能谱原理

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能谱原理相关的仪器

  • X射线能谱仪 400-801-8117
    仪器简介:这是目前国际上最新一代的能谱仪。具有在一个工作界面上完成全部能谱分析的各项功能。全自动可介入的定性定量分析,二次图像,背反射图像采集,存储和调用,任意数量的元素面分布,多元素线扫描,自动多点分析。以及最先进的全谱图像和相(化合物)自动提取和分布图技术。可适用于各种扫描电镜和透射电镜。
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  • JB-5型比表面积测试仪,采用氮吸附动态法测定粉体比表面积,4个工作分析站,同时可以测试4种样品,适合产量大、品种多的生产企业。分析范围:0.0005m2/g~无上限;测试精度高、重现性好。采用双气源动态气相色谱法,以氦气作为载气,氮气为被吸附气体作为测试气体,对不同样品的固体表面进行分析,能快速测试各行业粉体、颗粒等材料的比表面积。 应用领域:各种粉末、颗粒的比表面积分析,比如:石墨、钴酸锂、氢氧化镍、锰酸锂、钛酸锂、碳酸锂、医药粉、催化剂、吸附剂、水泥、陶瓷原材料等。参数指标测量范围0.0005m2/g~无上限测量原理气相色谱、低温动态氮吸附原理参照标准ISO-9277/GB/T19587-2004等标准测试精度采用标准物质校准,测量误差≤±1%样品试管优质耐温GG材料的U型样品管测试气体高纯氦气作为载气,吸附气体为高纯氮气作为测试气体测试工位4个工作台,每次同时测4个样品测试方法单点测试、多点(BET)、对比测试。测试步骤将样品装入样品管,样品预处理后,在电脑控制下自动完成测试分析测试效率每测试一个样品约5~7分钟,换样测试操作方便,可以不关机连续测试分析软件软件功能齐全,实时显示测试结果,方便对比分析,保存或打印操作系统运行Windows XP/win7/ win10仪器尺寸700mm×300mm×600mm (因产品不定期升级,尺寸仅供参考)工作电源AC220V ±22V 50Hz±0.5Hz JB-5性能特点1、4个工作站,有效提高测试效率,每测试1个样5-7分钟左右,测试时间短效率高。2、高灵敏度探测器,工作温度低寿命长,探测器不会因气体成份的改变而损坏。3、高精密稳流稳压阀,保证了测试气体均匀稳定,保证测试结果准确。4、杜瓦瓶采用大口径容量500mL,真空玻璃内胆,保温时间长。5、软件功能齐全,方便测试结果对比分析,支持在线保存、查看或打印。6、仪器结构合理、性能稳定、精度高、测试速度快,对使用环境无特殊要求。
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  • 阴极发光辅助能谱仪 400-860-5168转2045
    阴极发光辅助能谱系统工作原理: 将阴极发光仪固定在光学显微镜的载物台上,通过主控箱控制阴极发光仪的相关操作。通过在真空室的观察窗的位置配备能谱分析探测器附件,然后将探测器与真空室连接,并将探测器连接到电脑上。通过高压电子枪激发样本的阴极X荧光,用探测器探测X荧光,并通过能谱分析软件控制获取能谱图并进行能谱定性和半定量分析。阴极发光仪辅助能谱系统组装图1、电脑主机;2、电脑显示器;3、数字脉冲处理器;4、真空样品室;5、探测器;6、CCD采集系统;7、显微镜;8、探测器附件;9、高压电子枪;10、主控制箱;11、电源适配器;12、真空泵。配套特点: 1、20世纪60年代早期,随着电子探针的发展,开始使用特征X射线辐射分析矿物标本。这项工作的一个附属产品是阴极发光观测,并迅速成为一个非常重要的独立研究领域,从而促使电子束源向更简单、显微镜式发展,使用冷阴极作为该电子束源。不会在真空内产生热量,对样品及探头有很好的保护作用。 