电镜检测

Glacios 2 冷冻透射电镜概述Thermo Scientific Glacios 2 冷冻透射电子显微镜 (cryo-TEM) 可帮助您从各种生物靶标中轻松收集近原子数据。与上一代产品相比，Glacios 2 冷冻透射电镜具有更高的通量，而且提升了冷冻电镜的易用性。其配备了集成式 Thermo Scientific Falcon 4i 直接电子探测器、Thermo Scientific EPU 软件和全新的完整机身，致力提高图像质量、实现数据采集自动化并简化您的工作流程。Glacios 2 冷冻透射电镜非常适用于单颗粒分析、冷冻电子断层扫描 (cryo-ET) 和微电子衍射 (MicroED)。Glacios 2 冷冻透射电镜的优势结果更优Falcon 4i 直接电子探测器、新设计的机身和智能 EPU 软件合力为显微镜和用户提供指引，帮助用户从样本中获得最佳结果。实操时间更短智能 EPU 软件的自动化功能和 AI 驱动型插件可在关键决策点为您提供指导，在某些情况下还可自动做出决策，从而减少在手动干预上的需求数据收集更快Falcon 4i 直接电子探测器的采集速率可达 320 fps，而无条纹成像 (FFI) 和自动化操作搭配智能插件可帮助您加快实验流程。简化的工作流程智能 EPU 软件可协助进行实验设置，并在整个实验过程中提供实时反馈，从而减少了对事先专业知识的需求。Glacios 2 冷冻透射电镜的主要特点高分辨率 TEMGlacios 2 冷冻透射电镜提供近原子分辨率。以经改进的硬件和具有可将对环境影响降到最低的全新机身，现在 Glacios 2 冷冻透射电镜的信息限制为 2.1 &angst 。同样，已将24小时内因冰生长而导致的透射损耗减少到 2%，让您在收集高分辨率图像时事半功倍。如果 Glacios 2 冷冻透射电镜配有 Thermo Scientific Selectris X 成像过滤器，还可进一步提升速度和分辨率。高通量冷冻透射电镜图像采集与上一代产品相比，集成式 Falcon 4i 直接电子探测器以更的时间提供更佳的图像质量。为进一步提高生产率和图像质量，Glacios 2 冷冻透射电镜配备了无条纹成像 (FFI) 功能（它可消除电子束边缘的条纹效应）、更稳定的载物台，并加快了自动数据采集。借助这些改进，您可在每个铝箔孔处收集更多图像，加快每个铝箔孔的单颗粒分析，进而加快单颗粒分析和冷冻电子断层扫描。添加 Selectris X 成像过滤器后，您可使用非常稳定的窄缝宽度 (10 eV) 在单颗粒冷冻电镜和冷冻电子断层扫描中获取更佳的对比度，不仅可提高分辨率，还可以更少的数据获得更快的结果，最大限度提高您的解析效率。最大程度提高易用性和效率智能 EPU 软件可实现更快、更简单的设置和处理，显微镜专业用户和非专业用户均可得益于此。已自动化几个关键设置步骤，例如在可能的情况下镜筒对齐和系统状态修复。此外，该软件和各种可选插件还可让用户充分利用操作显微镜时的时间并获取最佳结果。带有 EPU 质量监测软件的可选智能 EPU 软件是一种 AI 型软件解决方案，可分析中间结果、提供即时反馈并指导进行实时数据收集。带有嵌入式 CryoSPARC Live 的可选智能 EPU 软件是一种对数据质量进行实时结构性反馈的整体解决方案，它附带了全方位服务和应用支持。可选 EPU 多重载网软件可在远离显微镜的情况下完成多达12个载网的数据采集，从而确保生产率最大化。开放式应用编程接口 (API) 可让用户自己定制 Glacios 2 冷冻透射电镜功能。工作流程连通性样本筛选是成功冷冻电镜工作流程的重要组成部分，可在生化和玻璃化方面验证样本质量。Glacios 2 冷冻透射电镜可无缝集成到单颗粒分析和冷冻电子断层扫描工作流程中，并且可在整个工作流程中实现便捷、无污染的样本转移。Glacios 2 冷冻透射电镜可轻松接入其他 Thermo Scientific 仪器上的工作流程，包括：Thermo Scientific Krios 冷冻透射电镜Thermo Scientific Tundra 冷冻透射电镜Thermo Scientific Talos Arctica 冷冻透射电镜Thermo Scientific Aquilos 2 冷冻 FIBThermo Scientific Arctis 冷冻等离子体 FIB除了最佳的机械连通性外，由 Thermo Scientific Athena 软件提供支持的智能 EPU 数据管理还可实现数据连接，以便进行可重现的操作及存储采集的数据。占用空间更小Glacios 2 冷冻透射电镜的硬件结构经过专门设计，与其他配备自动上样系统的 200kV 显微镜相比，占用空间更小，样本取放更容易。

布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，利用SEM的高分辨率，可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化，中间过程无法观察到，载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释，甚至单从曲线分析会导致错误的解释。PI 85L安装于电镜，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试，可以借助电镜的高分辨率，观测并记录整个材料测试过程，观测材料在力下发生的动态变化，如金属蠕变、相变、断裂起始等。PI 85L采用Hysitron专利技术三板电容传感器，具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界领先的精度，重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择，如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。

深圳美恩美科技有限公司推出基于深度学习的硅藻电镜自动检测系统DiatomX！在显微镜下检测一个硅藻样品时，一般需人工调焦、拍照，计数几百至上千个硅藻，种类鉴定至属或种水平，不仅耗时间、耗眼力，而且由于硅藻种类繁多（多达数万种），需专家鉴定，因此硅藻检测难以广泛开展。 DiatomX的出现使硅藻应用迎来新机遇！它实现了硅藻检测自动化，显著减少人力，提高效率！DiatomX系统集成了高分辨扫描电镜、海量硅藻数据库、先进的人工智能算法，可一键式完成硅藻检测全过程，包括分区、扫描、目标检测和分类、数据统计、报告输出等，半小时内完成一个样品的全视场扫描，1分钟内完成数千个硅藻的自动分类！ 想带上您的样品亲自体验一下DiatomX的测试效果吗？快致电和我们预约吧！

