纳米检测显微镜

据美国物理学家组织网近日报道，美国加利福尼亚大学圣地亚哥分校物理学家开发出一种新型X光显微镜，不仅能透视材料内部结构，而且洞察之细微达到了纳米水平。该显微镜有助于开发更小的数据存储设备，探测物质化学成分，拍摄生物组织结构等。研究论文发表在《美国国家科学院院刊》上。X光纳米显微镜不是通过透镜成像，而是靠强大的算法程序计算成像。“这种数学运算方法相当复杂，其原理有点像哈勃太空望远镜，就是让最初看到的模糊图像变得清晰鲜明。”领导该研究的加州大学圣地亚哥分校副教授奥里格·夏佩克解释说，X光探测到物质的纳米结构后，会生成衍射图案，计算机按照运算法则将这种衍射图案转化为可辨认的精细图像。为了测试显微镜透视物体的能力和分辨率，研究小组用钆和铁元素制作了一种层状膜。目前信息技术行业多用这种膜来开发高容高速、更微小的内存设备和磁盘驱动器。“这两种都是磁性材料，如果结合成一体，就会自然地形成纳米磁畴。”夏佩克说，在显微镜下面，能看到它们形成的磁条纹。层状的钆铁膜看起来就像一块千层酥，层层褶皱形成了一系列的磁畴，就好像一圈圈指纹的凸起。

RT:求推荐一台看微纳米材料形貌的性价比高的光学显微镜。平时做一些微纳米材料，求各位老师推荐一款性价比高点的光学显微镜，目前预算1W多。

我想问问静电力显微镜如何测得纳米粒子间偶极作用力呢?急待回答.先谢谢各位了

英国和新加坡研究人员1日报告说，他们制造出能够观测50纳米大小物体的光学显微镜，这是迄今观测能力最强的光学显微镜，也是世界上第一个能在普通白光照明下直接观测纳米级物体的光学显微镜。http://www.bioon.com/tech/UploadFiles_3081/201103/2011030214521841.jpg英国曼彻斯特大学研究人员和新加坡同行当天在新一期《自然·通信》杂志上报告了这项成果。由于光的衍射特性的限制，光学显微镜的观测极限通常约为１微米。研究人员通过为光学显微镜添加一种特殊的“透明微米球透镜”，克服了上述障碍，使这一极限达到50纳米，观测能力提高了20倍。论文第一作者王增波博士告诉新华社记者：“这是目前世界上唯一能在普通白光照明下直接观测纳米级物体的光学显微镜，是一个新的世界纪录。”

不了解激光共聚焦，问一下激光共聚焦显微镜能观测到纳米级的囊泡吗？

[align=center][font=Verdana]（2007 国社量标计证字第040号）[img]http://www.zgjljs.com/eWebEditor/UploadFile/2010815111612501.jpg[/img][/font][/align] 该装置是国内首个纳米计量标准，它是依托中国计量科学研究院长度所研制的计量型原子力显微镜纳米测量系统而建立的,而原子力显微镜的计量化是通过固接在其上的一体化无阿贝误差布局的三维激光干涉系统来实现测量结果直接溯源到激光波长和国际单位制的。该系统在测量原理、测量精度、可溯源性方面均达到了国际先进水平。 该标准主要用于承担我院参加国际计量局组织的纳米国际比对，并为国内微电子、集成电路行业提供关键量值溯源，为科研院所的纳米研究提供技术支持等任务，为我国纳米技术的研究和生产提供了有力的技术保障。[b]该标准的主要技术指标为：[/b]系统测量范围（x, y, z）＝（70μm, 15μm, 15μm）系统测量分辨力（x, y, z）＝（1nm, 0.25nm, 0.12nm）对台阶和线间隔类纳米几何结构参数的建标范围：台阶类及其它垂直结构：(0～2000) nm 线间隔类及其它水平结构：(0～20)μm对台阶和线间隔类纳米几何结构参数的测量不确定度：台阶类：U=1nm +2×10[sup]-4[/sup]×H，k=2 （H为台阶高度，H-nm）线间隔类：U=1nm +2×10[sup]-4[/sup]×L，k=2 （L为线间隔距离，L-nm）[font=宋体, MS Song] [/font]

