宽谱显微光度计

光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。 传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合，但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中，存在很大的局限性，比如无法灵活的选择实验所需的激光器（特别对于UV 波段的激光器，没有足够适用的配件），无法方便的与超低温制冷机配合使用，采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题，都是采用标准显微镜难以回避的问题。 北京卓立汉光仪器有限公司结合了公司十余年荧光光谱仪和光谱系统的设计经验和普遍用户的实际需求，推出了“OmniPLMicroS”系列显微光致发光光谱仪，有效的解决了上述问题，是目前市场上最具性价比的的显微PL 光谱测量的解决方案。性能特点： 一体化的光学调校——所有光学元件只需要在初次安装时进行调校，确保高效性和易用 性 简单易用的双光路设计——可随意在水平和垂直光路上进行切换，适用于各种常见的样 品形态 超宽光谱范围**——200nm-1600nm 视频监视光路——可供精确调整测试点 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性 多种激发波长可选**——325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等 自动mapping功能可选*——50mm×50mm测量区间，可定制特殊规格 电致发光(EL)功能可选*——扩展选项 显微拉曼光谱测量功能可选*——扩展选项 超低温测量附件可选*——提供10K以下的超低温测量*选配项，请详细咨询；**需根据实际需要进行配置确定。参数规格表*应用:不同制冷温度下GaN材料的PL谱激发波长：325nm，功率：20mW，制冷机最低制冷温度：10K ZnO材料的PL谱: 激发波长：325nm ZnO 薄膜样品在382nm 处有一个特别强的荧光谱带，而在500 ～ 600nm 波段，有个弱的可见光荧光谱带。通过研究这些谱带，可以反映ZnO 表面态对荧光的影响以及晶型和缺陷信息。

定制化原位显微光学/光谱学测试系统Customized In-situ Optical / Spectroscopic MicroscopeSystem我公司集成了自主研发的激光自动聚焦等自动化功能的核心光学/光谱学模组均采用模块化设计，物镜下方没有任何零部件占用空间，并且具备完整的软硬件接口，可以方便地集成到客户的工况环境或者研究机台上，为客户提供定制化的测试系统。技术特色：激光自动聚焦：&bull 显微光学和光谱学模组都可配备激光自动聚焦模块。

Flex One 显微光致发光光谱仪欲了解更多信息请拨打：010-56370168-601 性能特点：● 一体化的光学调校——所有光学元件只需要在初次安装时进行调校，确保高效性和易用性● 简单易用的双光路设计——可随意在水平和垂直光路上进行切换，适用于各种常见的样品形态● 超宽光谱范围**——300nm-2200nm● 视频监视光路 ——可供精确调整测试点● 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性 ● 多种激发波长可选**——325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等● 自动mapping功能可选*——50mm×50mm测量区间，可定制特殊规格● 电致发光(EL)功能可选*——扩展选项● 显微拉曼光谱测量功能可选*——扩展选项● 超低温测量附件可选*——提供10K以下的超低温测量*选配项，请详细咨询； **需根据实际需要进行配置确定。产品简介： 光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合，但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中，存在很大的局限性，比如无法灵活的选择实验所需的激光器（特别对于UV 波段的激光器，没有足够适用的配件），无法方便的与超低温制冷机配合使用，采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题，都是采用标准显微镜难以回避的问题。 北京卓立汉光仪器有限公司结合了公司十余年荧光光谱仪和光谱系统的设计经验和普遍用户的实际需求，推出了“Flex One( 微光）”系列显微光致发光光谱仪，有效的解决了上述问题，是目前市场上最具性价比的的显微PL 光谱测量的解决方案。( 产品图片仅供参考，以实际系统配置为准)系统组成● 激发光源部分：紫外-近红外波段各种波长激光器● 显微光路部分：优化设计的专用型显微光路● 光谱采集部分：影像校正光谱和高灵敏型科学级CCD或单点探测器和数据采集器● 样品台支架部分：xyz三维可调样品台（手动或自动）、超低温样品台参数规格表：主型号Flex One光谱范围300-2200nm光谱分辨率0.1nm激发光可选波长325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等探测器类型制冷型CCD 2000×256制冷型InGaAs512×1制冷型InGaAs512×1有效范围300-1000nm800-1700nm800nm-2200nm空间分辨率100μm注*：以上为基本规格，详细规格依据不同配置的选择会有差异，详情请咨询！InGaN/GaN多量子阱的PL谱和EL谱测试 ● 样品提供：KingAbdullahUniversity ofScience and Technology提供的基于蓝宝石衬底MOCVD 生长的 InGaNGaN 量子阱● 测试条件：325nm激发，功率30mW● 光谱范围：340-700nm1. 光致发光(PL)光谱测量分别针对材料的正极( 红色) 和负极( 绿色) 测试得到光致发光光谱曲线如下，GaN 的本征发光峰365nm 附近以及黄带，InGaN 的发光峰475nm 附近。 2. 电致发光(EL)光谱测量将材料的正负极接到直流电源的正负极，电压加到2.5V 时可以有明显的蓝光发射，测量其电致发光光谱曲线如下（红色），峰值在475nm 附近。

OmniPL-MicroS组合式显微光致发光光谱系统 显微光路通常具有较高的通光效率，用在荧光光谱测量中，不仅可以进一步提升系统的信噪比，更可以实现微区测量。我公司除了可以提供“Flex One(微光）”系列显微光致发光光谱仪一体机，还为组合式系统的客户提供了两种类型的显微光路模块，一种是不带显微镜的水平光路显微模块，另一种是带有显微镜的垂直光路显微模块，它们都可以与我公司的光谱及配件组合成为显微光致发光光谱系统。 性能特点● 模块化的结构设计——水平和垂直光路可选，组合方便● 超宽光谱范围*——200nm-1600nm● 默认适配激光波长——325nm● 其它激光器波长可选*——405nm/532nm/633nm等● 电致发光(EL)功能可选**——扩展选项● **——可提供≤10K的超低温测量*需根据实际需要进行配置确定；**选配项，请详细咨询。 参数规格表(*)主型号OmniPL-MicroS光谱测量范围200-1600nm荧光光谱分辨率0.1nm激光波长325nm探测器类型制冷型CCD2000×256制冷型InGaAs512×1单点PMT单点制冷型InGaAs探测光谱范围200-1000nm800-1600nm200-870nm800-1600nm数据采集器--单光子计数器或锁相放大器锁相放大器注*：以上为基本规格，详细规格依据不同配置的选择会有差异，详情请咨询！OmniPL-MicroS-A垂直光路型 垂直光路型系统架构基于标准显微镜体和光谱仪等模块组合而成，光路垂直更有利于一般的样品放置，测量过程更方便。OmniPL-MicroS-B 水平光路型 水平光路型的系统不采用显微镜体，光路水平输出，需将样品竖直放置，系统可以配置多维可调的样品架，可以夹持固体、液体等多种类型的样品；水平光路更适合于液体样品，以及与低温制冷机配合使用时的光学布局。OmniPL-MSA-325型显微PL光谱系统主要技术参数（垂直光路型）系统指标与功能● 荧光光谱测量范围：350-800nm● 激发波长：325nm● 样品形态：固态（片状、粉末）● 预留CCD接口● 可升级电致发光（EL）测量● 可升级扩展至NIR波段测量（~1600nm）详细配置及规格参数- 光源? 类型：HeCd激光器? 功率：≥20W- 显微光路模块（OmniPL-KS-A）? 显微物镜：20X紫外? 光谱适用范围：250-800nm? 标准显微镜（带样品X-Y手动调节台）? 内置CCD监视光路? 可加装滤光片轮 - 荧光光谱仪（Omni-λ500i）? 焦距：500mm? f/#：f/6.5? 光谱覆盖范围：200-1000nm? 光谱分辨率：优于0.05nm@435.8nm（1200g/mm光栅）? 入口形式：狭缝? 出口形式：狭缝+CCD? 狭缝宽度：0.01-3mm? 通讯接口：USB2.0? 光谱仪整体支架- 光电倍增管（PMTH-S1-R928）? 光谱响应范围：200-870nm? 配HVC1800高压稳压电源- 单光子计数器（DCS202PC）? 有效计数率：≥5Mcps- 计算机（JSJ）? 一体机，安装光谱采集软件- 光学平台（OTB15-10）? 台面尺寸：1500*1000mmOmniPL-MSB-325型显微PL光谱系统主要技术参数（水平光路型）系统指标与功能● 荧光光谱测量范围：350-800nm● 激发波长：325nm● 样品形态：固态（片状、粉末）、液态● 预留CCD接口● 可升级扩展至NIR波段测量（~1600nm）● 可升级至超低温（10K）测量功能详细配置及规格参数- 光源? 类型：HeCd激光器? 功率：≥20mW- 显微光路模块（OmniPL-K1-325）? 显微物镜：20X紫外? 光谱适用范围：250-800nm? 样品架：固体（片状、粉末）、液体比色皿样品池，可五维手动调整? 内置监视光路 - 荧光光谱仪（Omni-λ500i）? 焦距：500mm? f/#：f/6.5? 光谱覆盖范围：200-1000nm? 光谱分辨率：优于0.05nm@435.8nm（1200g/mm光栅）? 入口形式：狭缝? 出口形式：狭缝+CCD? 狭缝宽度：0.01-3mm? 通讯接口：USB2.0- 光电倍增管（PMTH-S1-R928）? 光谱响应范围：200-870nm? 配HVC1800高压稳压电源- 单光子计数器（DCS202PC）? 有效计数率：≥5Mcps- 计算机（JSJ）? 一体机，安装光谱采集软件- 光学平台（OTB15-10）? 台面尺寸：1500*1000mm应用举例某用户提供的ZnO参杂发光材料（测试设备：OmniPL-MSA-325显微PL光谱系统）

