全反射光谱仪

天津能谱科技自主研发的ATRS-01万能衰减全反射附件样品无需前处理，简化了样品的制作过程，被广泛应用于各种固体和液体样品测试，如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体，具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试，同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用，更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试，样品基本不需要制备，直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。　　ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来，但同时在样品中有一个衰减波区域，这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行，部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来，透入到样品介质的光束，在样品的透光区，反射光能几乎等于入射光能，而在样品的吸收区，则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的，其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱，一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外，还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关，一般来说，穿透越深，吸收越强。

SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词：反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的，能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度＜100mm样品通光口径（透射测量）直径10mm调节高度~150mm（其他长度可以定制）准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球（另外选配）用途 专为透反射光纤测量而设计，能有效固定光纤，防止因抖动等人为因素影响检测效果

SA-Stage-C 单点反射支架SA-Stage-C单点反射测量支架是一个光纤探头支架，用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。这一反射光纤探头支架适于固定直径达6.35mm的反射光纤探头和其它取样设备，可以在一个不锈钢支柱上上下滑行，调节高度可达80mm。规格 SA-Stage-C尺寸：Φ 150mm×厚10mm高度：垂直可调高度80mm材质：铝合金表面处理：亚光发黑适配产品： QR系列反射光纤用途：专为反射光纤测量而设计，能有效固定光纤探头，防止因抖动等人为因素影响检测效果。

用于反射光谱的参考反光镜订货信息：产品描述部件编号用于反射光谱的参考反光镜N1010504在对珀金埃尔默和非珀金埃尔默的反射附件进行镜面反射校准时，需要使用这种反光镜。这种带有氟化镁涂层的铝制反光镜是一种次级标准品并按照GLP规定在250-2500 nm的波长范围内进行了校准；本品也包括关于进行%RC反射校正所需的便捷转移介质的光谱数据。

极端环境衰减全反射附件是全球唯一的为极端环境使用而设计制造的ATR附件，它可以耐受250摄氏度的高温和800帕斯卡高压的测量环境并兼具方便更换清洗ATR晶体的功能。极端环境衰减全反射附件的特点让广大用户随意更换ATR晶体而不必购买安装支架。极端环境衰减全反射附件特点采用独一无二的45度ZnSe单内反射元件，与另外两个光学镜片底座组合而用，用于光束进入样品和返回仪器探测器，ATR附件这种设计最大程度地减少光束能量损失，平均透过率可达百分之八十五以上。ATR附件采用了Kalrez垫片密封，从根本上消除了环氧树脂密封带来的问题。垫片不会与样品发生任何反应，从而避免了光谱曲线出现假峰或能量消退等问题。采用双控制器配置，方便抽样的自主管理和监测。可选方案：1.不带加热和加压功能的液体流动盒（使用平面顶板或液体流经）；2.加热范围为0-200摄氏度的液体盒；3.非加热液体流动盒；4.Ge或ZnS晶体用于衰减全反射,ATR附件,衰减全反射附件。极端环境衰减全反射附件可选FTIR光谱仪反射组件（PartNo. #9000 ）ATR附件 该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有附件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR附件配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统. 组合型HATR Part No #9110 衰减全反射附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 衰减全反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

多重衰减全反射附件是 一种高效率的红外傅立叶变换光谱仪多重ATR附件，不需要频繁准直校正，特别适合日常使用。多重衰减全反射附件包括组合式平/槽顶板（每个都配有80x10x4mm 45度ZnSe 梯形ATR元件）、平板夹具、挥发物盖子、 清除剂组件。多重衰减全反射附件特点顶板非常容易取掉，因而非常方便快速清洗 以及与其他部件交换使用。多重ATR附件顶板采用针式固定方法，不仅保证重复操作精度，而且确保使用的方便性和分析精度。还有多种选项，ATR衰减全反射材料就有ZnS,Ge,Si,KRS-5,AMTIR和CdTe等选择，入射角有30，45和60度等选择。配备了100ml和500ml流经顶板和较高温度环境使用的配件包。可选: FTIR光谱仪反射组件（PartNo. #9000 ）多重衰减全反射附件该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统. 组合型HATR Part No #9110 多重ATR附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 多重衰减全反射附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 多重ATR附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

测量反射光的比色皿 ①外形尺寸：Φ34×25 ，容积：12.0ml； ②外形尺寸：Φ50×30，容积：32.0ml； ③外形尺寸：Φ60×40.5 ，容积：73.0ml。

测量反射光比色皿?

