固体电位分析仪

仪器简介：仪器名称：Zeta电位分析仪 研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 材料组成 材料亲水性与疏水性 材料洁净处理等 表面活性剂相互作用 SurPASS 3固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。 通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压（电势），SurPASS 3固体电运动分析仪给出了Zeta 电位这样一个重要的信息。 Zeta 电位是一种界面特性，这对于理解固体材料在很多工艺技术处理方面非常重要。Zeta 电位给出了固体表面电荷、吸附性质等的信息。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中最微小的变化。 Zeta电位： 范围：所用测量原理决定没有限制再现性：+/-0.5 mV 等电点： 再现性：+/-0.1 pH 平板固体： 最小 35 mm x 15 mm，厚度20 mm， 20 mm x 10 mm，厚度2 mm， 直径为 14 mm 或 15 mm 的圆片 纤维： 最少重量 100 mg 粉末： 最小粒径 25 μm 膜和过滤材料 生物材料 半导体工业 纤维、织物和无纺布 化妆品和洗涤剂 矿物 针对各种形状的固体 各种不同的测量池适用于天然的和人造的纤维和织物、颗粒样品、粗颗粒和平板样品。 突破极限-流动奥妙 快速测量： Zeta电位测量少于2分钟 表面Zeta电位直接分析： 适用于实际样品，无需使用示踪颗粒 主要特点：测量原理 ： 在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 Zeta 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的Zeta 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。Zeta 电位即可定义为固体表面的固定层电荷与离子移动层之间的电势，相应的流动电势系数为dU/dP， Zeta 电位表示为： 固体表面特性，粘性，介电常数，电解质电导率K 等都影响Zeta 电位的大小。得出Zeta 电位值时，需要说明电解质溶液的类型，浓度，pH值。 稀释的电解质循环流经装有样品的测量池，由此产生一个压差，其电荷在电化学双电层中相对运动产生并增加流动电压，这个流动电压/ 流动电流（可选择）由置于样品两边的电极检测。SurPASS 3可同时测量出电解质的电导率，温度及pH值。

BeNano Zeta电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系Zeta电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。基本性能指标Zeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cm最小样品量0.75mL-1.0mLZeta测试粒度范围2nm-120μm系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● Zeta电位● Zeta电位分布检测技术● 电泳光散射● 相位分析光散射相关技术相关应用

仪器简介BTDS-52 全自动溶解性总固体分析仪是北京宝德仪器有限公司研制的一款基于恒温恒湿恒重的密闭箱体内的条件下称量水样、食品、固废、降尘等各类样品及坩埚、蒸发皿等各种载具的全自动蒸发-恒重分析系统，是用于水样溶解性总固体、悬浮物等项目分析、降尘浓度、食品及固体废弃物中水分含量测定过程中保证称重、分析及质控等环节精准性的重要装备。仪器特点该系统消除了实验室环境内温湿度变化的不稳定所引起的称重结果的波动影响，提高了坩埚等称量结果的稳定性与准确性，提升了样品浓度测定结果的可靠性。该系统可实现对各类样品及其容器进行自动化大批量地自动蒸发烘干、恒重称量，无需实验人员频繁穿梭天平室与高温室，大大提升了工作效率，系统并设有高温高压过载保护等功能，无需人员值守，保障实验室安全运行管理。适用项目样品及容器的自动蒸发-恒重自动分析◆ 生活饮用水、水源水、地下水、地表水、生活污水、工业废水等水质样品中溶解性总固体、悬浮物、总α/总β放射性活度等项目的测定◆ 食品中的含水量\含水率测定◆ 固体废物中水分和干物质含量的重量法测定◆ 环境空气的降尘及坩埚恒重测定应用领域◆ 环保领域/第三方检测行业：水质监测、固废检测等样品及其过滤介质的自动称重◆ 疾控行业：水质分析◆ 食品行业：食品检测◆ 地质行业：地下水放射性物质检测◆ 科研、高校教育 ：大气颗粒物源解析等

仪器简介： 作为领先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的Omni多角度粒度及高灵敏Zeta电位分析仪，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，可达40%w/v。此外，Omni采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍，可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。 技术参数： 1.粒度范围：0.3nm～15μm（与折射率，浓度，散射角有关）； 2.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 3.典型精度：1％； 4.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；5.样品体积：0.01～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）； 6.分子量测定范围：342～2*107Dalton； 7.温控范围：-5℃～120℃,±0.1℃； 8.pH值测量范围：1-14； 9.激光源：40mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）； 10.检测器：APD；11.相关器：4*1011线性通道；4通道输入；支持两路互相关； 12.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 13.散射角：13°、90°与173°；14.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm；15.电导率范围：0-30S/m；16.电泳迁移率范围：10 -11-10 -7 m2 /V.s；17.pH测量范围：1-14； 选件： 1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.表面膜电位：固体表面膜电位测量；3.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度； 7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点： 1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～15μm； 2.突破性的三检测角度设计，测量角度：15°、90°和173°；3.硬件PALS技术，灵敏度高1000倍，适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系； 4.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 5.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程； 5.综合全新的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件； 6.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90 + BeNano Zeta二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径测试粒径范围0.3nm-15μm★样品量3μL-1mL★检测角度90° & 12°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cmZeta测试粒度范围2nm-120μm分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★趋势测量模式时间和温度粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★折光率范围1.3-1.6系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C冷凝控制干燥空气或者氮气激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最快25 ns采样，最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 颗粒体系的Zeta电位及其分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 电泳光散射● 相位分析光散射● 静态光散射相关技术相关应用