OM512智能光度计是小型多功能的光学计量仪器，集照度计、辐射计、光度计以及电流计于一体，可广泛用于光源辐射度、照度、亮度、微光电流等光度学范畴内项目的检测和计量。仪器特点◆多功能，高精密度◆采用高亮度、大字符背光LCD显示，清晰易读◆在系统编程功能便于系统升级以及增加新的探测器校正档案◆操作菜单智能化，按键高度集成，简明快捷◆最大可存入30组探测器校正参数值◆所有校正均遵循国家计量标准◆具有串口指令功能，为客户提供应用软件或控制软件的开发平台主要功能说明◆通道Ⅰ、Ⅱ 能够并行工作，分别可以连接不同种类的探测器，探测器校正值可根据用户的需要进行添加。◆可将测量值做N次平均，以作为微弱信号的测量，N＝1～99。◆用户可以设定五组参数值组，其中包括功能、校正参数值、N次平均数等的设定，供下次开机时直接调用。◆Ratio可以连续读数，以便做连续穿透或吸收值的测量。◆使用者可以自行设定读数的上、下限值，当被测量值超出所设定的上、下限值，本机会分别输出一个开关信号，特别适合用于工业客户量测，作自动判别用。◆串口可以读出本机存储的校正参数值，也可自行输入参数值。也可查询某一波长的值或测量时当前使用的校正参数值技术指标◆精确度： ± 0.3% +1count (10e-3 to 10e-7) ± 1.2%+1count (10e-8 to 10e-9)◆灵敏度: 2pA◆A/D转换精度：14 2/1 bit◆温度漂移： 0.01%/℃◆电源电压： AC 90～230V 50-60Hz◆重量: &le 1.2 Kg◆指示器: LCD 20*2 大字符背光显示屏◆显示范围： 0～999.999◆量程范围： 2nA～2mA，可以自动或手动控制◆与计算机可进行RS-232串行通讯◆正常工作温度： 0～45℃ 主要应用领域◆LED及高亮度 OLED 产业◆照明器制造产业◆LCD指示器制造产业◆光纤主/被动组件制造产业◆激光工业及研发配备探测器种类和功能探头种类测量单位亮度计探头Lm照度计探头Lx激光功率探头W光纤功率探头dbm发光二极管电光源探头cd主要功能说明◆OM512加上UDTI的光度探头，就会变成一个功能强大的光度计。仪器的内部微处理器可以使操作者通过面板上的4个功能键进行测试。数据会即时显示在20字元带背光LCD显示屏上。◆OM512可以单通道独立使用也可以两个通道同时使用,分别测量不同的光源或进行实时比率测量。单通道独立使用时具有lightbar直观显示功能。◆OM512 也可以通过RS232串行通讯接口由计算机进行控制，测试由程序远程控制，数据的发送、接受都会显示在电脑监视器上。一台计算机一次可以控制多台OM512。◆校正数据存储在微处理器中，出厂前探测器的校正资料已经保存在片内。如果客户需要存入新的校正资料时，只需要将校正资料传回，用户只需通过一个通用软件将新的校正资料从电脑导入机器内即可。◆OM512同时提供了一些其它的减少校正工作的功能。测量可以通过"Linear" 或"Log" 模式进行, "Log Ratio" 和 "Ratio"功能可以对连续多次的测量进行对比。"Responsivity" 功能可以让操作者用任何校正的探头使用OM512。◆使用者可以自行设定读数的上、下限值，当被测量值超出所设定的上、下限值，本机会分别输出一个开关信号，特别适合用于工业客户量测，作自动判别用。◆可将测量值做N次平均，以作为微弱信号的测量，N＝01～99。◆用户可以设定五组参数值组，其中包括测量功能、校正参数值、N次平均数等的设定，供下次开机时直接选用。探头列表---下载

FLEXTM是来自于CRAIC科技公司的一款经济但是功能强大的紫外-可见-近红外显微分光光度计。FLEXTM可以对微米量级的样品进行无损的吸收、反射和荧光光谱测试。FLEXTM显微分光光度计从命名上可以看出是一款具有非常好灵活性的仪器。FLEXTM能够只使用一个镜头测量微光样品从深紫外到近红外范围的光谱。设计的灵活性和经济性，模糊了科研级和工业使用的显微分光光度计的界限。仪器操作简单易用和功能的强大适合于法医鉴定和工业品质检测。FLEXTM显微分光光度计的特点是将高灵敏度CCD阵列探测器支柱整合到光度计上。每个探测器都是用TE冷却技术达到降低噪声和保证长时工作稳定性的要求，这使得仪器保持了非常优良的信噪比。FLEXTM包含了一台紫外-可见-近红外显微镜，一套高分辨率彩色成像系统，紫外防护目镜，一台运行Windows7专业版系统的主机和一套整合光谱分析/仪器控制的软件包。FLEXTM操作简单、使用长久耐用，能够提供出非常尖端的实验结果。应用痕量证据 文检 表面等离子共振 半导体薄膜厚度 光谱范围240 to 900 nm反射光谱范围 400-900nm荧光光谱范围400-900nm荧光激发365-546nm采集面积1-10000平方微米荧光发射254-546nm光谱分辨率1-15nm可调探测器CCD阵列探测器制冷半导体制冷扫描时间（全光谱）最小4ms成像彩色成像分辨率高达500万像素操作系统Windows 7 ，8

TIDAS MSP 400系统适用范围 : - 在透射模式下可以测量光纤的紫外/可见光光谱 - 关于反射率（明/暗场）所有应用程序，偏振或荧光，取决于所选择的配置 - 获取时间小于1秒 - 通过J&M TidasVISION软件在线视频图像和光谱的同步采集 - 灵活可调的控光装置 - 灵活运用于材料学和生物学(MSP 400/800) - 光电倍增器或 CCD 探测器 - 可适应不同制造商的显微镜概述 有机发光二极管（OLED）正在开发的下一代显示器和光源。TIDAS J&M MSP400/800显微分光光度计在OLED/TFT/LED研究领域中广泛，目的是衡量和比较的光谱输出，每个常用的OLED器件的微观像素的亮度和颜色的一致性。 有机发光二极管（OLED）有一个发光的电致发光层，在支持矩阵有机分子组成。显示，这层是形成有序的行和列数以百万计的微观像素。由于不同的有机物是用来产生不同的颜色，与不同的有机化合物像素可以产生全彩色，高分辨率显示的不同颜色。 OLED显示单元，不像传统的液晶显示器（LCD），最大的优点是像素结合光源和颜色源。这意味着，OLED显示屏更轻更薄，比一个液晶显示屏，使用更少的电力。然而，强度和颜色的光发射器件上的一致性是至关重要的。这是TIDAS J&M MSP400/800分光光度计得到使用的关键。 TIDAS J&M MSP400/800是一种附加在显微镜上的分光光度计。它允许用户获取的图像和微观样本地区迅速，并迅速获得的光谱。当添加到适当的显微镜或探针台，TIDAS J&M MSP400/800可以用来衡量一个OLED显示屏的每个像素的颜色和强度。像素可以进行比较的强度和色彩的一致性或地图，可为每个设备生成。如TIDAS J&M MSP400/800可以获取几毫秒的时间顺序上的光谱仪器，整个OLED显示器可以快速，准确地映射。这将确保色彩和整个装置的强度，以及从设备到设备的一致性。以及在平板显示器领域，用来检查红、绿、蓝点阵的薄膜厚度和杂质水平。 同时TIDAS J&M MSP400/800在半导体工业领域，可以用来发现能发荧光的微小污染物，以及在硅片被切成芯片前测量硅衬底上薄膜的厚度。J&M 公司已在欧洲、美国、南非和亚洲安装了许多系统。TIDAS MSP 400 使用J&M的TIDAS MSP 400 你可测量在透射模式下光纤的 VIS 光谱和在反射模式下（ 明场和暗场 ）光纤与涂料的VIS光谱。光谱仪的波长范围是360 nm到780 nm 。对于偏振实验，补偿的偏光板可嵌入到光纤束中。偏振光谱受限于光学显微镜，从450 nm 到700 nm。在反射模式下，光谱范围为360 nm 到 780nm 。荧光测量和多套滤波器都是可用的（紫外光，蓝光和绿光激励是正常标准 ）。此外，快速扫描的单色光源（260 nm 到 680 nm）也是可用的。全光谱（240 nm 到 900 nm ）通常可在小于1秒内获取。噪声和采集速度取决于所选择的领域 ，由灵活可调测量隔膜给出。使用 40X 物体时，最小光斑区域是2&mu m 到2&mu m 的。如果显微镜提供紫外光能力，MSP400可升级到MSP 800。 MSP 400 与 Zeiss （蔡司）显微镜 MSP 400 与 Leica （莱卡）显微镜软件和配件 J&M 的软件可方便仪器的控制。附加可用的软件包提供数据处理、文档编制、导出选项和存储的多种功能。您可以创建你自己的谱库为有效的库搜索。该仪器采用了CIE色彩评估体系，并能够产生互补的色度坐标值（CCC 认证）。波长和光度计的精度可通过灰色或钬滤波器实现简易的检查，这作为配件。 样品光谱（圆珠笔检验) TFT分析测量 ◆ 大显示屏质量控制 ◆ 根据实验室测试值来确定其色彩分析校准 ◆ 杂点区分 ◆ 工作原理：通过365nm的激发荧光来分析显示屏的反射波长，从而监控发射波长的变化 OLED分析测量 ◆ 确定最大发射波长 ◆ 测量外加电压的条件下的发射光的线性变化 ◆ 通过软件来区分计算发光材料上的杂色点 ◆ 工作原理：通过对OLED提供不同的电压来检测发射波长的反射特性

美国CRAIC 20/30 PV显微分光光度计，是CRAIC公司的新型号，集成了紫外－可见－近红外光谱仪、拉曼光谱仪、成像系统于一身，根据产品不同，可以做紫外-可见-近红外（200-2500nm）的光谱分析，还可以集成显微拉曼系统，同时科研级光谱仪和高分辨彩色数字成像系统都使用了新的显微镜光路系统及科研级光学接口。结合显微学和光谱学的优势，用于微小样品或样品的微小区域的光谱和色度分析，并通过对样品的反射、透射、荧光及偏振光谱、拉曼测量，完成微量物样分析。具有科研级高分辨探测器（CCD），半导体制冷探测器，增强稳定性；科研级光学接口，高分辨彩色成像系统。新的操作系统，应用软件使用简单，操作方便。 开创性20/30 PV系列显微微分光度计为全光谱显微谱学设立了新的标准。具有前沿科技水平的20/30 PV系列可在样品采样区域进行吸收、透射、反射、荧光以及拉曼等光谱数据采集和成像。光谱范围从紫外到近红外，具有自动化控制的光谱和图像分析软件，拥有自动化、简便性和长时间稳定性的特性。20/30 PV系列可应用的领域包括材料科学、工业显微观测、法医痕迹鉴证、生物样品分析测试等。 高灵敏度固体阵列探测器使用热电冷却，具有较高的信噪比和长时间稳定性。高分辨数字成像系统通过CCD收集深紫外和近红外照射后样品的高分辨彩色图像。完善而强大的软件功能不仅控制显微镜、光度计和数字成像，还能提供先进的分析处理能力，如薄膜厚度测量等。主要参数：光谱范围200-2500nm成像深紫外到近红外荧光光谱范围300-1000nm荧光激发250-546nm采样面积1-100um光谱分辨率1-15nm可调检测器CCD、InGaAs检测器制冷热电扫描时间（全光谱）4ms测量结果：1、透射光谱/成像 2、反射光谱/成像 3、荧光光谱/成像 4、磷光光谱/成像 5、偏振光谱/成像 6、拉曼光谱 7、膜厚测量、色度测量、折射率测量Apollo II 拉曼显微光谱激发源波长（nm）405、532、638、785、830带宽0.02nm可输出功率50-100mW光谱仪光谱范围50-3000cm-1光谱分辨率10cm-1采样区域1um（10X@785nm） 石墨烯样品拉曼显微光谱 主要特点l 稳定、可靠、高性能l 紫外-可见-红外 吸收、反射、荧光光谱及成像l 可集成1-3个激发源l 可升级共聚焦显微镜l 可选高空间分辨率拉曼光谱Mappingl 可选拉曼动态显微镜l 提供NIST可追溯样品

