纳米纤维张力仪

LEXT OLS4500是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜(LSM)以及扫描探针显微镜(SPM)功能为一体的革新机，从而可以实现对观测对象从几十倍到百万倍的连续放大, 可以满足不同样品的超高分辨率三维观察，以及尺寸测量、微粗糙度测量等各种观测需求。通过在多种显微镜和观察模式间自由切换，LEXT OLS4500可以轻松实现从毫米到纳米的超大范围观察和测量，这使得观察对象的定位变得精准快捷，在大大缩短了获取影像时间的同时保护了探针，并且不用担心观测目标的丢失。另外，这种一体的革新设计可以实现对同一对象的多手段原位观测，从而提高了对观测结果分析解释的准确性和可信度！ l 光学显微镜：装有倍率不同的四种物镜，集合了明视野观察（BF）、微分干涉观察（DIC）、简易偏振光观察及HDR（高动态范围）观察等多种功能。l 激光显微镜：采用短波长405nm的激光光源和高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统，实现了优异的平面分辨率。在激光微分干涉模式中还可以实现观察纳米级的微小凹凸。l 扫描探针显微镜：专业的针尖对齐夹具避免了在仪器上调节激光光斑位置的繁琐；搭载导航功能，可以在已扫图像中任意制定特定区域进一步扫描观测；多种观察模式满足对样品表面形貌和物性的观察分析。

SKYSCAN 2214 是布鲁克推出的新纳米断层扫描系统，是显微 CT 技术领域的先行者，在为用户带来了终级分辨率的同时,提供非常好的用户体验。SKYSCAN 2214 的每个组件都融入的新的技术，使其成为当今市场上性能很强、适用性很广的系统。■多用途系统，样品尺寸可达300mm，分辨率（像素尺寸）可达 60 纳米■金刚石窗口x射线源，焦斑尺寸500nm■创新的探测器模块化设计，可支持 4 个探测器、可现场升级。■全球速度很快的 3D 重建软件（InstaRecon）。■支持精确的螺旋扫描重建算法。■近似免维护的系统，缩短停机时间并降低拥有成本。地质、石油和天然气勘探■常规和非常规储层全尺寸岩心或感兴趣区的高分辨率成像■测量孔隙尺寸和渗透率，颗粒尺寸和形状■测量矿物相在3D空间的分布■原位动态过程分析聚合物和复合材料■以500 nm 的真正的 3D 空间分辨率解析精细结构■评估微观结构和孔隙度■量化缺陷、局部纤维取向和厚度电池和储能■电池和燃料电池的无损 3D 成像■缺陷量化■正负极极片微观结构分析■电池结构随时间变化的动态扫描生命科学■以真正的亚微米分辨率解析结构，如软组织、骨细胞和牙本质小管等■对骨整合生物材料和高密植体的无伪影成像■对生物样品的高分辨率表征，如植物和昆虫

JQN04C纳米纤维张力仪 本公司是上海市高新技术企业，依托国内著名高校和科研单位，广泛采用国内外有关专家的最新科技成果，着重胶体与界面、粉体技术、纺织纤维等性能测量技术产品的开发。本公司产品可广泛用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋、化工、石油、喷涂、油漆油墨、印染、纺织、集成光学、液晶显示器等行业。公司的客户群不仅包括国内各大高等院校、科研院所和军工企业，而且还包括3M、富士康、HOYA光学、友达光电、三星电子、飞利浦等一大批跨国企业，以及中石化、中石油、冠豪科技、威远生化、宁夏东方、乐凯胶片、彩虹控股等上市公司，产品远销美国、日本、韩国、马来西亚、泰国和我国香港、台湾地区。纳米纤维张力仪测量纤维的拉伸性能，是表征纤维最基本力学参数的综合性仪器。JQN04C 纳米纤维张力仪适合于多种纤维，用其可以迅速准确地测出各种纤维的拉伸指标。纳米纤维张力仪用来测量纳米单纤维在不同的试验参数下（例如：拉伸速度、隔距）下力学性能（模量、断裂功和断裂伸长等）、外观形态（纤维的形貌、直径、长度、断裂断形貌和断裂过程）等，通过这些参数的测量来表征纤维材料的特征，为纤维材料的应用和贸易过程中提供指导和参考的指标。主要功能和特点采用高精度立敏传感器、平台精确移动、光学系统和CCD摄像头结合技术，测量纤维在轴向过程中压缩力值和挠度连续变化。采用计算机控制和数据采集并对基本获取数值直接进行软件计算，求得模量等反映纤维的指标；采用单班机技术，对压力值、平台位移和形态变化进行实时采样，对操作调焦、平台移动电机进行控制；选用不同夹具和不同量程的传感器，即可适用纤维拉伸性能的测量操作过程和数据采集实现自动化和智能化，使人为操作误差的可能降到最低；关键零部件（包括传感器）进口，测试数据精确，重复性好；基于WINDOW视窗的全中文操作软件，用户界面友好，可长时间工作记录曲线及自动生成数据，可存储打印。体贴设计保证了仪器能适用于常规测试环境、与普通配置PC联机工作，运行平稳，噪音小。上述产品系我公司开发生产，我公司拥有其软、硬件的完全知识产权，能够保障用户的售后维护、升级、服务的权利，并负责送货上门安装调试培训。主要技术指标 纤维隔距长度最小可为1mm最大伸长度20mm-200%纤维最大拉伸速度30－150mm/min。力值精度0.001mN图像分辨率24象素/微米适用范围适用于亚微米级纤维及弹性纤维测量。测量特征指标可根据应力应变曲线计算弹性模量、拉伸功、断裂应力、断裂应变、拉伸回复比等指标。可设定应力或伸长恒定，测量纤维屈服蠕变性能。 配置清单 JQN04C 纳米纤维张力仪主机一台：组成部分: 光源、CCD摄像头、连续变倍光学系统、微力传感器及调整平台与JQN04C 纳米纤维张力仪相对应的配件，包括： 串口延长线壹根张力夹壹套视频采集卡壹个驱动盘壹张说明书壹份

??JQN04C纳米纤维张力仪本公司依托国内著名高校和科研单位，广泛采用国内外有关专家的最新科技成果，着重胶体与界面、粉体技术、纺织纤维等性能测量技术产品的开发。产品可广泛用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋、化工、石油、喷涂、油漆油墨、印染、纺织、集成光学、液晶显示器等行业。公司的客户群不仅包括国内各大高等院校、科研院所和军工企业，而且还包括3M、富士康、HOYA光学、友达光电、三星电子、飞利浦等一大批跨国企业，以及中石化、中石油、冠豪科技、威远生化、宁夏东方、乐凯胶片、彩虹控股等上市公司，产品远销美国、日本、韩国、马来西亚、泰国和我国香港、台湾地区。纳米纤维张力仪测量纤维的拉伸性能，是表征纤维最基本力学参数的综合性仪器。JQN04C纳米纤维张力仪适合于多种纤维，用其可以迅速准确地测出各种纤维的拉伸指标。纳米纤维张力仪用来测量纳米单纤维在不同的试验参数下（例如：拉伸速度、隔距）下力学性能（模量、断裂功和断裂伸长等）、外观形态（纤维的形貌、直径、长度、断裂断形貌和断裂过程）等，通过这些参数的测量来表征纤维材料的特征，为纤维材料的应用和贸易过程中提供指导和参考的指标。一、主要功能和特点：1、 采用高精度立敏传感器、平台精确移动、光学系统和CCD摄像头结合技术，测量纤维在轴向过程中压缩力值和挠度连续变化。2、 采用计算机控制和数据采集并对基本获取数值直接进行软件计算，求得模量等反映纤维的指标；3、 采用单班机技术，对压力值、平台位移和形态变化进行实时采样，对操作调焦、平台移动电机进行控制；4、 选用不同夹具和不同量程的传感器，即可适用纤维拉伸性能的测量5、 操作过程和数据采集实现自动化和智能化，使人为操作误差的可能降到最低；6、 关键零部件（包括传感器）进口，测试数据精确，重复性好；7、 基于WINDOW视窗的全中文操作软件，用户界面友好，可长时间工作记录曲线及自动生成数据，可存储打印。8、 体贴设计保证了仪器能适用于常规测试环境、与普通配置PC联机工作，运行平稳，噪音小。9、 上述产品系我公司开发生产，我公司拥有其软、硬件的完全知识产权，能够保障用户的售后维护、升级、服务的权利，并负责送货上门安装调试培训。二、主要技术指标：纤维隔距长度最小可为1mm最大伸长度20mm-200%纤维最大拉伸速度30－150mm/min。力值精度0.001mN图像分辨率24象素/微米适用范围适用于亚微米级纤维及弹性纤维测量。测量特征指标可根据应力应变曲线计算弹性模量、拉伸功、断裂应力、断裂应变、拉伸回复比等指标。可设定应力或伸长恒定，测量纤维屈服蠕变性能。三、配置清单：JQN04C纳米纤维张力仪主机一台：组成部分: 光源、CCD摄像头、连续变倍光学系统、微力传感器及调整平台 与JQN04C纳米纤维张力仪相对应的配件，包括： 串口延长线壹根张力夹壹套视频采集卡壹个驱动盘壹张说明书壹份?

