固体透射测量池

固体样品测试解决方案，千万分之四超低杂散光设计。主要特点：. 用户可根据需要选择 150mm 积分球附件基本型、眼镜专用检测附件和 60mm 积分球附件基本型搭 配 T10 进行测试；. 可测试浑浊液态样品透射、粉末样品的反射、固体样品的透射和反射；. 测试领域涉及染料、纸张、布匹、塑料等颜色测量、建筑玻璃测试、眼镜测试、药品分析、生物试剂 分析、材料分析等，其中独特的眼镜专用检测附件可直接检测成品眼镜。

透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求，而设计的高集成度，自动化的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成：光源系统+分光系统＋样品检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统

仪器简介：眼部防护用品光谱和积分透射比测量系统 可测量防护眼镜、头盔、防护面具等的光谱和积分透射比。技术参数：■ 可测平光、小于+4m-1，大于-4m-1屈光度眼部防护用品■ 测量光谱范围 200~2200nm■ 系统使用光谱透射比范围：&tau (&lambda )=0.1 ~ 0.9■ 透过率测量的系统不确定度：U0.015（对Vis、UVA、UVB波段）U0.02（对UVC、NIR波段）■ 复合光源：氘灯、溴钨灯自动切换■ 透过率重复性：R0.01■ 透过率准确度：± 2% （光学系统透过率10%）主要特点：眼部防护用品光谱和积分透射比测量系统■ 该系统测量防护眼镜、头盔、防护面具等的光谱和积分透射比■ 可测平光、小于+4m-1，大于-4m-1屈光度眼部防护用品■ 测量光谱范围 200~2200nm■ 系统使用光谱透射比范围：&tau (&lambda )=0.1 ~ 0.9■ 透过率测量的系统不确定度：U0.015（对Vis、UVA、UVB波段）U0.02（对UVC、NIR波段）■ 复合光源：氘灯、溴钨灯自动切换■ 透过率重复性：R0.01■ 透过率准确度：± 2% （光学系统透过率10%）■ 样品台及夹持器应能保证被测样品的中心区域位于光轴中心，并沿z方向调节150mm，沿y方向调节150mm，围绕&theta z方向调节角度90° ，围绕&theta y方向调节角度45° ■ 谱仪控制软件和滤光片轮控制软件、输出数据的采集和分析计算软件、测量参数自动保存，并可直接打印

Harrick的温度控制气体池是通过透射光谱技术检测静态或流动环境中气体和气体混合物的理想选择。该单元具有波束一致的几何形状，从而zui小化体积并zui大化梁与样品的相互作用。该316不锈钢电池的路径长度为10 cm，工作环境温度可达240°C。这使其适用于逸出气体分析（EGA）和TGA-EGA-FTIR热重分析。温控气体电池配有K型热电偶和低压加热器，设计用于优化Harrick温度控制器的性能。应用：高温环境下研究固体样品，温度范围为室温至高于500℃特点：操作温度是室温至500℃易于拆卸，方便样品更换和仪器清洗316不锈钢耐化学腐蚀容纳的样品直径是25mm，厚度可达10mm可选配13mm的内嵌样品支架冷却循环水端口配置低压加热筒K型热电偶两个1/4”316不锈钢VCO配置需单独订购两个红外光透过窗片密封特点热绝缘防止热量散失易于拆卸，方便样品更换和仪器清洗耐化学性的316不锈钢制成可以容纳的样品直径为25mm，厚可达10mm水冷却无需要高温窗片密封

FD-LTMS是一种模块化设计的光谱透射测量系统，旨在快速、高效、高精度的分析或监测食品饮料、酒类、染料等需要对组分严格控制的溶液的不同组分的浓度。LTMS目前已被验证并用于铝阳极氧化染料槽浓度的监测，该系统也可用于实验室溶液浓度的快速分析，还可以配合自动流体控制装置实现溶液浓度的实时在线分析/监测，为制程中产品良率改善提供可视化实时建议。测量参数产品优势不同组分浓度可见光波长的透射曲线可见光波长透射率（10nm间隔）可计算色坐标可计算实际浓度与理论浓度偏差 应用领域阳极氧化溶液实验室/在线监测食品饮料/酒类成分分析玻璃或其他透明材料透射率测量 产品优势体积小巧：模块化设计，易于集成光源寿命：专利脉冲LED，250M测量次数加固结构：IP67防水外壳，适用复杂环境 产品参数项目规格波长范围400-700nm探测器1024元素阵列；非对称交叉Czerny-Turner光谱仪输出间隔10nm半波宽6nm光源脉冲LED 寿命250000000次测量样品架10nm通路比色皿；Flow-cell比色皿接口usb2.0操作系统WIN7+, 64bit

