纳米粒径分析仪

BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90 + BeNano Zeta二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径测试粒径范围0.3nm-15μm★样品量3μL-1mL★检测角度90° & 12°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cmZeta测试粒度范围2nm-120μm分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★趋势测量模式时间和温度粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★折光率范围1.3-1.6系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C冷凝控制干燥空气或者氮气激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最快25 ns采样，最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 颗粒体系的Zeta电位及其分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 电泳光散射● 相位分析光散射● 静态光散射相关技术相关应用

纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000介绍 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用先进的设计理念优化结构设计，充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术，即可以多角度（步长0.9μm ）检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围：粒度测试范围：0.3 nm – 10 μm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量，是表征胶体分散系稳定性的重要指标，Zeta电位（正或负）越高，体系越稳定。Zeta电位表征的是粒子之间的排斥力。由于大部分的水相胶体体系是通过粒子之间的静电排斥力来保持稳定的，粒子之间的排斥力越大，粒子越不容易发生聚集，胶体也会越稳定。NICOMP 380 Z3000结合了动态光散射技术（DLS）和电泳光散射法（ELS），实现了同机测试纳米粒子分布和Zeta电势电位。 应用行业：磨料、化学机械抛光液、陶瓷、粘土、涂料、污染监测、化妆品、乳剂、食品、液体工作介质/油、墨水、 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等 自动滴定仪NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪在增加自动滴定模块后，可以一次性使用同一样品在不同PH值或不同离子浓度的条件下进行一系列测试，实现了在等电点测试的技术难题。 相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。NICOMP 380 Z3000 纳米粒径与电位分析仪特点同机测试悬浮液体的粒径分布以及ZETA电势电位Zeta电位运用了多普勒电泳迁移原理以及zui新的相位分析散射法可以测试水相和有机相的样品检测范围宽广，亚微米颗粒均可以被检测样品测试量小高辨析率结果重现性好，误差小于1%100 % 样品可回收li用可搭载自动滴定仪, 自动稀释器和自动进样器无须校准一次性进样，避免交叉污染样品可选配大功率激光发生器以及jun品级APD雪崩二极管检测器来检测粒径小于1nm的颗粒 技术参数：粒径检测范围粒度分析：0.3 nm - 10 μmZeta电位检测范围粒度0.3 nm-100 μm分析方法粒径：动态光散射，Gaussian 单峰算法和 Nicomp 无约束自由拟合多峰算法；电位：电泳光散射(ELS)技术和相位分析光散射法pH值范围2 - 12温度范围0℃ - 90 ℃激光光源（可选）5 mW氦氖光源；15 mW, 35 mW,50 mW激光光源；100 mW激光光源（红）；20 mW，50 mW，100 mW激光光源（蓝/绿）检测角度（可选）90°或 多角度（10°- 175°，可选配）检测器（可选）PMT（光电倍增管），CMP（4倍增益放大）APD雪崩二极管（7倍增益放大）高浓度样品背散射175°背散射可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，zui小进样量10μL）选配模块高浓度背散射；自动稀释模块，自动进样器，多角度检测器，高能激光发生器，高增益检测器，21CFR PART11规范软件，在线模块。分析软件Windows 兼容软件；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220 - 240 VAC，50Hz 或100 - 120 VAC，60Hz计算机配置要求Windows XP及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，1G内存，光驱，USB接口，串口（COM口）外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg（与配置有关）电泳光散射法（ELS）与粒子的动电（Zeta）电位： ELS 是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射。它的光散射理论基础是 准弹性碰撞理论，只是在实验时在式样槽中多加一个外电场，带电粒子即以固定 速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动，与之相应的动力光散射光谱产生多普勒漂移，这一漂移正比于带电粒子的移动速度，因此实验测得谱线的漂移，就 可以求得带电粒子的电泳速度，从而求得ζ-电位。相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。动态光散射原理 Nicomp 380纳米粒径分析仪采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理来获得范围在0.3 nm到10 μm的胶体体系的粒度分布。DLS是通过一定波长的聚焦激光束照射在悬浮于样品溶液的粒子上面，从而产生很多的散射光波。这些光波会互相干涉从而影响散射强度，散射强度随时间不断波动，二者之间形成一定的函数关系。粒子的扩散现象（或布朗运动）导致光强不断波动。光强的变化可以通过探测器检测得到。使用自相关器分析随时间而变的光强波动就可以得到粒度分布系数（Particle size distribution, PSD）。单一粒径分布的自相关函数是一个指数衰减函数，由此可以很容易通过衰减时间计算得到粒子扩散率。zui终，粒子的半径可以很容易地通过斯托克斯（Stokes-Einstein）方程式计算得到。如下是Nicomp 380纳米粒径分析仪的检测原理简图： 大部分样品一般都不均匀，往往会呈现多分散体系状态，即测出来的粒径正态分布范围会比较大，直观的呈现是粒径分布峰比较宽。自相关函数是由多组指数衰减函数综合组成，每一个指数衰减函数都会因指数衰减时间不同而存在差异，此时计算自相关函数就变得不再简单。Nicomp 380纳米粒径分析仪巧妙运用了去卷积算法来转化原始数据，从而得出zui接近真实值的粒度分布。Nicomp 尤其适合测试粒度分布复杂的样品体系，li用一组独特的去卷积算法将简单的高斯正态分布模拟成高分辨率的多峰分布模式，这种去卷积分析方法，即得到PSS粒度仪公司独有的粒径分布表达方法—Nicomp分布（Nicomp Distribution）。有些仪器的高斯分析模式可以使用基线调整参数的功能，以此来补偿测试环境太脏而超出仪器灵敏度的问题。高斯分析模式也可以允许使用者指定“固体重量模式”或者“囊泡重量模式”来分析带有小囊泡的胶体体系，比如脂质体。Nicomp分析方法是一种专li的高分辨率的去卷积算法，它首次在1990年提出并应用于分析和统计粒径分布。在历史上已经证明Nicomp分析方法能够精确分析非常复杂的双峰样品分散体系（比如 2：1比例），甚至是三峰样品分散体系。在科学研究中，找到粒子聚集分布的杂峰是非常有用的。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪广泛适用于检测悬浮在水相和有机相的颗粒物。

动态光散射纳米粒径分析仪Nicomp N3000介绍 Nicomp 380 N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有专li技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。 动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定，每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积（在特定浓度下）成比例关系，再带入其他影响参数比如折射率，这就是经典光散射（Classic light scattering)的理论基础。 图1：DLS系统示意图 zui新的动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，不再关注于光散射的光强值，而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说，我们在一定角度（一般使用90°角）检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散，光强值不断波动，理论上存在有非常理想化的波动时间周期，此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ，我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式，我们zui终就可以计算得出颗粒的半径（假定其是一个圆球形状）。 动态光散射理论：光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动，我们必须先理解相干叠加（coherent addition）或线性叠加（superposition）的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光，这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的zui终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系，这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起，或者叫干涉在一起，zui终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值，在DLS系统中，绝大部分都使用90度角。 技术参数：粒径检测范围粒度分析：0.3 nm - 10 μm分析方法动态光散射，Gaussian 单峰算法和 Nicomp 多峰算法pH值范围2 - 12温度范围0℃-90 ℃（±0.1℃控温精度，无冷凝）激光光源35mW激光光源检测角度90°检测器APD(雪崩二极倍增管，可7倍增益放大)可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，zui小进样量10μL） 分析软件Windows操作系统，主流配置，光驱，USB接口，串口（COM口）；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220 – 240 VAC，50Hz 或100 – 120 VAC，60Hz计算机配置要求Windows操作系统，主流配置，USB接口，串口（COM口）外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg（与配置有关） Nicomp多峰分布 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。如下图所示： 图一：Nicomp多分分布数据呈现 如图一：此数据为Nicomp创始人David Nichole亲测其血液所得。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp仪器对于多组分体系的粒径分布可以提供清晰地检测数据结果。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。 图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二：此数据为检测93nm和150nm的混合标粒所得到的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近。由此可知，尽管93nm和150nm的混合标粒之间粒径差别已经不大，由Nicomp的多峰算法仍然可以清晰地将体系中的多组分区分开来，可见N3000的灵敏性之高，其算法之精确，实为科研研发的zui佳帮手。 为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp 380 N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案，达到收益zui大化。 技术优势检测范围：0.3nm -10μm；校准需求：无需校准；应用领域：广检测，速度快，灵敏度高且对团聚粒子灵敏度高；法典法规：符合USP,CP等各国药典要求；复合型算法：高斯（Gaussion）单峰算法与专li的Nicomp多峰算法结合均可选择；模块化设计：可同机搭载ZETA电位检测模块，还可增加自动稀释，自动滴定和自动进样等辅助测试模块，亦便于升级； 产品优势模块化设计Nicomp 380纳米粒径分析仪是全球wei一在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 380的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块带有专li的自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。380/HPLD大功率激光器美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 380纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD) 探测器Nicomp 380纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和jun品级别的雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有7倍放大增益效果）。APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。380/MA多角度检测器粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175，步长0.9°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。应用行业: 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