多晶，非晶，纳米晶体材料在透射电子显微镜选区稍微图像中的区别？谢谢！！

[b]网络讲座：[/b]原子力显微镜纳米级模量表征新技术及应用[b]举行时间：[/b]2018年03月29日 09:30[b]报告人：[/b]石雯晴 Park Systems应用科学家。2011年于武汉大学化学系获学士学位，博士期间就读于美国印第安纳大学，师从Lane Baker教授。[b]报告内容：[/b]这一期网络讲堂的主题是使用PinPoint力模式进行AFM纳米级模量表征，确切来说，我们将探究悬臂刚度和施加的力对测量模量的影响。石雯晴博士首先将为大家说明原子力显微镜的工作原理，之后她将讲解为什么需要PinPoint力模式以及它的工作原理。最后，为了让大家更好的了解PinPoint力模式，我们将探究探针刚度和施加的力对测量模量的影响。实验中使用的探针为ONTSCR (0.2N/m), FMR (3N/m)和 AC160TS (30 N/m）。石雯晴博士将依次为大家在讲堂中展示实验结果。[b]免费报名链接：[/b][url]http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_3457.html[/url]

我是做金属表面改性的，我们认为金属表面生成了一种化合物的纳米级薄层。为了研究薄层厚度，想询问关于原子力显微镜和纳米划痕仪的具体情况。望告知，谢谢

日立高新技术(HitachiHighTechnologies)2007年5月14日推出了新型场发射型透射式电子显微镜（FE-TEM）“HF-3300型”，分辨率为0.1nm、能够以纳米级别的分辨率稳定地分析原子水平的极微小材料。 　　新产品采用了冷阴极场发射电子枪，具有高亮度和高分辨率。同时通过在电子枪上结合使用300kV的高加速电压，实现了高稳定性。作为一种分析电镜，除配置能量色散型X射线分析装置（EDX）和电子能量损失谱仪（EELS）外，还支持电子束全息摄影、位置分析型EELS及纳米电子束衍射等新分析方法。 　　透射式电子显微镜的加速电压越高，分辨率和透射力就越出色。在原子序数大、电子束难以穿透的金属及陶瓷的观察方面，可发挥300kV高加速电压的优点，无论试料的厚度和构成如何，均可进行稳定的超高分辨率观察。 　　该产品标准价格为2亿8500万日元。预计07年度可获得5台订单。预定从07年9月开始供货。

