光束发散测量仪

以色列Duma Optronics 公司于1989年成立，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能全面。公司的Beam Analysis光束质量分析仪主要有三种类型：CCD类型分析仪（最新产品）、亚毫米光束分析仪、刀口法类型分析仪。FocusGage光束发散测量仪 整个系统包括安装在一个扫描束腰附件上的测量探头和一个独立的控制单元（有两个LCD显示操作按钮）。一个外部的VGA显示屏可以和控制单元连接，给出充分的图像显示。这个单元带一个RS232接口与另一台计算机通讯，以及一个FDD数据存储器。性能参数：参数数值光谱范围SiInGaAsUV400-1100nm800-1800nm190-1100nm光束功率范围SiInGaAsUV100μW-1W（自带衰减片）100μW-1mW（自带衰减片）100μW-1mW光束大小（D）9mm(有透镜，Si& UV)12.7mm(无透镜，Si& UV)3mm/5mm(无透镜，InGaAs)分辨率≥10μm焦深精确度±50μm尺寸100x173x415mm机械调节水平角度：±1.5°垂直角度：±1.5°

BeamWatch是一款测量高功率激光光束质量的仪器，可测量激光束腰位置测量激光束腰尺寸、记录激光束腰位置的漂移，无需任何衰减，功率测量范围400W—无上限，波长范围：980-1080nm。高功率激光光束质量测量仪BeamWatch应用： 高功率激光切割 高功率激光焊接 激光器参数标定高功率激光光束质量测量仪BeamWatch性能参数： 型号BW-NIR-1-155BW-NIR-1-55BW-NIR-2-155BW-NIR-2-55波长980nm-1080nm最小功率密度2 Megawatts/cm2最大光斑尺寸12.5mm最小光斑尺寸155um55um155um55um连接电脑方式Gige Ethernet精度束腰尺寸精度±5%束腰位置精度±125um焦点漂移±50um发散角精度±3.5% RMSM2精度±3.5% RMS测量结果空间结果束腰尺寸X & Y、束腰位置X & Y、焦点漂移X & Y、质心X & Y、光标位置处尺寸、光标位置处椭圆度、瑞利长度等光束质量结果M2（X & Y & average)、K（X & Y & average）、BPP （X & Y & average）发散角（X & Y & average）

美国 DataRay 公司成立于1988年，专业提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；可提供2D或3D的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果。 应用领域：1、通信：光缆加工/熔接、研发2、 材料加工：焊接、蚀刻、切割3、消费设备：光学鼠标4、天文5、激光制造与品控6、光谱学7、3D扫描8、粒子检测9、 LED：室内照明、车头灯10、 LIDAR：AR、VR11、生物医学：眼科手术、激光手术、内部跟踪一、相机型光束质量分析仪基于相机的光束分析系统是使用非常广泛的，它无法获得最高分辨率，但是对于低重复频率脉冲激光、非高斯形状光束或者一般用途的光束分析应用，相机型光束分析仪是很好的选择。此外，Dataray光束质量分析仪通用的C/F-Mount接口设计，使外加衰减片、扩束镜、紫外转换装置、红外转换装置更为方便。各种型号的相机通过选配转接头可以用于特定的波长范围，详见下表。波长范围WinCamDTM-LCMBladeCam2TaperCamD-LCMWinCamD-IR-BB WinCamD-QD 190-1150nm√√×××355-1150nm√√√××355-1350nm√√×××1480-1605nm√√×××350-2000nm × × × ×√2-16μm×××√×规格表型号探测元件总像素百万像素尺寸µ mH * V探测面积mm连续或脉冲S-WCD-LCM-C1” CMOS4.25.5*5.52048*204811.3*11.3CW/脉冲S-BC2-HR1/2” CMOS1.35.2*5.21280*10246.6*5.3CWS-BC2-XHR1/2” CMOS3.13.2*3.22048*15366.5*4.9S-TCD-LCMCMOS4.212.5*12.52048*204825*25CW/脉冲S-WCD-IR-BB-7.5氧化钒微测热辐射计0.3117*17640*48010.9*8.2CW/脉冲≥1kHzS-WCD-QD-1550量子点探测器2.0715*15最大1920*1080最大28.8*16.2CW/脉冲配套软件（全功能且免费！！）功能完善、操作简单 光束质量的1D/2D/3D分析 可测量光束质量指向稳定性、光束发散角 可以进行二次开发①、 新品：中红外光束质量分析仪 WinCamD-IR-BB 产品特点:&bull 2到16μm氧化钒微测热辐射计&bull 探测面：640 x 480或10.88 x 8.16 mm&bull 17μm像素&bull USB 3.0端口供电&bull 14位数模转换&bull 14 ms时间常数——测量脉冲（PRR≥1kHz）或连续波光&bull 采样频率：7.5FPS&bull 无斩波器和TEC冷却&bull 可选配保偏光取样器和透镜组 应用领域 :&bull MIR/FIR/CO₂ 激光轮廓分析&bull 现场分析CO₂ 激光器和激光系统&bull 光学组装和仪器对准&bull 光束漂移记录&bull 高分辨率红外成像 ② 、新产品：TaperCamD-LCM：25mm x 25mm大靶面、355-1150nm产品特点l 355-1150nm，CMOS探测器l 探测面：2048 x 2048或25 x 25 mml 12.5μm像素l USB 3.0端口供电l 12位数模转换，车载微处理器l 25000:1电子自动快门，79us-2sl 信噪比：2500:1l 全局快门，光学/TTL触发器l 隔离脉冲触发和并行捕获功能应用领域l 连续和脉冲激光轮廓分析l 激光器和激光系统的现场维修l 光学组装和仪器对准l 光束漂移记录③、新产品：WinCamD-QD：通信波段光束质量分析仪、400-1700nm / 350-2000nm 产品特点：1. 量子点探测器，1550nm已优化2. 波长范围400-1700nm / 350-2000nm3. 多种探测面可选，标准为640x512（9.5x7.68 mm），可达1920x1080（28.8x16.2 mm）4. 15μm像素5. 14位数模转换6. 全局快门，既可测连续光，也可测脉冲光7. 信噪比：≥2100:1 8. GigE或USB3.0接口应用领域：1. 1550nm激光轮廓分析2. 1550nm激光器和激光系统的现场维修3. 光学组装和仪器对准4. 光束漂移记录5. M2测量产品参数：探测器量子点探测器型号S-WCD-QD-1550 / S-WCD-QD-2000波长范围400-1700 nm / 350-2000 nm分辨率S-WCD-QD-1550/2000: 640x512 S-WCD-QD-1550/2000-L: 1280x1024 S-WCD-QD-1550/2000-XL: 1920x1080有效探测面积S-WCD-QD-1550/2000: 9.5x7.68 mm S-WCD-QD-1550/2000-L: 19.2x15.36 mm S-WCD-QD-1550/2000-XL: 28.8x16.2 mm像元尺寸15 x 15 µ m最小可测光斑~150 µ m信噪比≥2100:1 (33 dB optical / 66 dB electrical)数模转换14位全幅帧速S-WCD-QD-1550: 25 fps S-WCD-QD-1550-L: 25 fps S-WCD-QD-1550-XL: 25 fps快门类型全局快门可测激光器类型既可测连续光，也可测脉冲光 二、扫描狭缝光束轮廓分析仪扫描狭缝轮廓分析系统提供高分辨率，但是要求光束小于1μm且价格要高于相机型光束分析仪。尽管不能给出光束图像，但是在很多情况下XY或XYZθΦ轮廓就可以满足应用要求。型号Beam’R2BeamMap2波长范围Si: 190-1150nmInGaAs: 650-1800nmSi+ InGaAs: 190-1800nmSi+ InGaAs, extended： 190-2500nm可测光斑大小2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)分辨率 0.1 μm or 0.05% of scan range精度 ± 2% ± ≤0.5μm连续或脉冲CW, Pulsed Minimum PRR ≈ [500/(Beam diameter in μm)]kHzM2测量需要配上电动导轨可直接测量，无需电动导轨最大可测功率1 W Total & 0.3 mW/μm2增益32dB三、M2测量仪：Dataray公司设计生产的一体化高精度、小型化专用M2测量仪，重复精度大大优于行业平均水平，主要用于测量激光器的M2、发散角、束腰大小/位置、瑞利长度等。Dataray公司结合不同的光束质量分析仪和M2测量模块，可以实现不同波段（190nm~3.9μm），不同光束口径的M2测量系统，为了能够满足不同客户的要求，还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务，这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器，包括半导体/固体激光器以及光纤激光器等。 该系统为自动测量系统，并且整个测量过程不超过2分钟，可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机，以及高精度的自动导轨，从而确保测量的准确性。搭载WinCamD的M2测量仪：M2DU-WCD搭载狭缝式Beam'R2 的M2测量仪：M2DU-BR WinCamD M2 Stage 四、线光斑分析仪Dataray公司独有的线光斑测量仪光斑长度可以达到200mm, 通过在高稳定、高重复性的电动平台上搭载光束质量分析仪，利用先进的图像拼接处理的软件设计，实现大尺寸线光斑的实时测量。Dataray公司提供50mm(LLPS-50)和200mm (LLPS-200)两种行程的线光斑测量仪供客户选择。 产品特点l 光谱范围：190-1150nm（取决于使用的光束质量分析仪，可拓展至163nm-16um）l 分辨率：4um（取决于所使用的的光束质量分析仪）l 线光斑的宽度（最小55um）和长度测量（最大200mm）l 线光斑倾斜角测量l 通过线光斑回归线测量竖直方向圆心 应用领域l 机器视觉l 3D扫描l 条纹扫描l LD激光阵列发光测试l 粒子计数l 水平仪经纬仪设备现场分析 五、大尺寸光斑测量仪DataRay公司通过将激光照射在透射屏上，利用高质量的透镜进行成像，可以实现大尺寸的光斑测量，最大可测光斑可以达到200mm。产品特点l 配置 WinCamD-LCM相机l 光谱范围：355-1150nml 透射屏尺寸：200 x 200 mml 有效像素大小：170 x 170 μml 成像透镜：焦距12.5mm，f/1.4-f/16l 信噪比：2500:1应用领域l 大尺寸激光光束测量l 全强度分布分析l 主/次直径测量六、保偏光取样器保偏光取样器（PPBS）可用于激光光束质量分析系统，它采用正交双楔设计从高功率激光束中分出一小部分光进行测量。PPBS采样的同时保留输入光束的偏振和消除每个空气玻璃界面多次反射的影响，这种精确的激光衰减和分光模式，使得激光形貌不会发生任何畸变，便于后续的光斑分析。产品特点l 波长范围：190-16um（取决于所选光楔）l 最大适用功率：50Wl 通光口径：17.5mml 衰减：~1000:1（取决于波长）l 偏振不敏感应用领域l 激光光斑分析七、其他配件UV转换器ND滤光片红外转换器缩束器显微物镜

