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能谱仪原理

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  • 光电子能谱原理

    http://www.physics.fudan.edu.cn/equipment/YuanLi_guangdianPu.htm1. 引言光电子能谱同其他各种表面分析手段一样,首先经物理学家之手开创,并随着它不断完善,在化学、金属学及表面科学领域内得到了广泛的应用[1]。历史上,光电子能谱最初是由瑞典Uppsala大学的K.Siegbahn及其合作者经过约20年的努力而建立起来的。由于它在化学领域的广泛应用,常被称为化学分析用电子能谱(ESCA),但是,因为最初的光源采用了铝、镁等的特性软X射线,此方法逐渐被普遍称为X射线光电子能谱(XPS)。另外,伦敦帝国学院的D.W.Turner等人在1962年创制了使用He I共振线作为真空紫外光源的光电子能谱仪,在分析分子内价电子的状态方面获得了巨大成功,在固体价带的研究中,此方的应用领域正逐步扩大。与X射线光电子能谱相对照,此方法称为紫外光电子能谱(UPS),以示区别。2. 基本原理光电子能谱所用到的基本原理是爱因斯坦的光电效应定律。材料暴露在波长足够短(高光子能量)的电磁波下,可以观察到电子的发射。这是由于材料内电子是被束缚在不同的量子化了的能级上,当用一定波长的光量子照射样品时,原子中的价电子或芯电子吸收一个光子后,从初态作偶极跃迁到高激发态而离开原子[2]。最初,这个现象因为存在可观测得光电流而称为光电效应;现在,比较常用的术语是光电离作用或者光致发射。若样品用单色的、即固定频率的光子照射,这个过程的能量可用Einstein关系式[3]来规定:式中hν为入射光子能量,Ek是被入射光子所击出的电子能量,Eb为该电子的电离能,或称为结合能。光电离作用要求一个确定的最小光子能量,称为临阈光子能量hν0。对固体样品,又常用功函数这个术语,记做φ。对能量hν显著超过临阈光子能量hν0的光子,它具有电离不同电离能(只要Eb<hν)的各种电子的能力。一个光子对一个电子的电离活动是分别进行的。一个光子,也许击出一个束缚很松的电子并将高动能传递给它;而另一个同样能量的光子,也许电离一个束缚的较紧密的电子并产生一个动能较低的光电子。因 图见网页。图1 用Mg KαX射线激发的氖PE谱 此,光电离作用,即使使用固定频率的激发源,也会产生多色的,即多能量的光致发射。因为被电子占有的能级是量子化的,所以光电子有一个动能分布n(E),由一系列分离的能带组成。这个事实,实质上反映了样品的电子结构是“壳层”式的结构。用分析光电子动能的方法,从实验上测定n(E)就是光电子能谱(PES)。将n(E)对E作图,成为光电子能谱图(如图1)。如上图那样简单的光电子谱图,对电子结构的轨道模型提供了最直接的,因而也是最令人信服的证据。严格的讲,光电子能谱应该用电离体系M+的多电子态方法来解释,比用中性体系M的已占单电子态(轨道)为好。3. 系内仪器资源我们系现有英国VG公司ADES 400角分辨电子能谱仪,它是一台大型超真空多功能表面分析设备。多年来,经过侯晓远教授实验室的多次改进,增加了快速进样装置和一台国产小型分子束外延装置[4],使实验者可以在不暴露大气的情况下,对自行生长样品的表面与界面进行分析测试;同时通过改进控制单元与计算机的接口,由原来的手动调节、机械录谱变为由计算机控制扫谱参数并记录扫描结果。图见网页。图2 多功能电子能谱仪与分子束外延装置的联机系统 ADES 400角分辨电子能谱仪系统如图(2)所示。整个系统由分析室(主室)、预处理室(预室)、快速进样室及小型MBE生长束源炉室四部分组成。电子能谱仪的本底真空度优于5×10-8Pa,配备有Ar离子枪可以处理样品,俄歇电子能谱(AES)测量样品表面化学状态,低能电子衍射(LEED)测量样品表面结构,另外该装置还有配备了双阳极X光枪(Al和Mg靶),可以做紫外光电子能谱(UPS)。生长室本底真空度优于3×10-8Pa,生长过程真空度优于3×10-7Pa。生长室中可以同时装5个由循环水冷却的蒸发源,同时还配备了一个可以对样品的表面晶体结构进行原位实时测量的反射式高能电子衍射(RHEED)装置,样品的生长速率可以由晶体振荡器来测量,而且样品架有加热装置,可以用来处理样品或对样品在生长时加温,此外,生长室还安装了可以自动控制的劈形样品生长装置。有关这套劈形样品生长装置的消息介绍可以参考论文[5]。因此这套设备可以用分子束外延的办法生长磁性金属和合金,然后再分析室进行一些表面测量,制备好的样品,用金或银做为保护层覆盖后,再拿出真空室进行结构和磁性测量。 4. 参考文献[1] 染野檀,安盛岩雄,《表面分析》,科学出版社(1983)[2] 王华馥,吴自勤,《固体物理实验方法》,高等教育出版社(1990)[3] A.Einsten, Ann.Phys.,17, 132(1905)[4] 朱国兴,张明,徐敏,《半导体学报》, 14,719(1993)[5] 丁海峰,硕士论文,1998,复旦大学

