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对中仪的原理

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  • 【生活中的物理知识(一)】杠杆原理在生活中的应用

    正如前面的帖子中所说,物理知识是和我们的生活息息相关的,有很多的物理原理在我们的生活中应用,其中这里面也包含了杠杆原理。利用这些原理来处理我们生活中的一些事情,可以节省力气,提高效率等等。不是有这么一句话么“给我一个支点,我可以把地球给撬起来。”这就是杠杆原理的伟大作用。大家在生活中也一定遇到了许多利用杠杆原理的地方,可以列举出来供大家学习讨论。如果有创造性地利用杠杆原理的地方,那就更好了,可以说出来供大家参考。也可以设计能够利用杠杆原理来方便我们工作生活的方案,让大家讨论评比,好的让版主给与奖励。版主一定要支持哦!

  • 【资料】化学中的一些优先原理!

    1.优先放电原理电解电解质水溶液时,阳极放电顺序为:活泼金属阳极(Au、Pt 除外)S2-I- Br-Cl-OH- 含氧酸根离子和F-。即位于前边的还原性强的微粒优先失去电子。只要有水,含氧酸根离子和F-就不能失去电子。阴极:Ag+Hg2+Fe3+Cu2+H+Pb2+Sn2+Fe2+Zn2+Al3+Mg2+Na+Ca2+K+即位于前边的氧化性强的微粒优先得到电子。只要有水,一般H后面的离子不能得到电子。例l.用铂电极电解含物质的量浓度相同的Fe2+、Fe3+、H+的混合溶液时,优先在阴极上还原的是( )。ACu2+ B.Fe2+ CFe3+ D.H+ (选C)2.优先氧化原理若某一溶液中同时含有多种还原性物质,则加入一种氧化剂时,优先氧化还原性强的物质。例2.向l00ml含0.005moI/LKI和0.005mol/LKBr的混合溶液中通入标准状况下的Cl256m1,生成物为( )。A.KCl和Br2 B.KCl和I2 C..KCl和Br2 、I2 D.Br2解:因为还原性I-Br-,所以优先氧化I-,nI-=0.005* 0.l=0.00 5mol,nCl2=56/22400 =0.00025mol,由2I-+Cl2 =I2 +2Cl- 知I-和Cl2刚好反应完。Br-末反应,选B。3.优先还原原理若某一溶液中同时含有多种氧化性物质,则加入一种还原剂时,优先还原氧化性强的物质。例3.在含有Cu(NO3)2、Zn(NO3)2、Fe(NO3)3、AgNO3各0.0lmol的酸性混合溶液中加入0.01mol铁粉,经搅拌后发生的变化应是( )。A.铁溶解 析出0.01molAg和0.005molCu B. 铁溶解,析出0.0lmolAg并放出H2C.铁溶解,析出0.01molAg,溶液中不再有Fe3+ D.铁溶解,析出0.0lmolAg,溶液中不再有Cu2+。解:因为氧化性Ag+Fe3+Cu2+H+,所以先发生:2Ag+ + Fe = 2Ag + Fe2+ 再发生:2Fe3+ 十 Fe = 3Fe2+故选C。4.优先沉淀原理若某一溶液中同时存在几种能与所加试剂形成沉淀的离子,则溶解度(严格讲应为溶度积)小的物质优先沉淀。例4.向KCl、NaBr、KI混合溶液中逐渐加入AgNO3溶液时,先析出AgI,其次为AgBr,最后为AgCl。5.优先吸附原理任何固体都有吸附气体和液体的特性。但不同的固体物质对不同的气体或液体吸附能力不同,吸附能力大者优先吸附。例5.将活性炭粉末投入到NO2和O2的混合气体中,活性炭会优先吸附NO2,而留下O2,因为活性炭对有色气体和有色物质吸附能力很强,制糖工业中常用活性炭使糖浆脱色。又如金属钯(Pd)对H2的吸附能力就很强,常温下1体积钯能吸收700体积以上的H2。

  • 【讨论】PE紫外仪器中的衰减片工作原理?