2、冷阴极基础上的阴极发光仪是能谱分析系统的基础,正如RELIONⅥCL,该类型的电子枪用于阴极发光显微镜的附加装置(CMA)中,是基于冷阴极放电原理,相对电子显微探针(EMP)和扫描电子显微镜(SEM)应用最广泛、简单。 它还提供了一个中和的环境,所以没必要使用具有导电涂层的样品,便于样品制备。电子轰击生成阴极发光的过程中会产生X射线。将X射线检测器用于阴极发光显微镜的附加装置中,结合阴极发光和透光观测,提供了快速元素分析这样一种通用功能。 3、阴极发光仪采用冷阴极的是电子枪,电子枪在冷阴极放电下产生电子束。系统工作气压一般在40到100毫托之间即可,当束流高达1-2mA的时候,电子枪内会产生1到25Kv的电子束。通常高压在8-15Kv时,碳酸盐(岩)、石英、锆石、烃包裹体以及碎硝盐岩等岩石、矿物的阴极发光图像已经非常亮;样品上的散聚焦射束点大约为10mm,散聚焦至点聚焦可以连续可调;能谱采集时可缩小到直径0.5mm或更小。阴极发光和能谱系统图片 阴极发光上使用的能谱系统,基本的分析功能及其探测范围等都和其他的EDS系统相同,因为它们都依赖于电子光源。RELIOTRON阴极发光设备安装紧凑,同时可以与多种显微镜配套使用来观测阴极发光及EDS图谱,同时用来辅助对预定位置进行的分析,从而在样品测试时可以得到图像、谱线、数据更多信息。 阴极发光仪及能谱系统主要技术参数如下:真 空 度:最高极限为0.25帕,最大限度保护样品。电 子 枪:电子枪是一种水平式冷阴极电子束射线型,高达30 KV,通常使用在5 KV至25 KV之间调节。阴 极 电压:0-30KV,过压保护。最 佳 电流:0.15-2mA,连续可测,过流保护。聚 焦:能够散聚焦到点聚焦的调节功能,电子束光斑可根据样品适用要求调节。探测器类型:硅漂移探测器 (SDD)、尺寸10mm2、硅厚度500&mu m;(可选)能量分辨率:最低145 eV(可选);信 噪 比: 8200:1Be窗 厚度: 12.5um、25&mu m(可选) 具有以下主要特点:1:价格实惠。2:操作的高速性。3:操作和维护方便和简易。4:采样准备工作简捷方便。5:能够保持良好的光学显微镜的各项能力。6:对于采样的显微照相处理能够方便实现。7:具备普通透射光(TRL), 偏振光(POL), 阴极发光(CL)以及EDS的联合观测能力。
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  • 光电子能谱原理

    http://www.physics.fudan.edu.cn/equipment/YuanLi_guangdianPu.htm1. 引言光电子能谱同其他各种表面分析手段一样,首先经物理学家之手开创,并随着它不断完善,在化学、金属学及表面科学领域内得到了广泛的应用[1]。历史上,光电子能谱最初是由瑞典Uppsala大学的K.Siegbahn及其合作者经过约20年的努力而建立起来的。由于它在化学领域的广泛应用,常被称为化学分析用电子能谱(ESCA),但是,因为最初的光源采用了铝、镁等的特性软X射线,此方法逐渐被普遍称为X射线光电子能谱(XPS)。另外,伦敦帝国学院的D.W.Turner等人在1962年创制了使用He I共振线作为真空紫外光源的光电子能谱仪,在分析分子内价电子的状态方面获得了巨大成功,在固体价带的研究中,此方的应用领域正逐步扩大。与X射线光电子能谱相对照,此方法称为紫外光电子能谱(UPS),以示区别。2. 基本原理光电子能谱所用到的基本原理是爱因斯坦的光电效应定律。材料暴露在波长足够短(高光子能量)的电磁波下,可以观察到电子的发射。这是由于材料内电子是被束缚在不同的量子化了的能级上,当用一定波长的光量子照射样品时,原子中的价电子或芯电子吸收一个光子后,从初态作偶极跃迁到高激发态而离开原子[2]。最初,这个现象因为存在可观测得光电流而称为光电效应;现在,比较常用的术语是光电离作用或者光致发射。