电位仪原理

BeNano Zeta电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系Zeta电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。基本性能指标Zeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cm最小样品量0.75mL-1.0mLZeta测试粒度范围2nm-120μm系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● Zeta电位● Zeta电位分布检测技术● 电泳光散射● 相位分析光散射相关技术相关应用

仪器简介：仪器名称：Zeta电位分析仪 研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 材料组成 材料亲水性与疏水性 材料洁净处理等 表面活性剂相互作用 SurPASS 3固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。 通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压（电势），SurPASS 3固体电运动分析仪给出了Zeta 电位这样一个重要的信息。 Zeta 电位是一种界面特性，这对于理解固体材料在很多工艺技术处理方面非常重要。Zeta 电位给出了固体表面电荷、吸附性质等的信息。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中最微小的变化。 Zeta电位： 范围：所用测量原理决定没有限制再现性：+/-0.5 mV 等电点： 再现性：+/-0.1 pH 平板固体： 最小 35 mm x 15 mm，厚度20 mm， 20 mm x 10 mm，厚度2 mm， 直径为 14 mm 或 15 mm 的圆片 纤维： 最少重量 100 mg 粉末： 最小粒径 25 μm 膜和过滤材料 生物材料 半导体工业 纤维、织物和无纺布 化妆品和洗涤剂 矿物 针对各种形状的固体 各种不同的测量池适用于天然的和人造的纤维和织物、颗粒样品、粗颗粒和平板样品。 突破极限-流动奥妙 快速测量： Zeta电位测量少于2分钟 表面Zeta电位直接分析： 适用于实际样品，无需使用示踪颗粒 主要特点：测量原理 ： 在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 Zeta 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的Zeta 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。Zeta 电位即可定义为固体表面的固定层电荷与离子移动层之间的电势，相应的流动电势系数为dU/dP， Zeta 电位表示为： 固体表面特性，粘性，介电常数，电解质电导率K 等都影响Zeta 电位的大小。得出Zeta 电位值时，需要说明电解质溶液的类型，浓度，pH值。 稀释的电解质循环流经装有样品的测量池，由此产生一个压差，其电荷在电化学双电层中相对运动产生并增加流动电压，这个流动电压/ 流动电流（可选择）由置于样品两边的电极检测。SurPASS 3可同时测量出电解质的电导率，温度及pH值。

自动电位滴定仪适用于酸碱滴定、沉定滴定、氧化还原滴定、配位滴定等化学滴定的容量分析。RC-600型 (测量硫醇硫，碱性氮，酸值，碱值,过氧化值和氯化物，酸价，PH，电导率等自动电位滴定仪)，仪器由硬件电路、滴定装置及PC机三部分组成，在应用软件的支持下，通过方法测定对物质含量的测定。自动电位滴定仪实行计算机控制，具有工作站能力。软件简单、自动清洗、自动加液。终点自动判定，结果准确。滴定曲线、自动平滑处理、自动滤除假终点、亦可选择人工判别终点。自动电位滴定仪电位测量范围：0 ~ ±1999.5mv基本误差：0.1%FS ± 0.5V滴定管体积：10mL滴定管分辨率：0.01mL滴定管精度：0.1%FS输入阻抗：≥1×1012Ω自动电位滴定仪仪器带操作系统，自动判定电位的突跃值。采用电位滴定原理，根据电位的突跃判断终点，由电位体积的二次微分计算每个终点相应的滴定体积，再根据适当的方法计算出待测物质的含量。

美国分散科技公司（DTI）专注于非均相体系表征的科学仪器业务.DTI开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓分散体系中表征粒径分布、zeta电位、流变学参数、固体含量、孔隙率、包括CMP浆料，纳米分散体系、陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时，声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度，采用专利技术---多频电声学测量技术测量胶体体系的Zeta电位。对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而专利的多频电声技术则可避免这些问题。超声探头（Zeta Probe）能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe 结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到**分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。产品功能：平均粒径Zeta电位电导率德拜长度（Debye length）双电层厚度Surface charge：双电层的面电荷密度Du杜坎数（Dukhin number）MWf，即Maxwell-Wagner弛豫频率 满足标准：完全符合ISO 13099-102012 产品特点：l 可测量Zeta电位、超声波频率、电导率、pH、温度、声衰减、声速、电声信号，动态迁移率、等电点（IEP）l Zeta电位测量范围：无限制, 低表面电荷可低至0.1mV, 高精度（±0.1mV）l 零表面电荷的条件下也可测量粒径l 理论样品浓度：0.1～50％（体积百分数）l 样品体积：20-110ml（检测粒径），2-100ml（检测Zeta电位）（可选小样品池）l pH 范围：0.5～13.5l 电导率范围：0.0001～10 S/m（选件）l 温度范围： 50℃l **粘度：20，000厘泊l 电位滴定和体积滴定，滴定分辨率0.1μl （选件）独特功能：对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而专利的多频电声技术则可避免这些问题。超声探头（Zeta Probe）能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe 结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到**分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。 产品优势：l 能分析多种分散物的混合物l 无需依赖双电层模式，精确判定等电点l 可是用于高导电体系l 可排除杂质度样品污染的干扰l 可精确测量无水体系l **浓度达50%，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可直接测量l 具有自动电位滴定功能声原理：什么是ECAH模型？是由声波计算粒度分布的基本理论模型。由于超声波具有穿透能力强、能实现非接触测量的特点，非常适合实时在线测量，且其具有较宽的频带范围，确保可能对纳米到毫米级范围的颗粒进行测量。超声衰减法利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时，声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度。Epstein 等研究了含球形颗粒的介质中的声波动模型，Allegra等对其进行了发展，现统称为Epstein?Carharts?Allegra?Hawley(ECAH)模型，它只适用于稀释系统，用来描述粘滞及热量衰减机制。这个理论被整合入DT-100 /1202用于对刚性的、小于4μm 的粗分子的悬浮液中模拟惯性粘滞效应，即由Dukhin and Goetz 发展起来先进颗粒-介质耦合（PMK）模型。操作软件：DT-300/330的电声法原理可以轻松获得原始浓溶胶体系的zeta电位、电导率，并可计算出胶体颗粒的微观电学参数，是胶体科学研究的得力手段。 操作软件功能:- 需在Windows XP下操作- 数据库可在 Windows Access中由使用者自由选取- 使用者可自由选取声波速度及衰减图- 任何两个参数的散射图- 用户定义自动选择多数据系列Multiple data series automatically selected from user query- 原始数据输出：l 声谱：声衰减强度对频率作图, 1-100 MHz, 精度达0.01 dB/cm/MHz.l 声速： 1-100 MHz 之间的单一频率，精度0.1 m/secl 电声信号：Magnitude phase, 3 MHz l 电导率（选件）：水相或非水相， MHz 范围, 精度优于 1%.l pH值和温度（选件）- 计算数据输出－体积浓度未知（选件）：l 纵向粘度, 1-100 MHz l 粘性纵向模数 G”, 1-100 MHz l 牛顿液体的体积粘度 Bulk viscosity for Newtonian liquidsl 弹性纵向模数 G’l 液体压缩率l MHz范围的牛顿液体实验l 等电点l 表面活性剂剂量优化l 从电导率计算体积浓度l 从声速计算体积浓度 - 计算数据输出－体积浓度已知（选件）：n 已知密度的固体颗粒粒度分布n 已知热膨胀系数的软颗粒粒度分布Pn 在结构分散体系中的颗粒键合虎克参数 Hook parameter for particle bonds in structured dispersionn 微粘度 Micro-viscosityn 分散体系和多孔固体的Zeta电位 Zeta potential in dispersions and porous bodiesn 表面电导率 Surface conductivityn 德拜长度Debye lengthn 溶剂中的离子颗粒大小Ions size in solvents