反射透射平台反射平台是做反射测量时候的探头支架，可以放置小于150mm的光学镀层和基底样品。支架可以安装6.35直径的反射探头，并且可以在高度上调整大约63.5mm。平台上刻有不同直径的圆，可以更方便的对准样品。 Stage-RTL-T型平台是一种新型取样系统，用来分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与我们的光谱仪和光源多种组合方式，配合进行反射和传输测量Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备，包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器；一个反射和传送的样品盒；一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGESTAGE-RTL-T尺寸:152.4 mm 直径(base)206.3 mm 直径(base)尺寸:101.6 mm 直径(样品区域)152.4 mm 直径 (采样支架)(样品区域)重量:620 g4.5kg高度:导轨高度可调 63.5 mm导轨高度可调 400 mm材质:阳极氧化铝底盘, 不锈钢支杆阳极氧化铝 对于简易的反射测量需求，我们也可以提供STAGE平台。 为了提高调整的精度和更加灵活的应用场合，我们开发了增强型的STAGE-RM平台，透反射样品支架是常用的光谱测量附件，与反射探头共用可实现反射光谱测量，与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个准直透镜，型号为STAGE-RM的增强型透反射样品支架还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 透反射样品支架 - 实现透射和反射光谱测量 - 测量高度可调 - 测量高度可通过一维平移台微调 - 自带两个准直透镜 - 可定制配合安装孔尺寸 如果需要其他相关配件，例如光源，光谱仪，光纤，积分球等，可以联系韵翔光电。

卧式透射样品支架，YME-2062 描述透射样品支架适用于固定不同尺寸的固体透光样品，并对其进行光谱透过率测量。YME-2062透射支架采用卧式结构，包含一个样品夹具，可夹持样品的直径范围是0-25mm。其两端则各为一个SMA905光纤连接器，通过光纤可分别与光谱仪和光源连接，进行透射光谱的测量。特点适合圆形或者方形平面的固体透光样品导轨式结构设计，确保光学元件在同一光轴上长度行程可调技术参数更多精彩内容，请关注下方！

品牌: 闻奕光电 货号: FT-RT 颜色分类: FT-RT-30 FT-IS50-30（不含积分球和光纤） 装修及施工内容: wyopticsFT系列 反射与透射支架台FT-RT 系列平台是一种新型采样系统，适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。此平台与闻奕光电的光谱仪和光源有多种组合方式，配合进行反射和传输测量FT-RT 型平台使用非常广泛：可以将探头放置在样品上或样品下（从下部测量时样品和探头要保持一个固定的距离）完成反射测量； 将光阱放置在适当的位置进行光反射测量；或使用两个光纤进行样品传输的测量。采用30cm长的滑台（可以定制其他长度），本产品包含3个准直镜，可以加载TA接头或者SMA905接头的光纤，用于液体/固体样品的透射/吸收，荧光与散射测量以及漫反射测量。 FT-RT-30 型平台规格工程规格 FT-RT-30底座尺寸150.0 mm直径样品区域尺寸80 mm直径重量 1.6 kg横杆高度可调节至300毫米（可定制长度）组成部分样品盘，横杆，适配器，准直透镜（2）和光阱准直透镜波长185-2500 nm台体材料阳极氧化铝积分球适配器（可选）FT-ISxx-30，用于连接30毫米或50毫米的ISP系列积分球

R2 透射光谱测量系统 透射是光谱测量的基本手段，透射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等部件。对于不同种类的样品，为了获取良好的光谱数据，透射这种基本模式又会演化为更多的形式。复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的光谱测量设备。利用这些配置丰富的设备，就可以搭建个性化的光谱测量系统，满足不同的光谱测量需求。 注：以上参数如有差异，以官网为准。

立式透射样品支架，YME-2077 描述YME-2077透射样品支架，采用立式设计，确保样品与光路保持垂直，同时非常方便取放样品，并且载物台高度可调，适用于不同厚度的样品。特点适合任意平面形状的固体透光样品高度可调，适用于不同厚度的平面固体样品立式设计，确保样品与光路垂直扁位立柱设计，确保光学元件在同一光轴上技术参数更多精彩内容，请关注下方！

原位红外透射池反应系统主要用于研究样品在不同温度和气体环境下的红外光谱特征。产品主要由反应池、混气控制系统及温度控制系统三部分构成。其中反应池主体采用316L不锈钢材质，并配备红外窗片，混气控制系统通过质量流量计精确控制各路气体流量并实现混合，温度控制系统通过各类传感器实现对气路、混气罐及反应池温度的控制。详情请登录“合肥原位科技有限公司”网站。

