缺陷分析

仪器信息网缺陷分析专题为您整合缺陷分析相关的最新文章，在缺陷分析专题，您不仅可以免费浏览缺陷分析的资讯， 同时您还可以浏览缺陷分析的相关资料、解决方案，参与社区缺陷分析话题讨论。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

缺陷分析相关的耗材

  • 分析仪器/样品前处理/石墨消解器
    仪器简介 DR系列石墨消解器采用国际先进技术，一体化设计，具有快速、高效、节能、方便、样品处理量大等优点，并且消解孔的尺寸可根据客户要求定做，目前已成功用于环保、化工、食品、医药、生化等行业的样品前处理，同时可用于微波消解的预处理和赶酸处理，是原子吸收、原子荧光、ICP-AES等分析仪器的理想配套产品。 仪器特性☆ 加热均匀 加热体选用导热性能优越的耐高温石墨，能保证各个消解孔间的温度均匀，样品间温差小于±2.0℃；同时，消解多个样品时，能保证各个样品拥有相同的反应温度和条件，适宜进行批量处理，克服了传统电热板的种种缺陷。☆ 耐腐蚀 石墨表面涂有特氟隆的涂层，易清洁且耐腐蚀，可以在强酸强碱等腐蚀环境中放心使用。☆ 控制精确 PID温控系统，操作简便，性能优良，经久耐用。控温精度高，可达±1.0℃，可调节加热速率，实现程序升温并控制加热保持时间，完成加热程序后自动停止加热。☆ 高效 可同时进行多达54个样品的前处理，大大提高工作效率。☆ 应用范围广泛 可用于实验室常规加热反应；可精确控制样品消解；可用于微波消解后的样品快速赶酸，且直接定容，不用转移。技术指标型号DR-15DR-24DR-54加热材料特氟隆镀层石墨最大功率1200 W1200 W3000 W控制方式PID数显PID数显PID数显工步数30段30段30段最高温度240 ℃240 ℃240 ℃控温精度±1.0 ℃±1.0 ℃±1.0 ℃样品处理量15个×100 ml24个×50 ml54个×50 ml消解孔径 （直径×深度）Φ42×40 mmΦ26×40 mmΦ23×40 mm电源要求AC 220V/50Hz 10AAC 220V/50Hz 10AAC 220V/50Hz 16A设备尺寸470×350×270mm470×350×270mm670×460×270mm
    供应商： 南京科捷分析仪器有限公司
    品牌： 南京科捷
    价格： 面议
  • 工业射线底片评片灯TH-100A
    工业射线底片评片灯TH-100A 1 冷光源高亮度：内置二只特制的长寿命大功率冷光源强光灯管，每只最大功率为85W观察屏处亮度均匀，且200000LUX，（黑度D4.5）。 2 亮度可调：采用无级（原为：三档）电子调光，根据需要任意调节。内置散热风扇 及独特的散热系统，使得连续工作12小时升温45摄氏度。 3 启动方式为脚踏开关式和全通式，灯管启动快（0.1秒/次）. 4 附加装置齐全 5 灯上装有可移动的放大镜便于缺陷的辨认。 6 镜下方附有可上下左右移动的评片尺。便于条状缺陷测长和圆形缺陷的评定。（上述附加装置不用时可翻至评片上方待用）。 7 屏面板两侧附有GB4730.1-.6-2005标准供查阅。特殊的均光薄膜，使之散光更加均匀。最大观察屏面积为65＊260mm 8 安全可靠无噪声：只要旋开紧固螺栓，便可更换灯管或清洁内部。 技术指标 黑度：D4.5 亮度：200000LUX 电源：50-60Hz 220V± 20% 功耗：168W 放大镜：放大倍数2倍， 有效面积130＊90mm 外形尺寸：450＊200mm 重量：4.5kg
    供应商： 北京宏昌信科技有限公司
    品牌： 德图
    价格： 面议
  • Defects Engineered CVD Grown 2D layers CVD缺陷生长二维层
    Newly acquired ion implantation accelerator unit allows 2Dsemiconductors USA to create desired amounts of defects by alpha particle irradiation process at select amount of doses. Please contact us for details and pricing.
    供应商： 上海巨纳科技有限公司
    品牌： 2D SEMICONDUCTOR
    价格： ¥8888
查看更多耗材