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扫描电镜专用原位AFM探测系统 AFSEM™ —使AFM和SEM合二为一奥地利GETec公司发布的扫描电镜专用原位AFM探测系统——AFSEM是一款紧凑型，适用于真空环境的AFM产品，能够轻松地结合两种强大的分析技术—AFM和SEM为一体，扩展SEM样品成像和分析能力。AFSEM技术与SEM技术的结合，使得人们对微观和纳米新探索新发现成为可能。SEM结合AFM解决方案：* 扫描电子显微镜中进行AFM原位分析* 使用SCL的自感悬臂技术的纳米探针* 无需激光和探测器，适用于任何样品表面* 与大多数SEM兼容而不妨碍正常的操作* AFM和SEM协同并行分析扫描电子显微镜中进行原位AFM分析扫描电镜专用原位AFM探测系统实现了AFM和SEM的功能性互补，让SEM可以同时实现样品的高分辨率成像，真实的三维形貌，的高度，距离测量，甚至是材料的导电性能。做到这一点只需要将AFSEM悬臂探针的位置移动到SEM下需要观察的样品位置进行探测。优化的AFSEM工作流程(几乎没有减少SEM的扫描时间)确保了高效率。提供的强大控制软件则允许进行优化和直观的测量、系统处理和数据分析。将AFSEM集成到一个Zeiss Leo 982扫描电子显微镜中(左)，对样品表面进行扫描成像(右)，对样品表面进行扫描。当在AFM和SEM成像之间交替时，不需要转移样品或打破真空。使用AFSEM，一切都可以进行内联！SEM-AFM协同分析对于产品或材料分析，通常需要用多种技术分析一个样品或者同一个器件，并寻找参数之间的相关性。如果样品需要使用SEM和AFM这两种的成像技术，就意味着我们需要找到感兴趣的区域并定位它，再拿到另一个设备中寻找这个感兴趣的区域，才能实现对同样的区域进行分析。有什么能比直接把AFM放在SEM里面来的简单呢？对无支撑石墨烯和石墨烯相关材料进行扫描电镜和AFM原位分析。在低电压扫描电子显微镜下，我们可以对一个悬空的石墨烯薄片的样品进行成像，以确定层数和厚度(a)。然后，利用AFM(b+c)实现更高的分辨率和更好的对比度。扫描电镜图像(A)、放大的图像(B)和相关的AFM成像(C)，测量结果来自FEI Quanta 600 FEG ESEM。AFSEM可与大多数SEM兼容AFSEM适用于大多数SEM或双光束(SEM/FIB)系统。可以直接安装在系统腔室的仓门上，同时样品台保持不变。此外，AFSEM采用一种自感应悬臂探针，无需激光与传感器。AFSEM在电镜中，夹持探针的悬臂梁只需要靴与样品之间4.5毫米的空间。因此，AFSEM可以与各种标准的SEM兼容，GETec公司能够处理任何兼容SEM系统真空腔内的安装。也正是这种优雅小巧的设计使得扫描电子显微镜能够配合AFM技术实现的亚纳米的形貌探测。成功的AFSEM集成的例子(可参见集成SEM列表)AFSEM与SEM分析技术紧密配合由于AFSEM小巧的设计维护了SEM功能的完整性，可以实现与其他标准的扫描电镜分析技术相结合同时使用，如常规FIB、FEBID和EDX，以及SEM中可搭配的拉伸机，应力测试，机械手等等AFSEM应用案例举例AFSEM与Deben 200N拉伸试验台可以同时集成在Philips XL40 SEM实现试样拉伸形变过程的原位观察和形貌探测。这是一个创新的实验解决方案，用来研究拉力作用下金属试样的拉伸形变和颈缩过程中，样品表面形貌和粗糙度的变化。此外AFSEM™ 和Hysitron PI85硬度测试台结合，一同安装在蔡司Leo 982 SEM中，电镜下我们可以实时观察金属表面在硬度计压头的压力下，表面形变，滑移过程。其形变，滑移的形貌变化可以由AFM完成。从AFM的角度来看，自感应悬臂探针可以实现多种探测模式，包括静态成像、动态成像、相对比、力谱、力调制和导电模式AFM。例如，在飞利浦XL40仪器中，利用扫描电镜成像、EDX的化学分析、AFM的3D形貌和电导分析。AFSEM采用的自感应探针（self-sensing cantilevers）奥地利SCL-Sensor.Tech公司主要生产硅基压阻式自感应探针，避免了常规AFM需要光路进行探测的模式，拓宽AFM在纳米探测、力测量和其他场合的应用。自检测悬臂配备全压阻电桥直接测量悬臂信号电，从而消除常规原子力显微镜光学信号探测对仪器空间的要求。两个可变电阻分别位于微悬臂和芯片上。整个结构连接到一个小的PCB板上，可实现快速和高重复性的探针交换。感应到的信号通过一个前置放大电路读出和放大。这使得与各种仪器，如SEM，TEM和许多其他测量系统，可以轻松无缝地集成。自感应探针具有各种谐振频率和弹簧常数。我们可为您提供PRS（压阻传感）悬臂探针和PRSA（压阻传感与主动）悬臂探针。Self-Sensing Cantilevers with Silicon TipSelf-Sensing Cantilever without Tip (Tipless)Self-Sensing Cantilevers with SCD TipSilicon tip radius: 15nmCantilever length: 70-300 μm Frequencies: 30-1300 kHz Stiffness: 1-400 N/m Applications: AFM,nanoprobing,force measurement, ...Tip: tipless Cantilever length : 100-450 μm Frequency: 14-550 kHz Stiffness: 0.5-170 N/m Applications: torque magnetometry (e.g. in a PPMS), gas/media properties, force measurement, experimental tip mounting,...SCD-tip radius: 10 nm Cantilever length: 100-450 μm Frequency: 14-550 kHz Stiffness: 0.5-170 N/m Applications: AFM, nanoindentation, ...

电镜能谱一体化设计，简洁小巧 Phenom ProX 的能谱仪 EDS 是针对台式电镜设计的，本着台式电镜简单易用，售后无忧的宗旨，Phenom ProX 的能谱仪 EDS 系统完全嵌入在电镜主机中，利用半导体制冷，无需额外冷却系统。 飞纳台式扫描电镜 Phenom ProX 用户可根据样品类型和测试目的，灵活切换专利样品杯，30 秒快速成像 Phenom（飞纳）专利样品杯、低真空设计、专利的真空封锁技术，装入样品后 30 秒内即可得到高质量图像，耗时仅为传统电镜的 1/10 左右。 直接观看绝缘体，无需喷金 Phenom（飞纳）采用低真空技术，出射电子与空气分子碰撞产生正离子，正离子与样品表面累积的电子中和，有效抑制荷电效应的产生，直接观测各种不导电样品（如下图所示）。 利用降低荷电效应样品杯，更可将开始荷电的放大倍数提高 8 倍左右，而且不会影响灯丝寿命，长寿命/高亮度/低色差 CeB6 灯丝 Phenom（飞纳）采用逸出功为 2.5eV 的 CeB6 灯丝，其亮度为钨灯丝的 10 倍，出射电子色差小，为您提供更高质量的图像，其使用寿命长达 1500 小时，为钨灯丝的 10 倍，可正常使用 1-3 年无需更换灯丝，免去了您频繁更换灯丝的麻烦，保证工作进度。环境适应性高，完全防震 Phenom（飞纳）可以放置在几乎所有的室内环境当中，无需超净间。采用灯丝、探测器、样品台相对一体化的设计，震动不会引起三者间的相对运动，使 Phenom 成像不受震动影响，可放置在较高楼层。互联网远程检测 Phenom（飞纳）拥有远程检测功能，通过网络，专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难，为您提供全方位的保护，让您的 Phenom 随时处于最佳工作状态。

电镜制样设备 Unimill 离子减薄仪--用于 TEM/XTEM 样品制备的全自动离子束减薄系统Technoorg Linda UniMill 离子减薄仪专为快速地制备具备高减薄率的、高质量的 TEM/XTEM 样品而设计。 Unimill 既可以使用全球独家的超高能离子枪进行快速研磨，也可以使用专用的低能离子枪进行最终抛光和精修处理。产品特色：可直接使用同一台仪器进行快速减薄和抛光/精细处理支持全自动的离子枪参数设置和手动调节离子束研磨参数具备最广的离子枪能量范围： 低能离子枪与超高能离子枪结合，能量范围可达 100 eV ~ 16 keV具备极高的切削率可选择配备 LN2 液氮制冷离子枪优势UniMill 包括两支独立控制的离子枪：一支高能或超高能离子枪和一支低能离子枪。高能和超高能离子枪Unimill 的高能和超高能离子枪提供了最高的研磨率。高达 16 keV 的离子枪专为要求极低研磨速率的 TEM 样品制备而设计。低能离子枪离子枪的特殊结构可在整个制备过程中形成高束流密度。能量极低的离子束保证了表面损伤和离子束诱导非晶化效应的最小化。离子枪控制所有离子枪参数，如加速电压和离子束电流在内均由智能反馈回路控制，但始终可以在样品制备过程中进行手动调节。离子枪参数的初始值支持自动设置或手动调节，同时可在电脑上连续监控和显示。性能参数离子枪超高能离子枪（可选）：&bull 离子束能量：高达16 keV，连续可调&bull 离子束电流：高达 500 μA&bull 离子束直径：1.6 - 1.8 mm (FWHM)高能离子枪（标配）：&bull 离子束能量：高达10 keV，连续可调&bull 离子束电流：高达 300 μA&bull 离子束直径：0.9 - 1.3 mm (FWHM)低能离子枪：&bull 离子束能量：100 eV - 2 keV，连续可调&bull 离子束电流：7 - 80 μA&bull 离子束直径：1.5 - 2.2 mm (FWHM)样品台&bull 切削角度：0°- 40°，每 0.1° 连续可调&bull 电脑控制的平面内样品旋转和移动：&bull 360° 旋转&bull 从±10° 到±120° 移动，每 10° 连续可调&bull 可兼容的 TEM 样品厚度范围 (30 - 200 μm)成像系统&bull 用于全视觉控制和切削监控/终止的 CMOS 相机图像&bull 高分辨率彩色 CMOS 相机&bull 50 - 400 倍放大范围的手动变焦视频镜头电脑控制&bull 内置工业级计算机&bull 简单便捷的图形界面和图像分析模块&bull 支持用户手动调节离子枪参数，包括气流调节&bull 用于自动设置机械和切削参数的预编程方案（可以手动调整）&bull 自动样品加载&bull 自动终止：图像分析模块支持的切削过程的光学终止（ 通过检测薄区穿孔或监测表面形貌）供气系统&bull 99.999% 纯氩气，绝对压力为 1.3 - 1.7 bar&bull 带有电子出口压力监测功能的惰性气体专用压力调节器&bull 工作气体流量高精准控制真空系统&bull Pfeiffer 真空系统配备无油隔膜和涡轮分子泵，配备紧凑的全范围 Pirani/Penning 真空计电源要求&bull 100 - 120 V/10 A/ 50-60 Hz 或 220 - 240 V/5 A/ 50-60 Hz成像案例电镜制样设备 Unimill 离子减薄仪

