台阶分布状态

仪器信息网台阶分布状态专题为您整合台阶分布状态相关的最新文章,在台阶分布状态专题,您不仅可以免费浏览台阶分布状态的资讯, 同时您还可以浏览台阶分布状态的相关资料、解决方案,参与社区台阶分布状态话题讨论。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

台阶分布状态相关的耗材

  • 布鲁克台阶仪探针
    Bruker台阶仪探针布鲁克台阶仪(探针式表面轮廓仪)探针,是布鲁克台阶仪(探针式表面轮廓仪)探针。 品 名 台阶仪探针 2µ m 台阶仪探针 12.5µ m台阶仪探针 25µ m型 号838-031-5838-031-3838-031-4品 名台阶仪探针 10µ m台阶仪探针 100nm台阶仪探针 5µ m型 号838-031-6838-030-938-030-1品 名台阶仪探针 2.5µ m型 号838-031-2
  • 内旋冻存管 MUCU 4.0ml,可在液氮的气体状态环境中使用 5654056
    冻存管主要用于长期保存和运输各类生物样本,可在液氮的气体状态环境中使用,耐受温度范围-196℃ ~121℃;适用于医疗领域、生物制药、农业畜牧、细胞生物、高校科研等领域。◆医疗级聚丙烯(PP)材质,耐高温高压,可反复冻融;◆预置高安全性O型圈盖,密封紧密,满足样本和实验的安全;◆容量包含1.2ml、2.0ml、3.0ml、4.0ml、5.0ml可立;2.0ml圆底不可立; ◆透明管,带白色书写区,刻度线印刷更清晰;◆无热源、无内毒素、无DNA酶、无RNA酶,EO灭菌;◆耐受温度范围:耐受-196℃ ~121℃,液氮气相条件下安全存储;◆红、橙、黄、绿、蓝、紫、棕、透明色等多种颜色标记盖可订制,便于区分管理;类别品牌货号产品名称包装规格 内旋冻存管MUCU56512561.2ml ,内旋可立,蓝盖,管盖一体,灭菌100个/袋, 10袋/箱内旋冻存管MUCU56520562.0ml ,内旋可立,蓝盖,管盖一体,灭菌100个/袋, 10袋/箱内旋冻存管MUCU56620562.0ml ,内旋不可立,蓝盖,管盖一体,灭菌100个/袋, 10袋/箱内旋冻存管MUCU56530563.0ml ,内旋可立,蓝盖,管盖一体,灭菌100个/袋, 10袋/箱内旋冻存管MUCU56540564.0ml ,内旋可立,蓝盖,管盖一体,灭菌100个/袋, 10袋/箱内旋冻存管MUCU56550565.0ml ,内旋可立,蓝盖,管盖一体,灭菌100个/袋, 10袋/箱
  • 2015中国药典粒度与粒度分布测定法 汇美科HMK-200
    2015中国药典粒度与粒度分布测定法简介HMK-200气流筛分仪(空气喷射筛)是一款用来测量粉体粒度分布的实验室用气流筛分仪器,由操作面板、筛盘、标准筛、喷嘴、电机及吸尘器组成。通过7寸液晶显示屏进行控制,实时显示仪器的工作状态。本仪器可以通过RS-232接口与电子称相连。内置微处理器可以对结果进行自动计算。仪器生产厂家与供应商为丹东汇美科仪器有限公司。型号为HMK-200的空气喷射筛分法气流筛分析仪采用国际先进筛分技术设计制造,仪器的主要参数性能与外国进口设备保持一致,而且该仪器价格合理,配套服务完善。汇美科已经成为世界实验室粒度气流筛分析及采购好品牌。工作原理具有专利技术的喷嘴将吸尘器产生的负压转化成动能,驱动粉体上升并与筛盖相碰撞,去除聚合颗粒的粉体继而被负压吸向标准筛。较大颗粒被留在筛网上面,较小颗粒被吸入吸尘器,从而实现对粉体的理想筛分。技术参数 测量范围:5-5,000 um筛分量:0.1-2,000 g标准筛直径:200 mm/75 mm喷嘴旋转速度:低、中、高或者0-35 rpm无级变速可调计时范围:固定模式2-10 min任选或者持续模式切换气压范围:0-10 Kpa喷嘴间隙:2 mm仪器尺寸:58x35x35 cm电压:220 V/50 Hz/25 W重量:14.8 Kgs产品特点7寸大屏,液晶显示,触屏点击精确控制筛分操作。负气压筛前标定,筛中实时监测,并可实时调节,保证筛分精度。喷嘴转速在合理区间内可任意设定,并可选中低高速,提高效率。筛分时间在常规时间内任选,并可设定循环筛分模式,方便操作。世界先进开筛功能,有效防止近筛颗粒堵塞筛网。筛分结束后自动计算出筛下物料百分比。国际先进的样品收集装置,使筛下颗粒收集率可达99.99%应用领域常规筛析无法分析的干粉体:粉体质量轻粉体易静电颗粒易团聚被广泛应用于筛分以下粉末:医药、面粉、调味料化学物质粉末水泥、石墨、煤灰、涂料、陶土粉树脂、橡胶、塑料等

