光学外观检测

FPC，既柔性电路板是一种高度可靠性和绝佳可挠性的印刷电路板可以随处可见，触手可及它就藏在你家的电子产品里面 世界上没有十全十美的东西FPC在生产时也会出现瑕疵多多少少会影响产品性能 FPC外观瑕疵，譬如：金手指压痕有异物金手指氧化元件漏贴/偏移板面漏铜白油不良 点胶不良TH孔偏................. 因此，外观检测不可少有了它，可以满足你的检测需求 正业科技FPC外观检查机 该设备主要应用于柔性印刷电路板（FPC）以及SMT后（FPCA）的外观检测，可直接连线萃盘检测，检测完直接萃盘出货，并可自动上下料，可以替代效率低、误检率高的人工目检和显检模式，实现机器换人、降低生产成本、缩短生产周期和确保产品质量。 FPC外观检查机包含AVI-600L、AVI-800Z和AVI-1000P三系列，满足客户的不同需求。 FPC外观检查机硬核科技另外，正业科技FPC外观检查机有什么硬核科技？能对不同产品瑕疵做出不同运算结果并且快速、正确反馈检测结果往下看一探究竟！ FPC外观检查机也能AI智能检测仿佛拥有一颗“智能大脑”会学习、会识别、会检测 划时代的智能检测系统 该设备通过多种传统数学算法（涵盖灰阶、矢量、像素、色彩、周长、尺寸、面积、轮廓、坐标、图像对比、条码、文字等等）进行重新定义外，将AI人工智能技术算法投入到实际运用中去，从而使得软件具有类似于人类大脑一样的神经元网络系统，使软件具有类似人大脑能识别、纠正和深度学习功能。 经过多次深度学习后，设备软件能对不同产品瑕疵做出不同运算结果，并快速反馈出正确的结果，从而实现高检出、低误报，也让FPC外观检测步入智能化时代。 产品特点1、检出率高，误报点少，完成整线工作只需一人，大大节省复判人工成本；2、设备通用性强，切换不同机种速度快，直接萃盘检测，不需另行投入工装治具，节省大量成本；3、设备结构简单，机器故障率几乎为零，维护成本低，设备稼动率高。 双机串线检测模式

大米外观品质检测仪如何成像，大米外观品质检测仪的成像过程主要依赖于先进的图像采集和处理技术。以下是其成像的基本步骤：高分辨率图像采集：首先，检测仪会利用高性能的摄像设备（如高分辨率摄像头）来捕捉大米样品的图像。这些摄像头能够捕捉到每一粒大米的微小细节，确保获取到的图像具有足够高的分辨率。图像预处理：在获取到原始图像后，检测仪会进行一系列的图像预处理操作。这些操作可能包括去噪、增强对比度、调整亮度等，以消除图像中的干扰因素，提高图像的质量。图像分割与特征提取：接着，检测仪会使用计算机图像处理算法来对预处理后的图像进行分割和特征提取。通过图像分割，检测仪能够将粘连的大米和种粒分开，实现自动分类分析。同时，通过特征提取，检测仪能够提取出大米的关键特征，如形状、大小、颜色等。图像重建与显示：最后，检测仪会根据提取到的特征信息，对大米样品进行图像重建和显示。这个过程可能包括生成分析标记图、排列图和测量图等，以便用户直观地查看和分析大米的外观品质。需要注意的是，不同品牌和型号的大米外观品质检测仪在成像技术和算法上可能存在差异。但总体来说，它们都采用了类似的图像采集和处理技术，以确保能够准确、快速地评估大米的外观品质。

印铁是一种专门的印刷工艺，主要用于在金属，尤其是铁和铁制品表面上进行印刷。这种技术的主要应用领域是生产各种类型的包装材料，包括罐头，食品包装，饮料罐等，也可用于制作特定的广告和装饰产品。印铁过程的一个主要优点是其能够生成耐用且长期保持其色彩和图案的打印结果，使之成为食品和饮料行业等对产品外观和长久保质期有高要求的行业的理想选择。印铁的过程需要进行彩色印刷。要用特殊的设备和工艺，因为金属表面的独特特性（如反光性和导热性）使其与纸质或其他常见的印刷材料有很大的不同。因此，有效的色彩管理和质量控制在这一阶段尤为重要。如何进行有效的色彩管理和质量控制呢？我们可以利用色差仪和色彩管理系统进行对印铁表面的监控与检测。CI64手持式色差仪是一种高精度的色彩测量工具，专为需求严格的色彩质量控制设计，包括在印铁行业中进行精确、一致的色彩测量。可以测量一个物体在不同波长的光线下反射或透射出的光量。它使用内置的光源照亮物体，然后分析反射回来的光。CI64色差仪的测量结果可以表示为一种数学模型，如CIELab*或CIEXYZ色彩空间，以准确描述色彩。作为高端型精密手持式色差仪，Ci64手持式色差仪可选多种配置，包括同步SPIN/SPEX输出、相对光泽度分析以及UV选项，甚至能准确测量表面不平整的各种产品和包装类型。在使用Ci64手持式色差仪进行色彩检测时，搭配ColoriQC色彩管理软件可以进一步提升色彩控制的效率和精度。ColoriQC是一款强大的色彩管理软件，它可以实现对色彩测量数据的全面分析、管理和控制。这款软件可以帮助用户在多个工作流程和供应链环节中实现颜色的精确匹配。它支持各种色彩空间和色差公式，能够满足各种工业应用的需求。ColoriQC色彩管理软件能够记录和跟踪生产过程中的颜色数据，帮助用户发现可能的问题，以及判断其趋势和影响。例如，软件可以显示色彩稳定性随时间的变化，或者与环境条件（如温度和湿度）的关系。除此之外，ColoriQC色彩管理软件可分析颜色错误的原因、确定起主导作用的的指标，以便调整流程，并确保终产品符合色彩预期。该软件还可提供完整的审计记录，从而改善整个供应链的沟通，使质量控制人员能够将工作重心从色彩质量控制转移到生产速度和效率。在印铁外观色彩管理中，CI64手持式色差仪和ColoriQC色彩管理软件联合使用可以形成一套强大而全面的解决方案。通过精确测量印刷材料的颜色和与预期标准的偏差，这种组合工具使生产者能够更有效地控制印铁过程，并确保产品的色彩质量和一致性，对保证产品的外观和性能具有巨大价值。“爱色丽彩通”是丹纳赫公司旗下的品牌，总部位于美国密歇根州，成立于1958年。作为全球领先的色彩趋势、科学和技术公司，爱色丽彩通提供服务和解决方案，帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。

近期，中科院合肥研究院智能所仿生智能中心在自主开发的软件平台上实现了3D视觉测量技术、视觉缺陷检测等技术的完美融合，解决了国内首款国产GPU——凌久GP102的外观检测问题。目前首台具有自主知识产权的BGA芯片外观检测设备已正式交付并通过验收。为满足芯片出厂质量控制和芯片可追溯性需求，科研团队经过半年的产品研发和测试工作，成功研制出具有自主知识产权的BGA芯片外观检测设备A3DOI-BGA，该设备可批量采集芯片的三维图像数据、平面RGB图像数据、激光点云数据等，结合传统及人工智能算法，实现测量精度、缺陷识别率等各项性能指标的完全达标，部分指标可超越相关进口检测设备。该设备的核心传感器均来自国产，具备微米级别超高测量精度，可兼容多种BGA封装芯片检测，实现芯片成品3D形貌测量。A3DOI-BGA的成功交付标志着团队自主研发的3D视觉测量技术正式走出实验室，为国内的芯片制造用户提供专业、高精度、可靠的视觉技术服务和成套检测设备。　BGA芯片外观检测设备及显示界面

近期，中科院合肥研究院智能所仿生智能中心在自主开发的软件平台上实现了3D视觉测量技术、视觉缺陷检测等技术的融合，解决了国产GPU——凌久GP102的外观检测问题。目前首台具有自主知识产权的BGA芯片外观检测设备已正式交付并通过验收。 　　为满足芯片出厂质量控制和芯片可追溯性需求，科研团队经过半年的产品研发和测试工作，成功研制出具有自主知识产权的BGA芯片外观检测设备A3DOI-BGA，该设备可批量采集芯片的三维图像数据、平面RGB图像数据、激光点云数据等，结合传统及人工智能算法，实现测量精度、缺陷识别率等各项性能指标的完全达标，部分指标可超越相关进口检测设备。该设备的核心传感器均来自国产，具备微米级别超高测量精度，可兼容多种BGA封装芯片检测，实现芯片成品3D形貌测量。 　　A3DOI-BGA的成功交付标志着团队自主研发的3D视觉测量技术正式走出实验室，为国内的芯片制造用户提供专业、高精度、可靠的视觉技术服务和成套检测设备。BGA芯片外观检测设备及显示界面

在激烈的市场竞争中，酒类产品的包装外观对于吸引消费者的目光和促成购买决策至关重要。然而，如果包装存在色差问题，将不仅影响产品的美观和识别度，还可能给消费者留下低质量的印象，对品牌形象造成负面影响。为了确保产品质量和提升市场竞争力，高效准确的酒包装外观色差检测方法变得尤为重要。解决酒包装外观色差问题的一个优秀方法是采用Ci7800台式分光色差仪。该设备能够精准测量产品的色差数值，并与标准色彩进行比较，以确定是否符合要求。通过找到色差的具体范围和位置，可以有针对性地调整包装色彩，避免色差问题的发生。Ci7800色差仪内置高性能数码相机，具备预览和主动目标定位功能，确保酒包装的测量区域能够准确定位。精确的目标定位对于酒包装色差测量至关重要，而Ci7800的相机功能能够确保测量过程中没有误差，提高测量精度和可靠性。此外，Ci7800色彩色差仪还具备图像捕获功能，能够保存图像数据以备日后检索。这为酒包装质量审计和追溯提供了便利。在生产过程中，Ci7800能够准确检测任何污点、划痕或缺陷，将图像与测量数据相结合，为质量控制提供更全面、可靠的参考依据。引入Ci7800色彩色差仪后，我们的酒品包装质量控制水平得到显著提升。跨地域一致性配置保证了不同地区包装色差控制的一致性，避免了因配置差异导致的色差问题。精准的目标定位和图像捕获功能使得我们能够更好地追踪和管理产品质量，为未来的质量审计提供有力支持。除了色差检测，IntelliTrax2印刷扫描仪也是提高酒品包装印刷质量与效率的不可或缺的利器。这款印刷扫描仪采用先进的技术，为印刷过程带来显著的改进。IntelliTrax2印刷扫描仪具备强大的自动化功能，能够减少人为干预，消除因人为失误而引发的印刷色差问题。通过自动化设置，我们能够确保印刷过程的稳定性与准确性，提高产品包装的一致性与可靠性。在印刷过程中，IntelliTrax2印刷扫描仪能够实时监测印刷质量，及时发现潜在问题。它能够准确读取色彩数据，帮助我们发现任何不符合标准的色差或印刷质量异常。这为我们提供了调整印刷参数的参考，确保产品包装质量始终如一。此外，IntelliTrax2印刷扫描仪还具备图像捕获功能，能够保存印刷图像数据，便于日后追溯与质量审计。引入IntelliTrax2有望提高印刷效率，降低返工率，为酒品包装提供更高品质的外观，增强品牌形象，并满足消费者对于优质产品的需求。酒品包装设计中的外观色差问题需要引起足够的重视。通过采用Ci7800台式分光测色仪和IntelliTrax2印刷扫描仪，并加强质量控制和员工培训，企业能够更好地解决色差问题，提高生产效率和产品质量，减少返工，塑造卓越品牌形象，增强市场竞争力，满足消费者对于优质产品的需求，最终取得业务上的成功。“爱色丽彩通”是丹纳赫公司旗下的品牌，总部位于美国密歇根州，成立于1958年。作为全球领先的色彩趋势、科学和技术公司，爱色丽彩通提供服务和解决方案，帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。

