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超声衰减粒度仪

仪器信息网超声衰减粒度仪专题为您提供2024年最新超声衰减粒度仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括超声衰减粒度仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的超声衰减粒度仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合超声衰减粒度仪相关的耗材配件、试剂标物,还有超声衰减粒度仪相关的最新资讯、资料,以及超声衰减粒度仪相关的解决方案。

超声衰减粒度仪相关的仪器

  • 超声衰减法的原理:  超声波发生端(RF Generator)发出一定频率和强度的超声波,超声波经过测试区域后,到达信号接收端(RF Detector)。当颗粒通过测试区域时,由于不同大小的颗粒及浓度不同的体系对声波的吸收程度不同,在接收端上得到的声波的衰减程度也就不一样,根据颗粒大小同超声波强度衰减之间的关系,得到颗粒的粒度分布,同时还可测得体系的浓度。特点:可对强酸强碱体系、腐蚀性浆料等的悬浮液、乳浊液和高浓度溶液中的颗粒进行测量,被测试物料的体积浓度可高达70%。参 数指 标浓度范围1-70% typ.(体积浓度)测试范围0.1-3000微米 (Xmax/Xmin1000)测试精度σ0.5% (同一产品单次取样重复测试结果)σ1.0% (同一产品分次取样测试结果)温度范围≤80℃样品池容积250-1000毫升溶液pH值1-14测试时间1min typ.材质不锈钢、SIGRADUR® 、强化纤维TEFLON® 等配套文件资料整套仪器操作维护手册、软件操作说明书中英文各一套、仪器软件原版光盘、系统恢复光盘、仪器配置清单光盘
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  • 美国MAS超声法粒度检测仪公司介绍美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前,美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成,可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波,由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同, 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用:综合稳定水泥浆,陶瓷,化学机械研磨,煤浆,涂料,化妆品,环境保护禅选法矿物富集,食品工业,乳胶,微乳,混合分散体系,纳米粉,无水体系,油漆成像材料。主要特点:1)能分析多种分散物的混合体;2)无需依赖Double Layer模式,准确地判定等电点;3)可适用于高导电(highly conducting)体系;4)可排除杂质及对样品污染的干扰;5)可准确测量无水体系;6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术,无需先测量粒度即可进行电位测量;7)样品的高浓度可达60%(体积比),被测样品无需稀释,对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量;8)具有自动电位滴定功能;优于光学方法的技术优势:1)被测样品无需稀释;2)排除杂质及对样品污染的干扰;3)不需定标;4)能分析多种分散物的混合体;5)高精度;6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS超声法粒度检测仪优于electroactics方法的技术优势:1)无需定标;2)能测更宽的粒径范围;3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲;5)零表面电荷条件下也可测量粒径;6)可适用于无水体系;7)可适用于高导电(highly conducting)体系;优于微电泳方法的技术优势:1)无需稀释,固合量高达60%;2)可排除杂质及对样品污染的干扰;3)高精度(±0.1mv);4)低表面电荷(可低至0. 1mv);5)electrosmotic flow不影响测量;6)对流(convection)不影响测量;7)可准确测量无水体系;美国MAS超声法粒度检测仪技术参数:1)所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;2)可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减;3)Zeta电位测量范围:+/-200 mv,低表面电荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径;5)允许样品浓度:0.1-60%(体积百分数);6)样品体积:30-230ml;7)PH范围:0~14 8)电导率范围:0~10 s/m
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  • 多功能超声粒度仪 400-860-5168转4590
    多功能超声粒度仪公司介绍美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前,美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成,可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波,由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同, 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用:综合稳定水泥浆,陶瓷,化学机械研磨,煤浆,涂料,化妆品,环境保护禅选法矿物富集,食品工业,乳胶,微乳,混合分散体系,纳米粉,无水体系,油漆成像材料。主要特点:1)能分析多种分散物的混合体;2)无需依赖Double Layer模式,准确地判定等电点;3)可适用于高导电(highly conducting)体系;4)可排除杂质及对样品污染的干扰;5)可准确测量无水体系;6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术,无需先测量粒度即可进行电位测量;7)样品的高浓度可达60%(体积比),被测样品无需稀释,对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量;8)具有自动电位滴定功能;优于光学方法的技术优势:1)被测样品无需稀释;2)排除杂质及对样品污染的干扰;3)不需定标;4)能分析多种分散物的混合体;5)高精度;6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um多功能超声粒度仪优于electroactics方法的技术优势:1)无需定标;2)能测更宽的粒径范围;3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲;5)零表面电荷条件下也可测量粒径;6)可适用于无水体系;7)可适用于高导电(highly conducting)体系;优于微电泳方法的技术优势:1)无需稀释,固合量高达60%;2)可排除杂质及对样品污染的干扰;3)高精度(±0.1mv);4)低表面电荷(可低至0. 1mv);5)electrosmotic flow不影响测量;6)对流(convection)不影响测量;7)可准确测量无水体系;多功能超声粒度仪技术参数:1)所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;2)可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减;3)Zeta电位测量范围:+/-200 mv,低表面电荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径;5)允许样品浓度:0.1-60%(体积百分数);6)样品体积:30-230ml;7)PH范围:0~14 8)电导率范围:0~10 s/m
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  • 美国MAS超声粒度仪 400-860-5168转4590
