光斑轮廓分析仪

厂家介绍：美国 DataRay 公司成立于1988年，专业提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；可提供2D或3D的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果。 应用领域：&bull 通信：光缆加工/熔接、研发&bull 材料加工：焊接、蚀刻、切割&bull 消费设备：光学鼠标&bull 天文&bull 激光制造与品控&bull 光谱学&bull 3D扫描&bull 粒子检测&bull LED：室内照明、车头灯&bull LIDAR：AR、VR&bull 生物医学：眼科手术、激光手术、内部跟踪扫描狭缝光束轮廓分析仪扫描狭缝轮廓分析系统提供高分辨率，但是要求光束小于1µ m且价格要高于相机型光束分析仪。尽管不能给出光束图像，但是在很多情况下XY或XYZθΦ轮廓就可以满足应用要求。型号Beam’R2BeamMap2波长范围Si: 190-1150nmInGaAs: 650-1800nmSi+ InGaAs: 190-1800nmSi+ InGaAs, extended： 190-2500nm可测光斑大小2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)分辨率 0.1 μm or 0.05% of scan range精度 ± 2% ± ≤0.5μm连续或脉冲CW, Pulsed Minimum PRR ≈ [500/(Beam diameter in μm)]kHzM2测量需要配上电动导轨可直接测量，无需电动导轨最大可测功率1 W Total & 0.3 mW/μm2增益32dB

总览DUMA公司的刀口型（Knife edge）BeamAnalyzer光斑分析仪采用了先进的Zhuan利技术，首先在不同的角度都有刀刃轮廓，其次在不同的断层重建光强分布以得到激光整体空间强度分布图，是对连续激光器、光纤和激光二极管生成高分辨率波束宽度和轮廓的测量，以2D和3D视图形式显示光束能量分布。BeamAnalyzer光斑分析仪具有强大的灵活性、速度，便于各种波束测量，将在实验室、工厂和现场满足广泛的自动化激光分析需求。DUMA刀口型BeamAnalyzer光斑分析仪(光束质量分析仪) 800-1800nm/1050-2700nm,DUMA刀口型BeamAnalyzer光斑分析仪(光束质量分析仪) 800-1800nm/1050-2700nm产品特点● 具有高动态范围和高分辨率● 实时检测光束质量、尺寸和高斯拟合，显示光束2D/3D图像● 无像差光束衰减，由放置在扫描平面的光学滤波器实现● 紧凑的小尺寸设备，操作简单● 12位A/D，采样高分辨率，采用USB2.0接口● Excel数据存储，RS232或TCP/IP数据传输● 可保存快照图像● 自动验证分析报告产品应用● 激光光斑分析：光束的中心，椭圆度，光束宽度，形状，位置，功率和强度分布● 光束对准● 在线监测● 高斯拟合分析● 光束位置测量● 激光光束优化和质量控制技术参数详细参数型号BA7-IR3E-USB工作波段1050-2700nm，校准范围：1200-2700nm刀片数7传感器输入口9mm方口(有效区域ф3mm)尺寸35.2mm(W)×105mm(H)×87mm(L)重量634g最小探测功率10µ W最大功率@633nm5mW (ф0.1mm光斑)相对功率测量0.1µ W分辨率功率测量精度±10%损伤阈值200W/mm² （传感器的总功率小于5mW）束宽分辨率束宽 100µ m：0.1µ m束宽≥100µ m：1.0µ m光束位置分辨率1µ m光束位置精度±15µ m成像平面距离5.5±0.08mm（输入孔外部前表面）0.5+0.18mm（输入孔内部前表面）测量速率5Hz连接线2.5m筱晓光子1550nm DFB激光器光束实测图：V向剖面窗口W向剖面窗口位置窗口2D窗口3D窗口通用参数备注：BeamAnalyzer光束分析仪是一个完整的测试系统，包括探头和2.5m的连接电缆，USB2.0集成盒，软件和用户手册的CD，携带箱。

总览量子点短波红外相机型光束质量分析仪，超高速USB 3.0，400-2000nm，采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化，多种有效面积可供选择，最高可至1920 x 1080，15×15 μm像素点，14位A/D转换，是连续和脉冲短波红外激光光束分析的理想工具。WinCamD-QD 量子点短波红外相机型光束质量分析仪(轮廓仪),WinCamD-QD 量子点短波红外相机型光束质量分析仪(轮廓仪)通用参数仪器特点采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化覆盖波长范围400nm-1700nm 或 350nm-2000nm多种有效面积可供选择，最高至1920 x 1080像元尺寸达15 µ m14位ADC全局快门；支持脉冲和连续光束动态范围 2100:1内置固件NUC可在多台相机上进行并行捕获M² 测量GigE 或 USB 3.0，带有3米长可螺钉锁紧的导线支持GigE Vision 或 USB3 Vision应用领域1550nm / 2000nm 激光的光束分析1550nm / 2000nm激光和激光系统的现场测试光学组装和仪器校准光束漂移和记录使用 M2DU 平台测量 M² 技术参数波长范围S-WCD-QD-1550系列: 400-1700 nmS-WCD-QD-2000系列: 350-2000 nm像素点&sbquo H x VS-WCD-QD-1550/2000: 640x512S-WCD-QD-1550/2000-L: 1280x1024S-WCD-QD-1550/2000-XL: 1920x1080传感器CMOS ROIC 上的胶体量子点 (CQD)成像区域S-WCD-QD-1550/2000: 9.5x7.68 mmS-WCD-QD-1550/2000-L: 19.2x15.36 mmS-WCD-QD-1550/2000-XL: 28.8x16.2 mm像元尺寸15 x 15 µ m最小光斑 (10像素)~150 µ m快门类型全局**帧率*S-WCD-QD-1550/2000: 25 fpsS-WCD-QD-1550/2000-L: 25 fpsS-WCD-QD-1550/2000-XL: 25 fps信噪比≥2100:1光学/电子dB33/66ADC14-bit可测量源CW光束&sbquo 脉冲源带触发同步可测量的光斑功率详见图表手动光束衰减器包含ND-1, ND-2, 和 ND-4 C接口衰减器可显示的光斑轮廓2D & 3D点阵以10&sbquo 16, 256 或**色彩或灰度显示10 色和 16 色的轮廓显示测量和显示的轮廓参数原始图形和经过平滑后的图形三角运算平均滤波器高达 10% FWHM光束直径两个用户设置切片级别的直径高斯 & ISO 11146 二次矩光束直径高于用户定义的切片级别的等效直径等效狭缝和刀刃直径光束拟合高斯 & Top Hat 轮廓拟合 & % 拟合等效狭缝轮廓光束椭圆度长轴，短轴和平均值. 轴的自动定向.质心位置相对与绝对强度加权平均后的质心和几何中心光束漂移的显示和统计测量精度 (不限于像元的尺寸)用于内插直径的5µ m 处理分辨率绝对精度是取决于光束轮廓 ~ 通常可以达到 10 µ m 精度.质心精度也取决于光束 (可以精确至 ±10 µ m，因为这是从质心切面上所有像元经算术计算而来的).处理选项图像与轮廓平均，1&sbquo 5&sbquo 10&sbquo 20&sbquo 连续.背景光捕获和扣除用户设置用于捕获的矩形捕获块用户设置的，或带有光束追踪的自动椭圆包含区域来进行处理*.ojf 文件保存了所有WinCamD用于特定测量所进行的自定义设置通过/失败显示通过/失败显示，可通过屏幕上选择不同的颜色。 质量保证和生产的理想选择。日志数据和统计最小，**，平均，标准差，4096个样本数据相对功率测量基于用户初始输入的滚动直方图。 单位为 mW、µ J、dBm、% 或用户选择（相对于参考测量输入）流畅度用户自定义认证RoHS&sbquo WEEE&sbquo CE多路相机最高可达4台相机，并行捕获.1 至 8 台相机，串行捕获相机尺寸&sbquo 宽 x 高 x 深61 x 61 x 99 mm光学深度-从外壳或衰减器至传感器的距离17.5 mm固定8-32螺纹, 8 mm深重量407 g* Capture block size dependent典型测试数据

BeamOn LA超大尺寸光斑光束质量分析仪以色列Duma Optronics 公司于1989年成立，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能全面。公司的Beam Analysis光束质量分析仪主要有三种类型：CCD类型分析仪（最新产品）、亚毫米光束分析仪、刀口法类型分析仪。BeamOn LA是光束诊断测量系统，用于实时测量连续或脉冲大尺寸激光光束。可测量激光光束参数，包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能用于光束分析设置和给出结果。系统基于USB2.0接口，软件驱动设备，可以通过高速USB2.0口连接到电脑，在windows 7/8操作系统上运行。主要参数：参数值光谱范围VIS-NIR 350-1310nm功率值最高100 J/cm2 (or 100W/cm2)最大帧速25Hz图像分辨率720 x 576快门速度1/50 to 1/100000 sec, 9 steps增益控制6dB to 60dB, 16 steps归零在连续归零模式功能，自动减去背景动态范围使用ND1000滤光片最高1x1010，软件控制电子快门和增益损伤阈值100 J/cm2灵敏度0.1μW/cm2@633nm (VIS-NIR)饱和100 W/cm2使用ND1000滤光片，同时滤除没有激光脉冲的帧频。脉冲激光工作可以获取和回放1-100Hz慢脉冲激光，滤除没有激光脉冲帧频，可以显示单发脉冲触发在脉冲模式，软件上设置滑条阈值，显示有脉冲光的帧最小光斑尺寸5mm直径传感器有效面积58mm x 45mm重量1.1 kg功耗2.6 W型号：●BeamOn LA VIS-NIR：光谱范围350-1310nm●BeamOn LA UV-NIR：请询问我公司咨询主要应用：●大尺寸激光光斑分析：轮廓、光斑尺寸、位置、功率●激光器和IPL质量控制●监控多光束之间中心和距离

BeamOn WSR红外光斑分析仪以色列Duma Optronics 公司于1989年成立，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能全面。公司的Beam Analysis光束质量分析仪主要有三种类型：CCD类型分析仪（最新产品）、亚毫米光束分析仪、刀口法类型分析仪。产品特点：●可测量光谱范围宽 190nm-1600nm●连续，脉冲激光均可测量●USB2.0通讯接口●2D/3D实时测量显示●可测光束能量分布，外形轮廓，位置。●实时的数据记录和统计●软件操作方便快捷，便于在线应用产品应用：●激光光束分析：轮廓，光束尺寸，位置，功率●激光光束质量分析●多波长激光准直性能参数：光谱范围:VIS: 350-1600nmUV: 190-1600nm相机类型:WSR宽波段CCD ?”探测响应面积:6.47mm x 4.83mm.像素:8.6 μm (H) X 8.3 μm (V)尺寸:80mm x 78.5mm x 49mm 带有三块滤波片功率消耗:5V, 0.6 A (USB 2.0 Port)工作温度:-10§oc -50oc快门速度:1/50s-1/100000s增益:6dB to 41dB最大帧速:25Hz（无慢速快门操作）灵敏度:~160μW/cm2 @ 1550nm饱和功率密度：~1mW/cm2 @ 633nm （无衰减片）损伤阈值:50W/cm2/1J/cm2（安装上所有衰减片）

