种杂质元素

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种杂质元素相关的耗材

  • 二甲苯中的杂质专用柱 信和气相色谱柱
    关键词:二甲苯中的杂质;ULBON SPX-1信和公司具有分析二甲苯中杂质的专用柱,是对二甲苯(p-Xylene)中的杂质(例如m-Xylene,Cumene等)的分离分析专用产品,此柱是由卤化邻苯二甲酸的固定液构成的WCOT型不锈钢(SUS)毛细柱。在通常气相分析中,p-Xylene中的m-Xylene分析在p-Xylene先溶出,因此很难分析,尤其是微量的m-Xylene分析就极其困难,而在用ULBON SPX-1分析中,微量m-Xylene在主要成分p-Xylene之前溶出,所以可以进行定量分析。如需要样品详细检测条件及图谱等信息请联系北京绿百草。
  • 二甲苯中的杂质专用柱 ULBON SPX-1
    关键词:二甲苯中的杂质;ULBON SPX-1信和公司具有分析二甲苯中杂质的专用柱,是对二甲苯(p-Xylene)中的杂质(例如m-Xylene,Cumene等)的分离分析专用产品,此柱是由卤化邻苯二甲酸的固定液构成的WCOT型不锈钢(SUS)毛细柱。在通常气相分析中,p-Xylene中的m-Xylene分析在p-Xylene先溶出,因此很难分析,尤其是微量的m-Xylene分析就极其困难,而在用ULBON SPX-1分析中,微量m-Xylene在主要成分p-Xylene之前溶出,所以可以进行定量分析。如需要样品详细检测条件及图谱等信息请联系北京绿百草。
  • 杂质捕集小柱
    鬼峰描述色谱分离过程中,特别是在梯度洗脱或者仪器使用时间过久容易产生时有时无的色谱峰,我们俗称鬼峰(Ghost peak)。鬼峰的来源流动相(放置时间过长导致滋生细菌和流动相添加剂等);液相系统时间较久已不再纯净;样品前处理过程引入;色谱柱污染等。产品描述月旭科技研发的 Ghost-Buster Column 杂质捕集小柱不仅能够去除流动相中的杂质,还可以有效去除管路和混合器中的杂质,消除鬼峰对分析的干扰,提高工作效率,也一定程度上延长了色谱柱和仪器的使用寿命。月旭科技推出的第二代Ghost-Buster Column II杂质捕集小柱,通过产品进一步升级和改进,不仅可以更加卓越地吸附流动相中的杂质,消除鬼峰。同时解决以往梯度初始比例水相过高而导致的基线漂移问题,从而获得更佳平稳的基线。月旭科技推出的Ghost-Buster UP Column杂质捕集小柱可耐受90MPa压力,完美实现与超高压液相系统的兼容。注意事项1、新柱请使用80%甲醇水冲洗,1.0mL/min流速冲洗15分钟,再连接设备使用。2、请理解并不是任何杂质都可以被杂质捕集小柱吸附。3、流动相中如果使用离子对试剂时,可能会吸附离子对试剂,进而影响目标物的保留时间或峰形。这一类流动相条件,请根据色谱效果决定是否使用该小柱。4、如果发现捕集效果变差,建议及时更换,并不是连接上以后可以无限次使用。