视频影像和数据的同步采集是该仪器的亮点。可灵活调节的测量膜片标记你感兴趣的样本图像区域。超宽光谱显微分光光度计TIDAS MSP 400 TIDAS MSP 系统适用范围: - 在透射模式下可以测量光纤的紫外/可见光光谱-关于反射率（明/暗场）所有应用程序，偏振或荧光，取决于所选择的配置-获取时间小于1秒-通过J&M TidasVISION软件在线视频图像和光谱的同步采集-灵活可调的控光装置-灵活运用于法医学(MSP 400/800)，岩相学(MSP 200)，材料学和生物学(MSP 200/400)-光电倍增器或 CCD 探测器-可适应不同制造商的显微镜 概述 有机发光二极管（OLED）正在开发的下一代显示器和光源。TIDAS J&M MSP400/800显微分光光度计在OLED/TFT/LED研究领域中广泛，目的是衡量和比较的光谱输出，每个常用的OLED器件的微观像素的亮度和颜色的一致性。有机发光二极管（OLED）有一个发光的电致发光层，在支持矩阵有机分子组成。显示，这层是形成有序的行和列数以百万计的微观像素。由于不同的有机物是用来产生不同的颜色，与不同的有机化合物像素可以产生全彩色，高分辨率显示的不同颜色。 OLED显示单元，不像传统的液晶显示器（LCD），最大的优点是像素结合光源和颜色源。这意味着，OLED显示屏更轻更薄，比一个液晶显示屏，使用更少的电力。然而，强度和颜色的光发射器件上的一致性是至关重要的。这是TIDAS J&M MSP400/800分光光度计得到使用的关键。TIDAS J&M MSP400/800是一种附加在显微镜上的分光光度计。它允许用户获取的图像和微观样本地区迅速，并迅速获得的光谱。当添加到适当的显微镜或探针台，TIDAS J&M MSP400/800可以用来衡量一个OLED显示屏的每个像素的颜色和强度。像素可以进行比较的强度和色彩的一致性或地图，可为每个设备生成。如TIDAS J&M MSP400/800可以获取几毫秒的时间顺序上的光谱仪器，整个OLED显示器可以快速，准确地映射。这将确保色彩和整个装置的强度，以及从设备到设备的一致性。以及在平板显示器领域，用来检查红、绿、蓝点阵的薄膜厚度和杂质水平。同时TIDAS J&M MSP400/800在半导体工业领域，可以用来发现能发荧光的微小污染物，以及在硅片被切成芯片前测量硅衬底上薄膜的厚度。J&M 公司已在欧洲、美国、南非和亚洲安装了许多系统。 TIDAS MSP 400 使用J&M的TIDAS MSP 400你可测量在透射模式下光纤的VIS光谱和在反射模式下（明场和暗场）光纤与涂料的VIS光谱。光谱仪的波长范围是360 nm到780 nm。对于偏振实验，补偿的偏光板可嵌入到光纤束中。偏振光谱受限于光学显微镜，从450 nm 到 700 nm。在反射模式下，光谱范围为360 nm 到 780 nm。荧光测量和多套滤波器都是可用的（紫外光，蓝光和绿光激励是正常标准）。此外，快速扫描的单色光源（260 nm 到 680 nm）也是可用的。全光谱（240 nm 到 900 nm）通常可在小于1秒内获取。噪声和采集速度取决于所选择的领域，由灵活可调测量隔膜给出。使用40X物体时，最小光斑区域是2μm到2μm的。如果显微镜提供紫外光能力，MSP 400可升级到MSP 800。 软件和配件J&M的软件可方便仪器的控制。附加可用的软件包提供数据处理、文档编制、导出选项和存储的多种功能。您可以创建你自己的谱库为有效的库搜索。该仪器采用了CIE色彩评估体系，并能够产生互补的色度坐标值（CCC认证）。波长和光度计的精度可通过灰色或钬滤波器实现简易的检查，这作为配件。 与蔡司显微镜连接 汽车现代化的效果涂料摄影图片 样品图样应用- 在VIS 范围检验光纤- 在 VIS 范围分析微粒- 文件的谁- TFT显示器的质量控制- LED的分析视频成像在线视频影像和数据的同步采集是该仪器的亮点。可灵活调节的测量膜片标记你感兴趣的样本图像区域。 TIDAS MSP 200 适用于岩相学、材料学与生物学 TIDAS MSP 400 适用于法医学、材料学与生物学 TIDAS MSP 800 适用于法医学

508 PV&trade 通用型显微镜分光光谱仪设计用来给您的光学显微镜或探测台增加先进的光谱学、彩色成像、薄膜厚度测量和色度学等功能。拥有前沿的光学、电子学和软件等优势，它可以用来更新老旧的显微分光计。 508 PV&trade 通用型显微分光光谱仪附加到开放的图像端口（photoport）上让您能够收集到纤显微样品的透射比、反光率、偏振甚至是荧光性和发冷光性能。通用型显微分光光度计拥有CRAIC公司产品Lightblades&trade 分光光度计的特点，可测量光谱的范围是紫外光到近红外光。您使用508PV&trade 甚至可在不破坏的情况下迅速轻松地获得次微米级样品高质量的光谱的图像。 508 PV&trade 通用型显微镜分光光谱仪是一款理想的多用途仪器，例如用于平板显示器像素点的色度学、镜质体煤块和源岩的反射测定法，或者是光学器件和半导体的薄膜厚度测量。主要特点 拥有 Lightblades&trade 分光光度计的特点，专为显微光谱学设计 用户可选择从深紫外光到近红外光范围的光谱 250至1000纳米可用光谱范围 永久调整，可变测量区域 热电冷却可用来改善信噪比和保持长时的稳定性 分辨率高，最高可达5百万像素，还带有数字彩色成像...... 拥有Lambdafire&trade 分光计、成像控制和分析软件，Lambdafire&trade 也包括触屏控制。 透射比显微光谱学 反射率显微光谱学 偏振显微光谱学 薄膜厚度测量 显微样品的色度学 用rIQ&trade 包测量折射率 自动操作 对样品温度精确地控制 包括数据分析、光谱数据库、图像分析以及更多的专业软件 NIST可追踪显微分光计标准技术参数描述：（1）光谱范围包括紫外-可见-近红外光谱250-2100nm。（2）光谱分辨率可选择1至15nm不同光谱分辨率，可根据具体应用预先进行选择。（3）探测器CCD探测器，带有半导体制冷功能。（4）多种检测模式具有透射、反射、偏振、荧光等多种检测模式。（5）采样面积六种永久校准的采样面积可供选择，最小采样面积100倍物镜下0.7μm2，50倍物镜下0.95μm2，能够满足干酪根测试中对微小镜质体的测量要求。能够在成像系统中看到以便精确选取样品的微小区域，进行光谱测量。（6）结构光谱仪和成像系统合并为一体，高度集成，无外部光纤连接，无额外光路，避免引入误差, 接收光学距离( 从显微镜到光谱仪)小于30cm。仅需一套光学仪器即可在紫外-可见-近红外光谱范围实现吸收或透射，反射及偏振测量。（7）数码成像系统配有高分辨率数码成像系统，分辨率600万像素。能够在显示器上清楚地看到采样区域，既可以实时成像又能拍摄和保存图像，方便与光谱进行对比分析。8）光谱扫描速度最快4ms（9）接口USB接口。（10）背景灯具有背景灯确定测量位置，并用于精确调节测量光斑中心及大小。（11）暗电流校正暗电流自动校正，其灵敏度和稳定性及精度均高。（12）光路抗干扰光路里加入电子控制Shutter，可自动去除背底光,，有效去除外界干扰，保证测量准确性和设备稳定性。分光光度计范围200-900nm 350-1000nm 900-1700nm 900-2100nm荧光激发465-546nm激光光源可选采集面积1-10000平方微米光谱分辨率1-15可调探测器CCD阵列探测器制冷半导体制冷扫描时间（全光谱）最小4ms高分辨率彩色显像包括成像分辨率高达500万像素制图与编程可选操作系统Windows7,8将显微光度计添加到任何显微镜或者探针站上： 508PV&trade 旨在为的显微镜增加微区一体化多光谱工作站功能，或可用来升级旧显微分光光度计。 508 PV&trade 的光谱范围从深紫外到近红外，结合了多种形式的光谱和高分辨率彩色成像。 508 PV&trade 安装在显微镜的开放式光端口上，能够测量吸光度、反射率、偏振、荧光和光致发光。功能还包括高空间分辨率光谱映射、比色法、动力学和小点薄膜厚度测量。前沿领域：荧光光谱和发冷光光谱：508 PV&trade 可以配置为甚至亚微米样品的荧光和发光光谱。具有Lightblades&trade 技术和从紫外线到近红外测量荧光和发光的能力，508 PV&trade 是材料科学、生物学、地质学等光致发光分析的强大工具。高分辨率彩色数字成像：508 PV&trade 具有高分辨率、彩色数字成像和复杂的软件。它可以让你同时看到分光光度计的入口孔径和样品。这使得它非常容易对准样品的测量和捕获全彩色图像在任何测量条件下。紫外-可见-近红外光谱508 PV&trade 结合了成像系统，设计用来附加到任何带有图像端口的显微镜上。它可以配置成工作范围为深紫外光到可见光再到近红外光如此宽广的范围，让您的系统拥有测量如膜厚度和色度学等数据的新功能。508 PV&trade 带有 Lightblades&trade 科技的特点，甚至允许您测量微米级样品的透射比、反射率、偏振和荧光光谱。 荧光性The 508 PV&trade 甚至可以装配用来测量微米级样品的荧光性和冷光光谱学性能。因为508 PV&trade 带有 Lightblades&trade 科技的特点，也有测量从紫外光到近红外光的荧光性和冷光性能，所以它是显材料科学、生物学、地质学等显微荧光测定的强大工具。偏振偏振显微光谱学经过装配， 508 PV&trade 可以获得显微样品的偏振光谱的图像。它带有科技的特点，它的偏振显微光谱学能力让您能够快速轻松地获取双折射以及其他类型样品的光谱。 光谱表面映像光谱表面映像由自动光谱分析软硬件包和用显微镜立体分辨得到的样品5D映像组成。样品吸光度、透射比、反射率、释放光谱和拉曼光谱的5D图像可以生成。 成像和显微镜高分辨率数字彩色成像 508 PV&trade 分辨率高，复杂精细的软件使它能够数字彩色成像。它让您能够同时看见分光光度计入口光圈和样品，这样您就能够轻松地测量样品并获得任何条件下的全尺寸彩色图像。