产品介绍：TESCAN VEGA 第四代钨灯丝扫描电子显微镜，采用全新的 Essence&trade 电镜操控软件系统，将扫描形貌图像与元素实时分析集成于同一个扫描窗口中。这种组合大大简化了样品表面形貌的采集及所含元素的数据分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料等检测提供更gao效的分析的解决方案。TESCAN VEGA 采用创新的电子光学设计，确保在需要时即时、无缝地选择成像或分析条件，无需对任何电子光学镜筒内的元件进行机械对中。可以配置真空缓冲节能单元，使用后可显著缩短机械泵的运行时间，从而达到节能、环保的要求。主要特点:完全集成的 TESCAN Essence&trade EDS 分析平台，在 Essence&trade 电镜操控软件的单一窗口中即可实现 SEM 成像和元素成分分析。TESCAN 采用独特的无机械光阑设计，采用实时电子束追踪（In Flight Beam Tracing&trade ）的ZG技术，可帮助用户快速获得电镜合适的成像及分析条件。独特的大视野光路（Wide Field Optics&trade ）设计，zui低至2倍的放大倍数，无需额外的光学导航摄像头即可轻松、精确地实现 SEM 导航。直观、模块化的 Essence&trade 软件设计，不同经验等级的用户均可轻松操作。在样品台及装置的样品运动过程中，Essence&trade 3D 防碰撞模块可以直观的显示安装样品室内的探测器及样品台的位置信息，提供安全性的保护。SingleVac&trade 模式作为标准配置，为观测不导电样品和电子束敏感的样品提供便利的分析利器。 可选配的真空缓冲节能单元可显著缩短机械泵的运行时间，提供环保、高经济效益的电子显微镜。模块化分析平台，可选配集成最多种类的探测器和附件（如阴极荧光探测器，水冷背散射电子探测器或拉曼光谱仪等）。大视野设计，实现低倍精确导航利用大视野光路(Wide Field Optics&trade )技术，用户可通过扫描窗口实时观察样品，直接实现感兴趣位置的精确导航。大视野光路技术取代了传统的CCD导航相机，提供无与伦比的大景深，同时也提供样品实际形貌的图像，实现更直观、先进的样品导航过程。在 SEM 观测窗口中，最小2倍的放大倍率保证了大视野无畸变的图像实时观测，可连续放大感兴趣的区域，无需光学导航相机。实时的SEM窗口同样可与预倾斜样品台（如 EBSD 预倾台）配合使用，对于需要倾斜分析的样品，支持扫描倾斜校正，从而实现更精确的导航。自动操作通过一次点击就可以进行自动灯丝加热和电子枪对中。众多的自动程序减少了用户的操作时间，并提供了操作的自动导航与自动化分析。通过内置脚本语言（Python）用户可以进入软件大多数功能，包括电镜控制、样品台导航、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户也可以自定义软件的自动操作。全新的 EssenceTM 电镜控制软件用户界面有各种语言版本。集成的 Essence&trade EDS 能谱软件，轻松快捷地实现从成像切换到元素分析，通过软件一键即可实现所有设置参数的更改。具备快速搜索功能、命令撤消及参数预设等多种功能，帮助用户gao效、快捷地完成分析工作。允许用户设定符合其自身体验水平或特定应用的工作流程。Essence&trade 防碰撞模型软件能够直观的模拟出样品室内情况，有效避免碰撞的发生。内置的自动系统检查。通过局域网或互联网可实现电镜远程诊断。模块化软件体系结构。标准的软件模块包括了：光电联用、测量工具、图像处理、对象区域等。选配软件包括了：颗粒度分析、三维表面重构等。软件：测量软件, 公差测量软件图像处理预设参数直方图及LUTSharkSEM&trade 基础版 (远程控制)3D 防碰撞模型软件对象区域光电联用 定时关机CORAL&trade （用于生命科学的电镜模块）自动拼图软件样品观察TESCAN Flow&trade (离线处理软件)

SEM电镜兼容原子力显微镜EM-AFM EM-AFM 纳米操作系统提供了在SEM电镜中原子力显微镜成像和定量测量纳米力 的能力。它使得SEM和AFM这两种技术的结合，提供了高速高分辨率的3D形貌 成像，以及微纳米和亚纳米尺度纳牛力相互作用的实时观测。 产品特性 同步AFM 和 SEM 成像 完全兼容市面上的主流SEM电镜 超高分辨率形貌扫描 通过纳米压痕定量测量纳米力 真空载锁兼容 操作稳定性高，不受SEM电子束干扰规格参数应用案例SEM-AFM图像融合SEM成像具有高横向分辨率和扫描速率的优势，结合AFM成像提供的三维形貌信息，可获取新的而又全面的信息亚纳米成像分辨率全闭环编码系统确保在没有图像失真的情况下获得超高形貌成像分辨率，同时获取亚纳米成像分辨率。纳米压痕和拉伸测试样品的纳米力学性能可以在该仪器中通过纳米压痕和纳米拉伸测试试验技术进行测量。在SEM电镜成像下，可实时观测压痕和拉伸过程。专用软件提供了内置的计算工具，用于分析和显示获取的观测数据。高真空环境/SEM兼容结构紧凑的AFM兼容市面上大部分的SEM和FIB，并能够在数秒内完成安装和拆卸。系统允许很小的工作范围（5mm），同时兼容标准的SEM分析技术（如EDS、EBSD、WSD）。

泽攸科技 原位扫描电镜（SEM）基于自主研发的台式扫描电镜，集成原位拉伸样品台，对样品进行原位拉伸/压缩/弯曲的过程中实时观察样品表面形貌的变化，拓展了扫描电镜的应用领域。原位扫描电镜（SEM） 采用自主研发的钨灯丝电子枪，加速电压在1-15kV范围内连续可调，搭配二次电子探测器、背散射电子探测器、1000N原位拉伸样品台，实现扫描电镜内的原位拉伸/压缩/弯曲实验。原位拉伸台参数载荷范围：0-1000N位移分辨率：20nm加热模块：可选加载功能：拉伸、压缩、三点弯曲电镜主机特色鼠标.jpg仅需鼠标即可完成所有操作，无须对中光阑等复杂步骤；亮度/对比度一键自适应，自动/手动聚焦 视频模式.jpg抽真空时间小于90秒；标配光学导航，搭配多样品台，实现快速找样及切换样品；采集带宽.jpg信号采集带宽10M，扫描速度快；视频模式下实时观察样品，操作流畅，无卡顿；多探测器.jpg四分割背散射电子探测器（多种成像模式）、二次电子探测器；BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；无忧售后.jpg国内生产、销售、售后一体化服务；北京、上海、安徽、广东常驻工程师并提供设备演示；原位扫描电镜SEM应用安徽泽攸科技有限公司拥有一支精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件开发技术的技术团队，致力于突破电子显微镜制造这一"卡脖子"技术难题，自主研发的ZEM15 原位拉伸-扫描电镜 结合了电镜整机及原位样品台技术，支持个性化定制，可选原位加热/冷冻样品台、原位力学、原位电学样品台等。泽攸科技将持续不断地优化产品型号及配置，期待与您的合作。安徽泽攸科技有限公司是原位扫描电镜（SEM）生产厂家，关于原位扫描电镜（SEM）价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

