当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

漏电电流检测

仪器信息网漏电电流检测专题为您提供2024年最新漏电电流检测价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括漏电电流检测参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的漏电电流检测您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合漏电电流检测相关的耗材配件、试剂标物,还有漏电电流检测相关的最新资讯、资料,以及漏电电流检测相关的解决方案。

漏电电流检测相关的资讯

  • 志高不服空调被指漏电 欲另聘机构检测
    8月13日,杭州市萧山区宁围镇好立方连锁超市前,发生了空调漏电致人死亡的惨剧,遇难者为一位10岁男童。事发后,经空调品牌销售方同意,作为空调的使用方,8月20日,好立方超市委托第三方浙江省质量技术监督检测研究院对空调漏电情况进行了检测,9月3日,该检测报告正式出炉。   通过有关渠道获悉的检测报告显示,就技术分析形成了四个结论,其中就此次事件中的志高空调,该检测报告认为,志高空调外机电阻为零,外机机壳电压达到100V,并能点亮220V-40W的白炽灯,泄漏电流在70mA以上,大大超过人体30mA摆脱电流。并通过活鸡试验证明,志高空调外机外壳带电电压能在短时间内将活鸡电击致死。   《21世纪经济报道》援引目击者称,当天的现场检测结果显示,志高空调在活鸡通电试验中,活鸡只经过短短8秒钟,就过电死亡,其中另一人士则称,“现场检测显示,志高的空调最高漏电有147V”。   检测报告因此认为,现场不符合GB4706-1国家标准中的相关电气安全性能要求,同时该产品存在严重电气安全缺陷。该检测报告还认为,志高空调开机运行时,其外壳超过100V以上的电压,是造成本次事故的直接原因 同时,志高空调外机电源插头内接地线悬空,不符合GB4706-1国家标准的相关要求,失去接地线保护功能。   该检测报告最后下鉴定结论称,志高空调外机机壳带电,泄露电流超标,存在严重的电气安全隐患,直接导致事故发生。   对于此检测报告,志高发言人接受港媒查询时,表示公司对事件检测报告有异议,将另聘机构检测,暂亦不会停售产品。   志高公司秘书梁汉文表示,公司对检测报告有异议,故亦未有签署。他指出,最初相关机构指事件与志高无关,但后来又将矛头指向志高,是前后矛盾,并且认为其采用的活鸡测试方法并不标准,故公司将另外委托一间或多间国家权威机构作检测。他又强调,公司产品一直全数依照国家标准制造,公司对产品有信心,并指是次只是个别事件,暂时亦无其它个案,故不会考虑停售,但如有客户要求公司作出检测,公司亦乐意提供协助。
  • 高压漏电起痕试验机的测试原理是什么?
    高压漏电起痕试验机的测试原理是什么?实验原理:漏电起痕试验是在固体绝缘材料表面上,在规定尺寸(2mm×5mm) 的铂电极之间,-施加某一电压并定时(30s)定高度(35mm)滴下规定液滴体积的导电液体(0.1%NH 4CL),用以评价固体绝缘材料表面在电场和潮湿或污染介质联合作用下的耐漏电性能,测定其相比电痕化指数(CT1) 和耐电痕化指数(PT1) 。主要配件 序号型号产地1箱体(可选不锈钢箱体)宝钢A3钢板,喷塑2变压器浙江二变3调压器正泰4继电器及底座正泰5漏电保护器正泰6按钮正泰7计时器欧姆龙8短路电流智能表上海9温控器日本欧姆龙10导线上海启帆11计数器欧姆龙12无线控制器上海埃微自主研发13电磁阀亚德克在操作过程中要注意的事项:1、在操作过程中,人员应该注意个人防护,避免漏电受伤或被溶液沾染到口、眼部位造成伤害2、输入电源AC220±2%。3、排气管应通出窗外。4、在对样品进行时,请勿打开仓门,待试验完之后或当实验失效产生火烟时,先打开风扇排除烟雾后,再打开仓门进行作业。5、实验前须确认设备是否在计量有效期内,如超期则不能进行实验6、电源应用有地线的三极插座,保证接地可靠。主要技术指标:1) 空气环境:0~40°C;2) 相对湿度:≤80%;3) 无明显振动及腐蚀性气体的场所;4) 工作电压:AC220V±2% 50HZ±1%,1KVA;5) 试验电压:100~600V连续可调数显,电压表显示值误差:1.5%,显示值为:r.m.s;6) 延时电路:试验回路在(0.5±10%)A(r.m.s)或更大电流时延时(2±10%)S后动作;电极:a: 5㎜×2㎜矩形铂金电极和黄铜电极各一对;b: 电极尺寸要求:(5±0.1)㎜×(2±0.1)㎜×(≥12)㎜,其中一端凿尖角度为(30±2)°(即试验端呈30°±2°斜角),凿尖平面宽度为0.01㎜~0.1㎜;c: 电极间所成角度为60°±5°,间距为(4±0.1㎜);d: 对样品压力为:1.00N±0.05N;7) 滴液系统:a: (30±5)秒(开启滴液时间28S+开启滴液持续时间2S)自动计数、数显(可预置),50滴时间:(24.5±2)min b: 滴液针嘴到样品表面高度:35㎜±5㎜(附一个量规作测量参考) c: 滴液重量:20滴:0.380g~0.489g 50滴:0.997g~1.147g 8) 短路电流:两电极短路时的电流可调至(1±0.1)A,数显±1%,电流表显示值为有效值(r.m.s) 9) 仪器外形尺寸(宽*高*深)1100*1150*550㎜(0.5立方);700*385*1000㎜(0.1立方);10) 箱体由1.2厚的304不锈钢板制成,可订制0.75立方;11) 样品支撑平板:厚度≥4㎜的玻璃;12) 针嘴外径:A溶液:0.9㎜~1.2㎜B溶液: 0.9㎜~3.45㎜13) 滴液大小根据滴液系统而定;14) 风速:0.2M/S。产品特点:1、 本仪器支持5路试样同时进行试验,每路都有独立的控制系统进行控制2、 本仪器核心控制系统由西门子PLC控制,通过光电隔离方式进行采集电压和电流,有效解决抗干扰问题使数据采集保持稳定3、 本仪器显示部分是9寸触摸屏,操作方便,数据显示直观,能够实时显示每个试样的泄露电流4、 可以自由设定泄露电流数值,当实验中的电流超过设定电流值时,能够提示报警,并切断高压电源,并不影响其它试样继续做试验5、 滴液流量大小可根据实际需求自由设定6、 通过手动旋钮顺时针调到指定试验电压。7、 可以手动自由设定试验时间8、 本仪器具有排风和照明功能漏电起痕试验仪是IEC60112 : 2003 《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》是按GB4207、IEC60112等标准要求设计制造的专用检测仪器,适用于对电工电子产品、家用电器的固体绝缘材料及其产品模拟在潮湿条件下相比漏电起痕指数和耐漏电起痕指数的测定,具有简便、准确、可靠、实用等特点。满足标准:GB/T6553-2003 及 IEC60587:1984《评定在严酷环境条件下使用的电气绝缘材料耐电痕化和蚀损的试验方法》GB_T3048.7-2007电线电缆电性能试验方法_第07部分:耐电痕试验漏电起痕试验仪是IEC60112 : 2003 《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》
  • 航天科工紫外成像漏电检测仪问世
    记者日前从中国航天科工集团公司二院获悉,该院207所自主研发的紫外成像漏电检测仪近日正式面世并投入市场。该产品可为高压设备的运行评估和维修决策提供可靠依据。  紫外成像漏电检测技术是近年新兴的一种远距离检测高压线路、输电设备状态的新技术,它主要通过检测电力高压设备电场发射的紫外线,发现引起电场异常的设备缺陷,观察放电情况并判断危害。  207所研制的这款紫外漏电检测仪,将紫外和可见光技术结合形成融合图像,可快速发现、精确定位漏电位置。该产品还创造性地搭载无人机平台,适合对远距离、大范围的高压输电线进行空中巡检,在电力系统、高铁等领域有广泛应用前景。
  • 恒温油浴漏电该怎么处理?
    恒温油浴使用时必须先将油加入锅内,再接通电源。数字温度控制表显示实际测量温度,调节旋钮开关,同时观察读数至所需设定温度值。当设定温度值超过油的温度时,加热指示灯亮,表明加热器已开始工作。当油的温度达到您所需的温度时,恒温指示灯亮,加热指示灯熄灭。应注意锅内的油不能使用电热管露出油面,以免烧坏电热管,造成漏电现象。  其实,不一定非要用水和油,只要有固定沸点的物质都可以用,只是水和油比较常见。锅都是相同的,只是添加的传热介质不同。如果温度不要求高于100摄氏度,就加入水;如果要求高于100摄氏度,就要用一些高沸点的介质,如导热油。
  • 【敲黑板】如何降低CCD中的暗电流,提升仪器检出限
    自从电荷耦合器件(ccd,charge-coupled device)在大名鼎鼎的贝尔实验室发明仪器,其技术突飞猛进,在航空航天、医疗和工业等方面得到了广泛应用。特别在新型的aes光谱仪中,ccd就像眼睛一样,感知样品激发的等离子体发出的光。在微光应用方面,科学级ccd已经能打到探测到几个光子的水平,如果ccd能够准确的将光子信号转换为电荷信号,那新型的ccd光谱仪的检测极限将大大提高,但是实际情况中,这些微弱的光子信号产生的电荷信息,被ccd产生的暗电流淹没。暗电流(dark current), 也称无照电流,指在没有光照射的状态下,在光导电元件、光电管等的受光元件中流动的电流。它包括晶体材料表面缺陷形成的泄漏电流和载流子热扩散形成的本征暗电流。现代科学研究主要两个方向去解决,一个是提升材料性能,一个是降低ccd的工作温度。暗电流的大小与温度的关系极为密切,温度每降低10℃,暗电流约减小一半。越小的暗电流,同等条件下,光谱的检测下限越好。 赛默飞世尔科技是检测领域的世界领导者。它为全球客户提供的优质分析仪器、实验室设备、试剂耗材及创新的实验室综合解决方案。赛默飞世尔在直读火花光谱仪行业拥有超过80年的经验,最近在高端台式直读火花光谱仪3460/4460之后,赛默飞世尔科技又推出一款全新的全谱直读火花光谱仪arl easyspark 1160。全新的arl easyspark 1160 使用定制镀膜ccd,提升透光率,总像素高达26000,而传统ccd只有2000~4000像素。除此之外,它还采用独特的半导体制冷,ccd的工作温度为9.6℃,而传统ccd工作温度30~40℃,极大的降低仪器的暗电流,提升仪器的检测下限。关于朗铎科技朗铎科技,全球科学服务领域的领导者-赛默飞世尔科技(thermo fisher scientific)中国区域战略合作伙伴。作为工业检测分析系统解决方案服务商,我们致力于为中国客户提供全球高品质的分析仪器、专业的应用技术支持、优质的售后服务等系统解决方案 朗铎科技是赛默飞世尔尼通(niton)手持式光谱仪在合金/地矿行业的中国区总经销商,也是赛默飞世尔arl全谱直读光谱仪中国区总经销商。目前朗铎科技主要产品包括手持式合金光谱仪、手持式矿石光谱仪、直读光谱仪、工业内窥镜等系列产品。
  • ​思达科技宣布全球首款量产型微间距大电流MEMS垂直探针卡上市
    半导体测试系统与探针卡知名厂商-思达科技宣布,推出牡羊座Aries Optima MEMS探针卡,是全球首款应用在大量制造的微间距大电流MEMS垂直探针卡。Aries Optima是MEMS探针卡技术的最新巅峰,不仅制订新标准,满足了晶圆级测试的新需求,且进而促使思达科技成为MEMS探针卡技术的市场领导供应商。十多年来,思达科技致力在开发以及部署高价值的垂直探针技术,研发了一套系统和方法,以快速适应市场兴起的需求。思达科技在过去20年间定期推出新产品,满足不断变化、各方面的市场需求,持续实现对于半导体测试行业的承诺,包括增进测试效率、降低测试成本,以及测试精度的优化、达成最佳市场价值等等。Aries Optima系列的MEMS垂直探针卡,设计方面除了满足不断发展的大电流需求外,探针间距也降至45um,可将投资回报率最大化且减少支出,具有更高的价值。思达拥有批量生产的MEMS探针,负载力为550mA,适用于标准应用;在汽车和高功率方面,则可达700mA、最高至150摄氏度。根据半导体市调机构VLSI的报告,受惠于景气回温,其5G拓展、IT基础建设等,推升芯片需求持续成长。这些市场因素驱动MEMS技术更加重视生产效率、减少测试时间与成本,市场占有率也正逐渐提高。相较于传统的Cobra探针,AriesOptima系列稳定的DC和泄漏电流表现,非常适合应用在RF、AP、高功率等等的测试。思达科技执行长刘俊良博士表示:「Aries Optima探针卡是全球第一张微间距MEMS垂直探针卡,支持大电流测试,同时减少客户的测试频率、时间、人力成本等,是下一个世代半导体测试的最佳选择。」
  • 盘点|半导体常用失效分析检测仪器
    失效分析是芯片测试重要环节,无论对于量产样品还是设计环节亦或是客退品,失效分析可以帮助降低成本,缩短周期。常见的半导体失效都有哪些呢?下面为大家整理一下:显微镜分析OM无损检测金相显微镜OM:可用来进行器件外观及失效部位的表面形状,尺寸,结构,缺陷等观察。金相显微镜系统是将传统的光学显微镜与计算机(数码相机)通过光电转换有机的结合在一起,不仅可以在目镜上作显微观察,还能在计算机(数码相机)显示屏幕上观察实时动态图像,电脑型金相显微镜并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。金相显微镜可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及高等工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用,实现样品外观、形貌检测 、制备样片的金相显微分析和各种缺陷的查找等功能。体视显微镜OM无损检测体视显微镜,亦称实体显微镜或解剖镜。是一种具有正像立体感的目视仪器,从不同角度观察物体,使双眼引起立体感觉的双目显微镜。对观察体无需加工制作,直接放入镜头下配合照明即可观察,成像是直立的,便于操作和解剖。视场直径大,但观察物要求放大倍率在200倍以下。体视显微镜可用于电子精密部件装配检修,纺织业的品质控制、文物 、邮票的辅助鉴别及各种物质表面观察等领域,实现样品外观、形貌检测 、制备样片的观察分析、封装开帽后的检查分析和晶体管点焊检查等功能。X-Ray无损检测X-Ray是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出。而对于样品无法以外观方式观测的位置,利用X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像,即可显示出待测物的内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。X-Ray可用于产品研发,样品试制,失效分析,过程监控和大批量产品观测等,实现观测DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封装的半导体、电阻、电容等电子元器件以及小型PCB印刷电路板,观测器件内部芯片大小、数量、叠die、绑线情况,芯片crack、点胶不均、断线、搭线、内部气泡等封装缺陷,以及焊锡球冷焊、虚焊等焊接缺陷等功能。C-SAM(超声波扫描显微镜)无损检测超声扫描显微镜是一种利用超声波为传播媒介的无损检测设备。在工作中采用反射或者透射等扫描方式来检查材料内部的晶格结构,杂质颗粒、夹杂物、沉淀物、内部裂纹、分层缺陷、空洞、气泡、空隙等。I/V Curve量测可用于验证及量测半导体电子组件的电性、参数及特性。比如电压-电流。集成电路失效分析流程中,I/V Curve的量测往往是非破坏分析的第二步(外观检查排在第一步),可见Curve量测的重要性。I/V Curve量测常用于封装测试厂,SMT领域等,实现Open/Short Test、 I/V Curve Analysis、Idd Measuring和Powered Leakage(漏电)Test功能。SEM扫描电镜/EDX能量弥散X光仪(材料结构分析/缺陷观察,元素组成常规微区分析,精确测量元器件尺寸)扫描电镜(SEM)SEM/EDX(形貌观测、成分分析)扫描电镜(SEM)可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的,根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜(SEM)使用,可以对样品进行微区成分分析。在军工,航天,半导体,先进材料等领域中,SEM/EDX(形貌观测、成分分析)扫描电镜(SEM)可实现材料表面形貌分析,微区形貌观察,材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析,薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析,纳米尺寸量测及标示和微区成分定性及定量分析等功能EMMI微光显微镜微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)是常用漏电流路径分析手段。