近日，卡尔帕斯（塑料黑点缺陷扫描仪厂家）总部传来消息，用于检测塑料树脂黑点和PVC黑点杂质的产品在一台机上自由切换的技术完美解决。 塑料树脂粒子表面外观上会出现黑点、黑斑点，甚至整颗都是色粒，将粒子快速挑选出来并进行分析是几乎每个工厂质检部门都希望的事情，用人眼按照现行国标1公斤的方法，量太大，重复性差，颗粒外观仪器法国家标准在2016韵鼎公司承办至今仍在推荐，黑点缺陷扫描仪检测技术也越来越好，快速、重复性高。 PVC粉末中也经常存在黑点或杂质，很多生产厂在经过对比后，选择卡尔帕斯黑点缺陷扫描仪的产品。 有些客户两种产品都有，虽然原来的技术也是一台主机就可以测量塑料粒子和PVC粉末的黑点外观，但需要更换备件，现在两者的一体化设计让这类客户非常方便测试。 到目前为止，卡尔帕斯黑点缺陷扫描仪产品多模块化的设计可以自由组合完成客户任意对颗粒或粉末样品中黑点、黑斑点、色粒、纤维、拖尾、连粒及塑料膜上鱼眼的快速测量、评估。

随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起，生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景，对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求，越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试，需要通过参比镜进行数据传递，往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取，给测试带来很大困难，同时在数据传递中也会增加误差的来源。随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起，生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景，对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求，越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试，需要通过参比镜进行数据传递，往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取，给测试带来很大困难，同时在数据传递中也会增加误差的来源。本文主要介绍采用PerkinElmer紫外可见近红外光谱仪配置可变角度测试附件，直接测试样品不同角度下绝对反射率、透射率曲线，无需参比镜校准，操作简单方便，测试结果更加准确。附件为变角度绝对反射、变角度透射率测试附件，如下图所示，检测器和样品台均可以360度旋转，通过样品台和检测器配合旋转，测试不同角度下透射和反射信号。PerkinElmer Lambda1050+ 光谱仪自动可变角附件光路图图1 仪器外观图固定布局 工具条上设置固定宽高背景可以设置被包含可以完美对齐背景图和文字以及制作自己的模板下分别选取不同应用场景下的典型样品，对测试数据进行简要介绍。以下分别选取不同应用场景下的典型样品，对测试数据进行简要介绍。以下分别选取不同应用场景下的典型样品，对测试数据进行简要介绍。样品变角度透射测试采用自动可变角附件可以方便快捷的测试样品不同角度下透射数据，自动测试样品不同角度下P光和S光下透射率曲线，一次设置即可完成所有角度在不同偏振态下透射率曲线测试，无需多次操作，测试曲线如下图所示。图2 样品不同角度和偏振态下透射率测试数据样品变角度透射/反射曲线测试同一个样品，可以通过软件设置一次性测试得到样品透射和反射率曲线，如下图所示，该样品在可见波长下反射率大于99.5%，透射率低于0.5%，可同时表征高透和减反性能。图3 样品45度透射和反射曲线测试NIST标准铝镜10度反射率曲线测试采用自动可变角附件测试NIST标准铝镜10度下反射率曲线，如下图所示，黑色曲线为自动可变角附件测试曲线，红色为NIST标准值曲线，发现两条测试曲线完全重合，进一步证明测试系统的可靠性，可以准确测试样品的光学数据。图4 NIST标准铝镜10度反射率曲线测试（红色为NIST标准曲线）样品变角度全波长反射曲线测试（200-2500nm）软件设置不同的测试角度和偏振方向，自动测试样品不同角度下P光和S光偏振态下反射率曲线，如下图所示，200-2500nm整个波段下测试曲线均有优异信噪比，尤其是在紫外区（200-400nm）,可以完成各波长范围的反射性能测试。图5 样品全波段（200-2500nm）变角度反射率测试不同膜系设计的镀膜样品性能验证

作为全国面粉企业的龙头老大，五得利面粉集团生产技术总监杨跃刚等一行人，日前来到了作为高科技智能检测软件的代表----杭州万深检测科技公司进行参观研讨。杨总等检验人员拿出小麦原粮对万深SC-X小麦外观品质面粉麸星检测系统的性能进行了全面、充分的评测，对万深SC-X系统表现出的小麦粒形、千粒重、霉变发芽粒、破损粒等快速检测的能力，给予了高度评价。双方最终达成一致，签订了首批SC-X系统的购买供货合同，以期让这套系统高效、稳定地为五得利面粉集团的小麦原粮收购品质把好关。杨总表示：如果首批仪器使用良好，将尽快在整个集团的23个加工基地全面铺开使用万深SC-X小麦外观品质面粉麸星检测系统。

一、产品介绍：【HM-DM】大米外观质量分析仪的检测指标不仅可以评价大米的外观质量，还为质量控制和品牌保护提供重要依据。通过对大米外观品质分析仪检测指标的分析，生产者可以了解大米的品质水平，及时调整生产工艺，提高大米品质；消费者可以选择更符合自己需求的优质大米，保障自身的食品安全。 大米是世界上最重要的粮食作物之一，而大米的品质直接关系到人们的生活质量和健康。为了确保大米的品质符合标准，本公司开发出了大米外观品质分析仪，它可以通过检测一系列指标来评估大米的品质。 大米外观品质分析仪通过检测色泽、粒形、质地、杂质、破碎率等指标，可以客观评价大米的品质。该技术的应用不仅提高了水稻生产质量和效率，也有利于保护消费者权益。随着科学技术的不断进步，相信大米外观品质分析仪将在大米生产和消费领域发挥越来越重要的作用。 二、主要技术指标 1、配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像。透扫幅面30cm×20cm，最小像素尺寸0.0053mm×0.0026mm。 2、可自动一次性测量分析30g以上大米样品的：垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、可直接检测大米透明度的国标等级、黄粒米、大米颜色黄度指数和大米白度测定、杂质量、异品种粒、不完善粒（未成熟粒），及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的裂纹率，糙米胚芽率。 3、自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度测量误差≤±0.05mm，长宽比测量误差≤±0.05，重现性误差≤±0.02；整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%）。 4、可自动一次性测量分析30g以上黑米样品的：黑色度、黑米率、整黑米率、碎米率及小碎米率，完全符合NY/T832-2004标准中相关这几项的检测指标。三、产品配置 1、大米外观品质检测分析仪系统软件U盘及软件锁1套 2、光学分辨率4800X9600、A4加长的双光源彩色扫描仪1台 3、笔记本电脑1台 四、创新点：可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354-2018大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013、大米粒型分类判定LS/T6116-2016、粮食行业标准大米LS/T3247—2017、GB/T35881-2018粮油检验稻谷黄粒米含量测定图像分析法等标准相对应，检测各项指标的质量比和粒数比。大米外观品质分析仪

随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起，生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景，对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求，越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试，需要通过参比镜进行数据传递，往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取，给测试带来很大困难，同时在数据传递中也会增加误差的来源。本文主要介绍采用珀金埃尔默紫外/可见/近红外光谱仪和Spectrum 3红外傅里叶变换红外光谱仪，配置TAMS等可变角度测试附件，测试样品不同角度下绝对反射率、透射率数据，实现175nm-50000nm透射率、反射率等光学性能的精确表征。TAMS附件为变角度绝对反射、变角度透射测试附件，如下图所示，检测器和样品台均可以360度旋转，通过样品台和检测器配合旋转，测试不同角度下透射和反射信号。 Lambda系列分光光度计 TAMS变角度透射反射附件光路图图1 仪器外观图以下分别选取不同应用场景下的典型样品，对测试数据进行简要介绍。01样品变角度透射测试采用TAMS附件可以方便快捷的测试样品不同角度下透射数据，自动测试样品不同角度下P光和S光下透射率曲线，一次设置即可完成所有角度在不同偏振态下透射率曲线测试，测试曲线如下图所示。 图2 样品不同角度和偏振态下透射率测试数据（点击查看大图）TAMS附件配套不同的偏振组件，可以自动测试样品不同波长下偏振信号，如下图测试石英样品在45度下偏振P光和S光反射数据： 图3 样品紫外波段P光和S光偏振测试（点击查看大图）02样品变角度透射/反射曲线测试通过软件设置，可一次性测试得到样品透射和反射率曲线，如下图，该样品在可见波长下反射率大于99.5%，透射率低于0.5%，可同时表征高透和减反性能。 图4 样品45度透射和反射曲线测试（点击查看大图）03NIST标准铝镜10度反射率曲线测试测试NIST标准铝镜10度下反射率数据，如下图所示，黑色曲线为TAMS测试曲线，红色为NIST标准值曲线，两条测试曲线完全重合，进一步证明测试系统的可靠性，可以准确测试样品的光学数据。 图5 NIST标准铝镜10度反射率曲线测试（红色为NIST标准曲线）04样品变角度全波长反射曲线测试（200-2500nm）软件设置不同的测试角度和偏振方向，自动测试样品不同角度下P光和S光偏振态下反射率曲线，如下图所示，200-2500nm整个波段下测试曲线均有优异信噪比，尤其是在紫外区（200-400nm）,可以完成各波长范围的反射性能测试。 图6 样品全波段（200-2500nm）变角度反射率测试（点击查看大图）05不同膜系设计的镀膜样品性能验证测试样品600-1400nm下45度反射率曲线，该样品在1200nm以上属于高反射率，反射率大于99.5%，同时需要关注600-1200nm范围各个吸收峰情况，该波段下吸收峰非常尖锐，同时吸收峰较多，需要仪器具备高分辨率，从而准确测试出每一个尖锐吸收峰信号。 图7 膜系设计验证样品45度反射率测试（点击查看大图）06双向散射分布函数（BSDF）测试除了测试常规变角度透射和反射曲线外，TAMS附件可以自动测试样品不同角度下透射和反射率信号，可以得出样品不同角度下的透射分布函数（BTDF）和反射分布函数（BRDF）信号，最终得到双向散射分布函数（BSDF）。采用该附件可方便测试样品双向散射分布函数（BSDF）、双向反射分布函数（BRDF）、双向透射分布函数（BTDF）等光学参数测试，测试结果如下图所示： 图8 BRDF和BTDF测试（点击查看大图）如下图所示，测试样品不同波长下BSDF分布函数曲线（BRDF + BTDF），从而可以得出样品随不同角度下透射和反射信号变化情况。 图9 样品不同波长下BSDF（BRDF+BTDF）测试（点击查看大图）07窄带滤光片测试Lambda系列光谱仪为双样品仓设计，TAMS附件可与标准检测器、积分球检测器自由更换。对于窄带滤光片样品，即需要准确测设带通区域的透过率、半峰宽，也需要准确测试截止区吸光度值（OD值），可直接切换标准检测器进行检测。 图10 用于激光雷达的镀膜镜片透射和OD值测试数据（点击查看大图）08红外波段区变角透射反射测试珀金埃尔默傅里叶变换红外光谱仪，可广泛应用于上述红外材料光学性能测试，可测试样品在不同波段下红外透光率以及反射率，搭配变角透射及变角反射附件，可以实现不同角度下透射率及反射率测试，如下图为红外波段透射和反射测试曲线： 图11 用于Spectrum 3傅里叶红外的TAMS附件 图12 红外TAMS附件测试样品红外波段不同角度透射数据Summary综上，采用Lambda系列紫外/可见/近红外分光光度计以及傅里叶红外光谱仪，搭配TAMS、标准检测器、积分球等多种采样附件，可以组合出完备的材料光学性能测试平台，满足光学镀膜测试的多样化需求，更加准确便捷的得到样品的光学检测数据。 关注我们