台阶分布状态相关的仪器

  • 设备特点:KOSAKA ET 200基于Windows操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。ET 200配备了各种型号探针,提供了通过过程控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD原位采集设计,可直接观察到探针工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。 规格一、测定工件:1. 最大工件尺寸:φ160mm2. 最大工件厚度:50mm3. 最大工件重量:2kg二、检出器(pick up):1. Z方向测定范围:Max. 600μm2. Z方向分解能:0.1nm3. 测定力: 10uN ~500uN4. 触针半径:2 μm 60°5. 驱动方式:直动式6. 再现性:1σ= 1nm(全量程)、1um以下台阶重现性可达0.2nm以下三、X轴(基准轴):1. 移动量(最大测长):100mm2. 移动的真直度:0.2μm/100mm3. 移动,测定速度:0.005~20mm/s4. 线性尺(linar scale):分解能 0.1μm四、Z轴:1. 移动量:50mm2. 移动速度:max.2mm/S3. 检出器自动停止机能4. 位置决定分解能:0.1μm五、工件台:1. 工件台尺寸:φ160mm2. 机械手动倾斜:±2°(±1mm/150mm)六、工件观察:max.135 倍(可选购其它高倍?0?7CCD)七、床台:材质为花岗岩石八、防振台(选购):洛地型或桌上型九、电源:AC220V±10%,50/60HZ, 300VA十、本体外观尺寸及重量:W500×D440×H610mm, 120kg(不含防震台)
    留言咨询
  • 台阶仪 400-860-5168转3181
    品牌日本KOSAKA型号ET200测量范围Max. 600μm测量精度0.001电源电压AC100V±10%,用途测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损 KOSAKA LAB ET 200微细形状测定机(探针接触式台阶仪)株式会社小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立的公司,也是日本第一家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,是一家具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為最具代表性單位且在日本精密測定業佔有一席無法被取代的地位。设备特点:KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。ET 200配备了各种型号探针,提供了通过程序控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD原位采集设计,可直接观察到探针工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。 规格一、測定工件:1.最大工件尺寸:φ160mm2.最大工件厚?:50mm3.最大工件重量:2kg二、檢出器(pick up):1. Z方向測定範圍:Max. 600μm2. Z方向分解能:0.1nm3.測定?:min.1mgf,max.50mg4.觸針半徑:2μm5.驅動方式:直動式6.再現性:1σ= 1nm三、X軸(基準軸):1.移动量(最大測長):100mm2.移動的真直?:0.2μm/100mm3.移動,測定速?:0.02 ~ 10mm/s4.線性尺(linar scale):分解能0.1μm四、Z軸:1.移动量:50mm2.移動速度:max.2mm/S3.檢出器自動停止機能4.位置決定分解能:0.2μm五、工件台:1.工件台尺寸:φ160mm2.機械手動倾斜:±1mm/150mm?、工件觀察:max.110倍(可選購其它高倍?CCD)七、床台:材質為花崗岩石八、防振台(選購):?地型或桌上型九、電源:AC100V±10%,50/60HZ, 300VA十、本體外觀尺寸及重量:W494×D458×H610mm, 120kg(?含防震台) KOSAKA LAB ET 200 台阶仪设备特点: KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 ET 200配备了各种型号****,提供了通过程序控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD原位采集设计,可直接观察到****工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。 规格 一、測定工件: 1. 最大工件尺寸:φ160mm 2. 最大工件厚度:50mm 3. 最大工件重量:2kg 二、檢出器(pick up): 1. Z方向測定範圍:Max. 600μm 2. Z方向分解能:0.1nm 3. 測定力:min.1mgf,max.50mg 4. 觸針半徑:2 μm 5. 