CoalPro III™ 光岩相学系统由CRAIC科技公司生产，是一款设计用来做有机岩相分析的显微光度计，它采用的标准测试方法是ISO 7404-5 和ASTM D2798。此显微光度计配置用来测量煤、油母岩质和油源岩的反射率。但是，CoalPro III™ 设计非常灵活，它预示着下一代测试协议、荧光和显微成像。CoalPro III™ 系统结合了新光学探测器和CRAIC CoalPro™ 软件，采用ISO 7404和ASTM D2798标准测试方法给煤、油母岩质和油源岩的能量分等级。该系统让您能够采集到每个测量点的全彩图像，并且能按您的意愿实现全自动化。CoalPro III™ 可以升级成308 Coal™ 显微镜分光光度计，以此来测量煤、油母岩质、油源岩和其他石油化工产品完整的反射光谱和光谱荧光性。CoalPro III™ 系统没有可以移动的部分，用户友好，也很耐用。设计中不忘灵活性和速度， CoalPro III™ 系统可以快速地测量镜质体反射率，也能用来做其他类型光谱学和岩相学的分析和成像。它灵活的设计将会让您轻松适应您在煤炭检测方法和自己实验上做出的改变。 主要特点 探测器灵敏度高，噪音低，稳定性好 采用ISO 7404和ASTMD2798标准的CRAIC?CoalPro™ ?软件计算出每个反射率数据 可用的CRAIC镜质体反射材料 546纳米反射率的精确测量 可以升级到全系列的显微分光计 可以升级到荧光显微分光计 唯一的煤反射系统也结合了数字彩色成像 用提供的技术更新您的旧煤系统 手动或全自动操作 样品温度的精确控制 包括数据分析、光谱数据库、图像分析等专用软件 操作、维护简单 出自显微分光计专家之手荧光性前沿的显微荧光测定法CoalPro III™ 也能迅速测出煤、油母岩质和油源岩的荧光强度，而且测量非常容易。CoalPro III™ 能够测量和描绘发射强度，是一款地质学样品（包括流体包裹体）光谱分析的强大工具。显微成像高分辨率数字彩色成像CoalPro III™ 用复杂的软件呈现高分辨率、数字彩色的图像，让你同时看见分光光度计入口光圈和煤样品。这样您就能在任何测量条件下轻松调整样品以达到更好的测量，并捕捉到全彩图像。应用Application应用 镜质体煤反射计 有机岩相学 油母岩质分析 油源岩分析 岩石化学 反射率显微光谱学 透射比显微光谱学 荧光性显微光谱学 彩色成像 矿物学分析 宝石学 CoalPro III显微镜分光光度计可以装配用来获得从深紫色光到近红外光区域的光谱，它附加到显微镜上后可以获得吸光率、反射率和荧光性的光谱。

阿波罗二号TM拉曼显微光谱仪——先进的拉曼显微镜它是CRAIC科技研制的拉曼光谱仪，具有独特的光学布局，它为可靠性，灵活性，而设计，该系统具有功能强大,易于使用，研究复杂等优点。该系统具有强大的多种功能，适合常规的样品分析，阿波罗二号TM拉曼光谱仪可以让你专注于你的研究，而不必担心仪器设计。阿波罗二号TM具有独特的固态结构设计使其具有可靠性和易用性，它可以合并三种激光器以及一系列不同光刀锋拉曼光谱分度计来大程度匹配你的需求 。例如，固态拉曼光谱仪对每个激光器进行优化，以大限度地提高灵敏度和测量速度，或者该系统可以合并并扫描拉曼光谱仪，以大限度的光谱范围和光谱分辨率，阿波罗2号TM还可以添加到CRAIC 紫外-可见光-近红外显微分光光度计中，以提高 紫外-可见光-近红外吸光度、反射率、荧光、偏振和拉曼光谱。阿波罗二号TML灵活的设计使你能构建出符合你要求的系统。主要特点• 高性能拉曼光谱• 坚固，可靠，功能强大的设计• 一个，两个或三个激光器• 共焦显微镜选项• CRAIC微分光光计加入紫外-可见光-近 红外吸收光谱，反射率和荧光显微光谱以及成像• 光致发光显微镜选项• 具有高空间分辨率的拉曼映射• 拉曼动能显微镜 技术参数 • 多个数据库可用• 法医光谱数据库 • 染料，颜料和污渍光谱数据库• 矿物和无机材料光谱数据库• 医用药品，药物和抗生素光谱数据库• 聚合物和聚合物添加剂数据库• 半导体化学光谱数据库 系统软件 光谱数据库检索 5D高光谱映

gora-Lite，模块化的共焦显微光谱 模块化 / 光纤共焦 / 多功能复用 gora-Lite 共焦显微光谱模块 基于 光纤共焦技术，将共焦显微光路集成为一个个独立的模块，可根据功能需求进行快速搭建，面向 μm 级样品，实现包括透反射、荧光、拉曼、荧光寿命、非线性等光谱功能，以及电致发光和光电流等光电特性检测。最终，带来一系列富有灵活适配性、高性价比的多功能检测方案。gora-Lite 共焦显微光谱系统方案gora-Lite 共焦显微光谱模块 在共焦显微检测领域的良好表现，得益于如下几个特点： 1 模块化 gora-Lite 是一个个集成的共焦显微光谱模块，可根据功能需要，配置其中一个或者多个模块，配合用户已有设备如显微镜、光源、探测器等器件，实现 显微光谱功能 的快速构建； 2 多功能实现 gora-Lite 共焦显微光谱模块，可通过光纤连接不同的激发光源以及探测终端，面向 μm 级样品，可实现包括透反射、荧光、拉曼、荧光寿命、非线性等光谱功能以及电致发光、光电流等 光电特性检测； 3 光纤共焦 gora-Lite 共焦显微光谱模块采用光纤共焦技术，以光纤作为空间滤波器，提供接近衍射极限的样品激发以及 高空间分辨信息接收，能够有效抑制目标区域周围的干扰信号； 4 系统稳定 gora-Lite 共焦显微光谱模块基于光纤连接构建系统，能够避免物理空间上的移动而导致的光路偏移。即使档位来回切换千次，激发光斑始终能保持在 1μm 区域内； 5 超宽谱段光谱检测 gora-Lite 共焦显微光谱模块，能够实现微区条件下，从紫外 250nm 到近红外 1700nm 的微区光谱测试。 注：以上参数如有差异，以官网为准。

MS | 显微光谱显微光谱系统 选用全球最好的 Semrock 滤光片组，创造性地将激发光、荧光和滤光片集成在一个探头之中。同时，配合闻奕光电的微区探头耦合模块，能将荧光光谱测量的空间分辨率提高至 5μm。显微光谱系统，顾名思义即显微镜系统与光谱仪系统联用，既有显微镜成像的功能，又有光谱分析的功能。该系统可以实现微米级样品的荧光光谱、反射光谱、透射光谱、拉曼光谱等光谱分析，普遍应用于材料领域、生物技术、矿物分析、微纳光学等领域。系统图 显微系统图结构组成 显微光谱系统可分为三个模块：照明模块、光谱接收模块以及成像模块。1. 照明模块 显微光谱系统的照明模块一般分为科勒照明和共焦照明两种。a)科勒照明的光源一般为显微镜自带的卤素灯，通过透镜组将卤素灯丝成像于物镜的后焦平面上，如此，物体可获得较为明亮且均匀的全场照明；其原理图可见Figure 1. 图1b)共焦照明是将照明光源（例如激光、氙灯等）通过光纤引入显微光谱系统，光纤输出端面经过光学系统成像于物体面上，即入射端面与物体面共轭，实现定点照明或激发。2.光谱接收模块 该模块由光纤以及微型光谱仪组成，其中光纤接收光路为共焦接收，即接收面和物体面为共轭面，实现定点光谱接收。接收光纤一端接入显微镜光路，另一端连接至微型光谱仪，从而获取物体微观区域内的光谱信息。3.成像模块 该模块为CCD相机，在显微镜的基础上，将CCD/CMOS相机放置在物体面的共轭面上，在测量光谱的同时，可以实现物体图像实时采集，即共轭成像。 图2系统特点1)操作简便：显微光谱系统是基于显微镜的光路进行了改进和优化，增加光谱测量模块。测量步骤可分为两步，一为显微镜下查找物体，使物体在目镜下呈清晰像，二为通过微型光谱仪采谱软件对光谱进行采集。2)物体小，区域可选：利用共焦原理，接收光纤仅能接收到光纤端面成像在物体面的区域，实现微小区域的光谱采集。采集区域的空间分辨率一般可以通过接收光纤芯径除以物镜放大倍数获得。通过特别定制的光纤，可在采集区域的周围形成一个圆环，实现对微小物体的区域选择及定位。3)测量能力强：具备传统显微镜所不具备的光谱测量功能，传统显微镜只能提供图像的获取，从而对物体进行形貌分析，无法获得物体的光谱信息。显微光谱测量系统，在保有物体图像采集的功能外，还可对物体进行不同区域光谱的采集与分析，更进一步的了解物体的结构与特性。4)扩展功能多：可基于商用显微镜，通过光路切换器的设计与耦合，增加包含显微镜下的透反射、荧光以及拉曼光谱测量，最大限度满足各类的科研需求。典型显微光谱测量1)显微反射光谱测量：通常使用显微镜自带的卤素灯作为照明光源，通过显微镜中的上反射光路照射在物体上（科勒照明），经由物体反射后进入接收光纤，利用微型光谱仪对接收到的反射光进行采谱及分析。2)显微透射光谱测量：通常使用显微镜自带的卤素灯作为光源，通过显微镜下面的透射光路照射到物体，光线透过物体后到达接收光纤，利用微型光谱仪对接收到的透射光进行采谱及分析。3)显微荧光光谱测量：将外界激光光源通过光纤或荧光探头，经由光路切换器耦合进入显微镜系统，并聚焦于物体面，实现对物体的荧光激发。然后，通过对被激发点所返回的光进行过滤（滤去激发激光），使得进入接收光纤的光只保留所需的荧光信息，利用微型光谱仪对接收到的荧光进行采谱及分析。4)显微拉曼光谱测量：将外界激光光源（波长为532nm 或 785nm）通过拉曼探头，经由光路切换器耦合进入显微镜系统，并聚焦于物体面，实现对物体的拉曼激发。然后，通过对被激发点所返回的光进行过滤（滤去激发激光），使得进入接收光纤的光只保留所需的拉曼以及荧光信息，利用微型光谱仪对接收到的拉曼光及荧光进行采谱及分析。