微流脉冲纳米粒度分析仪成熟技术的现代操作微流脉冲纳米粒度分析仪使用微流体电阻脉冲传感器对纳米颗粒进行表征,该技术是微流控与电阻脉冲技术的结合,简称微流脉冲纳米分析技术（MRPS）微流脉冲纳米粒度分析仪的特点：1、微流脉冲纳米粒度分析仪不依赖于颗粒材料类型2、高分辨率粒径分布测量&真实粒径分布3、微流脉冲纳米粒度分析仪测量范围：粒径50nm至10um4、多分散性体系5、一次性微流体滤芯6、在几分钟内完成总样分析7、微流脉冲纳米粒度分析仪仅需3μL样品8、可与光学技术正交验证9、可测量颗粒浓度微流脉冲纳米粒度分析仪的应用：1、蛋白质聚集2、细胞外囊泡和外泌体3、基因治疗和纳米脂质体药物4、病毒

SZ902纳米粒度分析仪产品介绍： SZ902纳米粒度分析仪是继在SZ901系列后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品，加持了新研发的全自动聚焦技术，实现了对纳米样品的多角度测量，无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量，十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。主要特点： ◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm–15μm ◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性 ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用 ◆余弦拟合相位分析法（CF-PALS）优于目前的频谱分析法（FFT）和传统的位相分析法（PALS） ◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术 ◆信号光与参考光的光纤合束及干涉技术 ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器 ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C ◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹ ¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术产品性能：测量原理动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）粒径测量角度90°,173°（高浓度），12°（Zeta电位）粒径测量范围0.3nm -15um*粒径测量最小样品量3ul*粒径测量最小样品浓度0.1mg/ml粒径测量最大样品浓度40%/wv检测点位置距入射点0~5mm可调检测点定位精度0.01mmZeta电位技术余弦拟合位相分析法（CF-PALS）适用Zeta电位测量的粒径任意范围，无明确限制迁移率范围1nm - 120μm*最大电导率270mS/cm电导率准确度±10%电极插入式平板电极、U型毛细管电极分子量范围340Da - 2x107Da温度控制范围-15°C - 120°C温度控制精度±0.1°C光源集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器相关器高速数字相关器，自适应通道配置检测器高灵敏度APD样品池12mm比色皿、3μL毛细管超微量样品池、40μL微量样品池（多种可选）系统重量16kg外形尺寸365mm x 475mm x 180mm (LxWxH) 注：* 取决于样品及样品池选件

产品介绍：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科公司（Malvern Panalytical）纳米颗粒表征技术后，在NS-90纳米粒度分析仪基础上进一步增加zeta电位测试功能而推出的新一款产品。NS-90Z具有优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和表面电位的测试需求。该仪器使用电泳光散射技术测定zeta电位，动态光散射技术测量粒子和分子粒度，以及静态光散射技术测定蛋白质与聚合物的分子量。NS-90Z融合马尔文帕纳科M3-PALS相位分析检测技术，并广泛采用全球化供应链的优质光电部件，例如进口雪崩式光电二极管（APD）检测器和He-Ne气体激光器等，加上精确的内部温控技术、密闭光纤光路以及先进软件算法，保障了数据的高重复性、准确性和灵敏度，使该型号仪器可以分析宽广的粒径、浓度及电位范围的样品。NS-90Z同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。工作原理：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型装置仪器中集成了三种技术：动态光散射技术： NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪主要使用90度角动态光散射技术 (Dynamic Light Scattering/DLS) 来测量粒子颗粒和分子粒度。动态光散射技术也称为光子相关光谱 (Photon Correlation Spectroscopy/PCS) 技术。该技术利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数 (Correlation Function)，最后使用斯托克斯-爱因斯坦 (Stokes-Einstein) 方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径是和被测量粒子以相同速度扩散的等效硬球的流体动力学直径。 静态光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射技术 (Static Light Scattering/SLS) 测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为 “静态光散射”。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 电泳光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用激光多普勒微量电泳法（Electrophoretic Light Scattering/ELS）测量zeta电位。分子和粒子在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度和zeta电位直接相关。NS-90Z使用相位分析光散射法 (Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS），成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到zeta电位平均值和分布曲线。用途： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征仪器，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90?散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体和乳液&bull 脂质体和囊泡&bull 粒子和表面的 Zeta 电位&bull 墨水、碳粉和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的用量以降低水处理成本&bull 缩短稳定分散体和蛋白质溶液的开发时间&bull 了解产品稳定或不稳定的原因，提高产品保质期&bull 防止形成蛋白质聚集体&bull 增加蛋白质浓度时保持稳定性 技术参数：【粒径】1.测量范围：0.3nm – 5000nm（以样品为准）2.测量原理：动态光散射法3.重复性误差：＜1%（NIST可追溯胶乳标样）4.最小样品容积：20μL5.最小样品浓度0.1mg/mL （以样品为准）【分子量】6.分子量测量范围：342 Da – 2×107 Da , 由流体动力学直径估算（动态光散射）7.分子量测量范围：9800 Da – 2×107 Da , 由德拜图计算 （静态光散射）8.测量原理：动态光散射，静态光散射9.最小样品容积：20μL（需要3-5种样品浓度）【Zeta电位】10. 测量原理：电泳光散射11. 灵敏度：10mg/mL 66kDa 蛋白质12. Zeta 电位范围：不限于-500mV~+500mV13. 最高样品浓度：40% w/v (以样品为准)14. 最小样品容积：20μL15. 最高电导率：200mS/cm16. 检测技术：M3-PALS【系统硬件】17.检测角度：90°＋13°18.激光光源：高稳定He-Ne 激光器，波长633nm，功率 4mW。19.激光安全：1类，符合CDRH 和 CE 标准20.检测器：雪崩式光电二极管（APD）检测器，QE50%21.相关器：采样时间25ns – 8000s，4000通道，1011动态线性范围22.冷凝控制方式：干燥空气吹扫*23.温度控制范围：0 °– 90°C 24.温度控制精度：± 0.1°C25.电源： AC 90 – 240V, 50 – 60Hz26.功率：50W【重量与尺寸】27.尺寸：320mm×600mm×260mm（W×D×H）28.重量：19 kg【运行环境】29.计算机配置：Intel Core 2 Duo，4GB内存，160G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上 30.计算机接口： USB 2.031.操作系统：Windows 7, Windows 10 32.温度范围：15°C – 40°C33.环境湿度：20% – 70%， 无冷凝34.需外接气源性能特点：【先进的光学系统设计】 NS-90Z纳米粒度及电位分析仪在一台仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三两种技术。使用电泳光散射技术测量zeta电位，使用动态光散射技术测量粒度及分子大小，使用静态光散射技术确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90Z采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优化的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0 – 90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.支持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。8.具有完善的介质粒度数据库