在不断的摸索和创新中，无锡市金义博仪器科技有限公司在传统的直读光谱仪外观上有了很大的改进和新的突破，并申请了外观专利，此外观专利应用于系列直读光谱仪产品上，人性化柔和的流线型设计打破了原有的硬朗线条，增添了几分和谐感，外观上的人体曲线设计是本仪器的一大特色，另外，与多国语言的软件系统配套使用使得仪器整体操控更加舒适便捷。 TY-9610型光电直读光谱仪是直读光谱仪系列产品中的一个型号。 TY-9610型光电直读光谱仪是分析黑色金属及有色金属成分的快速定量分析仪器。本仪器广泛应用于冶金、机械及其他工业部门，进行冶炼炉前的在线分析以及中心实验室的产品检验，是控制产品质量的有效手段之一。 TY-9610型光电直读光谱仪关键特点描述 1、750mm焦距光栅设计，帕型-龙格装置，高真空，高分辨率、高灵敏度。 2、电子系统采用国际标准机笼，高集成化电路设计，故障率低。 3、激发光源频率在150/600Hz之间可调节，分析不同的样品，选择不同的激发参数，达到**的分析效果。 4、激发光源固态辅助电极，解决干拢问题，提高激发光源的稳定性，免调节。 5、激发样品过程中，无需对激发台进行水冷却，可连续分析样品也能达到较好的数据。 6、多元素自动描迹，可快速分析出每个元素相对于基体元素的偏差。 7、通道负高压分8档计算机自动调整，从而大大地提高通道的利用率和分析谱线的**线性范围在分析不同材质中的采用，减少了通道的采用数量，降低了成本。 8、光学部分整体恒温措施，保证了仪器的正常运行，从而降低了对环境的要求。 9、采用高精度直线电机进行入缝扫描，速度快，精确度高。 10、真空室整体铝合金制造，一次成型。 11、光谱室防震设计，诸如光栅、狭缝等重要光学元件采用动态安装，获得相当高的光学稳定度。 12、光谱室内置疲劳灯提高了光电倍增管的稳定性，消除了光电倍增管的死时间，提高信噪比，延长使用寿命。 13、多国语言的光谱软件系统。适应不同国家的要求。 14、计算机软件建有数据库系统，方便了测量数据的查询与打印，也可通过网络远程传输数据，方便快捷。 关于金义博 无锡市金义博仪器科技有限公司，是拥有自主知识产权以高速分析仪器研制、开发、制造、市场营销为一体的现代化高科技公司。公司荟萃了众多高科技人才和行业精英，致力于材料检测的发展和应用。专业制造红外碳硫分析仪、光电直读光谱仪、等离子体发射光谱仪、系列高速分析仪器等产品。产品广泛应用于钢铁、冶金、铸造、机械、建筑、大专院校、石油化工、质量监督及进出口商检等领域。 近年来公司奉行&ldquo 仪器精密、满意用户&rdquo 的经营理念，在全国设立十大销售服务中心，四十多个服务网点。产品遍及全国各地，并出口到南美、非洲、西亚、越南、台湾、香港等地。公司在发展材料检测仪器产品的同时，建立产品研发中心、材料检测中心、理化培训中心、产品展示中心及贸易结算中心五大中心。公司力求发展成为全面的检测仪器制造商和国际检测仪器供应商。 2010年，在母公司无锡市金义博仪器科技有限公司的支持下，全面依托上海材料研究所及江苏省机械设计院，成立了无锡市金义博检测技术有限公司。无锡市金义博检测技术有限公司以检测技术服务为特色的、以材料检测为主体，下设检测中心、培训中心、贸易结算中心。中心拥有直读光谱仪、ICP光谱仪、红外碳硫分析仪、分光光度计、金相显微镜、硬度计、冲击试验机、万能材料试验机等设备，能够覆盖钢铁材料中全项检测项目，同时能够对铜铝及其制品进行检测。中心配备化学分析、力学性能、金相检验等多个专业检测室。长期为流程型工业企业及各类中小型企业的生产运行提供最专业、最权威的检测服务。 欲了解更多信息，请浏览公司网站： www.instrument.com.cn/netshow/SH100833/index.asp 或公司网站www.jinyibo.com

外观的复杂性不仅仅局限于颜色，它是材料独特属性的集合体，包括纹理、光泽、透明度和特殊效果等。这些属性与环境因素如光照、背景及观察角度相互作用，共同影响我们对物品外观的感知。在设计到生产的过程中，初期外观特性的准确传递常受阻，导致匹配错误、审批延迟和成本增加。解决这一挑战的方法在于采用可以精确测量、编辑和通用地沟通外观特性的虚拟环境，以确保设计意图的精准实现和流程的高效进行。一、涂料、涂层和汽车行业中的外观在涂料、涂层和汽车行业中，外观的理解远超过简单的颜色识别。对于下图中的车辆，尽管许多人可能会直接回答“蓝色”，这样的描述并没有全面捕捉到车辆外观的复杂性和细节。真实的外观特性或属性包括但不限于颜色的深浅、光泽度、金属质感或珠光效果、以及涂层的质感和透明度等。这些细节共同构成了我们对车辆外观的全面感知，而简单归纳为“蓝色”未能充分表达这种多维度的视觉体验。虽然用“蓝色”来描述车辆是一种便于理解和沟通的方式，比如帮助某人在停车场中找到这辆车，但这种描述并没有涵盖汽车外观的全部信息。例如，这辆车在直射光下会呈现出蓝绿色，而在阴影下则转变为接近黑色的深墨蓝。此外，其高光泽漆面能够产生镜面般的反射效果，而使用的特效颜料则赋予了车身独特的光泽度。这些复杂的变化和细节共同构成了车辆独特的视觉特性，超越了简单的颜色描述，反映了光线和观察角度对汽车外观感知的影响。二、时尚、家居与电子产品材料外观随着材料日益复杂，制造商和品牌越发认识到，描述外观不能仅限于颜色。为了吸引供应商同时加速产品上市，紧跟潮流和消费者偏好变化成为了他们的共同目标。然而，沟通外观的过程充满挑战。一方面，靠图像传达复杂的外观特性并非易事，因位置和光线的不同，外观会产生变化，如光泽、纹理等。即便使用数字图片，设备校准仍不能完全解决由外部环境引起的误差问题。另一方面，长久以来，依赖手工原型来沟通和审批外观虽然在颜色准确性上有优势，但其耗时且成本高昂，尤其在全球制造流程中，还会引入额外的运费和时间延误。因此，越来越多的品牌转向虚拟设计作为指定、设计和沟通外观的优选路径。这种方法不仅加快了决策过程，还降低了成本，并提高了效率和准确性。三、通过虚拟设计，时间从数月缩短至数分钟虚拟设计技术已将产品开发周期从数月缩短至数分钟，推动了生产效率和市场响应的加速。通过3D CAD和逼真渲染技术，企业能够节约成本并快速审批。然而，虚拟设计面临的一个关键挑战是如何精确模拟真实世界材料的外观，包括其物理和光学特性。尽管传统方法通过手动模拟这些特性，但这既耗时又难以达到完美精度，且难于在不同工具间共享。因此，行业正在探索更先进的解决方案，以更真实地反映材料的特性，提升虚拟设计的效果和实用性。在2016年，X-Rite推出了一种创新的供应商中立文件格式—Appearance Exchange Format (AxF)，性地提供了一种存储和共享颜色及外观数据的精确方法。AxF使品牌所有者、设计师和制造商得以在整个设计到生产流程中，以数字形式准确共享和展现颜色与外观信息，从而保证数字原型、展示、电子商务和销售环境中的视觉一致性。AxF的应用范围远不止颜色，它允许创建包含特效涂层、皮革、塑料、织物、木材和拉丝金属等复杂材料的全面数字模型，真实反映材料的视觉效果。这一格式大幅简化了设计和审批流程，缩短了产品上市的时间，有效提升了工作效率和市场反应速度。AxF的另一突出优势在于其能够跨不同应用程序共享虚拟文件，实现了将庞大数据量的信息从千兆字节压缩到仅仅几兆字节。这种压缩技术产生的3D文件不仅可以轻松集成到产品生命周期管理（PLM）、计算机辅助设计（CAD）系统中，还适用于最先进的美术渲染应用程序。AxF的这一能力极大地促进了工作流程的高效性，确保了从设计到渲染的过程中信息的一致性和准确性，加速了产品从概念到市场的整个过程。四、外观解决方案作为X-Rite Total Appearance Capture (TAC&trade ) 生态系统的核心部分，AxF获得了广泛赞誉。TAC技术使得准确材料外观的整合成为可能，为真实感的数字材料捕捉和3D设计带来了提升。一个具体例子就是下方展示的，这不是一张照片，而是利用TAC生态系统生成的一双鞋的真实外观渲染图。之前提及的皮革、织物和纯色表面样本同样通过TAC技术的外观数据实现了精准渲染。AxF技术已在众多行业得到广泛应用，X-Rite正在与各大硬件和软件供应商以及研究机构合作，探索新的整合可能和功能增强。在涉及品牌所有者、设计师、供应商和制造商的复杂供应链中，沟通外观的复杂性远超颜色。在全球分布的制造过程中，确保颜色和尤其是材料的完整外观信息的准确传递，存在许多挑战。五、关于爱色丽“爱色丽彩通 ”总部位于美国密歇根州，成立于1958年。作为全球知名的色彩趋势、科学和技术公司，爱色丽彩通提供服务和解决方案，帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。如果您需要更多信息，请关注官方微信公众号：爱色丽彩通

各有关单位：根据《浙江省生态环境监测协会团体标准管理办法（试行）》的相关规定，《化工园区 无组织废气挥发性有机物的测定》《机动车排放外观检验方法和技术要求》两项团体标准已完成征求意见稿，现公开征求相关意见和建议。请各相关单位认真研究，填写《团体标准意见反馈表》，并于12月29日前将盖章书面意见反馈至浙江省生态环境监测协会邮箱，逾期未回复意见的按无异议处理。 联系人：何晓芳、施玉衡电 话：0571-28131682邮 箱：zjema2017@163.com 附件：1.《化工园区 无组织废气挥发性有机物的测定》征求意见稿2.《化工园区 无组织废气挥发性有机物的测定》编制说明3.《机动车排放外观检验方法和技术要求》征求意见稿4.《机动车排放外观检验方法和技术要求》编制说明5. 团体标准征求意见反馈表 浙江省生态环境监测协会2023年11月29日附件1：《化工园区 无组织废气挥发性有机物的测定》（征求意见稿）.pdf附件2：《化工园区 无组织废气挥发性有机物的测定》编制说明.pdf附件3：《汽车排放外观测试方法和技术要求》（征求意见稿）.pdf附件4：《汽车排放外观测试方法和技术要求》编制说明.pdf附件5：团体标准征求意见反馈表.docx

AVI，外观检测技术基于视觉传感器的智能检测系统在检测系统的智能化、柔性、效率等方面比接触式检测方法具有更大的优越性广泛应用于PCB检测领域 AVI非常适合生产现场的在线、非接触检测及监控代替人眼在高速、大批量、连续自动化生产流水线上进行在线检测，具有测量过程非接触、迅速、方便、可视化、自动识别、结果量化、定位准确、自动化程度高等特点。 正业科技AVI-1000系列PCB外观检查机，检测能力尤其出众，适用于PCB出厂前的外观检查，对其缺陷、瑕疵进行检测，自动上料，出料自动水平堆叠，自动运输到VRS工位。 PCB外观检测专家 √检测精度：达50μm(2mil)线宽或线距。√ 检测幅面：达到 350mm x 400mm。√ 可选择分辨率：35μｍ、25μｍ、18μｍ、10μｍ 。 广泛的缺陷检测范围1.阻焊:积墨，污染，刮伤，漏印，曝偏，露铜。2.字符:模糊，漏印，错字，多印，错色，印偏。3. 化金板，OSP板，化银板，化锡板。4. PAD：刮伤，氧化，沾漆，缺口，残铜，污染，表面不平。5. 孔/外形：漏钻/塞孔，漏锣。6. 喷锡板，白油喷锡板。7. 单检功能(可单独检焊盘/阻焊)。8. 指定重点检测区域或单元报废不检区域(手指位渗金检测及BGA重点检测)。9. 其他客制化检测功能。 检测流程 1、上料，机械自动抓取线路板 2、实时检测，并快速完成出料 3、经传送带自动运输下一个工序 产品优势