对于故障分析而言,微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。主要侦测IC内部所放出光子。在IC元件中,EHP(Electron Hole Pairs)Recombination会放出光子(Photon)。如在P-N结加偏压,此时N阱的电子很容易扩散到P阱,而P的空穴也容易扩散至N,然后与P端的空穴(或N端的电子)做EHP Recombination。在故障点定位、寻找近红外波段发光点等方面,微光显微镜可分析P-N接面漏电;P-N接面崩溃;饱和区晶体管的热电子;氧化层漏电流产生的光子激发;Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等问题Probe Station 探针台测试探针台主要应用于半导体行业、光电行业。针对集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本,可用于Wafer,IC测试,IC设计等领域。FIB(Focused Ion beam)线路修改FIB(聚焦离子束,Focused Ion beam)是将液态金属离子源产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后照射于样品表面产生二次电子信号取得电子像,此功能与SEM(扫描电子显微镜)相似,或用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米级表面形貌加工。在工业和理论材料研究,半导体,数据存储,自然资源等领域,FIB可以实现芯片电路修改和布局验证、Cross-Section截面分析、Probing Pad、 定点切割、切线连线,切点观测,TEM制样,精密厚度测量等功能。失效分析前还有一些必要的样品处理过程。取die用酸法去掉塑封体,漏出die decap(开封,开帽)利用芯片开封机实现芯片开封验证SAM,XRAY的结果。Decap即开封,也称开盖,开帽,指给完整封装的IC做局部腐蚀,使得IC可以暴露出来,同时保持芯片功能的完整无损,保持 die,bond pads,bond wires乃至lead-frame不受损伤,为下一步芯片失效分析实验做准备,方便观察或做其他测试(如FIB,EMMI), Decap后功能正常。化学开封Acid DecapAcid Decap,又叫化学开封,是用化学的方法,即浓硫酸及发烟硝酸将塑封料去除的设备。通过用酸腐蚀芯片表面覆盖的塑料能够暴露出任何一种塑料IC封装内的芯片。去除塑料的过程又快又安全,并且产生干净无腐蚀的芯片表面。研磨RIERIE是干蚀刻的一种,这种蚀刻的原理是,当在平板电极之间施加10~100MHZ的高频电压(RF,radio frequency)时会产生数百微米厚的离子层(ion sheath),在其中放入试样,离子高速撞击试样而完成化学反应蚀刻,此即为RIE(Reactive Ion Etching)。 自动研磨机自动研磨机适用于高精微(光镜,SEM,TEM,AFM,ETC)样品的半自动准备加工研磨抛光,模块化制备研磨,平行抛光,精确角抛光,定址抛光或几种方式结合抛光,主要应用于半导体元器件失效分析,IC反向等领域,实现断面精细研磨及抛光、芯片工艺分析、失效点的查找等功能。 其可以预置程序定位切割不同尺寸的各种材料,可以高速自动切割材料,提高样品生产量。其微处理系统可以根据材料的材质、厚度等调整步进电动机的切割距离、力度、样品输入比率和自动进刀比率等。去金球 De-gold bump,去层,染色等,有些也需要相应的仪器机台,SEM可以查看die表面,SAM以及X-Ray观察封装内部情况以及分层失效。除了常用手段之外还有其他一些失效分析手段,原子力显微镜AFM ,二次离子质谱 SIMS,飞行时间质谱TOF - SIMS ,透射电镜TEM , 场发射电镜,场发射扫描俄歇探针, X 光电子能谱XPS ,L-I-V测试系统,能量损失 X 光微区分析系统等很多手段,不过这些项目不是很常用。芯片失效分析步骤:1、非破坏性分析:主要是超声波扫描显微镜(C-SAM)--看有没delamination,xray--看内部结构,等等;2、电测:主要工具,万用表,示波器,sony tek370a3、破坏性分析:机械decap,化学 decap芯片开封机4、半导体器件芯片失效分析 芯片內部分析,孔洞气泡失效分析(原作者:北软失效分析赵工)
  • 第三方检测巨资布局半导体
    7月1日,苏州苏试试验集团股份有限公司发布“创业板向特定对象发行证券募集说明书(申报稿)”。募集说明书显示,苏试试验本次向特定对象发行股票募集资金总额不超过6亿元,主要用于扩建集成电路全产业链失效分析、宇航产品检测实验室、高端制造中小企业产品可靠性综合检测平台三个检测实验室。其中用于仪器设备购置和安装的投资金额预算近4亿元。投募项目苏试试验于2019年12月收购苏试宜特(上海)检测技术有限公司将公司可靠性试验服务的检测范围拓宽至集成电路领域,“面向集成电路全产业链的全方位可靠度验证与失效分析工程技术服务平台建设项目”的实施主体为发行人的全资子公司苏州苏试广博环境可靠性实验室有限公司。随着半导体投资金额越来越巨大、对设计失误的容忍度几乎为 0,因此必须在芯片进入量产之前、量产中,需要进行严格的验证测试,主要包括功能测试和物理验证等,通常又称为实验室测试或特性测试,这部分通常由第三方检测实验室为芯片设计公司提供服务,具体服务范围涵盖晶圆制造、集成电路(IC)设计、集成电路封装、终端产品等等。第三方半导体检测市场巨大近年来,越来越多的集成电路设计、晶圆制造企业放弃测试环节的产能扩充,而将其测试需求委托给第三方集成电路测试企业,独立的第三方集成电路测试企业正逐步成为集成电路产业链中不可或缺的一部分:一方面,第三方测试企业可以减少测试设备的重复投资,通过规模效应降低测试费用,缩减产品生产成本;另一方面,专业化分工下的第三方测试企业能够更加快速地跟进集成电路测试技术的更新,及时为集成电路设计、晶圆制造及封装企业提供多样化的测试服务。目前第三提供的检测服务通常包括可靠性分析(RA)、失效分析(FA)、晶圆材料分析(MA)、信号测试、芯片线路修改等,其中比较重要的包括可靠性分析、失效分析等。根据不同的分类标准,失效形式有多种类型,如根据电测结果,失效模式有开路、短路或漏电、参数漂移、功能失效等;根据失效原因可以分为电力过应、静电放电导致的失效、制造工艺不良导致的失效等。根据中国赛宝实验室的数据,在分立器件使用过程中的失效模式,开路、参数漂移、壳体破碎、短路、漏气的占比分别约为35%、28%、17%、15%、4%,集成电路使用过程中的失效模式,短路、开路、功能失效、参数漂移占比分别约为38%、27%、 19%、10%。失效分析主要为集成电路设计企业服务,而集成电路设计产业已成为引领中国半导体产业发展的重要环节。根据2019年中国半导体产业产值分布来看,IC设计业占比将达40.6%、IC制造占比约28.7%、IC封测占比约30.7%。根据中国集成电路设计业2019年会上发布的数据,2015-2019年中国集成电路设计企业分别为736、1362、1380、1698、1780家,年均复合增速达到24.7%,未来随着国内半导体产业的不断崛起,预计国内半导体设计企业数量仍将保持较快速增长。2019年IC设计销售收入达到3084.9亿元,同比2018年的2576.9亿元增长19.7%,在全球集成电路设计市场的比重首次超过10%。随着中国大陆半导体产业的迅猛发展,国内涌现出越来越多的上下游半导体企业,形成了一个强大的产业链,这些企业对实验室分析存在切实需求,但众多企业的需求量不足以投入百万或千万美元级的资金设立实验室和采购扫描电子显微镜等高端设备。另外,人员成本和技术门槛日益提高,在这种背景下第三方采购相关分析设备建立商业实验室应运而生。根据苏试宜特的预测,国内半导体第三方实验室检测行业未来3-5年的市场规模将达到 50亿元人民币,同时加上工业用、车用、医疗、军工电子产业上游晶圆制造到中下游终端产品验证分析的需求,估计2030年市场至少达150-200亿。相关仪器市场将爆发随着第三方半导体检测机构的兴起,IC企业的研发门槛和成本将大幅度降低,整个集成电路市场将持续发展,第三方半导体检测机构将采购大量的相关仪器设备以应对日益增长的半导体检测需求。与此同时,芯片制造生产技术快速发展迭代,新的技术对检测仪器设备提出了多样化需求,第三方检测机构需要不断进行仪器设备的更新换代,这将进一步促成相关仪器市场爆发。相关的检测项目如下:广义检测设计前道:晶圆生产中道:晶圆制造后道:晶圆封测切磨抛离子注入扩散镀膜抛光刻蚀曝光清洗第三方检测验证测试(可靠性分析、失效分析、电性测试、电路修改)WAT测试CP测试FT测试缺陷检测surface scan无图形缺陷检测有图形缺陷检测review SEME-Beam掩模版检测残留/沾污检测量测wafer-sites膜厚四探针电阻膜应力掺杂浓度关键尺寸套准精度几何尺寸测量测试有效性验证:对晶圆样品、封装样品有效性验证WAT测试:硅片完成所有制程工艺后的电性测试功能和电参数性能测试:CP测试(封装前)、FT测试(封装后)本次苏试试验集成电路检测的采购清单如下:序号设备/软件名称数量(台/套)总价(万元)1聚焦离子束11,4002双束聚焦离子束11,1003穿透式电子显微镜12,8004双束电浆离子束11,5005X 射线光电子能谱11,1006飞行时间二次离子质谱仪11,1007俄歇电子能谱仪17708傅立叶红外光谱仪12409超声波扫描显微镜246010超声波切割系统120011扫描电子显微镜21,60012粒子研磨系统115013立体显微镜428014阻抗测试仪115015奈米探针测试11,20016原子力显微镜1280173D 断层扫瞄11,00018多管脚集成电路耐静电测试22,60019集成电路耐静电测试21,40020多管脚集成电路自身充放电测试228021电压/电流检测仪228022雷射打标机12023离子蚀刻机18024老化系统超大功率21,68025老化系统中大功率21,20026低温老化系统中大功率132027老化系统多电源中大功率240028高加速应力测试系统中小功耗18029快速温变试验箱214030导通电阻评估系统15031老化系统中低功耗130032潮湿敏感度模拟设备回流焊14033高温反偏老练检测系统26034高温反偏老练检测系统25035高温高湿反偏老练检测系统210036间隙寿命老练检测系统216037高温反偏老练检测系统12038分离器件综合老练检测系统12039DC/DC 电源高温老练检测系统15040三端稳压器高温老练检测系统13041电容器高温电老练检测系统12542集成电路高温动态老练检测系统12543继电器都通测试仪11044颗粒碰撞噪声检测仪13545氦质谱检漏仪15046氦气氟油加压检漏装置19047数字电桥1248绝缘电阻测试仪1249漏电流测试仪1250耐电压绝缘测试仪1251温湿度偏压测试系统210052高加速温湿度偏压测试系统222053高低温实验/湿度循环/储存测试系统324054液态高低温冲击测试系统216055翘曲实验系统126056物理尺寸量测设备17057半导体分立器件测试系统(含自检模块)13258继电器综合参数测试仪14559混合信号测试仪112060超大规模集成电路测试系统15561电源模块测试系统15062Tester Handler113463数位模拟混合信号 IC 测试系统15064大规模数字集成电路 ATE 测试机140065冷却水塔16066空压机14067制水机14068空调系统120069环保设备23070环保设备12071设计软件19072信息管理软件190
  • 318万!广州特种承压设备检测研究院检验检测能力提升仪器设备购置项目
    项目编号:GZCQC2302HG03015项目名称:2023年特种设备安全保障及检验检测能力提升仪器设备购置项目(一)采购方式:公开招标预算金额:3,180,000.00元采购需求:合同包1(旋转磁场磁粉检测仪、数字式超声波检测仪等):合同包预算金额:580,000.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)1-1其他仪器仪表旋转磁场磁粉检测仪3(台)详见采购文件135,000.001-2其他仪器仪表数字式超声波检测仪1(套)详见采购文件25,000.001-3其他仪器仪表声发射检测仪1(台)详见采购文件360,000.001-4其他仪器仪表烟气湿度测试仪2(套)详见采购文件60,000.00本合同包不接受联合体投标合同履行期限:合同签订后60天内。合同包2(能量色散X荧光光谱仪):合同包预算金额:310,000.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)2-1其他仪器仪表能量色散X荧光光谱仪1(套)详见采购文件310,000.00本合同包不接受联合体投标合同履行期限:合同签订后60天内。合同包3(多功能数据记录仪、管道防腐层检测仪等):合同包预算金额:825,000.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)3-1其他仪器仪表多功能数据记录仪5(套)详见采购文件145,000.003-2其他仪器仪表管道防腐层检测仪4(套)详见采购文件480,000.003-3其他仪器仪表亚米级GPS 定位记录仪4(套)详见采购文件200,000.00本合同包不接受联合体投标合同履行期限:合同签订后60天内。合同包4(安全阀大口径夹紧台、电动高压油压泵等):合同包预算金额:546,000.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)4-1其他仪器仪表安全阀大口径夹紧台1(台)详见采购文件39,000.004-2其他仪器仪表电动高压油压泵2(台)详见采购文件18,000.004-3其他仪器仪表长期高温拉拔试验机1(套)详见采购文件178,000.004-4其他仪器仪表拉伸剥离恒温箱1(套)详见采购文件43,000.004-5其他仪器仪表烘箱2(套)详见采购文件36,000.004-6其他仪器仪表恒温水箱1(套)详见采购文件88,000.004-7其他仪器仪表拉拔试验机1(套)详见采购文件144,000.00本合同包不接受联合体投标合同履行期限:合同签订后90天内。合同包5(燃气PE管道定位仪):合同包预算金额:660,000.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)5-1其他仪器仪表燃气PE管道定位仪2(套)详见采购文件660,000.00本合同包不接受联合体投标合同履行期限:合同签订后60天内。合同包6(电介质强度测试仪、泄漏电流测试仪等):合同包预算金额:259,000.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)6-1其他仪器仪表电介质强度测试仪1(套)详见采购文件39,000.006-2其他仪器仪表泄漏电流测试仪1(套)详见采购文件9,000.006-3其他仪器仪表石墨消解仪1(台)详见采购文件30,000.006-4其他仪器仪表数字压力表5(套)详见采购文件25,000.006-5其他仪器仪表视频引伸计1(套)详见采购文件150,000.006-6其他仪器仪表红外测温仪10(台)详见采购文件6,000.00本合同包不接受联合体投标合同履行期限:合同签订后60天内。
  • 我国科学家研制出耐极端环境日盲紫外光电探测器
    记者近日从中国科大了解到,该校微电子学院龙世兵教授课题组基于低成本非晶氧化镓材料,通过缺陷和掺杂工程实现了极端环境下依然表现超高灵敏度的日盲探测器。该方法为高性能、耐极端环境日盲紫外探测器的研制及应用提供了一种可行的参考。相关成果日前在线发表在《先进材料》杂志上。 氧化镓作为新兴的超宽禁带半导体材料,具有热稳定性好、禁带宽度大、紫外吸收系数大、材料易加工等优点,是日盲紫外探测较为理想的候选材料。然而,基于非晶氧化镓材料开发高环境耐受性的高性能日盲紫外探测器还需解决其材料稳定性差、缺陷密度高、漏电流大、持续光电导效应明显等问题。 课题组通过一系列研究,成功设计出高性能且耐极端环境的氧化镓日盲紫外光电探测器。与常规非晶富镓氧化镓器件相比,工程化处理的器件暗电流降低107倍、探测率提升102倍、响应速度提升。同时,得益于子带隙吸收的抑制,探测抑制比提升了105倍,显示出器件优异的光谱选择性。在高温、高压、高辐射等极端条件下,器件依然保持较高的探测性能,实现了高温下的清晰日盲成像验证。