专为工业客户设计的M^2测量系统 关键词：光束质量分析仪，M^2测量仪，自动M^2测量仪，工业用光束质量分析仪，工业用M^2测量仪,激光M2因子测量仪，光束质量因子测量仪，激光M^2测量仪 Closed CinSquare system是CINOGY公司专门为工业客户设计的，用于测量激光器的M^2以及发散角等。为了能够满足不同工业客户的要求，CINOGY公司还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务，这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器，包过半导体/固体激光器以及光纤激光器等。该系统为自动测量系统，并且整个测量过程不超过2分钟，可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机，以及高精度的自动导轨，从而确保测量的准确性。 &there4 符合ISO11146-1/2&there4 为工业客户而设计的紧凑且稳健的系统&there4 全自动的M^2测量，整个测量过程不超过2分钟。&there4 基于相机测量的系统（不是狭缝扫描技术）&there4 2维和3维焦散拟合曲线&there4 可兼容测量连续以及脉冲激光器&there4 测量精度高&there4 分析软件RayCi支持已PDF格式输出所有的测量结果

消色差伽利略扩束器GBE02-A 光学测量仪特性2X，3X，5X，10X，15X或20X的扩束器或缩束器可选3种宽带增透膜可选A: 400 - 650 nmB: 650 - 1050 nmC: 1050 - 1650 nm滑动透镜调节可以使光束走离效应降到最小外壳的机械长度固定，且端部不可旋转准直调节环可用附带的六角扳手锁定将大孔径用作输入端时，可用于缩小光束尺寸螺纹孔径易于集成到光学系统中Thorlabs的镀增透膜的伽利略消色差扩束器可以将一束准直光的直径扩大或缩小2倍，3倍，5倍，10倍，15倍或20倍。这些扩束器利用低像差的消色差设计，经优化，提供小于λ/4的波前误差(即，衍射极限性能)，并将对扩大光束的M² 值的影响降到最小。扩大的光束可以聚焦成一束较窄衍射极限的光腰，具有小输入孔径的光学元件或仪器(比如我们的法布里-珀罗干涉仪)可能需要使用这种较窄的束腰。这些扩束器使用由N-BK7和N-BASF2制成的消色差透镜和透镜。为了将空气与玻璃界面处的反射率降到最小，这些扩束器中使用的光学元件具有三种增透膜中的一种，增透膜镀于集成到设计中的每个透镜的两面上：400 - 650 nm (产品型号以-A结尾)，650 - 1050 nm (产品型号以-B结尾)，或1050 - 1650 nm (产品型号以-C结尾)。对比于未镀膜光学元件4%的典型反射率，增透膜将每个表面的平均反射率在指定的波长范围内降低到小于0.5%。关于镀膜性能的更多信息请看规格和增透膜标签。滑动透镜设计允许在调节准直时将透镜调节中固有的光束走离效应降到最小。红色环用于调节输出光束准直，如上图所示；一旦达到所需准直后，可用附带的0.05英寸六角扳手拧紧锁定螺丝来锁定该环。外壳设计成在转动准直调节环时不旋转，使用户可以调节发散而不影响任何已经安装的光学元件，并保持指向稳定性。

Thorlabs 光束轮廓仪 BP209-VIS光学测量仪特性三种双扫描狭缝光束轮廓仪型号Item # BP209-VIS(/M)：200 nm - 1100 nmItem # BP209IR1(/M)：500 nm - 1700 nmItem # BP209-IR2(/M)：900 nm - 2700 nm高精度分析近高斯光束质量重建2D和伪3D空间功率分布单个du立测量头测量连续光束或≥10 Hz的脉冲光束扫描速率从2到20 Hz用户可校准的功率读数(请看用户手册了解校准步骤)动态范围78 dB低噪声放大器USB 2.0高速接口连接PCThorlabs的双扫描狭缝式光束轮廓仪非常适合分析近似高斯光束的截面轮廓。可以在2 Hz到20 Hz之间的扫描速率(可以使用软件设定)下，测量光束截面中用户zhi定的X轴和Y轴的强度轮廓。20 Hz的高扫描速率能够实时对准光学系统。这些光束轮廓仪主要用于连续激光束，也可以采用平均法测量≥10 Hz的脉冲光束。测量结果可用于评估光束质量、检查重建的光束轮廓以及监测长期稳定性。所有三种双扫描狭缝式光束轮廓仪型号都有Ø 9 mm输入孔径，通过连续扫描两个宽度相同且互相垂直的狭缝测量输入激光束。使用软件切换5 µ m或25 µ m宽的狭缝对、选择扫描狭缝或刀口工作模式、设置其它扫描选项等。这些扫描狭缝光束轮廓仪配备低噪声电子元件，具有78 dB高动态范围，能够测量直径在2.5 µ m和9 mm之间的光束。光束直径参考ISO 11146标准测量，可按照多种行业标准的限幅水平显示，比如1/e2(13.5%)、50%或用户设定的任意限幅水平值。当所测光束不具有近高斯光束形状，或者需要对脉冲光束进行单次测量，我们推荐使用我们的CMOS相机式光束轮廓仪。Thorlabs的Beam软件可以wan全控制这些光束轮廓仪的工作，且提供了多种用户可调节的设置以及显示与数据记录选项。光束轮廓仪连接到装有Beam软件的PC时，不需要其他的硬件和电源。Thorlabs采用USB 2.0高速接口将测量头连接到PC，所需的USB电线随BP209包装附带。

Thorlabs 光束轮廓仪，BC207UV光学测量仪特性连续或脉冲激光轮廓的完整二维分析高分辨率：2448 x 2048像素低噪声：SNR ≤ 71 dB12位CMOS相机探测面积大(8.45 mm x 7.07 mm)，均匀性和线性度好可拆卸的保护窗口片，防止传感器落尘用户可校准功率读数自动曝光时间从27 µ s至1 s，增益控制从0到12 dB暗电平和环境光补偿外部快门触发输入可选用的M² 扩展装置，用于自动分析M² Thorlabs的相机式光束轮廓仪可在优化激光系统的同时分析复杂的模式图案(如平顶和环形光)。与扫描狭缝式光束轮廓仪相比，相机式光束轮廓仪能拍摄更加详细的光束轮廓，并提供光束功率密度分布的真实二维分析。这些光束轮廓仪适用于连续光和脉冲光源。多种触发模式可以灵活地拍摄单脉冲，比如使用TTL输入探测重频高达37 kHz的单脉冲信号。每个光束轮廓仪包含一个高质量的12位CMOS相机，有效探测面积8.45 mm x 7.07 mm，分辨率500万像素，最短曝光时间27 µ s。自动暗电平校准提供非常稳定的暗电流，与器件设置无关，因此用户每次进行设置时不用重新校准暗电平。集成的滤光片转轮带有6个高质量中性密度(ND)滤光片，使光束轮廓仪能够适应强度从纳瓦级到1 W的光束。滤光片转轮上刻有标签，可指示每个插槽中预安装的ND滤光片，如果需要拆卸或更换滤光片，可以使用一字螺丝刀打开转轮。

厂家介绍：美国 DataRay 公司成立于1988年，专业提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；可提供2D或3D的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果。 应用领域：• 通信：光缆加工/熔接、研发• 材料加工：焊接、蚀刻、切割• 消费设备：光学鼠标• 天文• 激光制造与品控• 光谱学• 3D扫描• 粒子检测• LED：室内照明、车头灯• LIDAR：AR、VR• 生物医学：眼科手术、激光手术、内部跟踪M2测量仪：Dataray公司设计生产的一体化高精度、小型化专用M2测量仪，重复精度大大优于行业平均水平，主要用于测量激光器的M2、发散角、束腰大小/位置、瑞利长度等。Dataray公司结合不同的光束质量分析仪和M2测量模块，可以实现不同波段（190nm~3.9μm），不同光束口径的M2测量系统，为了能够满足不同客户的要求，还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务，这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器，包括半导体/固体激光器以及光纤激光器等。 该系统为自动测量系统，并且整个测量过程不超过2分钟，可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机，以及高精度的自动导轨，从而确保测量的准确性。搭载WinCamD的M2测量仪：M2DU-WCD搭载狭缝式Beam' R2 的M2测量仪：M2DU-BR WinCamD M2 Stage DataRay模块化设计的M2测量系统为用户提供了M2测量的超高灵活性。通过厂家提供的电子表格，用户可以选择理想的M2测量配置：不同参数的相机式或狭缝扫描式的光束质量分析仪、不同焦距的透镜可选、50mm或200 mm长的位移台可选。光束质量分析仪不仅可以在M2平台上用于测量M2值，还可以可拆卸下来单独使用。该系统既可测连续激光，也可测脉冲激光，使用灵活方便。 M2测量系统参数：波长范围190nm - 16um位移台行程50或200mmM2测量范围1-50M2精度±5%M2重复性±2%