  • 科普:CT能谱原理及几种功能应用

    科普:CT能谱原理及几种功能应用

    [b]CT能谱原理及几种功能应用[/b][size=15px][color=rgba(0, 0, 0, 0.298039)]计量与质控[/color][/size] [size=15px]计量与质控[/size] [size=15px][color=rgba(0, 0, 0, 0.298)]昨天[/color][/size]这是一篇比较基础而通俗的介绍能谱ct原理的文章,值得一读:[b]一.原理[/b] 在目前我们CT设备的发展中出现了两大方向,一是宽体,二是双源。随着我们设备的发展,我们的扫描已经越来越快,已经快到可以实现单个心动周期的心脏扫描。然而我们回头来反思我们CT成像的发展历程,虽然我们获得数据的速度越来越快,但获得的数据量一直没有很大提高,这本身和我们CT是单参数(物质衰减系数)成像有很大关系,这点我们是无法改变的。那我们怎么样能在单参数中获得更多的数据呢?这时CT能谱技术也就应运而生了。[img=,690,274]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/02/202102281611516339_3802_1626275_3.png!w690x274.jpg[/img][font=&][size=16px][color=#333333] 我们在前文讲过不同物质在不同KV下发生光电效应比例不同,他们有自己的一条衰减曲线,这条曲线是具有特异性,那么也就是说如果我们可以测算出某种物质在不同能量的X线下的衰减曲线,那么我们就可以知道该物质的组成成分,这正是我们能谱CT的一大研究热点,我们现在正在大量结合病理结果的基础上来将良恶性肿瘤的衰减曲线区分开来。[/color][/size][/font][b] 几种材料的质量衰减系数[/b][align=left][font=&][size=16px][color=#333333][b][img=,600,437]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/02/202102281614168363_7690_1626275_3.jpg!w600x437.jpg[/img][/b][/color][/size][/font][/align][align=left][color=#333333][b] [/b]能谱CT的关键在于衰减曲线,CT成像中,物质的衰减曲线可以用其CT值来表示,那么我们该怎样获得测算衰减曲线呢?  首先KvP和Kev是不一样的概念,kvp指的是我们的管电压,就是我们常说的120kv,其代表的是X线的最大能量,而kev指的是单能射线的能量,那么也就是说120kvp的X线是由0kev-120kev这些不同能量的X线组成的我们在CT扫描中,直接调节的是kvp,而不是kev,我们的CT也无法直接得到kev,只能通过一定的方法得到keV,[color=#ff0000]下面几幅图是[font=PingFangSC-light]不同CT厂商的实现原理(来源:开普影像):[/font][/color][/color][/align][align=center]单源瞬时kVp切换技术([color=#ff0000]比如GE公司[/color])[/align][align=center](未完待续)[/align]

