样品制备后表征

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样品制备后表征相关的耗材

  • 石墨烯材料及其他新型低维材料检测表征服务
    泰州石墨烯研究检测平台是泰州市政府与泰州巨纳新能源有限公司共同成立的国内 石墨烯性能测试与结构表征的综合性研究及检测机构。平台目前建有近千平方米的检测洁净室,拥有高分辨拉曼光谱仪、原子力显微镜、三维共聚焦显微镜、电子束曝光系统、近场光学显微镜等国际先进的新材料性能检测及结构表征设备。平台致力于在石墨烯等高新碳材料以及新型低维材料(如各类二维材料、量子点)等领域提供全面专业的检测及表征服务。泰州石墨烯研究检测平台相关检测服务:微区形貌表征:表面洁净度、平整性、层数或厚度判定、均匀性分析等原子结构表征:原子缺陷、层间堆垛方式、电子能带结构等光学性能表征:紫外到红外波段透射、反射、吸收性能等成分检测及分析:元素含量与比率、官能团分析等电学、力学、热学、电化学性能表征等各种定制研究检测服务(如二维材料的光电响应测试)等 检测项目检测内容描述二维材料光电响应测试二维材料的光电响应测试定制化分析实验方案协助制定、数据分析整体解决方案原子力显微镜(AFM)检测石墨烯层数/厚度,尺寸,AFM图像光学显微分析石墨烯层数/厚度,尺寸,对比度分析,光学显微图片荧光显微分析发光样品显微图片3D显微分析石墨烯均匀性,表面起伏度,表面残余物检测拉曼(Raman)光谱分析(单谱) 石墨烯洁净度,层数,掺杂浓度,缺陷含量等拉曼(Raman)光谱分析 (单谱+成像)石墨烯洁净度,层数,掺杂浓度,缺陷含量等扫描电子显微镜(SEM)检测样品微观形貌(分辨率10nm)超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息生物型透射电镜获取显微形貌,适合对分辨率不高但是衬度要求高的高分子、生物型样品透射电子显微镜(TEM)检测获取显微形貌截面离子束抛光用离子束抛光,去除表面应力层,适合复杂样品的EBSD的采集,以及截面样品的SEM观察离子束平面研磨高分辨透射电子显微镜(TEM)检测样品高分辨形貌(分辨率1nm),衍射图(结晶度,晶格取向等)低真空场超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息 变温光学显微镜获取样品的显微形貌,具有明场、暗场、偏光、微分干涉等模式电子背散射衍射—STEM检测获取微观取向信息,可用于晶粒度、晶界、织构、应力等分析X射线光电子能谱(XPS)表面元素含量及化学价态(氧含量分析,成键态),结晶性能等紫外可见吸收光谱分析200-3300nm薄膜、溶液的透射率,吸收率等红外光谱分析(FTIR)红外波段透射(350-7800cm-1),有机物官能团分析等X射线荧光光谱分析元素的定量和半定量分析直读光谱分析获取样品的成分灰分测试获取样品的灰分能谱仪分析获取样品的元素成分和分布,微区域元素的定性和半定量分析等离子体发射光谱元素分析分析样品中无机元素的准确成分及定量辉光放电质谱分析H以外的所有元素,包括常用分析方法难以测定的C,N,O,P,S等轻元素超低检测限,大多数元素的检测限为0.1~0.001ug/G碳硫元素分析C 和 S 的比例元素分析C H O N S 的比例元素分析同位素质谱元素分析:C、N、S 百分含量 同位素质谱:13C、15N含量离子色谱-阴离子阴离子含量分析电感耦合等离子体质谱痕迹量元素测定电子探针 元素定性分析、定量分析X射线衍射分析结晶度、晶粒大小、层间距等显微红外分析微区样品红外光谱采集液相色谱分析样品有机物质的含量圆二色光谱分析液相色谱质谱联用分析 样品有机物质的含量及具体成分气相色谱易挥发的有机物质的含量气相色谱-质谱联用易挥发的有机物质的具体成分核磁共振分析氢谱、碳谱石墨烯薄膜热传导性能测试石墨烯热导率热重分析测试材料的质量随温度的变化,可用于分析构成的比例热差分析测定样品在程序控制温度下产生的热效应,可分析融点、成分构成、热性能、相转变、结晶动力学等信息同步热分析测量样品的热流、转变温度和重量变化三种信息力学性能测试 (氧化石墨烯纸/薄膜等)拉伸应力、拉伸强度、扯断强度、剪切剥离力、杨氏模量等电阻测试(薄膜样品)薄膜面电阻等比表面积测试(BET)测试样品比表面积椭圆偏振分析平板材料或者薄膜的折射率、反射率、膜厚、吸收系数测定电学性能测试(Transport)迁移率,掺杂浓度等纳米粒度分析纳米粒径的分布微米粒度分析微米粒度的分布PH值测试测量PH值
  • Styragel色谱柱——用于表征聚合物