驅動方式:直動式 6. 再現性:1σ= 1nm 三、X 軸 (基準軸): 1. 移动量(最大測長):100mm 2. 移動的真直度:0.2μm/100mm 3. 移動,測定速度:0.02 ~ 10mm/s 4. 線性尺(linar scale):分解能 0.1μm 四、Z軸: 1. 移动量:50mm 2. 移動速度:max.2mm/S 3. 檢出器自動停止機能 4. 位置決定分解能:0.2μm 五、工件台: 1. 工件台尺寸:φ160mm 2. 機械手動倾斜: ± 1mm/150mm 六、工件觀察:max.110 倍(可選購其它高倍率CCD) 七、床台:材質為花崗岩石 八、防振台(選購):落地型或桌上型 九、電源:AC100V±10%, 50/60HZ, 300VA 十、本體外觀尺寸及重量: W494×D458×H610mm, 120kg (不含防震台)
    留言咨询
  • 台阶仪 400-860-5168转1545
    品牌日本KOSAKA型号ET200测量范围Max. 600μm测量精度0.001电源电压AC100V±10%,用途测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损 KOSAKA LAB ET 200微细形状测定机(探针接触式台阶仪)株式会社小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立的公司,也是日本第一家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,是一家具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為最具代表性單位且在日本精密測定業佔有一席無法被取代的地位。设备特点:KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。ET 200配备了各种型号探针,提供了通过程序控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD原位采集设计,可直接观察到探针工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。 规格一、測定工件:1.最大工件尺寸:φ160mm2.最大工件厚?:50mm3.最大工件重量:2kg二、檢出器(pick up):1. Z方向測定範圍:Max. 600μm2. Z方向分解能:0.1nm3.測定?:min.1mgf,max.50mg4.觸針半徑:2μm5.驅動方式:直動式6.再現性:1σ= 1nm三、X軸(基準軸):1.移动量(最大測長):100mm2.移動的真直?:0.2μm/100mm3.移動,測定速?:0.02 ~ 10mm/s4.線性尺(linar scale):分解能0.1μm四、Z軸:1.移动量:50mm2.移動速度:max.2mm/S3.檢出器自動停止機能4.位置決定分解能:0.2μm五、工件台:1.工件台尺寸:φ160mm2.機械手動倾斜:±1mm/150mm?、工件觀察:max.110倍(可選購其它高倍?CCD)七、床台:材質為花崗岩石八、防振台(選購):?地型或桌上型九、電源:AC100V±10%,50/60HZ, 300VA十、本體外觀尺寸及重量:W494×D458×H610mm, 120kg(?含防震台) KOSAKA LAB ET 200 台阶仪设备特点: KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 ET 200配备了各种型号****,提供了通过程序控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD原位采集设计,可直接观察到****工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。 规格 一、測定工件: 1. 最大工件尺寸:φ160mm 2. 最大工件厚度:50mm 3. 最大工件重量:2kg 二、檢出器(pick up): 1. Z方向測定範圍:Max. 600μm 2. Z方向分解能:0.1nm 3. 測定力:min.1mgf,max.50mg 4. 觸針半徑:2 μm 5. 驅動方式:直動式 6. 再現性:1σ= 1nm 三、X 軸 (基準軸): 1. 移动量(最大測長):100mm 2. 移動的真直度:0.2μm/100mm 3. 移動,測定速度:0.02 ~ 10mm/s 4. 線性尺(linar scale):分解能 0.1μm 四、Z軸: 1. 移动量:50mm 2. 移動速度:max.2mm/S 3. 檢出器自動停止機能 4. 位置決定分解能:0.2μm 五、工件台: 1. 工件台尺寸:φ160mm 2. 機械手動倾斜: ± 1mm/150mm 六、工件觀察:max.110 倍(可選購其它高倍率CCD) 七、床台:材質為花崗岩石 八、防振台(選購):落地型或桌上型 九、電源:AC100V±10%, 50/60HZ, 300VA 十、本體外觀尺寸及重量: W494×D458×H610mm, 120kg (不含防震台)
    留言咨询

