反射仪原理

品牌：久滨型号：JB-106名称：逆反射系数测量仪一、产品概述：　　JB-106型逆反射系数测量仪（逆反射测量仪、反光标识检测仪），是依据国家相关标准研制开发的测量仪器，该仪器的特点是固定角度即观察角为0.2°，入射角-4°，在此几何条件下，测量各种逆反光材料值，这一测量值也是表征这类逆反射材料的关键数据。二、符合标准： 符合GB/T26377-2010,JJG059-2004，GB23254-2009。三、优势及特点： 仪器采用精密设计的光学传感系统，配以32位单片微机作为数据处理核心，采用彩色液晶屏作为显示器件，汉字提示，清晰直观，简单易用。测试数据可以存储、查询。 仪器内部自带可更换充电电池，使用方便。仪器还可选配打印机及WIFI功能。四、测量原理： 在一定几何条件下，在单位光照下，反光材料在单位面积上产生的亮度值。采用逆反射系数来表示，单位：cd/lx/m2。五、技术指标：1.测量范围：0～1999 cd/lx/m22.不确定度：5%3.观察角：0.2°4.入射角：-4°5.光源：暖白光LED光源6.接受器：V（λ）校正7.适用环境温度：-10°～ 40°8.相对湿度：80%9.外形尺寸：200x155x59 mm10.电源：9V/800mAh锂离子充电电池（可更换）

仪器简介：RQ反射仪 　 　 Order N.O. 订货号 PACK 包装/测定次数 品名 1.16970.0001 1set RQflex 反射仪 1.16955.0001 1set RQflex 加强型反射仪 RQ反射仪测试条 　 　 Order N.O. 订货号 PACK 包装/测定次数 品名 1.16894.0001 50 pH测试条 1.16895.0001 50 pH测试条 1.16996.0001 50 pH测试条 1.16892.0001 50 氨氮测试条 1.16899.0001 50 氨氮测试条 1.16977.0001 50 氨氮测试条 1.16722.0001 50 白葡萄酒中亚硫酸根测试条 1.16980.0001 50 定影池测试条 1.16993.0001 50 钙测试条 1.16988.0001 50 铬测试条 1.16990.0001 50 钴测试条 1.16731.0001 50 过氧化物测试条 1.16974.0001 50 过氧化物测试条 1.16975.0001 50 过乙酸测试条 1.16976.0001 50 过乙酸测试条 1.16989.0001 50 甲醛测试条 1.16992.0001 50 钾测试条 1.16123.0001 50 碱性磷酸酶测试条 1.16721.0001 50 酒石酸测试条 1.16981.0001 50 抗坏血酸测试条( 维生素C) 1.16730.0001 50 空白条 1.16978.0001 50 磷酸根测试条 1.16994.0001 50 铝测试条 1.16991.0001 50 锰测试条 1.16979.0001 50 钼测试条 1.16985.0001 50 镍测试条 1.16121.0001 50 牛奶中过氧化酶测试条 1.16120.0001 50 牛奶中尿素测试条 1.16720.0001 50 葡萄糖测试条 1.16998.0001 50 铅测试条 1.16898.0001 50 润滑油pH测试条 1.16126.0001 50 碳酸根硬度测试条 1.16982.0001 50 铁测试条 1.16983.0001 50 铁测试条 1.16984.0001 50 铜测试条 1.16971.0001 50 硝酸根测试条 1.16995.0001 50 硝酸根测试条 1.16987.0001 50 亚硫酸根测试条 1.16732.0001 50 亚硝酸根测试条 1.16973.0001 50 亚硝酸根测试条 1.16896.0001 50 余氯测试条 1.05851.0001 50 脂酶测试条 1.16136.0001 50 总糖测试条 1.16997.0001 50 总硬度测试条 RQ反射仪加强型配套试剂 　 　 1.17940.0001 100 余氯,总氯测试试剂 1.17941.0001 100 亚硝酸根测试试剂 1.17942.0001 100 磷酸根测试试剂 1.17943.0001 100 氰根测试试剂 1.17944.0001 100 氯根测试试剂 1.17945.0001 100 钾测试试剂技术参数：RQ反射仪采用独特的反射光测试原理进行测试，入射光被带颜色的测试条吸收；通过测量被吸收的光的强度，被分析物的浓度被计算出来。 RQ反射仪有两种类型可供客户来选择： 1，基本型反射仪和加强型反射仪主要特点：测试系统由RQ系列反射仪，条行码和RQ反射试纸条组成． 仪器 仪器采用独特的反射光测试原理，条行码自动识别技术，避免操作误差 无须对仪器进行校正 仪器的双光束检测，同时进行两次测量，增加了分析测试的准确性 携带方便，操作简单，结果快速可靠，尤其适合现场分析 在农业平衡施肥，食品安全检测，葡萄酒酿造，环保等领域得到了广泛运用，并获得全球众多奖项。 有了默克RQ反射仪，从此您就不必等待许多天，用复杂的大型机器来对土壤植株样品进行分析测试，在田间地头，通过简单的几个按键，插入试纸条，几分钟您可以完成对土壤植株样本的测试并得到准确的数据！即使您从来没有使用过分析仪器，您依然可以自如的操作并得到准确的结果！