Horiba激光粒度仪SZ-100-- 一台仪器即可完成粒径、Zeta电位、分子量测量 SZ-100可以方便的分析纳米材料的诸多性质如粒径、Zeta电位、分子量等，进而可以研究纳米材料的分散性、稳定性等；基于HORIBA公司独特的光学设计，SZ-100最好的测量性能和最宽的测量范围（0.3nm-8 µ m）不仅仅能满足实验室需求同时还能应用于工厂生产的高质量控制。纳米颗粒及生物样品分析 在纳米材料及生物材料领域，原料颗粒的粒径大小和Zeta电位对产品的性能有显著影响，因此保证产品质量的关键是控制纳米颗粒原料质量，而实验室使用的传统仪器来分析超细颗粒需要专业的操作人员和复杂的操作过程。HORIBA公司研发的SZ-100分析仪使用光子相关光谱原理，其体积小操作简单，不仅可以测量纳米粒径，还可测量Zeta电位、分子量。Zeta电位指示的是颗粒分散性、物理凝聚等性质，这使得SZ-100对更细致分析颗粒性质非常有用；同时其还可用于研究蛋白质和多聚体。由于具备这些功能，SZ-100是生产现场的质量控制过程中的质量分析工具，同样这种高端仪器也多用于实验室纳米及生物新技术的研发。 主要特点： 1. 最宽测量范围：0.3 nm to 8,000 nm (8 µ m) max 宽测量范围，从亚纳米大小（分子尺寸大小）到微米尺寸可用SZ-100一台分析仪即可 2. 最少样品量：测量Zeta电位仅需100µ L，测量粒径大小仅需12µ L 非常适用于珍贵样品如生物材料和纳米材料样品 3. 分析少量的稀溶液有最高的灵敏度。 装备高强度激光光源及独特的Horiba光学系统设计，因而光噪音更低，灵敏度跟高 4. 一台仪器即具备测量粒径、Zeta电位、分子量三种纳米颗粒研究最重要参数功能 (SZ-100Z mode) 主要应用： 陶瓷纳米颗粒、金属纳米颗粒、碳黑、制药、病毒研究、涂料、聚合物、食品、化学机械抛光、染料、胶体、蛋白质等

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/mZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000umZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍： SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪是在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统，采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析，被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。 SZ901的性能和主要特点包括：◆经典90°动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm – 15μm◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性◆加持自动恒温技术的功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术◆ 信号光与参考光的光纤合束及干涉技术◆ 集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器◆ 常规温度控制范围可达0°C - 90°C, 可选120°C, 精度±0.1°C◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹ ¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术技术指标：测量原理动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）粒径测量角度90°粒径测量范围0.3nm -15μm*粒径度优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）粒径重复性优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）粒径测量小样品浓度0.1mg/ml粒径测量小样品量3ul*Zeta电位测量范围-600mV - +600mV电导率270mS/cm适用Zeta电位测量的粒径3nm – 100μm*电导率度±10%分子量范围340Da-2 x 107Da温度控制范围0°C - 90°C (120°C可选)温度控制精度±0.1°C光源集成恒温系统及光纤耦合的功率50mW, 波长638nm固体激光器相关器高速数字相关器，自适应通道配置检测器高灵敏度APD系统重量17kg外形尺寸365mm x 475mm x 180mm（LxWxH）

纳米粒度分析仪NS-90介绍 纳米粒度分析仪NS-90是继2014年成功推出TopSizer高性能激光粒度分析仪之后，继续引进国外的先进颗粒表征技术，结合中国用户的市场应用特点和需求专门推出的一款纳米级粒度分析仪器。该仪器使用90度动态光散射技术测量粒子和分子大小，静态光散射法测定蛋白质与聚合物的分子量；在众国产品牌中主配雪崩式光电二极管（APD）检测器，系统灵敏度远远高于光电倍增管检测器（PMT）；更使用高端He-Ne气体激光器，加上精确的内部温控技术，密闭光路以及先进软件算法，保障数据重复性、准确性以及0.3纳米的测试下限；同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。 工作原理：【动态光散射技术】： NS-90使用动态光散射技术测量粒子和分子大小。液体中的粒子由于周围的溶剂分子撞击产生随机布朗运动。小粒子在液体中运动速度较快，而大颗粒运动相对缓慢。这种运动一直都在进行，所以如果我们取一小段时间间隔拍摄样品运动“图像”，我们可以看出粒子移动了多少，并且换算出它有多大。相同时间内，如果位移比较小，粒子位置接近，则样品中粒子较大；相反地，如果位移较大，粒子位置变化很大，则样品中粒子较小。这种利用扩散速度与粒径之间的关系测定粒子的大小的方法即为动态光散射（DLS）技术，也称为光子相关光谱（PCS）技术。 NS-90使用90°动态光散射技术，利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数（Correlation Function），最后使用斯托克斯-爱因斯坦（Stokes-Einstein）方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径，是和被测量粒子以相同速度扩散的硬球直径。 【静态光散射技术】： NS-90使用静态光散射（SLS）技术测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。 与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。但与动态光散射技术不同，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为“静态光散射”。 因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。在此测量方法中，检测一系列不同浓度下样品的散射光强（kC/R），将该数值与标准物（如甲苯）产生的散射光强进行比较，即可得到德拜图（Debye Plot）。德拜图中的拟合直线斜率为第二维里系数（2nd Virial Coefficient, A2），拟合直线外延到零浓度的数值为平均分子量的倒数（1/MW）。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 主要用途： NS-90纳米粒度仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征技术，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90°散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用：–化工产品：硅胶、乳胶、金属胶体、色素、墨水、调色剂、陶瓷–化妆品、上光剂、食品及农业化学品等以乳液（乳剂）形式存在的产品–制药业：脂肪乳、注射液、微胶囊、单克隆抗体和免疫球蛋白的粒度–蛋白质和高分子分子尺寸的测量 技术参数：【粒径】1.测量范围：0.3nm–5000nm（以样品为准）2.测量原理：动态光散射法3.检测角度：纳米粒度分析仪NS-90介绍 纳米粒度分析仪NS-90是继2014年成功推出TopSizer高性能激光粒度分析仪之后，继续引进国外的先进颗粒表征技术，结合中国用户的市场应用特点和需求专门推出的一款纳米级粒度分析仪器。该仪器使用90度动态光散射技术测量粒子和分子大小，静态光散射法测定蛋白质与聚合物的分子量；在众国产品牌中主配雪崩式光电二极管（APD）检测器，系统灵敏度远远高于光电倍增管检测器（PMT）；更使用高端He-Ne气体激光器，加上精确的内部温控技术，密闭光路以及先进软件算法，保障数据重复性、准确性以及0.3纳米的测试下限；同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。 工作原理：【动态光散射技术】： NS-90使用动态光散射技术测量粒子和分子大小。液体中的粒子由于周围的溶剂分子撞击产生随机布朗运动。小粒子在液体中运动速度较快，而大颗粒运动相对缓慢。这种运动一直都在进行，所以如果我们取一小段时间间隔拍摄样品运动“图像”，我们可以看出粒子移动了多少，并且换算出它有多大。相同时间内，如果位移比较小，粒子位置接近，则样品中粒子较大；相反地，如果位移较大，粒子位置变化很大，则样品中粒子较小。这种利用扩散速度与粒径之间的关系测定粒子的大小的方法即为动态光散射（DLS）技术，也称为光子相关光谱（PCS）技术。 NS-90使用90°动态光散射技术，利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数（Correlation Function），最后使用斯托克斯-爱因斯坦（Stokes-Einstein）方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径，是和被测量粒子以相同速度扩散的硬球直径。 【静态光散射技术】： NS-90使用静态光散射（SLS）技术测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。 与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。但与动态光散射技术不同，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为“静态光散射”。 因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。在此测量方法中，检测一系列不同浓度下样品的散射光强（kC/R），将该数值与标准物（如甲苯）产生的散射光强进行比较，即可得到德拜图（Debye Plot）。德拜图中的拟合直线斜率为第二维里系数（2nd Virial Coefficient, A2），拟合直线外延到零浓度的数值为平均分子量的倒数（1/MW）。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 主要用途： NS-90纳米粒度仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征技术，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90°散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用：–化工产品：硅胶、乳胶、金属胶体、色素、墨水、调色剂、陶瓷–化妆品、上光剂、食品及农业化学品等以乳液（乳剂）形式存在的产品–制药业：脂肪乳、注射液、微胶囊、单克隆抗体和免疫球蛋白的粒度–蛋白质和高分子分子尺寸的测量 技术参数：【粒径】1.测量范围：0.3nm–5000nm（以样品为准）2.测量原理：动态光散射法3.检测角度：90°4.重复性误差：≤±1%（NIST可追溯乳胶标样）5.最小样品容积：20μL6.最小样品浓度0.1mg/mL（以样品为准）【分子量】7.分子量测量范围：1000 Da–2×107 Da , 由流体动力学直径估算（动态光散射）8.分子量测量范围：10000 Da–2×107 Da , 由德拜图计算 （静态光散射）9.测量原理：动态光散射，静态光散射10.最小样品容积：20μL（需要3-5种样品浓度）【系统硬件】11.激光光源：高稳定He-Ne 激光器，波长633nm，功率 4mW。亦可选配50mW，532nm固体激光器12.激光安全：1类，符合CDRH 和 CE 标准13.检测器：雪崩式光电二极管（APD）检测器，QE50%14.相关器：采样时间25ns–8000s，4000通道15.冷凝控制：干燥空气吹扫16. 温度控制范围：0° – 90°C （可选配120°C温控槽）17. 温度控制精度：± 0.1°C18.电源：AC 100–240V, 50–60Hz19.功率：最大100W【重量与尺寸】20.尺寸：320mm×600mm×260mm（W×D×H）21.重量：21 kg【运行环境】22.计算机配置：Intel Core 2 Duo，4GB内存，160G硬盘容量，显示分辨率1440×900 32bit及以上 23.计算机接口： USB 2.024.操作系统：Windows 7 Pro （32bit/64bit）, Windows 10 （64 bit）25.温度范围：10C–35°C26.环境湿度：10%–90% 无冷凝 性能特点：【先进的光学系统设计】纳米粒度分析仪NS-90在一台仪器中集成了动态光散射技术和静态光散射两种技术。动态光散射法用于测量粒度及分子大小，静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的zui佳设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。亦可选配50mW，532nm的固体激光器，用于标准633nm激光器不能检测的样品。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0–90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。亦可选装120℃ 温控槽。 软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需最简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。支持：-温度趋势分析 -时间趋势分析 -所选参数趋势分析 -全范围统计图4.重复性误差：≤±1%（NIST可追溯乳胶标样）5.最小样品容积：20μL6.最小样品浓度0.1mg/mL（以样品为准）【分子量】7.分子量测量范围：1000 Da–2×107 Da , 由流体动力学直径估算（动态光散射）8.分子量测量范围：10000 Da–2×107 Da , 由德拜图计算 （静态光散射）9.测量原理：动态光散射，静态光散射10.最小样品容积：20μL（需要3-5种样品浓度）【系统硬件】11.激光光源：高稳定He-Ne 激光器，波长633nm，功率 4mW。亦可选配50mW，532nm固体激光器12.激光安全：1类，符合CDRH 和 CE 标准13.检测器：雪崩式光电二极管（APD）检测器，QE50%14.相关器：采样时间25ns–8000s，4000通道15.冷凝控制：干燥空气吹扫16.温度控制范围：0–90?C （可选配120?C温控槽）17.温度控制精度：± 0.1?C18.电源：AC 100–240V, 50–60Hz19.功率：最大100W【重量与尺寸】20.尺寸：320mm×600mm×260mm（W×D×H）21.重量：21 kg【运行环境】22.计算机配置：Intel Core 2 Duo，4GB内存，160G硬盘容量，显示分辨率1440×900 32bit及以上 23.计算机接口： USB 2.024.操作系统：Windows 7 Pro （32bit/64bit）, Windows 10 （64 bit）25.温度范围：10C–35?C26.环境湿度：10%–90% 无冷凝 性能特点：【先进的光学系统设计】纳米粒度分析仪NS-90在一台仪器中集成了动态光散射技术和静态光散射两种技术。动态光散射法用于测量粒度及分子大小，静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的zui佳设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。亦可选配50mW，532nm的固体激光器，用于标准633nm激光器不能检测的样品。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0–90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。亦可选装120℃ 温控槽。 软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需最简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。支持：-温度趋势分析 -时间趋势分析 -所选参数趋势分析 -全范围统计图