    Styragel色谱柱——用于表征聚合物Styragel色谱柱设计专用于表征聚合物,分为三大系列:用于分析低-中分子量的HR系列,用于高温应用的HT系列,以及用于超高分子量样品的HMW系列。特别控制的聚乙烯二乙烯苯配方,为您的GPC应用提供重现的分析结果。Styragel HR 色谱柱(高分辨)Styragel HR(High Resolution,高分辨)系列色谱柱,专门设计用于低-中分子量样品的分析。色谱柱用坚硬的5μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充,为低分子量样品提供分析所需的最大化分辨率和柱效。Styragel HT 色谱柱(耐高温)Styragel HT(High Temperature,高温)系列色谱柱,专门设计用于中-高分子量范围。色谱柱使用坚硬的10μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充,能够在室温或高温条件下使用而仍保持极佳的分辨率。其所具有的窄的粒径分布,使得柱床结构更稳定,也就是使得Styragel HT柱特别耐用。Styragel HMW 色谱柱(高分子量分析)Styragel HMW(High Molecular Weight,高分子量)系列色谱柱,专门设计用于对剪切力敏感的、超高分子量的聚合物分析。色谱柱使用坚硬的20μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充,而且安装的是特殊设计的大孔径柱筛板,使对聚合物分子的剪切效应最小化。能够在室温或升温条件下使用,有极好的柱寿命。色谱柱规格方面,您可以选择传统的7.8mm内径规格,或者是更节约溶剂的4.6mm内径规格。如前所提的三大Styragel系列柱,均提供4.6mm内径柱;有单一孔径柱,也有混合型柱床柱(E)。使用内径较小的Styragel柱,能够为您节约溶剂消耗及环保处理费用高达2/3。当使用具有低谱带展宽体积的GPC系统时,我们的4.6mm内径柱可媲美7.8mm内径柱的高性能。Styragel 保护柱Styragel 4.6mm id x 30mm保护柱,设计用于提高您的Styragel分析柱的柱寿命。该保护柱能够配合沃特世任一系列的GPC柱使用。色谱柱的选择与优化选择合适的色谱柱,对于优化性能至关重要。为一个分析应用挑选最佳色谱柱的规则非常直接:它只对您希望分离的分子提供分离。不要选择色谱柱的排阻上限值比您希望保留分离的最大分子所需的排阻上限还要大的色谱柱。如果希望测量分子量广泛分布时,使用混合柱床(mixed-bed)或扩展范围(extended-range)色谱柱是恰当的选择,这能够对所有分子量大小提供一致的分离能力。Styragel色谱柱提供混合柱床和窄分子量范围柱床两种规格。混合床色谱柱,用字母“E”来标记代表拓展分子量范围(Extended range),特别适合作为筛选柱,适用于当您的样品的分子量范围未知、或是要测量的样品具有广泛的分子量分布时的情况。窄分子量范围柱,在更集中的分子量范围内,提供较大的孔容和更高的分辨率,对于要获得更精确分子量的应用是更有力的工具。Styragel HR系列(高分辨)柱的标准曲线图Styragel HT系列(高温柱)的标准曲线图Styragel HMW系列(高分子量柱)的标准曲线图Styragel柱产品规格货号一览表 7.8 x 300mm 4.6 x 300mm色谱柱 分子量范围 部件号 部件号 部件号 部件号 部件号 部件号 (THF) (DMF) (甲苯) (THF) (DMF) (甲苯)Styragel HT2 100-10,000 WAT054475 WAT054480 WAT054476Styragel HT3 500-30,000 WAT044207 WAT044208 WAT044206 WAT045920 WAT045925 WAT045915Styragel HT4 5,000-600,000 WAT044210 WAT044211 WAT044209 WAT045935 WAT045940 WAT045930Styragel HT5 50,000-4×10 6 WAT044213 WAT044214 WAT044212 WAT045950 WAT045955 WAT045945Styragel HT6 200,000-1×10 7 WAT044216 WAT044217 WAT044215 WAT045965 WAT045970 WAT045960Styragel HT6E 5,000-1×10 7 WAT044219 WAT044220 WAT044218 WAT045980 WAT045985 WAT045975Styragel HR0 .5 0-1,000 WAT044231 WAT044232 WAT044230 WAT045835 WAT045840 WAT045830Styragel HR1 100-5,000 WAT044234 WAT044235 WAT044233 WAT045850 WAT045855 WAT045845Styragel HR2 500-20,000 WAT044237 WAT044238 WAT044236 WAT045865 WAT045870 WAT045860Styragel HR3 500-30,000 WAT044222 WAT044223 WAT044221 WAT045880 WAT045885 WAT045875Styragel HR4 5,000-600,000 WAT044225 WAT044226 WAT044224 WAT045895 WAT045900 WAT045890Styragel HR4E 50-100,000 WAT044240 WAT044241 WAT044239 WAT045805 WAT045810 WAT045800Styragel HR5 50,000-4×10 6 WAT054460 WAT054466 