  • 国网电科院电气设备检测中心通过CNAS评审
    2010年3月6日至7日,国网电科院电气设备检测中心顺利通过中国合格评定国家认可委员会(英文缩写为:CNAS)组织的实验室认可监督评审。评审组专家对电气设备检测中心8个质检站和2个实验室进行了现场评审,从文件、记录、测量溯源性、设施环境等方面进行了重点检查。通过现场评审,评审组专家对中心的实验室质量管理工作给予充分肯定和高度评价,认为电气设备检测中心实验室管理体系和技术能力满足CNAS认可要求,维持CNAS认可范围。   电气设备质量检测中心负责对电力生产所用的主要电工产品进行质量检测,协助国家电网公司有关部门对运行设备进行事故分析,同时负责低压成套开关设备、漏电断路器等的3C认证检测工作,于2000年获得CNAS认可。历次CNAS监督评审都表明,电气设备检测中心实验室质量管理体系完善,质量管理体系和实验室认可准则实施有效,检测、校准服务质量不断提高。2009年,电气设备检测中心确定建设成为专业齐全、国际知名、国内领先的权威实验室的目标,对组织机构、人员职责进行了调整,并及时同步对质量手册和程序文件进行了修订,组织专家对实验室质量体系管理相关人员进行了为期一周的新一轮专题培训,随后进行了多次自查工作,对实验室比对,能力验证,不确定度评定,标准查新,设备租赁等方面进行重点审查,并按照计划于2009年9月进行了管理体系的内部审核,12月实施了管理评审。   中国合格评定国家认可委员会是由国家认证认可监督管理委员会批准设立并授权的国家认可机构,统一负责对认证机构、实验室和检查机构等相关机构的认可工作。
  • 480万!广州质检院检验检测仪器设备购置
    项目编号:0809-2241GZG13051项目名称:广州质检院检验检测仪器设备购置经费(4)采购方式:公开招标预算金额:4,811,400.00元采购需求:合同包1(广州质检院检验检测仪器设备购置经费(4)):合同包预算金额:4,811,400.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)1-1其他试验仪器及装置防火门可靠性综合试验装置1(套)详见采购文件290,000.00-1-2其他试验仪器及装置防火门力学性能综合试验装置1(套)详见采购文件280,000.00-1-3其他试验仪器及装置防火闭门器试验装置1(套)详见采购文件280,000.00-1-4其他试验仪器及装置门窗物理综合试验装置1(套)详见采购文件280,000.00-1-5其他试验仪器及装置卷门机基本性能试验装置1(套)详见采购文件180,000.00-1-6其他试验仪器及装置家具用脚轮综合测试仪1(套)详见采购文件180,000.00-1-7其他试验仪器及装置抗震支吊架疲劳试验机1(套)详见采购文件700,000.00-1-8其他试验仪器及装置2000kN微机控制电液伺服万能试验机1(套)详见采购文件480,000.00-1-9其他试验仪器及装置快速双单元控制电位电解仪1(套)详见采购文件30,000.00-1-10其他试验仪器及装置智能交直流移动电源1(套)详见采购文件15,000.00-1-11其他试验仪器及装置空气氟化物/重金属采样器(增强型)1(套)详见采购文件30,000.00-1-12其他试验仪器及装置卤素水分测试仪1(套)详见采购文件20,000.00-1-13其他试验仪器及装置总迁移量恒重仪1(套)详见采购文件700,000.00-1-14其他试验仪器及装置水蒸气透过率测试仪1(套)详见采购文件713,000.00-1-15其他试验仪器及装置电导率仪1(套)详见采购文件10,000.00-1-16其他试验仪器及装置澄清度伞棚灯1(套)详见采购文件25,800.00-1-17其他试验仪器及装置石油产品运动粘度恒温浴+配套的冷却装置1(套)详见采购文件13,000.00-1-18其他试验仪器及装置纸尿裤吸收性能测试仪1(套)详见采购文件135,000.00-1-19其他试验仪器及装置标准杂质测定仪1(套)详见采购文件5,000.00-1-20其他试验仪器及装置防侧漏性能测试仪1(套)详见采购文件6,000.00-1-21其他试验仪器及装置包装产品耐电压测试仪1(套)详见采购文件7,000.00-1-22其他试验仪器及装置包装产品接地电阻测试仪1(套)详见采购文件2,900.00-1-23其他试验仪器及装置包装产品泄漏电流测试仪1(套)详见采购文件2,000.00-1-24其他试验仪器及装置锅具手柄抗扭强度试验机1(套)详见采购文件5,500.00-1-25其他试验仪器及装置手柄疲劳强度试验机1(套)详见采购文件10,500.00-1-26其他试验仪器及装置电脑测控瓦楞纸板厚度仪1(套)详见采购文件10,200.00-1-27其他试验仪器及装置复合底内凹量试验仪1(套)详见采购文件2,500.00-1-28其他试验仪器及装置锅身厚度测量仪1(套)详见采购文件2,500.00-1-29其他试验仪器及装置手柄结构试验仪1(套)详见采购文件3,500.00-1-30其他试验仪器及装置电子触屏式扭力计1(套)详见采购文件12,000.00-1-31其他试验仪器及装置氙灯老化机1(套)详见采购文件380,000.00-本合同包不接受联合体投标合同履行期限:合同签订后90个日历日内完成交货并通过验收
  • “100家实验室”专题:访机械工业(北京)可靠性试验及电磁兼容检测中心
    为广泛征求用户的意见和需求,了解中国科学仪器市场的实际情况和仪器应用情况,仪器信息网自2008年6月1日开始,对不同行业有代表性的“100个实验室”进行走访参观。2011年1月14日,仪器信息网工作人员参观访问了本次活动的第六十四站:机械工业(北京)可靠性试验及电磁兼容检测中心,检测中心市场部负责人张建忠先生热情接待了仪器信息网到访人员。   机械工业(北京)可靠性试验及电磁兼容检测中心(以下简称“检测中心”)成立于2006年,隶属于机械工业仪器仪表综合技术经济研究所,是由国家投资建设的专业从事各类产品环境适应性试验、电磁兼容(EMC)试验、IP防护等级测试认证、安规认证、MODBUS和PROFIBUS-PA协议设备检测认证、电子/电气/可编程电子安全系统和安全仪表系统的功能安全评估等试验的综合性国家级实验室。可为信息技术设备、测量控制和实验室用电气设备、军用电子元器件、电工电子产品等提供相应的技术服务,并出具权威的检测报告。   检测中心通过了中国合格评定国家认可委员会(CNAS)认可、具有中国国家认证认可监督管理委员会办法的资质认定计量认证证书(CMA),是中国机械工业联合会批准并授权的机械工业测量控制设备及网络质量检测中心,中国质量认证中心(CQC)委托检测实验室及TÜ V莱茵技术(上海)有限公司认可实验室。   张建忠先生介绍说:“最初实验室的成立是认识到通信设备检测的市场需求。而随着人们对生产安全的重视,设备的可靠性检测市场需求越来越大。检测中心会继续以市场为导向,发展特色业务,引入新的检测项目。目前,检测中心设有多个实验室,拥有各类先进的检测仪器设备四百多台套,检测人员都拥有硕士或博士学位。而工业通信网络试验是检测中心的特色业务。”   全面的可靠性检测项目   张建忠先生介绍说:“在检测中心承担的业务中,可靠性试验是主要业务,检测中心拥有相关的仪器及检测人才,能够为仪器仪表行业、电力行业、通信行业的广大客户提供环相应的服务。”   (1)环境适应性类试验   据介绍,检测中心能够进行的环境适应类试验包括:高低温试验、湿热试验、温度变化、交变湿热、温度冲击/冷热骤变试验、宽温变试验、盐雾腐蚀/锈蚀试验、振动冲击跌落试验等。可以按照相关标准的试验方法对各类电子设备、仪器仪表、军用电子产品进行气候环境试验、特殊环境试验及机械环境试验。 高加速冲击试验台 快速温变环境试验箱   (据介绍,普通同类仪器降温速度在3-4℃/min, 该设备降温速度在10℃/min,2012年检测中心将为该仪器配置液氮系统,降温速度会达到30℃/min。) 德国原装高低温湿热环境试验箱   (2)电磁兼容类试验   “电磁兼容是指设备或系统在其电磁环境中能正常工作且不对该环境中的任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。近两年来,随着国际、国内贸易的进一步繁荣,广大企业的产品线越来越丰富,为了减轻企业研发、测试负担,检测中心于2010年正式推出电磁兼容(EMC)检测服务。目前,检测中心拥有GTEM小室、屏蔽室和全套电磁兼容测试设备。” 传导发射、传导骚扰抗扰度的标准电磁屏蔽室 GTEM小室 (主要用于设备对所在环境中存在的电磁干扰的抗扰度测定)   (3)IP防护等级试验   “IP防护等级系统是由国际电工协会(IEC)所起草,将电器依其防尘防湿气之特性加以分级。检测中心可以进行IP54、IP55、IP65、IP66、IP67、IP68防护等级认证及测试服务。” 淋雨试验室系列装置   (淋雨实验室配有可编程控制的不锈钢材料的垂直淋雨、摆管淋雨、防喷、防溅、水浸等防水试验设备,可根据国际或国家标准、行业标准、客户要求等条件进行测试、试验。) 1立方米沙尘试验箱   (4)电气安全试验   “电气安全试验室是检测中心的重要实验室之一,目前可以进行GB4943/IEC60950《信息技术设备的安全》、GB4793/IEC61010《测量、控制设备及实验室用电设备的安全》的全项目测试。可以对信息技术设备产品,测量、控制和实验室用设备产品进行安全试验(包括CE认证)和CQC标志认证检测,可以对办公设备产品进行节能认证检测。” 电气安全实验室   (5)灼热燃烧试验   “检测中心拥有齐全的灼热然烧试验设备,包括维卡软化点温度测定仪、漏电起痕试验仪、灼热丝试验仪、大电流起弧引燃试验仪、灼热燃油试验仪、热丝引燃试验仪等。” 漏电起痕实验仪 热丝引燃实验仪   亚洲独有的PROFIBUS和MODBUS试验室   张建忠先生表示:“工业通信网络试验是检测中心的特色业务,目前检测中心拥有亚洲独有的PROFIBUS和MODBUS试验室。这两个试验室是工业自动化领域,国内首家通过中国合格评定认可委员会认可的工业控制网络和现场总线测试实验室。建立这样的实验室成本并不是很高,但是其技术含量比较高,对于人员和设备的要求也很高。”   PROFIBUS和MODBUS试验室是工业自动化领域国内首家通过中国合格评定国家认可委员会(CNAS)认可的工业控制网络和现场总线测试试验室,在国家授权的测试范围中首次在国内将控制网络PROFIBUS 和MODBUS纳入国家实验室认可体系,从而为这两项工业通信技术在国内的应用和相关产品开发提供了有力的保证。 MODBUS试验室   (MODBUS 试验室于2006 年4月获得了MODBUS IDA国际组织授权,可按GB/T 19582.1、GB/T 19582.2、GB/T 19582.3标准,用 MODBUS测试系统对工业自动化产品进行通信一致性和互操作性认证测试。) PROFIBUS试验室   (PROFIBUS试验室于2007年10 月获得了PNO国际组织授权,可按 GB/T 20540.1、GB/T 20540.2、 GB/T 20540.3、GB/T 20540.4、 GB/T 20540.5、GB/T 20540.6标准及PROFIBUS PA行规 V3.01,用 PROFIBUS测试系统对工业自动化产品进行通信一致性和互操作性认证测试。) PNO国际组织授权证书   附录:机械工业(北京)可靠性试验及电磁兼容检测中心   http://www.bjkkx.com/
  • 美专家为可穿戴健康监测设备研发自供电系统
    美国北卡罗来纳州立大学(North Carolina State University)的研究人员正利用纳米技术,为超低功耗传感器打造能量采集与储存设备,这项获得美国联邦政府资金赞助的研究案,目标是实现不需电池、以人体发电的可穿戴式健康监测设备。   北卡罗来纳州立大学旗下的整合式传感器技术先进自供电系统中心(The Center for Advanced Self-Powered Systems of Integrated Sensors Technologies,ASSIST)正在开发两种传感器:一是用于生物电子、生物化学以及声学监测的非侵入式健康传感器,另外一种则是量测气体、颗粒物质以及温度的环境传感器 研究的目标是针对环境如何导致生理信号的改变收集更精确的数据,以及开发多模式能量采集设备。   ASSIST的产业联络窗口Tom Snyder曾在今年初的国际消费性电子展(CES)上,展示了一款气喘监测器,是透过用户的呼吸来启动与供电:&ldquo 如果我们知道暴露在臭氧中,监测心电图(EKG)以及知道身体的运动──气喘的是可以在发生的24小时以前被预测到的 &rdquo 他表示,目前这些原则正在进行研究。   那些可穿戴传感器必须要是小型化、低功耗,而且定期进行数据传输 为此ASSIST与其研发伙伴正在开发多模能量设备,结合例如热电(thermoelectric)以及动能(kinetic energy)等元素。而ASSIST将在下个月举行的年度成果检阅上,展示一款臂带式EKG监测设备,能利用热电能量无线传输数据到一个收集器。   &ldquo 如果我们要做纵向的长期研究,我们不会希望资料收集中断 因此如果你能找到一种自供电的方式,就能收集到更多、更完整且持续的资料 &rdquo Snyder指出,当可穿戴式设备变得常见,电力会是一个很大的问题:&ldquo 购买那类设备的人们会使用一段时间,然后它们在六个月之内有大部分最后会被丢在抽屉里或是被抛弃,就是因为与电池相关的麻烦。&rdquo   热电材料是导电的,但能隔热 如臂带式设备的案例是将体温转成电力 如果材料的某一面温度比贴着皮肤的那一面低,温度差就能驱动电压用以收集能量。ASSIST的团队也在针对软性、纳米级材料研究新的热同步(heat syncing)技术,例如具备可拉伸电极,能更贴合于皮肤或从人体汲取更多的热。   ASSIST 开发以热能转成电能的健康传感器   此外ASSIST采用压电材料采集动能,目标是在非常低的电压下运作 Snyder指出,Seiko的动能手表是在内部有一个重量,能转动马达来产生电流与电力──ASSIST希望能利用此原则,在压电组件加上一个重量,来采集旋转或运动产生的能量。   Snyder表示,以上两种能量采集方法都有实际应用、也能降低能源成本 举例来说,医疗专业人员可用能量采集器来监测EKG或血糖值,而以动能采集为主的设备则能利用在资产追踪或是运输等对于监测产品震动有帮助的地方。   ASSIST打算开发一个完整的系统,需求的电力低于1mW (milliwatt) Snyder表示:&ldquo 最好是只有几微瓦(microwatts),然后我们就能采集足够的能量,让外观非常小型化的系统能持续运作。&rdquo 他有信心假以时日,能量采集技术甚至能收集到比需求量更多的电能,例如宾州大学正在进行研发的超级电容,是传统电容与锂离子电池的混合体:&ldquo 那些超级电容具备创世界纪录的能量密度以及低泄漏电流。&rdquo   另外 ASSIST 也正在与密歇根大学(University of Michigan)合作开发一种客制化射频设备,目标是让其耗电量比蓝牙低功耗(Bluetooth Low Energy)技术低一千倍 目前研究人员正在测试各种可能的低功耗技术,包括射频、传感器与其他硬件。
  • 上海市质监局发布空气净化器产品质量安全风险监测结果
    近日,上海市质监局在发布空气净化器产品质量监督抽查结果的同时,发布了空气净化器产品质量安全风险监测结果,9批次样品的实测值未达到其标称的适用面积,4批次样品的待机功率,2批次样品的能效比不符合标准要求。   随着人民群众对空气质量的关注度日益提高,为了改善室内空气质量,空气净化器产品逐步进入普通家庭,成为日常生活电器。国家关于空气净化器的产品标准,规定了电气强度、泄漏电流、卫生安全性、洁净空气量(固态污染物)、净化效能(固态污染物)、噪声等技术要求,在监督抽查中,所有的样品检验结果都是合格的。但是国家标准对适用面积、能源效率等级等未做强制性规定,部分企业利用标准漏洞,不能如实地宣传产品性能,易引起消费者的误解。为此,上海市质量技术监督局组织开展了空气净化器产品的质量安全风险监测,从本市生产和流通领域采集20批次样品,依据上海市地方标准《DB31/622-2012 空气净化器能源效率限定值及能源效率等级》,对产品的适用面积、待机功率、能效比及能效等级进行了检测和评估。   20批次样品中,7批次未标称适用面积,说明企业不能确定其生产的产品的实际适用面积,消费者无法根据实际需求,选择适合的产品 9批次样品的实测值未达到其标称的适用面积。空气净化器的适用面积大小和其对颗粒物的去除能力(即洁净空气量)密切相关,是国际上通用的空气净化器的基本规格和性能指标,是产品定价的基础指标,也是选购和使用空气净化器的首要参考指标,企业应当在产品标识标注中如实标明。 4批次产品未达到的待机功率≤2.0W的要求,2批次未达到能效比≥2.50m3/(w• h)的要求。6批次达到1级能效,能源效率最高,2批次达到2级能效,2批次达到3级能效,4批次达到4级能效,1批次达到5级能效,5批次能效等级低于5级。空气净化器一般长期连续使用,能源效率高的产品,能够降低使用成本,而且更加节能环保。   同时,上海市质监局还发布了质量提示,建议消费者在购买空气净化器时,尽量在大型商场、电器商店、品牌专卖店和主流电子商务网站等正规渠道购买产品。在购买时,可以要求销售者提供具有CMA资质的第三方检测报告,查验实测适用面积或洁净空气量(CADR)。对于未标称适用面积的空气净化器产品,可以根据产品的颗粒物洁净空气量(CADR)计算。