当前我国正在紧锣密鼓地推进冷湖天文观测基地的建设，该基地位于我国柴达木盆地西北边缘的青海省海西州茫崖市冷湖镇赛什腾山区域，平均海拔约4000米。偏僻荒凉的赛什腾山成为火热的建设工地（央广网发 王小龙 摄） 冷湖天文观测基地由多个平台组成，其中D平台用于太阳磁场精确测量的中红外观测系统，为科学家对当今太阳物理前沿如太阳发电机、纤维化磁对流过程、日冕加热的研究提供测量手段。系统的核心部件——太阳磁场测量光谱仪由上海技物所研制。光谱仪光机部分光谱仪调试科研团队经过了多年的艰苦攻关，中红外观测系统的研制工作接近尾声。光谱仪在实验室环境下测试表明，性能达到任务书指标要求，后续将在冷湖太阳观测基地开展实测。该系统主要由望远镜、偏振光路和超高光谱分辨率成像型红外傅里叶变换光谱仪组成，能够测量出太阳谱线通过磁场所产生的微小裂距，从而解算出太阳磁场强度。其中，太阳磁场测量光谱仪部分具有极高的光谱分辨率（指标为0.004cm-1）和极高的空间分辨率（探测元尺寸不到1／4衍射斑），技术难度极大且为国际上首次研制。为满足项目对光谱仪性能的要求，除干涉仪主体外，科研团队还需要完成一系列分系统的研制：如高性能长波红外探测器、冷箱-杜瓦两制冷机系统以及低温光学系统等。 5年来，在所领导和各部门的支持下，研制团队群策群力，克服了种种困难。从技术方案论证，到探测器、制冷系统、杜瓦组件、光学薄膜、整机光机电技术攻关，一路走来的桩桩件件难忘而珍贵：有一年除夕夜，各部门参研人员在地下室完成后继光学集成工作；西藏那曲高原试验期间，大家在海拔4475m的高原上一边吸氧一边对仪器关键部件进行环境模拟测试；曾因一根薄膜电缆的接地造成的测试结果不佳而感到沮丧；也因一根管脚莫名导通而需打开冷箱大费周折。近两年多来，各地的疫情辗转反复，给研制任务造成了不少困扰。研制团队始终发扬坚韧不拔的精神，把疫情的影响降低到尽小。如杜瓦陶瓷基片加工，团队和总体轮番与加工单位协调进度，到货后又立即安排加班加点，第一时间完成装配！西藏那曲对关键部件进行环境模拟测试正如一名攀登者攀到每个峰顶收获的高兴和经历，是为登顶珠穆朗玛累积经验。前路漫漫，相信在大家的通力协作，专家的指导和研究所的全力支持下，团队成员能够一同拾级而上，创出辉煌！“用于太阳磁场精确测量的中红外观测系统”项目是国家重大科研仪器研制项目，由国家天文台、上海技物所和西安光机所联合承担，获国家自然科学基金委员会资助。

2022年4月7日上午，西安光机所参与研制的“用于太阳磁场精确测量的中红外观测系统”(简称AIMS太阳望远镜)项目迎来了重要的里程碑式节点——奔赴海拔4000米的青海省海西蒙古族自治州冷湖镇赛什腾山观测基地进行最终安装调试。这是研究所纪念建所六十周年活动启动后的第一个出所项目。 　　项目出征仪式在蒲城调试外场举行，在湛蓝的晴空映衬下，印着“瞬见万象 光创未来”出征口号的红条幅与“AIMS太阳望远镜出征仪式”的大幅喷绘海报遥相呼应，仿佛表达着此次出征必定携胜而归的决心。参加仪式的人员有国家天文台研究员郝晋新、林佳本，西安光机所党委书记孙传东、副所长郝伟、先进制造部、空间光子信息新技术研究室负责人、部分中层领导等共34人，特邀中国科学院国家授时中心所长办公室主任赵海成、洛轴智能机械有限公司总经理邓印出席。 　　首先，项目负责人空间光子信息新技术研究室徐崧博副研究员、先进制造部副部长李华分别介绍了项目研制历程与项目管理情况。接下来进行庄重的授旗仪式，先进制造部部长赵建科宣读西安光机所出征冷湖人员名单，由孙传东书记向工作队代表工艺中心主任付兴授予队旗，寄语顺利凯旋同时希望他们发扬西光所艰苦奋斗、攻坚克难优良科研传统，做好“西光精神”传人，让这面鲜艳的队旗在装调阵地高高飘扬。付兴领读誓词，他表示队伍必定不负嘱托、不负期望、不负祖国。中国科学院国家天文台郝晋新研究员讲话，最后由西安光机所副所长郝伟宣布项目设备运输发车。 　　AIMS太阳望远镜项目是国家自然科学基金委支持的国家重大科研仪器项目，由中国科学院国家天文台、中国科学院上海技物所和中国科学院西安光机所等三家单位共同承担，旨在研制国际上第一台中红外太阳磁场观测设备，利用中红外的观测优势，突破磁场测量百年历史中的“瓶颈”问题，实现太阳磁场从“间接测量”到“直接测量”的跨越发展，为诸如天体爆发活动的成因、日冕加热等前沿领域研究提供有力支撑。 　　该项目是大口径、大体积、光学系统极为复杂的地面可见及红外波段光电跟踪设备。研究所高度重视该项目，在多方面给予政策支持。项目团队也是个融合的大家庭，主要来自于空间光子学研究室、先进制造部的装校中心和检测中心，是一支以青年科技力量为主体的战斗团体。三十多人的队伍经验丰富、专业齐备、蓬勃向上、富有朝气和创新意识，他们具备优良的科研作风，始终把产品技术性能先进和质量优良摆在首位，敢打敢拼，不畏艰难，勤奋努力，严慎细实，取得了一系列设计创新、工艺创新、装检技能创新、组织管理创新、党建引领创新等成果。在出所之前的检测装调阶段，适逢西安爆发本土新冠疫情，连续30多天的封闭式管理并没有影响项目的进度，郝伟副所长代表所班子亲自指挥部署，机关积极协调，先进制造部装校中心奋勇当先，持续奋战在岗位，团结协作、众志成城，为项目顺利出所打了一场漂亮的攻坚战。另外，该项目还得到了众多领导和专家的鼎力支持，国家天文台各级领导、专家多次提供帮助与支持，我所老专家熊仁生研究员等也在项目关键性技术方面给予把关审查。这都是项目取得成功不可或缺的部分。 　　项目团队历经四年多来艰难攻关，顽强拼搏、夜以继日的辛勤付出终于结出了胜利的果实。4000米，不仅是海拔高度，更是对出征队伍身心意志、水平能力严峻考验的高度，不过我们相信、信任也祝福他们，因为西光人是不怕打硬仗的，我们等待为他们接风洗尘，期待项目组向研究所成立60周年献礼的最美时刻。

虚拟设计新时代：爱色丽彩通推出“整体外观捕获”解决方案 爱色丽的“整体外观捕获”解决方案可准确扫描复杂的材料并以数字方式交流数据，实现从设计到生产整个过程中各个步骤无与伦比的逼真度和高效能。 密歇根州大急流市 2016 年 8 月 11 日 – 色彩科学和技术的全球领军企业爱色丽彩通于今日宣布，推出整体外观捕获 (tac™ ) 生态体系，这一外观测量解决方案使得在虚拟世界中捕获、交流和数字化呈现实际材料的准确性和有效性上升到一个全新的高度。设计师、3d 艺术家、材料专业人员和营销人员可借助 tac，采用具有与实际材料完全相同视觉特性的数字化材料栩栩如生地展现其产品设计。tac 的尖端技术能准确地捕获实际材料的测量值和外观属性，从而减少对手动调整扫描材料的需要，加快设计和审批周期。 爱色丽公司总裁 ronald voigt 说：“近 60 年来，爱色丽彩通所创造的工具和技术帮助各行各业选择、交流、配制和测量颜色，包括印刷、包装、汽车、塑料、涂料和纺织业。tac 建立于我们的创新传统基础之上，超越色彩科学，应对捕获和管理外观这一更重大的挑战。凭借 tac，爱色丽提供新一代的数字化材料捕捉逼真度及有效性，使虚拟化和 3d 技术上升到新的高度。” 爱色丽 执行副总裁兼首席技术官 francis lamy 博士评论道：“整体外观不仅仅是色彩而已，而是藉此感知物体的视觉感。不仅包含颜色，还有大小、质地、光泽、透明度和不透明度。传统上，捕获和实际呈现材料外观历来是手动过程，极具挑战性又耗费时间。tac 精准地测量实际材料，确保视觉外观可以数字化呈现，无需手动调整，让设计师自由自在地发挥创意。有了 tac，在产品开发过程从营销到生产的每一步，都能获得真正准确无误的数字资料，确保呈现的一致性。” 通过准确扫描材料的外观，tac 最大限度地减少为准确描述实际材料的光学复杂性所需要的手动操作。在汽车行业，预计这将削减高达 50％ 的设计时间，加速上市，减少在整个设计到生产过程中的浪费。而且，tac 让设计和营销队伍能够为所用材料创建单一数字色库，确保在用于设计产品和创建营销材料及销售点的所有虚拟化平台上一致地呈现材料。 tac 生态系统包括以下产品套件：tac7 扫描仪可扫描和储存实际材料样品的颜色、质地、光泽和其他表面外观特性。外观交换格式 (axftm) 文件将扫描所得信息传送给 pantoratm material hub。axf 输出格式 (plm) 具有厂商中立性，便于大多数主要的产品生命周期管理 (plm)、计算机辅助设计 (cad) 和最先进的呈现应用程序访问使用；因此，设计部门没有必要改动其目前的信息系统基础设施。桌面应用程序 pantora 是 tac 生态系统的控制中心。让用户存储、管理、查看和编辑以数字方式捕获的材料并通过 axf 与其他工具（如 tac 虚拟光源箱、plm 和 cad 系统交换这些材料。tac 虚拟光源箱使得设计人员能够评估虚拟物体在多种光照条件下所呈现的数字化材料，并与实际样品直接进行比较。这一光源箱甚至为高度复杂的各向异性材料以及外观会基于观察角度而变化的其他材料提供准确的视觉评估。 许多 plm 和 cad 系统供应商正在构建与爱色丽 axf 的集成，以利用 tac 强大的数字材料捕获能力。例如，autodesk 在其 2017 专业版 vred™ 中提供与 axf 的原生集成，为用户提供几乎整个范围的 tac 高水平扫描技术。因此，autodesk 设计师在虚拟世界中使用数字化材料工作时所具有的灵活性和准确性，与他们在管理实际材料时的水平完全等同。利用集成 tac-vred 创建和管理的虚拟材料，在不同的光照、场景和观测条件下的表现非常准确，满足汽车设计师的迫切需求。 “整体外观捕获技术有可能改变汽车行业产品设计和营销资料的制作流程，”autodesk 汽车业务线经理 michael russell 说。“tac 解决了汽车设计师、3d 艺术家和营销人员长期以来的困扰：如何准确捕捉和虚拟化用于汽车内部与外部的当今日趋复杂的材料的挑战，如特效涂料、皮革和其他面料。tac 所达到的高逼真度简化了设计过程，确保设计可视化和营销工具的一致性，如在线配置、视频和产品说明书等。我们很高兴能与爱色丽合作，将这个令人兴奋的新功能提供给 autodesk 的客户。” 现在可以立即购买爱色丽 tac7 扫描仪、pantora material hub 和 axf。虚拟光源箱将于 2017 年第一季度上市。