HBD5-SS4220-L15 液体中固体颗粒悬浮物浓度测试仪适于纯水,自来水,无色废水水质；测量范围: 0 to 1500mg/L 准确度: ±2% FS重复精度: ±1%R分辨率: 0.1mg/L使用温度: 0-50℃悬浮物快速检测仪特点:4220为专业光学透射法低浓度悬浮物粒子浓度测试技术，主要应用于液体悬浮物测试。配用智能仪表,可以满足多种测试应用。反应速度，智能系统，温度矫正。灵敏度高，性能稳定。悬浮物快速检测仪应用:工业过程悬浮物浓度测试 胶体、浆体等固液混合体工艺 相关工业过程 污水处理厂– 原始垃圾、活性污泥、回流淤泥、腐植物、出口 造纸工业– 筛滤液、水处理 陶瓷水泥工业– 生产过程水中含泥量 污染排放检测 其它工业过程悬浮物 水处理过程-淤泥浓度、水质达标水质调理环境检测油品浊度或悬浮物检测 悬浮物测定仪常用规格型号如下：传感器名称其它说明SS4220-L15液体中固体颗粒悬浮物原理:4220前置透散适于纯水,自来水,无色废水或固定场合水质.测量范围: 0 to 1500mg/L 准确度: ±2% FS重复精度: ±1%R分辨率: 0.1mg/L使用温度: 0-50℃ 悬浮物浓度测试仪技术特点：测定原理Turb.90d 4220 光学散射+透射式测定对象液体悬浮物总平均浓度测试方法透射式检测灵敏度0.1 mg/L测定范围0-1500mg/L z大 0-5000mg/L反应时间100ms测定精度±2%（相对标准物）显示器16x2 LCD液晶串行通信RS232/485环境温度0-70℃电源9V电池供电,充电器DC12-24V传感器尺寸?49*300

透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求，而设计的高集成度，自动化的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成：光源系统+分光系统＋样品检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统

一、概述 RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。 ■ 高性价比穿透率、反射率测量解决方案 ■ 色坐标计算和薄膜特征解析 ■ 模块化定制，支持在线集成应用二、产品特点■ 采用高性能进口氘卤二合一光源，光谱范围覆盖可见光到近红外范围；■ 支持全光谱范围反射率高精度量测，基于薄膜层上下界面反射光干涉原理，轻松解析单层至多层薄膜特征；三、产品应用 RT系列反射透射测量仪，可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量，并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。技术参数

透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 光纤指标：● 光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜；● 可选SMA接头、FC接头。 产品特色（1）采用双向光纤，可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究；（2）光电一体化解决方案，具有高拓展性；（3）高稳定性，保证电镜原有分辨率。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统，详细咨询：

? 透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标配STM-TEM样品杆内集成纳牛力传感器，实现高精度的力学及电学测量。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 力学传感器指标：● 悬臂梁弹性范围1 N/m~100 N/m；● 载荷分辨率优于5 nN（使用1 N/m悬臂梁时）；● 自动测量力-距离曲线，自动保存。 产品特色 （1）可保证电镜原有分辨率，即使在球差内也可以拍到清晰原子像；（2）良好的操纵稳定性，压电陶瓷驱动方式，保证高精度的操纵。样品杆具有很高的稳定性 ，探针移动平稳，实现高分辨原位观察实验；（3）操作简便，软件界面友好易操作。控制器集成电流电压测试单元，满足大多数实验需求。位移粗调和细调全软件操作；（4）力电一体化解决方案，力学和电学配置可满足大部分测试需求。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统，详细咨询电话：