若样品用单色的、即固定频率的光子照射,这个过程的能量可用Einstein关系式[3]来规定:式中hν为入射光子能量,Ek是被入射光子所击出的电子能量,Eb为该电子的电离能,或称为结合能。光电离作用要求一个确定的最小光子能量,称为临阈光子能量hν0。对固体样品,又常用功函数这个术语,记做φ。对能量hν显著超过临阈光子能量hν0的光子,它具有电离不同电离能(只要Eb<hν)的各种电子的能力。一个光子对一个电子的电离活动是分别进行的。一个光子,也许击出一个束缚很松的电子并将高动能传递给它;而另一个同样能量的光子,也许电离一个束缚的较紧密的电子并产生一个动能较低的光电子。因 图见网页。图1 用Mg KαX射线激发的氖PE谱 此,光电离作用,即使使用固定频率的激发源,也会产生多色的,即多能量的光致发射。因为被电子占有的能级是量子化的,所以光电子有一个动能分布n(E),由一系列分离的能带组成。这个事实,实质上反映了样品的电子结构是“壳层”式的结构。用分析光电子动能的方法,从实验上测定n(E)就是光电子能谱(PES)。将n(E)对E作图,成为光电子能谱图(如图1)。如上图那样简单的光电子谱图,对电子结构的轨道模型提供了最直接的,因而也是最令人信服的证据。严格的讲,光电子能谱应该用电离体系M+的多电子态方法来解释,比用中性体系M的已占单电子态(轨道)为好。3. 系内仪器资源我们系现有英国VG公司ADES 400角分辨电子能谱仪,它是一台大型超真空多功能表面分析设备。多年来,经过侯晓远教授实验室的多次改进,增加了快速进样装置和一台国产小型分子束外延装置[4],使实验者可以在不暴露大气的情况下,对自行生长样品的表面与界面进行分析测试;同时通过改进控制单元与计算机的接口,由原来的手动调节、机械录谱变为由计算机控制扫谱参数并记录扫描结果。图见网页。图2 多功能电子能谱仪与分子束外延装置的联机系统 ADES 400角分辨电子能谱仪系统如图(2)所示。整个系统由分析室(主室)、预处理室(预室)、快速进样室及小型MBE生长束源炉室四部分组成。电子能谱仪的本底真空度优于5×10-8Pa,配备有Ar离子枪可以处理样品,俄歇电子能谱(AES)测量样品表面化学状态,低能电子衍射(LEED)测量样品表面结构,另外该装置还有配备了双阳极X光枪(Al和Mg靶),可以做紫外光电子能谱(UPS)。生长室本底真空度优于3×10-8Pa,生长过程真空度优于3×10-7Pa。生长室中可以同时装5个由循环水冷却的蒸发源,同时还配备了一个可以对样品的表面晶体结构进行原位实时测量的反射式高能电子衍射(RHEED)装置,样品的生长速率可以由晶体振荡器来测量,而且样品架有加热装置,可以用来处理样品或对样品在生长时加温,此外,生长室还安装了可以自动控制的劈形样品生长装置。有关这套劈形样品生长装置的消息介绍可以参考论文[5]。因此这套设备可以用分子束外延的办法生长磁性金属和合金,然后再分析室进行一些表面测量,制备好的样品,用金或银做为保护层覆盖后,再拿出真空室进行结构和磁性测量。 4. 参考文献[1] 染野檀,安盛岩雄,《表面分析》,科学出版社(1983)[2] 王华馥,吴自勤,《固体物理实验方法》,高等教育出版社(1990)[3] A.Einsten, Ann.Phys.,17, 132(1905)[4] 朱国兴,张明,徐敏,《半导体学报》, 14,719(1993)[5] 丁海峰,硕士论文,1998,复旦大学

  • 科普:CT能谱原理及几种功能应用

    科普:CT能谱原理及几种功能应用