    2021年产品推荐(解决方案)美国MAS超声粒度仪美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前,美国MNS公司纳米粒度及Zeta电位分析仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成,可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波,由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同, 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。产品特点:1)采用专门的电动声波振荡技术,该仪器可完成非凡的电动测量结果,从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品,从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释,Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作;4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中;5)自动滴定法用于简单的IEP测量;6)样品可被强烈搅拌或混合,因此不会产生沉淀物;7)高频电场采用非常短的脉冲,因此样品测量时不会产生错误;8)可实时测量实际样品;9)不使用光学技术,因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品;10)可测量水溶液、非水溶液分散系,分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒;11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量,不须特别的样品池,样品可随时从任何现场或实验中获取,可直接实时获得理想的数据美国MAS超声粒度仪技术参数:1)测量样品不需要稀释或样品准备,从而消除了操作失误和数据的不确定性,同时节省了时间;2)物有所值的谐振硬件设计;3)宽粒径测量范围:从1nm到30um;4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位(IEP)测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定;5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力,没有粒子沉降的不利影响;6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中,测量精确、重复性好,方便使用;7)可测量高粘度的样品,样品浓度可从0.1%到60%;8)可在0-14的pH值范围内进行测定;9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标;10)小样品容量10ml,没有大容量限制;11)微软支持的软件界面,带强大的数据管理功能;12)12个月的保质期和免费的技术咨询
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  • 美国MAS超声法粒度检测仪公司介绍美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前,美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成,可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波,由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同, 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用:综合稳定水泥浆,陶瓷,化学机械研磨,煤浆,涂料,化妆品,环境保护禅选法矿物富集,食品工业,乳胶,微乳,混合分散体系,纳米粉,无水体系,油漆成像材料。主要特点:1)能分析多种分散物的混合体;2)无需依赖Double Layer模式,准确地判定等电点;3)可适用于高导电(highly conducting)体系;4)可排除杂质及对样品污染的干扰;5)可准确测量无水体系;6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术,无需先测量粒度即可进行电位测量;7)样品的高浓度可达60%(体积比),被测样品无需稀释,对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量;8)具有自动电位滴定功能;优于光学方法的技术优势:1)被测样品无需稀释;2)排除杂质及对样品污染的干扰;3)不需定标;4)能分析多种分散物的混合体;5)高精度;6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS超声法粒度检测仪优于electroactics方法的技术优势:1)无需定标;2)能测更宽的粒径范围;3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲;5)零表面电荷条件下也可测量粒径;6)可适用于无水体系;7)可适用于高导电(highly conducting)体系;优于微电泳方法的技术优势:1)无需稀释,固合量高达60%;2)可排除杂质及对样品污染的干扰;3)高精度(±0.1mv);4)低表面电荷(可低至0. 1mv);5)electrosmotic flow不影响测量;6)对流(convection)不影响测量;7)可准确测量无水体系;美国MAS超声法粒度检测仪技术参数:1)所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;2)可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减;3)Zeta电位测量范围:+/-200 mv,低表面电荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径;5)允许样品浓度:0.1-60%(体积百分数);6)样品体积:30-230ml;7)PH范围:0~14 8)电导率范围:0~10 s/m
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  • 美国MAS多功能超声法粒度分析仪公司介绍美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前,美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成,可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波,由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同, 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用:综合稳定水泥浆,陶瓷,化学机械研磨,煤浆,涂料,化妆品,环境保护禅选法矿物富集,食品工业,乳胶,微乳,混合分散体系,纳米粉,无水体系,油漆成像材料。主要特点:1)能分析多种分散物的混合体;2)无需依赖Double Layer模式,准确地判定等电点;3)可适用于高导电(highly conducting)体系;4)可排除杂质及对样品污染的干扰;5)可准确测量无水体系;6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术,无需先测量粒度即可进行电位测量;7)样品的高浓度可达60%(体积比),被测样品无需稀释,对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量;8)具有自动电位滴定功能;优于光学方法的技术优势:1)被测样品无需稀释;2)排除杂质及对样品污染的干扰;3)不需定标;4)能分析多种分散物的混合体;5)高精度;6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS多功能超声法粒度分析仪优于electroactics方法的技术优势:1)无需定标;2)能测更宽的粒径范围;3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲;5)零表面电荷条件下也可测量粒径;6)可适用于无水体系;7)可适用于高导电(highly conducting)体系;优于微电泳方法的技术优势:1)无需稀释,固合量高达60%;2)可排除杂质及对样品污染的干扰;3)高精度(±0.1mv);4)低表面电荷(可低至0. 1mv);5)electrosmotic flow不影响测量;6)对流(convection)不影响测量;7)可准确测量无水体系;美国MAS多功能超声法粒度分析仪技术参数:1)所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;2)可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减;3)Zeta电位测量范围:+/-200 mv,低表面电荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径;5)允许样品浓度:0.1-60%(体积百分数);6)样品体积:30-230ml;7)PH范围:0~14 8)电导率范围:0~10 s/m