一、概述 SR-C 紧凑型高精度反射膜厚仪，利用光学干涉原理，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。■ 光学薄膜测量解决方案；■ 非接触、非破坏测量；■ 核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析；■ 是膜厚重复性测量精度：0.02nm■ 配置灵活、支持定制化二、产品特点■ 采用高强度卤素灯光源，光谱覆盖深紫外到近红外范围；■ 采用光机电高度整合一体化设计，体积小，操作简便；■ 基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析单层薄膜到多层；■ 配置强大核心分析算法：FFT分析厚膜、曲线拟合分析法分析薄膜的物理参数信息；三、产品应用 反射膜厚仪广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、无机薄膜、金属膜、涂层等薄膜测量。技术参数

一、概述 RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。 ■ 高性价比穿透率、反射率测量解决方案 ■ 色坐标计算和薄膜特征解析 ■ 模块化定制，支持在线集成应用二、产品特点■ 采用高性能进口氘卤二合一光源，光谱范围覆盖可见光到近红外范围；■ 支持全光谱范围反射率高精度量测，基于薄膜层上下界面反射光干涉原理，轻松解析单层至多层薄膜特征；三、产品应用 RT系列反射透射测量仪，可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量，并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。技术参数

仪器简介：JFB-IB便携式反射率测定仪 一． 概述 我公司生产的JFB-I便携式反射率测定仪是为涂料、颜料、油墨等化工行业贯彻执行国际标准、国家标准而研制的专用仪器。它可用于漆膜遮盖力的测定。该仪器完全符合国家标准ISO3906-1980(E)、国家标准GB/T13452．3-92、GB9270-88、GB5211．17-88对该仪器的规定要求。技术参数：JFB-IB便携式反射率测定仪 一． 概述 我公司生产的JFB-I便携式反射率测定仪是为涂料、颜料、油墨等化工行业贯彻执行国际标准、国家标准而研制的专用仪器。它可用于漆膜遮盖力的测定。该仪器完全符合国家标准ISO3906-1980(E)、国家标准GB/T13452．3-92、GB9270-88、GB5211．17-88对该仪器的规定要求。 二 ．工作原理 本仪器由主机、标准板（黑白各一块）、充电器等组成。 本机采用0° 照射，漫反射接收的原理。当试样的反射光作用于光电池表面时产生电讯号输入到直流放大器进行放大，并予以读数显示。 三．主要技术参数 ．1、测量范围 0-100 2、重复精度 &le 0.3 3、示值误差 ± 1.0 4、环境温度 5º C~40º C 相对湿度＜85％ 5、输入电源 DC9&or 工作电压DC7.2V。 四．使用方法 1、 按下电源开关，开机预热2分钟。此时应把探头放在黑色标准板上为佳。 2、 校零：把主机放在黑色标准板上，调整主机上的校零旋钮.因本纪无负号显示，在调零过程中应如下操作：如顺时针方向旋转，这时显示数值由小变大，则立刻将旋转方向反转为逆时针方向旋转，慢慢旋转使机器显示为00.0。允许变动值为：00.1。 3、 校正标准值：把主机放在白色标准板上，调整主机的校标旋钮，使主机显示的数值与白色标准板的标定值一致。允许变动± 0.1反复调整一次（校零、校标）。 4、 测量RB值：把主机移至放有试样的黑色工作陶瓷板上，显示器所显示的数值即为RB值。 5、 测量Rw值：把主机移至放有试样的白色工作陶瓷板上，显示器所显示的数值即为Rw值。 6、 计算求得对比率对比率（遮盖率）＝RB/RW× 100％ 五、注意事项： 1、为保证测量精度，仪器应经常校准，允许偏差为± 0.3，若大于± 0.3需重新校准。 2、为克服光电池的光照疲劳现象，在测试的间隙时间内应将主机放在黑色标准板上面。 3、试样的制备应严格依照相关的国家标准GB9271-88的规定进行。 4、仪器在使用前要进行充电，一般充一次电后可使用10小时左右，仪器电量不足时，显示窗左上方会出现&ldquo LOBAT&rdquo 字样，这时需马上充电。主要特点：JFB-IB便携式反射率测定仪 一． 概述 我公司生产的JFB-I便携式反射率测定仪是为涂料、颜料、油墨等化工行业贯彻执行国际标准、国家标准而研制的专用仪器。它可用于漆膜遮盖力的测定。该仪器完全符合国家标准ISO3906-1980(E)、国家标准GB/T13452．3-92、GB9270-88、GB5211．17-88对该仪器的规定要求。 二 ．工作原理 本仪器由主机、标准板（黑白各一块）、充电器等组成。 本机采用0° 照射，漫反射接收的原理。当试样的反射光作用于光电池表面时产生电讯号输入到直流放大器进行放大，并予以读数显示。

反射光谱膜厚仪SD-SR-100是一款专为薄膜厚度测量而设计的先进仪器。以下是对该产品的详细介绍：1. 测量范围与精度： - 该仪器能够测量从2纳米到3000微米的薄膜厚度，具有高达0.1纳米的测量精度。2. 测量功能： - 在折射率未知的情况下，SD-SR-100不仅可以测量薄膜的厚度，还能同时测量其折射率。 - 可用于测量半导体镀膜、手机触摸屏ITO等镀膜厚度、PET柔性涂布的胶厚、LED镀膜厚度、建筑玻璃镀膜厚度等多种应用场景。3. 测试原理： - 利用薄膜干涉光学原理进行厚度测量及分析。通过从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线，并根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。4.软件支持： - 配备易于安装和操作的基于视窗结构的软件，界面友好，操作简便。 - 软件功能强大，支持多层膜厚的测试，并可对多层膜厚参数进行测量。 - 提供大量的光学常数数据及数据库，支持多种折射率模型，如Cauchy, Cauchy-Urbach, Sellmeier等。5. 特点与优势： - 先进的光学设计和探测器系统，确保系统性能优越和快速测量。 - 光源设计独特，具有较好的光源强度稳定性。 - 提供多种方法来调整光的强度，以满足不同测量需求。 - 配备微电脑控制系统，大液晶显示和PLC操作面板，便于用户进行试验操作和数据查看。 - 支持自动和手动两种测量模式，以及实时显示测量结果的较小值、平均值以及标准偏差等分析数据。6. 应用领域： - 广泛应用于医疗卫生、生物产业、农业、印刷包装、纺织皮革等多个行业，特别是在薄膜分析领域表现出色。综上所述，反射光谱膜厚仪SD-SR-100凭借其高精度、多功能和广泛的应用领域，成为薄膜厚度测量领域的理想选择。