美国分散科技公司（DTI）专注于非均相体系表征的科学仪器业务.DTI开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓分散体系中表征粒径分布、zeta电位、流变学参数、固体含量、孔隙率、包括CMP浆料，纳米分散体系、陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时，声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度，采用专利技术---多频电声学测量技术测量胶体体系的Zeta电位。对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而专利的多频电声技术则可避免这些问题。超声探头（Zeta Probe）能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe 结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到**分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。产品功能：平均粒径Zeta电位电导率德拜长度（Debye length）双电层厚度Surface charge：双电层的面电荷密度Du杜坎数（Dukhin number）MWf，即Maxwell-Wagner弛豫频率 满足标准：完全符合ISO 13099-102012 产品特点：l 可测量Zeta电位、超声波频率、电导率、pH、温度、声衰减、声速、电声信号，动态迁移率、等电点（IEP）l Zeta电位测量范围：无限制, 低表面电荷可低至0.1mV, 高精度（±0.1mV）l 零表面电荷的条件下也可测量粒径l 理论样品浓度：0.1～50％（体积百分数）l 样品体积：20-110ml（检测粒径），2-100ml（检测Zeta电位）（可选小样品池）l pH 范围：0.5～13.5l 电导率范围：0.0001～10 S/m（选件）l 温度范围： 50℃l **粘度：20，000厘泊l 电位滴定和体积滴定，滴定分辨率0.1μl （选件）独特功能：对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而专利的多频电声技术则可避免这些问题。超声探头（Zeta Probe）能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe 结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到**分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。 产品优势：l 能分析多种分散物的混合物l 无需依赖双电层模式，精确判定等电点l 可是用于高导电体系l 可排除杂质度样品污染的干扰l 可精确测量无水体系l **浓度达50%，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可直接测量l 具有自动电位滴定功能声原理：什么是ECAH模型？是由声波计算粒度分布的基本理论模型。由于超声波具有穿透能力强、能实现非接触测量的特点，非常适合实时在线测量，且其具有较宽的频带范围，确保可能对纳米到毫米级范围的颗粒进行测量。超声衰减法利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时，声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度。Epstein 等研究了含球形颗粒的介质中的声波动模型，Allegra等对其进行了发展，现统称为Epstein?Carharts?Allegra?Hawley(ECAH)模型，它只适用于稀释系统，用来描述粘滞及热量衰减机制。这个理论被整合入DT-100 /1202用于对刚性的、小于4μm 的粗分子的悬浮液中模拟惯性粘滞效应，即由Dukhin and Goetz 发展起来先进颗粒-介质耦合（PMK）模型。操作软件：DT-300/330的电声法原理可以轻松获得原始浓溶胶体系的zeta电位、电导率，并可计算出胶体颗粒的微观电学参数，是胶体科学研究的得力手段。 操作软件功能:- 需在Windows XP下操作- 数据库可在 Windows Access中由使用者自由选取- 使用者可自由选取声波速度及衰减图- 任何两个参数的散射图- 用户定义自动选择多数据系列Multiple data series automatically selected from user query- 原始数据输出：l 声谱：声衰减强度对频率作图, 1-100 MHz, 精度达0.01 dB/cm/MHz.l 声速： 1-100 MHz 之间的单一频率，精度0.1 m/secl 电声信号：Magnitude phase, 3 MHz l 电导率（选件）：水相或非水相， MHz 范围, 精度优于 1%.l pH值和温度（选件）- 计算数据输出－体积浓度未知（选件）：l 纵向粘度, 1-100 MHz l 粘性纵向模数 G”, 1-100 MHz l 牛顿液体的体积粘度 Bulk viscosity for Newtonian liquidsl 弹性纵向模数 G’l 液体压缩率l MHz范围的牛顿液体实验l 等电点l 表面活性剂剂量优化l 从电导率计算体积浓度l 从声速计算体积浓度 - 计算数据输出－体积浓度已知（选件）：n 已知密度的固体颗粒粒度分布n 已知热膨胀系数的软颗粒粒度分布Pn 在结构分散体系中的颗粒键合虎克参数 Hook parameter for particle bonds in structured dispersionn 微粘度 Micro-viscosityn 分散体系和多孔固体的Zeta电位 Zeta potential in dispersions and porous bodiesn 表面电导率 Surface conductivityn 德拜长度Debye lengthn 溶剂中的离子颗粒大小Ions size in solvents

简单介绍： ZetaPlus是简单、方便而且准确的电泳迁移率测量仪器，其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。它的革新之处是从根本上消除了传统Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而方便。详细说明：NanoBrook产品系列项目90Plus90Plus ZetaZetaPlus功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度测量范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位测量范围○－500mV～500mV电导率范围○0-20S/m电泳迁移率范围○10-10～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”工作原理ZetaPlus采用的是电泳光散射原理：带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移（多普勒频移）,采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。典型应用1.脂质体、生物胶体、医药2.陶瓷、胶乳、乳剂（食品、化妆品）3.颜料、油墨、炭黑技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5ml3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-20 S/m5）电泳迁移率范围：10-10～10-7m2 /V.s6）温度控制：-5～110℃, ±0.1℃7）电场强度：0～3.2 kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：1×103～2×1076）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

美国分散科技公司（DTI）专注于非均相体系表征的科学仪器业务.DTI开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓分散体系中表征粒径分布、zeta电位、流变学参数、固体含量、孔隙率、包括CMP浆料，纳米分散体系、陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时，声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度，采用专利技术---多频电声学测量技术测量胶体体系的Zeta电位。对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而专利的多频电声技术则可避免这些问题。超声探头（Zeta Probe）能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe 结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到**分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。产品功能：平均粒径Zeta电位电导率德拜长度（Debye length）双电层厚度Surface charge：双电层的面电荷密度Du杜坎数（Dukhin number）MWf，即Maxwell-Wagner弛豫频率 满足标准：完全符合ISO 13099-102012 产品特点：l 可测量Zeta电位、超声波频率、电导率、pH、温度、声衰减、声速、电声信号，动态迁移率、等电点（IEP）l Zeta电位测量范围：无限制, 低表面电荷可低至0.1mV, 高精度（±0.1mV）l 零表面电荷的条件下也可测量粒径l 理论样品浓度：0.1～50％（体积百分数）l 样品体积：20-110ml（检测粒径），2-100ml（检测Zeta电位）（可选小样品池）l pH 范围：0.5～13.5l 电导率范围：0.0001～10 S/m（选件）l 温度范围： 50℃l **粘度：20，000厘泊l 电位滴定和体积滴定，滴定分辨率0.1μl （选件）独特功能：对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而专利的多频电声技术则可避免这些问题。超声探头（Zeta Probe）能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe 结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到**分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。 产品优势：l 能分析多种分散物的混合物l 无需依赖双电层模式，精确判定等电点l 可是用于高导电体系l 可排除杂质度样品污染的干扰l 可精确测量无水体系l **浓度达50%，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可直接测量l 具有自动电位滴定功能声原理：什么是ECAH模型？是由声波计算粒度分布的基本理论模型。由于超声波具有穿透能力强、能实现非接触测量的特点，非常适合实时在线测量，且其具有较宽的频带范围，确保可能对纳米到毫米级范围的颗粒进行测量。超声衰减法利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时，声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度。Epstein 等研究了含球形颗粒的介质中的声波动模型，Allegra等对其进行了发展，现统称为Epstein?Carharts?Allegra?Hawley(ECAH)模型，它只适用于稀释系统，用来描述粘滞及热量衰减机制。这个理论被整合入DT-100 /1202用于对刚性的、小于4μm 的粗分子的悬浮液中模拟惯性粘滞效应，即由Dukhin and Goetz 发展起来先进颗粒-介质耦合（PMK）模型。操作软件：DT-300/330的电声法原理可以轻松获得原始浓溶胶体系的zeta电位、电导率，并可计算出胶体颗粒的微观电学参数，是胶体科学研究的得力手段。 操作软件功能:- 需在Windows XP下操作- 数据库可在 Windows Access中由使用者自由选取- 使用者可自由选取声波速度及衰减图- 任何两个参数的散射图- 用户定义自动选择多数据系列Multiple data series automatically selected from user query- 原始数据输出：l 声谱：声衰减强度对频率作图, 1-100 MHz, 精度达0.01 dB/cm/MHz.l 声速： 1-100 MHz 之间的单一频率，精度0.1 m/secl 电声信号：Magnitude phase, 3 MHz l 电导率（选件）：水相或非水相， MHz 范围, 精度优于 1%.l pH值和温度（选件）- 计算数据输出－体积浓度未知（选件）：l 纵向粘度, 1-100 MHz l 粘性纵向模数 G”, 1-100 MHz l 牛顿液体的体积粘度 Bulk viscosity for Newtonian liquidsl 弹性纵向模数 G’l 液体压缩率l MHz范围的牛顿液体实验l 等电点l 表面活性剂剂量优化l 从电导率计算体积浓度l 从声速计算体积浓度 - 计算数据输出－体积浓度已知（选件）：n 已知密度的固体颗粒粒度分布n 已知热膨胀系数的软颗粒粒度分布Pn 在结构分散体系中的颗粒键合虎克参数 Hook parameter for particle bonds in structured dispersionn 微粘度 Micro-viscosityn 分散体系和多孔固体的Zeta电位 Zeta potential in dispersions and porous bodiesn 表面电导率 Surface conductivityn 德拜长度Debye lengthn 溶剂中的离子颗粒大小Ions size in solvents