一、产品介绍NanoCoulter G系列纳米粒度仪（粒径+浓度+电位）具备粒径、浓度、电位多维度检测能力二、技术原理：纳米库尔特是一种单颗粒检测方法，每个穿孔的粒子在瞬间产生与粒子体积成比例的电流改变量，持续时间与粒子的速度成正比，从而与流体的流速成反比。通过微电流检测系统记录每个粒子的电脉冲信号，再经过智能分析软件计算，即可准确地得到样品颗粒浓度、粒径、zeta电位、形态等全面的分析结果。三、产品优势：1、无需校准傻瓜式操作，无需热机，无需校准。只需扫描检测卡预制的二维码即可完成所有参数设置。2、无需清洗可抛弃型非侵入式检测卡；测样前无需清洗仪器和样本槽，直接上样就可进行测试3、智能软件审计追踪功能，符合21 CFR part 11；存储每个颗粒的完整脉冲信息，方便研发用户进行多角度分析4、NanoCoulter G系列纳米粒度仪（粒径+浓度+电位）一次检测可同时获得粒径、浓度、电位信息媲美电镜的粒径测量精度精准的浓度测量和准确性单颗粒Zeta电位检测四、应用案例细胞外囊泡《MISEV》最新指南推荐《MISEV2023》评价“RPS测量结果确实与TEM数据具有非常高的一致性。"RPS技术作为“非光学”原理，成为电镜、流式等正交验证。NanoCoulter纳米粒度仪为EVs研究提供精确的粒径分布分析，更宽的粒径LOD(50-800nm),和极宽的浓度LOD(5×107-2x1011particles/mL)。外泌体分离方法探究外泌体来源复杂，往往需要经过多次分离才能得到较纯净的外泌体。不同的分离手段对外泌体的粒径和浓度会产生极大影响，借助NanoCoulter纳米粒度仪可快速准确的判断不同纯化方法的优劣性。外泌体纯度研究Triton X-100是一种表面活性剂，可裂解外泌体的膜结构。可通过对比裂解前后外泌体样品的颗粒数变化，得到样本纯度。 Triton X-100处理后的外泌体样品中颗粒数目明显下降，该样本纯度=(1-破膜后/破膜前)*100%=87.2%。该方法可快速实现外泌体纯度的定量检测。脂质体纳米颗粒脂质体稳定性研究不同的脂质体药物稳定性会差异巨大，稳定性决定后续的药物使用情况，通过NanoCoulter纳米粒度仪可以精准判断脂质体的稳定性， 下图为两个脂质体样本经过漩涡震荡不同时间的浓度变化情况，可以看出样本二的稳定性更好。LNP粒径组成&电位分析粒径及粒径分布是LNP的重要CQA参数之一，不同方法制备出来的LNP粒径分布差异巨大，且往往是DLS检测容易忽视的。 NanoCoulter纳米粒度仪能真实反映LNP组分中的粒径分布情况，同时给出"自定义"粒径区间内的浓度及组分比例，以及每一颗纳米粒的 zeta电位与粒径对应关系。病毒颗粒腺病毒批间差控制腺病毒生产中的培养基成分、温度、pH值、细胞培养方式等都影响着产毒效率。NanoCoulter纳米粒度仪可对腺病毒的浓度、粒径分布、 电位进行实时监测，快速评估不同批次间的差异，优化生产工艺和参数。痘病毒团聚分析病毒的保存条件对病毒团聚影响较大，团聚较多感染能力就会相应降低，NanoCoulter纳米粒度仪具备的粒径分辨率比拟电镜，是除电镜外，准确获得样本团聚情况的方法。如图，两种保存条件下，条件2中的病毒颗粒明显分散得更好。纳米磁珠磁珠的均一性是磁珠的一项重要参数，磁珠容易团聚，因此需要通过超声的手段对磁珠的颗粒进行分散，如图所示，使用三种不同的超声方法对纳米磁珠进行分散，NanoCoulter纳米粒度仪可以精准得到颗粒的粒径与浓度，超声方法A整体的分散性更好。乳胶微球胶乳微球包被抗体后，往往会发生团聚，影响后续的实验，需要经过超声或者其他处理来分散。使用NanoCoulter纳米粒度仪对包被前 后的微球进行粒径分析，可精准看到包被前后的团聚情况。五、技术参数1、粒径粒径检测范围：50-2000nm粒径测量准确度：回收率100±6%粒径测量精确度：CV%3%2、浓度浓度测量范围：1×10⁶ -1×1012particles/mL浓度测量准确度：回收率100±6%浓度测量准确度：CV%5%3、电位电位测量范围：±200mV4、上样量：3-50μL（稀释后200μL）5、软件：Windows系统，中英文操作软件，提供3Q认证具备审计追踪，符合FDA21CFR Part 116、尺寸：27 cm x16.5 cm x19 cmkg7、重量：8 kg