产品详细介绍怎样选纺织材料拉伸仪没有一台纺织仪器可以用来测量所有的纺织材料的拉伸性能。不同的纺织材料适合不同的拉伸仪器。纺织材料的拉伸测量可以在三个方向进行，从方向来区分主要有：1）一个方向的拉伸与压缩，例如单纤维拉伸仪；2）两个方向的拉伸与压缩，例如双轴向拉伸仪器；3）两个方向的拉伸压缩与第三个方向的顶破；例如三维力学测量仪。根据材料断裂强力的力值的大小将测量仪器分成：微力拉伸装置，例如用来测量准纳米级纤维的仪器（大连理工的纳米纤维拉伸与压缩弯曲仪）；一般力拉伸装置，例如单纤维强力仪；高强力拉伸装置，例如三维力学拉伸装置（北京国际竹藤网络中心）。根据夹头的不同也可以选择不同的仪器：普通天然纤维所使用的气动夹头的单纤维拉伸仪；适用于人造纤维强力相对较大的纤维的特殊卡槽的仪器（北京国际竹藤中心的竹木短纤维拉伸装置和天津大学的碳纳米管纤维拉伸装置；手动的适合短脆准纳米级纤维的拉伸仪（大连理工大学）；适合于束纤维的气动夹头；适用于高强力的织物的夹头的拉伸装置（北京国际竹竹藤中心）；根据观察系统的不同也可以选择不同的仪器：1）没有观察系统的单纤维拉伸仪；2）一个镜头局部观察的准纳米纤维拉伸仪；3）两个镜头可以进行局部观察和全景观察的短纤维拉伸仪；4）配置高速摄像的三维力学拉伸装置（北京国际竹藤网络中心）。根据拉伸装置的速度可以分成：慢速拉伸仪（纳米纤维准拉伸装置）；快速拉伸仪(三维力学测试装置)。总之，根据不同的材料，能选配不同的产品，能选择不同的夹头，数字观察系统，拉伸速度和精度，同时也能根据不同的采集力值的数据来选择适合的仪器。本公司能根据不同的国际标准为您加工适合您需要的纺织材料拉伸仪。纤维测量仪器用来测量单纤维在不同的试验参数下（例如：拉伸速度、隔距）下力学性能（模量、断裂功和断裂伸长等）、外观形态（纤维的形貌、直径、长度、断裂断形貌和断裂过程）等，通过这些参数的测量来表征纤维材料的特征，为纤维材料的应用和贸易过程中提供指导和参考的指标。技术特点：1.测量纤维对象范围广，可测量微米级和亚微米级纤维（包括纳米复合纤维）强力特性。2.纤维力学测量特征指标丰富，可根据应力应变曲线计算弹性模量、拉伸功、断裂应力、断裂应变、拉伸回复比等指标；3.可设定应力或伸长恒定，测量纤维屈服蠕变性能；4.纤维隔距长度最小可为1mm，最大伸长度20mm-200%,纤维最大拉伸速度30－150mm/min，力值精度0.001mN,图像分辨率24象素/微米，适用于亚微米级纤维及弹性纤维形态测量；

NH-500超高压纳米微射流工作原理：　　高压流体在加压状态下通过细孔模块时压力急剧下降而形成超声波流速此时的流体内会发生粒子冲击，空化和消流，剪切，应力作用下流体细胞的破坏，雾化，乳化，分散，脂质体等现象使用现有的智能搅拌机，超声波，球磨机等，相对于其它技术具有更高效率的电子材料，生命工程，制药， 食品， 纤维，涂料，化妆品等产业， 以至适用于广泛的领域。　　高压流体在分散单元的狭小缝隙间快速通过。 此时流体内压力的急剧下降而形成的超声速流速，流体内的粒子碰撞，空化及漏流，剪切力作用于劈开纳米大小的细微分子便流体的成分以完全的均质的状态存在。　　应用：　　微射流广泛应用于陶瓷墨水分散，石墨烯分散，纳米混悬液制备，纳米纤维素分散等领域.　　金刚石互容腔优点：　　※ 金刚石内置图层，更加耐磨，适用于更多的颗粒坚硬的样品处理　　※ 可以根据客户不同种应用定制合适的型号75um、100um、125um等　　※ 利用样品与样品之间的湍流和对撞来实现样品的处理，样品污的风险更小！　　※ 耐压可达30000psi，超过目前所有的样品处理设备，可达到更大的剪切力，空穴和湍流的效果！　　超高压纳米微射流产品规格参数：　　设计压力：2070bar（30000psi）　　流量：500ml/min　　电机系统：油压泵　　料杯容量：2000ml　　重量：300KG　　互溶腔规格：75um/100um（Z/Y,type） 　　"Z"型工作腔原理：(选配“Y”型) "Z"型工作腔原理：（选配“Y”型）　　图1：撞击：空液体的相互碰撞及液体内部的颗粒流体发生碰撞而形成的碰撞力。　　图2：剪切：根据流体的表面张力及分散单元内部的壁面摩擦力、 粘度等，会发生流体的剪切力。　　图3：空化：空化是指空隙的行为或气泡在液体中。如果速度增加，则分子和空隙或间凝集力液体中的气泡迅速塌陷，产生一种冲击波。

NH-500超高压纳米微射流工作原理：　　高压流体在加压状态下通过细孔模块时压力急剧下降而形成超声波流速此时的流体内会发生粒子冲击，空化和消流，剪切，应力作用下流体细胞的破坏，雾化，乳化，分散，脂质体等现象使用现有的智能搅拌机，超声波，球磨机等，相对于其它技术具有更高效率的电子材料，生命工程，制药， 食品， 纤维，涂料，化妆品等产业， 以至适用于广泛的领域。　　高压流体在分散单元的狭小缝隙间快速通过。 此时流体内压力的急剧下降而形成的超声速流速，流体内的粒子碰撞，空化及漏流，剪切力作用于劈开纳米大小的细微分子便流体的成分以完全的均质的状态存在。　　应用：　　微射流广泛应用于陶瓷墨水分散，石墨烯分散，纳米混悬液制备，纳米纤维素分散等领域.　　金刚石互容腔优点：　　※ 金刚石内置图层，更加耐磨，适用于更多的颗粒坚硬的样品处理　　※ 可以根据客户不同种应用定制合适的型号75um、100um、125um等　　※ 利用样品与样品之间的湍流和对撞来实现样品的处理，样品污的风险更小！　　※ 耐压可达30000psi，超过目前所有的样品处理设备，可达到更大的剪切力，空穴和湍流的效果！　　超高压纳米微射流产品规格参数：　　设计压力：2070bar（30000psi）　　流量：500ml/min　　电机系统：油压泵　　料杯容量：2000ml　　重量：300KG　　互溶腔规格：75um/100um（Z/Y,type） 　　"Z"型工作腔原理：(选配“Y”型)　　"Z"型工作腔原理：（选配“Y”型）　　图1：撞击：空液体的相互碰撞及液体内部的颗粒流体发生碰撞而形成的碰撞力。　　图2：剪切：根据流体的表面张力及分散单元内部的壁面摩擦力、 粘度等，会发生流体的剪切力。　　图3：空化：空化是指空隙的行为或气泡在液体中。如果速度增加，则分子和空隙或间凝集力液体中的气泡迅速塌陷，产生一种冲击波。