臭氧和紫外观测——BREWER分光光度计KIPP&ZONEN Brewer分光光度计由防风雨分光光度计、方位跟踪器和支架组成。它提供了几乎同时观测到的总臭氧柱、二氧化硫和紫外光谱。 双轴跟踪、适当的滤波器选择、板载波长校准和数据记录通过内部电子设备和主机进行管理。PC的控制软件支持24小时调度和远程无人值守操作。 人类对臭氧层的持续观测是至关重要的，因为，臭氧层的作用与保护地球上的生命息息相关。 吸收紫外辐射紫外线（UV）辐射与人类和动物的皮肤癌、皮肤老化、白内障和免疫系统抑制有关。适量的紫外线可以促进人类皮肤上合成维生素D的反应，这对骨组织的生成及保护起有益的作用。但过量照射可以引起皮肤癌、免疫系统和眼的疾病，对动植物也有伤害。因此，臭氧层能吸收紫外光，保护了地球上的生命。臭氧层能让太阳光中的可见光通过，并吸收掉绝大部分有害的紫外辐射，所以有人称臭氧层为地球生命的“保护神”。 臭氧层引起逆温现象臭氧吸收紫外辐射，使得平流层的温度随高度升高而升高，造成逆温现象。这种逆温现象增加了大气的稳定度，使得大气的上下对流很难进行，大气中排出的废物在垂直方向混合很慢，但它们在水平方面的传播和比较快。 温室气体作用在对流层上部和平流层底部，即在气温很低的这一高度，臭氧的作用同样非常重要。如果这一高度的臭氧减少，则会产生使地面气温下降的动力。因此，臭氧的高度分布及变化是极其重要。 MKIII Brewer臭氧分光光度计在测量光谱紫外线（UV）区域的太阳辐射和臭氧方面明显优于MKII和MKIV Brewer。这是因为与MKII和MKIV的单色仪相比，MKIII中使用的双单色仪光学系统的杂散光性能有了很大改善。目前，在中国周边的日本、韩国和越南都部署了一定数量的Brewer监测站，相信很快在国内也会出现MKIII的身影。

在当今多元化的消费市场，产品的外观设计正越来越多地左右着消费者的购买选择。外观不仅是色彩的叠加，而是一种综合的艺术语言，包括了纹理、光泽、透明度和特效等元素。它们共同塑造了我们对每种材料和产品的感知。在这样的趋势推动下，如何准确沟通外观设计成为了设计师、品牌和制造商面临的共同挑战。一、外观设计的多维度外观设计是一种超越色彩本身的艺术表达，它传递了材料的纹理和光泽等内在特质。色彩在不同的自然光照和观看角度下会有截然不同的表现，比如汽车行业里，同一种蓝色漆在阳光下可能闪耀如海波，而在阴影中又显得深邃如夜空。这不仅给设计师的创意提供了广阔空间，也对设计到生产的每个阶段提出了准确沟通外观预期的要求。最终目的是确保消费者能够从每个角度都能感受到产品设计所期望传递的美学和情感。二、挑战与现状早期阶段难以准确沟通外观特性常常导致项目延误和成本增加。手工原型的制作虽然相对准确，但时间成本和物流成本都异常高昂。此外，实体原型的主观性以及依赖于物理样品的传统流程限制了创意和效率。三、技术的进步与挑战数字化技术的发展如3D CAD系统和真实感渲染解决方案，为外观设计带来了快速的进步，它们有效缩短了产品从设计到审批的周期。然而，虚拟设计缺少将真实世界材料的特性完整地整合和呈现的能力。四、AxF格式的突破爱色丽推出的外观交换格式(AxF)为外观设计领域带来重大的改变。AxF格式能精确存储和共享色彩与外观数据，从而让品牌、设计师和制造商以数字方式表现和共享这些信息。AxF突破了以往色彩沟通的界限，实现了从复杂特效涂料到自然纹理材料的全方位数字化模拟。技术联盟的建立和软硬件供应商的支持，使得AxF格式迅速成为行业内多个PLM和CAD系统所采纳的标准。这种跨平台的兼容性确保了设计的连贯性和多方位的应用可能。供应链中的色彩与外观沟通 尽管有了AxF格式，供应链中完整的外观设计沟通仍然充满挑战，尤其是在全球化的生产背景下。不断发展的AxF标准预计将成为解决这一问题的关键工具。PANTORA材质制作软件成为外观工作流程的中心，链接了数字化材料与3D渲染软件和PLM系统，优化了数据管理，为整个设计和生产过程带来了更大的精确度和效率。PANTORA材质软件将数字材料存储为AxF格式，并允许用户进行集中管理、查看和编辑。材料供应商可以使用新的Variant Editor（变量编辑器）功能结合样本属性来轻松创建和提供大型数字色彩库。通过将数字材料与输出目标对接，可确保高效方便地连接色彩库，从而轻松快速地以数字方式编辑材料规格。AxF格式的未来 AxF格式不仅在外观设计中发挥着重要作用，还将继续推动设计与制造的未来发展。随着技术的不断进步，外观设计的精确性和效率将得到进一步提升，最终增强消费者体验。在探索色彩之外的外观设计领域，AxF格式无疑开启了一个全新的篇章。它不仅是一种技术的进步，更是连接设计师创意和制造现实的桥梁，为整个产业的未来指明了方向。五、关于爱色丽“爱色丽彩通 ”总部位于美国密歇根州，成立于1958年。作为全球知名的色彩趋势、科学和技术公司，爱色丽彩通提供服务和解决方案，帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。如果您需要更多信息，请关注官方微信公众号：爱色丽彩通

p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 近期，中国科学院合肥物质科学研究院智能机械研究所先进感知与智能系统研究室在表面等离子共振光学检测领域取得新进展，相关成果发表在光学期刊Optics Express上（Vol.27 Issue.2）。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 表面等离子共振技术（Surface Plasmon Resonance, SPR）由于其实时、无标记的优越检测特性而广泛应用于医学、生物学等微观检测领域。棱镜耦合式SPR具有结构简单、灵敏度高等优势，被广泛使用，但在现场检测时，该系统检测信号存在温度漂移，通常的解决方案是增加参考通道，但是该方法无法测量不同温度水平的生物学动力常数。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 针对以上问题，研究人员提出了一般性解决方案：分别建模分析了角度调试和波长调制模式下的温度对其共振偏移的影响。由于色散效应，两种调制模式下的影响既具有相同的趋势，也有不同之处。基于交叉灵敏度矩阵思想，分别提出了双波长检测（Angular-interrogation）和双角度检测（wavelength-interrogation）方法，实现了折射率和温度变化的同时测量。研究人员首次提出分区间线性修正提高精度的检测思想，且进行了概念性验证实验。相比于构建新型微纳检测结构，该方法在工程领域具有较强的可行性，具有广泛的应用前景，得到审稿专家的充分肯定。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 相关研究工作得到国家自然科学基金面上项目、国家科技重大专项、安徽省重点实验室资金等的资助。 /p p style=" text-align:center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201901/uepic/82de36d8-bda4-4152-b313-14ee1b497e21.jpg" title=" W020190116563312993884.jpg" alt=" W020190116563312993884.jpg" / /p p style=" text-indent: 2em text-align: center " 波长调制模式SPR传感器的温度效应 /p

天眼查显示，深圳中科飞测科技股份有限公司近日取得一项名为“检测设备及检测方法”的专利，授权公告号为CN111458343B，授权公告日为2024年8月6日，申请日为2019年1月18日。背景技术玻璃材料在现代工业制造中被广泛使用，例如作为手机屏幕、光学透镜、电池片、曲面显示屏等。随着加工水平的进步，越来越多的玻璃产品被设计成曲面结构，以实现更好的功能或达到更好的外观。由于曲面部分加工难度较大，镜面曲面有较大的可能出现缺陷，从而影响其功能及外观，因此需要对这部分进行检测，以保证产品合格率。对玻璃产品表面缺陷的检测主要采用光学检测的方法，为了增加检测精度，减少误检率，往往需要对产品进行多通道检测，包括明场检测、暗场检测和背光检测。明场检测是通过探测待测物表面反射的光束强度，来实现对待测物表面进行检测的方法。明场检测具有灵敏度高、程序设定简单等优点，在工业检测中具有重要应用。暗场检测是通过探测待测物表面的散射光强度，来实现对待测物表面进行检测的方法。暗场检测对凸起等缺陷的检测可实现更好的灵敏度。背光检测是通过使光束穿过玻璃产品，对透过玻璃产品的光束进行探测。背光探测对检测玻璃产品的崩边具有很高的精度。然而，现有技术通过多通道对产品进行检测的设备往往体积较大，结构复杂，成本较高。发明内容本发明提供一种检测设备及检测方法，其中，检测设备包括：第一频闪光源，被配置为向承载面的待测物发射第一探测光，所述第一探测光经待测物形成第一信号光；第二频闪光源，被配置为向承载面的待测物发射第二探测光，所述第二探测光经待测物形成第二信号光，所述第一频闪光源和第二频闪光源被配置为多次交替地向所述待测物发射第一探测光和第二探测光；第一探测装置，被配置为多次交替地探测所述第一信号光和第二信号光，获取第一探测信息。所述检测设备结构简单，成本较低，且能够减少误检。

日前，由中国电子科技集团第45所承担的国际科技合作项目“自动光学检测(AOI)设备技术合作”，通过了国家级验收，技术指标达到了国外同类设备水平，标志着自动光学检测(AOI)设备实现了国产化，填补了国内空白。 　　据了解，当今电子装备在结构上强调实现小型化、微型化、模块化，以满足高性能、高可靠、大容量、小薄轻的要求。线路板上元器件组装密度提高，其线宽、间距、焊盘越来越细小，已到微米级，复合层数越来越多。传统的人工目测(MVI)和针床在线测试(ICT)检测因“接触受限”(电气接触受限和视觉接触受限)所制,已不能完全适应当今制造技术的发展，自动光学检测系统(AOI)已经成为IC制造业的必然需求，正越来越多地用来代替传统MVI和ICT技术，进行检测，用于监视和保证生产过程的品质。目前，我国自动光学检测系统(AOI)设备主要依赖进口，一直被以色列、美国、日本等国家所垄断。中国电子科技集团第45所，与加拿大开展了卓有成效的国际科技合作，共同研发自动光学检测(AOI)设备，通过引进、消化吸收、再创新，终于研制出了具有国际水平的自动光学检测(AOI)设备，打破了国外的垄断与技术封锁，使进口产品降价30%。 　　中国电子科技集团第45所通过技术引进和消化吸收，攻克了高速图像采集和硬件处理技术，缺陷识别和处理技术，细微图形采像技术等三项关键技术，并成功应用于AOI设备的研制，目前已获得专利4项，申报并受理发明专利6项，发表学术论文6篇，获省部级科学技术二等奖1项。该项目的完成，标志着我国在自动光学检测设备领域具备与国外主流设备展开竞争的实力，提高了我国电子专用检测设备的制造水平。