显微光谱测量系统，集成荧光、拉曼、反射和透射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上，实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。 系统由光谱仪、激光器（或其他光源）、显微镜等部分构成，自由灵活，帮助用户快速对样品微观结构，微观光谱信息的测试和分析； 特别是，此系统可以加装二维电控扫描台，通过软件控制，实现光谱二维空间扫描测量功能 显微光谱测量系统应用领域：植物叶片研究；激光材料评价；半导体材料分析；生物和细胞测试；光子晶体测试；珠宝、古籍检测 纳米材料分析； 显微光谱测量系统搭建模式：拉曼测量 拉曼探头可直接插入显微光谱测试模块中，从而快速实现拉曼光谱测量。支持光谱范围覆盖400-1100nm，仅需通过更换探头和激光器，便可实现488nm、532nm、633nm、785nm激发波长的拉曼光谱测量.荧光测量 显微光谱测量模块内部集成了荧光测试光路，通过SMA905光纤接口与荧光激光器和荧光光谱仪连接，也可以改装成为自由空间光作为输入光源，从而得到更强的激发功率或更好的光斑质量。另外，模块中带滤光片插槽，可以放置适配不同激发波长的激发滤光片和发射滤光片，实现不同激发波长的显微荧光测量. 反射/透射测量 使用光纤把钨灯光源和显微光谱测量模块连接起来，共用荧光光路，即可实现显微反射反射/光谱测量.显微光谱测量系统参数：产品名称显微拉曼显微荧光光谱范围200-4000波数 @532nm185-1100nm分辨率18波数@25μm 狭缝2.5nm@5um狭缝设计思路显微镜+便携式光谱仪连接方式SMA905光纤，一端接口连接光谱仪SMA905光纤，另一端连接激光器；或自由空间输入光源激发源532nm拉曼专用激光器功率：0～300mw连续可调复合光源(汞灯等)激光器(405nm/532nm/785nm等)信噪比500:1(若需更高信噪比，可更换为制冷型CCD，信噪比可达到1000:1)A/D16位探测器滨松科学级，薄型背照式CCD杂散光 0.1% @ 600nm线性度99%动态范围10000:1暗噪声50RMS@18位积分时间4ms-65 s显微镜4X平场消色差物镜，数值孔径：0.1，工作距离：30mm10X平场消色差物镜，数值孔径：0.25，工作距离：10.2mm40X平场消色差物镜，数值孔径：0.65，工作距离：0.7mm100X平场消色差物镜，数值孔径：1.25，工作距离：0.2mm二维平移台手动调节 双层钢丝结构载物平台（康宁玻璃台面），尺寸：302mm×152mm；78mm×32mm，1mm/格，精度0.1mm 电动调节（选配） 行程：50mmx50mm；重复定位精度：2um；移动分辨率：1um；

MicroTEQ-S1显微拉曼光谱测量系统，集成荧光、拉曼和反射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上，实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、光源、显微镜等部分构成，自由灵活，帮助用户快速对样品微观结构，微观光谱信息的测试和分析；此外系统可以加装二维电控扫描台，通过软件控制，实现光谱二维扫面测量功能。应用范围微流控；植物叶片研究；激光材料评价；生物和细胞测试；光子晶体测试；珠宝、古籍检测 纳米材料分析；拉曼模式拉曼探头可直接插入显微光谱测试模块中，从而快速实现拉曼光谱测量。支持光谱范围覆盖400-1100nm，仅需通过更换探头和激光器，便可实现488nm、532nm、633nm、785nm激发波长的拉曼光谱测量。搭配便携式拉曼光谱仪显微光谱测试模块也能够完美适配ACCUMAN SR 系列科研级便携拉曼，即插即用的工作模式让您不仅可以实现便携的拉曼光谱测量，还可以更方便地在实验室内实现显微拉曼光谱分析。其他模式荧光测量：显微光谱测量模块内部集成了荧光测试光路，通过SMA905光纤接口与荧光激光器和荧光光谱仪连接。其中连接激光器的SMA905接头，可以改装成为自由空间光作为输入光源，从而得到更强的激发功率或更好的光斑质量。模块中带滤光片插槽，可以放置适配不同激发波长的激发滤光片和发射滤光片，实现不同激发波长的显微荧光测量。颜色和反射测量：使用光纤把钨灯光源和显微光谱测量模块连接起来，共用荧光光路，即可实现显微反射光谱测量和显微颜色测量功能。二维Mapping：选配二维电动平台，使用操作软件设置面扫描采样， 获取一定范围内的逐点扫描光谱数据，可用于表征材料表面微观结构和光谱成像。同时测试结果还可以通过图像绘制的方式呈现出来。光谱仪配置拉曼拉曼荧光光谱仪QEPRO@532nmQEPRO@785nmQEPRO-FL光谱范围150-4200cm-1@532nm150-2000cm-1@785nm300-1050nm分辨率~10cm-1@5um狭缝~6cm-1 @5um狭缝1.5nm@5um狭缝信噪比1000:1A/D18位探测器背照减薄型面阵CCD杂散光0.08%@600nm线性度99%动态范围85000:1暗噪声6RMS@18位积分时间8ms-60mins激光器LASER-532LASER-785LASER-405LASER-450激光波长532nm785nm405+/-2nm450+/-2nm激光功率0-300mW可调0-500mW可调0-200mW可调0-200mW可调线宽0.2nm0.1nm2nm2nm寿命10000h10000h10000h10000h拉曼探头RPB-532RPB-785OD值OD6OD6焦距7.5mm7.5mm激光输入端光纤100um光谱收集端光纤200um显微光谱测量模块Micro-S1光谱范围：400-1100nm显微镜4组平场消色差物镜：5X,10X,20X,50X5X，数值孔径：0.15，工作距离：10.8mm10X，数值孔径：0.3，工作距离：10mm20X，数值孔径：0.45，工作距离：4mm50X，数值孔径：0.55，工作距离：7.9mm100X，数值孔径：0.8，工作距离：4mm（非标配，可选）1/2”CMOS彩色CCD，2048*1536（300万像素）载物台面积175mm×145mm，移动范围：76mm×42mm二维电控平移台（可选配）一体式二维电控平移台，含控制器；行程：50mmx50mm；重复定位精度：2um；移动分辨率：1um；

详细信息： HORIBA Scientific研发的MicOS显微光谱系统，可提供完整的显微光谱测量解决方案，它主要包括一个直接与光谱仪耦合的显微探测头和一个高性能三光栅成像光谱仪，该光谱仪最多可同时接三个探测器。1、是显微水平光致发光、电致发光和光调制反射光谱研究的理想选择。2、覆盖200nm~1600nm的宽光谱范围，可广泛应用于各类材料的测量，如半导体和生物样品等。3、内置数码相机设计，可以实时观察样品。4、可提供物镜朝下或物镜侧向的两种配置选择，便于测量放置在正置低温恒温器中的样品。5、能与多种激光波长匹配，灵活并且易于操作。6、采用享有盛誉的LabSpec软件控制整个系统。技术参数：光谱仪型号iHR320 iHR550光谱范围1200 nm~1600nm光谱分辨率20.18nm 0.1nm探测器类型CCD 1024 x 256 OE3IGA 512 x 25Single Channel光谱范围200nm~1050nm800nm~ 1600nm190nm~1600nm4激发波长5532nm633nm785nm显微镜物镜放大倍数10x50x100x光斑大小100um20um10um样品台XYZ（手动或自动可选）1 与物镜，滤光片和探测器选择有关2 采用1200g/mm光栅和开放电极CCD探测器3 BIUV, BIVS, BIDD 等探测器可选4 覆盖此光谱范围需要两个探测器5 如需其他可选配置，请与我们联系

详细信息： HORIBA Scientific新研发的MicOS显微光谱系统，可提供完整的显微光谱测量解决方案，它主要包括一个直接与光谱仪耦合的显微探测头和一个高性能三光栅成像光谱仪，该光谱仪多可同时接三个探测器。1、是显微水平光致发光、电致发光和光调制反射光谱研究的理想选择。2、覆盖200nm~1600nm的宽光谱范围，可广泛应用于各类材料的测量，如半导体和生物样品等。3、独特的内置数码相机设计，可以实时观察样品。4、可提供物镜朝下或物镜侧向的两种配置选择，便于测量放置在正置低温恒温器中的样品。5、能与多种激光波长匹配，拥有强的灵活性，并且易于操作。6、采用享有盛誉的LabSpec软件控制整个系统。技术参数：光谱仪型号iHR320 iHR550光谱范围1200 nm~1600nm光谱分辨率20.18nm 0.1nm探测器类型CCD 1024 x 256 OE3IGA 512 x 25Single Channel光谱范围200nm~1050nm800nm~ 1600nm190nm~1600nm4激发波长5532nm633nm785nm显微镜物镜放大倍数10x50x100x光斑大小100um20um10um样品台XYZ（手动或自动可选）1 与物镜，滤光片和探测器选择有关2 采用1200g/mm光栅和开放电CCD探测器3 BIUV, BIVS, BIDD 等探测器可选4 覆盖此光谱范围需要两个探测器5 如需其他可选配置，请与我们联系

微流控显微光谱分析系统图片简介微流控显微光谱分析系统，由微流控单元与微区光谱单元组成，可以实现微流控芯片通道内微区域的拉曼分析、反透射光谱测量、吸收光谱、紫外吸收光谱、激发荧光以及样品位置扫描分析检测等多种功能，支持实时检测，光斑尺寸低至1um（100x物镜），在微流控方向的应用上具有出色表现。光谱单元采用模块化设计，小巧紧凑，支持市面主流显微镜品牌，如蔡司、莱卡、奥林巴斯、尼康等。您完全可以自行搭配所需显微镜。功能图解应用系统材料领域生物技术矿物分析微纳光学司法鉴定技术参数系统可定制，具体参数需结合搭配确定，参阅附件以查看更多内容。

三级拉曼显微光谱系统 （Model: Trivista CRS+）德国S&I GmbH TriVista CRS+ 产品定位：多功能开放式自动化“光谱成像综合分析系统”。 TriVista CRS+ 三级显微拉曼光谱仪，高性能模块化设计，具有以下优势：1. 集成多功能：如拉曼，荧光，暗场光谱，TCSPC荧光寿命，变温红外光谱，时间分辨光谱等；2. 适用性宽：结合多种测试环境要求，如大样品光路系统，低温，强磁，高温，AFM。3. 开放性强：可集成多路激光器，四个探测器，四个狭缝入口；4. 超高光谱分辨率：0.14cm-1(加模式) 超低波数拉曼性能：=5cm-1(减模式)5. 系统自动控制与高可靠性，系统设计合理，结构稳定，光路不受温度影响，不需专业人员维护6. 与OPO连续可调波长激光器搭配做共振吸收拉曼，软件控制波长扫描，适于如碳管拉曼测试研究。TriVista CRS+ 性能：激光器深紫外到近红外波长范围多达内置4个波长激光器，外置外接大型激光器紫外和可见光/近红外双光束路径自动控制激光选择自动对准，聚焦和校准功能超高拉曼光谱分辨率 ＜0.14cm-1 @ 633 nm低波数拉曼,可测试到 +/- 5 cm-1高波数范围: 9000cm-1（@ 532nm）热电制冷和液氮制冷探测器正置/倒置/双显微镜空间分辨率：XY 1um Z 2um步进电机和压电驱动XYZ位移台快速3D拉曼Mapping荧光寿命成像Mapping功能集成控制液氮温度冷热台集成液氦温度低温恒温器可结合拉曼成像和原子力显微镜成像自动控制的偏振光谱功能大样品箱，可放置固体样品，粉末样品，薄膜样品，比色皿池，任意解度激发TriVista CRS+ 系统结构原理三级联光谱仪的参数性能 加模式（1+2+3） 减模式（1-2+3）减模式1级光栅与2级光栅反向旋转，重新合光，利用狭缝的精密控制以消除激光瑞利线。加模式/减模式同一光路，软件切换无需校正光路VISTACONTROL跨平台控制系统激光器自动选择，光路的自动对准波长和强度自动校准功能VistaControl硬件控制界面加热、冷却阶段和低温状态的温度控制自动Z轴聚焦拉曼成像快速拉曼/荧光/寿命 Mapping荧光和背景抑制光谱库匹配数据（物质成份分析）与原子力显微镜（AFM）连用并控制各种数据格式导出，各种后处理程序拓展延伸光路，与外置低温台，SEM,连用大样品箱，可放置固体样品，粉末样品，薄膜样品，比色皿池，测吸收，透射，正反射，任意角度激发