NH-500超高压纳米微射流工作原理：　　高压流体在加压状态下通过细孔模块时压力急剧下降而形成超声波流速此时的流体内会发生粒子冲击，空化和消流，剪切，应力作用下流体细胞的破坏，雾化，乳化，分散，脂质体等现象使用现有的智能搅拌机，超声波，球磨机等，相对于其它技术具有更高效率的电子材料，生命工程，制药， 食品， 纤维，涂料，化妆品等产业， 以至适用于广泛的领域。　　高压流体在分散单元的狭小缝隙间快速通过。 此时流体内压力的急剧下降而形成的超声速流速，流体内的粒子碰撞，空化及漏流，剪切力作用于劈开纳米大小的细微分子便流体的成分以完全的均质的状态存在。　　应用：　　微射流广泛应用于陶瓷墨水分散，石墨烯分散，纳米混悬液制备，纳米纤维素分散等领域.　　金刚石互容腔优点：　　※ 金刚石内置图层，更加耐磨，适用于更多的颗粒坚硬的样品处理　　※ 可以根据客户不同种应用定制合适的型号75um、100um、125um等　　※ 利用样品与样品之间的湍流和对撞来实现样品的处理，样品污的风险更小！　　※ 耐压可达30000psi，超过目前所有的样品处理设备，可达到更大的剪切力，空穴和湍流的效果！　　超高压纳米微射流产品规格参数：　　设计压力：2070bar（30000psi）　　流量：500ml/min　　电机系统：油压泵　　料杯容量：2000ml　　重量：300KG　　互溶腔规格：75um/100um（Z/Y,type）"Z"型工作腔原理：（选配“Y”型）　撞击：空液体的相互碰撞及液体内部的颗粒流体发生碰撞而形成的碰撞力。　剪切：根据流体的表面张力及分散单元内部的壁面摩擦力、 粘度等，会发生流体的剪切力。　空化：空化是指空隙的行为或气泡在液体中。如果速度增加，则分子和空隙或间凝集力液体中的气泡迅速塌陷，产生一种冲击波。

产品介绍：这是一台用于大规模生产静电纺丝纳米纤维的设备。该设备拥有完整的纺然系统，保证纳米纤维连续、稳定的生产。该设备还配备了供液系统、高压电源、纺丝系统、接收装置、排气系统、PLC控制系统、温湿度控制系统，可满足纳米纤维的批量和连续生产条件。设备的宽度可根据客户需求扩展。而且该设备在高效过滤材料、组织工程、药物载体、功能纺织品等方面有广阔的应用前景。 产品特点：可定制宽度660/1200/1600m或其他宽度；正负高压电源装置；7*24小时稳定生产；独特的静电纺丝喷嘴专利保证纺丝稳定性；

产品特点：GATTA-AFM纳米标尺具有准确、高度平行的结构，可以完美地用于检测或优化原子力显微镜。在实际环境中测试原子力显微镜可以达到的分辨率非常重要，不仅可以测出原子力显微镜达到产品标称分辨率的可能性，还可以测出实际使用时可达到的极限。如今GATTA也提供适合测试的GATTA-AFM纳米标尺，现在，有了GATTA原子力显微镜纳米标尺之后，就有了足够的测试样品，这些样本用DNA做成，呈现70nm*90nm*2nm（高）的长方体形状。技术参数：

Queensgate生产高速、高精度的压电式平台和皮米级分辨率的电容式传感器，用于最苛刻的纳米定位应用。专门从事要求高性能、高负载和高速的定制解决方案，通常适用于要求很高的环境。提供OP400物镜定位器和NanoScan SP纳米定位平台系列产品。最佳步进稳定及定位性能高通量筛选和分析是生物和材料科学成像的支柱。因此，OP400和SP系列的设计考虑到了速度，产品在全行程范围内可提供快速性能以及市场上较快的步进整定时间。这意味着高分辨率的长距离z–stacking在速度上迈入了新的领域。高速扫描会导致振荡，进而影响图像质量和z-stacking，甚至对纳米定位系统造成损坏。Queensgate产品具有高谐振频率；与Queensgate专有的数字控制技术结合，系统可以在没有振荡风险的情况下以同类最佳速度运行。有了Queengate的专业技术，不再需要由于系统不稳定或牺牲z-stack采集速度，而舍弃每个stack开始的图像。速度不会影响性能。SP系列有 400nm 和 600nm 行程范围可选，拥有同级较短行程产品相当或更优越的性能。OP400的线性度是典型压电式物镜定位器的两倍，同时具有良好的线性度和可重复性。这两种产品在实验中都具有极高的轴向分辨率，提供亚纳米分辨率。生物科学家认为，显微镜z轴的机械分辨率显然会高于其成像技术的光学分辨率。根据不同的分析方法，可检测或成像低至0.7nm的形态变化，是半导体或冶金样品表面检测的理想选择。这一系列操作都是通过集成的超灵敏电容式传感器实现的，无论移动速度或系统温度如何，传感器都能提供最高的定位灵敏度。轻松集成，助力实验成功尽管纳米定位设备的性能在市场上有很大优势，但相对于其系统的其他组件来说，用户几乎不需要校准这些纳米设备。产品的最高速度设置可与重达500g的物镜兼容，并为专业物镜提供二次校准。Queensgate的NPC控制器系列可完成其余工作。用户有理由相信Queensgate能够提供适合其实验需求且开箱即用的产品。 OP400和SP系列不仅易于设置，而且能够与各类显微镜兼容。OP400可兼容任何螺纹尺寸的显微镜鼻轮和物镜，包括32mm宽视场系统。NanoScan SP系列与所有的Prior Scientific倒置步进、直线电机平台兼容，也可兼容尼康，奥林巴斯和其他主流显微镜制造商的电动平台，以及东海希多和Okolabs的培养箱。此外，系统还可用于增强Prior的硬件PureFocus 850快速自动对焦系统的性能，为长时间延时实验提供 +/- 50nm 的聚焦稳定性。应用 共聚焦，超分辨，电生理，形貌测量等要求样品绝对稳定性的显微镜应用。

SKYSACN 3d纳米x射线显微镜ct - 一款用于显微样品三维成像的实验室级超高分辨率CT扫描仪,可对直径为30cm，长度40cm样品的内部结构进行3D无损检测与重建，对样品的细节检测能力（标称分辨率）最高可达60纳米。利用 X 射线无损成像的特性提供样品内部结构的三维图像，并且无需对相关区域进行切割或切片。 ▼维护成本低,开放管，只需要更换灯丝。 SkyScan 2214采用了布鲁克独家所有的自动可变扫描几何系统，不但样品到光源的距离可调，探测器到光源的距离也可调。因此，可变几何系统能在空间分辨率、可扫描样品尺寸、扫描速度、图像质量之间找到完美的平衡。相比于传统的探测器-光源固定距离模式，在分辨率不变的情况下，扫描速度可提高2-5倍，同时保证得到相同的甚至更好的图像质量。而且这种扫描几何的改变，无需人工干预，软件会自动根据用户选定的图像放大倍数，自动优化扫描几何，以期在最佳分辨率、最短时间内得到高质量数据。SkyScan 2214配备了分层重构软件InstaRecon，得益于其独特的算法，重建速度比常规Feldkamp算法快10-100倍，适用于更大规模数据的成像处理。 了解更多应用方向，请致电束蕴仪器（上海）有限公司

中图仪器SuperViewW纳米深度光学3D表面轮廓显微仪基于白光干涉原理，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。工作原理SuperViewW纳米深度光学3D表面轮廓显微仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。测量原理照明光束经半反半透分光镜分成两束光，分别投射到样品表面和参考镜表面。从两个表面反射的两束光再次通过分光镜后合成一束光，并由成像系统在CCD相机感光面形成两个叠加的像。由于两束光相互干涉，在CCD相机感光面会观察到明暗相间的干涉条纹。干涉条纹的亮度取决于两束光的光程差，根据白光干涉条纹明暗度以及干涉条文出现的位置解析出被测样品的相对高度。SuperViewW纳米深度光学3D表面轮廓显微仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