种杂质元素相关的仪器

  • 得利特油中机械杂质测定仪A1280符合GB/T511标准,适用于测定石油产品中的各类轻、重质油、润滑油及添加剂的机械杂质的含量。可广泛应用于电力、石油、化工、商检及科研等部门。得利特油中机械杂质测定仪A1280仪器特点1.数码显示,智能温控表控温2.外观美观,测试方便,性能稳定可靠3.实现按标准要求的升温速率4.仪器主要由玻璃器皿、恒温水浴、真空 泵、电子控温箱组成得利特油中机械杂质测定仪A1280技术参数工作电源: AC 220V±10%,50Hz水浴加热功率: 1000W水浴控温范围: 室温~90℃内可调水浴温度显示: LED数字显示水浴控温精度: ±1℃漏斗控温范围: 室温~90℃内可调漏斗控温显示: LED数字显示漏斗控温精度: ±2℃环境温度: ≤35℃相对湿度: ≤85%整机功耗: 不大于1200W
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  • 锂离子电池的性能与正极材料的质量息息相关,当在正极材料中存在铁(Fe)、铜(Cu)、铬(Cr)、镍(Ni)、锌(Zn)、银(Ag)等金属杂质时,这些金属会先在正极氧化再到负极还原,当负极处的金属单质累积到一定程度,其沉积金属坚硬的棱角就会刺穿隔膜,造成电池自放电。负极材料中的杂质元素同样严重影响电池的电化学性能,有可能刺穿隔膜,造成安全隐患。如何精准高效确认磁性杂质的来源,以此优化生产工艺呢?ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统ParticleX 可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计,整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗粒的形态、数量和种类,以此判定是哪个生产环节出了问题。可根据不同的检测需求,灵活定制自动分析流程常见自动化分析方案仅是能谱软件中的一项功能,可更改的参数很少,无法根据客户的需求灵活调整,也无法满足客户特殊户需求。ParticleX 是一套独立运行的系统,自动分析流程、杂质分类规则、报告生成样式等都可以根据实际需求灵活定制,会给每个客户定制一套针对性解决方案。长寿命 CeB6 晶体灯丝,确保自动化分析的流畅运行常见电镜灯丝材料为钨,寿命较短(仅为100小时左右),并且灯丝后期会熔断,导致分析过程立刻终止。CeB6 灯丝寿命超过1500小时(厂家质保),灯丝后期不会发生熔断,确保了自动化分析的流畅运行。另外,CeB6 灯丝亮度更稳定,因此其结果准确性也更高。多项设计,保证高通量快速运行 100 × 100 mm 大尺寸样品台,可一次放置多个样品,一键自动全分析 三仓分离的真空设计,抽真空时间小于 1 分钟,换样速度极快 全自动电动马达台,保证位置移动的快速、精确软硬件一体化设计,保证了软硬件的协调工作 软件可以充分调用硬件权限,并针对性优化; 电镜和能谱一体化设计,工作距离一致,避免频繁调节电镜或能谱工作距离,大大提升操作便捷性; 售后问题可以在一家解决,避免互相推诿。复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific),负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售,提供专业的技术支持和测试服务,飞纳中国拥有专业的服务团队,提供优化的解决方案;飞纳中国提出飞纳学校 (Phenom University)的概念,为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训,在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心,目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。
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  • 杂质分析仪 400-860-5168转1590
    Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪 行业需求塑料原材料(树脂、粉末)中如果夹杂不同的颜色,可能会对下游客户带来伤害,现在越来越多的下游加工用户对上游供应商提出产品外观的需求,比如黄色指数、黑点、黑斑粒、色粒、大小粒、拖尾、连粒等都必须达到一定的要求。 对于一些高端客户或透明的、白色的产品客户来说,原料里的杂色多少将非常影响生产工艺和最终产品的品质。把这些瑕疵挑出来,分析原因,优化工艺,并在生产环节中增添相关设备来剔除瑕疵,是高品质用户的一致需求。 在全球最新光学、影像学和图形分析数学模型的基础上,我们的产品生来就具备了先进性,自动化和准确性成为了基础,更简单的操作和更多的功能成为了客户选择的原因。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪描述 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪是对粉末或粒子进行检测分析后统计杂色和异形数量级分布的系统,从大量的产品中实时检测不同颜色及形状的杂质,同时通过报告的形式向用户提供各种杂质尺寸和颜色信息等。 一套Calpas系统可以检测的项目包括: 1、粉末(例:PVC)中的杂质; 2、粒子(例:PP、PE、ABS)中的杂质,包括黑点、异色; 3、粉末和粒子外的纤维杂质,外来杂质; 4、高透或高反射粒子(例:PC/PMMA)中的黑点、异色、凝胶点等; 5、粒子自身的尺寸和形状。 Calpas杂质扫描检测仪组成主要包括:高性能高速相机(CCD或用户指定);照明强度可调的粒子专用4光源阴影辅助照明系统(产品的透明度不同,粒径不同,光源照明有多种选择);进料速度可调的三维振动进料系统;可同时分析杂质颜色尺寸以及粒子自身尺寸及形状的分析软件。 该系统还可选配杂质自动分拣装置,进料轨道自动清洁装置,整机防尘装置等,如用户有特殊应用需求,可进行量身定做,一切以满足用户检测需求为最终目的。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪操作简便,软件界面友好,一键式全自动操作即可自动进料、检测、生成检测报告,软件可安装于普通家用电脑,检测过程噪音小,速度快,重复性高,配备Calpas标准板用来对仪器检测尺寸数据定期校准。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪的主要特点:1. 一台机同时测量黑点、杂色、异形等各种功能;2. 样品平铺滚动经过,非常快速;3. 能自定义多种杂质并命名;4. 高性能的高速相机;5. 照明亮度可调;6. 噪音低;7. 可调节产品供给速度和供给量的自动产品供给装置;8. 对检测出的杂质进行实时分析,自动登入杂质画面储存窗口,分析各种杂质信息。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪产品性能:1. 高速图像分析:500g粉末/3分钟;1kg颗粒/2分钟。2. 测量范围:50~30,000μm,用户自定义可分不同尺寸等级。3. 照明:根据阁下样品特点选择不同的照明条件,比如中心LED照明(粉末产品),方形LED照明(粒子产品),特殊照明(高透粒子)等,照明强度可手动调节。4. 进料系统:三维进料系统,可通过调节振动幅度及进料高度来调节进料速度。5. 报告:自动生成产品检测报告,显示杂质粒子异形、异色以及瑕疵点尺寸信息,杂质图片。6. 性能:STD<1%(粉末);STD<5%(颗粒) ISO14484
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种杂质元素相关的试剂

