平面光极检测

一, GTI 啁啾激光反射镜 1030nmGIRES-TOURNOIS-INTERFEROMETER (GTI)啁啾反射镜用于短脉冲激光器（如Yb:YAG或Yb:KGW激光器）中的脉冲压缩。筱晓还为钛宝石波长范围和其他近红外光谱范围的飞秒激光提供GTI反射镜。与棱镜压缩器相比，GTI反射镜减少了腔内损耗。GTI 啁啾激光反射镜 1030nm,GTI 啁啾激光反射镜 1030nm通用参数特点&bull 非常高的反射率&bull 中心波长、带宽和GDD符合客户规格请注意，带宽和GDD是紧密相连的。&bull 负GDD的高值会导致非常窄的带宽光谱&bull 公差为中心波长的±1%。&bull 内部设计计算和测量能力（GDD 250–1700 nm，CRD 210–1800 nm的反射率测量）产品应用● 脉冲压缩● 超快激光器● 光通道诊断 参数材质红外级熔融石英 Infrasil形状圆形直径(Ø )12.7，25.4 mm ,50.8(-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5ʹ 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 Ø e20测试区 Ø e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004 内部测试区Ø e 10清洁度 5/2x0.016//5minS1: commercial polish | chamfer 0.3 uncoatedS2(^): Ø e10 | 3/0.2(0.2) [L/10] | 5/2x0.025 L1x0.004 | chamfer 0.3 HRu(10°,1030nm)99.9% GDD-Rp(10°,1030nm)= -2500(±500)fs² 有关操作功率【1】 [1]. ≈ 0.1 J/cm² , 800 nm, 150 fs,Measurements were performed at Laser Zentrum Hannover相关测试GTI&thinsp -&thinsp MIRRORS 应用在Yb:YAG&hairsp - AND Yb:KGW-&hairsp LASERS图4:GDD（0°-10°，1030 nm）~-700 fs2的后侧GTI后视镜的GDD光谱。反射镜通过正面有AR涂层的基板进行照射。背面GTI反射镜对表面污染不敏感，表面污染有时会扭曲正面GTI反射镜的GDD光谱二, 光腔衰荡低色散高反射镜片,标准版激光反射镜 1550nm损耗急低的激光光学器件，对于要求急低损耗的镀膜光学器件应用, 筱晓光子可提供R 99.995 %、总损失小于10 ppm的反射镜。此类超级反射镜片可用于环形激光器陀螺仪组件或光腔衰荡应用。对超抛光基材加工低吸收、低散射镀膜时，我们会采用改进型IBS镀膜机。而为了保证清洁度，此类机器会存放在专用的超清洁室内，并且与生产相关的基材预处理和后期处理流程全部在此清洁室内完成。 此外，超清洁室内还配置有多种测量设备，如检测流程所使用的白光表面光度仪和高分辨率显微镜。利用定制光腔衰荡设置可以确定反射量（精度可达小数点后四位）以及损耗。 而测定以上数值必须使用表面粗糙度小于 1 &angst rms的超抛光基材。为了保证反射镜成品的品质，还会使用白光表面光度仪进行质量检测光腔衰荡低色散高反射镜片,标准版激光反射镜 1550nm,光腔衰荡低色散高反射镜片,标准版激光反射镜 1550nm技术参数产品特点：低损耗可定制不同尺寸入射角：0deg/45deg可选 应用领域：TDLAS光腔衰荡 产品名称140977 标准版激光反射镜类别低色散激光镜片激光器类别Yb:YAG-激光器激光器类型Nd:YAG-激光器涂覆层材料(下面)137683涂覆层材料(背面)140851光学参数材质红外硅302形状圆形直径(Ø )25 mm (-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5ʹ 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 Ø e20测试区 Ø e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004内部测试区Ø e 10清洁度 5/2x0.016涂覆层规格 正面(S2) (137683)涂覆层规格 背面(S1) (140851)1st 工作范围 高反射(0°,1550nm)99.99%1st 工作范围 减反射(0°,1450-1650nm)0.2%类别 高反射率偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1550 nm高反射 99.99 %类别 减反射偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1450 - 1650 nm AR / HT 0.2 %2nd 工作范围 T(0°,1550nm)~0.005%类别 透射率偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1550 nmHT ~ 0.005 %三, LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1550nm损耗急低的激光光学器件，对于要求急低损耗的镀膜光学器件应用, 筱晓光子可提供R 99.995 %、总损失小于10 ppm的反射镜。此类超级反射镜片可用于环形激光器陀螺仪组件或光腔衰荡应用。对超抛光基材加工低吸收、低散射镀膜时，我们会采用改进型IBS镀膜机。而为了保证清洁度，此类机器会存放在专用的超清洁室内，并且与生产相关的基材预处理和后期处理流程全部在此清洁室内完成。 此外，超清洁室内还配置有多种测量设备，如检测流程所使用的白光表面光度仪和高分辨率显微镜。利用定制光腔衰荡设置可以确定反射量（精度可达小数点后四位）以及损耗。 而测定以上数值必须使用表面粗糙度小于 1 &angst rms的超抛光基材。为了保证反射镜成品的品质，还会使用白光表面光度仪进行质量检测LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1550nm, LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1550nm通用参数产品特点：低损耗可定制不同尺寸入射角：0deg 应用领域：TDLAS光腔衰荡 产品名称149595标准版激光平面反射镜类别低损耗光学器件涂覆层材料(下面)137683涂覆层材料(背面)140851光学通用参数材质Infrasil 302形状圆形直径(Ø )25 mm (-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)平行度5ʹ 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状平面形状平面倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区(Test area) Ø e21测试区(Test area) Ø e21表面形状公差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]表面形状公差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]清洁度5/1x0.04 L1x0.004清洁度5/1x0.04 L1x0.004涂层规格正面（S2）（137683）涂层规格后侧（S1）（140851）1st 工作范围HR（0°，1550nm）99.99%1st 工作范围 减反射(0°,1450-1650nm)0.2%类别 高反射率偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1550 nmHR 99.99 %类别 减反射(Anti-Reflectance)偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1450 - 1650 nm AR / HT 0.2 %2nd 工作范围 T(0°,1550nm)~0.005%类别 透射率(Transmittance)偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1550 nmT ~ 0.005 %涂层137683 低损耗反射镜für腔衰荡测量PR（0°，1550nm）99.99%温度（0°，1550nm）~50 ppm带宽（PR99,99%）~130nm精度CWL（产品误差）+/-20 nm图1计算的反射（具有典型吸收损耗，无散射光）_____理论----/……生产误差四,超光滑超高反射率(＞99.99%) 反射镜 1572nm环形激光陀螺仪组件或某些科学应用中的所谓超级镜需要具有急低损耗（即吸收和散射）的镀膜光学元件。这些反射镜还具有 R 99.998% 和总损耗 10 ppm 的最大反射率。筱晓使用德国改进的 IBS 机器，能够在超抛光基材上生产涂层。机器和环境的清洁度在专用的超净室中保持，并在此进行广泛的基材预处理和后处理。用于检查程序的测量设备，例如白光轮廓仪和高分辨率显微镜（高达 x 1000）已经到位。定制的腔衰荡设置允许以最多四位小数的精度确定反射并参考损耗。超光滑超高反射率(＞99.99%) 反射镜 1572nm,超光滑超高反射率(＞99.99%) 反射镜 1572nm通用参数 型号列表 波长基片材料数量直径(英寸)曲率反射率入射角光楔PN #2327Infrasil 30270.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-23272004Infrasil 30231.0"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-246-49-20042050Infrasil 30210.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-20501742Infrasil 30250.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-17421650Corning 798050.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-16501600Corning 798090.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-16001550Corning 7980100.5"1m ROC99.99%0NoneCRD-126-49-15501550Corning 798021.0"1m ROC99.99%0NoneCRD-246-49-15501512Corning 798020.5"1m ROC99.99%0NoneCRD-126-49-15121434Infrasil 30211.0"1m ROC99.99%0NoneCRD-246-49-14340760Corning 798010.5"1m ROC  99.995  %0NoneCRD-126-49-07600760Corning 798041.0"1m ROC  99.995  %0NoneCRD-126-49-07601392Corning 798010.5"1m ROC  99.99  %030ʹ CRD-126-49-13920633Corning 798011.0"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-246-49-06331064Corning 798011.0"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-246-49-1064 技术参数位于耶拿的弗劳恩霍夫应用光学和精密工程研究所测量了我们当前生产的 633 nm 超级镜的总背散射（TSB，如 ISO 13696 中所述），并达到了 TSB = 1.1 ppm 的值。 15 ppm 的典型吸收和剩余透射率合计相当于至少 99.998% 的反射率。对于更长的波长，甚至可以达到 99.999%，这非常接近 R = 100% 的完quan激光镜。 结果已通过我们的内部腔衰荡设置和散射测量得到证实。对于上述值，使用表面粗糙度 1 &angst rms 的超抛光基板是必要的。用白光轮廓仪检查它们的质量。下面是一些测量值：Scatter TSBAbsorptionReflection CRDHR 532 nm&thinsp /&thinsp 0°4.9 ppm1) (int. ARS)10.2 ppm 2) 99.997% 2) (T~5 ppm)HR 633 nm&thinsp /&thinsp 0°1.1 ppm 1) 99.998% (T~5 ppm)HR 1064 nm&thinsp /&thinsp 0°( 1 ppm) 3) 2 ppm 4) 99.999% (T~5 ppm)HR 2940 nm&thinsp /&thinsp 0°24 ±12 ppm6)99.994% 5) (T=36 ppm)1) Measured at IOF Jena 2) Measured at LZH 3) Calculated from surface roughness 4) Measured at ILT Aachen 5) measured by customer 6) 1-R-T 特点&bull 非常高的反射率(在可见光和近红外光谱范围内R 99.99%&bull R 99.999% 在1000 – 1600 nm 之间的几个波长处得到证实)&bull 中心波长可以定制（起订量：6片）&bull 所有用于 CRD 实验的反射镜都带有背面增透膜&bull 平面和球形弯曲熔融石英基材&bull 优质抛光，RMS 粗糙度：≤ 1.5 &angst 产品应用● 激光陀螺●CRD 腔衰荡系统设计● 光通道诊断 参数材质红外级熔融石英 Infrasil形状圆形直径(Ø )12.7，25.4 mm ,50.8(-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5ʹ Guaranteed RoughnessFlatnessAvailabilityPremiumRMS0.2 nm*(2&angst )入/20Ø 12.7-25 mmalways 2,000 pcs.on stock(various radii and plane)superpolishedRMS0.1 nm*(1&angst )入/10on request* Tested with Zygo NewView 9000 within sample length 3- 1000 um 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 Ø e20测试区 Ø e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004 我们的测试方案：相关测试图1测量波长范围 1250 – 1450 nm 的低损耗反射镜的反射率和透射率光谱 a) 反射率与波长的关系b) 透射率与波长的关系 表 1：低损耗反射镜的反射率和透射率值；通过腔衰荡光谱测量的反射率，AOI=0°直接测量光学损失图 2：1550 nm 的低损耗反射镜的反射率、透射率和损耗光谱 a) 针对最高反射率进行了优化（透射率 ~ 0）b) 设计用于 T ≈ S + A 内部测试设备：五, LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1600-1700nm 反射率99.99%损耗极低的激光光学器件，对于要求极低损耗的镀膜光学器件应用, 筱晓光子可提供R 99.995 %、总损失小于10 ppm的反射镜。此类超级反射镜片可用于环形激光器陀螺仪组件或光腔衰荡应用。对超抛光基材加工低吸收、低散射镀膜时，我们会采用改进型IBS镀膜机。而为了保证清洁度，此类机器会存放在专用的超清洁室内，并且与生产相关的基材预处理和后期处理流程全部在此清洁室内完成。 此外，超清洁室内还配置有多种测量设备，如检测流程所使用的白光表面光度仪和高分辨率显微镜。利用定制光腔衰荡设置可以确定反射量（精度可达小数点后四位）以及损耗。 而测定以上数值必须使用表面粗糙度小于 1 &angst rms的超抛光基材。为了保证反射镜成品的品质，还会使用白光表面光度仪进行质量检测LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1600-1700nm 反射率99.99% ,LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1600-1700nm 反射率99.99%型号参数激光反射镜Laser Mirror:Fused silica | plane Ø =25.0mm | te=6.35mm | //5minS1: AR(0°,1600-1700nm)0.25%S2(^): HR(0°,1600-1700nm)99.99% (low loss)T(0°,1650nm)~0.002%曲线图产品特点低损耗可定制不同尺寸入射角：0deg产品应用TDLAS光腔衰荡通用参数