产品描述PFR150系列超薄型XY（Z）多轴纳米定位压电平台，可用于与倒置显微镜的标准大范围纳米定位压电平台集成在一起。载物台具有较大的孔径，可容纳行业标准的样品架/微孔板、便于进行进行活细胞研究。PFR150系列为研究人员提供了对Z轴的快速，高精度控制，是反卷积，3D重建和共聚焦显微镜的理想选择；尤其适用于需要活细胞的应用。与其他仅移动一个物镜的压电聚焦设备不同，PFR150可以在载物框架位置使用，从而确保不失去共焦性。PFR150系列的闭环行程为80~200 μm，可与蔡司、尼康、奥林巴斯、莱卡等显微镜配合使用。其中压电平台，压电控制器和专接板均单独出售。可选的应变测量反馈闭环操作版本，采用高分辨率应变测量位置传感器，具有高精度和可重复的运动，也补偿压电陶瓷的蠕变特性，闭环装置可以用于开环或闭环控制。可选附件转接环，方便用户安装到指定设备中。产品特性—位移：80μm/150μm（闭环）—中空尺寸：83×93 mm—适用于质量达1000g样品扫描—嵌入型设计—并联结构设计具有高谐振频率选配功能—可定制转接装置—可选PZT&Sensor连接器及线缆长度—可选配闭环(SGS) 位置反馈系—可选择定制其它固定方式及培养皿支架应用领域—超分辨率显微镜—表面扫描和分析、测量技术—筛选、生物技术—自动聚焦系统—共聚焦显微镜 结构原理 响应特性 典型应用PFR150-XYZ100U/200U系列技术参数

静电纺丝往复移动平台可有效解决纤维膜不均匀的问题，搭配滚筒收集极使用可以获得大面积厚度均匀的纳米纤维膜。该装置简单易用，上手即可操作。 底盘尺寸：15cm × 45cm； 往复范围：0 — 20cm或0-30cm（手动滑块调节） 喷头个数：3个（可定制）；精密调速(数显)：1~1500mm/min精度：1mm/min重量：5kg功率：30W超低速运行，可用于进场电纺，制备平行纤维。

产品特点：GATTA-PAINT 系列纳米标尺是适用于各种定位技术的超高分辨显微镜的理想标尺。因为采用DNA PAINT技术实现亮暗转换，GATTA-PAINT 纳米标尺几乎不会淬灭。此外，标尺的设计中包含了三个荧光发射点，可以获取到醒目的图像。荧光标记间的距离有如下几个尺寸：20nm, 40nm, 80nm。每种距离都有如下几种颜色可供选购：红色（ATTO 647N），绿色（ATTO 542）或蓝色（Alexa Fluor 488），或者红/绿组合(ATTO 655/ ATTO 542)技术参数：

原子力显微镜（工业型）产品简介基于专利的、源自德国的主动式针尖技术，百及纳米科技开发了下一代工业智能型原子力显微镜系统，针对工业领域应用提供快速、智能的样品形貌表征，适用于工业型检错、质量评定和量化测量等，尤其适用于检测大尺寸晶圆或光学晶圆。系统集成了大尺寸样品位移台、全自动光学导航系统和配套自动控制软件，可对大尺寸样品进行的光学成像定位，根据光学成像结果自动标定多个准确测量区域，并根据缺陷/待测结构的特点进行模式识别，智能选取原子力显微镜测量参数，在样品多个位置间自动移动，进行可重复的高分辨率测量，生成检测书面报告，整个过程无需人工参与，实现对大尺寸样品形貌的智能化、自动化的高速、高质量纳米级测量。产品特点： 顶级自动化功能、测量过程无需激光调节、即插即用式针尖更换方案、快速自动进针， 针对高深宽比的沟槽或孔洞结构，采用特制的长针尖提供微纳米结构的三维形貌准确测量， 可升级至多针尖并行测量模式，大幅提高微纳结构表征的范围和效率， 可升级为基于针尖光刻的微纳米结构高性能加工系统，大气环境下快速直写5nm以下结构。功能指标样品尺寸100 mm x 100 mm (4英寸) 至 300 mm x 300 mm (12英寸)成像分辨率优于1 nm (水平方向：0.3 nm, 垂直方向：0.2 nm)样品台定位精度运动精度优于1nm，重复精度优于10nm，采用闭环回路定位准确控制。单场扫描范围 (X, Y, Z)35μm x 35μm x 10μm （备选: 100μm x 100μm x 30μm）测量模式1. 非接触式（形貌、相位、误差） 接触式&力曲线2. 扩展模式(导电探针(C-AFM)、开尔文探针力显微镜 (KPFM)、磁力显微镜 (MFM)、扫描针尖光刻 (SPL)等)

MSK-NFES-4静电纺丝纳米纤维制备系统是一个完整的纳米纤维制备系统，或者说是一个完整的静电纺丝涂覆系统（或电喷镀）。具有操作软件友好、设计以任务作业为基准、易于操作、优越的性价比等优点，因此领先于市场其他同类产品。可生产直径20nm-1000nm的超细纳米纤维，也可用于在基底上进行电喷雾涂层材料，相比于电纺丝，电喷雾涂层需要一个低粘度解决方案和更高的电压。产品型号 MSK-NFES-4静电纺丝纳米纤维制备系统安装条件 本设备要求在海拔1000m以下，温度25℃±15℃，湿度55%Rh±10%Rh下使用。 1、水：不需要 2、电：AC220V 50Hz，必须有良好接地 3、气：不需要 4、工作台：落地式设备，占地面积2m2以上 5、通风装置：需要主要特点 1、友好的操作软件界面，使得计算机能够帮助管理和控制各种参数，如旋转心轴速度、旋转时间、注射泵流量、 XY方向运动等。 2、采用典型的通风橱，可提供一个封闭式气氛，并通过四周玻璃窗监测纺丝的过程，且内部设有排气扇、卤素灯，以及加热器，可辐射加热至60℃，且都集成在一个电器控制单元上。 3、采用高压电源，最大电流容量0.5mA，可提供0-30KV输出电压。 4、配有1个固定靶、1个XY往复运动靶，6个不同直径的旋转心轴。 5、注射泵能够提供平稳的、连续的流量，使得纺丝过程始终如一。 6、已通过CE认证。技术参数　输入电源：AC 208-240V单相　高压电源 1、单相输出：0-30KV 2、最大电流：0.5mA 3、电压/电流表：数显 4、操作模式：恒定电流、恒定电压，内置保护电路　通风橱 1、材质：不锈钢、铝合金、玻璃 2、空间：1200mm×800mm； 3、通过四周的玻璃窗可以非常容易的监测电纺丝的过程； 4、采用独立的内置电源、线路，供加热、照明、排气使用； 5、经过环氧涂层处理，进行电器绝缘； 6、设有静电消除装置——残余电荷释放棒； 7、环境温度控制在60℃； 8、设有高压电源危险指示信号灯； 9、排气扇置于通风橱的顶部，可以连接外接排气设备　注射泵 1、包括四个注液分配系统，并由计算机控制； 2、分配标准2.5ml-60ml玻璃注射器； 3、注射器固定架采用绝缘材料制作，并可在高压条件下工作； 4、通过微控制器控制电机和注射流量（注意：请使用玻璃注射器，出于安全问题考虑，不要使用一次性塑料注射器）； 5、多轴喷雾式喷嘴可以满足喷嘴调节和注液分配需求； 6、注射器：30ml，玻璃制　收集系统（包括滚筒式、平板式、XY移动平面式三种标准） 1、滚筒式：Ø 2.0mm/Ø 6.0mm/Ø 12mm/Ø 25mm/Ø 75mm/Ø 100mm×200mm共6种尺寸；　且都可安装在标准的滚筒式收集器上；　采用微处理控制的带有霍尔传感器的无刷直流电机；　速度300rpm-4000rpm，稳定可调性±1%；　基于计算机控制记录速度、持续时间；　旋转心轴可获得整齐的连续网状纳米纤维 2、平板式：320mm×100mm×2mm不锈钢板，配有接地设置，作为固定的电纺丝收集器 3、XY移动平面式：300mm×200mm×5mm不锈钢板，配有接地设置； X、Y方向运动可编程，以控制涂覆薄膜特性；　基于计算机控制记录参数，如速度、行程、运动轨迹、持续时间等　软件 1、集成式软件，控制几乎所有的电纺丝参数； 2、一个软件界面控制注射泵、XY移动平面式收集器、滚筒式收集器； 3、所有工艺参数都可保存，用以用户检索分析或重新运行； 4、采用全新的笔记本电脑或Microsoft Surface Pro预装软件用于控制产品规格运输尺寸：两托盘，1450mm×1150mm×1800mm，450kg；1200mm×1000mm×900mm，140kg