  • 科鉴检测通过2020年度CNAS扩项评审 检测资质与技术能力进一步大增
    2020年11月,广东科鉴检测工程技术有限公司迎来了由中国合格评定国家认可委员会(CNAS)与国防科技工业实验室认可委员会(DILAC)共同委派的评审专家组一行6人对公司的2020年度扩项申请进行现场评审。科鉴检测本次扩项覆盖了88个产品,130份标准,主要涉及环境试验、可靠性试验、安全测试、软件与信息安全测试、元器件环境试验、低气压/温湿高/沙尘/淋雨/霉菌等新增环境试验能力。根据软件国产化发展趋势,本轮扩项着重加强了软件与信息安全资质扩项。截至2020年10月,科鉴检测已经具备完整的服务军民产业的资质证书,具有国家认定和认可的CMA、CNAS、DILAC第三方检测资质及装备承研(试验类)资质等资质,拥有安全、环境、可靠性、软件测评实验室及GJB和GB级试验检测能力。通过本次扩项后,科鉴检测资质能力合计覆盖380标准2230项参数,其中包括:——环境试验349项标准1823项参数;——可靠性试验113项标准123项参数;——加速试验25项标准25项参数;——安全测试32项标准140项参数;——软件与信息安全测评17项标准119项参数。科鉴检测着重服务国家重点发展和扶持产业,检测对象大类包括装备、仪器仪表、医疗器械、轨道交通、电工电子、智能制造、航空航天、通讯导航、机器人等9类重要产业。科鉴检测特别是在装备、仪器、医疗、轨道交通、安防、元器件、软件等领域突出自身核心技术,进行了重点布局,形成自身的特色服务。2020年度,科鉴检测在逆势环境中进一步加速发展和布局。吸收多名技术骨干,各个岗位技术骨干配置到位,团队实力进一步扩充加强,人员数量年底相对年初新增30%;固定资产投资300余万元,累积固定资产原值超过1000万元,相对年初新增40%;实验室实占面积从1000平㎡扩大到1300㎡,相对年初新增30%。实验室在已有的大量环境与可靠性试验设备、安全与电参数测量仪器基础上,进一步增置了2m³温湿高试验箱、2.3m³温湿度-振动综合箱、500g冲击试验台、1m³砂尘试验箱、1m³淋雨试验箱、270L小型盐雾试验箱、0.6m³小型快速温变试验箱、1m³温度-霉菌试验箱、振动数据采集分析仪等多台套设备,可靠性试验实验室、环境试验实验室、安全测试实验室、软件与信息安全测评实验室四大功能板块功能进一步分区明确化。实验室现场照片科鉴检测可为各军民融合单位提供GJB、MIL、DO、GB、IEC及各行业等类型标准的服务:——1)环境试验(高低温、湿热、温度冲击、快速温变、低气压、温湿高、振动、机械冲击、跌落、碰撞、太阳辐射、盐雾、霉菌、淋雨、沙尘等);——2)可靠性试验(强化试验、摸底试验、鉴定试验、验收试验、环境应力筛选);——3)加速试验与高可靠长寿命快速评价(高温加速、湿热加速、温循加速、振动加速、温湿度-振动综合加速、温循-振动综合加速、温度-盐雾加速、温度-太阳辐射加速、插拔寿命、按键寿命、机械产品运行寿命等);——4)安全测试:覆盖GB4943.1、4793.1、8898、9706等标准,包括防机械损伤、耐电压、绝缘电阻、漏电流、升温、稳定性等测试;——5)软件测评:覆盖GJB141、GB25000.51等标准,包括登记测试、验收(确认)测试、功能性能测试、文档审查、代码审查;——6)现场监督测试:功能性能现场监督测试、招投标功性能测试、环境试验监督测试、现场运行可靠性指标(MTBF/成功率)考核,维修性指标(MTTR)评价等。实验室现场照片同时,科鉴检测具备卓越的提供解决方案和增值服务的能力,包括:——1)装备八性(可靠性、维修性、测试性、保障性、安全性、耐久寿命、环境适应性、电磁兼容性)设计分析与评价服务;——2)为项目提供高效、经济的可靠性解决方案,为产品提供可靠性快速提升技术服务,为人员提供可靠性技能培训,为企业提供可靠性工程体系建设方案咨询;——3)科技项目全过程保障、中期检查与验收测试服务,仪器设备可靠性与技术就绪度服务,有源医疗器械使用期限分析与加速验证服务,轨道交通行业RAMS分析服务等。无论是硬件产品,还是软件产品;无论是元器件,还是材料,客户遇到质量与可靠性相关的问题,科鉴检测均具备提出解决方案的能力。根据元器件国产化发展趋势,科鉴检测近期已与浙江杭可仪器有限公司合作,签订了采购多台套元器件筛选和老化专用仪器设备合同,在现有的环境与可靠性试验能力基础上,计划进一步完善元器件老化与筛选能力,覆盖GJB和GB电容、电阻、二极管、三极管老化和筛选标准,计划将于2021年年中通过扩项完成相关资质认可。科鉴检测始终以国产产业发展需求为导向、以客户目标和问题为中心,始终注重核心技术研究与工程经验积累,不断加速开发从整机到元器件、从硬件到软件、从标准化到个性化的高端服务能力,一直致力于打造成为国内具有卓越服务能力的第三方检测机构。
  • 海底管道泄漏监测新仪器研制成功
    10月27日,每日科学网报道称,英国南安普敦大学教授研制的一种仪器,可以监测海底天然气管道的泄漏。   这种仪器通过监测声波信号的变化,来监测海底天然气管道泄漏和甲烷气体泄漏情况。   该仪器依赖水听器系统,能仔细探测到海洋中的气泡。仪器研发者——南安普敦大学教授雷顿称之为海底听水器。雷顿说:“如果你仔细听气泡产生的声音,特别是气泡声的具体幅度和频率,你可以预测所产生的气泡数量和大小。我们一直在关注气体从管道中泄漏再进入海水中的过程。”这种仪器通过使用一个水下麦克风来监测变化,并形成一个具有成本优势、独特的监测系统。该仪器的灵敏性是现有监测器的100倍以上。现有监测器主要是远程长距离监测海底管道的电流监测器。   雷顿说,新仪器可为天然气开发商和运输商减少数百万元的损失。天然气泄漏对于附近的石油钻井平台、船运都将带来严重威胁。新仪器可以使人们远距离监控海底管道情况,并尽可能减少天然气的泄漏。这既适用于石化行业,又适用于海底释放的甲烷气体。   雷顿认为,新仪器售价能达到1万英镑。它有望安装在海底管道沿线。这种仪器能监测到水下数平方公里的动静。一旦有气体泄漏,它就马上发出警报。新仪器将实现远程监控,同时能控制气体的泄漏量。
  • 1139万!乌海市检验检测中心、佛山市质量计量监督检测中心检测设备采购项目
    一、项目一(一)项目基本情况项目编号:0809-2441GDG1A401项目名称:佛山市质量计量监督检测中心2024年度计量实验室专用检测设备及计量标准建设检测设备采购项目采购方式:公开招标预算金额:6,344,400.00元采购需求:合同包1(包组一):合同包预算金额:338,600.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)1-1光学仪器检测器具分光光度计标准检测器1(套)详见采购文件150,000.00-1-2其他电磁学计量标准器具LCR测试仪1(套)详见采购文件140,000.00-1-3光学计量标准器具辐照度仪校准器1(套)详见采购文件48,600.00-本合同包不接受联合体投标合同履行期限:合同签订生效之日起12周内完成整个项目的供货、安装且调试完毕。合同包2(包组二):合同包预算金额:3,436,800.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)2-1压力及真空计量标准器具智能全自动压力校验仪(水介质)1(套)详见采购文件298,000.00-2-2温度计量标准器具智能化热工仪表检定系统1(套)详见采购文件360,000.00-2-3计量标准器具零部件智能识别装置3(套)详见采购文件174,000.00-2-4温度计量标准器具智能参考温湿度计2(套)详见采购文件154,400.00-2-5温度计量标准器具温湿度检定箱(标准箱)校准装置1(套)详见采购文件120,000.00-2-6温度计量标准器具智能参考测温仪2(套)详见采购文件112,000.00-2-7计量标准器具零部件智能识别装置2(套)详见采购文件116,000.00-2-8温度计量标准器具平面辐射源1(套)详见采购文件68,600.00-2-9压力及真空计量标准器具真空计现场校准装置1(套)详见采购文件223,000.00-2-10压力及真空计量标准器具便携式压力控制器2(套)详见采购文件181,000.00-2-11压力及真空计量标准器具法兰式压力变送器、隔膜压力表校验装置1(套)详见采购文件168,000.00-2-12其他长度计量标准器具液位计检定装置1(套)详见采购文件160,000.00-2-13温度计量标准器具高精度高温温度箱1(套)详见采购文件140,000.00-2-14其他长度计量标准器具三维自动化测量系统1(套)详见采购文件600,000.00-2-15其他长度计量标准器具钢卷尺全自动检定仪1(套)详见采购文件198,000.00-2-16流量计量标准器具加油机检定装置2(套)详见采购文件100,000.00-2-17流量计量标准器具皂膜气体流量标准装置1(套)详见采购文件90,000.00-2-18流量计量标准器具车用尿素加注机检定装置2(套)详见采购文件60,000.00-2-19质量计量标准器具砝码1(套)详见采购文件6,500.00-2-20质量计量标准器具砝码1(套)详见采购文件4,800.00-2-21质量计量标准器具砝码1(套)详见采购文件2,500.00-2-22质量计量标准器具砝码50(套)详见采购文件100,000.00-本合同包不接受联合体投标合同履行期限:合同签订生效之日起12周内完成整个项目的供货、安装且调试完毕。合同包3(包组三):合同包预算金额:2,569,000.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)3-1电表类计量标准器具三相电能标准表检定装置1(套)详见采购文件380,000.00-3-2其他电磁学计量标准器具电焊机交直流电量校验仪1(套)详见采购文件195,000.00-3-3其他热学计量标准器具医用大型灭菌器灭菌效果物理参数检测系统1(套)详见采购文件195,000.00-3-4其他电磁学计量标准器具泄漏电流测试仪检定装置1(套)详见采购文件155,000.00-3-5直流计量标准器具可编程直流电源1(套)详见采购文件125,000.00-3-6其他电磁学计量标准器具安规综合测试仪校准装置1(套)详见采购文件108,000.00-3-7直流计量标准器具可编程直流电源1(套)详见采购文件105,000.00-3-8温度计量标准器具微型表面温度校验仪1(套)详见采购文件55,000.00-3-9其他计量标准器具血液透析装置脱水量校验仪1(套)详见采购文件55,000.00-3-10其他计量标准器具多参数监护仪检定装置2(套)详见采购文件490,000.00-3-11其他计量标准器具气流分析仪2(套)详见采购文件396,000.00-3-12其他计量标准器具血液透析机检测仪1(套)详见采购文件110,000.00-3-13其他计量标准器具数字心脑电图机检定仪1(套)详见采购文件70,000.00-3-14其他计量标准器具瞬时日差测量仪检定装置1(套)详见采购文件70,000.00-3-15其他计量标准器具超声骨密度模体1(套)详见采购文件60,000.00-本合同包不接受联合体投标合同履行期限:合同签订生效之日起12周内完成整个项目的供货、安装且调试完毕。(二)获取招标文件时间: 2024年05月14日 至 2024年05月21日 ,每天上午 00:00:00 至 12:00:00 ,下午 12:00:00 至 23:59:59 (北京时间,法定节假日除外)地点:广东省政府采购网https://gdgpo.czt.gd.gov.cn/方式:在线获取售价: 免费获取(三)对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:佛山市质量计量监督检测中心地 址:佛山市南海区狮山镇科技西路2号联系方式:0757-887355362.采购代理机构信息名 称:广东华伦招标有限公司地 址:佛山市禅城区岭南大道北128号天禧华园一座八层联系方式:0757-832841953.项目联系方式项目联系人:刘小姐电 话:0757-83284195二、项目二(一)项目基本情况项目编号:WHZCS-G-H-240026项目名称:仪器设备采购(进口设备)采购方式:公开招标预算金额:5,050,000.00元采购需求:合同包1(仪器设备采购(进口设备)):合同包预算金额:5,050,000.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)1-1质谱仪液相色谱串联三重四极杆符合线性离子阱质谱仪1(套)详见采购文件4,250,000.00-1-2显微镜超高分辨生物显微镜1(台)详见采购文件380,000.00-1-3其他医疗设备冷冻切片机1(台)详见采购文件420,000.00-本合同包不接受联合体投标合同履行期限:合同中约定(二)获取招标文件时间: 2024年05月14日 至 2024年05月21日 ,每天上午 09:00:00 至 12:00:00 ,下午 15:00:00 至 18:00:00 (北京时间,法定节假日除外)地点:内蒙古自治区政府采购网方式:在线获取。获取采购文件时,需登录“政府采购云平台”,按照“执行交易→应标→项目应标→未参与项目”步骤,填写联系人相关信息确认参与后,即为成功“在线获取”。售价: 免费获取(三)对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名称:乌海市检验检测中心地址:内蒙古乌海市滨河区创业路13号联系方式:152483111742.采购代理机构信息名称:内蒙古远逸工程项目管理有限公司地址:内蒙古自治区乌海市海勃湾区人们北路亿豪酒店南(老北京烤鸭店)西50米联系方式:13224736555 136547301733.项目联系方式项目联系人:周玉梅电话:13224736555 13654730173
  • 北理工在红外光电探测器暗电流抑制技术方面取得新进展
    红外光电探测器广泛应用于气体传感、气象遥感以及航天探测等领域。然而目前,传统的红外探测材料主要基于碲化铟、铟镓砷、碲镉汞等,需要分子束外延方法生长,以及倒装键和等复杂工艺与读出电路耦合。虽然探测性能高,但是却受限于成本与产量。胶体量子点(CQD)作为一种新兴的红外探测材料,可以由化学热注射法大规模合成,“墨水式”液相加工可以与硅读出电路直接耦合,大大加快红外焦平面阵列(FPA)的研发进度。目前北京理工大学郝群教授团队已实现320×256、1K×1K百万像素量子点红外焦平面。然而,目前红外胶体量子点暗电流噪声较大的问题限制了成像仪的分辨率和灵敏度。近日,北京理工大学研究团队提出了量子点带尾调控方法,通过量子点成核生长分离的再生长技术,成功得到了形貌可控(如图1)、分散性好、半峰宽窄、带尾态优的红外量子点。图1 不同前驱体合成量子点形貌示意图研究人员基于三种胶体量子点制备了单像素光电导探测器,大幅度降低器件的暗电流和噪声30倍以上,室温下2.5 μm延展短波波段比探测率达到4×10¹¹ Jones,响应时间为0.94 μs(如图2)。图2 光电导探测器结构示意图以及形状控制量子点与两组参考样品的器件性能对比在此基础上,研究人员将HgTe胶体量子点与互补金属氧化物半导体 (CMOS) 读出集成电路 (ROIC) 相集成,制备了640×512像素的焦平面阵列成像芯片,有效像元率高达99.997%。成像过程示意图和成像结果如图3所示。图3 成像过程示意图以及形状控制量子点640×512像素的焦平面成像结果图综上所述,这项研究开发了量子点带尾调控方法,通过单像素光电探测器及红外焦平面验证了该方法在暗电流和噪声抑制上的可靠性,在高性能胶体量子点红外光探测器发展中具有重要意义。相关研究工作于2023年11月发表于中科院1区光学顶刊ACS Photonics。该论文的共同第一作者为郝群教授、博士生薛晓梦和罗宇宁,通讯作者为陈梦璐准聘教授和唐鑫教授。论文链接:https://doi.org/10.1021/acs p hotonics.3c01070
  • 仪器情报,科学家突破钙钛矿X射线探测器性能瓶颈!