仪器简介：PALS技术是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新Zeta电位测量技术。与传统基于频移技术的光散射方法相比， 灵敏度可提高约1000倍。许多从事新材料、 生命科学、 环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析， 这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10-1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量。 ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。 技术参数：1.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm 2.样品体积：0.018～1.5ml 3.pH值测量范围：1-14 4.电导率范围：0-30S/m 5.电泳迁移率范围：10-11～10-7m2/V.s 6.温度控制：-5 ～110℃,±0.1℃ 7.电场强度：0～3.2 kV/m 8)电极：耐腐蚀性开放式电极(毛细管电极可选)，电极材料纯钯；9.激光源：40mW固体激光器(激光器波长和功率可定制)；10.检测器：PMT或APD；11.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 选件：1.粒度升级：具有粒度纳米粒度测量功能；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度；7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点：ZetaPALS是目前能够精确测量低电泳迁移率体系的Zeta电位分析仪器，它采用的是真正的硬件PALS (Phase Analysis Light Scattering, 相位分析光散射）技术， 比其它测量Zeta电位的技术 灵敏度高约1000倍！ 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

Metrohm DropSens 是瑞士万通集团旗下品牌之一，专门从事电化学研究仪器的设计和制造。DropSens 现在为您提供便携式、无线双恒电位/恒电流/阻抗分析仪，可用于伏安法、安培法、电位法和电化学阻抗谱（EIS）测量。实验室和现场工作的完整解决方案，包括MultiplEIS技术。 两种型号任您选择我们提供如下两个型号:μStat-i 400s — 恒电位/恒电流仪/单工作电极阻抗分析仪μStat-i 400 — 恒电位/恒电流仪/双工作电极阻抗分析仪 强大的EIS分析现已整合在便携式恒电位仪中。这些小巧经济的便携式仪器有助于您为特定的研究要求开发相关应用。便携式仪器可以是很多研究领域的完美解决方案，比如（生物）传感器，腐蚀或（微生物）燃料电池。 主要应用：• 腐蚀速率测量• 传感器、生物传感器及新材料评估• 电沉积、涂层或聚合物等评估• 分析方法开发 仪器特点：• 无线EIS测量适用于实验室和现场测量• 紧凑而皮实的设计• 便捷的腐蚀速率分析• 省时又简便的操作软件• 完整的数据分析以便最大限度利用每一次测量• 智能的专用阻抗分析仪助力传感器开发• MultiplEIS技术μStat-i 400（s）阻抗精度图备注：此产品的参考报价区间为标准配置。如需了解详细配置和报价，请联系瑞士万通中国当地销售人员，感谢您支持瑞士万通！

仪器概述固体表面Zeta电位分析仪是专门用多孔塞技术直接测定流动电位/流动电流的Zeta电位分析仪，该技术适用于50μm以上的大颗粒、纤维和平坦的表面，或在一个压力梯度下电解质可以透过的曲面膜或中空纤维样品。产品应用领域固体表面Zeta电位分析仪主要应用粉末、纸浆、反渗透膜、中空纤维、纺织纤维、地质矿物、矿石、玻璃、晶圆、聚合物、头发… … 产品用途流动电位流动电流(可选)插入阻力导电性温度产品规格n 可靠和简单的设置n 完全自动化的系统测量和冲洗n 基于Windows的菜单驱动软件n Excel数据采集、处理和导出n 在线电导率样品池，可精确计算zeta电位。n 压差与电位的实时关系图n 直接计算zeta电位n 直接数据传输和处理n 样品池尺寸在1cm～8cm之间可变。n 专用样品池选件满足特殊需要（平板膜，滤膜，中空纤维… … ）n 中空纤维切向流电位专用样品池n 直接测量多孔塞电阻独特功能n 在线电导率样品池，可精确计算zeta电位n 中空纤维切向流电位专用样品池产品优势n 样品池尺寸在1cm～8cm之间可变n 专用样品池选件满足特殊需要（平板膜，滤膜，中空纤维… … ）n 在线电导率样品池，可精确计算zeta电位。 操作软件固体表面Zeta电位分析仪的软件安装简单可靠，易于操作，所有样品独立显示电导率对时间作图，数据并以.txt格式自动存档客户案例北京金隅集团山东大学中国建材所售后服务应用支持中心：在北京设有应用支持中心和应用实验室。负责用户培训及应用支持，做到对用户的问题24小时即时响应。层次一： 经过多次培训的分布于各办事处的专职销售及市场工程师和产品专家同时负责用户的基本应用问题解答及仪器状态的判断。层次二：设于北京技术服务中心及应用实验室的工程师负责仪器的安装、维修及用户培训，做到对用户的问题24小时即时响应。层次三：公司专家每年访问中国，帮助中国用户解决疑难问题。层次四：公司专家求助热线提供每天18小时的全球服务，答疑解惑。 1.仪器的安装，调试:仪器到达用户使用现场后，由厂方从北京，上海或广州派出工程师进行安装，调试工作。2.仪器的验收: 安装调试完毕后，用标准物质或指定样品进行验收。3.应用培训:在仪器安装，验收完成后，由卖方对用户人员进行现场培训，使用户能进行独立的上机操作。4.维修服务：1.保质期为仪器验收之后12个月。2.在接到用户报修后，24小时响应；若确认仪器故障，48小时内工程师到现场进行维修。 3.公司将及时提供仪器软件的免费升级。分析报告