  • X射线光电子能谱原理及测试分析

    X射线光电子能谱(XPS)作为一种非常有效的表面分析技术在材料、化学、化工等诸多领域具有重要应用,但其原理和相关概念相对于许多简单测试技术稍显复杂,很多初步接触者在XPS测试和数据分析中经常出现错误。本课程

  • 【分享】俄歇电子能谱基本原理 及应用

    俄歇电子能谱基本原理   入射电子束和物质作用,可以激发出原子的内层电子。外层电子向内层跃迁过程中所释放的能量,可能以X光的形式放出,即产生特征X射线,也可能又使核外另一电子激发成为自由电子,这种自由电子就是俄歇电子。对于一个原子来说,激发态原子在释放能量时只能进行一种发射:特征X射线或俄歇电子。原子序数大的元素,特征X射线的发射几率较大,原子序数小的元素,俄歇电子发射几率较大,当原子序数为33时,两种发射几率大致相等。因此,俄歇电子能谱适用于轻元素的分析。   如果电子束将某原子K层电子激发为自由电子,L层电子跃迁到K层,释放的能量又将L层的另一个电子激发为俄歇电子,这个俄歇电子就称为KLL俄歇电子。同样,LMM俄歇电子是L层电子被激发,M层电子填充到L层,释放的能量又使另一个M层电子激发所形成的俄歇电子。   对于原子序数为Z的原子,俄歇电子的能量可以用下面经验公式计算: EWXY(Z)=EW(Z)-EX(Z)-EY(Z+Δ)-Φ (10.6)   式中, EWXY(Z):原子序数为Z的原子,W空穴被X电子填充得到的俄歇电子Y的能量。 EW(Z)-EX(Z):X电子填充W空穴时释放的能量。 EY(Z+Δ):Y电子电离所需的能量。   因为Y电子是在已有一个空穴的情况下电离的,因此,该电离能相当于原子序数为Z和Z+1之间的原子的电离能。其中Δ=1/2-1/3。根据式(10.6)和各元素的电子电离能,可以计算出各俄歇电子的能量,制成谱图手册。因此,只要测定出俄歇电子的能量,对照现有的俄歇电子能量图表,即可确定样品表面的成份。   由于一次电子束能量远高于原子内层轨道的能量,可以激发出多个内层电子,会产生多种俄歇跃迁,因此,在俄歇电子能谱图上会有多组俄歇峰,虽然使定性分析变得复杂,但依靠多个俄歇峰,会使得定性分析准确度很高,可以进行除氢氦之外的多元素一次定性分析。同时,还可以利用俄歇电子的强度和样品中原子浓度的线性关系,进行元素的半定量分析,俄歇电子能谱法是一种灵敏度很高的表面分析方法。其信息深度为1.0-3.0nm,绝对灵敏可达到10-3单原子层。是一种很有用的分析方法。