一、产品介绍能谱科技出品IRA-51漫反射附件珠宝漫反射附件是一款设计独特的仓外大样品漫反射附件产品。可以直接测量超大样品。测量平台位于仓外，大尺寸样品可直接置于样品台上。适用于进口及国产各品牌公司的红外光谱仪。分中红外和近红外两种配置，可不取出样品，直接测量样品瓶中的样品。反射镜采用整体材料加工而成。精确设计的部件位置和优化调整的红外光路，使能谱漫反射附件具有很好的光通量和信噪比。IRA-51漫反射附件灵活的测样方式，完全摆脱了珠宝尺寸大小的局限，小到颗粒碎钻，大到各类玉器工艺品，材料鉴别瞬间完成。二、漫反射附件工作原理：漫反射，是投射在粗糙表面上的光向各个方向反射的现象。当一束平行的入射光线射到粗糙的表面时，表面会把光线向着四面八方反射，所以入射线虽然互相平行，由于各点的法线方向不一致，造成反射光线向不同的方向无规则地反射，这种反射称之为“漫反射”或“漫射”。这种反射的光称为漫射光。漫反射光是指从光源发出的光进入样品内部，经过多次反射、折射、散射及吸收后返回样品表面的光。漫反射光是分析与样品内部分子发生作用以后的光，携带有丰富的样品结构和组织信息。与漫透射光相比，虽然透射光中也负载有样品的结构和组织信息，但是透射光的强度受样品的厚度及透射过程光路的不规则性影响，因此，漫反射测量在提取样品组成和结构信息方面更为直接可靠。三、能谱红外光谱珠宝检测配置方案：四、能谱红外光谱珠宝漫反射附件检测谱图：

一、概述 SR-Mapping 系列利用反射干涉的原理进行无损测量，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱，同时搭配R-Theta位移台，兼容6到12寸样品，可以对整个样品进行快速扫描，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息，并对于膜厚均匀性做出评价。■ 光学薄膜测量解决方案；■ 非接触、非破坏测量；■ 核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析；■ 膜厚重复性测量精度：0.02nm■ 全自动测量，测量点数跟位置在Recipe中可根据需要编辑 ■ 采用高强度卤素灯光源，光谱覆盖紫外可见光到近红外范围；■ 采用光机电高度整合一体化设计，体积小，操作简便；■ 基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析单层薄膜到多层；■ 配置强大核心分析算法：FFT分析厚膜、曲线拟合分析法分析薄膜的物理参数信息；三、产品应用 广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、无机薄膜、金属膜、涂层等薄膜测量。技术参数

产品简介：SR-C系列紧凑型高精度反射膜厚仪，利用光学干涉原理，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。反射膜厚仪广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、无机薄膜、金属膜、涂层等薄膜测量。 产品型号SR-C系列紧凑型高精度反射膜厚仪主要特点1、光学薄膜测量解决方案2、非接触、非破坏测量3、覆盖单层到多层薄膜4、核心算法覆盖薄膜到厚膜5、配置灵活、支持定制化6、采用高强度卤素灯光源，光谱覆盖可见光到近红外范围7、采用光机电高度整合一体化设计，体积小，操作简便8、基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析单层薄膜到多层9、配置强大核心分析算法：FFT分析厚膜、曲线拟合分析法分析薄膜的物理参数信息技术参数型号SR-CVSR-CN基本功能获取薄膜厚度值以及R、N/K等光谱光谱波长范围380-800nm650-1100nm测量厚度范围50nm-20um100nm-200um测量时间1s光斑尺寸0.5-3mm重复精度0.1nm（100nmSiO2/Si）绝对精度±1nm or 0.5%入射角方式垂直入射可选配件1温控台2Mapping扩展模块3真空泵