TORUS凹面光栅光谱仪 该光谱仪具有透光率高、杂散光更低、热稳定性好的特点，可用于液体、固体等的吸收、荧光测量。Torus 可见波段光谱仪（360nm-825nm），杂散光水平：在400nm 处，约0.015%，较平面光栅等微型光纤光谱仪更低。 平场光学设计及全息凹面光栅用于光的色散：Torus 光栅的凹面用于光的反射及汇聚；光栅刻线用于光的色散；光栅的环形设计用于像差校正，提高衍射效率。 Torus 并且具有较高的光学分辨率（1.6nm FWHM，25um 狭缝）和优良的热稳定性（在0-50℃范围内，波长漂移更小，峰型保持基本一致）。 Torus 系列光谱仪可以通过 USB 接口与计算机进行交互控制，可以根据客户需要更改狭缝、滤光片及其它配件来优化配置；也可以通过 C-mount 接口与显微镜等配合使用。与海洋光学的其它光学配件一起，使您的测量更方便，更灵活。 Torus 通过海洋光学的 Spectrasuite 光谱操作软件来进行操作与分析，并且可用于 Windows， Macintosh，及 Linux 操作平台。并且还与海洋光学的 OmniDriver，SeaBreeze 软件开发平台相兼容。尺寸149.9 mm x 119.4 mm x 63.5 mm重量954 g探测器类型Sony ILX511B光谱范围200-1100 nm像素/大小2048波长范围360-825 nm光学分辨率&le 2.0nm信噪比250:1A/D分辨率16 bits暗噪声50 RMS counts 300 counts peak to peak动态范围8.5x107 (system) 1300:1 (single acquisition)积分时间1 ms - 65 s

背景技术及优势 表面光电压是固体表面的光生伏特效应，是光致电子跃迁的结果。 1876年，W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上，这种光谱技术称为表面电压技术（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或表面光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。表面光电压技术是一种研究 半导体特征参数的极佳途径，这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。 1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时，历史性的第一次获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级，从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。 SPV技术是最灵敏的固体表面性质研究的方法之一，其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌，因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。 SPV技术所检测的信息主要是样品表层（一般为几十纳米）的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化，其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型（特别是有机半导体的导电类型）、半导体表面参数，研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。 由于SPV技术的诸多优点，SPV技术得到了广泛的应用，尤其是今年来随着激光光源的应用、微弱信号检测水平的提高和计算机技术的进展，SPV技术应用的范围得到了很大的扩展。主要应用：半导体材料的光生电压性能的测试分析、可开展光催化等方面的机理研究，应用于太阳能电池、光解水制氢等方面的研究，可用于研究光生电荷的性质，如：光生电荷扩散方向；解析光生电荷属性等。主要代表材料有TiO2、ZnO、CdS、GaAs、CdTe、CdSe等。表面光电压谱的技术参数1)光电压谱测量：最小电压10nV；功能材料的光电性质，可开展光催化等方面的机理研究；2)光电流谱测量：最小电流10 pA；研究功能材料光电流性质，可应用于太阳能电池、光解水制氢等方面的研究；3)光伏相位谱分析：相检测范围：-180°至+180°；可用于研究光生电荷的性质，如：光生电荷扩散方向；解析光生电荷属性等；4)表面光电压、光电流、相位谱分析的光谱波长范围：200-1600nm，可以全光谱连续扫描，光谱分辨率0.1nm，波长准确度±0.1nm；5)可以实现任意定波长下，不同强度光照下的表面光电压、光电流、相位谱分析，实现光谱分析的多元化；6)光路设计一体化、所有光路均在暗室中或封闭光路中进行，无外界杂光干扰；7)光源配置：氙灯光源（200/300-1100nm）；卤素灯光源（400-1600nm）；氘灯光源（190-400nm）；8)氙灯光源500W，点光源（2-6mm），可以实现变焦，实现软件反控调节光的输入功率，可以实现250W-500W连续可调，USB接口控制，完成5）的测试分析；9)单色仪：出入口可平行或垂直，焦距300mm，相对孔径：F/4.8，光学结构：非对称水平Czerny-Tuner光路，光栅面积55*55mm，最小步距0.0023nm，光谱范围200-1600nm；10)配置全自动6档滤光片轮，消除各种杂散光尤其600nm,标配滤光片3片，范围185-1600nm；11)锁相放大器（斯坦福）： a.mHz-102.4kHz频率范围； b.大于100dB动态存储； c.5ppm/oC的稳定性； d.0.01度相位分辨率； e.时间常数10us-30ks； f.同步参考源信号； g.GPIB及RS232接口； h.9转25串口线； i.USB转232串口线12)斩波器（斯坦福）: a.具有电压控制输入，四位数字频率显示，十段频率控制，和两种可选工作模式的参考输出； b.4Hz—3.7kHz斩波频率； c.单光束和双光束调制； d.低相位抖动频和差频参考信号输出； e.USB转232串口线；13)专用控制软件，数据记载，数据保存，应用于表面光电压谱的数据反馈，可以反控单色仪、锁相放大器（SR810、SR830、7265、7225）、斩波器、光源，根据需求自行修改参数，可根据需求进行源数据导出；14)主要配件： a.光学导轨及滑块； b.封闭的光学光路系统； c.标准的光学暗室； d.光电压及光电流池； e.外电场调系统； f.电流-电压转换器； g.计算机（选配）； h.光学平台（选配）。 表面光电压谱的测量方法示意图（1.氙灯光源；2.单色仪；3.斩波器（斯坦福）；4.汇聚透镜；5.反射镜；6频率调制光；7锁相放大器（斯坦福）；8计算机含控制软件） SPV表面光电压谱 样品池结构及数据分析 SPC表面光电流谱 样品池结构及数据分析 Scheme of thesurface photovoltage (SPV) setup applied for the measurements on multilayered sample of CdTe and CdSe NCs. Excitons are created upon light excitation, which diffuse through the structure and may reach andbecome separated at the type II CdTe/CdSe interface. The random diffusionof separated charges creates an electric field measured as the SPV signal U by two transparent outer FTO electrodes in a capacitor arrangement.