通讯领域专用光束分析仪（2万元） 所属类别： ? 光学/激光测量设备 ? 激光光束质量分析仪 所属品牌：德国Cinogy公司产品简介通讯领域专用光束分析仪（2万元）Cost-effective通讯领域专用光束分析仪！通讯领域专用光束分析仪价格！ 关键词：光束分析仪，聚焦光束测量仪，聚焦光轮廓分析仪，通讯领域专用光束分析仪，光束质量分析仪，实时准直系统，实时光斑准直测量系统，C波段光束分析仪，L波段光束分析仪，C&L波段光束分析仪，1310光束测量，1550nm光束测量，1310光束分析仪，1550光束分析仪，光斑测量仪，激光光斑测量仪，在线调试准直仪，在线调制准直系统，在线调试准直器 为了满足通讯领域中广大客户的需求，并提高客户的工作效率和降低客户的生产成本，德国著名光束分析仪厂商Cinogy公司设计生产了专门用于通讯领域的光束分析仪，主要用于测量850nm，1310nm和1550nm等通讯波长的激光光束的光斑大小、发散角、功率以及指向稳定性等，实时监测光束形状以及变化。德国Cinogy公司为通讯领域设计生产的光束分析仪主要分为CinAlign光束分析仪和CinFocus光束分析仪两种。CinAlign光束分析仪主要是用于准直的或者较大光斑（一般在53um以上）的激光光束测量，一般用于测量远场的激光光束；CinFocus光束分析仪主要是用于聚焦光斑（最小可达1.1um）的激光光束测量，一般用于测量近场的激光光束。 CinAlign光束分析仪 – 用于测量准直或者较大光斑的激光光束 德国CINOGY公司为通讯领域客户专门设计生产的CinAlign光束分析仪，主要是用于测量准直的或者较大光斑的激光光束的光斑大小、能量分布、发散角、功率以及指向稳定性等。CinAlign主要分为CinCam CMOS-1202和CinCam CMOS-1201-IR两种相机，基本涵盖了所有通讯波长，其响应波长范围为320~1610nm，主要用于测量850nm、1310nm和1550nm等通讯波长的激光器。CinAlign测量的激光光斑范围为52um~4mm，兼容测量连续以及脉冲激光器。 特点：1. 测量的波长范围：320~1610nm2. 测量的光斑大小：52um~4mm3. 实时监控光斑形状以及变化4. 分辨率高，高准确度5. 测量激光光束的光斑大小、发散角、功率以及指向稳定性等 技术指标：相机型号 CinCam CMOS-1202 CinCam CMOS-1201-IR 规格 1/1.8’’ 1/2’’ 通光孔径 6.8mm x 5.4mm 6.7mm x 5.3mm 分辨率 1280x 1024 1280x 1024 像素大小 5.3um x 5.3um 5.2um x 5.2um 波长范围 320~1350nm 1470~1610nm 位深 8Bit 8Bit 动态范围 62dB 61dB 接口 USB2.0 USB2.0 模式 连续和脉冲 连续 尺寸(WxHxL) 40mm x 40mm x 20mm 40mm x 40mm x 20mm Lite版 功能介绍视频：详情请见昊量官网功能介绍视频主要软件视图：1. 光斑/功率的测量 2. 发散角的测量 CinFocus光束分析仪 – 用于测量聚焦的激光光束德国CINOGY公司为通讯领域客户专门设计生产的CinFocus光束分析仪，主要是用于测量聚焦光束的焦点光斑大小、焦距、发散角、功率以及指向稳定性等。该系统集成了CinCam CMOS光束分析仪，确保了测量的准确性。测量波长范围为320~1610nm，基本涵盖了所有通讯波长，一般主要用于测量850nm、1310nm和1550nm等通讯波长。CinFocus光束分析仪系统主要由显微镜和CinCam CMOS光束分析仪组成，其可测量的聚焦的光斑最小可达1.1um。另外，该系统为一个开放式光束分析仪系统，其中的CinCam CMOS光束分析仪可取下使用，用于测量准直的或者较大光斑的光束（最大测量光斑为4mm）。 特点：1. 测量的波长范围：320~1610nm2. 测量的光斑大小：1.1um~4mm3. 实时监控光斑形状以及变化4. 分辨率高，高准确度5. 测量焦点位置的光斑大小、发散角、功率以及指向稳定性等 技术指标：规格 10x System 20x System 40x System 波长范围 320~1350nm，1470~1610nm 工作距离(mm) 10 3.3 0.6 焦距(mm) 15.26 8.55 4.39 可替换的衰减片 OD1.0~OD5.0 光学分辨率(um) 1.5 1.2 1 光斑大小(um):CMOS1201CMOS1202CMOS1203 ~5.2-267~5.3-272~4.5-270 ~2.6-134~2.6-136~2.3-135 ~1.3-67~1.3-68~1.1-67 视场(um)： CMOS 1201CMOS 1202CMOS 1203 666 x 533678 x 543720 x 540 333 x 267339 x 272360 x 270 167 x 134170 x 136180 x 135 最大输入功率 100mW 主要软件视图：1. 焦点位置的光斑/功率/指向稳定性的测量 2. 发散角的测量 相关文章：官网可以点击链接 光通信中准直器的在线“调焦”方法--- 基于CINOGY相机式光束分析仪 相关链接： 通讯波段常用光束分析仪 光束分析仪的常见应用 半导体激光器光斑在线调试的高效方法 光束质量分析仪常见参数定义与常见问题汇总 ISO 激光光束指向稳定性测量标准 ISO激光及激光设备测量标准-2(激光光束尺寸,发散角,传波参数) ISO激光及激光设备测量标准-1(激光光束尺寸,发散角,传波参数) ISO 光学和光子学.激光器和激光相关设备.词汇和符号配套产品： 产品名称：工业集成用 高速热电功率探头 所属类别： ? 光学/激光测量设备 ? 激光功率计/能量计 所属品牌：瑞士Green TEG公司 产品简介：世 界响应速度最快的热电式功率探头！关键词：功率计，功率探头，热电功率计，工业用功率探头，工业用功率计，热释电功率计，热堆功率计，热堆功率探头，热释 电功率计，热释电功率探头，thermalsensors，OEM功率探头。热电功率探头的波长相应曲线瑞士GreenTEG公司提供工业用集成用热电功 率探头芯片，客户可根据自己的需要增加相应的热沉，放大及校准电路。极大的为客户节省了相关成本，以及集成的灵活性。 …[详细介绍] 相关产品 1.5万元 激光光束分析仪 CinCam CCD系列光束分析仪 35mm大口径激光光束分析仪 InGaAs 红外激光光束分析仪（900~1700nm） M2（激光光束质量因子）测量系统

光束诱导电流成像检测系统 LBIC激光诱导电流测量仪该设备可以执行各种太阳能电池的光电电流分布和光电转换元素的测量，比如测量SiPD、CCD和CMOS。该设备是采用激光诱导电流测量（LBIC）方法。作为标准，提供532nm的绿色激光系统，在x - y方向移动样品，然后再短路测试（Isc）。该系统有10μm空间分辨率，并且能够测量50 x 50mm的样品。尤其针对钙钛矿的太阳能电池等等，钙钛矿太阳能电池是用旋涂机表面涂层方法做出来的，那么在样品的中心和边缘就会存在均匀性差异的问题。针对这样的样品评估，该系统就是最理想的评估系统。这个系统也可以用来评估SiPD、CCD和CMOS涂层或镀膜材料的均匀性。l 评估钙钛矿太阳能电池平面光电流和涂层分布的理想系统l 根据选择的激光，在375 ~ 900nm的范围内，它能测量不同波长l 区域的详细说明来源于获得的数据和两个表面不均匀性[( max. value - min. value) /(max.value + min.value) ]，并且也能够得到平均值[ Total effective data / number of effective data ]技术参数激光波长 : 532nm输出 : 1mW稳定性 : ±5%/h标准 : Class 2在国际标准内XY stage : ±25mm, 0.01mm minimum step电流测量 : 10fA~ 20mA软件 : Windows 7, 32 bit规格大小 : W750 x D270 x H650mm( excluding the electrometer, stage controller and the PC )标准设备配备1. 激光灯源 ( 波长 532nm ) 2. XY stage 3. 静电计4. 样品室 ( 带手动快门 ) 5. 个人电脑 ( Windows 7 32 bits )6. LBC-2专用软件选配激光（375/406/445/473/488/635/650/670/785/808/830/850/904/980nm) 用SMA 连接器可以切换各种激光可视相机和监测器 监测激光辐照的样品自动快门机制 通过软件机制来控制快门Si 光电二极管 探测器用于量子效率的计算软件