浅谈拒水拒油纳米技术处理服装的功能检测Discussion on the Testing of Water-repellent and Oil-repellent Nano-functionalApparel 杨志敏，何玉兰，叶毓辉，董晶泊（深圳市计量质量检测研究院，广东 深圳 518139）摘要：简要介绍拒水拒油纳米处理服装，及通过接触角、沾水等级、拒油等级对其性能的检测。关键词：纳米；拒水；拒油；接触角Abstract：This paper briefly introduces the nano-functional apparel ，and the test method of the water-repellent and oil-repellent.Key words: nano；water-repellent;oil-repellent;contact angle拒油原理和拒水原理极为相似，都是改变纤维表面性能，使其临界表面张力降低，水和油与其产生较大的接触角，达到拒水拒油的目的，而又不影响织物的透气性。拒水拒油纳米服装就是利用纳米技术处理过的面料制成的功能性服装。目前常用有两种方法：一种是利用涂层或浸渍，对纤维或面料进行表面处理，最终在织物表面形成一种功能性的涂层；另一类是利用化纤改性技术，将纳米材料作为添加剂加入到纺丝液中，复合纺丝，制备功能面料。目前市场上纳米服装局面混乱，鱼目混珠的“纳米”产品一哄而上，有些只是不透气涂层织物，引来众多的非议。如何鉴定纳米结构，评估和检测服装的拒水拒油功能，从而判定是否为拒水拒油纳米处理服装是目前面临的问题。本实验通过扫描电镜(SEM)鉴定织物表面的纳米结构，并通过测量液体在织物表面的接触角，沾水等级，拒油等级来检测纳米处理服装的拒水拒油性能，简要介绍拒水拒油纳米处理服装的检测。1纳米结构的鉴定确定是否具有纳米结构单元是判断该服装是否为纳米技术处理服装的前提。目前纳米结构的表征方法有很多，如扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、扫描隧道电镜(STM)、原子力显微镜(AFM)、X射线小角散射法（SAXS）等等，但涉及到服装一类最终产品上，取样、制样方法一直是难题。结合试验条件，本试验采用扫描电子显微镜测定织物表面纳米结构单元。仪器：扫描电子显微镜（分辨率2 nm），哈氏切片器，镀膜仪（金属膜）。在服装上的有效部位随机剪取5块5 mm×5 mm的试样，用镊子夹取试样固定在贴有导电胶布样品台上，将载有样品的试样台移至镀膜仪，镀膜为金属导电膜，膜的厚度宜在5～20 nm的范围内。然后送入扫描电镜样品室，抽真空直至可以进行电镜测试。在使用扫描电镜测试时，每个试样随机选择四个区域进行观测，放大倍数以有利于观测纳米结构为宜。结构单元的短径≤100 nm则为纳米结构单元，结构的短径＞100 nm则为非纳米结构单元。测试所有试样，并计算纳米结构单元总数和非纳米结构单元总数（如图1所示）。图1 纤维表面形貌从图1中可以看出，纤维表面附有较多纳米颗粒。部分纳米颗粒因发生团聚，颗粒直径明显大于100 nm。整个区域以直径≤100nm的纳米颗粒为主，完全符合纳米技术处理服装的要求。2表面接触角测定当一滴液体滴在织物表面上时，有可能完全润湿织物，在表面形成一层水膜，有可能形成水滴状，液滴边缘与固体表面形成一个夹角θ，这个角就称为接触角。当0°＜θ＜90°时，液体部分润湿织物，并在极短的时间内，液滴向四周扩散并渗入织物中，90°＜θ＜180°时，液体不能润湿织物表面而形成液珠，倾斜时液滴滚落。如图2所示。 图2 接触角θ要达到拒水的目的，就要使接触角θ越大越好。根据著名的Young方程：γS=γSL +γLcosθ，液体在固体表面形成的接触角和界面张力之间的关系可知，由于液体表面张力不变，要达到拒水的目的，就必须减小固体表面张力或使固液表面张力变大。由于在纳米尺寸低凹的表面可以吸附气体分子，并且使其稳定附着存在，所以在宏观织物表面上形成了一层稳定的气体薄膜，使得油或水无法与织物的表面直接接触，纤维表面张力减小，水滴或油滴与界面的接触角趋于最大值，实现纤维织物拒水拒油功能。 水的表面张力为72.6 mJ/m2，而一般油类的表面张力为20～40 mJ/m2,润湿能力远大于水,所以拒油的物质一定拒水，故这里只测量油滴的接触角。取5个样品，在同一个样品上不同位置测量5次，取平均值。然后使用标准洗涤剂按5A程序洗涤5个循环，再测试洗后织物表面接触角。仪器：JC2000C1静滴接触角/界面张力测量仪，微量注射器，玻璃载片，A形全自动洗衣机。试剂：食用油，标准洗涤剂WOB。 图3 油滴在织物表面形态 调整好仪器之后，通过垂直固定的微量注射器往织物表面上滴2～3 μL食用油，油滴未渗入织物中，在织物表面形成近似圆形液滴，见图3。冻结图像之后，计算每个油滴的接触角，结果见表1。表1 油滴表面接触角试样编号接触角/o洗前洗后1#144.8138.22#141.6145.13#149.7142.24#153.4137.45#145.2148.8平均值146.9142.3从表1可以看出，洗前油滴在织物表面的平均接触角为146.9 o，远大于90 o；洗后油滴在织物表面的平均接触角为142.3 o，不仅说明该服装洗后仍使油滴在其表面有较大的接触角，具有良好的拒油效果，亦说明该服装具有一定的耐洗性能。3拒水级别测试在日常检测中，对织物的拒水级别测试,一般用淋水性能测试方法。按照GB/T4745—1997《纺织织物表面抗湿性测定沾水压试验》中要求的取样、操作程序、评定进行，织物的经向与水流方向平行，分别测试洗前、洗后试样的拒水级别，结果见表2。表2 拒水等级试样编号沾水等级/级洗前洗后1#552#553#55[/tr

作品链接：基于扫描探针显微镜的表面氧化纳米刻蚀技术——人像 喜欢它就投它一票！http://simg.instrument.com.cn/bbs/081223/images/vote_topic.gif第六届原创大赛10月电镜版区投票帖预祝获奖！zikgreen，这168积分就是你的啦！