背景技术及优势 表面光电压是固体表面的光生伏特效应，是光致电子跃迁的结果。1876年，W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上，这种光谱技术称为表面电压技术（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或表面光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。表面光电压技术是一种研究半导体特征参数的好途径，这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时，历史性的获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级，从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。SPV技术是灵敏的固体表面性质研究的方法之一，其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌，因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。SPV技术所检测的信息主要是样品表层（一般为几十纳米）的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化，其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型（特别是有机半导体的导电类型）、半导体表面参数，研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。瞬态吸收光谱研究光生载流子反应动力学，半导体受激光激发后产生载流子，在其衰减过程中可发生一系列的变化和反应.时间分辨紫外可见吸收光谱可监测其随时间变化。首先应需确定载流子的检测波长，光生电子和空穴的特征吸收波长可调控电极一种载流子浓度而测量另一种载流子的瞬态光吸收与波长的关系。 l 瞬态表面光电压谱的应用 瞬态光电压主要应用于半导体材料或者器件的TPV测试和机理分析，光催化材料TiO2、C3N4、CdS、磷化物等、催化材料、分子筛、太阳能电池（单晶、多晶、染料敏化、钙钛矿）、光电化学的TPV、电化学材料的TPV等。产品优势：采用白光偏置光路激发材料；大功率原装进口脉冲激光器；采用专有技术的电磁屏蔽，无任何外界干扰；测试光路，水平与垂直可任意在线切换，实现固体样品和液体样品均可测试分析。光生载流子动力学主要测试技术，载流子动力学测试技术主要有电学和谱学两类.电学方法主要是光电化学，测量方式又分时间域和频率域.时间域方法主要有瞬态光电压（TPV）和瞬态光电流（TPC）,频率域方法主要有电化学阻抗谱（EIS）和光强度调制光电压谱（IPVS）和光强度调制光电流谱（IMPS）等.谱学方法主要是瞬态吸收光谱和瞬态荧光光谱。这里主要介绍时间域的光电化学测量方法（以TPV为例）。瞬态吸收光谱是研究半导体光生载流子动力学过程和反应历程的强有力手段之一,它可以获得半导体体内光生载流子产生、俘获、复合、分离过程的重要微观信息。半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是高调制速率。 瞬态光电压谱(Transient photovoltage spectrum)给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。 l 瞬态表面光电压工作原理瞬态表面光电压实验光源为激光器, 脉冲纳秒激光经棱镜分光后被分别射入光电倍增管和样品池中，激光强度通过渐变圆形中性滤光片进行调节. 光电倍增管记录参比信号, 样品信号经放大器的数字示波器进行记录。 样品池由具有良好屏蔽电磁噪音的材料制成。样品池内部结构由上至下分别为: 铂网电极, 云母片, 被测样品, FTO电极。瞬态光电压研究光生电子的传输行为，其光电压响应包括上升和衰退两部分，光电压上升部分在物理上对应于TiO电极导电基底电子浓度增加（类似于电容充电过程），此过程由光生电子扩散到达基底引起，光电压下降部分主要对应于电子离开导电基底的复合过程（类似于电容放电过程）。瞬态表面光电压谱光生载流子动力学；瞬态光电压研究光生电子的传输行为。 技术参数 项目参数激光器Nd:YAG脉冲纳秒激光器（整机原装进口）激光器参数波长1064nm@320mJ；532nm@180mJ；355nm@60mJ；266nm@40mJ；脉冲宽度 (1064 nm) 10 - 14 ns；控温精度0.05℃；内部预热器，可快速预热OPO激光器(选配)波长范围：210-2200nm连续可调，计算机控制波长调节，峰值能量输出20mJ，重复频率20HZ系统时间分辨率5ns探测灵敏度0.1mOD数据采集12bit/16bit高分辨率数字示波器光路采用全封闭结构设计，无任何外部环境干扰样品室激光耦合装置；激光光斑聚焦调整；水平及垂直光路切换；可调光阑；匹配固体粉末及液体样品池的光路结构标配三明治结构样品池，可根据要求定制样品空间，允许进行更多实验环境的光路定制，如支持低温样品环境、显微镜微区光谱、强磁场环境等。光功率计测试波长范围190-11000nm，功率范围0-2000mw 配合软件实时数据采集，软件还内置了量子效率计算功能软件软件集成控制脉冲激光器、OPO激光器、数据同步、数据采集、数据放大、数据分析、全自动处理、数据导出等功能。支持单次采集，多次积分平均，本底扣除等；2D瞬态光电压谱，寿命曲线拟合；支持3D变波长瞬态光电压谱显示。太阳能电池光电压谱

优势特点表面光电压是固体表面的光生伏特效应，是光致电子跃迁的结果。1876年，W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上，这种光谱技术称为表面电压技术（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或表面光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。表面光电压技术是一种研究半导体特征参数的极佳途径，这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时，历史性的第一次获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级，从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。SPV技术是最灵敏的固体表面性质研究的方法之一，其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌，因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。SPV技术所检测的信息主要是样品表层（一般为几十纳米）的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化，其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型（特别是有机半导体的导电类型）、半导体表面参数，研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。 半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是最高调制速率。 瞬态表面光电压谱给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。产品应用光生载流子动力学主要测试技术，载流子动力学测试技术主要有电学和谱学两类.电学方法主要是光电化学，测量方式又分时间域和频率域.时间域方法主要有瞬态光电压（TPV）和瞬态光电流（TPC）,频率域方法主要有电化学阻抗谱（EIS）和光强度调制光电压谱（IPVS）和光强度调制光电流谱（IMPS）等.谱学方法主要是瞬态吸收光谱和瞬态荧光光谱。这里主要介绍时间域的光电化学测量方法（以TPV为例）。瞬态吸收光谱是研究半导体光生载流子动力学过程和反应历程的强有力手段之一,它可以获得半导体体内光生载流子产生、俘获、复合、分离过程的重要微观信息。半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是最高调制速率。瞬态表面光电压谱给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。详细介绍瞬态表面光电压实验光源为激光器, 激光脉冲半宽为5 ns, 激光波长为355 nm. 脉冲激光经棱镜分光后被分别射入光电倍增管和样品池中，激光强度通过渐变圆形中性滤光片进行调节. 光电倍增管记录参比信号, 样品信号经放大器(100 MΩ的输入阻抗, 1 kΩ输出阻抗的放大器)放大进入500MHz 的数字示波器(Tektronix)进行记录。 样品池由具有良好屏蔽电磁噪音的材料制成。样品池内部结构由上至下分别为: 铂网电极(直径为5 mm, 透光率为70%), 云母(厚度约10 μm), 被测样品, FTO电极。瞬态光电压研究光生电子的传输行为，其光电压响应包括上升和衰退两部分，光电压上升部分在物理上对应于Ti O?电极导电基底电子浓度增加（类似于电容充电过程），此过程由光生电子扩散到达基底引起，光电压下降部分主要对应于电子离开导电基底的复合过程（类似于电容放电过程）。规格参数1) 瞬态表面光电压谱光生载流子动力学；瞬态光电压研究光生电子的传输行为 2)可分析样品为催化剂粉末材料,采用三明治结构样品池3) ※可分析样品为光电器件，在溶液状态下分析TPV信号，测试样品的表面光电压信号和电子扩散长度；4)※Nd:YAG激光器：脉冲宽度：8ns @1064 nm, 7ns@532 nm, 6nm@355 nm，6nm@266 nm；光斑尺寸：7 mm 激光输出能量：200 mJ@1064 nm, 100 mJ@532 nm, 40 mJ@355 nm，20mJ@266 nm 频率1~20Hz；稳定性3%，RMS1ns 5)前置放大器，2通道，DC~350MHZ带宽，升降时间1ns，噪音6.4nv/HZ；6)数字荧光示波器，500 MHz 带宽，2 条模拟通道，所有通道上实时采样率高达 5 GS/s，所有通道记 10k 记录长度，3,600 wfms/s 连续波形捕获速率，高级触发套件，前面板 USB 主机端口，可以简便地存储和传送测量数据25 种自动测量标配 FFT，多语言用户界面，自动检测异常波形， 接口支持有源探头、差分探头和电流探头，自动定标和确定单位，配备 USB 主控端口，可以轻松将测量信息存储和传输到个人计算机中，个人计算机通信软件使您能够轻松将屏幕图像和波形数据拖入独立桌面应用程序或直接拖入 Microsoft Word 和 Excel。7)※光功率计，测试波长范围190-11000nm，功率范围0-2000mw，四挡量程自动分辨，可切换光功率密度，配合软件实时数据采集，软件还内置了量子效率计算功能，可以根据参数自动计算出光源强度和产氢效率，计算输出：光催化反应产氢速率mol/s ，入射光子数，平均产氢量子产率百分比，平均光-氢能量转化效率百分比。8)配置不锈钢粉末样品池，石英溶液样品池各一套，分别用于粉末样品和器件样品分析。9)所有光路均置于封闭暗箱内，无外届光源影响分析测试，内部配有导轨、反射镜、精密升降台平台，可以实现水平光路，也可以实现垂直光路。10)系统包含光学平台（900*1200mm）、暗箱、品牌电脑、控制及数据采集软件。11)※专用瞬态定制软件，专用的硬件、软件降噪算法，实时采集并分析数据出谱图，分别完成粉末样品和溶液样品的分析。12)安装、调试及技术培训，培训内容包括仪器的技术原理、操作、数据处理、基本维护等。

关键特征● 研究纳秒尺度上光生电荷行为的一种有效手段，具有非接触，无损等优点；● 能够直观反映出光生电荷的分离方向、分离效率以及电荷寿命等动力学信息；● 我公司与吉林大学王德军教授拥有着长期深入的合作，可提供仪器使用、谱图解析与数据分析等技术服务。应用领域 ▲特别适用●较为适用 ○可以使用▲ 测量光电功能材料的表面光电压▲ 测量光电功能材料的表面光电流▲ 计算光电功能材料的光电转化效率▲ 研究开发光电气敏传感器▲ 研究光催化反应机理▲ 研究太阳能电池技术参数● 光电压测量：可测光电压＞ 100 nV 光谱波长范围：300~1000 nm 光谱分辨率：2 nm ● 光电压测量：可测光电流＞ 100 pA 光谱波长范围：300~1000 nm 光谱分辨率：2 nm ● 光伏相位谱：相检测范围：±180° 光谱波长范围：300~1000 nm ● 光电转化效率（IPCE):光谱波长范围：300~1000 nm 典型客户