产品详情显微紫外可见近红外分光光度计型号: MSV-5000系列仪器介绍MSV-5000系列是在紫外到近红外的广域范围内，对微小样品和微小领域进行透过/反射测定的显微分光光度计。可应用于小型设备的透过反射特性的评价，半导体的带隙测定和膜厚测定，以及功能性结晶的光学特性评价等多种领域。仪器特点●可以测量从紫外区域到近红外区域连续的透过/反射光谱●搭载具有高波长分辨率和波长准确性的单色器 ●双光束光学系统,测光稳定●测量尺寸满足φ10μm测量●样品观测采用高解像度照相机画像●标配偏光测量功能●搭载自动XYZ样品台（选项）映射测量/多点测量●JASCO光谱管理器实现简单轻松的操作环境产品规格产品型号MSV-5100MSV-5200MSV-5300分光系统单单色仪双光束光 源30W氘灯卤素灯测量范围200-900nm200-2700nm200-1600nm

定制化原位显微光学/光谱学测试系统Customized In-situ Optical / Spectroscopic MicroscopeSystem我公司集成了自主研发的激光自动聚焦等自动化功能的核心光学/光谱学模组均采用模块化设计，物镜下方没有任何零部件占用空间，并且具备完整的软硬件接口，可以方便地集成到客户的工况环境或者研究机台上，为客户提供定制化的测试系统。技术特色：激光自动聚焦：&bull 显微光学和光谱学模组都可配备激光自动聚焦模块。

显微光分布测试系统 随着半导体照明的进一步快速和深入发展，LED在道路照明、室内照明、汽车灯、手提灯具等多个领域等到了越来越广泛的应用，同时，业界对LED灯具的二次光学设计以及利用LED灯具的空间光度数据进行照明设计的要求也越来越高。作为LED产品的心脏，LED光源的光品质就显得尤为重要！LED光源的主要功能是把电能转化成光能，而当前，芯片厂和灯珠厂在LED光源设计过程中，仅仅是针对光源进行相对简单的测量，获得整体的亮度、波长和电压等参数。而实际上，由于电极设计、芯片结构、封装方式等方面的影响，光源表面的亮度和颜色并不是均匀分布的，传统的光源测量方式并不能精确地描述光源表面这种空间光分布的特点，这样容易导致光源出现色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题，甚至导致光源失效。因此很有必要利用显微光分布测试系统对光源进行发光均匀度测试来优化光源设计，同时也为LED光源的二次光学设计提供更为准确、详尽的数据。针对以上情况，金鉴实验室联合英国GMATG公司联合推出显微光分布测试系统，主要用于测试光源的发光均匀性，帮助提高光品质。现已演化到第五代，而且价格从150万降到几十万！金鉴显微光分布测试系统针对LED及其他光电器件产业打造，可用于观察微米级发光器件的光分布，测试波长范围190nm ～1100nm，包含了紫外和红外不可见光的测试，可用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数，测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。适合光电器件及照明相关领域的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外热点定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。应用领域：适用于LED芯片、LED灯珠灯具、面板灯、汽车照明灯、LCD显示屏、激光器及其他光电器件的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，助力LED芯片设计优化、光源的光线追迹及发光均匀性测量。与近场光学测试设备相比，金鉴显微光分布测试系统优点显著： 近场光学设备与金鉴显微光分布探头对光敏感度差异对比：金鉴显微光分布探头对光敏感度较高，能分辨细小的光强差异，因此成像也更细腻。金鉴显微光分布与传统设备大PK：金鉴显微光分布测试系统可模拟工作温度进行测试，分辨率可达1微米，其具有3D功能，可观测芯片出光效果。金鉴显微光分布测试系统特点：1. 探测器感应波长为190nm-1100nm，覆盖深紫外到近红外光。不同波长光源的光分布图 2. 与光学显微镜搭配，可观察微米级发光器件，图像具备2D和3D显示功能，表现效果更加强烈金鉴显微光分布测试系统的分辨率取决于与之搭配的光学显微镜的分辨率，即如果显微镜能1000倍放大，金鉴显微光分布测试系统也可以观测到1000倍率下的光分布细节。与可见光类似，像素越高画面越清晰越细腻像素越多同时获取的温度数据越多。金鉴GMATG 传感器像素640×595。 3. 独特的遮光设计，杜绝背景光影响，测量更加精准光分布探头接收的是视野内所有的光信号，包括被测样品发射的光以及环境反射光。光分布软件虽然具有背景光扣除功能，但是在测试过程中，环境的变化会导致环境反射光强度的变化，造成测试不准确。金鉴显微光分布测试系统，具备独特的遮光罩设计，隔绝了环境光的影响，大大增加了测试的准确性。如下图所示，在不使用遮光罩的情况下，受环境光变化的影响，芯片光分布图部分区域异常偏暗；在使用遮光罩后，彻底屏蔽了环境光的影响，光分布图异常偏暗区域消失。 4. 高精度控温系统，可实现光源在不同温度下光分布的测试光电器件性能受温度的影响较大，脱离实际环境所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。金鉴自主研发的显微光分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，实现光源在不同温度下光分布的测试，对定位光源最适宜的工作温度可提供最直观有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题。 如下图所示不同工作温度下的LED芯片发光均匀度对比，同一芯片，工作状态温度越高，亮度越低！温度越高，光衰趋势越大。支架引脚温度由80℃升高到120℃，LED芯片发光强度衰减30.6%。 LED芯片发光强度随温度上升而下降5. 定制化的光分析软件金鉴定制分析软件GM LED NF Analyzer，具有自动影像采集控制、实时影像、对位过程屏上显示、设置多重帧自动采集、灰阶与色彩数值显示、记录环境影像提供校正等多重功能，方便做各个维度的光强分布数据分析和图像效果处理，为科研及分析提供更专业的数据支持。（1）提供2D、3D光束分布显示和轮廓分析。 （2）通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数。测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。 （3）OSI彩虹及不同灰阶调色板，满足客户个性化的显示需求。 （4）扣除背景光干扰，增加测试精准度。 （5）可导出光分布图全部像素点的光强数据值，为专业仿真软件分析提供原始建模数据。 （6）自定义报告模式，测试报告一键展现；测试结果即时分享，高效协同。 测试案例:案例一：芯片电极设计对光分布的影响对某LED芯片电极图案进行评估，如下图所示，芯片的发光不均匀，区域1的亮度明显过高；相反地，区域2的LED量子阱却未被充分激活，降低了芯片的发光效率。对此，金鉴建议，可以适当增加区域1及其对称位置的电极间距离或减小电极厚度来降低区域1亮度，也可以减少区域2金手指间距离或增加正中间正极金手指的厚度来增加区域2亮度，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。 LED芯片发光效果图案例二：芯片金道设计对光分布的影响下图中芯片左边为两个负电极，右边为两个正电极，其中，区域1、2亮度较低，电流扩展性不够，需提高其电流密度，建议延长最近的正电极金手指以提升发光均匀度。区域3金手指位置的亮度稍微超出平均亮度，可减少金手指厚度来改善电流密度，或者改善金手指的MESA边缘聚积现象，另外，也可以增加区域3外的金手指厚度，使区域3外金手指附近的电流密度增加，提升区域3外各金手指的电流密度，以上建议可作为发光均匀度方面的改善，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。在达到或超过了芯片整体发光均匀度要求的前提下，可考虑减小金手指厚度来减少非金属电极的遮光面积，以提升亮度。甚至，可以为了更高的光效牺牲一定的金手指长度和宽度。 LED芯片发光效果图 案例三：光分布3D模块测试评估芯片光提取效率金鉴显微光分布3D测试模块可以观察芯片各区域的出光强度，填补芯片的光提取效率测试空白。下图垂直结构芯片采用了多刀隐切工艺，芯片侧面非常粗糙，粗糙界面可以反射芯片侧面出射的光，提高芯片的光提取效率。从该芯片的3D光分布图中可以直观的看到，该芯片边缘出光较多，说明多刀隐切工艺对芯片出光效率的提升显著。案例四：显微光分布测试帮助定位最高效率的电流电压金鉴显微光热分布系统，可帮助客户避免过度超电流，准确定位最高效率下的电流电压！如下案例中，芯片额定电流为60mA，超额定电流90mA下点亮时，芯片温度大大提高，亮度反而出现衰减。过度的超电流，LED芯片产热严重，光产出并不会增加，甚至出现光衰。 案例五：显微光分布测试系统应用于LED芯片失效分析失效的LED芯片必然在光热分布上漏出蛛丝马迹！某灯珠厂家把芯片封装成灯珠后，老化出现电压升高的现象。金鉴通过显微光分布测试系统发现芯片主要在正极附近区域发光。因此，定位芯片正极做氩离子截面抛光，发现正极底部SiO2层边缘倾角过大，ITO层在台阶位置出现断裂、虚接现象，ITO层电阻过大，电流扩散受阻，出现电压升高异常现象。案例六：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，使用热分布测试系统对芯片进行测试，由于红外测温是通过物体表面的红外热辐射测量温度，对于倒装芯片表面的蓝宝石也不能穿透，故无法对芯片内部电极等结构进行进一步的分析。此时，使用金鉴显微光分布测试系统可以清晰地观察到芯片电极图案，从光分布图可以看出，芯片负电极位置发光较强，因此推断负电极位置电流密度较大，导致此处发热量也较大，从而局部热膨胀差异过大引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例七：多芯片封装的光分布监测金鉴显微光分布系统，能高效精准分析灯珠内各芯片电流密度，是品质把控的好帮手！例如某灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，该灯珠点亮时，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 光学图 光分布图 热分布图 案例八：COB光源发光均匀度测试对于LED光源，特别是白光光源，由于电极设计、芯片结构以及荧光粉涂敷方式等影响，其表面的亮度和颜色并不是均匀分布的。如图所示，COB右半边灯珠亮度明显比左半边低，由标尺计算出，右半边亮度为左半边的三分之二，导致这一失效原因也许是COB的PCB板材左右边铜箔电阻不一致，导致灯珠左右两边的芯片所加载的电压不一致，造成两边芯片的发光强度出现差异。案例九：OLED光分布测试有机发光二极管(OLED)作为一种电流型发光器件，因其所具有的自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。使用金鉴显微红外热分布测试系统对OLED显示屏进行测试，可以直观的了解显示屏各区域光强分布情况，对于缺陷点也能及时发现，有助于检测和改善OLED发光品质。如下案例中，OLED电流输入端亮度较大，远离输入端亮度逐渐减小，在此情况下，损失的亮度转换为热能，因此温度的分布会变得不均匀，进而导致OLED显示面板中各处的薄膜晶体管(TFT)的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进一步导致整个显示面板的发光亮度不均匀。 案例十：激光器光束形貌及热场分布金鉴显微光热分布测试系统，配备专用光衰片及水冷散热系统，可测试大功率超亮激光灯的光热分布！