缺陷分析相关的仪器

  • 钢研纳克表面缺陷视觉智能检测系统 400-666-7037
    钢研纳克钢管视觉表面缺陷自动检测系统：由高速CCD相机系统、同步成像光源系统、存储及图形分析服务器系统、景深自动调节的检测平台系统及软件等组成，可实现二维+三维表面缺陷连续自动检测、分类评级和记录。可以快速且有效检测裂纹、凹坑、折叠、压痕、结疤等各类缺陷，能够适应于复杂的现代钢铁工业生产环境，能够完美替代目视检测，达到无人化生产的水平。 图1 钢管视觉表检系统 图2 CCD高速相机系统1.特点独特二维+三维成像技术：二维+三维集成成像，不仅能准确检测开口缺陷深度，而且深度很浅的细小缺陷也能有效检测。二维、三维结合技术解决了目前三维检测系统只能检出有一定深度缺陷、无法检测表面深度较浅但危害性较大的缺陷的问题。相机景深自动调整技术：能够对不同规格的工件进行自动调整，实现大景深变化背景下的高清成像。卷积神经网络缺陷算法：基于深度学习的表面缺陷检测算法，能够在复杂背景下有效地减少计算时间快速的采集缺陷特征，具有领先的缺陷检出率及分类准确率。2.主要功能在线缺陷实时检测：系统在线检测折叠、凹坑、裂纹等钢管外表面常见自然缺陷缺陷高速识别：快速分析获取缺陷数量、大小、位置（在长度、宽度方向上位置）、类型等信息，显示宽度缺陷模式缺陷分类统计：可按缺陷种类、长度、深度、位置、面积、等进行分类及合格率统计。实时图像拍照：实时过钢图像以及每根钢管记录的图像的“回放”功能，可进行多个终端显示图像回放。机器自学习：系统检出的缺陷和人工核对后，进行对应缺陷的样本训练，形成机器自学习，提高同类缺陷的识别准确率3.检测效果图3 图软件主界面图4 系统分析界面图5 缺陷样本自动标注常见缺陷 划伤 辊印 结疤 裂纹图6 检测到的常见表面缺陷目前该产品已在钢管生产线投入使用，解决了长期困扰客户的表面缺陷实时检测的难题。详情可咨询钢研纳克无损检测，电话： 手机：，E-mail：
    留言咨询
    厂商： 钢研纳克检测技术股份有限公司
    品牌： 钢研纳克/NCS
    型号： NCS-SJ01
    价格： 面议
  • 热成像法缺陷分析仪 400-860-5168转5963
    当热量从器件发热点（源）向环境中传递过程中，偶尔会遇到一些热的阻碍物，通常这些热阻碍物会非常严重的影响器件的可靠性。通过直接观察热的产生和其传递的路径是发现这些缺陷症状的最有效方法。TIFAS IR是一个高度集成的桌面型红外热成像法失效分析仪，可应用于几乎所有材料的失效分析。通过观察电子器件、系统、复合物、多层聚合物或烧结零配件的全波段光谱来判断其综合结构，如杂质、缺陷以及形貌等。技术参数：测试时间：1-10 sIR相机像素：382*288px (可提供更宽范围)观测区域：95 mm x 123 mm(可提供更宽范围)…欢迎联系我司，索要样本。
    留言咨询
    厂商： 上海初炙仪器设备有限公司
    品牌： Nanotest
    型号： TIFAS IR
    价格： 面议
  • LUMINA光学表面缺陷分析仪 400-860-5168转1679
    简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料，又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测，其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。 Lumina AT1结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与表面斜率等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。1.偏振通道用于薄膜、划痕和应力点；2.坡度通道用于凹坑、凸起；3.反射通道用于粗糙表面的颗粒；4.暗场通道用于微粒和划痕；二、 功能l 主要功能1. 缺陷检测与分类2. 缺陷分析3. 薄膜均一性测量4. 表面粗糙度测量5. 薄膜应力检测l 技术特点1.透明、半透明和不透明的材料均可测量，比如硅、化合物半导体或金属基底；2.实现亚纳米的薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像；3.150mm晶圆全表面扫描的扫描时间为3分钟，50x50mm样品30秒内可完成扫描并显示结果；4.高抗震性能，系统不旋转，形状无关，可容纳非圆形和易碎的基底材料；5.高达300x300mm的扫描区域；可定位缺陷，以便进一步分析；技术能力三、应用案例1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控3. PR膜厚均一性评价4. Clean制程清洗效果评价5. Wafer在CMP后表面缺陷分析6. 多个应用领域，如AR/VR、Glass、光掩模版、蓝宝石、Si wafer等
    留言咨询
    厂商： 上海纳腾仪器有限公司
    品牌： 儒米娜/LUMINA
    型号： LUMINA AT1
    价格： 面议
查看更多仪器