表面光电压模块SPV020SPV020 模块是开尔文探针系统的理想升级选件，任何人对光敏材料研究感兴趣的，如太阳能电池、半导体、光敏染料等，来检测样品缺陷，用脉冲光简单的测量瞬态电压，每分钟约1000个表面电势电； 光强度变化通过对150W DC石英卤钨灯调制来获得开路电位或检测 你最新推出的太阳能电池的质量 ● 150W DC QTH光源带光纤照明或高强度Luxeon LED ● 数字可变强度光源控制(0-100%)● SPV软件包 SPS030SPS030是一个完善的光敏材料研究集成式解决方案，如太阳能电池、半导体、光敏染料等，系统提供一个综合测量范围的模块，包括DC和内置光学斩波器AC表面光电压研究，所有参数数字控制，包括光强度和波长(400-700 or 400-1000nm)，以此来检测样品的质量、表面性能和缺陷状况，灵活的光纤照明，通过特制的样品支架，很容易定位光源在样品上或下，适合大的硅晶片 ● 150W DC QTH光源具有光纤照明波长范围: 400-700nm (25nm FWHM) 400-1000nm (45nm FWHM)● 应用模块数字控制单元 ● 光学斩波器或KP触发测试模块 ● SPS S软件包

平面光学产品主要应用于，窗口保护玻璃（主要以K9玻璃为材料）。用于传感器或视窗的保护窗口。在选用镜片时需考虑材料的透射性与机械性能。产品广泛用于手表玻璃、手机盖板玻璃，设备窗口等。 氟化钙氟化钙从紫外250nm⾄ 9μm透光性能非常好，被广泛用于紫外到红外光谱中的窗口镜、棱镜、透镜等光学器件中。一般情况下，氟化钙的抛光表面非常稳定，并具有低吸收率，所以常被应用于高功率激光系统中。我司可根据客户的不同用途定制氟化钙基材的窗口片、棱镜、透镜等产品。 氟化镁氟化镁在电光下加热呈弱紫色荧光，其晶体有良好的偏振作用，特别适用于紫外线和红外光谱。其主要用于光学透镜镀膜，光学器材镀上一层氟化镁膜层，可以减少镜头界面对射⼊ 光线的反射，减少光晕，提高成像质量。蓝宝石蓝宝石玻璃有着很好的热特性、电气特性和介电特性，并且具有防化学腐蚀、耐高温、导热好、硬度高、透红外等特点。因此常用它来代替光学材料制作光学元件/透红外线光学窗片。如：应用于夜视红外/夜视摄像机等仪器和卫星/空间技术的仪器表中/高功率激光器的窗口/各种光学棱镜/光学窗口/UV和IR窗口及透镜、低温实验的观察口，在航海/航天/航空用高精密仪器仪表等方面得到充分的应用。

*平面平晶是以光波干涉原理为基础，利用平面平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件，例如，平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。 平面平晶的技术参数 平面直径d(mm) 平面平晶基本参数 1级 价格 2级 d范围内 2/3d范围内 d范围内 2/3d范围内30 0.03 ---- 275 0.1 0.0545 325 60 375 80 0.05 0.03 575 100 1125 150 5000 200 0.08 0.05 9200 0.12 0.06250 0.1 0.05 18400 0.15 0.08300 0.15 0.09 55000 0.2 0.1

非球面光束整形镜-a|AiryShape&a|SqAiryShape非球面光束整形镜-a|AiryShape & a|SqAiryShape简介a|AiryShape是一款针对波长从300nm到1600nm优化的光束整形器件。这种光束整形元件与聚焦透镜结合使用，可将准直的高斯光束转变为不同的聚焦光束轮廓（如Top-Hat、Donut）。由于其紧凑的设计，a|AiryShape可以很容易地集成到现有的设备中。 asphericon新的光束整形器与聚焦透镜相结合，从准直的高斯光束中产生不同的方形聚焦光束轮廓（如Top-Hat, Donut）。将一个SqAiryShape与一个200毫米焦距的镜头和一个扩束器结合在一起，已经将总长度减少了25%。非球面光束整形镜-a|AiryShape & a|SqAiryShape规格（1）a|AiryShape可以产生不同的光束轮廓，a|SqAiryShape产生不同的方形聚焦光束轮廓（如Top-Hat, Donut）。（2）剖面尺寸可通过焦距轻松扩展（3）针对300纳米到1600纳米的波长进行了优化（4）易于集成到现有设备中（5）通过高精度安装实现完美对准（6）紧凑型设计（7）输入光束直径@ 1/e2 = 10 mm；输出光束直径dAiry = 10 mm（8）激光诱发的损伤阈值：12 J/cm² , 100 Hz, 6 ns, 532 nm非球面光束整形镜-a|AiryShape & a|SqAiryShape尺寸a|AiryShape的性能&灵活性在下图中，沿其传播方向（Z轴）的归一化光束剖面图被总结为一个图。检测范围是腰部位置周围的±1.5毫米。此外，在不同的工作平面上，相应的强度剖面被显示为二维和横截面图。这两张特征光束轮廓图都是用a|AiryShape（λ=635纳米）生成的。根据a|AiryShape的工作原理，不仅可以在聚焦透镜的焦平面上生成一个Top-Hat光束轮廓，而且还可以在不同的工作距离上生成各种轮廓，以获得灵活性。所示光束轮廓的生成取决于输入光束的质量。为了达到优良效果，需要一个完美的准直光束，并使波前畸变几乎消失。a|SqAiryShape的性能和灵活性下图显示了a|SqAiryShape（λ=1064nm）的光束轮廓截面，以及它在不同工作平面上的强度轮廓。由于a|SqAiryShape的工作原理，在焦点区域不仅产生了一个方形的Top-Hat轮廓，而且产生了各种具有四重对称性的轮廓。从a|SqAiryShape生成的所有显示的光束轮廓都取决于输入光束的质量。为了获得优良结果，需要一个完美的准直光束，并使波前像差几乎消失。非球面光束整形镜-a|AiryShape & a|SqAiryShape的波长范围基于BeamTuning元素，AiryShape涵盖了一个广泛的波长范围，以满足您的挑战性应用。非球面光束整形镜-a|AiryShape & a|SqAiryShape应用示例除了优化激光和加工参数外，焦点强度分布的调整为激光材料加工的高精度结果提供了巨大的潜力。asphericon与位于耶拿的Otto Schott材料研究所（OSIM）合作，分析了用a|AiryShape生成的各种定制强度分布，以确定其是否适合用飞秒激光器进行微纳米尺度的材料加工，如切割、打标和生成激光诱导的周期性表面结构。所有结果均可在A. Mö hl等人的论文中下载：左边是用传统系统（高斯光束）生成的钢槽状结构，中间和右边是用光束整形器a|AiryShape生成的（左边是Donut轮廓，右边是Top-Hat）。a|AiryShape各型号参数a|SqAiryShape各型号参数更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

表面光电压(SPV)谱是研究固体表面性质的最灵敏的方法之一 (大约 l08 q／cm2，q为单位电荷)．其灵敏度高于 XPS和 Auger电子能谱几个数量级，操作简单，再现性好，测试中不破坏样品，不改变样品的形貌。表面光电压谱测量中一个关键的测量不确定因素是光源的稳定性，为此，我公司特别提供的光源为高稳定度 500W氙灯，极大的提高了测量的精准度。系列表面光电压谱测量系统主要有氙灯光源、自动扫描单色仪、光纤束、锁相放大器、光学斩波器、暗室和数据采集软件等部分组成。主要技术参数：◆ 光源类型：氙灯◆ 光源功率： 500W◆ 光源稳定度：优于 1%(可达到 0.5%)◆ 单色仪焦距： 300mm(型)，500mm焦距(型)◆ 单色仪相对孔径： f/3.9(型)，f/6.5(型)◆ 单色仪输出带宽： 0.1-16nm(型)， 0.05-8nm(型)◆ 光谱覆盖范围： 200-1100nm(最佳光谱范围： 330-1000nm)◆ 单色仪数据接口： USB2.0◆ 锁相放大器品牌型号：美国 SRS公司 SR510型◆ 斩波器品牌型号：美国 SRS公司 SR540型◆ 出光口类型：光纤输出◆ 光纤束长度： 1◆ 光纤束直径： 1mm◆ 暗箱水平或垂直方向均可操作，方便放置不同类型的固体、粉末或溶液◆ 数据采集软件可直接控制单色仪进行波长与表面光电压信号采集，可选型号：规格描述500W氙灯，300mm焦距单色仪，光纤束输出至暗箱， SR510+SR540，软件500W氙灯，500mm焦距单色仪，光纤束输出至暗箱， SR510+SR540，软件型号规格描述WAD-SPV530500W氙灯，300mm焦距单色仪，光纤束输出至暗箱， SR510+SR540，软件WAD-SPV550500W氙灯，500mm焦距单色仪，光纤束输出至暗箱， SR510+SR540，软件【注】单色仪和锁相放大器配置可根据客户需要进行配置选择，但随机软件并非适用于所有品牌的锁相放大器，详情请咨询公司销售部。