泽攸科技 ZEM15原位拉伸-扫描电镜基于自主研发的台式扫描电镜，集成原位拉伸样品台，对样品进行原位拉伸/压缩/弯曲的过程中实时观察样品表面形貌的变化，拓展了扫描电镜的应用领域。ZEM15 原位拉伸-扫描电镜 采用自主研发的钨灯丝电子枪，加速电压在1-15kV范围内连续可调，搭配二次电子探测器、背散射电子探测器、1000N原位拉伸样品台，实现扫描电镜内的原位拉伸/压缩/弯曲实验。原位拉伸台参数载荷范围：0-1000N位移分辨率：20nm 加热模块：可选加载功能：拉伸、压缩、三点弯曲电镜主机特色鼠标.jpg仅需鼠标即可完成所有操作，无须对中光阑等复杂步骤；亮度/对比度一键自适应，自动/手动聚焦 视频模式.jpg抽真空时间小于90秒； 标配光学导航，搭配多样品台，实现快速找样及切换样品；采集带宽.jpg信号采集带宽10M，扫描速度快；视频模式下实时观察样品，操作流畅，无卡顿；多探测器.jpg四分割背散射电子探测器（多种成像模式）、二次电子探测器；BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；无忧售后.jpg国内生产、销售、售后一体化服务；北京、上海、安徽、广东常驻工程师并提供设备演示； 原位拉伸-扫描电镜应用安徽泽攸科技有限公司拥有一支精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件开发技术的技术团队，致力于突破电子显微镜制造这一"卡脖子"技术难题，自主研发的ZEM15 原位拉伸-扫描电镜 结合了电镜整机及原位样品台技术，支持个性化定制，可选原位加热/冷冻样品台、原位力学、原位电学样品台等。泽攸科技将持续不断地优化产品型号及配置，期待与您的合作。安徽泽攸科技有限公司是原位拉伸-扫描电镜生产厂家，关于原位拉伸-扫描电镜价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

SEM兼容原子力显微镜产品简介EM-AFM 纳米操作系统提供了在SEM电镜中原子力显微镜成像和定量测量纳米力的能力。它可将SEM和AFM这两种显微技术进行联用，提供高速高分辨率的3D形貌成像，以及微纳米和亚纳米尺度纳牛力相互作用的实时观测。产品特性 同步AFM 和 SEM 成像 兼容市面上的主流SEM电镜 超高分辨率形貌扫描 通过纳米压痕定量测量纳米力 真空载锁兼容 操作稳定性高，不受SEM电子束干扰 规格参数系统概况系统尺寸100x100x35SEM载锁兼容根据客户需求提供方案可用环境SEM真空环境兼容系统重量400g+SEM/FIB适配器样品运动台运动范围15x15x5mm集成编码器可选闭环运动分辨率1nm运动速度45mm/s小范围扫描器扫描范围35x35x5μm集成编码器有闭环分辨率优于0.2nm扫描速度8μm/s漂移率2nm/minAFM传感探头传感原理压阻式扫描模式接触式力感应分辨率优于5nN成像分辨率优于1nm力传感范围+/200μN应用案例SEM-AFM图像融合SEM成像具有高横向分辨率和扫描速率的优势，结合AFM成像提供的三维形貌信息，可获取新的而又全面的信息 亚纳米成像分辨率全闭环编码系统确保在没有图像失真的情况下获得超高形貌成像分辨率，同时获取亚纳米成像分辨率。纳米压痕和拉伸测试样品的纳米力学性能可以在该仪器中通过纳米压痕和纳米拉伸测试试验技术进行测量。在SEM电镜成像下，可实时观测压痕和拉伸过程。专用软件提供了内置的计算工具，用于分析和显示获取的观测数据。高真空环境/SEM兼容结构紧凑的AFM兼容市面上大部分的SEM和FIB，并能够在数秒内完成安装和拆卸。系统允许很小的工作范围（5mm），同时兼容标准的SEM分析技术（如EDS、EBSD、WSD）。

电镜腔等离子清洁仪（远程等离子清洁仪）美国PIE出品的EM-KLEEN型远程等离子清洁仪，广泛用于SEM扫描电镜,FIB聚焦离子束双束电镜,TEM透射电镜,XPS_X射线光电子能谱分析仪,ALD原子层沉积系统,CD-SEM, EBR, EBI, EUVL和其它高真空系统，可同时清洁真空腔室和样品！污染物对电子显微镜SEM/TEM和其它高真空系统产生的影响润滑剂、真空脂、泵油样品中的高分子聚合物，或未经处理的空气都会把碳氢污染物引到真空系统中。低蒸汽压下高分子重污染物会凝聚在样品表面和腔室壁上，而使用普通气体吹扫方法很难把碳氢污染物清除。电子和高能光子(EUV, X-ray)能够分解存在于真空系统中或样品上的碳氢污染物。碳氢化合物的分解产物沉积在被观测的样品表面或电子光学部件上。这种碳氢污染沉积会降低EUV的镜面反射率，降低SEM图像对比度和分辨率，造成错误的表面分析结果，沉积在光阑或其它电子组件的不导电碳氢污染物甚至会造成电子束位置或聚焦缓慢漂移。在ALD系统中，样品表面的碳氢污染物还会降低薄膜的界面匹配质量。远程等离子清洁的原理远程等离子源需安装在要被清洁的真空腔室上，控制器向远程离子源提供射频能量。射频电磁场能激发等离子体，分解输入气体而产生氧或氢的活性基，活性基会扩散到下游的真空腔室，并与其中的污染物发生化学反应，反应产物能轻易地被抽走。远程等离子清洗机可同时清洁真空系统和样品。技术特点：快速清洁被污染的SEM样品。2-60秒氢等离子体清洁ALD样品。不需减速或关闭涡轮分子泵低等离子偏压设计减少离子溅射和颗粒生成。结合自有专利多级气体过滤技术，SEMI-KLEEN能够满足用户最苛刻的颗粒污染清除要求可选蓝宝石管腔体和耐腐蚀性气体的流量控制器，以便支持CF4, NF3, NH3, HF, H2S等应用特有的等离子强度传感器可实时监测等离子状态，用户对等离子状态一目了然基于压力传感回馈控制的自动电子流量控制器，无需手动调节针阀直观的触摸屏操作，可定义60条清洗程序方案拥有智能安全操作模式和专家控制模式；SmartScheduleTM定时装置，通过检测样品装载次数或时间间隔来定时清洁系统低电磁干扰设计，安静的待机模式一. 特有功能1. 优越的等离子技术，可以在小于0.1毫托的气压下点火并且保持稳定的等离子体。最低工作气压比其他同类产品低10到100倍。低气压清洗速度更快，更均匀，对电子枪和分子泵更安全；2. 即时等离子起辉技术。不用像在其他同类产品上那样担心等离子是不是成功起辉；3. 带气压计的自动气体流量控制；4. 实时测量等离子强度，用户可以根据这个实时反馈来优化清洗配方；5. 自动射频匹配实时保证最优化射频耦合，即使用户调节清洗配方；6. 专利保护的双层颗粒过滤器设计保证我们的产品满足Intel，台积电，三星等半导体用户的严格颗粒污染要求；7. 带LCD触摸屏的直观操作界面；8. 微电脑控制器带可修改的智能清洗计划，设好就自动清洗您的系统；9. 支持清洗配方，一键开始，自动射频匹配，自动控制气体流量；10. 微电脑控制器可记录所有信息状态，便于系统维护。二. 技术指标1. 等离子源真空接口：NW/KF40 法兰 提供转接法兰；2. 标配等离子强度传感器；3. 等离子源最低点火起辉气压：0.1毫托；4. 等离子源最高工作气压：1.0 托；5. 漏气率：0.005sccm；6. 射频输出：0~100瓦，连续可调节；7. 具有射频自动匹配功能8. 电源和功率：220V, 50Hz,

TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杆可与原子探针、透射电镜配套使用，有效地使原子探针和透射电镜检测结合在一起，使样品的观察和分析更加方便。TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杆用来夹持透射电镜样品放到透射电镜下进行观察，可以360°旋转样品，透射电镜配套的样品杆往往功能单一，这款样品杆可以满足客户的多种的需要，适合大专院校及科研院所中与透射电镜配套使用。进口样品杆往往价格不菲，本公司的样品杆不仅功能齐全且结实耐用，价格也远低于进口设备的价格。 产品型号TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杆主要特点1）TEM-APT样品杆：三维原子探针（3DAP）和透射电镜（TEM）是先进的原子尺度表征手段。2）三维原子探针的结果不是“可视”的，需要通过数据重构再现。透射电镜能提供“直接可视”的实验结果，但是结果是二维投影的，并且很难获得三维的单个原子尺度的成分信息。基于它们各自的优势，我们开发了3DAP-TEM样品杆，可以将原子探针（APT）试样直接加载到TEM样品杆上。产品结构 产品作用（1）在TEM中直接观察APT试样上是否有令人感兴趣的区域，使样品检测工作效率增加；（2）通过大角度倾转试样，获得不同角度试样的形貌结构特征，为3DAP数据重构提供帮助；（3）TEM观察过后的试样可以直接移到APT中继续实验。将APT结果与TEM图像相结合，有 助于优化重构参数，并使3DAP结果更具有可信度。（4）在原子水平上获得了样品的组成和结构。产品性能（1）接受锥形电化学抛光的样品或聚焦离子束（FIB）制备的样品柱。（2）允许360°的图像采集和层析图像的重建，不会因楔子缺失而造成信息损失。（3）样品可以很容易地从支架上取出，然后直接转移到APT机上进行进一步表征。（4）兼容所有几何形状的极片间隙。

泽攸科技 国产台式扫描电镜采用自主研发的钨灯丝电子枪，加速电压在1-15kV范围内连续可调，可同时搭配二次电子探测器、背散射电子探测器、集成式能谱仪及多种原位样品台，满足不同实验及检测需求，应用领域广泛。 国产台式扫描电镜产品特色 仅需鼠标即可完成所有操作，无须对中光阑等复杂步骤；亮度/对比度一键自适应，自动/手动聚焦； 抽真空时间小于90秒；标配光学导航，搭配多样品台，实现快速找样及切换样品； 信号采集带宽10M，扫描速度快；视频模式下实时观察样品，操作流畅，无卡顿； 四分割背散射电子探测器（多种成像模式）、二次电子探测器；BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能； 兼容泽攸科技自研原位拉伸台、加热台、电学台等；材料动态变化过程实时观察； 国内生产、销售、售后一体化服务；北京、上海、安徽、广东常驻工程师并提供设备演示； 台式扫描电镜应用 安徽泽攸科技有限公司拥有一支精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件开发技术的技术团队，致力于突破电子显微镜制造这一"卡脖子"技术难题，自主研发的国产台式扫描电镜自2019年对外发布后便受到众多科研及实验工作者的关注，产品已陆续销售并在众多高校科研实验室及企业研发检测使用。泽攸科技将持续不断地优化产品型号及配置，期待与您的合作。 安徽泽攸科技有限公司是国产台式扫描电镜生产厂家，关于国产台式扫描电镜价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

产品简介通过MEMS芯片对样品施加热场控制，在原位样品台内构建热场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EBSD等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。 我们的优势 高分辨率独创的MEMS微加工工艺，加热芯片视窗区域的氮化硅膜厚度最薄可达10 nm，可达到扫描电镜极限分辨率。优异的热学性能1．高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。2．超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更精确。3．采用高稳定性贵金属加热丝（非陶瓷材料），既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.01℃。4．采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01 ℃。5．多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。6．加热丝外部由氮化硅包覆，不与样品发生反应，确保实验的准确性。智能化软件1．人机分离，软件远程控制气体条件，全程自动记录实验细节数据，便于总结与回顾。2．自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等，同时可手动控制目标温度及时间，在程序升温过程中发现需要变温及恒温，可即时调整实验方案，提升实验效率。3．内置绝对温标校准程序，每块芯片每次控温都能根据电阻值变化，重新进行曲线拟合和校正，确保测量温度精确性，保证高温实验的重现性及可靠性。技术参数类别项目参数基本参数台体材质高强度钛合金分辨率扫描电镜极限分辨率适用电镜ZEISS、Thermo Fisher等主流电镜EDS/EBSD支持 应用案例Synthetic scheme for thepreparation of ZIF-67 crystalsand GCSEM imagesZIF-67 after heated

GEN5型Deben固态扫描EM探测器是模块化的，系统的核心是ARM2机械接口、GEN5电子设备和软件GUI。ARM2可以适用于大多数电镜水平方向空闲端口。GEN5电子设备独立放置或放置与19"机架上，单独的前置放大器一般放置在扫描电镜底座上。探头段和亮度/对比度的控制来自运行在Windows® 7.0/10.0/32/64位操作系统。最多三个同时通道的视频被反馈到SEM进行观看和保存。最多三个同时通道的视频被反馈到SEM进行观看和保存。根据应用程序的不同，在相同的ARM2/Gen5系统上可以使用不同的探头系统，用于BSE或STEM成像。n 可交换BSE和STEM探头n 高速采集n 优异的低电压性能 n 高灵敏度所有的探头都是由相同的超低电压PN硅制成，并被网格化以减少表面电荷的积累。有四个输入通道，每个输入都可以打开/关闭或反转。任何输入的组合都可以混合以提供信号输出。这意味着您可以在完整的或选定的区域组合模式、角度地形模式或相位对比模式下运行，这为操作员提供了超高的灵活性。

泽攸科技 ZEM桌面台式扫描电镜，使用方便，操作简单，稳定性好，速度快，小巧方便，在使用ZEM桌面台式扫描电镜时只需要找一张桌子，供电后就可以正常工作，软件操作也很简单，可以看操作手册。桌面台式扫描电镜应用安徽泽攸科技有限公司是ZEM桌面台式扫描电镜生产厂家，关于ZEM桌面台式扫描电镜价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

产品特点：金纳米螺旋标尺（L，R）是手性的纳米标记物，尤其适合于3D断层扫描，电子显微镜（EM）或冷冻电镜。我们的手性标记物显示纯手性（L或R），由于高对比度和金纳米颗粒的精准排列，可以很容易地被电镜检测到。金纳米螺旋标尺（L，R）是用DNA折纸技术制备，金纳米颗粒（10nm）被排列成纳米螺旋（螺距57nm 长110nm 直径34nm）。纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：在透射电镜载网中：样品放在干燥的透射电镜载网上使用，以提高由银增强放大了的螺旋效果。样本存储在石蜡膜覆盖的塑料孔中进行运输。保质期是6个月。在缓冲液中:该纳米螺旋储存在缓冲液（1X TE，11mM MgCl2）中运输。样本量约为30μL，这个量足以用于10个以上的TEM。样品保存于低温的保温盒中进行运输。适当的储存条件下（避光，4℃），保质期为3个月。

秉承飞纳台式扫描电镜系列全自动操作、快速成像、不喷金观看不导电样品、完全防震、性能稳定的特点，荷兰飞纳公司推出采用肖特 基场发射电子源，集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体的台式场发射扫描电镜能谱一体机 Phenom Nano G2。 高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像。最高放大倍数 100 万倍，分辨率优于 2.5nm肖特基场发射电子源彩色光学显微镜全景导航集成全自动马达样品台内置全自动真空锁，15 秒抽真空无需喷金，直接观察不导电样品无漏磁设计，直接观测磁性样品操作简单，培训 30 分钟即可上手耦合式电子光路设计内置 27 组独立减震单元，完全防震维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定，可以长时间工作，自动化程度高，大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定，寿命长，电子光路免维护，后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计，杜绝人为操作不当引起设备故障；同时，提供终身免费的远程联网检测，实时维护您的电镜。复纳科学仪器（上海）有限公司为您提供飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2的参数、价格、型号、原理等信息，飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2产地为荷兰、品牌为Phenom，型号为Phenom Pharos G2，价格为面议RMB，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