    [b]CT能谱原理及几种功能应用[/b][size=15px][color=rgba(0, 0, 0, 0.298039)]计量与质控[/color][/size] [size=15px]计量与质控[/size] [size=15px][color=rgba(0, 0, 0, 0.298)]昨天[/color][/size]这是一篇比较基础而通俗的介绍能谱ct原理的文章,值得一读:[b]一.原理[/b] 在目前我们CT设备的发展中出现了两大方向,一是宽体,二是双源。随着我们设备的发展,我们的扫描已经越来越快,已经快到可以实现单个心动周期的心脏扫描。然而我们回头来反思我们CT成像的发展历程,虽然我们获得数据的速度越来越快,但获得的数据量一直没有很大提高,这本身和我们CT是单参数(物质衰减系数)成像有很大关系,这点我们是无法改变的。那我们怎么样能在单参数中获得更多的数据呢?这时CT能谱技术也就应运而生了。[img=,690,274]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/02/202102281611516339_3802_1626275_3.png!w690x274.jpg[/img][font=&][size=16px][color=#333333] 我们在前文讲过不同物质在不同KV下发生光电效应比例不同,他们有自己的一条衰减曲线,这条曲线是具有特异性,那么也就是说如果我们可以测算出某种物质在不同能量的X线下的衰减曲线,那么我们就可以知道该物质的组成成分,这正是我们能谱CT的一大研究热点,我们现在正在大量结合病理结果的基础上来将良恶性肿瘤的衰减曲线区分开来。[/color][/size][/font][b] 几种材料的质量衰减系数[/b][align=left][font=&][size=16px][color=#333333][b][img=,600,437]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/02/202102281614168363_7690_1626275_3.jpg!w600x437.jpg[/img][/b][/color][/size][/font][/align][align=left][color=#333333][b] [/b]能谱CT的关键在于衰减曲线,CT成像中,物质的衰减曲线可以用其CT值来表示,那么我们该怎样获得测算衰减曲线呢?  首先KvP和Kev是不一样的概念,kvp指的是我们的管电压,就是我们常说的120kv,其代表的是X线的最大能量,而kev指的是单能射线的能量,那么也就是说120kvp的X线是由0kev-120kev这些不同能量的X线组成的我们在CT扫描中,直接调节的是kvp,而不是kev,我们的CT也无法直接得到kev,只能通过一定的方法得到keV,[color=#ff0000]下面几幅图是[font=PingFangSC-light]不同CT厂商的实现原理(来源:开普影像):[/font][/color][/color][/align][align=center]单源瞬时kVp切换技术([color=#ff0000]比如GE公司[/color])[/align][align=center](未完待续)[/align]

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  • 食品工程原理实验仿真软件FES
    流程简述: “食品工程原理仿真实验”,就是利用动态数学模型实时模拟真实实验现象和过程,通过对仿真3D实验装置进行互动操作,产生和真实实验一致的结果。从而达到每个学生都能够一对一地亲自动手做实验,观察实验现象,验证公式、原理定理的目的。可以通过网络,使教师站上运行的监控程序与管理程序能方便地对下位机的学员站上运行实验仿真软件进行监控与管理,同时配有标准的实验思考题生成器,开放接口。培训工艺:1.1、流体粘度测定实验1.2、柏努利方程实验 1.3、雷诺实验 1.4、流体阻力实验 1.5、离心泵性能实验 1.6、过滤实验 1.7、传热实验 1.8、洞道干燥实验 1.9、流化床干燥实验 1.10、精馏实验 1.11、气体扩散系数测定实验1.12、液体扩散系数测定实验运行环境要求建议配置:学员站:CPU:奔腾E2140或更强的CPU(或AMD Athlon X2 4000)内存:1G以上显卡和显示器:分辨率1024x768以上硬盘空间:至少1G剩余空间操作系统:Windows XP SP2/SP3教师站:CPU:奔腾E5200或更强的CPU(或AMD Athlon X2 5000)内存:1G以上(推荐2G以上)显卡和显示器:分辨率1024x768以上硬盘空间:至少1G剩余空间操作系统:Windows Server 2003 SP2网络要求:网络必须稳定通畅(统一式激活)