总览BeamOn U3是一种光束测量系统是一种光束测量系统，用于实时测量单束或多束的位置、功率和轮廓。该系统是用于连续或脉冲激光束实时测量的光束诊断测量系统。它提供了激光光束参数的广泛的图形表示和分析能力，如:光束宽度、形状、位置、功率和强度轮廓。BeamOn是一个USB3.0设备级的软件驱动设备，驻留在用户提供的主机中。它是一个用户友好的系统，提供图形和数字信息，以直观地解释数据。BeamOn U3视频设备和软件可以集成到各种兼容的PC电脑平台或笔记本电脑上，在Windows操作系统下运行，满足实验室或工厂的各种自动激光分析需求。Duma BeamOn U3-VIS NIR光束位置分析仪 350–1600nm (光斑分析仪),Duma BeamOn U3-VIS NIR光束位置分析仪 350–1600nm (光斑分析仪)产品特点通用性强，可以测光斑轮廓、功率、位置 高分辨率(2.35M像素)12位动态范围配有内置电动滤轮和全套附件的完整测试仪用于多光束分析的多个活动区域激光束优化质量控制高斯拟合分析光束位置对准使用方便，自带软件，基于USB3.0产品应用● 激光光斑分析：光束的中心，椭圆度，光束宽度，形状，位置，功率和强度分布● 光束对准● 在线监测● 高斯拟合分析● 光束位置测量● 激光光束优化和质量控制技术参数激光类型连续或脉冲束宽分辨率≤1μm像素 (H x V )1920 x 1200光斑尺寸⌀ 75μm - ⌀ 6 mm工作波段350–1600 nm光敏面尺寸11.34 x 7.13(mm)，传感器可分为多个活动区域，并行工作多达400个扇区(新)增益控制1 -24 dB动态范围60 dB, 12 bit快门速度39μs-20s帧速快变模式（新）：40/s–550/s像素大小5.86 µ m x 5.86 µ m像素位深12 bits同步性软件；硬件（外部触发信号）曝光控制通过GUI编程配件① 近红外衰减器；② SAM3-C；③ RDC；④ C-Mount衰减器供电要求~2 W（通过USB3.0接口）尺寸(L x W x H)64 x 46 x 73.5mm重量（标准值）300 g硬件要求CPU i3 1.6 GHz, 4 GB RAM界面USB 3.0, windows 7/8/10 (32或64 位)机械接口后安装：2个同心相对8-32 UNC 6mm深的探测器光学配件和衰减器：C-mount内置自动衰减轮衰减器器：ND8、ND200、ND1000，一个空置不同波长工作下的饱和度与灵敏度：波长633 nm980 nm1310 nm1550 nm饱和度20 µ W/mm² 100 µ W/mm² 0.2 W/mm² 2 W/mm² 灵敏度≤1 nW/mm² ≤1 nW/mm² 200 µ W/mm² 2 mW/mm² 筱晓光子1310nm SLD光斑实测图：软件界面3D视图显示通用参数单位（mm）型号及订购Model BeamOn U3- VIS NIR：350 - 1600nm的相机，内置电动滤光轮，USB3.0数据线，应用软件（CD/U盘），安装杆，35mm遮光罩，手提箱SAM3-C：高功率激光衰减配件(最高20w)IR-Edge Filter：C-mount近红外滤波器RDC：光束减小配件(比例2x1)

BeamOn VIS-NIR 光束质量分析仪 (光斑分析仪 350-1310nm)BeamOn 是光束诊断测量系统，用于实时测量连续或脉冲激光光束，可测量激光光束参数，包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能，用于光束分析设置和给出结果。系统基于USB2.0接口，软件驱动设备，可以通过高速USB2.0口连接到电脑，在windows 7/8操作系统上运行。CCD轮廓仪超越了相机式光束轮廓仪有限的动态范围，每次测量都是在不同的衰减或电子快门速度下进行的。BeamOn VIS-NIR 光束质量分析仪 (光斑分析仪 350-1310nm),BeamOn VIS-NIR 光束质量分析仪 (光斑分析仪 350-1310nm)产品特点● 实时显示光斑尺寸和高斯拟合● 实时2D/3D光斑绘图● 软件控制电子快门和增益● 报告功能，光斑分析设置和给出结果产品应用● 大尺寸激光光斑分析：轮廓、光斑尺寸、位置、功率● 激光器和IPL质量控制● 监控多光束之间中心和距离技术参数型号VIS-NIR激光类型连续或脉冲光谱响应 350-1310nm最大帧速25Hz图像分辨率720 x 576快门速度1/50 to 1/100000 sec, 9 steps增益控制6dB to 60dB, 16 steps归零在连续归零模式功能，自动减去背景动态范围使用滤光片最高1x1011，软件控制电子快门和增益灵敏度 0.5nW/cm2@633nm (VIS-NIR，UV-NIR)1.5uW/cm2@1310nm (VIS-NIR，UV-NIR)5uW/cm2@1550nm (model IR 1550)传感器有效面积6.47mmX4.83mm饱和1mW/cm2 没有滤光片（VIS-NIR，UV-NIR）5mW/cm2没有滤光片(model IR 1550)脉冲激光器工作可以获取和回放1-100Hz慢脉冲激光，滤除没有激光脉冲帧频，可以显示单发脉冲触发在脉冲模式下，软件上设置滑条阈值，显示有脉冲光的帧显示单脉冲的最大频率10KHz操作温度-10℃-50℃尺寸信息8.6um（H）X8.3um(V)三, BeamOn UV-NIR 光束质量分析仪 (光斑分析仪 190-1310nm)BeamOn 是光束诊断测量系统，用于实时测量连续或脉冲激光光束，可测量激光光束参数，包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能，用于光束分析设置和给出结果。系统基于USB2.0接口，软件驱动设备，可以通过高速USB2.0口连接到电脑，在windows 7/8操作系统上运行。CCD轮廓仪超越了相机式光束轮廓仪有限的动态范围，每次测量都是在不同的衰减或电子快门速度下进行的。BeamOn UV-NIR 光束质量分析仪 (光斑分析仪 190-1310nm),BeamOn UV-NIR 光束质量分析仪 (光斑分析仪 190-1310nm)产品特点● 实时显示光斑尺寸和高斯拟合● 实时2D/3D光斑绘图● 软件控制电子快门和增益● 报告功能，光斑分析设置和给出结果产品应用● 大尺寸激光光斑分析：轮廓、光斑尺寸、位置、功率● 激光器和IPL质量控制● 监控多光束之间中心和距离技术参数型号BeamOn UV-NIR激光类型连续或脉冲光谱响应 190-1310nm最大帧速25Hz图像分辨率720 x 576快门速度1/50 to 1/100000 sec, 9 steps增益控制6dB to 60dB, 16 steps归零在连续归零模式功能，自动减去背景动态范围使用滤光片最高1x1011，软件控制电子快门和增益灵敏度 0.5nW/cm2@633nm (VIS-NIR，UV-NIR)1.5uW/cm2@1310nm (VIS-NIR，UV-NIR)5uW/cm2@1550nm (model IR 1550)传感器有效面积6.47mmX4.83mm饱和1mW/cm2 没有滤光片（VIS-NIR，UV-NIR）5mW/cm2没有滤光片(model IR 1550)脉冲激光器工作可以获取和回放1-100Hz慢脉冲激光，滤除没有激光脉冲帧频，可以显示单发脉冲触发在脉冲模式下，软件上设置滑条阈值，显示有脉冲光的帧显示单脉冲的最大频率10KHz操作温度-10℃-50℃尺寸信息8.6um（H）X8.3um(V)四,BeamOn IR1550 光束质量分析仪 (光斑分析仪 1550nm±50nm)BeamOn 是光束诊断测量系统，用于实时测量连续或脉冲激光光束，可测量激光光束参数，包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能，用于光束分析设置和给出结果。系统基于USB2.0接口，软件驱动设备，可以通过高速USB2.0口连接到电脑，在windows 7/8操作系统上运行。CCD轮廓仪超越了相机式光束轮廓仪有限的动态范围，每次测量都是在不同的衰减或电子快门速度下进行的。BeamOn IR1550 光束质量分析仪 (光斑分析仪 1550nm±50nm),BeamOn IR1550 光束质量分析仪 (光斑分析仪 1550nm±50nm)产品特点● 实时显示光斑尺寸和高斯拟合● 实时2D/3D光斑绘图● 软件控制电子快门和增益● 报告功能，光斑分析设置和给出结果产品应用● 大尺寸激光光斑分析：轮廓、光斑尺寸、位置、功率● 激光器和IPL质量控制● 监控多光束之间中心和距离技术参数型号BeamOn IR1550激光类型连续或脉冲光谱响应 1550nm±50nm最大帧速25Hz图像分辨率720 x 576快门速度1/50 to 1/100000 sec, 9 steps增益控制6dB to 60dB, 16 steps归零在连续归零模式功能，自动减去背景动态范围使用滤光片最高1x1011，软件控制电子快门和增益灵敏度 0.5nW/cm2@633nm (VIS-NIR，UV-NIR)1.5uW/cm2@1310nm (VIS-NIR，UV-NIR)5uW/cm2@1550nm (model IR 1550)传感器有效面积6.47mmX4.83mm饱和1mW/cm2 没有滤光片（VIS-NIR，UV-NIR）5mW/cm2没有滤光片(model IR 1550)脉冲激光器工作可以获取和回放1-100Hz慢脉冲激光，滤除没有激光脉冲帧频，可以显示单发脉冲触发在脉冲模式下，软件上设置滑条阈值，显示有脉冲光的帧显示单脉冲的最大频率10KHz操作温度-10℃-50℃尺寸信息8.6um（H）X8.3um(V)