R3 反射光谱测量系统 多角度反射率光谱测量 反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 复享科技为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享科技R3反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。　 更多优惠信息： http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=R3应用案例典型光谱测量系统示意图产品特点1、丰富的模块化附件方便用户自由组合配置。2、方便用户标准化测试方案，优化实验方案3、通过固定光纤，探头，光源和光谱仪减少用户占用资源。更多信息访问：http://www.ideaoptics.com/.clear{ clear:both } .right{ width:717px } .shang{ margin-bottom:20px font-size:12px } .shang tr td{ padding:10px 0px line-height:24px } a:link { text-decoration: none } a:visited { text-decoration: none } a:hover { text-decoration: none } a:active { text-decoration: none } #nav li{ font-size:12px } /*New Nav Style*/ #nav_wrap { width:710px margin:20px auto } #nav{ background:url(images/nav_bg.gif) repeat-x height:39px position:relative width:710px margin:0px auto } #nav .l{ background:url(images/navnbg.gif) no-repeat 0px 0px width:2px float:left} #nav .r{ background:url(images/navnbg.gif) no-repeat -4px 0px width:2px float:right} #nav .bt_qnav { float:right } #nav .bt_qnav a{ width:31px line-height:39px display:block padding:9px 2px 0 0 } #nav .c{ float:left margin:0 padding:0} #nav li { float:left list-style:none } #nav li .v a{ width:100px line-height:33px text-align:center display:block color:#FFF background:url(images/navnbg.gif) no-repeat -87px 6px font-family:"Microsoft Yahei" } #nav li .v a:hover,#nav li .v .sele{background:url(images/navnbg.gif) no-repeat 0px -52px color:#116406 line-height:42px font-size:14px} #nav .kind_menu { line-height:24px top:39px position:absolute color:#656565 border:1px solid #cccccc width:708px left:0px font-size:12px } #nav .kind_menu tr td { padding:0px 10px font-size:12px } #nav .kind_menu table{color:#656565 margin:20px auto display:block font-family:"宋体" left:0px } #nav .kind_menu span { font-size:10px color:#cecece line-height:30px *line-height:26px float:left } #tmenu{ margin:20px } .bt{ color:#0099FF font-size:14px font-weight:bold } .yi,.er,.san,.si,.wu,.liu{ background-color:#e9f4fe padding:0px 10px height:80px margin-bottom:15px line-height:20px } .clear{ clear:both } .xbt{ background-color:#ecf6ff padding:5px 10px margin-bottom:15px } .xbt a{font-size:14px font-weight:bold color:#333333 width:80px border-right:1px solid #cccccc text-align:center float:left } .xbt a:hover{color:#0066FF } .cpgs,.xlxh,.yyaj,.cptd,.gjjs,.cpxn{ display:block border-bottom:1px dashed #cccccc font-size:12px font-weight:bold color:#FF6600 padding:10px margin-bottom:10px }

P-TIP 光纤探头 更加丰富的反射、透射、固体荧光、液体荧光、吸收光纤探头 P-TIP是复享仪器的光纤探头系列产品，涵盖了反射、透射、固体荧光、液体荧光和吸收等多种光纤探头。 对于光谱测量，选择合适的光纤探头和选择合适的光谱仪、光源以及光纤同等重要。由于光纤探头的复杂性，我们提供各种光纤探头的试用。在您选择好合适的产品再行购买。欢迎致电复享仪器400免费电话。 P-TIP-0045漫反射荧光光谱探头 在 P-TIP-0045漫反射光纤探头中，我们安装了两片高品质的滤光片，一片安装于激发光路，用于消除激发光源除主峰外的杂峰，另一片安装于收集光路，用 于滤除荧光辐射光谱中的激发光成分。因此，P-TIP-0045探头除了可以测量漫反射光谱，还可以检测固体表面的荧光光谱。更多信息访问：http://wwww.ideaoptics.com

