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个人收集的 系统可靠性分析技术失效模式和效应分析(FMEA)的一些资料,大家看看有用不?[~158053~]
[align=center]手持式X荧光分析仪在贵金属检测中的可靠性分析[/align][align=center] 西安国联质量检测技术股份有限公司[/align][align=center][/align][align=center]材料室:鲁飞彪[/align]随着经济的发展,执法部门在市场监督抽查的过程中,对贵金属领域的抽样检测需求迅速增加。但由于贵金属价值较高,直接购样检测或者采取检毕退样的方式都可能会造成一些风险,采用手持式X荧光分析仪能够在现场快速对样品进行检测,但检测结果和真值存在一定偏差,本文通过对一批样品的检测比对来阐述手持式X射线荧光分析仪的可靠性。一、 检测仪器[align=center][img=,277,334]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807010549148853_7574_2904018_3.png!w277x334.jpg[/img][/align]手持式X射线荧光分析仪贵金属检测仪电感耦合等离子体光谱仪(ICP)二、检测样品[align=center][img=,441,151]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807010549584743_5894_2904018_3.png!w441x151.jpg[/img][/align]三、检测方法1、快检法(布鲁克手持式X射线荧光分析仪)2、首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法3、贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱四、检测过程 1、采用布鲁克手持式X射线荧光分析仪对纯银饰品检测结果如下表 表1 手持式X射线荧光分析仪对纯银饰品检测结果[table][tr][td]编号[/td][td]1[/td][td]2[/td][td]3[/td][td]4[/td][td]5[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]98.63[/td][td]97.65[/td][td]98.44[/td][td]97.56[/td][td]99.43[/td][/tr][tr][td]编号[/td][td]6[/td][td]7[/td][td]8[/td][td]9[/td][td]10[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]98.55[/td][td]98.42[/td][td]96.40[/td][td]96.42[/td][td]96.48[/td][/tr][/table]表2手持式X射线荧光分析仪对铂金戒指(pt950)品检测结果[table][tr][td]编号[/td][td]1[/td][td]2[/td][td]3[/td][td]4[/td][td]5[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]92.05[/td][td]91.04[/td][td]90.88[/td][td]93.04[/td][td]94.05[/td][/tr][tr][td]编号[/td][td]6[/td][td]7[/td][td]8[/td][td]9[/td][td]10[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]92.03[/td][td]92.45[/td][td]92.45[/td][td]93.05[/td][td]92.04[/td][/tr][/table] 表3 手持式X射线荧光分析仪对千足金检测结果[table][tr][td]编号[/td][td]1[/td][td]2[/td][td]3[/td][td]4[/td][td]5[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]98.63[/td][td]97.65[/td][td]98.44[/td][td]97.56[/td][td]99.43[/td][/tr][tr][td]编号[/td][td]6[/td][td]7[/td][td]8[/td][td]9[/td][td]10[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]98.55[/td][td]98.42[/td][td]96.40[/td][td]96.42[/td][td]96.48[/td][/tr][/table]2、采用ICP光谱仪依据贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 GB/T 21198.5-2007 对其中一个饰品消解后测试杂质元素铂、钯、金、铋、镉、钴、铜、铁、铱、镍、铅、铑、钌、锑、锡、碲、钛和锌,然后进行差减法计算出银含量为99.2%3、纯银饰品送至贵金属检测中心,按照首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2013,结果全部显示为“足银”。4、铂金戒指送至贵金属检测中心,按照首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2013,结果全部显示为符合Pt950。5、黄金吊坠送至贵金属检测中心,按照首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2013,结果显示为千足金通过分析比对,纯银饰品用手持式X射线荧光分析仪检测最低值为96.40%,pt950戒指检测最低值为90.88%,千足金检测最低值为96.42%。由此基本可以看出,手持式X射线荧光分析仪在贵金属检测方面存在一些误差,且检测数据基本偏低,误差范围在5%以内,因此手持式X射线荧光分析仪可以用于贵金属的现场抽样快速检测,检测结论在5%以内的基本都可以按照符合要求快速处理。
[em0703] [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=66782]培训报名表[/url]可靠性专题讲座邀请函课程目的:本课程旨在针对信息电子产品制造业质量工作和技术人员培训的需求,通过培训将:(1)、掌握可靠性基本理论和知识,了解电子产品质量/可靠性管理的基本方法;(2)、了解失效分析程序和方法;(3)、掌握筛选/老化、环境试验和可靠性评价方法。课程对象:从事信息电子产品制造业的管理、生产、使用、供销等工作的管理和技术人员课程提纲:第一讲 先进的失效分析技术:可靠性基础、电子元件的失效模式和失效机理、电子器件的失效模式和失效机理、失效分析方法与程序;第二讲 老化、环境及可靠性试验:可靠性试验、筛选与老化试验、环境试验。培训费用:2000元/人(二天,含培训费、证书费、午餐费) 每单位参加人数2人以上可享有折扣 培训地点: 广州培训时间: 2007年11月29日、30日(二天)培训证书: 中国赛宝实验室可靠性研究分析中心培训证书讲师简介:冯敬东中国赛宝实验室(信产部电子第五研究所)可靠性分析中心高级工程师,在信息产业部电子第五研究所元器件可靠性分析中心从事可靠性研究工作25年,对可靠性环境试验方法和可靠性环境试验设备有较深入的了解,期间“硅压力传感器综合评价技术研究”获国防科学技术工业委员会“国防科学技术二等奖”、“使用状态中元器件失效预测技术”获电子工业部“科学技术进步三等奖”。曾多次为培训机构和整机厂所开设“老化、筛选和环境试验”。获得了非常好的效果和极高的评价。李少平 高级工程师,我国电子产品失效分析领域权威专家。1984年毕业电中国电子科技大学固体器件专业,一直在信息产业部电子第五研究所从事电子产品可靠性技术研究工作,曾经主持、参加众多军用电子元器件可靠性研究课题,多次获得各级科研成果奖项。近10年来主要从事电子产品失效分析,完成大量元器件失效分析任务,具有丰富的分析经验。现在是电子产品失效分析项目的项目负责人,继续承担失效分析任务,并组织失效分析新技术的研究。还为华为、中兴、海尔、美的、厦华、飞通、广东核电等上百家企业授课,学员累计数千人。课时安排:日期时间授课内容讲师11月29日9:00-12:00老化、环境及可靠性试验冯敬东14:00-17:0011月30日8:30-12:00先进的失效分析技术李少平14:00-16:30联系方式:联系人:熊娥英 电话:020-87236986-212 传真:020-87237185网址:www.rac.ceprei.com EMAIL: xiongey@ceprei.com报名回执单位名称 专业领域 参加课程 联系人 工作部门/职位 Email 联系电话 传真 参加人数 备注 说明: 1、请详细填写报名表格,发传真或Email给我们。2、收到您的报名表后,本中心客户代表会致电给您进一步确认培训细则。3、缴费方式:A. 可以以银行转帐方式支付,汇款请注明“培训费”B. 可以以现金或支票方式支付收款单位汇款(汇票):信息产业部电子第五研究所支 票 :信息产业部电子第五研究所开户银行民生银行广州分行越华支行银行帐号873770222401010003424、食宿自理。(需要在广州住宿的客户,我室可以帮忙联系酒店:赛宝公寓:020-61074800 标准双人间:120元/天。)