WAT054464Styragel HR5E 2,000-4×10 6 WAT044228 WAT044229 WAT044227 WAT045820 WAT045825 WAT045815Styragel HR6 200,000-1×10 7 WAT054468 WAT054474 WAT054470Styragel HMW2 100-10,000 WAT054488 WAT054494 WAT054490Styragel HMW7 500,000-1×10 8 WAT044201 WAT044202 WAT044220 WAT046805 WAT046810 WAT046800Styragel HMW6E 5,000-1×10 7 WAT044204 WAT044205 WAT044203 WAT046820 WAT046825 WAT046815Styragel保护柱 WAT054405 WAT054415 WAT054410脂溶性凝胶柱Styragel分子量范围选择指南脂溶性凝胶柱Styragel柱溶剂选择指南聚合物 GPC溶剂 柱贮存溶剂(Styragel柱)
  • Styragel色谱柱-用于表征聚合物
    用于非水相样品的GPC色谱柱 Styragel色谱柱 — 用于表征聚合物Styragel色谱柱设计专用于表征聚合物,分为三大系列:用于分析低-中分子量的HR系列,用于高温应用的HT系列,以及用于超高分子量样品的HMW系列。特别控制的聚乙烯二乙烯苯配方,为您的GPC应用提供重现的分析结果。 Styragel HR 高分辨色谱柱Styragel HR(High Resolution,高分辨)系列色谱柱,专门设计用于低-中分子量样品的分析。色谱柱用坚硬的5μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充,为低分子量样品提供分析所需的最大化分辨率和柱效。 Styragel HT 高温色谱柱Styragel HT(High Temperature,高温)系列色谱柱,专门设计用于中-高分子量范围。色谱柱使用坚硬的10μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充,能够在室温或高温条件下使用而仍保持极佳的分辨率。其所具有的窄的粒径分布,使得柱床结构更稳定,也就是使得Styragel HT柱特别耐用。 Styragel HMW 高分子量色谱柱Styragel HMW(High Molecular Weight,高分子量)系列色谱柱,专门设计用于对剪切力敏感的超高分子量的聚合物分析。色谱柱使用坚硬的20μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充,结合以特殊设计的高孔缝度10μm筛板,使对聚合物分子的剪切效应最小化。能够在室温或高温条件下使用,有极好的柱寿命。 Styragel 保护柱Styragel 4.6mm id x 30mm保护柱,设计用于提高您的Styragel分析柱的柱寿命。该保护柱能够配合沃特世任一系列的脂溶性Styragel GPC柱使用。 订货信息:Styragel柱产品规格货号一览表色谱柱分子量范围7.8 x 300mm4.6 x 300mm*部件号(THF)部件号(DMF)部件号(甲苯)部件号(THF)部件号(DMF)部件号(甲苯)Styragel HT2100-10,000WAT054475WAT054480WAT054476Styragel HT3500-30,000WAT044207WAT044208WAT044206WAT045920WAT045925WAT045915Styragel HT45,000-600,000WAT044210WAT044211WAT044209WAT045935WAT045940WAT045930Styragel HT550,000-4×106WAT044213WAT044214WAT044212WAT045950WAT045955WAT045945Styragel HT6200,000-1×107WAT044216WAT044217WAT044215WAT045965WAT045970WAT045960Styragel HT6E5,000-1×107WAT044219WAT044220WAT044218WAT045980WAT045985WAT045975Styragel HR0.50-1,000WAT044231WAT044232WAT044230WAT045835WAT045840WAT045830Styragel HR1100-5,000WAT044234WAT044235WAT044233WAT045850WAT045855WAT045845Styragel HR2500-20,000WAT044237WAT044238WAT044236WAT045865WAT045870WAT045860Styragel HR3500-30,000WAT044222WAT044223WAT044221WAT045880WAT045885WAT045875Styragel HR45,000-600,000WAT044225WAT044226WAT044224WAT045895WAT045900WAT045890Styragel