世界最高水平探针：碳纳米管原子力显微镜探针隆重上市！超高分辨率，超长使用寿命！CNT AFM probes CNT probes from us include two series: high resolution and high aspect ratio applications. http://www.appmaterials.com/news.files/cnt%20afm%20probe2.jpg　http://www.appmaterials.com/news.files/cnt%20afm%20probe3.jpg Tip features:A carbon nanotube/nanocone of 2 nm radius of curvature right at the apex of regular silicon probe, either tapping or contact mode. Probe with perfect alignment,orientation of CNT is better than ±5º. Tightly controlled CNT length, 0.6µm±200nm, 1.5µm±200nm, 5µm±500nm. Very high resolution (2nm ROC versus 10nm ROC of regular probe). Long lifetime (Months versus hours of regular probe). CNT probes are in stock and ready to ship with highly competitive price.

1. 正规院校本科及以上学历，有一定的英语应用能力。 2. 材料或化学相关专业毕业。 3. 有材料检测、原子力显微镜等使用或销售经验的优先考虑。 4. 有较强的沟通和表达能力。 5. 能经常出差。 6. 善于自我激励，具有敬业精神。 职责： 1. 积极推动负责产品的销售工作，完成销售任务。 2. 对合同从签定后到完结各环节跟踪、负责，与经理、工程师及商务人员保持良好的沟通。 3. 进行市场分析，制定市场宣传方案。有意者投简历至yzhcheng@gmail.com————————————————————————————————环球分析测试仪器有限公司环球分析测试仪器有限公司是多家世界著名高科技仪器厂家在中国的独家代理。

点击链接查看更多：[url]https://www.woyaoce.cn/service/info-37076.html[/url]Bruker Dension lcon系列作为布鲁克公司(Bruker AXS)原子力显微镜的旗舰产品，凝聚了多项行业领先的技术，是二十多年技术创新、客户反馈和行业应用的结晶。Dimension lcon的出现为科学和工业界在纳米尺度的研究带来了革命性的巅峰之作。Dimension lcon可以实现所有主要的扫描探针成像技术，其测试样品尺寸可达:直径210mm，厚度15mm。温度补偿位置传感器使Z-轴和X-Y轴的噪音分别保持在亚-埃级和埃级水平，并呈现出前所未有的高分辨率。对于大样品、90微米扫描范围的系统来说，这种噪音水平超越了所有的开环扫描高分辨率的原子力显微镜。全新的XVZ闭环扫描头在不损失图像质量的前提下大大提高了扫描速度。探针和样品台的开放式设计使lcon可胜任各种标准和非标准的实验。Dimension lcon的硬件和软件最大程度的利用了先进的布鲁壳AFM的模式和技术，如高次谐波共振模式等。并且独有的不失真高温成像技术采用对针尖和样品同时加热的方法，最大程度减少针尖和样品之间的温差,避免造成成像失真。Dimension lcon可广泛应用于材料科学，物理，化学，微电子，生命科学等领域和学科。[align=center][size=20px]应用范围[/size][/align]形貌分析：通过原子力显微镜我们可获得纳米材料、高分子材料、生物样品、金属材料、陶瓷材料、薄膜材料表面形貌信息。高度及粗糙度分析：通过原子力显微镜可以获得各种材料表面的起伏度信息、粗糙度信息、高度信息。性能分析：通过原子力显微镜可对材料的力学性能、电学性能、磁学性能、摩擦力、阻抗性能进行表征。[align=center][size=20px]检测案例[/size][/align][align=center]零维纳米材料:量子点检测案例[/align][align=center][img=image.png]https://img2.17img.cn/pic/kind/20210901/20210901144216_0978.jpg[/img][/align][align=center]二维纳米材料:石墨烯检测案例[/align][align=center][img=image.png]https://img2.17img.cn/pic/kind/20210901/20210901144315_4015.jpg[/img][/align][align=center]薄膜材料检测案例[/align][align=center][img=image.png]https://img2.17img.cn/pic/kind/20210901/20210901144356_1183.jpg[/img][/align][align=center][size=20px][/size][/align][size=20px]送样要求[/size]粉末样品:样品量≥10mg.液体样品:样品量≥1ml。块体样品:样品尺寸≤1cm*1cm(能支持的最大样品尺寸20cm，样品较大时请提前联系)。[align=center][size=20px]测试说明：[/size][/align]1.样品粗糙度或者粒径尽量不要超过 1um，含有较多有机杂质的需要提纯处理，否则影响测试。2.测试原子力前最好先用扫描电镜或透射电镜进行筛选，并提供相关的参考图片。3.C-AFM PFM KPFM测试要求样品必须导电。4.导电性能测试(C-AFM)：可同时得到样品形貌和电流分布图，也可进行选区I-V曲线测试。5.表面电势测试(AFM-SKPFM): 可对样品表面电荷进行半定性表征，能直接测量探针和样品之间的电势差。6.压电力测试(AFM-PFM)：可得到材料的静态电畴结构、电畴反转行为、慢弛豫过程、微区电滞回线等信息。7.磁学性能测试(AFM-MFM)：可得到样品微区磁畴的分布。8.力学性能测试(AFM-QNM)：可通过拟合力学曲线得到样品的杨氏模量，得到微区的杨氏模量分布，适用于较软样品高级纳米力学成像模式，可对有机物，高分子以及金属材料进行扫描，同时得到形貌和模量分布。