关于INSTEMS系统原位透射电子显微分析方法是实时观测和记录位于电镜内部的样品对于不同外场如力、热、电等激励信号的动态响应过程的方法，是当前物质结构表征科学中最新颖和最具发展空间的研究领域之一。受限于透射电镜样品室狭小的空间及特殊的结构，目前商业化的透射电镜原位力学样品杆多采用探针式力场加载，无法实现双轴倾转，大大限制了研究者从原子尺度下原位研究材料的力学行为及变形机制。针对这一世界性技术难题，百实创公司专项开发的INSTEMS系列透射电镜用原位原子尺度双轴倾转力、热、电一体化综合测试系统拥有独特创新设计的MEMS芯片以及与之相匹配的微驱动系统，保证了样品在透射电镜毫米尺度空间内实现力场与热场或电场耦合加载条件下，同时具备大角度正交双轴倾转功能，进而实现在多场耦合加载下材料原子尺度显微结构及其性能演化的原位观察与记录。该系统可实现1200℃高温下力热耦合加载，最大驱动力大于100mN，驱动行程大于4μm，最小驱动步长低于0.5nm，达到国际领先水平，极大的扩展了透射电子显微镜在材料科学原位研究领域的应用。本系统与各大品牌电镜有优异的机械及电磁兼容性，稳定性高，保证电镜原有的分辨能力。整合了独特创新设计的MEMS芯片与微型驱动器的高集成Mini-lab原位样品搭载平台，保证了不同形状、性质的样品在TEM中有稳定的力、热、电加载实验环境，并能精确控制参数变量；通过更换不同Mini-lab实验台，可以灵活的实现力、热、电单场或任意两场耦合加载，并能做到互不干扰。精密的结构设计保证样品能在场加载条件下实现大角度双倾，结合皮米级超高精度控制系统，确保显示的原子像无抖动、分辨率高。功能强大，操作便捷的控制软件提供了丰富的加载模式，并实时收集与处理数据，满足用户不同条件下的实验与测试设计要求。可实现多场耦合加载：ISTEMS系列产品具有高度集成的可定制化微型实验系统。通过更换不同功能的微型实验台（Mini-lab），该系列可灵活施加力、热、电等多种外场组合。Mini-lab独特的MEMS芯片设计和新颖的集成策略解决了小区域多场耦合加载兼容性难题。可独立控制多场加载，避免相互干扰。 原子尺度分辨率：INSTEMS系列结构紧凑的微型实验台和特殊设计的β轴倾转机构完美融合了多场耦合施加和双轴倾转功能，可轻松实现原子尺度分辨的动态观察。 高精度控制与测量：超灵敏微型驱动器稳定的四电极MEMS芯片 可靠的电学连接无干扰的电路布局 强大的高精度多通道源表确保INSTEMS系列产品可同时实现高精度加热、pm级驱动控制和pA级电信号测量。 适用范围极宽、功能易于扩展：INSTEMS系列适用于多种形态尺寸的材料（适用于块体以及一维、二维纳米材料）；可实现多种类型的多场耦合施加（热-力-电耦合）；加载灵活，可对样品进行拉伸加载、压缩加载、弯曲加载，也可进行纳米压痕实验；同时可根据用户需求进行功能扩展。适用于大部分固体无磁材料的研究。 关键技术指标与参数：热场指标温度范围室温~1200℃*加热速率＞10000℃/s温度精度≥98%测温方式四电极法EDS兼容性√力场指标驱动精度＜500pm最大驱动力＞100mN最大位移4μm电场指标最大输出电压±50V电流测量范围1pA-1A*电压测量范围100nV-50V双倾指标α角倾转范围±25°β角倾转范围±25°*驱动精度＜0.1°分辨率极限稳定性＜50pm/s*空间分辨率≤0.1nm* * 列出参数取决于Mini-lab型号与电镜状态。 硬件说明：样品杆部分包含双轴倾转样品杆与配套的Mini-lab实验台，MET型号样品杆可兼容所有类型的Mini-lab实验台。软件控制：力、热、电三场都具有丰富的加载模式可供选择：力场可选择单向拉/压加载或循环加载；电场拥有7种可供选择的波形加载；热场可自由设置温控程序。 应用范围1. 高温环境下的力学行为在力场与热场条件下原位实时观察材料原子像，并能获取成分信息。可应用于加速蠕变、高温相变、元素扩散、高温塑性变形、再结晶、析出相与位错的关系等方面的研究。原位原子尺度研究高温合金相在高温下（1150℃）的形变机理原位观察超级合金在400℃与750℃下塑性变形过程2. 高温环境下的电学行为 在热场与电场条件下原位实时观察材料原子像，并获取电场数据。可应用于热电材料、半导体、相变存储、电场可靠性分析、介电材料等领域的研究。 热电耦合条件下SnSe原位原子尺度失效分析3. 力与电场的交互行为在力场与电场条件下原位实时观察材料原子像，测量和控制样品电信号。可应用于压电材料、铁电材料、锂离子电池、柔性电子器件等领域的研究。 4. 力场、热场、电场单场条件下的材料组织变化可定量的控制单力场、热场、电场施加于样品，并实时原位的观察样品原子像及成分信息。高熵合金900℃条件下观察元素扩散