河北省廊坊市科技局26日称，中国电子科技集团第45所(燕郊)与加拿大共同合作的“自动光学检测(AOI)设备技术”研制成功，各项技术指标均达到国外同类设备水平。这标志着我国打破了国外在自动光学检测设备领域的垄断与技术封锁，使自动光学检测设备进口产品降价30%。 中国电子科技集团第45所 　　据廊坊市科技局工作人员介绍，全球电子装备在结构上强调实现小型化、微型化、模块化，以满足高性能、高可靠、大容量、小薄轻的要求。而我国传统的人工目测(MVI)和针床在线测试(ICT)检测因“接触受限”(电气接触受限和视觉接触受限)所制，已不能完全适应当今制造技术的发展。目前，我国自动光学检测系统(AOI)设备还主要依赖进口，一直被以色列、美国、日本等国家所垄断。因此，自动光学检测系统(AOI)已经成为IC制造业的必然需求。 　　据了解，2007年，中国电子科技集团45所顺利通过科技部、国家外专局的批准，被列为我国“微电子装备国际合作基地”之一，并与加拿大开展国际科技合作。 　　廊坊市科技局局长杨中秋表示，该项目的完成，不仅提高了我国电子专用检测设备的制造水平，也标志着我国在自动光学检测设备领域具备了与国外主流设备竞争的实力。

p 　 strong 　仪器 /strong strong 信息网讯 /strong span style=" font-family: times new roman " 2016年5月10日，由中国光学工程学会、中国高科技产业化研究会、国际光学工程学会(SPIE)、美国光学学会(OSA)主办的2016年国际光电技术与应用系列创新研讨会(OTA 2016)在京开幕。此次研讨会除了大会报告之外，还设有13个分会场，分别为1.国际高功率激光技术与高能激光应用研讨会2.国际激光制造与激光检测技术研讨会、3.国际3D打印技术及其应用研讨会(2.3.合并)、4.国际先进光学系统设计与制造及应用研讨会、5.国际光学检测技术及仪器研讨会、6.国际机器人先进感知与智能控制技术研讨会、7.国际天文望远镜与仪器研讨会、8.国际大数据光存储技术研讨会、9.国际高光谱遥感应用研讨会、10.国际硅基光电子与集成研讨会、11.国际红外技术与应用研讨会、12.国际环境监测与安全检测技术及应用研讨会、13. 纪念光纤发明50周年大会等。 /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " img title=" IMG_20160511_080631_副本.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201605/insimg/0242fdc0-4ff5-4fd0-a565-8a281012ced0.jpg" / /span /p p span style=" font-family: times new roman " 　　5月10日下午至5月11日是大会的分会场研讨时间。分会之一国际光学检测技术及仪器研讨会作为国际光电技术与应用系列创新研讨会的重要组成，每年都吸引来国内外光学检测技术研发专家们到会参加讨论。据主办方中国光学工程学会介绍，往届的光学检测技术及仪器研讨会更注重技术的研发探讨，今年的会议是首次明确将光学检测技术和仪器的产业化作为研讨的主题，这也是响应国家支持科研成果转化的号召。 /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " img title=" IMG_0179_副本.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201605/insimg/9abb0d7b-0511-43d3-8897-864a65628744.jpg" / /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " 　　 strong 会议现场 /strong /span /p p span style=" font-family: times new roman " 　　本届国际光学检测技术及仪器研讨会共包括来自国内外工程化院校、研究所以及商业化仪器企业的25个报告，吸引了百余位相关研究实验室和企业的参会者。以下是部分报告介绍： /span /p p span style=" font-family: times new roman " 　　哈工业大学精密仪器工程研究院谭久彬教授报告的题目是《高端超精密仪器产业化探索》。据介绍，我国工业化进入中后期，高端装备发展走到了必须发展的道路。超精密仪器技术已经是大国必争的战略高地，而目前我国面临发达国家和新兴国家的双重挑战。我国超精密仪器产业化发展存在很多问题，如理念陈旧、企业自主创新能力较低等。充分发挥大学研究所自主创新能力强的优势，让工科大学研发平台与企业的产业化平台一体化对高端精密仪器产业化将产生巨大的推动作用。谭久彬教授还介绍了团队根据产业化需求研制的用于微纳结构表征的共聚焦扫描测量仪、面向生物医学的立体层析共聚焦显微镜、快速超精密双频激光干涉仪等精密仪器测量设备。 /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " img title=" IMG_0155_副本.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201605/insimg/ec2a365f-9cf0-4d63-9b60-9abcb0547974.jpg" / /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " 　　 /span span style=" font-family: times new roman " strong 谭久彬 /strong /span /p p span style=" font-family: times new roman " 　　中国工程物理研究院激光核聚变研究中心袁晓东报告的题目是《Research on the Precision Assembly System for SG-III Laser Facility 》。据介绍激光诱导惯性约束核聚变是实验室最常用的实现核聚变的方法。大型高能激光装置对于方法的实现非常重要，目前在美国、法国和中国(SG-III)共有三个大型高能激光装置。袁晓东在报告中介绍了SG-III的设计和一体化装配过程，LRU模型的离线精密装配与在线准确重置能够满足大型激光装置的安装与调试。 /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " img title=" IMG_0190_副本.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201605/insimg/e4fb6b6d-5a3c-43f7-b245-395995ff5fba.jpg" / /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " 　　 /span span style=" font-family: times new roman " strong 袁晓东 /strong /span /p p span style=" font-family: times new roman " 　　北京交通大学冯其波教授报告的题目是《System for simultaneously measuring 6DOF geometric motion errors using fiber-coupled laser》。据介绍，提高受控机床的精度，可以从改善硬件设施或是误差补偿的方法入手。冯其波教授表示：做精密仪器“方向决定成败、细节决定高低。”还介绍了团队研制的单轴6自由度误差测量系统。光纤的使用使系统热稳定性得到了提高，可稳定的通过补偿降低误差。 /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " img title=" IMG_0217_副本.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201605/insimg/9a23d7ae-7e5f-4052-b201-ff4466fde9c6.jpg" / /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " 　　 strong 冯其波 /strong /span /p p span style=" font-family: times new roman " 　　 /span span style=" font-family: times new roman " 中国科学院光电研究院周维虎教授报告的题目是《飞秒激光频率梳精密测量技术研究》。飞秒光梳是频率和相位完全受控的飞秒锁模脉冲激光。主要用于绝对距离测量、频率测量等测量和低噪声微波源和任意光脉冲合成。周继虎教授介绍了飞秒光梳的实用化研制，基于该原理该团队还研发了飞秒激光跟踪仪可用于台阶测量、自由曲面测量、时频测量等方面。 /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " img title=" IMG_0259_副本.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201605/insimg/ab834326-5079-4588-a625-7c6693835b4b.jpg" / /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " 　　 strong 周维虎 /strong /span /p p span style=" font-family: times new roman " 　　中国科学院上海光学精密机械研究所邵建达报告的题目是《Large optics metrology for SG-series laser facility》。组成大型SG激光系统的大口径光学元件种类多、数量大，他们的特性参数与激光装置的性能相关，对大口径光学元件检测的装置要求很高。该团队建立的检测技术满足高精度光学元件的检测需求，部分光学元件已经优于之前NIF光学元件水平。 /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " img title=" IMG_0303_副本.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201605/insimg/1f3cb9e7-c856-4776-a2ce-cc18d4e969ff.jpg" / /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " 　　 strong 邵建达 /strong /span /p p span style=" font-family: times new roman " 　　来自华中科技大学的刘世元教授报告的题目为《Mueller Matrix Ellipsometry for Nanostructured Surface Metrology》。 /span span style=" font-family: times new roman " 据介绍，Mueller矩阵椭偏计(MME)非常适合无损纳米结构测量，对光的偏振、散射和其它特性的深入研究对于表面测量非常重要。为了将MME商品化，团队还创建了武汉颐光科技有限公司，目前已经具备椭偏仪批量生产能力实现了MME的产品销售。 /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " img title=" IMG_0338_副本.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201605/insimg/8409671a-de3d-4d73-8387-a6e2b2ca791a.jpg" / /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " 　　 strong 刘世元 /strong /span /p p span style=" font-family: times new roman " 　　哈尔滨工业大学 Yi Zhou报告的题目是《Experiments on Terahertz 3D Scanning Microscopic & nbsp Imaging》。Yi & nbsp Zhou介绍了团队研制的2.52太赫兹双轴反射共聚焦显微镜，其纵向和横线分辨率分别超过了0.314mm和0.353mm。该仪器在2D和3D成像方面非常稳定，可被用于生物学、制药等领域。 /span /p p style=" text-align: center " img title=" IMG_0241_副本.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201605/insimg/dcd0cda8-7b59-43b2-b263-3b2335882257.jpg" / /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " 　　 strong Yi Zhou /strong /span /p p span style=" font-family: times new roman " 　　哈尔滨工业大学ChangKun Fan报告的题目是《Controlling Software Development of CW Terahertz Target Scattering Properties Measurements Based on LabVIEW(IPTA05-066)》。据介绍，该团队开发了太赫兹目标散射特性测量的控制软件。该软件可手动或自动移动坐标平台，可设置间断频率、测量时间等参数实现自动测量。目前该软件已经申请得到国家专利。 /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " img title=" IMG_0383_副本.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201605/insimg/a2dd8a4f-6640-4796-a821-95f65295dbbc.jpg" / /span /p p style=" text-align: center " span style=" font-family: times new roman " 　　 strong ChangKun Fan /strong /span /p