探针式轮廓仪是一种用于化学、材料科学、电子与通信技术、化学工程领域的分析仪器。分析样品表面大尺寸三维形貌，探测样品厚度。 布鲁克公司的新型DektakXTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。DektakXTL集成气体隔振装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行，是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。它的双摄像头设置使空间感增强，其高水平自动化可生产量。 探针式轮廓仪系统DektakXTL产品特性 一、Bruker公司的双摄像头控制系统 1.通过点击实时视频更快锁定到关注点 2.通过选择实时视频中的两个点快速定位样品（自动旋转使连线水平） 3.通过在实时视频中点击扫描起始和结束位置简化测量设置（教学） 二、自动化设置和操作 1.借助300毫米的自动化编码XY工作台以及360度旋转能力，编程控制无限制测量位置。 2.利用带图形识别功能的Vision64位产品软件减少使用中的定位偏差 3.将自定义用户提示以及其它元数据编入您的方案中，并存储到数据库内 三、方便的分析和数据采集 1.快速分析仪支持大部分常用分析方法，可轻松实现分析程序自动化 2.通过台阶检测功能将分析集中于复杂样品上感兴趣的特征 3.通过赋予每个测量点名称并自动记录到数据库来简化数据分析 4.Dektak在大样品制造业中的传奇性能 四、业界自动分析软件 新增软件功能使DektakXTL成为市面上易使用的探针式轮廓仪。系统使用的Vision64软件,与Bruker公司的光学轮廓仪完全兼容。Vision64软件可以进行样品任何位置测量、3D绘图以及借助数百个内置分析工具实现的高度定制表征方法。也可以使用VisionMicroform软件来测量曲率半径等形状。 五、探针式检测技术 图形识别功能可以尽量减少操作员误差并测量位置精度。在同一软件包内，以直观流程进行数据采集和2D、3D分析。每个系统都带有Vision软件许可证，可在装有Windows7操作系统的个人电脑上安装，用户可在电脑桌面上创建数据分析和报告。 DektakXTL拥有超过40年的探针经验和软件定制生产经验，符合现在和未来的严格的行业发展蓝图。 应用 一、晶片应用： 二、大型基板应用： 沉积薄膜（金属、有机物）的台阶高度 印刷电路板（凸起、台阶高度） 抗蚀剂（软膜材料）的台阶高度 窗口涂层 蚀刻速率测定 晶片掩模 化学机械抛光（腐蚀，凹陷，弯曲） 晶片卡盘涂料 抛光板 三、玻璃基板及显示器应用： 四、柔性电子器件薄膜： AMOLED 有机光电探测器 液晶屏研发的台阶步级高度测量 印于薄膜和玻璃上的有机薄膜 触控面板薄膜厚度测量 触摸屏铜迹线 太阳能涂层薄膜测量

光斑/光束质量分析仪 上海滨赛光电科技有限公司提供美国DataRay公司设计生产的Blade/WinCamD等各种系列相机型光束分析仪覆盖了从紫外（190nm）到中红外（16um）波段的光束测量，可测量不同类型激光（连续激光和脉冲激光），不同功率（微瓦级别光束测量至上千瓦激光测量），通过其独特的用户友好型的软件交互界面，可以帮助您方便快速的分析和统计激光光斑的全部信息。对于准直光束最大可测光斑直径可达25毫米，并且还有针对极小光斑（几个um级别），极大光斑（大于25mm），光束质量M² ，发散角等多种激光参数测量可以通过增加相应附件的形式来实现，对于您未来的测量需求直接购买附件就可实现，可以最大化的利用单个相机满足不同测量需求，避免了重复购买相机等情况。产品特点：1.超高像素分辨率2.多种像素尺寸3.便捷易用的软件界面让所有参数一目了然4.超小的外观设计5.连续和脉冲激光器都可以使用6.高速的USB3.0接口并支持远程操作，强大的软件功能7.适配各种大小的光斑，光束质量（M^2）,发散角等所有参数8.各种特殊应用场景主要应用：1.连续和脉冲激光器光斑测量2.激光光斑模式缺陷检测3.准直器流水线检测4.光纤耦合检测5.高斯光或平顶光光斑能量分布检测

SPMI-200D 粗糙度轮廓仪一体机德迅公司测量方案遍及各个行业及顶尖领域，与中国计量科学研究院、中国科学院、中国工程物理研究院、清华大学、上海大学、同济大学、奔驰、宝马、通用、大众、西门子、博世、舍弗勒、卡特彼勒、苹果、三星、空客、波音、中航工业、南车与北车集团等单位有着多年的合作与发展。这一刻，您不仅获知了问题所在，更得到了专业的解决方案。 诚信为本，客户至上，竭诚为用户服务 , 追求同客户的共同发展。设备外型图：设备技术性能：1.轮廓测量功能：尺寸：包含水平距离、垂直距离、线性距离、半径、直径夹角：包含水平角、垂直角、夹角位置公差：包含平行度、垂直度形状公差：包含直线度、凸度、圆弧轮廓度辅助生成：包含辅助点、辅助线、辅助圆粗糙度分析：Ra，Rq，Rz（Ry），Rz（DIN），R3z，Rz（jis），Rp，Rv，Rt，Rsk，Rsm，Rc ，Rpm，Rku，Rdq，Roc，Mr1，Mr2，Rpk，Rvk，Rk，Rdc，A1，A2，R，Rx，AR，Rcp，Rmax，Rz-ISO波纹度分析：wt、wa、wp、wv、wq、wc、wku、wsk、w、wx、wz、wsm、wdcwte、wmr、Aw、c(wmr)、wmr(c)、wdq原始轮廓分析：Pt，Pa，Pp，Pv，Pq，Pc，Pku，Psk，Pdq，Psm，Pdc，Pmr，Pz，Pm系统界面软件系统界面如图所示。系统界面主要包括：菜单、工具栏、状态栏、图形显示区（轮廓及粗糙度视图）、标注信息区（轮廓标注及粗糙度参数列表）、系统参数显示区、设备控制区。1） 菜单/工具栏：见菜单和工具栏部分相应内容。2） 状态栏：显示当前操作提示、光标在图形显示区的坐标等信息。3） 系统参数显示区：用于显示和设置设备参数、测量参数及显示参数等系统参数。打印输出零件测量、标注及参数评定完成后，可以将检测结果打印出来。用户通过打印信息设置对话框输入检测报告打印信息（零件名称、零件号、检测人、公司名称等）以及选择格式输出选项（轮廓/粗糙度图形、轮廓标注信息列表、粗糙度评定参数列表），查看打印预览结果即为打印结果，如图所示。 此时选择打印功能，则能得到所需结果——一份精美的检测报告！PDF检测报告模板售后服务质保期：从安装验收合格之日起12个月，在此期限内因我方原因造成的机器故障，负责免费维修。质保期外：我公司采取定期回访与随时电话咨询相结合的售后服务制度，力求及时发现并解决用户使用中存在的困难和问题，为用户提供技术咨询。公司负责为用户免费提供计量测试技术咨询服务。公司以成本价终身为用户提供设备保修服务。如公司接到用户设备故障请求服务电话，24小时响应，如有必要72小时内派技术人员赴现场解决问题。公司备有备品备件库，终身负责为用户以成本价提供备品备件服务。公司负责以优惠价终身为用户提供技术升级、改造等售后增值服务。用户所在地区如有我公司地区办事处，其售后技术服务事宜由我公司地区办事处全面负责。德迅仪器 期待与您的合作

厂家介绍：美国 DataRay 公司成立于1988年，专业提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；可提供2D或3D的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果。 应用领域：&bull 通信：光缆加工/熔接、研发&bull 材料加工：焊接、蚀刻、切割&bull 消费设备：光学鼠标&bull 天文&bull 激光制造与品控&bull 光谱学&bull 3D扫描&bull 粒子检测&bull LED：室内照明、车头灯&bull LIDAR：AR、VR&bull 生物医学：眼科手术、激光手术、内部跟踪一、线光斑分析仪Dataray公司独有的线光斑测量仪 Max光斑长度可以达到200mm, 通过在高稳定、高重复性的电动平台上搭载光束质量分析仪，利用先进的图像拼接处理的软件设计，实现大尺寸线光斑的实时测量。Dataray公司提供50mm(LLPS-50)和200mm (LLPS-200)两种行程的线光斑测量仪供客户选择。 产品特点&bull 光谱范围：190-1150nm（取决于使用的光束质量分析仪，可拓展至163nm-16um）；&bull 分辨率：4um（取决于所使用的的光束质量分析仪）；&bull 线光斑的宽度（Min.55um）和长度测量（Max.200mm）；&bull 线光斑倾斜角测量；&bull 通过线光斑回归线测量竖直方向圆心；应用领域&bull 机器视觉&bull 3D扫描&bull 条纹扫描&bull LD激光阵列发光测试&bull 粒子计数&bull 水平仪经纬仪设备现场分析 二、大尺寸光斑测量仪DataRay公司通过将激光照射在透射屏上，利用高质量的透镜进行成像，可以实现大尺寸的光斑测量，最大可测光斑可以达到200mm。产品特点l 配置 WinCamD-LCM相机l 光谱范围：355-1150nml 透射屏尺寸：200 x 200 mml 有效像素大小：170 x 170 μml 成像透镜：焦距12.5mm，f/1.4-f/16l 信噪比：2500:1应用领域l 大尺寸激光光束测量l 全强度分布分析l 主/次直径测量