BBMS-2000双向反射/透射空间分布测量系统可全方位分析测量材料表面的反射、透射特性，可测参数包括材料的双向透射分布（BTDF）、双向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、总反射（TIR）、总散射（TIS）等，可广泛应用于金属、塑料、纸张、纺织品、玻璃、涂面、光学膜材料等诸多材料的表面光学特性的定量分析，其BRDF/BTDF数据可以导出至光学设计软件中，用于光学系统模拟设计。? 主要特点l 系统通过四轴精密旋转配合，可以实现空间内任意光照方向下的半球反射/透射分布测试；l 绝对法测试，不受样品的形态、光学性质的约束；l 测试光路及计算方法，完全符合ASTM E2387等标准要求。l 测试的BRDF/BTDF数据可以导出至Tracepro等光学设计软件中，用于辅助光学材料或系统的模拟、设计；l 高精度，高稳定度 ；2 接收光路长，接收立体角小，测量不确定度小2 激光光源，能量高、单色性好、准直度高；2 配备监视探测器，消除光源波动对测量的影响；2 探测器动态范围大，测试准确度高；2 机械转轴转动精度高，角度分辨率、重复性好。l 综合分析表面散射性能 2 双向反射分布函数BRDF2 双向透射分布函数BTDF2 反射比分布2 透射比分布2 总反射率TIR2 总散射率TISl 光源自由切换，波长覆盖紫外-可见-近红外范围，实现不同颜色光照下材料表面散射特性的测试，适用于有光谱选择性的样品； l 上位机多功能分析软件，提供多种BRDF/BTDF二维及三维分析图，并配有专用于BSDF分布数据查看软件，提供专业的BSDF数据分析；? 典型测量界面? ? 技术指标 测试类型In-plane/Out-of-plane BSDF测量参数BRDF、BTDF、反射比、透射比、TIR、TIS光源激光，覆盖可见-近红外范围（特殊可定制）光源天顶角t0°~80°光源方位角0°~360°探测器天顶角-85°~85°探测器方位角0°~180°角度分辨率0.01°角度重复精度0.1°动态测量范围? 典型应用：

PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统，关于价格请咨询(微信同号)透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成光学模块，从而实现在透射电镜中进行原位光电测量或者光谱学表征研究。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 光纤指标：● 光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜；● 可选SMA接头、FC接头。 产品特色（1）采用双向光纤，可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究；（2）光电一体化解决方案，具有高拓展性；（3）高稳定性，保证电镜原有分辨率。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

仪器简介：我们提供所有的透射测量所需要的光学组件。下面列出了一个典型的订单，其中列出了一台HR4000高分辨率光谱仪，配置了新的HC-1复合光栅，该光栅提供了200-1100nm的波长范围。另外，我们建议再选配一个DT-MINI-2氘卤钨灯，加上光纤、准直透镜和一个固定器，用来采样。技术参数：技术规格尺寸: 148.6 mm x 104.8 mm x 45.1 mm重量: 570 g功耗: 450 mA @ 5 VDC探测器: 3648-像元线性CCD阵列波长范围: 200-1100 nm光学分辨率: ~1.0 nm FWHM光栅: HC-1, 300线/毫米 光栅入射孔径: 25&mu m宽度狭缝消除高阶衍射滤光片: 安装 OFLV-200-1100焦距: f/4, 101 mm动态范围: 2 x 108 (系统) 2000:1对于单次获取数据杂散光: 0.05% at 600 nm 0.10% at 435 nm数据传输速率: 全光谱输入内存USB2.0为4msUSB1.1为18ms操作系统: 使用USB端口：Windows 98/Me/2000/XP, Mac OS X 和 Linux 当 串口：任何32-位Windows操作系统输入/输出: 10个数字化可编程GPIOs＊模拟通道: 一个13-位模拟信号输入端口一个9-位模拟信号输出端口＊ 需要SpectraSuite软件，OmniDriver或者我们的设备驱动来对 GPIO端口进行编程数量 项目 描述1 HR4000 HR4000高分辨率光谱仪，内置HC-1复合光栅 25&mu m狭缝 DET4- 200-1100，探测器带有OFLV消除高阶衍射滤光片以及UV4探 测器升级1 DT-MINI-2 微型氘卤钨组合光源1 74-ACH 可调准直透镜支架2 74-UV 准直透镜2 P600-1-SR 600&mu m芯径光纤，长度1米主要特点：HR4000可测量的波长范围200-1050nm我们推荐的适合该应用的HR4000光谱仪包含了一个最新的3648像元CCD阵列探测器，专利的HC-1复合光栅以及一个消除高阶衍射滤光片，提供200-1050nm（最佳效率）的测量波长范围，而且光学分辨率优于1.0nm(FWHM)。我们也建议配置25&mu m入射狭缝和一个UV2探测器升级，用来增强探测器在紫外区的响应能力。HR4000跟计算机的接口是USB2.0。宽光谱范围的光源DT-MINI-2氘卤钨组合光源可以在同一光路中结合连续的紫外氘灯光谱和可见近红外的卤钨灯光谱。紧凑的组合光源提供了从～200-2000nm波长范围内连续稳定的输出。可用于多种样品的支架74-ACH可调节准直透镜支架包含了带有多个用于安装准直透镜的螺孔的调节面板。这些面板可以用于测量最大厚度～100mm的样品，这使得74-ACH可以很方便地用于大尺寸样品地透射测量。准直透镜74-UV准直透镜可以拧到74-ACH支架上的螺孔中，用来准直光束。这些透镜有带螺纹的内管，可以跟光纤匹配。当进行准直的时候，光束的发散角是2° 或者更少。内管可以相对于透镜滑动，用来调焦。光纤我们的光纤既可以用来照明，也可以采样。两根600&mu m芯径、1米长的光纤，很容易地将74-ACH支架中的准直透镜跟HR4000光谱仪和光源相连接。

PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统，价格请咨询(微信同号) 透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标配STM-TEM样品杆内集成纳牛力传感器，实现高精度的力学及电学测量。性能指标 透射电镜指标： ● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 力学传感器指标：● 悬臂梁弹性范围1 N/m~100 N/m；● 载荷分辨率优于5 nN（使用1 N/m悬臂梁时）； ● 自动测量力-距离曲线，自动保存。 产品特色 （1）可保证电镜原有分辨率，即使在球差内也可以拍到清晰原子像；（2）良好的操纵稳定性，压电陶瓷驱动方式，保证高精度的操纵。样品杆具有很高的稳定性 ，探针移动平稳，实现高分辨原位观察实验；（3）操作简便，软件界面友好易操作。控制器集成电流电压测试单元，满足大多数实验需求。位移粗调和细调全软件操作； （4）力电一体化解决方案，力学和电学配置可满足大部分测试需求。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

在线总固体浓度测量仪A344W 总固体浓度测量仪A344W代表了废水处理行业的新型微波技术，可精确测量和控制总固体含量，从而实现工艺过程的优化和节约大约20%的聚合物成本。仅仅所实现的能源节省一项就足以确保较短的投资回报周期。 典型应用污泥排放、浓缩、消化、脱水等等。仪器特点1.在污泥处理过程中减少能源的消耗2.提高泵的工作效率和污水处理容量来延缓再投资3.提高污泥的运输效率4.有效减少聚合物的消耗5.提高脱水离心机的工作效率6.减少实验室检测的需求7.免于维护目前使用的传感器多为光学变送器，严重玷污测量传感头，主要是累积的石灰岩会使其偏离测量范围，进而增加维护成本。微波传感器 A344W 采用特殊材料传感器，能抵御污垢的积聚，因此可提供极佳的长期稳定性。 主要技术指标1.工作范围.......................... 0 - 8％Cs；2.重复性.................................±0.02％；3.精度（在稳定条件下）....±0.02％；4.压力............................ 1.5?8.0 bar；5.电导率.................... 0-10.0mSm/sm；6.通信端口........................ ...RS-485；7.采样时间......................................1s；8.控制面板电源....... 220VAC / 50 Hz；9.传感器电源.............................24VDC；（传感器说明书要求水悬浮液中的空气含量不大于1％，且测量区域设定单元中的压力不小于1.5bar。） 微波传感器A344W应用污水厂的各个环节简介说明污水厂一级＆二级沉淀池污泥排放和污泥回流过程控制，如下图1、2、3、4位置。通常传统排泥方式是设定固定的排泥间隔周期和排泥时间，由于进水浓度不同，产泥量不同，固定排泥时间会造成排泥不彻底或者排泥浓度太低，增加后续污泥处置压力和泵的能耗。根据微波传感器A344W控制排泥，保持固定的排泥间隔周期，根据浓度控制停泵时间。确保只有高浓度的污泥排入后续污泥处置工序，提高排泥浓度等于提高了后续所有污泥处置工序的效率，同时提高排泥泵的工作效率，减少能耗，对产泥量可以有量化监控。从而防止了污泥在沉淀池中堆积和改善污泥在沉淀池排放效率。污水厂污泥消化过程，如下图5位置。由于消化效率的关键是固体浓度控制，需保证最高固体浓度的污泥进入消化工序。根据微波传感器A344W对进消化罐前的污泥浓度进行测量，提高消化进泥浓度产生更多沼气，提高消化效率，减少能耗。污水厂污泥脱水过程，如下图6位置。通常情况下，污泥处理所需费用高达整个污水厂建设和运行费用的50%～60%。目前大部分污水厂污泥脱水通过投加絮凝剂进行污泥脱水调质，达到更好脱水效果，实现污泥减量化。随着污泥浓度的变化，需要及时调整絮凝剂的投加量。因为只有通过精确的污水固体含量测量才可能节省絮凝剂的投放。 例如以某中型污水处理厂工程规模8万m3/d：PAM投加量为40kg/d； 絮凝剂成本费用估算：PAM药剂费按3万元/吨计，E=40×365×30=43.8万元/年。 按照节约20%絮凝剂，可节约成本计算： E=40×365×30×0.2=8.76万元/年；每5年可节约絮凝剂成本为：E5=43.8万元。微波传感器A344W可解决当前的污水处理厂面临问题和节约大约20%絮凝成本。污水厂污泥脱水污泥饼焚烧过程，如下图7位置。通常根据进入焚烧污泥的含水率来提前调整天然气和燃油的供给量。根据微波传感器A344W可以精确地测量污泥固体浓度，保证合理辅助燃料量提高污泥 焚烧效率。 微波传感器A344W应用污水厂加药装置工艺流程：污水厂加药装置主要由加药箱、计量泵、液位计、电控柜、管路、阀门、安全阀等组成。污水厂加药装置根据所需絮凝剂浓度，在搅拌箱内配制，经搅拌器搅拌均匀后投入溶液箱、用计量泵向指定的系统中输送所配制的溶液。污水厂絮凝剂溶液的计量输送由螺杆泵实现，螺杆泵采用变频控制，来调节絮凝剂溶液投加量。变频器的控制信号是由PLC发出，PLC收集来自数据采集和电气控制系统的电信号后再发出控制信号，使絮凝剂的投加量可实现适时控制。