1.大理石结构，稳定可靠。2.台湾精密线性导轨和研磨级滚珠螺杆，配松下伺服电机，闭环控制，精度更好。3.自动变倍镜头，改变倍率无需重选比例尺。4.德国海德汉光栅尺，分辨率0.0005mm.。5.日本欧姆龙激光。6.大倍定倍测量画面。7.高品质光学系统和高分辨率相机，画面更清晰。8.四环八区LED环形表面冷光源、轮廓光源及同轴光源，亮度可调。9.鼠标、手柄操作，简单易用。10.自主研发全自动CNC测量系统，界面友好，功能强大。11.可提供多规格，根据要求个性化定制。测量范围（mm)X :400 Y :300 Y :100工作台(mm)工作台面: 560*460 玻璃台面 :460*360 承重kg :30 测量系统 CCD :1200万彩色相机SONY芯 激光 :30-225X 视频放大倍率 :10.6－1.6mm/75-85mm 工作距离:90mm~250mm 光栅尺分辨率 :海德汉0.0001mm 线性精度(μm) :X/Y精度≤2+L/200 Z轴≤3+L/200um外形尺寸（mm) :925*900*1850mm仪器重量(kg): 500 照明 :LED表面光及下光源,亮度可调 电源 :220V±10%(AC) 50HZ 保修期 :1年

URE-2000/600 紫外单面光刻机1、设备主要技术指标：(1)光束口径： 650mm×650mm(2)有效曝光面积：600mm×600mm(3)分辨力：≤3μm(4)对准精度： ±1.5μm(5)对准显微镜中心距：75mm-600mm 可调(6)掩模尺寸：650mm×650mm(7)样片尺寸：可适应Ф300mm、Ф450mm、Ф600mm 300mm×300mm；450mm×450mm；600mm×600mm，厚度为 0.2mm～20mm 的多种规格样片；(8)光源不均匀性：≥ 95%（Ф600mm）(9)掩模相对于样片运动行程：X: ± 15mm Y: ± 15mm Z：15mm Thelta: ± 10o(10)曝光面光强：15mW/cm2（i、g、h 线）(11)汞灯功率：2500W（直流）(12)曝光量设定方式：定时（计时方式 0.1s-9999.9s,设定精度 0.1s） 2．技术主要组成部分大面积精细胶模图形结构成型机组成主要由：高均匀照明曝光系统、对准工件台系统、CCD 对准系统、计算机控制系统、气动控制系统及辅助设备构成。各系统构成与配置如下:（1）高均匀照明系统包括：。 冷光椭球镜；。2500W 进口直流高压汞灯(德国欧司朗)。XYZ 汞灯调节台；。 光学系统：椭球反射镜、光栏、快门、平面冷光反射镜 1、平面冷光反射镜 2、蝇眼透镜组、抛物面冷光反射镜；。 冷却风扇；。 循环水冷系统。 （2）对准工件台系统包括：。掩模样片相对运动台；。 转动台；。 样片调平机构,自动完成；。样片调焦机构，自动调整；。承片台 10 个：Ф300mm、Ф450mm、Ф600mm 及 300mm×300mm；450mm×450mm；600mm×600mm；。 掩模夹 1 个：650mm×650mm；。 抽拉式上下片机构。 （3）CCD 对准系统包括：。 光源、电源；。 显微镜工作台；。 成像光学系统（两套）；。 数据采集卡；。 CCD 图像处理部件（两套）。 （4）电控系统包括：。 大功率汞灯触发电源；。单片机控制系统；。 薄膜开关面板；。 控制柜桌； （5）气动系统包括：。 气缸、电磁阀、减压阀、气动开关等；3 。电磁阀驱动部件；。 气动显示仪表。 （6）其他配套附件。 真空泵一台（无油泵、SK-65C 型）；。 空压机一台（静音型、YB-W30 型）；。水冷机一台（H35W 型）；。 配套接口管道 3.相关技术资料：。设备使用及维护说明书。出厂检验合格证。

产品简介：PG150-PC激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于平面类光学元件检定和校准光学平晶（包括玻璃、金属、陶瓷等），配备高精度的成像系统和图像采集系统，精密平面 标准镜等一系列高精技术，通过优化光学系统和机械系统结构，可实现高精密平面光学元件的测量。 产品型号PG150-PC激光平面干涉仪技术参数测量方式:菲索干涉原理有效口径:150mm光源:半导体激光 635nm连续变倍:固定倍率显示方式:电脑软件或独立显示器平面标准镜:精度PV ≤λ/20电源:AC100-240V 50/60Hz产品规格仪器尺寸:40cm x 40cm x 90cm 仪器重量:75kg标准配件标准镜材料:石英 康宁7980

KP表面光电压模块SPS030/SPV020SPV020SPV020 模块是开尔文探针系统的理想升级选件，任何人对光敏材料研究感兴趣的，如太阳能电池、半导体、光敏染料等，来检测样品缺陷，用脉冲光简单的测量瞬态电压，每分钟约1000个表面电势电； 光强度变化通过对150W DC石英卤钨灯调制来获得开路电位或检测 你最新推出的太阳能电池的质量● 150W DC QTH光源带光纤照明或高强度Luxeon LED● 数字可变强度光源控制(0-100%)● SPV软件包 SPS030SPS030是一个完善的光敏材料研究集成式解决方案，如太阳能电池、半导体、光敏染料等，系统提供一个综合测量范围的模块，包括DC和内置光学斩波器AC表面光电压研究，所有参数数字控制，包括光强度和波长(400-700 or 400-1000nm)，以此来检测样品的质量、表面性能和缺陷状况，灵活的光纤照明，通过特制的样品支架，很容易定位光源在样品上或下，适合大的硅晶片● 150W DC QTH光源具有光纤照明波长范围: 400-700nm (25nm FWHM) 400-1000nm (45nm FWHM)● 应用模块数字控制单元● 光学斩波器或KP触发测试模块 ● SPS S软件包

精准精度3um，测量结果即真值，无需任何补偿。Z轴可以自动对焦，适应不同厚度产品。产能一天可以测量20000片。快速测量全部影像尺寸0.3秒/片专检平面度、高度、厚度、轮廓度。1.大理石结构，稳定可靠。2.台湾精密线性导轨和研磨级滚珠螺杆，配松下伺服电机，闭环控制，精度更好。3.自动变倍镜头，改变倍率无需重选比例尺。4.德国海德汉光栅尺，分辨率0.0005mm.。5.日本欧姆龙激光。6.大倍定倍测量画面。7.高品质光学系统和高分辨率相机，画面更清晰。8.四环八区LED环形表面冷光源、轮廓光源及同轴光源，亮度可调。9.鼠标、手柄操作，简单易用。10.自主研发全自动CNC测量系统，界面友好，功能强大。11.可提供多规格，根据要求个性化定制。* 精度3um； * 一天可以测量20000片； * 测量全部影像尺寸0.3秒/片； * 专检平面度、高度、厚度、轮廓度等

CEL-SPIP表面光电压升级QE/IPCE模块，利用CEL-SPS1000表面光电压谱现有的垂直光路系统，采用500W进口德国欧司朗氙灯，配合300mm高精度光谱仪，实现了光路的稳定性；采用标定过的紫外增强型的标准源，实现了光谱响应QE和量子效率IPCE的准确性。模块升级后可以实现：单晶硅、多晶硅、半导体太阳能电池的分析和交流分析模式下的材料性能分析，可以实现绝对光谱响应，外量子效率，光谱透过率，标准太阳 AM1.5G 照射下的短路电流密度、表面均匀度等。升级后增加测试用的水平精密位移平台，用于标准样品和测试样品的切换；所有光路均为封闭无干扰的光路；配合专用的分析测试软件，实现光源、光谱仪、信号采集的同步采集，完成QE/IPCE的测试。 光谱扫描采用全自动、连续，光谱范围200-1100nm；测试结果重复性0.3%（短路电流）；交流工作模式AC；斩波频率5-1000Hz。 光谱响应QE 量子效率曲线IPCE

精准精度3um，测量结果即真值，无需任何补偿。Z轴可以自动对焦，适应不同厚度产品。产能一天可以测量20000片。快速测量全部影像尺寸0.3秒/片专检平面度、高度、厚度、轮廓度。1.大理石结构，稳定可靠。2.台湾精密线性导轨和研磨级滚珠螺杆，配松下伺服电机，闭环控制，精度更好。3.自动变倍镜头，改变倍率无需重选比例尺。4.德国海德汉光栅尺，分辨率0.0005mm.。5.日本欧姆龙激光。6.大倍定倍测量画面。7.高品质光学系统和高分辨率相机，画面更清晰。8.四环八区LED环形表面冷光源、轮廓光源及同轴光源，亮度可调。9.鼠标、手柄操作，简单易用。10.自主研发全自动CNC测量系统，界面友好，功能强大。11.可提供多规格，根据要求个性化定制。

便携式光透过率检测仪是一种能够快速准确地测量各类平面光学元件透射率的仪器。它广泛应用于光学、材料科学、质量控制等领域，特别是在需要实时在线检测的场景中，如生产线上的产品全检。便携式光透过率检测仪能够快速准确地测量各类平面光学元件的透射率，为产品质量控制提供可靠数据。用户可根据实际需求自行定义测量方案，并设置判定标准，使检测更加快速和准确。一、产品简介TH-SGT1型便携式光透过率检测仪无需安装调试，通电即可检测，LCD屏上实时显示检测数据。考虑到隧道内恶劣的自然环境，不便于同步连接笔记本电脑来存储数据，仪器内部自带存储器，可以自动保存检测数据，在检测完毕后，将仪器带回实验室，连接电脑，通过光透过率显示软件可以自动将仪器内部存储器上保存的数据导入电脑中，并以EXCEL格式保存，以便客户调阅使用。二、主要用途各种大气环境下的大气光透过率各种大气环境下公路的能见度数值隧道内VI和CO值的验收检测数值隧道内环境的温、湿度检测值三、技术参数测试范围光透过率（T）0-100%能见度 (VI)1-5000 m烟雾浓度 (K)0-35*10－3 1/mCO浓度 (CO)0-300 ppm环境温度-40℃ － +80℃环境湿度0－100%状态显示128*64点阵LCD屏，数字与字符显示测试原理光透射法、数字探头、电化学探头测试误差:±2% 光透过率(满量程)环境温度-30～70摄氏度环境湿度0～100%RH通信接口RS232 / RS485 / USB供电电压交流220V电源适配器(内部自带可充电锂电池，在无外接电源情况下，可连续工作超过10小时) 数据存储可存储连续70个小时的检测数据检测周期 2 s （可根据客户要求定制）存储周期 10 s （本机内存储）整机重量16KG（包括仪器、仪器箱、经纬仪支架）