美国MAS Zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

显微电泳法Zeta电位分析仪特点1.传统测量原理：通过传统微电泳方法测量胶体颗粒的zeta 电位。与激光光散射法相比，没有黑盒子。2.通过激光暗场照明观察纳米颗粒：502的独特的超显微镜设计提供了一个高对比度的图像，即使是纳米粒子。依赖于颗粒对悬浮介质的相对折射率不同，可测量小至20nm的颗粒。3.在静止层观察颗粒：高水平的激光光学系统和高性能的CCD摄像头可以仅观察静止层的颗粒。其提供的高精度结果不受电渗流的影响。4.水平设置的长方形电泳池：水平放置的长方形电泳池提供了一个高度精确的结果。因为这样的布局几乎不存在由于池壁附近颗粒沉淀引起电渗流非对称化。显微电泳法Zeta电位分析仪原理－旋转棱镜技术 当光线通过一个直角棱镜，目标物体似乎移动了，因为当棱镜缓慢旋转时，光的轨迹偏离了原来的位置。502型的显微镜有一个与内置检流计结合的棱镜（旋转棱镜），其旋转速度和旋转方向棱镜均可以调节。在有格栅的电视监视器上观察粒子。当我们施加电场时，颗粒产生电泳运动。当我们使用旋转棱镜技术调节所观察到的粒子看上去静止不动时，颗粒的zeta电位值（摄氏20度，水系统）将通过数字显示出来。显微电泳法Zeta电位分析仪技术参数原理：1、用户调整旋转棱镜至静止图像。或用秒表测量的粒子的运动时间2、测量范围：± 100毫伏3、粒径适用范围：一般20nm～50μm，依赖于颗粒折射率和沉降状况4、样品量：8毫升5、光学系统： ● 光源：632.8 nm的氦氖激光器 ● 显微镜的放大倍率：×280 ● 电视显示器：CCD单色相机和8.4” 单色液晶显示器6、电泳池： ● 截面：1 ×10毫米 ● 材质：纯二氧化硅 ● 电极距离：4.88cm ● 电场强度：30 V / cm ● 阳极：钼 ● 阴极：钯 ● 电极隔室材质：聚甲醛

AT-710B是京都电子公司(KEM)融合当今最先进的技术制成的新一代电位滴定仪AT系列产品。自动电位滴定仪是根据电位法原理设计的用于容量分析的常见的一种分析仪器。 电位法的原理是: 选用适当的指示电极和参比电极与被测溶液组成一个工作电池，随着滴定剂的加入，由于发生化学反应，被测离子的浓度不断发生变化，因而指示电极的电位随之变化。在滴定终点附近，被测离子浓度发生突变，引起电极电位的突跃，因此，根据电极电位的突跃可确定滴定终点。电位滴定仪 AT-710B 主要特点: 1. 紧密简约的滴定管驱动设计，占地面积仅A4尺寸。 2. 搭载1/20000高分辨率滴定管，气泡不易附着管壁。 3. 可通过U盘存储测量结果和方法，生成PDF文件。 4. 使用电脑编辑测量方法，用U盘将方法传送至主机。 5.内置一组滴定管，不增加空间的情况下可扩充为两组。 6. 连接多样品自动进样器，执行全自动化多样品的测量。 7. 通过MCU-710连接，进行水分仪和滴定仪同时测定。 8. 可连接智能化的电极电缆，记录存储电极的相关资讯。 9. 多样化的接口，提供使用者功能性、扩充性和便利性。电位滴定仪 AT-710B 技术参数: 名称和型号: 自动电位滴定仪AT-710B。 仪器组成: AT-710+螺旋桨或磁力搅拌器。 测量范围: 电位: -2000.0mV～+2000.0mV，pH: -20.000～20.000pH，温度: 0～100°C。 滴定方式: 自动控制，自动间歇，间歇，恒pH滴定。 滴定方法: 方法20组(最多可结合2组方法)。 滴定类型: 电位滴定(酸碱, 氧化还原, 沉淀)，光度滴定，极化滴定，电导滴定。 终点判断: 全量(自动终点)，自动终点，设定终点。 特殊应用: 测量电极电位(pH, mV)，酸解离常数(pKa)。 输入设置: 按键输入。 显示: LCD液晶显示，中/英/日/韩/俄/西六种语文。 计算: 浓度计算，统计计算(平均值，标准差，相对标准差)，自动输入空白值和滴定度。 数据储存: 50组样品结果。 GLP认证: 登记操作者/使用群组管理，滴定剂和电极记录管理。 滴定管单元: 20mL玻璃滴定管附褐色保护套(标配)，选配: 10mL, 5mL或1mL。 滴定管准确度: 20mL滴定管: ±0.02mL，重复性: ±0.01mL，解析度: 0.001mL。 滴定管分辨率: 1/20,000。 扩大器: STD: pH(mV), mV, 双通道(标配)，PTA/POA/CMT/TET(选配)。 外部输出: RS-232C (打印机/电脑)，SS-BUS(多样品进样器)，ELE.(智能电极)，TEMP.COMP.(滴定剂温度补偿)，USB(打印机/U盘/键盘/条码机/脚踏关/USB集线器/安卓设备)。 扩充功能: 最多10组滴定管驱动单元，多样品自动进样器CHA-700。 使用环境: 温度: 5～35°C，相对湿度: 85%RH以下。 电源: AC100～240V ±10%，50Hz/60Hz。 耗电量: 主机: 约20瓦，打印机: 约7瓦。 尺寸: 滴定单元: 141(W)×296(D)×367(H)mm。 重量: 滴定单元: 约4.0公斤。

自动电位滴定仪AT-710B介绍 自动电位滴定仪AT-710B是根据电位法原理设计的用于容量分析的常见的一种分析仪器。 电位法的原理是: 选用适当的指示电极和参比电极与被测溶液组成一个工作电池，随着滴定剂的加入，由于发生化学反应，被测离子的浓度不断发生变化，因而指示电极的电位随之变化。在滴定终点附近，被测离子浓度发生突变，引起电极电位的突跃，因此，根据电极电位的突跃可确定滴定终点。 电位滴定仪 AT-710B 主要特点:1. 紧密简约的滴定管驱动设计，占地面积仅A4尺寸。2. 搭载1/20000高分辨率滴定管，气泡不易附着管壁。3. 可通过U盘存储测量结果和方法，生成PDF文件。4. 使用电脑编辑测量方法，用U盘将方法传送至主机。5. 内置一组滴定管，不增加空间的情况下可扩充为两组。6. 连接多样品自动进样器，执行全自动化多样品的测量。7. 通过MCU-710连接，进行水分仪和滴定仪同时测定。8. 可连接智能化的电极电缆，记录存储电极的相关资讯。9. 多样化的接口，提供使用者功能性、扩充性和便利性。 电位滴定仪 AT-710B 技术参数:名称和型号: 自动电位滴定仪AT-710B。仪器组成: AT-710+螺旋桨或磁力搅拌器。测量范围: 电位: -2000.0mV～+2000.0mV，pH: -20.000～20.000pH，温度: 0～100°C。滴定方式: 自动控制，自动间歇，间歇，恒pH滴定。滴定方法: 方法20组(多可结合2组方法)。滴定类型: 电位滴定(酸碱, 氧化还原, 沉淀)，光度滴定，极化滴定，电导滴定。终点判断: 全量(自动终点)，自动终点，设定终点。特殊应用: 测量电极电位(pH, mV)，酸解离常数(pKa)。输入设置: 按键输入。显示: LCD液晶显示，中/英/日/韩/俄/西六种语文。计算: 浓度计算，统计计算(平均值，标准差，相对标准差)，自动输入空白值和滴定度。数据储存: 50组样品结果。GLP认证: 登记操作者/使用群组管理，滴定剂和电极记录管理。滴定管单元: 20mL玻璃滴定管附褐色保护套(标配)，选配: 10mL, 5mL或1mL。滴定管准确度: 20mL滴定管: ±0.02mL，重复性: ±0.01mL，解析度: 0.001mL。滴定管分辨率: 1/20,000。扩大器: STD: pH(mV), mV, 双通道(标配)，PTA/POT/CMT/TET(选配)。外部输出: RS-232C (打印机/电脑)，SS-BUS(多样品进样器)，ELE.(智能电极)，TEMP.C0MP.(滴定剂温度补偿)，USB(打印机/U盘/键盘/条码机/脚踏开关/USB集线器/安卓设备)。扩充功能: 多10组滴定管驱动单元，多样品自动进样器CHA-700。使用环境: 温度: 5～35°C，相对湿度: 85%RH以下。电源: AC100～240V ±10%，50Hz/60Hz。耗电量: 主机: 约20瓦，打印机: 约7瓦。尺寸: 滴定单元: 141(W)×296(D)×367(H)mm。重量: 滴定单元: 约4.0公斤。