  • 【转贴】X光电子能谱分析的基本原理及应用

    X光电子能谱分析的基本原理   一定能量的X光照射到样品表面,和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示:  hn=Ek+Eb+Er (10.3)   式中: hn:X光子的能量; Ek:光电子的能量; Eb:电子的结合能; Er:原子的反冲能量。   其中Er很小,可以忽略。对于固体样品,计算结合能的参考点不是选真空中的静止电子,而是选用费米能级,由内层电子跃迁到费米能级消耗的能量为结合能Eb,由费米能级进入真空成为自由电子所需的能量为功函数Φ,剩余的能量成为自由电子的动能Ek,式(103)又可表示为: hn=Ek+Eb+Φ (10.4) Eb= hn- Ek-Φ (10.5)   仪器材料的功函数Φ是一个定值,约为4eV,入射X光子能量已知,这样,如果测出电子的动能Ek,便可得到固体样品电子的结合能。各种原子,分子的轨道电子结合能是一定的。因此,通过对样品产生的光子能量的测定,就可以了解样品中元素的组成。元素所处的化学环境不同,其结合能会有微小的差别,这种由化学环境不同引起的结合能的微小差别叫化学位移,由化学位移的大小可以确定元素所处的状态。例如某元素失去电子成为离子后,其结合能会增加,如果得到电子成为负离子,则结合能会降低。因此,利用化学位移值可以分析元素的化合价和存在形式。   X光电子能谱法是一种表面分析方法,提供的是样品表面的元素含量与形态,而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。如果利用离子作为剥离手段,利用XPS作为分析方法,则可以实现对样品的深度分析。固体样品中除氢、氦之外的所有元素都可以进行XPS分析。

  • 不同离子色谱仪的运用领域原理分析

    早在20世纪初,俄国著名植物化学家次维特提出色谱概念以后,直到1975年,美国Dow化学公司的H。Small等人才首先提出了离子交换分离、抑制电导检测分析思维,即提出了离子色谱这一概念。色谱技术经历了半个多世纪的发展,才发展到离子色谱的阶段。这一概念的提出,便立即被商品化、产业化。由Dow公司组建的Dionex公司最早生产离子色谱并申请了专利。我国也从20世纪80年代才开始引进离子色谱仪器。  离子色谱按照分离原理分类,可以分3种不同类型,分别是离子交换色谱、离子对色谱和离子排斥色谱。。  其中离子色谱分离,主要是应用离子交换的原理,采用低交换容量的离子交换树脂来分离离子,它在离子色谱中应用最广泛,其主要填料类型为有机离子交换树脂。  离子对色谱的固定相为疏水型的中性填料,用于种植牙阴离子分离的对离子是烷基胺类,如氢氧化四丁基铵、氢氧化十六烷基三甲烷等。用于阳离子分离的对离子是烷基磺酸类,如己烷磺酸钠、庚烷磺酸钠等。  离子排斥色谱,主要根据Donnon膜排斥效应:电离组分受排斥不被保存,而弱酸则有一定保存的原理制成。离子排斥色谱主要用于分离有机酸以及无机含氧酸根,如硼酸根、碳酸根和硫酸根、有机酸等。目前,离子色谱的应用有:无机阴离子的检测;无机阳离子的检测和有机阴离子和阳离子分析,主要包括生物胺,有机酸和糖类分析。  具体在实验中,用户应该结合实际选择合适的分离方式,例如上海牙防所水合能高和疏水性弱的离子,如Cl-或K,最好用HPIC分离。水合能低和疏水性强的离子,如高氯酸(ClO4-)或四丁基铵,最好用亲水性强的离子交换分离柱或MPIC分离。有一定疏水性也有明显水合能的pKa值在1与7之间的离子,如乙酸盐或丙酸盐,最好用HPICE分离。有些离子,既可用阴离子交换分离,也可用阳离子交换分离,如氨基酸,生物碱和过渡金属等。  随着不断的实验与改进,离子色谱也在不断发展,无论是在检测方法,还是色谱柱方面,相信离子色谱在今后的应用会越来越广泛。

  • 【资料】紫外能谱仪谱线定值不确定度评定

    本文介绍紫外能谱仪的作用原理及仪器波长值的标定方法,对定值中的误差源进行分析,针对具体仪器推导出不确定度计算公式,通过对公式中各变量的分析,分别计算各变量引起的不确定度,最后给出扩展不确定度及分析结果。