概述：　　云唐多功能光时域反射仪(英文名称:optical time-domain reflectometer OTDR)是通过对测量曲线的分析，了解光纤的均匀性、缺陷、断裂、接头耦合等若干性能的仪器。它根据光的后向散射与菲涅耳反向原理制作，利用光在光纤中传播时产生的后向散射光来获取衰减的信息，可用于测量光纤衰减、接头损耗、光纤故障点定位以及了解光纤沿长度的损耗分布情况等，是光缆施工、维护及监测中不可少的工具。　　主要用途：　　主要用于测量光纤光缆的长度、传输损耗、接头损耗等光纤物理特性，并能对光纤线路中的事件点、故障点准确定位。广泛应用于光纤通信系统的工程施工、维护测试及紧急抢修、光纤光缆的研制与生产测试等。　　产品功能：　　1. OTDR部分: 1310/1550nm , 22/20dB, 0-60km　　2. 光功部分 : -70~+10dbm或 -50~+26dbm　　3. 红光部分 : =10mw　　4. 光源部分 : 1310/1550nm ,-5dBm　　产品特点：　　◇ 双波长测试 1310/1550nm　　◇ 测试距离 60km　　◇ 可选配触摸屏　　◇ 数据保存 Sor 格式　　◇ 光功率计，光源，红光，OTDR 多合一功能　　◇ 键盘输入，可编辑保存文件名名称和线路编号　　◇ 支持用户升级　　◇ 采用 4 寸 IPS 大屏，800*480 像素，室外阳光下清晰可读　　◇ 快速开机，仅需 2 秒，即可测试　　产品参数：　　云唐多功能光时域反射仪OTDR部分　　波长 (nm)1310/1550nm　　动态范围 22/20dB　　测量距离0-60 km　　光纤类型9/125um SM　　接口类型FC/PC/ SC/PC (APC 可定做)　　激光峰值=30mW　　显示单位米,英尺,英里　　反射事件盲区2m　　衰耗事件盲区12m　　测量精度(反射事件)About ±(1m+2 *10(-4)* 距离)　　保存测试记录条数200 条　　可视故障定位仪(红光)　　波长 (nm)650nm　　输出功率≥10mW　　输出模式CW，1Hz，2Hz　　测试光纤类型SM，MM　　光功率计　　测量范围-70～+10dBm -50～+26 dBm　　波长范围(nm)800～1650　　测试波长(nm)850、1300、1310、1490、1550、1625　　探测器类型InGaAs　　测量精度±3% (-10dBm、22℃)　　分辨率线性度：0.1%，非线性度：0.01dBm　　适配器类型可更换 FC/ SC，( ST 选配)　　光源　　激光器类型FP-LD　　输出波长 (nm)1310/1550nm　　接口类型FC/PC SC/PC (ST/PC as optional)　　输出功率≥-5dBm　　输出稳定度(dBm)±0.04@20℃@15min　　输出频率CW/270Hz/1KHz/2KHz　　测试光纤类型SM　　其他　　液晶3.97 寸，800*480 像素，IPS，触摸屏　　电池7.4V/4400mAH 锂离子电池，5000 次测试　　温度测试温度 :-5～50℃ ,存储温度:-10～60℃　　湿度0～85%(Non-condensing)　　尺寸(mm)190×84×52　　重量(g)375

SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量，材料样品最小厚度可至6.4mm，太阳反射比和吸收比精确到0.001，重复性达到0.003。采用钨丝提供漫反射光源，测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供，标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定，仪器经过标准体定标后即可开始测量。默认操作模式下，仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟，钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值，灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储，计算太阳反射比并显示在LCD上，然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。

针对高反射率（R99.7%）的光学样品，德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法（Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS）反射率测量测量系统, 它通过对指数型腔内衰荡信号的检测，去掉了传统检测方法中激光能量起伏所引起的误差, 大大提高了测量精度。测量原理当一束脉冲激光沿着光轴入射到光腔内，忽略衍射及散射损耗，单色脉冲光在两个腔镜之间往返振荡，每经过一次循环透射出部分光，探测器通过接收光脉冲信号得到其以单指数形式衰减。τ为衰荡时间，指光子出射脉冲光强衰减为初始光强的1/e时经历的时间。C代表光速，L是代表腔长，RM是两个腔镜的几何平均反射率，散射V和吸收系数α忽略不计。则，衰荡时间τ表示为从公式上可知:1)腔内损耗越小，反射率越高，衰荡时间越长。2)在已知参考片的反射率Rref 前提下，可求得要待测样品的反射率R。一、 德国IPHT CRD高反射率测量系统1. CRD系统介绍系统包含1. 激光光源2. 光学零部件3. A/D转换器4. 探测系统系统要求详细说明激光器波长范围400nm-1064nm内常见激光波长激光器工作模式脉冲测量角度范围标准0°；45°选配反射率测量范围99.9%-99.995%测量精度反射率精度取决于待测样品反射率，精度为（1-R）*10%样品类型平平/平凹镜(凹面的曲率半径≥500mm),平面抛光，凹面镀高反，反射率R在99.9%...99.995%范围内样品尺寸要求标准即1英寸；半英寸/50mm可选（直径要求可根据客户需求定制）标准厚度：1/4英寸（5-7mm可选）应用：准确检测高反射率激光腔镜的反射率，尤其对于反射率大于99.9%的腔镜测量具有更好的效果。