创新点MicOS是显微水平光致发光、电致发光和光调制反射光谱研究的理想选择。 1、开创性地将显微测量和光谱测量高效地耦合于一体，将显微探测头直接与iHR三光栅光谱仪耦合，光谱仪最多可同时接三个探测器，使其可覆盖紫外可见近红外的宽光谱范围（200nm~1600nm）。 2、能与多个激发波长匹配，灵活性极强且易于操作。 3、内置数码相机设计，可实时观察样品。 4、可提供物镜朝下或物镜侧向的两种配置选择，便于测量侧向发光器件或放置在正置低温恒温器中的样品。 5、配合自动平台可进行mapping测量。 详细信息： HORIBA Scientific最新研发的MicOS显微光谱系统，可提供完整的显微光谱测量解决方案，它主要包括一个直接与光谱仪耦合的显微探测头和一个高性能三光栅成像光谱仪，该光谱仪最多可同时接三个探测器。1、是显微水平光致发光、电致发光和光调制反射光谱研究的理想选择。2、覆盖200nm~1600nm的宽光谱范围，可广泛应用于各类材料的测量，如半导体和生物样品等。 3、独特的内置数码相机设计，可以实时观察样品。4、可提供物镜朝下或物镜侧向的两种配置选择，便于测量放置在正置低温恒温器中的样品。5、能与多种激光波长匹配，拥有极强的灵活性，并且易于操作。6、采用享有盛誉的LabSpec软件控制整个系统。技术参数：光谱仪型号iHR320 iHR550光谱范围1200 nm~1600nm光谱分辨率20.18nm 0.1nm探测器类型CCD 1024 x 256 OE3IGA 512 x 25Single Channel光谱范围200nm~1050nm800nm~ 1600nm190nm~1600nm4激发波长5532nm633nm785nm显微镜物镜放大倍数10x50x100x光斑大小100um20um10um样品台XYZ（手动或自动可选）1 与物镜，滤光片和探测器选择有关 2 采用1200g/mm光栅和开放电极CCD探测器 3 BIUV, BIVS, BIDD 等探测器可选 4 覆盖此光谱范围需要两个探测器 5 如需其他可选配置，请与我们联系

彩色滤光片（Color filter）为液晶平面显示器（Liquid Crystal Display）彩色化之关键零组件。彩色滤光片的制造是用彩色光刻胶和黑色光刻胶在基板上的附着加工制造而成，光刻胶质量的好坏直接影响彩色滤光片的显色性能。液晶平面显示器为非主动发光之组件，其色彩之显示必需透过内部的背光模块（穿透型LCD）或外部的环境入射光（反射型或半穿透型LCD）提供光源，再搭配驱动IC与液晶控制形成灰阶显示，而后透过彩色滤光片的R,G,B彩色层提供色相形成彩色显示画面。Lambda Vision LVmicro-Z显微分光光度计主要是为了配合5倍物镜使用而设计的。本系列是以5倍物镜（15μm/30μm光斑尺寸）测量为基础。LVmicro-Z/1显微分光光度计不具备自动对焦功能（仅手动对焦）。LVmicro-Z/2基于20x/50x物镜，能够测量2μm以上的光斑尺寸。与LVmicro-Z/1相比，LVmicro-Z/2具有更高的刚性和抗震性，可实现稳定的小点测量。可选功能 /R 本装置用于测量反射率。 与透射率一样，它由直小孔光学系统组成。可选功能/OBJ 本装置用于漫反射测量。 它用于测量印刷品等小范围内的漫反射比色法。Lambda Vision LVmicro-Z显微分光光度计特点1.可以测量出最小的2μm面积。 (如果是小面积的情况下，可能需要高精度的隔振台作为测量环境)。2.只对观察区域进行光照射，不产生其他区域的数据。 其他区域不产生数据（测量直线上的小孔）。3. 自动对焦(LVmicro-Z/2)将单个误差降到很低，Z轴样品垂直移动是自动的。4.标配图像观察USB摄像头，可进行图像存储。 也用于自动对焦5. 指针光照射到观察区，所以很容易看到被测量的位置6. 除了上述指针光外，还有一个观察整个样品图像的普通照明灯（白色LED），在光谱测量时自动关闭。7.光谱光源采用高精度稳定卤素灯和稳定电源。8.可提供6英寸、8英寸和12英寸的样品台（手动），可选装自动载物台9.光谱检测部分采用了高灵敏度的CCD，即使在微小区域的微弱信号下也能实现稳定的测量10.对于目前正在使用其他厂家光谱仪器采集数据的用户，可提供数据匹配校正功能11. 通过各种控制功能，可以按色度、透光率等设定控制范围，判断产品是否合格12. 通过选择显微镜或分光镜检测器，使用XY样品台，可以测量近紫外、可见光、近红外区域的光谱光谱透射光谱(标准功能)光密度(OD值)(标准功能)光谱反射率光谱（当配备了可选的R反射率功能时）光谱漫反射光谱(可选OBJ反射单元)Lambda Vision LVmicro-Z显微分光光度计规格：波长范围： 380nm～780nm （可设定 400nm～700nm，其它波长范围可选）测量参数：透过率、反射率(可选)、色度值计算（X、Y、Z、x、y、L*、a*、b*、ΔEab、白平衡、NTSC值）分光测量方法：光栅及 Line sensor 的高速分光波长精度： ±0.5nm照明方式 ：August Kohler光源照明法光源： 卤素灯，使用寿命约2,000hr测量孔径： 小至2μm Lambda Vision LVmicro-Z显微分光光度计的应用：显示面板的彩色滤光片的色度测量、膜厚， ITO 膜厚、OVER COAT保护层的膜厚等，彩色光刻胶的光学性能（色度和辉度）测试。

Flex One 显微光致发光光谱仪欲了解更多信息请拨打：010-56370168-601 性能特点：● 一体化的光学调校——所有光学元件只需要在初次安装时进行调校，确保高效性和易用性● 简单易用的双光路设计——可随意在水平和垂直光路上进行切换，适用于各种常见的样品形态● 超宽光谱范围**——300nm-2200nm● 视频监视光路 ——可供精确调整测试点● 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性 ● 多种激发波长可选**——325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等● 自动mapping功能可选*——50mm×50mm测量区间，可定制特殊规格● 电致发光(EL)功能可选*——扩展选项● 显微拉曼光谱测量功能可选*——扩展选项● 超低温测量附件可选*——提供10K以下的超低温测量*选配项，请详细咨询； **需根据实际需要进行配置确定。产品简介： 光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合，但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中，存在很大的局限性，比如无法灵活的选择实验所需的激光器（特别对于UV 波段的激光器，没有足够适用的配件），无法方便的与超低温制冷机配合使用，采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题，都是采用标准显微镜难以回避的问题。 北京卓立汉光仪器有限公司结合了公司十余年荧光光谱仪和光谱系统的设计经验和普遍用户的实际需求，推出了“Flex One( 微光）”系列显微光致发光光谱仪，有效的解决了上述问题，是目前市场上最具性价比的的显微PL 光谱测量的解决方案。( 产品图片仅供参考，以实际系统配置为准)系统组成● 激发光源部分：紫外-近红外波段各种波长激光器● 显微光路部分：优化设计的专用型显微光路● 光谱采集部分：影像校正光谱和高灵敏型科学级CCD或单点探测器和数据采集器● 样品台支架部分：xyz三维可调样品台（手动或自动）、超低温样品台参数规格表：主型号Flex One光谱范围300-2200nm光谱分辨率0.1nm激发光可选波长325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等探测器类型制冷型CCD 2000×256制冷型InGaAs512×1制冷型InGaAs512×1有效范围300-1000nm800-1700nm800nm-2200nm空间分辨率100μm注*：以上为基本规格，详细规格依据不同配置的选择会有差异，详情请咨询！InGaN/GaN多量子阱的PL谱和EL谱测试 ● 样品提供：KingAbdullahUniversity ofScience and Technology提供的基于蓝宝石衬底MOCVD 生长的 InGaNGaN 量子阱● 测试条件：325nm激发，功率30mW● 光谱范围：340-700nm1. 光致发光(PL)光谱测量分别针对材料的正极( 红色) 和负极( 绿色) 测试得到光致发光光谱曲线如下，GaN 的本征发光峰365nm 附近以及黄带，InGaN 的发光峰475nm 附近。 2. 电致发光(EL)光谱测量将材料的正负极接到直流电源的正负极，电压加到2.5V 时可以有明显的蓝光发射，测量其电致发光光谱曲线如下（红色），峰值在475nm 附近。

MicroTEQ-S1显微光谱测量系统，集成荧光、拉曼和反射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上，实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、光源、显微镜等部分构成，自由灵活，帮助用户快速对样品微观结构，微观光谱信息的测试和分析；此外系统可以加装二维电控扫描台，通过软件控制，实现光谱二维扫面测量功能。应用范围微流控；植物叶片研究；激光材料评价；生物和细胞测试；光子晶体测试；珠宝、古籍检测 纳米材料分析；拉曼模式拉曼探头可直接插入显微光谱测试模块中，从而快速实现拉曼光谱测量。支持光谱范围覆盖400-1100nm，仅需通过更换探头和激光器，便可实现488nm、532nm、633nm、785nm激发波长的拉曼光谱测量。 搭配便携式拉曼光谱仪显微光谱测试模块也能够完美适配ACCUMAN SR 系列科研级便携拉曼，即插即用的工作模式让您不仅可以实现便携的拉曼光谱测量，还可以更方便地在实验室内实现显微拉曼光谱分析。其他模式荧光测量：显微光谱测量模块内部集成了荧光测试光路，通过SMA905光纤接口与荧光激光器和荧光光谱仪连接。其中连接激光器的SMA905接头，可以改装成为自由空间光作为输入光源，从而得到更强的激发功率或更好的光斑质量。模块中带滤光片插槽，可以放置适配不同激发波长的激发滤光片和发射滤光片，实现不同激发波长的显微荧光测量。颜色和反射测量：使用光纤把钨灯光源和显微光谱测量模块连接起来，共用荧光光路，即可实现显微反射光谱测量和显微颜色测量功能。二维Mapping：选配二维电动平台，使用操作软件设置面扫描采样， 获取一定范围内的逐点扫描光谱数据，可用于表征材料表面微观结构和光谱成像。同时测试结果还可以通过图像绘制的方式呈现出来。光谱仪配置拉曼拉曼荧光光谱仪QEPRO@532nmQEPRO@785nmQEPRO-FL光谱范围150-4200cm-1@532nm150-2000cm-1@785nm300-1050nm分辨率~10cm-1@5um狭缝~6cm-1@5um狭缝1.5nm@5um狭缝信噪比1000:1A/D18位探测器背照减薄型面阵CCD杂散光0.08%@600nm线性度99%动态范围85000:1暗噪声6RMS@18位积分时间8ms-60mins激光器LASER-532LASER-785LASER-405LASER-450激光波长532nm785nm405+/-2nm450+/-2nm激光功率0-300mW可调0-500mW可调0-200mW可调0-200mW可调线宽0.2nm0.1nm2nm2nm寿命10000h10000h10000h10000h拉曼探头RPB-532RPB-785OD值OD6OD6焦距7.5mm7.5mm激光输入端光纤100um光谱收集端光纤200um显微光谱测量模块Micro-S1光谱范围：400-1100nm显微镜4组平场消色差物镜：5X,10X,20X,50X5X，数值孔径：0.15，工作距离：10.8mm10X，数值孔径：0.3，工作距离：10mm20X，数值孔径：0.45，工作距离：4mm50X，数值孔径：0.55，工作距离：7.9mm100X，数值孔径：0.8，工作距离：4mm（非标配，可选）1/2”CMOS彩色CCD，2048*1536（300万像素）载物台面积175mm×145mm，移动范围：76mm×42mm二维电控平移台（可选配）一体式二维电控平移台，含控制器；行程：50mmx50mm；重复定位精度：2um；移动分辨率：1um；注：对于医疗器械类产品，请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况