台阶分布状态相关的试剂

台阶分布状态相关的方案

台阶分布状态相关的论坛

  • 【原创大赛】SPL 进样口内部样品的分布状态

    【原创大赛】SPL 进样口内部样品的分布状态

    SPL 进样口内部样品的分布状态对于分流/不分流进样口,毛细管的安装位置会对分析结果有比较大的影响,不同厂家的进样口对于毛细管伸入进样口内部长度的规定不同)。色谱柱伸入进样口内的位置决定样品是否能够均匀的、真实的进入色谱柱,关系到是否会得到较好的重复性和灵敏度。1 如果毛细管伸入进样口内过长,会造成出峰减小和重复性降低的问题。我们推想一下分流方式进样瞬间进样口内样品的分布状态,大体如下图所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212191002_413784_1604036_3.jpg样品从进样器针尖以小液滴的状态喷出,在A区域内,针尖喷出的小液滴逐渐气化。如果针尖形制不同,A区域内的分布状态也有所不同。针孔在中心的进样针,喷出的样品在A区域大体类似圆锥状,针孔在一侧的,样品分布大体如图中所示。如图所示,可以看出A区域内样品的气化情况不完全,而且分布情况也不太均匀。如果色谱柱伸入到此区域以内,那么就不会得到良好的重复性。极端情况下,样品根本不会进入的色谱柱,进样不出峰。下面看看具体的分析数据。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212191003_413785_1604036_3.jpg图中的1、2、3谱图是加长进样口端色谱柱长度实验结果,相比较于正常的谱图,明显的灵敏度降低,重复性变差。另外,A区域也是我们填充石英棉的区域。2 如果色谱柱伸入进样口过短,情况会如何呢?我们还是先看一下进样口下端样品分布的示意图。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212191003_413786_1604036_3.jpgB为仪器接头或者分流平板。如果色谱柱头已经到达B区域,B区域中载气的流速较低(就是柱流速),那么样品在此区域运行就比较缓慢,进入色谱柱的时候,会造成起始谱带较宽。如果色谱柱伸入到C区域,此处由于分流的关系,载气除了垂直流动之外,还存在有水平运动。样品分布不如C区域以上的部分均匀和稳定。也会造成重复性变差。如图,谱图1为进样口较短的情况。可以看到较宽的溶剂峰,目标物的色谱峰也有一定的展宽,但是不如溶剂明显。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212191003_413790_1604036_3.jpg

  • 【原创大赛】气相色谱柱中流动相的分布状态小议

    【原创大赛】气相色谱柱中流动相的分布状态小议

    气相色谱柱中流动相的分布状态小议 不同于液相色谱,气体比较液体是容易压缩的,在气相色谱的操作压力之下,载气也是可以被明显的被压缩。当载气在色谱柱中流动时,也存在类似于液相色谱柱中流动相那样有层流的现象,如下图所示。靠近色谱柱中心流动相的流速较快,靠近管壁的流速较慢。但是由于气体的扩散性较强黏度较低,层流现象应该不如液体那么明显。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212252115_415477_1604036_3.jpg比如我们经常使用的液相用的液体进样阀,如果使用部分装液方式,阀在load状态和inject状态,定量环中样品溶液的流向是相反的。这就是为了抑制层流现象带来的样品起始分布展宽的问题。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212252115_415478_1604036_3.jpg如图,load状态,样品从上向下流动,inject状态,样品从下向上流动。同时部分装液法时,要求进样量不大于定量环体积的一半,也是鉴于此的考虑。气相色谱柱中载气流速和色谱柱长位置的关系,如下图所示:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212252115_415479_1604036_3.jpgPi 色谱柱入口压力Po 色谱柱出口压力Outlet velocity 色谱柱出口流速Inlet velocity 色谱柱入口流速如图所示,在色谱柱内部 ,愈接近进样口端,载气运行速度越慢。越接近检测器端,载气运行越快。色谱柱两端的压力降越大,这个趋势越明显。接近色谱柱出口时,载气流速迅速增加。此阶段得到的柱效会有比较大的变化,老的气相色谱资料建议在色谱柱之后增加一段阻尼管,应该是以此理论为基础。