  • 【原创】光谱仪的工作原理开关电源维修

    开关电源X射线光电子能谱法(X-ray Photoelectron Spectrom-----XPS)在外表剖析范畴中是一种簇新的方式。尽管用X射线照耀固体资料并测量由此引起的电子动能的散布早在本世纪初就有报道,但事先可到达的分说率还缺乏以观测到光电子能谱上的实践光峰。直到1958年,以Siegbahn为首的一个瑞典钻研小组初次观测到光峰景象,并发明此方式能够用来钻研元素的品种及其化学状况,故而取名“化学剖析光电子能谱(Eletron Spectroscopy for Chemical Analysis-ESCA)。目前XPS和ESCA已公以为是同义词而不再加以差别。XPS的重要特征是它能在不太高的真空度下进行外表剖析钻研,这是其它方式都做不到的。当用电子束激起时,如用AES法,必需运用超高真空,以避免样品上造成碳的沉积物而掩饰被测外表。X射线对比柔和的特征使咱们有能够在中等真空水平下对外表视察若干小时而不会影响测试后果。此外,化学位移效应也是XPS法不同于其它方式的另一特征,即采取直观的化学熟悉即可说明XPS中的化学位移,相比之下,在AES中说明起来就艰难的多。1 基础原理用X射线照耀固体时,因为光电效应,原子的某一能级的电子被击出物体之外,此电子称为光电子。假如X射线光子的能量为hν,电子在该能级上的联合能为Eb,射出固体后的动能为Ec,则它们之间的关系为: hν=Eb+Ec+Ws 式中Ws为功函数,它示意固体中的约束电子除战胜各别原子核查它的吸引外,还必需战胜全部晶体对它的吸引能力逸出样品外表,即电子逸出外表所做的功。上式可另示意为: Eb=hν-Ec-Ws 可见,当入射X射线能量肯定后,若测出功函数和电子的动能,即可求出电子的联合能。因为只要外表处的光电子能力从固体中逸出,因此测得的电子联合能必定反映了外表化学成份的状况。这正是光电子能谱仪的基础测试原理。

  • 微波消解的原理是什么?能改变目标物质的结构吗?

    微波消解的原理是什么?能改变目标物质的结构吗?本人想用icpms测一种有苯砷酸,用这种物质做了一组标线,发现根本就不在一条线上,反正是很糟糕的那种,标线是1,5,10,20,50,100ppb。 老师说测不了有机的,但是文献上介绍的可以哈。所以,想问一下,微波消解的原理是什么, 目的呢, 能改变物质结构吗,能使苯砷酸中的砷以无机砷的形式释放出来吗?非常感谢有人能解答。

  • 万能试验机的工作原理

    万能试验机是现代电子技术与机械传动技术相结合的产物,是充分发挥了机电各自特长而构成的大型精密测试仪器,可对各种材料进行拉伸、压缩、弯曲等多项性能试验,且有测量范围宽、精度高、响应快等特点。工作可靠,效率高,可对试验数据进行实时显示记录、打印。 万能试验机是由测量系统、驱动系统、控制系统、及电脑等结构组成。  1、测量系统:  ①力值测量  通过测力传感器、放大器和数据处理系统来实现测量。最常用的测力传感器是应变片式传感器,当外力作用在传感器上时,引起传感器输出电压的变化,而传感器输出的电压通过放大器和数据处理系统。将电信号转化成数值,即所施加力的大小  ②变形的测量  通过变形测量装置来测量,它是用来测量试样在试验过程中产生的形变。  该装置上有两个夹头,经过一系列传动机构与装在测量装置顶部的光电编码器连在一起,当两夹头间的距离发生变化时,带动光电编码器的轴旋转,光电编码器就会有脉冲信号输出。再由单片机对此信号进行处理,就可以得出试样的变形量。  ③横粱位移的测量  其原理同变形测量大致相同,都是通过测量光电编码器的输出脉冲数来获得横梁的位移量。  2、驱动系统:  主要是用于试验机的横梁移动,其工作原理是由伺服系统控制电机,电机经过减速箱等一系列传动机构带动丝杆转动,从而达到控制横梁移动的目的。通过改变电机的转速,可以改变横梁的移动速度。  3、控制系统:  控制系统是控制试验机运作的系统,人们通过操作台可以控制试验机的运作,通过显示屏可以获知试验机的状态及各项试验参数,若该机带有电脑的话,也可以由电脑实现各项功能并进行数据处理分析、试验结果打印。试验机同电脑之间的通信一般都是使用RS232串行通信方式,它通过计算机背后的串口(COM号)进行通信,此技术比较成熟、可靠,使用方便。  4、电脑:  万能试验机用来采集和分析数据,进入试验界面后,电脑会不断采集各样试验数据,实时画出试验曲线,自动求出各试验参数及输出报表