基本原则的原子力显微镜 在原子力显微镜基本上是一个微型悬臂式（一小束停泊在一端，而另一项目进入太空像跳水板） ，以纤巧，指出探针（同一个极为精细陶瓷或半导体尖端这是衡量规模的纳米）底下的一端，就像笔就测谎，甚至是地震。 不同的笔在纸上打印或其他媒介，一个原子力显微镜有几项改进，使原子级测量的吸引力或令人厌恶的部队之间的“笔”尖和样品的表面。 作为小费是吸引或排斥的样品的表面，是悬臂偏转。 的严重性挠度测量激光反映在斜角月底的调查。 绘图激光挠度对冰山上的立场样品表面创造了“地图”的丘陵和山谷的表面。 这提供了一个高分辨率图像的样品的表面。 在原子力显微镜有两种扫描模式。 在接触模式下，原子力显微镜的探针接触样品的表面。 作为文书拖累冰山的表面，检测设备的措施悬臂的垂直挠度和说明了当地的样品高度-实际上，衡量'排斥'势力之间的尖端和样品。 在非接触模式下，原子力显微镜的探针没有触及表面的样本，它的措施有吸引力的部队之间的冰山，表面画地形图的表面。 利弊原子力显微镜 一个原子力显微镜具有优势了扫描电子显微镜（ SEM ） 。 其中之一是，一个原子力显微镜可以功能的空气或液体的环境不同，电子显微镜，要求所有探头进行在真空中进行。 鉴于此，研究人员已经开始测试原子力显微镜的适宜用于研究活生物体在纳米尺度（例如，扫描和研究生物大分子如DNA等） 。 另一方面，一个原子力显微镜可以绘制三维图像 的扫描电镜只能提供二维图像或投影的抽样调查。 另一方面，一个主要的缺点是原子力显微镜是该地区它可以扫描和图像分辨率，它可以产生。 电子显微镜可以扫描面积测量毫米 一个原子力显微镜的扫描涵盖微米（纳米，事实上） 。 从这个角度看，可以很容易地看到，电子显微镜可以扫描的区域面积更广，速度超过了原子力显微镜。 原子力显微镜是相当新的，仍然有一些错误，但它是目前使用广泛的研究在电子，化学和生物领域包括深奥的学科磨损和粘附，清洗和腐蚀，以及作为东道主的其他应用软件。

