德国Markdorf J. Wagner技术实验室的测试表明,CoatMaster在线非接触式实时测厚系统非常适合于在线过程控制未固化状态下粉末涂层厚度。该测量是在带有粉末涂料的移动铝型材上进行的。由于 CoatMaster直接安装在粉末涂装室的出口处,因此在涂上涂层后和固化前可立即进行测量。不同的型材悬挂在框架中,并在运输带上以1.8米/分钟的速度移动。一旦有工件经过,触发光栅传感器的信号进行自动测量。
本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》,利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪,采用粉末压片制样方法,测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线,各杂质元素标准曲线线性良好,平行测定10次,各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。