  • 能谱ATRS-01万能衰减全反射附件
    天津能谱科技自主研发的ATRS-01万能衰减全反射附件样品无需前处理,简化了样品的制作过程,被广泛应用于各种固体和液体样品测试,如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体,具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试,同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用,更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试,样品基本不需要制备,直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。  ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来,但同时在样品中有一个衰减波区域,这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行,部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来,透入到样品介质的光束,在样品的透光区,反射光能几乎等于入射光能,而在样品的吸收区,则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的,其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱,一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外,还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关,一般来说,穿透越深,吸收越强。
  • 化工原理实验仿真软件CES (以北化装置为原型)
    流程简述: 化工原理是化工、生物、食品、制药等专业必修课。化工原理实验是大部分学校必做的实验。因此化工原理实验被列为重点实验内容之一。东方仿真使用自主开发平台,利用动态数学模型实时模拟真实实验现象和过程,通过3D仿真实验装置交互式操作,产生和真实实验一致的实验现象和结果。每位学生都能亲自动手做实验,观察实验现象,记录实验数据,验证公式、原理定理。另外,该系统还配备开放的标准实验思考题生成器。该系统分为教师站和学生站。通过网络,教师站上的监控和管理程序方便地对学生站运行的实验仿真软件进行实时的监控和管理。本仿真软件以北京化工大学实验装置为主,兼顾华东理工大学的实验装置。包括了所有典型的化工原理实验装置。培训工艺:1.1 、离心泵特性曲线测定1.2 、流量计的认识和校核1.3 、流体阻力系数测定1.4 、传热(水-蒸汽)实验1.5 、传热(空气-蒸汽)实验1.6 、精馏(乙醇-水)实验1.7 、精馏(乙醇-丙醇)实验1.8 、吸收(氨-水)实验一1.9 、吸收(氨-水)实验二1.10 、丙酮吸收实验1.11 、干燥实验1.12 、板框过滤实验建议配置:学员站:CPU:奔腾E2140或更强的CPU(或AMD Athlon X2 4000)内存:1G以上显卡和显示器:分辨率1024x768以上硬盘空间:至少1G剩余空间操作系统:Windows XP SP2/SP3教师站:CPU:奔腾E5200或更强的CPU(或AMD Athlon X2 5000)内存:1G以上(推荐2G以上)显卡和显示器:分辨率1024x768以上硬盘空间:至少1G剩余空间操作系统:Windows Server 2003 SP2网络要求:网络必须稳定通畅(统一式激活)