固体表面Zeta电位分析仪原理简介：APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。固体表面Zeta电位分析仪主要用途：1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆；2)陶瓷；3)油墨；4)乳剂稳定性；5)药品；6)生物胶体；7)荧光粉；8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑；9)催化剂；10)矿物；11)聚合物乳液；12)水和非水分散体系；技术参数：1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据；2)不需要稀释样品；3)不需要假设PSD形状；4)粒度范围：0.005-100微米；5)无电解质干涉；6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品；7)可测量纵向粘度，60%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱；8)具有自动滴定选项；9)专门技术：1-100MHz声衰减谱；10)溶剂：水/非水；11)样品固体%：0.1-60%体积比；12)样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用；

【说明：每款产品因配置不同价格不同，需按照您的测量需求单独配置，具体请联系我们报价】 德国dataphysics公司研发生产，该仪器采用自有版权技术的双向往复流动电势/电流的原理，测量各种宏观固体材料的Zeta电位，主要用于胶体分散剂研发、固体材料表面特性表征及帮助开发新型材料等。》 ZPA 20的主要特点 独立创新研发双向往复流体运动。因其特殊的双向往复运动测量模式，可以实现多小时甚至多天无限制时间测量。对于表面活性剂在样品表面的吸附研究及其它动力学研究等，无限的测量时间能够高效的得到不被干扰的 Zeta 电位数据。 电解质溶液的周期往复流动能够有效的防止测量电极的极化，从而避免了由于电极极化而造成的测量结果的误差。往复运动频率高达0.5Hz，在60秒内即可记录60个压力通道，可实现在几秒钟内获得大量的数据点，高效精确的获得统计学结果。 测量单元可视化设计。 可以在视觉监测下添加表面活性剂或其它需要添加的物质，有利于动力学研究实验。另外，该可视化设计也可以帮助发现样品中的气泡，并使用仪器的排气泡功能将气泡及时排除。极大的消除了气泡对测量结果的影响。 非固定式的装样单元既可以在系统外装填和制备样品，也可实现在测量过程中装样或取样同步进行。使用扭力扳手可控制纤维和粉末样品的装填密度，提高了此类样品的测量可重复性。超大电极表面积确保测量的灵敏度，即使轻微的表面特性改变也可以捕捉到。》 ZPA 20的主要功能全自动测量胶体悬浮液以及各种宏观固体材料的 Zeta 电位，如：片状固体、纤维、粉末、不同表面粗糙度材料，多孔材料等同步测量压差、温度、电导率和 pH 值等电点的自动检测全自动吸附和表面改性动力学测量》 ZPAS 20 高效的专用软件基于windows操作系统，带操作引导功能，操作简单所有测量参数同步显示在实时窗口，观测直观自动测量和计算功能强大，可自动计算动力学测量中的加液量，并控制自动注射单元全自动测量，最终自动计算结果可轻松的设置一次单一测量或者复杂测量项目即支持电脑鼠标操作，也支持Pad触屏操作多语言版本》 ZPA 20的应用全自动测量胶体悬浮液以及各种宏观固体材料的Zeta电位，如：片状固体、纤维、粉末、不同表面粗糙度材料，多孔材料等同步测量压差、温度、电导率和pH值等电点的自动检测全自动吸附和表面改性动力学测量如果您想了解更多，请联系我们，提供测样服务

PrimacsSLC 分析仪完善了Skalar用于满足日益增长的土壤、植物、淤泥、沉积物、液体等样品的有机质(TOC)的可靠分析。基于TC和IC双反应炉设计，仪器可在一台仪器上快速、可靠地独立检测总碳(TC)、无机碳（IC）和总有机碳（TOC），样品重量最大3g，自动天平重量传输可无误地录入重量数据。可反复使用的石英坩埚结合独特的垂直进样系统和计算机控制和计算，使PrimacsSLC成为当今环境实验室最佳的选择。除分析常规水的TOC外，还可很好地分析淤泥、强酸和强碱溶液，固体的TC、IC和TOC。特点:可分析TC、TOC和IC指标更适用于一般传统燃烧仪器难以做到的特殊样品，如强酸和强碱样品的分析。可处理大的样品量，样品量多达3克和3ml液体样品。可重复使用的石英坩埚TC炉温范围：50～1100℃内置天平接口，自动接收天平称重传递过来的重量数据采用CEN和ISO和NEN-EN 13137标准方法独特的垂直进样系统 典型的应用包括以下方面:1.土壤，植物和废料样品2. 强酸和强碱溶液（PH0-16）3. 淤泥和沉积物4. 水和高固体含量的样品5. 水、污水处理厂6. 水泥工业7. 矿业