概述：　　光时域反射仪(英文名称:optical time-domain reflectometer OTDR)是通过对测量曲线的分析，了解光纤的均匀性、缺陷、断裂、接头耦合等若干性能的仪器。它根据光的后向散射与菲涅耳反向原理制作，利用光在光纤中传播时产生的后向散射光来获取衰减的信息，可用于测量光纤衰减、接头损耗、光纤故障点定位以及了解光纤沿长度的损耗分布情况等，是光缆施工、维护及监测中必不可少的工具。　　主要用途：　　主要用于测量光纤光缆的长度、传输损耗、接头损耗等光纤物理特性，并能对光纤线路中的事件点、故障点准确定位。广泛应用于光纤通信系统的工程施工、维护测试及紧急抢修、光纤光缆的研制与生产测试等。　　产品功能：　　1. OTDR部分: 1310/1550nm , 22/20dB, 0-60km　　2. 光功部分 : -70~+10dbm或 -50~+26dbm　　3. 红光部分 : =10mw　　4. 光源部分 : 1310/1550nm ,-5dBm　　产品特点：　　◇ 双波长测试 1310/1550nm　　◇ 测试距离 60km　　◇ 可选配触摸屏　　◇ 数据保存 Sor 格式　　◇ 光功率计，光源，红光，OTDR 多合一功能　　◇ 键盘输入，可编辑保存文件名名称和线路编号　　◇ 支持用户升级　　◇ 采用 4 寸 IPS 大屏，800*480 像素，室外阳光下清晰可读　　◇ 快速开机，仅需 2 秒，即可测试产品参数：OTDR部分波长 (nm)1310/1550nm动态范围 22/20dB测量距离0-60 km光纤类型9/125um SM接口类型FC/PC/ SC/PC （APC 可定做）激光峰值=30mW显示单位米,英尺,英里反射事件盲区2m衰耗事件盲区12m测量精度(反射事件)About ±(1m+2 *10(-4)* 距离)保存测试记录条数200 条可视故障定位仪（红光）波长 (nm)650nm输出功率≥10mW输出模式CW，1Hz，2Hz测试光纤类型SM，MM光功率计测量范围-70～+10dBm；-50～+26 dBm波长范围（nm）800～1650测试波长（nm）850、1300、1310、1490、1550、1625探测器类型InGaAs测量精度±3% （-10dBm、22℃）分辨率线性度：0.1%，非线性度：0.01dBm适配器类型可更换 FC/ SC，( ST 选配)光源激光器类型FP-LD输出波长 (nm)1310/1550nm接口类型FC/PC SC/PC (ST/PC as optional）输出功率≥-5dBm输出稳定度(dBm)±0.04@20℃@15min输出频率CW/270Hz/1KHz/2KHz测试光纤类型SM其他液晶3.97 寸，800*480 像素，IPS，触摸屏电池7.4V/4400mAH 锂离子电池，5000 次测试温度测试温度 :-5～50℃ ,存储温度:-10～60℃湿度0～85%(Non-condensing)尺寸（mm）190×84×52重量(g)375

一、概述： 反射率测定仪主要用于白色和浅色漆遮盖力的测定，也常用于涂料、色漆的对比测试。C84-III型反射率测定仪符合国际标准 ISO 3905、ISO 3906，中国标准 GB/T 13452、GB/T 9270、GB/T5211、GB/T 23981。二、工作原理： 本仪器由探头、主机、标准板（黑白各一块）、工作陶瓷板（黑白各二块）等组成。探头采用0°照射，45°接收的原理。当试样的反射光作用于光电池表面时产生电讯号输入到直流放大器进行放大，并予以读数显示（详见光路原理图）。仪器的示值与受测表面反射的光照强度成正比。三、主要技术参数： 1、示值范围： 0～100 2、显示精度： 0.1 3、使用电源： 220V 50Hz

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）Apollo(阿波罗）是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器，被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户：英国国家美术馆，荷兰国立博物馆，美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画，唐卡作品，图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像，Apollo（阿波罗）是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

7530自动反射调节仪 UGO公司最新型号的自动反射调节器可用于多种逃避实验，根据不同的反射条件设置可以进行穿梭实验、定时实验、冲突实验、十字穿梭实验等。包括可编程记录器、活动笼、电子刺激器。刺激方式可选择声音、光、电击等，刺激的延迟时间、持续时间、暂停时间和强度可调。通过选配的打印机打印结果或通过软件连接到计算机进行记录分析。 【订货信息】 产品型号 产品描述 产地 7530 自动反射调节仪(大鼠) UGO/ITALY 7530-M 自动反射调节仪(小鼠) UGO/ITALY

光化学反射指数(PRI)测量仪可在近地面对植物冠层光化学反射指数（PRI）进行长期定位监测，是研究植物冠层水平叶黄素循环的理想手段。PRI测量仪制作工艺考究、坚固耐用，可在各种恶劣天气条件下正常工作；其体积小巧，安装简易方便；性价比高，适合多处布点。 工作原理光化学反射指数（PRI）是由冠层对532nm的反射率与570nm的反射率之差比上两者之和计算得到，因此需同时安装向上和向下两个传感器来计算冠层对这两个波长的反射率。向上的PRI传感器检测532nm和570nm的光照强度。测量结果代表了来自天空的入射光强度。传感器经过了余弦校正，具有半球视场。安装时须保证视场内只有天空，没有冠层和其他地物。向下的PRI传感器也是检测532nm和570nm的光照强度。测量结果代表了来自冠层的反射光强度。传感器的视野范围被限定在35°以内，这种限定使得传感器可以准确朝向待测冠层。产品特点耗电量低性价比高支持SDI-12通讯协议自动测量、收集数据，校准信息保存在传感器内环氧树脂密封工艺，防水，耐受恶劣天气，可在野外长期布设若使用ZL6数据采集器，可通过互联网终端实现远程数据查看和下载应用领域研究植物冠层光能利用效率估算生态系统总初级生产力研究碳通量的空间分布研究冠层干旱、疾病或其他胁迫 技术参数校准系数（灵敏度的倒数）逐个传感器校准，数据存储在固件中校准不确定性± 5 %波长范围绿光检测器 532 nm，半峰宽（FWHM）10 nm黄光检测器 570 nm，半峰宽（FWHM）10 nm测量范围2倍全日照测量重复性 1 %长期漂移每年 2 %响应时间 0.6 s视场范围S2-421-SS (向上): 180°S2-422-SS (向下): 35°方向（余弦）响应± 2 % @ 45°, ± 5 % @ 75° 天顶角温度响应 0.1 % 每 ℃输出SDI-12供电5.5 ~ 24 V DC外壳带有丙烯酸散射盖的阳极铝IP防护IP68工作环境-40 ~ 70 ℃ 0 ~ 100 % RH尺寸S2-421-SS (向上): 直径30.5 mm, 高37 mm；S2-422-SS (向下): 直径23.5 mm, 高43 mm重量（包含5米缆线）S2-421-SS (向上): 140 g；S2-422-SS (向下): 110 g缆线5米屏蔽双绞线；TPR护套（高耐水性、高紫外线稳定性、在寒冷条件下的灵活性）；引线；不锈钢（316），ZL6立体声接口兼容数采（须另购）METER EM60 系列, ZL6 系列, ZSC, ProCheck, Campbell Scientific订购指南传感器：S2-421-SS向上半球视野传感器，S2-422-SS向下视场光阑传感器数采：ZL6数据采集器。另有归一化植被指数(NDVI)传感器可选购。相关产品SRS-NDVI 归一化植被指数测量仪产地与厂家：美国METER公司

仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。TX2000 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，软件控制Mo/W靶可自由切换，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。应用范围TX2000 可检测从钠Na到钚Pu所有元素含量，可进行痕量或超痕量元素分析（ppt或pg），广泛的应用在环境分析（水、灰尘、沉积物、大气悬浮物），制药分析（生物体液和组织样品中的有害元素），法医学（微小证据分析），化学纯度分析（酸、碱、盐、溶剂、水、超纯试剂），油品分析（原油、轻质油、燃料油），染料分析（墨水、油漆、粉末），半导体材料分析（挥发相分解），核材料工业（放射性元素分析）。 主要特点■ 单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；■ 不受样品的类型和不同应用需求影响；■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；■ 优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；■ 出色的动态线性范围；■ 无需任何化学前处理，无记忆效应；■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。HORIZON 配备了12位样品台自动测量，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。广泛应用在环境分析、制药分析、法医学、化学纯度分析、油品分析、染料分析、半导体材料及核材料工业分析领域。主要特点■ 单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；■ 不受样品的类型和不同应用需求影响；■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；■ 优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；■ 出色的动态线性范围；■ 无需任何化学前处理，无记忆效应；■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

光谱反射仪（SR）系列是一款相对较低成本和操作简单的工具。SR 系列特征：简单易操作 最佳系统性能基于先进的光学设计 基于阵列的探测器系统保证快速测量 测量薄膜厚度和折射率可达5层 允许在毫秒内获得反射、透射和吸收光谱 可用于实时或在线厚度，折射率的监测 系统具有全面的光学常数数据库 先进的TFprobe软件允许用户使用NK表、分散或有效介质近似（EMA）每个单独的膜。 可升级到MSP（显微分光光度计）系统，SRM映射系统，多通道系统，大点的直接测量图案或功能结构 适用于多种不同厚度的基材 各种附件可用于特殊配置，如运行曲线测量曲面 2D和3D输出图形和用户友好的数据管理接口光谱反射仪型号：SR100SR300SR500

概述：多功能光时域反射仪(英文名称:optical time-domain reflectometer OTDR)是通过对测量曲线的分析，了解光纤的均匀性、缺陷、断裂、接头耦合等若干性能的仪器。它根据光的后向散射与菲涅耳反向原理制作，利用光在光纤中传播时产生的后向散射光来获取衰减的信息，可用于测量光纤衰减、接头损耗、光纤故障点定位以及了解光纤沿长度的损耗分布情况等，是光缆施工、维护及监测中不可少的工具。主要用途：多功能光时域反射仪主要用于测量光纤光缆的长度、传输损耗、接头损耗等光纤物理特性，并能对光纤线路中的事件点、故障点准确定位。广泛应用于光纤通信系统的工程施工、维护测试及紧急抢修、光纤光缆的研制与生产测试等。产品功能：1. OTDR部分: 1310/1550nm , 22/20dB, 0-60km 2. 光功部分 : -70~+10dbm或 -50~+26dbm3. 红光部分 : =10mw4. 光源部分 : 1310/1550nm ,-5dBm产品特点：◇ 双波长测试 1310/1550nm◇ 测试距离 60km◇ 可选配触摸屏◇ 数据保存 Sor 格式◇ 光功率计，光源，红光，OTDR 多合一功能◇ 键盘输入，可编辑保存文件名名称和线路编号◇ 支持用户升级◇ 采用 4 寸 IPS 大屏，800*480 像素，室外阳光下清晰可读◇ 快速开机，仅需 2 秒，即可测试产品参数： OTDR部分 波长 (nm) 1310/1550nm 动态范围 22/20dB 测量距离 0-60 km 光纤类型 9/125um SM 接口类型 FC/PC/ SC/PC （APC 可定做） 激光峰值 =30mW 显示单位 米,英尺,英里 反射事件盲区 2m 衰耗事件盲区 12m 测量精度(反射事件) About ±(1m+2 *10(-4)* 距离) 保存测试记录条数 200 条 可视故障定位仪（红光） 波长 (nm) 650nm 输出功率 ≥10mW 输出模式 CW，1Hz，2Hz 测试光纤类型 SM，MM 光功率计 测量范围 -70～+10dBm；-50～+26 dBm 波长范围（nm） 800～1650 测试波长（nm） 850、1300、1310、1490、1550、1625 探测器类型 InGaAs 测量精度 ±3% （-10dBm、22℃） 分辨率 线性度：0.1%，非线性度：0.01dBm 适配器类型 可更换 FC/ SC，( ST 选配) 光源 激光器类型 FP-LD 输出波长 (nm) 1310/1550nm 接口类型 FC/PC SC/PC (ST/PC as optional） 输出功率 ≥-5dBm 输出稳定度(dBm) ±0.04@20℃@15min 输出频率 CW/270Hz/1KHz/2KHz 测试光纤类型 SM 其他 液晶 3.97 寸，800*480 像素，IPS，触摸屏 电池 7.4V/4400mAH 锂离子电池，5000 次测试 温度 测试温度 :-5～50℃ ,存储温度:-10～60℃ 湿度 0～85%(Non-condensing) 尺寸（mm） 190×84×52 重量(g) 375