    【科学背景】随着科学技术的进步,X射线检测技术在医学成像、无损检测和天体物理等领域得到了广泛应用。X射线的不同光子能量具有不同的穿透能力,这使得在不同应用中对X射线探测器的要求也各不相同。例如,软X射线(25–50 keV)主要用于乳腺摄影和胸部X光检查,而硬X射线(80–150 keV)则用于现代计算机断层扫描和工业检测。然而,现有的商业化半导体探测器,如α-Se、Si和CdZnTe(CZT),存在吸收系数低、载流子输运性能差和高制造成本等问题,亟需开发新型的高性能X射线探测材料。近年来,金属卤化物钙钛矿因其高衰减系数、大的迁移-寿命(μτ)积以及低制备成本,成为新一代X射线探测材料的研究热点。钙钛矿材料在直接X射线检测、光子计数X射线成像和能量分辨γ射线检测等方面展示了巨大的潜力。然而,钙钛矿材料中的离子迁移会导致大噪声和基线漂移,严重影响探测器的性能。特别是,对于高能量硬X射线检测(100 keV),现有钙钛矿探测器的灵敏度和检测限仍然难以满足高性能的要求。为了应对这些挑战,山东大学陶绪堂教授、张国栋教授团队合作开发了新型气氛导模法来开展了钙钛矿单晶的优化研究。通过在Ar和HBr混合气氛中生长CsPbBr3单晶,成功地改善了材料的电阻率、离子迁移活化能以及迁移-寿命(μτ)积。与传统的垂直布里奇曼法生长的CsPbBr3单晶相比,EFG-CsPbBr3单晶具有显著更低的陷阱密度、更高的电阻率(1.61 × 1010 Ω cm)和更大的离子迁移活化能(0.378 eV),从而有效地降低了漏电流和基线漂移。基于EFG-CsPbBr3单晶的X射线探测器展示了优秀的平衡性能,包括极低的暗电流漂移(1.68 × 10-9 μA cm-1 s-1 V-1)、极低的检测限(10.81 nGyair s-1)以及在5,000 V cm-1高电场下的高灵敏度(46,180 μC Gyair-1 cm-2)。此外,该探测器在30天内保持了稳定的响应。【科学亮点】1. 实验首次采用气氛导模法,在Ar和HBr混合气氛中成功生长了高质量的形状控制CsPbBr3单晶(SCs),并获得了较低的陷阱密度、高电阻率(1.61 × 1010 Ω cm)以及较大的离子迁移活化能(0.378 eV)。2. 实验通过与采用垂直布里奇曼法生长的CsPbBr3单晶对比,验证了EFG-CsPbBr3单晶在电阻率、离子迁移活化能和漏电流控制方面的显著改进。EFG-CsPbBr3单晶显示出更低的漏电流和基线漂移,从而提高了X射线探测器的性能。3. 基于EFG-CsPbBr3单晶的X射线探测器,在5,000 V cm-1的高电场下展现出出色的性能,包括极低的暗电流漂移(1.68 × 10-9 μA cm-1 s-1 V-1)、极低的检测限(10.81 nGyair s-1)以及灵敏度高达46,180 μC Gyair-1 cm-2。此外,该探测器在30天内保持了稳定的响应,证明了其长期稳定性和高性能。4. 研究提出了一种有效的策略,通过优化铅卤化物钙钛矿单晶的生长工艺,提高了其在X射线检测和成像中的性能,为未来的高性能X射线探测系统提供了新的思路。【科学图文】图1:导模法edge-defined film-fed growth,EFG生长的CsPbBr3单晶single crystals,SCs。图2:导模法EFG-CsPbBr3和垂直Bridgman法VB-CsPbBr3的光电性能比较。图3:导模法EFG-CsPbBr3和垂直Bridgman法VB-CsPbBr3的离子迁移特性。图4: X射线检测响应和灵敏度。图5:X射线检测极限和成像。【科学结论】本文提出了一种高效的新型气氛可控导模法生长(EFG)技术,以解决钙钛矿材料在X射线检测中的关键问题。传统的钙钛矿探测器面临的主要挑战是离子迁移导致的噪声和基线漂移,这严重影响了探测性能和成像质量。通过优化生长环境,EFG技术显著降低了CsPbBr3单晶的陷阱密度,提高了电阻率和离子迁移活化能,从而减少了漏电流和暗电流漂移。这种改进不仅增强了探测器的灵敏度(46,180 μC Gyair-1 cm-2),还降低了检测限(10.81 nGyair s-1),并且设备在高电场(5,000 V cm-1)下保持了稳定的性能,能够在无封装条件下持续工作30天。此研究为提升钙钛矿材料在X射线检测和成像中的应用性能提供了一种切实可行的解决方案,展现了在高性能辐射探测器领域的广阔前景。原文详情:YWang, Y., Sarkar, S., Yan, H. et al. Critical challenges in thedevelopment of electronics based on two-dimensional transition metal dichalcogenides. Nat Electron (2024). https://doi.org/10.1038/s41928-024-01210-3
  • 5万亿设备更新:高等职业学校光伏发电技术与应用专业仪器设备装备规范
    3月13日,国务院印发《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》,明确到2027年,工业、农业、教育、医疗等领域设备投资规模较2023年增长25%以上。《方案》明确了5方面20项重点任务,其中在实施设备更新行动方面,提到要提升教育文旅医疗设备水平,明确指出将“推动符合条件的高校、职业院校(含技工院校)更新置换先进教学及科研技术设备,提升教学科研水平;严格落实学科教学装备配置标准,保质保量配置并及时更新教学仪器设备……”以下为仪器信息网整理的高等职业学校光伏发电技术与应用专业仪器设备装备规范,以飨读者。表1 基础实验仪器设备装备要求实 训 教 学 场 所教学实训 目标仪 器 设 备序 号名称规格、主要参数或主要要求单 位数量执行标准 代码备注合 格示 范电 工 电 子 实 验 室1.理解基 本电路原 理;2.会识读 电气图纸; 3.会根据 测量信号 分析电路 工作特性; 4.掌握常 用电子元 器件识别 的基本检测方法;5.掌握常 用电子仪 器仪表的 使用方法。1电 工 电 子 实 验 台1.能验证电路基本定理定律;2.具有基本电参数的测量功能;3.可完成 R、L、C 等电路元件的特性分析及 电路实验;4.具备单相、三相交流电路的实验功能;5.具有模拟电子电路、 具有数字电子电路的 实验功能;6.具有漏电保护功能。台10202万用表1.直流电压: (0~25)V;20000Ω/V (0~500)V;5000Ω/V; ±2.5%;2.交流电压:(0~500)V;5000Ω/V;±5.0%; 3.电阻: 量程,0~4kΩ~40kΩ~400kΩ~ 4MΩ~40MΩ 25Ω 中心; ±2.5%;4.音频电平: -10dB~+22dB。台10203信号发 生器1.频率范围: 0.1Hz~1MHz;2.输出波形: 正弦波、方波、三角波、脉冲 波;3.输出信号类型: 单频、调频、调幅等; 4.外测频灵敏度:100mV;5.外测频范围: 1Hz~10MHz;6.输出电压: ≥20Vp-p(1MΩ) ,≥10Vp-p(50Ω);7.数字显示; TTL/CMOS 输出;台10204双踪示 波器1.频宽: 20MHz;2.偏转因数: 5 mV/div~20 V/div; 3.上升时间: ≤17 ns;4.垂直工作方式: CH1、CH2、ALT、CHOP、 ADD ;5.扫描时间因数: 0.2μs/div~0.5s/div; 6.触发方式: 自动、常态、TV-H、TV-V;7.触发源: 内(CH1,CH2,交替)、外、电源; 8.触发灵敏度:内触发不小于 1div,外触 发不小于 0.5Vp-p。台10205交流毫 伏表1.测量范围: 0.2mV~600V;2.频率范围: 10Hz~600kHz;3.电压测试不确定度: ±1%;4.输入阻抗: 1MΩ。台1020表2 基础实训仪器设备装备要求实 训 教 学 场 所教学实训 目标仪 器 设 备序 号名称规格、主要参数或主要要求单 位数量执行标准 代码备注合 格示 范电气控制与PLC控制实训室1. 了解单 相、三相 交流电机 的基本电 气控制原 理 与 方 法 。 2. 掌 握 电气系 统 一般故 障的产生 原因与故 障排除方 法;3. 熟 悉 PLC 基 本 指令编程 方法,掌 握 用 PLC 控制简单 对象的方 法 和 技 能。1电气控 制 与 PLC 控 制实验 装置1.具有可靠的漏电保护功能;2.配有常用低压电器,可在该装置上完成 低压电器控制实验实训项目;3.采用可编程逻辑控制器进行控制实训项 目;4.输入电源:三相四线制,380V±38V, 50Hz;单相 ,220V±22V,10A,50Hz;直 流电源,24V/2A;5.I/O 点>20;6.可进行 PLC 硬件接线与软件编程功能, 能对 PLC 进行安装与维护操作;7.有可用 PLC 控制的控制对象,实现其动 作执行;8.有可供开放式连接的按钮及 I/O 量和模 拟量输入传感器。套1020电力电子实训室1.理解常 见电力电 子器件工 作原理; 2.理解常 见整流电 路工作原 理;3.理解逆 变电路工作原理。1电力电 子实训 装置1.具有可靠的漏电保护功能;2.可进行单相、三相不可控整流电路连接 与测试实验;3.可进行单相、三相可控整流电路连接与 测试实验;4.可进行单相桥式有源逆变电路实验; 5.可进行单相交流调压电路实验;6.可进行三相交流调压电路实验;7.可进行六种直流斩波电路(Buck、Cuk、 Boost、Sepic、Buck-Boost、Zeta)的电路 实验;8.可进行单相交直交变频电路实验;9.可进行正弦波(SPWM)逆变电路实验; 10.可进行全桥 DC/DC 变换电路实验。台1020表3 专业实验仪器设备装备要求实 训教 学 场 所实训教学目标仪 器 设 备序 号名称规格、主要参数或主要要求单 位数量执行标准代码备注合格示范光 伏 原 理 及 应 用 实 验 室1. 了解光照 条件和其它环 境因素对太阳 能电池发电量 的影响;2.了解光伏产 业链不同环节 的生产工艺流 程;3.了解光伏发 电的应用;3.理解控制器、蓄电池、 逆变器的工作 原理,掌握其 使用方法;4.能进行光伏 发电系统的安 装与调试;5.能进行太阳 能电池的电性 能测试。1光伏电 池特性 测试仪1.能测试不同光强度下完整的 I-V 曲线、P-V 曲线、开路电压和短路 电流;2.能测试太阳能电池负载特性及转 换效率等。台20402太阳光 测试仪1.具有检测太阳光强度的功能;2.具有检测太阳光有效辐射 的功 能;3.具有检测分析太阳光光谱 的功 能。套10203环境检 测仪能够检测风速、温度、露点、湿度、 气压、海拔高度等环境参数套124光伏产 品展示 柜(室)1.展示硅砂、工业硅、太阳能级硅、 硅块、硅棒、硅片等原材料;2.展示各型电池片;3.展示单晶硅、多晶硅和非晶硅等 光伏组件以及其它类型光伏电池;4.展示典型光伏产品,如: 太阳能手电筒、太阳能充电器等;5.光伏产业工艺流程展示图。套115光伏发 电实验 装置1.系统包括:光伏组件、控制器、 逆变器、蓄电池、光源和负载;2.系统各部件之间相对独立,可根 据实验要求连接;3.能进行光伏发 电原理 的相关实 验,包括 I-V 特性曲线实验、直流 负载实验、充放电实验、逆变和交 流负载实验。套1020光伏系统安全 应符合GB/T 20047.1-2006表3 专业实验仪器设备装备要求(续)实 训 教 学 场 所实训教学 目标仪 器 设 备序 号名称规格、主要参数或主要要求单 位数量执行标准 代码备注合 格示 范光 伏 材 料 检 测 实 验 室1.能进行硅 片的外观特性检测;2.能利用冷 热探针法测 量半导体类型;3.能利用四 探针电阻率 测量法对半 导体材料电 阻率及薄层 电阻进行检测;4.能进行单 晶硅、非晶 硅的非平衡 少数载流子寿命的测量;5.会对硅片 制绒时的绒 面,丝网印 刷时的栅线 宽度等进行 检测;1游标卡尺测量范围: 0mm~200mm;测量精度:机械游标卡尺 0.02mm;数显游标卡尺 0.01mm。把4040示范数显游标卡尺不少于20把2翘 曲 度 测 量仪翘曲度测量范围:1μm~20μm; 重复精度:0.5%;测量参数:曲率半径、晶圆弯曲高 度、翘曲度。台23P-N 型测试 仪测量范围:电阻率: 0.01Ω ²cm~200Ω ²cm功耗:≤30W。台5104四 探 针 电 阻 率 测 试 仪数字电压表量程:0 mV~199.999mV;灵敏度: 1μV;输入阻抗: 1000MΩ 可测电阻范围: 1μΩ~1MΩ 可测硅片尺寸:Φ15 mm~Φ200mm。台5105半 导 体 少 子 寿 命 测 量仪寿命测试范围: ≥2μs;光脉冲发生装置:重复频率≥25 次/s;脉宽≥60μs;光脉冲关断时间≤5μs;红外光源波长:1.06μm~1.09μm;低输出阻抗,输出功率≥1W; 配用示波器:频带宽度不低于 10MHz。台11表3 专业实验仪器设备装备要求(续)实 训 教 学 场 所实训教学目 标仪 器 设 备序 号名称规格、主要参数或主要要求单 位数量执行标准 代码备注合 格示 范光 伏 材 料 检 测 实 验 室6.会根据单 晶硅和多晶 硅太阳能电 池的电性能 参数进行分 选。6电子天平量程: ≥100g;精度: ≤0.01g;称盘尺寸: ≥150mm³200mm。台127金 相 显 微 镜物镜倍数: 5X、10X、20X、50X、 100X;目镜倍数: 10X;观察功能: 明场、高级暗场、圆偏 光;可配图像分析系统(摄像头、图像 分析软件)。台5108太 阳 能 电 池分选机光谱范围:应符合 GB/T 6495.9-2006(等级 A)要求;辐照强度调节范围:70 mW/cm2~120mW/cm2;辐照不均匀度≤3%;辐照不稳定度≤3%;测试结果一致性≥99%;电性能测试误差≤2%;有效测试面积≥125mm³125mm; 有效测试范围:0.1W~5W;测试参数:短路电流、开路电压、 最大功率、最大电流、填充因子、 转换效率、测试温度。台129椭偏仪光源:氙灯;波长范围:250 nm~830nm; 波长分辨率:1.0 nm;入射角范围:20º~90º 入射角精度:0.001º 椭偏参数精度:D ±0.02º、 Y ±0.01º 光学常数精度优于 0.5% 膜厚准确度: ±0.1nm。台12表4 专业实训仪器设备装备要求实 训 教 学 场 所实训教学 目标仪 器 设 备序号名称规格、主要参数或主要要求单 位数量执行标准代码备注合 格示 范光 伏 组 件 加 工 实 训 室1.了解光 伏组件的组成;2.了解光 伏组件的 生产工艺流程;3.掌握电 池片切割、 测试、焊 接、串接、 敷设、组件 层压、修 边、装框、 接线盒安 装等操作方法;4.掌握光 伏组件光电性能的 检测方法; 5. 掌 握 异 常情况下 的处理方 法。1激光划 片机激光波长: 1.064μm;激光重复频率: 200Hz~50kHz;激光功率: ≥20W;划片线宽:≤300μm;最大划片速度:≥100mm/s;划片精度:≤10μm工作电源: 380V(220V)/50Hz使用电源功率:≥2.5kVA。台122台11表4 专业实训仪器设备装备要求(续)实 训 教 学 场 所执行标准 代码备 注合 格示 范光 伏 组 件 加 工 实 训 室同上
  • 北大陈雷课题组发现钠漏通道复合物的冷冻电镜结构