荷兰Primac SLC固体/液体TOC分析仪一、产品简介：Skalar PRIMACSSLC 固/液体TOC分析仪是专用于测量固体/液体样品的总有机碳含量，基于双反应炉的设计，该分析仪可快速、可靠地分别测定工业固体废物、废水、强酸和碱溶液、淤泥和沉淀物、土壤、植物和肥料的总碳（TC）、无机碳（IC）和总有机碳（TOC）。二、仪器特点：1、在同一仪器中测量TC、IC、TOC2、可反复使用的石英坩埚3、可分析样品重量达3g4、天平数据自动录入接口5、特垂直的进样系统6、结构紧凑7、立式结构操作安全8、实时的TOC分析（无干扰）9、低维护Skalar PRIMACSSLC 固/液体TOC分析仪是专用于测量固体/液体样品的总有机碳含量，基于双反应炉的设计，该分析仪可快速、可靠地分别测定工业固体废物、废水、强酸和碱溶液、淤泥和沉淀物、土壤、植物和肥料的总碳（TC）、无机碳（IC）和总有机碳（TOC）。将天平与仪器联机，样品的重量可自动录入和储存在计算机的数据软件包中。TC的检测是在900～1100℃催化氧化后，所有的碳转化成CO2，TIC的检测是在一个独立的反应炉中酸化样品，所有的无机碳均转化成CO2 ，然后经过多量程的NDIR检测器检测出CO2的含量。 PrimacsSLC可分析TC, TIC和TOC。TOC是通过差减法（TC - TIC = TOC）由软件计算得出。TOC也可通过在酸化处理后的燃烧样品直接测量。三、技术指标:1、分析项目：TC, IC, TOC2、分析方法：TC: 高温催化燃烧. 温度范围 50°C至1100°C3、IC：无机碳在150°C下加酸反应以CO2的形式放出来4、检测方法：同步双波段红外检测器5、应用：植物和肥料、工业固体废物、废水、强酸和碱溶液、淤泥和沉淀物、土壤6、测量时间：TC 3-6分钟；IC 3分钟7、数据处理软件：采用Windows界面 检测信号: 线性和面积计算 数据: 多点线性排序, 结果去除和重计算, 统计计算 8、自我诊断功能包括：反应炉, 喷射气雾, Peltier电子冷却器，载气进口和出口的自动诊断

仪器简介 RSA-G2 固体分析仪是目前最高级的固体力学分析测试平台。电机-传感器分离式技术使得RSA-G2能够独立施加应变和量测应力，从而得到最纯粹的力学测量。除了能精确执行常规DMA测试外，RSA-G2还能执行蠕变与回复、应力松弛、连续应力、连续应变速率、恒应变、恒应力、疲劳、多波、任意波形和介电等测试。正因为拥有很宽范围固体力学分析能力，RSA-G2才能独一无二地同时胜任研发实验室和质量控制两种需求。RSA-G2的高性能源自于第四代双头力学分析技术，新设计的强制对流炉能精确、准确控制环境温度，丰富多样的测量夹具可适用最广样品形状和刚度范围应用，除此之外还可执行浸泡测试。RSA-G2整合介电分析技术，可单独或同步执行介电测试。技术优势在实际日常使用中，固体和软固体物质会在各种环境情况下会遭遇多种力学变形（应力和应变）。这对于几乎所有工业如航空、沥青、汽车、陶瓷、弹性体、电子、食品、个人日用品、生物医疗及其他涂料、药物、金属等十分重要。这些材料经历的变形可能是静态的、或周期性的，遭遇的环境可能十分平常也可能超级极端或者循环变化，甚至可能浸泡在水或油中。不断增长的高质量、高性能产品需求要求充分认知这些材料的黏弹性能，以便判定和确保他们有合适的应用、加工性能和使用性能。RSA-G2可执行的传统和高级力学性能测量和应用如下:? 弹性模量 (E)? 刚性模量 (G)? 复数模量 (E*,G*)? 储能、损耗模量 (E’, E”, G’, G”)? 耗损因子(tan δ)? 频率效应? 蠕变与回复? 应力松弛? 玻璃化转变温度? 次级转变? 结晶过程? 软化及熔融温度? 时温叠加? 分子量/交联? 相分离 (共混、共聚…)? 复合物? 老化 (物理或化学)? 固化? 凝胶化? 交联反应? 交联密度? 取向效应? 添加剂效应? 回弹性? 应力-应变曲线? 收缩力? 马林斯效应? 动态疲劳? 冲击强度? 韧性