我们的杜瓦透射/反射附件适用于在-196°C至350°C温度范围内的受控环境中检测固体样品。电池由耐化学腐蚀的316不锈钢制成，并配有K型热电偶用于温度测量。杜瓦瓶被安装在这个附件中，用于低温操作。对于高温操作，提供低压加热器与适当的控制器（如Harrick温度控制器）一起使用。此附件配置用于传输测量，带有指定分光计的底座。它也可以重新配置为近正常（12°）镜面反射与我们的可变角度反射附件。特征化学惰性316不锈钢内部。冷却液冷指，例如液氮或干冰和丙酮混合物，用于-196°C以下的操作。光谱测量用加热器，温度高达350°C。可容纳直径25毫米、长度35毫米的透射或外反射样品。使用一个25x2mm或25x4mm窗口和一个32x3mm窗口。带O形密封圈的车窗支座。K型热电偶。低压加热器。两个1/4“316不锈钢VCO配件。与所有的红外光谱仪和一些紫外可见光谱仪兼容。与Harrick的可变角度反射附件一起用于近正常镜面反射测量。包括:用于传输测量的指定光谱仪的安装硬件。窗片需要单独订购。

1 产品简介ARS2000角分辨光谱仪是一款可变角度透反射便携式现场测量光纤光谱仪，主要满足客户通过对光子晶体、超导材料等纳米光学材料的反射率、透射率、吸收实现晶体的能带、缺陷等特性的研究。此外也有很多薄膜材料、玻璃、光学元器件客户采用ARS实现光学元器件特定角度下透过率、反射率的过程控制测量。配套的手动式透反射测量支架实现入射角度为0°~120°，接收角度为8°~180°的350nm~1050nm透射、反射以及辐射光谱测量。内部集成的ARM嵌入式系统以及Uspectral Plus软件，实现客户在线测量。同时该系统配置Windows软件，满足客户光谱分析的需求。 2 规格参数产品型号ARS2000主机尺寸230×200×110 mm支架尺寸300×200×230 mm整机重量3.2kg光谱波段350nm～1050nm光纤配置600μm UV-VIS嵌入式主板Linux系统QT界面显示屏幕7寸显示屏钨灯光源5W光纤输出接口SMA905积分时间8ms-5s入射角度0-120°接收角度8-180°角度分辨率0.1°载物台高度0-5cm光斑直径0.56cm控制软件嵌入式供电接口AC 220V#光谱范围可根据用户需求进行定制3 产品特点? 专 业： 满足辐射、透射、反射、散射等精检测需求 ? 方 便： 易维护，体积小巧、性能稳定，存放方便，易于使用 ? 强 大： 配套功能强大的专业软件包? 存 储： 可通过USB接口实现数据及时存储4 产品应用? 光源测试? 镀膜材料? 光子晶体? 液晶显示? 传感器器件制备? 角度材料相关分析? 纳米光学材料5 操作软件

PicoFemto透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统，关于价格请咨询(微信同号) 采用全新的O圈辅助密封设计，更易封装液体。实验中，样品被密封在超薄氮化硅薄膜覆盖的液体池内，池内可以承载一个大气压。芯片电极联通外接电路，从而在电镜中搭建一个液体-电化学测试环境。性能指标：● 兼容TEM真空度；● 液体池间隔层厚度最小100 nm；● 液体池内可载入气体或液体，池内可承载1个大气压，池外满足电镜真空要求；● 电压输出最大±200 V，最小分辨率±100 nV；● 电流测量最大±1.5 A，最小分辨率±100 fA；● 恒压或者恒流模式。● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统的介绍，关于整套系统价格价格请咨询(微信同号)原文：安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