简单介绍美国15R-USB便携式镜面反射率计使用660nm的LED光源，通过校准光学部件产生10mm直径光束源。反射的光束穿过3个孔中的1个，标准接收角度为15、25和46mrad，提供7mrad可选孔径。15R-USB便携式镜面反射率计基座上有两个可调节的支承点，可用来调准反射光束与接收光学系统。详细介绍美国D&S公司生产的15R-USB便携式镜面反射率计是专门针对野外或实验室内应用设计的，可以测量平面或曲面样品的镜面反射率，15R-USB便携式镜面反射率计采用可充电电池供电，每次充电完成后可连续测量15个小时。反射计设计小巧，高约15cm，直径12.7cm，重量1.0kg，测量时间约每分钟2~6次并自动记录和存储数据。具有USB接口可进行数据下载、数据维护和固件升。这些特点对于现场太阳反射镜的测量、检测、生产过程中的质量控制、热控制涂层的维护等应用域非常理想。具有如下优点： （1）电池操作，野外便携 （2）重复性：±0.002 （3）质量控制和检测的理想应用产品原理介绍15R-USB便携式镜面反射率计使用660nm的LED光源，通过校准光学部件产生10mm直径光束源。反射的光束穿过3个孔中的1个，标准接收角度为15、25和46mrad，提供7mrad可选孔径。15R-USB基座上有两个可调节的支承点，可用来调准反射光束与接收光学系统。支撑点中间具有停止位，可以根据反射镜厚度来调节；为了确认对准，可旋转检测器，通过15R-USB顶部的目镜查看光学路径和反射光束。LED光源通过电子截光并同步测量反射光束以去除杂散光误差。同时，光源通过参比检测器监测以减少热漂移。增益调节可将测量值准确到0.001。在仪器的底部，提供个封装的标准体。测量反射率时，只需将15R-USB置于待测量的反射镜上，并调节支撑点到液晶屏显示的大读数。15R主机包含：15R-USB控制软件，USB连接线，反射率标准体，镍镉电池，电池充电器，操作手册，维护手册，技术说明和运输箱。技术参数测量描述：测量15度入射角、10mm入射光源的镜面反射率，光束发散为5.0mrad。光源：高灵敏度红光LED 660nm，90HZ截光去除杂散光；可选570nm绿光LED。光学：LED光源固定于小光圈内确保提供点光源，并通过会聚透镜校准；内置光学进行过防尘处理。标准体：提供封装的镜面反射标准体，安装在仪器底部。重复性：±0.002分辨率：LCD显示反射率0.1%，增益调节旋钮可进行标准体校准。操作温度：0~50℃耗电：可充电电池提供15个小时连续测量，通用100-240VAC电源适配器。重量：1.0kg物理尺寸：如图

积分球光电二极管功率探头S140C光学测量仪测量不受光束形状和入射角影响积分球作为漫射体，功率损耗极小?5 mm，?7 mm或?12 mm输入孔径包含可拆卸的S120-FC光纤转接件(FC/PC和FC/APC)提供用于接头光纤和裸纤的光纤转接件这些积分球光电二极管功率探头测量功率时不受光束均匀性、发散角、光束形状或入射角的影响，所以非常适合测量光纤光源与离轴自由空间光源。我们的积分球光电二极管功率探头的波长范围从可见光到近红外。波长范围从350 nm到2500 nm的探头使用基于Zenith® PTFE的?1英寸或?2英寸单球体，黑色外壳能将入射孔径周围的反射光降到最少。这些探头使用硅光电二极管探测350到1100 nm波段，或者使用铟镓砷光电二极管探测800到1700 nm、900-1650 nm或1200-2500 nm波段。S180C积分球用于2.9到5.5 μm波段，使用两个相连的镀金?20 mm球体，入射端口位于位置1的球，MCT(碲镉汞)探测端口位于第二个球。与单球设计相比，双球配置减小了内部球体表面积，同时有效防止直接照射探测器，所以能够改善器件灵敏度。这种设计无需挡片或其它阻挡机制就能有效挡住光电二极管，所以测量结果受入射角、发散角和光束形状的影响更小。下面的积分球具有?5 mm、?7 mm或?12 mm大孔径、SM1(1.035"-40)外螺纹前端连接、强化的电磁干扰屏蔽和超温报警传感器。这些探头的有效探测面积大，使用附带的S120-FC光纤转接件可以连接FC/PC或FC/APC接头光纤。这个SM1外螺纹转接件可以用1号螺丝刀拆除，从而使组件更靠近窗口。可追溯至NIST的数据存储在探头的接头中。每个探头发货时带有可追溯NIST或PTB校准数据。包含的数据与用于测试单个探头的光电二极管校准证书匹配。可追溯的NIST或PTB数据存储在探头接头中。Thorlabs为这些光电二极管功率探头提供重新校准服务，请在下方订购(型号CAL-PD，用于硅探头；型号CAL-IRPD，用于InGaAs探头；型号CAL-MIRPD，用于延伸的InGaAs或MCT探头)。

产品概述：KEWLAB qBeam-2M-FW 激光光束分析仪轻便灵活，可以实现高敏感度、高分辨率的实时测量。应用软件简单易用，可测量波束宽度、形状、位置、功率、强度等多种参数，并且拥有光束发散度计算、M2值计算分析等额外功能。转轮包含三个ND滤光片（ND4/ND9/ND10），用户可通过转轮轻松转换滤光片。滤光片可以重叠来实现理想状态下的衰减。 产品特征：• 轻便灵活• 实时波束大小和高斯回归• 实时2D/3D波束曲线• 可达3μm的像素间距• 可测小达60μm的光斑• 内置滤光片转轮 软件特征：• 简单易用• 二次矩，高斯回归，刃锋等• 波束发散度计算• M2值计算 主要应用：• 激光波束分析：轮廓、波束大小、位置、发散度、M2• 激光的QC• 监测多波束的中心点 产品技术参数：型号qBeam-2M-FW 激光光束分析图纸 探测器类型CMOS像素大小3μm感光尺寸5.76mm x 3.24mm最大分辨率1920(H) x 1080(V) 2百万像素最小光斑尺寸60微米波长范围350-1100nm敏感度~1.2nWatt/mm2 @ 632.8nm / ~0.5mWatt/mm2 @ 1310nm饱和强度~5μWatt/mm2 @ 632.8nm可调参数曝光时间, 图像大小快门可达50Hz(根据图像大小)损伤阈值全部滤光片50W/cm2滤光片*ND4:透射率 14%@632.8nm / ND9:透射率 0.5%@632.8nm / ND10:透射率 0.03%@632.8nm电源5V DC, 通过USB工作温度-10℃-70℃储存温度-20℃-85℃相关配件缩束器~x2, 可用于测量更大的激光光束, 光束最高功率可到1kW C-mount 安装配件方便安装其他光学配件 50/100mm 套筒微软操作系统XP/7/8/10应用拓展类型DLL 更多激光光束分析仪产品，请移步KEWLAB中国。

产品概述：KEWLAB qBeam-2M-FW 激光光束分析仪轻便灵活，可以实现高敏感度、高分辨率的实时测量。应用软件简单易用，可测量波束宽度、形状、位置、功率、强度等多种参数，并且拥有光束发散度计算、M2值计算分析等额外功能。转轮包含三个ND滤光片（ND4/ND9/ND10），用户可通过转轮轻松转换滤光片。滤光片可以重叠来实现理想状态下的衰减。 产品特征：• 轻便灵活• 实时波束大小和高斯回归• 实时2D/3D波束曲线• 可达3μm的像素间距• 可测小达60μm的光斑• 内置滤光片转轮 软件特征：• 简单易用• 二次矩，高斯回归，刃锋等• 波束发散度计算• M2值计算 主要应用：• 激光波束分析：轮廓、波束大小、位置、发散度、M2• 激光的QC• 监测多波束的中心点 产品技术参数：型号qBeam-2M-FW 激光光束分析图纸 探测器类型CMOS像素大小3μm感光尺寸5.76mm x 3.24mm最大分辨率1920(H) x 1080(V) 2百万像素最小光斑尺寸60微米波长范围350-1100nm敏感度~1.2nWatt/mm2 @ 632.8nm / ~0.5mWatt/mm2 @ 1310nm饱和强度~5μWatt/mm2 @ 632.8nm可调参数曝光时间, 图像大小快门可达50Hz(根据图像大小)损伤阈值全部滤光片50W/cm2滤光片*ND4:透射率 14%@632.8nm / ND9:透射率 0.5%@632.8nm / ND10:透射率 0.03%@632.8nm电源5V DC, 通过USB工作温度-10℃-70℃储存温度-20℃-85℃相关配件缩束器~x2, 可用于测量更大的激光光束, 光束最高功率可到1kW C-mount 安装配件方便安装其他光学配件 50/100mm 套筒微软操作系统XP/7/8/10应用拓展类型DLL 更多激光光束分析仪产品，请移步KEWLAB中国。

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耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 应用领域：可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 产品特点：- 精确的微米级薄膜导热测量方法- 可提供RF测量模式（后加热-前检测）和FF测量模式（前加热-前检测）- Nano TR遵循国际校准标准 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 技术参数：Nano TR温度范围RT，RT … 300°C（选配）测量模式RF/FF样品尺寸10×10 … 20×20mm薄膜厚度30nm … 20μm（取决于样品种类和测量模式）热扩散系数0.01 … 1000mm2/s主激光脉冲宽度 1ns光束直径 100μm激光功率 100mW详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