    近日,北京大学未来技术学院分子医学研究所研员陈雷课题组发现了钠漏通道NALCN-FAM155A-UNC79-UNC80复合物的冷冻电镜结构及UNC79-UNC80调节NALCN-FAM155A的机制。这一研究于5月12日发表在《自然-通讯》上。  神经细胞的静息膜电位(Resting Membrane Potential, RMP)影响着神经细胞的可兴奋性,对于维持神经细胞正常的生理功能至关重要。钠漏通道NALCN(Sodium Leak Channel, Nonselective)介导了神经细胞的钠漏电流,能使静息膜电位更加去极化,从而提高神经细胞的可兴奋性。  NALCN在哺乳动物中高度保守,与电压门控钙离子通道(CaV)和电压门控钠离子通道(NaV)同源性较高。且参与了诸多与神经系统相关的重要的生物学过程,包括呼吸节律的调节、痛觉感知、生物钟的调节和快速动眼睡眠等。  “在人群中,NALCN的单点突变会引起多种严重的神经发育遗传疾病,包括精神运动发育迟缓和具有特征面相的小儿肌张力低下症及四肢和面部先天性挛缩、肌张力低下和发育迟缓症等。尽管NALCN通道有着如此重要的功能,但其工作机制仍不清楚。”陈雷告诉《中国科学报》。  在2020年,陈雷研究组曾解析NALCN-FAM155A亚复合体的高分辨率结构,阐明了NALCN的钠离子选择性、胞外钙离子阻塞和电压调节特性的结构基础,发现了在NALCN通道中独有的位于II-III linker上的CIH螺旋可以结合在其胞内结构域上。但是UNC79和UNC80的结构以及它们是如何激活NALCN的并不清楚。  先前的研究表明,UNC79和UNC80容易与NALCN-FAM155A亚复合体发生解离。在本项研究中,作者们在NALCN的C末端融合了GFP,UNC80的N末端融合了与GFP高亲和力结合的纳米抗体以稳定UNC79/80与NALCN间的相互作用。  经过同源蛋白筛选等步骤,研究人员确定以大鼠NALCN和小鼠FAM155A, UNC79和UNC80亚基组成的复合体为研究对象,并在克服了样品制备、数据处理等困难后,通过单颗粒冷冻电镜技术获得了整体分辨率为3.2埃的四元复合物的电子密度,并搭建了原子模型。  结构显示,UNC79和UNC80均由富含螺旋的结构组成,这些螺旋进一步的组装成HEAT重复或ARM重复等超螺旋结构。UNC79的N端与UNC80的C端、UNC79与UNC80的中间铰链区以及UNC79的C端与UNC80的N端均存在着紧密的相互作用,形成钳子状的复合体,整体形状类似于无穷号“∞”。 进一步的研究发现,NALCN主要通过胞内loop区与UNC79-UNC80发生相互作用的:NALCN胞质侧的I-II linker中的一段β-发卡结构(UNIM-A)与UNC79发生相互作用,II-III linker中的一段loop-螺旋结构(UNIM-B)以及一段L型螺旋结构(UNIM-C)与UNC80发生相互作用。作者们将NALCN与UNC79/80发生相互作用的基序命名为UNC Interacting Motif (UNIM)。  陈雷介绍,该项研究还发现,UNC79, UNC80和FAM155A三个附属亚基对于NALCN能够正确的转运到细胞膜上是必不可少的。“这有可能是因为这些互作使UNC79/80遮挡了NALCN胞质侧loop上的内质网滞留信号,从而促进NALCN上膜。另外,这些互作也释放了CIH对NALCN的自抑制,使其激活。这为深入理解NALCN复合体的工作机制奠定了基础。”他说。
  • 深度︱光伏电站热成像检测解决方案
    从2004年的0.063GW到2014年的26.84GW,10年400多倍的增长速率让全球见证了光伏发电的中国速度。截至2015年底,我国光伏发电累计装机容量4318万千瓦,成为全球光伏发电装机容量最大的国家。然而,“前景向好、难题不断”。看似有强势吸引力的光伏电站建设企业,一面怀揣着坐拥高收益甚至完成平价上网终极使命的美好愿景,一面在动辄上百亿的投资资金面前备受折磨。这些问题的症结都指向同一个核心词汇——质量。案例一:2015年5月26日,位于美国亚利桑那州的苹果公司Mesa数据中心发生火灾,这让科技巨人最看中的“绿色面子工程”却被烧得满目疮痍。初步调查发现,起火点可能是苹果工厂屋顶大楼上的光伏组件。这些安装在苹果公司Mesa工厂屋顶上的光伏组件可向当地1.4万户家庭供应电力。不幸的是,这场大火让美国最为知名的光伏巨头FirstSolar公司“躺枪”,引起火灾的太阳能电池板,正是占据全球薄膜太阳能产销第一的FirstSolar公司。案例二:2015年6月26日,中山长虹项目一名施工人员在连接组件阵列时被直流电电死,据了解,是组串的端子没接汇流箱就放屋顶上了,广东这几天暴雨,端子进水,施工人员碰到后发生了该事故。这是一些令人触目惊心的事故,以上列举的只是光伏事故的冰山一角,近年来,仅国内电站产生问题的例子就达116个,而且,这个数字依然高企不下。哪些因素导致安全问题?光伏电站质量和安全问题依然层出不穷。那么,到底有哪些因素导致了“问题”的出现?我们的研究团队走访了大量的光伏电站,发现光伏电站主要面临的安全问题分为组件和逆变器两大部分。第一,组件的安全问题主要来自接线盒和热斑效应。不起眼的接线盒是引起很多组件自燃的“元凶”,接线盒市场较为混乱和无序。劣质连接器由于内部粗糙不平,接触点较少,使电阻过高引燃接线盒,进而烧毁组件背板引起组件碎裂。在一定条件下,一串联支路中被遮蔽的太阳电池组件,将被当作负载消耗其他有光照的太阳电池组件所产生的能量,被遮蔽的太阳电池组件此时会发热,这就是热斑效应。这种效应能严重的破坏太阳电池。第二,逆变器和运维漏洞百出。传统集中式方案,每个逆变器100多组串正负极并联在一起,当任意的组串正极和负极漏电,1000V的直流高压,触电将无可避免。传统电站采用熔丝设计增加了直流节点,电站即使使用熔丝,也不能有效地保护组件;而且在过载电流情况下,熔丝还会因熔断慢,发热高,引发着火风险。逆变器厂家很多、质量参差不齐,导致逆变器监测数据不准确,逆变器或者直流汇流箱数据采样精度不够,造成故障信息判断不准确、不及时,故障恢复时间长、损失大。国家发改委能源研究所研究员王斯成说:“电站在运行一段时间后存在着大量问题,而电站质量直接影响到电站的收益,这也是为什么目前银行对投资电站有顾虑的重要原因。然而目前电站开发商对这一问题却没有足够重视,这对行业来说是伤害。”FLIR的解决方案——红外热像仪质量保证流程对于太阳能电池板极具重要。电池板的正常运行是高效发电、长期使用寿命和高投资回报率的必要条件。为了确保正常运行,在生产过程中和电池板安装后,都需要一种快速、简易又可靠的太阳能电池板性能检查方法。FLIR 工程师说,使用热像仪进行太阳能电池板检查有着若干优势。异常现象能够清楚地显示在清晰的热图像上,并且与其他大部分方法不同的是,热像仪能够用于对已经安装好的太阳能电池板在运行期间进行检查,最后,热像仪还可在短时间内检查大片区域。在研发领域,热像仪已经是用于太阳能电池和电池板检查的成熟工具。对于这些复杂的测量,配备制冷式探测器的高性能热像仪通常用于受控实验室条件下。但热像仪的太阳能电池板检查用途并不仅限于研究领域。非制冷式热像仪目前正越来越多地应用于太阳能电池板安装前的质量管理,以及安装后的常规预测性维护检查。使用热像仪可以探测到潜在问题区域,并在问题或故障真正出现前予以修复。但并非每一种热像仪都适合太阳能电池检查,需要遵循一些规则和指导方针,以便实施有效检查,确保得出正确的结论。热像仪检查太阳能电池板规程在研制和生产阶段,太阳能电池是靠通电或使用闪光灯来激活。这确保了充分的热对比度,用于精确热成像测量。但这种方法不能用于实地检查太阳能电池板,因此操作员必须确保有足够的太阳能。为了在实地检查太阳能电池时获得充分的热对比度,需要500 W/m2以上的太阳辐照度。要获得最大值结果,建议准备好700 W/m2太阳辐照度。太阳辐照度以kW/m2为单位,描述了一个表面的瞬间入射能量,该能量可用日射强度计(用于测量全球太阳辐照度)或太阳热量计(用于测量直接太阳辐照度)进行测量。太阳辐照度主要取决于位置和局部天气。较低的室外温度也可提高热对比度。您需要哪一种类型的热像仪?用于预测性维护检查的便携式热像仪通常搭载有灵敏度为8–14μm波段的非制冷微量热型探测器。但在这个波段内是无法穿透玻璃的。从电池板正面检查太阳能电池时,热像仪探测到的是玻璃表面的热量分布,但只能间接探测玻璃下方电池的热量分布。因此太阳能电池板玻璃表面的可测量和可视温差比较微弱。为了使这些温差可见,用于检查的热像仪需要具备≤0.08K的热灵敏度。为了清晰显现热图像中的微弱温差,热像仪还应能够手动调节电平和跨度。自动模式(左图)和手动模式(右图)下带电平和跨度值的热图像。光伏组件一般安装在具有高度反射性的铝制框架上,这种框架在热图像上会显示为冷区,因为它能反射天空中散发的热辐射。在实践中,这意味着热像仪记录到的框架温度远低于0°C。由于热像仪的直方图均衡自动适配最大和最小测温值,许多细微的热异常不会立即显现。为了获得高对比度热图像,需要不断对电平和跨度进行手动调节。未经DDE处理的热图像(左图)和经过DDE处理的热图像(右图)。所谓的DDE(数字细节增强)功能提供了解决方式。DDE能够自动优化高动态范围场景下的图像对比度,热图像不再需要进行手动调节。因此具备DDE功能的热像仪非常适用于快速精确的太阳能电池板检查。实用功能热像仪的另一个实用功能是为热图像添加GPS数据标记。这可以帮助在大片区域,如太阳能电厂中轻松定位有问题的模块,并将热图像与设备进行关联,例如在报告中。 热像仪应该配备内置数码相机镜头,以便将相关可见光图像(数码照片)与相应的热图像一起保存。所谓的叠加模式可将热图像与可见光图像相互叠加,也颇为实用。声音和文本注释可连同热图像一起保存在热像仪中,有利于报告编写。热像仪放置:考虑热反射和辐射系数虽然玻璃在8–14μm波段的辐射系数为0.85–0.90,但玻璃表面的测温并不容易。玻璃热反射如同镜面反射,这意味着不同温度的周边物体在热图像上能够清晰呈现。在最糟糕的情形中,这会导致成像失实(假“热点”)和测量误差。热像检查中的建议视场角(绿色)和应避免的视场角(红色)。为了避免热像仪和操作员的玻璃热反射,热像仪不应垂直对准被检查的模块。但辐射系数在热像仪垂直时达到最大,热像检查中的建议视场角(绿色)和应避免的视场角(红色)。并随着热像仪角度的增加而减小。5–60°的视场角是一个较好的平衡点(0°为垂直)。为避免得出错误结论,检查太阳能电池板时,您需要以正确角度握持热像仪。使用KLIR P660红外热像仪从空中拍摄太阳能电厂获得的热图像。远距离检查测量期间并非总能轻易获得合适的视场角。在多数情况下,使用三脚架能够解决问题。在较为不利的条件下,可能需要使用移动作业平台或者甚至乘坐直升机飞到太阳能电池上方。在这种情况下,距离目标较远可能是一个优势,因为可以一次性检查一大片区域。为了保证热图像的质量,用于远距离检查的热像仪至少应具备320×240像素、最好是640×480像素的图像分辨率。热像仪还应配备有互换镜头,以便操作员能够更换长焦镜头,进行远距离检查,比如从直升机上。但是建议长焦镜头仅用于图像分辨率高的热像仪。使用长焦镜头进行远距离测量的低分辨率热像仪无法探测到指示太阳能电池板故障的细微热量细节。从不同视角进行检查使用FLIR P660红外热像仪拍摄的太阳能电池板背面热图像,它的对应可见图像如右图所示。在多数情况下,已安装的光伏组件也可用热像仪从组件后方进行检查。这种方式可以将太阳和云朵的干扰性热反射减至最小。此外,从组件后部获得的温度可能比较高,因为是直接测量电池,而不是透过玻璃表面进行测量。周围环境和测量条件应选择晴朗天气进行热像检查,因为云朵会降低太阳辐照度,并产生热反射干扰。但只要所用的热像仪足够灵敏,即便是在阴天也可以获得有用的图像。安静的环境也比较有利,因为太阳能电池板表面的任何气流都会造成传递性冷却,从而降低热梯度。空气温度越低,潜在热对比度就越高。建议在清晨进行热像检查。这幅热图像展示了大片高温区域。由于缺乏更多信息,无法看清这是热异常还是遮蔽/热反射。另一种提高热对比度的方法是断开电池负载,以断开电流,使热量仅仅依靠太阳辐照度产生。然后接上负载,在电池的发热阶段进行检查。 但在正常情况下,系统检查应在标准运行条件下,即负载状态下进行。取决于电池和问题或故障的类型,在无负载或短路条件下的测量结果可提供额外的信息。测量误差产生测量误差的主要原因是热像仪放置不当和周围环境与测量条件欠佳。典型的测量误差原因有:视场角过窄太阳辐照度随着时间推移而改变(例如由于云层变化所致)热反射(如太阳、云朵、周围更高的建筑、测量装备等)局部遮蔽(如周围建筑或其他构筑物的遮蔽)热图像提供的信息热图像提供的信息如果太阳能电池板的某些部位温度高于其他部位,温暖区域会清晰显现在热图像上。取决于形状和位置,这些热点和热区域能够指示出不同的故障。如果整个组件的温度都高于往常,这可能表明存在互连问题。如果单个电池或电池组显示为一个热点或温度较高的“拼接图案”,通常是旁路二极管故障、内部短路或电池错配所致。这些红点显示温度一直高于其他组件的组件,表明存在连接故障。在一个太阳能电池内的这个热点表明该电池内部存在物理损伤。遮蔽和电池裂缝在热图像上显示为热点或多边形斑块。电池或电池局部温度升高表明电池发生故障或存在遮蔽。应比较负载、无负载和短路条件下获得的热图像。将从模块正面和背面拍摄的热图像进行比较,也可以得到有价值的信息。常见模块故障列表当然,为了准确识别故障,出现异常的模块还应进行电学测试和目视检查。结论光伏系统热像检查可迅速定位电池和模块的潜在缺陷,并迅速探测出电气互连问题。检查是在正常运行条件下进行,不需要关闭系统。为了获得信息量较大的准确热图像,必须遵循某些条件和测量程序:应使用合适的热像仪和配件;需要充足的太阳辐照度(至少500W/m2,最好是700W/m2以上);视场角应在安全范围(5°至60°之间)避免遮蔽和热反射热像仪主要用于查找故障。对检测到的异常现象进行分类和评估需要对太阳能技术、被检查系统和附加的电气测量值有透彻的了解。适当的文件材料当然也必不可少,并应包含所有检查条件、附加测量值和其他相关信息。使用热像仪进行检测(先是用于安装期间的质量控制,紧接着是常规检查)可促进全面、简单地监控系统状态。这将有助于保持太阳能电池板的功能及延长其使用寿命。因此,使用热像仪检测太阳能电池板将显著提升运营公司的投资回报率。近日,菲力尔与北极星太阳能光伏网联合推出有关光伏电站热成像检测解决方案的专题,您可以点击“阅读原文”提前知晓更多信息,另外下期文章小编会为你带来国外光伏电站是如何应用红外热像仪的案例,敬请关注。
  • 无线电产业展迅猛 监测检测保驾护航
    无线电产业展迅猛 监测检测保驾护航 ——访国家无线电监测中心副主任薛永刚   无线电频谱是一种稀缺资源,它归国家所有。在无线电业务和产品日益丰富的今天,如何科学有效地管理好无线频谱资源,不仅对于保障各种无线业务的发展和应用有积极意义,更重要的是,它对国家安全,以及人民群众生活、工作的正常进行,起着重要的保障作用。在我国,无线电管理工作中至关重要的监测检测任务,是由国家无线电监测中心承担的。为了让读者了解我国的无线电监测管理情况,更好地使用无线电产品和业务,年终岁末,记者采访了国家无线电监测中心副主任薛永刚。   无线电管理,保障国家信息安全   新中国的无线电管理起源于战火纷飞的战争年代,建国以后,由于特定的历史条件,无线电管理工作一直由军队实施,改革开放以后,为了更好地服务国民经济发展和人民群众日常生活,无线电的管理职责由军队转归地方,并且在经历了几次机构调整之后,最终于1998年划归信息产业部管理。目前,无线电管理主要由工业和信息化部无线电管理局进行,其职责是编制无线电频谱规划 负责无线电频率的划分、分配与指配等,国家无线电监测中心同样归属工业和信息化部,主要承担无线电监测和无线电频谱管理工作,是我国无线电管理的支撑机构。而在无线电监测中心,无线电设备检测也是非常重要的职能和业务之一。   根据相关规定,凡是在我国境内使用的无线电设备和产品,都必需通过我国相关机构的检测。在我国,无线产品认证有两个层面的内容:一是产品入网认证,二是产品无线频率检测认证,即型号核准。薛永刚介绍说,这二者是完全不同的概念,入网检测是检测无线设备能否在通信网中使用,需要符合网络的技术、参数、业务应用等要求。而无线频率检测则是检测无线电产品所使用的频率是否符合国家的频谱管理要求。比如手机不管是否加入公众通信网,只要在中国市场上使用,就需进行无线电频率检测。型号核准是无线电设备管理的一种非常重要的手段,无线电设备的型号核准在任何国家都有严格的规定,并且越来越受到重视。   那么,为什么要对无线电设备进行监测和检测呢?,薛永刚介绍,无线电产品会产生电磁波,如果其技术指标不合格,就可能导致其他无线电产品或业务不能正常工作,更重要的是,如果不从源头对设备加以管理,这些不合格的无线产品产生的无线电干扰会迅速扩大,导致重大安全问题。另外,无线电频谱管理也是国家主权体现的一个方面,无线电频谱资源是国有资源,频谱划分是政府行为,每个国家都会按照自己本国的情况制定无线频谱政策。所以,国外产品进入中国以及国产设备在国内市场销售使用都必须符合我国无线电管理相关规定。   从无线电管理的侧重点而言,无线电设备检测是从设备方面把住了第一关。薛永刚说,检测的根本目的是保证无线电频谱资源和卫星轨道资源的有效利用。在频谱已经规划好的情况下,各种无线设备应该发射多大功率、占用多少带宽,在什么地方能用,什么地方不能用等等有严格规定。拿汽车作个比喻,无线电检测就像是检测汽车合不合格,而无线电监测就是要监督并保障不同类型的汽车跑不同的车道。   适应市场需求,检测中心应运而生   近年来,我国无线电事业持续快速发展,各种无线电产品层出不穷,型号核准所涵盖的产品越来越多,小到无线话筒、无线门铃,汽车及家电的遥控器,无绳电话机、微波炉,大到通信、雷达、卫星及各种军用民用电子电气产品,都要进行型号核准,简单一句话,只要产品能向外发射、泄漏电磁波,就要进行无线电检测、监测和型号核准。为了满足企业的需求,尤其是适应3G技术的应用与发展,国家无线电监测中心组建了第三方检测机构“国家无线电监测中心检测中心”,并于2009年4月20日正式向社会开展服务。据薛永刚介绍,检测中心承担原来由国家无线电监测中心设备检测处承担的型号核准检测工作,为广大用户提供型号核准检测、国际认证检测和检测系统集成等服务。   