Tydex公司专业订制生产THz光学镜片，可以提供太赫兹专用离轴抛物镜、滤波片、偏振片、窗片、透镜、棱镜、波片、分束片、反射镜和菲涅尔透镜等，同时还提供太赫兹衰减器、太赫兹宽带相位变换器。 太赫兹棱镜 THz ATR Prisms我们可以提供以下规格的棱镜：- 传统（直角）棱镜。这类产品主要用于光学设计- 衰减全反射（ATR）棱镜。这类棱镜用于分析那些难以用常规透射方法来分析的材料。 由于特殊材料菲涅尔反射和对光的强烈吸收，用吸收光谱来分析此类材料几乎是不可能的。对于这种情况，研究这类吸收材料最适用的方法就是衰减全反射。这个方法基于此效应效应：光在光密介质n0和和吸收介质（有较小的折射率n）界面，以大于全反射临界角θc=arcsin(n/n0)入射时，反射效率会因为倏逝波与被测材料表面等离子体相耦合而衰减。此反射效率依赖于入射角、偏振方向和被测材料的折射率。正确的选择棱镜参数（尤其是棱镜角度）会获得好的ATR光谱。在THz光谱内使用衰减全内反射方法可以研究材料在102-104cm-1(1um-100um:没引入2π)光谱范围内的吸收效率。常规参数材料高阻硅 HRSi尺寸公差，mm±0.2角度公差，mm±30表面平整度，scr（斑）/dig（坑）80/50表面精确度，mm±0.01相对于理想平面抛光面的表面平整度，Ra2.5

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

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IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

Tydex公司专业订制生产THz光学镜片，可以提供太赫兹专用离轴抛物镜、滤波片、偏振片、窗片、透镜、棱镜、波片、分束片、反射镜和菲涅尔透镜等，同时还提供太赫兹衰减器、太赫兹宽带相位变换器。 太赫兹棱镜THz ATR PrismsDownload THz Prisms Datasheet (PDF, 33 KB)我们可以提供以下规格的棱镜：- 传统（直角）棱镜。这类产品主要用于光学设计- 衰减全反射（ATR）棱镜。这类棱镜用于分析那些难以用常规透射方法来分析的材料。 由于特殊材料菲涅尔反射和对光的强烈吸收，用吸收光谱来分析此类材料几乎是不可能的。对于这种情况，研究这类吸收材料最适用的方法就是衰减全反射。这个方法基于此效应效应：光在光密介质n0和和吸收介质（有较小的折射率n）界面，以大于全反射临界角θc=arcsin(n/n0)入射时，反射效率会因为倏逝波与被测材料表面等离子体相耦合而衰减。此反射效率依赖于入射角、偏振方向和被测材料的折射率。正确的选择棱镜参数（尤其是棱镜角度）会获得好的ATR光谱。在THz光谱内使用衰减全内反射方法可以研究材料在102-104cm-1(1um-100um:没引入2π)光谱范围内的吸收效率。常规参数 材料高阻硅 HRSi尺寸公差，mm±0.2角度公差，mm±30表面平整度，scr（斑）/dig（坑）80/50表面精确度，mm±0.01相对于理想平面抛光面的表面平整度，Ra2.5 Prisms are manufactured upon request. For price quotation and delivery please fill in our Request form.The finished parts of different dimensions are available from stock and supplied within a week.