中图仪器GTS三坐标激光动态跟踪测量仪集激光干涉测距技术、光电检测技术、精密机械技术、计算机及控制技术、现代数值计算理论于一体，主要用于百米大尺度空间三维坐标的精密测量，在大尺度空间测量工业科学仪器中具有高的精度和重要性。GTS三坐标激光动态跟踪测量仪作为高精度、便携式的空间大尺寸坐标测量机，广泛应用在飞机、汽车、船舶、航天、机器人、核电、轨道交通装备制造行业以及大型科学工程、工业母机的高精密加工和装配中，解决大型、超大型工件和大型科学装置、工业母机等全域高精度空间坐标和空间姿态的测量问题。产品应用在航空航天领域对飞机零部件及装配精度的测量；在机床行业中对机床平面度、直线度、圆柱度等的测量；在汽车制造中对车型的在线测量；在制造中对运动机器人位置的精确标定；此外，激光跟踪仪还可以广泛应用到造船、轨道交通、核电等先进制造各个领域。中图仪器GTS三坐标激光动态跟踪测量仪已经发展出三自由度激光跟踪仪和六自由度激光跟踪仪家族系列，可以和多种形式的合作目标测头配合使用：1、GTS3000激光跟踪仪与光学回射靶球配合组成三自由度激光跟踪仪，能对大尺度空间内的点、线、面、曲面等几何特征进行精确测量；2、GTS6000激光跟踪仪与空间姿态探头配合组成六自由度激光跟踪仪，能够根据合作目标的精确空间姿态对被测工件的内部特征、隐藏特征或曲面等复杂特征进行快速、高精度的测量。功能特点1、主机测量系统（1）集成化控制主机设计强大CPU处理能力、紧凑型的控制主机内置于激光跟踪头，主机集成化的设计大大减少设备连接线缆和携带箱体数量，方便现场快速安装。（2）目标球自动锁定技术目标锁定相机在断光时会在小范围内自动搜索到目标球，完成断光续接，自动锁定目标球，全过程不需人为操作，提高测量效率。 （3）HiADM测距技术激光绝对测距（ADM）和激光干涉测距（IFM）融合技术（HiADM），将激光干涉测长的高动态速度与激光绝对测距功能相结合，保证测量精度，并实现挡光恢复。（4）一体化气象站一体化的环境气象站自动监视及更新环境气象参数，实时补偿温度、空气压力和湿度对激光在空气中空气折射率的影响，保证测量的准确性。（5）MultiComm通信设备与电脑之间可以通过硬件触发、有线网络或无线WIFI等多种方式数据通信，方便保密车间的现场使用，最高测量数据输出速度1000点/秒。（6）便携性运输集成化主机设计的激光跟踪头，集成式的配件运输箱，使得整个运输箱体系统体积小、重量轻，并且便于在不同的工作地点之间进行运输。（7）密封防护设计IP54防护等级，保证主机免受灰尘和其他污染物的进入，环境适用性强。（8）稳固三脚架稳定、便捷的三角架和底盘设计确保稳定的地面测量条件，灵巧升降机构设计省力操作，稳固的三角支撑系统避免环境震动带来的精度损失。2、iProbe 6D姿态探头 （1）机器视觉和重力对齐的传感融合技术测量空间姿态。（2）可以测量孔、洞等内部特征、隐藏特征的几何结构。（3）双探头设计，对复杂特征测量时更加高效。（4）无线传输，简易随行。3、iTracker 6D姿态智能传感器（1）姿态传感器自动跟随锁定激光束，测量灵活性高。（2）俯仰角和偏航角不受光学回射器接收角度的限制。（3）简易接口连接，便于安装在机床或机器人上，重复性高、精度高。（4）专用波段激光束和滤光设计，对环境光不敏感。（5）采样速度200点/秒。 4、EyeScan跟踪式激光扫描系统（1）动态追踪，无需贴点（2）测量范围广，支持大跨度转站（3）41条蓝色激光线，不惧黑亮（4）碳纤维材质，便携稳定（5）高采扫描速度1360000点每秒5、SpatialMaster空间测量软件SpatialMaster（简称SMT）是一款自主研发，专为大尺寸测量设备如激光跟踪仪配套使用，并且通过PTB认证的通用三维测量分析软件。SMT支持多个任意类型的仪器同时测量，测量数据可溯源的，具有强大的数据处理分析功能，支持生产制造过程中的几何尺寸公差(GD&T)评定，此外SMT具有优秀的用户交互性，方便灵活的分析报告功能。 6、RobotMaster机器人检测校准套件基于GTS激光跟踪仪的RobotMaster机器人套件为工业机器人空间绝对位置精度测量标定和性能检测提供高效可行的解决方案，既提供基于光学靶球的经济方案，也提供基于6D姿态智能传感器的增强方案。性能特点1、速度与精度的融合实现测量精度和速度的同时，具备挡光自动恢复的功能。2、目标球自动搜索断光时自动搜索目标球，完成断光续接，目标球自动锁定，提高测量效率。3、大尺寸测量范围广激光跟踪仪可测量直径达到160m的空间范围，适用于大尺寸三维测量。4、接触式测量借助靶球反射激光光束（SMR）确定三维空间坐标。5、持续稳定的支撑系统 三脚架底盘确保稳定的测量条件，避免环境震动带来的精度损失。6、集成化设计易携带结构设计紧凑，集成式的配件运输箱，整备体积小、重量轻，便于运输。

高度准直的太阳模拟器，具有自动移动光束角移动Highly Collimated Solar Simulator with automated beam angle movement太阳模拟器是为国家航天局开发的。该机构有一系列需要进行太阳模拟的项目，而当一个有严格要求的新项目出现时，他们便与我们联络，以提供一个高度精确的太阳模拟系统。 客户要求几年前，该客户一些成员具有使用我司高度准直的太阳能模拟器之一的动手经验。对于在发射之前测试其卫星传感器的新项目，他们需要此太阳能模拟器更大，更复杂的版本。他们联系了科学技术公司，询问我们是否可以提供一个在辐照度，准直角和光谱匹配方面与太阳极为接近的太阳模拟器。 此外，他们希望自动化以X，Y，Z和2个旋转角度来操纵太阳能模拟器。*初的讨论考虑了几种自动化实施方式，*初的工程分析确定了氙气短弧灯的物理局限性使其很难满足所需的准直规范以及其他标准。我司确定了实现*重要规格的方法，并将其介绍给客户。准则和标准获得批准，启动了该项目的设计。 准直全角：0.69°内90％功率目标尺寸：直径33cm空间非均匀性：2.95％（A级）时间不稳定：1.5％（A级）强度：1366W/m2（AM0光谱匹配）衰减强度：1.366W/m2（衰减*0.1％）输出方向：卧式 构思和设计系统在设计过程中，我们结合了光学建模和数学分析的方法来解决多方面的挑战，即如何制作具有大目标面积，比光谱匹配和发散角接近太阳的高度均匀且强度高的光源。 光源的光线追迹路径光学设计结构椭圆形的后反射器收集了大部分的灯发射，并聚焦到均匀的光导管中。该光导管通过全内反射引导光，许多反射用于混合光线，从而使输出更加均匀。一系列的透镜和转向镜用于将光引导到准直镜，准直镜反射光以形成近乎平行的光线，从而在目标平面产生高辐照度和低光束发散度。 太阳模拟器的输出光谱与AM0光谱的关系 光学模拟软件模拟目标区域上的辐照度分布自动运动控制的机械设计我们的客户需要整个太阳能模拟器在5个轴（X，Y和Z）以及2个旋转轴上进行自动运动。此外，整个系统需要在无尘室内运行，因此必须隔离太阳能模拟器的空气冷却系统。 为了满足这些自动化目标，设计了一个自动化的机械平台和定制软件，并提供了特殊的冷却设计，仪器组件和外壳设计来满足这些需求。 电动运动系统已构建并经过测试，其软件是在内部创建的。运动系统，外壳，软件和光学元件均根据客户对所有5个运动轴的要求完成，并且包含软件GUI，以便于控制。 太阳模拟器的移动系统可按照我们的机械工程师的设想在5个轴上提供整个太阳模拟器的自动运动 太阳模拟器系统的图纸，其中包括与ISO7兼容的无尘室外壳，并描述了从系统输出发出的高度准直的射线 原型设计与开发高功率的6.5 kW氙弧灯被用作模拟太阳辐射的基础光源。氙气灯光谱使用空气滤清器进行了修改，以满足AM0光谱匹配标准。辐照度可低*其全功率的0.1％，并且几乎连续衰减，从而保持了空间均匀性，光谱匹配和时间稳定性。在短期，中期和长期内测量了时间稳定性，并符合A级规范。 我们在0.69°全角内以90％的功率实现了高度准直。高准直度在距太阳模拟器输出若干距离处提供了一个均匀的点。 30分钟内测得的辐照度的时间稳定性 太阳模拟器输出相对于准直角的辐射度测量。 洁净室要求整个系统被密封以用于洁净室，包括隔离的空气冷却系统，以防止污染洁净室环境。整个系统符合ISO 5级洁净室标准。

随着空间三坐标测量仪、网络数据库技术与CAD/CAM技术日趋成熟，并得到广泛应用，特别是宽网技术的发展，使得在网络中传输数据的速度得到保证。经过实验研究表明，将三种技术融合为一体，能充分发挥它们各自的优势，能满足较高测量准确度和自动化程度的要求。下面跟随妙机小编一起了解三坐标测量仪系统的发展趋势。　　基于网络数据库技术的三坐标测量仪应用系统是通过网络数据库技术将三坐标测量仪连接到网络上，并作为多层应用系统的一层，允许改变系统的测量方案和数据处理方法，各数据库之间动态更新数据，实现应用系统的在线测量和离线分析。而且通过Internet或Intranet互联，进行数据传输、测量路径和分析方法的更新。它对远程测量和FMS制造系统有着重要的意义。　　综合上三坐标测量仪生产商小编给大家讲的知识，相信大家对这方面的资讯已经非常了解，如有疑惑可以关注我们妙机科技的咨询了解，我们将竭诚为您服务。妙机科技达到高要求生产和测试标准，生产设备齐全先进，目前在国内外占有一定的市场并享有较高的品牌知名度，未来将持续朝更高速、更高精度测量产品方向发展。