  • 【资料】有机质谱原理及应用已重新上传

    有机质谱原理及应用 陈耀祖,涂亚平主编 有机质谱是有机结构分析和有机成分分析不可缺少的工具,目前发展的三个热点是:软电离技术、联用技术和生物大分子质谱分析。本书是根据作者在实际教学与有机质谱研究工作中的实际经验编写而成的,在介绍有机质谱的常用技术及原理的基础上,结合生物活性分子的分析着重介绍这些热点技术的研究,具有鲜明的实用性。另外,本书还结合作者在分子一离子反应机理方面进行的开拓性研究,介绍反应质谱在立体化学分析中的应用,更富启发性。 本书可供大专院校化学、生物、医药学专业高年级学生及研究生和科研、生产、环保监测单位的分析工作人员参考阅读。   本书目录 目录 前言 第一章 绪论 1.1有机质谱的发展历史 1.2我国有机质谱概况 1.3有机质谱的进展 参考文献 第二章 有机质谱仪器 2.1进样系统 2.1.1储罐进样 2.1.2探头进样 2.1.3色谱进样 2.2电离方式和离子源 2.2.1电子轰击电离 2.2.2化学电离 2.2.3大气压化学电离 2.2.4二次离子质谱 2.2.5等离子体解吸质谱 2.2.6激光解吸/电离 2.2.7电喷雾电离 2.3质量分析器 2.3.1扇形磁场和静电场 2.3.2四极分析器与离子 2.3.3飞行时间质谱 2.3.4傅里叶变换离子回旋共振 参考文献 第三章 电子轰击质谱 3.1电离过程 3.1.1分子的电离与FranckCondon原理 3.1.2电离能和出现能 3.2离子的单分子反应动力学 3.2.1离子的飞行时间及寿命 3.2.2分子离子的能量分布和能量转换 3.2.3离子的热力学能和反应速率 3.3分子离子的单分子碎裂反应 3.3.1离子的碎裂反应中心 3.3.2分子离子的单分子碎裂反应 参考文献 第四章 化学电离质谱 4.1分子和离子的热化学性质 4.1.1质子亲和势与[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]碱度 4.1.2氢负离子亲和势 4.1.3电子亲和势 4.1.4[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]酸度 4.1.5结构对热化学性质的影响 4.2化学电离中的离子分子反应 4.2.1质子转移反应 4.2.2电荷交换反应 4.2.3氢负离子转移反应 4.2.4加合与缔合反应 4.2.5特殊反应 4.3化学电离试剂体系 4.3.1质子转移试剂 4.3.2电荷交换试剂 4.4分子的质子化位置 4.4.1脂肪族化合物 4.4.2芳香族化合物 参考文献 第五章 质谱/质谱 5.1质谱/质谱基础 5.1.1质谱/质谱基本概念 5.1.2质谱/质谱仪器 5.1.3碎裂与重排反应热力学 5.2质谱/质谱研究方法 5.2.1亚稳离子与动能释放 5.2.2碰撞诱导解离 5.2.3中性化再电离和碰撞诱导解离电离 5.3质谱/质谱的应用 5.3.1离子结构的确定 5.3.2反应机理的推测 参考文献 第六章 反应质谱 6.1概述 6.2反应质谱在立体化学分析及苯环位置异构体区分中的应用 6.2.1糖的立体化学分析 6.2.2直链邻二羟基物的立体化学分析 6.2.3取代烯的立体化学分析 6.2.4甾体化合物的立体化学分析 6.2.5氨基酸的手性检测 6.2.6有机化合物绝对构型测定 6.2.7二元取代苯异构体的区分 6.2.8双键位置的测定 6.3自碰撞室引入试剂的反应质谱 6.3.1[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]离子/分子反应机理研究 