HR4E50-100,000WAT044240WAT044241WAT044239WAT045805WAT045810WAT045800Styragel HR550,000-4×106WAT054460WAT054466WAT054464———Styragel HR5E2,000-4×106WAT044228WAT044229WAT044227WAT045820WAT045825WAT045815Styragel HR6200,000-1×107WAT054468WAT054474WAT054470———Styragel HMW2100-10,000WAT054488WAT054494WAT054490———Styragel HMW7500,000-1×108WAT044201WAT044202WAT044200WAT046805WAT046810WAT046800Styragel HMW6E5,000-1×107WAT044204WAT044205WAT044203WAT046820WAT046825WAT046815Styragel保护柱—WAT054405WAT054415WAT054410——— *4.6x300mm溶剂节约型Styralgel色谱柱,能够提供与常规7.8x300mm Styragel色谱柱相同的高分辨能力,同时具有减少三分之二有机溶剂消耗的优点。注意!因所使用流速较低,对色谱系统的溶剂输送能力要求较高(精密度与稳定性)。

样品制备后表征相关的仪器

  • PrepChromaster-8000型高压制备色谱系统-----专为高通量纯化打造 为了满足中药与天然产物分离纯化领域的需求,推出了PrepChromaster品牌,为该领域提供制备色谱解决方案级产品,是中药与天然产物分离纯化实验室的理想选择。PrepChromaster-8000型是一款连接快速色谱和传统高压制备高效液相色谱的二元制备色谱设备,主要应用于药物活性成分、天然产物研究,合成化学分离纯化,在节省制备成本的同时极大地提高了分离效率。仪器特点1、本系统最大制备量可达克级,可适配10-100mm直径的各类色谱柱;2、本系统检测器使用全波长紫外-可见检测器,可同时选用4个不同检测波长3、本系统可使用Flash柱,支持各种级别的Flash低压分离纯化;4、本系统可以使用高压不锈钢柱,支持300bar以内高压级别的分离;5、本系统支持液体或固体样品上样,可以避免贮备过多的定量环;6、具有压力显示、报警、过压保护功能,实时监控泵的压力波动;7、本系统具有全波长光谱扫描功能,可检测190nm-850nm范围任意四个波长信号;8、带有光源自检功能,管理光源寿命,提醒及时更换;9、带有单色仪自校正功能,波长准确性高;10、进样方式独特设计,防止样品与溶剂扩散;11、本系统采用先进的进样技术,两种进样模式可选,进样时间短,避免样品残留和堵塞;12、高速准确的阀切换,避免样品的损失,提高回收率。13、本系统可以使用小粒度填料的不锈钢柱和商品化的Flash柱;14、独立的进样和馏分收集流路,避免交叉污染;15、智能馏分收集器可按体积、阈值、时间和色谱峰收集馏分;16、本系统提供多种标准试管架和试管,用户可自定义试管架,标配孔径18mm试管架;17、软件具有自动进样、梯度、色谱图、馏分收集图、设备状态同图显示的功能;18、软件具有自动进样状态显示与控制功能,可显示阀、注射泵、进样臂的状态;19、软件支持梯度,程序设定功能,具有阶梯、线性、点-拖式梯度曲线;20、软件支持智能馏分收集,具有时间、阈值、峰值、手动等多种收集方式;21、软件支持馏分索引功能,实时显示馏分收集位置与对应的色谱峰位置;22、软件支持色谱分峰与定量功能、审计追踪、数据管理、用户管理、个人管理等功能;23、仪器操作有软件控制,分离纯化参数都可以在线更改;24、软件中文界面,模块化设计,便于学习和操作,符合中国用户使用习惯。 仪器组成1、高压二元梯度泵系统;2、混合器;3、四波长UV-VIS检测器;4、自动进样器馏分收集一体机;5、溶剂槽;6、模块化液相工作站;7、电脑 ; 技术指标泵1、流量范围:0~200mL/min单泵,0~400mL/min双泵;2、压力范围:标准300bar;紫外检测器1、检测器范围:190~850nm;2、检测器光源:氘灯-钨灯组合光源;3、波长精度:±1nm;重复性0.2nm;4、检测方式:UV-VIS检测器,4波长实时显示;自动进样模块1、定量环:10mL;2、进样位数:108位;3、试管规格:13*100mm;馏分收集模块1、馏分收集容器:400位(标配);2、试管规格:18*180mm,(其它规格可定制); 可选配件1、 蒸发光散射检测器;2、二极管阵列检测器; 由于技术不断进步,本公司保留设计更改之权利,更改恕不通知,敬请谅解。