仪器简介：上海瞬渺光电全线代理美国Edmund Optics爱特蒙特的光学产品, 主要的产品如下: 1.高精度的光学透镜,棱镜 2.光学机械装置 3.光电子装置 4.计算机视觉系统(lens grinding and polishing, metal machining) 5.高精度的CCD光学元件 6.平面.球面镜,光学光圈 爱特蒙特光学（Edmund Optics）公司自1942年开始设计生产多元素透镜、透镜镀膜、成像系统以及光学机械设备以来，现如今已成为全球最主要的工业光学器件、元件供应商。爱特蒙特光学（Edmund Optics）公司产品繁多，其中包括光学方面：分束器，晶体光学，光纤，滤波片，光栅，透镜，起偏器以及棱镜；机械方面：光圈，电路试验班组成，底座和地盘，以及其他相关附件；激光器方面：氩离子激光器，光纤耦合激光器，氦氖激光器，激光器福建，激光探测器等；视觉系统方面：紫外照相机，近红外照相机以及高速照相机等；光学工具：调准用示波器，目镜、物镜和适配器，放大镜，显微镜等。还有计算机视觉系统(lens grinding and polishing, metal machining) ，高精度的CCD光学元件。技术参数：波长范围 300-1100nm (400-1100nm with LDFP) 感光面积 8.5 x 6.8mm (2/3英寸) 光束直径 0.20mm min, 6.0mm max (1/e-2) 外观尺度误差 ±1%(typical), ±5% Max 脉冲触发 TTL, rising or falling edge 帧率 27Hz (Live Mode), 10Hz (with calculations) 峰值噪声 24nW/cm2 (at 632.8nm) 连续光饱和功率密度 40mW/cm2 (at 632.8nm with LDFP) 脉冲光饱和能量密度 8mJ/cm2 (at 1.06µ m without LDFP) 损伤阈值 32mJ/cm2(at 1.06µ m without LDFP) 电快门 固定值10ms 镜头接口 C-Mount 信噪比 60dB Gamma 1.0 增益 优化的线形动态范围 (不可调) 操作系统 Windows 98, NT 4.0, 2000 XP 外观尺寸 68.1 x 79.3 x 40.9mm (with LDFP) 重量 110 grams 工作温度 -20～60°C主要特点：特点： 10bit USB2.0数据接口 1280 x 1024，6.7um像素CMOS感应面 高灵敏度和动态范围 可直观化软件界面 该光束质量分析仪采用顺序扫描式照相机探测，光谱覆盖范围300-1100nm。具有高的信噪比和线形响应，精确的脉冲光和连续光光斑尺寸和均匀性测量。应用软件提供背景提取，减少固有模式噪声，提高测量精度。基于图象提供分析功能有：中心定位、峰值光强位置、指向稳定性、相对功率/能量、峰值功率/能量密度、光束发散角、椭圆度、光强分布均匀性、高斯拟合、光束直径/宽度等。 该系统配置包含相机、数据线、相机支架及应用软件。另外，相机还带有低失真平片LDFP以减少环境光干扰，并保护探头。提供激光级的衰减2500:1。用户还可以通过选择其他固定或可变衰减器，增加使用功率范围。

老鼠发情周期测量仪（Rat Vaginal Estrous Cycle Monitor）主要是为了获得大鼠、小鼠在发情交配周期的精确信息而开发的设备。通过测量大鼠、小鼠阴道黏膜上皮细胞层的电阻抗数据，来判断老鼠的发情交配周期。阴道黏膜上皮细胞层的电阻抗是通过插入阴道的探针以1千赫兹（1Khz）的频率来测量的，该设备的测量范围是：0-19.9kohm（千欧姆）。老鼠在发情周期阶段的阻抗明显升高，与其他阶段发情周期相比，阻抗达到3千欧姆（3kohm）时被认为是发情前期阶段。P为发情前期EIV变化(老鼠发情周期中)，EIV显示了发情前期的高值，和发情期的周期性变化常规测定方法（阴道涂片法）是比较麻烦的，还需要操作人员有一定的技巧，并且浪费时间和人力。大鼠阴道阻抗检测仪是一个可靠的，省时省力的设备，操作简单，初学者也很容易掌握使用。型号：MK-12鼠孕期测量仪的主要特点： 测定大小鼠发情前期阶段的好方法； 强大的工具，提高繁殖效率； 重复性好，测量效率高； 操作简单； 电池供电，使用方便；有两种探头可选，分别用于大鼠和小鼠：探头型号：RP-45A，MP-35A 鼠孕期测量仪的主要规格： 控制：面板电源按钮开关 数据输出：LCD屏幕显示 电源：2AA镍氢电池，可充电 电池寿命：30小时 探针接口：插孔式 声音等级： 70 dB (A) 测量范围：0-19.9KOhm 精度：±1% ±1 digit 校准：自动 测量频率：1KHZ 重量： 0.2kg 尺寸：10(w)x14(d)x3(h)cm 探针尺寸（大鼠）：55mm x 4.5mm OD 探针尺寸（小鼠）：50mm x 3.5mm OD请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

随着科学技术的发展，管理水平的提高，三坐标测量仪进入了工厂，用它可随时进行测量、工件编程、统计数字化、三维曲线绘图、直接的计算机控制及其它。那么三坐标测量仪在现代工业中发挥这怎样的作用效果额？下面妙机小编和大家一起探讨一下。　　1、当产品检测结果发生争议时，三坐标测量仪就是仲裁员。在产品质量管理上，检验员、质量管理人员、军方代表三方对产品检验结果时有争议，军方代表总是提出将产品送三坐标检测，把三坐标测量仪的测量数据作为检测结果，作为评判产品质量状态的依据。　　2、三坐标测量仪替代了大量的专用量具，大大减少了专用量具的制造，降低了生产成本，提高了企业的经济效益。在没有购买三坐标测量仪以前，投产一种新产品，首先要设计制造大量的专用量具，来保证生产中的每道工序都有测量工具，保证产品的品质。　　3、三坐标测量仪的高精度、高准确性、检测的高效率，提高了企业的市场竞争能力。在市场经济环境下，客户要求生产的批量不大，品种繁多，客户要求交货的周期越来越短，产品质量要求越来越高，这就要求企业要有超强的适应能力，来满足客户的要求.　　4、三坐标测量仪的应用，提高了企业的生产技术能力。三坐标测量仪的高准确性和三维检测功能，是任何其他检测方法都无法比拟的，尤其是对产品的位置偏差的大小及方向的准确指示，极大地帮助生产人员提高了加工高精度产品的技术能力。　　以上就是我们东莞三坐标测量仪生产厂家的内容介绍了，相信大家对此会有更深入的了解了，如有朋友需要购买的或者想了解更多关于这方面的知识，可以随时联系妙机科技咨询或者关注妙机科技了解更多。广东妙机精密科技股份有限公司（以下简称妙机科技）致力于为高科技领域提供完整的微米、奈米测量解决方案。妙机科技拥有完全自主品牌体系，从研发、生产、销售等关键环节，提供上、中、下游完整的产品供应及售后服务。

妙机三坐标测量仪和影像测量仪都以先进的测量技术而得以广泛应用，虽然两者都是通过对产品的尺寸、角度和位置等形位公差进行测量的，但这两种测量仪有着本质的区别，接下来妙机小编为大家介绍一下三坐标测量仪与影像测量仪的不同之处。　　1、测量方式不同。妙机三坐标测量仪是使用测头接触工件的，通过接触的方式获取点的坐标。而影像测量仪是通过对光学镜头获取的图像进行测量的，不用接触，只需要全程使用摄像功能就可以完成测量。　　2、测量工件类型不同。虽然妙机三坐标测量仪的测量精度比影像测量仪高，但其主要是通过与工件接触的方式进行测量的，无法很好的测量小薄软等类型的工件。影像测量仪虽然可以通过非接触的形式测量小薄软等类型的工件，但对一些需要进行三维测量或测量精度要求高的工件来说，却有些力不从心。　　3、测量维度不同。妙机三坐标测量仪是根据所取点的三维坐标值来进行测量的，空间内的每一个点都有唯一的坐标值，测量精度很高。而影像测量仪是通过光学影像技术获取工件的二维影像，然后再进行精密的测量，是在二维平面上进行测量的。　　上述文章就是东莞三坐标测量仪厂商的小编和大家说的内容，大家都清楚了吗？在这边我们也就不和大家多说啦，大家若是对测量产品有所需要或者感兴趣的话，都可以随时联系我们，也可以关注一下妙机科技的。妙机科技公司不断引进先进的生产技术和质量保证，在日趋激烈的市场竞争中不断发展壮大。

耐驰 PicoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 应用领域：可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。 耐驰 PicoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 产品特点：- 精确的纳米级薄膜导热测量方法- 可提供RF测量模式（后加热-前检测）和FF测量模式（前加热-前检测）- Pico TR遵循国际校准标准 耐驰 PicoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 技术参数：Pico TR温度范围RT，RT … 500°C（选配）测量模式RF/FF样品尺寸10×10 … 20×20mm薄膜厚度10 … 900nm（取决于样品种类和测量模式）热扩散系数0.01 … 1000mm2/s主激光脉冲宽度 0.5ps光束直径 45μm激光功率 20mW详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