种杂质元素相关的方案

  • ICP-5000测定仲钨酸铵中15种杂质元素含量
    仲钨酸铵(APT)是其他钨化合物和钨合金制备的原料, 作为添加剂常用于石油化工行业,其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低(0.001%),不同APT牌号对杂质含量要求不同(GB10116-2007),其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级,因此,在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。目前,国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Co、Ni、Cr、Al、Ca、V、Cd、Mn等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式,具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点,本文采用氨水和双氧水溶解样品,并用盐酸除去基体中钨,随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Al、Ca、Cd等15种杂志元素含量。
  • X射线荧光光谱法测定工业硅中杂质元素
    本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》,利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪,采用粉末压片制样方法,测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线,各杂质元素标准曲线线性良好,平行测定10次,各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。
  • ICP-5000测定仲钨酸铵中Co杂质元素含量
    仲钨酸铵(APT)是其他钨化合物和钨合金制备的原料, 作为添加剂常用于石油化工行业,其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低(0.001%),不同APT牌号对杂质含量要求不同(GB10116-2007),其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级,因此,在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。目前,国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Co等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式,具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点,本文采用氨水和双氧水溶解样品,并用盐酸除去基体中钨,随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Co等15种杂志元素含量。

种杂质元素相关的论坛

  • ICP—AES测定镀金液中的杂质元素

    镀金层具有优良的抗变色、抗氧化和耐腐蚀性能 、良好 的芯片焊接和引线键合性能以及较低的接触电阻和较好的 可焊性等优点 ,被广泛应用于军用半导体及微电子封装外 壳。但军用电子器件对镀金层质量要求很高 ,而镀 金液中 的金属 杂质 则 直 接 影 响 镀 金 层 质 量 ,这 些 杂 质 主要 有 铅 、 铜 、铁 、镍等 ,往往在金结晶过程 中共沉积。其 中铅最有害 , 1~10mg/L就能造成非常有害的影响 ,特别是在低 电流密 度区 ;铜可使低电流密度区变暗,与金共沉积使颜色异常 , 纯度下降 ;铁 、镍等在酸性溶液或碱性亚硫酸盐槽液里 与金 共沉 积 的倾 向要 比在 碱 性氰 化 物 槽液 里 大得 多 ,对 金 的纯 度及颜色有害 。因此 ,准确测 定镀金液 中杂质元素 的含量 具有 重 要意 义 。目前 ,国内外对镀金液中杂质元素的测定虽有报道,但 多针对镀金液中单元素的分析研究 ,多元素的同时测定 多采 用 ICP—AES法 和 ICP—MS法 ,由 于镀 金 液 中大 量 基体元素金的存在对杂质元素测定的干扰和抑制作 用,高 盐样品直接进样导致进样系统堵塞和金的记忆效应等诸 多 问题,使得用 ICP—AES法直接测定镀金中杂质元素浓度相 当困难 。为此 ,研究 了用甲基异丁基酮(MIBK)有机试剂萃 取分离 了镀金液中的金后,采用 ICP—AES法测定镀金液中 Pb,cu,Fe,Ni4种杂质元素的方法 。为寻找镀金液中杂质元素的测定方法 ,运用甲基异丁基 酮(MIBK)萃取分离金 ,采用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP—AES)法对镀金液中的杂质元素进行了分析。对分析谱线、基体元素和等离子体参数等进行了讨论。结果表 明,这种方法的检出限为 0.008—0.019 g/mL,回收率为 89.4% 一102.3%,相对标准偏差 (RSD)小于 3.12% 。该法准确 、快速 、简便 ,应用于镀金 液 中杂质元素的测定 ,结果令人满意 。