缺陷分析相关的试剂

查看更多试剂

缺陷分析相关的方案

查看更多方案

缺陷分析相关的论坛

  • 锌合金缺陷分析方法

    锌合金缺陷分析方法 1.1状态分析 缺陷出现的频率:1.经常出现;2.偶然出现. 缺陷的位置:1.固定在铸件的某一位置上;2.不固定某一位置,游离状. 对于有时出现,大多数时候不出现的缺陷,可能是属于状态不稳定.如:1.料温偏高或偏低;2.模温波动;3.手动操作:喷涂料、取件、生产周期不当;4.压铸机故障. 对于属状态不稳而产生的缺陷,主要是加强生产现场的管理和规范操作,可通过现场监测工艺参数进行分析. 1.2化学成分分析 采用光谱仪、原子吸收仪等先进的检验手段,分析锌合金成分中有效元素及杂质元素的含量,来分析其对压铸件性能的影响,对铸件质量的影响. 判断:1.合金料有没有问题?2.熔炼工艺有没有问题? 1.3金相分析 对缺陷部位切开,在显微镜下检验压铸件的组织结构,先判断缺陷的种类:如铸件的表面有孔洞,是气孔?缩孔?渣孔?在显微镜下可能准确判断出是哪一种缺陷,再进一步分析产生缺陷的原因. 1.4浇注系统分析 金属液在浇道中能否平衡流动并避免卷气,[/siz

  • 玻璃缺陷的能谱分析

    哪里可以承接玻璃缺陷的能谱分析，请联系。http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09506.gif

  • 【原创大赛】铝合金产品在金相分析中常见缺陷探讨

    【原创大赛】铝合金产品在金相分析中常见缺陷探讨

    铝合金产品在金相分析中常见缺陷探讨摘要：本文通过对铝合金产品常见缺陷的定义、表现形状进行阐述，分析其形成原因，并提出一些改进预防措施，为铝合金生产工艺的调整和完善提供一些参考依据，有助于减少缺陷的形成。关键词：缺陷；低倍分析；高倍分析；生产成本前言 随着科学技术的快速发展，铝合金在生产工艺上也在不断的改进和完善，产品质量要求也越来越高。而作为铝合金生产工艺改进和完善的必要手段——金相分析，对铝合金产品缺陷的检测研究非常重要。 金相分析分为低倍分析和高倍分析，分析倍数低于50倍的属于低倍分析，高于50倍的属于高倍分析。低倍分析是借助放大镜或肉眼进行检查分析，检查内容主要是低倍缺陷和组织晶粒度，低倍缺陷包括铸造缺陷、加工变形缺陷及热处理缺陷共二十二种。高倍分析是借助显微镜、能谱仪等仪器进行检查分析，主要检查产品是否过烧、显微组织状态等，并对低倍分析检查出来的各种缺陷进行分析判断。通过金相分析，可以为生产技术人员在生产工艺的改进和完善上提供参考依据，进而减少缺陷的产生。在实际分析工作中铝合金缺陷大多数集中在裂纹、气孔和夹杂上。现结合这三种常见缺陷谈谈笔者的一点见解。1 缺陷的定义及表现形状1.1裂纹 裂纹分为热裂纹和冷裂纹。热裂纹是指金属凝固过程中，在线收缩开始温度至固相点温度的结晶终了区间，由于结晶收缩受到阻碍而产生拉应力，又由于这个区间含有较多的脆性金属化合物，拉应力超过该区金属的强度极限时产生的裂纹。冷裂纹是指液态金属凝固后，由于铸锭内部冷却不均产生的拉应力超过了金属的强度极限，而在铸锭的某个或某几个塑性薄弱区产生的裂纹。 裂纹在金相分析上的形状是不一样的，热裂纹在金相分析上的形状表现为锯齿状裂开，裂纹弯曲、分叉或呈网状、圆弧状，断口位置处裂纹凹凸不平。热裂纹很大时肉眼也能直接观察得到，很小时需要借助显微镜等仪器才能观察得到，有的沿晶界裂开，在断裂位置常有氧化现象颜色表现为黑褐色或黄褐色，在断裂位置处常常伴随有低熔点共晶物出现。冷裂纹在金相分析上的形状表现为线条状裂开，成平直的裂线，主要表现为穿晶开裂，一般在断口位置处颜色表现为亮晶色，没有氧化现象。如图所示：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/08/201308050