我司现有一台二手飞纳电镜Phenom ProX出售，价格可谈，欢迎垂询第五代飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 是新一代的集成化成像分析系统，分辨率提升 20%，进一步增加应用范围，更加适用于对电子束敏感的样品。借助该系统，既可观察样品的表面形貌，又可分析其元素组分。研究样品时，得到样品的形貌信息只是解决了一半问题。获得样品的元素组分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊设计的能谱探测器，飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 可以完善解决上述所有问题。能谱仪是一种基于样品被电子束激发而产生 X 射线的分析仪器。Phenom 的能谱仪无论软件、硬件都是完全集成设计在飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 系统中。Element Identification (EID) 软件可以使用户实现多点分析，检测样品的元素组分。此外，该软件还可以扩展到元素分析线面扫（mapping）功能。分步操作界面可以帮助用户更方便地收集、导出分析数据。光学放大20 - 135 X电子光学放大80 - 150,000 X分辨率优于 8 nm数字放大Max. 12 X光学导航相机彩色加速电压5 kV - 15 kV 连续可调真空模式高分辨率模式降低荷电效应模式探测器背散射电子探测器二次电子探测器 (选配)

电镜主动减震台-固润光电应用范围：为各类透射式电子显微镜(TEM)、扫描式电子显微镜(SEM)、发射式电子显微镜、探针显微镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜（AFM）、横向力显微镜。白光干涉仪，光刻机，微纳米结构和加工仪器！超低频隔震台、防震台、减震台、除震台,主动隔振台，主动减振台，主动防震台，主动防振系统。table stable,主动隔振台，主动防震台，主动减振台，桌面式防震台特点：是一款紧凑型、模块化的六自由度隔振系统，用于抵消工作环境对灵敏度高的精密设备产生的不必要振动，以提高精密设备的性能，具有卓越的性能及通用性。该隔振台的主动隔振频率为 0.5Hz - 200Hz，被动隔振频率200Hz，其能够整合到现有的需要低频隔振的设备中，主动检测输入振动并动态消除；允许自由选择整个系统的尺寸和配置，可通过增加隔振模块的数量来支持更大的仪器载重量。安装简单，易操作，稳定性高，能无故障连续使用多年。AVI系列产品的优势和亮点在于：六个自由度全方位隔振低频隔振行业领先（0.5-200 Hz主动隔振, 200Hz以上被动隔振）主动隔振性能突出（特别是在0-5 Hz）最大刚度和稳定性可扩展容纳任何设备尺寸无缝安装，使用简便 AVI系列主要型号有：AVI-200系列（适用于重达450kg的设备）AVI-400系列（适用于重达900kg的设备）AVI-600系列（适用于重达1360kg的设备）增加隔振装置可提高承重力，如AVI-600系列搭配8个隔振装置可用于重达5400kg的设备。 此外，AVI系列还有多个升级选项可供选择，如：LFS 传感器系统(搭配LFS系统AVI系列可用于0.5-200 Hz隔振)工作台集成隔音箱集成定制面板尺寸及材料（包括阻尼铝板，花岗石块，电路板，可打孔等）机架式控制器（标准尺寸19″）振动器集成（激励源） AVI系列还可根据特定的研究需求进行定制。 table stable,主动隔振台，主动防震台，主动减振台，桌面式防震台

Sandwich和Duo系列 主动隔振系统，用于电子显微镜，轻量型紧凑设计，6个自由度主动减震Sandwich和Duo系列主动减震台。能够消除环境振动对电子显微镜造成的影响，使得能够在完美性能情况下继续工作，特别是扫描电子显微镜SEM和透射电子显微镜TEM。轻型紧凑设计使得Duo系列主动减震模块易于集成到电镜工作站中，安装简易，无须整体挪动电镜以及重新调试。产品技术特点：1、6个自由度2、主动减震频率从0.6Hz起3、解耦架构4、可变阻尼5、内置人工智能功能6、 体积小，设计优雅，重量轻。7、不使用压电元件8、重型设备安装方便——不需要吊装工具和重型结构。 9、远程控制10、内置实时诊断工具11、高度可调谐的隔振控制-系统可配置为适应具有挑战性的环境条件12、灵活的内部结构可定制应用案例：

TESCAN VEGA 第四代钨灯丝扫描电子显微镜，采用全新的 Essence™ 电镜操控软件系统，将扫描形貌图像与元素实时分析集成于同一个扫描窗口中。这种组合大大简化了样品表面形貌的采集及所含元素的数据分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料等检测提供更高效的分析的解决方案。TESCAN VEGA 采用创新的电子光学设计，确保在需要时即时、无缝地选择成像或分析条件，无需对任何电子光学镜筒内的元件进行机械对中。可以配置真空缓冲节能单元，使用后可显著缩短机械泵的运行时间，从而达到节能、环保的要求。主要特点:完全集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平台，在 Essence™ 电镜操控软件的单一窗口中即可实现 SEM 成像和元素成分分析。TESCAN 采用独特的无机械光阑设计，采用实时电子束追踪（In Flight Beam Tracing™ ）的专利技术，可帮助用户快速获得电镜合适的成像及分析条件。独特的大视野光路（Wide Field Optics™ ）设计，最低至2倍的放大倍数，无需额外的光学导航摄像头即可轻松、精确地实现 SEM 导航。直观、模块化的 Essence™ 软件设计，不同经验等级的用户均可轻松操作。在样品台及装置的样品运动过程中，Essence™ 3D 防碰撞模块可以直观的显示安装样品室内的探测器及样品台的位置信息，提供安全性的保护。SingleVac™ 模式作为标准配置，为观测不导电样品和电子束敏感的样品提供便利的分析利器。可选配的真空缓冲节能单元可显著缩短机械泵的运行时间，提供环保、高经济效益的电子显微镜。模块化分析平台，可选配集成最多种类的探测器和附件（如阴极荧光探测器，水冷背散射电子探测器或拉曼光谱仪等）。大视野设计，实现低倍精确导航利用大视野光路(Wide Field Optics™ )技术，用户可通过扫描窗口实时观察样品，直接实现感兴趣位置的精确导航。大视野光路技术取代了传统的CCD导航相机，提供无与伦比的大景深，同时也提供样品实际形貌的图像，实现更直观、先进的样品导航过程。在 SEM 观测窗口中，最小2倍的放大倍率保证了大视野无畸变的图像实时观测，可连续放大感兴趣的区域，无需光学导航相机。实时的SEM窗口同样可与预倾斜样品台（如 EBSD 预倾台）配合使用，对于需要倾斜分析的样品，支持扫描倾斜校正，从而实现更精确的导航。自动操作通过一次点击就可以进行自动灯丝加热和电子枪对中。众多的自动程序减少了用户的操作时间，并提供了操作的自动导航与自动化分析。通过内置脚本语言（Python）用户可以进入软件大多数功能，包括电镜控制、样品台导航、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户也可以自定义软件的自动操作。全新的 EssenceTM 电镜控制软件用户界面有各种语言版本。集成的 Essence™ EDS 能谱软件，轻松快捷地实现从成像切换到元素分析，通过软件一键即可实现所有设置参数的更改。具备快速搜索功能、命令撤消及参数预设等多种功能，帮助用户高效、快捷地完成分析工作。允许用户设定符合其自身体验水平或特定应用的工作流程。Essence™ 防碰撞模型软件能够直观的模拟出样品室内情况，有效避免碰撞的发生。内置的自动系统检查。通过局域网或互联网可实现电镜远程诊断。模块化软件体系结构。标准的软件模块包括了：光电联用、测量工具、图像处理、对象区域等。选配软件包括了：颗粒度分析、三维表面重构等。软件：测量软件, 公差测量软件图像处理预设参数直方图及LUTSharkSEM™ 基础版 (远程控制)3D 防碰撞模型软件对象区域光电联用 定时关机CORAL™ （用于生命科学的电镜模块）自动拼图软件样品观察TESCAN Flow™ (离线处理软件)根据实际配置和需求探测器和附件：皮安计，包含防碰撞报警功能样品室内 Everhart-Thornley 式二次电子探测器 (SE)用于观察样品室内部情况的红外摄像机可伸缩-闪烁体式背散射电子探测器阴极荧光探测器共聚焦拉曼光谱其它各种附件可供选择（详情请来电咨询）