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  • ChemTron 样品制备系统聚合物样品制备系统 ISP-1 * 该系统包含天平、注射泵和操作软件。 * 样品可以在 75 秒内完成制备* 样品信息会自动传输到 RPV-1 粘度量软件 * 使用重量 / 重量数据计算浓度优于重量 / 体积 -- 避免由于温度和密度造成的误差 * 内置安全自检程序 * 自动修正灰分和水分纸浆样品制备系统 ISP-2 * 该系统包含天平、注射泵和语音提示软件 * 样品可以在 75 秒内完成制备 * 样品信息会自动传输到 RPV-1 粘度量软件 * 使用重量 / 重量数据计算浓度优于重量 / 体积 -- 避免由于温度和密度造成的误差 * 内置安全自检程序 * 自动修正灰分和水分 * 声音信号提示操作员按步骤操作PP/PE 高密度样品制备系统 ISP-1HD* 样品信息会自动传输到 RPV-1 粘度量软件 * 使用重量 / 重量数据计算浓度优于重量 / 体积 -- 避免由于温度和密度造成的误差 * 内置安全自检程序 * 自动修正灰分和水分 * 声音信号提示操作员按步骤操作
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  • 材料表征 400-801-8117
    产品包括实验室加工设备药物制剂工艺设备旋转流变仪粘度计更多信息:请访问赛默飞世尔科技材料表征的展台,展位号:SH100279。或使用简易域名登陆:http://mctc.instrument.com.cn。
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  • 纤维样品的XPS样品制备与表征技巧

    介绍了XPS表征纤维样品的三种制备方法,并通过这三种制备方法对三类不同尺寸的纤维样品进行XPS分析及结果对比,进而展示三种制备方法的特点及适用范围。

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  • 专家约稿|表界面科学设备在原位材料制备及结构表征中的应用:STM及XPS
    根据热力学分子自由程理论,即使是达到标准大气压亿分之一的真空环境 (10-3 Pa),也存在着在一秒钟内彻底污染清洁样品表面的可能。对性质活泼的纳米材料表面,易潮解的氧化物以及对碳氢化合物亲合性比较好的样品,无论预处理如何精细,在把样品暴露环境的那一刻,整个表面就已经彻底改变。想要认识在此之前发生的过程对表面的影响也就无从谈起。因此一套互联表征仪器需要真正的具备原位表征能力。比较形象的理解如下图1所示,原位、特别是使役条件下的表征仪器,可以在一定程度上实现对材料在工况下的结构、化学组分等的研究,有利于理解所观测到的现象是由于何种原因所引起。因此,发展使役条件、生长环境中样品表面结构、化学性质检测是非常重要和必要的。图1. 不同观测条件下所研究对象的状态。从左到右分别是离线观测、准原位观测和使役条件下的观测。对于高质量的材料制备,其在各类基底上的生长可以理解是一个“催化反应”过程,催化反应的机理研究最大的困难在于表征设备和真实情况之间的鸿沟,如时间鸿沟、材料鸿沟、压力鸿沟、温度鸿沟等。实现真实反应条件下与各类表征平台的对接,从而达到高效表征,协同工作,减少测试周期,提高测试精确度和信息完整程度。对于目前研究的材料生长机理,关注重点包括前驱体在衬底上的初始状态、中间态、成核、扩散、聚集、相变、长大到单晶,分子束外延与扫描隧道显微镜的真空互联系统满足了上述需求,每一个过程所需要的信息包含结构形貌和化学组分。结构形貌:扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscopy,STM);化学组分:包含两部分,一是反应过程中所产生的、脱附的组分;另一个是留在衬底表面上的组分。前者可以用质谱仪来实时检测,后者可以用X-射线光电子能谱仪(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)来观测。各类设备的特点:1、 高温近常压STM优点:(1)工作气氛可到100mbar;(2)工作温度可达1300 K(真空);10 mbar气氛下可达250 ºC;(3)快速扫描(大于10帧/秒);(4)原位质谱联用;缺点:因高温高压而丧失部分分辨率,难以获得原子分辨;图2. (A)高温近常压STM的实物照片(图片来自材料科学与纳米技术中心,University of OSLO);(B)SPECS的reactor STM的原位反应池和STM探头实物图;(C)石墨烯在金属表面的生长过程实时高压高温STM原位图片。图2(A)所示的反应STM(高温、近常压STM)位于挪威的奥斯陆大学(University of OSLO)材料科学与纳米技术中心,其制造商为Leiden Probe microscopy(The Reactor STM - Department of Chemistry (uio.no))。笔者博士后期间所在的布鲁克海文国家实验室的CFN(功能纳米材料研究中心)也有一台同样配置的Reactor STM。主要包含HP stage(高压STM扫描部件),其中的反应池由于较小的体积可以非常快速的实现气氛与真空之间的转换;独特的控制器可以实现20帧/秒的速度;最优条件下最高气压可达5bar,最高温度可达300 ℃。另一款经典的reactor STM是SPECS Aarhus 150系统(SPM Aarhus 150 NAP | SPECS (specs-group.com)),SPM的扫描头安装于原位的反应池中,高温加热是以卤素灯为热源,其工作范围是超高真空中850 K,10 mbar气氛为550 K。