产品介绍：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科公司（Malvern Panalytical）纳米颗粒表征技术后，在NS-90纳米粒度分析仪基础上进一步增加zeta电位测试功能而推出的新一款产品。NS-90Z具有优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和表面电位的测试需求。该仪器使用电泳光散射技术测定zeta电位，动态光散射技术测量粒子和分子粒度，以及静态光散射技术测定蛋白质与聚合物的分子量。NS-90Z融合马尔文帕纳科M3-PALS相位分析检测技术，并广泛采用全球化供应链的优质光电部件，例如进口雪崩式光电二极管（APD）检测器和He-Ne气体激光器等，加上精确的内部温控技术、密闭光纤光路以及先进软件算法，保障了数据的高重复性、准确性和灵敏度，使该型号仪器可以分析宽广的粒径、浓度及电位范围的样品。NS-90Z同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。工作原理：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型装置仪器中集成了三种技术：动态光散射技术： NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪主要使用90度角动态光散射技术 (Dynamic Light Scattering/DLS) 来测量粒子颗粒和分子粒度。动态光散射技术也称为光子相关光谱 (Photon Correlation Spectroscopy/PCS) 技术。该技术利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数 (Correlation Function)，最后使用斯托克斯-爱因斯坦 (Stokes-Einstein) 方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径是和被测量粒子以相同速度扩散的等效硬球的流体动力学直径。 静态光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射技术 (Static Light Scattering/SLS) 测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为 “静态光散射”。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 电泳光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用激光多普勒微量电泳法（Electrophoretic Light Scattering/ELS）测量zeta电位。分子和粒子在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度和zeta电位直接相关。NS-90Z使用相位分析光散射法 (Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS），成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到zeta电位平均值和分布曲线。用途： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征仪器，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90?散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体和乳液&bull 脂质体和囊泡&bull 粒子和表面的 Zeta 电位&bull 墨水、碳粉和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的用量以降低水处理成本&bull 缩短稳定分散体和蛋白质溶液的开发时间&bull 了解产品稳定或不稳定的原因，提高产品保质期&bull 防止形成蛋白质聚集体&bull 增加蛋白质浓度时保持稳定性 技术参数：【粒径】1.测量范围：0.3nm – 5000nm（以样品为准）2.测量原理：动态光散射法3.重复性误差：＜1%（NIST可追溯胶乳标样）4.最小样品容积：20μL5.最小样品浓度0.1mg/mL （以样品为准）【分子量】6.分子量测量范围：342 Da – 2×107 Da , 由流体动力学直径估算（动态光散射）7.分子量测量范围：9800 Da – 2×107 Da , 由德拜图计算 （静态光散射）8.测量原理：动态光散射，静态光散射9.最小样品容积：20μL（需要3-5种样品浓度）【Zeta电位】10. 测量原理：电泳光散射11. 灵敏度：10mg/mL 66kDa 蛋白质12. Zeta 电位范围：不限于-500mV~+500mV13. 最高样品浓度：40% w/v (以样品为准)14. 最小样品容积：20μL15. 最高电导率：200mS/cm16. 检测技术：M3-PALS【系统硬件】17.检测角度：90°＋13°18.激光光源：高稳定He-Ne 激光器，波长633nm，功率 4mW。19.激光安全：1类，符合CDRH 和 CE 标准20.检测器：雪崩式光电二极管（APD）检测器，QE50%21.相关器：采样时间25ns – 8000s，4000通道，1011动态线性范围22.冷凝控制方式：干燥空气吹扫*23.温度控制范围：0 °– 90°C 24.温度控制精度：± 0.1°C25.电源： AC 90 – 240V, 50 – 60Hz26.功率：50W【重量与尺寸】27.尺寸：320mm×600mm×260mm（W×D×H）28.重量：19 kg【运行环境】29.计算机配置：Intel Core 2 Duo，4GB内存，160G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上 30.计算机接口： USB 2.031.操作系统：Windows 7, Windows 10 32.温度范围：15°C – 40°C33.环境湿度：20% – 70%， 无冷凝34.需外接气源性能特点：【先进的光学系统设计】 NS-90Z纳米粒度及电位分析仪在一台仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三两种技术。使用电泳光散射技术测量zeta电位，使用动态光散射技术测量粒度及分子大小，使用静态光散射技术确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90Z采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优化的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0 – 90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.支持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。8.具有完善的介质粒度数据库

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。纳米粒度及Zeta电位分析仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的物理性能测试仪器，简单、方便而且准确，主要作用就是测量胶体颗粒表面电位电势。其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。　　仪器原理　　带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。　　动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪优势　　1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。　　2、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。　　3、优化的反演算法：采用拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。　　4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。　　5、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比；采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。　　6、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪测量　　纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定，因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点　　1、利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。　　2、先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。　　3、基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。　　Henry函数的取值：　　当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合，得到优化Henry函数表达式。　　强大易用的控制软件　　ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强，无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。　　注意事项　　1、测量粒径前，需查知样品分散剂的粘度、折光指数（Refractive Index）；　　2、用卷纸轻轻点拭样品池外侧水滴，切勿用力擦拭，以防将样品池划伤，如发现样品池有划纹，需更换；　　3、手尽量避免触摸样品池下端，否则会影响光路； 　　4、一定要去除样品池内的气泡；　　5、实验室提供的样品池为聚苯乙烯材质，不可用于测量有机分散体系；　　6、实验室提供的样品池,测量温度不可高于50摄氏度；　　7、如需测量有机分散体系或高于50摄氏度，请自带石英比色皿；　　8、使用滤纸过滤时，舍去过滤后的d一滴样品，以防滤纸上杂质进入样品池；　　9、测量时需自带：卷纸、多个注射器、多个离心管（用于稀释样品）。

公司简介 美国分散技术公司（DTI）成立于 1996 年，专注于非均相体系表征的科学仪器业务。 DTI 开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta 电位、流变学、固体含量、孔隙率，电导率，包括 CMP 浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。DTI 享有 7 项美国专利，并在 ISO 参与领导组织超声法粒度分布国际标准和电声法测量 Zeta 电位国际标准的制定。 产品特点 DT-310电声法Zeta电位分析仪 Zeta电位仪：许多知名的科学家把声学应用到胶体体系中，我们常提及的名字：斯托克斯，瑞利，麦克斯韦，亨利，廷德尔，雷诺，德拜...... 通过声学和电声学手段会提供关于颗粒表征的三个重要领域的信息：粒径分布，流变学和电动学。DT-310电声法Zeta电位分析仪DT系列仪器即是由专业从事声学研究的科学家组成的、位于美国新泽西州的Dispersion technology Co.研发生产的系列仪器，可准确测量原浓溶液的粒径、流变及电动学参数，如zeta电位、电导率等等。DT-310电声法Zeta电位分析仪 特点1、用于水相、有机相（极性或非极性溶剂）悬浮液和乳液表征2、采用多频电声测量技术由超声探头（Zeta Probe）直接测量3、Zeta电位测量范围：无限制；低表面电荷可低至0.1mV4、原浓溶液测试，最小样品量低至 2ml5、同时测量动态迁移率和双电层厚度（Debye Length， 德拜长度）6、通过Access数据库进行数据管理7、可选自动滴定系统（DT-310）

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

仪器简介：可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。在分散体系中，同性带电离子的静电排斥作用是分散体避免凝聚保持稳定的主要原因，故带电粒子界面的表征是必不可少的。当颗粒离子化后，总电荷和电荷密度是需要知道的重要参数。电荷测量是通过建立动电信号来完成的。根据不同的测量原理，有电泳法，电声法Zeta电位，以及STABINO测试所得的流动电位。这些是经常被提到的电位参数，来源于作用在颗粒界面双电层上离子云的剪切力，如图1。所有这些被测变量都与位于剪切面的颗粒界面电位（PIP）即Zeta电位成正比关系。为了建立界面电位，要么通过电泳法或电声法建立的电场，要么通过机械应力作用于流动电位和电声法仪器。通过这样做，来源于溶液中的外部松散附着的离子被带走，显露出可被直接测量的界面电位。电位滴定的目的根据不同的粒径区间，可通过Smoluchowski, Henry’s 等公式计算Zeta电位。要想正确的计算Zeta电位，粒径范围是需要特别注意的。特别是在100nm以下的粒径范围内，关于Zeta电位的正确计算方法，目前学术界还存在着争议。究竟得到一个绝对的数值对于现实是否必要，这也是存在疑问的。此外，某一个点的Zeta电位值并不能清楚的描述整个样品体系。界面电位总是依赖于离子环境，严格的讲，如果没有所处的离子环境，那么粒子的界面电位也就无从谈起。PH值的微小变化都可能导致颜料悬浮体变的不稳定，尽管它之前的Zeta电位很高。因而，深入研究Zeta电位对滴定物的滴定曲线是非常有价值的。这些滴定物质可以是酸碱性物质，离子型表面活性剂或聚电解质。说到这，很多有价值的结果都可以通过电位滴定得到，有的可用于识别悬浮液的稳定和不稳定区域，有的用于表征导致聚合或颗粒反应的凝聚剂或催化剂的用量。测量流动电流电位通过驱动活塞在圆筒中做上下往复运动（如图2），圆筒壁和活塞间隙中的液体会上下发生流动。作用在固定颗粒界面上的剪切力，会导致颗粒的离子云发生转移。这些固定的颗粒，有的是因为大分子或小颗粒对器壁的粘附，有的是因为大颗粒的惰性所致。在样品底部平静的区域，几乎没有离子的位移。因而，就可以获取到圆筒底部和较高部位的振荡信号。多功能流动电位测试法所适用粒径范围，表明流动电位是最通用的方法，0.3nm的大分子溶液和300μm的颗粒悬浮液或乳液都可以用流动电位法来测定。该方法允许的导电性范围从零至50mS/cm，样品浓度范围从0.01至10vol%或更高。粘度的上限为300mPas。在此粘度下，将滴定液混入样品的有效性是存在问题的。除了样品和滴定液的浓度外，无需其他样品参数。最后但同样重要的是，如果zeta电位是非常重要的，在许多 应用中，流动电位乘以常数因子就可以校正为Zeta电位。流动电位用于电荷滴定的高效STABINO在一台仪器上具备了混和，均化和信号测试的功能，使其滴定测试更为简单有效。通常一个典型的滴定循环需要5-15分钟。