  • 【原创大赛】ICHQ3D元素杂质指导原则下的药物中24种元素杂质方法开发与验证

    【原创大赛】ICHQ3D元素杂质指导原则下的药物中24种元素杂质方法开发与验证

    [color=#333333]ICHQ3D元素杂质指导原则下的药物中24种元素杂质方法开发与验证[/color][color=#333333]第一部分:一套[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]方法精确稳定测试ICHQ3D元素杂质指导原则下的药物中24种元素杂质可行性[/color][color=#333333]对于[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]来说,几十种元素同时测定对于仪器来说理论上是可行的,但是存在很多挑战。以ICH Q3D元素杂质指导原则下的药物中24种元素杂质同时测定为例,从实践经验出发,做简要说明。[/color][color=#333333]首要问题是要考虑这些元素包括各自溶液里面含有的基体离子是否可以稳定共存。由于Ru,Pd,Au,Os,Pt等元素基体为盐酸,银离子这个氯离子会产生AgCl沉淀。很多有经验的人都说Ag可以用2%盐酸络和,可是AgCl2与AgCl肯定是存在沉淀溶解平衡的,简单说,我不认为可溶性银可以在含有氯离子的溶液里长时间稳定存在。但是,可以有个折中的办法,就是把Ag和其他含有盐酸基体的元素分开配成母液,等制备线性和加标样品溶液时再让他们混合在一起。《医药分析杂质》2020年的顾宵等人曾考察了葡萄糖酸钙注射液24种元素的溶液稳定性,无论是标准线性溶液还加标样品溶液的波动均在8%以内。[/color][color=#333333]第二个问题是,Hg,Au,Os等元素需要加2%左右的盐酸才能较好得稳定在待测溶液里,否则,会有严重的残留可能连元素线性都走不出来。问题就来了:仪器必须要有较强的消除干扰的能力。(如果仪器无法耐受ClO的质谱干扰,那至少要两套方法,V和Cr需要另外做了)。[/color][color=#333333]第三个问题:由于元素过多,可能会存在同量异位素,比如说Pd与Sn。通过软件推荐与个人判断选择没有重叠的质量数。可在参考前篇文献的基础上,再做微调即可。[/color][color=#333333]最后,随着进样系统的改进,稀释气成了主流[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]仪器的标配,但是因为含有Os,Au,Hg等元素,如果你没有加盐酸去增加溶液对这些元素的溶解性,稀释气不要开太大,不推荐超过0.2L/min。避免更严重的元素残留。[/color][color=#333333]其实,从分析可以看出来,即使做到一个方法里,对仪器与人员都要求较为严苛,付出的劳动肯定是加倍的。这种情况,不论是最终两套还是一套方法,理所当然得要更多的报价才符合实际。[/color][color=#333333]第二部分:谁是ICHQ3D元素杂质里最难测定的元素?[/color][color=#333333]前文说,在不考虑样品基体的情况下,存在24种ICH要求元素的一次测定的可能性。本篇文章以最近实验为例,做简要说明:实际项目里复杂基体做24种元素的复杂性。[/color][color=#333333]在不能抗ClO干扰的仪器上,Au就是YYDS。为了Hg的稳定性不得不加入了200μ/l的金元素,搞得Au深度残留。所谓深度残留就是说:在碰撞反应池前可能都有大量的残留,也就是说你把仪器的能换的东西都换一遍,也不能解决金元素的残留。在更换炬和锥的前提下,也需要冲洗很久,需要数个小时,才能将空白冲洗到亚ppb级别。显然,在第三方实验室是不可能给你这么用仪器的。现实往往就是需要我们在较高金元素背景的基础上去做实验。