一种可以改善您的分析应用的并可扩展的漫反射附件。 Selector 漫反射附件采用优化的偏轴光路，可以选择性地收集漫反射信号，而且漫反射信号最大化，而镜反射信号最小化。 为了便于样品研究，提供各种不同的样品杯，包括一个直径为11mm的样品杯、一个直径为4mm的微量样品杯以及一个斜杯。 如果需要，可以使用斜杯来收集所有的信号（包括漫反射和镜反射信号）。 另外，还有直径为12mm的摩擦垫，样品与摩擦垫摩擦，样品就分散在摩擦垫上，然后将摩擦垫放在样品架上，并放在Selector漫反射附件采样区域。 Selector根据光谱仪光束方向的不同，有不同光束方向相匹配的设计，并安装在相应的底板上。明确了要配套的光谱仪，Selector底板会随Selector漫反射附件一起提供。 The Environmental Chamber原位样池则使Selector漫反射部件得到更进一步的扩展。 特 点 具有漫反射和全反射功能 最小的校准工作量 简单的样品处理 备有大量杯、微量杯及斜杯 Diabraze摩擦垫上样 应 用 粉末样品 难处理的固体样品 可分散到KBr中的液体样品 适合光谱仪品牌型号 Analect FX6200, RFX40/65 Biorad FTS7,40,60,65,100,135,155,165,175,185,Excalibur Bomem M100 series (110,120) Bomem MB100 series (155,157) Bruker IFS25, 45, 55, 48, 66, 85, 88, Vector 22 Bruker IFS113 Jasco (All Jasco models) Jeol (All Jeol models) Mattson Alpha, Polaris, Cygnus, Sirius Mattson Galaxy Series 1000, 1020 (As Unicam Analytical (Philips) 9600) Mattson Galaxy Series 2000, 3000, 4000, 5000, 6000, 7000, Genesis Series, RS, Infinity Mattson 8000(Old) (3&rdquo beam height) Mattson 8000(New) (3.5&rdquo beam height) Midac (All Midac models) Nicolet 500, 700, 710, 740, 800, 5PC, 5SXC, Magna, Protege, Avatar, Nexus Nicolet 6000, 60DX, 60SX, 60SXB, 170SX Nicolet 205 Nicolet 5DX, 5SX, 1MX, 5MX,10DX Nicolet Impact 400 Perkin Elmer PE1700, PE1800 Perkin Elmer PE1700 with Shuttle Perkin Elmer PE2000, Spectrum 2000, GX Perkin Elmer PE2000, Spectrum 2000, GX Perkin Elmer PE1600 External Bench Perkin Elmer PE Spectrum One Shimadzu 8000, 8100, 8200, 8300, 8400, 8500, Prestige 21 Unicam Analytical (Philips) 9600 (As Mattson 1000 series) Unicam Analytical (Philips) 9800 (As Nicolet 500 series etc) Any Other Spectrometers 详细资料请联系我公司！

漫反射光纤探头产品简介：德国art photonics公司提供多种特殊设计荧光探头，采用分叉或多通道分叉光纤束结构，具有“照明”管脚通道，将光从光源照射到样品，“收集”管脚，把反射光收集进分光计，光谱仪。区别于传统探头“6环绕1”的光纤束结构，art photonics探头采用“7环绕1”和“9环绕1”的设计。因为采用结构，收集反射信号和背散射信号要比传统的高得多。对于特殊的应用场景，可提供7 + 12设计:7根随机照明光纤和12根随机收集光纤。所有荧光探头的发光光纤都采用金属涂层光纤，使得发光光纤之间的串音干扰会被抑制，信噪比远高于采用聚合物涂层荧光探针。 荧光光纤探针可有两根、三根或四根光纤等光纤分叉管脚设计，采用圆对圆(R/R)或圆对线(R/L)结构。产品应用：实时反应监控 / 过程分析技术(PAT) / 结晶监控与筛选 / 特性分析 / 生物制药 / 生物燃料开发与生产产品特点：* 7+1, 9+1设计；* 金属涂层光纤抑制光纤相互间串音干扰；* 兼容所有光谱仪，分光计； * 探头直径尺寸薄至0.5mm；* 可定制各种探头, 光纤束结构产品示意图：产品技术参数：9+1 结构探头类型（9+1）100/50(9+1) 200/100探头光纤束9根环绕照明光纤-50/55/70P1根铝涂层收集光纤-100/110/140ALNA = 0.22 ± 0.029根环绕照明光纤-100/110/125P1根铝涂层收集光纤-200/220/270ALNA = 0.22 ± 0.02探头直径0.5—0.9 mm0.9—1.2 mm探头长度2.5-100 mm探头材料不锈钢、钛+PEEK组成保护套金属涂层PVC+Kevlar增强管、?3.2毫米连接头SMA 905(可提供FC/PC或ST)总长：两根腿长2m(可达20m)0.5m分叉Y型分叉，1.5m长度工作温度20℃至80℃(采用PEEK套管:-70℃-200℃)弯曲半径120mm长时间压力10bar（可定制）