  • 这种台阶状的色谱峰你们见过吗?

    这种台阶状的色谱峰你们见过吗?

    如题。两个同品牌的色谱仪器,配的都是在外检测器。 不同的是,一个图是2003年的(台阶状的那个),另外一个是2013年的。同样的工作站。为什么一个色谱峰会呈现台阶状,而另一个却没有? 大家请发表一下高见。注:都是紫外检测器 工作站相同 色谱条件不同 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/08/201308291321_460660_2493208_3.png

台阶分布状态相关的资料

台阶分布状态相关的资讯

  • 突破!微界面接触状态实时表征技术成果在《Nano Energy》发布
    王晓雄/郭玉婷/李迪联合研究团队利用像散成像技术实现摩擦纳米发电机的界面接触状态实时表征关键词:三维荧光微球成像技术;像散成像;三维界面接触表征;摩擦电纳米发电机 导读微观表征技术已经被证明对于现代科技发展具有巨大的影响力。市面上对表面形貌的常规表征手段有光学显微镜、SEM、AFM、台阶仪等,但目前尚缺少实时分析微界面接触状态的精准探测技术,这极大的阻碍了电子科技领域和材料开发领域域的发展。为了解决这个难题,青岛大学王晓雄团队、中国科学院大学生命科学院郭玉婷团队与中国科学院物理研究所李迪团队协作,通过利用“超分辨荧光微球硅胶形变技术”成功实现了对接触界面的微观三维可视化分析,完成了摩擦纳米发电机(TENG)三维表面的原位监控,能够在TENG工作的同时获得界面接触信息,为材料微观界面接触表征的测定和评估提供了新技术手段。相关成果于2024年7月30日在学术期刊《Nano Energy》在线发表(3D visualization microscope of TENG contact interface beads on astigmatic imaging,DIO: 10.1016/j.nanoen.2024.110061 )。 正文界面接触状态的微观表征在多个科学领域具有重要研究价值,因此Science杂志也将“如何在微观层面测量界面现象”列为125个重要科学问题之一。例如:1、在物理科学领域,材料界面设计能够有效改变力学性能,因此对于结构强度、稳定性和寿命有着巨大影响(如图1)。2、在化学领域,界面两相物质的反应或者输运过程对于化学过程有着决定性的影响。3、在电子器件领域,界面接触状态对CPU热管理效果影响巨大,且器件连接效果受接触电阻影响很大。4、在生命科学领域,液-固界面能够完成植物液体输运以及物质传递等过程。图1. 普通塑料表面起伏结构,影响接触分离分布传统认知认为粗糙界面有助于提高接触起电效果,电负性差异给出了材料本身电荷转移能力的强弱,而事实上只有当两种材料的接触距离达到电荷有效转移距离,即电子云交叠距离才能够实现有效电荷转移,这意味着未经处理的粗糙材料中有大量的界面并未有效参与电荷转移,如何重构接触界面解析的有效性至关重要。在本工作中,团队以TENG接触界面的微观表征为案例成功开发了一种实时分析接触界面的3D可视化技术,为TENG的接触界面研究带来了技术性的突破。研究团队开发的3D可视化技术,以界面位移-力学性能解析为思路,超高分辨率观测聚二甲基硅氧烷(PDMS)和丁腈薄膜构建的TENG接触面系统,利用荧光微球的荧光成像和自主研发的基于深度学习的算法网络,实现了对TENG接触界面的实时三维重建观测,如图2所示。这项技术不仅能够观察接触界面的形变,还能计算出实际的有效接触面积,为理解接触起电机制提供了定量化的数据支持,对于设计新一代高性能、高稳定性的TENG具有重要的指导意义,对提高电子器件接触面能量转换效率提供新方法。图2. 