    PE公司高端的紫外仪器中描述有一个部件——“参比及样品光束衰减器使仪器”,号称能测到样品的最后一个光子,特别是在测量高吸光度时候使用。一直不太明白这个部件的工作原理?在此求教了。

  • 热重分析仪的原理方法

    热重分析仪(Thermo Gravimetric Analyzer)是一种利用热重法检测物质温度-质量变化关系的仪器。热重法是在程序控温下,测量物质的质量随温度(或时间)的变化关系。 热重分析仪主要由天平、炉子、程序控温系统、记录系统等几个部分构成。最常用的测量的原理有两种,即变位法和零位法。所谓变位法,是根据天平梁倾斜度与质量变化成比例的关系,用差动变压器等检知倾斜度,并自动记录。零位法是采用差动变压器法、光学法测定天平梁的倾斜度,然后去调整安装在天平系统和磁场中线圈的电流,使线圈转动恢复天平梁的倾斜,即所谓零位法。由于线圈转动所施加的力与质量变化成比例,这个力又与线圈中的电流成比例,因此只需测量并记录电流的变化,便可得到质量变化的曲线。

  • 标准物质在仪器校准中应用的一般原理

    标准物质在仪器校准中应用的一般原理 在使用仪器方法进行化学成分分析时,目标量即特定基体中特定(被)分析物的含量,通常不是直接测量得到的,而是通过测量仪器的响应并将其转换为(被)分析物的含量。为确定仪器的响应与(被)分析物含量之间的关系,就需在整个量程范围内,测定(被)分析物含量已知的 标准物质 (校准物质或样品)的仪器响应。然后,比较测得的响应与(被)分析物含量参考值(认定值),导H{响应曲线的参数(如直线的斜率和截距),包括这些参数的不确定度。通过使用这些数据,可以从测得的响应推算出未知样品中的(被)分析物含量,同时也可从所测响应的不确定度和响应曲线参数的不确定度推算出(被)分析物含量的不确定度。ISO 11095(使用标准物质的线性校准)给出了使用标准物质设计校准实验以及在校准曲线是直线的情况下对常见个案的校准数据评价的一般描述。 现代仪器分析方法具有低检测限、高专一性、高精密度以及自动进样等很多优点,但在大多数情况下,仪器的输出信号(峰面积、计数、毫伏等)与被分析物的测量值(克、摩尔等)之间的关系是来自于某种经验公式。一般情况下,还没有经过详细研究的物理或化学理论来精确地描述被分析物的量与信号强度之间存在的某种关系。因此,测试样品中的被分析物的量无法用物理的或化学的基本原理准确测得。大多数分析测试仪器基于实验观测,仪器信号与被分析物的量存在下列函数关系 信号强度一K×(被分析物的量)” 仪器信号强度与被分析物的量之间常常是线性关系,n=1。由于没有合适的物理或化学理论支撑这些分析测量仪器的基本操作,上述公式中的比例常数K通常是未知的。 在这种情况下,实际分析测量工作中就有必要通过被分析物含量准确已知的特殊样品(通常为有证标准物质或校准物质)来校准仪器的输出信号。通过比较用校准物质获得的信号与测试样品获得的信号,并由下列公式计算测量样品中被分析物的量 样品中被分析物的量一蒺器×校准物中被分析物的量 当分析仪器信号随被分析物的量呈线性变化(即n一1)时,可以用该公式计算样品中被分析物含量。显然,当校准物质或样品和测试样品的n和K值都相同时,用以上公式计算测试样品中被分析物量的有效性取决于,z和K的值。换句话说,分析仪器对被分析物和校准物质的响应的程度必须相同。只有这样才能进行有效的比较,否则校准物质所产生的的信号与测试样品所产生的信号不具有可比性。如果仍然采用上述方法计量被分析物的量,就会产生错误的分析测量结果。因此,我们必须确定仪器的校准条件能适用于要分析测试的样品,正确选择和使用适当的分析仪器校准用有证标准物质(CRM)。 通常由于大多数分析测量样品的基体与校准用标准物质的基体存在着很大的差异,因此,由校准过程导出的不确定度估算一般是不全面的。所以,还必须另外使用与被测样品基体相匹配校准样品来测定,并最终修正由于校准中基体不匹配所引起的偏差。原则上讲,基体匹配的标准物质已经用于校准实践,但实际上只是在一些特定的领域应用较多,如气体分析领域中使用。很多情况下,人们使用由纯物质制备而得的校准溶液进行来校准分析仪器,并且使用基体匹配的标准物质来研究考察基体效应引起的偏差。这种状况甚至使一些分析测量工作者产生了一种错误看法,他们认为基体标准物质不能用于校准,而只能用于质量控制。 校准是建立溯源性的最根本的过程。只有通过校准,才能在实践中获得对适当参考标准的溯源性。 本文参考了国家标准物质网资料中心的相关资料