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  • 美国MAS多功能超声电声法粒度仪公司介绍美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前,美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成,可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波,由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同, 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用:综合稳定水泥浆,陶瓷,化学机械研磨,煤浆,涂料,化妆品,环境保护禅选法矿物富集,食品工业,乳胶,微乳,混合分散体系,纳米粉,无水体系,油漆成像材料。主要特点:1)能分析多种分散物的混合体;2)无需依赖Double Layer模式,准确地判定等电点;3)可适用于高导电(highly conducting)体系;4)可排除杂质及对样品污染的干扰;5)可准确测量无水体系;6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术,无需先测量粒度即可进行电位测量;7)样品的高浓度可达60%(体积比),被测样品无需稀释,对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量;8)具有自动电位滴定功能;优于光学方法的技术优势:1)被测样品无需稀释;2)排除杂质及对样品污染的干扰;3)不需定标;4)能分析多种分散物的混合体;5)高精度;6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS多功能超声电声法粒度仪优于electroactics方法的技术优势:1)无需定标;2)能测更宽的粒径范围;3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲;5)零表面电荷条件下也可测量粒径;6)可适用于无水体系;7)可适用于高导电(highly conducting)体系;优于微电泳方法的技术优势:1)无需稀释,固合量高达60%;2)可排除杂质及对样品污染的干扰;3)高精度(±0.1mv);4)低表面电荷(可低至0. 1mv);5)electrosmotic flow不影响测量;6)对流(convection)不影响测量;7)可准确测量无水体系;美国MAS多功能超声电声法粒度仪技术参数:1)所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;2)可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减;3)Zeta电位测量范围:+/-200 mv,低表面电荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径;5)允许样品浓度:0.1-60%(体积百分数);6)样品体积:30-230ml;7)PH范围:0~14 8)电导率范围:0~10 s/m
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  • 2021年产品推荐(解决方案)美国MAS多功能超声粒度分析仪美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前,美国MNS公司纳米粒度及Zeta电位分析仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成,可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波,由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同, 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。产品特点:1)采用专门的电动声波振荡技术,该仪器可完成非凡的电动测量结果,从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品,从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释,Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作;4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中;5)自动滴定法用于简单的IEP测量;6)样品可被强烈搅拌或混合,因此不会产生沉淀物;7)高频电场采用非常短的脉冲,因此样品测量时不会产生错误;8)可实时测量实际样品;9)不使用光学技术,因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品;10)可测量水溶液、非水溶液分散系,分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒;11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量,不须特别的样品池,样品可随时从任何现场或实验中获取,可直接实时获得理想的数据美国MAS多功能超声粒度分析仪技术参数:1)测量样品不需要稀释或样品准备,从而消除了操作失误和数据的不确定性,同时节省了时间;2)物有所值的谐振硬件设计;3)宽粒径测量范围:从1nm到30um;4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位(IEP)测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定;5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力,没有粒子沉降的不利影响;6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中,测量精确、重复性好,方便使用;7)可测量高粘度的样品,样品浓度可从0.1%到60%;8)可在0-14的pH值范围内进行测定;9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标;10)小样品容量10ml,没有大容量限制;11)微软支持的软件界面,带强大的数据管理功能;12)12个月的保质期和免费的技术咨询
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  • 探头式超声粒度仪 400-860-5168转4449
    基于超声衰减谱的探头式粒度分布测量仪测量范围:1nm ~ 3000μm 测量浓度:0.01vol% ~ 70vol%新一代颗粒粒度分布测量设备,具有快速准 确、使用范围广的特点。 它可以对 1nm ~ 3000μm 的悬浮液中的颗 粒粒度进行测量。测量样品的浓度从 0.01 vol% 到 70 vol%,并且无需任何稀释和其他处理。 适用于化工、制药、合成和食品等许多行业。技术数据产品特点在线纳米和微米颗粒粒径分布测量的小型化仪器● 多种探头设计,适用于反应釜、烧杯及管路等系统 ● 探头具有耐腐蚀性,能够对 pH 值 1~12 范围内的样品进行测量● 反射式探头:小巧、结构简单 ● 透射式探头:信号识别强 ● 流动样品槽设计,仅增加 8cm 不到的流程● 探管长度可根据客户需求个性定制● 适用于固体颗粒、液滴及气泡等复杂体系● 适用于多相液体混合体系,胶体等复杂体系● 捕捉在困难条件(高浓度、不透明)下的颗粒粒径● 快速响应,测量速度5 秒● 自动记录数据,提高工作效率 ● 无需取样、稀释及备样