能谱原理相关的资料

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  • X射线光电子能谱(XPS)的原理及应用
    01 原理XPS是利用 X 射线辐射样品,使得样品的原子或分子的内层电子或者价电子受到激发而成为光电子,通过测量光电子的信号来表征样品表面的化学组成、元素的结合能以及价态。X 射线光电子能谱技术作为一种高灵敏超微量的表面分析技术,对所有元素的灵敏度具有相同的数量级,能够观测化学位移,能够对固体样品的元素成分进行定性、定量或半定量及价态分析,广泛地应用于元素分析、多相研究、化合物结构分析、元素价态分析。此外在对氧化、腐蚀、催化等微观机理研究,污染化学、尘埃粒子研究,界面及过渡层研究等方面均有所应用。02 应用1 XPS在木质材料中的应用XPS 技术成为木质材料分析、应用领域的重要手段。XPS 对木材领域的分析不仅可以获得材料本身的元素组成和物质结构,而且对木材的修饰、应用等方面的研究有重要意义。运用 XPS的表层与深层分析,在木材加工、合成、防护等领域都有着重要作用,在测得材料成分的含量与性质后,也可以得知涂饰性能、风化特性、硬度、抗弯度等基本性质,再对木材分类以进行定向加工,这将极大提高木材的利用效率,扩大应用领域。2 XPS在能源电池中的应用麦考瑞大学黄淑娟和苏州大学马万里等人报道了在钙钛矿表面沉积同源溴化物盐以实现表面和本体钝化以制造具有高开路电压的太阳能电池的策略。与先前工作给出的结论不同,即FABr等同源溴化物仅与 PbI2反应在原始钙钛矿之上形成大带隙钙钛矿层,该工作发现溴化物也穿透大部分钙钛矿薄膜并使钙钛矿中的钙钛矿钝化。通过吸光度和光致发光 (PL) 观察到的小带隙扩大;在飞行时间二次离子质谱 (TOF-SIMS) 和深度分辨 X 射线光电子能谱 (XPS) 中发现溴化物元素比例的增加。各种表征证实了钙钛矿器件中非辐射复合的明显抑制。使用同种溴化物钝化的非封装器件在环境储存2500 小时后仍保持其初始效率的97%,在85°C下进行520小时热稳定性测试后仍保持其初始效率的59%。该工作提供了一种简单而通用的方法来降低单结钙钛矿太阳能电池的电压损失,还将为开发其他高性能光电器件提供启示,包括基于钙钛矿的串联电池和发光二极管 (LED)。3 XPS的表面改性物质表面的化学组成改变和晶体结构变形都会影响材料性能,如黏附强度、防护性能、生物适应性、耐腐蚀性能、润滑能力、光学性质和润湿性等。一种材料可能包含几种优良性能。XPS 分析技术广泛应用于材料的表面改性,主要有以下几点原因:(1) XPS对表面测量灵敏度高,用其进行表面改性是一种有效方法;(2) 由于 XPS分析技术可以获得相应的化学价态信息,因此通常用来检测改性时的表面化学变化;(3) 由于 XPS 只能检测样品表面 1~10 nm 的薄层,故 XPS 可以测量改性表层的化学组成分布情况。4 XPS在生物医学中的应用XPS 逐渐被应用在生物医学研究以及生物大分子的组成、状态和结构等方面。由于生物试样在制备过程中有一定难度,因此 XPS在医学上的应用仍处于探索阶段。03 来源文献[1]杨文超,刘殿方,高欣,吴景武,冯均利,宋浅浅,湛永钟.X射线光电子能谱应用综述[J].中国口岸科学技术,2022,4(02):30-37.[2]Homologous Bromides Treatment for Improving the Open-circuit Voltage ofPerovskite Solar Cells[J]. Advanced Materials, 2021.