  • 【分享】几种测厚仪的测量方法及原理

    在有关国家和国际标准中,对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,统称为覆层(coating)。 在加工工业、表面工程质量检测中,对覆层的厚度检测是检验产品优等质量标准的重要环节和必备手段。  覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 随着科学技术的进步,对覆层厚度的测量的技术也随之进步。特别是近年来引入微机技术后,采用先进的磁性法和涡流法的[url=http://www.okyiqi.com/pages_products/prolist_17.html][color=black]测厚仪[/color][/url]进行覆层厚度的检测。此类测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率有了大幅度的提高,测量分辨率已达0.1微米,精度可达到1%。下面分别介绍磁性法和涡流法的测厚仪的原理。一. 磁吸力测厚仪的测量原理  永久磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系,这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪,只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型,所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢,接力簧,标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后,将测量簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力,磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。  这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源,测量前无须校准,价格也较低,很适合车间做现场质量控制。二. 磁感应测厚仪的测量原理  采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。  磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。三. 电涡流测厚仪

  • 气质联用仪中的离子阱检测器的原理

    原理类似于四极分析器,但让离子贮存于井中,改变电极电压,使离子向上、下两端运动,通过底端小孔进入检测器。检测器的作用是将离子束转变成电信号,并将信号放大,常用检测器是电子倍增器。当离子撞击到检测器时引起倍增器电极表面喷射出一些电子,被喷射出的电子由于电位差被加速射向第二个倍增器电极,喷射出更多的电子,由此连续作用,每个电子碰撞下一个电极时能喷射出2~3个电子,通常电子倍增器有14级倍增器电极,可大大提高检测灵敏度。

  • 【讨论】-关于农残检测中的基质效应的原理

    在以前的讨论中有关于基质效应的讨论,关于如何有效解决农残检测中的基质效应也有详细的讨论。但是正如有版友提出的那样,基质效应的具体原理是什么?从另一个方面来说,只有知道了其具体的原理,才能有效的解决问题。希望大家结合实际分析工作的经验多多发表自己对基质效应产生的原理。

  • 【实战宝典】环境领域中水土一体吹扫捕集仪的工作原理?

    【实战宝典】环境领域中水土一体吹扫捕集仪的工作原理?