通过荧光标记TENG摩擦对的一层反解力学状态表面来获得其按压状态表征;(a)标记层未受到按压时,荧光标记在垂直面方向没有明显移动,反解获得(c)平整表面;(b)标记层受到按压时,荧光标记的形状变化被用于解析垂直面位移,从而完成(d)三维重构。 结语随着技术的进一步成熟和应用,基于像散成像原理的三维可视化技术有望在能源、智能穿戴设备、生物传感器和物联网等领域发挥重要作用,推动相关产业的技术进步和创新发展。该工作由青岛大学王晓雄团队、中国科学院大学生命科学院郭玉婷团队与中国科学院物理研究所李迪团队共同完成。该工作在国家自然科学基金、北京市科技新星等项目的资助下完成。——招聘——郭玉婷课题组诚聘细胞生物、光学工程和计算机领域的相关人才,详情请见招聘简章(https://bio.ucas.ac.cn/index.php/tzgg/76304-2024-04-07-09-24-06 )。
  • 安恒公司推出《LeakView管网漏损监测系统》标志国内管网漏损监测上升新台阶
    近日,安恒公司管网运行管理事业部发布国内第一个基于物联网的管网漏损监测系统,即《LeakView安恒管网漏损监测系统》(以下简称LeakView)。该系统的发布标志着国内管网漏损监测上升到了一个新的台阶。     据安恒公司管网运行管理事业部总经理王志军先生介绍:  “安恒公司推出的LeakView是应业界用户的要求,在考查了国际先进的管网漏损监测技术,听取了业内大量专家的意见后组织开发实现的。它将管网漏损管理从被动式现场漏损检测上升到了到分布式漏损监测和分析的新台阶。”  “LeakView是在安恒提出的水联网概念下的又一个系统,今后我们将继续完善提升这个管网运行管理的系统,从控制漏损角度实现对国内奇缺的优质饮用水资源的节省。这个系统的布署和应用能帮助各级水司和管网运维部门降低漏损率,减少产销差。我们开发这个系统不是为了取代什么,而是通过与现有的系统和传统的技术手段相结合,从减少控制漏损角度更好地管理管网的运行。”  目前,LeakView的主要功能分为:  运行状态:对当前的分区(多分区系统版本可以通过切换分区查看)进行全局的探测点状况显示,用户可通过状态显示直观地了解该分区的管网中布署的测试探头报告的漏损监测状态。  如果发生漏损情况,LeakView则根据预先设定的报警级别决定报警的方式,包括提供通过手机短信直接发出报警的功能。向系统设定的负责人发送事件短信的方法可以及时让管网的管理者了解漏损事件,并决定是否采取必要措施降低损失。  故障记录:  a) 显示当前分区(多分区系统版本可以通过切换分区查看)内发生过的探头漏损情况报告、报警事件、设备故障情况   b) 所有的事件都有唯一的事件编号用于回溯,LeakView通过数据库系统积累历史数据以便提供深入分析  c) 可以通过选择日期或时间段叠加来分析近期或历史上某一时间段的管网漏损等事件、  压力流量:实时显示管网监控系统中布署的远程控制式压力流量计的流量、压力数据,并在出现漏损警示时同时调取该区域压力、流量的同步数据,帮助确认漏损的情况和程度。  DMA分区管理:对实现了DMA分区管理的系统,可以依据DMA的分区进行漏损监测系统的范围设定,提供设定/选择DMA分区来切换当前选择的管网漏损监测区域。  手持巡检设备的数据导入:对于已经布署使用的采用现场巡检手持机的系统也可以立即通过LeakView支持的数据导入功能实现全面直观的管理是历史数据存储分析。  下一步,LeakView将在用户提出的要求上,进一步开发数据分析和预测方面的功能。欢迎各界用户了解和试用安恒的《LeakView安恒管网漏损监测系统》,并为我们提出宝贵的改善意见。  详细产品资料请见:http://www.watertest.com.cn/products/html/112/LeakView.html