6.3.2离子结构测定和异构体区分 6.3.3有机物结构测定 6.3.4金属离子反应 6.3.5检测[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]中H/D交换反应 参考文献 第七章 质谱法测定分子结构(I)原理 7.1概述 7.1.1分子量的测定 7.1.2元素组成的确定 7.1.3测定官能团和碳骨架 7.2质谱裂解机理 7.2.1游离基中心引发的裂解 7.2.2电荷中心引发的裂解 7.2.3游离基中心引发的重排 7.2.4电荷中心引发的重排 7.2.5其他裂解反应 7.2.6影响离子丰度的因素 7.3各类化合物的裂解特征 7.3.1烃 7.3.2羟基化合物 7.3.3卤化物 7.3.4醚 7.3.5醛、酮 7.3.6羧酸 7.3.7羧酸酯 7.3.8胺 7.3.9酰胺 7.3.10腈 7.3.11硝基物 参考文献 第八章 质谱法测定分子结构(II)示例 例1溴苯 例2戊酮 例3亮氨酸 例4二十九碳醇 例5氨基3氯吩嗪 例6皂苷loganin的苷元 例7Mo(CO)3与异丙苯复合物 例84腈基4羟基二苯甲烷 例9新当归内酯 例10BrefeldinA 例11生物碱 例12木脂素 例13糖苷 例14混合糖苷 例15紫乌定及类似二萜生物碱 例16鬼桕毒素类 参考文献 第九章 生物大分子的质谱分析 9.1概述 9.1.1电喷雾电离质谱(ESIMS) 9.1.2基质辅助激光解吸离子化质谱 9.1.3快原子轰击质谱(FABMS) 9.2多肽和蛋白质的质谱分析 9.2.1多肽和蛋白质的一级结构 9.2.2多肽和蛋白质的分子量测定 9.2.3多肽和蛋白质的序列分析 9.3核酸的质谱分析 9.3.1核酸的一级结构 9.3.2核酸分子量的测定 9.3.3核酸的序列分析 9.4糖类的质谱分析 9.4.1概述 9.4.2寡糖的质谱分析 9.4.3糖复合物的质谱分析 参考文献 附录Ⅰ 分子的质子亲和度(PA)和[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]碱度(GB) 附录〖WTHZ〗Ⅱ 离子和中性物种的热化学数据 [em09511]在资料中心的下载地址为:[url=http://www.instrument.com.cn/download/shtml/088332.shtml]http://www.instrument.com.cn/download/shtml/088332.shtml[/url]

  • 广西大学能谱&EBSD研讨会--下一站武汉

    广西大学能谱&EBSD研讨会--下一站武汉

    牛津仪器于本月16日在广西大学举办能谱&EBSD研讨会,邀请广西大学、桂林理工大学、广西师范、广西民族大学等10所高校及企业参加。牛津仪器特派能谱、EBSD、FIB纳米触手及原子力显微镜等4位应用专家就不同研究领域及方向对当前最新的显微分析技术做详细介绍。焦汇胜博士对透射用及扫描用能谱技术的原理及理论重点讲解。同时在广西大学材料学院电镜室做现场演示。大家根据自己的研究的内容,提出各种问题,与牛津仪器应用专家热烈讨论。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304241115_436807_2512186_3.jpg 不同地区不同单位的研究方向各有差别,问题也多种多样,牛津仪器将每月在全中国各大城市巡回召开能谱及EBSD的研讨会。下一站,武汉。欢迎当地老师同学参加。