一、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪产品简介：小麦育种研究中，小麦表型参数至关重要，小麦表型检测仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体，一站式解决小麦的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的小麦研究。二、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪应用广泛：1、小麦亩穗数检测合适时期： 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。2、麦穗形态测量的时期：室内考种时期：3、小麦夹角测量时期：抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。4、千粒重测量时期： 室内考种时期。5、小麦株高测量时期： 各个生育时期。三、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪技术参数：测量范围和误差：1、小麦亩穗数测量误差： ≤±5%。2、麦穗形态测量范围： 5——20cm。穗长误差： ±2%。小穗数误差： ≤ 3个。3、小麦夹角测量范围： 0-180°。作物粗： 0-5.2cm。夹角测量误差： +5%。4、作物茎粗测量误差： ±1%。5、千粒重测量误差： ±2%。6、株高测量范围： 0.1-1.1m。测量误差： ±1%。1.1 小麦亩穗数测量仪1.1简介小麦亩穗数测量仪也称小麦亩穗数测量系统，采用图像识别技术、深度学习的方法获取数据，可多点快速取样，数据批量分析，且数据互联互通。可以测量小麦的亩穗数、理论产量、种子数量和千粒重指标，为小麦的品种筛选、小麦产量预测、产量基因定位和功能解析发挥着至关重要的作用。小麦产量是由单位面积上的穗数、每穗数(每颖花数)和粒重三个基本因素构成，穗数是小麦产量重要构成要素之一，快速、准确地获取小麦穗数和千粒重对智能测产意义重大。1.2外形尺寸1、小麦亩穗数740mm*740*(620——1500)mm2、标定杆可上下伸缩调节高度3、背光板尺寸： 47cm*35cm*0.8cm4、图像分辨率：1600*7205、摄像头：1300W像素1.3测量误差1、小麦亩穗数误差±5%。2、千粒重误差±2%，修正后可达100%。1.4适用范围1、麦穗检测合适时期：小麦灌浆期至成熟前期的小麦2、千粒重可测量小麦种子的数量和千粒重2.小麦株高测量仪2.2.1简介小麦株高测量仪用于测量小麦的株高。在小麦不同时期测量株高的标准不同。小麦株高一般是指植株基部至主茎顶部即主茎生长点之间的距离。幼苗期：（1）伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；（2）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。2.苗期：伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；真茎高度：各节间的总长为真茎高度（或长度）；（3）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。3.拔节期：（1）伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；（2）真茎高度：各节间的总长为真茎高度（或长度）；（3）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。4.灌浆期：从植株基部（或分蘖节处）量到穗顶（不包括芒）的距离则为株高。2.2.2技术参数测量杆高度：375mm+375mm+350mm测量精度： 1mm测量范围： 10——1100mm外壳材质： 铝合金软件系统： Android2.2.3小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪功能特点1、仪器带有数据管理云平台和APP,可通过电脑网页或手机查看数据。由测量杆，手机，识别APP软件组成。2、手机对准测量杆上的刻度，拍照自动识别刻度数据实时传输到手机。3、测量杆带有水平仪，使测量过程更规范，更准确。4、完善识别内容：自动识别结果中显示识别的高度数据，手动录入作物数据（如：品种、生育期等）完善作物信息。首页界面上可显示所有测量结果。5、可根据检测日期，种类，测量人，区组名称进行测量结果查询。6、数据分析管理：分析结果可查看，可将图片和数据excel导出。7、数据上传：自动在wifi/4G网络链接正常下上传至云平台，实现管理、查看、分析数据。平台数据可下载、分析、打印。3.小麦夹角茎粗测量仪3.1仪器简介小麦夹角茎粗测量仪可快速测定和分析小麦夹角、茎粗等作物性状参数，方便开展科学研究和育种分析。也适用于水稻、油菜等作物品种。3.2小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪技术参数1、支撑材料：不锈钢2、支架材料：黑色塑料3、背景材质：白色树脂4、测量范围：作物夹角：0——180°；作物茎粗：0——6cm5、测量误差：作物夹角±1°；作物茎粗：±1mm3.3功能特点1、超轻便手持式设计，方便田间和室内测量使用；2、大屏幕彩色手触摸屏，安卓系统，1300万像素+200万像素双摄；3、测量速度快，拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理；4、手动修正功能强大，手动触摸屏幕进行修正，使结果更准；5、手机和作物之间可以进行自由距离设置，适合多种植物的测量，适应性强；6、压板和转轴柄一体式连接，方便固定作物茎部，减少风吹草动对作物角度拍摄的影响；7、环境适应性广，无需做遮光处理，可以在离体或活体情况下测量作物夹角和茎粗数据；8、自动调节白平衡，不受天气、光照等环境条件的影响；9、数据查看多样化：拍照分析后即可查看测量结果，可在历史记录中查看数据报表，可导成Excel格式，并可分享至微信、QQ和钉钉；10、自动生成数据列表：测量时间，图片，作物夹角、作物茎粗等信息，节约数据整理时间；11、作物夹角适用的作物：水稻、小麦、油菜；作物茎粗对各种作物的茎粗都能测量。4.麦穗形态测量仪4.1仪器简介麦穗形态测量仪也叫麦穗形态测定仪，基于机器视觉技术，利用手机摄像头获取麦穗的图像，利用图像处理算法现场分析，获取麦穗形态参数，AI智能识别利用透视变化矫正图像、光照补偿算法、距离变化等技术，自动计算出小麦的穗长。麦穗形态测量仪一次测定，可同时获得麦穗穗长、小穗数等多项指标，主要应用于应用于小麦育种、小麦遗传研究等领域，4.2技术参数外形尺寸： 460*320*10mmEVA背板尺寸： 420*295*2mm底板材料： 黑色双面细磨砂亚克力测量范围： 5——20cm测量误差： ±2%图像分辨率： 1600*7204.3功能特点1、超轻便手持式设计： 方便室内和室外测量使用 2、大屏幕彩色手触摸屏： 安卓系统，1300万像素 3、多穗同时测量： 麦形态测量仪一次可以测量10个麦穗长度：4、测量速度快： 拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理 5、比例尺自动标定： 对倾斜拍照的图片可自动进行图片矫正，提高测量的精确度。6、适应性广： 无需做遮光处理，可以在离体或活体情况下测量麦穗形态。7、自动调节白平衡： 不受天气、光照等环境条件的影响 8、存储容量大： 50G存储数据,可看历史记录，相对生长速率等。9、数据查看多样化： 拍照分析后即可滑动查看结果，也可在历史记录中查看数据报表，可导成Excel格式10、自动生成数据列表： 测量时间，图片，GPS位置信息，穗长等信息，节约数据整理时间。小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪配置清单1、十字标定钢管 *42、伸缩杆 *13、地钉+转接器 *14、麦穗背板装置 *15、小麦夹角手持装置 *16、小麦株高标定杆 *17、小麦株高伸缩架 *18、可调光背光板 *19、超大彩色屏手机（已安装软件） *110、航空箱 *111、使用说明书 *1

偏振测量仪 PAX5710-T系列由USB接口TXP5004机箱、 PAX5710系列模块和外置偏振探头组成。该系统配置了笔记本电脑，并包括所有连接探头和电脑的接线。测量波长范围可以通过添加模块和探头方便地进行扩展。 另外，Thorlabs还提供光纤耦合形式的偏振测量仪PAX5720系列，该系列的探头内置。 应用： 自由空间或光纤光偏振测量 消光比测量 偏振度测量 作为PMD5000系统中偏振测量单元 琼斯（Jones）和米勒（Mueller）矩阵测量 指标： 输入功率范围：-60dBm~10dBm 方位角精度：0.25o 椭率角精度：0.25o 归一化Stokes参数精度：S1,S2,S30.005 偏振度精度：± 0.5% 波长范围： VIS系列: 400-700nm IR1系列: 700-1000nm IR2系列: 1000-1350nm IR3系列: 1300-1700nm 最大测量速率：333次/秒 光纤输入接口：FC/PC（或根据客户要求） 自由空间输入：&Phi 3mm，发散角3mrad 模拟界面： 输出：S1,S2,S3,功率/dBm，DOP（Stokes矢量） 输入：触发 数字界面： 输出：S1,S2,S3,功率,方位角,椭率,功率比,相位差 热机时间：15min 工作温度范围：5-40oC 消光比测试仪 基于旋转偏振器技术的消光比测量仪。该台式设备提供了快速而简便的测量保偏光纤消光比的方法，可用于保偏光纤的调节等。 应用： 保偏光纤消光比测量 保偏光纤到连接器的调节 保偏光纤到光源的调节 指标： 波长范围 800-1700 nm 最大消光比 40 dB ER精度* 0.5 dB ER分辨率 0.1 dB 角度精度* 0.5° 角度分辨率 0.1° 动态范围&dagger 50 dB (-40 ～ +10 dBm) 工作温度 5 to 40 ° C 输入电压 100V, 115V, 230V +15%/-10% 所有参数在23 ± 5° C 、相对湿度 45 ± 15%有效 * 输入功率 -30 dBm &dagger 动态范围依赖特定波长 OZ optics公司消光比测试仪 特点： 测量达40dB消光比 内置RS232接口 宽波长范围：400-1000nmVIS，850-1650nmIR ER分辨率 0.01dB，角度分辨率0.3o ER测量准确读1dB，角度准确度0.5o 测量达2W连续光功率 便携式设计 记录模式，可连续测量 连接头可换 低成本，CE认证 应用： 光通讯器件制造 自动调节 质量控制和测量 产品开发 器件或系统故障排除 标准产品指标1： 型号 ER-100-IR ER-100-1290/1650-ER=40 ER-100-VIS 波长范围 850-1650nm 1290-1650nm 400-700nm 600-1000nm 2 消光比范围 30dB 850-1290nm 35dB 1290-1650nm 40dB 1290-1650nm 30dB 动态范围 47dB 40dB 消光比准确度 ± 1dB 消光比分辨率 0.01dB 角度准确度3 ± 0.5o 角度分辨率 0.3o 刷新频率（ER） 2.7Hz 刷新频率 （相对功率） 650Hz 输入功率4 50uW~1.0mW 通讯接口 RS232 电源5 通用50/60 Hz 110/220V AC/DC适配器 尺寸 65 x 90 x 184 mm 重量 0.48 kg 工作温度 -10° ~ 50° C 存放温度 -30° ~ 60° C 存放湿度 90% 1.测试条件，1550nm线形偏振光源，热机30min，温度23± 2° C 2.根据所选择的400-700nm或600-1000nm接头 3.高精度的FC连接头 4.无衰减器，带衰减器可进行高功率测量，其波长需要指定。 5.标准设备为北美供电标准，其他需单独购买