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  • 产品概述美国分散科技公司(DTI)专注于非均相体系表征的科学仪器业务.DTI开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓分散体系中表征粒径分布、zeta电位、流变学参数、固体含量、孔隙率、包括CMP浆料,纳米分散体系、陶瓷浆料,电池浆料,水泥家族,药物乳剂等,并可应用于多孔固体。利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时,声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度,采用多频电声学测量技术测量胶体体系的Zeta电位。对于高达50%(体积)浓度的样品,无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理,既费时又容易出错,而专有的多频电声技术则可避免这些问题。美国DT超声粒度及Zeta电位仪DT-1202的超声探头(Zeta Probe)能直接在样品的原始条件下测量zeta电位,允许样品浓度高达50%(体积)。Zeta Probe 结构设计紧凑,外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点,可快速得到最佳分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用,通用性强,非常适用于科研及工厂的优化控制。 产品功能:粒径分布Zeta电位流变孔隙率电导率德拜长度(Debye length)双电层厚度Surface charge:双电层的面电荷密度粘度Du杜坎数(Dukhin number)MWf,即Maxwell-Wagner弛豫频率满足标准:美国DT超声粒度及Zeta电位仪DT-1202 完全符合ISO 13099-102012产品特点:所检测粒径范围从5nm至 1000um 可测量Zeta电位、超声波频率、电导率、pH、温度、声衰减、声速、电声信号,动态迁移率、等电点(IEP) Zeta电位测量范围无限制, 低表面电荷可低至0.1mV, 高精度(±0.1mV) 零表面电荷的条件下可测量粒径理论样品浓度0.1~50%(体积百分数)样品体积20-110ml(检测粒径),2-100ml(检测Zeta电位)(可选小样品池)pH 范围0.5~13.5 电导率范围0.0001~10 S/m(选件)温度范围 50℃最大粘度20,000厘泊独特功能:对于高达50%(体积)浓度的样品,美国DT超声粒度及Zeta电位仪DT-1202 无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理,既费时又容易出错,而专有的多频电声技术则可避免这些问题。超声探头(Zeta Probe)能直接在样品的原始条件下测量zeta电位,允许样品浓度高达50%(体积)。Zeta Probe 结构设计紧凑,外置的Zeta电位滴定装置(可选配)。自动滴定装置可自动、快速地判断等电点,可快速得到分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用,通用性强,非常适用于科研及工厂的优化控制。产品优势:l能分析多种分散物的混合物l无需依赖双电层模式,精确判定等电点l可是用于高导电体系l可排除杂质度样品污染的干扰l可精确测量无水体系l检测浓度高达50%,被测样品无需稀释,对浓缩胶体和乳胶可直接测量l具有自动电位滴定功能 超声原理:什么是ECAH模型?是由声波计算粒度分布的基本理论模型。由于超声波具有穿透能力强、能实现非接触测量的特点,非常适合实时在线测量,且其具有较宽的频带范围,确保可能对纳米到毫米级范围的颗粒进行测量。超声衰减法利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时,声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度。Epstein 等研究了含球形颗粒的介质中的声波动模型,Allegra等对其进行了发展,现统称为Epstein Carharts Allegra Hawley(ECAH)模型,它只适用于稀释系统,用来描述粘滞及热量衰减机制。这个理论被整合入DT-100 /1202用于对刚性的、小于4μm 的粗分子的悬浮液中模拟惯性粘滞效应,即由Dukhin and Goetz 发展起来先进颗粒-介质耦合(PMK)模型。应用领域:基于超声法原理,主要应用于原浓分散体系中表征粒径分布、Zeta电位、流变学参数、固体含量、CMP浆料,乳液、陶瓷浆料、电池浆料、水泥、药物乳剂等 客户案例:Intel 半导体厂 内蒙古化纤 东南大学生物系 中国科学院沈阳金属研究所 中国科学院化学研究所 美国P&G 北京技术研究中心 飞利浦荧光照明(马来西亚)公司江苏高佳太阳能股份有限公司 强生上海技术中心 比亚迪股份有限公司(深圳 ) 中石化四川维尼纶厂研究院 清华大学土木工程学院 中国建筑科学院国家水泥质检中心 西安建筑科技大学 温州大学 新乡胜达过滤净化技术有限公司 南京水利科学研究院 中烟集团云南烟草研究院 东北大学冶金学院 大庆师范大学三次采油研究所 中海油服务股份有限公司 湖南大学土木工程学院 北京化工大学 哈尔滨理工大学 锦州钛业 江苏建筑研究院 江西师范大学 成都理工大学 新疆农业大学 伯恩(Biel)光学有限公司 厦门理工学院 湖北工业大学 中科院化学所 大连工业大学 分析报告:见附件DT1202测试报告 售后服务:应用支持中心:在北京设有应用支持中心和应用实验室。负责用户培训及应用支持,做到对用户的问题24小时即时响应。层次一: 经过多次培训的分布于各办事处的专职销售及市场工程师和产品专家同时负责用户的基本应用问题解答及仪器状态的判断。层次二:设于北京技术服务中心及应用实验室的工程师负责仪器的安装、维修及用户培训,做到对用户的问题24小时即时响应。层次三:公司专家每年访问中国,帮助中国用户解决疑难问题。层次四:公司专家求助热线提供每天18小时的全球服务,答疑解惑。 1.仪器的安装,调试:仪器到达用户使用现场后,由厂方从北京,上海或广州派出工程师进行安装,调试工作。2.仪器的验收: 安装调试完毕后,用标准物质或指定样品进行验收。3.应用培训:在仪器安装,验收完成后,由卖方对用户人员进行现场培训,使用户能进行独立的上机操作。4.维修服务:1.保质期为仪器验收之后12个月。2.在接到用户报修后,24小时响应;若确认仪器故障,48小时内工程师到现场进行维修。 3.公司将及时提供仪器软件的免费升级。相关产品:DT-300/310,DT-100/110,DT-330
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  • CD公司的AcoustoSizer IIx提供了浓缩胶体分散液的彻底和完整表征。AcoustoSizer IIx具有无需稀释,在一台仪器中直接测量颗粒粒径,Zeta 电位,pH,电导率以及温度,它提供了全面的分析。传统的表征技术需要稀释或样品前处理,而且样品前处理即耗时又容易出错,AcoustoSizer IIx专利的多频电声频谱技术消除了这两个问题,AcoustoSizer IIx 在样品的原始状态下直接测量粒径和Zeta 电位,所测样品浓度可高达40%V/V。测量参数- 粒径分布- Zeta电位- 动态迁移率谱- 超声衰减谱- pH 值- 电导率- 温度仪器特点和优势可以测量浓缩胶体和乳液中的粒径和Zeta电位在传感器里无移动部件采用模块化设计,用于实验室和中试装置运行自动去除背景电解质信号,可用于高精度等电点测定流通传感器可用于胶体过程的连续监测高压脉冲电场提供了极好的信噪比使用传感器连接外部流量回路,实现在线检测使用电解液校准标准无需胶体的粒度和Zeta电位标准样品体积小至20ml先进的粒度分析-双峰、正态和对数正态粒径分布电声法和衰减光谱技术相结合于一台仪器,超宽的粒径范围0.01-100μm较宽的温度和粘度范围全自动电位滴定和体积滴定强大的并易于使用的操作软件,兼容Windows 10或11操作系统CD公司提供了宽广的服务范围帮助您充分利用这种功能强大的新型测量设备,ZetaProbe和AcoustoSizer IIx 能够适用于工厂的优化控制,QA/QC,科研或学术机构的使用。主要应用领域 陶瓷 食用胶体 生物胶体 均化控制 油漆和油墨 乳胶 纸张涂层 催化剂和沸 煤浆 胶合剂 制药 研磨 颜料 矿物质加工 过滤/ 脱水 抛光复合物等 天然乳汁 黏土 湿磨/ 研磨 磷光体 矿物 表面涂层控制应用案例● 优化分散剂用量:在氧化铝悬浮液中加入高分子电解质DarvanC,发现Zeta 电位的数值与高分子电解质DarvanC 加入量以及pH 有关● 准确的等电点(IEP)测量:相同的等电点IEP 为6.9,而不是7.8,而且两个浓度不同的样品在不同PH 下的Zeta 电位值几乎相同。用ZetaProbe 滴定二氧化钛在0.1M 氯化钾溶液中的悬浮液样品,采用自动背景校正
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  • DT-100 超声粒度检测仪 400-860-5168转3908
    DT-100 超声粒度分析仪DT系列仪器即是由专业从事声学研究的科学家组成的、位于美国新泽西州的dispersion technology Co.研发生产的系列仪器,可准确测量原浓溶液的粒径、流变及电动学参数,如zeta电位、电导率等等。DT-100 超声粒度分析仪DT-100 超声粒度分析仪■ 用于现付也和乳液表征;■ 可以是水相,极性和非极性溶剂;■ 超宽粒径测范围,从5nm至1000μm;单一理论;■ 不用稀释,测量原浓样品:0.1-50%(体积百分比);■ 无需校正;■ 频率范围:1-100MHz;■ 声频发生器和检测器之间的间隙可调;■ 通过Access数据库进行数据管理;
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  • DT-110 高浓体系超声粒度检测仪DT系列仪器即是由专业从事声学研究的科学家组成的、位于美国新泽西州的dispersion technology Co.研发生产的系列仪器,可准确测量原浓溶液的粒径、流变及电动学参数,如zeta电位、电导率等等。DT-110 高浓体系超声粒度检测仪用于水相、有机相(极性或非极性溶剂)悬浮液和乳液表征超宽粒径测量范围,5nm ~ 1000μm原浓溶液测试、无需校正过Access数据库进行数据管理用于样品小鱼5ml的粒度检测