仪器简介：仪器名称：Zeta电位分析仪 研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 材料组成 材料亲水性与疏水性 材料洁净处理等 表面活性剂相互作用 SurPASS 3固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。 通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压（电势），SurPASS 3固体电运动分析仪给出了Zeta 电位这样一个重要的信息。 Zeta 电位是一种界面特性，这对于理解固体材料在很多工艺技术处理方面非常重要。Zeta 电位给出了固体表面电荷、吸附性质等的信息。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中最微小的变化。 Zeta电位： 范围：所用测量原理决定没有限制再现性：+/-0.5 mV 等电点： 再现性：+/-0.1 pH 平板固体： 最小 35 mm x 15 mm，厚度20 mm， 20 mm x 10 mm，厚度2 mm， 直径为 14 mm 或 15 mm 的圆片 纤维： 最少重量 100 mg 粉末： 最小粒径 25 μm 膜和过滤材料 生物材料 半导体工业 纤维、织物和无纺布 化妆品和洗涤剂 矿物 针对各种形状的固体 各种不同的测量池适用于天然的和人造的纤维和织物、颗粒样品、粗颗粒和平板样品。 突破极限-流动奥妙 快速测量： Zeta电位测量少于2分钟 表面Zeta电位直接分析： 适用于实际样品，无需使用示踪颗粒 主要特点：测量原理 ： 在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 Zeta 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的Zeta 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。Zeta 电位即可定义为固体表面的固定层电荷与离子移动层之间的电势，相应的流动电势系数为dU/dP， Zeta 电位表示为： 固体表面特性，粘性，介电常数，电解质电导率K 等都影响Zeta 电位的大小。得出Zeta 电位值时，需要说明电解质溶液的类型，浓度，pH值。 稀释的电解质循环流经装有样品的测量池，由此产生一个压差，其电荷在电化学双电层中相对运动产生并增加流动电压，这个流动电压/ 流动电流（可选择）由置于样品两边的电极检测。SurPASS 3可同时测量出电解质的电导率，温度及pH值。

公司概况 法国CORDOUAN 技术公司成立于2007年，致力于纳米颗粒复合介质的尺寸表征。经过短短四年时间，CORDOUAN已成为N3（纳米粒子，纳米材料，纳米技术）的全球参考，为纳米颗粒和纳米材料的表面特征提供创新解决案。 CORDOUAN为客户提供的颗粒度，屈光计，电泳，电子显微镜和样品制备仪和器配件解决方案的连贯和广泛的产品组合。法国CORDOUAN仪器广发应用于：合成的聚合物和官能化的金属纳米颗粒、 原油萃取，改善化妆品凝胶的质量的，胶体形式的特殊油墨，生物学研究和细胞分析等的开发。 产品简介 法国Cordouan高分辨Zeta电位分析仪WALLIS 是一种创新的Zeta电位分析仪，专门用于表征纳米颗粒悬浮液。它基于重新审视的现代版激光多普勒电泳 （LDE）技术，提供独特且无与伦比的测量分辨率。它是CORDOUAN的VASCO纳米粒度分析仪的补充，用于研究胶体溶液的 稳定性和性质。 工作原理 法国Cordouan高分辨Zeta电位分析仪WALLIS 是基于重新审视的现代版激光多普勒电泳 （LDE）技术，提供独特且无与伦比的测量分辨率。 技术创新 法国Cordouan高分辨Zeta电位分析仪WALLIS独特的样品池，可以简单方便地制备样品并防止气泡形成,符合标准比色杯，创新的玻碳电极,使用寿命长，无氧化电极 , 可通过超声波水浴或酸碱洗涤等标准工艺轻松清洁。 突出特点 ● 没有电渗效应—消除了测量中的假峰 ● 增强的分辨率—比通常的相关器技术好10倍 ● 高分辨率测量—准确且可重复的Zeta电位分析 ● 简单易用和直观的图形用户界面软件 ● 新材料电极，使用寿命长—减少维护和消耗 成本效益好 应用领域 ◆ 纳米颗粒的合成和功能研究 ◆ 药物输送系统优化 ◆ 制造过程中的质量控制 ◆ 电泳物理学的基础研究 ◆ 化妆品和工业乳液稳定性研究 ◆ 纳米颗粒制备和合成工艺优化 ◆ 先进的胶体稳定性分析和优化 ◆ 油墨/颜料的分散性和聚合物的表征

KY-403B自动电位滴定仪应用全自动电位滴定原理，在计算机控制下，实现石油产品中硫醇硫含量的分析测定。仪器采用进口滴定单元，对滴定曲线进行平滑处理，对滴定终点位置进行修正，保证了结果的准确性。是石化实验室、分析室和科研部门的必备仪器。 仪器主要特点1.采用进口滴定装置。电脑操作自动化程度高、分析结果精确。2.自动补液、定值加液、机电有机的结合在一起。3.双高阻输入、终点自动判断，电极电位稳定可靠。仪器执行标准JJG 814-2015 自动电位滴定仪检定规程主要技术参数样品种类：液体测量范围：0.0001%～0.01%（m/m）测定方法：电位滴定法滴定管体积：10ml滴定最小体积：0.01ml电位测量范围：（0～±1999.5）mV滴定管精度：±0.1%F.S电子单位基本误差：满读数的0.1%±0.5mV相对误差：≤5%输入阻抗：≥1*1012

KY-403B自动电位滴定仪应用全自动电位滴定原理，在计算机控制下，实现石油产品中硫醇硫含量的分析测定。仪器采用进口滴定单元，对滴定曲线进行平滑处理，对滴定终点位置进行修正，保证了结果的准确性。是石化实验室、分析室和科研部门的必备仪器。 仪器主要特点1.采用进口滴定装置。电脑操作自动化程度高、分析结果精确。2.自动补液、定值加液、机电有机的结合在一起。3.双高阻输入、终点自动判断，电极电位稳定可靠。仪器执行标准JJG 814-2015 自动电位滴定仪检定规程主要技术参数样品种类：液体测量范围：0.0001%～0.01%（m/m）测定方法：电位滴定法滴定管体积：10ml滴定最小体积：0.01ml电位测量范围：（0～±1999.5）mV滴定管精度：±0.1%F.S电子单位基本误差：满读数的0.1%±0.5mV相对误差：≤5%输入阻抗：≥1*1012

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

AT-710M四通道旗舰型自动电位滴定仪Automatic Potentiometric Titrator 大型彩色液晶触控屏，提供滴定图形并实时显示测定结果。可连接4台滴定仪(包括710系列的电位滴定仪、卡尔费休水分仪)进行同步测量。滴定过程中可监测样品温度，以确保安全测量。自动滴定仪可以远程操作(例如在通风柜中进行滴定)。自动电位滴定仪是根据电位滴定法原理设计、用于容量分析的一种分析仪器。 电位滴定法的原理是: 选用适当的指示电极和参比电极与被测溶液组成一个工作电池，随着滴定剂的加入，由于发生化学反应，被测离子的浓度不断发生变化，因而指示电极的电位随之变化。在滴定终点附近，被测离子浓度发生突变，引起电极电位的突跃。因此，根据电极电位的突跃可确定滴定终点。AT-710M四通道旗舰型自动电位滴定仪 主要特点: 1. 采用大型8.4英寸彩色液晶触摸屏，操作控制。2. 同时控制四台自动电位滴定仪和卡尔费休水分测定仪。3. 智能滴定管单元，滴定剤的信息存储在芯片中。4. 智能化的电极电缆，记录存储电极的相关资讯。5. 新型的滴定管单元，可减少死体积和试剂使用量。6. 触摸屏透过无线蓝牙操作，更加安全且降低危险性。7. 用户权限设定功能，防止错误设置，管控方便。 8. 同时记录两个不同的侦测电极，如pH和光度等。9. 测量结果可存储在U盘，可生成PDF实验报告。AT-710M四通道旗舰型自动电位滴定仪 技术参数: 名称和型号: 自动电位滴定仪AT-710M。仪器组成: MCU-710M+AT-710+螺旋桨或磁力搅拌器。测量范围: 电位: -2000.0mV～+2000.0mV，pH: -20.000～20.000pH，温度: 0～100°C。滴定方式: 自动控制，自动间歇，间歇，恒pH，石油中和价，COD，学习滴定。滴定方法: 标准方法120组，方法结合10组(最多可结合5组标准方法)。滴定类型: 电位滴定(酸碱, 氧化还原, 沉淀)，光度滴定，极化滴定，电导滴定。终点判断: 全量(自动终点)，自动终点，设定终点，交叉点，自动终点/设定终点滴定。特殊应用: 测量电极电位(pH, mV)，酸解离常数(pKa)，同时记录双通道电位。输入设置: 触摸屏输入。显示: 8.4英寸彩色液晶屏，中/英/日/韩/俄/西/德/法八种语文，滴定仪水分仪四个通道同时显示。计算: 浓度计算，统计计算(平均值，标准差，相对标准差)，自动输入空白值和滴定度。数据储存: 500组样品结果。GLP认证: 登记操作者/使用群组管理，滴定剂和电极记录管理。滴定管单元: 20mL玻璃滴定管附褐色保护套(标配)，选配: 10mL, 5mL或1mL。滴定管准确度: 20mL滴定管: ±0.02mL，重复性: ±0.01mL，解析度: 0.001mL。 滴定管分辨率: 1/20,000。扩大器: STD: pH(mV), mV, 双通道(标配)，PTA/POT/CMT/TET(选配)。 外部输出: RS-232C (打印机/电脑)，SS-BUS(多样品进样器)，ELE.(智能电极)，TEMP.COMP.(滴定剂温度补偿)，USB(打印机/U盘/键盘/条码机/脚踏开关/USB集线器)，LAN(电脑)。扩充功能: 最多四台测量单元，最多10组滴定管驱动单元，多样品自动进样器CHA-600/CHA-700。使用环境: 温度: 5～35°C，相对湿度: 85%RH以下。电源: AC100～240V ±10%，50Hz/60Hz。耗电量: 主机: 约30瓦，打印机: 约7瓦。尺寸: 触摸屏: 225(W)×190(D)×42(H)mm，滴定单元: 141(W)×296(D)×367(H)mm。重量: 触摸屏: 约1.5公斤，滴定单元: 约4.0公斤。