固体表面流动电位法zeta电位分析仪的特点：流动电位法zeta电位分析仪是用多孔塞技术直接测定流动电位/流动电流的Zeta电位仪.该技术适用于50μm以上的大颗粒,纤维和平坦的表面,或在一个压力梯度下电解质可以透过的曲面膜或中空纤维样品.流动电位法zeta电位分析仪的产品特点：可靠和简单的设置全自动化的系统测量和冲洗基于Windows的菜单驱动软件Excel数据采集、处理和导出在线电导率样品池，可精确计算zeta电位。压差与电位的实时关系图直接计算zeta电位直接数据传输和处理样品池尺寸在1cm～8cm之间可变。流动电位法zeta电位分析仪的样品池选件满足特殊需要（平板膜，滤膜，中空纤维… … ）中空纤维切向流电位样品池直接测量多孔塞电阻流动电位法zeta电位分析仪适用于粉末、纸浆、反渗透膜、中空纤维、纺织纤维、地质矿物、矿石、玻璃、晶圆、聚合物、头发… …

pAir2000-LFG固体垃圾填埋场污染物分析仪具体技术参数表主测气体校准气体FormulaeRangeTech重复精度其它可测气体氨及低分子胺NH3NH30.5-50/200ppmEC2610 ±2%三甲胺:0-400ppm硫化氢及硫化物H2SH2S0.3-100mg/m3EC2610±2%硫醇和硫醚CH3SHCH3SH0.5-50mg/Nm3EC±2%氢气H2H20-1%EC±1%氧气O2O20-25%EC±1%二氧化碳CO2CO20-50% 55-99.99% ±1%abs±5%R一氧化碳COCO0-2000ppmEC±1%有机气体CH4VOC0-5%5-99.99%IR±0.25%abs±5%R非甲烷有机气体CH4NMOCs?氯氟碳氢化合物CHCl3CFC0-3000ppmIR± 5% 相对(1500 to 3000 ppm)± 75 ppm(0 to 1500 ppm)其它有机毒气CH3OHEVOC0.1-100ppmEC±2%二硫化碳:0.2-235ppm甲硫醚:0.2-226ppm二甲二硫: 无数据苯乙烯:0.15-155ppm其它毒气ToxC6H5CH30.1-30ppmEC±2%? ADS02 Sensor臭气浓度ODU10-10000Calculated固体垃圾填埋场污染物分析仪pAir2000_LFG_C应用：环境检测固体垃圾填埋场污染物分析仪pAir2000_LFG_C功能：现场LCD 4×16字符式轮换显示多项环境参数?越限报警,报警限可设置RS232/RS485通信接口支持串行通信,可与计算机联机。自带串行微型打印机数据记录24组。可阅读，输出或打印用户也可以自行标定或校准固体垃圾填埋场污染物分析仪pAir2000_LFG_C技术指标:BD4主机测试ADC分辨率: 0.1%FS电化学探头准确度: ±1-2%读数(一般)长期稳定性: +/-10% /年 (一般)分析器响应时间： 10ms探头响应时间(T90)：3mins 仪器使用环境: 温度：-10℃～60℃ 湿度：10%～90%R（无结露）仪器保存环境: 温度： 0℃～50℃ 湿度：10%～80%R（无结露）电化学探头直接采样: 温度: 0-40℃ 压力:1.1 kgf/cm2供电: 12V充电蓄电池连续使用时间: 24Hr/每次充电 电池置放时间1周。固体垃圾填埋场污染物分析仪pAir2000_LFG_C参考标准: 中华人民共和国国家标准GB14554-93恶臭污染物排放标准Emission standard for odor pollutants序号控制项目单位一级二级三级新扩改建现有新扩改建现有1氨mg/m31.01.52.04.05.02三甲胺mg/m30.050.080.150.450.803硫化氢mg/m30.030.060.100.320.604甲硫醇mg/m30.0040.0070.0100.0200.0355甲硫醚mg/m30.030.070.150.551.106二甲二硫mg/m30.030.060.130.420.717二硫化碳mg/m32.03.05.08.0108苯乙烯mg/m33.05.07.014199臭气浓度无量纲1020306070固体垃圾填埋场污染物分析仪pAir2000_LFG_C 专业的固废处理气体检测仪厂家北斗星仪器