可变角原位25次衰减全反射ATRFT-IR或色散仪高灵敏度ATR检测特点 入射光30°-60°可调 25次反射 适用于FT-IR或色散仪 样品架配两个引脚 标准 3” x 2” 样品架盘 多种晶体可选 可互换样品架(固体，液体，凝胶)25 次反射 ATR可变入射光25次反射ATR (P/N GS11000)是一款竖直方向的ATR晶体附件，入射光在30度-60度快速简单可调。通过调整样品架及晶体装置到适宜的位置，架体后方保持与刻度板设定角度相符。标准晶体架(P/N GS11001)用于固体样品，可选配液体架(P/N GS11003)及凝胶架(P/N GS11002)。为测量25次反射需保证样品覆盖梯形晶体正反两面。KRS-5是标配的ATR附件晶体，可选配一系列其他晶体如：ZnSe, Ge 及Si 以扩展样品操作能力及附件研究范围。四块反射镜通过调整角度及倾斜度反射、收集晶体的红外光。附件配备标准的3” x 2”架盘适配于市面上仪器的样品室，另外底座一角配备了支撑脚。支撑脚高度可调，保证附件在样品室内的平稳。支撑脚可通过翼形螺母锁住应用? 固体? 液体? 凝胶? 涂层及薄膜多深度研究订购信息GS11000 入射光可调25次反射ATR附件含固体架及45度角KRS-5 晶体可选配件GS11001 25次反射ATR固体架GS11002 25次反射ATR凝胶架GS11003 25次反射ATR液体架耗材GS11004 KRS-5 晶体 (45°) GS11006 Ge 晶体(45°)GS11009 Si 晶体(45°)GS11014 ZnSe 晶体(45°)GS11008 PTFE 垫圈液体架用（1大、1小，5套）

ATR附件基于光内反射原理而设计。从光源发出的红外光经过折射率大的晶体再投射到折射率小的试样表面上，当入射角大于临界角时，入射光线就会产生全反射。事实上红外光并不是全部被反射回来，而是穿透到试样表面内一定深度后再返回表面。在该过程中，试样在入射光频率区域内有选择吸收，反射光强度发生减弱，产生与透射吸收相类似的谱图，从而获得样品表层化学成份的结构信息。原理示意图

ATR附件基于光内反射原理而设计。从光源发出的红外光经过折射率大的晶体再投射到折射率小的试样表面上，当入射角大于临界角时，入射光线就会产生全反射。事实上红外光并不是全部被反射回来，而是穿透到试样表面内一定深度后再返回表面。在该过程中，试样在入射光频率区域内有选择吸收，反射光强度发生减弱，产生与透射吸收相类似的谱图，从而获得样品表层化学成份的结构信息。原理示意图

衰减全反射探头筱晓光子供应衰减全反射探头，基于硫化物(CIR，1.5-6.0μm)和银化物(PIR，4.0-18.0μm)光纤开发而成。该系列衰减全反射探头具有如下特点：近红外/中红外透过率高、流动液体测量无盲区、恶劣工业环境工作稳定、使用所有光谱仪/自动化过程控制接口。衰减全反射探头应用广泛，包括：实时在线监控、过程分析技术、远程聚合控制、结晶过程监测。ATR-ProbeSpecificationProbe typeDiamond ATRZnSe ATRCubic Zirconium ATR Transmission range5.2-17μm+3.2-4.5μm3.2-17μm1.5-6.5μm600-47500px-1+2300-77500px-1600-77500px-11550-166250px-1Fiber typePIR-900/1000(AgCl:AgBr)PIR-900/1000(AgCl:AgBr)CIR-500/550(As-S-glass)Temperature range-150°C/+140°C-150°C/+140°C-150°C/+90°CPressure200Bar10Bar100BarTotal length1.5m, options: 1 to 5mShaft length230mm, options: 100 to 500mmShaft diameter12mm, 6.3mm, options: 3mmShaft materialHastelloy C22Length of legs300mm, options: 100 to 500mmProtective tube materialLiquid tight SS-conduit, KOPEX-tubeMinimal bending radiu130mmInput/output connectorLong SMA, options: any other typeCompatible process interfaceCeramat-FOS or SensoGate-FOS