    问题描述:环境领域中水土一体吹扫捕集仪的工作原理?解答:[font=宋体]环境领域内的水土一体吹扫补集仪是一套利用吹扫和捕集技术对挥发性有机物样品前处理的微控系统。仪器将自动进样和浓缩系统结合为一体,以分析包括饮用水、废水、土壤和污泥在内的固体和液体样品。仪器可自动程序化完成包括样品瓶传送、可控的进样体积、标准进样、稀释、系统冲洗、吹扫、脱附和系统烘烤在内的样品预处理、吹扫和捕集等过程。[/font][font=宋体]以美国[/font]Tekmar[font=宋体]公司生产的[/font]AtomxXYZ[font=宋体]水土一体吹扫捕集仪为例,该仪器进样针可将样品定量的从样品瓶转移至吹扫管,对于低浓度的固体样品直接在样品瓶中吹扫并将吹扫出的挥发性有机物转移至捕集阱;而对于高浓度的固体样品将自动经由甲醇萃取并稀释后转移至吹扫管中分析。[/font][font=宋体]该仪器是基于吹扫补集的基本原理设计的,即已知量的样品置于封闭容器中,样品经过惰性气体吹扫,挥发性有机物从样品基质中被分离出来,[/font][font=宋体]并被保留在样品捕集阱中,吹扫气体则通过捕集阱直接排出。随后,保留在捕集阱中的挥发性有机物通过捕集阱加热被再次解析出来,并加以反向的载气,挥发性有机物最终进入到[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]系统中,通过[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]的常规操作实现分离和检测的目的。[/font]AtomxXYZ[font=宋体]水土一体吹扫捕集仪可同时满足水和土中挥发性有机物的测定,图[/font]9-12[font=宋体]和图[/font]9-13[font=宋体]分别提供了水的吹扫捕集流路图和土的吹扫捕集流路图。[/font][align=center][img=,486,416]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/07/202207121257267604_2483_3389662_3.jpg!w607x443.jpg[/img][/align][align=center][font=宋体]图[/font]9-12[font=宋体]水的吹扫捕集流路图[/font][/align][align=center][img=,512,416]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/07/202207121257332418_9505_3389662_3.jpg!w677x497.jpg[/img][/align][align=center][font=宋体]图[/font]9-13[font=宋体]土的吹扫捕集流路图[/font][/align]以上内容来自仪器信息网《样品前处理实战宝典》

  • 化学反应中的电子——基本原理

    化学反应中的电子——基本原理[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=15753]化学反应中的电子——基本原理[/url]

  • 牛奶中乳糖的检测原理

    [align=center][font='calibri light'][size=18px]牛奶中乳糖的检测原理[/size][/font][/align][size=16px]检测牛奶的仪器技术主要有两类,一类是近红外技术,一类是超声波技术。近红外技术测试更加准确,但是仪器很贵,不适合中小型牧场使用。所以很多牧场都是使用超声波原理的仪器来测牛奶。那今天我们就来谈一谈牛奶中乳糖检测的超声波原理。[/size][size=16px]超声波测量的原理是利用超声波在物质中的传播速度和衰减特性来推断物质的性质和浓度。超声波是指频率超过20kHz的声波,通常利用压电晶体产生和接收超声波。[/size][size=16px]在检测牛奶时,仪器通过进样口将奶样吸入到超声波传感器中,这个时候超声波传感器通过[/size][size=16px]发射超声波脉冲并接收反射的超声波信号,从而测量乳糖的含量[/size][size=16px]。[/size][size=16px]乳糖的检测就算建立在这个基础上,当超声波通过液体中的溶质时,会发生声阻抗的突变,从而使超声波发生反射、散射和衰减。根据超声波在液体中传播的速度和衰减程度的变化,可以推断液体中溶质的浓度。[/size][size=16px]具体到乳糖测量中,乳糖是一种溶解在牛奶中的溶质,当超声波通过牛奶的乳糖时,会与乳糖相互作用,导致超声波的传播速度和衰减程度发生变化,然后间接地推断乳糖的含量。[/size][size=16px]超声波测量乳糖的过程中,需要注意以下几点。首先,超声波的频率需要选择合适的范围,通常在1MHz 到100MHZ 之间。其次超声波的传感器应该与牛奶充分接触,以确保超声波的传播路径在牛奶中。另外,检测的牛奶中一定不能有气泡,不然会影响检测。[/size][size=16px]超声波测量乳糖的优点很多。首先,超声波测量是一种非侵入式的方法,不需要破坏样品或加入任何试剂。其次,超声波测量是一种实时的方法,可以在短时间内获取乳糖含量的信息。此外超声波测量具有较高的灵敏度和准确性,可以满足牛奶工业对乳糖含量的严格要求.[/size][size=16px]总结起来,超声波测量乳糖的原理是利用超声波在[/size][size=16px]牛奶[/size][size=16px]中的传播速度和衰减特性来推断乳糖的含量。通过测量超声波在[/size][size=16px]牛奶[/size][size=16px]中的传播速度和衰减程度的变化,可以间接地推断乳糖的含量。超声波[/size][size=16px]技术可以[/size][size=16px]用于[/size][size=16px]牛奶[/size][size=16px]质量控制和鉴别乳糖不耐症。[/size]