  • 众瑞针对《环境空气质量标准》不在执行标准状态, 改为参比状态或监测时状态的解决方案
    众瑞针对《环境空气质量标准》不在执行标准状态, 改为参比状态或监测时状态的解决方案告知函 尊敬的各位众瑞客户:生态环境部新发布了《环境空气质量标准》(gb 3095-2012)修改单以及《环境空气 二氧化硫的测定 甲醛吸收—副玫瑰苯胺分光光度法》(hj 482-2009)等19项标准修改单公告。标准修改单自2018年9月1日起实施。根据生态环境部《环境空气质量标准》(gb 3095-2012)修改单,3.14“标准状态standard state 指温度为273 k,压力为101.325 kpa时的状态。本标准中的污染物浓度均为标准状态下的浓度”修改为:“参比状态 reference state 指大气温度为298.15 k,大气压力为1013.25 hpa时的状态。本标准中的二氧化硫、二氧化氮、一氧化碳、臭氧、氮氧化物等气态污染物浓度为参比状态下的浓度。颗粒物(粒径小于等于10 μm)、颗粒物(粒径小于等于2.5 μm)、总悬浮颗粒物及其组分铅、苯并[a]芘等浓度为监测时大气温度和压力下的浓度”。 众瑞参与此次软件升级的仪器清单如下:zr-3922型环境空气颗粒物综合采样器zr-7200系列扬尘在线监测系统zr-3920系列环境空气颗粒物综合采样器zr-5410a便携式气体、粉尘、烟尘采样仪综合校准装置zr-3920g型高负压环境空气颗粒物采样器zr-5040孔口流量校准器zr-3930系列环境空气颗粒物采样器zr-5220烟尘采样器校准仪zr-3500系列大气采样器zr-5330a智能质量流量计zr-3950环境空气有机物采样器zr-5320智能皂膜流量计zr-3620abc小流量气体采样器zr-5400气体罗茨流量计zr-7010便携式空气颗粒物浓度测定仪zr-5420孔口流量校准装置升级内容包括:空气颗粒物采样器:所有保持不变,在采样、查询、u盘导出和打印过程中,增加“参比体积”; 空气颗粒物直读采样器:所有保持不变,在采样、查询、u盘导出和打印过程中,增加“参比体积”,仪器显示的颗粒物浓度值更改为“工况浓度”;环境空气气态污染物的采样器:所有保持不变,在采样、查询、u盘导出和打印过程中,增加“参比体积”;环境空气气态污染物直读类仪器:所有保持不变,在采样、查询、u盘导出和打印过程中,增加“参比体积”;把原来的“标况浓度”更改为“参比浓度”;我司提供的解决方案:1、在上述仪器不进行软件升级的情况下,您依然可以使用,只要通过以下公式即可将标准状态下的采样体积换算为参比状态下的采样体积,再进行浓度的计算。v参体= v标体*298.15/273=v标体*1.09式中:v参体——参比状态(298.15k,1013.25 hpa)下的采样体积,l;v标体——标准状态(273k,101.325kpa)下的采样体积,l。2、颗粒物(粒径小于等于10 μm)、颗粒物(粒径小于等于2.5 μm)、总悬浮颗粒物及其组分铅、苯并[a]芘等浓度为监测时大气温度和压力下的浓度”。 备注:众瑞相关仪器原来就有大气温度和压力下体积(实体)的显示和存储,所以仪器不需要改变。3、近期内(1~2个月)没有仪器使用情况,您可联系我司当地客服工程师,预约时间为您上门升级程序。注意:因程序升级将改变数据的存储格式,仪器中原保存的数据可能会发生变化,请客户提前做好相关数据的备份。 我们会尽快为您安排仪器软件升级,因升级给您带来的不便敬请谅解! 特此函达青岛众瑞智能仪器有限公司二〇一八年八月二十九日
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制