作者朱金龙*、刘佳敏、徐田来、袁帅、张泽旭、江浩、谷洪刚、周仁杰、刘世元*单位华中科技大学哈尔滨工业大学香港中文大学原文链接：10 nm 及以下技术节点晶圆缺陷光学检测 - IOPscience文章导读伴随智能终端、无线通信与网络基础设施、智能驾驶、云计算、智慧医疗等产业的蓬勃发展，先进集成电路的关键尺寸进一步微缩至亚10nm尺度，图形化晶圆上制造缺陷（包括随机缺陷与系统缺陷）的识别、定位和分类变得越来越具有挑战性。传统明场检测方法虽然是当前晶圆缺陷检测的主流技术，但该方法受制于光学成像分辨率极限和弱散射信号捕获能力极限而变得难以为继，因此亟需探索具有更高成像分辨率和更强缺陷散射信号捕获性能的缺陷检测新方法。近年来，越来越多的研究工作尝试将传统光学缺陷检测技术与纳米光子学、光学涡旋、计算成像、定量相位成像和深度学习等新兴技术相结合，以实现更高的缺陷检测灵敏度，这已为该领域提供了新的可能性。近期，华中科技大学机械科学与工程学院、数字制造装备与技术国家重点实验室的刘世元教授、朱金龙研究员、刘佳敏博士后、江浩教授、谷洪刚讲师，哈尔滨工业大学张泽旭教授、徐田来副教授、袁帅副教授，和香港中文大学周仁杰助理教授在SCIE期刊《极端制造》（International Journal of Extreme Manufacturing, IJEM）上共同发表了《10nm及以下技术节点晶圆缺陷光学检测》的综述，对过去十年中与光学晶圆缺陷检测技术有关的新兴研究内容进行了全面回顾，并重点评述了三个关键方面：（1）缺陷可检测性评估，（2）多样化的光学检测系统，以及（3）后处理算法。图1展示了该综述研究所总结的代表性晶圆缺陷检测新方法，包括明/暗场成像、暗场成像与椭偏协同检测、离焦扫描成像、外延衍射相位显微成像、X射线叠层衍射成像、太赫兹波成像缺陷检测、轨道角动量光学显微成像。通过对上述研究工作进行透彻评述，从而阐明晶圆缺陷检测技术的可能发展趋势，并为该领域的新进入者和寻求在跨学科研究中使用该技术的研究者提供有益参考。光学缺陷检测方法；显微成像；纳米光子学；集成电路；深度学习亮点：● 透彻梳理了有望实现10nm及以下节点晶圆缺陷检测的各类光学新方法。● 建立了晶圆缺陷可检测性的评价方法，总结了缺陷可检测性的影响因素。● 简要评述了传统后处理算法、基于深度学习的后处理算法及其对缺陷检测性能的积极影响。▲图1能够应对图形化晶圆缺陷检测挑战的各类光学检测系统示意图。（a）明/暗场成像；（b）暗场成像与椭偏协同检测；（c）离焦扫描成像；（d）外延衍射相位显微成像；（e）包含逻辑芯片与存储芯片的图形化晶圆；（f）X射线叠层衍射成像；（g）太赫兹成像；（h）轨道角动量光学显微成像。研究背景伴随智能手机、平板电脑、数字电视、无线通信基础设施、网络硬件、计算机、电子医疗设备、物联网、智慧城市等行业的蓬勃发展，不断刺激全球对半导体芯片的需求。这些迫切需求，以及对降低每片晶圆成本与能耗的不懈追求，构成了持续微缩集成电路关键尺寸和增加集成电路复杂性的驱动力。目前，IC制造工艺技术已突破5nm，正朝向3nm节点发展，这将对工艺监控尤其是晶圆缺陷检测造成更严峻的考验：上述晶圆图案特征尺寸的微缩，将极大地限制当前晶圆缺陷检测方案在平衡灵敏度、适应性、效率、捕获率等方面的能力。随着双重图案化、三重图案化以及四重图案化紫外光刻技术的广泛使用，检测步骤的数量随着图案化步骤的增加而显著增加，这可能会降低产率并增加器件故障的风险，因为缺陷漏检事故的影响会被传递至最终的芯片制造流程中。更糟糕的是，当前业界采用极其复杂的鳍式场效应晶体管 (FinFET) 和环栅 (GAA) 纳米线 (NW) 器件来降低漏电流和提高器件的稳定性，这将使得三维 (3D) 架构中的关键缺陷通常是亚表面（尤其是空隙）缺陷、深埋缺陷或高纵横比结构中的残留物。总体上而言，伴随工业界开始大规模的10 纳米及以下节点工艺芯片规模化制造，制造缺陷对芯片产量和成本的影响变得越来越显著，晶圆缺陷检测所带来的挑战无疑会制约半导体制造产业的发展。鉴于此，IC芯片制造厂商对晶圆缺陷检测技术与设备的重视程度日渐加深。在本文中，朱金龙研究员等人对图形化晶圆缺陷光学检测方法的最新进展进行了详细介绍。最新进展晶圆缺陷光学检测方法面的最新进展包含三个方面：缺陷可检测性评估、光学缺陷检测方法、后处理算法。缺陷可检测性评估包含两个方面：材料对缺陷可检测性的影响、晶圆缺陷拓扑形貌对缺陷可检测性的影响。图2展示了集成电路器件与芯片中所广泛采纳的典型体材料的复折射率N、法向反射率R和趋肤深度δ。针对被尺寸远小于光波长的背景图案所包围的晶圆缺陷，缺陷与背景图案在图像对比度差异主要是由材料光学特性的差异所主导的，也就是复折射率与法向反射率。具体而言，图2(c)所示的缺陷材料与图案材料的法向反射率曲线差异是优化缺陷检测光束光谱的基础之一。因此，寻找图像对比度和灵敏度足够高的最佳光束光谱范围比纯粹提高光学分辨率更重要一些，并且此规律在先进工艺节点下的晶圆缺陷检测应用中更具指导意义。▲图2集成电路中典型体材料的光学特性。（a）折射率n；（b）消光系数k；（c）法向反射率R；（d）趋肤深度δ。晶圆缺陷拓扑形貌对缺陷可检测性的影响也尤为重要。在图形化晶圆缺陷检测中，缺陷散射信号信噪比和图像对比度主要是受缺陷尺寸与缺陷类型影响的。图3展示了存储器件中常规周期线/空间纳米结构中的典型缺陷，依次为断线、边缘水平桥接和通孔、凹陷、之字形桥接、中心水平桥接、颗粒、突起、竖直桥接等缺陷。目前，拓扑形貌对缺陷可检测性的影响已被广泛研究，这通常与缺陷检测条件配置优化高度相关。例如，水平桥接与竖直桥接均对照明光束的偏振态相当敏感；在相同的缺陷检测条件配置下，桥接、断线、颗粒物等不同类型的缺陷会展现出不同的缺陷可检测性；同时，缺陷与背景图案的尺寸亦直接影响缺陷的可检测性，尺寸越小的缺陷越难以被检测。▲图3图形化晶圆上周期线/空间纳米结构中的典型缺陷（a）断线；（b）边缘水平桥接和通孔；（c）凹陷；（d）之字形桥接缺陷；（e）中心水平桥接；（f）颗粒物；（g）突起；（h）竖直桥接。丰富多彩的新兴光学检测方法。光是人眼或人造探测器所能感知的电磁波谱范围内的电磁辐射。任意光电场可采用四个基本物理量进行完整描述，即频率、振幅、相位和偏振态。晶圆缺陷光学检测通常是在线性光学系统中实施的，从而仅有频率不会伴随光与物质相互作用发生改变，振幅、相位、偏振态均会发生改变。那么，晶圆缺陷光学检测系统可根据实际使用的光学检测量进行分类，具体可划分为明/暗场成像、暗场成像与椭偏协同检测、离焦扫描成像、外延衍射相位显微成像、X射线叠层衍射成像、太赫兹波成像缺陷检测、轨道角动量光学显微成像。图4展示了基于相位重构的光学缺陷检测系统，具体包括外延相位衍射显微成像系统、光学伪电动力学显微成像系统。在这两种显微镜成像系统中，缺陷引起的扰动波前信号展现了良好的信噪比，并且能够被精准地捕获。后处理算法。从最简单的图像差分算子到复杂的图像合成算法，后处理算法因其能显著改善缺陷散射信号的信噪比和缺陷-背景图案图像对比度而在光学缺陷检测系统中发挥关键作用。伴随着深度学习算法成为普遍使用的常规策略，后处理算法在缺陷检测图像分析场景中的价值更加明显。典型后处理算法如Die-to-Die检测方法是通过将无缺陷芯片的图像与有缺陷芯片的图像进行比较以识别逻辑芯片中的缺陷，其也被称为随机检测。Cell-to-Cell检测方法是通过比较将同一芯片中无缺陷单元的图像与有缺陷单元的图像进行比较以识别存储芯片中的缺陷，其也被称为阵列检测。至于Die-to-Database检测方法，其本质是通过将芯片的图像与基于芯片设计布局的模型图像进行比较以识别芯片的系统缺陷。而根据原始检测图像来识别和定位各类缺陷，关键在于确保后处理图像（例如差分图像）中含缺陷区域的信号强度应明显大于预定义的阈值。基于深度学习的缺陷检测方法的实施流程非常简单：首先，捕获足够的电子束检测图像或晶圆光学检测图像（模拟图像或实验图像均可）；其次，训练特定的神经网络模型，从而实现从检测图像中提取有用特征信息的功能；最后，用小样本集测试训练后的神经网络模型，并根据表征神经网络置信水平的预定义成本函数决定是否应该重复训练。然而，深度学习算法在实际IC生产线中没有被广泛地接收，尤其是在光学缺陷检测方面。其原因不仅包括“黑箱性质”和缺乏可解释性，还包括未经实证的根据纯光学图像来定位和分类深亚波长缺陷的能力。而要在IC制造产线上光学缺陷检测场景中推广深度学习技术的应用，还需开展更多研究工作，尤其是深度学习在光学缺陷检测场景中的灰色区域研究、深度学习与光学物理之间边界的探索等。▲图4代表性新兴晶圆缺陷光学检测系统。（a）外延相位衍射显微成像系统；（b）光学伪电动力学显微成像系统。（a）经许可转载。版权所有（2013）美国化学会。（b）经许可转载。版权所有（2019）美国化学会。未来展望伴随集成电路(IC)制造工艺继续向10nm及以下节点延拓，针对IC制造过程中的关键工序开展晶圆缺陷检测，从而实现IC制造的工艺质量监控与良率管理，这已成为半导体领域普遍达成的共识。尽管图形化晶圆缺陷光学检测一直是一个长期伴随IC制造发展的工程问题，但通过与纳米光子学、结构光照明、计算成像、定量相位成像和深度学习等新兴技术的融合，其再次焕发活力。其前景主要包含以下方面：为了提高缺陷检测灵敏度，需要从检测系统硬件与软件方面协同创新；为了拓展缺陷检测适应性，需要更严谨地研究缺陷与探测光束散射机理；为了改善缺陷检测效率，需要更高效地求解缺陷散射成像问题。除了IC制造之外，上述光学检测方法对光子传感、生物感知、混沌光子等领域都有广阔的应用前景。

国内领先的第三方测试机构华测检测技术股份有限公司(CTI)于近期购买了一套蓝菲光学(Labsphere)的CSLMS 2米和50厘米直径积分球光谱测量系统用于LED灯具和模组的检测。 　　蓝菲光学(Labsphere)的CSLMS(大型光源光通量检测系统)系统具有极高的精度和稳定性，受到美国能源之星(Energy Star)的认可并符合最新CIE测量标准。在美国能源部认可的7个授权进行能源之星检测的实验室中，有5个实验室采用Labsphere的积分球检测设备。 　　华测检测将使用Labsphere的CSLMS系统对LED灯具和模组进行发光效率、光通量、局部流明强度、流明维持、颜色维持、显色指数、品色坐标、波长、相关色温等参数的检测。通过使用Labsphere的设备，华测检测的检测能力将更受国际认可，并且对于其通过能源之星检测的审核有很大帮助。 　　华测检测技术股份有限公司是中国第三方测试、检验与验证服务的开拓者和领先者，为众多行业和产品提供一站式的全面质量解决方案。华测检测的实验室负责人张经理表示，蓝菲光学的产品在国际上得到了广泛认可，值得信任。 　　关于豪迈 (HALMA) 以及蓝菲光学 (Labsphere)： 　　蓝菲光学 (Labsphere) 有限公司 ( http://www.labsphere.com) 是世界光测试、测量以及光学涂层领域的领军企业。公司产品包括 LED、激光器及传统光源光测量系统 成像设备校准用的均匀光源 光谱学附属设备 高漫反射材料及背光显示屏覆层、计算机X线成像以及系统校准。公司的专家在诸多领域取得了多项专利技术，比如晶片和紫外线传输中的 LED 测试方法。蓝菲光学 (Labsphere) 的工程人员也常常协助客户，开发定制光采集管和导光管。蓝菲光学 (Labsphere) 是英国豪迈集团(HALMA p.l.c. - http://www.halma.cn)的子公司。创立于1894年的豪迈是国际安全、健康及传感器技术方面的领军企业，伦敦证券交易所的上市公司，在全球拥有 4000 多名员工，近40 家子公司。豪迈目前在上海、北京、广州和成都设有代表处，并且已在中国开设多个工厂和生产基地。