图2B是该经典系统的实物图。此外,扫描头中搭配有进光口,可以实现光催化反应的原位监测。如图2C所示,在室温下,干净的Cu(111)表面上,甲烷吸附后无团簇形成,加热后在金属表面上逐渐形成小的团簇,并均匀的铺展在表面上,终止气体的通入,继续加热金属,可以观测到不同尺寸的石墨烯岛,再进一步升高衬底温度,小的岛会在表面上移动聚集形成较大尺寸的石墨烯,再通入甲烷气体,在边界上继续反应,使石墨烯岛长大逐渐形成单层石墨烯。2021年,美国Lawrence Berkeley National Laboratory表面催化反应的领军人物Miquel Salmeron与以色列Weizmann Institute of Science的Baran Eren在国际最知名的Chemical Review上发表了题为“高压扫描隧道显微镜”的综述文章,概述了在过去20年内,随着扫描隧道显微镜在表面催化领域中的发展,以晶体表面在mTorr到近常压的气体存在的条件下表面结构的变化为主题,提出了高压STM这一新工具在未来表面科学研究中的重要性。目前,全球近常压扫描隧道显微镜的厂家主要有SPECS、Leiden Probe等。国产扫描隧道显微镜设备目前依然以极低温为主。2、XPS图3. 将制备腔体与XPS联用,外加质谱检测。(A)真空样品制备腔与XPS一体化系统;(B)联用质谱;(C)近常压XPS原位检测示意图。XPS的发明贡献了两个诺贝尔物理学奖,其中1905年爱因斯坦解释了光电现象,并因此获得了1921年的诺贝尔物理学奖。瑞典物理学家Kai Siegbahn将XPS发展为一个重要分析技术,并获得了1981年的诺贝尔物理学奖。值得一提的是,其父亲Karl Siegbahn在1924年也获得过诺贝尔物理学奖“鉴于其发现并研究X-射线光谱-for his discoveries and research in the field of X-ray spectroscopy”。美国惠普公司于1969年制造了世界上首台商业单色X射线光电子能谱仪。1962年,Imperial College London的David Turner等人又研制了紫外光电子能谱仪(Ultraviolet photoelectron spectroscopy, UPS),利用紫外光研究价带电子状态,与XPS互相补充。XPS目前已经成为了一种常规的材料化学组分分析手段,由于其表面灵敏性,特别适合于表面分析,已经成为几乎所有高校和研究院所分析测试中心的标配仪器。与近常压STM相对应的,在表面反应中也需要近常压的XPS来实时探测表面化学组分的变化。我国第一台近常压XPS系统是由原中国科学院上海微系统与信息技术研究所的刘志研究员课题组搭建,该设备是基于SPECS的近常压系统进行定制化升级,能够实现在样品环境气压最高20 mbar的条件下的光电子能谱原位测量。样品最高可以加热到800K,能够满足大部分催化反应、固-气界面等研究。随着我国科研投入的不断加大,国家对基础科研和大科学装置中心的投入,表面科学研究团队的不断发展也得益于这一类先进表征技术的发展,包括上海光源、苏州纳米所的真空互联Nano-X等都建有非常全面的表面科学研究平台。图3A所示是包含样品制备系统的XPS,含离子源(用于清洗单晶表面);加热台(除气、晶化表面);各类蒸发源(包括金属、非金属等,材料生长);LEED(低能电子衍射仪,表征样品晶化结构);原位氧化系统等;在生长腔内靠近样品处导入收集管与质谱系统连接,实时分析样品制备过程中所产生物质的化学成分(图3B)。图3C是近常压XPS系统的示意图,可以在近常压的反应氛围下监测在材料生长过程中样品表面上发生的化学变化,与质谱信息相对应,实现化学组分的分析。3、低温STM(含q-Plus AFM功能)超高真空低温STM的优点为超高分辨率,可达亚Å。超高稳定性,4K液氦温度下可以实现谱学测量,如拓扑态、能带、缺陷态、边界态、电荷分布等的实空间测量。对于STM而言,只有在低温环境中实现谱学测量的条件下才真正发挥了其独一无二的功能。仪器实物图如图4A所示,包含扫描腔、制样腔和进样腔,其中扫描腔外部较高的不锈钢杜瓦是为储存如液氮、液氦等制冷剂以实现扫描头和样品的极低温,从而实现高质量图、谱测试。样品托和扫描头的改进满足多尺度研究,如低温条件下的原位沉积。图4B所示,在腔体外部所放置的蒸发源可以聚焦到样品表面,实现原位生长和原位观测,对于分子或小尺寸纳米颗粒有独特优势;除此之外,样品托上可以改装成包含栅极、电压、电流接口的模型器件,可以在电场条件下原位监测样品表面电学信号的改变。组合q-plus AFM实现单原子键成像:2009年瑞士苏黎世IBM研究中心L. Gross等人首次报道了利用在AFM针尖上吸附单个CO分子获得了具有化学键分辨的分子结构图像,如图4C(右)所示,从上到下分别是并五苯的分子结构,STM图和AFM图像,针尖修饰的AFM图像可以清晰的分辨出分子中的五个苯环(Science, 2009, 325, 1110)。图4. (A)低温扫描隧道显微镜实物图(Omicron);(B) 上:可以进行原位沉积的扫描腔;下:可加电场的样品托设计图;(C)左:Q-plus AFM针尖托实物图(Omicron);右:并五苯分子的结构示意图、STM和AFM图像;(D)C26H14在Ag(100)表面上加热后发生脱氢反应的产物STM和AFM图像。