进口在线悬浮固体分析仪 法国PONSEL设备名称：在线悬浮固体分析仪型号规格：ACTEON 2050-SS20生产厂家：法国PONSEL原产地：法国 一、产品特色1、坚固、防水、安装灵活方便2、宽屏幕图形显示界面，带背光，显示试试测量值、历史曲线、校正数据、继电器状态等3、简洁直观的人机对话，轻松完成设置及校正，查看历史数据、事件4、4 - 20mA模拟信号输出，多路可程继电器（进口在线悬浮固体分析仪 法国PONSEL）二、应用场合 1、污水处理过程（进水、出水、曝气、污泥回流）2、工业污水处理排放（生化处理）3、地表水监测 三、技术参数 技术参数悬浮固体测量范围0.00 to 20.00g/L or 0.00 to 50.00g/L测量精度±0.2g/L[0.00-20.00g/L]/±0.2g/L[0.00-20.00g/L] and ±0.5g/L[20.00-50.00g/L]再现性0.01mg/L温度测量范围-10.00 to +50.00℃温度精度±0.1℃外壳材质ABS防护等级IP65环境使用温度-25℃ to +55℃尺寸（L×W×D）173×195×103mm/1.5Kg显示屏宽屏带背光图形显示界面240×128pixels（108×58mm）电源230/115 Vac 60Hz，可选24Vdc最大功耗10VA4 - 20mA输出2路独立模拟量输出（最大负载700ohms）：-测量范围内可程0.00to20.00g/L或者0.00to50.00g/L；-测量范围内可程-10.00℃to+50.00℃继电器输出2路独立继电器，可以用于2种不同模式下：可程报警模式（1 悬浮固体和1路温度阀值）、（2悬浮固体不同阀值）高低点控制模式（两个继电器用于两个阀值） 四、电极参数—MES 5电极MES 5电极的组成：（1）电极头部：电极本体为柱体带一圈环状的外壁，石英二极管被安置在墙体的两侧，中间形成5mm光路部分，光学部分收到充分保护。这样的结构可以吸收温度冲击波动，允许电极在高达100℃的场合下使用。（2）电极本体：主体包含信号处理电路，信号放大器等，并由结实牢固的外壁包裹，防护等级IP68.（3）电缆部分：屏蔽电缆线从电极体里面引出，并由特殊构件做到防水密封。-测量原理：光学吸收，红外线-脉冲频率：10Hz-发射波长：950mm（红外）-温度范围：-10 - +60℃-温度补偿：自动补偿，+5 - +30℃-材质：PVC 特殊玻璃，IP68-尺寸：长195.5mm-重量：1Kg-电缆：10m标配（最长到100m可选）

ZetaAcoustic ZA500 电位分析仪 美国MAS公司成立至今有30余年历史，专注于超声电声法原理颗粒度检测、 Zeta电位分析仪的研发生产。超声法原理测试样品的颗粒分布，是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波在样品中传播，由于不同大小粒径对声波的吸收、散射作用不同，导致声波衰减程度不同。根据颗粒大小和声波衰减之间的函数关系，得到颗粒的粒度ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪特点：样品无需稀释，测试快速、简易，需样极少且无需事前样品准备！坚固耐用，用途广泛。电声量测分析：水性… 非水性… 不透明… 粘性… 纳米颗粒… … 自动滴定很简单的IEP测量自主已混合、已抽打过气样品均匀性… 无颗粒沉降… … 非常适合实验室和工厂… 研发、质量控制和在线等地使用ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪介绍:ZA500，ZetaAcoustic，结合Zeta电位分析仪、声波、电声测量三合一很强，高的分辨率，免稀释 Zeta电位分析。MAS应用科学公司发明电动声波振幅（ESA）技术用于高百分比之固体 Zeta 表面测量。MAS将其独特的专业知识应用在 Zeta 电位和粒度分析仪器的设计，使其成为 MAS很强而有力的发明Zeta电位量测仪。ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪使用ZA500的好处：※ 藉由结合电动和声学，二合一的测量中，进行高分辨率/准确度 Zeta 测量。※ 自动粒度校正（通过声学测量）精确的 Zeta 测量（1纳米到30微米）。※ 自动/无人值守的电位滴定和容量滴定，用于简单和很快的 Iso-Electric Point（IEP）测定、表面活性剂吸附效应和其他动态测量。※ 在测量过程中，适用于自主已混合和/或已抽打气样品，无需等待颗粒沉降无不良影响。※ Zeta倾角传感器允许在样品池或独立容器中进行测量。※ 坚固耐用，适用于大多数样品，包括纳米颗粒、水性、非水性、高粘性、低至高百分比固体（0.1至60%体积）和 0-14 ph 等。※ 同时测量酸碱度、电导率和温度。※ 免费终身咨询 Matec 的任何材料胶体专家… 无论是有关 ZetaZcoustic… 或任何其他胶体科学主题。下图显示了氧化铝（左）和二氧化钛样品的自动、无人值守电位滴定示例。它们的IEP位置很容易由 ZetaAcoustic 仪器确定。电声法原理测试样品的Zeta电位，在针对高浓度，高粘度的样品，如电池浆料、混悬剂、电子印刷材料、乳剂、油墨等样品，电声超声法粒度电位分析仪可直接进行原样检测，无须进行样品稀释，即可得到更精确真实的结果，避免了因稀释带来的误差和影响。对研发，生产起到关键的指导意义。

ZetaFinder电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据ZetaFinder电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