[/color][color=#333333]大家都知道可以Au的基体是盐酸,理论上来说,用盐酸会更好,也可以把金元素和含盐酸基体的元素一起做。但如果真的用盐酸体系去做实验会遇到很多坑。原因是:不同Cl的含量和Cl的化学形态会影响在仪器上Au脱附的程度(结论来自于实践经验,不作赘述)。所以,前文那个在葡萄糖酸钙注射液里同时测定24元素的文献是比较鸡贼的,挑了一个最简单的情况去做应用。[/color][color=#333333]曾遇到的比较反直觉的用盐酸基体做Au的案例:开发实验的样品金元素测得值基本平行,加标回收率虽然波动比较大,但也符合要求。但是过程空白RB偏高,按说强度应该和同等酸度的线性空白一致,你总不能说加热一下,就凭空出来很多金元素吧?所以,这时候我为了避免偶然性,读了一百次数据,如下图[/color][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/09/202109200126549456_7799_3426767_3.[/img][align=center][img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/09/202109231031398718_2301_3237657_3.jpg!w690x517.jpg[/img][/align][color=#333333]此时信号,经过四十多秒的上升期,以后信号相当稳定,但是有一点点下降趋势。分析如下:前面那40多秒的上升期:属于基体切换过程中的进样系统脱附的过程,后面的信号其实就是Au不断洗脱而检测下来的信号。重新走线性空白(含有和过程空白与样品溶液同等含量的盐酸)就信号变得很低,所以不可能是试剂里面的。真相就是:不同Cl的化学形态影响了仪器进样系统的金元素的洗脱效率,并且,这个过程较为稳定(洗脱Au的过程比较漫长),所以信号也比较稳定,只是略有下降趋势。图中绿色线为内标Bi,红色为Au元素信号。[/color][color=#333333]前文说的折中方案其实就是最终方案。实际的项目复杂性,不仅仅在于理论上的,更多时候是要考虑此时此地的资源。最后结论是:很多时候ICH的24个元素三套验证是可以保证的,两套要看实际情况,一套除非是特例,比如可以直接溶解,样品浓度比较小等情况时。关键性元素Ag,V,Cr一起,贵金属,Os等盐酸基体元素一组,Au理论上可以归到第二组,实际上,很多需要消解的例子,只能是单独拿出来用硝酸体系做,以避免Au的洗脱效率不同而造成数据异常。如果您的仪器用Au去做Hg的稳定剂,那么Au就是最难做的元素,没有之一,此时最后解决之道也变成了:索性让Au稳定在仪器上,往往避免加盐酸,而把金做到硝酸体系里去,但是硝酸溶解金的能力弱,所以溶液残留也比较严重。做实验的时候需要注意冲洗,算是一个折中的办法。如果想要扯彻底的解决Au难测定的问题,只有用额外加稀盐酸的方式去稳定Hg,此时实验室的解决方案才更有可能一套方法去测定24元素。[/color][color=#333333]第三部分:在深度残留Au的仪器上,且仪器可使用时间有限的情况下,做Au元素开发验证的要点。[/color][color=#333333]降低仪器本底还是必须要做的:用样品溶液冲洗仪器的Au残留20min,同时起到了老化锥口的作用。[/color][color=#333333]关闭稀释气体,稀释气会让气溶胶更干,从而让难溶解的Au更容易的残留,增大冲洗的难度。[/color][color=#333333]每针溶液之间用稀释剂(稀硝酸)冲洗,千万不要用盐酸冲洗,这会把残留的Au大量得冲洗下来,而完全冲洗下来又需要的时间太长,反而把事情搞得更复杂了。[/color][color=#333333]当进第一个样品基体时,要注意放置一段时间(比如:3分钟)再开始测试,避免切换样品溶液过程中冲洗下来比稀硝酸多几倍的金。当然,如果样品就是盐酸,我们可以尽可能得减小样品浓度,并且考虑基体匹配。[/color]