  • 光谱仪器的原理及操作

    光谱仪器的原理及操作见附件![img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=16179]光谱仪器的原理及操作[/url]

  • 【分享】扫描电镜与能谱仪使用技巧培训

    扫描电镜SEM和能谱仪EDAX的使用技巧主办单位: 中国赛宝实验室可靠性研究分析中心培训时间:2007年10月15日-18日培训费用:4000元/人.四天(含培训费、证书费、资料费、正餐费)( 每单位两人以上可有折扣)培训证书: 中国赛宝实验室可靠性研究分析中心培训证书课程对象:电镜操作工程师 电子工艺工程师 品质工程师 管理工程师 质检人员培训报名中心:报名电话:020-87236986-212 传真:020-87237185Email:xiongey@ceprei.com 联系人:熊小姐【主讲专家】施明哲, 中国赛宝实验室(信产部电子第五研究所)可靠性研究分析中心高级工程师,三十年来主要从事扫描电子显微镜、X射线能量谱仪和波谱仪的操作、应用研究工作。是当前扫描电镜行业广泛知名的专家,在电子光学和真空技术方面有丰富的工作经验,在会议和刊物上发表了十多篇专业水平较高的文章,并参与编写《半导体失效机理及分析》一书。参与的科研工作曾多次获得所一等奖、二等奖;获国家级技术进步二等奖二次,三等奖一次。课时安排:日期时间授课内容10月15日8:30-12:00扫描电镜理论学习14:00-17:0010月16日8:30-12:0014:00-17:00扫描电镜演示与答疑10月17日8:30-12:00能谱仪理论学习14:00-17:0010月18日8:30-12:0014:00-17:00能谱仪演示与答疑课程内容提纲 第一部分:扫描电镜第一章、扫描电镜1.1 慨论1.2扫描电镜原理1.3扫描电镜结构1.4扫描电镜的分辨力1.5扫描电镜图像的形成第二章、高分辨扫描电子显微镜2.1 场发射扫描电子显微镜2.2 SE和BSE之差做为信号的方式2.3 工作距离2.4 使用强磁物镜的方式第三章、扫描电子显微镜的实践3.1 扫描电子显微镜的操作3.2 扫描电子显微镜图像的毛病3.3 扫描电子显微镜的保养3.4 扫描电子显微镜的安装条件3.5 扫描电子显微镜的验收与维护3.6小结第四章:电镜图像演示及答疑第二部分:能谱分析第一章、引 言第二章、EDS系统的工作原理1.系统概述2. 吸收和处理过程3.计数率的考虑4.谱仪的分辨力第三章、X 射线的产生和与物质的相互作用1.萤光产额2.连续辐射的产生3.莫塞莱定律X射线定性分析4.X射线的吸收5.二次发射(萤光)第四章、X射线测量第五章、能量定性分析1.检出限2.探测器的效率3.空间分辨力3.谱仪分辨力4. 伪峰(“artifact”peaks)5.定性分析结果的表示方法第六章、电子显微镜的操作及其参数的选择1.加速电压2.电子源3.孔径光栏选择4.镜筒的合轴5.样品/探测器的几何条件第七章、定量分析1.脉冲计数统计误差2.块状试样的定量分析第八章、能谱的定性和定量分析的方法与步骤1.定性分析概述2.定量分析概述第九章、能谱失真与杂散幅射 1.谱峰的失真2.背底的失真3.杂散辐射第第十章、能谱的验收与维护第三部分:实际操作及答疑[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=65572]报名表[/url][color=red]【由于该附件或图片违规,已被版主删除】[/color]

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