  • 半导体晶片温度控制中制冷原理说明

    半导体晶片温度控制是目前针对半导体行业所推出的控温设备,无锡冠亚半导体晶片温度控制采用全密闭循环系统进行制冷加热,制冷加热的温度不同,型号也是不同,同时,在选择的时候,也需要注意制冷原理。  半导体晶片温度控制制冷系统运行中是使用某种工质的状态转变,从较低温度的热源汲取必需的热量Q0,通过一个消费功W的积蓄过程,向较热带度的热源发出热量Qk。在这一过程中,由能量守恒取 Qk=Q0 + W。为了实现半导体晶片温度控制能量迁移,之初强制有使制冷剂能达到比低温环境介质更低的温度的过程,并连续不断地从被冷却物体汲取热量,在制冷技巧的界线内,实现这一过程有下述几种根基步骤:相变制冷:使用液体在低温下的蒸发过程或固体在低温下的消溶或升华过程向被冷却物体汲取热量。平常空调器都是这种制冷步骤。气体膨胀制冷:高压气体经绝热膨胀后可达到较低的温度,令低压气体复热可以制冷。气体涡流制冷:高压气体通过涡流管膨胀后可以分别为热、冷两股气流,使用凉气流的复热过程可以制冷。热电制冷:令直流电通过半导体热电堆,可以在一端发生冷效应,在另一端发生热效应。  半导体晶片温度控制在运行过程中,高温时没有导热介质蒸发出来,而且不需要加压的情况下就可以实现-80~190度、-70~220度、-88~170度、-55~250度、-30~300度连续控温。半导体晶片温度控制的原理和功能对使用人员来说有诸多优势: 因为只有膨胀腔体内的导热介质才和空气中的氧气接触(而且膨胀箱的温度在常温到60度之间),可以达到降低导热介质被氧化和吸收空气中水分的风险。  半导体晶片温度控制中制冷原理上如上所示,用户在操作半导体晶片温度控制的时候,需要注意其制冷的原理,在了解之后更好的运行半导体晶片温度控制。

  • 液相色谱仪的原理在工业中的使用

    液相色谱仪是在实验室里用。想知道有没有大号的液相色谱仪被用在工业生产中来出产品? 或者液相色谱仪的工作原理有在工业中使用来生产什么东西吗?

  • 【分享】5种常见水分测定仪器的原理

    水分测定可以是工业生产的控制分析,也可是工农业产品的质量检定;可以从成吨计的产品中测定水分也可在实验室中仅用数微升试液进行水分分析;可以是含水量达百分之几至几十的常量水分分析,也可是含水量仅为百万分之一以下的痕量水分分析等等。    水分分析方法—般可分为两大类,即物理分析这和化学分析法。经典水分分析方法已逐渐被各种水分分析方法所代替,目前市场上主要存在的水分测定仪主要有以下5种    1.卡尔费休水分测定仪:    卡尔费休法简称费休法,是1935年卡尔费休(KarlFischer)提出的测定水分的容量分拆方法。费休法是测定物质水分的各类化学方法中,对水最为专一、最为准确的方法。虽属经典方法但经过近年改进,提高了准确度,扩大了测量范围,已被列为许多物质中水分测定的标准方法。    费休法属碘量法,其基本原理是利用碘氧化二氧化硫时,需要—定量的水参加反应:    12十S02十2H2O=2HI十H2SO4    上述反应是可逆的。为了使反应向正方向移动并定量进行,须加入碱性物质。实验证明,吡啶是最适宜的试剂,同时吡啶还具有可与碘和二氧化硫结合以降低二者蒸气压的作用。因此,试剂必须加进甲醇或另一种含活泼OH基的溶剂,使硫酸酐吡啶转变成稳定的甲基硫酸氢吡啶。

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