URE-2000/A12 紫外单面光刻机 1、设备主要技术指标：(1) 曝光面积： 300mm×300mm；（2）分辨力：±2μm；（3）对准精度：±2μm；（4）掩模尺寸： 7 英寸、9 英寸、13 英寸；（5）样片尺寸： 6 英寸、8 英寸、12 英寸；（6）wafer chuck 表面：防止光反射涂层；（7）掩模样片整体运动范围：X：10mm Y:10mm；（8）掩模相对于样片运动行程：X:±5mm Y: ±5mm Thelta: ±6°；（9）汞灯功率：1000W（直流）；（10）曝光能量密度：≥ 10mW/cm 2 ；（11）曝光峰值波长:365nm；（12）光源平行度：＜2°；（13）曝光方式：定时（计时方式 0.1s—9999.9s）；（14）光刻版夹具兼容性 2．技术主要组成部分（1）曝光头系统包括:。冷光椭球镜；。 德国 OSRAM1000W 直流高压汞灯；。 XYZ 汞灯调节台；。 光学系统（冷光紫外平面反射镜、快门、蝇眼透镜组、冷光紫外抛物面反射镜）；。 冷却风扇。 （2）对准工件台系统包括:。 掩模样片相对运动台；。（XY），转动台；。 样片调平机构；。 样片调焦机构；。承片台 3 个： 6 英寸、8 英寸、12 英寸；。 掩模夹 3 个： 7 英寸、9 英寸、13 英寸。 （3）CCD 对准显微镜系统包括:。4 倍显微镜 2 只；。照明光源 2 套；。 CCD 相机 2 只；。22 英寸液晶显示器。 （5）电控系统：。 汞灯触发电源(1000W)；。 单片机控制系统；。控制柜桌。 （6）气动系统系统包括:。 气缸、电磁阀、减压阀、气动开关，电磁阀驱动，气动仪表等 （7）其他配置与附件。真空泵一台；。空压机一台；。配套气管 10m；

英国Rhopoint Nove-Curve小孔曲面光泽仪Rhopoint Nove-Curve小孔曲面光泽仪是一款特殊的光泽仪，它是专门为测量曲面和小面积样品而设计的，同时也可以检测一般光泽仪所测量的平面。该仪器可以快速而精确地测量曲面，且具有统计分析及存储功能，还可以将数据导入电脑。Nove-Curve小孔曲面光泽仪将测试工件放在测试盘中间的测量孔上。仪器上四个可调的旋柱用以保持测量值的稳定性。测量时可以选用脚踏开关方便操作。也可以选用仪器正面的操作按钮测量。使用脚踏开关或长时间按住操作按钮可以转换读值模式。测量数据可以传输到PC机或连接的打印机。 Nove-Curve小孔曲面光泽仪- 特点&bull 测量平面一样测量曲面 &bull 任何镜面或亚光的产品&bull 像测量大平面一样测量小工件 Nove-Curve小孔曲面光泽仪-应用油漆和涂料制造商和应用商，木器涂料，汽车业，塑料和添加剂制造商，油墨，印刷，金属抛光机，线圈镀膜机，游艇制造商和粉末涂布机等行业目前都在使用Rhopoint Nove-Curve进行表面质量评估。 Nove-Curve小孔曲面光泽仪-技术参数标准：ASTM D523 经验证：ISO2813测量角度：60°测量范围：0 - 1000 GU重复性：0.2GU (200GU)重现性：0.5GU (200GU)存储：199个读数开孔直径：? 4.5mm测量面积：2 x 2mm重量：2.5kg外型尺寸：160 x 220 x 100mm电源：110 – 120V AC 或 220 – 240V AC语言：英语，法语，德语，意大利语，西班牙语和荷兰语 Nove-Curve小孔曲面光泽仪-标准配置&bull 可追溯BAM校准板和证书&bull 标准板清洁布&bull 脚踏板&bull 4个样品夹柱&bull USB数据线&bull Novo-Soft&trade 质量评估软件光盘&bull 操作使用说明PDF格式&bull 110–120V AC /220–240V AC电源包 Nove-Curve小孔曲面光泽仪-订购信息&bull A1277-500 Nove-Curve小孔曲面光泽仪

URE-2000/A8 紫外单面光刻机 1、设备主要技术指标：(1) 曝光面积： 200mm×200mm；（2）分辨力：≤ 2μm；（3）对准精度：±2μm；（4）掩模尺寸：5 英寸、7 英寸、9 英寸；（5）样片尺寸：4 英寸、6 英寸、8 英寸；（6）wafer chuck 表面：防止光反射涂层；（7）掩模样片整体运动范围：X：10mm Y:10mm；（8）掩模相对于样片运动行程：X: ±5mm Y: ±5mm Thelta: ±6°；（9）汞灯功率：1000W（直流）；（10）曝光能量密度：≥ 15mW/cm 2 ；（11）曝光峰值波长:365nm；（12）曝光方式：定时（计时方式 0.1s—999.9s）；（13）调平接触压力通过传感器保证重复（14）数字设定对准间隙和曝光间隙（15）具备压印模块接口，也具备接近模块接口 2．技术主要组成部分（1）曝光头系统包括:。 冷光椭球镜；。德国 OSRAM1000W 直流高压汞灯；。XYZ 汞灯调节台；。 光学系统（冷光紫外平面反射镜、快门、蝇眼透镜组、冷光紫外抛物面反射镜）；。 冷却风扇。 （2）对准工件台系统包括:。掩模样片相对运动台；。（XY），转动台；。 样片调平机构；。 样片调焦机构；。 承片台 3 个： 4 英寸、6 英寸、8 英寸；。 掩模夹 3 个：5 英寸、7 英寸、9 英寸。 （3）CCD 对准显微镜系统包括:。4 倍显微镜 2 只；。照明光源 2 套；。 CCD 相机 2 只；。22 英寸液晶显示器。 （5）电控系统：。 汞灯触发电源(1000W)；。 单片机控制系统；。 控制柜桌。 （6）气动系统系统包括:。气缸、电磁阀、减压阀、气动开关，电磁阀驱动，气动仪表等 （7）其他配置与附件。真空泵一台；。空压机一台；。 配套气管 10m；

EVG620系列单面/双面光刻机 一、 简介 EVG公司成立于1980年，公司总部和制造厂位于奥地利，在美国、日本和台湾设有分公司，并在其他各地设有销售代理及售后服务部，产品和服务遍及世界各地。EVG公司是一家致力于半导体制造设备的全球供应商，其丰富的产品系列包括：涂胶和喷胶/显影机/热板/冷板、掩模版光刻/键合对准系统、基片热压键合/低温等离子键合系统、基片清洗机、基片检测系统、SOI 基片键合系统、基片临时键合/分离系统、纳米压印系统。目前已有数千台设备安装在世界各地，被广泛地应用于MEMS微机电系统/微流体器件，SOI基片制造，3D封装，纳米压印，化合物半导体器件和功率器件等领域。EVG620 是一款非常灵活和可靠的光刻设备，可配置为半自动也可以为全自动形式。EVG620既可以用作双面光刻机也可以用作150mm硅片的精确对准设备；既可以用作研发设备，也可以用作量产设备。精密的契型补偿系统配以计算机控制的压力调整可以确保良率和掩膜板寿命的大幅提升，进而降低生产成本。EVG620先进的对准台设计在保证精确的对准精度和曝光效果的同时，可以大幅提高产能。 二、应用范围EVG光刻机主要应用于半导体光电器件、功率器件、微波器件及微电子机械系统（MEMS）、硅片凸点、化合物半导体等领域，涵盖了微纳电子领域微米或亚微米级线条器件的图形光刻应用。 三、主要特点u 双面对准光刻和键合对准工艺u 自动的微米计控制曝光间距u 自动契型补偿系统u 优异的全局光强均匀度u 免维护单独气浮工作台u 高度自动化系统u 快速更换不同规格尺寸的硅片u 可选配Nanoalign技术包以达到更高的工艺能力u 薄硅片或翘曲硅片处理系统可选u Windows图形化用户界面u 完善的多用户管理（用户权限、界面语言、菜单和工艺控制）u 光刻工艺模拟软件可选u 三花篮上料台，可选五花篮台 四、技术参数设备咨询电话：欢迎您的来电咨询！