SJ5700DUAL双向型轮廓扫描仪是大量程、高精度的主动扫描式综合轮廓测量仪。大量程200/300/400mm行程可选，持续长达数百毫米爬坡下坡能力，爬坡可达78°，87°智能下坡，非常适合大范围陡坡表面测量，大工件无需翻转、倾斜，可以避免测针磕碰损伤。SJ5700DUAL双向型轮廓扫描仪X轴、Z轴采用独立运动系统，使用两轴联动运动控制算法，可实现X、Z双轴联动扫描，测量时测针在工件表面做仿形运动扫描（主动扫描），既保持了恒测力，又保证了大的陡坡通过能力，工件调平操作简单，同时避免了崩针、挂针等问题。可以全量程大范围连续扫描，拥有长达数百毫米的持续爬坡能力。产品优势螺纹和轮廓一体化测量1.双向螺纹流程化操作，配合螺纹夹具自动找到拐点，简单方便。2.螺纹全自动识别测针、夹具，避免操作失误引起撞针等问题。3.仪器在各个运动轴都有进行保护，能有效的保护仪器，降低人员操作失误带来的损伤。4.智能恒测力接触，双向电子测力10-150mN任意可调，降低了测力变化引起的测量误差，适合测量各类软、硬性工件。5.组合调节控制手柄，可快速完成载物台平移、X轴和Z轴定位和测杆上下角度摆动及速度分多级调节功能。6.软件支持的单侧、双侧、内外4侧轮廓的扫描及轮廓分析。百毫米超大量程爬坡测量1.大量程200/300/400mm行程可选，持续长达数百毫米爬坡下坡能力，爬坡可达78°，87°智能下坡，非常适合大范围陡坡表面测量，大工件无需翻转、倾斜，可以避免测针磕碰损伤。2.Z轴独立运动设计，X、Z双轴联动扫描，具有恒测力和大陡坡通过能力。3.采用高精度导轨系统，导轨直线度高，导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作。4.高性能伺服电机驱动系统，保证测量稳定性高、重复性好。5.通过简单的标定操作，能对仪器参数和测针磨损进行补偿修正，使其满足高精度测量。自动、批量、快速测量1.对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量。对于复杂的工件，可以指工件的任意位置进行分段测量，并做成轮廓模板便于批量测量。2、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行轮廓批量测量，自动分析处理数据。3.自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。测量软件螺纹模块1.全自动检测圆柱螺纹工件、圆锥螺纹工件、工件内外孔径等各种内、外尺寸工件的综合参数，如作用中径、单一中径、基本中径、大径、小径、螺距、牙型角、牙型半角、牙侧直线度、螺纹升角、锥度等参数。自动生成被测螺纹的曲线图、相关参数数据和分析图表。也可以自定义螺纹标准尺寸公差。 2.可检测单头、多头螺纹的综合参数。3.可检测梯形螺纹工件。4.检测各种类国标及国际标准工件，支持客户定制用户标准，可根据客户需求选配标准。5.将所有测量记录进行集中式管理。6.按工件型号、工件名称、检测日期等进行检测信息查询。7.可设置报表模板、批量导出Word、PDF、Excel报表和打印报告，批量统计。螺纹参数测量结果轮廓模块1.创建坐标：点线、两点 X、两线等工件坐标系。2.量测工具：矩形框选提取最高点、矩形框选提取低点、矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。3.构建特征：交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。4.可测几何量：点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。5.形位公差：直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。6.快速工具：坐标标准、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。7.具备自动找拐点功能，能按照程序设置进行X轴自动找拐点。8.支持公差设置、合格判定。9.支持点cnc .xml 共2种格式的轮廓对比，如标准轮廓中有标注，可自动计算出对应标注结果。10.支持轮廓扫描数据的修改，包括删除异常点来进行分析。11.支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。12.支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。13.将所有测量记录进行集中式管理。14.按工件型号、工件名称、检测日期等进行检测信息查询。15.可设置报表模板、批量导出Word、PDF、Excel报表和打印报告，批量统计。16.可输出Word、PDF、Excel报表和TXT 、prf、dxf 文件。17.支持CNC实时输出至excel 模版，可定制模版。18.输出SPC分析报告，可输出统计值（如CA、PPK、CPK、PP等）及控制图（如均值与极差图、均值与标准差图、中位数与极差图、单值与移动极差图）。19.可以输出客户定义格式的Q-DAS文件。 应用领域SJ5700DUAL双向型轮廓扫描仪可用于长轴类、筒类、曲面零件、丝杠、螺纹等高精度部件的内外径尺寸、内外轮廓形貌参数测量，非常适合航空、船舶、高铁、新能源汽车等行业。该产品支持量程定制，适用于各行业领域的实验室或工作现场使用。部分技术指标型号SJ5700DUAL参数测量范围X轴0~235mm（全程光栅）Z轴0~235mm（全程光栅）扫描速度0.1～2mm/s爬坡能力上坡78º ，下坡87 º Y向工作台移动范围25mm，工作台整体高度85mm（可选自动台）螺纹测量螺纹测量范围内螺纹：M3~M200，外螺纹：M3~M200（根据配置选择范围）轮廓测量直径测量范围内：Φ3~Φ200，外：Φ3~Φ200（根据配置选择范围）表面质量测量粗糙度测量参数R粗糙度：Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ；核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo；P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax；W波纹度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc；Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte；符合标准：GB/T 3505-2009，ISO 4287:1997，ISO13565-2:1996，ASME B46.1-2002,DIN EN ISO 4287:2010，JIS B 0601:2013，JIS B 0601-1994，JIS B 0601-1982，ISO 1302:2002。Ra测量范围Ra0.012μm~Ra12.5μm（可选更大范围）仪器尺寸1200×500×980mm仪器重量100kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

一、产品概述：光学轮廓仪是一种高精度的测量仪器，利用光学技术对材料表面的轮廓和形貌进行非接触式测量。它通过分析反射光和干涉图样，能够获取样品表面的微观特征，广泛应用于材料科学、电子制造和精密工程等领域。二、设备用途/原理：设备用途光学轮廓仪主要用于测量材料表面的粗糙度、形貌和高度变化。常见应用包括半导体器件的表面特性分析、光学元件的质量检测、涂层厚度测量以及微结构的表征。这些数据对于材料的性能评估、质量控制和研发过程至关重要。工作原理光学轮廓仪的工作原理基于光的干涉和反射现象。仪器发射光束照射到样品表面，反射回来的光与参考光束进行干涉。通过分析干涉图样的变化，仪器能够精确测量样品表面的高度和形貌特征。由于采用非接触式测量，光学轮廓仪能够避免对样品的损伤，适合用于脆弱或敏感材料的表征。最终生成的轮廓图可以提供详细的表面特征信息，帮助研究人员进行深入分析。三、主要技术指标：1. 测量模式：PSl, USl, VSl, 选配的 Film2. 大扫描量程：≤10 mm3. 横向分辨率：4. 0.38 um minimum (Sparrow criterion)5. 0.13 um (with AcuityXR)6. 垂直分辨率：0.01 nm7. 台阶高度重复性：0.75% 0.125% 1 sigma repeatability8. 大扫描速度：122 um/sec (with laser reference)9. 样品反射率范围：0.05% to 100%10 .样品尺寸：350 mm * 304 mm x 304 mm (H x D * W) ；249 mm H 自动样品台11. 大样品重量：45 kg (77 kg without standard stage)12. XY 品台：300 mm 自动样品台13. Z 轴聚焦：249(350 mm 不带自动台)14. 光源：利双LED光源15. 物镜： 16. Parfocal: 2.5X, 5x, 10X, 20X, 50X,100X, 115X17. LWD: 1X, 2X, 5X，10X18. TTM: 2x, 5X, 10x, 20X: Bright Field: 10X19. Single-objective adapter Optional motorized five-position turret20. 放大器：0.55X，0.75X，1X，1.5X, 2X auto-sensing modules

BeamOn LongBow成像式光斑分析仪以色列Duma Optronics 公司于1989年成立，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能全面。公司的Beam Analysis光束质量分析仪主要有三种类型：CCD类型分析仪（最新产品）、亚毫米光束分析仪、刀口法类型分析仪。 -远程测量大小光束-连续和脉冲光束均可测量-内置用户校准功能-自动缩放功能-自动聚焦功能主要参数：参数数值相机类型CCD 1/4"光谱范围350-1310nm缩放比例X25 光学, X2 数字信噪比50 dB帧速25Hz最小工作距离320mm WIDE end, 1500mm TELE end电子快门1–1/10000 sec增益0–28 dB衰减片3（片）1/8,（1片ND衰减片1/400可选）温度0℃-50℃尺寸163.5 x83mm电源12V, DC, 1.6W(标准)

德国Bruker(前Veeco)扫描探针显微镜 德国Bruker公司(前美国Veeco公司)是世界顶尖原子力显微镜，轮廓仪，台阶仪生产厂家。全球顾客包括半导体、化合物半导体、数据储存，与多重领域的研究机构。Bruker为了维持对高科技产品成长的领先地位，持续推出新产品，期望为顾客提供长期的产品优势，提升生产良率、增加生产力、提高品质及降低使用成本。ontourGT 表面量测系统产品系列- 供生产QC/QA及研发使用的非接触型光学轮廓仪ContourGT&trade 系列产品结合先进的64位、多核心运作及分析软件、专利的白光干涉仪（WLI）硬件，以及前所未具简易操作度、为目前所开发最先进的3D光学表面轮廓仪。其设计系以更先进的能力及更高的产能，强化目前以WLI为主的表面轮廓仪NT系列。ContourGT 系列产品中包含有旗舰级ContourGT-X8、进阶级ContourGT-X3及入门等级的桌上型K1。每款机型可提供多种加工与制造业市场上各种应用范围（包括高亮度LED、太阳能、眼科、半导体及医疗装置等）。

中图仪器SJ5700S国内表面粗糙度轮廓仪只需切换不同模块，可对产品进行轮廓形状测量和微观粗糙度测量。仪器采用进口高精度光栅测量系统建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机通过修正算法对光栅数据进行修正，最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓/粗糙度进行各种参数分析。SJ5700S国内表面粗糙度轮廓仪采用高精度光栅测量系统、高精度研磨导轨、高性能非接触直线电机、音圈电机测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现对各种工件表面轮廓进行测量和分析。产品优势操作灵活、智能、简单1.PR型号共用主体，只需切换不同模块，可对产品进行轮廓形状测量和微观粗糙度测量。2.轮廓测针种类共有50种，可广泛应用于多种行业工件测量。3.粗糙度测针种类共有9种，不同规格传感器和针长适用于多种应用场景.4.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移，X轴和Z轴定位，测杆上下摆动及速度分级调节功能。5.各个运动轴都有进行硬件及软件保护，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。6.轮廓模块带舵机结构，可防止扫描陡坡时的快速下坠。7.粗糙度根据GB/T、ISO、JIS等标准，自动评价粗糙度。 8.软件操作界面简洁直观，任何人都能轻松设定和测量。大量程、高稳定、高精密1.轮廓模块具有X轴200mm的大量程轮廓测量范围，分辨率高达0.1nm，系统残差小于5nm。2.自主研发高精度研磨导轨系统，导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作。3.轮廓模块采用音圈电机测力系统，测力可实现从10～150mN档位可调，测力分辨力可达0.2mN；避免了因周围环境振动带来的测力误差，降低了测力变化引起的测量误差。4.粗糙度模块高精度电感测量系统，粗糙度测量精度高。5.粗糙度模块测力固定1mN，微测力对工件表面损伤小，利于粗糙度精准测量。6.高性能直线电机驱动系统，保证测量稳定性高、重复性好。7.专用标定器能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿，使其满足高精度轮廓/粗糙度测量。自动、批量、快速测量1.轮廓测量时：对于简单的工件只需要设置测量起点、终点即可一键测量；对于复杂的工件，工件的任意位置进行分段测量，并做成模板便于轮廓批量测量。2.粗糙度测量时：工件只需要设置测量长度即可一键测量，重复测量记录到一条数据便于统计。3.轮廓测量在CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行轮廓批量测量。4.自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。 轮廓测量功能1.创建坐标：点线、两点 X、两线等工件坐标系。2.量测工具：矩形框选提取最高点、矩形框选提取矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。3.构建特征：交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。4.可测几何量：点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。5.形位公差：直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。6.快速工具：坐标标注、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。7.具备自动找拐点功能，能按照程序设置进行X轴自动找拐点。8.支持公差批量设置、合格判定。9.支持cnc .xml .dxf 共3种格式的轮廓对比，如标准轮廓中有标注，可自动计算出对应标注结果。10.支持轮廓扫描数据的修改，包括删除异常点来进行分析。11.支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。12.支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。13.将所有测量记录进行集中式管理。14.按工件型号、工件名称、检测日期等进行检测信息查询。15.可设置报表模板、批量导出Word、PDF、Excel报表和打印报告，批量统计。 16.可输出Word、PDF、Excel报表并预览，可输出扫描点文本文件txt、prf、dxf 文件。17.支持CNC批量实时输出至excel 模版，可定制模版。18.输出SPC分析报告，可输出统计值（如CA、PPK、CPK、PP等）及控制图（如均值与极差图、均值与标准差图、中位数与极差图、单值与移动极差图）。19.可以输出客户定义格式的Q-DAS文件。粗糙度测量功能1.SJ5700S国内表面粗糙度轮廓仪可依据不同标准JJF /ISO/GB/T等，推荐取样长度、评定长度，进行自动评价粗糙度。2.表面粗糙度评定： R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数。 3.将所有测量记录进行集中式管理。4.按工件型号、工件名称、检测日期等进行检测信息查询。5.可设置报表模板、批量导出Word、PDF、Excel报表和打印报告，批量统计。6.可输出Word、PDF、Excel报表并预览，可输出扫描点文本文件txt、prf 文件。7.可对一条记录中的重复性测试进行统计，包含最大值、最小值、平均值。8.输出SPC分析报告，可输出统计值（如CA、PPK、CPK、PP等）及控制图（如均值与极差图、均值与标准差图、中位数与极差图、单值与移动极差图）。