百及纳米ParcanNano 高速原子力显微镜AFM系统 产品简介公司以全球独家专利的探针技术为核心竞争力，技术源自于德国伊尔默瑙工业大学 Rangelow 教授，致力于主动式探针技术在微纳米结构制备和表征方面的研发，及其相关设备的产业化。 本款扫描探针显微镜使用主动式智能探针，集传感器、驱动器和可功能化的探针于一身，实现自激发和自传感，无需复杂的激光校准，是取代现有 AFM 激光传感的巨大改进，具有极高性价比优势。该系统可在大气、液态及真空环境下实现对微纳米结构的高速、高效表征，成像精度达到 0.3 nm 的极限精度。 产品拥有像美国麻省理工学院、加州伯克利国家实验室、荷兰德尔夫特大学和清华大学等国内外知名科研客户，以及韩国三星、荷兰 ASML 等高端工业客户。扫描示例：

产品描述iNano采用InForce 50驱动器进行纳米压痕和通用纳米机械测试。 InForce 50的50mN力荷载和50μm位移范围使得该系统适合各种测试。 InView软件是一个灵活的现代软件包，可以轻松进行纳米级测试。 iNano是内置高速InQuest控制器和隔振门架的紧凑平台。 该系统可以测试金属、陶瓷、复合材料、薄膜、涂层、聚合物、生物材料和凝胶等各种不同的材料和器件。主要功能InForce 50驱动器，用于电容位移测量，并配有电磁启动的可互换探头独特的软件集成探头校准系统，可实现快速准确的探头校准InQuest高速控制器电子设备，具有100kHz数据采集速率和20μs时间常数XY移动系统以及易于安装的磁性样品架带数字变焦的集成显微镜，可实现精确的压痕定位ISO 14577和标准化测试方法InView软件包，包含RunTest、ReviewData、InFocus报告、InView大学在线培训和InView移动应用程序主要应用硬度和模量测量(Oliver Pharr)高速材料性质分布ISO 14577硬度测试聚合物tan delta，储存和损耗模量样品加热工业应用大学、研究实验室和研究所半导体和封装行业聚合物和塑料MEMS（微机电系统）/纳米级通用测试陶瓷和玻璃金属和合金制药涂料和油漆聚合物制造复合材料电池和储能应用硬度和模量测量 (Oliver-Pharr)机械表征在薄膜的加工和制造中至关重要，其中包括汽车工业中的涂层质量，以及半导体制造前段和后段的工艺控制。iNano纳米压痕仪能够测量从超软凝胶到硬涂层的各种材料的硬度和模量。 对这些特性的高速评估保证了在生产线上进行质量控制。高速材料性质分布对于包括复合材料在内的许多材料，其机械性能可能因部位而异。 iNano的样品平台可以在X轴和Y轴上移动100mm，并在Z轴方向移动25mm，这使得该系统适用于不同的样品高度并可以在很大的样品区域上进行测量。 可选的NanoBlitz形貌和层析成像软件可以快速绘制任何测得的机械属性的彩色分布图。ISO 14577硬度测试iNano纳米压痕仪包括预先编写的ISO 14577测试方法，可测量符合ISO 14577标准的材料硬度。 该测试方法对杨氏模量、仪器硬度、维氏硬度和标准化压痕进行自动测量和报告。聚合物Tan Delta、储存和损失模量iNano纳米压痕仪能够针对包括粘弹性聚合物的超软材料测量tan delta和储存与损耗模量。 储存与损耗模量以及tan delta是粘弹性聚合物的重要特性，其能量作为弹性能量存储并作为热量消耗。 这两个指标都用于测量给定材料的能量消耗。高温纳米压痕测试高温下的纳米压痕对于表征热应力下的材料性能至关重要，特别对热机械工艺中的失效机理进行量化。 在机械测试期间改变样品温度不仅能够测量热引起的行为变化，还能够量化在纳米级别上不易测试的材料过渡塑性。产品优势iNano纳米压痕仪可轻松测量薄膜、涂层和少量材料。 该仪器准确、灵活，并且用户友好，可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。 该仪器的力荷载和位移测量动态范围很大，因而可以实现从软聚合物到金属材料的精确和可重复测试。 模块化选项适用于各种应用：材料性质分布、特定频率测试、刮擦和磨损以及高温测试。 iNano提供了一整套测试扩展选项，包括样品加热、连续刚度测量、NanoBlitz3D/4D属性映射和远程视频选项。

仪器简介：德国Kleindiek Nanotechnik超微操纵仪的驱动单元是由压电陶瓷构成的纳米马达，因此它最*大的特点是能够进行纳米级精确移动，在保证纳米级移动的同时其专利的设计可以同时做到毫米级的移动范围，整个操纵装置全部由纳米马达驱动，从而保证了系统体积非常小，可以很容易地放入电子显微镜腔室内。 德国Kleindiek Nanotechnik生产的纳米显微操纵仪有以下型号以适用于不同的环境： MM3A-LMP Micromanipulator for Light Microscopy MM3A-EM Micromanipulator for Electron Microscopy MM3A-UHV Micromanipulator for UHV MM3A-LT Micromanipulator for low temperature 德国Kleindiek Nanotechnik生产的纳米显微操纵仪MM3A-EM以其高精度、超灵活、易操作、小体积成为电子显微镜用户的得力助手，改变了电子显微镜只用于样品观察的传统，直接在样品室内操纵样品，由此衍生了许多丰富多彩的应用，使得对样品的研究更深一步。的移动范围是三维空间的，X、Y轴可作±120°摆动，Z轴可作12mm的伸长，整个空间的移动范围达到100立方厘米。系统驱动全部由压电陶瓷来实现，由此保证了Z轴每个步进的精度可达0.5nm，当采用快速移动模式时，速度可达到2mm/s，可以说是同时兼具了高精度和高效率，专利的大行程设计，使得Z轴总行程可达到12mm，纳米级的移动精度、厘米级的移动范围是MM3A的最*大特点。 MM3A-LS以其高稳定性、高精度、无漂移的鲜明特性，被广泛应用于生命科学领域的高灵敏度膜电位测量领域。衍生产品MM3A-LMP与光学显微镜的结合，被广泛应用于半导体的探针系统中，可适应45nm、65nm、90nm工艺的要求。 显微操纵仪的极细微的漂移都会影响到细胞膜电位的测量，这就要求显微操纵仪尽量能做到零漂移，德国Kleindiek Nanotechnik公司生产的MM3A很好地解决了漂移的问题，既使是长时间的测量也没有漂移的现象。MM3A体积相对传统的显微操纵仪而言小了很多，长度约60mm重约45g，这种设计保证了系统的稳定性并降低了系统噪音水平，震动几乎对MM3A不产生影响。采用磁性基座固定，MM3A可以方便地安装在载物台的任何地方。在操纵仪的前端有叉式的玻璃管夹持器，玻璃管的更换简单易操作。 技术参数：MM3A-EM Length / Width / Height 60/22/25 mm Operating range XY / Z 240°/12 mm Scan range X / Y / Z 20/15/1μm Max Speed XY / Z up to 10/ 2 mm/s Resolution X 10-7 rad (5 nm) Resolution Y 10-7 rad (3.5 nm) Resolution Z 0.25 nm Hysterisis deviation Z 200 nm Hysterisis Angle (α) Z 10° (0.2 rad) Lowest temp 273K Highest temp 353K Lowest pressure 10-7 mbar Holding force 1 N Holding torque 3 Nmm - 4 Nmm Lift Y 5g Signal resistance (probing) 7.0Ω Max voltage (probing) 100V Max current (probing) 100 mA 主要特点：德国Kleindiek Nanotechnik生产的纳米显微操纵仪的突出特点： 纳米操纵精确度：安装在MM3A操纵臂前端的钨探针在X，Y方向最小移动距离为5nm，在Z方向最小移动距离为0.5nm。 快慢可调的操作速度：可以选择一个步进0.5nm，也可以选择最*大移动速度1cm/S。MM3A将大范围和超精细操作完美地结合在一起。 紧凑的结构设计：MM3A体积小，可以很宽松地在电镜腔室内安装1~8个系统。 三维大空间操作范围：X、Y方向可以做240度的旋转，Z轴方向做12mm的伸长，MM3A可操作的空间范围最*大达100cm3。 几乎无漂移：我们曾经做过实验MM3A钨探针针尖在场发射电镜放大100K条件下每隔一分钟拍一张照片，持续一小时后通过对照片的分析得出，在排除电镜电压不稳定因素外，MM3A几乎不产生漂移。 与电镜的连接：MM3A安装在加工好的平台上，该平台再固定在电镜的样品台上，整个安放过程十分方便，几分钟就可完成，不使用时将平台卸下取出既可。控制线通过电镜腔室上的空法兰穿出并密封，不会影响电镜的真空。

