形位公差的测量,具有了良好的刚性质量比,运动平稳、精确,确保了整机精度更高。 三维光学测量仪采用国际先进的有限元分析技术设计,具有高精度、高性能高速度和高稳定性的特点。使用冷光源系统,可以避免容易变形的工件在测量是因为热变形所产生的误差,并避免了由于碰触引起的变形。三维光学测量仪可高效地检测各种复杂精密零部件的轮廓和表面形状尺寸、角度及位置,全自动地进行微观检测与质量控制;还可自动抓边、自动聚焦的功能使得最大程度减少了人为误差。 三维光学测量仪适用于航空、航天、军工、汽车、模具、电子、机械、仪表、五金、塑胶等行业中的模具、螺丝、金属、配件、橡胶、PCB板、弹簧等以坐标测量为目的一切应用领域适用范围。

  • 关于物位测量仪表的一些基础信息

    基本概念: 物位是指物料相对于某一基准的位量,是液位、料位和相界而的总称。 (1)液位。储存在各种容器中的液体液面的相对高度或自然界的江、河、湖、海以及水库中液体表面的相对高度。 (2)料位。容器、堆场、仓库等所储存的固体颗粒、粉料等的相对高度或表面位置o (3)相界面位置。同一容器中储存的两种密度不同旦互不相溶的介质之间的分界面位置。通常指液—液相界面、液—固相界面。物位的测量即是指以上三种位置的测量,其结果常用绝对长度单位或百分数表示。测量固体料位的仪表称为料位计,测量液位的仪表称为液位计,测量相界面位置的仪表称界面计。根据我国生产的物位测量仪表系列和工厂实际应用情况,液位测量占有相当大的比例,故在此主要介绍工厂常用的液位测量仪表,其原理也适应其他物位测量。物位测量仪表的分类:物位测量方法很多,测量范围较广,可从儿毫米到几十米,甚至更高,且生产I艺对物位测量的要求也各不相同。因此,工业上所采用的物位测量仪友种类繁多,技其工作原理可分为:(1)直读式物位测量仪表。它利用连通器原理,通过与被测容器连通的玻璃管或玻璃板来直接显示容器中的液位高度,是最原始但仍应用较多的液位计。(2)静压式物仪测量仪表。它是利用液校或物料堆积对某定点产生压力,测量该点压力或测量该点与另一参考点的压差而间接测量物位的仪表。这类仪表共有压力计式物位计、差压式液位计和吹气式液位计3种。(3)浮力式物位测量仪表。这是一种依据力平衡原理,利用浮于一类悬浮物的位置随液面的变化而变化来反映液他的仪表。它又分为浮子式、浮筒式和杠杆浮球式3种。它们均可测量液位,且后两种还可测量液—液相界面。 (4)电气式物位测量仪表。它是将物位的变化转换为电量的变化,进行间接测量物位的仪表。根据电量参数的不同,可分为电容式、电阻式和电感式3种,其中电感式只能测量液位。(5)声学式物位测量仪表。利用超声波在介质中的传播速度及在不同相界面之间的反射特性来检测物位。它可分为气介式、液介式和固介式3种,其中气介式可测液位和料位;液介式可测液位和液—液相界面;固介式只能测液位,比如:防爆型超声波液位计(6)光学式物位测量仪表。它是利用物位对光波的遮断和反射原理来测量物位的。有激光式物位计,可测液位和料位,: (7)核辐射式物位测量仪表。放射性同位素所放出的射线穿过被测介质时.被吸收而减弱,其衰减的程度与被测介质的厚度(物位)有关。利用这种方法可实现液位和料位的非接触式检测。 除此以外,还有重锤式、音叉式和旋翼式3种机械式物位测量仪表,以及微波式、热电式、称重式、防爆型超声波液位计、射流式等多种类型,且新原理、新品种仍在不断发展之中。物位测量仪表按仪表的功能不同又可分为连续测量和位式测量两种.前者可实现物位连续测量、控制、指示、记录、远传、调节等,后者比较简单价廉,主要用于定点报警和自动进出物料的自动化系统。 返回——仪器仪表网

  • 【资料】测量仪器的计量特性

    测量仪器的计量特性 测量仪器的计量特性是指其影响测量结果的一些明显特征,其中包括测量范围、偏移、重复性、稳定性、分辨力、鉴别力和示值误差等。为了达到测量的预定要求,测量仪器必须具有符合规范要求的计量学特性。 确定测量仪器的特性,并签发关于其法定地位的官方文件,称为测量仪器控制。这种控制可包括对测量仪器的下列运作中的一项、两项或三项: ——型式批准; ——检定; ——检验。 这些工作的目的是要确定测量仪器的特性是否符合相关技术法规中规定的要求。型式批准是由政府计量行政部门做出的承认测量仪器的型式符合法定要求的决定。所谓型式,是指某一种测量仪器的样机及(或)它的技术文件(例如:图纸、设计资料等),实质上就是该种测量仪器的结构、技术条件和所表现出来的性能。 检定是查明和确认测量仪器是否符合法定要求的程序,它包括检查、加标记和(或)出具检定证书。检验是对使用中测量仪器进行监督的重要手段,其内容包括检查测量仪器的检定标记或检定证书是否有效、保护标记是否损坏、检定后测量仪器是否遭到明显改动,以及其误差是否超过使用中最大允许误差等。

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