种杂质元素相关的资料

种杂质元素相关的资讯

  • PerkinElmer推出元素杂质检测解决方案应对美国药典232/233杂质元素检测要求
    美国药典(U.S.Pharmacopeia,简称USP) 是一家制定法定公共医药保健产品标准的权威机构,主要药品质量标准和检定方法作出的技术规定。美国食品药品监督管理局(Food and Drug Administration,简称FDA)的职责是对药品进行管理和监督,在管理和监督过程中就会引用USP相关标准。很多没有法定药典的国家通常都采用美国药典作为本国的药品法定标准,因此国内相关药厂向美国以及这些国家出口的药品或原材料或辅料时就必须符合美国药典的要求。药物杂质按其性质可以分为有机杂质、无机杂质、残留溶剂三大类,其中对于无机杂质主要涉及杂质元素的检测,美国药典2008年9月份提出对杂质元素的检测进行修改,正式实施的日期是2015年12月1号。美国药典USP232明确要求测定各元素杂质含量,并规定了15 种金属元素杂质(Cd、Pb、As、Hg、Ir、Os、Pd、Pt、Rh、Ru、Cr、Mo、Ni、V和Cu)的每日允许暴露值(PDE),USP233提供了两种基于现代分析仪器的检测方法,并已由USP 下属的分析开发部门验证。新通则中所述两种方法分别是电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES法或ICP-OES法)、电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS 法),样品均采用封闭容器微波消解法。对于准备进入美国或相关市场或已在该市场有销售的原料药或制剂厂家,必须在新法规执行之前做好充分的准备,提前对即将上市申报的产品进行金属元素杂质风险评估;同时需要做好硬件和软件上的升级,按照法规的要求,开发和验证适合自己公司产品的金属杂质检测方法,保证上市产品符合法规要求。否则,即使现在药品申请已被FDA批准,在2015 年12 月1日新法规正式执行生效后,还需对工艺中的各个阶段潜在的、加入的或不经意引入的金属元素杂质进行风险评估,并再次经FDA批准,后续工作将非常烦琐。针对以上情况,PerkinElmer推出针对USP 232/233的解决方案来应对美国药典元素杂质的检测要求。解决方案下载地址:http://go.perkinelmer.com/l/32222/2014-08-26/28svh/32222/57362/PerkinElmer_USP232233.pdf
  • 药典新标准公示|复方氨基酸类注射液中铝元素杂质测定指导原则
    铝元素如果通过注射液进入静脉,会不经过胃肠道消化吸收过程直接进入血液,对人体有一定的毒性。美国药典和日本药方局均对肠外营养制剂中的铝含量进行限度控制。目前,《中国药典》还未收载与氨基酸类注射液中铝元素杂质测定方法相关的通用技术要求。2023年11月14日,国家药典委将拟制定的复方氨基酸类注射液中铝元素杂质测定指导原则公示征求社会各界意见(详见附件),原文链接点击:原文链接。公示稿中,辽宁省药品检验检测院分别采用电感耦合等离子体质谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱法、高效液相色谱法、原子吸收分光光度法等方法对复方氨基酸类注射液中杂质铝元素的含量进行测定对比,最终形成3个通用方法,即ICP-MS法、ICP-OES法、HPLC法。指导原则对三个方法进行详细描述,每个方法均包含标准曲线法和限度检查法。ICP-MS法、ICP-OES法均为常见的金属元素测定方法,本文详细介绍HPLC法测定复方氨基酸类注射液中铝元素杂质含量。色谱条件:根据复方氨基酸类注射液处方组成选择适宜的固定相和流动相。固定相推荐使用苯乙基键合硅胶为填充剂。流动相推荐使用8-羟基喹啉乙腈溶液-醋酸铵溶液,柱温30℃;流速0.1mL/min;进样体积100µL;以荧光检测器(激发波长为380nm,发射波长为520nm)进行测定。分析方法:本法系依据复方氨基酸类注射液中游离态铝和 8-羟基喹啉形成铝离子荧光络合物,采用配有荧光检测器的高效液相色谱仪测定该荧光络合物的含量,一般可采用标准曲线法或限度检查法。