我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。

光反射薄膜测厚仪原产国：美国薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。该产品是一款价格适中、功能强大的膜厚测量仪器，近几年，每年的全球销售量都超过200台。根据型号不同，测量范围可以从10nm到250um，它最高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度（其中一层为基底材料）。该产品可应用于在线膜厚测量、测氧化物、SiNx、感光保护膜和半导体膜。也可以用来测量镀在钢、铝、铜、陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。 应用领域理论上讲，我们的光干涉膜厚仪可以测量所有透光或半透光薄膜的厚度。以下为我们最熟悉的应用领域(半导体薄膜，光学薄膜涂层，在线原位测量，粗糙或弧度表面测量)：□ 晶片或玻璃表面的介电绝缘层(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...)；□ 晶片或玻璃表面超薄金属层(Ag, Al, Au, Ti, ...)；□ DLC(Diamond Like Carbon)硬涂层；SOI硅片；□ MEMs厚层薄膜(100μm up to 250μm)；□ DVD/CD涂层；□ 光学镜头涂层；□ SOI硅片；□ 金属箔；□ 晶片与Mask间气层；□ 减薄的晶片( 120μm)；□ 瓶子或注射器等带弧度的涂层；□ 薄膜工业的在线过程控制；等等… 软件功能丰富的材料库：操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据，基本上的常用材料都包括在这个材料库中。用户也可以在材料库中输入没有的材料。软件操作简单、测速快：膜厚测量仪操作非常简单，测量速度快：100ms-1s。软件针对不同等级用户设有一般用户权限和管理者权限。软件带有构建材料结构的拓展功能，可对单/多层薄膜数据进行拟合分析，可对薄膜材料进行预先模拟设计。软件带有可升级的扫描功能，进行薄膜二维的测试，并将结果以2D或3D的形式显示。软件其他的升级功能还包括在线分析软件、远程控制模块等。

简单介绍美国15R-USB便携式镜面反射率计使用660nm的LED光源，通过校准光学部件产生10mm直径光束源。反射的光束穿过3个孔中的1个，标准接收角度为15、25和46mrad，提供7mrad可选孔径。15R-USB便携式镜面反射率计基座上有两个可调节的支承点，可用来调准反射光束与接收光学系统。详细介绍美国D&S公司生产的15R-USB便携式镜面反射率计是专门针对野外或实验室内应用设计的，可以测量平面或曲面样品的镜面反射率，15R-USB便携式镜面反射率计采用可充电电池供电，每次充电完成后可连续测量15个小时。反射计设计小巧，高约15cm，直径12.7cm，重量1.0kg，测量时间约每分钟2~6次并自动记录和存储数据。具有USB接口可进行数据下载、数据维护和固件升。这些特点对于现场太阳反射镜的测量、检测、生产过程中的质量控制、热控制涂层的维护等应用域非常理想。具有如下优点： （1）电池操作，野外便携 （2）重复性：±0.002 （3）质量控制和检测的理想应用产品原理介绍15R-USB便携式镜面反射率计使用660nm的LED光源，通过校准光学部件产生10mm直径光束源。反射的光束穿过3个孔中的1个，标准接收角度为15、25和46mrad，提供7mrad可选孔径。15R-USB基座上有两个可调节的支承点，可用来调准反射光束与接收光学系统。支撑点中间具有停止位，可以根据反射镜厚度来调节；为了确认对准，可旋转检测器，通过15R-USB顶部的目镜查看光学路径和反射光束。LED光源通过电子截光并同步测量反射光束以去除杂散光误差。同时，光源通过参比检测器监测以减少热漂移。增益调节可将测量值准确到0.001。在仪器的底部，提供个封装的标准体。测量反射率时，只需将15R-USB置于待测量的反射镜上，并调节支撑点到液晶屏显示的大读数。15R主机包含：15R-USB控制软件，USB连接线，反射率标准体，镍镉电池，电池充电器，操作手册，维护手册，技术说明和运输箱。技术参数测量描述：测量15度入射角、10mm入射光源的镜面反射率，光束发散为5.0mrad。光源：高灵敏度红光LED 660nm，90HZ截光去除杂散光；可选570nm绿光LED。光学：LED光源固定于小光圈内确保提供点光源，并通过会聚透镜校准；内置光学进行过防尘处理。标准体：提供封装的镜面反射标准体，安装在仪器底部。重复性：±0.002分辨率：LCD显示反射率0.1%，增益调节旋钮可进行标准体校准。操作温度：0~50℃耗电：可充电电池提供15个小时连续测量，通用100-240VAC电源适配器。重量：1.0kg物理尺寸：如图

RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪，采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，实现对材料红外波段（2-22um）发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计，具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪，可广泛应用于各种工业材料发射率的测量，是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；&bull 测量波段：2-22um；&bull 重复性：±0.02；&bull 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；&bull OELD单色屏：一目了然，一键测量，操作简便；&bull 数据记录：最近32条测量记录，方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”，OLED点阵屏，单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录，EEPROM存储，关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃，非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃，非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm（包装箱含电源适配器，标定片等）整体重量 2.5Kg产品外形 注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。