产品特点：将UJ系列电位差计、光电检流计、标准电池等集成一体，体积小，重量轻，便于携带；数字显示：电位差值七位显示，数值直观清晰、准确可靠；既可使用内部基准进行校准，又可外接标准电池作基准进行校准，使用方便灵活；保留电位差计测量功能，真实体现电位差计对比检测误差微小的优势；电路采用对称漂移抵消原理，克服了元器件的温漂和时漂，提高测量的准确度；采用无极波段开关，可任意调节；可用内标或外标进行标定。技术指标：测量范围：0～±5V分 辨 率：1uV；内标：1V基准。

CT-1PLUS多功能全自动滴定仪是具备颜色滴定和自动电位滴定功能于一体的新一代滴定仪，仪器采用模块化设计，由高精度计量管滴定装置、控制装置和检测装置三部分组成，除了进行常规的电位滴定如PH酸碱滴定、氧化还原滴定、沉淀滴定和络合滴定外，还可以进行通过颜色判断终点的传统滴定。仪器可以自动判断终点，可实现固定终点滴定、动态滴定、组合交叉滴定和手动滴定功能。支持自动停止检测和手动停止检测，关键滴定组件具备紧急停止保护功能。1.可选配自动颜色判定模块，用于无法有效进行电位滴定的分析需求，机器人视觉原理颜色判断。2.经久耐用并小于1ul的滴定控制精度，使得滴定仪寿命更长，结果更准确。3.测试报告符合GLP/GMP规范，U盘存储防伪pdf实验报告，测试方法和测试记录条数无限制。4.整机模块化设计、智能控制、智能计算、简单的操作完成复杂的分析过程。滴定模式电位滴定，颜色滴定滴定类型酸碱滴定、氧化还原滴定、颜色滴定、沉淀滴定、络合滴定、非水滴定和PH测量终点模式自动模式：智能判定，固定终点，拐点判定，交叉判定手动模式：固定终点，滴定管校正测定范围及示值精度mV：±2000mV ，分辨率： 0.1mV，准确度±0.2mV pH : 0 -14pH， 分辨率： 0.001 pH，准确度±0.003PH温度：-5-125℃，分辨率： 0.1℃，准确度±0.3℃滴定控制精度滴定管分辨率:20ml计量管（标配）：0.001ml 10ml计量管（选配）：0.0005ml滴定分析重复性：0.2%（20ml滴定管）滴定容量允许误差：20ml计量管：0.035ml 10ml计量管：0.025ml滴定管补液时间：50±10s人机界面7.0寸大屏幕实时显示滴定曲线和微分曲线；可使用触摸屏输入或者键盘输入GLP/GMP规范电极的校正设置，校正周期记录U盘存储防伪PDF实验报告滴定管校正功能，校正记录用户组及用户权限设置，及用户操作记录数据存储1G(10W条)应用领域主要应用于食品、药品、疾控、商检、水处理、石油、化工、海洋、电力、环保、新能源、教学、科研等领域。典型应用食品行业:油脂酸价、过氧化值、谷氨酸钠、二氧化硫、可滴定酸、维c、糖精钠、茶多酚、氯离子、柠檬酸、蜂蜜中还原糖、酸度、总酸、钙、氯化钠、脂肪酸...... 医药行业：氯含量、色氨酸、酸值...... 环保、水质：COD值、氯化物、PH值、总硬度、总碱度、硝酸盐、高锰酸盐、高锰酸钾、氯离子、CODCr含量、臭氧、三氧化氯、亚氯酸盐、氯酸盐、铜、锌、硒、砷、总磷、总氮、氟化物、溶解氧、铁、锰、硫酸盐、钴、铍、硼、三氯甲烷、四氯化碳...... 石油、化工：水泥三氧化二铁、三氧化二铝、氯含量、二氧化硅、检测；汽油、柴油、轻柴油酸度、硫醚硫、碘值检测；保险粉Na2S2O4、SBS改性剂、环氧树脂胶粘剂、硼酸溶液、树脂中六次甲基四胺、聚氨酯中异氰酸酯基、聚氨酯中的NCO检测...... 新能源：电解液氯化钠...... 教学、科研：生理盐水中氯化钠、葡萄糖测定...... 其他：饲料中的碘化钾、碱式氯化铜、蛋氨酸；烟草中的尼古丁、氯离子......

SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍： SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪是在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统，采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析，被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。 SZ901的性能和主要特点包括：◆经典90°动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm – 15μm◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性◆加持自动恒温技术的功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术◆ 信号光与参考光的光纤合束及干涉技术◆ 集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器◆ 常规温度控制范围可达0°C - 90°C, 可选120°C, 精度±0.1°C◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹ ¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术技术指标：测量原理动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）粒径测量角度90°粒径测量范围0.3nm -15μm*粒径度优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）粒径重复性优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）粒径测量小样品浓度0.1mg/ml粒径测量小样品量3ul*Zeta电位测量范围-600mV - +600mV电导率270mS/cm适用Zeta电位测量的粒径3nm – 100μm*电导率度±10%分子量范围340Da-2 x 107Da温度控制范围0°C - 90°C (120°C可选)温度控制精度±0.1°C光源集成恒温系统及光纤耦合的功率50mW, 波长638nm固体激光器相关器高速数字相关器，自适应通道配置检测器高灵敏度APD系统重量17kg外形尺寸365mm x 475mm x 180mm（LxWxH）

Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号：Z3000 工作原理：粒度分布：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测范围： 粒径范围 0.3nm-10.0μmZETA电位 +/- 500mV Nicomp Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm，ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本。 技术优势1、APD&PMT双检测器；2、多角度检测（multi angle）模块；3、可搭配不同功率光源；4、双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次；5、钯电极；6、精确度高，最接近样品真实值；7、复合型算法： 高斯（Gaussion）单峰算法与的Nicomp多峰算法自由切换 相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换8、快速检测，可以追溯历史数据；9、结果数据以多种形式和格式呈现；10、符合USP,CP等个多药典要求；11、无需校准；12、复合型算法：（1）高斯（Gaussion）单峰算法与的Nicomp多峰算法自由切换 10、模块化设计便于维护和升级；（1）可自动稀释模块；（2）搭配多角度检测器；（3）自动进样系统（选配）；3000/MA多角度检测器粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 3000系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。图一：Nicomp多分分布数据呈现 如图一：此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由图中可以看出，其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二：此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp Z3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案，达到收益最大化。产品优势模块化设计 Nicomp 3000纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 3000的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块 带有的自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。3000/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 3000纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD)高灵敏度检测器 Nicomp 3000纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军品级别的雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果）。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。3000/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。工作原理目录结构： 1. 前言2. 动态光散射粒度仪原理3. 动态光散射理论：光的干涉4. 粒子的扩散效应5. Stoke-Einstein方程式6. 自相关函数原理7. ZETA电势电位原理 前言 近十几年来，动态光散射技术（Dynamic Light scattering, DLS），也被称为准弹性光散射（quasi-elastic light scattering, QELS）或光子相关光谱法（photon correlation spectroscopy， PCS）,已经被证明是表征液体中分散体系的粒径分布（PSD）的极有用的分析工具。DLS技术的有效检测粒径范围——从5am（0.005微米）到10几个微米。DLS技术的优势相当明显，尤其是当检测到300nm以下亚微米的粒径范围时，在此区间，其他的技术手段大部分都已经失效或者无法得到准确的结果。因此，基于DLS理论的设备仪器被广泛采用用以表征特定体系的粒度分布，包括合成的高分子聚合物(如乳胶，PVCs等)，水包油和油包水的乳剂，囊泡，胶团，微粒，生物大分子，颜料，燃料，硅土，金属晶体，陶瓷和其他的胶体类混悬剂和分散体系。动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定，每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积（在特定浓度下）成比例关系，再带入其他影响参数比如折射率，这就是经典光散射（Classic light scattering)的理论基础。 图1：DLS系统示意图最新的动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，不再关注于光散射的光强值，而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说，我们在一定角度（一般使用90°角）检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散，光强值不断波动，理论上存在有非常理想化的波动时间周期，此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ，我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式，我们最终可以计算得出颗粒的半径（假定其是一个圆球形状）。动态光散射理论：光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动，我们必须先理解相干叠加（coherent addition）或线性叠加（superposition）的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光，这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的最终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系，这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起，或者叫干涉在一起，最终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值，在DLS系统中，绝大部分都使用90度角。 小知识——光电倍增管（PMT) 光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。光电倍增管示意图小知识——光电倍增管（PMT)MT) 光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。光电倍增管示意图 工作原理光电倍增管是由玻璃封装的真空装置，其内包含光电阴极 (photocathode)，几个二次发射极 (dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极，产生光电效应，产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管，电子被加速到二次发射极产生多个二次电子，通常每个二次发射极的电位差在 100 到 200 伏特。二次电子流像瀑布一般，经过一连串的二次发射极使得电子倍增，最后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的，而电子倍增管的二次发射极是连续式的。 应用 光电倍增管集高增益，低干扰，对高频信号有高灵敏度的优点，因此被广泛应用于高能物理、天文等领域的研究工作，与及流体流速计算、医学影像和连续镜头的剪辑。雪崩光电二极管（Avalanche photodiodes，简称APDs）为光电倍增管的替代品。然而，后者仍在大部份的应用情况下被采用。 动态光散射理论： 粒子的扩散效应 悬浮的粒子并不是静止不动的，相反，他们以布朗运动（Brownian motion)的方式无规则的运动，布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此，到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动，这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起，在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化，进而产生有实际意义的波动，最终这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念，我们现在假定粒子是均一大小的，具有相同的扩散系数（diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快，将会导致光强波动信号变化很快；而相反地，大粒子扩散地毕竟慢，导致了光强值的变化比较慢。 图示4使用相同的时间周期来观测不同大小（小，中，大）的粒子产生的散射光强变化,请注意，横坐标是时间t。 我们需要再次强调，光强的波动并不是因为检测区域内粒子的增减引起的 而是大量的粒子的位置变动（位移）而引起的。 Stokes Einstein Equation DLS技术的目标是从原始数据（raw data)中确定粒子的扩散系数“D”。原始数据主要是指光强信号的波动，比如上述图4中所示。通过扩散系数D我们可以很容易的计算出粒子的半径，这时候就是广为人知的Stokes-Einstein方程式：D=kT/6πηR （2）这里k 指的是玻尔兹曼常数1.38 x 10-16 erg K-1；T是绝对温度；η是分散溶剂的额剪切粘度，比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊； 从上述公式2中我们可以看到，通常情况下，粒子的扩散系数D会随着温度T的上升而增加。温度进而也会影响溶剂粘度η。例如，纯水的粘度在25℃下会落到0.890×10-2泊，和20℃下相比会有10%的改变。毫无疑问，溶剂的粘度越小，粒子的无规则扩散速度会越大，从而导致光强的波动也越快。因此，温度T的变化和粒径的变化是完全分不开的，因为他们都影响到了扩散系数D。正因为这个原因，样本的温度必须保持恒定，而且必须非常精确，这样才能获得有实际意义的扩散系数D。 从图4的“噪声”信号中无法直接提取出扩散系数。但是可以清楚地看到，信号b比信号c波动地快，但是比信号a波动地慢，因为，信号b地粒径一定在a和c之间，这只是很直观地得到一个结论而已。然而，量化此种散射信号是一个很专业地课题。幸而，我们有数学方法来解决这个问题，这就是自相关函数（auto-correlation)。自相关函数原理 现在让我们设定散射光强的自相关函数为IS(t)，在上述图4中可以看到其随时间而波动。我们用C(t’)来标识自相关函数。C(t’)可以通过如下方程式3来表达：C(t’)= Is(t)*Is(t-t’) (3)括号 表示有很多个t和对应的Is值。也就是说，一次计算就是运行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和，所有都具有相同的间隔时间段t’。 图5是典型的Is(t)的波形图，通过这张图，我们可以认为C(t’)和Is(t)之间有简单的比例关系，这张图的意义在于通过C(t’)函数可以通过散射光强Is(t)的波动变化“萃取”出非常有用的信息。 自相关函数C(t’)其实是表征的不同大小的粒子随时间而衰变的规律。Zeta电势电位原理 1.1 什么是ZETA电势电位1.2 STERN双电子层1.3 DLS散射系统是如何测ZETA电位的？ 什么是ZETA电势电位Zeta电位（Zeta potential）是指剪切面(Shear Plane)的电位，又叫电动电位或电动电势（ζ-电位或ζ-电势），是表征胶体分散系稳定性的重要指标。我们知道胶体系统中有两个相，分散相和连续相，分散相在纳米和亚微米之间。因为微粒的粒径很小，因此它比表面积大从而有一些增强属性使其稳定悬浮。但是如果微粒开始絮凝，微粒的粒径改变，性能也可能发生变化，如果不加以控制，絮凝体也可能进一步团聚形成沉淀，接着就会相位分离。当我们建立稳定分散体系时，我们需要维持微粒的稳定与分散，其中一个方法就是增强微粒表面电荷，然后这些微粒将带偶极矩互相之间产生排斥，随着微粒电荷的增加，微粒团聚而形成絮凝的几率降低。让微粒分散，带正电荷还是带负电荷并不重要，重要的是电荷的绝对值。我们研究微粒表面电荷的方法就是Zeta电势电位。STERN双电子层 图 1胶团模型胶核表面拥有一层离子，称为电位离子，电位离子通过静电作用，把溶液中电荷相反的离子吸引到胶核周围，被吸引的离子称为反离子，越靠近胶核表面的地方反离子越密集，相反，越远的地方反离子越稀疏，他们的电荷总量与电位离子相等并且符号相反。因此，整个胶团是处于电中性状态，而胶核表面电势是最高的，根据定义Zeta电位即为胶核表面电势。图 2 STERN双电子层模型STERN双电子层即为胶核表面以及扩散层共同形成的电子层模型，值得注意的是扩散层中带电离子是分布在连续相中，因此其与分散介质息息相关（例如：通过水分散的体系，扩散层离子浓度以及扩散层宽度与水有很大关联），所以扩散层都没有明确的边界。DLS散射系统如何测ZETA电位目前测量ZETA电位的方法主要有电泳法、电渗法、流动电位法以及超声波法。Nicomp Z3000采用的是主流的电泳法测试ZETA。图 3 仪器内部光路图图3是Nicomp Z3000设备内部的光路图，激光通过一个分光器分成两组光路，一组通过反射镜直接进入检测器，另一组经过一个可调节的滤光片后，再经由微粒散射进入到相关检测器中。观察两组相干光的频率变化或者相位变化，从而计算得出ZETA电势电位。从微观角度来理解ZETA电位的计算，微粒由于带电量或是带点符号不同，其在电场作用下的运动状态也会不同，这种运动状态我们用电泳淌度μ（带电离子在单位场强下的平均电泳迁移速率）来表征，我们通过检测器观察到的两组相干光的频率或是相位变化，结合电场强度，相干光波长等参数通过简单的数学建模计算得出粒子的电泳淌度μ，最终ZETA电位通过公式：换算得出。η为分散剂的剪切粘度，ε为分散剂的介电常数。 点击下载工作原理仪器参数粒径检测范围 0.3nm-10μm 数字相关器通道数 1024 分析方法 动态光散射，Gaussian单峰算法和 Nicomp多峰算法 pH值范围 2-12 温度范围 0℃-90 ℃ 激光光源 35mW激光光源 检测角度 10°-170°（0.7°步进） 检测器 APD(雪崩二极倍增管，可7倍增益放大) PMT(高性能光电检测器) 可用溶剂 水相,绝大多数有机相 样品池 标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）； 1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，最小进样量10μL） 分析软件 Windows 兼容软件；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选） 验证文件 有 电压 220–240VAC，50Hz或100–120VAC，60Hz 计算机配置要求 Windows 7及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，2G内存，USB接口

固体表面流动电位法zeta电位分析仪的特点：流动电位法zeta电位分析仪是用多孔塞技术直接测定流动电位/流动电流的Zeta电位仪.该技术适用于50μm以上的大颗粒,纤维和平坦的表面,或在一个压力梯度下电解质可以透过的曲面膜或中空纤维样品.流动电位法zeta电位分析仪的产品特点：可靠和简单的设置全自动化的系统测量和冲洗基于Windows的菜单驱动软件Excel数据采集、处理和导出在线电导率样品池，可精确计算zeta电位。压差与电位的实时关系图直接计算zeta电位直接数据传输和处理样品池尺寸在1cm～8cm之间可变。流动电位法zeta电位分析仪的样品池选件满足特殊需要（平板膜，滤膜，中空纤维… … ）中空纤维切向流电位样品池直接测量多孔塞电阻流动电位法zeta电位分析仪适用于粉末、纸浆、反渗透膜、中空纤维、纺织纤维、地质矿物、矿石、玻璃、晶圆、聚合物、头发… …