一、产品介绍NanoCoulter E 纳米粒度仪（粒径+浓度）具备粒径、浓度多维度检测能力二、技术原理：在电解质液体中的芯片孔两侧有正负电极，当加上电压，电流通过小孔时，小孔周边会产生一个“电感应区”，随着每个颗粒通过小孔，颗粒会置换出对等体积的导电液体，瞬间增加了该电感应区的电阻，形成一个电位脉冲。仪器通过对电脉冲的准确测量分析，从而获得纳米颗粒的表征数据。电脉冲的幅度和粒径成正比，数量和浓度成正比。由于颗粒是逐一通过纳米孔，因此实现了真正意义上的单颗粒检测。三、产品优势：1、无需校准傻瓜式操作，无需热机，无需校准。只需扫描检测卡预制的二维码即可完成所有参数设置。2、无需清洗可抛弃型非侵入式检测卡；测样前无需清洗仪器和样本槽，直接上样就可进行测试3、智能软件审计追踪功能，符合21 CFR part 11；存储每个颗粒的完整脉冲信息，方便研发用户进行多角度分析4、NanoCoulter E 纳米粒度仪（粒径+浓度）一次检测可同时获得粒径、浓度、电位信息媲美电镜的粒径测量精度精准的浓度测量和准确性 四、应用案例细胞外囊泡《MISEV》最新指南推荐《MISEV2023》评价“RPS测量结果确实与TEM数据具有非常高的一致性。"RPS技术作为“非光学”原理，成为电镜、流式等正交验证。NanoCoulter纳米粒度仪为EVs研究提供精确的粒径分布分析，更宽的粒径LOD(50-800nm),和极宽的浓度LOD(5×107-2x1011particles/mL)。外泌体大小分布与团聚研究NanoCoulter E系列具备超大量程，可精准测量外泌体样本中大囊泡的含量，搭配不同量程的芯片，得到不同粒径范围的颗粒浓度。超高灵敏度的单颗粒检测快速判断样本处理前后的微弱变化，快速推进外泌体的研究开发。脂质体纳米颗粒脂质体稳定性研究不同的脂质体药物稳定性会差异巨大，稳定性决定后续的药物使用情况，通过NanoCoulter E 纳米粒度仪可以精准判断脂质体的稳定性， 下图为两个脂质体样本经过漩涡震荡不同时间的浓度变化情况，可以看出样本二的稳定性更好。LNP粒径区间比例分析粒径及粒径分布是LNP的重要CQA参数之一，不同方法制备出来的LNP粒径分布差异巨大，且往往是DLS检测容易忽视的。 NanoCoulter E 纳米粒度仪能真实反映LNP组分中的粒径分布情况，同时给出"自定义"粒径区间内的浓度及组分比例。病毒颗粒腺病毒培养与纯化工艺优化腺病毒生产中的培养基成分、温度、pH值、细胞培养方式等都影响着产毒效率。NanoCoulter E 纳米粒度仪可对腺病毒的浓度、粒径分布进行实时监测，快速评估不同批次间的差异，优化生产工艺和参数。腺病毒批次间差异控制不同纯化方法的腺病毒总颗粒浓度痘病毒团聚分析病毒的保存条件对病毒团聚影响较大，团聚较多感染能力就会相应降低，NanoCoulter纳米粒度仪具备的粒径分辨率比拟电镜，是除电镜外，准确获得样本团聚情况的方法。如图，两种保存条件下，条件2中的病毒颗粒明显分散得更好。纳米磁珠磁珠的均一性是磁珠的一项重要参数，磁珠容易团聚，因此需要通过超声的手段对磁珠的颗粒进行分散，如图所示，使用三种不同的超声方法对纳米磁珠进行分散，NanoCoulter纳米粒度仪可以精准得到颗粒的粒径与浓度，超声方法A整体的分散性更好。乳胶微球胶乳微球通过包被抗体，与样本中的抗原特异性结合，引起溶液浊度的变化，而微球的粒径会直接影响到免疫比浊试剂的灵敏度。NanoCoulter精确区分工艺前后微球的粒径与浓度变化。均一且分散稳定的裸微球在修饰及包被工艺中因表面性质变化而容易发生团聚现象。通常需要经过超声的方式来分散胶乳微球，通过NanoCoulter检验粒径分布，从而筛选合适的分散条件。五、技术参数1、粒径粒径检测范围：50-2000nm粒径测量准确度：回收率100±6%粒径测量精确度：CV%3%2、浓度浓度测量范围：1×10⁶ -1×1012particles/mL浓度测量准确度：回收率100±6%浓度测量准确度：CV%5% 3、上样量：3-50μL（稀释后200μL）4、软件：Windows系统，中英文操作软件，提供3Q认证具备审计追踪，符合FDA21CFR Part 115、尺寸：27 cm x16.5 cm x19 cmkg6、重量：8 kg

美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

VASCO纳米粒度分析仪是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的仪器。得益于与法国Institute of Petroleum（IFP）合作开发的技术， VASCO是浓缩和不透明悬浮液样品最有效的解决方案。VASCO纳米粒度分析仪的主要特征• 基于增强型动态光散射原理（DLS）• 带有DTC系统的嵌入式样品池• 粒度范围（直径）：0.5nm-10μm • 样品浓度：0.1ppm-40％w / wt • 产品软件NanoQ，用于颗粒粒度• 在线样品池选项 • 改善荧光样品的测量VASCO纳米粒度分析仪的技术与创新VASCO：独特的颗粒粒度分析仪• 由二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池 • 双厚度控制器（DTC）系统，可实现精确的样品厚度控制 • 测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。创新的样品池设计：简单、自动、无耗材简单：DTC样品池的设计简化了样品制备，并防止任何过度稀释带来的危害。它与有机溶剂相容，可以测试微量样品。并可以在线测量，实现动力学研究（选项）。自动： DTC的简单调整足以将样品层从2mm减小到200μm（超薄层样品的体积）。这种用于降低测量体积的双厚度控制器可以防止由于多次扫描和局部热量导致的问题，并确保可靠地测量黑色介质或高浓度样品。与常规样品池相比，样品无需稀释！Vasco纳米粒度分析仪技术将DLS发挥至较高水平Vasco纳米粒度分析仪提供极宽的样品浓度测试范围，从非常稀的样品或差的对比度到高浓度和不透明的样品。Cordouan技术使得范围测量的实际浓度范围达到40％。这使其能够广泛应用于样品不能稀释而需要测试的行业。VASCO纳米粒度分析仪的主要优势• 可测量黑色样品和原浓悬浮液，在不透明介质中具有更高的检测效率 • 直接测量无法进行后处理的样品• 耐溶剂嵌入式样品池：无消耗品 • 用于多模态样品分析的算法 • 即测样品 • 与传统DLS相比，样品检测浓度高于传统DLS 20多倍。