【实验箱配件列表】 1. 教学型扫描隧道显微镜，包括：(1)STM扫描头；(2)具有10倍放大镜的屏蔽罩；(3)大理石隔震台；(4)电子控制器；(5)USB线和电源线。 2. 工具盒：扁嘴钳子、剪刀、尖口镊子、样品支架、铂铱丝（Pt-Ir）金属探针等。 3. 软件安装盘。【特点】 ● 一体化精致设计，安装简单，携带方便 ● 操作步骤简单，适于中学或大学教学 ● 在普通实验环境下便可快速获得原子图像 ● 低电压操作，确保实验安全 ● 功能强大的图像处理、数据 分析软件，可观测三维原子图像【应用】 ● 多学科教学：物理、化学、纳米科技等 ● 观测原子、分子等微观粒子，认识纳米尺度下的微观图像 ● 可分区导体和非导体 ● 可拓展：实现纳米操纵和刻蚀，操纵微观粒子【主要技术指标】

产品描述iMicro采用InForce 1000驱动器进行纳米压痕和通用纳米机械测试，并可选择添加InForce 50驱动器来测试较软的材料。InView软件是一个灵活的现代软件包，可以轻松进行纳米级测试。iMicro是内置高速InQuest控制器和隔振门架的紧凑平台。 可以测试金属、陶瓷、复合材料、薄膜、涂层、聚合物、生物材料和凝胶等各种不同的材料和器件。主要功能InForce 1000驱动器，用于电容位移测量，并配有电磁启动的可互换探头可选的InForce 50驱动器提供最 大50mN的法向力来测量软性材料，并提供可选的Gemini 2D力荷载传感器用于双轴动态测量。独特的软件集成探头校准系统，可实现快速准确的探头校准InQuest高速控制器电子设备，具有100kHz数据采集速率和20μs时间常数XY移动系统以及易于安装的磁性样品架高刚度龙门架，集成隔振功能带数字变焦的集成显微镜，可实现精确的压痕定位ISO 14577和标准化测试方法InView软件包，包含RunTest、ReviewData、InFocus报告、InView大学在线培训和InView移动应用程序主要应用硬度和模量测量(Oliver Pharr)高速材料性质分布ISO 14577硬度测试聚合物tan delta，储存和损耗模量定量刮擦和磨损测试样品加热工业应用大学、研究实验室和研究所半导体行业PVD / CVD硬涂层（DLC，TiN）MEMS（微机电系统）/纳米级通用测试陶瓷和玻璃金属和合金制药涂料和油漆复合材料电池和储能汽车和航空航天应用硬度和模量测量（Oliver Pharr）机械表征在薄膜的加工和制造中至关重要，其中包括汽车工业中的涂层质量，以及半导体制造前段和后段的工艺控制。iMicro纳米压痕仪能够测量从超软凝胶到硬涂层的各种材料的硬度和模量。 对这些特性的高速评估保证了在生产线上进行质量控制。高速材料性质分布对于包括复合材料在内的许多材料，其机械性能可能因部位而异。 iMicro的样品平台可以在X轴和Y轴上移动100mm，并在Z轴方向移动25mm，这使得该系统适用于不同的样品高度并可以在很大的样品区域上进行测量。 可选的NanoBlitz形貌和层析成像软件可以快速绘制任何测得的机械属性的彩色分布图。ISO 14577硬度测试iMicro纳米压痕仪包括预先编写的ISO 14577测试方法，可测量符合ISO 14577标准的材料硬度。 该测试方法对杨氏模量、仪器硬度、维氏硬度和标准化压痕进行自动测量和报告。聚合物Tan Delta、储存和损失模量iMicro纳米压痕仪能够针对包括粘弹性聚合物的超软材料测量tan delta和储存与损耗模量。 储存与损耗模量以及tan delta是粘弹性聚合物的重要特性，其能量作为弹性能量存储并作为热量消耗。 这两个指标都用于测量给定材料的能量消耗。定量划痕和磨损测试iMicro可以对各种材料进行刮擦和磨损测试。 涂层和薄膜会经过化学机械抛光（CMP）和引线键合等多道工艺，考验薄膜的强度及其与基板的粘合性。 重要的是这些材料在这些工艺中抵制塑性变形，并且保持原样而不会基板起泡。 理想地，介电材料应具有高硬度和弹性模量，因为这些参数有助于确定材料在制造工艺下会如何反应。高温纳米压痕测试高温下的纳米压痕对于表征热应力下的材料性能至关重要，特别对热机械工艺中的失效机理进行量化。 在机械测试期间改变样品温度不仅能够测量热引起的行为变化，还能够量化在纳米级别上不易测试的材料过渡塑性。产品优势iMicro纳米压痕仪可轻松测量硬涂层，薄膜和少量材料。该仪器准确、灵活，并且用户友好，可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。 可互换的驱动器能够提供大动态范围的力荷载和位移，使研究人员能够对软聚合物到硬质金属和陶瓷等材料做出精确及可重复的测试。模块化选项适用于各种应用：材料性质分布、特定频率测试、刮擦和磨损测试以及高温测试。 iMicro拥有一整套测试扩展的选项，包括样品加热、连续刚度测量、NanoBlitz3D / 4D性质分布，以及Gemini 2D力荷载传感器，可以提供摩擦和其他双轴测量。

在材料生产检测领域中，纳米材料表征共聚焦显微镜用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。它基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000纳米材料表征共聚焦显微镜在陶瓷、金属、半导体、芯片等材料科学及生产检测领域中具有广泛的应用。应用领域对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，保证仪器的高测量精度；2）隔震设计能够消减底面振动噪声，仪器在嘈杂的环境中稳定可靠，具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。VT6000纳米材料表征共聚焦显微镜显微成像主要采用3D捕获的成像技术，使其具有较高的三维图像分辨率。横向分辨率更高，所展示的图像形态细节更清晰更微细，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。VT6000可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