衍生化方法:取空白溶液、标准品溶液、供试品溶液各 4.5mL,分别加入盐酸 0.5mL,并在 50℃水浴中水解30min 后,精密量取水解液 0.1mL,精密加入衍生试剂 0.9mL,混匀。衍生试剂:取流动相 30mL,加入 50% 氢氧化钠溶液 180μL,混匀即得,该试剂需临用前新制。本标准的制定将更好地保障我国人民群众用药安全,并使《中国药典》通用技术要求与国际标准接轨。更多药典相关新闻可点击下方专栏关注。附件:复方氨基酸类注射液中铝元素杂质测定指导原则起草说明公示稿.pdf复方氨基酸类注射液中铝元素杂质测定指导原则公示稿.pdf
  • 锂电池正极材料中杂质元素的准确测定,很难吗?
    锂电池的正极质量影响着电池的充放电性能,其中正极的主量元素配比以及杂质元素的浓度尤为重要。当正极材料中存在铁 (Fe)、铜 (Cu)、铬 (Cr)、镍 (Ni)、锌 (Zn)、铅 (Pb) 等金属杂质时,电池化成阶段电压达到这些金属元素的氧化还原电位后,它们就会先在正极氧化,然后再到负极还原成单质。当负极处的金属单质累积到一定程度,其沉积金属坚硬的棱角就会刺穿隔膜,造成电池自放电,对电池造成损害,甚至致命影响。因此,从正极源头上保证其纯度,防止金属杂质异物的引入,对电池生产质控就显得格外重要。目前的锂电池企业通常采用电感耦合等离子体发射光谱法 (ICP-OES) 测定主量元素配比以及杂质元素含量。ICP-OES仪器相对较低的购买和使用成本,使之在相关企业有着广泛的使用。随着锂电池产业升级加速,生产质控愈发严格,对正极材料中元素杂质含量限度要求越来越苛刻。ICP-OES由于其自身原理的局限性,在部分含量较低的杂质元素如Cr、Cu、Fe、Zn、Pb的准确检出方面出现瓶颈。例如,在某些生产工艺控制严格的企业,上述5个元素的控制浓度在1ppm左右(个别厂家Fe含量在10ppm以内),在日常检测中,经过100倍固液稀释比的样品前处理后,样品上机测定时的浓度低至10ppb以下。由于在主要检测观测区的谱线干扰严重,能否实现上述杂质元素浓度的准确分析,对ICP-OES的性能提出了非常大的挑战。与ICP-OES相比,电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)的测定灵敏度更高,检出能力更强,检测下限更低,更加符合锂电池企业高效率准确检测低含量杂质元素的需求。ICP-MS的工作原理决定了其受到的干扰与ICP-OES有较大的区别。ICP-MS受到的干扰主要分为基体干扰和质谱干扰。通常情况下,锂电池正极样品前处理的固液稀释比例在100~200倍,而且前处理时使用较多的酸,使得样品中的固溶含量和酸度都很高,造成ICP-MS的空间电荷效应和电离抑制,待测元素受到基体干扰;对于正极材料样品来说,较高浓度的主量元素会与O、Cl、N等元素结合,形成分子量为M+16、M+35、M+14等质谱干扰。另外,主量元素的高浓度还会产生拖尾,影响分子量M±1元素的测定。如何帮助锂电池企业使用ICP-MS有效克服上述诸多干扰,提高生产效率以及产品质量和性能,成为ICP-MS供应商面临的重要任务。标配全基体进样系统 (AMS) 的珀金埃尔默NexION系列ICP-MS,配合大锥孔三锥设计,QID四极杆离子偏转器,以及具备标准、碰撞和反应三种模式的UCT通用池,可以获得优异的基体耐受性、仪器稳定性和更低的记忆效应。通过进行简单易行的仪器参数优化、干扰消除模式选择和同位素质量数选择,有效消除基体和质谱干扰,准确测定锂电池正极样品中的低含量杂质元素。下述表格显示了NexION 1000G ICP-MS对来自锂电池生产企业的正极材料样品中Cr、Cu、Fe、Zn、Pb杂质元素含量的测定结果,以及仪器方法的优异性能。表1.锂电池正极样品测定结果表2.锂电池正极样品加标回收率测定结果** Cu、Pb、Cr加标5μg/L;Zn、Fe加标50μg/L如何简单有效地做到准确测定锂电池正极材料中低含量杂质元素?请扫描下方二维码即刻获取《ICP-MS测定锂电池正极材料中Cr,Cu,Fe,Zn,Pb杂质元素含量》。扫描上方二维码即可下载右侧资料➡
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