查看更多帖子

缺陷分析相关的资料

查看更多资料

缺陷分析相关的资讯

  • 岛津应用：印刷电路板的缺陷分析
    印刷电路板上的异物和斑点等会造成导电故障，为了防止此类问题的发生，查明异物和斑点的来源极为重要。本文向您介绍使用岛津AIM-9000缺陷自动分析系统，对印刷电路板上的异物进行定性分析的示例。microSDTM卡的大视野相机观察图像对在microSDTM卡端子上的异物进行扫描和定性分析时，使用AIM-9000的大视野相机，可以顺利完成从大视野观察到确定扫描位置的一系列操作。另外，根据异物形状分别使用反射法和ATR 法，可以得到良好的光谱。 了解详情，敬请点击《印刷电路板的缺陷分析》关于岛津 岛津企业管理（中国）有限公司是（株）岛津制作所于1999年100%出资，在中国设立的现地法人公司，在中国全境拥有13个分公司，事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心，并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站，已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念，始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务，为中国社会的进步贡献力量。 更多信息请关注岛津公司网站www.shimadzu.com.cn/an/。 岛津官方微博地址http://weibo.com/chinashimadzu。 岛津微信平台
    时间： 2017-03-09
    作者： 岛津
  • 国家级汽车缺陷分析实验室筹建
    在11月10日举行的2012(第三届)中国汽车安全技术发展国际论坛上，国家质检总局缺陷产品管理中心副主任王琰透露，质检总局正在筹建国家汽车产品缺陷工程分析实验室，以更好地展开缺陷调查和工程技术分析，促进汽车召回工作。 　　据悉，在涉及安全的汽车缺陷中，仅有不到10%属于不符合相关标准的情形，其余90%以上的缺陷产生原因极其复杂，对缺陷分析水平提出了较高要求。“在非标准符合型缺陷分析方面，目前还存在一些空白，建设一流的工程分析实验室，有助于提高汽车缺陷监管水平，”王琰说。目前，该实验室建设正处于设备采购阶段。 　　国家汽车产品缺陷工程分析实验室将以服务汽车召回技术性工作为基础，以非标准符合性缺陷工程分析为核心，全面开展与汽车产品安全相关的缺陷调查和缺陷工程分析、标准复合型调查和实验检测、缺陷风险评估以及汽车产品安全技术研究等工作。实验室按14个区域功能划分，值得注意的是，电动汽车安全检测也包括在内。 　　无论对汽车召回还是“三包”而言，缺陷鉴定都是非常重要的一环。此次新建的缺陷工程分析实验室是否将同时服务于召回和“三包”工作，目前尚不得而知。
    时间： 2012-11-12
    作者： 杨改霞
  • 国内首家汽车缺陷分析实验室落户北京
    本报讯(记者 汪丹)昨天，国内首家汽车产品缺陷工程分析实验室落户位于北京顺义的国家汽车质量监督检验中心。国家质检总局副局长刘平均、北京市副市长洪峰出席合作协议签约仪式。 　　市质监局在签约仪式上介绍，国家汽车产品缺陷工程分析实验室将针对我国汽车产品安全状况，通过实验分析缺陷及车辆故障，进而开展风险评估。实验室规划了整车工程分析试验室、轮胎缺陷工程分析试验室、汽车压力动力试验室等8个试验室，可开展汽车制动系统、转向系统、汽车轮胎、管路、电子控制系统等一系列缺陷判定试验，大大缩短缺陷认定的时间。实验室购置了世界上最先进的汽车转向、制动、加速智能机器人，可模拟驾驶员的转向、制动、加速等操作，还可开展较高危险性的缺陷实车判定实验。目前，实验室正处于设备安装调试阶段，预计明年中旬投入使用，主要面向专业机构提供服务，暂不受理市民提出的检测要求。 　　随后，刘平均、洪峰参观了国家汽车质量监督检验中心的汽车零部件实验室、碰撞实验室、汽车整车实验室和国家汽车产品缺陷工程分析实验室，详细了解了相关建设进展与未来发展规划。 　　(原标题：国内首家汽车缺陷分析实验室落户北京)
    时间： 2012-12-21
    作者： 杨改霞
查看更多资讯

看了这个的用户还看了

Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ，All Rights Reserved版权所有，未经书面授权，页面内容不得以任何形式进行复制