隔音箱-电镜隔音箱-屏蔽罩-Herzan 描述：隔音箱-电镜隔音箱-屏蔽罩-Herzan 的AEK-2002是一款经过现场测试和优化的隔音箱，采用了HERZAN专利多层可变密度隔音材料，在50-5,000 Hz范围内的隔音性能可高达45 dB，有利于保护敏感仪器免受破坏性噪音的干扰。 此外，隔音箱-电镜隔音箱-可针对单个应用进行定制和升级，通过提供具体应用的隔音解决方案，为用户的研究仪器提供安静的操作环境以便进行高精度研究。 隔音箱-电镜隔音箱-屏蔽罩-Herzan 工作原理：声学噪声常以不同的方式影响仪器，具体取决于仪器的检测方法和精度水平。对于成像设备，它会导致图像模糊或边缘出现锯齿图案。对于定量仪器，它会降低测量精度。在极端情况下，噪声会完全阻碍测量。由于噪声水平全天波动，因此噪声也会降低测量的可重复性。采用隔音设备对于促进研究和科学发展就有十分重要的意义。 隔离仪器噪音基本上有两种方法：减少噪音或吸收噪音。降噪是声能的阻挡或转移。实现降噪的最佳方法是使用刚性，块状和高密度的材料。柔软或低密度的材料容易传播噪音，不适合转移噪音。吸收噪音需要不同的特性。实际上，较软的材料可以非常有效地吸收声音。具有高表面积的柔软材料（例如泡沫板）非常适合吸收和消除高频噪声。根据频率和能量水平，有些噪声更容易发生转移，而有些则更容易吸收，可以使用密度可变的材料来实现最大程度的降噪。 Herzan隔声箱由不锈钢隔音箱外壳和支架由组成；隔音箱内层采用多层可变密度隔音材料。隔音箱通过密闭的金属箱体结构隔绝空气流动并起到支撑负重的作用，并通过多孔复合材料吸收从100Hz到2000Hz范围内的声波振动，防止空气流动和声音引起设备振动，从而保证光学实验中的精密仪器和器件在稳定的环境下运行。 隔音箱-电镜隔音箱-屏蔽罩-Herzan 产品亮点： 保护最敏感的研究仪器免受嘈杂环境影响多层可变密度隔音材料宽带隔音（50-5,000 Hz）高达45 dB提供性能，可访问性，可用性升级为最终用户和OEM提供100％机箱定制 隔音箱-电镜隔音箱-屏蔽罩-Herzan 应用范围： 原子力显微镜(AFM)扫描探针显微镜(SPM)高精度计量产品测试精密显微镜 升级选项：隔振台集成(主动或被动)隔音性能升级EMI电磁屏蔽NanoDamp框架气体吹洗温度稳定性定制尺寸和颜色 隔音箱-电镜隔音箱-屏蔽罩-Herzan 技术参数：内部尺寸(W x D x H): 25.6 x 28.8 x 24 in/650 x 731.5 x 609.6 mm外部尺寸 (W x D x H): 32.1 x 34.6 x 55.3 in/815.3 x 878.8 x 1404.6 mmAEK-2002 是 Herzan公司至今为止最畅销的隔声设备, 为原子显微镜制造商和使用者提供高品质的设计和高性能的隔声设备. AEK-2002 拥有众多符合标准的高级功能和额外可选的功能.隔音箱-电镜隔音箱-屏蔽罩-Herzan 性能30 dB @ 100 Hz35 dB @ 500 Hz40 dB @ 1000 Hz即使在嘈杂的生产环境中也能提供一个安静的测试环境可选配件让性能提高

用于透射电镜电子衍射的高性能探测器相机ASI的Chee-tah是一种适合于电子显微镜应用的混合像素探测器。Chee-tah卓越的灵敏度和速度为获得电子衍射、成像及断层扫描提供了可能性。Chee-tah 含有一个硅二极管传感器，硅二极管被分成512x 512或1024 x 1024的像素阵列。每个像素通过bump-bonds与集成在芯片上的读出电子器件相连，芯片位于传感器下方。每个像素的电子器件单独处理来自该像素传感器的信号。每个独立像素对其相应区域中检测到的事件进行计数和处理。闪烁体CCD探测器探测不到噪声量级的微弱信号，而Chee-tah可以获得。与其它类型的直接探测器相机比较，Chee-tah的动态范围很大，电子束灵敏度很高，常用于衍射实验。Chee-tah的高速特点使之成为观察动态过程和捕捉快速衰减信号的理想工具。探测器优点1）ASI的新型超高灵敏探测器提供了一种通过电子衍射研究微米和纳米尺度晶体的解决方案，并可安装在现有的透射电镜底部，或也可侧装。高灵敏度以及高读出速率及宽动态范围使得用户能够收集远超过CCD和CMOS相机所限制的数据。对(4D)STEM应用来说，这意味着能够对大面积进行快速扫描。2）多功能设计使我们的探测器向后兼容几乎所有的电子显微镜，也可进一步调整以满足用户新需求。3）X射线晶体学是测定蛋白质和其它光束敏感材料之原子结构常用的方法。要获得高分辨率的X射线数据，通常需要比较大的晶体。然而，在许多情况下，只生长出微米或纳米尺度的晶体。近期的研究结果表明，微米和纳米尺度晶体可以用TEM电子衍射来研究。应用领域能量分辨X射线计算机断层扫描快速生产线X射线检查电子显微镜质谱Chee-tah120TimepixChee-tah1800Timepix3RXChee-tah(event)Timepix3Pixels(55um)512 x 512 / 1k x 1k512 x 512 / 1k x 1k512 x 512Sensitive Area2.8 x 2.8 / 5.6 x 5.6 cm2.8 x 2.8 / 5.6 x 5.6 cm2.8 x 2.8 cmMax Speed120 Hz1800 / 425 Hz1.6 ns (500 MHz)Counter Depth13.5 bit12/24 bit14bitSensorsSi, GaAsSi, GaAsSi, GaAsConnection1 GB / 4 x 1 GBEthernet10 GB Ethernet10 GB EthernetOperationCounting, TOA, TOTCounting, CSMSimultaneous, TOA, TOT型号及配置荷兰ASI公司(Amsterdam Scientific Instruments B.V.)出品的Chee-tah系列用于TEM ED的光子计数型混合像素探测器相机有多种型号及配置可选：1）可选型号：Chee-tah120（Timepix技术，ToT、ToA等应用，帧频120f/s，阈值数1个）；Chee-tah 1800（Medipix3RX技术，CSM&SPM模式等应用，帧频1800f/s，阈值数1或2个）；Chee-tah(event)（Timepix3技术，ToT、ToA、光子时间戳、速度映射成像和符合成像等应用，可与同步加速器或自由电子激光等配套，时间分辨率1.6纳秒，超高速帧频500 MHz，阈值数1个）等。2）可选传感器材料类型：Si, GaAs, CdTe, ... 常用硅，可选砷化镓（高能量用途），碲化镉（更高能量用途）。3）可选传感器厚度：300um/500um/1000um（标配300um，高能量应用请选较厚的厚度）4）可选像素数：65k、262k、524k、1M、2M等不同活区面积。5）可选底装或侧装。上述总有一款及其配置适合您的TEM ED晶体学分析和结构解析以及X射线检测和成像应用，欢迎选购！