近日，中国科学技术大学物理学院光电子科学与技术安徽省重点实验室张斗国教授课题组提出并实现了一种基于矢量光场调控原理的动量空间偏振滤波器件。将该滤波器件安装于传统无标记光学显微镜的出射端，它可以对出射光场的背景噪声进行高效抑制，进而采集到单个纳米尺度物体的高对比度、高信噪比光学显微图像。研究成果以“Cascaded momentum-space-polarization filters enable label-free black-field microscopy for single nanoparticles analysis”为题在线发表在综合性学术期刊《美国国家科学院院刊》（PNAS）。[align=center][img=,600,174]https://img1.17img.cn/17img/images/202403/uepic/18c3b2c4-6d3d-4349-b5d2-5c096ac0f32f.jpg[/img][/align]单纳米级物质的无标记光学成像对于各种生物医学、物理和化学研究极为重要。其中一个核心挑战是背景强度远远大于单个纳米物体的散射光强度。在这里提出了一种由级联动量空间偏振滤波器组成的光学模块，它可以进行矢量场调制，阻挡大部分背景场，使背景几乎变黑；相反，只有一小部分散射被阻挡，从而明显提高成像对比度。为了解决这个问题，张斗国教授课题组设计并实现了一种动量空间偏振滤波器件，它可在动量空间进行矢量场偏振调控，大幅度过滤、抑制各类背景噪声，只有单个纳米尺度物体的光散射信号能透过该滤波器件，被探测器采集到，从而实现了单个纳米尺度物体的高对比度、高信噪比的成像探测。[align=center][img=,500,508]https://img1.17img.cn/17img/images/202403/uepic/b5f63213-6cee-41d0-8519-3a9bc7fc69aa.jpg[/img][/align]作为一种应用展示，该动量空间偏振滤波器件被加载到传统全内反射显微镜（Total internal reflection microscopy, TIRM）的出射端，用于单个纳米尺度物体的成像与传感。加载该滤波器后，TIRM被转化为黑场光学显微镜（Black field microscopy (BFM)，相对于常规的无标记暗场光学显微镜，BFM具有更低（更黑）背景噪音，更高探测灵敏度）。BFM可以实时记录了此变化过程，证明BFM可应用于单个纳米颗粒化学反应过程的实时记录，为实时探测单个纳米尺度物体物性演化过程中所发生的物理-化学反应探测提供了新型光子学技术。该动量空间滤波器件的突出特点是：在不改变显微镜内部结构的情况下，它可以使常规的无标记光学显微镜，如表面等离激元共振显微镜、TIRM等近场光学显微镜，具有黑场成像功能，从而大幅度提升其对单个纳米尺度物体的探测灵敏度。本研究工作所发展黑场显微镜为单个纳米颗粒的分析提供了新平台，有望在生物学、物理学、环境科学和材料科学等领域得到广泛应用。该研究工作得到了科技部，国家自然科学基金委、安徽省科技厅、唐仲英基金会等项目经费的支持。相关样品制作工艺得到了中国科学技术大学微纳研究与制造中心的仪器支持与技术支撑。[来源：仪器信息网] 未经授权不得转载[align=right][/align]

在激光粒度仪的性能指标中测试下限标称为0.1甚至为0.02等,那么这部分粒度是怎么检测出来的呢?如果下限为0.1微米,那么探测器所能接收的前向角度至少要达到70度,或是有后向探测器.如果下限为0.02微米必须要应用后向散射技术,而且还要看后向激光器的波长,如果是普通的红光激光器,波长范围大概为600-800nm的激光器将无法区分纳米级颗粒后向的散射信号区别.所以必须采用波长更短的激光器,比如蓝光激光器,波长405nm等,这样纳米颗粒的后向信号区别会比较明显,但还要有特殊的采样与处理方式,否则测量下限0.02也是无法做到的.具体的方法不便说出,但用户可以采用纳米级颗粒去验证,最好中位径范围在0.05um以下的几种颗粒,比如中位径分别为0.02,0.03,0.04,0.05等几种接近单分散样品,确实在实际中这种验证比较困难,这里只是建议方法而已,希望用户能选择到一款性价比较高的仪器!尤其是检测中位径在0.2-0.02um的用户尤其要注意!

在萤光显微镜上，必须在标本的照明光中，选择出特定波长的激发光，以产生萤光，然后必须在激发光和萤光混合的光线中，单把萤光分离出来以供观察。因此，在选择特定波长中，滤光镜系统，成为极其重要的角色。 　 　萤光显微镜原理： 　　 光源：光源辐射出各种波长的光(以紫外至红外)。 　　 (B) 激励滤光源：透过能使标本产生萤光的特定波长的光，同时阻挡对激发萤光无用的光。 　　 (C) 萤光标本：一般用萤光色素染色。 　　 (D) 阻挡滤光镜：阻挡掉没有被标本吸收的激发光有选择地透射萤光，在萤光中也有部分波长被选择透过。 以紫外线为光源，使被照射的物体发出荧光的显微镜。电子显微镜是在1931年在德国柏林由克诺尔和哈罗斯卡首先装配完成的。这种显微镜用高速电子束代替光束。由于电子流的波长比光波短得多，所以电子显微镜的放大倍数可达80万倍，分辨的最小极限达0.2纳米。1963年开始使用的扫描电子显微镜更可使人看到物体表面的微小结构。 　 　显微镜被用来放大微小物体的图像。一般应用于对生物、医药、微观粒子等观测。 　　利用微微动载物台之移动，配全目镜之十字座标线，作长度量测。 　　利用旋转载物台与目镜下端之游标微分角度盘，配全合目镜之址字座标线，作角度量测，令待测角一端对准十字线与之重合，然后再让另一端也重合。 　　利用标准检测螺纹的节距、节径、外径、牙角及牙形等尺寸或外形。 　　检验金相表面的晶粒状况。 　　检验工件加工表面的情况。 　　（6）检测微小工件的尺寸或轮廓是否与标准片相符。