仪器简介：AS3型超声传感器，和AT3型传送器一起，被特别设计用于各种液体中浓度检测。 根据这一应用，可做多范围校正和测量单位校正，如EBC、ppm、 %等。测量系统设计用于长期连续运行。探头设计允许安装到生产管路、槽或开放的通路中。生产压力可达5巴，无临界产品，通过1&ldquo 球阀，探头的生产插入和去除很容易完成。不需要干扰生产就能实现校正和维护。其它生产连接，如法兰、接头套管等，也可按要求提供。应用: 浊度   过滤控制   冷凝水中油   水中油、油中水  可操作领域: 化学工业、河水废水 石油化学工业 纸浆 & 造纸 电厂技术参数：线尺寸： DN 50 / 2&ldquo 测量范围： 0&ndash 10ppm, 0&ndash 10,000ppm 生产压力：PN 40 / ANSI class 300 重复性： ± 1 % 过程温度：最高110 C 探头管长度：约300mm 探头材料：1.4471 / 316SS（或其它要求材料） 重量： 约3Kg 透镜材料：Peek （或其它要求材料） 保护： IP65 / NEMA 4X 垫圈材料：因应用而异 可选危险区：ATEX Zone I / Z one II主要特点：测量原理：超声反射 --免维护 --校正周期延长：通常24小时 --用球阀，通过管道适配器插入生产过程 --插入/取出不影响生产（最高5巴） --可选带DIN- 或 ANSI 法兰 --宽跨度范围 --对颜色不敏感 --不受涂层影响 --因超声脉冲而具备的自清洁效应 --无易损件

汽车玻璃透反射测量系统简介该系统是集成光谱仪、反射光源、透射光源、CCD、高精度模组、运动控制软件为一体的自动化测试系统，应用于车载玻璃的反射率，透过率测试及获取相应状态下的色坐标。1、 系统主要测试参数玻璃反射率，透过率数据及相应状态下的色坐标等数据2、 系统特点&bull 采用高精度运动模组，直线位移精度±0.01mm，旋转精度优于0.1°&bull 支持大尺寸玻璃、模组测试&bull 支持直屏、曲屏测量&bull 通过标准白板标定反射率测量&bull 支持数据溯源&bull 可根据阈值自动判断OK/NG3、测试原理

天津能谱科技自主研发的ATRS-01衰减全反射附件样品无需前处理，简化了样品的制作过程，被广泛应用于各种固体和液体样品测试，如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体，具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试，同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用，更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试，样品基本不需要制备，直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。　　ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来，但同时在样品中有一个衰减波区域，这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行，部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来，透入到样品介质的光束，在样品的透光区，反射光能几乎等于入射光能，而在样品的吸收区，则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的，其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱，一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外，还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关，一般来说，穿透越深，吸收越强。

1. 产品概要SENTECH RM 1000 QC反射仪设计用于快速简单地测量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度，用于工业生产过程中的质量控制。该工具涵盖 20 nm 至 50 μm 的膜厚范围，可用于 100 μm 的测试图案。2. 主要功能与优势半自动桌面质量控制SENTECH RM 1000 QC是一款光学反射仪，用于对图案化基板上的薄膜和散装材料进行质量控制。它是小规模和大规模生产中随机抽样、工具鉴定和统计过程控制 （SPC） 的理想选择。通过手动晶圆处理对图案化晶圆进行质量控制SENTECH RM 1000 QC 易于手动装载。然后，对于图案化的 200 mm 晶圆，模式识别、映射测量、分析以及报告结果和统计信息都自动化。集成到实验室和晶圆厂环境中SENTECH RM 1000 QC 可选择通过 SECS/GEM 集成到制造执行系统中。3. 灵活性和模块化SENTECH RM 1000 QC 光谱反射仪提供法向入射的反射率光谱，SENTECH SpectraRay/4 软件分析的参数包括薄膜厚度、吸收、成分、能隙、颜色和光谱带宽。模式识别用于测量结构化样本。该工具的操作流程其简单，只需放置晶圆，启动自动化过程，工具就会返回准确的模式识别、测量和映射，以及精确、可重复的统计结果。SpectraRay/4 是用于 SENTECH RM 1000 QC 的综合光谱椭偏仪软件。它包括两种操作模式：配方模式和交互模式。配方模式允许轻松执行常规应用程序。交互模式通过交互式图形用户界面引导椭圆测量。

可变曲率半径反射镜/变焦反射镜姓名：谷工(Givin)电话：（微信同号）邮箱：激光加工质量非常依赖于激光束聚焦在工件上大小，通常激光加工中使用扫描振镜沿着工件的每个平面引导光点。然而，在大的偏转角度和/或厚的工件时，激光的焦点在Z方向上失去其位置。而基于Zwobbel-技术的可变曲率半径反射镜/变焦反射镜可以实时改变反射镜曲率，将激光焦点保持在扫描平面。在Zwobbel的zui小偏转下，激光加工系统的焦距可以在聚焦透镜的名义焦距处保持恒定，在zui大偏转时，聚焦透镜的焦距发生zui大位移。Zwobbel-可变曲率半径反射镜/变焦反射镜有以下优势：替代90°偏转镜2毫秒内完成对焦调整具有高达kHz频率的正弦工作机制孔径可达24mm支持所有波长的激光包含数字或模拟接口紧凑轻巧可变曲率半径反射镜/变焦反射镜主要型号参数：