日本电子扫描电镜JSM-6510A/JSM-6510LA详细介绍日本电子扫描电镜JSM-6510A/JSM-6510LA型与日本电子公司的元素分析仪（EDS），统合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制，操作员只用一只鼠标，就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。扫描电镜最基本的功能是对各种固体样品表面进行高分辨形貌观察。大景深图像是扫描电镜观察的特色，应用于生物学、植物学、地质学、冶金学等领域。观察可以是一个样品的表面，也可以是一个切开的面，或是一个断面。冶金学家已兴奋地直接看到原始的或磨损的表面。可以很方便地研究氧化物表面，晶体的生长或腐蚀的缺 陷。它一方面可更直接地检查纸，纺织品，自然的或制备过的木头的细微结构，生物学家可用它研究小的易碎样品的结构。例如：花粉颗粒，硅藻和昆虫。另一方面，它可以拍出与样品表面相应的立体感强的照片。电子束与样品作用区内，还发射与样品物质其他性质有关信号。例如：与样品化学成分分布相关的，背散射电子，特征X射线，俄歇电子，阴极荧光，样品吸收电流等；与样品晶体结构相关的，背散射电子衍射现象的探测；与半导体材料电学性能相关的，二次电子信号、电子束感生电流信号；在观察薄样品时产生的透射电子信号等。目前分别有商品化的探测器和装置可安装在扫描电镜样品分析室，用于探测和定性定量分析样品物质的相关信。操作窗口： 直观的操作界面的设计，简明易懂便于迅速掌握操作。支持多用户：单个用户可以根据常用功能设置相应的图标，营造快捷的操作环境。用户登录时，即可加载已注册过的设定。同时显示两幅图像：画面上并列显示二次电子成像和背散射电子成像这两种实时图像。可同时观察样品的形貌和组成分布。微细结构测量：适合于多种测量功能。可在观察图像上直接进行测量。也可将测量结果贴至SEM图像，保存在文件中。标准的全对中样品台，能收录三维照片3D Sight（选配件），能够进行平面测量和高度测量，实现立体俯视图。 从图像观察到元素分析，配合连贯一条龙分析型扫描电子显微镜配备两台监视 器，一台用于SEM图像观察和另一台用于元素分析（EDS）。一只通用鼠标即可同时控制两台监视 器。大尺寸画面使操作更加简便与舒 适。维护简便：工厂预置中 心灯丝，十分便于更换。因此，可长期保持稳定的高性能。此外，操作界面还能以映像形式显示灯丝维护的步骤说明。可信赖的真空系统：真空系统使用高性能的扩散泵保证了洁净的高真空状态。扩散泵内部无活动部件，体现了操作稳定，维护简便的特色。 日本电子扫描电镜JSM-6510A/ JSM-6510LA型的规格保证分辨率3.0nm（30kV）8.0nm（3kV）15nm（1kV）放大倍数5至300,000x加速电压0.5kV至30kV电子枪工厂预对中灯丝聚光镜变焦聚光镜物镜锥形物镜样品台全对中样品台X-Y80mm-40mmZ5mm至48mm旋转360°倾斜－10°至＋90°排气系统（高真空模式）DPx1，RPx1排气系统（低真空模式）DPx1，RPx2日本电子最 大的亮点——方便的导航系统

在枪zhi犯罪事件中，枪击残留物 GSR 的分析将发挥重要的作用。GSR 分析技术首先基于扫描电子显微镜 （SEM） 的背散射成像，用来扫描样品和发现可疑的 “GSR” 颗粒。一旦发现可疑的颗粒，使用能谱（EDS）识别在该粒子中的元素。最常见的搜索元素为 Pb，Sb 和 Ba。无铅底火的检测，例如 Ti 和 Zn 也可最为搜索条件进行搜索。Phenom GSR 飞纳台式扫描电镜自动枪击残留物分析是全球首创在台式扫描电镜运行自动枪击残留物分析软件。其设计基于飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版 Phenom XL。软件和硬件完全一体化，以提高用户操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三个项目：自动枪击残留物分析和分类软件包，BSED 和 EDS 探头内部集成，校准试样。Phenom GSR 飞纳台式扫描电镜自动枪击残留物分析配备 CeB6 灯丝，使其稳定运行，灯丝寿命不低于 1500 个小时，从可用性，适用性和运行时间的角度来看都非常理想。小于 1 分钟的加载时间，和快速的全自动马达样品台，使得飞纳 GSR 成为高度自动化应用的理想工具，可以用来进行自动枪击残留物分析。飞纳电镜枪击残留物分析 Phenom GSR基于 CeB6 灯丝的高分辨图像直观易用的 GSR 软件高吞吐量，一次性放置多达 36 个试样操作简单，永不丢失导航系统，完全集成能谱仪测量结果准确可靠，广泛兼容法医领域的各类应用规格参数光学放大3 - 19 X电子光学放大200,000 X分辨率优于 8 nm灯丝材料优于 1500 小时 CeB6 灯丝光学导航相机彩色加速电压4.8 Kv - 20.5 Kv 连续可调真空模式高分辨率模式降低核电效应模式高真空模式探测器背散射电子探测器二次电子探测器 (选配)样品尺寸最大 100 mm X 100 mm可同时装载 36 个 0.5 英寸样品台样品高度最高 65 mm，样品高度全自动调节

北京金竟科技有限责任公司自主研发的超低温冷台（型号：GSC-MK系列）是极具特色的电镜周边配件之一。它拓宽了扫描电镜观察样品的范围，使得对液体、含水样品、温度敏感和电子束辐照敏感样品等在内的多种样品的直接观测成为可能。可控低温环境为研究材料物理性质随温度变化的特性奠定了基础，例如半导体材料的荧光特性和温度的密切相关性。某些III-V族合金的阴极荧光（简称为CL）发射光谱，需要使用液氮乃至液氦的超低温冷台，因为这些光谱在常规室温的温度下是无法有效检测到的。低温冷台在材料、半导体、生物样品等的检测中具有广泛的应用。在半导体光电领域，低温冷台有助于提高光电材料在较低温度下的发光效率。在相同的入射电子束激发能量下，低温环境下的检测可以获得更高强度的CL发射，同时锐化系统的光谱，因此能够更加有效地研究弱光信号发射。低温CL测量的一个重要应用是解析大量的线谱，这些线谱可以用基本的原子和量子力学术语来解释，并与相应的理论相关联。产品主要组成部分 制冷系统：超低温冷台的核心部分，能够将温度降低到所需的超低温水平。 低温样品台：放置实验样品的地方，需要能够保持温度稳定，并具有良好的隔热性能。 控制系统：用于控制超低温冷台的各项操作，例如温度控制、样品移动等。 其他辅助设备：例如液氮/液氦罐、低温传输管线等，用于维持冷台的稳定运行。

一、产品概述：扫描电镜（Scanning Electron Microscope, SEM）是一种高分辨率的显微镜，利用电子束扫描样品表面以获取其形貌和组成的信息。SEM能够提供详细的三维表面图像，广泛应用于材料科学、电子工程、生物学和地质学等领域。二、设备用途/原理：设备用途EM主要用于材料表面的形貌分析、微观结构观察和成分分析。它在半导体器件的缺陷检测、金属和合金的微观结构研究、以及生物样品的形态观察中发挥着关键作用。SEM还常用于材料的质量控制和研发过程中的性能评估。工作原理SEM的工作原理是将高能电子束聚焦到样品表面，电子束与样品相互作用产生二次电子、反射电子和特征X射线等信号。通过收集这些信号，SEM能够生成样品表面的高分辨率图像。电子束的扫描可通过计算机控制，实现多角度观察和深度信息提取。由于其高分辨率和大景深特性，SEM能够提供丰富的样品表面信息，助力多领域的研究和应用。三、主要技术指标：1. FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术 、半导体、电子器件、生命科学、材料等域2. 电子枪种类：冷场发射3. 二次电子图象分辨率：0.6 nm@15kV；0.7nm@1kV4. 放大倍数：20-2,000,000x5. 加速电压：0.5-30kV