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  • 美国MAS 在线检测粒度分析仪应用领域:泥浆、油墨、油漆、颜料、陶瓷卡瓦、催化剂、乳液(包括石油相关产品)在线粒度测量,工业加工状态,不必稀释样品经硬件设计可全(24 hours/7 days) 候运作,无需移动部件实时控制的快速测量 Mass Applied Sciences(MAS)推出一款新型的声波传感器粒径测量,用于监测和控制湿泥浆/胶体产品,包括半导体化学机械抛光(CMP)泥浆、油墨、油漆、颜料、陶瓷卡瓦、催化剂、乳液(包括石油相关产品)、药品以及食品和生物胶体。这款声粒径传感器不必用到运动部件,可测量处于工艺过程状态的泥浆,不必稀释, 大型工业市场的必要需求。这款新型的声波传感器粒径测量可用在许多工业生产 如加工管道、化学反应器、瓷砖印刷设备、半导体 CMP 抛光、石油生产/加工、药品输送系统等,同时具有显著的经济效益。MAS 基礎实验室的声波传感器粒径仪器目前已用於业界和学术界。MAS 申请中的声波传感器粒径,提供声衰减光谱测量,无需稀释样品,也无需使用移动部件。典型基础实验室的声衰减仪器,使用高分辨率的移动台,量测样品中多个间隙处的未稀释衰减(可对增强的粒度分布数据,进行宽带声测量)。然而对于连续运作而言,不希望用到移动部件。MAS 的声传感器经由分离声波换能器,在声反射层上的多个步骤,成功连续运作并在测到的声衰减谱中,演算产出粒度的分布数据。下图显示的声反射粒度分析(AREPA)传感器。蓝点代表液体中流动的粒子。 图1Particle Size Data 粒度数据下图显示了来自在线粒度测量在线声学传感器(AREPA)的数据。所讨论的样品是日产化学水中二氧化硅,其标称平均粒径为 110 纳米。下面的数据与这个名义粒径吻合得很好1)提供的测量值2)粒度分布 平均粒径 粒度百分比温度3)衰减和声速光谱 4)可选的 pH 值和电导率
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  • 美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪产品特点:1)采用专门的电动声波振荡技术,该仪器可完成非凡的电动测量结果,从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品,从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释,Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作;4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中;5)自动滴定法用于简单的IEP测量;6)样品可被强烈搅拌或混合,因此不会产生沉淀物;7)高频电场采用非常短的脉冲,因此样品测量时不会产生错误;8)可实时测量实际样品;9)不使用光学技术,因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品;10)可测量水溶液、非水溶液分散系,分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒;11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量,不须特别的样品池,样品可随时从任何现场或实验中获取,可直接实时获得理想的数据美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪技术参数:1)测量样品不需要稀释或样品准备,从而消除了操作失误和数据的不确定性,同时节省了时间;2)物有所值的谐振硬件设计;3)宽粒径测量范围:从1nm到30um;4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位(IEP)测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定;5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力,没有粒子沉降的不利影响;6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中,测量精确、重复性好,方便使用;7)可测量高粘度的样品,样品浓度可从0.1%到60%;8)可在0-14的pH值范围内进行测定;9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标;10)小样品容量10ml,没有大容量限制;11)微软支持的软件界面,带强大的数据管理功能;12)12个月的保质期和免费的技术咨询
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  • DT-110 高浓体系超声粒度检测仪1、用于水相、有机相(极性或非极性溶剂)悬浮液和乳液表征2、超宽粒径测量范围,5nm ~ 1000μm3、原浓溶液测试、无需校正4、过Access数据库进行数据管理5、用于样品小于5ml的粒度检测
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  • APS100高浓度纳米粒度仪原理简介:APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据,不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时,是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介,APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题,因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的,无需稀释样品。稀释样品费时,容易出错,并可能改变样品的实际PSD。简单地倒,或者连续泵送样品进入到APS的样品室,APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术,不需要假设PSD形状。其他类型的仪器,例如光散射,意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作,同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。APS100高浓度纳米粒度仪主要用途:1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆;2)陶瓷;3)油墨;4)乳剂稳定性;5)药品;6)生物胶体;7)荧光粉;8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑;9)催化剂;10)矿物;11)聚合物乳液;12)水和非水分散体系;APS100高浓度纳米粒度仪技术参数:1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据;2)不需要稀释样品;3)不需要假设PSD形状;4)粒度范围:0.005-100微米;5)无电解质干涉;6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品;7)可测量纵向粘度,%固体,PH值,电导率,温度,声衰减和声速度谱;8)具有自动滴定选项;9)专门技术:1-100MHz声衰减谱;10)溶剂:水/非水;11)样品固体%:0.1-60%体积比;12)样品体积:标准是120ml,50ml小体积可用;
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  • 美国MAS高浓度纳米粒度仪原理简介:APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据,不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时,是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介,APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题,因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的,无需稀释样品。稀释样品费时,容易出错,并可能改变样品的实际PSD。简单地倒,或者连续泵送样品进入到APS的样品室,APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术,不需要假设PSD形状。其他类型的仪器,例如光散射,意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作,同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。美国MAS高浓度纳米粒度仪主要用途:1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆;2)陶瓷;3)油墨;4)乳剂稳定性;5)药品;6)生物胶体;7)荧光粉;8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑;9)催化剂;10)矿物;11)聚合物乳液;12)水和非水分散体系;美国MAS高浓度纳米粒度仪技术参数:1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据;2)不需要稀释样品;3)不需要假设PSD形状;4)粒度范围:0.005-100微米;5)无电解质干涉;6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品;7)可测量纵向粘度,%固体,PH值,电导率,温度,声衰减和声速度谱;8)具有自动滴定选项;9)专门技术:1-100MHz声衰减谱;10)溶剂:水/非水;11)样品固体%:0.1-60%体积比;12)样品体积:标准是120ml,50ml小体积可用;