透射电镜原位MEMS低温电学测量系统，关于价格请咨询(微信同号) 透射电镜原位MEMS低温电学测量系统是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块，实现低温电学测量或全温区测量功能。性能指标 透射电子显微镜指标：● 兼容指定型号电镜及极靴； ● 单倾可选高倾角版本；● 可选双倾版本，β角倾转±25°（同时受限于极靴）；● 测量电极数可选。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电压输出最大±200 V，最小±100 nV；● 电流测量最大±1.5 A，最小100 fA；● 恒压或者恒流模式；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 低温指标：● 兼容MEMS加热及电学芯片； ● 全温区测量，温度范围：85 K- 380 K；● 控温稳定性：优于±0.1 K；● 温度连续可控。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯，或者卤钨灯，作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一：布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求，计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源，光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球，3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050，波长范围350-1050nm，分辨率最小0.6nm，美国产进口600线光栅4. 搭配电脑，数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置1000ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率应用举例二：高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（下面一条曲线），350-1000nm范围反射率72%， 样品2（上面一条曲线），350-1000nm范围反射率 82%，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率测试二过程，相对于黑板1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置黑板，采集参比光谱3. 移除黑板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（上面一条曲线），350-1000nm范围相对于黑板的反射率， 样品2（下面一条曲线）相对于黑板的反射率，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三：薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物薄膜的光谱

ST-JMTY 固体食品体积测量仪是测量面包、馒头和各类不规则固体食品体积的专用计量仪器。它具有测量准确，快速，操作简便。其性能和技术要求完全符合GB/T14611-2008'GB/T14612-2008,QB1251-91面包，SB/T10139馒头用小麦粉、SB/T10142蛋糕用小麦粉、GB/T 20981小麦粉面包烘培品质试验法、GB/T17320-1998馒头品质评价法等表混。特别适用于面粉烘培与蒸煮试验中面包、馒头体积的测量。本仪器适用于体积小于 1000ml 的食品体积值测定，广泛用于粮食、食品等部门。 技术参数：1. 外形尺寸： 850 × 200 × 130mm；2. 测量范围：3. 标尺 Ⅰ： 0～600ml；4. 标尺Ⅱ： 400～1000ml；5. 填充物：粒径在 1 ～ 2mm 油菜籽。6. 准确度： ≦± 1.0％7. 重现性： ≦± 0.8%

仪器简介：眼部防护用品光谱和积分透射比测量系统 可测量防护眼镜、头盔、防护面具等的光谱和积分透射比。技术参数：■ 可测平光、小于+4m-1，大于-4m-1屈光度眼部防护用品■ 测量光谱范围 200~2200nm■ 系统使用光谱透射比范围：&tau (&lambda )=0.1 ~ 0.9■ 透过率测量的系统不确定度：U0.015（对Vis、UVA、UVB波段）U0.02（对UVC、NIR波段）■ 复合光源：氘灯、溴钨灯自动切换■ 透过率重复性：R0.01■ 透过率准确度：± 2% （光学系统透过率10%）主要特点：眼部防护用品光谱和积分透射比测量系统■ 该系统测量防护眼镜、头盔、防护面具等的光谱和积分透射比■ 可测平光、小于+4m-1，大于-4m-1屈光度眼部防护用品■ 测量光谱范围 200~2200nm■ 系统使用光谱透射比范围：&tau (&lambda )=0.1 ~ 0.9■ 透过率测量的系统不确定度：U0.015（对Vis、UVA、UVB波段）U0.02（对UVC、NIR波段）■ 复合光源：氘灯、溴钨灯自动切换■ 透过率重复性：R0.01■ 透过率准确度：± 2% （光学系统透过率10%）■ 样品台及夹持器应能保证被测样品的中心区域位于光轴中心，并沿z方向调节150mm，沿y方向调节150mm，围绕&theta z方向调节角度90° ，围绕&theta y方向调节角度45° ■ 谱仪控制软件和滤光片轮控制软件、输出数据的采集和分析计算软件、测量参数自动保存，并可直接打印

泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组（20世纪90年代），围绕原位电学测量样品杆，泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展，已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆，产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位电学测量样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。原位电学测量样品杆技术指标 电学测量力学操纵1.包含一个电流电压测试单元；1.探针粗细调方式：全软件操控；2.电流测量范围：1nA-30mA；2.粗调范围：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm；3.电流分辨率：100fA；3.细调范围：XY方向18um，Z方向1.5um；4.电压输出范围：±10V，±150V；4.细调分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm；5.软件自动测量：I-V、I-t 原位电学测量样品杆产品选型 原位电学测量样品杆 具有单倾、双倾两个版本，用户可根据实验需求自行选择。泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号样品杆，同时保证透射电镜原有分辨率。 原位电学测量样品杆国内部分用户典型案例 1、透射电镜内的原位电学实验；2、透射电镜内的原位压缩、拉伸实验。安徽泽攸科技有限公司是原位电学测量样品杆生产厂家，关于原位电学测量样品杆价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务