自此之后,STM研究领域又开辟了一个崭新的方向,也赋予了STM更加突出的化学键分辨优势。因此,目前许多低温STM系统中都选配qPlus AFM配件用于化学键的成像。如图4D所示是C26H14前驱体分子在Ag(100)表面上脱氢聚合过程中化学键的变化(Science, 2013, 340, 1434)。从STM图上仅仅可以看出形貌的变化(第一排),AFM图像可以清晰的分辨出过程产物的不同键合情况(第二排)。最近越来越多的研究工作表明q-Plus AFM在研究反应过程中间产物中所发挥出的独特作用。笔者在准备草稿时,7月14日第377卷Science中有两篇文章均是利用q-Plus AFM实现了可控的表面化学反应操控和表征,以及超高分辨的水合质子的结构区分。在qPlus非接触原子力显微镜领域中,我国科学家江颖教授长期致力于超高分辨的SPM系统的研制和开发,近年来在表面二维冰的结构和动力学研究中取得了一系列突破性成果。4、展望以光源、“Nano-X” 真空互联实验站为代表的大科学装置中心及各研究院、大学科研平台中,根据其科研特色和研究方向,逐渐形成了材料生长、测试分析、器件加工、性能表征等大型设备互联的科学装置。主要解决了超高真空中样品易氧化、低温样品稳定性等难题,具有传统超净间无法比拟的优势。完全排除了外界环境因素的干扰,实现原子尺度下材料的本征性质及器件性能的表征。对新材料,特别是下一代先进半导体材料、量子信息材料的制备与表征具有重要意义。我们也需要认识到,从光源、互联站、到分析测试中心,再到每一个课题组的平台设施,国外进口的设备占比不低于50%,特别是高端的制造和表征设备。随着我国科研投入的增加,创新型企业如雨后春笋般不断涌现,在表界面科学相关领域,如费勉仪器的分子束外延系统、低温样品台;玻色子的低温扫描隧道显微镜、中科艾科米的无液氦系统等,也逐渐在国内甚至国际的表界面、凝聚态物理、在位化学等研究领域崭露头角。也希望国内各大研究院、所、高校等在购置相关设备时,可以考虑国产厂商,一起参与到我国重大仪器设备的自主研发中。作者简介牛天超,北航杭州创新研究院(余杭)研究员。2013年博士毕业于新加坡国立大学,之后分别在中科院上海微系统所、美国布鲁克海文国家实验室、南京理工大学和上海交通大学从事研究工作。主要研究方向是基于分子束外延生长制备和扫描隧道显微镜表征的二维材料生长机理及表面功能化研究。第一及通讯作者在包括Adv. Mater., J. Am. Chem. Soc., 和Prog. Surf. Sci.等期刊发表研究论文及综述30余篇。目前正在筹建中法航空大学(筹)理学院新型量子物态平台。参考资料:1、M. Salmeron, B. Eren, High-pressure scanning tunneling microscopy. Chem. Rev. 121, 962-1006 (2021).2、F. Albrecht,S. Fatayer, I. Pozo, I. Tavernelli, J. Repp, D. Peña, L. Gross, Selectivity in single-molecule reactions by tip-induced redox chemistry. Science 377, 298-301 (2022).3、Y. Tian, J. Hong, D. Cao, S. You, Y. Song, B. Cheng, Z. Wang, D. Guan, X. Liu, Z. Zhao, X.-Z. Li, L.-M. Xu, J. Guo, J. Chen, E.-G. Wang, Y. Jiang, Visualizing eigen/zundel cations and their interconversion in monolayer water on metal surfaces. Science 377, 315-319 (2022).4、苏州纳米真空互联实验站5、K. Bian, C. Gerber, A. J. Heinrich, D. J. Müller, S. Scheuring, Y. Jiang, “Scanning probe microscopy”, Nat Rev Methods Primers 1, 36 (2021).6、L. Gross, F. Mohn, N. Moll, P. Liljeroth, G. Meyer, The chemical structure of a molecule resolved by atomic force microscopy. Science 325, 1110-1114 (2009).
  • 碲系化合物半导体靶材制备及镀膜性能表征
    HS-TGA-101热重分析仪(TG、TGA)是在升温、恒温或降温过程中,观察样品的质量随温度或时间的变化,目的是研究材料的热稳定性和组份。广泛应用于塑料、橡胶、涂料、药品、催化剂、无机材料、金属材料与复合材料等各领域的研究开发、工艺优化与质量监控.碲系化合物半导体靶材制备及镀膜性能表征【北京有色金属研究总院 潘兴浩】碲系化合物半导体靶材制备及镀膜性能表征上海和晟 HS-TGA-101 热重分析仪
  • 中科院物理所|新一代高通量薄膜制备及原位表征技术获进展!