Beam Analyzer High Power基于刀口式的光斑分析仪以色列Duma Optronics 公司于1989年成立，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能全面。公司的Beam Analysis光束质量分析仪主要有三种类型：CCD类型分析仪（最新产品）、亚毫米光束分析仪、刀口法类型分析仪。输入光束参数激光工作方式CW光斑大小9mm(/15mm)光谱范围350-1100nm功率范围@900/1070nm1W-4KW最大功率密度100000W/cm2焦点传感器位置入射面到探测器接收表面的距离44.7mm光束取样背面输出功率入射功率的90%机械参数尺寸大小137×105×40mm刀口数量7冷却条件6-8Bar 压缩空气环境运行温度0-35℃重量传感头和电缆线800克传感器参数传感器类型Si光束宽度分辨率1μm光束宽度精度±2%功率精度±7.5%功率分辨率50μW位置精度±15μm位置分辨率1μm测量速率5HzPC接口USB2.0

天津瑞利光电科技有限公司优势经销FEMTOEASY光斑分析仪BPΦ25超快激光器处于光子学技术的前沿，测量超短脉冲是一项复杂的任务；它甚至有时会成为一种痛苦。在 Femto Easy，我们认为使用超快激光的人应该将精力集中在他们的特定研究活动上，而不是浪费时间进行测量。这就是为什么我们所有的产品都旨在提供简单的用户体验，同时保持高的准确性。FEMTOEASY主要产品：光束分析仪、光谱仪、频率转换器FEMTOEASY主要型号：LP6.3、BP7.6、µ -BP8.4、µ -BP4.2、BP13.9、µ -BP7.6、BP8.8+、BP11.7、UV-VIS、UV-VIS-L性能特点：易于使用：无需校准和调整用户友好且功能强大的软件可以访问时空耦合（空间啁啾、脉冲前沿倾斜）多功能：可即时更换不同波长范围的光谱仪单脉冲提取可能高达125 kHz的激光重复频率（具有增强检测和触发选项）可以测量到低于5 fs天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

检验盖或盖板轮廓线量规设备概述：本装置符合GB/T2099.1-2021标准中24.18条款及图32、IEC60884-1图32标准的要求，适用于检验盖或盖板的轮廓线。检验盖或盖板轮廓线量规主要技术参数：1、量规材质：SUS304#不锈钢；2、厚度：2mm.本装置符合GB/T2099.1-2021标准中24.18条款及图32、IEC60884-1图32标准的要求。

Profilm 3D是一款兼具垂直扫描干涉 (VSI)和高精确度相移干涉 (PSI) 技术的经济型光学轮廓仪，其可以用于多种用途的高精度表面测量。Profilm 3D光学轮廓仪具有以下优点：&Yuml 价格优势：市场上具性价比的白光干涉轮廓仪，具有价格优势的高精度轮廓仪。&Yuml 快速测量大面积区域：测量范围为毫米级别，配置XY样品台达100mm*100mm，可实现大面积样品的轻松测量；&Yuml 简单易用：只需将样品放置于样品台上，即可直接进行测量；&Yuml 可以测量非接触式非平坦样品：由于光学轮廓测量法是一种非接触式技术，可以轻松测量弯曲和其他非平面表面。还轻松地测量曲面的表面光洁度，纹理和粗糙度。除此之外，作为一种非接触式方法光学轮廓仪不会像探针式轮廓仪那样损坏柔软的薄膜。&Yuml 无需更换耗材：只需要一个LED光源，无需其他配件更换；&Yuml 可视化3D功能：Profilm 3D轮廓仪具有强大的处理软件，软件除包括表面粗糙度，形状和台阶高度的测量外，还可以任意角度移动样品量测三维图形，多角度分析样品图像。适用于各类样品：Profilm 3D轮廓仪适用于各类金属、非晶硅和多晶硅、陶瓷材料、电介质、硬质涂层、高分子聚合物、光刻胶等的表面轮廓及粗糙度等测量。 &Yuml ProfilmOnline 在线免费网络分析 可在线分析 ProfilmOnline 可存储、共享、查看与分析来自您的光学轮廓仪或3D显微镜之3D影像。任何台式电脑，平板电脑或智能手机上都能查看和操作。享受全面的图像分析功能，包括表面轮廓（粗糙度）和阶高分析。 Profilm 3D光学轮廓仪功能：&Yuml 用于测量粗糙度使用Profilm 3D轮廓仪可以以秒为单位测量表面纹理，光洁度和粗糙度，只需单击鼠标即可完成。Profilm3D采用白光干涉测量（WLI）和相移干涉测量（PSI）等行业标准技术，可快速测量大面积2D区域的粗糙度和纹理，无需接触样品。&Yuml 测量曲面样品由于Profilm 3D是一种非接触式技术，因此可以轻松测量弯曲和其他非平面表面。另外在测量方法中添加形状去除（也称为形状去除）和过滤，即可轻松实现表面光洁度，纹理和粗糙度的测量！&Yuml 任何粗糙度参数标准Profilm 3D拥有47个ASME / EUR / ISO粗糙度参数标准。可以在结果中显示其中的任何一个或全部，从而使自定义报告变得轻而易举。符合ISO 9000和ASME B46.1标准，ISO现在完全支持测量表面粗糙度的光学方法。特别是，ISO 25178第604部分描述了Profilm3D的WLI方法（其中也称为相干扫描干涉测量法）。二、主要功能 主要应用台阶高度表面粗糙度线宽及轮廓 技术能力厚度范围，VSI 50nm-100mm厚度范围，PSI 0-3 µ m样品反射率范围 0.05%-100%Piezo范围 500 µ mXY平台范围100mm x 100mm三、应用台阶高度、表面形貌、表面粗糙度、大面积拼接等

BeamOn High Power基于CCD的光斑分析仪以色列Duma Optronics 公司于1989年成立，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能全面。公司的Beam Analysis光束质量分析仪主要有三种类型：CCD类型分析仪（最新产品）、亚毫米光束分析仪、刀口法类型分析仪。 输入光束参数光斑大小200μm-4.5mm光谱范围350-1310nm功率范围@900/1070nmCW 1-2500WPulsed 1-1000W1W-4KW最大功率密度100000W/cm2CCD焦点位置入射面到探测器接收表面的距离38.1mm光束取样背面输出功率入射功率的90%机械参数尺寸大小直径64mm，深度92mm冷却条件6-8Bar 压缩空气环境运行温度0-35℃重量传感头和电缆线350克传感器参数传感器类型黑白CCD ”传感器接收面积6.47mm宽*4.83mm高像素大小8.6μm×8.3μm功耗12V,0.9W快门速度1/50s-1/100000s软件控制增益6dB-60dB最大帧速25HzNull在连续模式下，null功能可以自动除去背景光脉冲激光能够捕获和回放低重频脉冲激光（1-100Hz）图像触发在脉冲模式下，滑动条控件可以设置阈值以便只显示帧捕获的脉冲单脉冲显示最大频率10kHz