如有需要请通过伯英科技联系我们。多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）型号：NT-206，是集多功能于一身的原子力显微镜，带有复杂的硬件与软件分析系统，可分析形貌与力学性能，分辨率为纳米级别。可添加：纳米压痕、划痕、磨损，附着力、摩擦力测试，纳米光刻等功能。A probe is positioned above journal neck of watch gearEmbedded videosystem in combination with motorized XY micropositioning stage provide convenient tuning of the instrument and its fine targeting onto the features on the sample surface. All that dramatically enhances the instrument' s functionality when researching micro- and nanosize objects.To meet requirements of specific research tasks, AFM NT-206 can include specialized changeable probe holders for microtribometry and adhesiometry or for nanoindentation.NT-206 ::: Description ::: Features ::: Delivery set ::: Software 多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）技术指标：Measurement modes:测量模式： Motion patterns at the measurements: - area (matrix) - line - single point.Contact static AFM 接触静态Lateral force microscopy /with contact static AFM/ 横向力显微镜/用静态接触AFMNon-contact dynamic AFM 非接触式动态AFMIntermittent contact AFM (similar to Tapping Mode) 间隙接触（敲击）Phase contrast imaging /with intermittent contact AFM/ 相衬成像/用间隙接触AFMTwo-pass mode (for static and dynamic AFM) 6. 两回合模式（适合静态与动态AFM）Two-pass mode with varying separation (for static and dynamic AFM) /Original technique!/两回合模式，伴随变化的间距，Multicycle scanning (for static and dynamic AFM) /Original technique!/多回合扫描（适合静态与动态AFM）Multilayer scanning with varying load (for static and dynamic AFM) /Original technique!/多回合扫描，伴随变化的载荷（适合静态与动态AFM）Electrostatic force microscopy (two-pass technique) *, **静电力显微镜（双回合技术）Current mode *, **电流模式Magnetic force microscopy (two-pass technique) *, **磁力显微镜（双回合技术）Static force spectroscopy (with calculation of quantitative parameters, surface energy and elastic modulus in the measurement point)静态力谱（在测量点，计算定量参数、表面能与弹性模量）Dynamic force spectroscopy动态力谱Dynamic frequency force spectroscopy /Original technique!/动态频率力谱Nanoindentation *纳米压痕Nanoscratching *纳米划痕Linear nanowear *线性纳米磨损Nanolithography (with control of i load, ii depth and iii bias voltage) *纳米光刻（控制力，深度，偏压）Microtribometry * /Original technique!/微观摩擦力计量Microadhesiometry * /Original technique!/微观附着力计量Shear-force microtribometry * /Original technique!/剪切力微观摩擦力计量Temperature-dependent measurements (under all above modes) *基于温度的测量（适用于所以以上模块）Note. * - Specialized accessories or rig required*需要特殊的附件或工具 ** - Specialized probes required **需要特殊的探针Scan field area:扫描面积from 5x5 micron up to 50x40 micronsMaximum range of measured heights:最大高度范围from 2 to 4 micronLateral resolution (plane XY):侧面分辨率1–5 nm (depending on sample hardness)Vertical resolution (direction Z):竖直分辨率0.1–0.5 nm (depending on sample hardness)Scanning matrix:扫描矩阵Up to 1024x1024 pointsScan rate:扫描速度40–250 points per second in X-Y planeNonlinearity correction :非线性校正A software nonlinearity correction providedMinimum scanning step:最小扫描步阶0.3 nmScanning scheme:扫描步骤The sample is moved in X-Y plane (horizontal) and in Z-direction (vertical) under stationary probe.Scanner type:扫描器类型A piezoceramic tube.Cantilevers (probes):悬臂（探针）Commercial AFM cantilevers of 3.4x1.6x0.4 mm. Recommended are probes from Mikromasch or NT-MDT. Checked for operation with probes by BudgetSensor and NanosensorsCantilever deflection detection system:悬臂倾斜探测系统Laser beam scheme with four-quadrant position-sensitive photodetectorSample size:样品尺寸Up to 30x30x8 mm (w–d–h) extending block insert allows measurement of samples with height up to 35 mmHigh voltage amplifier output: 高压放大器输出+190 VADC:16 bitOperation environment:操作环境Open air, 760+40 mm Hg col., T = 22+4°С, relative humidity 70%Range of automated movement of measuring head:测量头自动移动范围10x10 mm in XY plane for micropositioning of probe relative measured sample at step 2.5 micron with optical visual monitoringOverall dimensions:总尺寸Scanning unit: 185x185x290 mm Control electronic unit: 195x470x210 mmField of view of embedded videosystem:植入视频系统的视场1x0.75 mm, visualization window 640x480 pixel, frame rate up to 30 fps.Vibration isolation:防震隔离Additional antivibration table is recommendedHost computer:控制计算机Not less than: Celeron 2.2, RAM 256 MB, HDD 80 GB, VRAM 128 MB, monitor 17" 1024x768x32 bit, Windows XP SP1, 2 USB port. Recommended: Core i5 or equivalent, RAM 2 GB, HDD 320 GB, VRAM 1 GB, monitor 1600x1200x32 bit, Windows XP SP2 or higher, 2 free USB port.Software:软件Special control software SurfaceScan and the AFM image processing package SurfaceView / SurfaceXplorer are included. * Before measurements, the probe can be positioned to necessary place over the sample with help of automated motorized stage. To provide monitoring for the scan area and objects below the probe, the instrument embeds a videosystem allowing to watch the probe motion over the sample surface. Videosystem and the motorized stage for the probe positioning over sample are included in base set by default. A combination of these two options allows rather flexible selection of objects to be measured on the sample surface at direct visual monitoring by the opeartor.多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）组成模块： DELIVERY SETNT-206 ::: Description ::: Features ::: Delivery set ::: Software ::: BASIC SETScanning unit (atomic force microscope)Includes a base platform with embedded XY positioning stage and a detachable measuring head with integrated video systemControl electronic unit with the connetcion cables in the set (the case variants)Software package including:The software runs under Win32. Supplied on CD. Updates available at this site in section ARCHIVE SOFTWAREAFM control software SurfaceScan for driving complex and data acqusition and visualization .SurfaceView and SurfaceXplorersoftware package for the measured data processing, visualization and analysis.The software can include plug-ins for processing AFM-data obtained with other microscopes.A set of drivers for connection of control electronic unit with host PC and running videosystem.Note:1 Base set includes also the control software (for Win32) and user manual.多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）可选配件 ::: ADDITIONAL ACCESSORIES (optional)A specialized antivibration rackA changeable probe holderChangeable scaners for ranges: 5x5x2 um10x10x3 um20x20x3.5 um40x40x3.5 um50x50x3.5 um90x90x3.5 umSet for scanning the sample emmersed in liquid mediumThermocell: a changeable sample platform for measured sample heating up to 150 °С with stand-allone controllerA changeable holder for conducting probesExtending block insert allowing measurement of thick samples with height up to 35 mmA changeable microtribometer-adhesiometer unitOption: a set of AFM probes(Prod. by Mikromasch)A changeable shear-force microtribometer unitOption: a set of calibration test gratings(Prod. by Mikromasch)A changeable nanoindentor unit多功能扫描探针显微镜（带纳米力学测试功能）软件 SOFTWARENT-206 ::: Description ::: Features ::: Delivery set ::: SoftwareControl software for AFM NT-206 SurfaceScan is a 32-bit Windows application. It runs under Windows XPsp2/Vista/7 operating systems.The control software provides all preliminary tunings and settings necessary for the AFM operation: visual control over the laser-beam detection system adjustment, tuning of the cantilever oscillations (in dynamic modes), feed-back system adjusting, sample positioning under the probe and sample approach to the probe before measurements and removal after the measurements. A full-field or any reduced area within the full field of the scanner can be selected for measurements.Operator can watch any combination of acquired AFM/LFM images in data visualization window or switch to look at them in one window. Additionally, profile of currenly acquired line can be monitored as well.Acquired data are saved in files of special format that can be then processed, visualised (in 2-D and 3-D presentation) and analysed with a specialized software package SurfaceView or SurfaceXplorer.

SKYSCAN 2214 是布鲁克推出的新纳米断层扫描系统，是显微 CT 技术领域的先行者，在为用户带来了终级分辨率的同时,提供非常好的用户体验。SKYSCAN 2214 的每个组件都融入的新的技术，使其成为当今市场上性能很强、适用性很广的系统。■多用途系统，样品尺寸可达300mm，分辨率（像素尺寸）可达 60 纳米■金刚石窗口x射线源，焦斑尺寸500nm■创新的探测器模块化设计，可支持 4 个探测器、可现场升级。■全球速度很快的 3D 重建软件（InstaRecon）。■支持精确的螺旋扫描重建算法。■近似免维护的系统，缩短停机时间并降低拥有成本。地质、石油和天然气勘探■常规和非常规储层全尺寸岩心或感兴趣区的高分辨率成像■测量孔隙尺寸和渗透率，颗粒尺寸和形状■测量矿物相在3D空间的分布■原位动态过程分析聚合物和复合材料■以500 nm 的真正的 3D 空间分辨率解析精细结构■评估微观结构和孔隙度■量化缺陷、局部纤维取向和厚度电池和储能■电池和燃料电池的无损 3D 成像■缺陷量化■正负极极片微观结构分析■电池结构随时间变化的动态扫描生命科学■以真正的亚微米分辨率解析结构，如软组织、骨细胞和牙本质小管等■对骨整合生物材料和高密植体的无伪影成像■对生物样品的高分辨率表征，如植物和昆虫