《产品外观缺陷机器视觉在线检测技术及设备开发》一文由合肥工业大学仪器科学与光电工程学院卢荣胜教授投稿分享，包括自序、研究背景、典型系统组成、成像技术及实现策略、关键核心单元部件、缺陷识别与分类、结束语、致谢几个部分。由于篇幅较长分为四篇发布，以下为第一部分：自序、研究背景、典型系统组成。1．自序本人1985年大学毕业后在量仪厂从事量具、刃具、工装、专机与机加工工艺开发等技术工作，于1992年从师费业泰教授攻读硕士与博士学位，从事精密机械热变形误差、精密仪器精度理论方面研究， 1998年末博士毕业后又拜师天津大学叶声华教授，从事机器视觉在线检测方面的博士后研究，研究方向随之聚焦于机器视觉与光学精密测量领域。之后在香港城市大学、英国帝国理工学院和哈德斯菲尔德大学进行了为期6年的三维机器视觉、自动光学检测和光学测量技术研发工作，于2006年5月返回母校合肥工业大学任教。回国后继续从事机器视觉与光学测量方面的研究，坚持面向平板显示、新能源、软性电路板、半导体等先进制造产业，注重技术的应用开发。先后主持了国家自然科学基金项目3项、863专项1项、国家科技支撑项目1项、国家重大科学仪器设备开发专项1项、国家重点研发课题1项、以及其它省部级项目和产学研合作项目10余项，在机器视觉与光学测量领域已培养硕士和博士研究生100余人。鉴于在机器视觉技术研究及应用开发方面20余年的研究积累，2021年无锡市锡山区政府与我们科研团队合作，联合创立了一个新型科技研发机构——无锡维度机器视觉产业技术研究院，采用实体化运营模式，面向先进制造产业链，从事机器视觉与光学精密测量方面产业共性关键技术研究与产业化开发。研究内容与产业化业务范围涉及机器视觉缺陷在线检测、三维机器视觉精密测量、机器人视觉引导、半导体检测、机器视觉关键零部件开发等。开发的视觉系统与仪器已经在平板显示、光伏、锂电池、软性电路板、半导体等行业得到成功应用。鉴于篇幅问题，本文重点聚焦于产品外观缺陷视觉在线检测技术，归纳了我20多年来在这些方面的科学研究与产业化开发的进展情况与心得体会。2．研究背景在产品制造过程中，由于生产环境不理想、制造工艺不规范等各种原因，零部件和产品外观难免会含有多种缺陷，如印制电路板上出现孔位、划伤、断路、短路和污染，液晶面板的基板玻璃和滤光片表面含有针孔、划痕、颗粒，带钢表面产生裂纹、辊印、孔洞和麻点，铁路钢轨出现凹坑、鼓包、划痕、擦伤、色斑和锈蚀，等等。这些缺陷不仅影响产品外观，更重要的是影响产品性能，严重时甚至危害生命安全，对用户造成巨大经济损失，因此，现代制造业对产品的表面质量控制非常重视。产品外观缺陷在线检测最传统的方法就是采用人工目视检测法，目前高端制造工厂大部分都采用自动化生产，但人工目视检测岗位仍占据工厂整体人员的15%-30%。鉴于人工目视检测存在对人眼伤害大、主观性强、准确率低、不确定性大、易产生歧义和效率低下等缺点，已很难满足现代工业对产品质量及外观越来越高的严格要求。随着电子技术、图像传感技术和计算机技术的快速发展，利用基于图像传感技术的视觉在线检测方法已逐渐成为外观缺陷检测的重要手段，因为这种方法具有自动化、非接触、速度快、准确度高等优点。目前，外观缺陷视觉在线检测技术已经广泛应用于工业、农业、生物医疗等行业，尤其在现代制造业，如平板显示、光伏、锂电池、半导体、汽车、3C电子（计算机、通讯和消费电子产品）等领域，对能够实现机器换人的外观缺陷视觉检测技术需求越来越旺盛。3．典型系统组成产品外观缺陷机器视觉检测是基于人眼视觉成像与人脑智能判断的原理，采用图像传感技术获取被测对象的信息，通过数字图像处理增强缺陷目标特征，再通过Blob(Binary large object)分析、模板匹配或深度学习等算法从背景图像中提取缺陷特征信息，并进行分类与表征。在工业应用领域，外观缺陷视觉检测系统实际上是一种智能化的数字成像与处理系统，即采用各种成像技术（如光学成像）模拟人眼的视觉成像功能，用计算机处理系统代替人脑执行实时图像处理、特征识别与分类等任务，最后把结果反馈给执行机构，代替人手进行操作，执行产品的分类、分组或分选、生产过程中的质量控制等任务。（左）6代线液晶阵列和彩色滤光片缺陷检测仪 （中）8.5代线玻璃基板缺陷检测仪 （右）ITO导电膜表面缺陷检测仪图 1 高世代液晶面板关键工艺节点缺陷视觉在线检测系统图 2 表面缺陷视觉在线检测系统组成原理图图1为我们在国家重大科学仪器设备开发专项的资助下，针对6代线和8.5代线液晶面板显示器制程中关键工艺节点，开发的三种缺陷视觉在线检测系统。该系统能很好地揭示一个视觉在线检测系统的各个组成部分、关键技术难点，以及所需的关键零部件。主要技术参数为：待测幅面大小≤1800x2200mm, 快速发现缺陷分辨率10μm, 复检显微分辨率0.5μm， 并行图像处理与缺陷识别系统采用CPU+FPA+GPU 主从分布式异构并行处理架构，检测时间节拍20s。系统组成与关键零部件单元可用图2示意图来清晰地描述，它由精密传输机构、光源、相机阵列、显微复检、并行处理、控制、主控计算机、服务器等单元模块，以及与工厂数据中心互联的工业局域网组成。图 3 展示了我们开发的手机液晶显示屏背光源模组缺陷转盘式多工位视觉在线检测系统的结构组成，该检测系统包括自动上料、编码、对准、检测、分选、返修识别等几个部分。图 3 背光源模组在线自动光学检测系统3.1 自动上料机构自动上料机构包括装配线上传输来的背光源模组位姿探测、电动与气动机构抓取、位置校正、送料等部分组成。工作原理如下：1. 在装配线传输带工位（1）的上方放入一个监视相机，当前道工序组装系统装配好背光源模组传输到工位（1）后，监视相机拾取到有待测模组时，计算模组在工位（1）处的位置与模组姿态信息，并发出工作同步指令给后续上料与检测系统。2. 监视相机发出工作同步指令后，气动与电动缸组成的送料系统把工位（1）处的背光源模组从传输带上吸起来，然后在气动滑台的带动下，把工位（1）处的背光源模组搬运到工位（2）处。在放到工位（2）上之前，计算机根据工位（1）上方的相机拍摄到的模组位置与姿态，发出指令给真空抓取吸盘角度校正电缸，初步校正背光源模组在空间的角度。当背光源模组运送到工位（2）后，模组在工位（2）处由4个气动滑缸从四边向中间对中，校正模组的位置，然后背光源模组下方的相机，对模组成像，识别待检背光源模组喷码序列号，作为有缺陷模组在返修过程中，从缺陷数据库中自动调出缺陷信息，指导返修任务。3. 在工位（1）处吸盘抓取背光源模组的同时，右边的吸盘在工位（2）处把已经校正好的模组吸起来，然后在气动滑台的带动下，把校正后的模组输送检测转盘工位（3）处。至此，一个上料循环完成。3.2 检测机构检测机构由间隙转动工位转盘、上料位置对准探测、异常检测、画面检测和外观检测工位组成。工作原理如下：1. 背光源模组被自动送料机构传输到工位（3）后，转盘在控制系统的控制下，转到工位（4）。在工位（4）的上方安装一个相机，检测背光源模组定位是否正常，模组LED灯工作是否正常，并把信息传给主控计算机。如果一切正常，则后续检测工位按预定的方案进行检测；如果不正常，后续检测对该模组不检测，然后传送到工位（9），由分选机构抓取，传送到不良品传输带上。2. 当模组转到工位（5）~（8）处后，缺陷扫描成像系统对画面缺陷进行扫描检测，缺陷扫描成像系统由高速扫描相机、一维滑动台、光栅、伺服系统、调整机构组成。由于外观检测项目较多，一个工位难以不够，故把工位（7）和（8）两个工位作为外观检测机构。3.3 分选机构分选机构由良品与不良品气动抓取机构、间隙运动传输带组成。结构布局参看图 3 所示，其工作原理如下：1. 如图 3 所示，画面（外观、异常等）缺陷检测完毕后，模组继续向下道工位转动，当模组运动到工位（9）后：分选机构左边的气动吸盘抓取工位（9）上的模组，传输到工位（11）处。2. 如果该模组是不良品，在分选机构向工位（9）移动的过程中，不良品传输带向前移动一个工位，把工位（11）清空，等待放置下个模组。3. 如果是良品，在下一个时刻分选机构抓取工位（9）上的模组时，右边的吸盘同时抓取工位（11）上的模组，在分选机构左吸盘把模组放到工位（11）处时，右吸盘把良品模组放置到良品传输带上工位（12）处，然后良品传输带向前移动一个工位，清空工位（12）等待放置下个模组。传输带之所以作间隙运动，一方面可以节省空间，另一方面考虑到不良品只是少数，这样可以让不良品按顺序一个一个经凑地排列在传输带上，不需要有人监视，返修人员只要传输带上放满了不良品后取走返修。3.4 复检与不良品返修对于检测到的不良品，再采用人工目视复检，并对不良品进行返修。在返修工作台上放置一个电脑，并安装一台成像系统，拾取不良品背面的编码。返修显示电脑通过工业以太网与缺陷数据库服务器相连，相机在电脑的控制下，获得带返修的不良品编码后，根据编码从服务器中调用缺陷信息，显示在屏幕上，导引返修人员对不良品进行合理的返修。

本周六（5月9日）上午10:00，我司王成铭博士将在仪器信息网网络讲堂做题为“光学无创技术在临床检测中面临的挑战与未来”的主题报告，探讨该技术的未来发展趋势和临床应用前景。 会议简介 在临床医学实践中，影像学（MRI、超声、CT）和病理学的互相印证对疾病的诊断至关重要，但在许多临床应用中还存在一些制约因素，给一些疾病的准确诊断带来困难，而基于拉曼、DCT和光声成像等技术的光学无创方法很有希望成为沟通影像学和病理学之间的重要桥梁。本次会议报告将从皮肤疾病诊断、消化道早癌检测和牙科根管治疗术中检测等临床实际应用切入，对光学无创方法进行概述，着重阐述其在实际临床应用中面临的困难和挑战，并从发展的角度探讨技术的未来发展趋势和临床应用前景。 欢迎各界朋友报名参与，共同讨论、交流、进步！点击本链接快速报名~ 讲师简介 王成铭，物理学博士，毕业于清华大学物理系低维量子物理国家重点实验室，现任北京鉴知技术有限公司光学工程师，清华大学物理系联合培养博士后。多年从事光学相干层析成像（OCT）临床应用方向，有临床医学合作经验，咨询和培训经验丰富。 【延伸阅读】酒精消毒防新冠？做不好这一点就没用！“鉴知”首次亮相——访北京鉴知技术有限公司总经理王红球从威视到鉴知 150余项专利技术铺就拉曼发展之路

4月30日，国际著名科学期刊《自然-通讯》(Nature Communications)发布了一种新型的光微流激光酶联免疫吸附剂测定(Enzyme-linked immunosorbent assay，简称ELISA)技术。该技术由密歇根大学安娜堡分校生物医学工程系范旭东教授课题组与复旦大学信息学院光科学与工程系吴翔副教授共同开发。据悉，该项新技术将有望应用于重大疾病(如癌症、艾滋病等)的早期检测与诊断以及单个酶分子催化机制研究。 　　一般来讲，传统的ELISA技术利用被酶催化生成的荧光产物所发出的荧光强度作为探测信号，然而在实际检测过程中，生物分子的非特异性结合、材料自荧光以及激发光的泄漏等因素造成的强荧光背景会干扰目标分子荧光强度的探测，从而限制了ELISA的探测极限以及动态测量范围。 　　而吴翔及其合作者开发的新型光微流激光ELISA技术的创新之处在于，以荧光产物为激光增益介质，利用高品质因子的光学微腔产生激光输出 在固定的泵浦功率下，产生激光的阈值时间和被测目标分子的浓度呈反比，不同的浓度对应不同的阈值时间，由此，将阈值时间作为该技术中的探测信号。 　　实验表明，该项技术的探测极限可达1fg/ml(38aM)(1飞克每毫升)，动态测量范围为6个数量级。这种新型的光微流激光ELISA技术，通过对激光阈值时间的探测，可以从较强的荧光背景中精确地分辨低浓度的目标分子，从而实现超高灵敏度的生物分子探测。该技术的应用，将对重大疾病(癌症、艾滋病等)的早期检测与诊断技术带来重要提升，同时对单个酶分子催化机制研究领域产生积极影响。 　　目前，吴翔正从事有源和无源光学微腔生物传感器以及微腔光镊的研究，希望能结合光微流激光技术的优点，进一步拓展光学微腔技术在生物传感领域的应用，实现高灵敏度和高通量的集成光学生物传感芯片。