固体玻尿酸（透明质酸钠）交联度分析仪玻尿酸，也称透明质酸，是一种存在于生物体内的高分子聚合物，广泛存在于结缔组织及细胞外基质中，遍布于关节腔、皮肤、眼玻璃体、软骨、脐带等组织，具有很强的黏弹性和吸湿性，是细胞外基质的主要成分，具有补水保湿、润滑等独特的作用，同时具有细胞修复的重要作用。玻尿酸不光有交联和非交联之分，还有单相和双相之分。1.单相只有一种状态——似凝胶般的半固态（全交联玻尿酸）；2.双相有两种状态——固态&液态混合（交联&非交联玻尿酸的混合）。“交联剂”如果运用的好，就可以帮我们实现“塑形”“注射周期延长”的优点，这就是玻尿酸中的优秀产品。如果过度交联或者工艺不到位，产生生物兼容性的问题，人体无法代谢，会造成更多的问题。1. 固体玻尿酸（透明质酸钠）的交联度 交联度是指玻尿酸中聚合物链之间的连接点数量，它直接影响玻尿酸的机械强度、稳定性和生物降解性。通过精确控制交联度，可以获得具有特定物理性能的玻尿酸，以满足不同的应用需求。2. 低场核磁共振技术（LF-NMR） 固体玻尿酸，也称透明质酸，高分子聚合物内的溶剂部分流动性最强，衰减最慢；非交联段具有一定的分子运动特性，衰减相对较慢；而交联段所受束缚程度大，分子运动特性小，衰减较快。相比传统的SE或CPMG序列采集信号的不同，采用MSE-CPMG新序列采集时，通过施加组合脉冲使得核磁共振信号在死时间范围内来回反转从而尽量维持原始的核磁共振信号强度，以此实现更加短的弛豫信息采集，确保测试准确性进一步提高。核磁共振变温分析仪基本参数产品型号：VTMR20-010V、VTMR20-010V-I磁体类型：永磁体磁场强度：0.5±0.05T样品控温范围：室温到130℃（标配）高配变温模块：-100℃到200℃（选配）成像功能（选配）产品特点2min完成测试，高灵敏度；在线、无损、快速的技术；无需试剂，可重复实验；橡胶、弹性体、无机材料分析。产品应用定量检测&bull 软硬段比例&bull 玻璃态转变温度&bull 活化能&bull 水分相态&bull 交联度过程控制&bull 相变过程性能研究&bull 颗粒-聚合物相容性&bull 颗粒表面改性程度&bull 材料吸附性能评价&bull 聚合物竞争性吸附&bull 亲疏水性表征&bull 分散性能应用案例

ODEON NTU810悬浮固体分析仪 法国PONSEL一、设备的型号及规格n 型 号：ODEON NTU810n 生产厂商：法国PONSEL　n 原产地：法国二、性能详细说明1、便携/实验室两用，外观精美、完全防水、耐用坚固2、可测试悬浮固体、浊度及温度等三种参数3、背光显示, 可在黑暗环境下读取数据 4、4英寸超大LCD屏显示，清晰、超大的字体，内容丰富，可显示pH/ORP,温度、电极/电池状态、当前大气压等；5、可存储100000组数据6、功能齐全,符合GLP要求7、功耗低，电池可连续工作2000小时8、自动温度补偿三、技术参数仪表ODEON NTU810测试原理90°散射光法悬浮固体浓度（量程/精度）0 – 4500 mg/l±1测试量程浊度（量程/精度）0- 50 NTU0 – 200 NTU0 – 1000 NTU0 – 4000 NTU±1测试量程量程选择自动/手动温度（量程/精度）-10.0 - 50.0℃ ±0.1℃ 温度传感器CTN读数/记录三种模式：手动、间隔、连续ID样品, 项目, 用户 : 字符表, 最多10个字, 20 个用户显示LCD 4’英寸带背光显示屏数据存储100000组接口1） USB2） RS 485接口3） 外接12V或充电器电源4节AA可充电电池或充电器运行时间2000小时；如选配野外测试箱，可连续在野外使用一个月防护等级IP 67 四、选型浊度分析仪成套标准配置：主机、便携箱、悬浮固体电极（3m、7m、15m或定制长度）、PC/ODEON连接线、软件光盘、充电器、4节可充电电池、中英文操作手册、保修卡。浊度分析仪NTU 810 SET1成套：含悬浮固体主机及3米NTU-3电极NC-POR-NTU-0003NTU 810 SET2成套：含悬浮固体主机及7米NTU-7电极NC-POR-NTU-0007NTU 810 SET3成套：含悬浮固体主机及15米NTU-15电极NC-POR-NTU-0015 （ODEON NTU810悬浮固体分析仪 法国PONSEL）