概述 TIDAS MSP 400/800 是专为法医科研人员和可以覆盖所有关于透射、反射或荧光的应用而设计，这些都取决于所选择的配置。极化以及紫外光是可选功能，取决于显微镜的配置。 结合警方实验室，系统进行优化，在法医实验室中软件开发符合人体工程学和有效的利用。J&M 公司已在欧洲、美国、南非和亚洲安装了许多系统。TIDAS MSP 800 J&M公司提供基本系统可测量在透射模式下光纤的UV/VIS 光谱和在反射模式下（明场和暗场）光纤与涂料的VIS光谱。光谱仪的波长范围是190 nm到1010 nm，但是光谱受限于光学显微镜，从 240 nm 到 900 nm。对于偏振实验，补偿的偏光板可嵌入到光纤束中。对于偏振光光谱范围受限于偏振片，在 450nm 到700nm 。在反射模式下，光谱范围为 360 nm到 900 nm。荧光测量和多套滤波器都是可用的（紫外光，蓝光和绿光激励是正常标准）。此外，快速扫描的单色光源（260 nm 到 680nm）也是可用的。全光谱 （ 240 nm 到 900nm）通常可在小于1秒内获取。噪声和采集速度取决于所选择的领域，由灵活可调测量隔膜给出。使用 40X 物体时，最小光斑区域是2&mu m到2&mu m的。 MSP 800 与 Zeiss （蔡司）显微镜 MSP 800 与 Leica （莱卡）显微镜软件和配件 J&M 的软件可方便仪器的控制。附加可用的软件包提供数据处理、文档编制、导出选项和存储的多种功能。您可以创建你自己的谱库为有效的库搜索。该仪器采用了CIE 色彩评估体系，并能够产生互补的色度坐标值（CCC认证 ）。波长和光度计的精度可通过灰色或钬滤波器实现简易的检查，这作为配件。 示例光谱 基线 (绿色), BK-7 / 散光 (灰色), 毛纤维(红色), 尼龙纤维 (粉红色)。获取时间 = 1 秒/光谱光纤的摄影图片，帧标记了实际分析区域大小样品光谱视频成像 在线视频影像和数据的同步采集是该仪器的亮点。可灵活调节的测量膜片标记你感兴趣的样本图像区域。应用- 在UV/VIS 范围检验光纤 - 在 UV/VIS 范围分析微粒 - 文件归属人 - TFT显示器的质量控制 - LED的分析

UVS3 紫外光谱系统， （紫外氙灯+紫外光谱仪+探头）它结合了全波段CMOS紫外光谱仪和氙气光源，以实现经济高效的解决方案。CMOS光谱仪组合氙光源来自JPN的CMOS探测器来自美国/德国的硬件1.集成的紫外光谱系统，它提供了一个完整的解决方案，将CMOS光谱仪与氙灯相结合，方便用户测量2.稳定的紫外线测量，高性能氙气闪烁灯，特别是在紫外线区域，使其测量稳定3.低成本，整个集成系统降低复杂性, 是一个完整的紫外测量方案.UVS3系列亮点CMOS探测器在UV紫外段性能良好高灵敏度在紫外线区域波长范围180-500nm，200-400nm信噪比800:1 *snr=(信号-噪声)/偏差集成氙气光源降低系统复杂度具成本效益的紫外线光谱系统支持扩展SDK，支持二次开发SMA905光接口完整的UVS3系统测量附件，如流通池USB接口用途紫外分光光度计紫外光谱测量紫外光谱仪紫外吸收光谱法紫外吸光度，吸光度测量透射率，透射系数测量水质，总氮测量吸光度计算，浓度计算使用朗伯比尔定律，可以计算液体的浓度或者含量蛋白质浓度测量定量分析测量应用举例一：紫外吸收，浓度分析测试步骤在比色皿中放入参比样品，参比样品可以是水，也可以什么不放，如果不放那就是参比空气，比色皿必须使用石英比色皿，因为石英比色皿相比塑料比色皿对紫外段光谱干扰比较小把比色皿放入比色皿支架中，软件控制氙灯关闭，采集光谱设备电子噪声软件控制氙灯打开，采集参比信号的光谱在比色皿中放入被测物液体，如蛋白质，或者被测液体软件控制氙灯打开，采集被测物的光谱 液体相对于水的吸光度 A = - log10(透射率值)根据朗伯比尔定律，我们可以推算出液体的浓度比尔—朗伯定律数学表达式 A=-log10(T透射率)=KbcA为吸光度,T为透射, 是出射光强度（I）比入射光强度(I0).K为摩尔吸光系数.它与吸收物质的性质及入射光的波长λ有关.c为吸光物质的浓度,单位为mol/L，b为吸收层厚度，单位为.【b也常用L替换，含义一致】注意：吸光度是没有单位的，它是一个比值，是不放液体时候测得的光强除以放入液体后测得的光强从比尔—朗伯定律中，我们不难发现，如果液体浓度很低，那么吸光度值会很高，普通的检测仪器有一个检测范围，也就是最大光强和最小光强之间的一个范围比（我们叫动态范围），普通的分光光度计一般最强光和最弱光之比只能达到100倍，也就是吸光度值为2 = -log(0.01) ，我们的SPM系列光谱仪吸光度可以做到3，也就是1000倍，相对传统的紫外分光光度计，SPM光谱仪有很大的动态范围，也就是我们探测弱光的能力比普通分光光度计强很多。这样有利于，低浓度液体的检测。我们可以使用少量的液体，稀释后进行测量。可以节约昂贵的液体成本。

OmniPL-MicroS组合式显微光致发光光谱系统 显微光路通常具有较高的通光效率，用在荧光光谱测量中，不仅可以进一步提升系统的信噪比，更可以实现微区测量。我公司除了可以提供“Flex One(微光）”系列显微光致发光光谱仪一体机，还为组合式系统的客户提供了两种类型的显微光路模块，一种是不带显微镜的水平光路显微模块，另一种是带有显微镜的垂直光路显微模块，它们都可以与我公司的光谱及配件组合成为显微光致发光光谱系统。 性能特点● 模块化的结构设计——水平和垂直光路可选，组合方便● 超宽光谱范围*——200nm-1600nm● 默认适配激光波长——325nm● 其它激光器波长可选*——405nm/532nm/633nm等● 电致发光(EL)功能可选**——扩展选项● **——可提供≤10K的超低温测量*需根据实际需要进行配置确定；**选配项，请详细咨询。 参数规格表(*)主型号OmniPL-MicroS光谱测量范围200-1600nm荧光光谱分辨率0.1nm激光波长325nm探测器类型制冷型CCD2000×256制冷型InGaAs512×1单点PMT单点制冷型InGaAs探测光谱范围200-1000nm800-1600nm200-870nm800-1600nm数据采集器--单光子计数器或锁相放大器锁相放大器注*：以上为基本规格，详细规格依据不同配置的选择会有差异，详情请咨询！OmniPL-MicroS-A垂直光路型 垂直光路型系统架构基于标准显微镜体和光谱仪等模块组合而成，光路垂直更有利于一般的样品放置，测量过程更方便。OmniPL-MicroS-B 水平光路型 水平光路型的系统不采用显微镜体，光路水平输出，需将样品竖直放置，系统可以配置多维可调的样品架，可以夹持固体、液体等多种类型的样品；水平光路更适合于液体样品，以及与低温制冷机配合使用时的光学布局。OmniPL-MSA-325型显微PL光谱系统主要技术参数（垂直光路型）系统指标与功能● 荧光光谱测量范围：350-800nm● 激发波长：325nm● 样品形态：固态（片状、粉末）● 预留CCD接口● 可升级电致发光（EL）测量● 可升级扩展至NIR波段测量（~1600nm）详细配置及规格参数- 光源? 类型：HeCd激光器? 功率：≥20W- 显微光路模块（OmniPL-KS-A）? 显微物镜：20X紫外? 光谱适用范围：250-800nm? 标准显微镜（带样品X-Y手动调节台）? 内置CCD监视光路? 可加装滤光片轮 - 荧光光谱仪（Omni-λ500i）? 焦距：500mm? f/#：f/6.5? 光谱覆盖范围：200-1000nm? 光谱分辨率：优于0.05nm@435.8nm（1200g/mm光栅）? 入口形式：狭缝? 出口形式：狭缝+CCD? 狭缝宽度：0.01-3mm? 通讯接口：USB2.0? 光谱仪整体支架- 光电倍增管（PMTH-S1-R928）? 光谱响应范围：200-870nm? 配HVC1800高压稳压电源- 单光子计数器（DCS202PC）? 有效计数率：≥5Mcps- 计算机（JSJ）? 一体机，安装光谱采集软件- 光学平台（OTB15-10）? 台面尺寸：1500*1000mmOmniPL-MSB-325型显微PL光谱系统主要技术参数（水平光路型）系统指标与功能● 荧光光谱测量范围：350-800nm● 激发波长：325nm● 样品形态：固态（片状、粉末）、液态● 预留CCD接口● 可升级扩展至NIR波段测量（~1600nm）● 可升级至超低温（10K）测量功能详细配置及规格参数- 光源? 类型：HeCd激光器? 功率：≥20mW- 显微光路模块（OmniPL-K1-325）? 显微物镜：20X紫外? 光谱适用范围：250-800nm? 样品架：固体（片状、粉末）、液体比色皿样品池，可五维手动调整? 内置监视光路 - 荧光光谱仪（Omni-λ500i）? 焦距：500mm? f/#：f/6.5? 光谱覆盖范围：200-1000nm? 光谱分辨率：优于0.05nm@435.8nm（1200g/mm光栅）? 入口形式：狭缝? 出口形式：狭缝+CCD? 狭缝宽度：0.01-3mm? 通讯接口：USB2.0- 光电倍增管（PMTH-S1-R928）? 光谱响应范围：200-870nm? 配HVC1800高压稳压电源- 单光子计数器（DCS202PC）? 有效计数率：≥5Mcps- 计算机（JSJ）? 一体机，安装光谱采集软件- 光学平台（OTB15-10）? 台面尺寸：1500*1000mm应用举例某用户提供的ZnO参杂发光材料（测试设备：OmniPL-MSA-325显微PL光谱系统）