便携式光泽度仪 镜面光泽度计 光泽度测试仪经国家计量产品认证和国际比对，广泛应用于油漆、油墨、涂料、纸张、印刷、塑料等平面镜向光泽度的快速、准确测量。&bull 光、机、电一体化设计&bull 测量数据保持功能&bull 可充电，便携式；&bull 亏电显示，自动零点；&bull 质量稳定，性能可靠，技术指标先进； 一、便携式光泽度仪 镜面光泽度计 光泽度测试仪特点： 1．不需预热，开机后3—5秒即可稳定测量。小型轻巧便携，开关兼具读数锁定功能，有欠电压显示和充电指示功能。2．高光泽标准板采用石英单晶体材料，年变化率小于0.3%，具有国际先进水平的稳定性。3．特种灯泡寿命长达一万小时。4．零点自动校正，使用时不必调零。5．采用镍氢可充电池，其容量大（100mAH）、寿命长。一次充电可连续使用10小时。6．独特的电路设计，外附充电器作为交流电源转换器。仪器交直流两用，而且充电、使用可同时进行。二、便携式光泽度仪 镜面光泽度计 光泽度测试仪主要技术指标：1．测量范围：0－199.9光泽单位2．分度值：0.1光泽单位3．稳定度：±1光泽单位4．零值误差：0.5光泽单位/30min5．示值误差：±1光泽单位6．电源：DC：四节5号镍氢可充电池；AC外附充电器作为交流电源转换器220V、50Hz7．工作电压：9V8．使用环境温度： -25℃ ～+40℃

CEL-SPEC表面光电压升级光电化学QE/IPCE模块，利用CEL-SPS1000表面光电压谱现有的光源和SRS分析系统，重新搭建一套水平光路用于光电溶液样品的分析测试，实现双光路出口（垂直光路和水平光路），实现互不干扰的双功能光电系统。 系统采用500W进口德国欧司朗氙灯，配合300mm高精度光谱仪，实现了光路的稳定性，光谱仪采用双出口光路，光电化学模块采用水平光路，采用标定过的紫外增强型的标准源，实现了光谱响应QE和量子效率IPCE的准确性。 模块升级后可以实现：标配的光电化学池，表征材料的光电性能分析，可以实现绝对光谱响应，外量子效率，光谱透过率，电化学CV、电化学EIS等。 升级后增加测试用的水平精密位移平台，用于标准样品和测试样品的切换；所有光路均为封闭无干扰的光路；配合专用的分析测试软件，实现光源、光谱仪、信号采集的同步采集，完成QE/IPCE的测试。 光谱扫描采用全自动、连续，光谱范围200-1100nm；测试结果重复性0.3%（短路电流）；交流工作模式AC；斩波频率5-1000Hz。 推荐选配:美国艾德茂Admiral 、Squidstat Plus电化学工作站主机1台；电化学采集分析软件各1套；可适用于Win7/8/10操作系统。 主要参数指标：1）交流阻抗频率范围：10 μHz–1.0MHz； 2）电流范围：100nA--1A，8个量程； 3）扫描电位范围：?10V。

产品简介HORIBA Jobin Yvon是全球著名的科研级光栅制造商，自1968年研发生产出片全息光栅以来，我们开发出大量标准光栅型号供科研用户选择，包括高衍射效率的刻划光栅和低杂散光的全息光栅，广泛应用于光谱系统和分光装置中。 技术特点 高衍射效率 低杂散光 成熟稳定的光栅复制技术 大量标准型号可选 特殊镀膜工艺抗氧化，防霉变，长寿命 刻划光栅加工技术 全息光栅加工技术 参数规格 类型：复制光栅 大尺寸：120*140mm 光谱范围：100nm-45um 刻线密度：20-5670gr/mm 衍射效率：30%-90% 基底：熔融二氧化硅，耐热玻璃，微晶玻璃，金属 镀膜：铝，金，铂，氟化镁 典型全息光栅衍射效率 典型全息离子刻蚀光栅衍射效率 典型刻划光栅衍射效率

一,Ge 锗 超大光敏PIN光电二极管（800-1800nm 直径 10mm）总览筱晓光子库存备有各种有效面积和封装的PIN结二极管(PD)，包括铟镓砷(InGaAs)、磷化镓(GaP)、硅(Si)和锗(Ge)光电二极管。我们有高速硅光电二极管。也有在900到2600 nm的范围内具有高响应率，其探测波长超过典型铟镓砷光电二极管的1800 nm。双波段光电二极管，它集成了上下紧贴在一起的两个光电探测器(硅基底在上，铟镓砷基底在下)，组合波长范围从400到1700 nm。为了丰富我们的光电二极管产品线，我们提供已安装的光电二极管便于客户供电即用，探测器有效面积边缘的不均匀性可能引起不必要的电容电阻效应，从而扭曲光电二极管的时域响应。因此，我们建议使光入射在有效面积中心。为此，可以在探测器前放置聚焦透镜或者针孔。Ge 锗 超大光敏PIN光电二极管（800-1800nm 直径 10mm）,Ge 锗 超大光敏PIN光电二极管（800-1800nm 直径 10mm）技术参数产品特点● 小光敏面大光敏面可选 (100µ m to 25mm)● 800nm to 1800nm 光谱响应● 高线性 10 dBm● 可以定制透镜组合(Biconvex, Planoconvex, or Ball)● 封装方式可选(TO-46, TO-18, TO-5, TO-8, TO-9 or BNC)引脚定义产品应用● 激光功率计● LED/LD老化诊断● 光谱学● LED/LD特性● 眼睛安全激光检测传感器产品规格探测材料Ge响应波长800 - 1800 nm峰值波长1550 nm (Typ.)响应度0.85 A/W (Typ.)光敏面直径78.5 mm2 (Ø 10mm)上升/下降沿时间 (RL = 50 Ohms, 10 V)500 ns / 500 ns (Typ.)NEP, Typical (1550 nm)4.0 x 10-12 W/Hz1/2 (Typ.)暗电流 (5 V)60 µ A (Max.)电容(10 V) 电容(0 V)1800 pF (Max.) 16000 pF (Max.)分流电阻4000 Ohm (Typ.)封装形式TO-9最大额定值最大击穿打压10 V操作温度-55 to 60 °C存储温度-55 to 60 °C备注：1、典型值；RL = 50 Ω，除非另有说明 2、NEP指Ding在光伏模式下光谱响应曲线：二,铟镓砷 InGaAs 超大光敏面光电二极管(10mm ) 900-1700nm 近红外波长总览筱晓光子库存备有各种有效面积和封装的PIN结二极管(PD)，包括铟镓砷(InGaAs)、磷化镓(GaP)、硅(Si)和锗(Ge)光电二极管。我们有高速硅光电二极管。也有在900到2600 nm的范围内具有高响应率，其探测波长超过典型铟镓砷光电二极管的1800 nm。双波段光电二极管，它集成了上下紧贴在一起的两个光电探测器(硅基底在上，铟镓砷基底在下)，组合波长范围从400到1700 nm。为了丰富我们的光电二极管产品线，我们提供已安装的光电二极管便于客户供电即用，探测器有效面积边缘的不均匀性可能引起不必要的电容电阻效应，从而扭曲光电二极管的时域响应。因此，我们建议使光入射在有效面积中心。为此，可以在探测器前放置聚焦透镜或者针孔。铟镓砷 InGaAs 超大光敏面光电二极管(10mm ) 900-1700nm 近红外波长,铟镓砷 InGaAs 超大光敏面光电二极管(10mm ) 900-1700nm 近红外波长产品特点● 10mm超大光敏面● 900nm to 1700nm 光谱响应● 高线性 10 dBm● —正照平面型芯片结构 ● 光敏面积大、低暗电流产品应用● 激光功率计● LED/LD老化诊断● 光谱学● LED/LD特性● 眼睛安全激光检测传感器通用参数技术参数特性参数符号测试条件最小典型最大单位光谱响应范围λ—900～1700nm光敏面直径φ—10mm响应度 ReVR=5V,λ=1.31μm,φe=100μw0.85——A/WVR=5V,λ=1.55μm,φe=100μw0.95——响应时间tSVR=5V,RL=50Ω,f=2KHz—820μs总电容CVR=5V,f=1KHz—310nF暗电流IDVR=5V,φe=0—25100nA分流阻抗RshVR=10mV10——MΩ光谱响应曲线封装及尺寸极限值参数名称符号额定值单位工作温度TC-40～+85℃贮存温度TSTG-55～+125℃正向电流IF10mA反向电流IR5mA焊接温度（时间）St260℃（10s）-