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  • AREPA 原液在线纳米粒度仪应用领域:泥浆、油墨、油漆、颜料、陶瓷卡瓦、催化剂、乳液(包括石油相关产品)在线粒度测量,工业加工状态,不必稀释样品经硬件设计可全(24 hours/7 days) 候运作,无需移动部件实时控制的快速测量 Mass Applied Sciences(MAS)推出一款新型的声波传感器粒径测量,用于监测和控制湿泥浆/胶体产品,包括半导体化学机械抛光(CMP)泥浆、油墨、油漆、颜料、陶瓷卡瓦、催化剂、乳液(包括石油相关产品)、药品以及食品和生物胶体。这款声粒径传感器不必用到运动部件,可测量处于工艺过程状态的泥浆,不必稀释, 大型工业市场的必要需求。这款新型的声波传感器粒径测量可用在许多工业生产 如加工管道、化学反应器、瓷砖印刷设备、半导体 CMP 抛光、石油生产/加工、药品输送系统等,同时具有显著的经济效益。MAS 基礎实验室的声波传感器粒径仪器目前已用於业界和学术界。MAS 申请中的声波传感器粒径,提供声衰减光谱测量,无需稀释样品,也无需使用移动部件。典型基础实验室的声衰减仪器,使用高分辨率的移动台,量测样品中多个间隙处的未稀释衰减(可对增强的粒度分布数据,进行宽带声测量)。然而对于连续运作而言,不希望用到移动部件。MAS 的声传感器经由分离声波换能器,在声反射层上的多个步骤,成功连续运作并在测到的声衰减谱中,演算产出粒度的分布数据。下图显示的声反射粒度分析(AREPA)传感器。蓝点代表液体中流动的粒子。 图1Particle Size Data 粒度数据下图显示了来自在线粒度测量在线声学传感器(AREPA)的数据。所讨论的样品是日产化学水中二氧化硅,其标称平均粒径为 110 纳米。下面的数据与这个名义粒径吻合得很好1)提供的测量值2)粒度分布 平均粒径 粒度百分比温度3)衰减和声速光谱 4)可选的 pH 值和电导率
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  • 压力衰减法密封仪 400-860-5168转3947
    压力衰减法密封仪压力衰减测试是一种用于检测无孔、刚性或柔性包装中泄漏的定量测量方法。如果加压气体的引人导致包装壁或密封件破裂,则该测试是破坏性的。如果将气引人测试样品不会损害包装屏障,则该测试是非破坏性的。压力衰减测试旨在用测试样品的气体顶空区域的完整性检测。为了进行测试,需将干燥空气或惰性气体压力源连接到配有内部压力监测装置的测试样品上,其测试样品需被加压至预定压力,且之后需与压力源隔离。在预时间内的压力衰减将被监测。超过使用阴性对照确定的预定极限的压力衰减表明容器存有泄漏。应用范围无孔、刚性或柔性包装可被检测:1、可以测试那些不受产品(例如油、水或其他液体)阻碍的包装表面:这种方法不会检测到液体填充水平以下的小泄漏2、当暴露于测试压力条件下时,柔性包装或具有非固定组件的包装分别需要用工具来限制包装膨胀或移动。其工具可最大限度地减小柔性包装的密封强度。并在整个泄漏路径上使包装体积和压差条件保持一致。3、压力衰减可用于测试从体积几毫升大型散装储存容器的任何包装。测试需要几秒到几个小时才能完成。测试较大容量的容器需要更长的测试时间。延长测试周期可检测较小的泄漏。压力衰减测试在产品生命周期的任何阶段都很有用。测试可以在实验室环境中进行,也可以在生产环境中线下进行。允许长时间测试的实验室或线下测试设备通常能够检测较小的泄漏。在包装填充和封闭之前,可以使用更高速的线上压力衰减设备来检查开口包装中的缺陷。压力衰减测试仪器包括将测试样品与测试系统压力传感器以及压力源连接的导管。仪器包括合适的定时器、电子控制和监视器。当仪器保持在温度受控的环境中时 测试样品(特别是体积较大的样品)在测试过程中保持在受控的恒温下 使用恒温干燥加压气体时,可以获得较大测试方法的灵敏度和重现性。可选择使用单独设计的工具分别限制可移动或柔性部件的移动或膨胀,从而保持测试样品体积的恒定同时限制其密封强度。 技术参数指标 参数真空度 0--100kPa检测孔径精度 <3μm设备操作 自带HMI内部压力 常压测试系统 真空传感器技术真空来源 外接真空泵测试腔 根据样品定做检测原理 真空衰减法/无损检测主机尺寸 500mmX360mmX320mm(长宽高)重 量 18Kg环境温度 20℃-30℃相对湿度 80%,无凝露工作电源 220V压力衰减法密封仪此为广告
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  • ATEQ 上海公司法国进口压力衰减&真空衰减法测试仪 ATEQ公司1975年成立,至今有近100000台泄漏测试仪器,在全球范围有超过500g用户的工F中使用。 针对制药行业密封完整性的测试需求,我们隆重推出容器密封完整性测试仪器:F6800-ME该机器审计用于容器无损完整性测试,适用于实验室应用、统计以及离线测试。该测量系统目标是通过测量达到的压力水平以及测试时间内的压力变化来检测容器泄露。测量系统遵循认可的行业标准,“ASTM F2339-09包装泄露无损检测标准试验方法。该试验方法是美国食品药品监督管理局(FDA)和卫生中心(CDRH)认可的共识标准,于2006年3月31日生效。技术亮点集成压力衰减法真空衰减两种方法双传感器双循环测试具有专利的控制阀组极小的内部容积(减小死体积)应用领域药物,预灌封注射器,卡式瓶安瓿瓶、西林瓶。BFS等包装功能测试方法:差压真空衰减法应用范围:西林瓶、安瓶、预灌封注射器、卡式瓶、BFS等包装填充物:液体、粉末、冻干等检测目的:防止 微生物入侵,产品被污染检测原理:包装泄露无损检测的标准实验方法检测精度:蕞低0.03ml/min(大约1um)数据追溯:符合FDA 21CFR数据追溯要求测试标准:ATSM 2338-09软件:方法学开发验证服务验证:3Q验证包技术规格:仪器外壳:316L不锈钢电源:90-250VAC/50-60Hz典型功耗:3.750W用户界面:7英寸多点触摸全高清彩色屏幕软件:用户管理,4个访问级别,PDF格式运行条件:温度:(蕞小/蕞大) 15-250℃湿度:(蕞小/蕞大)30-80%尺寸:(1*w*h)(包括小车) 958*586*1120mm重量(包括小车)140kg/308 1bs噪音水平 :小于53db(A)进口真空衰减仪、法国ATEQ压力衰减仪、进口泄露仪、药厂用泄露仪
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  • 美国MAS纳米粒度仪 400-860-5168转4590
    美国MAS纳米粒度仪原理简介:APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据,不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时,是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介,APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题,因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的,无需稀释样品。稀释样品费时,容易出错,并可能改变样品的实际PSD。简单地倒,或者连续泵送样品进入到APS的样品室,APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术,不需要假设PSD形状。其他类型的仪器,例如光散射,意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作,同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。主要用途:1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆;2)陶瓷;3)油墨;4)乳剂稳定性;5)药品;6)生物胶体;7)荧光粉;8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑;9)催化剂;10)矿物;11)聚合物乳液;12)水和非水分散体系;技术参数:1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据;2)不需要稀释样品;3)不需要假设PSD形状;4)粒度范围:0.005-100微米;5)无电解质干涉;6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品;7)可测量纵向粘度,%固体,PH值,电导率,温度,声衰减和声速度谱;8)具有自动滴定选项;9)专门技术:1-100MHz声衰减谱;10)溶剂:水/非水;11)样品固体%:0.1-60%体积比;12)样品体积:标准是120ml,50ml小体积可用;