可变角原位25次衰减全反射ATRFT-IR或色散仪高灵敏度ATR检测特点 入射光30°-60°可调 25次反射 适用于FT-IR或色散仪 样品架配两个引脚 标准 3” x 2” 样品架盘 多种晶体可选 可互换样品架(固体，液体，凝胶)25 次反射 ATR可变入射光25次反射ATR (P/N GS11000)是一款竖直方向的ATR晶体附件，入射光在30度-60度快速简单可调。通过调整样品架及晶体装置到适宜的位置，架体后方保持与刻度板设定角度相符。标准晶体架(P/N GS11001)用于固体样品，可选配液体架(P/N GS11003)及凝胶架(P/N GS11002)。为测量25次反射需保证样品覆盖梯形晶体正反两面。 KRS-5是标配的ATR附件晶体，可选配一系列其他晶体如：ZnSe, Ge 及Si 以扩展样品操作能力及附件研究范围。四块反射镜通过调整角度及倾斜度反射、收集晶体的红外光。附件配备标准的3” x 2”架盘适配于市面上仪器的样品室，另外底座一角配备了支撑脚。支撑脚高度可调，保证附件在样品室内的平稳。支撑脚可通过翼形螺母锁住应用? 固体? 液体? 凝胶? 涂层及薄膜多深度研究订购信息 GS11000 入射光可调25次反射ATR附件含固体架及45度角KRS-5 晶体可选配件GS11001 25次反射ATR固体架GS11002 25次反射ATR凝胶架GS11003 25次反射ATR液体架耗材 GS11004 KRS-5 晶体 (45°)GS11006 Ge 晶体(45°)GS11009 Si 晶体(45°)GS11014 ZnSe 晶体(45°)GS11008 PTFE 垫圈液体架用（1大、1小，5套）

单次反射ATR附件是一个高价值低价格预准直矫正的单次衰减全反射附件，与较为高价的单次反射附件相比，该单次反射ATR附件的灵敏度足够定量和定性分析。单次衰减全反射附件特点采用独特的45度ZnSe内部反射元件结合两个镜片用于光束导入到样品中并返回到仪器探测器中。这种设计最大可能地减少能量损失，透过的光能量可达百分之八十五。单次反射ATR附件还具有其它很多特色，它非常方便地从安装机构上装卸、清洗和更换ATR晶体尽管这些安装架都有顶板。这种方便性就可以使得其与其他ATR晶体互换而不需要购买完整的顶盖板.单次反射ATR附件可选FTIR光谱仪反射组件 （PartNo. #9000 ）单次衰减全反射附件该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.组合型HATR Part No #9110 单次衰减全反射附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具. 我们推出的MIRacle 组合型水平单次反射ATR附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 单次衰减全反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

透射反射探头是最新的单程透射探头和双程透射反射光纤探头，与任何光谱仪和光度计兼容使用，透射反射探头用于工业和实验室的反应监测。透射反射探头功能应用 可以在从紫外到中红外光谱范围内使用， 用于液体中的远距离透射光谱。灵活强大，可应用在恶劣环境下的工业应用，如反应监测，PAT，结晶生成和筛选， 用于生物制药分析和生物燃料的开发和生产。

30°镜面反射附件特点 30°固定入射角 便捷的水平样品台(20.8mm 小孔总直径) 适用于粉末样品 适用于色散光及高光强FT-IR 最小对齐网格30°镜面反射附件镜面反射是通过检测光滑或平坦样品表面类似镜面的反射光的一种无损分析技术。当入射光和反射光角度相同时认为是镜面反射。反射光强度和入射光角度、样品折射率、表面粗糙程度及样品吸光能力相关。固定角镜面反射附件P/N GS19820提供固定的30°角射向固体表面的入射光以得到任何平坦样品表面上的光谱信息。(此方法不能用于液体或凝胶的分析)固体样品由附件顶部的小孔加入。入射光由一片固定的镜片反射到样品表面，通过镜面反射到镜片上，最后到达检测器。使用参比镜片(推荐)收集参比光谱随后得到样品的光谱。我们提供两种不同直径的小孔塞(5/10mm)减小样品表面的研究面积。样品在小孔塞及样品室大小的限制下保持平整，适宜集中研究。应用： 表面涂层分析(光学高分子材料) 缺陷及杂质局部分析 易碎样品订购信息GS19820 30°角镜面反射附件包含以下配件：光学元件，镜面反射镜片，样品小孔塞(直径5/10mm)