SJ5800中图仪器国产接触式轮廓仪采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术，通过软件提供的分析工具可对轮廓及微观轮廓进行各种粗糙度参数、轮廓参数分析。SJ5800中图仪器国产接触式轮廓仪广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业， 该仪器可以对零件表面，尤其是大范围曲面，如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测，是大曲面测量（轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子）领域精细粗糙度测量的利器。产品优势专业轴承测量、高稳定、高精密1.具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围，专业测试轴承内外侧。可选专业轴承夹具和滚子分析，方便测试。2.分辨率高达到0.1nm，系统残差小于3nm。3.超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。4.高稳定的驱动设计，确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰，保障了系统扫描运动精度。5.精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿，使其满足高精度轮廓测量。操作灵活、智能、简单 1.轮廓和粗糙度一体测量，无需切换模块。2.测针一键拔插，特殊设计的高刚性拔插结构，无需锁螺钉，方便快捷、稳定可靠。3.各个运动轴都有进行硬件及软件保护，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。4.带舵机结构，可防止扫描陡坡时的快速下坠。5.智能恒测力系统，0.5-3mN 测力档位可调，降低了测力变化引起的测量误差，适合测量各类软、硬性工件。6.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移，X轴和Z轴定位，测杆上下摆动及速度分级调节功能。7.根据GB/T、ISO、JIS等标准，自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观，任何人都能轻松设定和测量。自动、批量、快速测量1.对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量；对于复杂的工件，对工件任意位置进行分段测量，并做成模板便于轮廓批量测量。2、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行轮廓批量测量。3、自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。SJ5800中图仪器国产接触式轮廓仪的产品功能及高精度测量能力可以满足发动机关键零部件的轮廓尺寸测量需求。对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量，尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度及轮廓尺寸一次性检测，如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数（如Ra、Rz等）、微观轮廓度Pt、波纹度参数的测量。如分别对发动机关键零部件节温器内筒、气门摇臂及凸轮轴进行高精度轮廓参数检测。1)节温器内筒轮廓粗糙度检测2)气门摇臂内孔粗糙度检测3)发动机凸轮轴轮廓尺寸及粗糙度检测测量功能1.创建坐标：点线、两点 X、两线等工件坐标系。2.量测工具：矩形框选提取最高点、矩形框选提取矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。 3.构建特征：交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。4.可测几何量：点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。5.形位公差：直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。6.快速工具：坐标标注、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。7.具备自动找拐点功能，能按照程序设置进行X轴自动找拐点。8.表面粗糙度评定： R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数。9.支持公差设置、合格判定。10.支持点cnc .xml .dxf 共3种格式的轮廓对比，如标准轮廓中有标注，可自动计算出对应标注结果。11.支持轮廓扫描数据的修改，包括删除异常点来进行分析。12.支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。13.支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。部分技术参数型号SJ5800-100轮廓参数测量范围X轴0~100mm立柱0~300mmZ轴±6mm（标准测针杆）（±12mm：选择两倍测针杆时）扫描速度（扫描轴）0.05～5mm/s直线度（扫描轴）≤0.2μm/100mm测量力0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN（电子档位可调）粗糙度参数适用Ra测量范围Ra0.012μm~Ra12.5μm（可选更大范围）粗糙度测量参数R粗糙度：Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ；核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo；P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax；W波纹度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc；Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte；符合标准：GB/T 3505-2009，ISO 4287:1997，ISO13565-2:1996，ASME B46.1-2002,DIN EN ISO 4287:2010，JIS B 0601:2013，JIS B 0601-1994，JIS B 0601-1982，ISO 1302:2002。滚子分析（选配）滚子凸度、位置距离、对数滚子母线、X镜像曲线重合度，分段不同公差仪器尺寸（长×宽×高）600×350×890（mm）仪器总重量110Kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 软 件 上 的 最 新 技 术， 可 用 于 全 自 动 三维表面纹理和粗糙度测量。全新的一键式高级寻找表面（Advanced Find Surface ）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，极大提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简洁的引导式VisionXpress操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人员，甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。特点：可倾斜 / 俯仰光学头、双光源和先进的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。自校准激光和集成的防震台可确保极高的测量准确性和可靠性。提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式，更大程度的方便用户使用。光学轮廓分析设备硬件设计的巅峰ContourX-1000 集成有 Bruker 专利的倾斜 / 俯仰光学头，特有的双光源、自动化的物镜转盘和样品台，以及可选配的晶圆卡盘。这些创新可为几乎所有的在研发和生产中的应用提供快速且最优的解决方案，包括有难度的表面和深沟槽结构。 技术参数强大的自动化测量和分析的典范全局扫描干涉 (USI) 自适应测量模式可自动确定最优的测量参数，即使在几十微米尺度内也可确保纳米级分辨率。 简洁的且带有引导性的 VisionXpress交互界面可去除操作人员经验水平的影响，快速得到最佳测试结果。即使在多用户环境中，每个使用者都可通过高级查找表面功能，自动聚焦功能和自动照明调整功能获取高 质 量 的 结 果。 使 用 全 套 兼 容 的软件包，从SureVison和多区域分析 到 Vision64 Map 和 膜 测 量，ContourX-1000 都 可 提 供 全 方 位 的测量来满足您特定的应用需求。 测量准确性与鲁棒性的基准除 拥 有 Bruker 独 有 干 涉 技 术 无与 伦 比 的 测 量 和 成 像 能 力 之 外，ContourX-1000 还 配 备 了 专 属 的 内部参考激光和防震台以获取最大的稳定性和与其他工具的匹配能力。即使在嘈杂的环境中，该系统也能确保测量性能。 布鲁克 NPFLEX-1000三维光学轮廓仪 落地式 NPFLEX-1000 白光干涉（WLI）测量系统为精密制造业带来了前所未有的灵活性、测量能力和性能，从而理解和控制制造过程。该系统采用开放式龙门架设计，具有300mm 的样品台与目镜间距，因此能够在各种形状和尺寸的样品上轻松测量微观及宏观特征。全新的一键高级查找表面&trade 通过结合自动对焦和自动照明，消除了在每次测量之前手动聚焦表面的需要，从而提升用户体验，并减少测量时间。解决专业应用的表面独立计量方案具有大尺寸龙门架结构的 NPFLEX-1000 让非专业用户也能快速获得高质量结果。开放式坚固的桥梁结构、旋转测头和多功能物镜选项结合，提供了最大的样本尺寸自由度和测量大坡度表面的能力。NPFLEX-1000 的灵活性旨在解决汽车、医疗和大型增材制造等领域精密加工中 QA/QC 部门的粗糙度和表面纹理测量问题。其中一些 QA/QC 研究包括：腐蚀监测鉴别并统计腐蚀斑定量可视化测量宽度、深度、体积监测表面形貌变化微导程角测量确定密封件的泄露行为测量全局导程角，导程角的大小、方向，频率，柱面角等确保密封件在高温环境下的耐久性磨损与寿命预测定量材料体积损失随时间的变化测量峰、谷比例理解磨损方向气缸表面纹理分析侧壁粗糙度，理解活塞运动实现内壁缝合测量内壁织构的角度齿轮法兰粗糙度分析接触区域定量分析磨损体积检查处理表面行为表面光洁度质量控制测量表面纹理与表面特性相关联支持加工过程的控制凸轮印迹分析检查凸轮轴凸角是否有颤动测量凸轮印迹的周期理解界面表面纹理与零件性能或者失效的关系特点超大尺寸和表面斜率兼容性简化了样品准备过程，并增加了每个部件可测量表面的范围卓越的易用性使任何经验级别的操作员都能获得专家级的结果超快的自动化测量和分析程序缩短了结果时间高度坚固的桥梁结构和集成的隔振系统可提供生产环境下的长期精度和可靠性实际使用的优势开放式样品加载和直观的分析软件能够以亚微米分辨率表征表面纹理、光洁度、粗糙度、曲率、斜率和许多其他参数。材料宽容―― 反射率从 0.05% 到 100%，表面纹理从平坦到粗糙高度自动―― 就绪、完全可定制的测量和分析流程自校准―― 最高精度和再现性

布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 软 件 上 的 最 新 技 术， 可 用 于 全 自 动 三维表面纹理和粗糙度测量。全新的一键式高级寻找表面（Advanced Find Surface ）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，极大提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简洁的引导式VisionXpress操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人员，甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。特点：可倾斜 / 俯仰光学头、双光源和先进的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。自校准激光和集成的防震台可确保极高的测量准确性和可靠性。提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式，更大程度的方便用户使用。光学轮廓分析设备硬件设计的巅峰ContourX-1000 集成有 Bruker 专利的倾斜 / 俯仰光学头，特有的双光源、自动化的物镜转盘和样品台，以及可选配的晶圆卡盘。这些创新可为几乎所有的在研发和生产中的应用提供快速且最优的解决方案，包括有难度的表面和深沟槽结构。 技术参数强大的自动化测量和分析的典范全局扫描干涉 (USI) 自适应测量模式可自动确定最优的测量参数，即使在几十微米尺度内也可确保纳米级分辨率。 简洁的且带有引导性的 VisionXpress交互界面可去除操作人员经验水平的影响，快速得到最佳测试结果。即使在多用户环境中，每个使用者都可通过高级查找表面功能，自动聚焦功能和自动照明调整功能获取高 质 量 的 结 果。 使 用 全 套 兼 容 的软件包，从SureVison和多区域分析 到 Vision64 Map 和 膜 测 量，ContourX-1000 都 可 提 供 全 方 位 的测量来满足您特定的应用需求。 测量准确性与鲁棒性的基准除 拥 有 Bruker 独 有 干 涉 技 术 无与 伦 比 的 测 量 和 成 像 能 力 之 外，ContourX-1000 还 配 备 了 专 属 的 内部参考激光和防震台以获取最大的稳定性和与其他工具的匹配能力。即使在嘈杂的环境中，该系统也能确保测量性能。 布鲁克 NPFLEX-1000三维光学轮廓仪 落地式 NPFLEX-1000 白光干涉（WLI）测量系统为精密制造业带来了前所未有的灵活性、测量能力和性能，从而理解和控制制造过程。该系统采用开放式龙门架设计，具有300mm 的样品台与目镜间距，因此能够在各种形状和尺寸的样品上轻松测量微观及宏观特征。全新的一键高级查找表面&trade 通过结合自动对焦和自动照明，消除了在每次测量之前手动聚焦表面的需要，从而提升用户体验，并减少测量时间。解决专业应用的表面独立计量方案具有大尺寸龙门架结构的 NPFLEX-1000 让非专业用户也能快速获得高质量结果。开放式坚固的桥梁结构、旋转测头和多功能物镜选项结合，提供了最大的样本尺寸自由度和测量大坡度表面的能力。NPFLEX-1000 的灵活性旨在解决汽车、医疗和大型增材制造等领域精密加工中 QA/QC 部门的粗糙度和表面纹理测量问题。其中一些 QA/QC 研究包括：腐蚀监测鉴别并统计腐蚀斑定量可视化测量宽度、深度、体积监测表面形貌变化微导程角测量确定密封件的泄露行为测量全局导程角，导程角的大小、方向，频率，柱面角等确保密封件在高温环境下的耐久性磨损与寿命预测定量材料体积损失随时间的变化测量峰、谷比例理解磨损方向气缸表面纹理分析侧壁粗糙度，理解活塞运动实现内壁缝合测量内壁织构的角度齿轮法兰粗糙度分析接触区域定量分析磨损体积检查处理表面行为表面光洁度质量控制测量表面纹理与表面特性相关联支持加工过程的控制凸轮印迹分析检查凸轮轴凸角是否有颤动测量凸轮印迹的周期理解界面表面纹理与零件性能或者失效的关系特点超大尺寸和表面斜率兼容性简化了样品准备过程，并增加了每个部件可测量表面的范围卓越的易用性使任何经验级别的操作员都能获得专家级的结果超快的自动化测量和分析程序缩短了结果时间高度坚固的桥梁结构和集成的隔振系统可提供生产环境下的长期精度和可靠性实际使用的优势开放式样品加载和直观的分析软件能够以亚微米分辨率表征表面纹理、光洁度、粗糙度、曲率、斜率和许多其他参数。材料宽容―― 反射率从 0.05% 到 100%，表面纹理从平坦到粗糙高度自动―― 就绪、完全可定制的测量和分析流程自校准―― 最高精度和再现性