事实上,为了更好地为企业服务特别是为中小企业服务,提高无线电设备检测工作的水平,工业和信息化部已经在全国范围内批准了9家无线电设备型号核准检测机构,而国家无线电检测中心则是其中最大的一家,并且也是实力最强的一家。   薛永刚表示,检测中心成立后,将引入社会化服务,使检测业务更好拓展和延伸,更好地提升服务质量。   第一,更好地帮助企业走向规范化道路。不论是在国内还是在国外,无线电设备的型号核准工作要求非常严格,一些中小企业,他们的产品要在市场上立足,要出口国外市场,需要符合国内和国外的无线电产品标准,但这些企业技术能力弱,市场份额小,产品开发不规范,检测中心给他们提供委托测试服务,并且会反馈不合格的项目,提供解决方案方面的咨询服务,帮助他们逐渐完善和改善产品的辐射特性。   第二,在检测时间上,将大大缩短。为了确保无线电设备对于无线电频谱资源的有效利用,帮助企业提高产品质量,特别是无线电发射的产品质量,同时尽可能地缩短检测时间,检测中心对实验室从人力和检测设备上进行了大规模投入,总金额达3亿多元,购置了更多先进的仪器仪表。目前,检测中心对手机的检测时间缩短到5~8个工作日。   第三,服务前移,贴近企业,贴近市场。深圳是我国电子工业非常发达的城市,生产无线电产品的企业数量很多。2009年11月27日,检测中心在深圳市福田区设立“国家无线电监测中心检测中心深圳实验室”签约仪式举行。建立这个实验室的目的,是为当地的电子通信企业提供上门的检测服务,为深圳及珠三角地区的无线电设备生产企业提供型号核准一站式服务,以及国内、国际认证一体化服务,企业不用出门就能做检测,大大节省了差旅费和时间。不仅如此,检测中心建立这样一个无线电设备检测的南方基地,将缩短电子产品的上市周期,进一步完善深圳及珠三角地区电子信息产业链的核心环节,强化产业的国际竞争力和辐射能力,为深圳市及周边城市建设国家创新型城市增加新的活力,也必将带动物联网、无线感知、射频识别、汽车电子等相关产业的进一步发展,进而加快深圳市的经济建设步伐。薛永刚表示,深圳模式只是检测中心贴近企业走出的第一步,检测中心还将根据国家布局,逐步扩展实验室区域。   提升检测技术和方法的先进性   无线设备检测遵循的是无线电管理部门对于无线电设备使用的有关规范,和按照这个规范所制订的相关标准。没有标准,无线电设备检测就成了无本之木。薛永刚介绍说,国家无线电检测中心正在做的,就是取得标准制订的主导权。他说,检测中心目前正在加大投入研究行业标准,缩短检测标准和规定的衔接周期,即管理文件形成以后,要在最短的时间内形成检测标准,及时让用户知晓标准,这样,用户产品检测的通过率将大大提高。据了解,检测中心已经成立了专门的标准起草部门,目前已经有三项具有一定影响力的国家标准起草任务。   检测中心积极跟踪技术发展趋势,适应市场需求,针对一些新的领域,走在产品生产的前头,只要有新的产品推出,就会推出相应产品的检测服务。据了解,近年来,非移动通信(不属于移动通信范畴)无线电业务增长迅速,包括物联网、RFID、超宽带产品、无线视频等,检测中心在这些产品研制阶段就已经着手研究相应产品的检测标准以及检测的设施和手段。2009年中国3G业务正式启动,而检测中心早在前两年就已经投资1.2亿多元搭建了针对三个3G标准的检测环境和设备。对于RFID,中心投资了2000万元自主开发了测试平台,该项目得到了国家科技部863重大专项的资助。记者在参观检测中心的时候看到,检测中心所涉及的范围,基本上包括了所有无线产品,其中就有目前最前沿的技术和产品。   进行基础性研究,改良检测方法,是检测中心正在做的又一项旨在领先检测市场的工作。无线技术应用的领域越来越宽,除了通信,其他领域,比如医疗领域的应用也非常广泛,并且产品越来越多样化,比如心脏起搏器、血糖测量仪等。对于这些和传统通信有别的无线应用,检测中心引入大量人才进行基础性研究,和检测方法的研究。据薛永刚介绍,目前,检测中心共有100多人,其中研发人员都是高学历人员,且具有大型企业和国外大型研究机构的工作经验,他们也在研究如何提高测试效率。   无线设备检测最重要的是检测方法和检测设备。目前,我国的检测仪表仪器大都依赖进口,这使我国的无线电产品检测业务在很大程度上受制于人。检测中心在大力改进检测方法和手段的同时,也在进行一些仪器仪表的开发研究工作。   另外,检测中心新成立的研发部门根据实际的检测工作需要,设计了自动化的测试程序,可以大大缩短检测的时间并避免了测试错误。薛永刚说:“我们曾经和国外的权威检测机构进行过数据比对,结果基本上是一致的,差别不大”。   加强国际合作,开拓国际市场   在中国,国家无线电检测中心的权威性是毋庸置疑的,一些大的公司,如中兴、华为、爱立信等,其产品大都在检测中心进行检测。不仅如此,检测中心和一些国外检测机构,一些行业或技术联盟实现了合作,为中国企业和中国产品走向国际提供了便利。   国内企业的产品要出口国外,一定要通过出口地国家的无线电检测认证,以前,企业每推出一款产品,就需要派人去这些国家的相关检测机构进行产品检测认证,不仅花费了大量的检测费用,而且推迟了产品的上市时间,影响企业发展。随着检测中心国际合作的日益密切,国内企业的产品不再需要送产品到国外去检测,只需到检测中心进行检测认证,便可获得相关国家的认可,为企业节省费用和时间。目前,检测中心已经可以做的国际认证包括欧盟的CE和美图的FCC等标准。薛永刚介绍,2009年,检测中心的国际认证业务增长很快,客户在这里进行型号核准的同时,还可做国际认证的检测,可谓是一次检测拿两个认证,所以很受客户欢迎,这也是检测中心服务客户的举措。   另外,一些行业组织和联盟,比如蓝牙技术联盟,他们对这种技术拥有专利使用权,企业如果生产这种技术的产品,需要经过这些机构的认可。检测中心基于和这些机构或联盟的合作,其对相关产品的检测得到了他们的认可。   由于得到了国际认可,检测中心也获得了越来越多跨国企业的信赖。薛永刚向记者举了个例子:有一个知名设备商,他们在国外拥有自己的测试实验室,由于成本很高,他们委托检测中心对他们的产品进行检测,并且用了一年的时间对自己实验室的检测数据和检测中心的检测数据进行比对,其结果是,检测中心的检测完全准确合格。为了节约成本,该公司关闭了本土的检测实验室,把检测中心作第三方检测机构。   采访中, 薛永刚主任简要介绍了检测中心2010年的工作,主要是要大力发展多项业务支撑的检测业务。首先仍是型号核准业务 第二,将为客户提供高附加值的业务,包括技术研发业务、运营商招标测试业务,还有一些国家核心部门的委托测试业务 第三,通过技术研发,实现管理工作的标准化 第四,继续开展一些国家科技主管部门的主导专项工作,像制定标准和专项课题等等,从而提升检测中心的影响。
  • 1162万!广西壮族自治区计量检测研究院计量标准仪器设备采购项目
    一、项目基本情况 项目编号:GXZC2024-G1-005205-GSZB 项目名称:计量标准仪器设备采购 预算总金额(元):11620000 采购需求:标项一标项名称:计量标准仪器设备采购A分标数量:13预算金额(元):6070000简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:砝码智能提升系统1套、比较法中频振动标准装置1套、转速标准装置1套、带弹簧管压力表的气体减压器校准装置1套、压力变送器现场在线检定装置1套、220kV电力互感器检定装置1套、线宽测量装置1套、医用漏电流测试仪检定装置1套、电池充放电测试仪校准装置1套、汽车排气污染物检测用底盘测功机校准装置1套、呼出气体酒精含量检测仪检定装置1套、非接触式汽车速度计校准装置1套、在线非接触式四轮定位仪校准装置1套。具体内容详见招标文件。最高限价(如有):6070000合同履约期限:自签订合同之日起1年内交付使用并通过验收本标项(否)接受联合体投标备注:标项二标项名称:计量标准仪器设备采购B分标数量:26预算金额(元):5550000简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:聚合酶联反应分析(PCR)仪温场校准装置2套、多参数监护仪检定装置2套、数字心脑电图机检定装置1套、血液透析校准装置1套、医用诊断X射线辐射源剂量仪(CT)1台、婴儿培养箱检测仪2台、在线尘埃粒子计数器校准装置1套、自动玻璃密度计校准系统1套、生物安全柜质量检测装置1套、环境空气在线监测气体分析仪校准装置1套、气溶胶光度计校准装置1套、微量氧分析仪1台、药品冷藏箱1台、安瓿瓶封装机1台、箱式电阻炉校准装置2套、低露点发生装置系统1套、直流标准功率源1台、无线实时高温高湿检测装置1套、真空干燥箱校准装置1套、数字水准仪1台、关节臂校准装置1套、X射线荧光镀层测厚仪校准装置1套。具体内容详见招标文件。最高限价(如有):5550000合同履约期限:自签订合同之日起1年内交付使用并通过验收。本标项(否)接受联合体投标备注:二、获取招标文件 时间:2024年09月02日至2024年09月09日 ,每天上午00:00至11:59 ,下午12:00至23:59(北京时间,法定节假日除外) 地点(网址):“广西政府采购云平台”(https://www.gcy.zfcg.gxzf.gov.cn/) 方式:网上下载。本项目不发放纸质文件,供应商可自行在“广西政府采购云平台”(https://www.gcy.zfcg.gxzf.gov.cn)下载招标文件(操作路径:登录“广西政府采购云平台”-项目采购-获取采购文件-找到本项目-点击“申请获取采购文件”),电子投标文件制作需要基于“广西政府采购云平台”(https://www.gcy.zfcg.gxzf.gov.cn)获取的招标文件编制 售价(元):0 三、对本次采购提出询问,请按以下方式联系 1.采购人信息 名 称:广西壮族自治区计量检测研究院 地 址:南宁市邕宁区蒲庙镇永乐路30号 项目联系人:韦工 项目联系方式:0771-5726899 2.采购代理机构信息 名 称:广西国盛招标有限公司 地 址:广西南宁市青秀区朱槿路10号新加坡园区星岛国际303号 项目联系人:梁升 项目联系方式:0771-5828133
  • 地下金属管道防腐层探测检漏仪是目前界上广泛重视的稳定性、抗干扰的新颖仪器之
    地下金属管道防腐层探测检漏仪/地下金属管道防腐层探测检测仪 型号:WN-SL-6 【能及用途】本仪器是目前界上广泛重视的稳定性、抗干扰的新颖仪器之,它能在不挖开复土的情况下,方便而准确地查出地下管道的走向、深度和缘防腐层的漏蚀点的确位置,使整个管道表面不再屡遭到处开搪破土之苦,是油田、化、输油、输气、水电等为保证地下管道防腐层的施质量检查和维修检查的种探测仪器。 【特点】1、仪器电源采用日本可靠性原装开关电源,充电时实行智能快速充电,无需人控制。2、仪器电压、输出电流信号能够自动转换。3、直流电源与交流供电能自动转换。4、仪器采用抗干扰线路,特别实用于城市管网的普查与维护。5、发射机采用液晶显示,提了输出度与仪器的性能。6、仪器特设保护自动调节能,克服产品致命的弱点。7、仪器的线路采用模块化结构、三防设计,从而大大提仪器的野外使用寿命和可靠性。 【主要术标】 1.检漏度:≥0.25mm2;2.位置偏差:<20cm;3.准确率:>98%4适用范围:各种直径的油、气、水等地下防腐金属管道。()发射机术标:1.发射率:≥25W,可调;2.发射频率:1K±0.1Hz,节拍频率1-2Hz;3.输出阻抗匹配:0-100Ω;4.发射距离:50m-5Km(5公里以外可逐移动);5.作电流:≤3A,1-3A可调;6.作电源:12V(系镉镍电池或汽车电源);7.重  量:2.8Kg(不计电池重量);8.外形尺寸:99×220×220(二)探测仪术标:1.灵敏度:0.1mV;2.走向位置偏差:<10cm;3.探测深度:≤5m;4.作电源:6V镉镍蓄电池组;5.重量:0.9Kg;6.外形尺寸:165×135×69。(三)检漏仪术标:1.检漏度:≥0.25mm2;2.检漏深度:≥0.5m;3.位置偏差:<20cm;4.作电源:6V镉镍蓄电池组;5.重量:0.9Kg;6.外形尺寸:165×135×69。 【检测原理及方法】通过向地下管道发送出1KHz的电磁波信号,探测仪利用探头与磁力线地平面垂直相切时,收到的信号小(几乎为零)的原理来测定管道的走向和深度。 检漏原理:通过向地下管道发送个交流信号源,当地下管道防腐层被腐蚀后,该处金属分与大地相短路,在漏点处形成电流回路,将产生的漏点信号向地面辐射,并在漏点正上方辐射信号,根据这原理就可准确地找到漏蚀点。检漏方法:采用“人体电容法”,就是用人体做检漏仪的感应元件,当检漏员走到漏点附近时,检漏仪开始有反应,当走到漏点正上方时,喇叭中的声音响,表头示,从而准确找到漏蚀点。
  • 推动红外热成像气体泄漏检测应用,艾睿光电参与国内首个OGI团标制定
    《挥发性有机物泄漏检测红外成像仪(OGI)技术要求及监测规范》于2023年11月18日在江西吉安正式发布。作为团体标准副主编单位,艾睿光电全程参与并大力支持该团标的编制工作,推动红外热成像在气体检测行业的应用和发展。作为红外热成像领军者,艾睿光电推出了一系列气体检测红外热成像机芯及整机产品,包括GT系列、CG系列、G系列等,能够检测甲烷、一氧化碳、二氧化碳、六氟化硫等多种VOC气体。积极部署三大技术密码极力解决行业难题一、 AI预警,快速定位泄漏点连续多帧气体目标的动态学习,实现AI识别预警,快速定位泄漏区域。二、 气体着色,让危险无处可藏将红外热成像视频流中泄漏气体的运动痕迹分割提取并彩色标注的增强显示方法,极大地提高人眼识别能力,让气体泄漏清晰可见。三、超长寿命,让客户无后顾之忧GT系列在线气体检测红外热成像采用线性制冷技术,寿命高达20000小时以上,非制冷产品更是无寿命限制,极大地降低维护成本。作为红外热成像领军者,艾睿光电凭借芯片能力、技术优势、产业集群优势,破解能源化工用户气体检测痛点。未来,艾睿光电将继续坚持红外热成像气体检测技术的研发和创新,为行业提供更多产品和解决方案。
  • 宁波电气安检中心“能力验证”获佳绩
    近日,宁波电气安检中心(余姚实验室)接到中国合格评定国家认可委员会(CNAS)颁发的关于参加CNAS T0439电子电器产品接触电流(泄漏电流)试验的能力验证计划结果通知单,对该实验室所提交的测试结果认定为满意结果。这是余姚实验室首次参加此类项目的能力验证活动并一次性取得满意结果。   余姚电气实验室自2004年至今,已在所参加由国家认监委及CNAS组织的材料球压试验、变压器绕组温升测量、爬电距离和电气间隙测量、材料灼热丝试验、电源适配器输入输出参数测量、节能灯能效测试、接地电阻测量、输入插口插脚温升测试等多个产品类别、多个关键性检测项目能力验证活动中均一次性取得满意结果。该实验室十分重视能力验证活动的参与,将其作为外部质量评价的重要手段,并结合实验室的内部质量控制,不断提高检测技术和能力水平,积极为实验室向更高目标迈进创造有利条件。
  • 【综述】碳化硅中的缺陷检测技术