VASCO纳米粒度分析仪是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的仪器。得益于与法国Institute of Petroleum（IFP）合作开发的技术， VASCO是浓缩和不透明悬浮液样品最有效的解决方案。VASCO纳米粒度分析仪的主要特征• 基于增强型动态光散射原理（DLS）• 带有DTC系统的嵌入式样品池• 粒度范围（直径）：0.5nm-10μm • 样品浓度：0.1ppm-40％w / wt • 产品软件NanoQ，用于颗粒粒度• 在线样品池选项 • 改善荧光样品的测量VASCO纳米粒度分析仪的技术与创新VASCO：独特的颗粒粒度分析仪• 由二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池 • 双厚度控制器（DTC）系统，可实现精确的样品厚度控制 • 测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。创新的样品池设计：简单、自动、无耗材简单：DTC样品池的设计简化了样品制备，并防止任何过度稀释带来的危害。它与有机溶剂相容，可以测试微量样品。并可以在线测量，实现动力学研究（选项）。自动： DTC的简单调整足以将样品层从2mm减小到200μm（超薄层样品的体积）。这种用于降低测量体积的双厚度控制器可以防止由于多次扫描和局部热量导致的问题，并确保可靠地测量黑色介质或高浓度样品。与常规样品池相比，样品无需稀释！Vasco纳米粒度分析仪技术将DLS发挥至较高水平Vasco纳米粒度分析仪提供极宽的样品浓度测试范围，从非常稀的样品或差的对比度到高浓度和不透明的样品。Cordouan技术使得范围测量的实际浓度范围达到40％。这使其能够广泛应用于样品不能稀释而需要测试的行业。VASCO纳米粒度分析仪的主要优势• 可测量黑色样品和原浓悬浮液，在不透明介质中具有更高的检测效率 • 直接测量无法进行后处理的样品• 耐溶剂嵌入式样品池：无消耗品 • 用于多模态样品分析的算法 • 即测样品 • 与传统DLS相比，样品检测浓度高于传统DLS 20多倍。

NS-90纳米粒度分析仪产品介绍： NS-90纳米粒度分析仪是珠海欧美克仪器公司继2014年成功推出Topsizer高性能激光粒度分析仪之后，继续引进和吸收马尔文帕纳科公司（Malvern Panalytical）的先进颗粒表征技术，结合中国用户的市场应用特点和需求专门推出的一款纳米级粒度分析仪器。该仪器使用90°动态光散射技术测量粒子和分子大小，静态光散射法测定蛋白质与聚合物的分子量；在众国产品牌中主配雪崩式光电二极管（APD）检测器，系统灵敏度远远高于光电倍增管检测器（PMT）；更使用高端He-Ne气体激光器，加上精确的内部温控技术，密闭光路以及先进软件算法，保障数据重复性、准确性以及0.3纳米的测试下限；同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。NS-90纳米粒度分析仪工作原理：1、动态光散射技术： NS-90纳米粒度分析仪使用动态光散射技术测量粒子和分子大小。液体中的粒子由于周围的溶剂分子撞击产生随机布朗运动。小粒子在液体中运动速度较快，而大颗粒运动相对缓慢。这种运动一直都在进行，所以如果我们取一小段时间间隔拍摄样品运动“图像”，我们可以看出粒子移动了多少，并且换算出它有多大。相同时间内，如果位移比较小，粒子位置接近，则样品中粒子较大；相反地，如果位移较大，粒子位置变化很大，则样品中粒子较小。这种利用扩散速度与粒径之间的关系测定粒子的大小的方法即为动态光散射（DLS）技术，也称为光子相关光谱（PCS）技术。 NS-90纳米粒度分析仪使用90?动态光散射技术，利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数（Correlation Function），然后使用斯托克斯-爱因斯坦（Stokes-Einstein）方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径，是和被测量粒子以相同速度扩散的硬球直径。2、静态光散射技术： NS-90纳米粒度分析仪使用静态光散射（SLS）技术测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。 与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。但与动态光散射技术不同，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为“静态光散射”。 因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。在此测量方法中，检测一系列不同浓度下样品的散射光强（kC/R），将该数值与标准物（如甲苯）产生的散射光强进行比较，即可得到德拜图（Debye Plot）。德拜图中的拟合直线斜率为第二维里系数（2nd Virial Coefficient, A2），拟合直线外延到零浓度的数值为平均分子量的倒数（1/MW）。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 NS-90纳米粒度分析仪的用途： NS-90纳米粒度仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征技术，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90°散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、胶体、聚合物、蛋白质等样品的分析。典型应用：–化工产品：硅胶、乳胶、金属胶体、色素、墨水、调色剂、陶瓷–化妆品、上光剂、食品及农业化学品等以乳液（乳剂）形式存在的产品–制药业：脂肪乳、注射液、微胶囊、单克隆抗体和免疫球蛋白的粒度–蛋白质和高分子分子尺寸的测量NS-90纳米粒度分析仪的性能特点：1、先进的光学系统设计 欧美克NS-90纳米粒度分析仪在一台仪器中集成了动态光散射技术和静态光散射两种技术。动态光散射法用于测量粒度及分子大小，静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现极优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。2、功能丰富的软件优化用户体验 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。3、高性能检测器 使高性能的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障极优的测试性能。4、研究级数字相关器 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。5、稳定的激光光源和光路系统 采用高性能He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。亦可选配50mW，532nm的固体激光器，用于标准633nm激光器不能检测的样品。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。6、精确的内部控温系统 独立的循环温控槽可在0 – 90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。亦可选装120℃ 温控槽。NS-90纳米粒度分析仪的软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.支持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。支持：温度趋势分析 、时间趋势分析 、所选参数趋势分析、全范围统计图。

产品介绍：NS-90纳米粒度分析仪是珠海欧美克仪器公司继2014年成功推出Topsizer高性能激光粒度分析仪之后，继续引进和吸收马尔文帕纳科公司（Malvern Panalytical）的先进颗粒表征技术，结合中国用户的市场应用特点和需求专门推出的一款纳米级粒度分析仪器。该仪器使用90? 动态光散射技术测量粒子和分子大小，静态光散射法测定蛋白质与聚合物的分子量；在众国产品牌中主配雪崩式光电二极管（APD）检测器，系统灵敏度远远高于光电倍增管检测器（PMT）；更使用高端He-Ne气体激光器，加上精确的内部温控技术，密闭光路以及先进软件算法，保障数据重复性、准确性以及0.3纳米的测试下限；同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。工作原理：动态光散射技术： NS-90纳米粒度分析仪使用动态光散射技术测量粒子和分子大小。液体中的粒子由于周围的溶剂分子撞击产生随机布朗运动。小粒子在液体中运动速度较快，而大颗粒运动相对缓慢。这种运动一直都在进行，所以如果我们取一小段时间间隔拍摄样品运动“图像”，我们可以看出粒子移动了多少，并且换算出它有多大。相同时间内，如果位移比较小，粒子位置接近，则样品中粒子较大；相反地，如果位移较大，粒子位置变化很大，则样品中粒子较小。这种利用扩散速度与粒径之间的关系测定粒子的大小的方法即为动态光散射（DLS）技术，也称为光子相关光谱（PCS）技术。 NS-90纳米粒度分析仪使用90?动态光散射技术，利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数（Correlation Function），然后使用斯托克斯-爱因斯坦（Stokes-Einstein）方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径，是和被测量粒子以相同速度扩散的硬球直径。 静态光散射技术： NS-90纳米粒度分析仪使用静态光散射（SLS）技术测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。 与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。但与动态光散射技术不同，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为“静态光散射”。 因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。在此测量方法中，检测一系列不同浓度下样品的散射光强（kC/R），将该数值与标准物（如甲苯）产生的散射光强进行比较，即可得到德拜图（Debye Plot）。德拜图中的拟合直线斜率为第二维里系数（2nd Virial Coefficient, A2），拟合直线外延到零浓度的数值为平均分子量的倒数（1/MW）。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 用途： NS-90纳米粒度仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征技术，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90°散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、胶体、聚合物、蛋白质等样品的分析。典型应用：–化工产品：硅胶、乳胶、金属胶体、色素、墨水、调色剂、陶瓷–化妆品、上光剂、食品及农业化学品等以乳液（乳剂）形式存在的产品–制药业：脂肪乳、注射液、微胶囊、单克隆抗体和免疫球蛋白的粒度–蛋白质和高分子分子尺寸的测量性能特点：【先进的光学系统设计】 欧美克NS-90纳米粒度分析仪在一台仪器中集成了动态光散射技术和静态光散射两种技术。动态光散射法用于测量粒度及分子大小，静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现极优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高性能的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高性能He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。亦可选配50mW，532nm的固体激光器，用于标准633nm激光器不能检测的样品。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0 – 90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。亦可选装120℃ 温控槽。软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需极简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.支持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。支持：–温度趋势分析 –时间趋势分析 –所选参数趋势分析 –全范围统计图