采用独特设计的一款光泽仪，无需用手即可做到： -象测量平面一样测量曲面 -任何镜面或亚光的产品 -象测量大平面一样测量小工件 NOVO-CURVE小孔曲面光泽仪特征：测量曲面简便 连续测量模式可以极大地简化测量曲面样品时更容易识别准确的光泽值 可不使用手操作测量键 使用脚踏开关可以让用户更加轻松地对样品进行测量样品定位器可提高重复性 样品定位器可以固定不同形状的样品，从而能使测量点完全在一个位置上 统计分析数据 可显示统计分析的数据（最大值，最小值，平均值，标准偏差，变异系数） 更详细地分析数据 用USB数据线可将数据通过Novo-Soft™ 软件导入电脑，从而对数据进行进一步分析 检测的必要性 提高对光泽度的控制，可以让产品外观更接近于标准品此外，还可提供从粗糙面到镜面的标准板，带UKAS / ISO 17025证书 NOVO-CURVE小孔曲面光泽仪应用： 涂料：室内用具，各种笔，玩具等 木材：原木，涂过油漆或清漆的材料 汽车部件：方向盘，挡泥板等 塑料：各种挤压成型的产品，如窗户，框架，瓶子，手机等 家具：木质，金属或金属材料 漆釉陶瓷：杯子，盥洗用具，瓷砖等 柱状产品：管道，瓶子，软包装，易拉罐等 电镀：珠宝，门把手，手柄，纽扣等 伪装产品：低光泽的伪装产品，如望远镜，轻型武器等 金属：硬币 密封玻璃瓶：香水瓶，威士忌瓶等NOVO-CURVE小孔曲面光泽仪技术特点： 操作• 将测试工件放在测试盘中间的测量孔上• 仪器上四个可调的旋柱用以固定样品，保持测量值的稳定性 测试盘可选用定制的夹具测量小工件和成型样品• 测量时可以选用脚踏开关方便操作,直接读值，可以腾出双手来调节样品• 也可以选用仪器正面的操作按钮测量• 使用脚踏开关或长时间按住操作按钮,进入连续模式，并移动测试工件,做出快速评估；对于弯曲的表面，操作测量样品，知道光泽值达到峰值，这就是被测样的光泽值• 测量数据可以传输到 PC 机或连接的打印机 使用内置的统计值评估样品或批次的变化和质量• 通过USB下载数据，在NOVO-SOFT™ 软件中数据分析或存储，读数和报告可以很容易导出到MS Excel。 附件：可追溯BAM校准板和证书标准板清洁布脚踏板4个样品夹柱USB数据线Novo-Soft™ 质量评估软件光盘操作使用说明PDF格式110 – 120V AC /220 – 240V AC电源包 规格参数:符合 ASTMD523经 ISO2813校验重复性 0.2GU (200GU)重现性 0.5GU(200GU)量程： 0-1000GU (@60°)测量区域：开孔直径：4.5mm试样尺寸：2*2mm数据存储量：199个统计值：最大值,最小值,平均值,标准方差重量 ：2.5kg尺寸： 230 x 230 x 100mm电源 ：110 – 120V AC /220 – 240V AC 仪器可显示英语, 法语, 德语, 意大利语, 西班牙语和荷兰语。除非在订单中特殊要求,否则初始设置为英语。标准：ISO 2813色漆和清漆不含金属颜料的色漆漆膜的20°、60°和85°镜面光泽的测定ASTM D523镜面光泽试验方法

中图仪器SJ6000国产单频激光干涉仪集光、机、电、计算机等技术于一体，产品采用进口高性能氦氖激光器，它利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。SJ6000国产单频激光干涉仪可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。工作原理激光干涉仪利用激光光束的干涉原理来测量物体的形状和表面的高度差异。其原理是基于两束相干光在空间交叉的地方发生干涉，形成干涉条纹，通过测量干涉条纹的变化来推断被测量物体的参数。测量原理激光干涉仪的测量原理主要包括相位测量和位移测量。相位测量是通过测量干涉条纹的相位差来计算被测量物体的形状、位置等参数；位移测量是通过测量干涉条纹的位移来确定物体的位移量。这两种测量原理在不同应用场景下有着各自的优势和适用性。产品特点 精度高SJ6000激光干涉仪以干涉技术为核心，其光波可直接对米进行定义。采用激光双纵模热稳频技术，可实现高精度、抗干扰能力强、长期稳定性好的激光频率输出；采用高精度环境补偿模块，可实现激光波长和材料的自动补偿；干涉镜与主机分离设计，避免干涉镜受热影响，保证干涉光路稳定可靠。功能广（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。软件强（1）友好的人机界面；（2）丰富的应用功能模块；（3）向导式的操作流程；（4）简洁化的记录管理；（5）支持中文、英文和俄文界面；（6）支持企业专属模板定制。 SJ6000国产激光干涉仪直线导轨平行度平台平面度数控机床线性测量非接触式、高精度的特点使其适用于各种复杂的运动系统，不仅仅局限于运动导轨，还可以检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等。帮助企业提高设备性能，减少维护成本和停机时间，为制造业提供了一种精密的测量检测方式。部分技术指标主机稳频精度：0.05ppm动态采集频率：50 kHz预热时间：≤ 6分钟工作温度范围：(0~40)℃存储温度范围：(-20~70)℃环境湿度：(0~95)%RH 环境补偿单元空气温度传感器：±0.1℃ (0~40)℃，分辨力0.01℃材料温度传感器：±0.1℃ (0~55)℃，分辨力0.01℃空气湿度传感器：±6%RH (0~95)%RH大气压力传感器：±0.1kPa (65~115)kPa线性测量距离：(0~80)m (无需远距离线性附件)角度测量范围：±10°平面度测量范围：±1.5mm直线度测量范围：±3mm垂直度测量范围：±3/M mm/m 便携箱尺寸：613*460*230mm标准配置重量：18kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

系统简介：SSC-SPV-SPC 稳态表面光电压测试系统主要用于半导体粉末材料的光生电压性能的测试分析，可开展光催化等方面的机理研究，主要应用于测量光电功能材料的表面光伏、表面光电流、估算光电转换效率、研究光催化机理、光解水制氢、太阳能电池、光电气敏传感器等。表面光电压谱与普通的通透射光谱不同,它是作用光谱,是利用调制光激发而产生光伏信号。因此所检测的信号包括两方面信息：一个是常见的光电压强度谱,它正比于样品的吸收光谱 另一个是相位角谱。 SPV信号的实质是对样品施加在强度上正弦调制的光脉冲,将会导致一个相同频率调制的,而且是正弦波的表面电势的变化。影响表面电势值的是少数载流子平均扩散距离内的光生电子或空穴,即Vspv在比少数载流子平均寿命更长的时间后才出现极值。因此,在人射光脉冲和 Vspv.的极值之间有一个时间延迟，也即相位差。 系统特点：1. 模组化设计，紧扣用户需求，经济灵活，适用面广，升级、改造、维护均很方便；2. 可选大功率卤钨灯或大功率氙灯光源，也可使用用户已有或指定的光源；3. 独特的分光系统，保证良好的波长准确度和重复性，消除多级谱的影响，杂散光小；4. 具有弱信号处理能力，可有效提高信噪比，保证测量精度；5. 光路设计一体化、所有光路均在暗室中或封闭光路中进行，无外界杂光干扰6. 自主研发高性能弱信号处理器，可配置进口直流信号隔离前置放大器，有效隔离偏光照射样品产生的直流分量，并可进行所有控制信号的自动切换。 7. 配套完整的全自动化专用系统软件测试项目： 表面光电压SPV、表面光电流SPC、相位角。测试样品：粉末状材料（主要代表有TiO2、ZnO、CdS、GaAs、CdTe、CdSe等） 技术背景：表面光电压是固体表面的光生伏特效应,是光致电子跃迁的结果。1876年,W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上,这种光谱技术称为表面电压技术(Surface Photovoltaic Technique,简称SPV)或表面光电压谱(Surface Photovoltaic Spectroscopy,简称SPS)。表面光电压技术是一种研究半导体特征参数的极佳途径,这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时,历史性的第一次获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级,从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。SPV技术是最灵敏的固体表面性质研究的方法之一,其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌,因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。SPV技术所检测的信息主要是样品表层(一般为几十纳米)的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化,其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型(特别是有机半导体的导电类型)、半导体表面参数研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程,实现半导体的谱带解释,并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。由于SPV技术的诸多优点,SPV技术得到了广泛的应用，尤其是今年来随着微弱信号检测水平的提高和计算机技术的进展,SPV技术应用的范围得到了很大的扩展。系统特点如下： 技术参数：光电压谱测量最小电压10nV；功能材料的光电性质，可开展光催化等方面的机理研究光电流谱测量最小电流10 pA；研究功能材料光电流性质，可应用于太阳能电池、光解水制氢等方面的研究光伏相位谱分析相检测范围：-180°至+180°；可用于研究光生电荷的性质，如：光生电荷扩散方向；解析光生电荷属性等表面光电压、光电流、相位谱分析的光谱波长范围200-1600nm，可以全光谱连续扫描，光谱分辨率0.1nm，波长准确度±0.1nm光源配置氙灯光源（200/300-1100nm，标配）；卤素灯光源（400-1600nm，选配）；氘灯光源（190-400nm，选配）标配配件光学平台、机箱机柜、工业电脑、标准屏蔽插排等 测试系统暗箱内部：测试系统样品室采用暗箱避光设计结构；样品室内上方为主光光源出光口，出光口角度出厂前已调整好，可准确照射在样品上；粉末状测试样品置于样品盒内进行测试，样品盒外侧有电流/电压测试切换按钮，方便切换测试功能 软件系统：软件可实现对样品的全自动控制测试，自动扫描、信号放大、A/D、数据采集和数据处理，图表文件自动生成与显示；支持多种格式的数据和图片备份及打印输出功能，可导出为Excel、TXT 、XLS等格式的文件和数据；支持多组数据对比功能；粗大误差的自动去除，系统误差、线性误差、周期误差、T误差的自动校验。测量系统示意图： 1. 氙灯光源；2.单色仪；3.斩波器；4.汇聚透镜；5.反射镜；6频率调制光；7锁相放大器；8计算机含控制软件 相关组件：氘灯光源氘灯光源主要用于紫外，可到真空紫外界限195nm，并且波长越短，亮度越高，在360nm以下比一般卤钨灯的辐亮度高。氘灯光源室内置长寿命氘灯灯泡，用户可自行更换。可用作独立的紫外光源，荧光光源的激发光源，或与我公司生产的单色仪、光谱仪、样品室、滤光片轮等配套使用组成各种应用系统。卤钨灯光源卤钨灯光源室内置德国OSRAM原装进口灯泡及灯座，使用寿命长，用户可自行更换灯泡。光源具有色温高，光效高，光通稳定的特点，灯泡寿命终止时的光通量为开始时的95~98%，可基本保持恒定。输出光通量波动仅为0.12%~0.2%。该光源可与我公司生产的单色仪、样品室、滤光片轮等配套使用组成各种应用系-bottom:1px solid windowtext border-right:1px solid windowtext "XHA500/H（国产）光谱范围(Spectral Range)0.2mm－2.5mm