SJ5800中图粗糙度轮廓仪品牌采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术，实现对轴承及工件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。它可以对零件表面，尤其是大范围曲面，如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测，是大曲面测量（轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子）领域精细粗糙度测量的利器。产品简介中图粗糙度轮廓仪品牌通过超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能伺服驱动电机保证测量的超高稳定性及直线度，采用超高精度纳米衍射光学转轴测量系统及高精度直线光栅X轴建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机采用高精度标定系统对采样数据进行修正标定，最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓及微观轮廓进行各种粗糙度参数、轮廓参数分析。产品优势1、轴承测量、高稳定、高精密(1)中图粗糙度轮廓仪品牌SJ5800具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围，测试轴承内外侧。可选轴承夹具和滚子分析，方便测试。(2)分辨率高达0.1nm，系统残差小于3nm。(3)超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。(4)高稳定的驱动设计，确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰，保障了系统扫描运动精度。(5)精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿，使其满足高精度轮廓测量。2、操作灵活、智能、简单 (1)轮廓和粗糙度一体测量，无需切换模块。(2)测针一键拔插，设计的高刚性拔插结构，无需锁螺钉，方便快捷、稳定可靠。(3)各个运动轴都有进行硬件及软件保护，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。(4)带舵机结构，可防止扫描陡坡时的快速下坠。(5)智能恒测力系统，0.5-3mN 测力档位可调，降低了测力变化引起的测量误差，适合测量各类软、硬性工件。(6)组合调节控制手柄可快速完成载物台平移，X轴和Z轴定位，测杆上下摆动及速度分级调节功能。(7)根据GB/T、ISO、JIS等标准，自动评价粗糙度。(8)软件操作界面简洁直观，任何人都能轻松设定和测量。3、自动、批量、快速测量(1)对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量；对于复杂的工件，可以定工件的任意位置进行分段测量，并做成模板便于轮廓批量测量。(2)CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行轮廓批量测量。(3)自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。应用行业可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。应用案例 SJ5800可以对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量，尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度及轮廓尺寸一次性检测，如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数（如Ra、Rz等）、微观轮廓度Pt、波纹度参数的测量。如对发动机关键零部件节温器内筒、气门摇臂及凸轮轴进行高精度轮廓参数检测。1)节温器内筒轮廓粗糙度检测2)气门摇臂内孔粗糙度检测3)发动机凸轮轴轮廓尺寸及粗糙度检测部分技术参数型号SJ5800-100轮廓参数测量范围X轴0~100mm立柱轴0~300mmZ轴±6mm（标准测杆）（±12mm：两倍标准测杆）粗糙度参数粗糙度测量参数R粗糙度：Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ；Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr；核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo；P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax；W波纹度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc；Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte；符合标准：GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002,DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002；仪器尺寸（长×宽×高）600×350×850mm仪器总重量约95Kg

探针式表面轮廓仪布鲁克探针式表面轮廓仪（又称“台阶仪”）历今四十载，积累大量专有技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量，到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试，Dektak台阶仪适用面极广，为用户提供准确性高，重复性佳的测量结果。 在教育、科研领域和半导体制程控制，Dektak广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。近几年，Dektak系统已经成为发展的太阳能电池市场最优越的测试工具，也被许多主要的光伏太阳能电池制造商所认可。DektakXT 桌面型探针式表面轮廓仪布鲁克DektakXT台阶仪设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性高达4埃。这项测量性能的提高，达到了过去四十年Dektak体系技术创新的顶峰，更加稳固了其行业中的领先地位。不论应用于研发还是产品测量，在研究工作中的广泛使用是的DektakXT地功能更强大，操作更简便易行，检测过程和数据采集也更加完善。技术的突破也实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。 探针式轮廓仪的黄金标准DektakXT探针式轮廓仪 性的突破设计创新，实现了垂直高度重复性高达4埃，数据采集能力提高了40%。这一里程碑的创新和突破，使得DektakXT实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。技术创新四十余载，不断突破用攀高峰 Dektak品牌是首台基于微处理器控制的轮廓仪，首台实现微米测量的台阶仪，首台可以达到3D测量的仪器，首台个人电脑控制的轮廓仪，首台全自动300mm台阶仪。现在，全新的DektakXT延续了这种开创性的风格，成为世界第一台采用具有具有单拱龙门式设计，配备全彩HD摄像机，并且利用64位同步数据处理模式完成最佳测量和操作效率的台阶仪。 提高测量和数据分析速度首次采用独特高速的直接驱动扫描样品台，DektakXT在不牺牲分辨率和基底噪音水平的前提下，大大缩短了每次扫描的间隔时间，将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用布鲁克具有64位数据采集同步分析的Vision64，可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快数据滤波和多次扫描数据库分析的速度。提高操作的可重复性使用单拱龙门结构设计更坚硬持久不易弯曲损坏，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响。DektakXT会把系统和环境噪音引起的测量误差降到最低，能够更稳定可靠的扫描高度小于10nm的台阶，获得其形貌特征。 完善的数据采集和分析系统 与DektakXT的创新性设计相得益彰的配置是布鲁克Vision64操作分析软件。Vision64提供了操作上最实用简洁的用户界面，具备智能板块，可视化的使用流程，以及各种参数的自助设定以满足用户的各种使用要求，快速简便的实现各种类型数据的采集和分析。 简便易行的实验操作系统 DektakXT新颖的探针的部件自动对准装置，可以尽量避免用户在装针的过程中出现针尖损伤等意外。为尽可能满足所有应用的需求，布鲁克提供各种尺寸的标准探针和特制探针。 高效率的保证DektakXT卓越的测量重复性为工程师们提供准确的薄膜厚度和应力测量，使其可以精确调节刻蚀和镀膜工艺来提高产品的优良率。 技术细节 Close up photograph of Dektak stylus tip measuring features on a silicon wafer. Photograph of tip exchange on DektakXT. Tip exchange assembly makes changing tip sizes easy.DektakXT仪器特性无与伦比的性能和优于4埃（4 ?）的测量重复性 单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性 先进的”智能化电子器件”实现了低噪声的新标杆高效率且易于使用 直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程 独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量 自对准的探针设计使用户可以轻而易举地更换探针探针式轮廓仪的全球领导者 性能卓越，物超所值 完备的零配件为您优化或延伸机台的多种应用提供保障过去四十多年间，布鲁克的台阶仪研制和生产一直在理论和实践上不断实现创新性成果——首台基于微处理器控制的轮廓仪，首台实现微米测量的台阶仪，首台可以达到3D测量的仪器，首台个人电脑控制的轮廓仪，首台全自动300mm台阶仪——DektakXT延续了这种开创性的风格，全新的DektakXT成为世界上第一台采用具有单拱龙门式设计，配备全彩HD摄像机，并且利用64位同步数据处理模式完成最佳测量和操作效率的台阶仪。应用： 薄膜检验—确保高产量 DektakXT_Hybrid_Circuit.png 在半导体制造中，严密监控沉积和蚀刻速率的均匀性以及薄膜应力可以节省宝贵的时间和金钱。薄膜层的不均匀或应力过大，会导致良率下降和最终产品性能下降。 Dektak XT提供了快速，轻松地设置和运行自动多站点测量程序的能力，以验证整个晶圆表面的薄膜精确厚度，直至纳米级。 Dektak XT的无与伦比的可重复性为工程师提供了准确的膜厚和应力测量值，以精确调整蚀刻和沉积过程以提高产量。 太阳痕量分析-降低制造成本 在太阳能市场上，Dektak已成为测量银迹线（街道）的临界尺寸的首选解决方案，银迹线（街道）是单晶和多晶太阳能板上的导线。银迹线的高度，宽度和连续性与太阳能电池的导电能力有关。理想的生产状态是施加足够的银浆以获得最佳的导电性，同时又不浪费昂贵的银。 Dektak XT采用痕量分析程序，可报告街道的关键尺寸，以验证是否存在足够的导电材料。 Vision64中的数据分析器配方和自动化功能在自动化此验证过程中具有影响力。 DektakXT_Solar_Trace.png 微流体技术—验证设计和性能 DektakXT_Microfluidics.png Dektak是唯一的测针轮廓仪，可测量具有埃级重复性的敏感材料（高达1mm高）的大型垂直特征。 MEMS和微流体行业的研究人员可以依靠Dektak XT进行关键测量，以验证其零件是否符合规格。低力测量功能NLite +对敏感材料轻触即可准确测量垂直台阶和粗糙度，而不会损坏样品表面。 表面粗糙度验证-确保性能 Dektak XT非常适合常规验证精密加工零件的表面粗糙度，适用于各种行业，包括汽车，航空航天和医疗设备。例如，整形外科植入物背面的羟基磷灰石涂层的粗糙度会影响其一旦植入后的粘合性能和功效。使用Dektak XT对粗糙表面进行快速分析，可以确认是否已达到所需的晶体生长以及植入物是否可以通过生产要求。使用具有通过/失败标准的Vision64数据库，质量保证人员可以轻松地识别要返工的植入物或验证植入物的质量。Dektak XTL 严格的质量保证与控制下获得300mm最优性能检测布鲁克公司的新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。Dektak XTL集成气体隔振装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行，是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。它的双摄像头设置使空间感增强，其高水平自动化可最大限度提高生产量。 Bruker布鲁克Dektak XTL 测针轮廓仪系统大尺寸晶片和面板测量 全新的Dektak XTL™ 探针式轮廓仪优异的精确度、可重复性和再现性广泛应用于大尺寸晶片及面板制造业。该系统可容纳多达350mm x 350mm的样品，使得传奇性的Dektak系统可以实现从200mm到300mm的晶片制造。DektakXTL运算符v1 Dektak XTL具有占地面积小和带联锁门的集成隔离功能，非常适合当今苛刻的生产车间环境。其双摄像头架构可增强空间意识，其高度自动化可提高制造吞吐量。布鲁克的独家Vision64高级生产界面带有可选的模式识别功能，使数据收集变得直观，可重复，并最大程度地减少了操作员之间的差异。 新的软件功能使Dektak XTL成为功能最强大，最易于使用的手写笔探查器。该系统使用与布鲁克光学轮廓仪系列完全兼容的Vision64软件。 Vision64软件可使用数百种内置分析工具来实现无限制的测量站点，3D映射和高度定制的表征。 还可以使用Vision Microform软件来测量形状，例如曲率半径。使用模式识别可最大程度地减少操作员错误并提高测量位置精度。数据收集以及2D和3D分析在一个软件包中，具有直观的流程。每个系统都带有Vision软件许可证，可以将其安装在装有Windows 7 OS的单独PC上，以便可以在您的办公桌上创建数据分析和报告。 DektakXTL Vision64屏幕截图Dektak XTL已经针对持续生产工作时间和最大生产量在工艺开发和质量保证与质量控制应用方面进行了全面优化，将本产品设计为业界最易使用的探针式轮廓仪。 技术细节：无与伦比的性能和优于5埃（ 单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性 先进的”智能化电子器件”实现了低噪声的新标杆高效率且易于使用 直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程 独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量 自对准的探针设计使用户可以轻而易举地更换探针探针式轮廓仪的全球领导者 性能卓越，物超所值 完备的零配件为您优化或延伸机台的多种应用提供保障