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  • NanoSonic超声粒度分布仪,拥有专利技术,是国内先进的粒度分布的测量系统。其软硬件都经过专家独特设计,可以测量在不同悬浮液中颗粒的粒径分布及分散相的体积分数。它适用于在线无损测量,无需对样品进行取样或稀释处理。针对不同的应用,有多种独特设计的探头来满足客户的需求。其主要特点是快速准确、测量范围广。可应用于5nm至3000mm的颗粒粒度的测量。它对于颗粒无特殊要求,透明和不透明的都可以测量。它对溶液也没有特殊要求:水,油和其他有机溶剂都可以测量(对于腐蚀性溶剂,超声探头需特殊设计)。另外,NanoSonic还具有抗噪性好的特点,适用于生产车间等特殊环境。技术指标:v 测量范围:5 nm ~ 3000 mmv 测量方式:在线/离线测量悬浮液颗粒v 测量浓度:≤50% vol/volv 重复性误差:≤±0.5%(标准粒子D50偏差)v 准确性误差:≤±0.5%(标准粒子D50偏差)v 超声频率:35 MHz 和50 MHz 两种产品v 反射式探头:小巧、结构简单v 透射式探头:信号识别强v 流动样品槽设计,仅增加8cm不到的流程v 探管长度在5~70cm,直径15mm或22mm,可根据客户需求个性定制v 探头具有耐腐蚀性,能够对pH值1~12范围内的样品进行测量
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  • 密封衰减仪 400-860-5168转4961
    产品简介:MLT-V100 型密封衰减仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。 专业适用于各种空的/预充式注射器、水针及粉针瓶(玻璃/塑料)、灌装压盖瓶、其他硬质包装容器、电器元件等试样的 无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定 性。亦可满足用户的非标准(软件或测试夹具)定制。执行标准:《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》《USP1207美国药典标准 》 《药品GMP指南——无菌药品11.1密封完整性测试 《中国药典》2020年版四部 微生物检查法 《化学药品注射剂包装系统密封性研究技术指南(试行)》普创--MLT-V100密封衰减仪 普创--MLT-V100密封衰减仪
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  • 美国MAS 超声法粒度仪及Zeta电位仪产品特点:1)采用专门的电动声波振荡技术,该仪器可完成非凡的电动测量结果,从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品,从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释,Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作;4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中;5)自动滴定法用于简单的IEP测量;6)样品可被强烈搅拌或混合,因此不会产生沉淀物;7)高频电场采用非常短的脉冲,因此样品测量时不会产生错误;8)可实时测量实际样品;9)不使用光学技术,因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品;10)可测量水溶液、非水溶液分散系,分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒;11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量,不须特别的样品池,样品可随时从任何现场或实验中获取,可直接实时获得理想的数据美国MAS 超声法粒度仪及Zeta电位仪技术参数:1)测量样品不需要稀释或样品准备,从而消除了操作失误和数据的不确定性,同时节省了时间;2)物有所值的谐振硬件设计;3)宽粒径测量范围:从1nm到30um;4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位(IEP)测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定;5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力,没有粒子沉降的不利影响;6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中,测量精确、重复性好,方便使用;7)可测量高粘度的样品,样品浓度可从0.1%到60%;8)可在0-14的pH值范围内进行测定;9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标;10)最小样品容量10ml,没有最大容量限制;11)微软支持的软件界面,带强大的数据管理功能;12)12个月的保质期和免费的技术咨询
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  • 产品简介:AUTO GBM-L2 双压法微泄漏密封测试仪采用真空衰减法/压力衰减的测试原理对成品包装进行微泄漏检测,可应用于冻干粉针剂、注射剂等西林瓶组成的包装系统、安瓿瓶、预充针、滴眼剂瓶、HDPE瓶、输液瓶/袋等医药包装、食品包装、化工行业包装的泄漏检测。产品特点:1、 双压法结合,助力解决测试难点真空衰减法/压力衰减法双结合,解决了瓶内含真空的冻干粉针剂使用单一的真空衰减法易误判假阴性的难题。基于双传感器和双循环系统技术,高品质绝压传感器和差压传感器,精度达0.1% FS,可以有效检测大小泄漏,精确计算泄漏孔径,并给出合格与不合格的判断。2、仪器灵敏度低,测试重复性佳对于刚性样品,检测灵敏度低至1μm,测试重复性低至0.8%,仪器性能稳定、噪音低、重复性佳。3、 进口品牌附件,性能卓越进口品牌真空泵,抽气速率达3L/s,噪音低至50DB,极限真空度高,便捷的油标检测和更换。英国进口气体质量流量控制器,可以任意模拟微型漏孔,分辨率达0.001 mL/min,为仪器灵敏度的方法验证提供可靠的保障。4、 大尺寸平板,智能操作彩色11寸触控平板,视图清晰、触控灵敏、易于操作。根据GMP附录《计算机化系统》设计,具有审计追踪功能,用户多级权限设置,可满足医药行业对数据溯源的需求。5、 个性化定制,满足不同样品的需求针对不同的检测样品,支持定制合适的测试腔,满足不同检测的需求。针对同类型样品,支持定制嵌套模式,可实现多种规格样品共用一个测试腔。 技术参数:项目参数绝压测试范围(0~300) kPa差压测试范围(-2~2) kPa检测灵敏度1~3 μm平衡/测试时间1~3600 s真空吹扫时间1~3600 s设定流量0~3 mL/min测试系统双传感器技术/双循环测试测试腔根据样品定做适用产品西林瓶、安瓿瓶、预充针、输液瓶/袋等检测原理真空衰减法/压力衰减法主机尺寸495 mm*455 mm*280 mm环境温度20℃-30℃相对湿度最高80%,无凝露工作电源AC 220V, 50HZ测试原理:主机连接一个根据试样定制密闭的测试腔内。进行真空衰减法测试时,仪器对测试腔进行抽真空,试样内外形成压力差,在压力的作用下试样内气体/液体通过漏孔进入测试腔。主机利用绝压传感器和差压传感器监测腔体内的压力变化,判断试样是否泄漏。进行压力衰减法测试时,仪器对测试腔充入预定气压,测试腔内气体通过漏孔进入到试样,主机利用绝压传感器和差压传感器监测腔体内的压力变化,判断试样是否泄漏。执行标准:ASTM F2338-2009(2013)、 YY-T 0681.18-2020、USP1207.2、ASTM F2095