描述JSIR340-4型经济实惠的红外辐射源专为NDIR气体分析和其他红外测量应用而优化，如直接红外光谱法、衰减全反射光谱法或光声光谱法。基于CMOS的红外辐射源的膜片可达到高达800°C的温度。它能够为工业应用提供长期稳定的辐射输出，用于在环境温度为-20至85°C之间控制和监测过程气体及相关气体。带有标准TO封装和盖子的包装版本适合测量距离长达2厘米。我们红外辐射源中使用的MEMS芯片包含一个多层热板膜片，内含一个高温稳定的金属CMOSI层。发射器芯片的有效面积为2.2 x 2.2平方毫米，基于硅衬底并采用背刻蚀膜技术。所有薄膜工艺均采用标准MEMS工艺和CMOS兼容材料完成。活性C-MOSI电阻层免受老化和环境影响。应用NDIR气体检测衰减全反射光谱法直接红外光谱法光声光谱法 目标气体二氧化碳、一氧化碳、一氧化二氮、氨气、二氧化硫、六氟化硫以及成熟气体如乙烯(C2H4)和乙炔(C2H2)特点由于芯片膜片的低热质量，时间常数为11毫秒高膜片温度高达770°C，有效芯片面积为2.2 x 2.2平方毫米长期稳定的芯片结构光谱带宽从2到15微米CMOSI芯片技术技术参数技术参数值单位光谱输出范围2 ... 15 μm 有效面积 2.2 x 2.2mm² 耐热1 18 ± 5 Ω 温度系数2 1100ppm/K 时间常数0-63% 11ms 标称功耗3 650mW 工作电压4 3.4mV工作电流4 190mA 推荐驱动模式Power mode 活动区域温度1,5,7 540 ± 30°C 外壳TO39预计使用寿命6,8 5000 h at 770 °C 100000 h at 540 °C最大输入功率1200mW 外壳最高温度8185 °C 活动区域最高温度770°C 1. 在额定功率下2. 25°C - 770°C3. 在通电状态下4. 带有18Ω热电阻5. 环境温度为25°C时6. 连续模式下，平均无故障时间（膜片破裂）为63%，计算值基于阿伦尼乌斯方程7. 通过红外相机测量（0.7 - 1.1微米），热点温度降低10%的平均温度分布8. 包括环境温度 典型操作特性 电气示意图 电路等效电路图机械制图底部截面图

衰减全反射棱镜ATR Prism屹持光电提供各种衰减全反射棱镜ATR Prism元件，用于全内反射测量。通常，当样品难以用透射分析时，使用反射光谱法。顶置ATR系统适用于凝胶、薄膜和细粉分析。使用不同的顶板ATR系统分析难以处理的易挥发或敏感样品。它们还用于提供温度敏感分析和聚合物膜迁移，以及表面取向和反应动力学研究。单反射ATR系统使用高吸收和小样本进行静态或流动分析。当红外辐射进入具有较高折射率和良好透射率的材料时，发生内部反射。如果入射角超过临界角（等式1），则与晶体紧密接触的样品吸收能量。 全内反射条件：其中n 1，n 2 - 两种介质的折射率。如果系统使用多个反射附件，则仪器的光束反复反射，并且每次反射都会吸收一些能量。当光束离开晶体并到达检测器时，它包含来自样品的光谱数据。结果可以记录吸收光谱。以下因素会影响ATR频谱：入射光波长 样品和ATR晶体的折射率 瞄准角 晶体与样品接触的效率。ATR晶体由足够硬的材料制成，具有高折射率，晶体配置为允许内部反射。使样品与ATR晶体保持接触，并记录光谱作为晶体透射曲线和样品吸收曲线的叠加。图1 衰减全反射棱镜ATR Prism光传播。屹持光电提供几种几何形状的定制ATR组件：梯形、平行四边形、杆和半球。使用各种材料：ZnSe、Ge、Si和蓝宝石。所有材料和产品均符合严格的控制标准，包括光谱特性和一般性能要求以及规格控制。Download ATR Elements Datasheet (PDF, 107 KB)

仪器主要指标及成套性：测量紫外反射光谱 用途：用于精密分析仪器附件

仪器主要指标及成套性：测量红外反射光谱（光栅红外用） 用途：用于精密分析仪器附件