  • 新品发布|低本底多道γ能谱仪的技术原理和参数_霍尔德
    【低本底多道γ能谱仪←点击此处可直接转到产品界面,咨询更方便】低本底多道γ能谱仪原理:采用低本底铅室及低钾NaI(Tl)探头实现对待检测样品的放射性测量,基于高性能数字化能谱仪实现对NaI(Tl)探头的高精度伽马能谱测量,通过上位机能谱测量与分析软件实现对能谱的采集、存储、处理与解谱分析,最终实现对检测样品中放射性核素的识别与放射性比活度的测量。低本底多道γ能谱仪应用领域:医院放射性核素γ能谱测量分析;建材、土壤、生物、地质样品等γ能谱测量分析;建筑材料的快速无损检测;铀矿地质样品镭(铀)、钍、钾含量分析;可按用户要求配备铀、铯、钴、碘等人工核素分析软件。低本底多道γ能谱仪功能特点:1、具备实时快速低能γ射线稳谱技术的低本底数字化能谱仪,可保证开机快速测量以及长期稳定性;传统低本底数字化能谱仪需要人工反复调整谱仪参数才能够工作,且无法长时间稳定工作;2、自带数字化稳谱功能,可选择本底镅源γ射线稳谱、天然特征峰稳谱等数字化稳谱方式;3、支持粒子图谱、能谱曲线、梯形成形信号与原始脉冲信号显示;4、数字化能谱仪具备LIST-MODE模式,可实现粒子事件信息(时间、位置、幅度等)的实时采集,各通道数字化谱仪具备时钟同步功能,同步精度不低于15ns;粒子事件信息可传输到计算机上成谱,从而满足快速移动测量的要求;5、双谱测量:支持能谱与时间谱测量;6、高分辨率:采用16位80MSPS高速高精度模数转换器;7、高数字成形频率:数字成形频率高达80MHz。低本底多道γ能谱仪技术参数:探测器:Φ50×50mmNaI(Tl)晶体;总道数:512、1024、2048、4096、8192、16384道任选,标准道数:2048道;能量分辨率:37Bq/kg):10%;电源:220V(±10%)50Hz;温度范围:+5℃~+40℃;相对湿度:≤90%
  • 今日抽奖:《集成电路材料基因组技术》+《扫描电镜和能谱仪的原理与实用分析技术》
    仪器信息网2023年10月18-20举办第四届“半导体材料与器件分析检测技术与应用”主题网络研讨会,围绕光电材料与器件、第三代半导体材料与器件、传感器与MEMS、半导体产业配套原材料等热点材料、器件和材料分析、可靠性测试、失效分析、缺陷检测和量测等热点分析检测技术,为国内广大半导体材料与器件研究、应用及检测的相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台,让大家足不出户便能聆听到相关专家的精彩报告。为答谢广大用户,本次大会每个专场都设有一轮抽奖送专业图书活动。今日抽取的专业图书是《集成电路材料基因组技术》和《扫描电镜和能谱仪的原理与实用分析技术》。一、主办单位:仪器信息网&电子工业出版社二、会议时间:2023年10月18-20日三、会议日程第四届“半导体材料器件分析检测技术与应用”主题网络研讨会时间专场名称10月18日全天半导体材料分析技术新进展10月19日可靠性测试和失效分析技术可靠性测试和失效分析技术(赛宝实验室专场)10月20日上午缺陷检测与量测技术四、“半导体材料分析技术新进展”日程时间报告题目演讲嘉宾专场:半导体材料分析技术新进展(10月18日)专场主持人:汪正(中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员)9:30等离子体质谱在半导体用高纯材料的分析研究汪正(中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员)10:00有机半导体材料的质谱分析技术王昊阳(中国科学院上海有机化学研究所 高级工程师)10:30牛津仪器显微分析技术在半导体中的应用进展马岚(牛津仪器科技(上海)有限公司 应用工程师)11:00透射电子显微镜在氮化物半导体结构解析中的应用王涛(北京大学 高级工程师)11:30集成电路材料国产化面临的性能检测需求桂娟(上海集成电路材料研究院 工程师)午休14:00离子色谱在高纯材料分析中的应用李青(中国科学院上海硅酸盐研究所 助理研究员)14:30拉曼光谱在半导体晶圆质量检测中的应用刘争晖(中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 教授级高级工程师)15:00半导体—离子色谱检测解决方案王一臣(青岛盛瀚色谱技术有限公司 产品经理)15:30宽禁带半导体色心的能量束直写制备及光谱表征徐宗伟(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 教授)16:00专业图书介绍及抽奖送书王天跃(电子工业出版社电子信息分社 编辑)五、参会方式本次会议免费参会,参会报名请点击:https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icsmd2023/ 或扫描二维码报名
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