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  • 产品简介:AUTO GBM-L2 双压法微泄漏密封测试仪采用真空衰减法/压力衰减的测试原理对成品包装进行微泄漏检测,可应用于冻干粉针剂、注射剂等西林瓶组成的包装系统、安瓿瓶、预充针、滴眼剂瓶、HDPE瓶、输液瓶/袋等医药包装、食品包装、化工行业包装的泄漏检测。产品特点:1、 双压法结合,助力解决测试难点真空衰减法/压力衰减法双结合,解决了瓶内含真空的冻干粉针剂使用单一的真空衰减法易误判假阴性的难题。基于双传感器和双循环系统技术,高品质绝压传感器和差压传感器,精度达0.1% FS,可以有效检测大小泄漏,精确计算泄漏孔径,并给出合格与不合格的判断。2、仪器灵敏度低,测试重复性佳对于刚性样品,检测灵敏度低至1μm,测试重复性低至0.8%,仪器性能稳定、噪音低、重复性佳。3、 进口品牌附件,性能卓越进口品牌真空泵,抽气速率达3L/s,噪音低至50DB,极限真空度高,便捷的油标检测和更换。英国进口气体质量流量控制器,可以任意模拟微型漏孔,分辨率达0.001 mL/min,为仪器灵敏度的方法验证提供可靠的保障。4、 大尺寸平板,智能操作彩色11寸触控平板,视图清晰、触控灵敏、易于操作。根据GMP附录《计算机化系统》设计,具有审计追踪功能,用户多级权限设置,可满足医药行业对数据溯源的需求。5、 个性化定制,满足不同样品的需求针对不同的检测样品,支持定制合适的测试腔,满足不同检测的需求。针对同类型样品,支持定制嵌套模式,可实现多种规格样品共用一个测试腔。 技术参数:项目参数绝压测试范围(0~300) kPa差压测试范围(-2~2) kPa检测灵敏度1~3 μm平衡/测试时间1~3600 s真空吹扫时间1~3600 s设定流量0~3 mL/min测试系统双传感器技术/双循环测试测试腔根据样品定做适用产品西林瓶、安瓿瓶、预充针、输液瓶/袋等检测原理真空衰减法/压力衰减法主机尺寸495 mm*455 mm*280 mm环境温度20℃-30℃相对湿度最高80%,无凝露工作电源AC 220V, 50HZ测试原理:主机连接一个根据试样定制密闭的测试腔内。进行真空衰减法测试时,仪器对测试腔进行抽真空,试样内外形成压力差,在压力的作用下试样内气体/液体通过漏孔进入测试腔。主机利用绝压传感器和差压传感器监测腔体内的压力变化,判断试样是否泄漏。进行压力衰减法测试时,仪器对测试腔充入预定气压,测试腔内气体通过漏孔进入到试样,主机利用绝压传感器和差压传感器监测腔体内的压力变化,判断试样是否泄漏。执行标准:ASTM F2338-2009(2013)、 YY-T 0681.18-2020、USP1207.2、ASTM F2095
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  • NanoSonic超声粒度分布仪,拥有专利技术,是国内先进的粒度分布的测量系统。其软硬件都经过专家独特设计,可以测量在不同悬浮液中颗粒的粒径分布及分散相的体积分数。它适用于在线无损测量,无需对样品进行取样或稀释处理。针对不同的应用,有多种独特设计的探头来满足客户的需求。其主要特点是快速准确、测量范围广。可应用于5nm至3000mm的颗粒粒度的测量。它对于颗粒无特殊要求,透明和不透明的都可以测量。它对溶液也没有特殊要求:水,油和其他有机溶剂都可以测量(对于腐蚀性溶剂,超声探头需特殊设计)。另外,NanoSonic还具有抗噪性好的特点,适用于生产车间等特殊环境。技术指标:v 测量范围:5 nm ~ 3000 mmv 测量方式:在线/离线测量悬浮液颗粒v 测量浓度:≤50% vol/volv 重复性误差:≤±1%(标准粒子D50偏差)v 准确性误差:≤±1%(标准粒子D50偏差)v 超声频率:35 MHz 和50 MHz 两种产品特点:v 反射式探头:小巧、结构简单v 透射式探头:信号识别强v 流动样品槽设计,仅增加8cm不到的流程v 探管长度在5~70cm,直径15mm或22mm,可根据客户需求个性定制v 探头具有耐腐蚀性,能够对pH值1~12范围内的样品进行测量
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  • APS100型高浓度纳米粒度仪原理简介:APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据,不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时,是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介,APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题,因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的,无需稀释样品。稀释样品费时,容易出错,并可能改变样品的实际PSD。简单地倒,或者连续泵送样品进入到APS的样品室,APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术,不需要假设PSD形状。其他类型的仪器,例如光散射,意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作,同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。APS100型高浓度纳米粒度仪主要用途:1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆;2)陶瓷;3)油墨;4)乳剂稳定性;5)药品;6)生物胶体;7)荧光粉;8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑;9)催化剂;10)矿物;11)聚合物乳液;12)水和非水分散体系;APS100型高浓度纳米粒度仪技术参数:1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据;2)不需要稀释样品;3)不需要假设PSD形状;4)粒度范围:0.005-100微米;5)无电解质干涉;6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品;7)可测量纵向粘度,%固体,PH值,电导率,温度,声衰减和声速度谱;8)具有自动滴定选项;9)专门技术:1-100MHz声衰减谱;10)溶剂:水/非水;11)样品固体%:0.1-60%体积比;12)样品体积:标准是120ml,50ml小体积可用; APS100型高浓度纳米粒度仪
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  • 进口APS-100型纳米粒度仪 ●一般描述:1)粒度测量范围10nm ~ 100um2)可提供详细、绝对的样品颗粒粒度分析,无须稀释;3)测试最后,您无须修饰稀释后的样品粒度数据,该仪器可测量非稀释、非透明的样品;4)比其他粒度仪器更优越的是,您无须预先知道、或猜测样品的粒度分布(PSD)所依赖的形状;5)该仪器同时采用声学衰减、音速谱线技术来测量非稀释样品的粒度,并可测量固体百分比、PH、电导、温度等参数;6)我们已有20多年的粒度分析和Zeta电势分析的领导优势; ●工作原理:1)该仪器采用声波衰减波谱测量技术,可不用稀释样品就可获得样品粒度分布PSD数据,样品测量范围10nm ~ 100um,可同时测量样品的声速波谱、PH、电导、温度等参数;2)当声音穿过泥浆或胶体时,它会被衰减。其衰减的程度与样品颗粒分布有关。该仪器采用1-100 MHz的频率范围能精确测量声波的衰减程度。因为声波能穿透所有的样品材料,因此采用声波衰减测量原理可应用在高浓度或不透明的样品。样品的沉淀现象不会成为问题,是因为在测量过程中样品可被搅拌或泵驱动。该粒度测量独立于样品的Zeta电势水平。它可分析颗粒从零,到高电荷;3)该仪器分析快速、简单,而且不须样品稀释,因此可减少时间消耗、错误倾向、遗迹减少改变真实PSD分布;只须简单倾倒,或连续用泵将样品泵入该仪器的样品池,则通过操作软件就可再数分钟内得到测试结果;4)该操作软件由Lucent朗讯科技公司开发且拥有专利,无须假设样品颗粒的形状就可直接计算、给出详细的样品颗粒分布PSD信息。其他所有的仪器如采用光散射技术的,则须软件或操作者假设或猜测样品颗粒是单峰的、双峰的、对数正态的、高斯类型。这种假设会让数据变得不太可靠;5)专利的仪器硬件可简化操作、降低维护费用;6)该仪器非常适合R&D、QC测量控制、以及在线过程操作; ●软件:1)该软件已有20年的设计经验。只须按一下鼠标就可开始粒度测量。图象功能强大可使您直接比较数据。测量数据可随时被导入流行的电子数据表软件以进行进一步分析;2)该仪器非常适合QC质量控制,操作者无须受到高级培训。此外,它非常适合研发,因为它有强大的数据分析功能;3)该软件采用朗讯的专利技术,无须假设样品的颗粒形状。PSD颗粒粒度的结果信息非常详细和全面,可无须标准颗粒样品的校正; 4)右上边图表:PSD覆盖3个硅土样品(相同的总比例固体)。绿色和红色曲线代表60nm和300nm硅土样品的混合物。该数据可准确反应不同的60/300nm颗粒比率。黄色曲线可反映出300nm的样品; 5)右边图表:右边表示声波衰减数据,以dB/cm对应频率(MHz),有3个样品。当300nm颗粒/60nm颗粒的比率上升,衰减曲线的形状发生改变,而衰减程度在上升; ●应用领域:该仪器可广泛用于R&D、工业生产等领域,具体如下:1)半导体化学机械抛光(CMP)浆料:可直接检测晶片-抛光太大的颗粒,或检测浆料的实际的、详细的粒度分布PSD;2)陶瓷;墨水;乳化稳定性,水/油,油/水混合物测量添加剂效果;制药;生物胶体;白磷;有机或无机颜料如Ti02、碳黑等;催化剂;矿石;乳胶聚合体,水溶液或非水溶液;
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