APT-1氯离子自动电位滴定仪 仪器工作原理是以氯电极为指示电极，其电势随Cl-浓度而变化。以饱和双盐桥甘汞电极为参比电极，测定两电极在溶液中组成的电势，Ag+与Cl-反应生成溶解度很小的氯化银白色沉淀。在等当点前加入硝酸银生成氯化银沉淀，两电极间电势变化缓慢，等当点时氯离子全部生成了氯化银沉淀，这时滴入少量硝酸银将引起电势急剧变化，指示出滴定终点。 仪器特点：具有直读滴定毫升数和毫伏数的功能，采用7寸彩色触摸屏，导航式操作，并且显示滴定过程的滴定曲线图；采用阀门滴定管一体化设计，采用10mL滴定管，细分驱动，提高滴定液计量精度；具有空白试验测定功能，可随时设定空白溶液的体积并自动记录；具有滴定校准功能，可自动测量硝酸银标准滴定溶液的浓度值；智能化自动滴定，能根据电位变化快慢而改变滴定速度；具有自动停止滴定功能，当仪器检测到了化学计量点后，会停止滴加硝酸银标准滴定溶液，节省资源及时间；具有自动计算功能，采用二次维商计算出氯离子含量；具有数据存储功能，仪器配有USB功能，可随时将数据保存到仪器或U盘中，测量后可查看滴定曲线及滴定数据。

一、产品介绍NanoCoulter D 纳米粒度及电位分析仪具备粒径、电位多维度检测能力二、技术原理：在电解质液体中的芯片孔两侧有正负电极，当加上电压，电流通过小孔时，小孔周边会产生一个“电感应区”，随着每个颗粒通过小孔，颗粒会置换出对等体积的导电液体，瞬间增加了该电感应区的电阻，形成一个电位脉冲。仪器通过对电脉冲的准确测量分析，从而获得纳米颗粒的表征数据。电脉冲的幅度和粒径成正比，颗粒穿过纳米孔的速度(即电阻脉冲信号的宽度)与Zeta电位的大小相关。NanoCoulter可以实现单颗粒粒径、zeta电位同时分析的颗粒表征技术。三、产品优势：1、无需校准傻瓜式操作，无需热机，无需校准。只需扫描检测卡预制的二维码即可完成所有参数设置。2、无需清洗可抛弃型非侵入式检测卡；测样前无需清洗仪器和样本槽，直接上样就可进行测试3、智能软件审计追踪功能，符合21 CFR part 11；存储每个颗粒的完整脉冲信息，方便研发用户进行多角度分析4、NanoCoulter D纳米粒度及电位分析仪一次检测可同时获得粒径、电位信息媲美电镜的粒径测量精度单颗粒Zeta电位检测四、应用案例细胞外囊泡外泌体工程化修饰后电位变化分析Zeta电位的数值与样品分散的稳定性相关，颗粒所带电荷量直接影响样品颗粒的团聚状态，Zeta电位越低颗粒越容易聚集，Zeta电位越高样品就越趋于稳定。通过NanoCoulter检测可精准检测外泌体修饰前后的粒径分布和电位变化。病毒颗粒腺病毒批间差控制腺病毒生产中的培养基成分、温度、pH值、细胞培养方式等都影响着产毒效率。NanoCoulter纳米粒度仪可对腺病毒的径分布、 电位进行实时监测，快速评估不同批次间的差异，优化生产工艺和参数。纳米材料小分子添加剂对于颗粒悬液体系的zeta影响是巨大的，在研究体系zeta电位时，应该特别注意分散剂环境的组成。随着吐温的加入，吐温分子吸附在聚合物的表面，屏蔽了微球表面带电基团和周围分散液，导致了zeta电位绝对值下降。影响zeta电位最重要的因素是pH。当pH改变时，溶液中质子(H+)的浓度也随之改变，颗粒表面吸附的离子种类发生了变化，进而导致颗粒表面电荷和zeta电位的变化。五、技术参数1、粒径粒径检测范围：50-2000nm粒径测量准确度：回收率100±6%粒径测量精确度：CV%3%2、电位电位测量范围：±100mV4、上样量：3-50μL（稀释后200μL）5、软件：Windows系统，中英文操作软件，提供3Q认证具备审计追踪，符合FDA21CFR Part 116、尺寸：27 cm x16.5 cm x19 cmkg7、重量：8 kg

三菱化学自动电位滴定仪GT-200仪器特点：自动电位滴定仪GT-200，可通过鼠标接入USB接口，使得仪器可以像电脑一样轻松操作。图形化的操作界面可以完成一键式启动，也可以通过简单的设置完成不同的检测模式。模块化设计，可实现仪器的自动化运行通过计算机控制所有功能通过USB接口，最多可控制4台GT-200主机可同时显示实时数据和图像多通道控制分屏显示搭配丰富的可选配件可以组成一套最多包含12组滴定管和一个24位自动样品交换器的全自动滴定系统。40余年的自动电位滴定仪研发经验，业内先进的S.E.D只能终点检测技术（专利）。独创的S.E.D算法（Smart End Point Detection 智能终点检测技术），通过对转折点和总曲线的数据分析，可以增强对反应终点的识别度。5.7英寸彩色液晶显示屏，使得显示内容更加清晰。GLP支持：校准记录（滴定管，检测器，检测）；历史pH校准记录；三级用户登录权限适配LIMS系统：COM端口数据同步输出技术参数：1. 自动电位滴定仪GT-200技术参数产品名称自动电位滴定仪产品型号GT-200测量原理滴定过程中通过测量电位变化以确定滴定终点工作环境温度：5~40℃ 湿度：85%以下(避免雾状天气)电源选择100 ~ 240V(AC), 100VA体积175 (W)×408 (D)×176 (H)mm重量4kg显示器5.7 英寸彩色液晶显示屏提示音按键音和完成工作的提示音 实验类型1、酸碱滴定 2、氧化还原滴定 3、螯合反应 4、沉淀反应通过使用可选配件完成的实验类型：1、极化（电流法）/电导 2、光度传感器接口检测电极*2 参比电极*1 温度传感器*1pH值：0~ 14，分辨率：0.001pH，误差范围：±pH 0.003电势(mV/pH)测量电极接口检测电压：-2000 ~ +2000mV，测量范围分辨率：0.1mV，误差范围：±0.2 mV温度电极接口测量范围：0 ~ 99℃，分辨率：0.1?C，准确度：± 0.2 ?C 滴定模式校准(TEST)，等当点(INF)，设定 pH(SET-P)，等当点并设定pH(INF/SET-P)，石油中和数官方方法(OIL-A)，石油中和数通 用方法(OIL-J)，F交叉点检测(CROSS-F)，B交叉点检(CROSS-B)，V交叉点检测(CROSS-V)，返回时间法(R-TIME)，恒电位法(STAT)，电位调整(ADJUST)，酸度系数(pKa)预设检测点在一个滴定文件中可预设 3 个参数：预设加液体积(Preset-V)， 预设 pH 值(Preset-P)，预设当量(Preset-D)测量结果展示滴定曲线具备可连接自动滴定台的数量最多连接 12 个可保存数据56 种自定义滴定参数，99 个试验数据，40 种试剂设置，20 种公式数据结果的重新计算功能具备数据结果统计功能具备，可以储存并统计 99 个数据用户自定义计算公式具备每个自定义文件可设定的公式个数USB*3，COM*3（电子天平，GT/KF 滴定装置，打印机）USB 接口功能输出视窗显示、试验数据、检测方法、系统文件可连接鼠标、键盘、U 盘、计算机RS-232C 接口可连接电脑试验结果输出以打印的方式或电子文档输出（包含试验时间、试验名称、设置参数、数据结果和滴定曲线）GLP 功能校准 (滴定管，检测检查，测量检查)，pH 校准历史显示，带口令的用户注册2. GT-200滴定装置技术参数滴定管容量20ml（1ml，10ml规格为选配）精确度重现性：±0.01ml （20ml）分辨率：0.002ml液体流程自动阀门控制，聚四氟乙烯塑料材质液体接触材质聚四氟乙烯塑料材质，高硅玻璃，PP输液管长度0.5m（可选配 2m）电源通过连接GT-200主机提供尺寸127（W）× 378（D）× 260（H）mm重量5.5kg3. GT-200搅拌台技术参数电源线长度1m电源通过连接GT-200主机提供尺寸110（W）× 165（D）× 415（H）mm重量1.2kg配置：GT-200在标准配置的基础上，通过加配更多的滴定泵（GT-200BRT）、自动溶剂分配装置（GT-200SD）以及自动样品进样装置（GT-200SC）实现仪器的自动化运行。