中国科技网讯 据每日科学近日报道，最近，美国爱荷华大学与国家能源部艾米实验室科学家合作，将光学显微与原子力显微技术结合起来，开发出一种能对单个生物分子进行三维测量的方法，准确性和精确性都达到纳米级别。最近出版的《纳米快报》上详细介绍了该技术。 现有技术只能从二维平面来测量单个分子，只有X轴和Y轴，新技术称为驻波轴向纳米仪（AWAN），让研究人员能测量Z轴，也就是高度轴，样本也不需要经过传统光学或特殊表面处理。 “这是一种全新类型的测量技术，可以确定分子Z轴方向的位置。” 论文合著者、爱荷华大学物理与天文学副教授珊吉维·西瓦珊卡说，他们承担的研究项目有两个目标：一是研究生物细胞彼此之间怎样粘合，二是开发研究这些细胞的新工具。为此他们开发了新的显微技术。 研究小组用荧光纳米球和DNA单链测试了新式混合显微镜。他们把一台商用原子力显微镜与一台单分子荧光显微镜结合。将原子力显微镜的悬臂针尖放置在一束聚焦激光束上，以产生驻波纹样。 驻波是频率和振幅均相同、振动方向一致、传播方向相反的两列波叠加后形成的波。波在介质中传播时其波形不断向前推进，称为行波；上述两列波叠加后波形并不向前推进，叫做驻波。将一个经处理发光的分子放置于驻波内，当原子力显微镜尖端上下移动时，分子表面相应于它距针尖的距离而起伏发出荧光，由此可以对这一距离进行测量。在实验中，该技术在测量分子时可以准确到1纳米内，测量可多次重复，精确度达到3.7纳米。 西瓦珊卡说，该技术可以通过显微镜来提供高分辨率数据，给医疗研究人员带来便利。还具有商业化潜力，促进单分子生物物理学的研究。（常丽君） 《科技日报》（2012-8-9 二版）

该综述是我今年刚发表的，希望对作AFM高分辨工作的同仁有所帮助，也欢迎讨论！论文题目：Atomic and Subnanometer Resolution in Ambient Conditions by Atomic Force Microscopy作者：Yang Gan（甘阳）作者单位：哈尔滨工业大学期刊：Surface Science Reports年/卷期/页：2009, vol. 64, 99-121DOI：http://dx.doi.org/10.1016/j.surfrep.2008.12.001全文：请见附件内容介绍：该综述就应用原子力显微镜（AFM）在常温常压下进行表面的原子、亚纳米分辨成像的理论和实验基础进行了详细介绍，并对已发表的相关研究成果作了全面深入的总结和分析，引用相关参考文献220篇。综述全文由10个部分组成：前言，AFM的原理和工作模式，AFM的分辨率，针尖－表面作用力，实现原子、亚纳米分辨成像的条件，假相和重现性，常温常压下原子分辨结果一览和分析，AFM晶格分辨成像－如何获得有用信息，生物样品的表面亚纳米分辨成像概述，展望。摘要：This article reviews the achievements of both atomic resolution and subnanometer (molecular) resolution in ambient conditions by atomic force microscopy (AFM). The principles of AFM and AFM operation modes are first introduced. The concept of resolution is then discussed. Various types of tipsurface forces, particularly the forces prominent in liquid and in air, are introduced. Different viewpoints on the conditions for achieving atomic/subnanometer resolution are reviewed. The important issues of reproducibility and artifacts are discussed in depth, with many examples from the literature. The central portion of this article is a critical review of the published results of atomic resolution, dating from 1993 up to 2007. The achievements of subnanometer resolution on biological samples are then briefly overviewed. Examples are given to demonstrate how to obtain reliable structural information from lattice resolution or pseudo-atomic resolution topographs. Finally, the challenges of AFM as a trustworthy high resolution technique are discussed.[~151407~]