美国MAS Zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

公司简介 美国分散技术公司（DTI）成立于 1996 年，专注于非均相体系表征的科学仪器业务。 DTI 开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta 电位、流变学、固体含量、孔隙率，电导率，包括 CMP 浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。DTI 享有 7 项美国专利，并在 ISO 参与领导组织超声法粒度分布国际标准和电声法测量 Zeta 电位国际标准的制定。 产品特点 DT-310电声法Zeta电位分析仪 Zeta电位仪：许多知名的科学家把声学应用到胶体体系中，我们常提及的名字：斯托克斯，瑞利，麦克斯韦，亨利，廷德尔，雷诺，德拜...... 通过声学和电声学手段会提供关于颗粒表征的三个重要领域的信息：粒径分布，流变学和电动学。DT-310电声法Zeta电位分析仪DT系列仪器即是由专业从事声学研究的科学家组成的、位于美国新泽西州的Dispersion technology Co.研发生产的系列仪器，可准确测量原浓溶液的粒径、流变及电动学参数，如zeta电位、电导率等等。DT-310电声法Zeta电位分析仪 特点1、用于水相、有机相（极性或非极性溶剂）悬浮液和乳液表征2、采用多频电声测量技术由超声探头（Zeta Probe）直接测量3、Zeta电位测量范围：无限制；低表面电荷可低至0.1mV4、原浓溶液测试，最小样品量低至 2ml5、同时测量动态迁移率和双电层厚度（Debye Length， 德拜长度）6、通过Access数据库进行数据管理7、可选自动滴定系统（DT-310）

公司简介 美国分散技术公司（DTI）成立于 1996 年，专注于非均相体系表征的科学仪器业务。 DTI 开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta 电位、流变学、固体含量、孔隙率，包括 CMP 浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。DTI 享有 7 项美国专利，并在 ISO 参与领导组织超声法粒度分布国际标准和电声法测量 Zeta 电位国际标准的制定。 产品概述 2014 年，美国分散技术公司（DTI ）推出了新一代美国DT电声电振法zeta电位分析仪DT-330，既可在原浓液环境下测量固体颗粒的zeta电位，也可测量块状或粉状固体孔隙率和孔表面电位，仪器执行国家GB/T32671.1标准。 产品特点 只要固体样品能被某种液体浸润即可进行分析，美国DT电声电振法zeta电位分析仪DT-330能够用于几乎所有类型的多相系统，测量颗粒和多孔材料的zeta电位： ■ 固体颗粒的分散体 ■ 乳液 ■ 粒度达毫米级的多孔颗粒分散体 ■ 固体颗粒的沉积物 ■ 多孔颗粒的沉积物 ■ 块体，如地质岩心，瓷砖等多孔材料 ■ 膜 功能特点 ■ 采用电声学 CVI 测量技术测量原浓胶体体系的 Zeta 电位 ■ 通过高频电导率探头测量孔隙率（专利方法） ■ 采用电声电振法测量多孔材料块体的孔表面电位 ■ 通过电导率测定，可计算出双电层厚度、表面电荷密度和杜坎数 ■ 可适用于任何容器内液体的测定，无需特殊样品池 ■ 对于高达 50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量 ■ 可以直接用 Zeta 电位探头测量浆糊、凝胶、水泥等高粘度材料体系的 zeta 电位 技术参数 美国DT电声电振法zeta电位分析仪DT-330的技术参数Zeta电位测试范围无限制，低表面电荷可低至0.1mV,高精度（±0.1mV） 样品浓度0.1～50％（体积百分数）样品体积1-100ml（检测 Zeta 电位） pH 范围0.5～13.5 电导率范围0.0001～10 S/m 温度范围 50℃ 粘度20，000 厘泊 产品应用 美国分散技术公司（DTI）开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta 电位、流变学、固体含量、孔隙率，包括 CMP 浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。DTI 享有 7 项美国专利，并在 ISO 参与领导组织超声法粒度分布国际标准和电声法测量 Zeta 电位国际标准的制定。

美国MASZeta型电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

BeNano Zeta电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系Zeta电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。基本性能指标Zeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cm最小样品量0.75mL-1.0mLZeta测试粒度范围2nm-120μm系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● Zeta电位● Zeta电位分布检测技术● 电泳光散射● 相位分析光散射相关技术相关应用

MA-3000是一台专注于最高效的热分解技术、金汞齐及冷原子吸收光谱法检测的专业测汞仪，几乎所有的样品基质（包括固体、液体和气体）都可以很快的分析出结果，无需任何繁琐复杂的前处理过程。降低运行成本。该技术符合USEPA 7473，GB/T 31947-2015 ，GB/T 31948-2015，GB/T 31949-2015，GB/T37906-2019等方法。

美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

多孔材料表面Zeta电位分析仪原理简介：APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。多孔材料表面Zeta电位分析仪主要用途：1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆；2)陶瓷；3)油墨；4)乳剂稳定性；5)药品；6)生物胶体；7)荧光粉；8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑；9)催化剂；10)矿物；11)聚合物乳液；12)水和非水分散体系；技术参数：1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据；2)不需要稀释样品；3)不需要假设PSD形状；4)粒度范围：0.005-100微米；5)无电解质干涉；6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品；7)可测量纵向粘度，60%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱；8)具有自动滴定选项；9)专门技术：1-100MHz声衰减谱；10)溶剂：水/非水；11)样品固体%：0.1-60%体积比；12)样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用；

超声电声法Zeta电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据超声电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标