公司概况 法国CORDOUAN 技术公司成立于2007年，致力于纳米颗粒复合介质的尺寸表征。经过短短四年时间，CORDOUAN已成为N3（纳米粒子，纳米材料，纳米技术）的全球参考，为纳米颗粒和纳米材料的表面特征提供创新解决案。 CORDOUAN为客户提供的颗粒度，屈光计，电泳，电子显微镜和样品制备仪和器配件解决方案的连贯和广泛的产品组合。法国CORDOUAN仪器广发应用于：合成的聚合物和官能化的金属纳米颗粒、 原油萃取，改善化妆品凝胶的质量的，胶体形式的特殊油墨，生物学研究和细胞分析等的开发。 产品简介 高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo 是创新型纳米粒度Zeta电位分析系统，通过远程光学探头，进行原位在线测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。动态光散射（DLS）和激光多普勒电泳（LDE） 技术，可提供高分辨率，准确和快速的粒度、ZETA电位测 以及远程原位测量。 工作原理 高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的独特表征仪器。Zeta电位部分是基于重新审视的现代版激光多普勒电泳 （LDE）技术，提供独特且无与伦比的测量分辨率。它是CORDOUAN的粒度分析仪VASCO的补充，用于研究胶体溶液的稳定性质。 技术创新 高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo独特的样品池，双厚度控制系统，可实现精确测量，通过远程光学探头，进行原位非接触测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。 ● 二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池 ● 独特的双厚度控制器系统 ● 直接测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。 性能参数 ● 粒径范围：0.5nm-10μm ● zeta电位范围：±500mV ● 结合Wallis和Vasco Kin的功能，具有高分辨测量能力 ● 非接触远程测量纳米粒度的动力学分析 ● zeta电位的可编程动力学实验（zeta 对 温度/pH/时间） ● 动态时间切片功能，可进行数据后处理 ● 可选高浓度Flex探头 典型案例 应用范围 ◆ 纳米颗粒的合成和功能研究 ◆ 药物输送系统优化 ◆ 制造过程中的质量控制 ◆ 电泳物理学的基础研究 ◆ 化妆品和工业乳液稳定性研究 ◆ 纳米颗粒制备和合成工艺优化 ◆ 先进的胶体稳定性分析和优化 ◆ 油墨/颜料的分散性和聚合物的表征

产品介绍：高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo 是创新型纳米粒度Zeta电位分析系统，通过远程光学探头，进行原位在线测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。动态光散射（DLS）和激光多普勒电泳（LDE） 技术，可提供高分辨率，准确和快速的粒度、ZETA电位测 以及远程原位测量。产品应用：纳米颗粒的合成和功能研究 药物输送系统优化 制造过程中的质量控制 电泳物理学的基础研究 化妆品和工业乳液稳定性研究 纳米颗粒制备和合成工艺优化先进的胶体稳定性分析和优化 油墨/颜料的分散性和聚合物的表征工作原理：高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的独特表征仪器。Zeta电位部分是基于重新审视的现代版激光多普勒电泳 （LDE）技术，提供独特且无与伦比的测量分辨率。它是CORDOUAN的粒度分析仪VASCO的补充，用于研究胶体溶液的稳定性质。技术创新：高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo独特的样品池，双厚度控制系统，可实现精确测量，通过远程光学探头，进行原位非接触测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池独特的双厚度控制器系统直接测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。典型案例：产品参数：型号Amerigo 粒径范围0.5nm-10μmzeta电位范围±500mV结合Wallis和Vasco Kin的功能具有高分辨测量能力动力学分析非远程测量纳米粒度的动力学分析zeta对温度/PH/时间zeta电位的可编程动力学实验动态时间切片功能可进行数据后处理探头可选高浓度Flex探头

Nanolink S901系列是真理光学在S900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度分析系统，采用动态光散射(DLS)技术进行纳米粒度测量，被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。Nanolink S901的杰出性能和主要特点包括：◆ 经典90°动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm – 15μm◆ 加持自动恒温技术的功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用◆ 独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术◆ 独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术◆ 集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器◆ 常规温度控制范围可达0°C ~ 90°C, 最高可选120°C, 精度±0.1°C◆ 新一代高速数字相关器，动态范围大于1011◆ 冷凝控制 – 干燥气体吹扫技术技术参数： 测量原理动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）粒径测量角度90°粒径测量范围0.3nm -15um*粒径准确度优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）粒径重复性优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）粒径测量最小样品浓度0.1mg/ml粒径测量最小样品量3ul*分子量范围340Da - 2x107Da温度控制范围0°C - 90°C (120°C可选)温度控制精度±0.1°C光源集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器相关器高速数字相关器，自适应通道配置检测器高灵敏度APD系统重量15kg外形尺寸365mm x 475mm x 180mm (LxWxH)注：* 取决于样品及样品池选件