    p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 近日,中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心技术部电子学仪器部郇庆/刘利团队和超导国家重点实验室金魁/袁洁团队,在新一代高通量薄膜制备及原位表征技术研发获得重大进展,该成果发表于近期的《科学仪器评论》杂志上 span style=" color: rgb(0, 0, 0) " 【Review of Scientific Instruments 91, 013904 (2020) doi: 10.1063/1.5119686】 /span a href=" http://www.iop.cas.cn/xwzx/kydt/202002/P020200212416644690060.pdf" target=" _self" span style=" color: rgb(0, 112, 192) " (文章链接) /span /a 。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/e637a6c9-3502-4446-8d0c-ea9fb16b6e59.jpg" title=" 图片4.png" alt=" 图片4.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心技术部电子学仪器部郇庆/刘利团队一直致力于科研仪器装备的自主研发;超导国家重点实验室金魁/袁洁团队专注于基于高通量组合薄膜技术的新超导体探索和物理研究。近些年来,两个团队密切合作、联合攻关,共同指导SC2组博士生何格(目前在德国做洪堡学者)、魏忠旭、冯中沛等同学 strong span style=" color: rgb(0, 0, 0) " 成功研制并搭建了一台高通量连续组分外延薄膜制备及原位局域电子态表征系统。 /span /strong 该系统采用的关键技术为研发团队首次提出,核心部件均自主研发,具备多项独特优点: strong 1) /strong 采用专利的旋转掩膜板设计,避免累积误差和往复运动的问题,大大提高了系统运行精度和稳定性; strong 2) /strong 特殊设计的STM扫描头能够实现大范围XY移动(& gt 10 mm)和高精度定位(定位精度优于 1 μm); strong 3) /strong 完备的传递设计可实现样品、针尖、靶材的高效传递,并易于未来功能扩展。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 该研发团队对系统进行了反复地设计优化和改进(研发历时4年多,设计版本多达50多个),并完成了全面的性能测试。他们利用自研系统制备了高质量的梯度厚度FeSe样品,得到可靠的超导转变温度随厚度的演变关系。在HOPG样品、金单晶样品、BSCCO样品以及原位生长FeSe样品表面均获得了高清原子分辨图像,并测量了BSCCO样品局域超导能隙扫描隧道谱。 strong 目前,该系统已用于研究高温超导机理问题和新型超导材料探索。 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 作为目前国际上最先进的第四代高通量实验设备,审稿人和项目验收专家组均给予了高度评价,认为该设备实现了研究应用和核心技术上的创新突破,解决了现有技术的诸多缺陷和不足,将成为材料基因研究的重要工具,并有望在推动多个领域的前沿研究中发挥重要作用。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/7b2acf06-1ac6-465d-ad0a-d76ef6f1406c.jpg" title=" 图1 :组合激光分子束外延-扫描隧道显微镜联合系统:(a)三维设计图;(b) 实物照片.jpg" alt=" 图1 :组合激光分子束外延-扫描隧道显微镜联合系统:(a)三维设计图;(b) 实物照片.jpg" / /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " span style=" font-family: 微软雅黑, verdana, sans-serif, tahoma, arial font-size: 14px text-align: -webkit-center " 图1 :组合激光分子束外延-扫描隧道显微镜联合系统:(a)三维设计图;(b) 实物照片 /span /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " span style=" font-family: 微软雅黑, verdana, sans-serif, tahoma, arial font-size: 14px text-align: -webkit-center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/bb46dd89-0b72-4f5e-a7d6-dd88e1baa05c.jpg" title=" 图2:梯度厚度FeSe薄膜温度依赖电阻(a)及厚度依赖Tc (b).jpg" alt=" 图2:梯度厚度FeSe薄膜温度依赖电阻(a)及厚度依赖Tc (b).jpg" / /span /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " span style=" font-family: 微软雅黑, verdana, sans-serif, tahoma, arial font-size: 14px text-align: -webkit-center " span style=" font-family: 微软雅黑, verdana, sans-serif, tahoma, arial font-size: 14px text-align: -webkit-center " 图2:梯度厚度FeSe薄膜温度依赖电阻(a)及厚度依赖Tc (b) /span /span /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " span style=" font-family: 微软雅黑, verdana, sans-serif, tahoma, arial font-size: 14px text-align: -webkit-center " span style=" font-family: 微软雅黑, verdana, sans-serif, tahoma, arial font-size: 14px text-align: -webkit-center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/ca707a08-a9a8-4ef2-8798-23266bfbc9df.jpg" title=" 图3:STM系统表征数据:(a) HOPG原子分辨图; (b) Au(111)原子分辨图;(c) BSCCO表面超结构;(d) BSCCO隧道谱;(e) 原位生长FeSe大尺度形貌图;(f) 原位生长FeSe原子分辨图.png" alt=" 图3:STM系统表征数据:(a) HOPG原子分辨图; (b) Au(111)原子分辨图;(c) BSCCO表面超结构;(d) BSCCO隧道谱;(e) 原位生长FeSe大尺度形貌图;(f) 原位生长FeSe原子分辨图.png" / /span /span /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " span style=" font-family: 微软雅黑, verdana, sans-serif, tahoma, arial font-size: 14px text-align: -webkit-center " span style=" font-family: 微软雅黑, verdana, sans-serif, tahoma, arial font-size: 14px text-align: -webkit-center " span style=" font-family: 微软雅黑, verdana, sans-serif, tahoma, arial font-size: 13.3333px text-align: -webkit-center " 图3:STM系统表征数据:(a) HOPG原子分辨图; (b) Au(111)原子分辨图;(c) BSCCO表面超结构;(d) BSCCO隧道谱;(e) 原位生长FeSe大尺度形貌图;(f) 原位生长FeSe原子分辨图 /span /span /span /p
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