一、显微镜的发展史 人的眼睛不能直接观察到比0.1mm更小的物体或物质的结构细节。人要想看得到更小的物 质结构，就必须利用工具，这种工具就是显微镜。 第一代显微镜：光学显微镜，极限分辨率是200纳米。由于光的衍射效应，分辨率受制于半波长，可见光的最短波长为0.4微米。 第二代显微镜：电子显微镜。1924年，德布罗意提出了微观粒子具有波粒二象性的假设，后来这种假设得到了实验证实。此后物理学家们利用电子在磁场中的运动与光线在介质中的传播相似的性质，研制成功了电子透镜，在此基础上于1933年发明了电子显微镜。TEM的点分辨率为0.2~0.5nm，晶格分辨率为0.1~0.2nm，扫描电镜的分辨率为6~10nm。它们的工作环境都要求高真空，并且使用成本很高，在一定程度上限制了电子显微镜的发展。 第三代显微镜：扫描探针显微镜。80年代初期，IBM公司苏黎世实验室的G.Binning 和H.Rohrer发明了扫描隧道显微镜，它的分辨率达到0.01纳米。STM的诞生，使人类第一次在实 间观测到了原子，并能够在超高真空超低温的状态下操纵原子。因为这两项重大的意义，这两位 科学家荣获了1986年的诺贝尔物理奖。在STM的基础上，又发明了原子力显微镜、磁力显微镜、近场光学显微镜等等，这些显微镜都统称扫描探针显微镜。因为它们都是靠一根原子线度的极细针尖在被研究物质的表面上方扫描，检测采集针尖和样品间的不同物理量，以此得到样品表面的形貌图像和一些有关的电化学特性。如：扫描隧道显微镜检测的是隧道电流，原子力显微镜镜测试的是原子间相互作用力等等。光学显微镜和电子显微镜都称之为远场显微镜，因为相对来说样品离成像系统有比较远的距离。成像的图像好坏基本取决于仪器的质量。而扫描探针显微镜的工作原理是基于微观或介观范围的各种物理特性，探针和样品之间只有2-3埃的距离，会产生相互的作用,是一种相互影响的耦合体系。我们称它为近场显微镜。它的成像质量不单单取决于显微镜本身，很大程度上受样品本身和针尖状态的影响。所以，我们在使用这一类的仪器时，要想得到好的图像，关键是要学会分析判断各种图像及现象的产生原因，然后通过调整参数，得到相对好的图像。　二、扫描探针显微镜（SPM）原理及设计思路　1、STM的产生 STM的工作原理是基于量子力学中的隧道效应。对于经典物理学来说，当一个粒子的动能低于前方势垒的高度 时，他不可能越过此势垒，即透射系数等于零，粒子将完全被弹回。而按照量子力学的计算，在一般情况下，其透射系数不等于零，也就是 说，粒子可以穿过比它能量更高的势垒，这个现象称为隧道效应。隧道效应是由于粒子的波动性而引起的，只有在一定的条件下，隧道效应才会显著。 扫描隧道显微镜是将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极，当样品与针尖的距离非常接近 (通常小于1nm)时，在外加电场的作用下，电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。由于隧道电流(纳安级)随距离而剧烈变化，让针尖在同一高度扫描材料表面，表面那些“凸凹不平”的原子所造成的电流变化，通过计算机处理，便能在显示屏上看到材料表面三维的原子结构图。STM具有空前的高分辨率(横向可达0.1nm，纵向可达0.01nm),它能直接观察到物质表面的原子结构图，从而把人们带到了纳观世界。 STM中针尖对样品作两维扫描 隧道电流与针尖样品表面距离呈负指数关系　2、STM恒高模式的产生和局限性 2.1 恒高模式 针尖以一个恒定的高度在样品表面快速地扫描，检测的是隧道电流的变化。当针尖扫描样品表面时，记录每点的隧道电流值，经过处理后得到图像。[/f