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

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NS-90 Plus 纳米粒度分析仪产品介绍：NS-90 Plus纳米粒度分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科 (Malvern Panalytical)纳米颗粒表征技术后，在上一代NS-90的基础上进一步优化了光学电子测量技术和分析性能的一款新产品。NS-90 Plus具有更优越的粒度分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度的测试需求。 NS-90 Plus纳米粒度分析仪采用动态光散射技术测量粒子和颗粒的粒度，同时兼有静态光散射技术用于测定蛋白质与聚合物等的分子量。NS-90 Plus融合马尔文帕纳科技术升级了兼容多种样品池 (选配) 功能，可分析样品浓度和粒度范围也得到了明显提升。与此同时，仪器广泛采用全球化供应链的优质光电部件及Scrum软件迭代升级开发模式，使其具有高品质并能随用户需求变化升级管理和报表功能。进口雪崩式光电二极管(APD)检测器、He-Ne气体激光器光源和高性能相关器等优质硬件，加上精确的内部温控装置、密闭光纤光路设计以及先进的软件算法，共同保障了数据的高重现性、准确性和灵敏度。NS-90 Plus支持SOP标准化操作，具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理及电子签名功能以及具有测试数据质量智能反馈和优化建议，方便用户使用。工作原理：NS-90 Plus纳米粒度分析仪在一种紧凑型仪器中集成了两种测试技术*：动态光散射技术NS-90 Plus 纳米粒度分析仪使用经典的90°角动态光散射(Dynamic Light Scattering/DLS)技术来测量粒子和颗粒的粒度。该技术利用光电检测器测量样品中粒子由布朗运动所产生的散射光强涨落信号，通过数字相关器计算得到相关函数(Correlation Function)以分析颗粒的扩散速率，再以斯托克斯-爱因斯坦(Stokes-Einstein)方程计算出颗粒的粒径与分布。本技术所测量的粒径为流体动力学等效直径，通过相同扩散速率的硬球进行等效直径计算而得。动态光散射法也称为光子相关光谱法(Photon Correlation Spectroscopy/PCS)。NS-90 Plus动态光散射光路图静态光散射技术 NS-90 Plus纳米粒度分析仪使用静态光散射(Static Light Scattering/SLS) 技术以非侵入式表征溶液及胶体中的蛋白质单体、聚集体或聚合物等粒子的摩尔质量，即分子量。在德拜法分子量计算的描述中，粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度。通过使用德拜法测量一组浓度梯度的样品静态散射光强度，可以计算蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的平均强度。分子量单位为 Da(Dalton) 或g/mol。 NS-90 Plus静态光散射德拜图法分析纳米粒子分子量*：NS-90 Plus可以根据需要购买升级电泳光散射技术的Zeta电位测试功能模块。用途： NS-90 Plus纳米粒度分析仪是一款高性价比的纳米和亚微米颗粒粒径表征仪器，适用于对粒度表征有较高灵敏度需求的材料分析，以及需要与使用90散射角粒径测试系统结果相同的应用。该仪器适用于对分子、蛋白质、聚合物、胶体、乳液、悬浮液及各种复杂配方制剂体系等样品的测试分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 脂质体和囊泡的开发&bull 蛋白质及其聚集体的评价&bull 电极浆料及助剂的粒径、分散表征&bull 涂覆材料分散性能预测&bull 纳米金等高电导率溶胶的改性&bull 墨水、碳粉、染料和颜料性能改进&bull 胶体、乳液、浆料稳定性评价&bull 确定多种复杂制剂的配方开发及混合、均质等加工工艺参数性能特点：【先进的高信噪比光学设计】 NS-90 Plus纳米粒度分析仪在一台紧凑仪器中集成了动态光散射和静态光散射两种光学原理技术。通过优化的光学设计、光纤光路传输设计及高性能光源、信号采集和处理硬件，提高了散射光信号识别能力并减少了杂散光干扰，确保了仪器测试结果的高准确性、灵敏度和重现性，拓展了适宜的样品测试范围。动态光散射粒径测量示意图【易使用、免维护的系统设计】 NS-90 Plus采用密闭式光路设计防止污染，日常使用主机无需维护。采用可替换的多种类可选的比色皿样品池，使用简便，可同时制备多个样品依次检测，效率更高。亦可清洗样品池重复使用，无需复杂的仪器或探测装置的维护。比色皿样品池【高光学性能、稳定且长寿命的气体激光光源】 采用进口高稳定He-Ne气体激光器确保数据的重现性，波长632.8nm，功率4mW。He-Ne气体激光器的光束发散角、单色性、温度电压波动稳定性、相干性皆远优于半导体固体激光器。NS-90 Plus所使用的气体激光管采用硬封装工艺确保激光管中氦氖气体惰性工作物质终身无损失，激光管寿命达到10年以上，且在生命周期内其光学品质几乎没有变化，确保了测试数据始终可信，且无需用户校准。由于He-Ne气体激光器相干性能显著优于半导体固体激光器，仅需较低的功率即可产生满足测量需求的散射光信号，同时具有更低的杂散光噪声使样品分析灵敏度更高。仪器可在330000:1的动态范围内通过衰减器自适应调节激光强度。【报告可自定义多种参数输出】 NS-90 Plus具有完备的纳米粒度分析功能。可以输出Z平均直径、多分散指数PI、各粒径分布峰的峰值粒径和含量等参数，同时可输出体积和数量分布 (使用全范围米氏理论(Mie Theory)计算) 。 可自定义报告【高性能检测器】 使用高量子效率(QE)的雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE≥80%@632.8nm，灵敏度远高于光电倍增管(PMT)且噪音更低。高成本的优质APD部件保障了仪器卓越的测试性能。APD性能图【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，多于4000通道， 1011动态线性范围，最短采样时间间隔可低至25ns，结合先进的相关算法，最短子测量时间可缩短至1.68s。典型相关曲线示意图【精确的内部控温系统】 独立的帕尔贴循环温控装置可在0-120℃范围内任意设定，升温降温速度快，控制精度最高可达0.1℃，保障测试结果高重现性。【升级的专家指导功能提升测试水平】 NS-90 Plus测试后会在数据质量指南模块下自动生成智能化专家指导意见，为如何进一步优化测试或样品处理提供可行方案建议。该技术可以同时协助用户快速判读更准确的粒径结果，有利于减少测试数据的错误，及时发现和改善因方法或环境发生变化而引起的测试质量变化。数据质量指南【具有符合CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理与电子签名等功能】用户权限配置和管理功能示意图审计追踪功能示意图【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准化操作程序(SOP)简化常规测量；自动配置各种样品的最佳硬件和算法设置，亦可手动设置；操作简单，无须准直、校正或额外保养；智能化，可自动判断数据报告的质量并给出优化建议。1. 使用先进SCRUM软件开发模式，基于当前主流软件开发技术的新颖界面设计，操作简单易用，可根据行业应用和法规变化不断升级软件以与之匹配。 2. 全自动硬件设置和测量：只需最简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。粒径测试的设置界面（部分）及分析模型选择示意图 3. 支持SOP标准化操作程序，避免了测试操作和参数设置的不一致，从而提高数据的重现性。 SOP标准化操作程序4. 智能化测量数据的系统评估：仪器分析软件可根据测试条件和结果自动智能判断数据报告的质量，并针对质量不佳的测试给出改善建议。包含以下几个方面的智能化建议：a. 测试报告的质量评价b. 问题产生的原因c. 如何使用这些数据d. 如何改进这些数据 5. 打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择所需的结果图表，就可根据不同的需要定制不同的报告。自定义报表功能演示6. 样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。7. 数据分析：数据以图形或表格的形式呈现且可一键导出；多种分析模式可供选择，以适合包括单分散样品、宽分布样品在内的多种样品测试；具有多种数据分类、分组、排序、筛选、统计和趋势分析功能。Z-均粒径值趋势图 8. 具有完善的介质粘度数据库，并可根据给定的温度自动计算常见缓冲体系的粘度。介质粘度数据库典型测试结果：1. NS-90 Plus良好的重现性——60nm标号乳胶微球标样 (Thermal，标称值：62±3nm) 2. NS-90 Plus提升了粒径上限分析性能——10μm标号标样的测试* *：采用微毛细管样品池进行粒度分析。3. NS-90 Plus卓越的分辨力——60nm、200nm双标样混合样品 可用于粒径测试 可用于分子量测试标配附件：12mm方形聚苯乙烯样品池(DTS0012) 可替换型，无污染最少样品量1mL适用于水或乙醇作为分散介质的粒度测试12mm方形玻璃样品池(PCS8501) 最少样品量1mL玻璃材质，适用于绝大多数水性或非水性溶剂或介质的测试可选配附件：微毛细管样品池(ZSU1002)由样品池基座和可替换型方形微毛细管组成最少样品量3μL可更准确地测试1μm以上的颗粒粒径测量上限最高可拓展至15μm技术参数： 【粒径】1. 测量范围*：0.3nm - 10μm (取决于样品) 2. 测量原理：动态光散射法(DLS)3. 重复性误差：≤ 1% (NIST可追溯胶乳标样)4. 最小样品容积*：20µ L5. 最小样品浓度：≤ 1mg/mL (取决于样品)6. 最高样品浓度：40% w/v (取决于样品)7. 最小子测试时间：1.68s【分子量】8. 分子量测量范围： 980 - 2×107 Da (取决于样品)，静态光散射德拜法342 - 2×107 Da (取决于样品)， 动态光散射计算【系统】 9. 激光光源：高稳定He-Ne气体 激光器，波长632.8nm，功率 4mW。10. 整机激光安全：I类11. 检测角度： 9012. 检测器：雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE80%@632.8nm13. 相关器：采样时间 25ns - 8000s，多于4000通道，1011动态线性范围14. 冷凝控制：干燥氮气或空气吹扫 (需外接气源)15. 温度控制范围：0 - 120 ℃16. 温度控制最高精度：± 0.1 ℃17. 具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》的审计、权限管理及电子签名功能【重量与尺寸】18. 主机尺寸：322×565×245 mm (W×D×H)19. 主机净重：19 kg【运行环境】20. 电源要求： AC 100 - 240V, 50 - 60Hz，4.0A21. 功率：最大值100W，典型值45W22. 推荐计算机最低配置： Intel Core i5 2.5Ghz及以上，4GB内存，250G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上23. 计算机接口： USB 2.0或更高24. 推荐操作系统： Windows 10或Windows 11专业版25. 环境要求：温度10 – 35 ℃湿度：35 - 80%， 无冷凝*可选微毛细管样品池扩展粒度分析上限至15μm的样品，最小样品量仅需3μL.**尽管我们已竭力确保本材料中信息的正确性和完整性，仍保留随时更改本材料中任何内容的权利。

梓梦科技动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标