纳米颗粒制备仪 桌面式喷雾燃烧合成纳米颗粒材料火焰喷雾热解(FSP)是一种多功能经济高效的纳米颗粒生产工艺。它依赖于含金属或过渡金属化合物的液体原料在高达3000度的温度燃烧。产品纳米颗粒在几毫秒内形成在过滤器上以干粉的形式收集。 火焰喷雾热解工艺受益于极短的工艺链使复杂纳米颗粒的生产只需一步。纳米粉末生产FSP通常生产高结晶氧化纳米颗粒。但合成了磷酸盐、纯金属。根据工艺条件。颗粒的典型尺寸范围 5 ~ 50nm。这些初级粒子形成较大的团聚体。 纳米产品的例子包括简单的金属氧化物TiO2Al2O3 ZrO2以及YSZ CGO 钙 矿或尖晶石复杂氧化物。此外：贵金属纳米颗粒可以制造沉积在火焰中的氧化物支持颗粒上于某些组合物。可以制备表面包覆或基质化的纳米颗粒。 FSP纳米颗粒的应用包括:催化剂电池材料陶瓷牙科 生物医学材料体传感器聚合物纳米复合材料陶瓷.... 原材料FSP的源材料是低成本的金属化合物酸盐、硝酸盐或有机金属。这些所谓的前体是混合或溶解在标准有机溶剂。同心甲氧支持火焰、燃前驱溶剂喷雾，并确保稳定燃烧还可以使用可选的护套体。 NPS-20是一种用于纳米颗粒合成的全集成化桌面式火焰喷雾热解装置。应用于研究早期产品开发阶段。NPS-20设计用于快速筛选FSP合成中可用的材料组成 工艺条件的大量参数加速纳米材料的科学发展。主要特点：实验室规格火焰喷雾反应器低脉动注射可精确输送液体前体用于输送工艺前体的质量流量控制器:火焰检测器集成微处理器、电子板。用于过程控制，通信通过rs232玻璃纤维过滤器：干式旋式真空。用于产品粉末的收集压力及温度计以监察过滤器的状态。

洞察纳米世界的利器 ：纳米级光学成像 + 高光谱扫描您手边纳米研究神器：无标记识别 + 纳米表征 + 映射产品介绍 Cytoviva超分辨率荧光显微成像系统技术最初源于美国国防部和美国宇航局共同开发空中成像技术。Cytoviva已经发展成为一个专有技术，并将其专利整合到的显微成像系统中，可以在纳米尺度进行材料的光谱定量分析和活细胞的观察。并在2006和2007连续两年获得著名的R＆D 100奖的获奖荣誉，2007获得了Nano50TM奖，源于它对纳米科学研究的杰出的贡献。 2005年进入市场以来，Cytoviva在全球范围内已有几百台的装机，包括美洲、亚洲到欧洲国家重点实验室、学术科研机构和独立的工业实验室。 Cytoviva超光谱成像系统配合cytoviva显微镜系统，可以广泛应用于量化细胞和组织中的纳米材料。该系统捕获扫描范围内近红外（400-1000nm）内每个像素的光谱信号。先进的分析软件可以提供的扫描材料的详细光谱信息。 CytoVivac超光谱成像系统配合CytoViva纳米显微镜可以同时提供材料及生物样品的光谱分析和图像数据。该系统在可见-近红外光谱范围内（VNIR）进行数据采集。Cytoviva HSI有着广泛的应用研究范围：纳米药物递送、纳米毒理学、纳米材料、细胞生物学、病理学、病毒学、植物学等等。光谱分析方法支持非荧光、荧光标记的成分在活细胞、组织和纳米材料等不同样本中的观察分析。 Cytoviva技术正迅速成为纳米材料和生命科学研究的实验室标准。Cytoviva能提供您所需要的实验结果。为客户采集到真实，定量的研究数据提供了一套无缝的解决方案。 产品特点● 无需荧光标记● 纳米尺度样品光学图像表征（20-50nm）● 纳米高光谱表征● 映射多种环境中纳米尺度样品应用方向● 药物递送，纳米药物研发及临床试验● 外泌体研究，肿瘤早期诊断、研究及治疗● 食品及组织中细菌检测● 脑疾病研究：Alzheimer’s Disease,AD ；帕金森● 纳米乳剂● Liposomes● 免疫组化，组织切片直接观察，纳米级表征● 病毒、病原体检测与表征● 高分子材料检测与表征● 小分子材料检测与表征● MOF 材料检测与表征● 纳米尺寸材料检测与表征● 表面等离激元（单分子发光）● 环境污染治理● 稀土材料、上转换纳米材料表征● 复合纳米材料研究● 生物燃料研发组合光谱成像技术 多功能集成显微镜系统可同时提供宽场成像模式（反射，透射，明场，暗场，偏振光和荧光），以及高光谱显微成像模式（拉曼，荧光，光致发光，透射和反射）；又保证了无论在哪种成像模式之间切换都不需要移动样品，确保呈现同一区域的所有多模态图像信息。 拉曼系统内置四个光栅，用于优化光谱分辨率，可配备最多 3 个激光器（从蓝色到 NIR+），用于实现 Raman，PL 以及 FL 高光谱成像。检测器从普通 CCD 到 EMCCD 根据不同需求可供选择。

产品特点：GATTA-Confocal 系列的纳米标尺为传统显微镜使用者设计，它有两个荧光标记端，均含有量子效率高的染料分子。标记点的距离为350nm。GATTA-Confocal纳米标尺有如下颜色可选：红色（ATTO 647N），黄色（Alexa Fluor 568），绿色（ATTO 532）或蓝色（Alexa Fluor 488），或者红/黄/蓝组合(ATTO 647N/ Alexa Fluor 568/ Alexa Fluor 488)，红/绿/蓝组合(ATTO 647N/ ATTO 532/ Alexa Fluor 488)技术参数：

、产品简介—国内首台教学型数字全息显微镜 苏州海兹思纳米科技有限公司研发的数字全息显微镜，以全息技术为理论基础，采用全息干涉技术、显微技术和数字图像处理技术相结合，可实现对微观物体三维形貌的高分辨率观察和动态测量。产品的应用范围：1）显微光学元件和面形测量；2）MEMS显微器件的面形或变形测量；3）空间微粒和核径迹检测；4）生物样本和活体细胞的研究与观察；5）物质参数测量(如泊松比、热膨胀系数、杨氏模量)；6）生物芯片测量；7）激光加工过程监控；8）聚合物粒子生长检测；9) 医疗诊断。二、产品的优势： 1）与国外产品比较：同类产品稳定性相近，但具有高性价比优势。现阶段国外市场，仅仅有瑞士Lyncee Tec SA数字全息显微镜系列产品销售，由于处于垄断地位，其售价超过160万元，价格过高。而本项目产品在技术性能上与国外产品相近，但在生产成本和销售价格上远低于国外产品，适合发展经济型和普及性的生物全息显微镜。 2）与国内产品比较：目前国内没有此类产品，应该说我们所研发的项目产品是国内首家。因此具备先天的优势。本项目研究成果技术已成熟，具备市场推广条件，随着本项目的数字全息显微镜产业化，将填补国内的技术空白。三、教学型生物全息显微镜第一阶段（已完成、开始试销）：已研发出适合中学和大学教学用的教学型数字全息显微镜，目前该产品已经成功研制出样机。 样机的主要参数指标为： 1.视场范围：4mm； 2.垂直测量范围：可达500nm（取决于样品）； 3.纵向分辨率：10nm；横向分辨率：5um； 4.撷取影像速率：4fps (512×512像素)；1fps (1024×1024像素)； 5.抓图时间：小于2us 6.最大样品尺寸：200mm×200mm第二阶段（研发进入后期阶段） 适合于大学、科研院所科研用以及工业用的工业型数字全息显微镜，仪器参数指标为： 1.视场范围：4mm； 2.垂直测量范围：可达500nm（取决于样品）； 3.纵向分辨率：10nm；横向分辨率：400nm； 4.撷取影像速率：15fps (512×512像素)；4fps (1024×1024像素)； 5.抓图时间：小于2us 6.最大样品尺寸：200mm×200mm