村上色彩光学测量仪光源的光束通过聚光镜聚集到小孔,并通过准直透镜转换为平行光束，接着通过光速虹膜到达样品表面。光束在样片表面的反射率和透过率通过镜头和接收虹膜存储到接收体中。因此,通过测量光强度可以测得样品的反射率、透过率和漫反射率。应用范围1)控制塑料?玻璃等的透光特性 2)用光触针测量金属面?涂装面的表面粗糙度3)测定磁性涂料涂层面的光学性能指标4)测量纸的光学性能指标5)毛发的光学性能测量6)分析天然材料和人工材料的表面光学性能7)评价高光泽镜面的光泽度8)研究纤维?织物的表面光学特征9)研究光从液晶后部照射时扩散板?七色光谱板?偏光板的透光性 杰弗里斯法的光学条件测量示例为分析研究材料量化的外观?质地?材料表面的光泽度? 光学系统测量概念图技术参数光源卤素灯 12V 50W受光单元光电子增倍管光束调节器约φ2~φ20 可变受光开角约0.5°~ 2.9°可变受光角度检出角度0.1°step测试台旋转度 360° 精度±20′观测器旋转度360° 精度±20′试料尺寸最大100×100角~最小50×50角?厚度10以下

泰科纳自动影像测量仪，是代替原有手动测量机型的一款全自动化测量机型，可以实现产品的批量全检。全自动对焦功能和全自动变倍远心镜头，不但能够提高测量效率，也避免测量过程中的人为因素带来的测量误差。可以离线编程，实现测量程序存储和调用。泰科纳自动影像测量仪搭载1:6.5高分辨率光学系统，可全面确保精密工件的二维尺寸进行准确测量。可高效测量各种精密零件的轮廓和表面形状尺寸，如点、线、圆、弧、矩形、槽形、环形、开曲线、闭曲线、圆柱、圆锥、球、平面,也能测量曲线的周长、面积、直径等。同时可以进行平行度、垂直度、角度、对称度、位置度、同心度、直线度、平面度、孔深等适用于高精度产品检测。广泛应用于：航空航天、汽车电子、手机零部件等行业。测量机的核心测量组件是激光测径。激光发射器发射的激光通过旋转和一组透镜处理，形成一个激光面扫描工件，工件放置在激光束面内，在测量区域位置的被测物遮挡激光束并将阴影投射至接收器，计算被遮挡光束的阴影时间，被测物的外径即可被精确计算出来。

总览光子晶体面发射激光器（PCSEL）是新一代高功率半导体激光器，他们利用二维光栅结构线性和正交地散射光。这使得 PCSEL 成为唯1一种反馈在平面内而光发射在平面外的激光器，从激光器的顶面发出。具有单模操作、极低发散角，高功率输出，高光束质量等优势。目前在激光雷达、空间通讯、传感和激光加工等领域有着重要的应用前景。平面外、正交、表面发射为激光器提供了巨大的成本优势，因为它使它们易于封装并集成到 PCB 和电子组件中。我们的 2D 光栅结构（光子晶体）启用并稳定平面外发射，从而产生反馈和单模发射。与同等的 EEL 或 VCSEL 相比，PCSEL 结构在数据速率、波长和功率性能方面具有优势。我们提供的的 PCSEL 成本低、产量高结构坚固，波长范围广且功率高。我们的 PCSEL 具有 EEL 和VCSEL的速度性能，而它们的测试和封装成本是EEL的 50%，并且它们提供的功率是 VCSEL 的10倍以上。 与FP,DFB等半导体激光器相比PCSEL 是唯1使用面内反馈和面外表面发射的激光器。与 VCSEL 一样，测试和封装仍然更便宜，但与同等尺寸的 EEL 或 VCSEL 相比，PCSEL 结构在数据速率、波长和功率性能方面具有优势。高亮度或双调制光束扫描 PCSEL半导体激光二极管,高亮度或双调制光束扫描 PCSEL半导体激光二极管通用参数提供样品可根据材料转让协议 (MTA) 提供以下研发样品。 请使用电子邮件（info@microphotons.com）进行咨询高亮度PCSEL二极管根据 MTA 合同，我们将提供激光面积为 500μmΦ 的研发样品，可实现 10W 级（或更高）输出功率（脉冲操作）和窄光束发散角（~0.1°，FWHM）。我们还可以为 PCSEL 提供更大的面积，以实现更高的输出和更窄的发散。 请与我们联系。一, 高亮度PCSEL二极管规格表（研发样品）外观Φ5.6mm CAN封装特点室内温度脉冲操作（典型宽度：20ns，持续时间：1kHz）(ns~数百ns的脉宽都适用)项目值操作电流15A输出功率10W发射区0.5mmΦ波长(10mW时)峰值940nmFWHM0.1nm以下发散角(10mW时)FWHMx0.15°以下y0.15°以下1/e2x0.20°以下y0.20°以下二,光束扫描 PCSEL根据 MTA 合同，我们可以提供具有基于双调制 PCSEL 技术的光束扫描功能的研发样品。 关于阵列结构的布置以及发射什么样的光束，我们将与您协商。

YT-TM102光学透过率测量仪是一款台式光学透过率仪，主要用于有机材料、玻璃、PC材料透光率测试,测试孔径3mm,适合小尺寸材料的透光率、红外线和紫外线透过率测量,平面台式设计,方便放置测试样品,即放即测，测试快速数据精准。 YT-TM102台式光学透过率测量仪是5V供电，手机用移动电源可直接为其供电,采用平行光设计，只有平行光，才能测量不同厚度的样品而不产生数据的偏差。如果采用发散的光源，由于光线的折射，越厚的材料，测量结果偏差越大。 一、 YT-TM102光学透过率测量仪参数 1．仪器外形尺寸：长200mm * 宽180mm * 高106mm 2．min测试物尺寸：￠3mm 3．仪器重量：约1500克 4．分辨率：0.1% 5．测量精度：优于± 2%（无色均匀透光物质），出厂用标准样板检测优于±1% 6．紫外线：峰值波长365nm 7．可见光：峰值波长550nm 8．红外线：峰值波长940nm 9．供电电源：5V AC/DC电源供电，也可用移动电源供电二、 YT-TM102光学透过率测量仪特点 1.紫外透过率仪，红外透过率仪，可见光透过率仪(透光率计)三合一。 2.适用于眼镜镜片，涂料，玻璃，ＰＣ材料等的透过率测试。 3.适用于产品性能展示，生产线产品检测等多种场合。 4.测试物直径min可达3mm。 5.台式设计，不锈钢外壳，便于被测物放置，操作方便。 6.平行光设计，解决光线折射导致测量不准确的问题。光学知识透光率计原理是采用可见光源照射被测物质，感应器分别探测光源的入射光强和透过被测物质后的光强，透过光强与入射光强的比值即为透过率，用百分数表示。透光率计校准标准：JJF1225-2009《汽车用透光率计校准规范》该标准规定了透光率计必须满足明视觉函数的要求。明视觉函数（function of photopic vision）的定义：人类的视觉系统对不同波长的光敏感程度不同，即人眼对光的相应程度四波长的函数。国际照明委员会（CIE）于1971年在实验数据基础上公布了明视觉函数V（λ）标准值，并于1972年由国际计量委员会批准。透光率是一个物理词汇，是表示光线透过介质的的能力，是透过透明或半透明体的光通量与其入射光通量的百分率。假束平行单色光通过均匀、无散射的介质时，光的一部分被吸收，一部分透过介质，还有一部分被介质表面反射。透光率可以表示显示设备等的透过光的效率，它直接影响到触摸屏的视觉效果。当入射光强度I0一定时，介质吸收光的强度Ia越大，则透过光的强度It越小。用It/I0表示光线透过介质的能力，称为透光率，以T表示，即T=It/I0。透光率的数值为百分数，取值范围为0~100%。如果光被介质全部吸收，It=0，T=0。而若光全透，则It=I0，T=100%。透光率的倒数反映了介质对光的吸收程度。为了便于计算，取透光率倒数的对数作为吸光度，用A来表示，即A=Ig（1/T）=lg（I0/It）。透光率越大，则透光性越好，但任何透明材料透光率都不可能达到100%，最高的也只在95%左右，其主要原因如下：1、光反射反射即为由于分子结构排列及结晶性、结晶度等原因，使入射光线从聚合物表面反射出来导致透过光量损失，透光率下降。反射程度用反射率R表示，计算公式为：R=（n-1）2/（n+1）2×100%式中，n是测试介质材料的折射率。例如，PMMA的n=1.492，则R=3.9%。反射率越小，透光率越大，透明性越好。2、光吸收当入射光进入介质材料内部时，由于分子结构及组成的原因，光在通道中传递受阻，而滞留在材料内被吸收，从而降低透光率。3、光散射当入射光接触粗糙不平的制品表面，或分子结构分布不均匀或无序与结晶相共存的材料时，入射光线既无透过也无反射及吸收，而呈散射形式消散，导致透光率下降。这部分损失比例较小。该现象在结晶型聚合物中较严重，非结晶料较好。