    摘要随着对性能优于硅基器件的碳化硅(SiC)功率器件的需求不断增长,碳化硅制造工艺的高成本和低良率是尚待解决的最紧迫问题。研究表明,SiC器件的性能很大程度上受到晶体生长过程中形成的所谓杀手缺陷(影响良率的缺陷)的影响。在改进降低缺陷密度的生长技术的同时,能够识别和定位缺陷的生长后检测技术已成为制造过程的关键必要条件。在这篇综述文章中,我们对碳化硅缺陷检测技术以及缺陷对碳化硅器件的影响进行了展望。本文还讨论了改进现有检测技术和降低缺陷密度的方法的潜在解决方案,这些解决方案有利于高质量SiC器件的大规模生产。前言由于电力电子市场的快速增长,碳化硅(SiC,一种宽禁带半导体)成为开发用于电动汽车、航空航天和功率转换器的下一代功率器件的有前途的候选者。与由硅或砷化镓(GaAs)制成的传统器件相比,基于碳化硅的电力电子器件具有多项优势。表1显示了SiC、Si、GaAs以及其他宽禁带材料(如GaN和金刚石)的物理性能的比较。由于具有宽禁带(4H-SiC为~3.26eV),基于SiC器件可以在更高的电场和更高的温度下工作,并且比基于Si的电力电子器件具有更好的可靠性。SiC还具有优异的导热性(约为Si的三倍),这使得SiC器件具有更高的功率密度封装,具有更好的散热性。与硅基功率器件相比,其优异的饱和电子速度(约为硅的两倍)允许更高的工作频率和更低的开关损耗。SiC优异的物理特性使其非常有前途地用于开发各种电子设备,例如具有高阻断电压和低导通电阻的功率MOSFET,以及可以承受大击穿场和小反向漏电流的肖特基势垒二极管(SBD)。性质Si3C-SiC4H-SiCGaAsGaN金刚石带隙能量(eV)1.12.23.261.433.455.45击穿场(106Vcm−1)0.31.33.20.43.05.7导热系数(Wcm−1K−1)1.54.94.90.461.322饱和电子速度(107cms−1)1.02.22.01.02.22.7电子迁移率(cm2V−1s−1)150010001140850012502200熔点(°C)142028302830124025004000表1电力电子用宽禁带半导体与传统半导体材料的物理特性(室温值)对比提高碳化硅晶圆质量对制造商来说很重要,因为它直接决定了碳化硅器件的性能,从而决定了生产成本。然而,低缺陷密度的SiC晶圆的生长仍然非常具有挑战性。最近,碳化硅晶圆制造的发展已经完成了从100mm(4英寸)到150mm(6英寸)晶圆的艰难过渡。SiC需要在高温环境中生长,同时具有高刚性和化学稳定性,这导致生长的SiC晶片中存在高密度的晶体和表面缺陷,导致衬底和随后制造的外延层质量差。图1总结了SiC中的各种缺陷以及这些缺陷的工艺步骤,下一节将进一步讨论。图1SiC生长过程示意图及各步骤引起的各种缺陷各种类型的缺陷会导致设备性能不同程度的劣化,甚至可能导致设备完全失效。为了提高良率和性能,在设备制造之前检测缺陷的技术变得非常重要。因此,快速、高精度、无损的检测技术在碳化硅生产线中发挥着重要作用。在本文中,我们将说明每种类型的缺陷及其对设备性能的影响。我们还对不同检测技术的优缺点进行了深入的讨论。这篇综述文章中的分析不仅概述了可用于SiC的各种缺陷检测技术,还帮助研究人员在工业应用中在这些技术中做出明智的选择(图2)。表2列出了图2中检测技术和缺陷的首字母缩写。图2可用于碳化硅的缺陷检测技术表2检测技术和缺陷的首字母缩写见图SEM:扫描电子显微镜OM:光学显微镜BPD:基面位错DIC:微分干涉对比PL:光致发光TED:螺纹刃位错OCT:光学相干断层扫描CL:阴极发光TSD:螺纹位错XRT:X射线形貌术拉曼:拉曼光谱SF:堆垛层错碳化硅的缺陷碳化硅晶圆中的缺陷通常分为两大类:(1)晶圆内的晶体缺陷和(2)晶圆表面处或附近的表面缺陷。正如我们在本节中进一步讨论的那样,晶体学缺陷包括基面位错(BPDs)、堆垛层错(SFs)、螺纹刃位错(TEDs)、螺纹位错(TSDs)、微管和晶界等,横截面示意图如图3(a)所示。SiC的外延层生长参数对晶圆的质量至关重要。生长过程中的晶体缺陷和污染可能会延伸到外延层和晶圆表面,形成各种表面缺陷,包括胡萝卜缺陷、多型夹杂物、划痕等,甚至转化为产生其他缺陷,从而对器件性能产生不利影响。图3SiC晶圆中出现的各种缺陷。(a)碳化硅缺陷的横截面示意图和(b)TEDs和TSDs、(c)BPDs、(d)微管、(e)SFs、(f)胡萝卜缺陷、(g)多型夹杂物、(h)划痕的图像生长在4°偏角4H-SiC衬底上的SiC外延层是当今用于各种器件应用的最常见的晶片类型。在4°偏角4H-SiC衬底上生长的SiC外延层是当今各种器件应用中最常用的晶圆类型。众所周知,大多数缺陷的取向与生长方向平行,因此,SiC在SiC衬底上以4°偏角外延生长不仅保留了下面的4H-SiC晶体,而且使缺陷具有可预测的取向。此外,可以从单个晶圆上切成薄片的晶圆总数增加。然而,较低的偏角可能会产生其他类型的缺陷,如3C夹杂物和向内生长的SFs。在接下来的小节中,我们将讨论每种缺陷类型的详细信息。晶体缺陷螺纹刃位错(TEDs)、螺纹位错(TSDs)SiC中的位错是电子设备劣化和失效的主要来源。螺纹刃位错(TSDs)和螺纹位错(TEDs)都沿生长轴运行,Burgers向量分别为和1/3。TSDs和TEDs都可以从衬底延伸到晶圆表面,并带来小的凹坑状表面特征,如图3b所示。通常,TEDs的密度约为8000-10,0001/cm2,几乎是TSDs的10倍。扩展的TSDs,即TSDs从衬底延伸到外延层,可能在SiC外延生长过程中转化为基底平面上的其他缺陷,并沿生长轴传播。Harada等人表明,在SiC外延生长过程中,TSDs被转化为基底平面上的堆垛层错(SFs)或胡萝卜缺陷,而外延层中的TEDs则被证明是在外延生长过程中从基底继承的BPDs转化而来的。基面位错(BPDs)另一种类型的位错是基面位错(BPDs),它位于SiC晶体的平面上,Burgers矢量为1/3。BPDs很少出现在SiC晶圆表面。它们通常集中在衬底上,密度为15001/cm2,而它们在外延层中的密度仅为约101/cm2。Kamei等人报道,BPDs的密度随着SiC衬底厚度的增加而降低。BPDs在使用光致发光(PL)检测时显示出线形特征,如图3c所示。在SiC外延生长过程中,扩展的BPDs可能转化为SFs或TEDs。微管在SiC中观察到的常见位错是所谓的微管,它是沿生长轴传播的空心螺纹位错,具有较大的Burgers矢量分量。微管的直径范围从几分之一微米到几十微米。微管在SiC晶片表面显示出大的坑状表面特征。从微管发出的螺旋,表现为螺旋位错。通常,微管的密度约为0.1–11/cm2,并且在商业晶片中持续下降。堆垛层错(SFs)堆垛层错(SFs)是SiC基底平面中堆垛顺序混乱的缺陷。SFs可能通过继承衬底中的SFs而出现在外延层内部,或者与扩展BPDs和扩展TSDs的变换有关。通常,SFs的密度低于每平方厘米1个,并且通过使用PL检测显示出三角形特征,如图3e所示。然而,在SiC中可以形成各种类型的SFs,例如Shockley型SFs和Frank型SFs等,因为晶面之间只要有少量的堆叠能量无序可能导致堆叠顺序的相当大的不规则性。点缺陷点缺陷是由单个晶格点或几个晶格点的空位或间隙形成的,它没有空间扩展。点缺陷可能发生在每个生产过程中,特别是在离子注入中。然而,它们很难被检测到,并且点缺陷与其他缺陷的转换之间的相互关系也是相当的复杂,这超出了本文综述的范围。其他晶体缺陷除了上述各小节所述的缺陷外,还存在一些其他类型的缺陷。晶界是两种不同的SiC晶体类型在相交时晶格失配引起的明显边界。六边形空洞是一种晶体缺陷,在SiC晶片内有一个六边形空腔,它已被证明是导致高压SiC器件失效的微管缺陷的来源之一。颗粒夹杂物是由生长过程中下落的颗粒引起的,通过适当的清洁、仔细的泵送操作和气流程序的控制,它们的密度可以大大降低。表面缺陷胡萝卜缺陷通常,表面缺陷是由扩展的晶体缺陷和污染形成的。胡萝卜缺陷是一种堆垛层错复合体,其长度表示两端的TSD和SFs在基底平面上的位置。基底断层以Frank部分位错终止,胡萝卜缺陷的大小与棱柱形层错有关。这些特征的组合形成了胡萝卜缺陷的表面形貌,其外观类似于胡萝卜的形状,密度小于每平方厘米1个,如图3f所示。胡萝卜缺陷很容易在抛光划痕、TSD或基材缺陷处形成。多型夹杂物多型夹杂物,通常称为三角形缺陷,是一种3C-SiC多型夹杂物,沿基底平面方向延伸至SiC外延层表面,如图3g所示。它可能是由外延生长过程中SiC外延层表面上的下坠颗粒产生的。颗粒嵌入外延层并干扰生长过程,产生了3C-SiC多型夹杂物,该夹杂物显示出锐角三角形表面特征,颗粒位于三角形区域的顶点。许多研究还将多型夹杂物的起源归因于表面划痕、微管和生长过程的不当参数。划痕划痕是在生产过程中形成的SiC晶片表面的机械损伤,如图3h所示。裸SiC衬底上的划痕可能会干扰外延层的生长,在外延层内产生一排高密度位错,称为划痕,或者划痕可能成为胡萝卜缺陷形成的基础。因此,正确抛光SiC晶圆至关重要,因为当这些划痕出现在器件的有源区时,会对器件性能产生重大影响。其他表面缺陷台阶聚束是SiC外延生长过程中形成的表面缺陷,在SiC外延层表面产生钝角三角形或梯形特征。还有许多其他的表面缺陷,如表面凹坑、凹凸和污点。这些缺陷通常是由未优化的生长工艺和不完全去除抛光损伤造成的,从而对器件性能造成重大不利影响。检测技术量化SiC衬底质量是外延层沉积和器件制造之前必不可少的一步。外延层形成后,应再次进行晶圆检查,以确保缺陷的位置已知,并且其数量在控制之下。检测技术可分为表面检测和亚表面检测,这取决于它们能够有效地提取样品表面上方或下方的结构信息。正如我们在本节中进一步讨论的那样,为了准确识别表面缺陷的类型,通常使用KOH(氢氧化钾)通过在光学显微镜下将其蚀刻成可见尺寸来可视化表面缺陷。然而,这是一种破坏性的方法,不能用于在线大规模生产。对于在线检测,需要高分辨率的无损表面检测技术。常见的表面检测技术包括扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)、光学显微镜(OM)和共聚焦微分干涉对比显微镜(CDIC)等。对于亚表面检测,常用的技术包括光致发光(PL)、X射线形貌术(XRT)、镜面投影电子显微镜(MPJ)、光学相干断层扫描(OCT)和拉曼光谱等。在这篇综述中,我们将碳化硅检测技术分为光学方法和非光学方法,并在以下各节中对每种技术进行讨论。非光学缺陷检测技术非光学检测技术,即不涉及任何光学探测的技术,如KOH蚀刻和TEM,已被广泛用于表征SiC晶圆的质量。这些方法在检测SiC晶圆上的缺陷方面相对成熟和精确。然而,这些方法会对样品造成不可逆转的损坏,因此不适合在生产线中使用。虽然存在其他非破坏性的检测方法,如SEM、CL、AFM和MPJ,但这些方法的通量较低,只能用作评估工具。接下来,我们简要介绍上述非光学技术的原理。还讨论了每种技术的优缺点。透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜(TEM)可用于以纳米级分辨率观察样品的亚表面结构。透射电镜利用入射到碳化硅样品上的加速电子束。具有超短波长和高能量的电子穿过样品表面,从亚表面结构弹性散射。SiC中的晶体缺陷,如BPDs、TSDs和SFs,可以通过TEM观察。扫描透射电子显微镜(STEM)是一种透射电子显微镜,可以通过高角度环形暗场成像(HAADF)获得原子级分辨率。通过TEM和HAADF-STEM获得的图像如图4a所示。TEM图像清晰地显示了梯形SF和部分位错,而HAADF-STEM图像则显示了在3C-SiC中观察到的三种SFs。这些SFs由1、2或3个断层原子层组成,用黄色箭头表示。虽然透射电镜是一种有用的缺陷检测工具,但它一次只能提供一个横截面视图,因此如果需要检测整个碳化硅晶圆,则需要花费大量时间。此外,透射电镜的机理要求样品必须非常薄,厚度小于1μm,这使得样品的制备相当复杂和耗时。总体而言,透射电镜用于了解缺陷的基本晶体学,但它不是大规模或在线检测的实用工具。图4不同的缺陷检测方法和获得的缺陷图像。(a)SFs的TEM和HAADF图像;(b)KOH蚀刻后的光学显微照片图像;(c)带和不带SF的PL光谱,而插图显示了波长为480nm的单色micro-PL映射;(d)室温下SF的真彩CLSEM图像;(e)各种缺陷的拉曼光谱;(f)微管相关缺陷204cm−1峰的微拉曼强度图KOH蚀刻KOH蚀刻是另一种非光学技术,用于检测多种缺陷,例如微管、TSDs、TEDs、BDPs和晶界。KOH蚀刻后形成的图案取决于蚀刻持续时间和蚀刻剂温度等实验条件。当将约500°C的熔融KOH添加到SiC样品中时,在约5min内,SiC样品在有缺陷区域和无缺陷区域之间表现出选择性蚀刻。冷却并去除SiC样品中的KOH后,存在许多具有不同形貌的蚀刻坑,这些蚀刻坑与不同类型的缺陷有关。如图4b所示,位错产生的大型六边形蚀刻凹坑对应于微管,中型凹坑对应于TSDs,小型凹坑对应于TEDs。KOH刻蚀的优点是可以一次性检测SiC样品表面下的所有缺陷,制备SiC样品容易,成本低。然而,KOH蚀刻是一个不可逆的过程,会对样品造成永久性损坏。在KOH蚀刻后,需要对样品进行进一步抛光以获得光滑的表面。镜面投影电子显微镜(MPJ)镜面投影电子显微镜(MPJ)是另一种很有前途的表面下检测技术,它允许开发能够检测纳米级缺陷的高通量检测系统。由于MPJ反映了SiC晶圆上表面的等电位图像,因此带电缺陷引起的电位畸变分布在比实际缺陷尺寸更宽的区域上。因此,即使工具的空间分辨率为微米级,也可以检测纳米级缺陷。来自电子枪的电子束穿过聚焦系统,均匀而正常地照射到SiC晶圆上。值得注意的是,碳化硅晶圆受到紫外光的照射,因此激发的电子被碳化硅晶圆中存在的缺陷捕获。此外,SiC晶圆带负电,几乎等于电子束的加速电压,使入射电子束在到达晶圆表面之前减速并反射。这种现象类似于镜子对光的反射,因此反射的电子束被称为“镜面电子”。当入射电子束照射到携带缺陷的SiC晶片时,缺陷的带负电状态会改变等电位表面,导致反射电子束的不均匀性。MPJ是一种无损检测技术,能够对SiC晶圆上的静电势形貌进行高灵敏度成像。Isshiki等人使用MPJ在KOH蚀刻后清楚地识别BPDs、TSDs和TEDs。Hasegawa等人展示了使用MPJ检查的BPDs、划痕、SFs、TSDs和TEDs的图像,并讨论了潜在划痕与台阶聚束之间的关系。原子力显微镜(AFM)原子力显微镜(AFM)通常用于测量SiC晶圆的表面粗糙度,并在原子尺度上显示出分辨率。AFM与其他表面检测方法的主要区别在于,它不会受到光束衍射极限或透镜像差的影响。AFM利用悬臂上的探针尖端与SiC晶圆表面之间的相互作用力来测量悬臂的挠度,然后将其转化为与表面缺陷特征外观成正比的电信号。AFM可以形成表面缺陷的三维图像,但仅限于解析表面的拓扑结构,而且耗时长,因此通量低。扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜(SEM)是另一种广泛用于碳化硅晶圆缺陷分析的非光学技术。SEM具有纳米量级的高空间分辨率。加速器产生的聚焦电子束扫描SiC晶圆表面,与SiC原子相互作用,产生二次电子、背散射电子和X射线等各种类型的信号。输出信号对应的SEM图像显示了表面缺陷的特征外观,有助于理解SiC晶体的结构信息。但是,SEM仅限于表面检测,不提供有关亚表面缺陷的任何信息。阴极发光(CL)阴极发光(CL)光谱利用聚焦电子束来探测固体中的电子跃迁,从而发射特征光。CL设备通常带有SEM,因为电子束源是这两种技术的共同特征。加速电子束撞击碳化硅晶圆并产生激发电子。激发电子的辐射复合发射波长在可见光谱中的光子。通过结合结构信息和功能分析,CL给出了样品的完整描述,并直接将样品的形状、大小、结晶度或成分与其光学特性相关联。Maximenko等人显示了SFs在室温下的全彩CL图像,如图4d所示。不同波长对应的SFs种类明显,CL发现了一种常见的单层Shockley型堆垛层错,其蓝色发射在~422nm,TSD在~540nm处。虽然SEM和CL由于电子束源而具有高分辨率,但高能电子束可能会对样品表面造成损伤。基于光学的缺陷检测技术为了在不损失检测精度的情况下实现高吞吐量的在线批量生产,基于光学的检测方法很有前途,因为它们可以保存样品,并且大多数可以提供快速扫描能力。表面检测方法可以列为OM、OCT和DIC,而拉曼、XRT和PL是表面下检测方法。在本节中,我们将介绍每种检测方法的原理,这些方法如何应用于检测缺陷,以及每种方法的优缺点。光学显微镜(OM)
  • 甲烷嗅探卫星 监测全球“漏点”
    谈及气候变化,二氧化碳通常是焦点,但未来几十年,削减甲烷排放可能对控制全球变暖产生更大的影响。据《自然》报道,在一颗即将从美国加利福尼亚州发射的卫星的帮助下,政府部门和企业终于有了一个工具,能帮助它们精确定位地球上的甲烷热点并堵住泄漏。MethaneSAT概念图。图片来源:BAE Systems这颗名为MethaneSAT的卫星耗资约8800万美元,旨在为观测全球油气田、农业设施和垃圾填埋场排放的甲烷提供全新视角。卫星运营方将与美国谷歌公司合作,利用一个大气模型处理来自卫星的数据。该模型可以追踪空气中的甲烷及其地面来源。谷歌还计划使用人工智能算法绘制全球油气田基础设施地图,并确定污染来源。美国环境保护基金会领导了MethaneSAT的开发。“这将是我们第一次获得温室气体的此类信息。”该组织首席科学家Steven Hamburg表示,MethaneSAT将通过“彻底的透明度”实现政府和企业的问责制。MethaneSAT起源于大约10年前帮助揭示美国油气田污染程度的航空器运动。环境保护基金会随后与学术界和工业界合作,进行一系列研究,记录了美国各地的甲烷排放量,最终表明石油和天然气部门的甲烷排放量比官方估计高60%。在这项工作的基础上,它们组织了一个团队设计这颗卫星。2018年,环境保护基金会及美国哈佛大学的主要科学合作伙伴通过“大胆计划”获得了启动资金,用于开发甲烷卫星。MethaneSAT与众不同之处在于高分辨率测量。如果成功,环境保护基金会将成为第一个开发出这种科学口径卫星的环保组织。“我们正在适应一个无人区。”哈佛大学大气科学家、MethaneSAT技术团队负责人Steve Wofsy说。MethaneSAT每天从大约30块面积为200平方公里的土地上向地球传输图像。这足以完成其监测全球油气田、农业设施的核心任务。对于运营方来说,最大的问题是卫星数据是否真的会推动相关部门采取行动,有所作为。环境保护基金会大气科学家Ilissa Ocko表示:“如果我们能够消除甲烷排放,那么在未来几十年里,基本上可以将全球变暖幅度减半。其中,石油和天然气行业可以在几乎没有额外成本的情况下,减少大部分甲烷排放。”
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制