天津瑞利光电科技有限公司优势经销德国Cinogy光束轮廓仪CinCam CMOS-1201CINOGY Technologies GmbH是位于德国哥廷根的应用科学与艺术大学的附属公司。主要业务是开发，制造和分销适用于工业和科学应用的高质量激光光束轮廓仪和配件，基于多年的经验，我们可以受益于丰富的知识，可以满足从UV到IR波长范围的几乎所有光束轮廓分析要求。 产品范围：德国Cinogy光束轮廓仪、激光光束分析仪、聚焦光束分析仪、中红外激光光束分析仪、中性密度滤波片。 主要型号：BR-UV/VIS-01、BR-VIS/NIR-01、BR-NIR-01、PA-1x-5、PA-2x-100、PA-2x-200、CMOS-1201、CMOS-1202、CMOS-1203、CMOS-1204、CCD-1201、CCD-2301、CCD-2302 相关产品介绍：光束轮廓仪特殊的高性价比光束分析仪CinCam CMOS经过优化，可提供高的灵敏度。 百万像素CMOS传感器可提供高达30fps的准确激光束分析。 轻巧和超紧凑的设计使它可以轻松适应标准的光学成像系统和光机械组件，从而确保了高的灵活性。特征：-小型入门级光束轮廓仪-无盖玻片的高分辨率MPixel传感器-高帧率和动态范围的实时监控-标准高速USB 2.0 / 3.0接口-提供不同的软件版本：Lite，Standard，Professional参数：-型号：CinCam CMOS-1201-响应波长范围：400-1150nm-像素数：1.3MPixel-像素尺寸：5.2um x 5.2um-位深（输出）：8Bit-动态范围：68dB-尺寸：40x40x20mm3 天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

SJ5700S标准型粗糙度轮廓测量仪可测量各种精密机械零件的轮廓/粗糙度形状参数。广泛应用于精密机械五金加工、汽车零部件、轴承、机床零部件、模具、光学零部件加工等行业。产品简介SJ5700S标准型粗糙度轮廓测量仪采用高精度光栅测量系统、高精度研磨导轨、高性能非接触直线电机、音圈电机测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现对各种工件表面轮廓进行测量和分析。通过高精度研磨导轨、高性能直线电机保证测量的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机通过修正算法对光栅数据进行修正，最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓/粗糙度进行各种参数分析。产品优势操作灵活、智能、简单1.SJ5700S标准型粗糙度轮廓测量仪只需切换不同模块，可对产品进行轮廓形状测量和微观粗糙度测量。2.轮廓测针种类共有50种，可广泛应用于多种行业工件测量。 3.粗糙度测针种类共有9种，不同规格传感器和针长适用于多种应用场景.4.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移，X轴和Z轴定位，测杆上下摆动及速度分级调节功能。5.各个运动轴都有进行硬件及软件保护，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。6.轮廓模块带舵机结构，可防止扫描陡坡时的快速下坠。7.粗糙度根据GB/T、ISO、JIS等标准，自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观，任何人都能轻松设定和测量。大量程、高稳定、高精密1.轮廓模块具有X轴200mm的大量程轮廓测量范围，分辨率最高达到0.1nm，系统残差小于5nm。2.自主研发高精度研磨导轨系统，导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作。3.轮廓模块采用音圈电机测力系统，测力可实现从10～150mN档位可调，测力分辨力可达0.2mN；避免了因周围环境振动带来的测力误差，降低了测力变化引起的测量误差。4.粗糙度模块高精度电感测量系统，粗糙度测量精度高。5.粗糙度模块测力固定1mN，微测力对工件表面损伤小，利于粗糙度精准测量。6.高性能直线电机驱动系统，保证测量稳定性高、重复性好。7.专用标定器能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿，使其满足高精度轮廓/粗糙度测量。自动、批量、快速测量1.轮廓测量时：对于简单的工件只需要设置测量起点、终点即可一键测量；对于复杂的工件，工件的任意位置进行分段测量，并做成模板便于轮廓批量测量。2.粗糙度测量时：工件只需要设置测量长度即可一键测量，重复测量记录到一条数据便于统计。3.轮廓测量在CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行轮廓批量测量。4.自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。典型应用技术参数型号SJ5760-PR轮廓参数测量范围X轴0~200mmZ轴0~450mmZ1轴±25mm测量精度X轴±(0.6+0.015L)μm，（L，mm）曲率误差（直径）≤±（1+R/15）μm角度误差≤±1′爬坡能力上坡77º ，下坡88º 测力10-150mN可调粗糙度参数直线度（X扫描轴）≤0.4μm/100mm，≤0.8μm/200mm测量范围Z0轴±20µ m ±100µ m ±400µ m(可选±1000µ m特殊量程)传感器类型无轨式适用测量范围Ra0.1μm~Ra64μm测量精度示值误差≤±（5nm+2.5%A）μm重复性≤1nm（0.1-0.2μm方波粗糙度样块、标准台阶块)≤1%（≥0.4μm方波粗糙度样块、标准台阶块)测量参数R粗糙度：Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr等核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo等P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq, Pdc, PPc,Pmr, 等W波度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr等Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL等仪器尺寸800×450×1000（mm）仪器重量约115Kg如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

SJ5700S二维粗糙度轮廓测量仪可测量各种精密机械零件的轮廓/粗糙度形状参数。广泛应用于精密机械五金加工、汽车零部件、轴承、机床零部件、模具、光学零部件加工等行业。产品简介SJ5700S二维粗糙度轮廓测量仪采用高精度光栅测量系统、高精度研磨导轨、高性能非接触直线电机、音圈电机测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现对各种工件表面轮廓进行测量和分析。通过高精度研磨导轨、高性能直线电机保证测量的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机通过修正算法对光栅数据进行修正，最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓/粗糙度进行各种参数分析。产品优势操作灵活、智能、简单1.SJ5700S二维粗糙度轮廓测量仪PR型号共用主体，只需切换不同模块，可对产品进行轮廓形状测量和微观粗糙度测量。2.轮廓测针种类共有50种，可广泛应用于多种行业工件测量。 3.粗糙度测针种类共有9种，不同规格传感器和针长适用于多种应用场景.4.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移，X轴和Z轴定位，测杆上下摆动及速度分级调节功能。5.各个运动轴都有进行硬件及软件保护，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。6.轮廓模块带舵机结构，可防止扫描陡坡时的快速下坠。7.粗糙度根据GB/T、ISO、JIS等标准，自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观，任何人都能轻松设定和测量。大量程、高稳定、高精密1.轮廓模块具有X轴200mm的大量程轮廓测量范围，分辨率最高达到0.1nm，系统残差小于5nm。2.自主研发高精度研磨导轨系统，导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作。3.轮廓模块采用音圈电机测力系统，测力可实现从10～150mN档位可调，测力分辨力可达0.2mN；避免了因周围环境振动带来的测力误差，降低了测力变化引起的测量误差。4.粗糙度模块高精度电感测量系统，粗糙度测量精度高。5.粗糙度模块测力固定1mN，微测力对工件表面损伤小，利于粗糙度精准测量。6.高性能直线电机驱动系统，保证测量稳定性高、重复性好。7.专用标定器能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿，使其满足高精度轮廓/粗糙度测量。自动、批量、快速测量1.轮廓测量时：对于简单的工件只需要设置测量起点、终点即可一键测量；对于复杂的工件，工件的任意位置进行分段测量，并做成模板便于轮廓批量测量。 2.粗糙度测量时：工件只需要设置测量长度即可一键测量，重复测量记录到一条数据便于统计。3.轮廓测量在CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行轮廓批量测量。4.自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。典型应用技术参数型号SJ5700S轮廓参数测量范围X轴0~200mmZ轴0~450mmZ1轴±25mm测量精度X轴±(0.6+0.015L)μm，（L，mm）曲率误差（直径）≤±（1+R/15）μm角度误差≤±1′爬坡能力上坡77º ，下坡88º 测力10-150mN可调粗糙度参数直线度（X扫描轴）≤0.4μm/100mm，≤0.8μm/200mm测量范围Z0轴±20µ m ±100µ m ±400µ m(可选±1000µ m特殊量程)传感器类型无轨式适用测量范围Ra0.1μm~Ra64μm测量精度示值误差≤±（5nm+2.5%A）μm重复性≤1nm（0.1-0.2μm方波粗糙度样块、标准台阶块)≤1%（≥0.4μm方波粗糙度样块、标准台阶块)测量参数R粗糙度：Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr等核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo等P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq, Pdc, PPc,Pmr, 等W波度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr等Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL等仪器尺寸800×450×1000（mm）仪器重量约115Kg

详细信息一、产品描述SJ5760轮廓测量仪采用进口高精度光栅测量系统、高精度研磨导轨、高性能非接触直线电机、音圈电机测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现对各种工件表面轮廓进行测量和分析。通过高精度研磨导轨、高性能直线电机保证测量的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机通过修正算法对光栅数据进行修正，最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓进行各种参数分析。轮廓仪为全自动测量设备，操作者只需装好被测工件，在检定软件上设定扫描的开始、结束位置，点击“开始”按钮，测针会自动接触工件表面,并按设定的位置扫描；在进行轮廓扫描的过程中，软件界面会实时描绘轮廓曲线；扫描结束后，操作者可通过轮廓分析工具对生成的轮廓曲线进行分析，得到如直线度、圆度、角度、距离、间距等轮廓参数。系统软件为简体中文操作系统，操作方便。、二、产品功能1.表面轮廓评定：评定任何两点间的距离，两线夹角，圆弧半径，并可对轮廓进行直线度、圆度分析等，重新分析和重新测量的操作简单，提高效率；2.尺寸标注：半径、两圆心中心距离、X方向尺寸、Z方向尺寸、斜边尺寸、两直线之间的夹角、圆弧最高或最低点、直线与直线相交、直线与圆弧相交、圆弧与圆弧相交、尺寸标注线大小修改、在数据图形某点上加标记等。3.局部轮廓放大和调平；4.界面友好，卓越的操作性，更符合中国用户操作习惯；5.测量记录采用集中式数据库管理，可按被测件类型、生产单位、出厂编号、检测员、送检单位、设备编号、检定日期和有效日期等查询和管理测量记录；6.可从数据库中选定多条记录成批打印测量记录，可将检定数据输出到Word、Excel、AutoCAD（选配）文档，具有数据备份和还原数据库功能；7.输出多种Word格式报表，并支持完全的自定义报表，定制测量记录报表；8.具有强大的CNC功能，能进行一系列的自动化，高效率的测量作业；9.成熟简单的标定，对仪器的精度和测针磨损进行精确的补偿。三、标准配置1)SJ5760轮廓测量仪主机1台；2)标定台1套；3)30mm单切面测针1支；4)平口虎钳1套；5)万向工作台1套；6)测量软件1套；7)品牌计算机1套1）主机配置：双核以上CPU，500GB硬盘，2G内存，Win7系统；2）显示器：24寸液晶显示器。8)铝合金仪器配件箱1个；9)产品使用说明书1套；10)产品合格证、保修卡1套；11)免费保修1年。三、应用案例齿形测量压铸件测量铁路轮毂检测模具检测